JP2001344708A - Thin film magnetic head and its manufacturing method - Google Patents

Thin film magnetic head and its manufacturing method

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JP2001344708A
JP2001344708A JP2000156786A JP2000156786A JP2001344708A JP 2001344708 A JP2001344708 A JP 2001344708A JP 2000156786 A JP2000156786 A JP 2000156786A JP 2000156786 A JP2000156786 A JP 2000156786A JP 2001344708 A JP2001344708 A JP 2001344708A
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JP
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magnetic head
thin
film
permalloy
magnetic
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JP2000156786A
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Japanese (ja)
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Hiroko Ogawa
裕子 小川
Yoshiaki Mizoo
嘉章 溝尾
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a thin film magnetic head capable of preventing corrosion of a magnetic recording element part and to provide a method for manufacturing the thin film magnetic head. SOLUTION: The thin film magnetic head and the method for manufacturing the thin film magnetic head are characterized by that the thin film magnetic head has two or more layers of magnetic metal films having redox potential different from one another in a head sliding surface facing to a magnetic recording medium of the thin film magnetic head and has a structure in which a local cell is constructed in a position different from the position of a recording gap or a reproducing gap by using the magnetic metal films.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
(HDD装置)等の磁気記録媒体に対して高密度の記録
・再生を行う装置に適用され、特に、ヘッド製造加工プ
ロセスにおいて、耐食性に優れた生産歩留まりの高い薄
膜磁気ヘッド及びその製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is applied to an apparatus for performing high-density recording / reproduction on a magnetic recording medium such as a magnetic disk apparatus (HDD apparatus). And a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、磁気ディスク装置(HDD装置)
等の磁気記録媒体に対する記録において、処理速度の向
上と記録容量の大容量化の必要性が増してきており、高
記録密度化への取り組みが強化されつつある。それにつ
れて、記録トラックの狭トラック化がさらに進行してお
り、かつ薄膜磁気ヘッドそのものの微小化もさらに進め
られている。
2. Description of the Related Art In recent years, magnetic disk devices (HDD devices)
In recording on a magnetic recording medium such as the one described above, the necessity of improving the processing speed and increasing the recording capacity is increasing, and efforts to increase the recording density are being strengthened. Accordingly, the recording tracks are becoming narrower, and the thin-film magnetic heads themselves are being further miniaturized.

【0003】以下、従来のシールド型薄膜磁気ヘッド
(以下、単に「薄膜磁気ヘッド」という。)について図
面を用いて説明する。図15及び図16は従来の磁気ヘ
ッドを示す図であり、図17は磁気ヘッドの加工工程の
一部を示すものである。
A conventional shield type thin film magnetic head (hereinafter simply referred to as "thin film magnetic head") will be described below with reference to the drawings. 15 and 16 are views showing a conventional magnetic head, and FIG. 17 shows a part of a processing step of the magnetic head.

【0004】例えば、磁気ディスク装置における信号の
磁気記録媒体への記録再生に用いられる薄膜磁気ヘッド
は、図16に示すようなMR・インダクティブ複合ヘッ
ドと呼ばれているものが多い。
For example, a thin-film magnetic head used for recording and reproducing a signal on a magnetic recording medium in a magnetic disk drive is often called an MR / inductive composite head as shown in FIG.

【0005】図16において、Fe20-Ni80、Fe50-Ni50
のパーマロイ、CoNbZr等のCo系アモルファス磁性膜、セ
ンダスト、グラニュラー鉄系微結晶膜等のFe系合金磁
性膜等の軟磁性材料で成膜された下部シールド層161
の上にAl2O3、AlNあるいはSiO2等の非磁性絶縁材料を用
いて下部ギャップ絶縁層162が成膜され、更にその上
面に磁気抵抗効果素子(AMR(Anisotropic Magnetic
Resistance)素子、GMR(Giant Magnetic Resistance)
素子、TMR(Tunneling Magnetic Resistance)素子あ
るいはCMR(Corrosive Magnetic Resistance)素子:
以下、「MR素子」という。)163が積層成膜形成さ
れ、MR素子163の左右両側端部にCoPt合金等の材料
で縦バイアス層(以下、「PM層」という。)164が
成膜される。PM層164の上面及びMR素子163の
上面と両側面との交線である稜線に接するように、Cu、
CrあるいはTa等の材料を用いて電極リード層165が成
膜される。ここで、電極リード層165はPM層164
の上面及びMR素子163の上面に一部かかるように成
膜しても良い。
In FIG. 16, soft magnetism such as permalloy such as Fe 20 -Ni 80 and Fe 50 -Ni 50 , Co based amorphous magnetic film such as CoNbZr, Sendust, Fe based alloy magnetic film such as granular iron based microcrystalline film, etc. Lower shield layer 161 formed of a material
A lower gap insulating layer 162 is formed using a non-magnetic insulating material such as Al 2 O 3 , AlN or SiO 2 , and a magnetoresistive effect element (AMR (Anisotropic Magnetic
Resistance) element, GMR (Giant Magnetic Resistance)
Element, TMR (Tunneling Magnetic Resistance) element or CMR (Corrosive Magnetic Resistance) element:
Hereinafter, it is referred to as “MR element”. 163 is formed as a stacked film, and a longitudinal bias layer (hereinafter, referred to as a “PM layer”) 164 is formed of a material such as a CoPt alloy on both left and right ends of the MR element 163. Cu,
The electrode lead layer 165 is formed using a material such as Cr or Ta. Here, the electrode lead layer 165 is a PM layer 164.
And the upper surface of the MR element 163 may be partially formed.

【0006】次に、電極リード層165とGMR素子1
63の露出した部分の上に、下部ギャップ絶縁層162
と同様の非磁性絶縁材料を用いて上部ギャップ絶縁層1
66を成膜する。
Next, the electrode lead layer 165 and the GMR element 1
On the exposed portion 63, a lower gap insulating layer 162 is formed.
Using the same non-magnetic insulating material as in
66 is formed.

【0007】さらに、上部ギャップ絶縁層166の上
に、下部シールド層161と同じような軟磁性材料を用
いて共通シールド層167を成膜形成し、再生用の磁気
抵抗効果型薄膜磁気ヘッド部160を構成する。
Further, a common shield layer 167 is formed on the upper gap insulating layer 166 by using the same soft magnetic material as the lower shield layer 161, and the magnetoresistive thin film magnetic head 160 for reproduction is formed. Is configured.

【0008】次に、共通シールド層167の上面に下部
ギャップ絶縁層162と同様の非磁性絶縁材料を用いて
記録ギャップ層171を成膜し、更に記録ギャップ層1
71を介して共通シールド層167に対向し、かつ他の
部分で共通シールド層167に接している上部磁極17
2を下部シールド層161と同じような軟磁性材料を用
いて成膜形成し、記録ギャップ層171を介して共通シ
ールド層167と上部磁極172が対向している部分と
上部コア(上部磁極)172が共通シールド層167に
接している部分との間で、共通シールド層167と上部
磁極172から絶縁材(図示せず)を介して絶縁された
巻線コイル173が設けられて、記録用の誘導型薄膜磁
気ヘッド部170を構成する。ここで、共通シールド層
167は再生用磁気抵抗効果型薄膜磁気ヘッド部160
のシールド機能と記録用誘導型薄膜磁気ヘッド部170
の下部磁極機能とを兼ね備えた機能を有している。
Next, a recording gap layer 171 is formed on the upper surface of the common shield layer 167 using the same non-magnetic insulating material as the lower gap insulating layer 162, and the recording gap layer 171 is formed.
The upper magnetic pole 17 opposing the common shield layer 167 via the other end 71 and being in contact with the common shield layer 167 at other portions.
2 is formed using the same soft magnetic material as the lower shield layer 161, and the portion where the common shield layer 167 and the upper magnetic pole 172 face each other via the recording gap layer 171 and the upper core (upper magnetic pole) 172. A winding coil 173 insulated from the common shield layer 167 and the upper magnetic pole 172 via an insulating material (not shown) is provided between a portion in contact with the common shield layer 167 and The thin-film magnetic head 170 is formed. Here, the common shield layer 167 is provided with a reproducing magnetoresistive thin film magnetic head section 160.
Shield Function of Recording and Induction Type Thin Film Magnetic Head 170 for Recording
Has the function of also having the lower magnetic pole function.

【0009】図17に、磁気記録媒体の摺動面側から見
た正面概略図を示す。図17によれば、下部シールド層
161の上面に成膜された下部ギャップ絶縁層162の
上に、MR素子163を形成している。MR素子163
の左右両側面に接して、左右一対のPM層164が形成
され、その上に左右一対の電極リード層165が形成さ
れている。更に、それらの上に上部ギャップ絶縁層16
6が成膜され、更にその上に、共通シールド層167が
形成される。更に、その上に記録ギャップ層171が成
膜され、その上にトラック幅174の上部コア172が
成膜形成される。
FIG. 17 is a schematic front view of the magnetic recording medium viewed from the sliding surface side. According to FIG. 17, the MR element 163 is formed on the lower gap insulating layer 162 formed on the upper surface of the lower shield layer 161. MR element 163
A pair of left and right PM layers 164 is formed in contact with both left and right side surfaces of the pair, and a pair of left and right electrode lead layers 165 are formed thereon. Furthermore, an upper gap insulating layer 16
6 is formed, and a common shield layer 167 is further formed thereon. Further, a recording gap layer 171 is formed thereon, and an upper core 172 having a track width 174 is formed thereon.

