JP2001305229A - 超短パルスｘ線のパルス波形計測方法 - Google Patents
超短パルスｘ線のパルス波形計測方法Info
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- JP2001305229A JP2001305229A JP2000118586A JP2000118586A JP2001305229A JP 2001305229 A JP2001305229 A JP 2001305229A JP 2000118586 A JP2000118586 A JP 2000118586A JP 2000118586 A JP2000118586 A JP 2000118586A JP 2001305229 A JP2001305229 A JP 2001305229A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 超短パルスＸ線パルス波形を高い時間分解能
で測定をすること。 【解決手段】 高出力超短パルスレーザ装置１から出射
した超短パルスレーザ光２をＸ線発生用レーザ光４とイ
オン化用レーザ光５に２分割し、さらに、イオン化用レ
ーザ光５を第１イオン化用レーザパルス１３と第２イオ
ン化用レーザパルス１４に２分割する。２連のパルスに
より超高速イオン化を起こしたガス１９中に、イオン化
用レーザ光５に対して時間間隔Δｔを与えた超短パルス
Ｘ線９を透過させ、特定価数のイオンによるＸ線吸収量
の変化を時間間隔Δｔの関数として測定する。
で測定をすること。 【解決手段】 高出力超短パルスレーザ装置１から出射
した超短パルスレーザ光２をＸ線発生用レーザ光４とイ
オン化用レーザ光５に２分割し、さらに、イオン化用レ
ーザ光５を第１イオン化用レーザパルス１３と第２イオ
ン化用レーザパルス１４に２分割する。２連のパルスに
より超高速イオン化を起こしたガス１９中に、イオン化
用レーザ光５に対して時間間隔Δｔを与えた超短パルス
Ｘ線９を透過させ、特定価数のイオンによるＸ線吸収量
の変化を時間間隔Δｔの関数として測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、超短パルスＸ線の
パルス波形を高時間分解能で計測する方法に関するもの
である。
パルス波形を高時間分解能で計測する方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】近年、高出力の超短パルスレーザ光を利
用することによって、超短パルスＸ線を発生させる光源
が開発されている。これらの超短パルスＸ線光源によっ
て、１００ｐｓ（ピコ秒）から１００ｆｓ（フェムト
秒）程度のＸ線パルスが得られている。従来、これらの
Ｘ線パルス波形を計測するために、高時間分解能を有す
るＸ線計測器であるＸ線ストリークカメラが広く利用さ
れている。
用することによって、超短パルスＸ線を発生させる光源
が開発されている。これらの超短パルスＸ線光源によっ
て、１００ｐｓ（ピコ秒）から１００ｆｓ（フェムト
秒）程度のＸ線パルスが得られている。従来、これらの
Ｘ線パルス波形を計測するために、高時間分解能を有す
るＸ線計測器であるＸ線ストリークカメラが広く利用さ
れている。
【０００３】しかしながら、Ｘ線ストリークカメラの時
間分解能は、ｐｓ程度であるため、ｐｓ以下の時間幅を
有する超短パルスＸ線は測定することができないという
問題点があった。しかも、Ｘ線ストリークカメラの時間
分解能は、ストリーク管への印加電圧の掃引速度、光電
子の初速分布、電子系の空間分解能などにより決まって
おり、サブｐｓの時間分解能を実現することは原理的に
極めて難しい。
間分解能は、ｐｓ程度であるため、ｐｓ以下の時間幅を
有する超短パルスＸ線は測定することができないという
問題点があった。しかも、Ｘ線ストリークカメラの時間
分解能は、ストリーク管への印加電圧の掃引速度、光電
子の初速分布、電子系の空間分解能などにより決まって
おり、サブｐｓの時間分解能を実現することは原理的に
極めて難しい。
【０００４】そこで、超短パルスレーザ光を希ガスに照
射することによって引き起こされる希ガスの超高速イオ
ン化を超高速シャッタとして利用する方法、すなわち、
超短パルスレーザ光を希ガスに照射することによって、
中性原子を消滅させ、中性原子固有のＸ線吸収の高速変
化を計測することで、超短パルスＸ線のパルス波形を測
定することが試みられた（M.H.Sher,U.Mohideen,H.W.K.
