JP2001337035A - Measuring instrument - Google Patents

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JP2001337035A
JP2001337035A JP2000161288A JP2000161288A JP2001337035A JP 2001337035 A JP2001337035 A JP 2001337035A JP 2000161288 A JP2000161288 A JP 2000161288A JP 2000161288 A JP2000161288 A JP 2000161288A JP 2001337035 A JP2001337035 A JP 2001337035A
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Japan
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sample
light
modulation frequency
detector
polarization
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JP2000161288A
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Japanese (ja)
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Reiko Kuroda
玲子 黒田
Youji Shindo
洋爾 神藤
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Jasco Corp
Japan Science and Technology Agency
Original Assignee
Jasco Corp
Japan Science and Technology Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a CD measuring instrument capable of certainly measuring CD even with respect to a sample large in LD and LB such as a solid or the like. SOLUTION: A spectroscope 2, a polarizer 3, a polarization modulator 4, a sample holder 5 for holding a sample in a rotatable manner, an analyzer 6 and a detector 7 are arranged on the light path of the light emitted from a light source 1, and the output of the detector 7 is given to a signal processor 8. Output signals with a frequency of 50 kHz the same as the modulation frequency of the polarization modulator and a frequency of 100 kHz twice the modulation frequency of the polarization modulator are outputted from the detector, and the signal processor processes the output signals of the detector on the basis of the frequency component corresponding to the modulation frequency of the polarization modulator and the frequency component twice the modulation frequency. A measured value at a position showing the maximum value when the sample is rotated and a measured value at a position showing the minimum value when the sample is rotated are obtained on the basis of LB being the modulation frequency component and CB being the frequency component twice the modulation frequency, and these values are added to be divided by 2 to calculate a real CB value.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、測定装置に関する
もので、より具体的には固体等のLB,LDが大きい試
料のCB(Circular Birefringence )を測定すること
のできる測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measuring device, and more particularly, to a measuring device capable of measuring CB (Circular Birefringence) of a sample having a large LB and LD such as a solid.

【0002】[0002]

【発明の背景】よく知られているように、円偏光複屈折
(CB)は、右回り円偏光と左回り円偏光に対し、屈折
率が異なっているという現象をいう。そして、液晶,フ
ィルムその他非溶液状態におけるキラルな物質のCBス
ペクトルを測定することは、その物質の光学的特性その
他の情報を調べる上で重要である。
BACKGROUND OF THE INVENTION As is well known, circularly polarized birefringence (CB) refers to a phenomenon in which a right-handed circularly polarized light and a left-handed circularly polarized light have different refractive indices. It is important to measure the CB spectrum of a liquid crystal, a film, or another chiral substance in a non-solution state when examining the optical characteristics and other information of the substance.

【0003】通常、このCBスペクトルを測定するため
には、偏光変調分光器が用いられる。従って、非理想的
光学素子,光変調素子,光検出器の偏光特性,ロックイ
ンアンプの高調波応答性などに起因する系統的な誤差や
偽のシグナルが存在する。
Usually, a polarization modulation spectrometer is used to measure the CB spectrum. Therefore, there are systematic errors and spurious signals due to non-ideal optical elements, light modulation elements, polarization characteristics of photodetectors, harmonic response of lock-in amplifiers, and the like.

【0004】また、測定試料によっては、LB(Linear
Birefringence)信号とLD(Linear Dichroism)信号
の大きさが、真のCBと比較して10から10ほど
大きいものがある。すると、そのLDやLBに基づく出
力信号がCBを測定する際に誤差要因となる。従って、
従来、真のCBスペクトルを正確に測定することは困難
であり、真のCBを直接測定することはできなかった。
Further, depending on the measurement sample, LB (Linear
In some cases, the magnitudes of the Birefringence (LD) signal and the LD (Linear Dichroism) signal are about 10 3 to 10 5 larger than the true CB. Then, the output signal based on the LD or LB becomes an error factor when measuring CB. Therefore,
Conventionally, it has been difficult to accurately measure the true CB spectrum, and it has not been possible to directly measure the true CB.

【0005】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題を解決
し、固体等のLD,LBが大きい試料であっても確実に
CBを測定することのできる測定装置を提供することに
ある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above background, and has as its object to solve the above-mentioned problems and to reliably measure CB even in a sample such as a solid having a large LD and LB. It is an object of the present invention to provide a measuring device capable of performing the measurement.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明に係る測定装置は、単色光を直線偏光さ
せる偏光子と、その偏光子を透過した光の偏光状態を所
定の基本変調周波数で、右回りの円偏光,左回りの円偏
光に同時に基本変調周波数の2倍の周波数で垂直方向の
直線偏光,水平方向の直線偏光に交番的に変化させる偏
光変調器と、その偏光変調器から得られた光の光路に配
置された試料保持部と、その試料保持部を通過した光が
通過する検光子を通過した光の強度を検出する検出器
と、その検出器の出力に基づいて信号処理する信号処理
部を備えた偏光変調測定装置を前提とする。
In order to achieve the above-mentioned object, a measuring apparatus according to the present invention comprises a polarizer for linearly polarizing monochromatic light and a polarization state of light transmitted through the polarizer having a predetermined basic condition. A polarization modulator that alternately changes right-handed circularly polarized light and left-handed circularly polarized light to a vertical linear polarization and a horizontal linear polarization simultaneously at twice the fundamental modulation frequency at the modulation frequency, and its polarization. A sample holder arranged in the optical path of the light obtained from the modulator, a detector for detecting the intensity of light passing through an analyzer through which light passing through the sample holder passes, and an output of the detector. It is assumed that the polarization modulation measurement device includes a signal processing unit that performs signal processing based on the signal.