【0010】巻線コイル173に記録電流が供給される
ことにより、記録用誘導型薄膜磁気ヘッド部170の上
部コア172と共通シールド層167に記録磁界が発生
し、記録ギャップ層171を介して対向する上部コア1
72と共通シールド層167との間に漏洩磁束が発生
し、磁気記録媒体に記録信号を記録する。また、信号が
記録された磁気記録媒体に記録された信号の磁界を再生
用磁気抵抗効果型薄膜磁気ヘッド部160で再生し、M
R素子163による抵抗変化に応じた再生信号を電極リ
ード層165の端子から検出する。
When a recording current is supplied to the winding coil 173, a recording magnetic field is generated in the upper core 172 and the common shield layer 167 of the recording induction type thin-film magnetic head 170, and the recording magnetic field opposes via the recording gap layer 171. Upper core 1
Leakage magnetic flux is generated between 72 and the common shield layer 167, and a recording signal is recorded on a magnetic recording medium. Further, the magnetic field of the signal recorded on the magnetic recording medium on which the signal is recorded is reproduced by the reproducing magnetoresistive thin film magnetic head section 160,
A reproduction signal corresponding to the resistance change by the R element 163 is detected from the terminal of the electrode lead layer 165.

【0011】通常の磁気ヘッド製造プロセスの一部を図
18に示す。一般にウエファ状態より、いくつかのヘッ
ド素子を並べて短冊状に切り出されたバー181と呼ば
れる状態で、所定のMR素子のストライプハイトになる
ようにラップ加工がされ、正面図である図19に示すよ
うに所定の形状の磁気ヘッドが作製される。この後、露
出した下部シールド、共通シールド、上部コア、磁気抵
抗素子の磁性金属面を保護し、所望のCSS(Contact
Start Stop)特性を得るため、正面図である図20に示
すようにDLC、スパッタカーボン、CN等からなる保
護膜182が設けられる。さらに所望の浮上特性を得る
ため、ABS面183から、機械加工又はエッチングに
より、複雑なABS面形状が作製される。
FIG. 18 shows a part of a normal magnetic head manufacturing process. In general, in a state called a bar 181 obtained by arranging several head elements in a strip shape from the wafer state, lapping is performed so as to have a stripe height of a predetermined MR element, as shown in FIG. 19 which is a front view. Then, a magnetic head having a predetermined shape is manufactured. Thereafter, the exposed lower shield, common shield, upper core, and magnetic metal surface of the magnetoresistive element are protected, and the desired CSS (Contact
In order to obtain (Start Stop) characteristics, a protective film 182 made of DLC, sputtered carbon, CN or the like is provided as shown in FIG. 20 which is a front view. Further, in order to obtain desired flying characteristics, a complicated ABS surface shape is produced from the ABS surface 183 by machining or etching.

【0012】近年、装置及びそれに伴う薄膜磁気ヘッド
の小型化への強い取り組みが進められ、高記録密度化に
対応して記録トラック幅174を狭める取り組みがなさ
れている。従来用いられていたFe20-Ni80パーマロイ
は、比較的耐食性が良く、低磁歪であるが、飽和磁束密
度が低い、導電率が低いため高周波での渦電流損失が大
きい等の欠点がある。記録能率を向上するため、シルー
ド材料や記録コア材料に、Fe20-Ni80パーマロイ以外
に、Fe50-Ni50高Bsパーマロイや、FeN等の鉄系微結晶材
料が用いられるようになっている。
In recent years, strong efforts have been made to reduce the size of the device and the thin-film magnetic head associated therewith, and efforts have been made to narrow the recording track width 174 in response to higher recording densities. The conventionally used Fe 20 -Ni 80 permalloy has relatively good corrosion resistance and low magnetostriction, but has drawbacks such as low saturation magnetic flux density, low conductivity, and high eddy current loss at high frequencies. In order to improve recording efficiency, iron-based microcrystalline materials such as Fe 50 -Ni 50 high Bs permalloy and FeN are being used as silo materials and recording core materials in addition to Fe 20 -Ni 80 permalloy. .

【0013】これらの磁性金属は、それ自身が腐食しや
すいため、例えば特開昭62−89210号公報、特開
平元−102710号公報、及び特開平3−37810
号公報党においては、磁気ヘッド近傍にAlやZr等のイオ
ン化傾向の大きい金属を摺動面に露出して設けることが
提案されている。
Since these magnetic metals are susceptible to corrosion, they are disclosed, for example, in JP-A-62-89210, JP-A-102710, and JP-A-3-37810.
The Japanese Patent Publication No. JP-A-2006-163555 proposes that a metal having a high ionization tendency, such as Al or Zr, be provided near the magnetic head so as to be exposed on the sliding surface.

【0014】また、例えば特開平3−95714号公報
や特開平7−37003号公報においては、2種類の磁
性金属を接合して一つの層を作製した場合、その接合部
の露出面が局部電池となるので、接合部での腐食を避け
るため、卑金属側の磁性金属部を磁性面に露出させない
方法も提案されている。
For example, in JP-A-3-95714 and JP-A-7-37003, when two kinds of magnetic metals are joined to form one layer, the exposed surface of the joint is a local battery. In order to avoid corrosion at the joint, a method has been proposed in which the magnetic metal portion on the base metal side is not exposed to the magnetic surface.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来構成の磁気ヘッドにおいて多種類の磁性金属材料を用
いると、その所望のストライプハイトを得るためのラッ
プ加工工程において酸化還元電位の異なる2種類の金属
が露出する。これらの金属はたとえ絶縁されていても、
加工時のスメアやESD破壊やラップ液、洗浄液、吸着
水等である程度のコンタクトが必然的に発生する。そこ
で局部電池を構成して、酸化還元電位に低い又はイオン
化傾向の高い金属がイオン化しやすくなり、酸アルカリ
の触媒作用で酸化腐食が発生し、シールド膜あるいはM
R膜の磁気特性の劣化、表面荒さの増大等が発生する問
題があった。
However, if a variety of magnetic metal materials are used in the above-described conventional magnetic head, two types of metals having different oxidation-reduction potentials are used in a lapping process for obtaining a desired stripe height. Is exposed. Even though these metals are insulated,
A certain amount of contact is inevitably generated by smear during processing, ESD breakdown, lapping liquid, cleaning liquid, adsorbed water and the like. Therefore, a local battery is formed, and a metal having a low oxidation-reduction potential or a high ionization tendency is likely to be ionized.
There has been a problem that the magnetic properties of the R film deteriorate, the surface roughness increases, and the like.

【0016】特にラップ加工あるいは洗浄時において
は、加工液又は洗浄液に含まれる微量の酸やアルカリの
存在下で金属の接合部付近が局部電池となり、卑金属特
に鉄の酸化を促進することが、磁気ヘッドの歩留まりを
悪くする原因となっていた。
In particular, at the time of lapping or washing, in the presence of a trace amount of acid or alkali contained in the working fluid or washing fluid, the vicinity of the joint of the metal becomes a local battery, and the oxidation of base metals, particularly iron, is promoted. This caused the head yield to deteriorate.

【0017】また、AlやZr等のイオン化傾向の大きい金
属を摺動面に露出して設ける手法は、AlやZr等のイオン
化傾向の大きい金属膜を設ける別工程が必要になる点、
この構成自身で腐食が起こりやすくなる点、腐食部分で
これらの金属の酸化物脱離粉が発生しやすくなる点で実
用化が困難であった。
Also, the method of providing a metal having a high ionization tendency such as Al or Zr on the sliding surface by exposing the metal film having a high ionization tendency such as Al or Zr requires a separate step.
Practical application has been difficult in that the configuration itself is susceptible to corrosion and oxide desorbed powders of these metals are easily generated in the corroded portion.

【0018】また、接合部を摺動面に出さない手法は、
下記の理由で実用に供し得ない。すなわち、高い飽和磁
束を持つ金属を得るためには一般にFe等の自由電子を多
く含む元素を用いることから、酸化還元に対して非常に
活性な膜になってしまう。したがって、記録特性向上の
ために摺動面に露出する磁性金属は腐食しやすい磁性金
属側が露出する。この腐食しやすい磁性金属のみを摺動
面に露出させるヘッドを実現するのは、上述したような
誘導型記録ヘッドと再生専用磁気抵抗ヘッドの組み合わ
せでは極めて困難である。
In addition, a method for preventing the joint from being exposed on the sliding surface is as follows.
It cannot be put to practical use for the following reasons. That is, in order to obtain a metal having a high saturation magnetic flux, an element containing a large number of free electrons such as Fe is generally used, so that the film becomes very active against oxidation and reduction. Therefore, the magnetic metal exposed on the sliding surface for improving the recording characteristics is exposed on the magnetic metal side which is easily corroded. It is extremely difficult to realize a head that exposes only the susceptible magnetic metal to the sliding surface with the combination of the inductive recording head and the read-only magnetoresistive head as described above.

