JP2002005848A - 管内検査装置のデータ処理方法 - Google Patents
管内検査装置のデータ処理方法Info
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- JP2002005848A JP2002005848A JP2000184058A JP2000184058A JP2002005848A JP 2002005848 A JP2002005848 A JP 2002005848A JP 2000184058 A JP2000184058 A JP 2000184058A JP 2000184058 A JP2000184058 A JP 2000184058A JP 2002005848 A JP2002005848 A JP 2002005848A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 円周溶接部によって発生する擬似欠陥の処理
を簡単なものとした管内検査装置のデータ処理方法を提
供する。 【解決手段】 ステップＳ１１で各センサの出力を読み
取る。そして、ステップＳ１２で、出力が予め定められ
た所定範囲外になっているセンサの数を求め、その数が
所定値以上であるかどうかを判断する。もし、所定値以
上であれば、それは欠陥でなく円周溶接部を検出してい
るものとして、ステップＳ１３に移る。ステップＳ１３
では、管内検査装置の走行速度を読み取る。そして、ス
テップＳ１４では、走行速度に応じた距離の間だけ欠陥
判定の閾値を高くする。ステップＳ１５では、各センサ
の出力と閾値を比較し、出力が閾値を超えたセンサがあ
ったときには、そのセンサの出力値とセンサ番号、オリ
エンテーションメータの出力（円周方向角度）、オドメ
ータの出力（走行方向位置）等を記録装置に記録する。
を簡単なものとした管内検査装置のデータ処理方法を提
供する。 【解決手段】 ステップＳ１１で各センサの出力を読み
取る。そして、ステップＳ１２で、出力が予め定められ
た所定範囲外になっているセンサの数を求め、その数が
所定値以上であるかどうかを判断する。もし、所定値以
上であれば、それは欠陥でなく円周溶接部を検出してい
るものとして、ステップＳ１３に移る。ステップＳ１３
では、管内検査装置の走行速度を読み取る。そして、ス
テップＳ１４では、走行速度に応じた距離の間だけ欠陥
判定の閾値を高くする。ステップＳ１５では、各センサ
の出力と閾値を比較し、出力が閾値を超えたセンサがあ
ったときには、そのセンサの出力値とセンサ番号、オリ
エンテーションメータの出力（円周方向角度）、オドメ
ータの出力（走行方向位置）等を記録装置に記録する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、配管内を走行し、
配管に発生している傷や孔食を検出する管内検査装置に
関するものである。
配管に発生している傷や孔食を検出する管内検査装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】たとえば地中に埋設されるガス管、石油
輸送配管等に発生する欠陥を検出するために、通称検査
ピグと呼ばれる管内検査装置が使用されている。検査ピ
グは欠陥検出装置を内部に搭載し、管内を走行して検査
を行うもので、その大規模なものとしては、欠陥検出装
置の他にデーター記録装置、電源を内部に搭載し、ガス
や石油等の輸送媒体に押されて管内を走行し、数百Ｋｍ
もの長距離に亘って検査を行うものも実用化されてい
る。検査ピグとしては、カメラやビデオカメラを搭載
し、管内の状況を撮像する形式のものも開発されてい
る。このような検査ピグの１例が、特開昭６３−２２１
２４０号公報に記載されている。
輸送配管等に発生する欠陥を検出するために、通称検査
ピグと呼ばれる管内検査装置が使用されている。検査ピ
グは欠陥検出装置を内部に搭載し、管内を走行して検査
を行うもので、その大規模なものとしては、欠陥検出装
置の他にデーター記録装置、電源を内部に搭載し、ガス
や石油等の輸送媒体に押されて管内を走行し、数百Ｋｍ
もの長距離に亘って検査を行うものも実用化されてい
る。検査ピグとしては、カメラやビデオカメラを搭載
し、管内の状況を撮像する形式のものも開発されてい
