JP2001291218A - Inspection device of magnetic head slider, magnetic disk for inspection and magnetic disk device - Google Patents

Inspection device of magnetic head slider, magnetic disk for inspection and magnetic disk device

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JP2001291218A
JP2001291218A JP2000106882A JP2000106882A JP2001291218A JP 2001291218 A JP2001291218 A JP 2001291218A JP 2000106882 A JP2000106882 A JP 2000106882A JP 2000106882 A JP2000106882 A JP 2000106882A JP 2001291218 A JP2001291218 A JP 2001291218A
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JP
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head slider
magnetic head
magnetic
magnetic disk
read
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Application number
JP2000106882A
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Japanese (ja)
Inventor
Teruyoshi Higashiya
輝義 東谷
Masaaki Matsumoto
真明 松本
Akira Yoshida
亮 吉田
Takeshi Nakazawa
剛 中澤
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device for discriminating whether a magnetic head slider is accepted or not before being mounted on a magnetic disk device by taking the contact between a magnetic head slider and the disk into consideration. SOLUTION: This inspection device of magnetic head slider inspects the magnetic head slider by using a read/write tester which is furnished with the magnetic disk, a rotating mechanism to rotate the magnetic disk, a mounting part of magnetic head slider, a positioning mechanism of magnetic head slider, a reading/writing circuit for a read/write signal, and a control part for controlling the operation of the whole device, then the decision is made whether the magnetic head slider is accepted or not in such a manner that the floating amount of the magnetic head slider is successively reduced and the changing amount of the time interval between read out signals of the signal written into the magnetic disk in the circumferential direction of the magnetic disk is measured every time the floating amount is reduced, then the changing amount of the time interval is compared with the allowable value of the time interval changing amount to detect that the reduction of the floating amount is repeated by specific times.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
に係り、特に磁気ディスク装置に搭載される磁気ヘッド
スライダと磁気ディスクとの間の接触状態を検査し、磁
気ヘッドスライダと磁気ディスクが接触しても装置の信
頼性を保証することができるような磁気ヘッドスライダ
の検査装置、及びこの検査装置により選別された磁気ヘ
ッドスライダを搭載した信頼性の高い磁気ディスク装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a magnetic disk drive, and more particularly, to a magnetic disk drive for inspecting a contact state between a magnetic head slider mounted on the magnetic disk drive and a magnetic disk. The present invention also relates to a magnetic head slider inspection device capable of guaranteeing the reliability of the device, and a highly reliable magnetic disk device equipped with the magnetic head slider selected by the inspection device.

【0002】[0002]

【従来の技術】磁気ディスク装置においては、高記録密
度を実現するために、磁気ヘッドスライダと磁気ディス
クとの間隔の狭小化が進んでいる。これに伴い磁気ヘッ
ドスライダと磁気ディスクとの接触による破壊的な摺動
事故にいたる危険が高まってきている。磁気ディスクの
信頼性を確保するためには磁気ヘッドスライダの浮上量
を保証することが必要である。
2. Description of the Related Art In a magnetic disk drive, the distance between a magnetic head slider and a magnetic disk has been reduced in order to realize a high recording density. As a result, the risk of a destructive sliding accident due to the contact between the magnetic head slider and the magnetic disk is increasing. In order to ensure the reliability of the magnetic disk, it is necessary to guarantee the flying height of the magnetic head slider.

【0003】このような観点から、磁気ディスク装置に
搭載する前に磁気ヘッドスライダを選別する従来技術に
よる検査装置及び検査方法としては、検査用にガラスデ
ィスクを用い、ガラスディスクと磁気ヘッドスライダと
の浮上すきまを白色光による干渉縞検出または干渉光強
度によって検出する浮上量検出機構を備える浮上量測定
装置を用いて、検査対象の磁気ヘッドスライダアセンブ
リをセットし、ガラスディスク上に浮上させた時の浮上
特性を検査することによって行われてきた。
[0003] From such a viewpoint, a conventional inspection apparatus and an inspection method for selecting a magnetic head slider before mounting on a magnetic disk apparatus include a method of using a glass disk for inspection, and using a glass disk and a magnetic head slider. When a magnetic head slider assembly to be inspected is set using a flying height measuring device having a flying height detection mechanism that detects a floating clearance by interference fringe detection using white light or interference light intensity, the magnetic head slider assembly is lifted above a glass disk. This has been done by examining the flying characteristics.

【0004】これまで行ってきた磁気ディスク装置の信
頼性設計の考え方は、磁気ヘッドスライダと磁気ディス
クとの実際のすきま量を確保するという立場から、ガラ
スディスク上に浮上させた磁気ヘッドスライダの浮上特
性に磁気ディスクの表面粗さを考慮して算出した浮上マ
ージンをプラスにするという設計を行ってきた。
[0004] The concept of reliability design of a magnetic disk drive that has been conducted so far is to raise the height of a magnetic head slider floating above a glass disk from the standpoint of securing an actual clearance between the magnetic head slider and the magnetic disk. A design has been made to make the flying margin calculated in consideration of the surface roughness of the magnetic disk in the characteristics plus.

【0005】このプラスのマージンを正確に算出するた
めの、磁気ヘッドスライダと磁気ディスクとの接触を検
出する方法としては、特開平5−325461号公報の
ようにリード信号の周波数解析を行った時に、非接触時
には基本波のスペクトラム出力だけが検出されるのに対
し、接触時にはサスペンションが円周方向に揺さぶられ
るため、基本波スペクトラムに加え、サスペンションの
曲げ方向振動のサイドバンドスペクトラムが発生するこ
とを利用した技術がある。
As a method of detecting the contact between the magnetic head slider and the magnetic disk for accurately calculating the positive margin, a method of analyzing the frequency of a read signal as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-325461 is known. However, while the spectrum output of only the fundamental wave is detected during non-contact, the suspension is shaken in the circumferential direction during contact, so that in addition to the fundamental wave spectrum, the sideband spectrum of the vibration in the bending direction of the suspension is generated. There is technology used.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】近年においては高記録
密度を実現のため、さらなる浮上量低下の要求があり、
磁気ヘッドスライダと磁気ディスクとの接触はもはや避
けて通ることができないところにきており、ヘッド・デ
ィスクの接触を考慮した磁気ディスク装置に関しても研
究・開発がなされてきている。このような接触を考慮し
た磁気ディスク装置においては、例えば接触時の摩擦力
の大小等が装置の寿命に直接影響するため、装置にある
一定の寿命を保証するためには、装置に組み込む前の段
階で何らかの方法で磁気ヘッドスライダを選別する必要
がある。
In recent years, there has been a demand for a further decrease in flying height in order to achieve a high recording density.
Since the contact between the magnetic head slider and the magnetic disk cannot be avoided anymore, research and development have also been conducted on a magnetic disk device in consideration of the contact between the head and the disk. In a magnetic disk device considering such contact, for example, the magnitude of frictional force at the time of contact directly affects the life of the device. At this stage, it is necessary to select the magnetic head slider by some method.

【0007】また、例えヘッド・ディスクの耐力的には
問題のないレベルの接触であっても、接触時のスライダ
振動により書き込まれた信号と信号の時間間隔が変動し
(ジッター)、変動分であるジッターが或るレベル以上
に大きくなるとリード・ライトが不可能になる。
Further, even if the contact is at a level that does not cause a problem in terms of the proof stress of the head disk, the time interval between the written signals fluctuates (jitter) due to the vibration of the slider at the time of the contact. If a certain jitter exceeds a certain level, read / write becomes impossible.

