JP2001338008A - 論理等価検証方法及びその方法を実施する装置 - Google Patents

論理等価検証方法及びその方法を実施する装置

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JP2001338008A
JP2001338008A JP2000155639A JP2000155639A JP2001338008A JP 2001338008 A JP2001338008 A JP 2001338008A JP 2000155639 A JP2000155639 A JP 2000155639A JP 2000155639 A JP2000155639 A JP 2000155639A JP 2001338008 A JP2001338008 A JP 2001338008A
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Takeyoshi Inagawa
剛良 稲川
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Renesas Micro Systems Co Ltd
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Renesas Micro Systems Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 予め定められた検証時間内になるだけ多くの
検証を行なえるようにした論理等価検証方法及び論理等
価検証装置の提供。 【構成】 論理等価検証装置を、少なくも、回路1又
は、回路2の検証優先度を抽出する回路解析手段3と、
レジスタ対応手段4と、組み合わせ回路を抽出し論理1
と論理2を出力する論理抽出手段5と、論理の複雑度を
計算する複雑度決定手段8と、検証の順序を決定する検
証順序決定手段9と論理比較手段10と、から構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、論理等価検証装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】<発明の背景>論理回路の機能の検証手
法として、従来からシミュレーションによる検証手法が
多く使用さえている。しかし、近年の回路の大規模化に
よって、十分な検証精度を持つシュミレーションパター
ンを生成することが困難になり、十分な検証精度を持つ
パターンを生成出来たとしても、テストパターンのシミ
ュレーションに膨大な時間を要する。このようなシミュ
レーションによる論理等価検証手法に対して、特開平8
ー22485号公報に記載されているように、基準とな
る回路と、検証対象となる回路の論理を数学的に比較す
ることにより、論理の等価検証が行われている。一般
に、順序回路の等価検証は難しいので、組み合わせ回路
に変換して扱う。
【0003】<従来例>従来の論理等価検証方法及び論
理等価検証装置(特開平8ー22485号公報の図1)
を図13,図14に示し、図15は、図13,図14を
要約したものである。以下、図15を参照して説明す
る。図において、回路解析手段103は、比較対象とな
る回路1,回路2を入力として、構文解析を行い、回路
をブール式に変換する。図15が、回路解析手段103
のフローである。回路を入力し(ステップS501)、
記憶素子を見つける(ステップS502)。次に、記憶
素子の入力端子を新たな入力端子として端子を生成し
て、図12に示すような回路を得る(ステップS50
3)。次に、ブール式を出力する(ステップS50
4)。
【0004】回路1の模式図を図11に示す。図におい
て、21A,21B,21Cが入力端子、22,26,
27が組み合わせ回路、23A,23B,23C,24
A,24Bが記憶素子、25A,25Bが出力端子であ
る。入力端子と、記憶素子または出力端子に囲まれた部
分の22,26,27が組合せ回路である。図12中の
31Aから31Fは入力端子、または、記憶素子の入力
である。また、33A,33Bは記憶素子である。32
A,32Bは、記憶素子を終点とする組み合わせ回路の
ロジックコーンである。レジスタ対応手段4は、回路1
と回路2の記憶素子を論理的に等価であるように対応さ
せ、順序回路を組み合わせ回路として取り扱う事が出き
るようにする。図11の23A,23B,23C,24
