JP2001291731A - Mold for resin seal, semiconductor manufacturing equipment, and method of manufacturing semiconductor device - Google Patents

Mold for resin seal, semiconductor manufacturing equipment, and method of manufacturing semiconductor device

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JP2001291731A
JP2001291731A JP2000107860A JP2000107860A JP2001291731A JP 2001291731 A JP2001291731 A JP 2001291731A JP 2000107860 A JP2000107860 A JP 2000107860A JP 2000107860 A JP2000107860 A JP 2000107860A JP 2001291731 A JP2001291731 A JP 2001291731A
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mold
resin
sealing
lead frame
semiconductor
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Tetsuya Hirose
哲也 広瀬
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress a variation in molding among cavities by reducing a clamping force in a resin sealing apparatus and also reduce the size and cost of a mold. SOLUTION: The mold 10 has a cavity for storing a part of semiconductor elements out of a plurality of those on a lead frame 1, and can be transferred on a transfer path of the lead frame 1 with the lead frame 1 being held between an upper mold 10U and a lower mold 10L of the mold 10. Between the upper mold 10U and the lower mold 10L of the mold 10, there is a pressurization mechanism to supply a force working in the direction to close the mold 10. A sealing process area comprises a resin injection process area and a curing process area. In the resin injection process area, a pressurization device 151 and a plunger push-up device 152 are installed. The pressurization device 151 clamps only one mold 10 transferred to the resin injection process area.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、複数のダイパッ
ドを有し各ダイパッド上に半導体素子が搭載された状態
のリードフレームに対して、各半導体素子を樹脂で封止
する際に用いられる樹脂封止用金型に関するものであ
り、更にその金型を備えた半導体製造装置及びその金型
を用いた半導体装置の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin seal used for sealing a semiconductor element with a resin in a lead frame having a plurality of die pads and a semiconductor element mounted on each die pad. More particularly, the present invention relates to a semiconductor manufacturing apparatus provided with the mold and a method of manufacturing a semiconductor device using the mold.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の樹脂封止装置100Pの構成及び
動作を図22〜図24を参照しつつ説明する。なお、図
22及び図23はそれぞれ従来の樹脂封止装置100P
を説明するための模式的な側面図及び縦断面図であり、
図24は従来の金型10Pの下金型10LPを説明する
ための模式的な上面図である。
2. Description of the Related Art The structure and operation of a conventional resin sealing device 100P will be described with reference to FIGS. 22 and 23 show a conventional resin sealing device 100P, respectively.
It is a schematic side view and a longitudinal sectional view for explaining
FIG. 24 is a schematic top view for explaining the lower mold 10LP of the conventional mold 10P.

【0003】従来の樹脂封止装置100Pは、複数の金
型10Pと、プレス部21Pと、プランジャ部14P
と、エジェクタ部15Pと、クリーナ部36Pとを備え
る。なお、図22等への図示化は省略するが、従来の樹
脂封止装置101Pは、金型10Pへリードフレーム1
を供給するローダ部と、樹脂封止された成形品を排出す
るアンローダ部とを備える。
[0003] A conventional resin sealing device 100P includes a plurality of dies 10P, a press section 21P, a plunger section 14P.
, An ejector section 15P, and a cleaner section 36P. Although illustration in FIG. 22 and the like is omitted, the conventional resin sealing device 101P is connected to the mold 10P by the lead frame 1P.
And an unloader for discharging a resin-sealed molded product.

【0004】各金型10Pは複数のキャビティ11UP
を有する上金型10UPと複数のキャビティ11LPを
有する下金型10LPとから成り、両キャビティ11U
P,11LPが金型10Pの(複数の)キャビティ11
Pを成す。それぞれ複数の上金型10UP及び下金型1
0LPがプレス部21Pに固定されており、プレス部2
1Pの開動作により全金型10Pが開かれ、閉動作によ
り全金型10Pが閉じられる。
Each mold 10P has a plurality of cavities 11UP.
And a lower mold 10LP having a plurality of cavities 11LP.
P, 11LP are cavities (plurality) 11 of mold 10P
Form P. Each of multiple upper molds 10UP and lower mold 1
0LP is fixed to the press part 21P, and the press part 2
The full mold 10P is opened by the opening operation of 1P, and the full mold 10P is closed by the closing operation.

【0005】リードフレーム1は複数のダイパッドを有
し各ダイパッド上に半導体素子(図示せず)が搭載され
ボンディングされている。かかるリードフレーム1は、
下金型10LPに載置され(図24参照;図24ではリ
ードフレーム1の外形のみを破線で示している)、プレ
ス部21Pによって上金型10UP及び下金型10LP
を介して型締めされる。このとき、リードフレーム1
は、当該リードフレーム1の全体が金型10P内に収め
られた状態で又各半導体素子が各キャビティ11P内に
収容された状態で型締めされる。
The lead frame 1 has a plurality of die pads, and a semiconductor element (not shown) is mounted on each die pad and bonded. Such a lead frame 1 is
The lower die 10LP is placed on the lower die 10LP (see FIG. 24; only the outer shape of the lead frame 1 is shown by broken lines in FIG. 24), and the upper die 10UP and the lower die 10LP are pressed by the press part 21P.
Is clamped through. At this time, lead frame 1
The mold is clamped in a state where the entire lead frame 1 is housed in the mold 10P and in a state where each semiconductor element is housed in each cavity 11P.

【0006】上記型締め動作の後、プランジャ部14P
は、下金型10LPのポットないしは又はチャンバ12
Pに予め供給されたタブレット状の樹脂(図示せず)
を、ランナ13Pを介してキャビティ11P内へ射出す
る。なお、樹脂タブレットはポット12P内で加熱さ
れ、プランジャ部14Pは溶融した樹脂を射出する。こ
れにより、半導体素子が樹脂で封止される。このとき、
樹脂漏れを防ぐために、上金型10UPと下金型10L
Pとはある一定以上のシール面圧ないしは型締め力で以
て型締めされる。
After the above clamping operation, the plunger portion 14P
Is the pot or chamber 12 of the lower mold 10LP.
Tablet-like resin supplied to P in advance (not shown)
Is injected into the cavity 11P via the runner 13P. The resin tablet is heated in the pot 12P, and the plunger 14P injects the molten resin. Thereby, the semiconductor element is sealed with the resin. At this time,
To prevent resin leakage, upper mold 10UP and lower mold 10L
P is clamped by a certain or more sealing surface pressure or clamping force.

【0007】封止後、樹脂が硬化するまでの一定期間の
間、樹脂は保圧され、又、リードフレームは型締めされ
た状態で保持される。なお、保圧時間と樹脂硬化に要す
る時間とは必ずしも同じではない。樹脂の硬化がある一
定レベルにまで達した後、金型10Pは開かれ、樹脂封
止された成形品がエジェクタ部15Pによって金型10
Pから離型される。このように、従来の樹脂封止装置1
00Pでは樹脂注入とキュアとを同じ場所で行う。その
後、クリーナ部26が、成形品が取り出された後の金型
10Pを清掃する。
After sealing, the resin is held under pressure for a certain period of time until the resin is cured, and the lead frame is held in a mold-clamped state. The pressure holding time and the time required for curing the resin are not necessarily the same. After the curing of the resin reaches a certain level, the mold 10P is opened, and the molded article sealed with the resin is ejected by the ejector unit 15P.
Release from P. Thus, the conventional resin sealing device 1
In 00P, resin injection and curing are performed in the same place. Thereafter, the cleaner unit 26 cleans the mold 10P after the molded product is taken out.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
樹脂封止装置100Pでは、リードフレーム1の全体を
金型10P内に収容して型締めを行う。また、複数の金
型10Pに対して同時にプレス動作を行う。このとき、
リードフレーム1に搭載される半導体素子の個数、換言
すればキャビティ11Pの数の増加並びに同時にプレス
する金型10Pの個数の増加に伴って、プレス荷重を増
大させる必要がある。このため、従来の樹脂封止装置1
00Pは、設備が大型に又高価格になってしまうという
問題点を有している。
As described above, in the conventional resin sealing device 100P, the entire lead frame 1 is housed in the mold 10P to perform mold clamping. Further, a pressing operation is performed simultaneously on the plurality of dies 10P. At this time,
As the number of semiconductor elements mounted on the lead frame 1, in other words, the number of cavities 11P and the number of dies 10P to be pressed at the same time increase, it is necessary to increase the press load. For this reason, the conventional resin sealing device 1
00P has a problem that the equipment becomes large and expensive.

【0009】しかも、従来の樹脂封止装置100Pで
は、プレス部21及び金型10Pの累積公差に起因し
て、各キャビティ11Pに対する各シール面圧を均一に
保つことが難しい。このため、樹脂漏れが生じやすいと
いう問題点がある。
Moreover, in the conventional resin sealing device 100P, it is difficult to keep the sealing surface pressures on the cavities 11P uniform due to the accumulated tolerance of the press section 21 and the mold 10P. For this reason, there is a problem that resin leakage easily occurs.

【0010】また、リードフレーム1上の複数の半導体
素子を同時に封止するので、個々のキャビティ11Pに
対して樹脂の流動をコントロールすることは困難であ
る。このため、従来の樹脂封止装置100Pでは、樹脂
の流動のばらつきにより惹起される成形品のばらつき等
が発生しやすいという問題点がある。
Further, since a plurality of semiconductor elements on the lead frame 1 are simultaneously sealed, it is difficult to control the flow of the resin into the individual cavities 11P. For this reason, in the conventional resin sealing device 100P, there is a problem that variations in molded products caused by variations in the flow of the resin are likely to occur.

【0011】なお、金型の精度を向上することによって
上述の不具合を解決することもできるが、かかる場合に
は金型10Pの、従って樹脂封止装置100Pのコスト
アップを招いてしまう。
Although the above-mentioned problem can be solved by improving the accuracy of the mold, in such a case, the cost of the mold 10P and therefore the cost of the resin sealing device 100P is increased.

【0012】本発明は、かかる点に鑑みてなされたもの
であり、樹脂封止用金型の小型化及び低コスト化を図る
ことを第1の目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above, and a first object of the present invention is to reduce the size and cost of a resin sealing mold.

【0013】更に、本発明は、成形不具合を従来よりも
低減可能な樹脂封止用金型を提供することを第2の目的
とする。
It is a second object of the present invention to provide a resin sealing mold capable of reducing molding defects as compared with the prior art.

【0014】また、本発明は、生産性ないしは稼働率を
向上しうる樹脂封止用金型を提供することを第3の目的
とする。
It is a third object of the present invention to provide a resin sealing mold capable of improving productivity or operating rate.

【0015】更に、本発明は、上記第1乃至第3の目的
を実現しうる半導体製造装置(樹脂封止装置)及び半導
体装置の製造方法を提供することを第4の目的とする。
Further, a fourth object of the present invention is to provide a semiconductor manufacturing apparatus (resin sealing apparatus) and a method of manufacturing a semiconductor device which can realize the first to third objects.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】(1)請求項1に記載の
発明に係る樹脂封止用金型は、複数のダイパッドを有し
各前記ダイパッド上に半導体素子が搭載された状態のリ
ードフレームに対して、各前記半導体素子を樹脂で封止
する際に用いられる樹脂封止用金型であって、前記複数
の半導体素子の内の一部の前記半導体素子を収容可能な
キャビティを有し、互いに開閉可能な第1部分及び第2
部分を備え、前記一部の半導体素子を前記キャビティ内
に収容し前記第1部分及び前記第2部分で以て前記リー
ドフレームを挟んだ状態で、前記リードフレームの搬送
経路上を搬送可能であることを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a resin molding die according to the first aspect of the present invention, which has a plurality of die pads and a lead frame in which a semiconductor element is mounted on each of the die pads. In contrast, a resin sealing mold used when sealing each of the semiconductor elements with a resin, and having a cavity capable of accommodating a part of the semiconductor elements among the plurality of semiconductor elements. A first part and a second part which can be opened and closed with respect to each other;
A part, the part of the semiconductor element is housed in the cavity, and the lead frame is sandwiched between the first part and the second part, and the semiconductor element can be transferred on a transfer path of the lead frame. It is characterized by the following.