Tom,O.R.Wood II,G.D.Aumiller,and R.R.Freeman,Opt.L
ett.18,646(1993)）。しかしながら、この方法では、超
高速で消滅させた中性原子が再び現れるまでに長い時間
が必要となるため、狭い時間幅を有するゲートとしての
作用をしないことから、Ｘ線パルス波形を得るために測
定されたデータを微分する必要がある。そのため、誤差
が大きくなり、信頼度が低いという問題があった。
射することによって引き起こされる希ガスの超高速イオ
ン化を超高速シャッタとして利用する方法、すなわち、
超短パルスレーザ光を希ガスに照射することによって、
中性原子を消滅させ、中性原子固有のＸ線吸収の高速変
化を計測することで、超短パルスＸ線のパルス波形を測
定することが試みられた（M.H.Sher,U.Mohideen,H.W.K.
Tom,O.R.Wood II,G.D.Aumiller,and R.R.Freeman,Opt.L
ett.18,646(1993)）。しかしながら、この方法では、超
高速で消滅させた中性原子が再び現れるまでに長い時間
が必要となるため、狭い時間幅を有するゲートとしての
作用をしないことから、Ｘ線パルス波形を得るために測
定されたデータを微分する必要がある。そのため、誤差
が大きくなり、信頼度が低いという問題があった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、サブｐ
ｓの時間幅を持つ超短パルスＸ線のパルス波形を測定す
るためにはＸ線ストリークカメラでは不可能であった。
また、超短パルスレーザ光を希ガスに照射することによ
って引き起こされる希ガスの超高速イオン化に伴う中性
原子の消滅を超高速シャッタとして利用する方法では、
信頼度が低いという問題点があった。
ｓの時間幅を持つ超短パルスＸ線のパルス波形を測定す
るためにはＸ線ストリークカメラでは不可能であった。
また、超短パルスレーザ光を希ガスに照射することによ
って引き起こされる希ガスの超高速イオン化に伴う中性
原子の消滅を超高速シャッタとして利用する方法では、
信頼度が低いという問題点があった。
【０００６】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、その目的はサブｐｓの時間幅を有する超短
パルスＸ線のパルス波形を高い信頼度で測定可能とする
超短パルスＸ線のパルス波形計測方法を提供することに
ある。
れたもので、その目的はサブｐｓの時間幅を有する超短
パルスＸ線のパルス波形を高い信頼度で測定可能とする
超短パルスＸ線のパルス波形計測方法を提供することに
ある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような目
的を達成するために、イオン化ガスの特定価数の状態に
よるＸ線吸収の変化を用いる超短パルスＸ線のパルス波
形計測方法において、第１レーザパルスと第２レーザパ
ルスとから成る２連のレーザパルスを上記イオン化ガス
に照射し、上記第１レーザパルスにより上記イオン化ガ
スを上記特定価数の状態とし、上記第２レーザパルスに
より上記イオン化ガスを別の価数の状態とし、上記第１
レーザパルスと上記第２レーザパルスの時間間隔を変化
させることで上記特定価数の状態の持続時間を制御し、
任意の時間分解能でＸ線パルス波形を測定することを特
徴とするものである。
的を達成するために、イオン化ガスの特定価数の状態に
よるＸ線吸収の変化を用いる超短パルスＸ線のパルス波
形計測方法において、第１レーザパルスと第２レーザパ
ルスとから成る２連のレーザパルスを上記イオン化ガス
に照射し、上記第１レーザパルスにより上記イオン化ガ
スを上記特定価数の状態とし、上記第２レーザパルスに
より上記イオン化ガスを別の価数の状態とし、上記第１
レーザパルスと上記第２レーザパルスの時間間隔を変化
させることで上記特定価数の状態の持続時間を制御し、
任意の時間分解能でＸ線パルス波形を測定することを特
徴とするものである。
【０００８】つまり、ガスをイオン化するレーザパルス
を、時間差を与えた２つの超短パルスレーザ光（第１イ
オン化レーザパルス、第２イオン化レーザパルス）を用
いることを特徴とする。また、２つの超短パルスレーザ
光を用いることにより特定のイオン種（特定の価数のイ
オン）の持続する時間を制御可能にし、それを超高速の
ゲートとして利用することで超短パルスＸ線のパルス波
