JP2001525105A - Surface electronic display device and method of manufacturing the same - Google Patents

Surface electronic display device and method of manufacturing the same

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JP2001525105A JP53437898A JP53437898A JP2001525105A JP 2001525105 A JP2001525105 A JP 2001525105A JP 53437898 A JP53437898 A JP 53437898A JP 53437898 A JP53437898 A JP 53437898A JP 2001525105 A JP2001525105 A JP 2001525105A
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ポッター,マイケル,ディ.
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Abstract

(57)【要約】 ディスプレイ素子として有用なデバイスは、電子エミッタとエミッタから放出された電子を受け取る陽極とを有する。該陽極には抵抗率が異なる複数の表面部分があり、そのうちの最も効率の低い部分が電子シンクとなる。好ましい一実施例はラテラル電界放出電子エミッタを有し、電子シンク部分を含む抵抗率の異なった複数の陽極部分を有するように特別に構成した複数のプロセスにより形成されたひとつの陽極を有する。望ましくは、電子シンク部分を該デバイスの電子エミッタの先端チップから横方向に離れた位置に設ける。特に好ましい製造方法において、ベース層を堆積し、エッチストップ層を堆積し、これをパターニングし電子シンク部を定義する開口を形成し、上方の各層からエッチストップ層までをエッチングすることにより開口を形成し、ベース層とエッチストップ層を加熱し陽極表面の構成部分である電子シンク部および発光用陰極ルミネセンス蛍光体を含む陽極表面を形成する手順により陽極を形成する。該製造方法は、複数のディスプレイ素子デバイスを作成して平面パネルディスプレイを形成することに備えて構成されている。 (57) Abstract A device useful as a display element has an electron emitter and an anode for receiving electrons emitted from the emitter. The anode has a plurality of surface portions having different resistivity, and the portion having the lowest efficiency becomes an electron sink. One preferred embodiment has a lateral field emission electron emitter and a single anode formed by a plurality of processes specially configured to have a plurality of anode sections of different resistivity including an electron sink portion. Preferably, the electronic sink portion is provided at a position laterally separated from the tip of the electron emitter of the device. In a particularly preferred manufacturing method, an opening is formed by depositing a base layer, depositing an etch stop layer, patterning it, forming openings defining an electron sink, and etching from each upper layer to the etch stop layer. Then, the anode is formed by heating the base layer and the etch stop layer to form an anode surface including an electron sink portion and a cathodoluminescent phosphor for light emission, which are constituent parts of the anode surface. The method is configured to provide for a plurality of display element devices to form a flat panel display.

Description

【発明の詳細な説明】 表面電子ディスプレイデバイス、並びにその製造方法 関連出願についてのクロスリファレンス 本出願は、1996年12月30日に米国特許・商標庁に提出された出願番号 60/033,787“サーフェスエレクトロン・ディスプレイ(SED)デバイ ス”および出願番号60/033,788”サーフェスエレクトロン・ディスプレ イ(SED)デバイス”に係るマイケルD・ポッターによる米国暫定特許出願に 関連する。さらに、本出願は、1997年11月5日に米国特許・商標局に提出 された米国特許出願番号08/964483“サーフェスエレクトロン・ディス プレイ(SED)デバイス”および出願番号08/964987に関連する。 技術分野 本発明は、広く電界放出デバイスおよびその製造方法に関連する、とりわけ特 別に構成されたプロセスによって製造された電子シンクを含む陽極を有する表面 電子ディスプレイデバイス構造に関連する。 背景技術 電子回路用に多くの二極、三極、四極を含む電界放出デバイス構造が開発され ている。電界放出デバイスのうちには、とくにディスプレイデバイスに適合する ように構成されたものがある。このようなディスプレイでは、各画素セルに一個 以上の電界放出デバイスが使用されている。電界放出デバイスは、安い製造コス ト、低い複雑性、少ない消費電力、向上した明るさ、広い視野角などのためにフ ラットパネル型液晶ディスプレイデバイスに代わる魅力的なディスプレイデバイ スと見なされている。フラットパネルディスプレイデバイス用の改良されたディ スプレイデバイスセル構造および製造方法に対するニーズが継続して存在してい る。 注記ならびに名称 “ラテラル”という用語は総じて電子デバイスが形成されている基板に平行な 方向を指している。したがって、“ラテラル電界放出デバイス”は基板上に形成 され、基板に平行な少なくとも一つの方向に電界エミッタから離れて陽極が設け られた構造の電界放出デバイスを指している。同じように、“ラテラルエミッタ ”という用語は、ラテラルデバイスの基板に略平行に作られた電界エミッタを指 している。従って、電子の陽極に向かっての放出は、基板に全体的に平行に行わ れる。このような薄膜で形成されたラテラルエミッタの例は、当業界では知られ ている。“電子シンク”は、電流の電子が表面に向かって流れる傾向のある表面 上の一つの領域を指している。このような電子シンク領域は以下において詳細に 説明する。 当該技術の説明 多くの電界放出デバイス構造が知られている。このうちの大部分は、一般に例 えば米国特許第3,755,704号で述べられているスピント型であったと思われる。 下記の米国特許、クロニン他の5,233,263と5,308,439、グジー他の5,528,099、 ポッターの5,616,061、5,618,216、5,628,663、5,630,741、5,644,188、5,644,1 90、5,647,998、5,666,019、5,669,802は、ラテラル電界エミッタを有する様々 な電界放出デバイスおよび/またはこれら製造方法を記述している。 クマール他に付与された米国特許第5,543,684号は、基板および基板に隣接し て設けられた導電層を含む電界放出陰極を記述している。電気的抵抗のあるピラ ーが導電層に隣接して設けられている。この抵抗性のピラーは、基板から離れた 、基板に略平行である略フラットな表面を有している。抵抗性のピラーに隣接し てダイアモンド層が設けられている。 クマール他に付与された米国特許第5,548,185号は、複数の互いに対 応する発光陽極と電界放出陰極と、対応する陰極から陽極への放出をコントロー ルするための陽極群と陰極群の間に位置するグリッドアセンブリを含むフラット パネルディスプレイについて記述しており、該複数の陰極はそれぞれ複数の電子 放出域を含む比較的フラットな電子放出表面を持つ低い仕事関数の層を有してい る。該グリッドアセンブリは、複数の陽極と陰極との間および各陰極の隙間に亘 って置かれて複数の開口を有する導電性層を含んでおり、該複数の陰極は、それ ぞれ開口にその位置とサイズが一致している。 クマール他に付与された米国特許第5,659,224号は、導電性材料の層 と導電性材料を覆って堆積された低効果仕事関数材料層を有する陰極を含む冷陰 極表示デバイスについて記述しており、該低効果仕事関数材料層は、互いに不連 続な電気特性を有するかもしれない複数の分布された局所的な電子放出域を含む 放出表面を有する。該放出表面は比較的フラットであるかもしれない。フィンク レア他に付与された米国特許第5,558,554は、電界放出フラットパネル ディスプレイ用の複数の溝を有する電界放出デバイス陽極の製造方法について記 述している。 クマール他に付与された米国特許第5,449,970号は、二極(二端子) 画素構造を用いた電界放出型のマトリックスアドレス指定の二極フラットパネル ディスプレイについて記述している。該フラットパネルディスプレイは、複数の 陰極を有する陰極アセンブリを備えている。各陰極は、陰極導電性材料層と陰極 導電性材料層上に堆積した低い仕事関数の材料層を備えている。該フラットパネ ルディスプレイは、複数の陽極を有する陽極アセンブリを備えており、各陽極は 、陽極導電性材料層と該陽極導電性材料層上に堆積された陰極ルミネセンス材料 層を備えている。陽極アセンブリは、陰極アセンブリから放出された帯電粒子を 受け取る陰極アセンブリに接近して配置されており、陰極ルミネセンス材料は放 出された帯電粒子を受けるごとに発光する。米国特許第5,449,970号の フラットパネルディスプレイは、さらにフラットパネルディスプレイのアドレス 指定可能なグレースケール操作を行うため複数の対応する発光陽極と電界放出陰 極の間の電界放出を選択的に変化させる能力を備えている。 本発明によって解決される問題 当技術において利用できる多くの電界放出ディスプレイにおいて、陰極ルミネ センス蛍光体から発する光は、電子放出先端チップないし端縁近くの蛍光体の狭 い領域から生じ、またこの狭い発光領域は、広い範囲の視野角にいるユーザにと ってしばしば十分に見えない場合がある。有効な“フィルファクタ”、すなわち 、発光が生じるディスプレイセル領域中の小さな部分の向上、明るさの向上、視 野角の範囲の向上が従来から引き続いて求められている。 本発明の課題、目的ならびに利点 本発明の課題は、各々明るさとフィルファクタを向上させた複数のディスプレ イセルを有するフラットパネルディスプレイである。この課題を成就するために 、本発明の一つの目的は、抵抗率が均一でない陽極を有する、上記のようなディ スプレイに用いるディスプレイセルである。より特定の目的は、陽極の少なくと も一つの領域が残りの領域と比べて抵抗率が比較的低くなっている、従ってそこ が電子シンクとなる、電界放出デバイス用の陽極である。一つの関連目的は、蛍 光体表面を有するように形成された上記のような陽極である。別の関連目的は、 陽極の表面に電子シンクが一体的に形成され、また、該デバイスの電子エミッタ の放出端縁から横方向に離れて形成されている上記のような陽極である。更に別 の目的は、改良されたディスプレイデバイス構造を作るように特に構成された製 造方法である。一つの関連目的は、フラットパネルディスプレイを形成するため 、配列された複数のディスプレイデバイスの各々を同時に製造するのに適した製 造方法である。これらの、また、このほかの課題、目的および利点は、添付図面 を参照しつつ本明細書の以下の部分を読むことによって明らかになるであろう。 発明の要約 ディスプレイ要素として有用であるデバイスは、電子エミッタとエミッタから 放出された電子を受け取るように配置された陽極とを有する。該陽極は、抵抗率 が異なる表面部分があり、最も低い抵抗率の表面部分が電子シンク部となる。好 ましい一実施例は、ラテラル電界発光型電子エミッタと、電子シンク部分を含む 、抵抗率が互いに異なる陽極部分を設けるために特に構成されたプロセスにより 形成される陽極を有する。該電子シンク部分は、デバイスの電子エミッタの放出 端から横方向に離れた位置に配置することが好ましい。特に好ましいプロセスで は、陽極はベース層を堆積し、電子シンク部分を定義するための開口によりエッ チストップ層を堆積し、それをパターニングし、上方に重なる層からエッチスト ップ層までをエッチングして開口を形成し、ベース層とエッチストップ層を加熱 することによって陽極表面の構成部分である電子シンク部分と発光用陰極ルミネ センス蛍光体を含む陽極表面を形成することにより形成される。該製造プロセス はフラットパネルディスプレイを作るため複数のディスプレイ素子デバイスを製 造することに備えている。 図面の簡単な説明 図1は、本発明に基づいて作成された電界放出デバイスの側立面の断面図; 図2は、電子の経路を示す電界放出デバイスの側面の断面図; 図3は、図1の電界放出デバイスの好ましい製造プロセスを示すフローチャー ト; 図4aから図4gは、電界放出デバイスの好ましい製造方法の工程の結果を示 す一連の側立面の断面図; 図5は、本発明に基づいて作成された電界放出デバイスの別の実施例の側立面 の断面図。 