A,24Bに対応する記憶素子を、回路2から見つけ、
記憶素子対応表に記憶する。論理抽出手段5は、図12
に示すように、記憶素子を終点とする組み合わせ回路で
あるロジックコーン23Aを取り出し、論理1と論理2
を得る。論理比較手段10は、論理1と論理2の論理の
等価性検証を行う。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
論理等価検証方法及び論理等価検証装置においては、次
のような課題がある。第1の課題は、検証を行う順序を
特定しないため、検証を途中で中断した場合に、検証が
行われた検証点の数が少なくなる事があるということで
ある。乗算演算子は、ロジックコーンが大きくなり、等
価検証を行う事が難しい事は一般に知られている。この
ような検証が難しく検証に時間を要する論理が回路中に
存在すると、全ての検証が終了するまでに多くの時間を
費やす事がある。しかし、近年、製品開発サイクルが短
くなり、複数の工程を並列に進めていくことが行われて
いる。このため、次の工程に進んで良いかを早く判定す
る事が必要になり、検証が100%終了していなくて
も、ある程度の検証率で判定を行う事が行われている。
このため、検証に時間がかかるロジックコーンの検証を
先に始めてしまうと、検証時間の大半を、費やしてしま
い、検証を任意の時点で中断した時に、検証出来たロジ
ックコーンの数が少なくなってしまうということであ
る。
【0006】第2の課題は、予め定められた検証時間内
で検証出来るロジックコーンの数が少なくなってしまう
ため、エラーを発見出来る可能性が低下してしまうとい
うことである。
【0007】第3の課題は、検証に時間がかかるロジッ
クコーンは、時間をかけても検証が出来ないことも多
く、検証にかかる時間が無駄になってしまうことであ
る。
【0008】<発明の目的>本発明の目的は、前記課題
に鑑み、予め定められた検証時間内になるだけ多くの検
証を行なえるようにした論理等価検証方法及び論理等価
検証装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的と達成するため
に、本発明に係る論理等価検証方法及び論理等価検証装
置は、少なくも、回路又は回路の検証優先度を抽出する
回路解析手段と、レジスタ対応手段と、組み合わせ回路
を抽出し論理と論理を出力する論理抽出手段と、論理の
複雑度を計算する複雑度決定手段と、検証の順序を決定
する検証順序決定手段と論理比較手段とを持つことを特
徴とする。
【0010】上記目的と達成するために、本発明に係る
論理等価検証方法は、 1:回路1または回路2の検証優先度を抽出する回路解
析手段と、前記回路1と回路2で対応するレジスタを1
対1に対応させ、組み合わせ回路として扱えるようにす
るレジスタ対応手段と、組み合わせ回路を抽出し論理1
と論理2を出力する論理抽出手段と、論理の複雑度を計
算する複雑度決定手段と、検証の順序を決定する検証順
序決定手段と、論理比較手段と、から少なくとも構成さ
れ、任意の時点においてなるだけ多くの検証を行なえる
ようにしたことを特徴とする。 2:前記回路1または回路2の検証優先度を抽出する回
路解析手段は、回路1,回路2が入力され、構文解析を
行い、回路1,回路2に乗算演算子,除算演算子,ドン
トケアが存在するかを調べ、存在する場合は、複雑度リ
ストに優先度を記憶する、ことを特徴とする。 3:検出する構造は、乗算演算子、除算演算子、ドント
ケアに限らず、任意の構造についてもその優先度を設定
する、ことを特徴とする。 4:前記回路1または回路2の検証優先度を抽出する回
路解析手段は、回路1及び回路2を入力して構文解析を
行う第1ステップと、ロジックコーンの終点となる記憶
素子又は、出力端子を取り出す第2ステップと、乗算,
除算演算子があるかを照合する第3ステップと、存在す
れば、演算子優先度表を参照して複雑度リストにに前記
第2ステップで取り出した記憶素子の名前または出力端
子の名前と優先度の組を記憶する第4ステップと、次
に、ドントケアが存在するか否かを照合する第5ステッ
プと、前記ドントケアが存在すれば、ドントケア優先度
表を参照して複雑度リストで取り出した記憶素子の名前
または出力端子の名前と優先度の組を記憶する第6ステ
ップと、から構成され、すべての回路について前記第1
ステップから前記第5ステップまでの処理を繰り返す、
ことを特徴とする。 5:前記論理の複雑度を計算する複雑度決定手段は、論
理抽出手段で抽出した組み合わせ回路を入力する第8ス