る。このような検査ピグの１例が、特開昭６３−２２１
２４０号公報に記載されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】管内検査装置が検査す
る配管（パイプライン）は、長さが５ｍ〜10ｍの単管を
溶接により繋ぎ合わせて構成されているものが多く、こ
れらの単管の繋ぎ目には円周溶接部が設けられている。
よって、管内検査装置のセンサ部がこの円周溶接部を通
過するとき、円周溶接部からの信号がノイズとなり、比
較的大きな欠陥があるような信号が得られる。
る配管（パイプライン）は、長さが５ｍ〜10ｍの単管を
溶接により繋ぎ合わせて構成されているものが多く、こ
れらの単管の繋ぎ目には円周溶接部が設けられている。
よって、管内検査装置のセンサ部がこの円周溶接部を通
過するとき、円周溶接部からの信号がノイズとなり、比
較的大きな欠陥があるような信号が得られる。
【０００４】このような円周溶接部により発生する擬似
欠陥は、全てのセンサについてほぼ同時に検出されるた
め、データ処理により欠陥と区別して取り除くことがで
きる。しかしながら、通常検出される欠陥の数に比べて
円周溶接部の数は圧倒的に多いので、データ処理にかか
る負荷が大きくなると言う問題点がある。
欠陥は、全てのセンサについてほぼ同時に検出されるた
め、データ処理により欠陥と区別して取り除くことがで
きる。しかしながら、通常検出される欠陥の数に比べて
円周溶接部の数は圧倒的に多いので、データ処理にかか
る負荷が大きくなると言う問題点がある。
【０００５】特に、管内探査装置内に記録装置を持ち、
センサの信号が閾値を越えた場合にそれを記録し、後で
データ処理を行うような場合には、円周溶接部による擬
似欠陥が記録装置に記録されるため、必要な記録容量が
多くなってしまうという問題点がある。
センサの信号が閾値を越えた場合にそれを記録し、後で
データ処理を行うような場合には、円周溶接部による擬
似欠陥が記録装置に記録されるため、必要な記録容量が
多くなってしまうという問題点がある。
【０００６】また、センサを配管内壁に摺わせるため
に、配管内壁に接触する倣い機構が設けられている場合
には、円周溶接部によってセンサ部が跳ねが上がるが、
この跳ね上がりの量は、管内検査装置の走行速度が速く
なるほど大きくなる。よって、管内検査装置の速度によ
って、円周溶接部によって発生する擬似欠陥の長さが異
なるという問題点がある。
に、配管内壁に接触する倣い機構が設けられている場合
には、円周溶接部によってセンサ部が跳ねが上がるが、
この跳ね上がりの量は、管内検査装置の走行速度が速く
なるほど大きくなる。よって、管内検査装置の速度によ
って、円周溶接部によって発生する擬似欠陥の長さが異
なるという問題点がある。
【０００７】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、円周溶接部によって発生する擬似欠陥の処理を
簡単なものとした管内検査装置のデータ処理方法を提供
することを課題とする。
もので、円周溶接部によって発生する擬似欠陥の処理を
簡単なものとした管内検査装置のデータ処理方法を提供
することを課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
の第１の手段は、管内を走行して配管の欠陥を検出する
管内検査装置のデータ処理方法であって、センサの信号
から欠陥を検出するための閾値を、配管の円周溶接部に
おいては、円周溶接部でない部分より高くすることを特
徴とする管内検査装置のデータ処理方法（請求項１）で
ある。
の第１の手段は、管内を走行して配管の欠陥を検出する
管内検査装置のデータ処理方法であって、センサの信号
から欠陥を検出するための閾値を、配管の円周溶接部に
おいては、円周溶接部でない部分より高くすることを特
徴とする管内検査装置のデータ処理方法（請求項１）で
ある。
【０００９】本手段においては、配管の円周溶接部にお
いて、他の部分より、センサの信号から欠陥を検出する
ための閾値を高くしている。よって、センサ出力を管内
検査装置内に搭載された記録装置に記録する場合には、
この処理を記録前に行ない、円周溶接部による擬似欠陥
を記録しないようにすれば、記録容量を少なくすること
ができる。