実施例の詳細な説明 表面電子ディスプレイデバイスならびに該デバイスを作成するために特に構成 された製造プロセスを添付の図面を参照しつつ説明する。図のなかで、同じ参照 番号は同じもしくは同様な要素を指している。分かりやすくするために、プロセ スステップは、以下の文および図面のなかで文字“S”で始まる参照番号、たと えば、S1,...,S8で示す。 図1は、本発明に従って作られた電界放出デバイス(全体として参照番号10 で示す)の側立面の断面図である。該デバイスは基板20を有している。陽極3 0と電界エミッタに適切なバイアス電圧を印加したとき、複合陽極30は、電界 エミッタ40から放出される電子を受け取る。電界エミッタ40は、極めて細い 先端チップないし端縁を有しており、適切に高い電界が先端チップ50で作り出 されると、該チップからファウラ-ノードハイム電子トンネル現象に従って電子 が放出される。開口55は、少なくともラテラル電界エミッタ40から下へ複合 陽極30まで伸びている。複合陽極30は、基板20の上部表面上のベース材料 層35と、復合陽極30の上表面に沿って伸び、抵抗率の低い電子シンク部分8 0の範囲を定義する蛍光体部分70を含んでいる。電子シンク部分80は、蛍光 体部分70の面積に比べて非常に小さな面積を有するように有利に形成すること ができる。領域70と80の両者の大きさの割合は、図では実際とは異なって描 かれている。基板20は、陽極に対する電気接点を設けるために導電性を有する ことが好ましい。絶縁性の基板を使用する場合には、絶縁性の基板とベース材料 層35の間に新たに導電性層(図示せず)を配設してもよい、また陽極電圧を加 え、電流を外部の回路に送るための埋設陽極接点(図示せず)をパターニングし てもよい。このような埋設陽極接点を有するデバイス構造およびこのような構造 の製造方法は、米国特許第5,644,188号、5,630,741に記述さ れている。本願では、それぞれの特許のすべての開示内容を援用している。図1 は、二つのラテラル電界エミッタ40と二つのエミッタチップ50を示されてい るが、エミッタを二重にしたデバイスは同じプロセスで作ることができ、もう一 つのエミッタを作るために別のプロセス手順を追加して行う必要がないことを示 している。しかし、第2のエミッタはデバイスの動作に不可欠ではないので、こ れを省略してもよい。第2のエミッタを省略した場合は、電子シンク領域80を 、残っている電界エミッタチップ50から最も遠い開口55内の側縁に隣接して 設けることができる。したがって、たとえば、図1の右側の電界エミッタを省略 した場合、電子シンク領域80を残りの左側のエミッタチップから最も遠い開口 55内の右側縁に隣接して有利に設けることができる。(このような構成の単一 エミッタデバイスが図5に示されている。図5には以下に詳細に説明する別の特 徴も描かれている。) ラテラル電界エミッタ40は、絶縁層60を介在させて陽極30から分離され ている。該絶縁層60は、陽極の上表面のある平面の上方の予め定めた距離に該 ラテラル電界エミッタを支持している。第2の絶縁層90を電界エミッタ40の 上に設けることができる。原則的に、第2の絶縁層90を省略すれば、ディスプ レイの視野角が向上する。しかし、極めて薄い絶縁層90が用いられるので実際 には視野角の向上はわずかなものである。 図1に示すように作られたデバイス構造では、予期せぬ結果が得られている。 すなわち、電界エミッタチップ50から放出された電子は、エミッタチップ50 に近い陽極に直接進入しないということである。この表面電子デバイスでは、電 子は明らかに低抵抗電子シンク領域80に至るまでは表面を横切って進行し、陽 極ベース材料35のバルク部分に入って行く。全体としての良い効果は、大きな 有効フィルファクタを有する明るい画素が得られることである。陰極ルミネセン スは、エミッタチップ50の近辺ばかりではなく、トレンチ開口55の底の蛍光 体部分70全域で発生する。当技術で知られているように、エミッタ端部50か ら複合陽極30に向かって電子の電界放出を行わせるため、適切な電気的バイア スを加える手段が設けられている。図2は電界放出デバイスの側面の断面図であ り、本発明によって作られたデバイスに典型的ないくつかの電子の経路100が 点線で示されている。このような電子の経路は、本発明のデバイスで観察される 性能の向上に寄与すると考えられが、本発明はなにか特定の物理現象により制限 されるように考えられているのではなく、付属の請求項述べられているように、 その構造および/または製造方法によって定義されるように意図されている。 製造プロセスの説明 図3は、図1の電界放出デバイスの好ましい製造方法を示すフローチャートで ある。図4aから4gまでは、好ましいプロセスの各手順の結果を示す一連の側立 面の断面図である。概略で示すと、好ましいプロセスは、基板を用意し(S1), 基板上に少なくとも一つの電子シンク領域を有する陽極を形成し(S2-S3,S8)陽 極から離れて設けられ、少なくとも部分的には陽極に整合した電子エミッタを形 成しさらにパターニングし(S5.S7)、陽極とエミッタの間に絶縁層を設けるこ とを含むすべてのステップからなる。この全体のプロセスは以下に詳しく説明す る。 図3に示すように、第1のステップ(S1)は、たとえばシリコンなどの基板2 0を用意することである。ステップS2では、適切な第1の物質35で出来たベース 層を堆積する(図4a)。第1の物質35は、陰極ルミネセンス蛍光体、もしくは 熱処理によって陰極ルミネセンス蛍光体に変えることができる先駆物質である。 導電性あるいは半導電性の蛍光体は、200マイクロオームーセンチメートル以 下の抵抗率のものを選ぶことが望ましい。この実施例では、ベース層は、ZnO:Zn 即ち過剰な亜鉛(理論量を超える)をドープした酸化亜鉛である。ステップS3で は、エッチストップ層75を堆積しパターニングをして電子シンク部の位置を定 義する第1の開口80を形成する。エッチストップ層75は、Ti,Zr,Hf,V,Nb,Ta ,Cr,Mo,Wなどの高融点金属あるいはこれらの金属の組み合わせあるいは合金でよ い。この実施例では、エッチストップ層は、Taを含む。上記の堆積とパターニン グはパターニングされたマスクを介してエッチストップ材料を堆積させれば同時 に行うことが出来る。ステップS4では、第1の絶縁層60を堆 積する(図4c)。この層は、たとえば酸化シリコンでよい。ステップS5では、薄 いエミッタ層40を堆積し(図4d)パターニングを行う。本実施例では、エミ ッタ層は約300オングストロームの厚さのMo層である。エミッタ層の材料は、 低い仕事関数を有することが好ましい。ステップS6では、望ましければ第2の絶 縁層90を堆積する(図4e)。この絶縁層90にも酸化シリコンを用いることが できる。ステップS7では、エミッタ層40と第1と第2の絶縁層(60、90) を通る第2の開口55は、エッチングにより形成し、一方エッチストップ層75 は実質的にエッチングされずに残る(図4f)。このエッチングは、反応性イオ ンエッチング、半導体製造の文献で“トレンチエッチング”と呼ばれることのあ る通常の方向性制エッチングプロセスを用いて行うことが望ましい。このステッ プでは、同時にエミッタ層40のエミッタチップ50も形成される。ステップS 8(図4g)ではベース層35とエッチストップ75を加熱して第1の開口にあ る電子シンク部80を有する陽極30と一体の蛍光体70を形成する。ZnO:Znベ ース層物質とTaエッチストップ層を適切な温度で適切な時間加熱することにより 蛍光体Ta2Zn3O8が形成される。900℃で約1時間あるいは1200℃で約10 秒間熱処理することは、本実施例のTa2Zn3O8を形成するために使用されて好結果 を得てきた適切な熱処理の例である。これによって電子電界放出デバイスの製造 は完了する。 この製造プロセスは、エミッタおよび/または陽極の電気接点を当技術で知ら れている適切な通常のマトリックスで配列して、フラットパネルディスプレイに 必要なだけのディスプレイデバイスを適切な配列で並べて同時に形成するために 上述したステップを実施することによりフラットパネルディスプレイを構成する 複数のディスプレイ素子デバイスを製造することに備えている。 図5は、エミッタ端50から陽極30へ流れる電子流を制御する一つまたはそ れ以上の制御電極あるいはゲート(110、120)を有する電界放出デバイスの 別の実施例の側立面断面図である。図5は、エミッタ層40の上下にある二つの 制御電極層110と120を示しているが、ただ一つの制御電極層(制御層11 0または制御層120)を省略して、機能デバイスを作ることが出来る。制御電 極層110と120は、絶縁層60および/または90の上の導電性材料を堆積 しパターニングし、制御電極層を他の導電性素子から絶縁するために必要な絶縁 層130のような追加される適切な絶縁層を堆積することによって製造される。 該制御電極の製造手順は、図3および図4a−4gには描かれていない。制御電極 の適切な製造プロセスおよびその材料は、本願で援用した米国特許第5,644 ,188号と第5,630,741号に記述されている。適切な電気制御信号を 制御電極110および/または120に加えるための手段が設けられる。 産業上の利用分野 本発明により、各々のセルの明るさとフィルファクタが向上した複数のディス プレイセルを有するフラットパネルディスプレイが提供される。製造プロセスは 、異なった抵抗率の陽極部分を形成するように特に構成されている。製造プロセ スは、明るさとフィルファクタを向上させたフラットパネルディスプレイを作る ため複数のディスプレイ素子デバイスを同時に製造することに備えている。 以上の説明から明らかなように、本発明は上記明細書と説明のなかで記述され たことから特に異なるかもしれない様々な改変および修正によって具体化するこ とが可能である。本発明の特定の実施例が添付図面に描かれ、上記詳細説明中に 記述されているが、本発明は記述された特定の実施例に限定されず、本発明の範 囲から逸脱することなしに様々な再構成、修正ならびに代替が可能である。たと えば、プロセスステップの順序を変更でき、記述されたものと同様な性質を有す る材料を代りに使用できる。具体的例をあげると、カラーディスプレイを提供す るため、本願の具体的な実施例の蛍光体材料の代わりに、陰極ルミネセンスの異 なった色の様々な蛍光体材料を使用できる。以下の特許請求項は、このような変 形のすべてを包括することを意図している。 私の発明は以上の通りであり、私は以下のように請求する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Surface Electronic Display Devices, and Methods of Making Same Cross-References to Related Applications This application is filed with the U.S. Patent and Trademark Office on Dec. 30, 1996, application no. 60 / 033,787 ". Surface Electron Display (SED) Device "and application number 60 / 033,788," U.S. Provisional Patent Application by Michael D. Potter for "Surface Electron Display (SED) Device". In addition, this application is related to US patent application Ser. No. 08 / 964,483 “Surface Electron Display (SED) Device” and US Ser. No. 08 / 964,989, filed on Nov. 5, 1997, with the US Patent and Trademark Office. TECHNICAL FIELD The present invention relates generally to field emission devices and methods of making the same, and more particularly to a surface electronic display device structure having an anode that includes an electron sink manufactured by a specially configured process. BACKGROUND ART Many field emission device structures including two, three and four poles for electronic circuits have been developed. Some field emission devices are particularly adapted for display devices. In such displays, one or more field emission devices are used for each pixel cell. Field emission devices are regarded as attractive display devices to replace flat panel liquid crystal display devices due to low manufacturing cost, low complexity, low power consumption, improved brightness, wide viewing angle, and the like. There is a continuing need for improved display device cell structures and manufacturing methods for flat panel display devices. Notes and Names The term "lateral" generally refers to a direction parallel to the substrate on which the electronic