【0019】本発明は、上記問題点を解消するべく、磁
気記録素子部の腐食を未然に防ぐことができる薄膜磁気
ヘッド及びその製造方法を提供することを目的とする。
It is an object of the present invention to provide a thin-film magnetic head capable of preventing corrosion of a magnetic recording element portion in order to solve the above-mentioned problems, and a method of manufacturing the same.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、情報を記録する磁
気記録媒体に対向するヘッド摺動面内に、酸化還元電位
の異なる2層以上の磁性金属膜を有し、記録ギャップ又
は再生ギャップと異なる位置において磁性金属膜を用い
て局部電池を構成することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a thin film magnetic head according to the present invention comprises two or more layers having different oxidation-reduction potentials in a head sliding surface facing a magnetic recording medium for recording information. And a local battery is formed using the magnetic metal film at a position different from the recording gap or the reproduction gap.

【0021】かかる構成により、薄膜磁気ヘッド素子を
形成するプロセスにおいて、加工途中のABS露出面に
局部電池を設けることで、磁気記録素子部の腐食を防ぎ
素子部の磁性層は保護膜で保護され、局部電池による腐
食部分が最終的に磁気ヘッドスライダに残らないように
することが可能となる。
With this configuration, in the process of forming the thin-film magnetic head element, by providing a local battery on the ABS exposed surface during processing, corrosion of the magnetic recording element is prevented, and the magnetic layer of the element is protected by a protective film. Thus, it is possible to prevent the corroded portion due to the local battery from remaining on the magnetic head slider finally.

【0022】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、
スライダ切断しろに磁性金属膜を用いて局部電池を構成
することが好ましい。最終的に局部電池部を排除するこ
とが可能だからである。
Further, the thin-film magnetic head according to the present invention comprises:
It is preferable to form a local battery by using a magnetic metal film for cutting off the slider. This is because it is possible to finally eliminate the local battery unit.

【0023】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、
磁性金属膜を用いて記録ギャップ又は再生ギャップを構
成する下部シールドと共通シールドとが分離され、共通
シールドに局部電池を構成することが好ましい。
Further, the thin-film magnetic head according to the present invention comprises:
It is preferable that the lower shield and the common shield that form the recording gap or the reproduction gap are separated by using the magnetic metal film, and the local cell is formed in the common shield.

【0024】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、
ABS面加工を行う磁気記録素子面より深く加工される
部分に磁性金属膜を用いて局部電池を構成することが好
ましい。最終的に局部電池部も含めて削り取られるから
である。
Further, the thin-film magnetic head according to the present invention comprises:
It is preferable to form a local battery by using a magnetic metal film in a portion to be processed deeper than the surface of the magnetic recording element on which the ABS processing is performed. This is because the local battery section is finally scraped off.

【0025】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、
共通シールドの一部はFe20-Ni80パーマロイを用い、パ
ーマロイより酸化還元電位の高いCo系アモルファス又は
センダストを用いた下部シールドを用いることが好まし
い。
Further, the thin-film magnetic head according to the present invention comprises:
It is preferable to use Fe 20 -Ni 80 permalloy for a part of the common shield, and to use a lower shield using Co-based amorphous or sendust having a higher oxidation-reduction potential than permalloy.

【0026】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、
共通シールドの一部はFe20-Ni80パーマロイを用い、下
部シールドの再生素子対抗面に、パーマロイより酸化還
元電位の高いCo系アモルファス又はセンダストを用い、
下部シールドの一部にFe20-Ni80パーマロイを接合する
ことが好ましい。
Also, the thin-film magnetic head according to the present invention
Part of the common shield uses Fe 20 -Ni 80 permalloy, and Co-based amorphous or sendust, which has a higher redox potential than permalloy,
It is preferable to bond Fe 20 -Ni 80 permalloy to a part of the lower shield.

【0027】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、
共通シールドの再生素子に相対する一部はFe20-Ni80
ーマロイを用い、記録ギャップを構成する上部コア下
部、共通シールド上部の少なくとも一方にFe50-Ni50
ーマロイを用いることが好ましい。
Further, the thin-film magnetic head according to the present invention comprises:
Some opposed the read element of the common shield with Fe 20 -Ni 80 permalloy, upper core bottom of the recording gap, it is preferable to use a Fe 50 -Ni 50 Permalloy to at least one of the common shield top.

【0028】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドは、
共通シールドの再生素子に相対する一部はFe20-Ni80
ーマロイを用い、記録ギャップを構成する上部コア下
部、共通シールド上部の少なくとも一方にFe系微粒子系
磁性金属を用いることが好ましい。
Further, the thin-film magnetic head according to the present invention comprises:
It is preferable that a part of the common shield facing the reproducing element is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and at least one of the lower part of the upper core and the upper part of the common shield constituting the recording gap is made of Fe-based fine particle magnetic metal.

【0029】次に上記目的を達成するために本発明にか
かる薄膜磁気ヘッドの製造方法は、磁気記録媒体に対向
するヘッド摺動面内に、酸化還元電位の異なる2層以上
の磁性金属膜を有し、スライダ切断しろに磁性金属膜を
用いて局部電池を構成し、所望のストライプハイトを得
るラップ加工を終えた後、摺動面に保護膜を生成し、ス
ライダ切断しろを切断することを特徴とする。
Next, in order to achieve the above object, a method of manufacturing a thin-film magnetic head according to the present invention comprises forming two or more magnetic metal films having different oxidation-reduction potentials on a head sliding surface facing a magnetic recording medium. Having a local battery using a magnetic metal film for the slider cutting margin, and after lapping to obtain a desired stripe height, forming a protective film on the sliding surface and cutting the slider cutting margin. Features.

【0030】かかる構成により、薄膜磁気ヘッド素子を
形成するプロセスにおいて、加工途中のABS露出面に
局部電池を設けることで、磁気記録素子部の腐食を防ぎ
素子部の磁性層は保護膜で保護され、局部電池による腐
食部分が最終的に磁気ヘッドスライダに残らないように
することが可能となる。
With this configuration, in the process of forming the thin-film magnetic head element, by providing a local battery on the exposed surface of the ABS during processing, corrosion of the magnetic recording element is prevented, and the magnetic layer of the element is protected by a protective film. Thus, it is possible to prevent the corroded portion due to the local battery from remaining on the magnetic head slider finally.

【0031】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの製
造方法は、磁気記録媒体に対向するヘッド摺動面内に、
酸化還元電位の異なる2層以上の磁性金属膜を有し、A
BS面加工により磁気記録素子面より深く加工される部
分に磁性金属膜を用いて局部電池を構成し、所望のスト
ライプハイトを得るラップ加工を終えた後、摺動面に保
護膜を作製し、さらにABS面形状作製加工を行い局部
電池部分の表層を取り除くことを特徴とする。
Further, according to the method of manufacturing a thin film magnetic head of the present invention, the head sliding surface facing the magnetic recording medium is provided with:
Having two or more magnetic metal films having different oxidation-reduction potentials,
A local battery is formed using a magnetic metal film in a portion processed deeper than the magnetic recording element surface by BS surface processing, and after lapping to obtain a desired stripe height, a protective film is formed on a sliding surface, Further, the surface of the local battery portion is removed by performing an ABS surface shape forming process.

【0032】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの製
造方法は、共通シールドの一部はFe 20-Ni80パーマロイ
を用い、パーマロイより酸化還元電位の高いCo系アモル
ファス又はセンダストを用いた下部シールドを用いるこ
とが好ましい。
Further, the production of the thin-film magnetic head according to the present invention is described.
The construction method is that part of the common shield is Fe 20-Ni80Permalloy
Using a Co-based mole with a higher redox potential than Permalloy
Use a lower shield made of fuzz or sendust.
Is preferred.

【0033】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの製
造方法は、共通シールドの一部はFe 20-Ni80パーマロイ
を用い、下部シールドの再生素子対抗面に、パーマロイ
より酸化還元電位の高いCo系アモルファス又はセンダス
トを用い、下部シールドの一部にFe20-Ni80パーマロイ
を接合することが好ましい。
Further, a thin-film magnetic head according to the present invention is manufactured.
The construction method is that part of the common shield is Fe 20-Ni80Permalloy
Using permalloy on the lower shield facing the read element
Co-based amorphous or Sendas with higher redox potential
And a part of the lower shield20-Ni80Permalloy
Are preferably joined.

【0034】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの製
造方法は、共通シールドの再生素子に相対する一部はFe
20-Ni80パーマロイを用い、記録ギャップを構成する上
部コア下部、共通シールド上部の少なくとも一方にFe50
-Ni50パーマロイを用いることが好ましい。
In the method of manufacturing a thin-film magnetic head according to the present invention, the part of the common shield facing the read element may be Fe
Using 20- Ni 80 permalloy, Fe 50 is applied to at least one of the lower part of the upper core and the upper part of the common shield that constitute the recording gap.
It is preferable to use -Ni 50 permalloy.