【0008】これまでの磁気ディスク装置においては、
浮上測定装置による浮上量によって磁気ヘッドスライダ
を選別して磁気ディスク装置の信頼性を確保してきた
が、接触を考慮した今後の磁気ディスク装置において
は、例えば接触により発生する摩擦力等を測定し磁気ヘ
ッドスライダを選別し、装置に搭載していくことが信頼
性を確保していく上で極めて重要である。
In the conventional magnetic disk drive,
The reliability of the magnetic disk drive has been ensured by selecting the magnetic head slider according to the flying height of the flying height measurement device.However, in the future magnetic disk device considering contact, for example, the frictional force generated by the contact is measured and the magnetic It is extremely important to select head sliders and mount them on the apparatus in order to ensure reliability.

【0009】また、この接触により発生する摩擦力を直
接測定する以外にも、接触時のスライダ振動の大きさ
や、磁気ヘッドスライダが振動することにより引き起こ
されるリード信号の円周方向変動量(ジッター量)の大
きさ等により磁気ヘッドスライダを選別することが重要
であり、このための検査装置と検査方法が、今後の低浮
上磁気ヘッドスライダを選別する上で必須の開発課題と
なる。
In addition to directly measuring the frictional force generated by the contact, the magnitude of the slider vibration at the time of the contact and the circumferential fluctuation amount (jitter amount) of the read signal caused by the vibration of the magnetic head slider. It is important to select a magnetic head slider according to the size of the magnetic head slider, and an inspection apparatus and an inspection method for this purpose are indispensable development issues in selecting a low flying magnetic head slider in the future.

【0010】本発明の目的は、磁気ヘッドスライダの浮
上量が下がり、ヘッド・ディスクの接触が発生する磁気
ディスク装置において、装置の信頼性を確保するため
に、これまでの浮上測定装置に代わって、接触時の摩擦
力、接触により発生するスライダ振動量、あるいはスラ
イダ振動により引き起こされるリード信号の円周方向変
動量(ジッター量)等の大きさによりヘッドスライダを
選別するための検査装置と、この装置を用いた検査方法
を開発するとともに、本発明により選別された磁気ヘッ
ドスライダを装置に搭載することにより、磁気ヘッドス
ライダと磁気ディスクとの接触が発生するような場合に
おいても、信頼性が十分確保された磁気ディスク装置を
提供することにある。
An object of the present invention is to replace a conventional flying measurement device in a magnetic disk device in which the flying height of a magnetic head slider is reduced and head-disk contact occurs to ensure the reliability of the device. An inspection device for selecting a head slider according to the magnitude of a frictional force at the time of contact, a slider vibration amount generated by the contact, or a circumferential variation amount (jitter amount) of a read signal caused by the slider vibration; and By developing an inspection method using the device and mounting the magnetic head slider selected according to the present invention on the device, sufficient reliability can be obtained even when contact between the magnetic head slider and the magnetic disk occurs. An object of the present invention is to provide a secured magnetic disk device.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は主として次のような構成を採用する。
In order to solve the above problems, the present invention mainly employs the following configuration.

【0012】磁気ディスク、前記磁気ディスクを回転さ
せる回転機構、磁気ヘッドスライダ取付け部、磁気ヘッ
ドスライダ位置決め機構、リード/ライト用信号のため
の読み取り/書き込み回路、装置全体の動作を制御する
制御部、を備えたリードライトテスタを用いて磁気ヘッ
ドスライダを検査する磁気ヘッドスライダ検査装置であ
って、前記磁気ヘッドスライダの浮上量を逐次低下さ
せ、前記浮上量低下の度毎に、磁気ディスクに書き込ま
れた信号の読み出し信号間の磁気ディスク円周方向にお
ける時間間隔変動分を測定し、前記時間間隔変動分を時
間間隔変動分許容値と比較し、前記浮上量低下を規定回
数繰り返したことを検知して磁気ヘッドスライダを合否
判定する磁気ヘッドスライダ検査装置。
A magnetic disk, a rotating mechanism for rotating the magnetic disk, a magnetic head slider mounting section, a magnetic head slider positioning mechanism, a read / write circuit for read / write signals, a control section for controlling the operation of the entire apparatus, A magnetic head slider inspection apparatus for inspecting a magnetic head slider using a read / write tester provided with a magnetic head slider, wherein the flying height of the magnetic head slider is sequentially reduced, and the magnetic head slider is written on a magnetic disk every time the flying height decreases. The time interval variation in the magnetic disk circumferential direction between the read signals of the read signals is measured, the time interval variation is compared with a time interval variation allowable value, and it is detected that the flying height reduction has been repeated a specified number of times. Magnetic head slider inspection apparatus for determining whether a magnetic head slider is acceptable or not.

【0013】また、磁気ディスクを回転させる回転機
構、磁気ヘッドスライダ取付け部、磁気ヘッドスライダ
位置決め機構、リード/ライト用信号のための読み取り
/書き込み回路、装置全体の動作を制御する制御部、を
備えたリードライトテスタを用いて磁気ヘッドスライダ
を検査する磁気ヘッドスライダ検査装置における検査用
磁気ディスクであって、磁気ディスクの表面粗さを示す
パラメータを突起高さRpで表現するとき、前記磁気ヘ
ッドスライダが前記突起高さの一部に接触状態でも検査
でき得、前記磁気ディスクの同一円周上では均一な突起
高さであり、且つ内周から外周にかけてステップ状又は
連続的に前記突起高さを変化させた検査用磁気ディス
ク。
Also provided are a rotating mechanism for rotating the magnetic disk, a magnetic head slider mounting section, a magnetic head slider positioning mechanism, a read / write circuit for read / write signals, and a control section for controlling the operation of the entire apparatus. A magnetic head slider inspection apparatus for inspecting a magnetic head slider using a read / write tester, wherein a parameter indicating the surface roughness of the magnetic disk is expressed by a projection height Rp. Can be inspected even in a contact state with a part of the protrusion height, the protrusion height is uniform on the same circumference of the magnetic disk, and the protrusion height is stepwise or continuously from the inner circumference to the outer circumference. Inspection magnetic disk changed.

【0014】また、回転するガラスディスクと磁気ヘッ
ドスライダの変換素子位置の隙間を浮上量と定義する場
合にその定義された浮上量が常温(20℃)・常圧(大
気圧)で6nm以下であり、又は実稼働の磁気ヘッドス
ライダが回転する磁気ディスク上にある時の磁気ヘッド
スライダの変換素子と磁気ディスクの磁性膜との隙間が
10nm以下であるような磁気ヘッドスライダを搭載し
た磁気ディスク装置であって、磁気ディスク装置の仕様
に記載されている環境条件の範囲で、浮上量が最も低下
する条件のもとで書き込まれた信号を読み出した時にお
いて、磁気ディスクに書き込まれた信号の読み出し信号
間の磁気ディスク円周方向における時間間隔変動量が、
書込んだ信号の時間間隔の0.1%以下である磁気ディ
スク装置。
When the gap between the rotating glass disk and the transducer position of the magnetic head slider is defined as the flying height, the defined flying height is 6 nm or less at normal temperature (20 ° C.) and normal pressure (atmospheric pressure). A magnetic disk drive equipped with a magnetic head slider in which a gap between a conversion element of the magnetic head slider and a magnetic film of the magnetic disk is 10 nm or less when the magnetic head slider is present or on a rotating magnetic disk. When reading a signal written under the condition of the lowest flying height within the range of environmental conditions described in the specifications of the magnetic disk device, reading the signal written to the magnetic disk The time interval variation in the magnetic disk circumferential direction between signals is
A magnetic disk drive which is 0.1% or less of a time interval of a written signal.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】まず、本発明の概要並びにその機
能乃至作用について説明すると、本発明は磁気ディスク
装置に搭載する前の段階において、装置搭載時の接触状
態を示す特定のパラメータが、一定レベル以下の磁気ヘ
ッドスライダを選別するための検査装置であり、磁気ヘ
ッドスライダ検査用磁気ディスク、このディスクを回転
させる回転機構、磁気ヘッドスライダ取付け部、磁気ヘ
ッドスライダ位置決め機構、ライト用信号書込み回路、
リード用信号読込み回路、コントローラ、そして接触状
態検出器などから構成される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the outline of the present invention and its functions and operations will be described. In the present invention, before mounting on a magnetic disk drive, a specific parameter indicating a contact state at the time of mounting the drive is fixed. A magnetic head slider inspection magnetic disk, a magnetic disk for inspecting a magnetic head slider, a rotating mechanism for rotating the disk, a magnetic head slider mounting portion, a magnetic head slider positioning mechanism, a write signal writing circuit,
It is composed of a read signal reading circuit, a controller, a contact state detector, and the like.