【0007】そして、前記検光子の光軸が前記偏光子の
光軸に対し45度の差を持った配置とした。さらに、前
記信号処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏光
変調器における変調周波数に相当する周波数成分及びそ
の変調周波数の2倍の周波数成分に基づいて信号処理す
るもので、変調周波数成分であるLBと、変調周波数の
2倍の周波数成分はCBを表すもので、試料を回転させ
て最大値を示す位置での測定値と、試料を回転させて最
小値を示す位置における値を得、それらを加えて2で割
ることにより真のCB値を算出するように構成した。
The optical axis of the analyzer is arranged so as to have a difference of 45 degrees from the optical axis of the polarizer. Further, the signal processing unit performs signal processing based on a frequency component corresponding to a modulation frequency in the polarization modulator and a frequency component twice as high as the modulation frequency in the output signal of the detector. LB and the frequency component twice as high as the modulation frequency represent CB, and the measured value at the position showing the maximum value by rotating the sample and the value at the position showing the minimum value by rotating the sample are obtained. , And adding them, and dividing by 2 to calculate a true CB value.

【0008】また、別の解決手段としては、偏光子によ
って直線偏光とされた白色光と、その白色光の光路に配
置された試料保持部と、試料を通過した光の偏光状態を
解析するための偏光変調器と検光子からなる偏光解析器
と、その偏光解析器から得られた光を単色光とするモノ
クロメータと、そのモノクロメータから出力される光の
強度を検出する検出器と、その検出器の出力に基づいて
信号処理する信号処理部を備えた偏光変調測定装置でを
前提とする。
Another solution is to analyze white light linearly polarized by a polarizer, a sample holder disposed in the optical path of the white light, and a polarization state of light passing through the sample. A polarization analyzer including a polarization modulator and an analyzer, a monochromator that converts light obtained from the polarization analyzer into monochromatic light, a detector that detects the intensity of light output from the monochromator, It is assumed that the polarization modulation measurement device includes a signal processing unit that performs signal processing based on the output of the detector.

【0009】そして、前記偏光変調器は、左右の円偏光
を基本変調周波数に相当する周波数で垂直・水平の直線
偏光に、垂直・水平の直線偏光を前記基本変調周波数の
2倍の周波数で垂直・水平直線偏光にそれぞれ変調させ
る偏光変調器を用いる。
The polarization modulator converts left and right circularly polarized light into vertical and horizontal linearly polarized light at a frequency corresponding to the basic modulation frequency, and converts vertical and horizontal linearly polarized light into vertical and horizontal linearly polarized light at a frequency twice the basic modulation frequency. -Use polarization modulators that respectively modulate horizontal linearly polarized light.

【0010】さらに、前記検光子の光軸が前記偏光子の
光軸に対し45度の差を持った配置とした。さらに、前
記信号処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏光
変調器における変調周波数に相当する周波数成分及びそ
の変調周波数の2倍の周波数成分に基づいて信号処理す
るもので、変調周波数成分であるLBと、変調周波数の
2倍の周波数成分はCBを表すもので、試料を回転させ
て最大値を示す位置での測定値と、試料を回転させて最
小値を示す位置における値を得、それらを加えて2で割
ることにより真のCB値を算出するように構成してもよ
い。
Further, the optical axis of the analyzer is arranged so as to have a difference of 45 degrees from the optical axis of the polarizer. Further, the signal processing unit performs signal processing based on a frequency component corresponding to a modulation frequency in the polarization modulator and a frequency component twice as high as the modulation frequency in the output signal of the detector. LB and the frequency component twice as high as the modulation frequency represent CB, and the measured value at the position showing the maximum value by rotating the sample and the value at the position showing the minimum value by rotating the sample are obtained. , May be configured to calculate the true CB value by adding them and dividing by 2.

【0011】本発明では、試料を回転可能に配置する。
この回転は、好ましくは自動的に行うか、少なくとも試
料保持部に回転機構を設けて手動で回転させることであ
る。但し、本発明はこのように試料保持部に回転機構を
設けるのは必須ではなく、試料を試料保持部から取り外
した後、再度取り付ける際に異なる回転角度に取り付け
ることによっても、結果的に試料を回転させることがで
きるからである。
In the present invention, the sample is arranged rotatably.
This rotation is preferably performed automatically or manually performed by providing a rotation mechanism at least in the sample holding unit. However, in the present invention, it is not essential to provide a rotation mechanism in the sample holding unit in this way, and after removing the sample from the sample holding unit and mounting it again at a different rotation angle when mounting it again, the sample is eventually This is because it can be rotated.

【0012】試料を回転させた時に検出される変調周波
数及びその2倍の周波数成分からCB(見掛け上:回転
に依存する巨視的異方性に基づく成分も含む)を求め
る。そして、そのCBの正及び負の最大値CBmax を求
める。そして、その2つの値を足して2で割ると、回転
に依存する巨視的異方性に基づく成分が除去されるの
で、真のCBが求められる。なお、このような処理によ
って真のCBが求められる原理は、実施の形態で説明す
る通りである。上記の演算処理を信号処理装置8で行
う。
CB (apparently: also includes a component based on macroscopic anisotropy depending on rotation) is obtained from a modulation frequency detected when the sample is rotated and a frequency component twice as high. Then, the positive and negative maximum values CBmax of the CB are obtained. Then, when the two values are added and divided by 2, the component based on the macroscopic anisotropy depending on the rotation is removed, so that the true CB is obtained. The principle of obtaining a true CB by such processing is as described in the embodiment. The above arithmetic processing is performed by the signal processing device 8.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の真のCBを測定
する測定装置である固体旋光分散(ORD:optical ro
tatory dispersion )測定装置の好適な一実施の形態を
示している。同図に示すように、光源1から出射される
光の光路上に分光器(モノクロメータ)2,偏光子3,
偏光変調器4,試料保持装置5,検光子6,検出器7を
配置し、その検出器7の出力を信号処理装置8に与える
ようになっている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a solid-state optical dispersion (ORD) which is a measuring device for measuring true CB according to the present invention.
1 shows a preferred embodiment of a tatory dispersion) measuring device. As shown in the figure, a spectroscope (monochromator) 2, a polarizer 3,
A polarization modulator 4, a sample holding device 5, an analyzer 6, and a detector 7 are arranged, and the output of the detector 7 is provided to a signal processing device 8.