【0035】また、本発明にかかる薄膜磁気ヘッドの製
造方法は、共通シールドの再生素子に相対する一部はFe
20-Ni80パーマロイを用い、記録ギャップを構成する上
部コア下部、共通シールド上部の少なくとも一方にFe系
微粒子系磁性金属を用いることが好ましい。
In the method of manufacturing a thin-film magnetic head according to the present invention, a part of the common shield facing the reproducing element may be Fe
It is preferable to use 20- Ni 80 permalloy and use a Fe-based fine particle-based magnetic metal for at least one of the lower part of the upper core and the upper part of the common shield that constitute the recording gap.

【0036】[0036]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態にかか
る薄膜磁気ヘッドについて、図面を参照しながら説明す
る。図1は本発明の実施の形態にかかる薄膜磁気ヘッド
の正面図であり、磁気記録媒体に対向するヘッド摺動面
から見た薄膜磁気ヘッド部のABS面から見た概略正面
図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A thin-film magnetic head according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a front view of a thin-film magnetic head according to an embodiment of the present invention, and is a schematic front view of the thin-film magnetic head portion viewed from an ABS surface as viewed from a head sliding surface facing a magnetic recording medium.

【0037】図1において、AlTiC等を材料とする薄膜
磁気ヘッドスライダー基板1の上に、Al2O3等を素材と
する絶縁層2が上面に成膜され、その上に、CoNbZrアモ
ルファス磁性膜からなる下部シールド層3が成膜され、
さらにその上にAl2O3、AlNあるいはSiO2等の非磁性絶縁
材料を用いて下部ギャップ絶縁部4が成膜されている。
In FIG. 1, an insulating layer 2 made of Al 2 O 3 or the like is formed on a thin film magnetic head slider substrate 1 made of AlTiC or the like, and a CoNbZr amorphous magnetic film is formed thereon. A lower shield layer 3 made of
Further, a lower gap insulating portion 4 is formed thereon using a non-magnetic insulating material such as Al 2 O 3 , AlN or SiO 2 .

【0038】その上に、詳細は図示していないが、NiFe
系合金膜、Co、CoFe合金膜等を材料とするフリー磁性
層、Cu等を材料とする非磁性導電層、フリー磁性層と同
様の強磁性材料を用いた固定磁性層及びIrMn系合金膜、
FeMn系合金膜、PtMn系合金膜等、α-Fe2O3、NiO系酸化
物の材料である反強磁性層で構成された磁気抵抗効果素
子5(以下、「GMR素子」という。)が形成されてお
り、GMR素子5の両側面各々に接するように下部ギャ
ップ絶縁部4の上に、CoPt合金等の硬質磁性材料を用い
て左右一対の縦バイアス層6が形成され、さらに縦バイ
アス層6の上にGMR素子5に少なくとも線接触するよ
うにして、Cu、CrあるいはTa等の材料を用いた左右一対
の電極リード層7が形成されている。
Further, although not shown in detail, NiFe
-Based alloy films, free magnetic layers made of Co, CoFe alloy films, etc., non-magnetic conductive layers made of Cu or the like, fixed magnetic layers made of the same ferromagnetic material as the free magnetic layers, and IrMn-based alloy films,
A magnetoresistive element 5 (hereinafter, referred to as a “GMR element”) composed of an antiferromagnetic layer made of a material of α-Fe 2 O 3 or NiO-based oxide, such as a FeMn-based alloy film or a PtMn-based alloy film. A pair of left and right vertical bias layers 6 is formed using a hard magnetic material such as a CoPt alloy on the lower gap insulating portion 4 so as to be in contact with both side surfaces of the GMR element 5. A pair of left and right electrode lead layers 7 made of a material such as Cu, Cr, or Ta is formed on the GMR element 6 so as to make at least line contact with the GMR element 5.

【0039】GMR素子5の上面及び左右一対である電
極リード層7の上面には、下部ギャップ絶縁部4と同様
の材料で上部ギャップ絶縁部8が形成されている。ま
た、上部ギャップ絶縁部8を介してGMR素子5に対向
するように、Fe20-Ni80パーマロイ用いた共通シールド
層9が形成され、薄膜磁気ヘッドの再生ヘッド部10が
形成されている。
An upper gap insulating portion 8 is formed on the upper surface of the GMR element 5 and the upper surface of the pair of left and right electrode lead layers 7 using the same material as the lower gap insulating portion 4. Also, as opposed to the GMR element 5 through the upper gap insulative portion 8, a common shield layer 9 using Fe 20 -Ni 80 Permalloy is formed, the reproducing head portion 10 of the thin-film magnetic head is formed.

【0040】さらに、共通シールド層9の上に、Al
2O3、AlNあるいはSiO2等の絶縁材料を用いて記録ギャッ
プ層11が形成され、その上に、記録ギャップ層11を
介して共通シールド層9に対向し、かつ他の部分で共通
シールド層9に接するように上部コア12がFe20-Ni80
パーマロイを用いて形成されている。
Further, on the common shield layer 9, Al
A recording gap layer 11 is formed using an insulating material such as 2 O 3 , AlN, or SiO 2 , and the recording gap layer 11 faces the common shield layer 9 via the recording gap layer 11, and has a common shield layer at other portions. 9 is made of Fe 20 -Ni 80
It is formed using permalloy.

【0041】図示はしていないが、共通シールド層9に
接している部分の上部コア12を周回するように巻線コ
イルが設けられ、薄膜磁気ヘッドの記録ヘッド部13が
形成されている。電極リード層の上部又は端部には十分
な絶縁性を確保するためエキストラギャップ層14が設
けられる。
Although not shown, a winding coil is provided so as to circumnavigate the upper core 12 in a portion in contact with the common shield layer 9, and a recording head section 13 of a thin-film magnetic head is formed. An extra gap layer 14 is provided on the upper or end portion of the electrode lead layer in order to secure sufficient insulation.

【0042】本発明の実施の形態にかかる薄膜磁気ヘッ
ドは、このエキストラギャップのさらに外側に、下部シ
ールド3と共通シールド9を接触しているか、あるいは
下部ギャップ4や上部ギャップ8等の薄い絶縁膜のみで
構成されている大面積の局部電池部15を設けている点
に特徴を有する。かかる局部電池の位置としては、記録
又は再生トラック幅の10倍以上であること、特に10
0倍以上離れていることが望ましい。また、ABS面か
ら見た突き合わせ幅は、トラック幅の10倍以上である
ことが望ましい。
In the thin-film magnetic head according to the embodiment of the present invention, the lower shield 3 and the common shield 9 are in contact with each other outside the extra gap, or a thin insulating film such as the lower gap 4 or the upper gap 8 is provided. It is characterized in that a large-area local battery unit 15 composed only of a large area is provided. The location of such a local battery should be at least 10 times the width of the recording or playback track, especially 10
It is desirable that they are separated by 0 times or more. Further, it is desirable that the butting width as viewed from the ABS surface is 10 times or more the track width.

【0043】かかる構成とすることにより、まず腐食は
局部電池部15で発生し、記録素子13や再生素子10
の近傍での腐食の発生を未然に防止することが可能とな
る。本来、このような腐食による不良は磁気ヘッドの生
産工程においては極力避けるべきものではあるが、使用
材料や水、研削液、洗浄液から来る不純物、作業人員の
汗やふけや呼気、大気中の微量ガス等を完全に除去し、
腐食を発生させないことは困難であり、腐食防止にかけ
るコストと歩留まり低下によるロスコストの最適点を求
める必要がある。本実施の形態によれば、たとえ上記理
由による腐食が突発的に発生したとしても、磁気記録再
生素子の特性には何ら影響を及ぼすことがないため、腐
食による不良によって生じるロスコストの低減に大きな
効果が期待できる。
With this configuration, first, corrosion occurs in the local battery unit 15 and the recording element 13 and the reproducing element 10
Can be prevented from occurring in the vicinity of. Originally, defects due to such corrosion should be avoided as much as possible in the magnetic head production process. Completely remove gas, etc.
It is difficult to prevent corrosion, and it is necessary to find the optimal point of the cost for corrosion prevention and the loss cost due to a decrease in yield. According to the present embodiment, even if the corrosion suddenly occurs for the above-mentioned reason, the characteristics of the magnetic recording / reproducing element are not affected at all, so that the loss cost caused by the failure due to the corrosion is greatly reduced. Can be expected.

【0044】次に、局部電池の位置をエキストラギャッ
プ層14の外側ではなく、切断しろに設けることも考え
られる。図2は、かかる場合の薄膜磁気ヘッドの正面図
であり、磁気記録媒体に対向するヘッド摺動面から見た
薄膜磁気ヘッド部のABS面から見たものである。ま
た、図3はかかる場合の薄膜磁気ヘッドを製造する際の
加工の一手順を示した概略図である。
Next, it is conceivable that the position of the local battery is provided not at the outside of the extra gap layer 14 but at a cutting margin. FIG. 2 is a front view of the thin-film magnetic head in such a case, as viewed from the ABS of the thin-film magnetic head viewed from the head sliding surface facing the magnetic recording medium. FIG. 3 is a schematic view showing one processing procedure for manufacturing the thin-film magnetic head in such a case.