【0016】磁気ヘッドスライダの浮上量は、磁気ディ
スク装置が使用される環境条件、例えば温度や雰囲気圧
力により変動する。従って常温・常圧条件で磁気ディス
クに接触しない磁気ヘッドスライダであっても、環境条
件の変化により磁気ディスクとの接触が発生し得る。常
温・常圧条件で軽い接触が発生している磁気ヘッドスラ
イダについては、さらに接触が強くなるので、常温・常
圧条件での所定の浮上量に対し、浮上量を変化させて接
触状態を示す特定のパラメータを調べる必要がある。
The flying height of the magnetic head slider fluctuates depending on the environmental conditions in which the magnetic disk device is used, for example, temperature and atmospheric pressure. Therefore, even with a magnetic head slider that does not contact the magnetic disk under normal temperature and normal pressure conditions, contact with the magnetic disk can occur due to changes in environmental conditions. For magnetic head sliders where light contact occurs under normal temperature and normal pressure conditions, the contact becomes stronger, so the flying height is changed to indicate the contact state with respect to the predetermined floating amount under normal temperature and normal pressure conditions. You need to look at certain parameters.

【0017】従って、磁気ヘッドスライダの浮上量を上
げ下げして、磁気ディスクとの接触状態を変化させる方
法としては、スピンドルの回転数を変化させる方法や、
密閉チャンバーを使用して雰囲気圧力を変える方法、あ
るいは使用する磁気ヘッドスライダ検査用磁気ディスク
面に面粗さ、特にここでは突起高さRpが半径方向で異
なる領域をもつようなディスクを使用して、磁気ヘッド
スライダの浮上位置を変えて接触状態を変化させる手法
が有効である。
Therefore, as a method of changing the contact state with the magnetic disk by raising and lowering the flying height of the magnetic head slider, a method of changing the rotation speed of the spindle,
A method of changing the atmospheric pressure using a closed chamber, or using a disk in which the surface roughness of the magnetic disk for magnetic head slider inspection to be used, in particular, in this case, the projection height Rp has regions different in the radial direction. It is effective to change the contact position by changing the flying position of the magnetic head slider.

【0018】接触状態を示すパラメータと接触状態検出
器としては、摩擦力と摩擦力検出器、スライダ変動量と
スライダ変動を測定するレーザー・ドップラー・速度計
(LDV)なども考えられるが、磁気ヘッドスライダを
選別する際にはヘッドのリード・ライト特性を検査する
ために必ずリードライトテスタを使用するので、このリ
ードライトテスタの機能を利用乃至拡張することにより
接触状態を検出する手法が最も有効な手段である。この
リードライトテスタを利用乃至拡張する手法としては、
接触状態検出器としてインターバルアナライザを使用
し、書き込まれた信号を読込んだ時の信号と信号の間隔
を測定し、この信号間隔の分布等をスライダとディスク
との接触状態を表すパラメータとするものである。
As a parameter indicating the contact state and the contact state detector, a frictional force and a frictional force detector, a laser Doppler / velocimeter (LDV) for measuring a slider variation and a slider variation, and the like can be considered. When selecting a slider, a read / write tester is always used to inspect the read / write characteristics of the head. Therefore, a method of detecting a contact state by utilizing or extending the function of the read / write tester is most effective. Means. Techniques for using or expanding this read / write tester include:
Using an interval analyzer as a contact state detector, measure the signal-to-signal interval when reading a written signal, and use the distribution of this signal interval as a parameter to indicate the contact state between the slider and the disk. It is.

【0019】次に、本発明の実施形態に係る磁気ヘッド
スライダの検査装置及び検査手法について、具体的に図
面を用いて以下説明する。図1は、本発明の第1の実施
形態であるリードライトテスタを利用した磁気ヘッドス
ライダ検査装置の構成図である。図1に示すリードライ
トテスタを利用した磁気ヘッドスライダ検査装置10
は、スピンドル1、キャリッジ2、磁気ヘッドスライダ
取付け部3、磁気ヘッドスライダ4、検査用ディスクa
5、スピンドル1やキャリッジ2を動かす駆動回路2
0、リードライト用のRW回路30、インターバルアナ
ライザ40、装置全体を制御する制御部50、そして取
込んだデータを解析する解析部60等から構成されてい
る。ここで、図1の全構成で、インターバルアナライザ
40や解析部の一部機能及び制御部の一部機能を除いた
構成は、記録・再生特性の検査として従来採用されてい
るリードライトテスタの構成である。
Next, an inspection apparatus and an inspection method for a magnetic head slider according to an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram of a magnetic head slider inspection apparatus using a read / write tester according to a first embodiment of the present invention. Magnetic head slider inspection apparatus 10 using read / write tester shown in FIG.
Are a spindle 1, a carriage 2, a magnetic head slider mounting part 3, a magnetic head slider 4, an inspection disk a
5. Drive circuit 2 for moving spindle 1 and carriage 2
0, a read / write RW circuit 30, an interval analyzer 40, a controller 50 for controlling the entire apparatus, and an analyzer 60 for analyzing the acquired data. Here, in the entire configuration of FIG. 1, the configuration excluding some functions of the interval analyzer 40 and the analysis unit and some functions of the control unit is the same as the configuration of a read / write tester conventionally used for inspection of recording / reproduction characteristics. It is.

【0020】本発明の検査装置の特徴は、スライダの浮
上量を変えて接触の強度をコントロールし、信号を読み
出した時の信号と信号の時間間隔の変化量を解析する機
能が備わっているところにある。このスライダ浮上量を
変える方法としては、スピンドルの回転数を可変とする
方法や磁気ディスク装置が使用される雰囲気の圧力を変
える方法等があり、図1の実施形態ではスピンドルの回
転数を変えることにより接触強度をコントロールするも
のである。そして、リードライトテスタそれ自体は磁気
ディスク装置の記録・再生特性の検査に本来使用される
ものであって、このリードライトテスタを利用乃至拡張
して磁気ヘッドスライドの検査装置においても前記本来
の使用に加えて使用するものである。
The inspection apparatus of the present invention is characterized in that it has a function of controlling the contact strength by changing the flying height of the slider, and analyzing the amount of change in the time interval between the signals when the signals are read. It is in. As a method of changing the flying height of the slider, there are a method of changing the rotation speed of the spindle and a method of changing the pressure of the atmosphere in which the magnetic disk device is used. In the embodiment of FIG. Is used to control the contact strength. The read / write tester itself is originally used for inspecting the recording / reproducing characteristics of the magnetic disk drive, and the read / write tester is used or expanded to use the read / write tester in the magnetic head slide inspection apparatus. Used in addition to