いて、他の部分より、センサの信号から欠陥を検出する
ための閾値を高くしている。よって、センサ出力を管内
検査装置内に搭載された記録装置に記録する場合には、
この処理を記録前に行ない、円周溶接部による擬似欠陥
を記録しないようにすれば、記録容量を少なくすること
ができる。
【００１０】円周溶接部は、特別な円周溶接部検出器を
使用して検出してもよいし、所定以上のセンサが同時に
所定以上の信号を出したときに円周溶接部と判断するよ
うにしてもよい。
使用して検出してもよいし、所定以上のセンサが同時に
所定以上の信号を出したときに円周溶接部と判断するよ
うにしてもよい。
【００１１】前記課題を解決するための第２の手段は、
前記第１の手段であって、配管の円周溶接部であるとし
て扱う部分の長さを、管内検査装置の走行速度に応じて
変化させることを特徴とするもの（請求項２）である。
前記第１の手段であって、配管の円周溶接部であるとし
て扱う部分の長さを、管内検査装置の走行速度に応じて
変化させることを特徴とするもの（請求項２）である。
【００１２】前述のように、センサを配管内壁に摺わせ
るために、配管内壁に接触する倣い機構が設けられてい
る場合には、管内検査装置の速度によって、円周溶接部
によって発生する擬似欠陥の長さが異なるという問題点
がある。
るために、配管内壁に接触する倣い機構が設けられてい
る場合には、管内検査装置の速度によって、円周溶接部
によって発生する擬似欠陥の長さが異なるという問題点
がある。
【００１３】本手段においては、管内検査装置の速度に
応じて、円周溶接部として扱う部分の長さ、すなわち閾
値を高くする部分の長さを変えるようにし、管内検査装
置が高速で走行するに従って、円周溶接部として扱う部
分の長さを長くする。よって、センサ倣い機構の跳ね上
がりの影響による擬似欠陥を除去することができる。
応じて、円周溶接部として扱う部分の長さ、すなわち閾
値を高くする部分の長さを変えるようにし、管内検査装
置が高速で走行するに従って、円周溶接部として扱う部
分の長さを長くする。よって、センサ倣い機構の跳ね上
がりの影響による擬似欠陥を除去することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の例
を、図を用いて説明する。第１の実施の形態において
は、管内検査装置のセンサ出力は、前処理手段により処
理され、欠陥がある可能性のある部分のみのセンサ信号
が、そのセンサ番号、管内検査装置の位置、管内検査装
置の円周方向位置等と共に、管内検査装置に収納された
記録装置に記録されるものとする。
を、図を用いて説明する。第１の実施の形態において
は、管内検査装置のセンサ出力は、前処理手段により処
理され、欠陥がある可能性のある部分のみのセンサ信号
が、そのセンサ番号、管内検査装置の位置、管内検査装
置の円周方向位置等と共に、管内検査装置に収納された
記録装置に記録されるものとする。
【００１５】図１は、前処理手段の作動の例を示すフロ
ーチャートである。このルーチンは所定時間間隔で起動
されるようになっている。まず、ステップＳ１１で各セ
ンサの出力を読み取る。そして、ステップＳ１２で、出
力が予め定められた所定範囲外になっているセンサの数
を求め、その数が所定値以上であるかどうかを判断す
る。もし、所定値以上であれば、それは欠陥でなく円周
溶接部を検出しているものとして、ステップＳ１３に移
る。所定数未満であれば、定常部であると判断して、ス
テップＳ１５にジャンプする。
ーチャートである。このルーチンは所定時間間隔で起動
されるようになっている。まず、ステップＳ１１で各セ
ンサの出力を読み取る。そして、ステップＳ１２で、出
力が予め定められた所定範囲外になっているセンサの数
を求め、その数が所定値以上であるかどうかを判断す
る。もし、所定値以上であれば、それは欠陥でなく円周
溶接部を検出しているものとして、ステップＳ１３に移
る。所定数未満であれば、定常部であると判断して、ス
テップＳ１５にジャンプする。
【００１６】ステップＳ１３では、管内検査装置の走行
速度を読み取る。走行速度は、オドメータの出力から、
所定時間間隔ごとに計算され、管内検査装置内の記憶回
路に記憶されているものとする。そして、ステップＳ１
４では、走行速度に応じた距離の間だけ欠陥判定の閾値