【0045】まず、磁気ヘッド20を構成し、エキスト
ラギャップ層14の外側ではなく、切断しろ23に局部
電池21を作成する。かかる構造とするべく、ウエファ
ー31より数個以上のヘッドチップが連なったバー32
と呼ばれる角柱を切り出す。この切り出したバー32を
光学的幅、電気的抵抗あるいはインダクタンスをモニタ
しながら、ABS面を加工して所望のストライプハイト
を持つバー22を得るストライプハイト加工工程33を
行う。このストライプハイト加工工程33は、切断、研
削、ラップ、研磨、バフ研磨、ミリング、エッチング等
の手法を組み合わせて行う。
First, the magnetic head 20 is formed, and the local battery 21 is formed not at the outside of the extra gap layer 14 but at the cutting margin 23. In order to achieve such a structure, a bar 32 in which several or more head chips are connected from the wafer 31 is provided.
Cut out a prism called. While monitoring the optical width, electric resistance or inductance of the cut bar 32, a strip height processing step 33 of processing the ABS surface to obtain the bar 22 having a desired stripe height is performed. The stripe height processing step 33 is performed by combining techniques such as cutting, grinding, lapping, polishing, buffing, milling, and etching.

【0046】こうして得られたバー22の表面をDL
C、スパッタカーボン等の保護膜で被う保護膜製造加工
34を行った後に、切断しろ23を切断して単一のスラ
イダ35を得る。このようにして得られたスライダ35
には、局部電池部21がABS面24には残らないた
め、たとえ局部電池部21で腐食が発生しても最終特性
に影響を及ぼさない。なお、ここでいう最終特性とは、
磁気ヘッドの浮上特性量、摺動特性を示すCSS(コン
タクト・スタート・ストップ)特性、電磁変換特性等を
意味する。
The surface of the bar 22 obtained in this manner is coated with DL
C, after performing a protective film manufacturing process 34 for covering with a protective film such as sputtered carbon, the cutting margin 23 is cut to obtain a single slider 35. The slider 35 thus obtained
However, since the local battery section 21 does not remain on the ABS surface 24, even if corrosion occurs in the local battery section 21, the final characteristics are not affected. Note that the final characteristics here are:
It means a flying characteristic amount of the magnetic head, a CSS (contact start / stop) characteristic indicating a sliding characteristic, an electromagnetic conversion characteristic, and the like.

【0047】また、ABSトリミング加工される面上に
局部電池を設けることも考えられる。図4及び図5は、
かかる場合の実施例を説明するための図であり、図4は
かかる場合のABS面から見た概略俯瞰図を、図5はか
かる場合の薄膜磁気ヘッドを製造する際の加工の一手順
を示した概略図を、それぞれ示している。
It is also conceivable to provide a local battery on the ABS trimming surface. FIG. 4 and FIG.
FIG. 4 is a view for explaining an embodiment in such a case, FIG. 4 is a schematic bird's-eye view viewed from the ABS in such a case, and FIG. 5 shows one processing procedure in manufacturing the thin-film magnetic head in such a case. Schematic diagrams are shown, respectively.

【0048】図4において、Co系アモルファス膜からな
る下部シールド45、Fe20-Ni80パーマロイからなる共
通シールド46、上部コア47からなる磁気ヘッド41
を構成し、ABSトリミング加工される面42上に局部
電池43を作製する。
In FIG. 4, a lower shield 45 made of a Co-based amorphous film, a common shield 46 made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and a magnetic head 41 made of an upper core 47.
And a local battery 43 is formed on the surface 42 to be subjected to ABS trimming.

【0049】まずウエファー51より、数個のヘッドチ
ップが連なったバー52を切り出す。このバー52を、
所望のストライプハイトを持つバー53を得るストライ
プハイト加工工程54を行う。こうして得られたバー5
3の表面をDLC、スパッタカーボン、SiO2、Cr等の保
護膜で被う保護膜製造加工55を行った後、所望の浮上
特性を得るためのABS面加工56を行う。このABS
面加工56は機械加工、ミリング、エッチング等の手法
で行い、数回の加工を重ねて所望の形状、深さを得る。
First, a bar 52 in which several head chips are connected is cut out from the wafer 51. This bar 52 is
A stripe height processing step 54 for obtaining a bar 53 having a desired stripe height is performed. Bar 5 thus obtained
After performing a protective film manufacturing process 55 for covering the surface of No. 3 with a protective film of DLC, sputtered carbon, SiO 2 , Cr, etc., an ABS surface process 56 for obtaining desired floating characteristics is performed. This ABS
The surface processing 56 is performed by a technique such as mechanical processing, milling, etching, or the like, and a desired shape and depth are obtained by repeating processing several times.

【0050】磁気ヘッド素子41は、図4に示す最も高
い突起やレール部48上に残り、削られた部分(キャビ
ティ部)42の通常加工深さは数10nmから10μm
である。この加工はバー状態あるいはスライダ状態のど
ちらで行っても良い。またこの加工は2段以上になって
いても良い。このキャビティ部で削り取られる部分に局
部電池部43を作製する。この局部電池の奥行き方向の
深さは、最終加工でスライダに腐食可能部分を残さない
ため、ABS面加工深さより浅いことが望ましい。加工
精度を考えると望ましくは0.2μmから5μmであ
る。さらにこのABS面上に保護膜を設けても良い。ま
たABS面加工56はバーの状態で行っても良いし、あ
るいはスライダに切断した後に行っても良い。
The magnetic head element 41 remains on the tallest protrusion or the rail portion 48 shown in FIG. 4, and the shaved portion (cavity portion) 42 has a normal processing depth of several tens nm to 10 μm.
It is. This processing may be performed in either the bar state or the slider state. This processing may be performed in two or more steps. A local battery unit 43 is formed in a portion that is cut off by the cavity. The depth of the local battery in the depth direction is desirably smaller than the ABS surface processing depth in order not to leave a erodable portion on the slider in the final processing. Considering the processing accuracy, it is desirably from 0.2 μm to 5 μm. Further, a protective film may be provided on the ABS. Further, the ABS surface processing 56 may be performed in a bar state, or may be performed after cutting the slider.

【0051】このようにして作製されたスライダ49に
は、局部電池部43は削り取られてしまって残らないた
め、たとえ局部電池部43で腐食が発生しても最終特性
に影響を及ぼすことはない。
In the slider 49 thus manufactured, since the local battery 43 is not scraped off and remains, even if corrosion occurs in the local battery 43, the final characteristics are not affected. .

【0052】これまでの説明においては、下部シールド
と共通シールドが両者とも延長されて局部電池を構成す
る例を示してきた。しかし、特にかかる構造に限定され
るものではない。
In the above description, an example has been shown in which the lower shield and the common shield are both extended to form a local battery. However, the present invention is not particularly limited to such a structure.

【0053】例えば、磁ABS面から見た概略正面図で
ある図6に示すように、共通シールド61と局部電池上
部62が摺動面で分離されて、下部シールド63に接合
されていても良い。局部電池64は表層の導電性液体を
通じて電流が流れるため、共通シールド61と局部電池
上部62の導通は取れていても絶縁されていてもどちら
でも良い。
For example, as shown in FIG. 6 which is a schematic front view as viewed from the magnetic ABS, the common shield 61 and the local battery upper part 62 may be separated by a sliding surface and joined to the lower shield 63. . Since current flows through the surface layer of the conductive liquid in the local battery 64, the common shield 61 and the local battery upper portion 62 may be either electrically connected or insulated.

【0054】さらに、同じく磁ABS面から見た概略正
面図である図7に示すように、共通シールド71と局部
電池上部72が摺動面で分離されて、下部シールド73
と局部電池下部74が分離され、局部電池上部72と局
部電池下部74が接合されていても良い。局部電池75
は表層の導電性液体を通じて電流が流れるため、共通シ
ールド71と局部電池上部72の導通、下部シールド7
3と局部電池下部74の導通は取れていても絶縁されて
いてもどちらでも良い。
Further, as shown in FIG. 7, which is a schematic front view also viewed from the magnetic ABS surface, the common shield 71 and the local battery upper part 72 are separated by a sliding surface, and
And the local battery lower part 74 may be separated, and the local battery upper part 72 and the local battery lower part 74 may be joined. Local battery 75
Since the electric current flows through the conductive liquid on the surface layer, conduction between the common shield 71 and the local
3 and the lower part 74 of the local battery may be either conductive or insulated.

【0055】さらに、同じく磁ABS面から見た概略正
面図である図8に示すように、下部シールド81の外側
に共通シールドと同じ材料で構成された局部電池右側層
82を設けても良い。これは、同じく磁ABS面から見
た概略正面図である図9に示すように、共通シールド9
4と局部電池左側層91を分離し、局部電池右側層92
を接合しても良い。
Further, as shown in FIG. 8, which is a schematic front view also viewed from the magnetic ABS side, a local cell right layer 82 made of the same material as the common shield may be provided outside the lower shield 81. This is the same as the common shield 9 shown in FIG.
4 and the local battery left layer 91 are separated, and the local battery right layer 92 is separated.
May be joined.