【0017】(2)請求項2に記載の発明に係る樹脂封
止用金型は、請求項1に記載の樹脂封止用金型であっ
て、前記樹脂封止用金型を閉じる力を前記第1部分と前
記第2部分との間に加える予圧機構を更に備えることを
特徴とする。
(2) The resin sealing mold according to the second aspect of the present invention is the resin sealing mold according to the first aspect, wherein a force for closing the resin sealing mold is provided. It is characterized by further comprising a preload mechanism applied between the first part and the second part.

【0018】(3)請求項3に記載の発明に係る半導体
製造装置は、複数のダイパッドを有し各前記ダイパッド
上に半導体素子が搭載された状態のリードフレームに対
して、各前記半導体素子を樹脂で封止する半導体製造装
置であって、請求項1又は2に記載の前記樹脂封止用金
型と、前記樹脂封止用金型の開閉動作,前記搬送経路へ
前記樹脂封止用金型を投入する動作及び前記搬送経路か
ら前記樹脂封止用金型を脱出させる動作を行う金型制御
部と、前記搬送経路上の封止工程エリアに設けられて、
前記キャビティ内に収容された前記一部の半導体素子を
樹脂封止する封止動作を行う封止部と、前記リードフレ
ーム及び前記樹脂封止用金型で挟まれた状態の前記リー
ドフレームを前記搬送経路に沿って搬送する搬送部とを
備え、前記樹脂封止用金型を前記搬送経路上を搬送させ
ながら前記封止動作を行うことを特徴とする。
(3) In the semiconductor manufacturing apparatus according to the third aspect of the present invention, each of the semiconductor elements is mounted on a lead frame having a plurality of die pads and a semiconductor element mounted on each of the die pads. 3. A semiconductor manufacturing apparatus for sealing with resin, wherein the resin sealing mold according to claim 1 or 2, and the opening / closing operation of the resin sealing mold, and the resin sealing mold to the transport path. A mold control unit that performs an operation of inserting a mold and an operation of escaping the resin sealing mold from the transport path, and is provided in a sealing process area on the transport path,
A sealing portion for performing a sealing operation of resin-sealing the part of the semiconductor elements housed in the cavity, and the lead frame sandwiched between the lead frame and the resin sealing mold; And a transport unit that transports the resin along the transport path, wherein the sealing operation is performed while the resin sealing mold is transported on the transport path.

【0019】(4)請求項4に記載の発明に係る半導体
製造装置は、請求項3に記載の半導体製造装置であっ
て、前記金型制御部は、前記搬送経路から脱出した前記
樹脂封止用金型を再び前記搬送経路へ投入することを特
徴とする。
(4) The semiconductor manufacturing apparatus according to the fourth aspect of the present invention is the semiconductor manufacturing apparatus according to the third aspect, wherein the mold control unit is configured to remove the resin from the transport path. It is characterized in that a tool is again put into the transport path.

【0020】(5)請求項5に記載の発明に係る半導体
製造装置は、請求項3又は4に記載の半導体製造装置で
あって、前記樹脂封止用金型を複数備えることを特徴と
する。
(5) A semiconductor manufacturing apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the semiconductor manufacturing apparatus according to the third or fourth aspect, wherein a plurality of the resin sealing dies are provided. .

【0021】(6)請求項6に記載の発明に係る半導体
製造装置は、請求項3乃至5のいずれかに記載の半導体
製造装置であって、前記封止工程エリアは、前記キャビ
ティ内へ前記樹脂を注入する工程を行う樹脂注入工程エ
リアと、前記樹脂注入工程エリアとは異なるエリアに設
けられた、樹脂注入工程後の前記樹脂を硬化させる工程
を行うキュア工程エリアとを含み、前記封止部は、前記
樹脂注入工程エリアに、前記樹脂封止用金型を型締めす
る加圧装置を備えることを特徴とする。
(6) A semiconductor manufacturing apparatus according to a sixth aspect of the present invention is the semiconductor manufacturing apparatus according to any one of the third to fifth aspects, wherein the sealing process area is formed into the cavity. A resin injection step area for performing a step of injecting a resin, and a curing step area for performing a step of curing the resin after the resin injection step, provided in an area different from the resin injection step area; The unit is provided with a pressure device for clamping the resin sealing mold in the resin injection step area.

【0022】(7)請求項7に記載の発明に係る半導体
製造装置は、請求項3乃至6のいずれかに記載の半導体
製造装置であって、前記封止部は、樹脂封止された前記
半導体素子を前記キャビティから離型させるエジェクタ
装置を備えることを特徴とする。
(7) A semiconductor manufacturing apparatus according to a seventh aspect of the present invention is the semiconductor manufacturing apparatus according to any one of the third to sixth aspects, wherein the sealing portion is resin-sealed. An ejector device for releasing a semiconductor element from the cavity is provided.

【0023】(8)請求項8に記載の発明に係る半導体
装置の製造方法は、複数のダイパッドを有し各前記ダイ
パッド上に半導体素子が搭載された状態のリードフレー
ムに対して、各前記半導体素子を樹脂で封止する半導体
装置の製造方法であって、請求項1又は2に記載の前記
樹脂封止用金型を用い、(a)前記樹脂封止用金型を開
いて前記搬送経路へ投入し、前記一部の半導体素子を前
記キャビティ内に収容した状態で前記リードフレームを
前記樹脂封止用金型で挟むステップと、(b)前記搬送
経路上の封止工程エリアにおいて、前記キャビティ内に
収容された前記一部の半導体素子を樹脂封止する封止動
作を、前記樹脂封止用金型を前記搬送経路上を搬送しつ
つ行うステップと、(c)前記ステップ(b)の後に、
前記樹脂封止用金型を開いて、樹脂封止された前記半導
体素子を前記キャビティから離型し、前記樹脂封止用金
型を前記搬送経路から脱出させるステップとを備えるこ
とを特徴とする。
(8) The method of manufacturing a semiconductor device according to the invention described in claim 8, wherein each of the semiconductor devices is mounted on a lead frame having a plurality of die pads and a semiconductor element mounted on each of the die pads. A method for manufacturing a semiconductor device in which an element is sealed with a resin, the method comprising: (a) opening the resin sealing mold and using the resin sealing mold according to claim 1 or 2; Charging the lead frame with the resin sealing mold in a state where the part of the semiconductor elements is accommodated in the cavity; and (b) in the sealing process area on the transport path, Performing a sealing operation of resin-sealing the part of the semiconductor elements housed in the cavity while conveying the resin-sealing mold along the conveyance path; and (c) the step (b). After the,
Opening the resin sealing mold, releasing the resin-sealed semiconductor element from the cavity, and allowing the resin sealing mold to escape from the transport path. .

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】<実施の形態1> A.樹脂封止装置100の全体構成 図1〜図10を参照しつつ、実施の形態1に係る樹脂封
止装置(半導体製造装置)100を説明する。なお、樹
脂封止装置100を説明するための模式的な側面図を、
図1に示す関係で配置される図2〜図5に分割して図示
している。同様に、樹脂封止装置100を説明するため
の模式的な上面図を、図6に示す関係で配置される図7
〜図10に分割して図示している。図1等中の記号BL
23等は各図面における図示化の範囲の境界を示す。ま
た、図2及び図7に樹脂封止装置100中の同じ範囲を
図示しており、同様に図3と図8とが,図4と図9とが
及び図5と図10とがそれぞれ対応するが、図面の煩雑
化を避けるために側面図又は上面図において構成要素の
図示化を一部省略している。また、以下の説明では、水
平面内において互いに直交する方向に第1方向D1及び
第2方向D2を取り、鉛直方向ないしは垂直方向を第3
方向D3とする。
<First Embodiment> A. First Embodiment Overall Configuration of Resin Sealing Apparatus 100 A resin sealing apparatus (semiconductor manufacturing apparatus) 100 according to Embodiment 1 will be described with reference to FIGS. In addition, a schematic side view for explaining the resin sealing device 100,
It is divided and shown in FIGS. 2 to 5 arranged in the relationship shown in FIG. Similarly, a schematic top view for explaining the resin sealing device 100 is shown in FIG.
10 to FIG. Symbol BL in FIG. 1 etc.
Reference numeral 23 indicates a boundary of a range of illustration in each drawing. 2 and 7 show the same area in the resin sealing device 100. Similarly, FIGS. 3 and 8 correspond to FIGS. 4 and 9, and FIGS. 5 and 10 correspond respectively. However, some components are not shown in the side view or the top view in order to avoid complication of the drawings. In the following description, the first direction D1 and the second direction D2 are taken in directions that are orthogonal to each other in a horizontal plane, and the vertical direction or the vertical direction is the third direction.
It is assumed that the direction is D3.

【0025】まず、樹脂封止装置100における製造対
象のリードフレーム1を説明する。リードフレーム1は
複数のダイパッド(図示せず)を有しており、各ダイパ
ッド上に1個又は複数個の半導体チップないしは半導体
素子が搭載されてワイヤーボンディングが施されてい
る。なお、図7等ではこれらの詳細な図示化を省略し、
樹脂封止される領域(以下「封止領域」と呼ぶ)1Aを
破線で囲んで模式的に図示している。1つのダイパッド
上に複数の半導体素子が搭載される場合があるが、以下
の説明ではそのような場合には当該複数の半導体素子の
総称を「半導体素子」と呼ぶ。ここでは、リードフレー
ム1は、搬送経路上を載置された状態において第1方向
D1及び第2方向D2に沿ってそれぞれ8個及び2個
(計16個)の封止領域1Aを有する場合を一例に挙げ
て説明する。
First, the lead frame 1 to be manufactured in the resin sealing device 100 will be described. The lead frame 1 has a plurality of die pads (not shown), and one or a plurality of semiconductor chips or semiconductor elements are mounted on each die pad and wire bonding is performed. In FIG. 7 and the like, these detailed illustrations are omitted,
A region (hereinafter referred to as a “sealing region”) 1A to be resin-sealed is schematically illustrated with a broken line. A plurality of semiconductor elements may be mounted on one die pad. In the following description, in such a case, the plurality of semiconductor elements will be collectively referred to as “semiconductor elements”. Here, the case where the lead frame 1 has eight and two (a total of 16) sealing regions 1A along the first direction D1 and the second direction D2 in a state where the lead frame 1 is placed on the transport path is described. An example will be described.

【0026】図1〜図10に示すように、樹脂封止装置
100は、搬送部110(図示せず)と、リードフレー
ム供給部120(図2及び図7参照)と、樹脂タブレッ
ト供給部130(図7参照)と、樹脂成形部140(図
3及び図8参照)と、ゲートブレーク部160(図4及
び図9参照)と、成形品排出部170(図5及び図10
参照)とを備える。
As shown in FIGS. 1 to 10, the resin sealing device 100 includes a transport section 110 (not shown), a lead frame supply section 120 (see FIGS. 2 and 7), and a resin tablet supply section 130. (See FIG. 7), a resin molding section 140 (see FIGS. 3 and 8), a gate break section 160 (see FIGS. 4 and 9), and a molded article discharge section 170 (see FIGS. 5 and 10).
Reference).

【0027】搬送部110は、所定の搬送経路(ここで
は第1方向D1とする)に沿って敷設された搬送レール
111と、上記所定の搬送経路に沿ってリードフレーム
1を搬送する搬送機構(図示せず)とを備える。
The transport section 110 includes a transport rail 111 laid along a predetermined transport path (here, the first direction D1) and a transport mechanism (to transport the lead frame 1 along the predetermined transport path). (Not shown).