【0021】図2は、図1に示したリードライトテスタ
を利用した検査装置を用いて行う検査手順の一例であ
る。以下にその内容を説明する。ステップ1で回転数N
0、書込み周波数W0でディスクに信号を書き込む。ス
テップ2でこの時の読出し信号の時間間隔(円周方向変
動成分)Δtを測定する(この時のΔtはΔt0として
取込む)。ステップ3で書込み信号をイレーズ(消去)
する。ステップ4で一定回転数下げ、回転数N=N1と
する。ステップ5でもう一度書込み周波数W0で信号を
書込む。ステップ6でこの時の読出し信号の時間間隔
(円周方向変動成分)Δtを測定する(この時のΔtは
Δt1として取込む)。ここで定義した読出し信号の時
間間隔(円周方向変動成分)Δtについては次の図3を
用いて先に説明する。
FIG. 2 shows an example of an inspection procedure performed using the inspection apparatus using the read / write tester shown in FIG. The details will be described below. Rotation speed N in step 1
0, a signal is written to the disk at the write frequency W0. In step 2, the time interval (circumferential fluctuation component) Δt of the read signal at this time is measured (Δt at this time is taken as Δt0). Erase (erase) write signal in step 3
I do. In step 4, the number of rotations is reduced to N = N1. In step 5, a signal is written again at the write frequency W0. At step 6, the time interval (circumferential fluctuation component) Δt of the read signal at this time is measured (at this time, Δt is taken as Δt1). The time interval (circumferential fluctuation component) Δt of the read signal defined here will be described first with reference to FIG.

【0022】図3は、接触強度を判定するために測定し
た取込みリード信号の一例を示す。本データは回転数N
0、周波数W0で書かれた信号をインターバルアナライ
ザ40を介してある一定時間取込み、その間における信
号と信号の時間間隔とその発生頻度の関係を表したもの
である。よって、分布のピーク位置の時間間隔は、書込
み信号の周波数の逆数である1/W0となる。図3中の
実線(a)は磁気ヘッドスライダが磁気ディスクに接触
せずに完全に浮上している状態で取込んだ結果を示して
ある。非接触の状態であっても分布がブロード状になっ
ているのは、スピンドル1の回転変動による影響のため
である。
FIG. 3 shows an example of a captured lead signal measured to determine the contact strength. This data is the rotation speed N
0, a signal written at a frequency W0 is fetched through an interval analyzer 40 for a certain period of time, and expresses the relationship between the time interval between signals and the frequency of occurrence thereof during that time. Therefore, the time interval between the distribution peak positions is 1 / W0, which is the reciprocal of the frequency of the write signal. The solid line (a) in FIG. 3 shows the result obtained when the magnetic head slider is completely flying without contacting the magnetic disk. The reason why the distribution is broad even in the non-contact state is due to the influence of the rotation fluctuation of the spindle 1.

【0023】回転数を変えて浮上を下げ接触が発生した
場合、スライダがディスクの円周方向に力を受けるた
め、書込んだ信号を読みにいった場合にはスピンドルの
回転変動以外に接触による成分が加わり、発生頻度のピ
ーク値が小さくなるとともに分布が図3中の点線(b)
のようにさらにブロード状になってくる。そこで、発生
頻度のピーク値が半分になる時の時間間隔Δtを測定
し、浮上を下げていった時のΔtの変化分を調べること
により、接触による影響を把握することが可能となる。
When the flying speed is lowered by changing the rotation speed and the contact occurs, the slider receives a force in the circumferential direction of the disk. Therefore, when reading the written signal, the slider is caused not only by the rotation fluctuation of the spindle but also by the contact. With the addition of the component, the peak value of the occurrence frequency is reduced and the distribution is indicated by a dotted line (b) in FIG.
It becomes broader like. Therefore, by measuring the time interval Δt when the peak value of the occurrence frequency is halved and examining the change in Δt when the levitation is lowered, it is possible to grasp the influence of the contact.

【0024】図3の場合における信号と信号の時間間隔
は読み取った信号波形の1周期分に相当する時間間隔で
あるが、隙間をあけて適宜の周期分書き込んだ隣接する
信号を読み取ったときの隣接信号間の時間間隔であって
も良いものである。
The time interval between the signals in the case of FIG. 3 is a time interval corresponding to one cycle of the read signal waveform. However, when an adjacent signal written for an appropriate cycle with a gap is read. The time interval between adjacent signals may be used.

【0025】引き続き、図2に戻ってフローについて説
明する。ステップ7,8では、i(回転数を低下してい
く回数)が予め設定しておいた回数Mより大きいかどう
かを調べ、iがM回以下の場合はΔtiと許容できる時
間間隔(ジッター許容値)Δtpとの比較を行い判別す
る。ここでΔtiの方が小さければ、i=i+1にして
一定回転数を下げΔtiを測定する。この操作を繰り返
し、iが所定のM以下の時にΔti>Δtpとなった場
合、この磁気ヘッドスライダを不合格品として取り扱
う。また合格の場合は次のステップ、例えばヘッドのリ
ードライト特性の検査等にさらに進む。換言すると、回
転数を順次低下させていって、その都度Δti<Δtp
を確認しながら規定回数Mを繰り返すことができれば合
格とするものである。
Returning to FIG. 2, the flow will be described. In steps 7 and 8, it is checked whether or not i (the number of times the rotational speed is reduced) is greater than a preset number of times M. If i is less than M times, Δti and an allowable time interval (jitter tolerance) are used. Value) Δtp and discriminate. Here, if Δti is smaller, i = i + 1 is set, the constant rotation speed is reduced, and Δti is measured. This operation is repeated, and when Δti> Δtp when i is equal to or less than the predetermined M, this magnetic head slider is handled as a rejected product. If it passes, the process proceeds to the next step, for example, the inspection of the read / write characteristics of the head. In other words, the rotational speed is sequentially reduced, and in each case, Δti <Δtp
Is passed if the specified number of times M can be repeated while confirming the above.

【0026】この際、ここで用いたΔtp,Mはスライ
ダの接触強度からみた選別を行うためのパラメータであ
り、Δtpについては書込み信号の周波数の逆数である
1/W0に0.2(0.1×2)%を掛けた値を参考に
して(Δtpは(1/W0)の0.1%を2倍してい
る)、Δt0に対してある定数を掛けて算出するのが、
検査装置に使われるスピンドルの回転変動や磁気ヘッド
の単体差を考慮する上で実用的である。即ち、読み取っ
た信号と信号の時間間隔の変動量が書き込んだ信号の時
間間隔の0.1%を合否の判別基準とするのが妥当であ
る。
At this time, Δtp and M used here are parameters for performing selection in view of the contact strength of the slider, and Δtp is 0.2 (0 .0) to 1 / W0 which is the reciprocal of the frequency of the write signal. 1 × 2)% (Δtp is 0.1% of (1 / W0) is doubled), and Δt0 is multiplied by a certain constant.
This is practical in consideration of rotation fluctuation of a spindle used in an inspection device and a single difference of a magnetic head. In other words, it is appropriate that the amount of change in the time interval between the read signal and the signal is 0.1% of the time interval between the written signals as the pass / fail decision criterion.