【0014】これにより、光源1から出射される光が分
光器2で単色光に変換され、さらにその単色光が偏光子
3を透過することにより直線偏光になり、その直線偏光
は偏光変調器4にてその偏光方向が交番的に変更され円
偏光と直線偏光が同時に形成される。そして、偏光変調
器4から出射される光を試料保持装置5に取り付けられ
た試料に照射すると、試料内を透過する際に複屈折を生
じて出力されるので、これを検光子6によって光の強度
に変えて検出器7で受光する。検出器7は、例えば光−
電気変換素子であり、受光した光強度に応じた電気信号
を出力するので、その出力信号(電気信号)に基づいて
信号処理装置8で所定の信号処理を行い、CBを算出す
るようになっている。
As a result, the light emitted from the light source 1 is converted into monochromatic light by the spectroscope 2, and the monochromatic light is transmitted through the polarizer 3 to become linearly polarized light. , The polarization direction is alternately changed, and circularly polarized light and linearly polarized light are simultaneously formed. When the light emitted from the polarization modulator 4 is applied to the sample attached to the sample holding device 5, birefringence is generated when the light is transmitted through the sample, and the light is output by the analyzer 6. The light is received by the detector 7 instead of the intensity. The detector 7 is, for example, a light-
Since it is an electric conversion element and outputs an electric signal corresponding to the received light intensity, the signal processing device 8 performs predetermined signal processing based on the output signal (electric signal) to calculate CB. I have.

【0015】分光器2としては、偏光に対して悪影響の
少ないプリズム分光器が望ましいが、回折格子を用いた
分光器でもかまわない。また、偏光子3,検光子6とし
ては、通常グラントムソンプリズムを使用することが好
ましい。偏光子3としてより完全を期するため、ブリュ
ースター角に石英板をおいた偏光子を併用してもよい。
また、結晶プリズムを使用し、分光器と偏光子を兼用し
てもよい。
As the spectroscope 2, a prism spectroscope having little adverse effect on polarized light is desirable, but a spectroscope using a diffraction grating may be used. It is generally preferable to use a Glan-Thompson prism as the polarizer 3 and the analyzer 6. In order to ensure completeness as the polarizer 3, a polarizer having a Brewster angle with a quartz plate may be used in combination.
Alternatively, a crystal prism may be used, and the spectroscope and the polarizer may be used.

【0016】なお、グランテーラープリズムは方解石を
使っているので235nm以下の波長は測れないが、本
発明のように、液晶やフィルムその他の固体等のCDを
測ろうとする場合には可視域を注目しているので十分適
用できる。
Since the Glan-Taylor prism uses calcite, the wavelength of 235 nm or less cannot be measured. However, when measuring CD such as a liquid crystal, a film, and other solids as in the present invention, attention should be paid to the visible region. It is applicable enough.

【0017】偏光変調器4は、例えばPEMを用いるこ
とができる。PEMに対する変調周波数は、50kHz
とする。良質のPEMの場合、残留歪みαは0.1度か
ら0.01度くらいの小さなものであり、この様なPE
Mを用いることにより、LD,LBに起因する見かけの
CBをできる限り小さくする。従って、ポッケルスセル
のように残留歪みが10度と大きいものはあまり好まし
くはない。もちろん、係るポッケルスセルを本発明の範
囲から積極的に除く意図はなく、仕様・要求に応じて使
うのはかまわない。なお、偏光変調器4の基準位置は試
料を設置しない状態で、装置のベースラインがまっすぐ
になるような位置に設定する。
As the polarization modulator 4, for example, PEM can be used. The modulation frequency for the PEM is 50 kHz
And In the case of high-quality PEM, the residual strain α is as small as about 0.1 degrees to about 0.01 degrees.
By using M, the apparent CB caused by LD and LB is made as small as possible. Therefore, a Pockels cell having a large residual distortion of 10 degrees is not preferable. Of course, there is no intention to actively remove such Pockels cells from the scope of the present invention, and it is acceptable to use them according to specifications and requirements. Note that the reference position of the polarization modulator 4 is set to a position where the baseline of the apparatus is straight without a sample placed.

【0018】試料保持装置5は、照射される光の光路と
直交する平面内で試料Sをその光路回りに回転させるこ
とができるようにしている。一例としては、試料Sを保
持するホルダを回転自在に取付台に設置し、そのホルダ
をステッピングモータなどの回転角度を制御可能なモー
タの回転出力を受けて、任意角度で回転し停止するよう
に構成することである。この場合に、その回転角の制御
を、信号処理回路8からの制御信号に基づいて行うよう
にすると良い。また簡易的には、手動で回転させること
ができるようになっていても良い。
The sample holding device 5 can rotate the sample S around the optical path in a plane orthogonal to the optical path of the irradiated light. As an example, a holder for holding the sample S is rotatably mounted on a mounting table, and the holder is rotated at an arbitrary angle by a rotation output of a motor capable of controlling a rotation angle of a stepping motor or the like, and is stopped. Is to configure. In this case, the rotation angle is preferably controlled based on a control signal from the signal processing circuit 8. In addition, for simplicity, it may be possible to rotate manually.