【0028】以下の説明より明らかとなるが、搬送部1
10は、(i)収納マガジン121から搬送レール11
1へ移載されたリードフレーム1を樹脂成形部140へ
搬送し、(ii)樹脂成形部140において、金型10
に挟まれた状態のリードフレーム1を(換言すればリー
ドフレーム1を挟んだ状態の金型10を)搬送し、(i
ii)樹脂成形後に金型10から開放されたリードフレ
ーム1を、成形品排出部170の移載機171による移
載動作位置へ搬送する。このとき、上記(i)〜(ii
i)の各搬送動作をそれぞれに異なる搬送機構で行う場
合、それら複数の搬送機構の総称が「(搬送部110
の)搬送機構」にあたる。
As will be apparent from the following description, the transport unit 1
Reference numeral 10 denotes (i) the transport rail 11 from the storage magazine 121
1 is transported to the resin molding section 140, and (ii) the mold 10
Is transported (in other words, the mold 10 with the lead frame 1 sandwiched therebetween), and (i)
ii) The lead frame 1 released from the mold 10 after resin molding is transported to a transfer operation position by the transfer machine 171 of the molded article discharge section 170. At this time, the above (i) to (ii)
When each transport operation of i) is performed by a different transport mechanism, the plurality of transport mechanisms are collectively called "(transport unit 110
A) transport mechanism.

【0029】リードフレーム供給部120は移載機(図
示せず)を備え、当該移載機によって収納マガジン12
1(図2及び図7参照)からリードフレーム1を抜き出
し、搬送レール111上へ移載する。
The lead frame supply section 120 includes a transfer machine (not shown), and the storage magazine 12 is moved by the transfer machine.
1 (see FIGS. 2 and 7), the lead frame 1 is extracted and transferred onto the transport rail 111.

【0030】図7に示すように、樹脂タブレット供給部
130は移載機131を備え、当該移載機131によっ
て載置台132上の樹脂ないしは樹脂タブレット2を樹
脂封止用金型(以下単に「金型」とも呼ぶ)10のポッ
ト12(後述の図11参照)内のプランジャ(図示せ
ず)上へ移載する。
As shown in FIG. 7, the resin tablet supply unit 130 includes a transfer machine 131, and the resin or the resin tablet 2 on the mounting table 132 is transferred by the transfer machine 131 to a resin-sealing mold (hereinafter simply referred to as a “mold”). The mold 10 is transferred onto a plunger (not shown) in a pot 12 (see FIG. 11 described later).

【0031】樹脂成形部140は、金型10を用いてリ
ードフレーム1上の半導体素子を樹脂封止する。樹脂成
形部140及び金型10については後に詳述する。
The resin molding section 140 uses the mold 10 to resin seal the semiconductor element on the lead frame 1. The resin molding 140 and the mold 10 will be described later in detail.

【0032】図4及び図9に示すように、ゲートブレー
ク部160はパンチ161A及びダイ161Bを有する
ゲートブレーク装置161を備え、当該ゲートブレーク
装置161によって、樹脂封止後に樹脂パッケージ2A
からはみ出したカルやゲート残り等の不要な樹脂2Bを
取り除く。
As shown in FIGS. 4 and 9, the gate breaker 160 includes a gate breaker 161 having a punch 161A and a die 161B.
Unnecessary resin 2 </ b> B, such as a bulged portion and a remaining gate, is removed.

【0033】図5及び図10に示すように、成形品排出
部170は移載機171を備え、当該移載機171によ
って、半導体素子が樹脂封止された状態のリードフレー
ム1を搬送レール111から収納マガジン172へ移載
する。
As shown in FIGS. 5 and 10, the molded article discharging section 170 includes a transfer device 171. The transfer device 171 transfers the lead frame 1 with the semiconductor element sealed with resin to the transfer rail 111. From the storage magazine 172.

【0034】上述のリードフレーム1の搬送機構や、リ
ードフレーム供給部120の移載機及び移載機131,
171等として、公知の種々の機構が適用可能である。
The transfer mechanism of the lead frame 1 described above, the transfer device of the lead frame supply unit 120, and the transfer devices 131, 131
As 171 or the like, various known mechanisms can be applied.

【0035】B.金型10の構造 樹脂成形部140を詳述する前に、樹脂封止装置100
で使用される金型10を説明する。図11及び図12に
それぞれ金型10を説明するための模式的な斜視図及び
側面図(背面図)を示す。なお、図11及び図12中の
第1方向D1〜第3方向D3は、樹脂封止装置100に
おける金型10の姿勢(図8等参照)に合わせている。
また、説明の便宜上の理由により、図11及び図12で
は金型10が開いた状態を図示している。
B. Before the resin molding part 140 is described in detail, the resin sealing device 100
Will be described. FIGS. 11 and 12 are a schematic perspective view and a side view (rear view) for explaining the mold 10, respectively. Note that the first direction D1 to the third direction D3 in FIGS. 11 and 12 match the posture of the mold 10 in the resin sealing device 100 (see FIG. 8 and the like).
For convenience of explanation, FIGS. 11 and 12 show a state in which the mold 10 is open.

【0036】金型10は、樹脂封止装置100において
固定されてはおらず、リードフレーム1の搬送経路上を
搬送可能である。
The mold 10 is not fixed in the resin sealing device 100 but can be transported on the transport path of the lead frame 1.

【0037】詳細には、金型10は、互いに開閉可能な
上金型(第1部分)10U及び下金型(第2部分)10
Lを備えている。上金型10U及び下金型10Lの互い
に向き合う面にそれぞれキャビティ11U,11Lが対
面して形成されており、両キャビティ11U,11Lで
以て、半導体装置の樹脂パッケージ2A(図3参照)の
形状に対応したキャビティ11を成す。
More specifically, the mold 10 comprises an upper mold (first part) 10U and a lower mold (second part) 10U which can be opened and closed with each other.
L is provided. Cavities 11U and 11L are formed on the mutually facing surfaces of the upper mold 10U and the lower mold 10L, respectively, and the shape of the resin package 2A (see FIG. 3) of the semiconductor device is formed by the two cavities 11U and 11L. Is formed.

【0038】金型10は第2方向D2に沿って並ぶ2つ
のキャビティ11(総称して「キャビティ11A」とも
呼ぶ)を有し、各キャビティ11はリードフレーム1の
第2方向D2に沿って並ぶ2つの封止領域1Aに対応し
て形成されている。即ち、金型10は、リードフレーム
1に搭載された8個の半導体素子の内の第2方向D2に
沿って並ぶ2個をキャビティ11A(2つのキャビティ
11)内に収容して、これらを同時に樹脂封止する。こ
のため、金型10の第1方向D1に沿った寸法は、リー
ドフレーム1の同寸法よりも短い。
The mold 10 has two cavities 11 (generally referred to as "cavities 11A") arranged in the second direction D2, and each cavity 11 is arranged in the second direction D2 of the lead frame 1. It is formed corresponding to the two sealing regions 1A. That is, the mold 10 accommodates two of the eight semiconductor elements mounted on the lead frame 1 arranged in the second direction D2 in the cavity 11A (two cavities 11), and simultaneously accommodates these. Resin sealing. Therefore, the dimension of the mold 10 along the first direction D1 is shorter than the dimension of the lead frame 1.

【0039】下金型10Lは樹脂タブレット2を収容す
るポット12を有し、ポット12と2つのキャビティ1
1Lとの間に樹脂の注入経路であるランナ13が形成さ
れている。なお、ポット12内にプランジャ(図示せ
ず)が配置されている。
The lower mold 10L has a pot 12 for accommodating the resin tablet 2, and the pot 12 and the two cavities 1
A runner 13 which is a resin injection path is formed between the runner 13 and 1L. Note that a plunger (not shown) is arranged in the pot 12.

【0040】特に、下金型10Lは、上金型10Uに向
かって第3方向D3に伸びる2本の棒16Aを有してお
り、当該棒16Aは、上金型10Uを第3方向D3に貫
いて形成された貫通孔16Bに挿入されている。このと
き、上金型10Uが第3方向D3に沿って移動しうるよ
うに、棒16が貫通孔16Bに挿入されている。棒16
Aの、貫通孔16Bから突出した部分にバネ16Cが挿
入されており、貫通孔16Bから突出した側の、棒16
Aの端部16ATは庇形状に形成されている。
In particular, the lower mold 10L has two bars 16A extending in the third direction D3 toward the upper mold 10U. The bars 16A move the upper mold 10U in the third direction D3. It is inserted into a through hole 16B formed therethrough. At this time, the rod 16 is inserted into the through hole 16B so that the upper mold 10U can move along the third direction D3. Rod 16
A, a spring 16C is inserted into a portion protruding from the through hole 16B, and a rod 16A on the side protruding from the through hole 16B.
The end 16AT of A is formed in an eaves shape.

【0041】このとき、バネ16Cの復元力により上金
型10Uは下金型10Lの方へ押される。即ち、棒16
A及びバネ16Cを含む予圧機構は、上金型10Uと下
金型10Lとの間に金型10を閉じる力を加える。な
お、バネ16Cに変えて他の付勢手段等によって上述の
金型10を閉じる力を与えても構わない。
At this time, the upper mold 10U is pushed toward the lower mold 10L by the restoring force of the spring 16C. That is, the rod 16
A preload mechanism including A and a spring 16C applies a force to close the mold 10 between the upper mold 10U and the lower mold 10L. Note that, instead of the spring 16C, a force for closing the above-described mold 10 may be given by another urging means or the like.

【0042】また、図12に示すように、上金型10U
及び下金型10Lの第2方向D2における一方の側面に
それぞれ穴17が形成されている。穴17の開口部の一
部は庇部17Hによって狭められている。
As shown in FIG. 12, the upper mold 10U
A hole 17 is formed on one side surface of the lower mold 10L in the second direction D2. Part of the opening of the hole 17 is narrowed by the eaves 17H.

【0043】C.樹脂成形部140の構成 ここで、樹脂封止装置100を説明するための模式的な
上面図を図13に示す。図13は図8に対応し、特に樹
脂成形部140の各エリア(後述する)を中心に図示し
ている。図13,図3及び図8を参照しつつ、樹脂成形
部140を説明する。
C. Configuration of Resin Molding Section 140 Here, a schematic top view for explaining the resin sealing device 100 is shown in FIG. FIG. 13 corresponds to FIG. 8, and particularly illustrates each area (described later) of the resin molding section 140. The resin molding 140 will be described with reference to FIGS. 13, 3 and 8.

【0044】図13に示すように、樹脂成形部140
は、搬送経路5中の金型投入エリアAR1,封止工程エ
リアAR2及び金型脱出エリアAR3と、搬送経路5に
対向して設けられた金型待機エリアAR0とに大別され
る。なお、金型待機エリアAR0は、搬送経路5上に載
置された金型10の穴17に対面する側に設けられる。
As shown in FIG. 13, the resin molding 140
Are roughly divided into a mold input area AR1, a sealing step area AR2, and a mold escape area AR3 in the transport path 5, and a mold standby area AR0 provided opposite to the transport path 5. The mold waiting area AR0 is provided on the side facing the hole 17 of the mold 10 placed on the transport path 5.

【0045】C−1.金型待機エリアAR0 金型待機エリアAR0は、(a)次に金型投入エリアA
R1へ投入される金型10を待機しておくための投入待
機エリアAR01と、(b)金型脱出エリアAR3から
脱出した金型10を回収・収容するための回収エリアA
R02とを含む。
C-1. Die standby area AR0 Die standby area AR0 is (a) mold input area A
A charging standby area AR01 for waiting for the mold 10 to be charged into R1, and a collection area A for collecting and storing the mold 10 escaped from the mold escape area AR3 (b).
R02.