形を計測するものである。
を、時間差を与えた２つの超短パルスレーザ光（第１イ
オン化レーザパルス、第２イオン化レーザパルス）を用
いることを特徴とする。また、２つの超短パルスレーザ
光を用いることにより特定のイオン種（特定の価数のイ
オン）の持続する時間を制御可能にし、それを超高速の
ゲートとして利用することで超短パルスＸ線のパルス波
形を計測するものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施例について説明する。
施例について説明する。
【００１０】図１は、本発明の実施の形態である超短パ
ルスＸ線パルス波形計測方法の構成を示す説明図で、高
出力超短パルスレーザ装置１から出射した超短パルスレ
ーザ光２は、第１のビームスプリッタ３により、Ｘ線発
生用レーザ光４とイオン化用レーザ光５に２分割され
る。Ｘ線発生用レーザ光４は、Ｘ線発生部７に配置され
たＸ線発生用ターゲット８に照射され、超短パルスＸ線
９が発生する。
ルスＸ線パルス波形計測方法の構成を示す説明図で、高
出力超短パルスレーザ装置１から出射した超短パルスレ
ーザ光２は、第１のビームスプリッタ３により、Ｘ線発
生用レーザ光４とイオン化用レーザ光５に２分割され
る。Ｘ線発生用レーザ光４は、Ｘ線発生部７に配置され
たＸ線発生用ターゲット８に照射され、超短パルスＸ線
９が発生する。
【００１１】イオン化用レーザ光５は、超短パルスＸ線
９とイオン化用レーザ光５の時間間隔を制御する第１遅
延回路１１を通過する。次に、イオン化用レーザ光５
は、第２のビームスプリッタ１２によって、第１イオン
化用レーザパルス１３と第２イオン化用レーザパルス１
４に２分割される。第２イオン化用レーザパルス１４
は、第１イオン化用レーザパルス１３と第２イオン化用
レーザパルス１４の時間間隔を制御する第２遅延回路１
５を通過し、第３のビームスプリッタ１６により、再び
第１イオン化用レーザパルス１３と同一の光路をとり、
ガス１９に照射される。
９とイオン化用レーザ光５の時間間隔を制御する第１遅
延回路１１を通過する。次に、イオン化用レーザ光５
は、第２のビームスプリッタ１２によって、第１イオン
化用レーザパルス１３と第２イオン化用レーザパルス１
４に２分割される。第２イオン化用レーザパルス１４
は、第１イオン化用レーザパルス１３と第２イオン化用
レーザパルス１４の時間間隔を制御する第２遅延回路１
５を通過し、第３のビームスプリッタ１６により、再び
第１イオン化用レーザパルス１３と同一の光路をとり、
ガス１９に照射される。
【００１２】相互作用部１８中に配管２０によって供給
されるガス１９は、第１イオン化用レーザパルス１３に
よって一価イオンにイオン化される。さらに、生成した
一価イオンは、時間間隔ΔτP の後、第２イオン化用レ
ーザパルス１４によって二価イオンにイオン化される。
このようにイオン化したガス中にＸ線集光素子１０によ
って集光された超短パルスＸ線９を照射し、ガスイオン
によるＸ線透過スペクトルをＸ線分光器２１とＸ線検出
器２２によって測定する。なお、符号６と１７は、レー
ザ光の集光素子（レンズ、反射鏡など）を示している。
されるガス１９は、第１イオン化用レーザパルス１３に
よって一価イオンにイオン化される。さらに、生成した
一価イオンは、時間間隔ΔτP の後、第２イオン化用レ
ーザパルス１４によって二価イオンにイオン化される。
このようにイオン化したガス中にＸ線集光素子１０によ
って集光された超短パルスＸ線９を照射し、ガスイオン
によるＸ線透過スペクトルをＸ線分光器２１とＸ線検出
器２２によって測定する。なお、符号６と１７は、レー
ザ光の集光素子（レンズ、反射鏡など）を示している。
【００１３】次に、上述したようなＸ線パルス波形計測
方法の構成において、どのようにして超短パルスＸ線の
パルス波形が計測されるかについて説明する。
方法の構成において、どのようにして超短パルスＸ線の
パルス波形が計測されるかについて説明する。
【００１４】図２は、Ｘ線パルス波形測定法の原理を説
明した模式図で、図２（ａ）は、第１イオン化用レーザ
パルス１３と第２イオン化用レーザパルス１４の２つの
パルスによってガス１９のイオン化がどのように進行す
るかを示した模式図である。
明した模式図で、図２（ａ）は、第１イオン化用レーザ
パルス１３と第２イオン化用レーザパルス１４の２つの
パルスによってガス１９のイオン化がどのように進行す