【0056】なお、図6から図9においては、CoNbZrア
モルファス磁性膜からなる下部シールド層とFe20-Ni80
パーマロイからなる共通シールド層を用いた構成につい
て説明しているが、他のCoZrCr、CoTaZr、CoTaHf等のCo
系アモルファス合金、センダスト系磁性膜、Fe20-Ni80
Fe50-Ni50等のパーマロイ磁性膜、FeN、Fe系グラニュラ
ー膜等のFe微粒子系磁性膜等の任意の酸化還元電位が異
なる磁性金属の組み合わせでも、同様な効果が得られる
ことは言うまでもない。
6 to 9, the lower shield layer made of a CoNbZr amorphous magnetic film and the Fe 20 -Ni 80
The configuration using a common shield layer made of permalloy is described, but other CoZrCr, CoTaZr, CoTaHf, etc.
-Based amorphous alloy, sendust-based magnetic film, Fe 20 -Ni 80 ,
It goes without saying that the same effect can be obtained even with a combination of magnetic metals having different oxidation-reduction potentials, such as a permalloy magnetic film such as Fe 50 -Ni 50 , and a Fe fine particle based magnetic film such as FeN and Fe based granular films.

【0057】さらに、かかる磁気ヘッドの製造プロセス
を用い、局部電池部64、75、83、93を取り除く
ことは磁気ヘッドの最終特性を維持する上でも効果的で
ある。
Further, removing the local battery portions 64, 75, 83 and 93 by using such a magnetic head manufacturing process is effective in maintaining the final characteristics of the magnetic head.

【0058】さらに、共通シールドの外側に、記録コア
と同じ材料を用いた局部電池上層が共通シールドに密着
して構成された大面積の局部電池部を設けることも考え
られる。
Further, it is conceivable to provide a large-area local battery section having a local battery upper layer made of the same material as that of the recording core and closely adhered to the common shield, outside the common shield.

【0059】例えば、ABS面から見た概略正面図であ
る図10において、Fe20-Ni80パーマロイからなる下部
シールド層101が成膜され、下部ギャップ絶縁部、磁
気抵抗効果素子、縦バイアス層、電極リード層、上部ギ
ャップ絶縁部からなる再生素子部102が形成されてい
る。その上にFe20-Ni80パーマロイ用いた共通シールド
層103が形成され、さらに共通シールド層103の上
にAl2O3、AlNあるいはSiO2等の絶縁材料を用いて記録ギ
ャップ層104が形成され、その上に上部コア105が
Fe50-Ni50パーマロイを用いて形成されている。
For example, in FIG. 10 which is a schematic front view as viewed from the ABS, a lower shield layer 101 made of Fe 20 -Ni 80 permalloy is formed, and a lower gap insulating section, a magnetoresistive element, a vertical bias layer, A reproducing element section 102 including an electrode lead layer and an upper gap insulating section is formed. A common shield layer 103 using Fe 20 -Ni 80 permalloy is formed thereon, and a recording gap layer 104 is formed on the common shield layer 103 using an insulating material such as Al 2 O 3 , AlN or SiO 2. , On which the upper core 105
It is formed using Fe 50 -Ni 50 permalloy.

【0060】本実施例にかかる磁気ヘッドはこの共通シ
ールド103の外側に、記録コアと同じ材料を用いた局
部電池上層106を共通シールドに密着して構成された
大面積の局部電池部107を設ける。この局部電池の位
置は、記録トラック幅の10倍以上であることが望まし
く、100倍以上離れていることがさらに望ましい。ま
たABS面から見た突き合わせ幅は、記録トラック幅の
10倍以上であることが望ましい。
The magnetic head according to this embodiment has a large-area local battery section 107 formed outside the common shield 103 and having a local battery upper layer 106 made of the same material as the recording core and closely adhered to the common shield. . The location of the local battery is preferably at least 10 times the recording track width, and more preferably at least 100 times the recording track width. It is desirable that the butting width as viewed from the ABS surface is 10 times or more the recording track width.

【0061】かかる構成により、まず腐食は局部電池部
107で発生し、記録素子や再生素子の近傍での腐食の
発生を防ぐことができる。この局部電池部はスライダ切
断加工、ABS面加工等によって取り除かれる部位に作
ることが望ましい。
With this configuration, first, corrosion occurs in the local battery unit 107, and it is possible to prevent corrosion near the recording element and the reproducing element. This local battery section is desirably formed at a portion removed by slider cutting, ABS surface processing, or the like.

【0062】さらに、ABS面から見た概略正面図であ
る図11に示すように、共通シールド111と局部電池
下部112が摺動面で分離されて、局部電池上部113
と局部電池下部112が接合され局部電池部114を構
成しても良い。
Further, as shown in FIG. 11, which is a schematic front view as viewed from the ABS, the common shield 111 and the lower part 112 of the local battery are separated by a sliding surface, and the upper part 113 of the local battery is separated.
And the local battery lower part 112 may be joined to form the local battery part 114.

【0063】また、ABS面から見た概略正面図である
図12に示すように、記録ヘッドの飽和を防ぐため、共
通シールド121、上部コア122をそれぞれ2層化
し、共通シールドの上部125、上部コアの下部126
を高飽和磁束密度の磁性層で作製することが知られてい
る。この場合共通シールド下部123や上部コア上部1
24は磁歪の小さいFe20-Ni80パーマロイで作製し、共
通シールドの上部125、上部コアの下部126をFe50
-Ni50パーマロイやFeN、Fe系グラニュラー膜等の鉄系微
結晶膜などの高飽和磁束密度で作製することが望まし
い。下部シールド127をFe20-Ni80パーマロイより酸
化還元電位が低く酸化しにくいCo系アモルファス膜で構
成し、この下部シールド127の外側に、記録コア下部
126と同じ材料を用いた局部電池上層128を下部シ
ールドに密着して構成された大面積の局部電池部129
を設ける。
As shown in FIG. 12, which is a schematic front view as viewed from the ABS, in order to prevent saturation of the recording head, the common shield 121 and the upper core 122 are each made into two layers, and the upper part 125 and the upper part Lower part of core 126
Is known to be made of a magnetic layer having a high saturation magnetic flux density. In this case, the common shield lower part 123 and the upper core upper part 1
24 was produced in a small Fe 20 -Ni 80 Permalloy magnetostriction, the top 125 of the common shield, Fe 50 lower 126 of the upper core
-Ni 50 Permalloy or FeN, it is desirable to produce a high saturation magnetic flux density such as iron-based microcrystalline film such as Fe-based granular film. The lower shield 127 is made of a Co-based amorphous film having a lower oxidation-reduction potential than Fe 20 -Ni 80 permalloy and less susceptible to oxidation. Outside the lower shield 127, a local battery upper layer 128 using the same material as the recording core lower part 126 is provided. Large-area local battery unit 129 formed in close contact with the lower shield
Is provided.

【0064】かかる構成とすることで、まず最も腐食し
やすい局部電池部上部128と最も安定な下部シールド
127の間で局部電池129を発生し、記録素子や再生
素子の近傍での腐食の発生を防ぐことが可能となる。
With this configuration, first, a local battery 129 is generated between the local battery upper portion 128 which is most susceptible to corrosion and the most stable lower shield 127, and the occurrence of corrosion near the recording element and the reproducing element is prevented. Can be prevented.

【0065】さらに、ABS面から見た概略正面図であ
る図13に示すように、共通シールド131と共通シー
ルドを構成する磁性金属と同一材料で作られた局部電池
下部132が摺動面で分離され、記録ギャップを構成す
る磁性金属と同一材料で作られた局部電池上部133が
接合され局部電池部134を構成しても良い。
Further, as shown in FIG. 13 which is a schematic front view seen from the ABS, a common shield 131 and a local battery lower part 132 made of the same material as the magnetic metal constituting the common shield are separated by a sliding surface. Then, the local battery upper part 133 made of the same material as the magnetic metal constituting the recording gap may be joined to form the local battery part 134.

【0066】さらに磁気ヘッドの製造プロセスを用い、
局部電池部107、114、129、134を取り除く
ことは磁気ヘッドの最終特性を維持する上で効果的であ
る。
Further, using the manufacturing process of the magnetic head,
Removing the local battery units 107, 114, 129, and 134 is effective in maintaining the final characteristics of the magnetic head.

【0067】また、同様に共通シールド下部層の外側
に、共通シールド上部と同じ材料を用いた局部電池上層
が下部シールドに密着して構成された大面積の局部電池
部を設けることも考えられる。図14及び図15は、か
かる実施例を説明するための図であり、図14及び図1
5はABS面から見た概略正面図である。
Similarly, it is conceivable to provide a large-area local battery section outside the common shield lower layer, in which a local battery upper layer made of the same material as the upper common shield is in close contact with the lower shield. FIGS. 14 and 15 are diagrams for explaining such an embodiment, and FIGS.
5 is a schematic front view as viewed from the ABS.