device is formed. Thus, "lateral field emission device" refers to a field emission device having a structure formed on a substrate and having an anode spaced from the field emitter in at least one direction parallel to the substrate. Similarly, the term "lateral emitter" refers to a field emitter made substantially parallel to the lateral device substrate. Thus, the emission of electrons towards the anode takes place entirely parallel to the substrate. Examples of lateral emitters formed from such thin films are known in the art. "Electronic sink" refers to an area on a surface where current electrons tend to flow toward the surface. Such an electronic sink area will be described in detail below. Description of the art Many field emission device structures are known. Most of these appear to have been of the Spindt type, generally described in, for example, US Pat. No. 3,755,704. U.S. Pat. Describes devices and / or their fabrication methods. U.S. Pat. No. 5,543,684 to Kumar et al. Describes a field emission cathode comprising a substrate and a conductive layer disposed adjacent to the substrate. An electrically resistive pillar is provided adjacent to the conductive layer. The resistive pillar has a substantially flat surface remote from and substantially parallel to the substrate. A diamond layer is provided adjacent to the resistive pillar. U.S. Pat. No. 5,548,185 to Kumar et al. Discloses a plurality of mutually corresponding light emitting anodes and field emission cathodes and a plurality of anodes and cathodes for controlling emission from the corresponding cathodes to the anodes. And a plurality of cathodes having a low work function layer having a relatively flat electron emission surface each including a plurality of electron emission areas. The grid assembly includes a conductive layer having a plurality of openings disposed between and between the plurality of anodes and cathodes and across the gap between each of the cathodes, the plurality of cathodes each having a location and size in the openings. Matches. U.S. Patent No. 5,659,224 to Kumar et al. Describes a cold cathode display device including a cathode having a layer of conductive material and a layer of low effect work function material deposited over the conductive material. The low-effect work function material layer has an emission surface that includes a plurality of distributed local electron emission regions that may have discontinuous electrical properties. The emission surface may be relatively flat. U.S. Pat. No. 5,558,554 to Finclair et al. Describes a method of making a field emission device anode having a plurality of grooves for a field emission flat panel display. U.S. Pat. No. 5,449,970 to Kumar et al. Describes a field-emission, matrix-addressed, bipolar flat-panel display using a bipolar (two-terminal) pixel structure. The flat panel display includes a cathode assembly having a plurality of cathodes. Each cathode includes a cathode conductive material layer and a low work function material layer deposited on the cathode conductive material layer. The flat panel display includes an anode assembly having a plurality of anodes, each anode including an anode conductive material layer and a cathodoluminescent material layer deposited on the anode conductive material layer. The anode assembly is located proximate to the cathode assembly that receives the charged particles emitted from the cathode assembly, and the cathodoluminescent material emits light each time it receives the emitted charged particles. The flat panel display of U.S. Pat. No. 5,449,970 further selectively alters the field emission between a plurality of corresponding light emitting anodes and field emission cathodes to provide addressable gray scale operation of the flat panel display. Have the ability to let. PROBLEMS SOLVED BY THE INVENTION In many field emission displays available in the art, the light emanating from the cathodoluminescent phosphor originates from a narrow area of the phosphor near the electron emitting tip or edge, and the narrow emission of light. The region may often not be sufficiently visible to a user at a wide range of viewing angles. There is a continuing need for an effective "fill factor", i.e., to improve the small area, brightness, and viewing angle range of the display cell area where light emission occurs. Objects, Objects and Benefits of the Invention The object of the invention is a flat panel display having a plurality of display cells, each having an improved brightness and fill factor. In order to fulfill this task, one object of the present invention is a display cell for use in a display as described above, having an anode with non-uniform resistivity. A more specific object is an anode for a field emission device in which at least one region of the anode has a relatively low resistivity compared to the remaining regions, and thus becomes an electron sink. One related object is an anode as described above formed with a phosphor surface. Another related object is an anode as described above wherein an electron sink is integrally formed on the surface of the anode and is formed laterally spaced from the emission edge of the electron emitter of the device. Yet another object is a manufacturing method specifically configured to create an improved display device structure. One related object is a manufacturing method suitable for simultaneously manufacturing each of a plurality of arrayed display devices to form a flat panel display. These and other objects, objects and advantages will become apparent by reading the following part of the specification with reference to the accompanying drawings. SUMMARY OF THE INVENTION A device useful as a display element has an electron emitter and an anode positioned to receive electrons emitted from the emitter. The anode has a surface portion having different resistivity, and the surface portion having the lowest resistivity becomes an electron sink portion. One preferred embodiment has a lateral electroluminescent electron emitter and an anode formed by a process specifically configured to provide anode portions of different resistivity, including an electron sink portion. The electron sink portion is preferably located laterally away from the emission end of the electron emitter of the device. In a particularly preferred process, the anode deposits a base layer, deposits an etch stop layer with an opening to define the electron sink portion, patterns it, etches from the overlying layer to the etch stop layer to form the opening. It is formed by forming and heating the base layer and the etch stop layer to form an electron sink portion, which is a constituent part of the anode surface, and an anode surface containing a cathode luminescent phosphor for light emission. The manufacturing process provides for manufacturing a plurality of display element devices to create a flat panel display. