JP2001351313A - ディスクプレーヤの再生性能測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】簡単な構成で自動的にディスクプレーヤの再生
能力を測定でき、しかも測定結果から再生性能を定量的
に把握することが可能な再生性能測定装置を提供する。 【解決手段】再生性能測定装置Ａに、ディスクプレーヤ
側のＲＦ信号またはＥＦＭ信号を取り込んでデコードす
るデコーダ７と、デコードされたデジタル信号をアナロ
グ信号に変換するＤ／Ａ変換器８と、Ｄ／Ａ変換器８か
ら出力されるテストディスク再生信号の歪率を測定する
歪率測定部９と、測定された歪率に基づいて再生性能に
関するデータを表示する表示部１１とを設けた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＣＤプレーヤやＭ
Ｄプレーヤ等の再生性能を測定する装置に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤやＭＤなどのディスクには、キズや
汚れに起因する読取りエラーが発生しても、これを訂正
して正しいデータに修復するための補正用信号が記録さ
れており、多少のキズや汚れがあってもディスクの記録
信号を正しく再生できるようになっている。しかし、キ
ズや汚れの程度がある程度大きくなると、エラーの訂正
ができなくなり、音が途切れたりノイズによる音の歪み
などが生じる。したがって、どの程度のキズや汚れまで
なら正常な再生動作が行なえるかは、ディスクプレーヤ
の再生性能によって決まり、ごくわずかなキズや汚れで
も再生に支障が生じる場合は再生性能が低く、かなり大
きなキズや汚れがあっても再生を正常に行なえる場合は
再生性能が優れていることになる。こうしたことから、
メーカ側ではディスクプレーヤの再生性能を測定するこ
とが必要となる。

【０００３】従来、上記のような再生性能を測定するに
あたっては、ディスクプレーヤにテストディスクをセッ
トし、これを再生して試聴することで音の途切れや歪み
を測定し、再生性能を評価していた。しかし、このよう
な方法では人の聴覚によって測定ないし判断を行なうた
め、測定者によって評価にバラツキが生じ、客観的な評
価が難しいという問題がある。

【０００４】これに対して、特開平８−２６３８４７号
公報には、ディスクプレーヤの再生性能を自動的に測定
するようにした試験装置が開示されている。この試験装
置は、テストディスクに記録された音声信号と、テスト
ディスクを再生した場合の音声信号との差異に基づいて
再生性能を測定するものである。すなわち、音声信号が
一定時間以上連続して存在しない無音状態を検出する回
路部と、ディスクに記録された音声信号以外のノイズを
検出する回路部とを設け、無音状態またはノイズが検出
された場合に、再生能力に異常がある旨の表示を行なう
ようにしている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
報に記載のものでは無音検出用回路とノイズ検出用回路
の２系統の回路が必要となり、回路構成が複雑になると
いう問題がある。また、測定結果を異常の有無だけで表
示しているため、再生性能を定量的に把握することがで
きないという問題がある。

【０００６】本発明は、上記のような問題点を解決する
ものであって、簡単な構成で自動的にディスクプレーヤ
の再生能力を測定でき、しかも測定結果から再生性能を
定量的に把握することが可能な再生性能測定装置を提供
することを課題としている。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係る再生性能測定装置は、単一周波数信号
が記録されディスク上の一部に読取不能部が形成された
テストディスクを用いてディスクプレーヤの再生性能を
測定する装置であって、テストディスクに記録された単
一周波数信号を再生する再生部と、この再生部で再生さ
れた信号の歪率を測定する歪率測定部とを備えたもので
ある。

【０００８】このようにすることで、再生部と歪率測定
部からなる１系統の回路を設けるだけで済み、回路構成
が簡単となる。また、歪率によって再生性能を測定する
ので、たとえば、歪率が急増する時点までの測定時間に
基づいてテストディスクのキズのサイズを検出すれば、
その値が再生可能なキズの限界値であることが把握で
き、再生性能を定量的に知ることが可能となる。

【０００９】本発明において、測定装置の再生部は、デ
ィスクプレーヤ側のＲＦ信号またはＥＦＭ信号を取り込
んで当該信号をデコードするデコーダと、このデコーダ
でデコードされたデジタル信号をアナログ信号に変換す
るＤ／Ａ変換器とから構成するのが望ましい。これによ
ると、ディスクプレーヤ側の再生部とは独立した再生部
が測定装置内部に設けられるため、ディスクプレーヤが
再生性能に優れた高級機か、再生性能がそれほど高くな
い低級機かにかかわらず、安定した測定を行なうことが
できる。ただし、原理的には、ディスクプレーヤ側の再
生部からオーディオ信号を取り込んで歪率を測定するこ
とも可能であり、この場合は構成がより簡略化される。