【0068】図14に示すように、共通シールド14
1、上部コア142を2層化し、記録ギャップ近傍の共
通シールドの上部145、上部コアの下部146を高飽
和磁束密度の層で作製する。具体的には、共通シールド
下部143や上部コア上部144は磁歪の小さいFe20-N
i80パーマロイで作製し、共通シールドの上部145、
上部コアの下部146をFe50-Ni50パーマロイやFeN、Fe
系グラニュラー膜等の鉄系微結晶膜などの高飽和磁束密
度で作製する。Fe20-Ni80パーマロイで作製した共通シ
ールド下部層143の外側に、共通シールド上部145
と同じ材料を用いた局部電池上層147を共通シールド
に密着して構成された大面積の局部電池部148を設け
る。ABS面から見た接合幅は、記録トラック幅の10
倍以上が望ましい。かかる構成とすることで、最も大き
な局部電池部から腐食が発生するので、記録素子や再生
素子の近傍での腐食の発生を防ぐことができる。
As shown in FIG.
1. The upper core 142 is made into two layers, and the upper part 145 of the common shield near the recording gap and the lower part 146 of the upper core are made of a layer having a high saturation magnetic flux density. Specifically, the common shield lower part 143 and the upper core upper part 144 are made of Fe 20 -N
Made of i 80 Permalloy, top 145 of common shield,
The lower part 146 of the upper core is made of Fe 50 -Ni 50 permalloy, FeN, Fe
It is manufactured with a high saturation magnetic flux density such as a ferrous microcrystalline film such as a ferrous granular film. Outside the common shield lower layer 143 made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, the common shield upper
A large-area local battery unit 148 is provided, in which a local battery upper layer 147 made of the same material as that described above is adhered to the common shield. The bonding width viewed from the ABS surface is 10 times the recording track width.
More than double is desirable. With this configuration, since corrosion occurs from the largest local battery unit, it is possible to prevent corrosion near the recording element and the reproducing element.

【0069】さらに、図15に示すように、共通シール
ド下部151と局部電池下部152が摺動面で分離され
て、局部電池上部153と局部電池下部152が接合さ
れ局部電池部154を構成しても良い。
Further, as shown in FIG. 15, the common shield lower part 151 and the local battery lower part 152 are separated by a sliding surface, and the local battery upper part 153 and the local battery lower part 152 are joined to form a local battery part 154. Is also good.

【0070】さらに上述した磁気ヘッドの製造プロセス
を用い、局部電池部148、154を取り除くことは磁
気ヘッドの最終特性を維持する上で効果的である。
Further, removing the local battery sections 148 and 154 by using the above-described magnetic head manufacturing process is effective in maintaining the final characteristics of the magnetic head.

【0071】以上のように本実施の形態によれば、飽和
磁束密度が高いが耐食性に問題のある磁性金属膜、例え
ば純鉄や鉄窒素合金等を用いて磁気ヘッドを安定に生産
することができ、高い記録特性すなわち高い記録密度を
有する磁気記録装置を作製することが可能になる。
As described above, according to the present embodiment, it is possible to stably produce a magnetic head using a magnetic metal film having a high saturation magnetic flux density but having a problem in corrosion resistance, for example, pure iron or iron-nitrogen alloy. As a result, a magnetic recording device having high recording characteristics, that is, high recording density can be manufactured.

【0072】以上、シールド型薄膜磁気ヘッドについて
述べてきたが、ヨーク型、バルク型磁気ヘッド、単磁極
型磁気ヘッドについても本発明が効果的であることは言
うまでもない。また、GMR型再生ヘッドを例示した
が、AMR型再生ヘッド、TMR型再生ヘッド、誘導型
再生ヘッドについても本発明が効果的であることは言う
までもない。
Although the shield type thin film magnetic head has been described above, it goes without saying that the present invention is also effective for a yoke type, bulk type magnetic head and single pole type magnetic head. Further, although the GMR type reproducing head has been exemplified, it goes without saying that the present invention is also effective for an AMR type reproducing head, a TMR type reproducing head, and an inductive type reproducing head.

【0073】[0073]

【発明の効果】以上のように本発明にかかる薄膜磁気ヘ
ッドによれば、薄膜磁気ヘッド素子を構成する下部シー
ルド層、共通シールド層あるいは上部磁極の各々の形成
と同じプロセスによって、薄膜磁気ヘッド素子とは異な
る位置に局部電池を設け、再生素子のストライプハイト
を形成後、金属磁性膜を保護膜で保護し、腐食した可能
性のある局部電池部を取り除くもので、薄膜磁気ヘッド
の安定した生産、歩留まりの向上等、優れた薄膜磁気ヘ
ッドを作成することが可能となる。
As described above, according to the thin-film magnetic head of the present invention, the thin-film magnetic head element is formed by the same process as the formation of the lower shield layer, the common shield layer and the upper magnetic pole constituting the thin-film magnetic head element. A local battery is provided at a different location from the one above, and after forming the stripe height of the reproducing element, the metal magnetic film is protected with a protective film to remove the local battery that may have been corroded. Thus, it is possible to produce an excellent thin film magnetic head such as improvement in yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態1にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの正面図
FIG. 1 is a front view of a thin-film magnetic head according to a first embodiment of the present invention;

【図2】 本発明の実施の形態2にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの正面図
FIG. 2 is a front view of a thin-film magnetic head according to a second embodiment of the present invention;

【図3】 本発明の実施の形態2にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの製造方法の概略流れ図
FIG. 3 is a schematic flowchart of a method for manufacturing a thin-film magnetic head according to a second embodiment of the present invention;

【図4】 本発明の実施の形態3にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの俯瞰図
FIG. 4 is an overhead view of a thin-film magnetic head according to a third embodiment of the present invention;

【図5】 本発明の実施の形態3にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの製造方法の説明図
FIG. 5 is an explanatory diagram of a method of manufacturing a thin-film magnetic head according to a third embodiment of the present invention.

【図6】 本発明の実施の形態4にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの正面図
FIG. 6 is a front view of a thin-film magnetic head according to a fourth embodiment of the present invention;

【図7】 本発明の実施の形態4にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの正面図
FIG. 7 is a front view of a thin-film magnetic head according to a fourth embodiment of the present invention;

【図8】 本発明の実施の形態4にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの正面図
FIG. 8 is a front view of a thin-film magnetic head according to a fourth embodiment of the present invention;

【図9】 本発明の実施の形態4にかかる薄膜磁気ヘッ
ドの正面図
FIG. 9 is a front view of a thin-film magnetic head according to a fourth embodiment of the present invention;

【図10】 本発明の実施の形態5にかかる薄膜磁気ヘ
ッドの正面図
FIG. 10 is a front view of a thin-film magnetic head according to a fifth embodiment of the present invention;

【図11】 本発明の実施の形態5にかかる薄膜磁気ヘ
ッドの正面図
FIG. 11 is a front view of a thin-film magnetic head according to a fifth embodiment of the present invention;

【図12】 本発明の実施の形態5にかかる薄膜磁気ヘ
ッドの正面図
FIG. 12 is a front view of a thin-film magnetic head according to a fifth embodiment of the present invention;

【図13】 本発明の実施の形態5にかかる薄膜磁気ヘ
ッドの正面図
FIG. 13 is a front view of a thin-film magnetic head according to a fifth embodiment of the present invention;

【図14】 本発明の実施の形態6にかかる薄膜磁気ヘ
ッドの正面図
FIG. 14 is a front view of a thin-film magnetic head according to a sixth embodiment of the present invention;

【図15】 本発明の実施の形態6にかかる薄膜磁気ヘ
ッドの正面図
FIG. 15 is a front view of a thin-film magnetic head according to a sixth embodiment of the present invention;

【図16】 従来の薄膜磁気ヘッド素子の斜視図FIG. 16 is a perspective view of a conventional thin-film magnetic head element.

【図17】 従来の薄膜磁気ヘッド素子の正面図FIG. 17 is a front view of a conventional thin-film magnetic head element.

【図18】従来の薄膜磁気ヘッド素子の製造方法の説明
FIG. 18 is an explanatory diagram of a method for manufacturing a conventional thin-film magnetic head element.

【図19】従来の薄膜磁気ヘッド素子の製造方法の説明
FIG. 19 is an explanatory view of a conventional method for manufacturing a thin-film magnetic head element.

【図20】従来の薄膜磁気ヘッド素子の製造方法の説明
FIG. 20 is an explanatory diagram of a conventional method for manufacturing a thin-film magnetic head element.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板 2 絶縁層 3、45、63、73、81、94、101、127、
131、161 下部シールド層 4、162 下部ギャップ絶縁部 5、163 磁気抵抗効果素子(MR素子、GMR素
子) 6、164 縦バイアス層 7、165 電極リード層 8、166 上部ギャップ絶縁部 9、46、61、71、103、111、167 共通
シールド層 10、102、121、141、160 薄膜磁気ヘッ
ド再生ヘッド部 11、104、171 記録ギャップ層 12、47、105、172 上部コア 13、122、142、170 薄膜磁気ヘッド記録ヘ
ッド部 14 エキストラギャップ 15、21、43、64、75、83、93、107、
114、129、134、148、154 局部電池部 20、41 磁気ヘッド素子 22、32、52、53、181 バー 23 切断しろ 31、51 ウエファー 33、54 ストライプハイト加工工程 34、55 保護膜製造工程 35、49 スライダ 42 ABS加工部 56 ABS面加工工程 62、72、106、113、128、133、14
7、153 局部電池上部層 74、112、132、152 局部電池下部層 82、92 局部電池右層 91 局部電池左層 123、143、151 共通シールド下部層 124、144 上部コア上部層 125、145 共通シールド上部層 126、146 上部コア下部層 173 記録コイル 174 記録幅 182 保護膜 183 ABS面
1 substrate 2 insulating layer 3, 45, 63, 73, 81, 94, 101, 127,
131, 161 Lower shield layer 4, 162 Lower gap insulating part 5, 163 Magnetoresistance effect element (MR element, GMR element) 6, 164 Vertical bias layer 7, 165 Electrode lead layer 8, 166 Upper gap insulating part 9, 46, 61, 71, 103, 111, 167 Common shield layer 10, 102, 121, 141, 160 Thin-film magnetic head reproducing head section 11, 104, 171 Recording gap layer 12, 47, 105, 172 Upper cores 13, 122, 142, 170 Thin-film magnetic head recording head section 14 Extra gap 15, 21, 43, 64, 75, 83, 93, 107,
114, 129, 134, 148, 154 Local battery section 20, 41 Magnetic head element 22, 32, 52, 53, 181 Bar 23 Cutting margin 31, 51 Wafer 33, 54 Stripe height processing step 34, 55 Protective film manufacturing step 35 , 49 Slider 42 ABS processing part 56 ABS surface processing step 62, 72, 106, 113, 128, 133, 14
7, 153 Local battery upper layer 74, 112, 132, 152 Local battery lower layer 82, 92 Local battery right layer 91 Local battery left layer 123, 143, 151 Common shield lower layer 124, 144 Upper core upper layer 125, 145 Common Shield upper layer 126, 146 Upper core lower layer 173 Recording coil 174 Recording width 182 Protective film 183 ABS surface