【0027】以上のことからすると、実際に稼働してい
る磁気ヘッドスライダを搭載した磁気ディスク装置にお
いて、磁気ヘッドスライダの変換素子と磁気ディスクの
磁性膜との隙間が10nm以下であるような狭小隙間で
スライダとディスクの接触状態も有り得るような状況
で、磁気ディスク装置の仕様に記載されている環境条件
の範囲で、浮上量が最も低下する条件のもとで書き込ま
れた信号を読み出した時において、磁気ディスクに書き
込まれた信号の読み出し信号間の磁気ディスク円周方向
における時間間隔変動量が、書込んだ信号の時間間隔の
0.1%以下であるような磁気ヘッドスライダを合格と
するものである。
In view of the above, in a magnetic disk drive equipped with a magnetic head slider that is actually operating, a narrow gap such that the gap between the conversion element of the magnetic head slider and the magnetic film of the magnetic disk is 10 nm or less. In a situation where there is a possibility that the slider and the disk may come into contact with each other, when reading a signal written under the condition that the flying height is the lowest within the range of the environmental conditions described in the specifications of the magnetic disk device, A magnetic head slider whose time interval variation in the circumferential direction of the magnetic disk between read signals of the signals written on the magnetic disk is 0.1% or less of the time interval of the written signals is accepted. It is.

【0028】この検査装置に用いた検査用ディスクにつ
いて以下説明する。図4は、本発明の実施形態であるリ
ードライトテスタ利用のヘッドスライダ検査装置に用い
る検査用ディスクaと、比較のために実際に磁気ディス
ク装置に搭載される実ディスクと検査用ディスクbの特
性を示した図である。図4において、同一の磁気ヘッド
スライダを実ディスク、検査用ディスクa、検査用ディ
スクbの上を浮かせた時、回転数を下げて浮上量を下げ
ていった時、実ディスクでは速度V0で接触が始まりス
ライダ円周方向変動が緩やかに増大することを示し、検
査用ディスクaでは周速V1で接触が始まりスライダ円
周方向変動が少し大きく立ち上がり、また検査用ディス
クbでは周速V2で接触が始まりスライダ円周方向変動
が急激に立ち上がりことを示している。
The inspection disk used in this inspection apparatus will be described below. FIG. 4 shows the characteristics of an inspection disk a used in a head slider inspection device using a read / write tester according to an embodiment of the present invention, and the characteristics of an actual disk and an inspection disk b actually mounted on a magnetic disk device for comparison. FIG. In FIG. 4, when the same magnetic head slider is floated above the real disk, the test disk a, and the test disk b, when the number of revolutions is lowered to reduce the flying height, the real disk contacts at the speed V0. Starts, and the slider circumferential fluctuation gradually increases, and the contact starts at the peripheral speed V1 on the test disk a, and the slider circumferential fluctuation rises slightly large, and the contact occurs at the peripheral speed V2 on the test disk b. The beginning indicates that the slider circumferential fluctuation rapidly rises.

【0029】検査装置に使用するディスクの特徴は、実
際の磁気ディスク装置に搭載する磁気ヘッドスライダと
組合せた時、実際の磁気ディスク装置に使用する実ディ
スクと接触させた時よりもスライダの摩擦力が大きくな
るような、即ち浮上を下げた時の感度の高いものを検査
用ディスクとして使用する。但しあまり感度の高い検査
ディスクbのようなものを使用すると測定バラツキが大
きくなったり、場合によっては磁気ヘッドスライダに損
傷を与えるなどのデメリットが発生することを留意して
おく必要がある。
The characteristics of the disk used in the inspection device are that when combined with a magnetic head slider mounted on an actual magnetic disk device, the frictional force of the slider is greater than when the disk is brought into contact with the actual disk used in the actual magnetic disk device. Is used as an inspection disk so as to increase the value, that is, to have a high sensitivity when the flying height is lowered. However, it is necessary to keep in mind that the use of such a highly sensitive inspection disk b causes disadvantages such as a large measurement variation and, in some cases, damage to the magnetic head slider.

【0030】また、本検査装置に使用される磁気ディス
クは、基本的に検査時に磁気ヘッドスライダとの接触が
発生し、表面状態が変化すると考えられるので、予め検
査用ディスクを検査するためのマスター磁気ヘッドスラ
イダを用意しておき、検査用ディスクはある本数の磁気
ヘッドスライダの検査後に交換し、マスター磁気ヘッド
スライダでディスクの状態を確認するということを行う
必要がある。
Further, the magnetic disk used in the present inspection apparatus is considered to basically come into contact with the magnetic head slider at the time of inspection and its surface state changes, so that a master disk for inspecting the inspection disk in advance is used. It is necessary to prepare a magnetic head slider, replace the inspection disk after inspection of a certain number of magnetic head sliders, and check the state of the disk with the master magnetic head slider.

【0031】従って、実際の磁気ディスク装置におい
て、接触が発生した時の許容する円周方向時間間隔(許
容ジッター値)をΔtdとした時、この装置に搭載する
磁気ヘッドスライダの選別用の検査用ディスクとして検
査用ディスクaを使用した場合、円周方向時間間隔(許
容ジッター値)がΔtpより小さくなるものを合格品と
する。
Therefore, in an actual magnetic disk drive, when an allowable circumferential time interval (allowable jitter value) at the time of occurrence of contact is Δtd, a magnetic head slider mounted on this device is used for inspection for selecting. When the inspection disk a is used as the disk, a disk having a time interval in the circumferential direction (allowable jitter value) smaller than Δtp is regarded as a passable disk.

【0032】図5は、本発明の第2の実施形態であるリ
ードライトテスタを利用乃至拡張した磁気ヘッドスライ
ダ検査装置の構成図である。図1に示す第1の実施形態
に示されている、スピンドル1、キャリッジ2、磁気ヘ
ッドスライダ取付け部3、磁気ヘッドスライダ4、検査
用ディスクa5、スピンドル1やキャリッジ2を動かす
駆動回路20、リードライト用のRW回路30、インタ
ーバルアナライザ40、装置全体を制御する制御部5
0、取込んだデータを解析する解析部60に、新たに、
減圧タンク70、圧力ポンプ80が加わった構成になっ
ている。図5の実施形態では雰囲気の圧力を下げること
により接触強度をコントロールした。
FIG. 5 is a configuration diagram of a magnetic head slider inspection apparatus using or expanding a read / write tester according to a second embodiment of the present invention. 1, a spindle 1, a carriage 2, a magnetic head slider mounting portion 3, a magnetic head slider 4, an inspection disk a5, a drive circuit 20 for moving the spindle 1 and the carriage 2, and a lead shown in the first embodiment shown in FIG. RW circuit 30 for writing, interval analyzer 40, control unit 5 for controlling the entire apparatus
0, the analysis unit 60 that analyzes the captured data
The pressure reducing tank 70 and the pressure pump 80 are added. In the embodiment of FIG. 5, the contact strength was controlled by reducing the pressure of the atmosphere.

【0033】図6は、図5に示したリードライトテスタ
利用の検査装置を用いて行う検査手順の一例である。以
下にその内容を説明する。ステップ1で回転数N0、書
込み周波数W0でディスクに信号を書き込む。ステップ
2でこの時の読出し信号の円周方向成分Δtを測定する
(Δt=Δt0)。ステップ3で雰囲気圧を一定量下げ
圧力P=P1とする。ステップ4で圧力P1においての
読出し信号の円周方向成分Δtを測定する(Δt=Δt
1)。
FIG. 6 shows an example of an inspection procedure performed using the inspection apparatus using the read / write tester shown in FIG. The details will be described below. In step 1, a signal is written to the disk at the rotation speed N0 and the write frequency W0. In step 2, the circumferential component Δt of the read signal at this time is measured (Δt = Δt0). In step 3, the atmospheric pressure is reduced by a certain amount to P = P1. In step 4, the circumferential component Δt of the read signal at the pressure P1 is measured (Δt = Δt)
1).