【0046】そして、投入待機エリアAR01と金型投
入エリアAR1とを結んで、金型10を搬送するための
搬送レール141が敷設されている。ここでは、搬送レ
ール141が第2方向D2に沿って敷設されている場合
を図示している。
Then, a transfer rail 141 for transferring the mold 10 is laid between the loading standby area AR01 and the mold loading area AR1. Here, the case where the transport rail 141 is laid along the second direction D2 is illustrated.

【0047】そして、搬送レール141の搬送経路5と
は反対側の終点に、金型開閉装置1431及び金型前後
動装置1432(総称して「金型投入装置143」とも
呼ぶ)が配置されている。
A mold opening / closing device 1431 and a mold back-and-forth moving device 1432 (generically referred to as a “mold loading device 143”) are arranged at an end point of the carrying rail 141 opposite to the carrying path 5. I have.

【0048】ここで、図14に、金型開閉装置1431
及び金型前後動装置1432の動作を説明するための模
式的な斜視図を示す。図14に示すように、金型開閉装
置1431は、下金型用の連結部1431Lと、当該連
結部に対して第3方向D3に沿った移動(上下動)が可
能な上金型用の連結部1431Uとを備え、搬送レール
141上を第2方向D2に沿って搬送可能に配置されて
いる。
FIG. 14 shows a mold opening / closing device 1431.
And a schematic perspective view for explaining the operation of the die longitudinal movement device 1432. As shown in FIG. 14, the mold opening / closing device 1431 includes a lower mold connecting portion 1431L and an upper mold movable portion that can move (vertically move) in the third direction D3 with respect to the connecting portion. And a connecting portion 1431U, and are arranged so as to be able to be transported on the transport rail 141 along the second direction D2.

【0049】連結部1431U,1431Lの各々は、
第2方向D2に沿って配置された連結棒1431Aと、
当該連結棒1431Aを第2方向D2に沿って移動(前
後動)させる機構及び軸回りに回転させる機構とを備え
る。図15の斜視図に示すように、連結棒1431Aの
端部1431ATは、金型10の穴17へ挿入可能な形
状であると共に当該穴17への挿入後に当該連結棒14
31Aを軸回りに所定量(例えば90゜)だけ回転させ
ると庇部17Hと係合可能な形状を有する。
Each of the connecting portions 1431U and 1431L is
A connecting rod 1431A arranged along the second direction D2,
A mechanism for moving the connection rod 1431A in the second direction D2 (moving forward and backward) and a mechanism for rotating the connection rod 1431A around an axis are provided. As shown in the perspective view of FIG. 15, the end 1431AT of the connecting rod 1431A has a shape that can be inserted into the hole 17 of the mold 10 and the connecting rod 1431A after being inserted into the hole 17.
When 31A is rotated by a predetermined amount (for example, 90 °) around the axis, it has a shape capable of engaging with the eaves portion 17H.

【0050】かかる構成により、金型開閉装置1431
は予圧機構によって閉ざされた状態の金型10を以下の
ようにして開く。まず、上金型10U及び下金型10L
の各穴17に各連結部1431U,1431Lの各連結
棒1431Aが対向するように、連結部1431Uが上
下動する。その後、各連結部1431U,1431Lが
各連結棒1431Aを各穴17へ挿入して回転させるこ
とにより、各連結部1431U,1431Lと上金型1
0U及び下金型10Lとを係合させる。かかる係合状態
から、上金型用の連結部1431Uが下金型用の連結部
1431Lから離れる方向へ(上方へ)移動することに
より、金型10が開かれる。逆の動作によって金型10
を閉じることも可能である。
With this configuration, the mold opening / closing device 1431
Opens the mold 10 closed by the preload mechanism as follows. First, the upper mold 10U and the lower mold 10L
The connecting portion 1431U moves up and down such that the connecting rods 1431A of the connecting portions 1431U and 1431L face the holes 17 of the above. After that, each connecting part 1431U, 1431L inserts each connecting rod 1431A into each hole 17 and rotates, thereby connecting each connecting part 1431U, 1431L and the upper mold 1.
0U and the lower mold 10L are engaged. From this engagement state, the mold 10 is opened by moving (upward) the connecting portion 1431U for the upper mold away from the connecting portion 1431L for the lower mold. Mold 10
It is also possible to close.

【0051】金型開閉装置1431に対して搬送経路5
から遠い側に金型前後動装置1432が配置されてい
る。金型前後動装置1432は、第2方向D2に沿って
配置された軸1432Aと、当該軸1432Aを第2方
向D2に沿って移動(前後動)させる機構とを備える。
軸1432Aの一端は金型開閉装置1431に結合して
いる。かかる構成により、金型前後動装置1432が軸
14を前後動させることによって、金型開閉装置143
1を前後動させることができ、又、金型開閉装置143
1が金型10と係合している場合には金型10を前後動
させることができる。
The transfer path 5 for the mold opening / closing device 1431
The mold front-rear movement device 1432 is arranged on the side far from the side. The mold longitudinal movement device 1432 includes a shaft 1432A arranged along the second direction D2 and a mechanism for moving (moving forward and backward) the shaft 1432A along the second direction D2.
One end of the shaft 1432A is connected to the mold opening / closing device 1431. With this configuration, the mold opening / closing device 143 is moved by the mold back-and-forth moving device 1432 moving the shaft 14 back and forth.
1 can be moved back and forth.
When 1 is engaged with the mold 10, the mold 10 can be moved back and forth.

【0052】なお、金型開閉装置1431及び金型前後
動装置1432における上述の前後動及び上下動は、例
えばボールねじ機構やシリンダ機構等の種々の機構によ
り実施可能である。
The above-described longitudinal movement and vertical movement in the mold opening / closing device 1431 and the mold longitudinal movement device 1432 can be performed by various mechanisms such as a ball screw mechanism and a cylinder mechanism.

【0053】同様に、回収エリアAR02と金型脱出エ
リアAR3とを結んで、金型10を搬送するための搬送
レール142が敷設されている。そして、搬送レール1
42の搬送経路5とは反対側の終点に、金型開閉装置1
441及び金型前後動装置1442(総称して「金型回
収装置144」とも呼ぶ)が配置されている。金型開閉
装置1441及び金型前後動装置1442はそれぞれ上
述の金型開閉装置1431及び金型前後動装置1432
と同様の構成を有して同様の動作が可能である。
Similarly, a transport rail 142 for transporting the mold 10 is laid between the collection area AR02 and the mold escape area AR3. And the transport rail 1
42, the mold opening and closing device 1
441 and a die back-and-forth moving device 1442 (also collectively referred to as a “die collecting device 144”) are arranged. The mold opening / closing device 1441 and the mold longitudinal movement device 1442 are respectively the above-described mold opening / closing device 1431 and the mold longitudinal movement device 1432.
And the same operation is possible.

【0054】更に、金型待機エリアAR0には、回収エ
リアAR02から投入待機エリアAR01へ(及びその
逆方向へ)金型10を移送する金型移送機145が設け
られている。
Further, the mold standby area AR0 is provided with a mold transfer machine 145 for transferring the mold 10 from the collection area AR02 to the charging standby area AR01 (and in the opposite direction).

【0055】なお、以下の説明では、金型投入装置14
3,金型回収装置144及び金型移送機145を含む構
成を「金型制御部140A」とも呼ぶ。即ち、金型制御
部140Aは、(a)金型10の開閉動作,(b)金型
待機エリアAR0から金型投入エリアAR1へ金型10
を投入する動作,(c)金型脱出エリアAR03から金
型待機エリアAR0へ金型10を脱出・回収する動作及
び(d)金型待機エリアAR0内における金型の移動を
行う。
In the following description, the mold loading device 14
3, the configuration including the mold recovery device 144 and the mold transfer machine 145 is also referred to as a “mold control unit 140A”. That is, the mold control unit 140A performs (a) opening and closing operation of the mold 10, and (b) the mold 10 from the mold standby area AR0 to the mold input area AR1.
(C) an operation to escape and recover the mold 10 from the mold escape area AR03 to the mold standby area AR0, and (d) a movement of the mold in the mold standby area AR0.

【0056】更に、金型待機エリアAR0には、回収エ
リアAR02に対向して金型クリーナ146が設けられ
ている。金型クリーナ146は、第1方向D1に沿って
移動可能であり、回収エリアAR02へ回収された金型
10の側へ移動する。また、金型クリーナ146は紫外
線照射装置,ブラシ等(図示せず)を有しており、金型
10に付着・残留している樹脂を紫外線照射によって分
解し、金型10をブラシによってブラシ洗浄する。かか
る洗浄により発生した樹脂残等のダストは吸引器146
Aによって吸引される。
Further, a mold cleaner 146 is provided in the mold standby area AR0 so as to face the collection area AR02. The mold cleaner 146 is movable along the first direction D1, and moves toward the mold 10 collected in the collection area AR02. The mold cleaner 146 has an ultraviolet irradiation device, a brush, and the like (not shown), decomposes the resin adhering and remaining on the mold 10 by ultraviolet irradiation, and cleans the mold 10 with a brush using a brush. I do. Dust such as resin residue generated by the washing is sucked by the suction device 146.
A sucked.

【0057】C−2.封止工程エリアAR2 封止工程エリアAR2は、樹脂注入工程エリアAR21
と、当該エリアAR21よりも搬送経路5の下流に位置
したキュア工程エリアAR22とを含む。
C-2. Sealing process area AR2 The sealing process area AR2 is a resin injection process area AR21.
And a curing step area AR22 located downstream of the transport path 5 from the area AR21.

【0058】樹脂注入工程エリアAR21には、加圧装
置151(図3参照),プランジャ押し上げ装置152
(図3参照)及び真空排気装置153(図8参照)が設
けられている。なお、上述の加圧装置151及びプラン
ジャ押し上げ装置152等を含む「封止部」が、封止工
程エリアAR2において、キャビティ11A内に収容さ
れた、2つの封止領域1Aの半導体素子を樹脂封止す
る。
In the resin injection process area AR21, a pressing device 151 (see FIG. 3), a plunger lifting device 152
(See FIG. 3) and an evacuation device 153 (see FIG. 8). Note that a “sealing portion” including the above-described pressurizing device 151 and plunger pushing-up device 152 is used to seal the semiconductor elements of the two sealing regions 1A housed in the cavity 11A in the sealing process area AR2. Stop.

【0059】加圧装置151は搬送レール111の上方
に配置されており、上金型10Uに荷重を加えることに
よって1つの金型10のみを型締めする。プランジャ押
し上げ装置152は搬送レール111の下方に配置され
ており、第3方向D3に沿って配置されたプランジャ押
し上げ棒152Aと、当該プランジャ押し上げ棒152
Aを第3方向D3に沿って移動(上下動)させる機構と
を備える。プランジャ押し上げ棒152Aは、樹脂注入
工程エリアAR21上の金型10のプランジャを下方か
ら突き上げ可能な位置に配置されている。
The pressing device 151 is disposed above the transport rail 111, and clamps only one mold 10 by applying a load to the upper mold 10U. The plunger push-up device 152 is disposed below the transport rail 111, and includes a plunger push-up bar 152A arranged along the third direction D3, and the plunger push-up bar 152.
And a mechanism for moving A up and down along the third direction D3. The plunger push-up bar 152A is arranged at a position where the plunger of the mold 10 on the resin injection process area AR21 can be pushed up from below.

【0060】真空排気装置153は真空ポンプを備え、
当該真空ポンプは樹脂注入工程エリアAR21上の金型
10に配管を介して接続される。真空排気装置153
は、当該真空ポンプによって金型10内の空間を排気し
て上金型10U及び下金型10Lとリードフレーム1と
を密着させる。
The evacuation device 153 includes a vacuum pump.
The vacuum pump is connected to the mold 10 on the resin injection process area AR21 via a pipe. Evacuation device 153
In this case, the space inside the mold 10 is evacuated by the vacuum pump to bring the lead frame 1 into close contact with the upper mold 10U and the lower mold 10L.