を高くする。なお、フローチャートには示されていない
が、一度この処理が行われると、当該距離を検査装置が
走行する間は、ステップＳ１３とＳ１４の処理は行われ
ない。
速度を読み取る。走行速度は、オドメータの出力から、
所定時間間隔ごとに計算され、管内検査装置内の記憶回
路に記憶されているものとする。そして、ステップＳ１
４では、走行速度に応じた距離の間だけ欠陥判定の閾値
を高くする。なお、フローチャートには示されていない
が、一度この処理が行われると、当該距離を検査装置が
走行する間は、ステップＳ１３とＳ１４の処理は行われ
ない。
【００１７】ステップＳ１５では、各センサの出力と閾
値を比較し、出力が閾値を超えたセンサがあったときに
は、そのセンサの出力値とセンサ番号、オリエンテーシ
ョンメータの出力（円周方向角度）、オドメータの出力
（走行方向位置）等を記録装置に記録する。
値を比較し、出力が閾値を超えたセンサがあったときに
は、そのセンサの出力値とセンサ番号、オリエンテーシ
ョンメータの出力（円周方向角度）、オドメータの出力
（走行方向位置）等を記録装置に記録する。
【００１８】図２にセンサの出力と閾値の変化の例を示
す。図２において、１は配管、２は円周溶接部、３は欠
陥、４はセンサ出力、５は＋側閾値、６は−側閾値であ
る。(a)は配管の状態を示すもので、配管１には円周溶
接部２と欠陥３があるものとする。
す。図２において、１は配管、２は円周溶接部、３は欠
陥、４はセンサ出力、５は＋側閾値、６は−側閾値であ
る。(a)は配管の状態を示すもので、配管１には円周溶
接部２と欠陥３があるものとする。
【００１９】(b)は管内検査装置が低速で走行している
ときのセンサ出力４と＋側閾値５、−側閾値６との関係
を示すものである。定常状態では、＋側閾値５、−側閾
値６は低い状態にあるので、欠陥３の位置でセンサ出力
が＋側閾値を超え、欠陥が検出される。円周溶接部２の
位置では、図１に示したフローチャートによる処理によ
り、＋側閾値５、−側閾値６が高い値に切り替えられ
る。よって、円周溶接部２で大きなセンサ出力が得られ
るが、これが高くされた閾値を超えることがないので、
円周溶接部２は欠陥として検出されない。管内検査装置
の速度が小さいときは、センサが管壁から離れる期間が
短いので、閾値を高くする時間は短くされている。
ときのセンサ出力４と＋側閾値５、−側閾値６との関係
を示すものである。定常状態では、＋側閾値５、−側閾
値６は低い状態にあるので、欠陥３の位置でセンサ出力
が＋側閾値を超え、欠陥が検出される。円周溶接部２の
位置では、図１に示したフローチャートによる処理によ
り、＋側閾値５、−側閾値６が高い値に切り替えられ
る。よって、円周溶接部２で大きなセンサ出力が得られ
るが、これが高くされた閾値を超えることがないので、
円周溶接部２は欠陥として検出されない。管内検査装置
の速度が小さいときは、センサが管壁から離れる期間が
短いので、閾値を高くする時間は短くされている。
【００２０】(c)は、記録動作であり、欠陥３に対応す
る信号が入力された場合にのみ記録動作が行われる。
る信号が入力された場合にのみ記録動作が行われる。
【００２１】(d)は、管内検査装置が高速で走行してい
るときのセンサ出力４と＋側閾値５、−側閾値６との関
係を示すものである。この場合も、定常状態では、＋側
閾値５、−側閾値６は低い状態にあるので、欠陥３の位
置でセンサ出力が＋側閾値を超え、欠陥が検出される。
円周溶接部２をセンサが通過するとき、反動によりセン
サが管壁から離れるので、図に示すように、＋方向のセ
ンサ出力に続いて−方向のセンサ出力が得られる。
るときのセンサ出力４と＋側閾値５、−側閾値６との関
係を示すものである。この場合も、定常状態では、＋側
閾値５、−側閾値６は低い状態にあるので、欠陥３の位
置でセンサ出力が＋側閾値を超え、欠陥が検出される。
円周溶接部２をセンサが通過するとき、反動によりセン
サが管壁から離れるので、図に示すように、＋方向のセ
ンサ出力に続いて−方向のセンサ出力が得られる。
【００２２】円周溶接部２の位置では、図１に示したフ
ローチャートによる処理により、＋側閾値５、−側閾値
６が高い値に切り替えられるが、管内検査装置の速度が
速いので、閾値を切り替えている距離が、管壁から離れ
たセンサが再び定常状態に戻るまでの距離を見込んで長