るかを示した模式図である。
【００１５】ガス１９により早く到着する第１イオン化
用レーザパルス１３によって、もともと存在していた中
性ガスの密度は急速に減少し、一価イオンの密度が急速
に増加する。第１イオン化用レーザ光パルスの強度を適
切に選ぶことによってすべての中性の希ガスを一価イオ
ンにイオン化させることができる。さらに、時間間隔Δ
τP の後、第２イオン化用レーザパルス１４を照射する
と、一価イオンの密度は急速に減少し、二価イオンの密
度は急激に増加する。第２イオン化用レーザパルス１４
の強度を適切に選ぶことによって、すべての一価イオン
を二価イオンにイオン化させることができる。このよう
な密度の時間変化を起こすガス１９中にイオン化用レー
ザ光５に対して時間間隔Δｔを与えた超短パルスＸ線９
を透過させる。
用レーザパルス１３によって、もともと存在していた中
性ガスの密度は急速に減少し、一価イオンの密度が急速
に増加する。第１イオン化用レーザ光パルスの強度を適
切に選ぶことによってすべての中性の希ガスを一価イオ
ンにイオン化させることができる。さらに、時間間隔Δ
τP の後、第２イオン化用レーザパルス１４を照射する
と、一価イオンの密度は急速に減少し、二価イオンの密
度は急激に増加する。第２イオン化用レーザパルス１４
の強度を適切に選ぶことによって、すべての一価イオン
を二価イオンにイオン化させることができる。このよう
な密度の時間変化を起こすガス１９中にイオン化用レー
ザ光５に対して時間間隔Δｔを与えた超短パルスＸ線９
を透過させる。
【００１６】図２（ｂ）は、時間間隔Δｔを変化させた
ことによってＸ線透過スペクトルがどのように変化する
かを示したＸ線透過スペクトルの模式図である。中性、
一価イオン、二価イオンのそれぞれにのみ特徴的に現れ
る吸収線に注目すれば、その吸収量は時間間隔Δｔに従
って変化する。すなわち、第１イオン化用レーザ光１３
が到着する前に超短パルスＸ線９がガスを通過すると一
番下のスペクトルのように、もともと中性の吸収線しか
見えない。時間間隔Δｔが増えるに従って少しずつ一価
イオンの吸収線が見えてくる。さらに、二価イオンの吸
収線が見え始めて増加すると共に一価イオンの吸収線が
弱くなっていく。
ことによってＸ線透過スペクトルがどのように変化する
かを示したＸ線透過スペクトルの模式図である。中性、
一価イオン、二価イオンのそれぞれにのみ特徴的に現れ
る吸収線に注目すれば、その吸収量は時間間隔Δｔに従
って変化する。すなわち、第１イオン化用レーザ光１３
が到着する前に超短パルスＸ線９がガスを通過すると一
番下のスペクトルのように、もともと中性の吸収線しか
見えない。時間間隔Δｔが増えるに従って少しずつ一価
イオンの吸収線が見えてくる。さらに、二価イオンの吸
収線が見え始めて増加すると共に一価イオンの吸収線が
弱くなっていく。
【００１７】図２（ｂ）において、一価イオンの吸収線
の吸収量に注目し、時間間隔Δｔの関数としてその吸収
量をグラフ化した図を図２（ｃ）に示す。図２（ｃ）に
示された波形は、超短パルスＸ線９における一価イオン
の吸収線に対応する波長のＸ線パルス波形を示してい
る。
の吸収量に注目し、時間間隔Δｔの関数としてその吸収
量をグラフ化した図を図２（ｃ）に示す。図２（ｃ）に
示された波形は、超短パルスＸ線９における一価イオン
の吸収線に対応する波長のＸ線パルス波形を示してい
る。
【００１８】図３は、ガス１９としてＫｒを選んだ場合
におけるイオン密度の時間変化を数値計算によってシミ
ュレーションした結果を示した図である。時間間隔Δτ
P を３００ｆｓ、第１イオン化用レーザパルス１３、第
２イオン化用レーザパルス１４の強度をそれぞれ３×１
０14Ｗ／ｃｍ2 、１×１０15Ｗ／ｃｍ2 、パルス幅を２
００ｆｓと仮定した。図３における条件では、Ｋｒ一価
イオンの吸収線の波長にあたる１５．５ｎｍの超短パル
スＸ線のＸ線パルス波形を、時間分解能およそ３００ｆ
ｓで測定することが可能である。
におけるイオン密度の時間変化を数値計算によってシミ
ュレーションした結果を示した図である。時間間隔Δτ
P を３００ｆｓ、第１イオン化用レーザパルス１３、第
２イオン化用レーザパルス１４の強度をそれぞれ３×１
０14Ｗ／ｃｍ2 、１×１０15Ｗ／ｃｍ2 、パルス幅を２
００ｆｓと仮定した。図３における条件では、Ｋｒ一価
イオンの吸収線の波長にあたる１５．５ｎｍの超短パル