【0061】C−3.金型脱出エリア 金型脱出エリアAR3には、搬送レール111の上方及
び下方にエジェクタ装置(ないしはノックアウト装置)
155が配置されている。エジェクタ装置155は、第
3方向D3に沿って配置されたエジェクタ棒155A
と、当該エジェクタ棒155Aを第3方向D3に沿って
移動(上下動)させる機構とを備える。エジェクタ装置
155は、成形品を金型10から取り出す際にエジェク
タ棒155Aをキャビティ11内へ突き出す。
C-3. Mold escape area In the mold escape area AR3, an ejector device (or knockout device) is provided above and below the transport rail 111.
155 are arranged. The ejector device 155 includes an ejector rod 155A arranged along the third direction D3.
And a mechanism for moving (moving up and down) the ejector bar 155A along the third direction D3. The ejector device 155 projects the ejector rod 155 </ b> A into the cavity 11 when removing the molded product from the mold 10.

【0062】D.樹脂封止装置100の動作 次に、上述の図1〜図15に加えて図16〜図20のフ
ローチャートを参照しつつ、樹脂封止装置100の動作
を説明する。ここでは、動作の理解を助けるために、1
つの金型10の動きないしは流れに注目して説明するも
のとし、図16〜図20には1つの金型10の流れを説
明するためのフローチャートを示す。なお、図17〜図
20は、図16中の各ステップST10,ST20,S
T30,ST40のより詳細なフローチャートである。
また、搬送レール111上にはリードフレーム1が載置
されていない状態からの動作を説明する。
D. Operation of Resin Sealing Device 100 Next, the operation of the resin sealing device 100 will be described with reference to the flowcharts of FIGS. 16 to 20 in addition to FIGS. 1 to 15 described above. Here, to help understand the operation, 1
The following description focuses on the movement or flow of one mold 10, and FIGS. 16 to 20 show flowcharts for explaining the flow of one mold 10. 17 to 20 show steps ST10, ST20, and S in FIG.
It is a more detailed flowchart of T30 and ST40.
The operation from the state where the lead frame 1 is not mounted on the transport rail 111 will be described.

【0063】D−1.金型投入ステップST10(図1
7参照) 移載機によって収納マガジン121からリードフレーム
1を取り出し、搬送レール111上へ移載する。搬送レ
ール111上に載置されたリードフレーム1を上述の搬
送機構によって樹脂成形部140まで搬送する(ステッ
プST11)。このとき、搬送機構は、搬送方向におけ
る最も下流側の、リードフレーム1の封止領域1A(第
2方向D2に並ぶ2つの封止領域1A)が金型投入エリ
アAR1の所定の位置に到達した時点で、リードフレー
ム1の搬送を停止する。
D-1. Mold input step ST10 (FIG. 1)
7) The lead frame 1 is taken out of the storage magazine 121 by the transfer machine and is transferred onto the transport rail 111. The lead frame 1 placed on the transport rail 111 is transported to the resin molding section 140 by the transport mechanism described above (step ST11). At this time, in the transport mechanism, the sealing area 1A of the lead frame 1 (the two sealing areas 1A arranged in the second direction D2) on the most downstream side in the transport direction has reached a predetermined position in the mold input area AR1. At this point, the transport of the lead frame 1 is stopped.

【0064】そして、予め投入待機エリアAR01に準
備された金型10を、金型開閉装置1431によって開
き、金型前後動装置1432によって当該開いた状態の
金型10を搬送経路5へ向けて前進させて金型投入エリ
アAR1へ投入する(ステップST12;図3中の最左
の金型を参照)。金型投入エリアAR1へ投入された金
型10のポット12へ、載置台132上の樹脂タブレッ
ト2を移載機131によって供給する(ステップST1
3)。
Then, the mold 10 previously prepared in the loading standby area AR01 is opened by the mold opening / closing device 1431, and the opened mold 10 is advanced toward the transport path 5 by the mold back-and-forth moving device 1432. Then, the mold is loaded into the mold loading area AR1 (step ST12; see the leftmost mold in FIG. 3). The resin tablet 2 on the mounting table 132 is supplied by the transfer machine 131 to the pot 12 of the mold 10 placed in the mold loading area AR1 (step ST1).
3).

【0065】そして、金型開閉装置1431によって金
型10を閉じて(図21の最左の金型を参照)、上金型
10Uと下金型10Lとでリードフレーム1を挟む。こ
のとき、リードフレーム1に搭載された8個の半導体素
子内で金型投入エリアAR1にセッティングされた上述
の(2つの)封止領域1Aの半導体素子を、キャビティ
11A(2つのキャビティ11)内に収容する(ステッ
プST14)。その後、金型投入装置143を金型待機
エリアAR0へ後退させる(ステップST15)。具体
的には、金型開閉装置1431の連結棒1431Aと金
型10との係合を解除し、金型前後動装置1432によ
って金型開閉装置1431を金型待機エリアAR0へ後
退させる。
Then, the mold 10 is closed by the mold opening / closing device 1431 (see the leftmost mold in FIG. 21), and the lead frame 1 is sandwiched between the upper mold 10U and the lower mold 10L. At this time, among the eight semiconductor elements mounted on the lead frame 1, the semiconductor elements in the (two) sealing areas 1A set in the mold input area AR1 are transferred into the cavities 11A (two cavities 11). (Step ST14). Thereafter, the mold input device 143 is moved backward to the mold standby area AR0 (step ST15). Specifically, the engagement between the connecting rod 1431A of the mold opening / closing device 1431 and the mold 10 is released, and the mold opening / closing device 1431 is retracted to the mold standby area AR0 by the mold longitudinal movement device 1432.

【0066】このとき、金型開閉装置1431が金型1
0から切り離された後であって、金型10の予圧機構の
作用によって具体的にはバネ16Cの復元力によって、
金型10はリードフレーム1を確実に挟持することがで
きる。
At this time, the mold opening / closing device 1431 is
0, and specifically by the action of the preload mechanism of the mold 10, specifically by the restoring force of the spring 16C.
The mold 10 can securely hold the lead frame 1.

【0067】D−2.封止動作ステップST20(図1
8参照) 次に、搬送機構によってリードフレーム1を、換言すれ
ばリードフレーム1を挟んだ状態の金型10を搬送し、
上述の2つの封止領域1Aないしは金型10を樹脂注入
工程エリアAR21へ移送する(ステップST21)。
D-2. Sealing operation step ST20 (FIG. 1
Next, the lead frame 1, in other words, the mold 10 sandwiching the lead frame 1 is transported by the transport mechanism,
The two sealing regions 1A or the mold 10 described above are transferred to the resin injection process area AR21 (step ST21).

【0068】そして、図21に示すように、加圧装置1
51により1つの金型10を型締めする(ステップST
22)。このとき、樹脂の射出時に樹脂漏れが発生しな
い大きさのシール面圧を与える荷重で以て型締めを実施
する。その後、プランジャ押し上げ装置152がプラン
ジャ押し上げ棒152Aを上昇させて、ポット12(図
11参照)内のプランジャを突き上げる。これにより、
ポット12内の樹脂をキャビティ11(又は11A)内
に射出する(ステップST23)。
Then, as shown in FIG.
One mold 10 is clamped by 51 (step ST).
22). At this time, mold clamping is performed with a load that applies a sealing surface pressure that does not cause resin leakage during resin injection. Thereafter, the plunger push-up device 152 raises the plunger push-up bar 152A to push up the plunger in the pot 12 (see FIG. 11). This allows
The resin in the pot 12 is injected into the cavity 11 (or 11A) (step ST23).

【0069】射出が完了して一定時間が経過した後、加
圧装置151による型締めを解除すると共に、プランジ
ャ押し上げ棒152Aを引き下げる(ステップST2
4)。この際、金型10の予圧機構によるリードフレー
ム1の挟持は保持されているので、成形不具合の発生を
抑制することができる。
After a certain period of time has elapsed from the completion of the injection, the mold clamping by the pressurizing device 151 is released, and the plunger push-up rod 152A is lowered (step ST2).
4). At this time, since the holding of the lead frame 1 by the preload mechanism of the mold 10 is held, occurrence of molding defects can be suppressed.

【0070】そして、搬送機構によってリードフレーム
1の上述の2つの封止領域1Aを、換言すればリードフ
レーム1を挟んだ状態の金型10をキュア工程エリアA
R22へ搬送する(ステップST25)。キュア工程エ
リアAR22では、所定の時間(キュア時間)だけ金型
10を放置して、射出後の樹脂を十分に硬化させる(ス
テップST26)。なお、「封止動作」とは上述の樹脂
の射出及びキュアを含み、このとき、樹脂封止装置10
0によれば金型10を搬送経路5上を搬送させつつ封止
動作を行う。
Then, the above-described two sealing areas 1A of the lead frame 1 by the transfer mechanism, in other words, the mold 10 with the lead frame 1 sandwiched therebetween is cured by the curing process area A.
It is transported to R22 (step ST25). In the curing step area AR22, the mold 10 is left for a predetermined time (curing time) to sufficiently cure the resin after the injection (step ST26). The “sealing operation” includes the above-described resin injection and curing, and at this time, the resin sealing device 10
According to 0, the sealing operation is performed while the mold 10 is transported on the transport path 5.

【0071】なお、図3等ではキュア工程エリアAR2
2が1カ所だけの場合、換言すればリードフレーム1の
第1方向D1に沿った1ピッチ分だけの場合を図示して
いるが、キュア時間や、樹脂注入工程エリアAR21で
の所要時間等の樹脂封止装置100の動作速度に基づい
てキュア工程エリアAR22を複数ピッチ分設けても構
わない。このとき、複数ピッチ分での合計時間がキュア
時間を越えるように、キュア工程エリアAR22の設置
数を規定する。
In FIG. 3 and the like, the curing process area AR2
2 shows only one location, in other words, only one pitch of the lead frame 1 along the first direction D1 is shown, but the cure time, the time required in the resin injection process area AR21, and the like are shown. The curing process area AR22 may be provided for a plurality of pitches based on the operation speed of the resin sealing device 100. At this time, the number of cure process areas AR22 is set so that the total time for a plurality of pitches exceeds the cure time.

【0072】D−3.金型脱出ステップST30(図1
9参照) キュア時間が経過した後、搬送機構によって、金型10
ないしは上述の2つの封止エリア1Aを金型脱出エリア
AR3へ搬送する(ステップST31)。
D-3. Mold escape step ST30 (FIG. 1)
9) After the curing time has passed, the transfer mechanism causes the mold 10
Alternatively, the two sealing areas 1A described above are transported to the mold escape area AR3 (step ST31).

【0073】その後、金型回収装置144を、具体的に
は金型前後動装置1442によって金型開閉装置144
1を金型脱出エリアAR3へ向けて前進させる(ステッ
プST32)。そして、金型開閉装置1441の連結棒
1441Aを金型10に係合して、金型10を開く。こ
の際、少なくとも金型10の上方のエジェクタ装置15
5はエジェクタ棒155Aを突き出し、金型10の開動
作を確実化させる。金型10の開動作と同時に或いはそ
の後、エジェクタ装置155によりキャビティ11から
成形品を離型する(ステップST33)。
After that, the mold collecting device 144 is moved to the mold opening / closing device 144 by the mold longitudinal movement device 1442.
1 is advanced toward the mold escape area AR3 (step ST32). Then, the connecting rod 1441A of the mold opening / closing device 1441 is engaged with the mold 10, and the mold 10 is opened. At this time, at least the ejector device 15 above the mold 10
5 protrudes the ejector rod 155A to ensure the opening operation of the mold 10. Simultaneously with or after the opening operation of the mold 10, the molded product is released from the cavity 11 by the ejector device 155 (step ST33).