く設定されている。よって、この場合も、大きなセンサ
出力が得られるが、これが高くされた閾値を超えること
がないので、円周溶接部２は欠陥として検出されない。
ローチャートによる処理により、＋側閾値５、−側閾値
６が高い値に切り替えられるが、管内検査装置の速度が
速いので、閾値を切り替えている距離が、管壁から離れ
たセンサが再び定常状態に戻るまでの距離を見込んで長
く設定されている。よって、この場合も、大きなセンサ
出力が得られるが、これが高くされた閾値を超えること
がないので、円周溶接部２は欠陥として検出されない。
【００２３】(e)は、記録動作であり、この場合も、欠
陥３に対応する信号が入力された場合にのみ記録動作が
行われる。
陥３に対応する信号が入力された場合にのみ記録動作が
行われる。
【００２４】図３は、本発明の第２の実施の形態におけ
る欠陥判定動作を示すフローチャートである。この実施
の形態においては、センサーの出力が全て記録装置に記
録されているものとする。
る欠陥判定動作を示すフローチャートである。この実施
の形態においては、センサーの出力が全て記録装置に記
録されているものとする。
【００２５】まず、ステップＳ２１で、記録装置に記録
された各センサの出力を順次読み出す。そして、ステッ
プＳ２２で、出力が予め定められた所定範囲外になって
いるセンサの数を求め、その数が所定値以上であるかど
うかを判断する。もし、所定値以上であれば、それは欠
陥でなく円周溶接部を検出しているものとして、ステッ
プＳ２３に移る。所定数未満であれば、定常部であると
判断して、ステップＳ２５にジャンプする。
された各センサの出力を順次読み出す。そして、ステッ
プＳ２２で、出力が予め定められた所定範囲外になって
いるセンサの数を求め、その数が所定値以上であるかど
うかを判断する。もし、所定値以上であれば、それは欠
陥でなく円周溶接部を検出しているものとして、ステッ
プＳ２３に移る。所定数未満であれば、定常部であると
判断して、ステップＳ２５にジャンプする。
【００２６】ステップＳ２３では、記録されている管内
検査装置の走行速度を読み出す。走行速度は、オドメー
タの出力から、所定時間間隔ごとに計算され、管内検査
装置内の記憶回路に記憶されているものとする。そし
て、ステップＳ２４では、走行速度に応じた距離の間だ
け欠陥判定の閾値を高くする。なお、フローチャートに
は示されていないが、一度この処理が行われると、当該
距離を検査装置が走行する間に記録されたデータについ
ては、ステップＳ２３とＳ２４の処理は行われない。
検査装置の走行速度を読み出す。走行速度は、オドメー
タの出力から、所定時間間隔ごとに計算され、管内検査
装置内の記憶回路に記憶されているものとする。そし
て、ステップＳ２４では、走行速度に応じた距離の間だ
け欠陥判定の閾値を高くする。なお、フローチャートに
は示されていないが、一度この処理が行われると、当該
距離を検査装置が走行する間に記録されたデータについ
ては、ステップＳ２３とＳ２４の処理は行われない。
【００２７】ステップＳ２５では、各センサの出力と閾
値を比較し、出力が閾値を超えたセンサがあったときに
は、欠陥であると判断して、その欠陥の大きさや種別を
判断する処理を行うとともに、その欠陥の円周方向位
置、配管長さ方向の位置を記録したり出力したりする。
値を比較し、出力が閾値を超えたセンサがあったときに
は、欠陥であると判断して、その欠陥の大きさや種別を
判断する処理を行うとともに、その欠陥の円周方向位
置、配管長さ方向の位置を記録したり出力したりする。
【００２８】以上の実施の形態においては、管内検査装
置の速度に応じて閾値を高くする距離を切り替えていた
が、センサの倣い機構によってはこのような必要がない
ものがあり、その場合には、閾値を高くする距離を一定
にすることができる。
置の速度に応じて閾値を高くする距離を切り替えていた
が、センサの倣い機構によってはこのような必要がない
ものがあり、その場合には、閾値を高くする距離を一定
にすることができる。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のうち請求
項１に係る発明によれば、簡単な前処理により、データ
処理において円周溶接部の信号が擬似欠陥となることを