【0019】なお、検光子6も回転可能となり、光軸の
角度(特に、偏光子3の光軸との角度等)を変更・調整
することができるようにしている。また、検光子6の基
準位置(角度)を正確に設置するためには、試料保持装
置5内に試料を入れない状態でのベースラインがゼロに
なるように検光子6の角度を決めることで達成できる。
The analyzer 6 is also rotatable so that the angle of the optical axis (in particular, the angle with the optical axis of the polarizer 3 and the like) can be changed and adjusted. Further, in order to accurately set the reference position (angle) of the analyzer 6, the angle of the analyzer 6 is determined so that the baseline when no sample is placed in the sample holding device 5 becomes zero. Can be achieved.

【0020】検出器7は、CD信号が微小であるため、
例えば、光電子増倍管(PMT)のように高感度な検出
器を用いるのが好ましい。そして、検出器7からは、変
調周波数と同一の50kHz成分と、その2倍波の10
0kHz成分が出力されるようになっている。そして、
この2倍波の100kHz成分に基づいてCBが求めら
れる。
Since the detector 7 has a very small CD signal,
For example, it is preferable to use a highly sensitive detector such as a photomultiplier tube (PMT). Then, the detector 7 outputs a 50 kHz component that is the same as the modulation frequency and 10
A 0 kHz component is output. And
The CB is obtained based on the 100 kHz component of the second harmonic.

【0021】さらに、検出器7からの出力信号は、CB
は微小な信号なので、実際には同期検波法を用いる。つ
まり、実際には検出器7の出力を周波数成分を取り出す
ためのロックインアンプに接続し、そのロックインアン
プから出力される所定周波数の信号成分を信号処理装置
8に与えるようになる。なお、信号処理装置8の範疇に
ロックインアンプを含めて考えてもよい。
Further, the output signal from the detector 7 is CB
Is a very small signal, so the synchronous detection method is actually used. That is, the output of the detector 7 is actually connected to a lock-in amplifier for extracting a frequency component, and a signal component of a predetermined frequency output from the lock-in amplifier is supplied to the signal processing device 8. Note that a lock-in amplifier may be included in the category of the signal processing device 8.

【0022】また、信号処理装置8は、後述する手順に
従って検出器7からの出力信号に基づいて演算処理する
機能と、各種の装置に対して制御信号(試料保持装置5
に対する回転角の制御命令等)を出力するようにしてい
る。
The signal processing device 8 has a function of performing arithmetic processing based on an output signal from the detector 7 according to a procedure described later, and a control signal (a sample holding device 5) for various devices.
, Etc.).

【0023】次に、測定の手順・原理について説明しつ
つ、信号処理装置8の機能を説明する。本測定装置によ
り得られる信号をミューラー行列を用いて理論的に解析
すると以下のようになる。すなわち、単色入射光Iin,
偏光子P,偏光変調器M,試料S,検出器A,検出器D
のミューラー行列は、次のように与えられる。
Next, the function of the signal processing device 8 will be described while explaining the procedure and principle of measurement. The signal obtained by the present measurement apparatus is theoretically analyzed using a Mueller matrix as follows. That is, the monochromatic incident light Iin,
Polarizer P, polarization modulator M, sample S, detector A, detector D
Is given as follows.

【0024】[0024]

【数1】 (Equation 1)

【0025】[0025]

【数2】 (Equation 2)

【0026】ここでθは、試料のx軸からの回転角であ
る。そして、測定波長領域に発色団がない場合、つま
り、CD,LD,LD′がない場合は、以下のようにな
る。
Here, θ is the rotation angle of the sample from the x-axis. When there is no chromophore in the measurement wavelength region, that is, when there is no CD, LD, LD ', the following is performed.

【0027】[0027]

【数3】 (Equation 3)

【0028】[0028]

【数4】 (Equation 4)

【0029】[0029]

【数5】 (Equation 5)

【0030】検出器7で受光した光の強度Idは、上記
した各行列計算を行うことにより、次の式により与えら
れる。
The intensity Id of the light received by the detector 7 is given by the following equation by performing the above matrix calculations.

【0031】[0031]

【数6】 (Equation 6)

【0032】試料が発色団を持たない場合には、CD=
LD=LD′=0となるので、上記した式(8)は、下
記のようになる。
If the sample has no chromophore, CD =
Since LD = LD ′ = 0, the above equation (8) becomes as follows.

【0033】[0033]

【数7】 (Equation 7)

【0034】そして、 δ=δsinωt δ:変調振幅 ω:変調周波数 であり、上記した式(9)中に存在するsin(δ+
α),cos(δ+α)は、フーリエ変換すると近似的
に下記式のように展開できる。
Δ = δ 0 sin ωt δ 0 : modulation amplitude ω: modulation frequency, and sin (δ +
α), cos (δ + α) can be approximately developed as in the following equation by Fourier transform.

【0035】[0035]

【数8】 (Equation 8)

【0036】ここで、J(δm ),J(δm
),J(δm )は、それぞれ0次、1次、2次の
ベッセル関数である。これにより、ωm 、2ωm 成分は
次のようになる。
Here, J 00 m) and J 10 m
) And J 20 m) are the zero-order, first-order, and second-order Bessel functions, respectively. Thus, the ωm and 2ωm components are as follows.

【0037】[0037]

【数9】 (Equation 9)

【0038】[0038]

【数10】 (Equation 10)

【0039】従って、光変調器にαの小さいPEMを用
いると、sinα=0と近似できるので、上記した式
(10),(11)はそれぞれ以下のようになる。
Accordingly, when a PEM having a small α is used for the optical modulator, sin α can be approximated to 0, and the above equations (10) and (11) are as follows.