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a cross-sectional side elevation view of a field emission device made in accordance with the present invention; FIG. 2 is a side cross-sectional view of the field emission device showing electron paths; 4a to 4g are cross-sectional views of a series of side elevations showing the results of the steps of a preferred method of manufacturing a field emission device; FIG. FIG. 4 is a cross-sectional view of a side elevation of another embodiment of a field emission device made based on the above. DETAILED DESCRIPTION OF THE EMBODIMENTS A surface electronic display device and a manufacturing process specifically configured for making the device will be described with reference to the accompanying drawings. In the figures, the same reference numbers refer to the same or similar elements. For clarity, process steps are designated by reference numbers beginning with the letter "S" in the following text and figures, for example, S1, ..., S8. FIG. 1 is a cross-sectional view of a side elevation of a field emission device (generally designated 10) made in accordance with the present invention. The device has a substrate 20. When an appropriate bias voltage is applied to the anode 30 and the field emitter, the composite anode 30 receives electrons emitted from the field emitter 40. The field emitter 40 has a very thin tip or edge, and when a suitably high electric field is created at the tip 50, electrons are emitted from the tip in accordance with Fowler-Nordheim electron tunneling. The opening 55 extends from at least the lateral field emitter 40 down to the composite anode 30. The composite anode 30 includes a base material layer 35 on the upper surface of the substrate 20 and a phosphor portion 70 extending along the upper surface of the composite anode 30 and defining a low resistivity electron sink portion 80. I have. The electronic sink portion 80 can be advantageously formed to have a very small area compared to the area of the phosphor portion 70. The proportions of the sizes of both regions 70 and 80 are drawn differently from the actual ones in the figure. Substrate 20 preferably has conductivity to provide electrical contact to the anode. In the case of using an insulating substrate, a new conductive layer (not shown) may be provided between the insulating substrate and the base material layer 35. Also, an anode voltage is applied and a current is supplied to the outside. A buried anode contact (not shown) for routing to the circuit may be patterned. A device structure having such a buried anode contact and a method of making such a structure are described in U.S. Patent Nos. 5,644,188, 5,630,741. This application incorporates all disclosures of each patent. Although FIG. 1 shows two lateral field emitters 40 and two emitter tips 50, a device with dual emitters can be made in the same process and another process to make another emitter. Indicates that no additional steps need to be performed. However, the second emitter is not essential for the operation of the device and may be omitted. If the second emitter is omitted, an electron sink region 80 can be provided adjacent to a side edge within the opening 55 furthest from the remaining field emitter tip 50. Thus, for example, if the right field emitter in FIG. 1 is omitted, an electron sink region 80 can advantageously be provided adjacent to the right edge in opening 55 furthest from the remaining left emitter tip. (A single-emitter device in such a configuration is shown in FIG. 5, which also illustrates other features described in detail below.) Lateral field emitter 40 has an insulating layer 60 interposed. Then, it is separated from the anode 30. The insulating layer 60 supports the lateral field emitter at a predetermined distance above a plane with the upper surface of the anode. A second insulating layer 90 can be provided over the field emitter 40. In principle, omitting the second insulating layer 90 improves the viewing angle of the display. However, since the very thin insulating layer 90 is used, the viewing angle is actually slightly improved. An unexpected result has been obtained with a device structure made as shown in FIG. That is, the electrons emitted from the field emitter tip 50 do not directly enter the anode near the emitter tip 50. In this surface electronic device, the electrons travel across the surface, apparently down to the low resistance electron sink region 80, and enter the bulk portion of the anode base material 35. The good effect as a whole is that bright pixels with a large effective fill factor are obtained. Cathodoluminescence occurs not only near the emitter chip 50 but also throughout the phosphor portion 70 at the bottom of the trench opening 55. As is known in the art, means are provided for applying an appropriate electrical bias to cause field emission of electrons from the emitter end 50 toward the composite anode 30. FIG. 2 is a cross-sectional side view of a field emission device, with several electron paths 100 typical of devices made in accordance with the present invention shown in dashed lines. While such electron paths are believed to contribute to the performance enhancements observed in the devices of the present invention, the present invention is not intended to be limited by any particular physical phenomenon, but rather by the accompanying As claimed, it is intended to be defined by its structure and / or method of manufacture. Description of Manufacturing Process FIG. 3 is a flowchart showing a preferred method of manufacturing the field emission device of FIG. 4a to 4g are a series of side elevational sectional views showing the results of each step of the preferred process. At a high