【００１０】また、本発明では、測定された歪率に基づ
いて再生性能に関するデータを表示する表示部を設ける
ことが好ましい。表示部には、たとえば歪率が急増する
時点までの測定時間が表示される。これによると、表示
された時間をみて、別に用意された測定時間とディスク
のキズや汚れのサイズとの対照表を参照することで、再
生性能を定量的に把握することができる。

【００１１】また、本発明では、テストディスクの読取
開始からの測定時間と、この測定時間に対応するキズや
汚れのサイズとが記憶されたメモリを設けることも推奨
される。これによると、たとえば、歪率が急増する時点
までの測定時間に基づきメモリを参照してキズなどのサ
イズを求め、これを表示部に表示することが可能とな
る。このため、再生性能の定量的な把握が一層容易とな
る。さらに、求めたサイズを所定値と比較し、その比較
結果に応じて正常表示または異常表示を行なうようにし
てもよい。

【００１２】また、本発明では、テストディスクの読取
りエラーを測定するエラー測定部を設けることも推奨さ
れる。これによると、たとえば、ブロックエラーレート
や訂正不能なエラー数などのデータが再生性能に関する
データと並行して測定される。そして、測定したエラー
情報を再生性能のデータとともに表示することで、測定
された再生性能の背景にあるエラー状況を知ることがで
き、再生性能の総合的な評価が可能となる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態につき、
図を参照しながら説明する。図１は本発明に係る再生性
能測定装置をディスクプレーヤに接続した場合のブロッ
ク図を示している。図において、１はＭＤやＣＤなどの
ディスク、２はレーザビームをディスク１に照射してそ
の反射光によってディスク１に記録されたデータを読み
取る光ピックアップ、３は光ピックアップ２の出力を増
幅するＲＦアンプ、４はＲＦアンプの出力信号に対して
デコード等の処理を行なう信号処理部、５は信号処理部
４で処理されたデジタル信号をアナログ信号に変換して
オーディオ信号として出力するＤ／Ａ変換器である。光
ピックアップ２、ＲＦアンプ３、信号処理部４、および
Ｄ／Ａ変換器５はディスクプレーヤを構成する要素であ
る。

【００１４】一方、再生性能測定装置Ａにおいて、６は
ＲＦアンプ３からのＲＦ信号（アナログ信号）を２値化
する２値化回路、７は信号処理部４で生成されたＥＦＭ
（Eight to Fourteen Modulation）信号をデコードする
デコーダである。ＥＦＭ信号は、ＲＦ信号が２値化され
たデジタル信号である。なお、信号処理部４がＩＣ化さ
れていてＥＦＭ信号を取り出すのが不可能な場合は、２
値化回路６の出力がデコーダ７に入力される。したがっ
て、デコーダ７には信号処理部４からのＥＦＭ信号、あ
るいは２値化回路６からの信号のいずれか一方が入力さ
れる。

【００１５】８はデコーダ７からのデジタル信号をアナ
ログ信号に変換するＤ／Ａ変換器で、デコーダ７および
Ｄ／Ａ変換器８によって再生部が構成される。９はＤ／
Ａ変換器８の出力に基づいて再生信号の歪率を測定する
歪率測定部、１０は歪率測定部９で測定された歪率に基
づいて所定の演算を行なうデータ演算部、１１はデータ
演算部１０で演算された結果を表示する表示部である。

【００１６】図２はテストディスクを示す図であり、テ
ストディスク１ａの一部には読取不能部であるキズ２０
が形成されている。ここでは、キズ２０はトラックの外
周に行くに従って幅が大きくなるようなスクラッチとし
て形成されている。また、このテストディスク１ａに
は、たとえば１ＫＨｚの正弦波からなる単一周波数信号
が記録されている。なお、読取不能部の形態としてはス
クラッチに限らず、ブラックドットやフィンガープリン
ト（擬似指紋）などであってもよい。