【0074】そして、金型前後動装置1442によって
金型開閉装置1441及び金型10を後退させ、金型1
0を回収エリアAR02へ移送する(ステップST3
4)。なお、樹脂封止装置100は、離型された成形品
に対して後述の成形後ステップST50を実施する。
Then, the mold opening / closing device 1441 and the mold 10 are retracted by the mold back-and-forth moving device 1442, and the mold 1 is moved.
0 to the collection area AR02 (step ST3)
4). In addition, the resin sealing device 100 performs a post-molding step ST50 described later on the molded product that has been released.

【0075】D−4.金型再投入準備ステップST40
(図20参照) 回収エリアAR02へ回収された金型10は金型クリー
ナ146によってクリーニングされ(ステップST4
1)、その後、クリーニング後の金型10を移送機14
5によって投入待機エリアAR01へ移送する(ステッ
プST42)。
D-4. Mold reload preparation step ST40
(See FIG. 20) The mold 10 collected in the collection area AR02 is cleaned by the mold cleaner 146 (Step ST4).
1) Then, the cleaned mold 10 is transferred to the transfer machine 14.
Then, it is transferred to the charging standby area AR01 (step ST42).

【0076】以上のステップST10〜ST40の一連
の動作ステップにより、1つの金型10の1サイクルの
動きないしは流れは完了する。なお、リードフレーム1
又は金型10に挟まれた状態のリードフレーム1が搬送
経路5上の各エリアAR1,AR21,AR22,AR
3間を移動する各ステップは、搬送部110の搬送機構
によって実施される。
The series of operation steps ST10 to ST40 completes the movement or flow of one mold 10 in one cycle. Note that lead frame 1
Alternatively, the lead frame 1 sandwiched between the molds 10 is provided on each of the areas AR1, AR21, AR22, AR on the transport path 5.
Each step of moving between the three units is performed by the transport mechanism of the transport unit 110.

【0077】特に、樹脂封止装置100は、このような
1サイクルを繰り返し実行すると共に、複数の金型10
を備えてこれらの金型10を動作ステップをずらして同
時に使用する。これにより、リードフレーム1上の半導
体素子を次々に樹脂封止していく。
In particular, the resin sealing device 100 repeatedly executes such one cycle,
And these molds 10 are used at the same time by shifting the operation steps. As a result, the semiconductor elements on the lead frame 1 are successively resin-sealed.

【0078】D−5.成形後ステップST50 樹脂封止装置100は、離型後の成形品をゲートブレー
ク部160へ搬送し、ゲートブレーク装置161によっ
て樹脂パッケージ2Aからはみ出したカルやゲート残り
等の不要な樹脂2Bが取り除く(ステップST51)。
そして、1つのリードフレーム1上の全ての樹脂パッケ
ージ2Aに対して上記ステップST51が終了した後、
リードフレーム1は成形品排出部170に搬送され、移
載機171によって収納マガジン172へ移載される
(ステップST52)。
D-5. Post-Molding Step ST50 The resin sealing device 100 conveys the molded product after release to the gate break portion 160, and removes unnecessary resin 2B such as culls and remaining gate from the resin package 2A by the gate break device 161 ( Step ST51).
Then, after the step ST51 is completed for all the resin packages 2A on one lead frame 1,
The lead frame 1 is conveyed to the molded article discharge section 170, and is transferred to the storage magazine 172 by the transfer machine 171 (step ST52).

【0079】樹脂封止装置100によれば、以下の効果
を得ることができる。まず、金型10は、リードフレー
ム1に搭載された複数の(8個の)半導体素子の内の一
部(2個)の半導体素子をキャビティ11A内に収容し
上金型10U及び下金型10Lで以てリードフレーム1
を挟む。このため、複数の半導体素子の全部を同時にキ
ャビティ11P内に収容する従来の金型10Pと比較し
て、金型10は小型で又安価である。
According to the resin sealing device 100, the following effects can be obtained. First, the mold 10 accommodates a part (two) of the plurality of (eight) semiconductor elements mounted on the lead frame 1 in the cavity 11A and accommodates the upper mold 10U and the lower mold. Lead frame 1 with 10L
Sandwich. Therefore, the mold 10 is small and inexpensive as compared with the conventional mold 10P in which all of the plurality of semiconductor elements are simultaneously accommodated in the cavity 11P.

【0080】また、上述のように金型10は複数の半導
体素子の全部を一度に収容しないので、従来の金型10
Pと比較して、キャビティの個数が少ない。このため、
各キャビティ11間での樹脂の流動のばらつきを抑制す
ることができる。また、キャビティ数の低減に起因して
従来の金型10Pよりも型締め時の加圧面積が小さくて
すむので、上金型10Uと下金型10Lとの互いに対面
する表面全体の平滑性を確保しやすい。また、加圧面積
が小さいことに起因して、加圧面全体における型締め力
のばらつきを抑制することができる(均一に型締めする
ことができる)。従って、金型10及び樹脂封止装置1
00によれば、樹脂注入時の樹脂漏れ等の成形不具合を
低減することができる。
Since the mold 10 does not accommodate all of the plurality of semiconductor elements at once as described above, the conventional mold 10
Compared with P, the number of cavities is small. For this reason,
Variations in the resin flow between the cavities 11 can be suppressed. Further, since the pressurized area at the time of mold clamping can be smaller than that of the conventional mold 10P due to the reduction in the number of cavities, the smoothness of the entire surface of the upper mold 10U and the lower mold 10L facing each other can be reduced. Easy to secure. Further, due to the small pressing area, variation in the mold clamping force over the entire pressing surface can be suppressed (the mold can be clamped uniformly). Therefore, the mold 10 and the resin sealing device 1
According to 00, molding defects such as resin leakage during resin injection can be reduced.

【0081】また、上述のように加圧面積が小さいの
で、型締め力が小さくてすむ。このため、加圧装置15
1として小型の又安価なものを用いることができる。ま
た、従来の金型10Pよりもキャビティ数が少ないの
で、エジェクタ装置155として小型の又安価なものを
用いることができる。従って、樹脂封止装置100の小
型化・低コスト化を図ることができる。
Since the pressing area is small as described above, a small clamping force is required. For this reason, the pressurizing device 15
As 1, a small and inexpensive one can be used. Further, since the number of cavities is smaller than that of the conventional mold 10P, a small and inexpensive ejector device 155 can be used. Therefore, the size and cost of the resin sealing device 100 can be reduced.

【0082】更に、金型10は予圧機構を有するので、
リードフレームを確実に挟持することができる。このた
め、上述のように、加圧装置151による型締め力を解
除した後においても金型10はリードフレームを挟持し
続けることできるので、成形不具合を抑制することがで
きる。また、金型10はリードフレーム1を確実に挟ん
だ状態で搬送経路上を移動することができる。
Further, since the mold 10 has a preload mechanism,
The lead frame can be securely held. For this reason, as described above, even after the mold clamping force by the pressurizing device 151 is released, the mold 10 can continue to hold the lead frame, so that molding defects can be suppressed. In addition, the mold 10 can move on the transport path with the lead frame 1 securely sandwiched.

【0083】しかも、樹脂封止装置100は1つの金型
10を繰り返し用いると共に、複数の金型10を備えて
これらを動作ステップをずらして同時に使用するので、
効率良く又高い稼動率で、樹脂封止を実施することがで
きる。
In addition, the resin sealing apparatus 100 repeatedly uses one mold 10 and includes a plurality of molds 10 which are used simultaneously with different operation steps.
Resin sealing can be performed efficiently and at a high operation rate.

【0084】ところで、従来の樹脂封止装置100Pの
ように両工程を同じエリアで行う場合にはキュア工程が
終了するまで他の半導体素子を樹脂封止することができ
ない。これに対して、樹脂封止装置100では、樹脂注
入工程とキュア工程とを別々のエリアで行い、しかも金
型10を搬送経路上を搬送させながら換言すればリード
フレーム1を搬送経路上に滞留させることなく、封止領
域1Aに対して順次に封止動作(樹脂の射出及びキュア
を含む)を行う。従って、かかる点においても生産性良
く樹脂封止を行うことができる。
When both steps are performed in the same area as in the conventional resin sealing apparatus 100P, other semiconductor elements cannot be resin-sealed until the curing step is completed. On the other hand, in the resin sealing apparatus 100, the resin injection step and the curing step are performed in different areas, and the mold 10 is conveyed on the conveyance path, in other words, the lead frame 1 stays on the conveyance path. Without performing the sealing operation, the sealing operation (including resin injection and curing) is sequentially performed on the sealing region 1A. Therefore, resin sealing can be performed with high productivity also in such a point.

【0085】更に、金型10は樹脂封止装置100に固
定されておらず、リードフレーム1の搬送経路上を搬送
可能であるので、従来の金型10Pと比較して金型のメ
ンテナンスや交換が容易である。しかも、全ての金型1
0の全部が樹脂封止装置100に固定されていないの
で、例えば1つの金型10に不具合が生じた場合であっ
てもその金型10だけを簡単に交換することができる。
このとき、金型10が金型待機エリアAR0にあるとき
に交換を行えば、樹脂封止装置100の稼働率を低下さ
せることがない。
Further, since the mold 10 is not fixed to the resin sealing device 100 and can be conveyed on the conveyance path of the lead frame 1, the maintenance and replacement of the mold can be performed as compared with the conventional mold 10P. Is easy. And all the molds 1
Since all of the reference numerals 0 are not fixed to the resin sealing device 100, for example, even if a failure occurs in one mold 10, only the mold 10 can be easily replaced.
At this time, if the replacement is performed while the mold 10 is in the mold standby area AR0, the operation rate of the resin sealing device 100 does not decrease.

【0086】なお、搬送経路5上の金型投入エリアAR
1と樹脂注入工程エリアAR21とを同じエリアとして
設定しても構わないし、又、キュア工程エリアAR22
と金型脱出エリアAR3とを同じエリアとして設定して
も構わない。かかるエリア設定によれば、樹脂封止装置
100の大きさないしは設置スペースを小さくすること
ができる。また、リードフレーム1の各エリア間の移動
に要する時間を削減することができるので、樹脂封止装
置100の稼働率ないしは生産性を向上することができ
る。
The mold loading area AR on the transport path 5
1 and the resin injection process area AR21 may be set as the same area.
And the mold escape area AR3 may be set as the same area. According to such an area setting, the size or installation space of the resin sealing device 100 can be reduced. Further, since the time required for moving the lead frame 1 between the respective areas can be reduced, the operation rate or productivity of the resin sealing device 100 can be improved.

【0087】ところで、リードフレーム上の一部の半導
体素子を型締めする金型が例えば特開昭59−1595
35号公報や特開昭63−184344号公報に開示さ
れている。しかしながら、これらの金型はリードフレー
ムを挟んだ状態でリードフレームの搬送経路上を搬送す
るものではなく、かかる点において金型10とは異な
る。
A mold for clamping a part of semiconductor elements on a lead frame is disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 59-1595.
No. 35 and JP-A-63-184344. However, these dies do not transport the lead frame on the transport path of the lead frame with the lead frame interposed therebetween, and are different from the dies 10 in this point.