level, the preferred process is to provide a substrate (S1), form an anode having at least one electron sink region on the substrate (S2-S3, S8), and provide an anode at least partially away from the anode. Consists of all steps including forming and patterning an electron emitter aligned with the anode (S5.S7) and providing an insulating layer between the anode and the emitter. This entire process is described in detail below. As shown in FIG. 3, the first step (S1) is to prepare a substrate 20 such as silicon. In step S2, a base layer made of a suitable first material 35 is deposited (FIG. 4a). The first material 35 is a cathodoluminescent phosphor or a precursor that can be converted to a cathodoluminescent phosphor by heat treatment. It is desirable to select a conductive or semiconductive phosphor having a resistivity of 200 microohm centimeters or less. In this embodiment, the base layer is ZnO: Zn, a zinc oxide doped with excess zinc (above stoichiometric). In step S3, an etch stop layer 75 is deposited and patterned to form a first opening 80 that defines the position of the electron sink. The etch stop layer 75 may be a refractory metal such as Ti, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo, W, or a combination or alloy of these metals. In this embodiment, the etch stop layer includes Ta. The above-described deposition and patterning can be performed simultaneously by depositing an etch stop material through a patterned mask. In step S4, a first insulating layer 60 is deposited (FIG. 4c). This layer may be, for example, silicon oxide. In step S5, a thin emitter layer 40 is deposited (FIG. 4d) and patterning is performed. In this embodiment, the emitter layer is a Mo layer having a thickness of about 300 angstroms. The material of the emitter layer preferably has a low work function. In step S6, a second insulating layer 90 is deposited if desired (FIG. 4e). Silicon oxide can also be used for the insulating layer 90. In step S7, a second opening 55 through the emitter layer 40 and the first and second insulating layers (60, 90) is formed by etching, while the etch stop layer 75 remains substantially unetched ( FIG. 4f). This etching is preferably performed using a reactive directional etching, a conventional directional control etching process sometimes referred to as "trench etching" in semiconductor manufacturing literature. In this step, an emitter chip 50 of the emitter layer 40 is also formed at the same time. In step S8 (FIG. 4g), the base layer 35 and the etch stop 75 are heated to form the phosphor 70 integral with the anode 30 having the electron sink 80 in the first opening. The phosphor Ta 2 Zn 3 O 8 is formed by heating the ZnO: Zn base layer material and the Ta etch stop layer at an appropriate temperature for an appropriate time. Heat treatment at 900 ° C. for about 1 hour or 1200 ° C. for about 10 seconds is an example of a suitable heat treatment that has been used successfully to form Ta 2 Zn 3 O 8 in this example. This completes the fabrication of the electron field emission device. This fabrication process arranges the emitter and / or anode electrical contacts in a suitable conventional matrix known in the art to simultaneously form as many display devices as needed for a flat panel display in a suitable array. Therefore, the present invention provides for manufacturing a plurality of display element devices constituting a flat panel display by performing the steps described above. FIG. 5 is a cross-sectional side elevation view of another embodiment of a field emission device having one or more control electrodes or gates (110, 120) for controlling electron flow from the emitter end 50 to the anode 30. . FIG. 5 shows two control electrode layers 110 and 120 above and below the emitter layer 40, but omits only one control electrode layer (control layer 110 or control layer 120) to create a functional device. I can do it. Control electrode layers 110 and 120 may be provided by depositing and patterning a conductive material over insulating layers 60 and / or 90, such as an insulating layer 130 necessary to insulate the control electrode layers from other conductive elements. Manufactured by depositing a suitable insulating layer. The manufacturing procedure of the control electrode is not depicted in FIGS. 3 and 4a-4g. Suitable manufacturing processes and materials for the control electrode are described in U.S. Patent Nos. 5,644,188 and 5,630,741 incorporated herein by reference. Means are provided for applying an appropriate electrical control signal to the control electrodes 110 and / or 120. INDUSTRIAL APPLICATION The present invention provides a flat panel display having a plurality of display cells in which the brightness and fill factor of each cell are improved. The fabrication process is specifically configured to form different resistivity anode portions. The manufacturing process provides for simultaneously manufacturing multiple display element devices to create a flat panel display with enhanced brightness and fill factor. As is apparent from the above description, the present invention can be embodied in various alterations and modifications that may be particularly different from those described in the above specification and description. While specific embodiments of the present invention are illustrated in the accompanying drawings and described in the above detailed description, the invention is not limited to the specific embodiments described and without departing from the scope of the invention. Various rearrangements, modifications and alternatives are possible. For example, the order of the process steps can be changed, and materials having properties similar to those described can be used instead. As a specific example, various phosphor materials of different colors of cathodoluminescence can be used in place of the phosphor materials of the specific embodiments of the present application to provide a color display. The following claims are intended to cover all such variations. My invention is as described above, and I claim as follows.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01J 9/14 H01J 9/22 S 9/22 29/18 A 29/18 29/20 29/20 31/12 C 31/12 1/30 F (31)優先権主張番号 08/964,483 (32)優先日 平成9年11月5日(1997.11.5) (33)優先権主張国 米国(US) (31)優先権主張番号 08/964,987 (32)優先日 平成9年11月5日(1997.11.5) (33)優先権主張国 米国(US) (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L U,MC,NL,PT,SE),EA(AM,AZ,BY ,KG,KZ,MD,RU,TJ,TM),AU,BR ,CA,CN,HU,JP,KP,KR,MX,NO, NZ,PL,RU,SG,TR,UA,VN 【要約の続き】 いる。