【0034】ステップ5,6では、iが予め設定してお
いた回数Mより大きいかどうかを調べ、iがM回以下の
場合はΔtiと許容できる時間間隔(ジッター許容値)
Δtpとの比較を行い判別する。ここでΔtiの方が小
さければ、i=i+1にして一定圧力を下げΔtiを測
定する。この操作を繰り返し、iが所定のM以下の時に
Δti>Δtpとなった場合、この磁気ヘッドスライダ
を不合格品として取り扱う。また合格の場合は次のステ
ップ、例えばヘッドのリードライト特性の検査等にさら
に進む。
In steps 5 and 6, it is checked whether or not i is greater than a preset number M. If i is less than M times, Δti and an allowable time interval (tolerable jitter value)
A comparison with Δtp is performed for discrimination. Here, if Δti is smaller, i = i + 1 is set, the constant pressure is reduced, and Δti is measured. This operation is repeated, and when Δti> Δtp when i is equal to or less than the predetermined M, this magnetic head slider is handled as a rejected product. If it passes, the process proceeds to the next step, for example, the inspection of the read / write characteristics of the head.

【0035】この際、ここで用いたΔtp、Mはスライ
ダの接触強度からみた選別を行うためのパラメータであ
り、Δtpについては書込み信号の周波数の逆数である
1/W0に0.2(0.1×2)%を掛けた値を参考に
して、Δt0に対してある定数を掛けて算出するのが、
検査装置使われるスピンドルの回転変動や磁気ヘッドの
単体差を考慮する上で実用的である。
At this time, Δtp and M used here are parameters for performing selection from the viewpoint of the contact strength of the slider, and Δtp is 0.2 (0 .0) to 1 / W0 which is the reciprocal of the frequency of the write signal. 1 × 2) The value calculated by multiplying Δt0 by a certain constant with reference to the value multiplied by% is
This is practical in consideration of the rotation fluctuation of the spindle used in the inspection device and the difference of the magnetic head alone.

【0036】圧力調整の方法は図6では減圧方法を採用
したが、加圧により浮上量をコントロール方法でも差し
支えはなく、これも本発明の範囲内であって逸脱するも
のではない。
Although a pressure reduction method is employed in FIG. 6 for pressure adjustment, a method of controlling the flying height by applying pressure may be used, and this is also within the scope of the present invention and does not deviate.

【0037】次に、接触強度を判定する方法としては、
円周方向変動量(ジッター量)の測定以外にトラック方
向ずれ量(オフトラック量)の測定も有効である。これ
はたとえ磁気ヘッドスライダがディスクの回転方向との
間の角度がほぼ0度であり、接触により発生する摩擦力
が円周方向にしか働かない場合であっても、接触により
磁気ヘッドスライダは円周方向以外に円周方向とは垂直
な半径方向にも振動が発生し、結果としてオフトラック
量が大きくなるためである。
Next, as a method of determining the contact strength,
In addition to measuring the amount of fluctuation in the circumferential direction (the amount of jitter), measurement of the amount of deviation in the track direction (off-track amount) is also effective. This is because even when the angle between the magnetic head slider and the rotation direction of the disk is almost 0 degree and the frictional force generated by the contact acts only in the circumferential direction, the magnetic head slider is rotated by the contact. This is because vibration occurs not only in the circumferential direction but also in the radial direction perpendicular to the circumferential direction, and as a result, the off-track amount increases.

【0038】図7は、図1に示したリードライトテスタ
利用の磁気ヘッドスライダ検査装置を用いて行うもう一
つの検査手順の一例である。本例ではオフトラック量を
測定し接触状態を調べる。以下にその内容を説明する。
ステップ1で回転数N0、半径R0に書込み周波数W0
で信号を書き込む。ステップ2で半径R0+Hd(但し
Hdはライトヘットのトラック方向幅)に書込み周波数
W0’で信号を書込む。ステップ3で磁気ヘッドスライ
ダを半径R0から半径R0+Hdの間で移動させ、この
時の読出し信号の周波数W0とW0’成分の強度比を測
定しておく。
FIG. 7 shows an example of another inspection procedure performed by using the magnetic head slider inspection apparatus using the read / write tester shown in FIG. In this example, the off-track amount is measured to check the contact state. The details will be described below.
In step 1, the writing frequency W0 is set to the rotation speed N0 and the radius R0.
Write the signal with. In step 2, a signal is written at a write frequency W0 'to a radius R0 + Hd (where Hd is the width of the write head in the track direction). In step 3, the magnetic head slider is moved between the radius R0 and the radius R0 + Hd, and the intensity ratio between the frequency W0 and the W0 'component of the read signal at this time is measured.

【0039】ステップ4で半径R0+Hd/2の位置
(半径R0と半径(R0+Hd)との中間位置に)にヘ
ッドを浮上させ、読出し信号をモニタする。ステップ5
で一定回転数下げ、回転数N=N1とする。ステップ6
でこの時の読出し信号の周波数W0とW0’成分の強度
比を測定し、最初に磁気ヘッドスライダを浮上させた半
径R0+Hd/2からのトラック方向ずれ量T1を測定
する。なお回転数を変えるため書込み周波数W0とW
0’はそれぞれW0×N1/N0とW0’×N1/N0
に変化するが特に支障はない。
In step 4, the head is floated at a position of radius R0 + Hd / 2 (an intermediate position between radius R0 and radius (R0 + Hd)), and a read signal is monitored. Step 5
, The rotational speed is reduced, and the rotational speed N is set to N1. Step 6
Then, the intensity ratio between the frequency W0 and the W0 'component of the read signal at this time is measured, and the deviation T1 in the track direction from the radius R0 + Hd / 2 at which the magnetic head slider is first floated is measured. Note that the writing frequencies W0 and W
0 ′ is W0 × N1 / N0 and W0 ′ × N1 / N0, respectively.
But there is no particular problem.

【0040】ステップ7,8では、iが予め設定してお
いた回数Mより大きいかどうかを調べ、iがM回以下の
場合はTiと許容できる時間間隔(ジッター許容値)T
pとの比較を行い判別する。ここでTiの方が小さけれ
ば、i=i+1にして一定回転数を下げTiを測定す
る。この操作を繰り返し、iが所定のM以下の時にTi
>Tpとなった場合、この磁気ヘッドスライダを不合格
品として取り扱う。また合格の場合は次のステップ、例
えばヘッドのリードライト特性の検査等にさらに進む。
なお、ここで用いたTp、Mはスライダの接触強度から
みた選別を行うためのパラメータである。
In steps 7 and 8, it is checked whether or not i is greater than a preset number M. If i is less than M times, Ti and an allowable time interval (tolerable jitter) T
Comparison with p is made for discrimination. Here, if Ti is smaller, i is set to i = i + 1, the constant rotation speed is reduced, and Ti is measured. This operation is repeated, and when i is equal to or less than a predetermined M, Ti
If> Tp, this magnetic head slider is handled as a rejected product. If it passes, the process proceeds to the next step, for example, the inspection of the read / write characteristics of the head.
Note that Tp and M used here are parameters for performing selection in view of the contact strength of the slider.

【0041】以上の説明では、半径R0と半径(R0+
Hd)の2カ所に信号W0とW0’を書き込んでスライ
ダ浮上量が低下したときのスライダの半径方向のずれ量
をW0とW0’の再生信号振幅の比で検知するものであ
るが、スライダの半径方向のずれ量を検知できるもので
あれば良いのであって、2カ所に信号を予め書き込むこ
とには限らないものである。
In the above description, the radius R0 and the radius (R0 +
Hd), the signals W0 and W0 'are written in two places to detect the amount of displacement of the slider in the radial direction when the flying height of the slider decreases, based on the ratio of the amplitudes of the reproduced signals W0 and W0'. What is necessary is just to be able to detect the amount of displacement in the radial direction, and the signal is not necessarily written in two places in advance.