テップと、前記入力された組み合わせ回路に対して、2
分決定グラフを生成する第9ステップと、前記第9ステ
ップで生成した2分決定グラフのノード数を数える第1
0ステップと、前記ノード数を複雑度係数として複雑度
リストに記憶する第11ステップと、からなることを特
徴とする請求項1記載の論理等価検証方法。 6:検証の順序を決定する検証順序決定手段は、前記複
雑度リストの中から、複雑度係数と優先度の組を取り出
す第12ステップと、複雑度係数*優先度の演算を行
い、複雑度として前記複雑度リストに記憶する第13ス
テップと、前記複雑度リストを複雑度の小さい順に並べ
替える第14ステップと、からなることを特徴とする。 7:前記複雑度リストは、任意の検証点に対して、複雑
度係数、優先度、複雑度の各情報の少なくとも一つを有
することを特徴とする。
【0011】上記目的と達成するために、本発明に係る
論理等価検証装置は、 8:回路1または回路2の検証優先度を抽出する回路解
析手段と、前記回路1と回路2で対応するレジスタを1
対1に対応させ、組み合わせ回路として扱えるようにす
るレジスタ対応手段と、組み合わせ回路を抽出し論理1
と論理2を出力する論理抽出手段と、論理の複雑度を計
算する複雑度決定手段と、検証の順序を決定する検証順
序決定手段と、論理比較手段と、から少なくとも構成さ
れ、任意の時点においてなるだけ多くの検証を行なえる
ようにしたことを特徴とする。 9:前記回路1または回路2の検証優先度を抽出する回
路解析手段は、回路1,回路2が入力され、構文解析を
行い、回路1,回路2に乗算演算子,除算演算子,ドン
トケアが存在するかを調べ、存在する場合は、複雑度リ
ストに優先度を記憶することを特徴とする。 10:検出する構造は、乗算演算子、除算演算子、ドン
トケアに限らず、任意の構造についてもその優先度を設
定する、ことを特徴とする。 11.前記回路1または回路2の検証優先度を抽出する
回路解析手段は、回路1及び回路2を入力して構文解析
を行う構文解析手段と、ロジックコーンの終点となる記
憶素子または出力端子を取り出す記憶素子・出力端子取
り出し手段と、乗算,除算演算子があるかを照合する乗
算・除算演算子照合手段と、存在すれば、演算子優先度
表を参照して複雑度リストに前記記憶素子・出力端子取
り出し手段で取り出した記憶素子の名前または出力端子
の名前と優先度の組を記憶する第1の記憶手段と、次
に、ドントケアが存在するか否かを照合するドントケア
存在照合手段と、前記ドントケアが存在すれば、ドント
ケア優先度表を参照して複雑度リストで取り出した記憶
素子の名前または出力端子の名前と優先度の組を記憶す
る第2の記憶手段と、から構成され、すべての回路につ
いて前記構文解析手段から前記第2の記憶手段迄の処理
を処理を繰り返す繰り返し手段と、から構成されること
を特徴とする。 12:前記論理の複雑度を計算する複雑度決定手段は、
論理抽出手段で抽出した組み合わせ回路を入力する組み
合わせ回路入力手段と、前記入力された組み合わせ回路
に対して、2分決定グラフを生成する2分決定グラフ生
成手段と、前記2分決定グラフのノード数を数えるノー
ド数カウント手段と、前記ノード数を複雑度係数として
複雑度リストに記憶する第1の記憶手段と、からなるこ
とを特徴とする。 13:前記検証の順序を決定する検証順序決定手段は、
前記複雑度リストの中から、複雑度係数と優先度の組を
取り出す組取り出し手段と、複雑度係数*優先度の演算
を行い、複雑度として前記複雑度リストに記憶する第1
の記憶手段と、前記複雑度リストを複雑度の小さい順に
並べ替える並び替え手段と、からなることを特徴とす
る。 14:前記複雑度リストは、任意の検証点に対して、複
雑度係数、優先度、複雑度の各情報の少なくとも一つを
有することを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を実施例
に基づいて説明する。 <実施例の構成>図1を参照すると、本発明の一実施例
としての論理等価検証方法及び論理等価検証装置が示さ
れている。図1において、回路解析手段3は回路1と回
路2を入力して、 回路の解析を行い、乗算演算子
(*),除算演算子(/),ドントケアが含まれている
かを検出し、検出されたら、予め定めた優先度を複雑度
リスト11に記憶する。レジスタ対応手段4は回路1と
回路2で対応するレジスタを1対1に対応させる。論理
抽出手段5は、組み合わせ回路を抽出し、論理1,論理