スＸ線のＸ線パルス波形を、時間分解能およそ３００ｆ
ｓで測定することが可能である。
【００１９】さらに、本発明では、時間間隔ΔτP を、
第２遅延回路１５を調節することによって一価イオンの
持続時間を制御することができ、時間分解能を選択する
ことが可能である。また、着目するイオン種（価数）な
らびに、用いるガスの種類をＡｒやＸｅもしくはＯ2 や
Ｎ2 などに変更することにより、測定するＸ線の波長を
変更することが可能である。
第２遅延回路１５を調節することによって一価イオンの
持続時間を制御することができ、時間分解能を選択する
ことが可能である。また、着目するイオン種（価数）な
らびに、用いるガスの種類をＡｒやＸｅもしくはＯ2 や
Ｎ2 などに変更することにより、測定するＸ線の波長を
変更することが可能である。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、第
１レーザパルスと第２レーザパルスとから成る２連のレ
ーザパルスをイオン化ガスに照射し、第１レーザパルス
によりイオン化ガスを特定価数の状態とし、第２レーザ
パルスによりイオン化ガスを別の価数の状態とし、第１
レーザパルスと第２レーザパルスの時間間隔を変化させ
ることで特定価数の状態の持続時間を制御し、任意の時
間分解能でＸ線パルス波形を測定するようにしたので、
２つのパルスを用いてガスをイオン化し、生成したイオ
ンによる超短パルスＸ線の吸収量を測定することによ
り、超短パルスＸ線のパルス波形を高い時間分解能、か
つ信頼度の高い測定によって得ることが可能であるとい
う極めて優れた効果が得られる。
１レーザパルスと第２レーザパルスとから成る２連のレ
ーザパルスをイオン化ガスに照射し、第１レーザパルス
によりイオン化ガスを特定価数の状態とし、第２レーザ
パルスによりイオン化ガスを別の価数の状態とし、第１
レーザパルスと第２レーザパルスの時間間隔を変化させ
ることで特定価数の状態の持続時間を制御し、任意の時
間分解能でＸ線パルス波形を測定するようにしたので、
２つのパルスを用いてガスをイオン化し、生成したイオ
ンによる超短パルスＸ線の吸収量を測定することによ
り、超短パルスＸ線のパルス波形を高い時間分解能、か
つ信頼度の高い測定によって得ることが可能であるとい
う極めて優れた効果が得られる。
【００２１】また、レーザプラズマによるＸ線、高次高
調波光によるＸ線など高出力超短パルスレーザを用いる
ことによって発生し、レーザ光との同期が容易な超短パ
ルスＸ線光源すべてにおいて有効であるという極めて優
れた効果が得られる。
調波光によるＸ線など高出力超短パルスレーザを用いる
ことによって発生し、レーザ光との同期が容易な超短パ
ルスＸ線光源すべてにおいて有効であるという極めて優
れた効果が得られる。
【図１】本発明の実施の形態である超短パルスＸ線のパ
ルス波形計測方法の構成を示す説明図である。
ルス波形計測方法の構成を示す説明図である。
【図２】本発明の測定原理を説明する図である。
【図３】Ｋｒガスにおけるイオン密度の時間変化を数値
シミュレーションした結果を示す図である。
シミュレーションした結果を示す図である。
【符号の説明】 １ 高出力超短パルスレーザ装置 ２ 超短パルスレーザ光 ３ 第１のビームスプリッタ ４ Ｘ線発生用レーザ光 ５ イオン化用レーザ光 ７ Ｘ線発生部 ８ Ｘ線発生用ターゲット ９ 超短パルス １０ Ｘ線集光素子 １１ 第１遅延回路 １２ 第２のビームスプリッタ １３ 第１イオン化用レーザパルス １４ 第２イオン化用レーザパルス １５ 第２遅延回路 １６ 第３のビームスプリッタ １８ 相互作用部 １９ ガス ２０ 配管 ２１ Ｘ線分光器 ２２ Ｘ線検出器 ６、１７ 集光素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西川 正 東京都千代田区大手町二丁目３番１号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 上杉 直 東京都千代田区大手町二丁目３番１号 日 本電信電話株式会社内 Ｆターム(参考） 2G001 AA01 AA07 AA10 AA20 BA12 CA01 DA02 GA03 JA01 JA20 MA01 NA02 NA03 2G065 AA12 AB14 AB16 BA40 BB50 2G088 EE30 FF02 FF11 FF13 FF15 GG25 GG30 JJ08 KK02 5F072 JJ20 PP10 RR07 SS08