【0040】[0040]

【数11】 [Equation 11]

【0041】[0041]

【数12】 (Equation 12)

【0042】さらに、CD=LD=LD′=0とする
と、上記式(10)′,(11)′に代入することによ
り下記式が得られる。
Further, assuming that CD = LD = LD '= 0, the following equation can be obtained by substituting into the above equations (10)' and (11) '.

【0043】[0043]

【数13】 (Equation 13)

【0044】[0044]

【数14】 [Equation 14]

【0045】上記した式(12)から明らかなように、
検出されるω信号は、LBである。また、2ω信号
は、見掛け上のCBである。そして、一般にCBは、L
B,LB′に比べて10−2から10−3のオーダーで
小さいので、そのままでは、大きなLB,LB′の存在
によってCBを検出するのが困難となる。そこで、さら
に式(13)より下記式を得る。
As is apparent from the above equation (12),
The detected ω m signal is LB. The 2ω signal is an apparent CB. And, generally, CB is L
Since it is smaller on the order of 10 -2 to 10 -3 than B and LB ', it is difficult to detect CB by the presence of large LB and LB'. Therefore, the following equation is further obtained from equation (13).

【0046】[0046]

【数15】 (Equation 15)

【0047】このAppCBは、試料の回転とともに変わ
り4θで回転する。そして、AppCBの正の最大値
(+)AppCBmax は、
This ApCB changes with the rotation of the sample and rotates at 4θ. And the positive maximum value (+) ApCBmax of ApCB is:

【0048】[0048]

【数16】 (Equation 16)

【0049】となり、この正の最大値(+)AppCBma
x となる角度から試料を45度回転させた点で、下記式
で示す負の最大値(−)AppCBmax となる。
The positive maximum value (+) ApCBma
When the sample is rotated by 45 degrees from the angle x, the negative maximum value (-) ApCBmax expressed by the following equation is obtained.

【0050】[0050]

【数17】 [Equation 17]

【0051】そして、上記した正の最大値と負の最大値
の中間点、つまり、両値を加えて2で割ると下記式のよ
うになり、下記式からも明らかなように、この求めた値
が真のCBである。
The midpoint between the above-mentioned positive maximum value and negative maximum value, that is, when both values are added and divided by 2, the following equation is obtained. The value is the true CB.

【0052】[0052]

【数18】 (Equation 18)

【0053】従って、本形態では、検出された信号の2
倍の周波数成分(2ω信号)を監視し、その最大値と最
小値を求め、平均を取る(2で割る)ことにより、真の
CBを測定することができる。そして、具体的には、試
料を回転させながら2ω信号を監視し、AppCBmax の
正の最大値となる位置を探す。
Therefore, in the present embodiment, 2 of the detected signals
The true CB can be measured by monitoring the double frequency component (2ω signal), finding the maximum and minimum values, and taking the average (dividing by 2). More specifically, the 2ω signal is monitored while rotating the sample, and a position where the maximum value of AppCBmax is obtained is searched for.

【0054】この処理は、例えば、信号処理装置8で求
めたAppCBmax を、その信号処理装置8に接続したモ
ニタに出力するようにし、ユーザが試料を手動で回転さ
せながら、そのモニタを監視し、正のピークになった時
に回転を停止することができる。また、そのように手動
で行うのではなく、信号処理装置8が、AppCBを計測
しつつ試料保持装置の駆動モータに対して回転命令を送
り、AppCBが最大値となった時に駆動モータに対して
停止命令を送ることにより、自動的に正の最大値の位置
を求めることができる。そして、その停止した角度位置
でCBスペクトルを測定する。
In this process, for example, AppCBmax obtained by the signal processing device 8 is output to a monitor connected to the signal processing device 8, and the user monitors the monitor while manually rotating the sample. When a positive peak is reached, rotation can be stopped. Also, instead of performing such manual operation, the signal processing device 8 sends a rotation command to the drive motor of the sample holding device while measuring AppCB, and sends the rotation command to the drive motor when ApCB reaches the maximum value. By sending a stop command, the position of the maximum positive value can be automatically obtained. Then, the CB spectrum is measured at the stopped angular position.

【0055】次いで、AppCBの負の最大値になる点、
つまり、上記停止した位置から試料を45度回転させ、
その状態でCBスペクトルを測定する。そして、得られ
た2つのスペクトルを加え合わせるとともに、2で割る
ことにより、新たなスペクトルを生成する。このスペク
トルが、試料の真のCBスペクトルとなる。一方、上記
した式(12)から、下記式が得られる。
Next, a point at which the maximum value of AppCB becomes a negative value,
That is, the sample is rotated 45 degrees from the stop position,
The CB spectrum is measured in that state. Then, a new spectrum is generated by adding the obtained two spectra and dividing by two. This spectrum becomes the true CB spectrum of the sample. On the other hand, the following equation is obtained from the above equation (12).

【0056】[0056]

【数19】 [Equation 19]

【0057】このことから、ω信号(50kHz)を測
定することにより、試料の直線複屈折を求めることがで
きる。つまり、ω信号は、2θで回転し、ω信号が最大
となる位置まで試料を回転させ、この位置でスペクトル
を測定すると、LBmax の波長依存性,LB分散曲線が
求まる。
From this, by measuring the ω signal (50 kHz), the linear birefringence of the sample can be obtained. That is, the ω signal is rotated by 2θ, the sample is rotated to the position where the ω signal is maximized, and the spectrum is measured at this position, whereby the wavelength dependence of LBmax and the LB dispersion curve are obtained.