防止することができ、データ処理の負荷を軽くすること
ができる。特に、記録装置を搭載した管内探査装置の場
合、円周溶接部が擬似欠陥として記録されるのを防ぐこ
とができ、記録容量を少なくすることができる。
項１に係る発明によれば、簡単な前処理により、データ
処理において円周溶接部の信号が擬似欠陥となることを
防止することができ、データ処理の負荷を軽くすること
ができる。特に、記録装置を搭載した管内探査装置の場
合、円周溶接部が擬似欠陥として記録されるのを防ぐこ
とができ、記録容量を少なくすることができる。
【００３０】請求項２に係る発明においては、センサ倣
い機構の跳ね上がりの影響による擬似欠陥を除去するこ
とができる。
い機構の跳ね上がりの影響による擬似欠陥を除去するこ
とができる。
【図１】本発明の実施の形態である方法の１例を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図２】センサの出力と閾値の変化の例を示す図であ
る。
る。
【図３】本発明の実施の形態である方法の他の例を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
１…配管 ２…円周溶接部 ３…欠陥 ４…センサ出力 ５…＋側閾値 ６…−側閾値
Claims (2)
- 【請求項１】 管内を走行して配管の欠陥を検出する管
内検査装置のデータ処理方法であって、センサの信号か
ら欠陥を検出するための閾値を、配管の円周溶接部にお
いては、円周溶接部でない部分より高くすることを特徴
とする管内検査装置のデータ処理方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の管内検査装置のデータ
処理方法であって、配管の円周溶接部であるとして扱う
部分の長さを、管内検査装置の走行速度に応じて変化さ
せることを特徴とする管内検査装置のデータ処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000184058A JP2002005848A (ja) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | 管内検査装置のデータ処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000184058A JP2002005848A (ja) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | 管内検査装置のデータ処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002005848A true JP2002005848A (ja) | 2002-01-09 |
Family
ID=18684545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000184058A Pending JP2002005848A (ja) | 2000-06-20 | 2000-06-20 | 管内検査装置のデータ処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002005848A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112595266A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-04-02 | 武汉中仪物联技术股份有限公司 | 一种用于管道检测的缺陷面积计算方法及系统 |
-
2000
- 2000-06-20 JP JP2000184058A patent/JP2002005848A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112595266A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-04-02 | 武汉中仪物联技术股份有限公司 | 一种用于管道检测的缺陷面积计算方法及系统 |
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