2を得る。複雑度決定手段8は、論理抽出手段5で抽出
した論理に対し、2分決定グラフ(以下、「BDD(Bin
ary Decision Diagrams)」と記述する。)を生成して、
BDDのノード数を数えて、複雑度リスト11に複雑度
係数として記憶する。検証順序決定手段9は、複雑度リ
スト11の優先度と複雑度から、検証の実行順序を計算
する。論理比較手段10は、検証順序決定手段9で決定
した順序にしたがい、等価検証を行う。
【0013】図2を参照すると、図1に示す論理等価検
証方法及び論理等価検証装置の回路解析手段3の詳細な
構成が示されている。図2において、回路1,路2を入
力として、構文解析を行い(ステップS101)、コー
ンの終点となる記憶素子又は、出力端子を取り出す(ス
テップS102)。乗算,除算演算子があるかを照合す
る(ステップS103,ステップS104)。存在すれ
ば、図6の演算子優先度表を参照して、図5に示される
複雑度リストL1にステップS102で取り出した記憶
素子の名前又は出力端子の名前と優先度の組を記憶する
(ステップS105)。次に、ドントケアが存在するか
を照合する(ステップS106)。存在すれば、図7の
ドントケア優先度表を参照して、図5に示される複雑度
リストL1にステップS102で取り出した記憶素子の
名前又は出力端子の名前と優先度の組を記憶する(ステ
ップS108)。すべての回路について処理が終わるま
で、ステップS101からの処理を繰り返す。
【0014】図3を参照すると、図1に示す論理等価検
証方法及び論理等価検証装置の複雑度決定手段8の詳細
な構成が示されている。図において、論理抽出手段5で
抽出した組み合わせ回路を入力し(ステップS20
1)、入力された組み合わせ回路に対して、BDDを生
成する(ステップS202)。ステップS202で生成
したBDDのノード数を数えて、ノード数を複雑度係数
として図5に示す複雑度リストに記憶する。図4を参照
すると、図1に示す論理等価検証方法及び論理等価検証
装置の検証順序決定手段9の詳細な構成が示されてい
る。図5に示される複雑度リストL1の中から、『複雑
度係数と優先度の組』を取り出す(ステップS30
1)。『複雑度係数*優先度』の演算を行い、複雑度と
して複雑度リストL1に記憶する(ステップS30
2)。複雑度リストL1を複雑度の小さい順に並べ替え
る(ステップS303)。以上詳細に実施例の構成を述
べたが、図1のレジスタ対応手段4、論理比較手段1
0、図2構文解析ステップS101、図3のBDD生成
ステップS202は、当業者にとって良く知られてお
り、また本発明とは直接関係しないので、その詳細な構
成は省略する。
【0015】<実施例の動作の説明>図1において回路
1,回路2が、回路解析手段3に入力されると、構文解
析を行い、回路1,回路2に乗算演算子(*)、除算演
算子(/)、ドントケアが存在するかを調べ、存在する
場合は、複雑度リスト11に優先度を記憶する。ここ
で、検出する構造は、乗算演算子、除算演算子、ドント
ケアに限らず、任意の構造について、優先度を設定して
も良い。
【0016】回路解析手段3の詳細なフローを図2に示
す。図2において、回路1,回路2を入力として、構文
解析を行う(ステップS101)。次に、ロジックコー
ンの終点となる記憶素子又は出力端子の名前を検証点と
して取り出す(ステップS102)。
【0017】図6に示すように、乗算演算子,除算演算
子が存在するかを調べる(ステップS103)。存在し
ない場合は、ステップS106以下の処理を行う。存在
したら、演算子の演算結果のビット数を求め、図6に示
す演算子優先度表を参照して、ロジックコーン検証優先
度を図5の複雑度リストに、ステップS102で取り出
した結果生じるビット数に応じた、優先度を検証点と共
に記憶する。
【0018】ロジックコーンが P=A *B ‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥‥式(1) であるとすると、A,B共に4ビットのとき、A*Bの
乗算演算結果Pは8ビットの値を取る。図6の演算子優
先度表を参照し、Pの0ビット目は、優先度を1、Pの
7ビット目は優先度を3となる。この優先度の値は、予
め定めた任意の値を設定することが出来る。次に、ドン
トケアが、存在するかを調べる(ステップS106)。
存在しなければ、ステップS109の処理を実行する。
存在すれば、図7のドントケア優先度表を参照して、ド
ントケアの状態数に応じた優先度を検証点と共に図5に