【0058】従って、本装置によれば、ω信号と2ω信
号を測定することによって、LBとAppCBmax が測定
でき、上記した試料の回転並びに所定の演算処理に基づ
きAppCBmax から真のCBを求めることができる。
Therefore, according to the present apparatus, LB and ApCBmax can be measured by measuring the ω signal and 2ω signal, and the true CB can be obtained from ApCBmax based on the rotation of the sample and the predetermined arithmetic processing described above. it can.

【0059】上記した説明では、発色団を持たない(C
D=LD=LD′=0)の場合について説明したが、次
に、発色団を持つ場合について説明する。CD,LD,
LD′を持つ場合には、ω信号(Signal ω)
は、下記のようになる。
In the above description, no chromophore (C
D = LD = LD ′ = 0), but the case of having a chromophore will now be described. CD, LD,
When having LD ', the ω signal (Signal ω)
Is as follows.

【0060】[0060]

【数20】 (Equation 20)

【0061】LDを持つ試料は、LBも持つ。そして、
一般にCDは、LD,LBに比べて10−2から10
−3小さい。さらに、LDはLBよりも1桁小さい。従
って、通常の固定試料では、CD+1/2(LD′LB
―LDLB′)の値は、LB,LB′に比較し、無視で
きる。よって、上記式は、下記式のように近似できる。
The sample having the LD also has the LB. And
Generally, CD is 10 −2 to 10 compared to LD and LB.
-3 small. Furthermore, LD is one order of magnitude smaller than LB. Therefore, in a normal fixed sample, CD + 1/2 (LD′LB
-LDLB ') is negligible compared to LB, LB'. Therefore, the above equation can be approximated as the following equation.

【0062】[0062]

【数21】 (Equation 21)

【0063】よって、ω信号によりLBが求められる。
但し、LBが小さくなると、必然的にLDも小さくなる
ので、1/2(LD′LB―LDLB′)が無視でき、
CDがω信号に寄与する。LBとCDのどちらの寄与が
大きいかは、以下のようにして特定できる。すなわち、
まず、式(11―1)は、下記式のようになる。
Therefore, LB is obtained from the ω signal.
However, when LB is reduced, LD is inevitably also reduced. Therefore, 1/2 (LD′LB−LDLB ′) can be ignored, and
CD contributes to the ω signal. Which of LB and CD contributes more can be specified as follows. That is,
First, equation (11-1) is as follows.

【0064】[0064]

【数22】 (Equation 22)

【0065】ある波長で、試料を回転させ、その回転に
伴なうAppCBを測定する。このとき、AppCBの値が
2θで変化すると、AppCBへのLDの寄与がLBに比
べて大きく、4θで変化するとLBの寄与が大きいこと
がわかる。また、通常LDはLBより1桁小さいので、
上記した式(11−2)は、下記のように近似できる。
At a certain wavelength, the sample is rotated, and the APPCB accompanying the rotation is measured. At this time, when the value of ApCB changes at 2θ, the contribution of LD to ApCB is larger than that of LB, and when it changes at 4θ, the contribution of LB increases. Also, since LD is usually one digit smaller than LB,
The above equation (11-2) can be approximated as follows.

【0066】[0066]

【数23】 (Equation 23)

【0067】そして、試料の回転に伴なうAppCBの測
定値が、cos4θで近似できる変化を示す場合は、A
ppCBへのLDの寄与が小さいので、上記した式(11
―3)は、発色団が存在しない波長領域におけるAppC
Bの式(13―1)と等しくなる。よって、先に説明し
た正の最大値と負の最大値を足して2で割るという方法
で真のCBスペクトルが求められる。
If the measured value of AppCB accompanying the rotation of the sample shows a change that can be approximated by cos4θ, A
Since the contribution of LD to ppCB is small, the above equation (11)
-3) is the ApC in the wavelength region where no chromophore exists.
B is equal to the equation (13-1). Therefore, a true CB spectrum is obtained by a method of adding the positive maximum value and the negative maximum value described above and dividing by two.

【0068】一方、試料の回転にともないAppCBの値
がcos2θで近似できる変化を示した場合には、LB
に比べてLDが大きいことを意味するので、式(11―
2)は、下記のようになる。
On the other hand, when the value of App CB changes with the rotation of the sample and can be approximated by cos 2θ, LB
It means that LD is larger than
2) is as follows.

【0069】[0069]

【数24】 (Equation 24)

【0070】この場合も、下記の演算式に示すように、
試料を回転させながら、AppCBを測定し、正の最大値
(+)AppCBmax になる位置でAppCBスペクトルを
測定し、次に試料を回転させて負の最大値(−)AppC
Bmax になる位置でのAppCBスペクトルを測定する。
そして、2つのスペクトルを加え合わせ、2で割ること
により真のCBスペクトルが得られる。
Also in this case, as shown in the following equation,
While rotating the sample, measure the ApCB and measure the ApCB spectrum at the position where the maximum positive value (+) ApCBmax is obtained, and then rotate the sample to obtain the negative maximum value (−) ApCB.
An AppCB spectrum at a position where Bmax is obtained is measured.
Then, by adding the two spectra and dividing by 2, a true CB spectrum is obtained.

【0071】[0071]

【数25】 (Equation 25)

【0072】上記したように、いずれの場合にも、App
CBの正の最大値と負の最大値のスペクトルを求めると
ともに、それらを足し合わせ、次いで2で割ることによ
り、真のCBスペクトルを求めることができる。
As described above, in each case, App
The spectrum of the positive maximum value and the negative maximum value of CB is obtained, and they are added together and then divided by 2 to obtain the true CB spectrum.