【００１７】次に、上記テストディスク１ａを用いてデ
ィスクプレーヤの再生性能を測定する原理について説明
する。図１において、ディスク１に代えてテストディス
ク１ａをディスクプレーヤにセットし、プレーヤを作動
させると、テストディスク１ａに記録された信号が光ピ
ックアップ２によって読み取られる。読み取られた信号
はＲＦアンプ３で増幅され、ＲＦ信号として信号処理部
４へ送られる。信号処理部４ではＲＦ信号を２値化した
ＥＦＭ信号を生成し、このＥＦＭ信号が再生性能測定装
置Ａのデコーダ７に入力される。

【００１８】再生性能測定装置Ａでは、ディスクプレー
ヤからのＥＦＭ信号をデコーダ７でデコードし、デコー
ドされたデジタル信号をＤ／Ａ変換器８でアナログ信号
に変換する。この結果、Ｄ／Ａ変換器８から出力される
信号は、テストディスク１ａに記録された単一周波数信
号の再生信号となる。但し、この再生信号は、テストデ
ィスク１ａのスクラッチ２０のために原信号と同じには
ならず、再生の進行とともに歪んだものとなる。

【００１９】Ｄ／Ａ変換器８からの再生信号は歪率測定
部９に入力される。歪率測定部９は公知の歪率計の原理
を用いて歪率の測定を行なうものである。歪率は基本波
の実効値に対する高調波成分の実効値を％で表したもの
であり、高調波ノイズが増えるほど歪率の値は大きくな
る。

【００２０】ここで、上記のようなテストディスク１ａ
を用いた場合に、歪率測定部９における測定結果は図３
のようになる。テストディスク１ａは、光ピックアップ
２によって図２の中心部から外周に向けてらせん状に読
み取られてゆくので、読取開始からの時間経過とともに
スクラッチ２０の幅が次第に大きくなり、読取りエラー
が発生しやすくなるが、冒頭に述べたように、ある程度
までは読取りエラーが自動的に修復されるため、Ｄ／Ａ
変換器８からは正常な再生信号が出力される。したがっ
て、歪率測定部９で測定された歪率は、テストディスク
１ａの読取り開始からの測定時間Ｔの間は増加すること
なく一定値を維持する。

【００２１】しかるに、測定時間Ｔを経過すると、スク
ラッチ２０の幅が限界値を超え、もはやエラーを自動訂
正することが不可能となるため、Ｄ／Ａ変換器８から出
力される再生信号は異常な波形となり、歪率測定部９で
測定される歪率の値が急激に増加する。したがって、こ
の歪率が急増する時点でのスクラッチ２０のサイズ
（幅）がわかれば、当該ディスクプレーヤはそのサイズ
のキズまでは正常に再生を行なえることになり、これに
よってプレーヤの再生性能を定量的に評価することがで
きる。

【００２２】このときのスクラッチ２０のサイズは、測
定時間Ｔから知ることができる。すなわち、スクラッチ
２０の幅は上述したように、読取開始からの時間経過と
ともに大きくなり、経過時間とスクラッチ２０のサイズ
との間には１対１の対応関係が存在する。したがって、
図４に示すように、テストディスク１ａの読取開始から
の測定時間と、この測定時間に対応するスクラッチ２０
のサイズとを対照表３０にしておけば、この対照表３０
を参照することで再生可能なスクラッチサイズの限界値
を知ることができ、これがそのままプレーヤの再生性能
を表す指標となる。なお、歪率が急増する時点までの測
定時間Ｔは、図１のデータ演算部１０において算出さ
れ、図５に示すように、表示部１１に歪検出時間として
表示される。

【００２３】図６は、本発明の他の実施形態を示すブロ
ック図であって、図１の構成にメモリ１２を付加したも
のである。その他の構成については図１と同一であるの
で、図１と同一部分には同一符号を付して説明は省略す
る。

【００２４】図６において、メモリ１２には図４に示し
た対照表３０がデータとして記憶されている。データ演
算部１０は、歪率測定部９が測定した歪率の値が急増し
たことを判定してメモリ１２を参照し、このときの時間
に対応するスクラッチ２０のサイズをメモリ１２から読
み出す。そして、読み出したスクラッチ２０の寸法を、
図７に示すように表示部１１に表示する。これによっ
て、測定者は前記のような対照表３０を参照することな
く、スクラッチサイズを直接知ることができ、再生性能
を定量的にしかも即座に把握することができる。