示す複雑度リストに記憶する。 F=Aor(BandX)・・・・・・式(2) 式(2)で、X はドントケアであるとする。Xドント
ケアであるのため0または1のどちらの値を取る事が出
来るので F=Aor(Band0) ‥‥‥‥‥‥‥‥式(3) F=Aor(Band1) ‥‥‥‥‥‥‥‥式(4) の二つの状態があり、この式のドントケア状態数は2と
なる。
【0019】図7のドントケア優先度表を参照すると、
ドントケアの状態数が2の時は優先度1.5になる。こ
の優先度の値は予め定められた任意の値を設定すること
が出来る(ステップS108)。次に、すべての回路に
処理が終わったかについて判定を行い、終わってなかっ
たら、ステップS101から繰り返し、終わったら、終
了する(ステップS109)。入力した回路中に特定の
演算子が含まれるか、ドントケアが含まれるかをを判定
する方法については、当業者にとって良く知られてお
り、詳細な説明は省略する。
【0020】図3において、論理抽出手段5で抽出した
ロジックコーンを入力する(ステップS201)。次に、
BDDを生成する(ステップS202)。BDDは、入
力変数の順序を同一にし、冗長な部分を縮態すると、同
じ論理構造の式は同じBDDの形状になる性質があるた
め、ブール式同士の論理照合に良く使用されている。 F=AandBorAand(notB)andC ‥‥‥‥‥‥式(5) に対して、BDDの一例を図8に示す。しかし、論理構
造により、異なったBDDになる事があるため、BDD
の冗長な部分を縮態する必要がある。BDDの形状が同
一であるかを判定する方法については、当業者にとって
一般的であるので説明は省略する。
【0021】論理の複雑度について図9を用いて説明す
る。図9のB111からB117は入力変数を示す。B
101とB102を比べると、同じ構造であるので、B
112の変数Bの値によらないため、変数Bを削除出来
る。B103は、変数Cが0のどちらをとっても値は1
であるので縮態でき、図10のようになる。このよう
に、縮態を行うためには、BDDの一部分が同形である
かを比較する必要があり、比較にかかるコストは、BD
Dのノード数に比例する。また縮態されたBDDを比較
するにも、同様に、BDDのノード数に応じたコストが
かかる。このため、BDDのノード数を回路の複雑度と
して用いることが出来る。次に、ステップS202で生
成したBDDのノード数を計測する。図9の場合は、ノ
ードはB111,B112,B113,B114,B1
15,B116,B117であるので、ノード数は7に
なる(ステップS203)。次に、複雑度リストの、複
雑度係数欄にBDDノード数を記憶する(ステップS2
04)。
【0022】図4において、複雑度リストから、複雑度
係数と、優先度の組を取り出す(ステップS301)。
複雑度係数と優先度の積を求め、複雑度の欄に記憶する
(ステップS302)。次に、複雑度リストを複雑度の
小さい順に並び替える(ステップS303)。次に、論
理比較手段10は、複雑度リスト11に記憶された順番
に論理1と論理2の論理比較を行う。このとき、個々の
検証点の論理比較に費やす時間の上限を、複雑度に応じ
た値に設定することも出来る。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、以下に記載するような効果を奏する。第1の効果
は、回路の複雑度により検証順序を決定し、検証に時間
がかからない検証点の検証から行うようにしているの
で、検証を任意の時点で中断した場合に、本発明の方法
を使用しない場合に比べて、検証する検証点の数を多く
出来ることである。
【0024】第2の効果は、検証を任意の時点で中断し
た場合に検証出来る検証点の数を多く出来るので、エラ
ーをより早く検出できる可能性を高く出来ることであ
る。
【0025】第3の効果は、個々の検証点の論理比較に
費やす時間の上限を、複雑度に応じた値に設定すること
もできるため、複雑度がある一定値以上の場合に、論理
比較に費やす時間の上限をゼロにして、時間をかけても
検証できない検証点の検証を行わなくできるので、検証
にかかる時間が無駄にせずにすむことである。
【0026】第4の効果は、回路の複雑度を決定し、検
証に時間がかかると見込まれる検証点の検証を後回しに
し、バグの発生しやすい構造の検証の順位を上げること
が出来るので、予め定められた検証時間内に、検証でき
る検証点の数を多くし、バグを早期に検出出来る可能性