──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI theme coat ゛ (Reference) H01J 9/14 H01J 9/22 S 9/22 29/18 A 29/18 29/20 29/20 31 / 12 C 31/12 1/30 F (31) Priority claim number 08 / 964,483 (32) Priority date November 5, 1997 (11.5 November 1997) (33) Priority claim country United States (US (31) Priority claim number 08 / 964,987 (32) Priority date November 5, 1997 (11.5 November 1997) (33) Priority claim country United States (US) (81) Designated country EP ( AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE), EA (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM), AU, BR, CA, CN, HU, JP, KP, KR, X, NO, NZ, PL, RU, SG, TR, UA, are [continuation of the summary] VN.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1. 電子電界放出デバイスであって、該デバイスは、 a)電子を放出するエミッタと、 b)前記電子を受け取るために配置された陽極、該陽極は、 電子シンク部分を含む、電子電界放出デバイス。 2. 電子電界放出デバイスであって、該デバイスは、 a)電子を放出するエミッタと、 b)前記電子を受け取るために配置された陽極、該陽極はそれぞれ第1と第2 の抵抗率を特徴とする少なくとも第1と第2の部分を有し、前記第1の抵抗率は 前記第2の抵抗率よりも低いので前記陽極の前記第1の部分が電子シンクになる 、とを含む、電子電界放出デバイス。 3. 請求項1記載の電子電界放出デバイスであって、前記電子シンクに隣接し ている前記陽極の少なくとも一部分が前記電子シンクの抵抗率よりも高い抵抗率 を有することを特徴とする、電子電界放出デバイス。 4. 請求項1記載の電子電界放出デバイスであって、前記電子シンクに隣接し ている前記陽極の少なくとも一部分が前記電子シンクのリアクタンスよりも高い リアクタンスを有することを特徴とする、電子電界放出デバイス。 5. 請求項1記載の電子電界放出デバイスであって、前記陽極は前記電子によ る誘発放出によって発光する少なくとも一つの蛍光体を含む、電子電界放出デバ イス。 6. 請求項1記載の電子電界放出デバイスであって、前記陽極を前記エミッタ から少なくとも一方向の横方向に離れて配置し横方向電界放出デバイスを形成す る、電子電界放出デバイス。 7. 請求項2記載の電子電界放出デバイスであって、前記陽極を前記エミッタ から少なくとも一方向の横方向に離れて配置し横方向電界放出デバイスを形成す る、電子電界放出デバイス。 8. 請求項2記載の電子電界放出デバイスであって、前記陽極は、前記電子に よる誘発放出によって発光する少なくとも一つの蛍光体を含む、電子電界放出デ バイス。 9. 少なくとも請求項5記載の電子電界放出デバイスを具備するディスプレイ 。 10.請求項5記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの蛍 光体は少なくとも一つの導電性蛍光体を含む、電子電界放出デバイス。 11.請求項5記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの蛍 光体は少なくとも一つの半導性蛍光体を含む、電子電界放出デバイス。 12.請求項5記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの蛍 光体はTa2Zn3O8を含む、電子電界放出デバイス。 13.請求項8記載の電子電界放出デバイスを少なくとも一つ含むディスプレイ 。 14.請求項8記載の電子電界放出デバイスであって、前記陽極の少なくとも前 記第2の部分は前記少なくとも一つの蛍光体を含む、電子電界放出デバイス。 15.請求項8記載の電子電界放出デバイスであって、前記陽極の前記第1と第 2の各々が前記少なくとも一つの蛍光体を含む、電子電界放出デバイス。 16.請求項8記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの蛍 光体は、前記陽極の少なくとも前記第2の部分上に配置される、電子電界放出デ バイス。 17.請求項8記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの蛍 光体は、少なくとも一つの導電性蛍光体を含む、電子電界放出デバイス。 18.請求項8記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの蛍 光体は、少なくとも一つの半導性蛍光体を含んでいる、電子電界放出デバイス。 19.請求項8記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの蛍 光体はTa2Zn3O8を含む、電子電界放出デバイス。 20.請求項10記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの 導電性蛍光体は、200マイクロオーム-センチメートル以下の抵抗率を有する 、電子電界放出デバイス。 21.請求項17記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つの 導電性蛍光体は、200マイクロオーム-センチメートル以下の抵抗率を有する 、電子電界放出デバイス。 22.請求項1記載の電子電界放出デバイスは、さらに、 c)前記エミッタから電子を放出させるのに十分な電気的バイアスを前記陽極 に印加する手段を含む、電子電界放出デバイス。 23.請求項1記載の電子電界放出デバイスは、さらに、 c)前記エミッタと前記陽極から離れた少なくとも一つの制御ゲート、と d)前記電子を制御する前記制御ゲートに制御信号を印加する手段、とを含む 、電子電界放出デバイス。 24.請求項2記載の電子電界放出デバイスは、さらに、 c)前記エミッタから電子を放出させるのに十分な電気的バイアスを前記陽極 に印加する手段を含む、電子電界放出デバイス。 25.請求項2記載の電子電界放出デバイスは、さらに、 c)前記エミッタと前記陽極から離れた少なくとも一つの制御ゲート、と d)前記電子を制御する前記制御ゲートに制御信号を印加する手段、とを含む 、電子電界放出デバイス。 26.電子電界放出デバイスであって、該デバイスは、 a)電子を放出するエミッタと、 b)前記電子を受け取るために配置された陽極、該陽極を前記エミッタから少 なくとも一方向の横方向に離して配置し横方向電界放出デバイスを形成する、ま た該陽極はそれぞれ第1と第2の抵抗率を特徴とする少なくとも第1と第2の部 分を有しており、前記第1の抵抗率は前記第2の抵抗率よりも低く、これにより 電子シンクが形成される、さらに前記陽極の前記第1と第2の部分の少なくとも 前記電子による誘起放出によって発光する少なくとも一つの蛍光体を含む、電子 電界放出デバイス。 27.電子電界放出デバイスであって、該デバイスは、 a)電子を放出するエミッタと、 b)前記電子を受け取るために配置された陽極、該陽極を前記エミッタから少 なくとも一方向の横方向に離して配置し横方向電界放出デバイスを形成する、ま た該陽極はそれぞれ第1と第2の抵抗率を特徴とする少なくとも第1と第2の部 分を有しており、前記第1の抵抗率は前記第2の抵抗率よりも低く、これにより 電子シンクが形成される、さらに前記陽極の前記第1と第2の部分の少なくとも 前記電子による誘起放出によって発光する少なくとも一つの蛍光体を含む、と、 c)前記エミッタと前記陽極から離れている少なくとも一つの制御ゲートと、 d)前記電子を制御する前記制御ゲートに制御信号を印加する手段と、を含む 、電子電界放出デバイス。 28.請求項26に記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つ の蛍光体は、前記陽極の少なくとも前記第2の部分にあるTa2Zn3O8を含む、電子 電界放出デバイス。 29.請求項27に記載の電子電界放出デバイスであって、前記少なくとも一つ の蛍光体は、前記陽極の少なくとも前記第2の部分にあるTa2Zn3O8を含む、電子 電界放出デバイス。 30.電子電界放出デバイスの製造方法であって、該方法は、 a)基板を用意し、 b)前記基板上に陽極、該陽極は少なくとも一つの電子シンクを有する、を基 板上に形成し、 c)前記基板と前記陽極から平行な方向に離して、かつ前記陽極に少なくとも 部分的に整合して電子エミッタを形成し、これをパターニングし、 d)前記陽極と前記エミッタとの間に絶縁層を配設するステップからなる、電 子電界放出デバイス製造方法。 31.電子電界放出デバイス製造方法であって、該方法は、 a)導電性基板を用意し、 b)前記導電性基板上に適切な物質のベース層を配置し、 c)前記ベース層上にエッチストップ層を配置し、 d)前記エッチストップ層をパターニングして少なくとも一つの電子シンク用 の第1開口を形成し、 e)前記エッチストップ層上に第1の絶縁層を配置し、 f)導電性材料を配置し、これをパターニングして前記第1の絶縁層の上にわ ずか数百オングストロームの厚さのエミッタ層を形成し、 g)前記エミッタ層上に第2の絶縁層を配置し、 h)前記エッチストップ層を実質的にエッチングせずに残しながら前記エミッ タ層と前記第1と第2の絶縁層を通して第2の開口をエッチングし、 i)少なくとも前記ベース物質とエッチストップ層を適切な温度で適切な時間 か熱して複合材料を形成し、少なくとも一つの電子シンクを有する陽極を少なく とも一つの第1開口を形成し、該電子電界放出デバイスを完成するステップから なる、電子電界放出デバイス製造方法。 32.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記導電性 物質を用意するステップ(a)は、シリコン基板を用意することである、電子電 界放出デバイス製造方法。 33.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記導電性 物質を用意するステップ(a)は、別の基板の上に導電性材料を配置することで ある、電子電界放出デバイス製造方法。 34.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記適切な ベース物質の層は、蛍光体もしくは熱処理により蛍光体に変えることができる物 質を堆積して配置する、電子電界放出デバイス製造方法。 35.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記エッチ ストップ層は高融点金属を堆積して配置する、電子電界放出デバイス製造方法。 36.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記第1の 絶縁層配置ステップ(e)は、酸化シリコンを堆積して行う、電子電界放出デバ イス製造方法。 37.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記第2の 絶縁層配置ステップ(g)は、酸化シリコンを堆積して行う、電子電界放出デバ イス製造方法。 38.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記第2の 開口エッチングステップ(h)は、反応性イオンエッチングによって行う、電子 電界放出デバイス製造方法。 39.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記エミッ タ層形成ステップ(f)は、金属の層を堆積し、これをパターニングすることに よって行う、電子電界放出デバイス製造方法。 40.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、適切な物質 の前記ベース層は、亜鉛をドープした酸化亜鉛(ZnO:Zn)を含む、前記エッチス トップ層はタンタル(Ta)を含む、前記加熱ステップ(i)少なくとも900℃の温 度で適切な時間加熱を行いTa2Zn3O8を形成する、電子電界放出デバイス製造方法 。 41.請求項31に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記複合材 料はTa2Zn3O8を含む、電子電界放出デバイス製造方法。 42.請求項33に記載の電子電界放出デバイス製造方法は、さらに前記導電性 材料をパターニングしてパターン化陽極接点を形成するステップを含む、電子電 界放出デバイス製造方法。 43.請求項34に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記蛍光体 は、亜鉛をドープした酸化亜鉛ZnO:Znである、電子電界放出デバイス製造方法。 44.請求項35に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記高融点 金属は、Ti,Zr,Hf,V,Nb,Ta、Cr,Mo,W,およびこれらの組み合わせおよび 合金から選ばれる、電子電界放出デバイス製造方法。 45.請求項39に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記金属層 は、約300オングストロームの厚さのモリブデン(Mo)層を含む、電子電界放 出デバイス製造方法。 