【００２５】図８は、表示部１１における表示例の他の
実施形態を示しており、図７の表示を行なう表示部１１
ａに加えて、再生性能の適否を表示する表示ランプ１１
ｂ，１１ｃを設けたものである。表示ランプ１１ｂは正
常表示用であって、たとえば緑色のＬＥＤ（発光ダイオ
ード）ランプからなり、スクラッチ２０のサイズが所定
値を超えている場合に点灯する。また、表示ランプ１１
ｃは異常表示用であって、たとえば赤色のＬＥＤランプ
からなり、スクラッチ２０のサイズが所定値以下の場合
に点灯する。

【００２６】上記所定値は、あらかじめメモリ１２にプ
リセットされており、その値は自由に設定できる。デー
タ演算部１０は、歪率の値が急増したときにメモリ１２
を参照して得たスクラッチ２０のサイズをプリセット値
と比較し、その比較結果に応じて表示ランプ１１ｂまた
は表示ランプ１１ｃを点灯させる。表示ランプ１１ｂが
点灯した場合は、そのディスクプレーヤの再生性能が要
求仕様を満たしていることを表しており、表示ランプ１
１ｃが点灯した場合は、再生性能が要求仕様を満たして
いないことを表している。このような表示ランプ１１
ｂ，１１ｃを設けることで、再生性能の適否を容易に判
定することができるため、特に生産工場での試験におい
て有効な手段となる。なお、表示部１１ａを省略して、
表示ランプ１１ｂ，１１ｃのみを設けてもよい。

【００２７】図９は、本発明の他の実施形態を示すブロ
ック図であって、図６の構成にエラー測定部１３を付加
したものである。その他の構成については図６と同一で
あるので、図６と同一部分には同一符号を付して説明は
省略する。

【００２８】図９において、エラー測定部１３はデコー
ダ７でのデコード結果に基づき、テストディスク１ａの
読取りエラーを測定するものである。ここでは、一例と
してＢＬＥＲ（ブロックエラーレート）と訂正不能エラ
ー数とが測定される。図１０（ａ）は、ＢＬＥＲおよび
訂正不能エラーの測定結果を示している。一方、歪率測
定部９では、前記と同様にして歪率が測定される。図１
０（ｂ）は、歪率の測定結果を示しており、図３に示し
たものと同じである。

【００２９】図１０（ａ）からわかるように、スクラッ
チ２０が検出されるまではエラーは発生せず、スクラッ
チ２０が検出された時点からエラーが発生してＢＬＥＲ
が増加してゆく。しかし、測定時間があまり経過してい
ない間は、エラーは自動訂正されるので、訂正不能エラ
ーは発生しない。また、測定時間がある程度経過する
と、訂正不能エラーが発生し始めるが、（ｂ）からわか
るように、初期の段階では歪率に影響するほどのもので
はない。しかし、測定時間がさらに経過してＴに至る
と、訂正不能エラーの回数が一定値を超えるため、歪率
が増大する。

【００３０】データ演算部１０は、歪率測定部９の出力
とエラー測定部１３の出力とに基づいて、たとえば図１
１に示すように、歪率が急増した時点でのスクラッチ２
０の寸法、歪検出時間、ブロックエラーレート、訂正不
能エラー数をそれぞれ数値で表示部１１に表示する。こ
のように、エラー測定部１３で測定されたエラー情報を
再生性能のデータとともに表示することによって、測定
された再生性能の背景にあるエラー状況を知ることがで
き、ディスクプレーヤの再生性能を総合的に評価するこ
とが可能となる。

【００３１】図１２は、本発明の他の実施形態を示すブ
ロック図である。本実施形態は図１の変形例であって、
図１と同一部分には同一符号を付してある。図１におい
ては、再生性能測定装置Ａに再生部を構成するデコーダ
７とＤ／Ａ変換器８とを設けたが、図１２においてはこ
れらを省略し、代わりにディスクプレーヤ側のＤ／Ａ変
換器５から出力されるテストディスク１ａのオーディオ
信号を歪率測定部９へ取り込んで、歪率を測定するよう
にしている。