Claims (2)
- 【請求項１】 イオン化ガスの特定価数の状態によるＸ
線吸収の変化を用いる超短パルスＸ線のパルス波形計測
方法において、第１レーザパルスと第２レーザパルスと
から成る２連のレーザパルスを上記イオン化ガスに照射
し、上記第１レーザパルスにより上記イオン化ガスを上
記特定価数の状態とし、上記第２レーザパルスにより上
記イオン化ガスを別の価数の状態とし、上記第１レーザ
パルスと上記第２レーザパルスの時間間隔を変化させる
ことで上記特定価数の状態の持続時間を制御し、任意の
時間分解能でＸ線パルス波形を測定することを特徴とす
る超短パルスＸ線のパルス波形計測方法。 - 【請求項２】 前記持続時間を遅延手段によって制御す
ることを特徴とする請求項１に記載の超短パルスＸ線の
パルス波形計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000118586A JP3527460B2 (ja) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | 超短パルスｘ線のパルス波形計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000118586A JP3527460B2 (ja) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | 超短パルスｘ線のパルス波形計測方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001305229A true JP2001305229A (ja) | 2001-10-31 |
| JP3527460B2 JP3527460B2 (ja) | 2004-05-17 |
Family
ID=18629695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000118586A Expired - Fee Related JP3527460B2 (ja) | 2000-04-19 | 2000-04-19 | 超短パルスｘ線のパルス波形計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3527460B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008002940A (ja) * | 2006-06-22 | 2008-01-10 | Ihi Corp | 遠隔ｘ線透視装置および方法 |
| CN101922974A (zh) * | 2010-08-31 | 2010-12-22 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种激光参数性能测试自动标定装置及其方法 |
| CN105222889A (zh) * | 2015-10-12 | 2016-01-06 | 绍兴文理学院 | 一种强激光功率密度的测量装置及其测量方法 |
| KR101613882B1 (ko) | 2015-11-18 | 2016-04-20 | 기초과학연구원 | 이온화를 이용한 광파의 진폭 및 위상 측정 방법 |
| KR101613883B1 (ko) | 2015-12-03 | 2016-05-02 | 기초과학연구원 | 광파의 진폭 및 위상 분석 장치 |
| WO2017086752A1 (ko) * | 2015-11-18 | 2017-05-26 | 기초과학연구원 | 광파의 파형 측정 장치 및 방법 |
| CN110837201A (zh) * | 2019-11-27 | 2020-02-25 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 高时间分辨率分幅照相系统 |
-
2000
- 2000-04-19 JP JP2000118586A patent/JP3527460B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
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