【0073】図3,図4は、本発明の第2の実施の形態
を示している。本実施の形態では、光学素子の配置順が
第1の実施の形態と異なっている。すなわち、光源1か
ら出射される光を、偏光子3に与えて直線偏光にした光
を直接試料保持装置5の試料Sに照射させる。そして、
この試料保持装置5の後段には、偏光変調器(PEM)
4,検光子6,分光器2,検出器7,信号処理装置8の
順に配置している。このように構成した場合における検
出器7で受光される光の強度Idは、ミューラー行列演
算により次のように与えられる。
FIGS. 3 and 4 show a second embodiment of the present invention. In the present embodiment, the arrangement order of the optical elements is different from that of the first embodiment. That is, the light emitted from the light source 1 is given to the polarizer 3 and linearly polarized light is directly irradiated on the sample S of the sample holding device 5. And
A polarization modulator (PEM) is provided after the sample holding device 5.
4, an analyzer 6, a spectrometer 2, a detector 7, and a signal processing device 8 are arranged in this order. The intensity Id of the light received by the detector 7 in such a configuration is given by the Mueller matrix operation as follows.

【0074】[0074]

【数26】 (Equation 26)

【0075】ここで、P ,P ,2aは、分光器
のx軸y軸及びx軸からの方位角である。そして、CD
=L=LD´=0の場合には、下記式のようになる。
Here, P x 2 , P y 2 , 2a are the azimuths of the spectroscope from the x-axis, y-axis and x-axis. And CD
When L = LD ′ = 0, the following equation is obtained.

【0076】[0076]

【数27】 [Equation 27]

【0077】従って、検出器で検出するSignal
ω,Signal2ωは、それぞれ第1の実施の形態で
説明した式(10),(11)と同じになる。よって、
第1の実施の形態と同様に、2ω信号に基づきAppCB
正の最大値(+)AppCBmaxと、負の最大値(−)Ap
pCBmax のCBスペクトルをそれぞれ求めるととも
に、それらを加えて2で割る処理を行うことにより、真
のCBスペクトルを求めることができる。本実施の形態
によれば、分光器2の偏光特性が大きいが、明るいグレ
ーティングモノクロメータを用いることができる。
Therefore, the signal detected by the detector is
ω and Signal2ω are the same as the expressions (10) and (11) described in the first embodiment, respectively. Therefore,
As in the first embodiment, based on the 2ω signal,
Positive maximum value (+) ApCBmax and negative maximum value (-) Ap
A true CB spectrum can be obtained by calculating the CB spectrum of pCBmax, adding them, and dividing by two. According to the present embodiment, the spectroscope 2 has a large polarization characteristic, but a bright grating monochromator can be used.

【0078】図5から図7は、第1の実施の形態の装置
を用いて実際に測定した実験結果である。図5に示すよ
うに、各波長に対して試料を回転しながらAppCBを測
定し、その正の最大値と負の最大値をそれぞれ求める。
その結果、図6に示すように、正の最大値CBmax と負
の最大値CBmin の各スペクトルが求められる。そし
て、それら2つのスペクトルを加えて2で割ることによ
り、図7に示すように、真のCBスペクトルが得られ
る。
FIGS. 5 to 7 show the experimental results actually measured using the apparatus of the first embodiment. As shown in FIG. 5, ApCB is measured while rotating the sample for each wavelength, and its positive maximum value and negative maximum value are obtained.
As a result, as shown in FIG. 6, spectra of a positive maximum value CBmax and a negative maximum value CBmin are obtained. Then, by adding these two spectra and dividing by 2, a true CB spectrum is obtained as shown in FIG.

【0079】[0079]

【発明の効果】上記したように、本発明では、簡単な演
算処理によって真のCBを測定することができる。
As described above, according to the present invention, the true CB can be measured by simple arithmetic processing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るCB測定装置の第1の実施の形態
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of a CB measuring device according to the present invention.

【図2】その光学配置を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing the optical arrangement.

【図3】本発明に係るCB測定装置の第2の実施の形態
を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a second embodiment of the CB measuring device according to the present invention.

【図4】その光学配置を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the optical arrangement.

【図5】実験結果を示す図である。FIG. 5 is a view showing an experimental result.

【図6】実験結果を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing experimental results.

【図7】実験結果を示す図である。FIG. 7 is a view showing an experimental result.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 2 分光器 3 偏光子 4 偏光変調器 5 試料保持装置 6 検光子 7 検出器 8 信号処理装置 REFERENCE SIGNS LIST 1 light source 2 spectrometer 3 polarizer 4 polarization modulator 5 sample holding device 6 analyzer 7 detector 8 signal processing device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G020 AA04 AA05 CA13 CA15 CB04 CB43 CC02 CC13 CC29 CD03 CD15 CD22 CD33 CD36 2G059 AA02 BB10 BB15 DD13 EE01 EE05 EE12 GG06 HH02 HH03 JJ05 JJ06 JJ18 JJ19 KK01 MM01 MM17 NN01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G020 AA04 AA05 CA13 CA15 CB04 CB43 CC02 CC13 CC29 CD03 CD15 CD22 CD33 CD36 2G059 AA02 BB10 BB15 DD13 EE01 EE05 EE12 GG06 HH02 HH03 JJ05 JJ06 JJ18 JJ19 KK01 MM01