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 情報を記録する磁気記録媒体に対向する
ヘッド摺動面内に、酸化還元電位の異なる2層以上の磁
性金属膜を有し、記録ギャップ又は再生ギャップと異な
る位置において前記磁性金属膜を用いて局部電池を構成
することを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
1. A head sliding surface facing a magnetic recording medium on which information is recorded has two or more magnetic metal films having different oxidation-reduction potentials, and the magnetic metal film is provided at a position different from a recording gap or a reproducing gap. A thin film magnetic head comprising a local battery using a film.
【請求項2】 スライダ切断しろに前記磁性金属膜を用
いて前記局部電池を構成する請求項1記載の薄膜磁気ヘ
ッド。
2. The thin-film magnetic head according to claim 1, wherein the local battery is formed by using the magnetic metal film at a position where a slider is cut.
【請求項3】 前記磁性金属膜を用いて記録ギャップ又
は再生ギャップを構成する下部シールドと共通シールド
とが分離され、前記共通シールドに前記局部電池を構成
する請求項1記載の薄膜磁気ヘッド。
3. The thin-film magnetic head according to claim 1, wherein a lower shield and a common shield forming a recording gap or a reproducing gap are separated by using the magnetic metal film, and the local battery is formed in the common shield.
【請求項4】 ABS面加工を行う磁気記録素子面より
深く加工される部分に前記磁性金属膜を用いて前記局部
電池を構成する請求項1記載の薄膜磁気ヘッド。
4. The thin-film magnetic head according to claim 1, wherein the local battery is formed by using the magnetic metal film in a portion processed deeper than a magnetic recording element surface on which an ABS surface is processed.
【請求項5】 共通シールドの一部はFe20-Ni80パーマ
ロイを用い、前記パーマロイより酸化還元電位の高いCo
系アモルファス又はセンダストを用いた下部シールドを
用いる請求項1から4のいずれか一項に記載の薄膜磁気
ヘッド。
5. A part of the common shield is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and has a redox potential higher than that of the permalloy.
The thin-film magnetic head according to any one of claims 1 to 4, wherein a lower shield using a system amorphous or sendust is used.
【請求項6】 共通シールドの一部はFe20-Ni80パーマ
ロイを用い、下部シールドの再生素子対抗面に、前記パ
ーマロイより酸化還元電位の高いCo系アモルファス又は
センダストを用い、下部シールドの一部にFe20-Ni80
ーマロイを接合する請求項1から4のいずれか一項に記
載の薄膜磁気ヘッド。
6. A part of the common shield is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and a Co-based amorphous or sendust having a higher oxidation-reduction potential than the permalloy is used on a surface of the lower shield facing the reproducing element. 5. The thin-film magnetic head according to claim 1, wherein Fe 20 -Ni 80 permalloy is bonded to the thin film magnetic head.
【請求項7】 共通シールドの再生素子に相対する一部
はFe20-Ni80パーマロイを用い、記録ギャップを構成す
る上部コア下部、共通シールド上部の少なくとも一方に
Fe50-Ni50パーマロイを用いる請求項1から4のいずれ
か一項に記載の薄膜磁気ヘッド。
7. A part of the common shield facing the reproducing element is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and is provided on at least one of the lower part of the upper core and the upper part of the common shield constituting the recording gap.
5. The thin-film magnetic head according to claim 1, wherein Fe 50 -Ni 50 permalloy is used.
【請求項8】 共通シールドの再生素子に相対する一部
はFe20-Ni80パーマロイを用い、記録ギャップを構成す
る上部コア下部、共通シールド上部の少なくとも一方に
Fe系微粒子系磁性金属を用いる請求項1から4のいずれ
か一項に記載の薄膜磁気ヘッド。
8. A part of the common shield facing the reproducing element is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and is provided on at least one of the lower part of the upper core and the upper part of the common shield constituting the recording gap.
The thin-film magnetic head according to any one of claims 1 to 4, wherein a magnetic metal based on Fe-based fine particles is used.
【請求項9】 磁気記録媒体に対向するヘッド摺動面内
に、酸化還元電位の異なる2層以上の磁性金属膜を有
し、スライダ切断しろに前記磁性金属膜を用いて局部電
池を構成し、所望のストライプハイトを得るラップ加工
を終えた後、前記摺動面に保護膜を生成し、前記スライ
ダ切断しろを切断することを特徴とする薄膜磁気ヘッド
の製造方法。
9. A local battery is formed by providing two or more magnetic metal films having different oxidation-reduction potentials on a head sliding surface facing a magnetic recording medium, and using the magnetic metal films to cut off a slider. A lapping process for obtaining a desired stripe height, forming a protective film on the sliding surface, and cutting off the slider cutting margin.
【請求項10】 磁気記録媒体に対向するヘッド摺動面
内に、酸化還元電位の異なる2層以上の磁性金属膜を有
し、ABS面加工により磁気記録素子面より深く加工さ
れる部分に前記磁性金属膜を用いて前記局部電池を構成
し、所望のストライプハイトを得るラップ加工を終えた
後、前記摺動面に保護膜を作製し、さらにABS面形状
作製加工を行い前記局部電池部分の表層を取り除くこと
を特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
10. A head sliding surface opposed to a magnetic recording medium, comprising two or more magnetic metal films having different oxidation-reduction potentials, wherein said portion is formed deeper than a magnetic recording element surface by ABS surface processing. After configuring the local battery using a magnetic metal film and finishing the lapping process to obtain a desired stripe height, a protective film is formed on the sliding surface, and an ABS surface shape forming process is further performed to form the local battery portion. A method for manufacturing a thin-film magnetic head, comprising removing a surface layer.
【請求項11】 共通シールドの一部はFe20-Ni80パー
マロイを用い、前記パーマロイより酸化還元電位の高い
Co系アモルファス又はセンダストを用いた下部シールド
を用いる請求項9又は10記載の薄膜磁気ヘッドの製造
方法。
11. A part of the common shield is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and has a higher oxidation-reduction potential than the permalloy.
The method for manufacturing a thin-film magnetic head according to claim 9 or 10, wherein a lower shield using Co-based amorphous or Sendust is used.
【請求項12】 共通シールドの一部はFe20-Ni80パー
マロイを用い、下部シールドの再生素子対抗面に、前記
パーマロイより酸化還元電位の高いCo系アモルファス又
はセンダストを用い、下部シールドの一部にFe20-Ni80
パーマロイを接合する請求項9又は10記載の薄膜磁気
ヘッドの製造方法。
12. A part of the common shield is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and a Co-based amorphous or sendust having a higher oxidation-reduction potential than the permalloy is used on the lower shield facing the reproducing element. Fe 20 -Ni 80
The method for manufacturing a thin-film magnetic head according to claim 9 or 10, wherein permalloy is bonded.
【請求項13】 共通シールドの再生素子に相対する一
部はFe20-Ni80パーマロイを用い、記録ギャップを構成
する上部コア下部、共通シールド上部の少なくとも一方
にFe50-Ni50パーマロイを用いる請求項9又は10記載
の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
13. A part of the common shield facing the reproducing element is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and Fe 50 -Ni 50 permalloy is used for at least one of a lower part of an upper core constituting a recording gap and an upper part of the common shield. Item 11. The method for manufacturing a thin-film magnetic head according to Item 9 or 10.
【請求項14】 共通シールドの再生素子に相対する一
部はFe20-Ni80パーマロイを用い、記録ギャップを構成
する上部コア下部、共通シールド上部の少なくとも一方
にFe系微粒子系磁性金属を用いる請求項9又は10記載
の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
14. A part of the common shield facing the reproducing element is made of Fe 20 -Ni 80 permalloy, and at least one of the lower part of the upper core constituting the recording gap and the upper part of the common shield is made of a Fe-based fine particle magnetic metal. Item 11. The method for manufacturing a thin-film magnetic head according to Item 9 or 10.
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