【0088】また、リードフレームの搬送経路上を搬送
可能な金型が例えば特開平9−45714号公報に開示
されているが、当該金型はリードフレームの全体を挟む
構造である点において、金型10との大きな相違が認め
られる。しかも、当該公報に開示される樹脂封止装置で
は、次の金型を型締めするために、樹脂注入後の金型を
(従ってリードフレーム全体を)加圧装置から搬出し、
キュア時間に達するまで所定のエリアで待機させる。こ
れに対して、樹脂封止装置100ではリードフレーム1
を搬送経路上を搬送させつつ封止領域1Aに対して順次
に樹脂の注入及びキュア(即ち封止動作)を行う。かか
る点において、樹脂封止装置100と上記公報に開示さ
れる同装置とは異なると言える。
A mold that can be transported on the lead frame transport path is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-45714. However, the mold has a structure that sandwiches the entire lead frame. A great difference from the mold 10 is observed. In addition, in the resin sealing device disclosed in this publication, the mold after resin injection (and thus the entire lead frame) is carried out of the pressing device in order to clamp the next mold.
Wait in a predetermined area until the cure time is reached. On the other hand, in the resin sealing device 100, the lead frame 1
Is sequentially injected into the sealing area 1A and cured (that is, a sealing operation) while being transported on the transport path. In this respect, it can be said that the resin sealing device 100 is different from the resin sealing device disclosed in the above publication.

【0089】[0089]

【発明の効果】(1)請求項1に係る発明によれば、樹
脂封止用金型は、リードフレームに搭載された複数の半
導体素子の内の一部の半導体素子をキャビティ内に収容
し第1部分及び第2部分で以てリードフレームを挟む。
このため、上記複数の半導体素子の全部を同時にキャビ
ティ内に収容する従来の樹脂封止用金型と比較して、小
型で又安価な樹脂封止用金型を提供することができる。
(1) According to the first aspect of the invention, the resin sealing mold accommodates a part of the plurality of semiconductor elements mounted on the lead frame in the cavity. The lead frame is sandwiched between the first portion and the second portion.
For this reason, it is possible to provide a small and inexpensive resin sealing mold as compared with a conventional resin sealing mold in which all of the plurality of semiconductor elements are simultaneously accommodated in the cavity.

【0090】更に、本樹脂封止用金型は上記複数の半導
体素子の全部を一度に収容しないので、上述の従来の樹
脂封止用金型と比較して、キャビティの個数が少ない。
このため、各キャビティ間での樹脂の流動のばらつきを
抑制することができる。また、キャビティ数の低減に起
因して、従来の樹脂封止用金型よりも型締め時の加圧面
積が小さいので、樹脂封止用金型の第1部分及び第2部
分のリードフレームを挟む表面全体の平滑性を確保しや
すい。また、上述のように加圧面積が小さいので、加圧
面全体における型締め力のばらつきを抑制することがで
きる(均一に型締めすることができる)。従って、本樹
脂封止用金型を樹脂封止装置(半導体製造装置)に用い
ることによって、又、本樹脂封止用金型を用いた樹脂封
止方法(半導体装置の製造方法)によれば、樹脂注入時
の樹脂漏れ等の成形不具合を低減することができる。
Further, since the present resin mold does not accommodate all of the plurality of semiconductor elements at once, the number of cavities is smaller than that of the above-mentioned conventional resin mold.
For this reason, it is possible to suppress variation in the flow of the resin between the cavities. Also, since the pressure area at the time of mold clamping is smaller than that of the conventional resin molding die due to the reduction in the number of cavities, the lead frames of the first portion and the second portion of the resin molding die are not required. It is easy to ensure the smoothness of the entire sandwiching surface. Further, since the pressing area is small as described above, it is possible to suppress variation in the mold clamping force over the entire pressing surface (the mold can be uniformly clamped). Therefore, by using the present resin-sealing mold in a resin-sealing apparatus (semiconductor manufacturing apparatus), and by using the present resin-sealing mold in a resin-sealing method (semiconductor device manufacturing method), In addition, molding defects such as resin leakage during resin injection can be reduced.

【0091】また、上述のように加圧面積が小さいの
で、換言すれば型締め力が小さくてすむので、樹脂封止
用金型を型締めする加圧装置として小型の又安価なもの
を用いることができ、これにより樹脂封止装置の小型化
・低コスト化を図ることができる。
Further, since the pressing area is small as described above, in other words, the clamping force is small, a small and inexpensive pressing device for clamping the resin mold is used. Accordingly, the size and cost of the resin sealing device can be reduced.

【0092】また、本樹脂封止用金型はリードフレーム
の搬送経路上を搬送可能であるので、リードフレームを
搬送しつつ、換言すればリードフレームを搬送経路上に
滞留させることなく、封止動作(樹脂を射出するステッ
プ及びキュアするステップを含む)を行うことができ
る。従って、生産性良く半導体装置を製造することがで
きる。更に、本樹脂封止用金型はリードフレームの搬送
経路上を搬送可能であるので、換言すれば樹脂封止装置
に固定されていないので、樹脂封止用金型のメンテナン
スや交換が容易である。
Further, since the present resin sealing mold can be transported along the lead frame transport path, the lead frame is transported, in other words, without sealing the lead frame on the transport path. An operation (including a step of injecting a resin and a step of curing) can be performed. Therefore, a semiconductor device can be manufactured with high productivity. Further, since the resin molding die can be transported on the transport path of the lead frame, in other words, since it is not fixed to the resin sealing device, maintenance and replacement of the resin molding die are easy. is there.

【0093】(2)請求項2に係る発明によれば、第1
部分及び第2部分で以てリードフレームを確実に挟持す
ることができる。このため、樹脂注入時の型締め力を解
除した後においても樹脂封止用金型はリードフレームを
挟持し続けることできるので、成形不具合を抑制するこ
とができる。また、樹脂封止用金型はリードフレームを
確実に挟んだ状態でリードフレームの搬送経路上を移動
することができる。
(2) According to the second aspect of the invention, the first
The lead frame can be reliably held between the portion and the second portion. For this reason, even after the mold clamping force at the time of resin injection is released, the resin sealing mold can continue to hold the lead frame, so that molding defects can be suppressed. In addition, the resin sealing mold can move on the lead frame transport path with the lead frame securely interposed therebetween.

【0094】(3)請求項3に係る発明によれば、請求
項1又は2に記載の樹脂封止用金型を用いるので、樹脂
封止用金型の第1部分及び第2部分のリードフレームを
挟む表面全体の平滑性が確保されて、又、加圧面全体に
おける型締め力のばらつきが抑制されて(均一に型締め
されて)、樹脂漏れ等の成形不具合を低減することがで
きる。
(3) According to the third aspect of the present invention, since the resin sealing mold according to the first or second aspect is used, leads of the first and second parts of the resin sealing mold are used. Smoothness of the entire surface sandwiching the frame is ensured, and variation in the mold clamping force over the entire pressurized surface is suppressed (the mold is uniformly clamped), so that molding defects such as resin leakage can be reduced.

【0095】更に、樹脂封止用金型を搬送経路上を搬送
させながら封止動作(樹脂を射出するステップ及びキュ
アするステップを含む)を行うので、リードフレームを
搬送経路上に滞留させることがない。従って、生産性良
く半導体装置を製造することができる。
Furthermore, since the sealing operation (including the step of injecting the resin and the step of curing) is performed while the resin sealing mold is being conveyed on the conveyance path, the lead frame can be retained on the conveyance path. Absent. Therefore, a semiconductor device can be manufactured with high productivity.

【0096】(4)請求項4に係る発明によれば、リー
ドフレームの搬送経路上を搬送可能な樹脂封止用金型を
繰り返し用いて、効率良く半導体装置を製造することが
できる。
(4) According to the fourth aspect of the present invention, a semiconductor device can be efficiently manufactured by repeatedly using a resin sealing mold that can be transported on the lead frame transport path.

【0097】(5)請求項5に係る発明によれば、樹脂
封止用金型を複数備える。しかも、本半導体製造装置で
は、樹脂封止用金型を搬送経路上を搬送させながら封止
動作を行うので、上記複数の樹脂封止用金型を順次に投
入することによって、半導体製造装置の稼動率を、従っ
て生産性を向上することができる。
(5) According to the invention of claim 5, a plurality of resin sealing molds are provided. In addition, in the present semiconductor manufacturing apparatus, the sealing operation is performed while the resin sealing mold is transported on the transport path. Uptime, and therefore productivity, can be improved.

【0098】また、複数の樹脂封止用金型はそれぞれリ
ードフレームの搬送経路上を搬送可能であるので、換言
すれば半導体製造装置に固定されていないので、例えば
1つの樹脂封止用金型に不具合が生じた場合であっても
その樹脂封止用金型だけを簡単に交換することができ
る。しかも、樹脂封止用金型が上記搬送経路へ投入され
る前に交換を行えば、半導体製造装置の稼働率を低下さ
せることがない。
Further, since a plurality of resin molding dies can be transported on the transport path of the lead frame, in other words, since they are not fixed to the semiconductor manufacturing apparatus, for example, one resin molding die Even if a failure occurs, only the resin sealing mold can be easily replaced. Moreover, if the replacement is performed before the resin-sealing mold is put into the transport path, the operation rate of the semiconductor manufacturing apparatus does not decrease.

【0099】(6)請求項6に係る発明によれば、上記
樹脂封止用金型を用いるので、小型の加圧装置を用いる
ことができ、半導体製造装置の小型化・低コスト化を図
ることができる。
(6) According to the sixth aspect of the present invention, since the resin sealing mold is used, a compact pressurizing device can be used, and miniaturization and cost reduction of the semiconductor manufacturing apparatus are achieved. be able to.

【0100】また、樹脂注入工程とキュア工程とを別々
のエリアで行う。このため、両工程を同じエリアで行う
場合にはキュア工程が終了するまで他の半導体素子を樹
脂封止する(従って樹脂封止用金型を型締めする)こと
ができないのに対して、本半導体製造装置によれば生産
性良く半導体装置を製造することができる。
Further, the resin injecting step and the curing step are performed in different areas. For this reason, if both steps are performed in the same area, the other semiconductor element cannot be resin-sealed (therefore, the resin-sealing mold is closed) until the curing step is completed. According to the semiconductor manufacturing apparatus, a semiconductor device can be manufactured with high productivity.

【0101】(7)請求項7に係る発明によれば、樹脂
封止用金型が有するキャビティの個数は従来よりも少な
いので、従来の半導体装置よりも小型の又安価なエジェ
クタ装置を用いることができる。その分、半導体製造装
置の小型化・低コスト化を図ることができる。
(7) According to the seventh aspect of the present invention, since the number of cavities of the resin sealing mold is smaller than that of the conventional semiconductor device, a smaller and less expensive ejector device than the conventional semiconductor device can be used. Can be. Accordingly, the size and cost of the semiconductor manufacturing apparatus can be reduced.

【0102】(8)請求項8に係る発明によれば、請求
項1又は2に記載の樹脂封止用金型を用いるので、樹脂
封止用金型の第1部分及び第2部分のリードフレームを
挟む表面全体の平滑性が確保されて、又、加圧面全体に
おける型締め力のばらつきが抑制されて(均一に型締め
されて)、樹脂漏れ等の成形不具合を低減することがで
きる。
(8) According to the invention of claim 8, since the resin sealing mold according to claim 1 or 2 is used, the leads of the first and second portions of the resin sealing mold are used. Smoothness of the entire surface sandwiching the frame is ensured, and variation in the mold clamping force over the entire pressurized surface is suppressed (the mold is uniformly clamped), so that molding defects such as resin leakage can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な側面図である。
FIG. 1 is a schematic side view for explaining a resin sealing device according to a first embodiment.

【図2】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な側面図である。
FIG. 2 is a schematic side view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図3】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な側面図である。
FIG. 3 is a schematic side view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図4】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な側面図である。
FIG. 4 is a schematic side view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図5】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な側面図である。
FIG. 5 is a schematic side view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図6】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な上面図である。
FIG. 6 is a schematic top view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図7】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な上面図である。
FIG. 7 is a schematic top view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図8】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な上面図である。
FIG. 8 is a schematic top view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図9】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明する
ための模式的な上面図である。
FIG. 9 is a schematic top view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図10】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明す
るための模式的な上面図である。
FIG. 10 is a schematic top view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図11】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の金型を
説明するための模式的な斜視図である。
FIG. 11 is a schematic perspective view for explaining a mold of the resin sealing device according to the first embodiment.