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 単色光を直線偏光させる偏光子と、その
偏光子を透過した光の偏光状態を所定の基本変調周波数
で、右回りの円偏光,左回りの円偏光に同時に基本変調
周波数の2倍の周波数で垂直方向の直線偏光,水平方向
の直線偏光に交番的に変化させる偏光変調器と、その偏
光変調器から得られた光の光路に配置された試料保持部
と、その試料保持部を通過した光が通過する検光子を通
過した光の強度を検出する検出器と、その検出器の出力
に基づいて信号処理する信号処理部を備えた偏光変調測
定装置であって、 前記検光子の光軸が前記偏光子の光軸に対し45度の差
を持った配置とし、 前記信号処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏
光変調器における変調周波数に相当する周波数成分及び
その変調周波数の2倍の周波数成分に基づいて信号処理
するもので、 変調周波数成分であるLBと、変調周波数の2倍の周波
数成分はCBを表すもので、試料を回転させて最大値を
示す位置での測定値と、試料を回転させて最小値を示す
位置における値を得、それらを加えて2で割ることによ
り真のCB値を算出する測定装置。
1. A polarizer for linearly polarizing monochromatic light, and a polarization state of light transmitted through the polarizer is converted into clockwise circular polarization and counterclockwise circular polarization at a predetermined basic modulation frequency at the same time. A polarization modulator that alternately changes to vertical linear polarization and horizontal linear polarization at twice the frequency, a sample holder disposed in the optical path of light obtained from the polarization modulator, and the sample holder A detector for detecting the intensity of light passing through an analyzer through which light has passed, and a signal processing unit for performing signal processing based on the output of the detector; The arrangement is such that the optical axis of the photon has a difference of 45 degrees with respect to the optical axis of the polarizer, and the signal processing unit includes a frequency component corresponding to a modulation frequency in the polarization modulator among output signals of the detector. Double frequency component of the modulation frequency The signal processing is performed based on LB, which is the modulation frequency component, and the frequency component twice as high as the modulation frequency represents CB. The measured value at the position where the sample shows the maximum value by rotating the sample, and the sample is rotated A measurement device that calculates the true CB value by obtaining values at the position showing the minimum value, adding them, and dividing by two.
【請求項2】 偏光子によって直線偏光とされた白色光
と、その白色光の光路に配置された試料保持部と、試料
を通過した光の偏光状態を解析するための偏光変調器と
検光子からなる偏光解析器と、その偏光解析器から得ら
れた光を単色光とするモノクロメータと、そのモノクロ
メータから出力される光の強度を検出する検出器と、そ
の検出器の出力に基づいて信号処理する信号処理部を備
えた偏光変調測定装置であって、 前記偏光変調器は、左右の円偏光を基本変調周波数に相
当する周波数で垂直・水平の直線偏光に、垂直・水平の
直線偏光を前記基本変調周波数の2倍の周波数で垂直・
水平直線偏光にそれぞれ変調させる偏光変調器であり、 前記検光子の光軸が前記偏光子の光軸に対し45度の差
を持った配置とし、 前記信号処理部は、前記検出器の出力信号のうち前記偏
光変調器における変調周波数に相当する周波数成分及び
その変調周波数の2倍の周波数成分に基づいて信号処理
するもので、 変調周波数成分であるLBと、変調周波数の2倍の周波
数成分はCBを表すもので、試料を回転させて最大値を
示す位置での測定値と、試料を回転させて最小値を示す
位置における値を得、それらを加えて2で割ることによ
り真のCB値を算出する測定装置。
2. A white light linearly polarized by a polarizer, a sample holder disposed in an optical path of the white light, a polarization modulator and an analyzer for analyzing a polarization state of light passing through the sample. And a monochromator that converts the light obtained from the ellipsometer into monochromatic light, a detector that detects the intensity of light output from the monochromator, and the output of the detector. A polarization modulation measurement device provided with a signal processing unit that performs signal processing, wherein the polarization modulator converts left and right circularly polarized lights into vertical and horizontal linearly polarized lights at a frequency corresponding to a basic modulation frequency, and vertical and horizontal linearly polarized lights. At a frequency twice the fundamental modulation frequency.
A polarization modulator that modulates the light into horizontal linearly polarized light, wherein the optical axis of the analyzer is arranged with a difference of 45 degrees with respect to the optical axis of the polarizer, and the signal processing unit is configured to output signals of the detector. The signal processing is performed based on the frequency component corresponding to the modulation frequency in the polarization modulator and the frequency component twice as high as the modulation frequency. The LB as the modulation frequency component and the frequency component twice as high as the modulation frequency are Represents CB, the measured value at the position showing the maximum value by rotating the sample and the value at the position showing the minimum value by rotating the sample, adding them and dividing by 2 gives the true CB value A measuring device that calculates
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274380A (en) * 2004-03-25 2005-10-06 Optoquest Co Ltd Double refraction measuring instrument
JP2012520993A (en) * 2009-03-20 2012-09-10 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー Measuring method and measuring system for measuring birefringence
JP2015102333A (en) * 2013-11-21 2015-06-04 学校法人福岡大学 Method and apparatus for measuring circular dichroism spectrum and circularly polarized luminescence by means of same optical system

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005274380A (en) * 2004-03-25 2005-10-06 Optoquest Co Ltd Double refraction measuring instrument
JP4556463B2 (en) * 2004-03-25 2010-10-06 有限会社グローバルファイバオプティックス Birefringence measuring device
JP2012520993A (en) * 2009-03-20 2012-09-10 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー Measuring method and measuring system for measuring birefringence
US8542356B2 (en) 2009-03-20 2013-09-24 Carl Zeiss Smt Gmbh Measurement method and measurement system for measuring birefringence
JP2014041134A (en) * 2009-03-20 2014-03-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Measurement method of measuring birefringence and measurement system
JP2015102333A (en) * 2013-11-21 2015-06-04 学校法人福岡大学 Method and apparatus for measuring circular dichroism spectrum and circularly polarized luminescence by means of same optical system

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