を高く出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例。
【図2】本発明の回路解析手段3の動作フロー図。
【図3】本発明の複雑度決定手段8の動作フロー図。
【図4】本発明の検証順序決定手段9の動作フロー図。
【図5】複雑度リストの構成例。
【図6】演算子優先度表。
【図7】ドントケア優先度表。
【図8】BDDの例1。
【図9】BDDの例2。
【図10】BDDの例3。
【図11】回路1の模式図。
【図12】ロジックコーンの模式図。
【図13】従来例のブロック図。
【図14】図13の概略ブロック図。
【図15】図14の回路解析手段103の動作フロー
図。
【符号の説明】
21A,21B,21C 入力端子 22,26,27 組み合わせ回路 23A,23B,23C,24A,24B 記憶素子 25A,25B 出力端子 31A〜31F 入力端子又は記憶素子の入力 33A,33B 記憶素子 32A,32B 記憶素子を終点とする組み合わせ回路
のロジックコーン

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路1または回路2の検証優先度を抽出
    し、前記回路1と回路2にレジスタを1対1に対応させ
    て組み合わせ回路として扱えるようにし、組み合わせ回
    路を抽出し論理1と論理2を出力し、論理の複雑度を計
    算して検証の順序を決定し、論理を比較して、任意の時
    点においてなるだけ多くの検証を行なえるようにしたこ
    とを特徴とする論理等価検証方法。
  2. 【請求項2】 前記回路1または回路2の検証優先度を
    抽出する方法は、 回路1,回路2が入力され、構文解析を行い、回路1,
    回路2に乗算演算子,除算演算子,ドントケアが存在す
    るかを調べ、存在する場合は、複雑度リストに優先度を
    記憶する方法である、ことを特徴とする請求項1記載の
    論理等価検証方法。
  3. 【請求項3】 検出する構造は、乗算演算子、除算演算
    子、ドントケアに限らず、任意の構造についてもその優
    先度を設定する、ことを特徴とする請求項2記載の論理
    等価検証方法。
  4. 【請求項4】前記回路1または回路2の検証優先度を抽
    出する方法は、 回路1及び回路2を入力して構文解析を行う第1ステッ
    プと、 ロジックコーンの終点となる記憶素子又は出力端子の名
    前を検証点として取り出す第2ステップと、 乗算演算子,除算演算子があるかを照合する第3ステッ
    プと、 存在すれば、演算子優先度表を参照して複雑度リストに
    前記第2ステップで取り出した記憶素子の名前または出
    力端子の名前と優先度の組を記憶する第4ステップと、 ドントケアが存在するか否かを照合する第5ステップ
    と、 前記ドントケアが存在すれば、ドントケア優先度表を参
    照して複雑度リストで取り出した記憶素子の名前または
    出力端子の名前と優先度の組を記憶する第6ステップ
    と、から構成され、 すべての回路について前記第1ステップから前記第5ス
    テップ間での処理を繰り返す方法である、ことを特徴と
    する請求項1ないし3のいずれかに記載の論理等価検証
    方法。
  5. 【請求項5】 前記論理の複雑度を計算する複雑度決定
    手段は、 論理抽出手段で抽出した組み合わせ回路を入力する第8
    ステップと、 前記入力された組み合わせ回路に対して、2分決定グラ
    フを生成する第9ステップと、 前記第9ステップで生成した2分決定グラフのノード数
    を数える第10ステップと、 前記ノード数を複雑度係数として複雑度リストに記憶す
    る第11ステップと、からなることを特徴とする請求項
    1記載の論理等価検証方法。
  6. 【請求項6】検証の順序を決定する検証順序決定手段
    は、 前記複雑度リストの中から、複雑度係数と優先度の組を
    取り出す第12ステップと、 複雑度係数*優先度の演算を行い、複雑度として前記複
    雑度リストに記憶する第13ステップと、 前記複雑度リストを複雑度の小さい順に並べ替える第1
    4ステップと、からなることを特徴とする請求項1記載
    の論理等価検証方法。
  7. 【請求項7】 前記複雑度リストは、任意の検証点に対
    して、複雑度係数、優先度、複雑度の各情報の少なくと
    も一つを有することを特徴とする請求項1ないし6のい