【図12】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の金型を
説明するための模式的な側面図である。
FIG. 12 is a schematic side view for explaining a mold of the resin sealing device according to the first embodiment.

【図13】 実施の形態1に係る樹脂封止装置を説明す
るための模式的な上面図である。
FIG. 13 is a schematic top view for explaining the resin sealing device according to the first embodiment.

【図14】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の動作を
説明するための模式的な斜視図である。
FIG. 14 is a schematic perspective view for explaining the operation of the resin sealing device according to the first embodiment.

【図15】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の金型開
閉装置の連結棒を説明するための模式的な斜視図であ
る。
FIG. 15 is a schematic perspective view for explaining a connecting rod of the mold opening / closing device of the resin sealing device according to the first embodiment.

【図16】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の動作を
説明するためのフローチャートである。
FIG. 16 is a flowchart illustrating an operation of the resin sealing device according to the first embodiment;

【図17】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の動作を
説明するためのフローチャートである。
FIG. 17 is a flowchart for explaining the operation of the resin sealing device according to the first embodiment.

【図18】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の動作を
説明するためのフローチャートである。
FIG. 18 is a flowchart illustrating an operation of the resin sealing device according to the first embodiment.

【図19】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の動作を
説明するためのフローチャートである。
FIG. 19 is a flowchart for explaining the operation of the resin sealing device according to the first embodiment.

【図20】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の動作を
説明するためのフローチャートである。
FIG. 20 is a flowchart for explaining the operation of the resin sealing device according to the first embodiment;

【図21】 実施の形態1に係る樹脂封止装置の動作を
説明するための模式的な側面図である。
FIG. 21 is a schematic side view for explaining the operation of the resin sealing device according to the first embodiment.

【図22】 従来の樹脂封止装置を説明するための模式
的な側面図である。
FIG. 22 is a schematic side view for explaining a conventional resin sealing device.

【図23】 従来の樹脂封止装置を説明するための模式
的な縦断面図である。
FIG. 23 is a schematic longitudinal sectional view for explaining a conventional resin sealing device.

【図24】 従来の樹脂封止装置の下金型を説明するた
めの模式的な上面図である。
FIG. 24 is a schematic top view for explaining a lower mold of a conventional resin sealing device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 リードフレーム、1A 封止領域、2 樹脂タブレ
ット、2A 樹脂パッケージ、5 搬送経路、10 金
型(樹脂封止用金型)、10U 上金型(第1部分)、
10L 下金型(第2部分)、11,11A,11U,
11L キャビティ、100 樹脂封止装置(半導体製
造装置)、110 搬送部、140 樹脂成形部、14
0A 金型制御部、151 加圧装置、152 プラン
ジャ押し上げ装置、155 エジェクタ装置、AR0
金型待機エリア、AR1 金型投入エリア、AR2 封
止工程エリア、AR21 樹脂注入エリア、AR22
キュア工程エリア、AR3 金型脱出エリア、ST10
金型投入ステップ、ST20 封止動作ステップ、S
T30 金型脱出ステップ、ST40 金型再投入準備
ステップ。
1 lead frame, 1A sealing area, 2 resin tablet, 2A resin package, 5 transport path, 10 mold (resin sealing mold), 10U upper mold (first part),
10L Lower mold (second part), 11, 11A, 11U,
11L cavity, 100 resin sealing device (semiconductor manufacturing device), 110 transfer unit, 140 resin molding unit, 14
0A Mold control unit, 151 pressurizing device, 152 plunger push-up device, 155 ejector device, AR0
Mold standby area, AR1 mold input area, AR2 sealing process area, AR21 resin injection area, AR22
Cure process area, AR3 mold escape area, ST10
Mold input step, ST20 sealing operation step, S
T30 Mold escape step, ST40 Mold re-introduction preparation step.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4F202 AD03 AH33 AH37 CA12 CB01 CB12 CB17 CC03 CC10 CK42 CK90 4F206 AD03 AH33 AH37 JA02 JB12 JB17 JC01 JF05 JF35 JF36 JN32 JN41 JQ81 JQ83 JT04 5F061 AA01 BA01 CA21 DA01 DA15 DB02 DD01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4F202 AD03 AH33 AH37 CA12 CB01 CB12 CB17 CC03 CC10 CK42 CK90 4F206 AD03 AH33 AH37 JA02 JB12 JB17 JC01 JF05 JF35 JF36 JN32 JN41 JQ81 JQ83 JT04 5F01 DBA DA01

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のダイパッドを有し各前記ダイパッ
ド上に半導体素子が搭載された状態のリードフレームに
対して、各前記半導体素子を樹脂で封止する際に用いら
れる樹脂封止用金型であって、 前記複数の半導体素子の内の一部の前記半導体素子を収
容可能なキャビティを有し、互いに開閉可能な第1部分
及び第2部分を備え、 前記一部の半導体素子を前記キャビティ内に収容し前記
第1部分及び前記第2部分で以て前記リードフレームを
挟んだ状態で、前記リードフレームの搬送経路上を搬送
可能であることを特徴とする、樹脂封止用金型。
1. A resin sealing mold used for sealing each semiconductor element with a resin in a lead frame having a plurality of die pads and a semiconductor element mounted on each die pad. It has a cavity capable of accommodating a part of the semiconductor element of the plurality of semiconductor elements, comprises a first part and a second part that can be opened and closed with each other, A resin-sealing mold that can be transported on a transport path of the lead frame with the lead frame being sandwiched between the first portion and the second portion.
【請求項2】 請求項1に記載の樹脂封止用金型であっ
て、 前記樹脂封止用金型を閉じる力を前記第1部分と前記第
2部分との間に加える予圧機構を更に備えることを特徴
とする、樹脂封止用金型。
2. The resin sealing mold according to claim 1, further comprising a preload mechanism for applying a force for closing the resin sealing mold between the first portion and the second portion. A mold for resin sealing, comprising:
【請求項3】 複数のダイパッドを有し各前記ダイパッ
ド上に半導体素子が搭載された状態のリードフレームに
対して、各前記半導体素子を樹脂で封止する半導体製造
装置であって、 請求項1又は2に記載の前記樹脂封止用金型と、 前記樹脂封止用金型の開閉動作,前記搬送経路へ前記樹
脂封止用金型を投入する動作及び前記搬送経路から前記
樹脂封止用金型を脱出させる動作を行う金型制御部と、 前記搬送経路上の封止工程エリアに設けられて、前記キ
ャビティ内に収容された前記一部の半導体素子を樹脂封
止する封止動作を行う封止部と、 前記リードフレーム及び前記樹脂封止用金型で挟まれた
状態の前記リードフレームを前記搬送経路に沿って搬送
する搬送部とを備え、 前記樹脂封止用金型を前記搬送経路上を搬送させながら
前記封止動作を行うことを特徴とする、半導体製造装
置。
3. A semiconductor manufacturing apparatus for sealing each semiconductor element with a resin in a lead frame having a plurality of die pads and a semiconductor element mounted on each of the die pads, Or the resin-sealing mold according to 2 or 3, opening and closing operation of the resin-sealing mold, operation of putting the resin-sealing mold into the transport path, and the resin-sealing mold from the transport path. A mold control unit that performs an operation of ejecting the mold, and a sealing operation that is provided in a sealing process area on the transport path and that seals a part of the semiconductor elements housed in the cavity with a resin. A sealing unit to be performed, and a transport unit that transports the lead frame sandwiched between the lead frame and the resin sealing mold along the transport path. While transporting on the transport path, And performing an operation, the semiconductor manufacturing device.
【請求項4】 請求項3に記載の半導体製造装置であっ
て、 前記金型制御部は、前記搬送経路から脱出した前記樹脂
封止用金型を再び前記搬送経路へ投入することを特徴と
する、半導体製造装置。
4. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 3, wherein the mold control unit reenters the resin sealing mold that has escaped from the transport path into the transport path. Semiconductor manufacturing equipment.
【請求項5】 請求項3又は4に記載の半導体製造装置
であって、 前記樹脂封止用金型を複数備えることを特徴とする、半
導体製造装置。
5. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 3, wherein a plurality of the resin sealing dies are provided.
【請求項6】 請求項3乃至5のいずれかに記載の半導
体製造装置であって、 前記封止工程エリアは、前記キャビティ内へ前記樹脂を
注入する工程を行う樹脂注入工程エリアと、前記樹脂注
入工程エリアとは異なるエリアに設けられた、樹脂注入
工程後の前記樹脂を硬化させる工程を行うキュア工程エ
リアとを含み、 前記封止部は、前記樹脂注入工程エリアに、前記樹脂封
止用金型を型締めする加圧装置を備えることを特徴とす
る、半導体製造装置。
6. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 3, wherein the sealing step area includes a step of injecting the resin into the cavity and a step of injecting the resin. And a curing step area for performing a step of curing the resin after the resin injection step, provided in an area different from the injection step area. A semiconductor manufacturing apparatus comprising a pressurizing device for clamping a mold.
【請求項7】 請求項3乃至6のいずれかに記載の半導
体製造装置であって、 前記封止部は、樹脂封止された前記半導体素子を前記キ
ャビティから離型させるエジェクタ装置を備えることを
特徴とする、半導体製造装置。
7. The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 3, wherein the sealing unit includes an ejector device configured to release the resin-sealed semiconductor element from the cavity. Characteristic semiconductor manufacturing equipment.
【請求項8】 複数のダイパッドを有し各前記ダイパッ
ド上に半導体素子が搭載された状態のリードフレームに
対して、各前記半導体素子を樹脂で封止する半導体装置
の製造方法であって、 請求項1又は2に記載の前記樹脂封止用金型を用い、 (a)前記樹脂封止用金型を開いて前記搬送経路へ投入
し、前記一部の半導体素子を前記キャビティ内に収容し
た状態で前記リードフレームを前記樹脂封止用金型で挟
むステップと、 (b)前記搬送経路上の封止工程エリアにおいて、前記
キャビティ内に収容された前記一部の半導体素子を樹脂
封止する封止動作を、前記樹脂封止用金型を前記搬送経
路上を搬送しつつ行うステップと、 (c)前記ステップ(b)の後に、前記樹脂封止用金型
を開いて、樹脂封止された前記半導体素子を前記キャビ
ティから離型し、前記樹脂封止用金型を前記搬送経路か
ら脱出させるステップとを備えることを特徴とする、半
導体装置の製造方法。
8. A method of manufacturing a semiconductor device, wherein each semiconductor element is sealed with a resin with respect to a lead frame having a plurality of die pads and a semiconductor element mounted on each of the die pads, Item (1): using the resin-sealing mold according to item 1 or 2, (a) opening the resin-sealing mold and throwing the resin-sealing mold into the transport path, and accommodating some of the semiconductor elements in the cavity. (B) resin-sealing the part of the semiconductor elements housed in the cavity in a sealing process area on the transport path; Performing a sealing operation while transporting the resin sealing mold on the transport path; and (c) after the step (b), opening the resin sealing mold and performing resin sealing. The semiconductor device that has been Was released from the I, characterized in that it comprises a step of escape the resin sealing mold from the transport path, a method of manufacturing a semiconductor device.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2011018745A (en) * 2009-07-08 2011-01-27 Daiichi Seiko Kk Resin sealing apparatus and resin sealing method
JP2011016276A (en) * 2009-07-08 2011-01-27 Daiichi Seiko Kk Resin sealing apparatus and resin sealing method
CN103035537A (en) * 2011-10-07 2013-04-10 第一精工株式会社 Resin encapsulating apparatus

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