46.請求項40に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記複合材 料は、Ta2Zn3O8を含む、電子電界放出デバイス製造方法。 47.電子電界放出デバイス製造方法であって、該方法は、 a)シリコン基板を用意し、 b)ZnO:Znを含む第1の物質の層を堆積し、 c)Taのエッチストップ層を堆積し、 d)前記エッチストップ層をパターニングして少なくとも一つの電子シンク用 第1開口を形成し、 e)酸化シリコンの第1の絶縁層を堆積し、 f)Mo層を堆積し、これをさらにパターニングして約300オングストローム の厚さのエミッタ層を形成し、 g)酸化シリコンの第2の絶縁層を堆積し、 h)前記エッチストップ層を実質的にエッチングせずに残しながら、前記エミ ッタ層と前記第1と第2の絶縁層を通して第2の開口をエッチングし、 i)少なくとも前記ZnO:Zn材と前記エッチストップ層を約900℃以上の温度 で適切な時間加熱してTa2Zn3O8を形成することによって、少なくとも一つの第1 開口にある電子シンク部分を有する陽極を形成し、電子電界放出デバイスを完成 するステップからなる、電子電界放出デバイス製造方法。 48.請求項47に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記加熱ス テップ(i)は、少なくとも約1時間加熱するステップを含む、電子電界放出デ バイス製造方法。 49.請求項47に記載の電子電界放出デバイス製造方法であって、前記加熱ス テップ(i)は、約1200℃以上の温度で少なくとも約10秒間加熱するステ ップを含む、電子電界放出デバイス製造方法。Claims 1. An electron field emission device, comprising: a) an emitter for emitting electrons; b) an anode arranged to receive said electrons, said anode comprising an electron sink portion. And an electron field emission device. 2. An electron field emission device, the device comprising: a) an emitter for emitting electrons; b) an anode arranged to receive the electrons, the anode characterized by first and second resistivity, respectively. Having at least a first and a second portion, wherein the first resistivity is lower than the second resistivity so that the first portion of the anode becomes an electron sink. Field emission device. 3. The electron field emission device of claim 1, wherein at least a portion of the anode adjacent the electron sink has a higher resistivity than the resistivity of the electron sink. Emission device. 4. The electron field emission device of claim 1, wherein at least a portion of the anode adjacent the electron sink has a higher reactance than a reactance of the electron sink. . 5. The electron field emission device according to claim 1, wherein the anode includes at least one phosphor that emits light by stimulated emission by the electrons. 6. The electron field emission device of claim 1, wherein the anode is disposed at least in one lateral direction away from the emitter to form a lateral field emission device. 7. The electron field emission device of claim 2, wherein the anode is disposed at least one laterally away from the emitter to form a lateral field emission device. 8. The electron field emission device according to claim 2, wherein the anode includes at least one phosphor that emits light by the electron-induced emission. 9. A display comprising at least the electron field emission device according to claim 5. Ten. The electron field emission device according to claim 5, wherein the at least one phosphor includes at least one conductive phosphor. 11. The electron field emission device according to claim 5, wherein the at least one phosphor includes at least one semiconducting phosphor. 12. An electron field emission device of claim 5, wherein the at least one phosphor comprises Ta 2 Zn 3 O 8, the electron field emission device. 13. A display comprising at least one electron field emission device according to claim 8. 14. 9. The electron field emission device according to claim 8, wherein at least the second portion of the anode includes the at least one phosphor. 15. 9. The electron field emission device according to claim 8, wherein each of said first and second of said anodes comprises said at least one phosphor. 16. 9. The electron field emission device according to claim 8, wherein the at least one phosphor is disposed on at least the second portion of the anode. 17. 9. The electron field emission device according to claim 8, wherein the at least one phosphor includes at least one conductive phosphor. 18. 9. The electron field emission device according to claim 8, wherein the at least one phosphor includes at least one semiconducting phosphor. 19. An electron field emission device of claim 8 wherein said at least one phosphor comprises Ta 2 Zn 3 O 8, electron field emission device. 20. The electron field emission device according to claim 10, wherein the at least one conductive phosphor has a resistivity of less than or equal to 200 micro ohm-centimeter. twenty one. 18. The electron field emission device according to claim 17, wherein the at least one conductive phosphor has a resistivity of less than or equal to 200 microohm-centimeter. twenty two. 2. The electron field emission device of claim 1, further comprising: c) means for applying an electrical bias to the anode sufficient to cause the emitter to emit electrons. twenty three. 2. The electron field emission device according to claim 1, further comprising: c) at least one control gate remote from said emitter and said anode; and d) means for applying a control signal to said control gate controlling said electrons. And an electron field emission device. twenty four. 3. The electron field emission device of claim 2, further comprising: c) means for applying an electrical bias to the anode sufficient to cause electrons to be emitted from the emitter. twenty five. 3. The electron field emission device of claim 2, further comprising: c) at least one control gate remote from said emitter and said anode; and d) means for applying a control signal to said control gate controlling said electrons. And an electron field emission device. 26. An electron field emission device, comprising: a) an emitter that emits electrons; b) an anode arranged to receive the electrons, wherein the anode is spaced laterally from the emitter in at least one direction. Forming a lateral field emission device, wherein the anode has at least first and second portions each characterized by first and second resistivity, wherein the first resistivity is the first resistivity. An electron field emission, comprising at least one phosphor that is lower than the resistivity of 2 and thereby forms an electron sink and that emits light by at least the electron-induced emission of the first and second portions of the anode. device. 27. An electron field emission device, comprising: a) an emitter that emits electrons; b) an anode arranged to receive the electrons, wherein the anode is spaced laterally from the emitter in at least one direction. Forming a lateral field emission device, wherein the anode has at least first and second portions each characterized by first and second resistivity, wherein the first resistivity is the first resistivity. 