    ずれかに記載の論理等価検証方法。
  8. 【請求項8】 回路1または回路2の検証優先度を抽出
    する回路解析手段と、 前記回路1と回路2で対応するレジスタを1対1に対応
    させ、組み合わせ回路として扱えるようにするレジスタ
    対応手段と、 組み合わせ回路を抽出し論理1と論理2を出力する論理
    抽出手段と、 論理の複雑度を計算する複雑度決定手段と、 検証の順序を決定する検証順序決定手段と、 論理比較手段と、から少なくとも構成され、任意の時点
    においてなるだけ多くの検証を行なえるようにしたこと
    を特徴とする論理等価検証装置。
  9. 【請求項9】 前記回路1または回路2の検証優先度を
    抽出する回路解析手段は、 回路1,回路2が入力され、構文解析を行い、回路1,
    回路2に乗算演算子,除算演算子,ドントケアが存在す
    るかを調べ、存在する場合は、複雑度リストに優先度を
    記憶する、ことを特徴とする請求項8記載の論理等価検
    証装置。
  10. 【請求項10】 検出する構造は、乗算演算子、除算演
    算子、ドントケアに限らず、任意の構造についてもその
    優先度を設定する、ことを特徴とする請求項9記載の論
    理等価検証方法。
  11. 【請求項11】 前記回路1または回路2の検証優先度
    を抽出する回路解析手段は、 回路1及び回路2を入力して構文解析を行う構文解析手
    段と、 ロジックコーンの終点となる記憶素子または出力端子を
    取り出す記憶素子・出力端子取り出し手段と、 乗算,除算演算子があるかを照合する乗算・除算演算子
    照合手段と、 存在すれば、演算子優先度表を参照して複雑度リストに
    に前記第2ステップ(S102)で取り出した記憶素子の名前
    または出力端子の名前と優先度の組を記憶する第1の記
    憶手段と、 次に、ドントケアが存在するか否かを照合するドントケ
    ア存在照合手段と、 前記ドントケアが存在すれば、ドントケア優先度表を参
    照して複雑度リストで取り出した記憶素子の名前または
    出力端子の名前と優先度の組を記憶する第2の記憶手段
    と、から構成され、 すべての回路について前記構文解析手段から前記第2の
    記憶手段迄の処理を処理を繰り返す繰り返し手段と、か
    ら構成されることを特徴とする請求項8ないし10のい
    ずれかに記載の論理等価検証装置
  12. 【請求項12】 前記論理の複雑度を計算する複雑度決
    定手段は、 論理抽出手段で抽出した組み合わせ回路を入力する組み
    合わせ回路入力手段と、 前記入力された組み合わせ回路に対して、2分決定グラ
    フを生成する2分決定グラフ生成手段と、 前記2分決定グラフのノード数を数えるノード数カウン
    ト手段と、 前記ノード数を複雑度係数として複雑度リストに記憶す
    る第1の記憶手段と、からなることを特徴とする請求項
    8記載の論理等価検証方法。
  13. 【請求項13】 前記検証の順序を決定する検証順序決
    定手段は、 前記複雑度リストの中から、複雑度係数と優先度の組を
    取り出す組取り出し手段と、 複雑度係数*優先度の演算を行い、複雑度として前記複
    雑度リスト)に記憶する第1の記憶手段と、 前記複雑度リストを複雑度の小さい順に並べ替える並び
    替え手段と、からなることを特徴とする請求項8記載の
    論理等価検証方法。
  14. 【請求項14】 前記複雑度リストは、任意の検証点に
    対して、複雑度係数、優先度、複雑度の各情報の少なく
    とも一つを有することを特徴とする請求項8ないし13
    のいずれかに記載の論理等価検証方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009116477A (ja) * 2007-11-02 2009-05-28 Nec Corp ソースコード検証管理装置、方法、及びプログラム
US11068632B2 (en) 2019-03-08 2021-07-20 Fujitsu Limited Simulation apparatus, description conversion method and simulation method

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