【0042】図8は、接触状態を変えるため、図1に示
した検査装置に、面粗さが半径位置により異なる磁気デ
ィスクを使用する場合に使用する検査ディスクc6を模
式的に示したものである。図8に示す検査ディスクcは
半径方向に面粗さを示すパラメータの一つである突起高
さRpが6nmであるゾーン(0)、5nmであるゾー
ン(1)、4nmであるゾーン(2)の3つのゾーンが
形成されている。ここではRpが小さくなるのに従って
接触した時の摩擦力が大きくなり、円周方向変動が大き
くなることを利用し、i番目のゾーンにある半径Riの
位置において読出し信号の円周方向変動Δtiを測定
し、許容できる時間間隔(ジッター許容値)Δtpとの
比較を行う。この時の検査方法のフローチャートは図9
に示す通りである。
FIG. 8 schematically shows an inspection disk c6 used when a magnetic disk whose surface roughness differs depending on the radial position is used in the inspection apparatus shown in FIG. 1 in order to change the contact state. is there. The inspection disk c shown in FIG. 8 has a zone (0) where the protrusion height Rp, which is one of the parameters indicating the surface roughness in the radial direction, is 6 nm, a zone (1) where it is 5 nm, and a zone (2) where it is 4 nm. Are formed. Here, taking advantage of the fact that the frictional force at the time of contact increases as Rp decreases and the circumferential fluctuation increases, the circumferential fluctuation Δti of the read signal at the position of the radius Ri in the i-th zone is determined. It is measured and compared with an allowable time interval (allowable jitter value) Δtp. The flowchart of the inspection method at this time is shown in FIG.
As shown in FIG.

【0043】即ち、図8及び図9に示す実施形態では、
ディスクの回転数を下げたり又はディスク雰囲気での圧
力を下げたりしてスライダとディスクの接触状態を作り
出すことはせずに、図8に示すディスクを用いてスライ
ダを半径方向にシフトさせて接触状態を作り出し、読み
出し信号の円周方向変動成分を測定して合否判定するも
のである。
That is, in the embodiment shown in FIGS. 8 and 9,
Instead of reducing the rotation speed of the disk or reducing the pressure in the disk atmosphere to create a contact state between the slider and the disk, the slider is radially shifted using the disk shown in FIG. Is determined, and the pass / fail judgment is made by measuring the circumferential fluctuation component of the read signal.

【0044】図10は、接触状態を変えるため、図1に
示した検査装置に面粗さが半径位置により異なる磁気デ
ィスクを使用する場合に使用する検査ディスクd7を模
式的に示したものである。図10に示すようにこの検査
ディスクd7は外周から内周にかけてRpが約6nmか
ら4nmに連続的に変化する。検査フローは図9と同様
であり、Rpの大きい半径位置から小さい半径位置へと
順に磁気ヘッドスライダを移動させて、Δtiを測定す
る。このように連続的にRpが変化するディスクを使用
しても、図8のように階段状にRpが変化するディスク
を使用した時と同様の方法で、磁気ヘッドスライダの選
別を行うことができる。
FIG. 10 schematically shows an inspection disk d7 used when a magnetic disk whose surface roughness differs depending on the radial position is used in the inspection apparatus shown in FIG. 1 in order to change the contact state. . As shown in FIG. 10, in this test disk d7, Rp continuously changes from about 6 nm to 4 nm from the outer circumference to the inner circumference. The inspection flow is the same as that of FIG. 9, and the magnetic head slider is sequentially moved from the radial position with the larger Rp to the radial position with the smaller Rp to measure Δti. Even when a disk having a continuously changing Rp is used, the magnetic head slider can be selected in the same manner as when a disk having a stepped Rp changes as shown in FIG. .

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明の検査装置を用いてジッター量の
変動を測定し、磁気ヘッドスライダを選別することによ
り、磁気ヘッドスライダと磁気ディスクとの接触を許容
した磁気ディスク装置においても、高い信頼性を保証す
ることが可能となる。
According to the inspection apparatus of the present invention, the fluctuation of the jitter amount is measured and the magnetic head slider is selected, so that the magnetic head slider can be brought into contact with the magnetic disk. Performance can be guaranteed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態であるリードライトテ
スタを利用した磁気ヘッドスライダ検査装置の構成図で
ある。
FIG. 1 is a configuration diagram of a magnetic head slider inspection apparatus using a read / write tester according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した検査装置を用いた検査フローチャ
ートである。
FIG. 2 is an inspection flowchart using the inspection apparatus shown in FIG.

【図3】スライダとディスクの接触強度を判定するため
に測定した取込みリード信号の態様を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a form of a read signal read in order to determine a contact strength between a slider and a disk.

【図4】図1の検査装置に使用する検査用ディスクの特
徴を表す図である。
FIG. 4 is a diagram showing characteristics of a test disk used in the test apparatus of FIG. 1;

【図5】本発明の第2の実施形態であるリードライトテ
スタを利用した磁気ヘッドスライダ検査装置の構成図で
ある。
FIG. 5 is a configuration diagram of a magnetic head slider inspection apparatus using a read / write tester according to a second embodiment of the present invention.

【図6】図5に示した検査装置を用いた検査フローチャ
ートである。
6 is an inspection flowchart using the inspection apparatus shown in FIG.

【図7】図1に示した検査装置を用いた他の検査手法
(オフトラック量測定)の検査フローチャートである。
7 is an inspection flowchart of another inspection method (off-track amount measurement) using the inspection device shown in FIG.

【図8】図1の検査装置に使用するもう一つの検査用デ
ィスクを示す図である。
FIG. 8 is a view showing another inspection disc used in the inspection apparatus of FIG. 1;

【図9】図1の検査装置に図8の検査用ディスクを使用
した時の検査フローチャートである。
9 is an inspection flowchart when the inspection disk of FIG. 8 is used in the inspection apparatus of FIG. 1;

【図10】図1の検査装置に使用する更にもう一つの検
査用ディスクを示す図である。
FIG. 10 is a view showing still another test disc used in the test apparatus of FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スピンドル 2 キャリッジ 3 磁気ヘッドスライダ取付け部 4 磁気ヘッドスライダ 5,6,7 検査用ディスク 10 リードライトテスタ利用の磁気ヘッドスライダ検
査装置 20 駆動回路 30 リードライト用のRW回路 40 インターバルアナライザ 50 制御部 60 解析部 70 減圧タンク 80 圧力ポンプ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Spindle 2 Carriage 3 Magnetic head slider mounting part 4 Magnetic head slider 5, 6, 7 Inspection disk 10 Magnetic head slider inspection device using read / write tester 20 Drive circuit 30 Read / write RW circuit 40 Interval analyzer 50 Control unit 60 Analysis unit 70 Decompression tank 80 Pressure pump

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 亮 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内 (72)発明者 中澤 剛 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内 Fターム(参考) 5D091 AA08 FF04 HH20  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Ryo Yoshida 2880 Kozu, Kozuhara-shi, Kanagawa Prefecture Storage Systems Division, Hitachi, Ltd. F term in the system division (reference) 5D091 AA08 FF04 HH20