2, comprising at least one phosphor that is lower than the resistivity of 2 and thereby forms an electron sink and further emits light by at least the electron-induced emission of the first and second portions of the anode; c. An electron field emission device comprising: (a) at least one control gate remote from the emitter and the anode; and d) means for applying a control signal to the control gate for controlling the electrons. Su. 28. An electron field emission device of claim 26, wherein said at least one phosphor comprises Ta 2 Zn 3 O 8 in at least the second portion of the anode, electron field emission device. 29. An electron field emission device of claim 27, wherein said at least one phosphor comprises Ta 2 Zn 3 O 8 in at least the second portion of the anode, electron field emission device. 30. A method of manufacturing an electron field emission device, comprising: a) providing a substrate; b) forming an anode on the substrate, the anode having at least one electron sink on the substrate; c) Forming an electron emitter spaced parallel to and at least partially aligned with the substrate and the anode, and patterning the electron emitter; d) disposing an insulating layer between the anode and the emitter. A method for manufacturing an electron field emission device, comprising: 31. A method of manufacturing an electron field emission device, comprising: a) providing a conductive substrate; b) placing a base layer of a suitable material on the conductive substrate; c) etching stop on the base layer. Disposing a layer; d) patterning said etch stop layer to form a first opening for at least one electron sink; e) disposing a first insulating layer on said etch stop layer; Disposing a material and patterning it to form an emitter layer having a thickness of only several hundred angstroms on said first insulating layer; g) disposing a second insulating layer on said emitter layer; A) etching a second opening through the emitter layer and the first and second insulating layers while leaving the etch stop layer substantially unetched; i) providing at least the base material and the etch stop layer Heating at a suitable temperature for a suitable time to form a composite material, forming an anode having at least one electron sink in at least one first opening, and completing the electron field emission device. Method. 32. 32. The method according to claim 31, wherein the step (a) of preparing the conductive material comprises preparing a silicon substrate. 33. 32. The method of claim 31, wherein the step (a) of providing the conductive material comprises disposing a conductive material on another substrate. Method. 34. 32. The method of claim 31, wherein the appropriate base material layer comprises a phosphor or a material that can be converted to a phosphor by heat treatment. Method. 35. 32. The method according to claim 31, wherein the etch stop layer is formed by depositing a refractory metal. 36. 32. The method for manufacturing an electron field emission device according to claim 31, wherein the first insulating layer disposing step (e) is performed by depositing silicon oxide. 37. The method for manufacturing an electron field emission device according to claim 31, wherein the step (g) of arranging the second insulating layer is performed by depositing silicon oxide. 38. The method for manufacturing an electron field emission device according to claim 31, wherein the second opening etching step (h) is performed by reactive ion etching. 39. 32. The method according to claim 31, wherein the step (f) of forming an emitter layer is performed by depositing a metal layer and patterning the layer. 40. 32. The method of claim 31, wherein the base layer of a suitable material comprises zinc-doped zinc oxide (ZnO: Zn), and the etch stop layer comprises tantalum (Ta). Heating step (i) heating at a temperature of at least 900 ° C. for an appropriate time to form Ta 2 Zn 3 O 8 ; 41. An electron field emission device manufacturing method according to claim 31, wherein the composite material comprises Ta 2 Zn 3 O 8, the electron field emission device manufacturing method. 42. 34. The method of claim 33, further comprising patterning the conductive material to form a patterned anode contact. 43. The method for manufacturing an electron field emission device according to claim 34, wherein the phosphor is zinc-doped zinc oxide (ZnO: Zn). 44. 36. The method of claim 35, wherein the refractory metal is selected from Ti, Zr, Hf, V, Nb, Ta, Cr, Mo, W, and combinations and alloys thereof. Method for manufacturing an electron field emission device. 45. 40. The method of claim 39, wherein the metal layer comprises a molybdenum (Mo) layer having a thickness of about 300 angstroms. 46. An electron field emission device manufacturing method according to claim 40, wherein the composite material comprises Ta 2 Zn 3 O 8, the electron field emission device manufacturing method. 47. An electron field emission device manufacturing method, comprising: a) providing a silicon substrate; b) depositing a layer of a first material comprising ZnO: Zn; c) depositing an etch stop layer of Ta; d) patterning the etch stop layer to form at least one electron sink first opening; e) depositing a first insulating layer of silicon oxide; f) depositing a Mo layer and further patterning it. Forming an emitter layer about 300 angstroms thick; g) depositing a second insulating layer of silicon oxide; h) leaving the etch stop layer substantially unetched while leaving the emitter layer and the emitter layer Etching the second opening through the first and second insulating layers; i) heating at least the ZnO: Zn material and the etch stop layer at a temperature of about 900 ° C. or more for a suitable time to obtain Ta 2 Zn 3 O 8 By forming Te, to form an anode having an electron sink portion of the at least one first opening, comprising the step of completing the electron field emission device, the electron field emission device manufacturing method. 48. 48. The method of claim 47, wherein the heating step (i) comprises heating for at least about 1 hour. 49. 48. The method of claim 47, wherein the heating step (i) comprises heating at a temperature of about 1200C or higher for at least about 10 seconds.
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