【００３２】図１の場合は、ディスクプレーヤ側の再生
部とは独立した再生部が測定装置Ａの内部に設けられる
ため、ディスクプレーヤが再生性能に優れた高級機か、
再生性能がそれほど高くない低級機かにかかわらず、安
定した測定を行なえる利点がある。一方、図１２の場合
は、再生部の特性がディスクプレーヤごとに変化するた
め、安定した測定は期待できない。したがって、実用上
は図１の構成が推奨される。しかし、原理的には図１の
Ｄ／Ａ変換器８から出力される信号は、Ｄ／Ａ変換器５
から出力される信号と実質的に同じであるから、図１２
の構成も必要に応じて採用することができる。この場合
は、図１に比べて回路構成がより簡単になるという利点
がある。なお、図１２においても、図６のメモリ１２や
図９のエラー測定部１３を付加できることはいうまでも
ない。

【００３３】

【発明の効果】本発明によれば、再生部と歪率測定部か
らなる１系統の回路を設けるだけでよいため、回路構成
が簡単となるとともに、歪率によって再生性能を測定す
るようにしたので、再生性能を定量的に把握することが
でき、客観的な評価が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る再生性能測定装置とディスクプレ
ーヤのブロック図である。

【図２】テストディスクを示す図である。

【図３】歪率測定部における測定結果を示す図である。

【図４】測定時間とスクラッチサイズとの対照表を示す
図である。

【図５】表示部の表示例である。

【図６】本発明の他の実施形態を示すブロック図であ
る。

【図７】表示部の表示例である。

【図８】表示部の他の表示例である。

【図９】本発明の他の実施形態を示すブロック図であ
る。

【図１０】エラー測定部と歪率測定部における測定結果
を示す図である。

【図１１】表示部の表示例である。

【図１２】本発明の他の実施形態を示すブロック図であ
る。

【符号の説明】

１ａ テストディスク ２ 光ピックアップ ３ ＲＦアンプ ４ 信号処理部 ５ Ｄ／Ａ変換器 ６ ２値化回路 ７ デコーダ ８ Ｄ／Ａ変換器 ９ 歪率測定部 １０ データ演算部 １１ 表示部 １１ｂ，１１ｃ 表示ランプ １２ メモリ １３ エラー表示部 ２０ スクラッチ Ａ 再生性能測定装置

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】単一周波数信号が記録されディスク上の一
   部に読取不能部が形成されたテストディスクを用いてデ
   ィスクプレーヤの再生性能を測定する装置であって、 テストディスクに記録された単一周波数信号を再生する
   再生部と、この再生部で再生された信号の歪率を測定す
   る歪率測定部とを備えたことを特徴とするディスクプレ
   ーヤの再生性能測定装置。
2. 【請求項２】前記再生部は、ディスクプレーヤ側のＲＦ
   信号またはＥＦＭ信号を取り込んで当該信号をデコード
   するデコーダと、このデコーダでデコードされたデジタ
   ル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器とからな
   る請求項１に記載のディスクプレーヤの再生性能測定装
   置。
3. 【請求項３】測定された歪率に基づいて再生性能に関す
   るデータを表示する表示部を設けた請求項１または２に
   記載のディスクプレーヤの再生性能測定装置。
4. 【請求項４】テストディスクの読取開始からの測定時間
   と、この測定時間に対応する読取不能部のサイズとが記
   憶されたメモリを設けた請求項３に記載のディスクプレ
   ーヤの再生性能測定装置。
5. 【請求項５】歪率が急増する時点までの測定時間に基づ
   き前記メモリを参照して読取不能部のサイズを求め、当
   該サイズを表示部に表示する請求項４に記載のディスク
   プレーヤの再生性能測定装置。
6. 【請求項６】歪率が急増する時点までの測定時間に基づ
   き前記メモリを参照して読取不能部のサイズを求め、当
   該サイズを所定値と比較してその結果に応じて正常表示
   または異常表示を行なう請求項４または５に記載のディ
   スクプレーヤの再生性能測定装置。
7. 【請求項７】前記デコーダでのデコード結果に基づきテ
   ストディスクの読取りエラーを測定するエラー測定部を
   設けた請求項２に記載のディスクプレーヤの再生性能測
   定装置。
8. 【請求項８】エラー測定部で測定されたエラー情報を再
   生性能に関するデータとともに表示する請求項７に記載
   のディスクプレーヤの再生性能測定装置。
9. 【請求項９】単一周波数信号が記録されディスク上の一
   部に読取不能部が形成されたテストディスクを用いてデ
   ィスクプレーヤの再生性能を測定する装置であって、 ディスクプレーヤ側で再生されたテストディスクのオー
   ディオ信号を取り込んで歪率を測定する歪率測定部を設
   けたことを特徴とするディスクプレーヤの再生性能測定
   装置。