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 磁気ディスク、前記磁気ディスクを回転
させる回転機構、磁気ヘッドスライダ取付け部、磁気ヘ
ッドスライダ位置決め機構、リード/ライト用信号のた
めの読み取り/書き込み回路、装置全体の動作を制御す
る制御部、を備えたリードライトテスタを用いて磁気ヘ
ッドスライダを検査する磁気ヘッドスライダ検査装置で
あって、 前記磁気ヘッドスライダの浮上量を逐次低下させ、 前記浮上量低下の度毎に、磁気ディスクに書き込まれた
信号の読み出し信号間の磁気ディスク円周方向における
時間間隔変動分を測定し、 前記時間間隔変動分を時間間隔変動分許容値と比較し、 前記浮上量低下を規定回数繰り返したことを検知して磁
気ヘッドスライダを合否判定することを特徴とする磁気
ヘッドスライダ検査装置。
1. A magnetic disk, a rotating mechanism for rotating the magnetic disk, a magnetic head slider mounting portion, a magnetic head slider positioning mechanism, a read / write circuit for read / write signals, and control for controlling the operation of the entire apparatus. A magnetic head slider inspection apparatus for inspecting a magnetic head slider using a read / write tester comprising: a magnetic head slider, wherein the flying height of the magnetic head slider is sequentially reduced; A time interval variation in the circumferential direction of the magnetic disk between the read signal of the written signal is measured, the time interval variation is compared with a time interval variation allowable value, and the flying height reduction is repeated a specified number of times. A magnetic head slider inspection device, which detects a magnetic head slider and determines whether or not the magnetic head slider is acceptable.
【請求項2】 磁気ディスク、前記磁気ディスクを回転
させる回転機構、磁気ヘッドスライダ取付け部、磁気ヘ
ッドスライダ位置決め機構、リード/ライト用信号のた
めの読み取り/書き込み回路、装置全体の動作を制御す
る制御部、を備えたリードライトテスタを用いて磁気ヘ
ッドスライダを検査する磁気ヘッドスライダ検査装置で
あって、 前記磁気ヘッドスライダの浮上量を逐次低下させ、 前記浮上量低下の度毎に、磁気ディスクに書き込まれた
信号の読み出し信号の磁気ディスク半径方向における読
み出し強度の大小から磁気ヘッドスライダずれ量を測定
し、 前記磁気ヘッドスライダずれ量をずれ量許容値と比較
し、 前記浮上量低下を規定回数繰り返したことを検知して磁
気ヘッドスライダを合否判定することを特徴とする磁気
ヘッドスライダ検査装置。
2. A magnetic disk, a rotation mechanism for rotating the magnetic disk, a magnetic head slider mounting portion, a magnetic head slider positioning mechanism, a read / write circuit for read / write signals, and control for controlling the operation of the entire apparatus. A magnetic head slider inspection apparatus for inspecting a magnetic head slider using a read / write tester comprising: a magnetic head slider, wherein the flying height of the magnetic head slider is sequentially reduced; The displacement of the magnetic head slider is measured from the magnitude of the read intensity of the read signal of the written signal in the radial direction of the magnetic disk, and the displacement of the magnetic head slider is compared with the displacement allowance. Magnetic head slider to determine whether the magnetic head slider is acceptable or not. Slider inspection device.
【請求項3】 請求項1又は2に記載の磁気ヘッドスラ
イダ検査装置において、 前記磁気ヘッドスライダの浮上量低下は、磁気ディスク
の回転数を変更させること、又は磁気ディスク及び磁気
ヘッドスライダの雰囲気圧力を変更させることによって
行うことを特徴とする磁気ヘッドスライダ検査装置。
3. The magnetic head slider inspection apparatus according to claim 1, wherein the decrease in the flying height of the magnetic head slider changes the rotation speed of the magnetic disk, or the atmospheric pressure of the magnetic disk and the magnetic head slider. A magnetic head slider inspection device, wherein the inspection is performed by changing
【請求項4】 磁気ディスクを回転させる回転機構、磁
気ヘッドスライダ取付け部、磁気ヘッドスライダ位置決
め機構、リード/ライト用信号のための読み取り/書き
込み回路、装置全体の動作を制御する制御部、を備えた
リードライトテスタを用いて磁気ヘッドスライダを検査
する磁気ヘッドスライダ検査装置における検査用磁気デ
ィスクであって、 磁気ディスクの表面粗さを示すパラメータを突起高さR
pで表現するとき、前記磁気ヘッドスライダが前記突起
高さの一部に接触状態でも検査でき得、 前記磁気ディスクの同一円周上では均一な突起高さであ
り、且つ内周から外周にかけてステップ状又は連続的に
前記突起高さを変化させたことを特徴とした検査用磁気
ディスク。
4. A rotating mechanism for rotating a magnetic disk, a magnetic head slider mounting section, a magnetic head slider positioning mechanism, a read / write circuit for read / write signals, and a control section for controlling the operation of the entire apparatus. A magnetic head slider inspection apparatus for inspecting a magnetic head slider using a read / write tester, wherein a parameter indicating the surface roughness of the magnetic disk is set to a projection height R
When expressed by p, the magnetic head slider can be inspected even when it is in contact with a part of the height of the protrusion, the height of the protrusion is uniform on the same circumference of the magnetic disk, and the step is from the inner circumference to the outer circumference. A magnetic disk for inspection, wherein the height of the projections is changed in a shape or continuously.
【請求項5】 回転するガラスディスクと磁気ヘッドス
ライダの変換素子位置の隙間を浮上量と定義する場合に
その定義された浮上量が常温(20℃)・常圧(大気
圧)で6nm以下であり、又は実稼働の磁気ヘッドスラ
イダが回転する磁気ディスク上にある時の磁気ヘッドス
ライダの変換素子と磁気ディスクの磁性膜との隙間が1
0nm以下であるような磁気ヘッドスライダを搭載した
磁気ディスク装置であって、 磁気ディスク装置の仕様に記載されている環境条件の範
囲で、浮上量が最も低下する条件のもとで書き込まれた
信号を読み出した時において、磁気ディスクに書き込ま
れた信号の読み出し信号間の磁気ディスク円周方向にお
ける時間間隔変動量が、書込んだ信号の時間間隔の0.
1%以下であることを特徴とする磁気ディスク装置。
5. When a gap between a rotating glass disk and a transducer element position of a magnetic head slider is defined as a flying height, the defined flying height is 6 nm or less at normal temperature (20 ° C.) and normal pressure (atmospheric pressure). The gap between the magnetic element of the magnetic head slider and the magnetic film of the magnetic disk when the magnetic head slider is present or on the rotating magnetic disk is 1
A magnetic disk drive equipped with a magnetic head slider having a diameter of 0 nm or less, and a signal written under the condition that the flying height is minimized within the environmental conditions described in the specifications of the magnetic disk device. Is read, the amount of time interval fluctuation in the circumferential direction of the magnetic disk between the read signals of the signals written on the magnetic disk is 0.
A magnetic disk drive characterized by being 1% or less.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6947871B2 (en) 2003-09-30 2005-09-20 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. Yield/quality improvement using calculated failure rate derived from multiple component level parameters
JPWO2007116472A1 (en) * 2006-03-31 2009-08-20 富士通株式会社 Head test apparatus and head test analysis system
US8395859B2 (en) 2010-10-29 2013-03-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of detecting touchdown of magnetic head using timestamps, and magnetic disk drive to which the method is applied
US8537488B2 (en) 2007-03-19 2013-09-17 HGST Netherlands B.V. Method for specifying control value for controlling clearance adjustment amount between head and disk, disk drive device and manufacturing method thereof
US9443543B1 (en) 2015-03-11 2016-09-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Disk storage device and method for controlling head flying height

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6947871B2 (en) 2003-09-30 2005-09-20 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. Yield/quality improvement using calculated failure rate derived from multiple component level parameters
JPWO2007116472A1 (en) * 2006-03-31 2009-08-20 富士通株式会社 Head test apparatus and head test analysis system
US8537488B2 (en) 2007-03-19 2013-09-17 HGST Netherlands B.V. Method for specifying control value for controlling clearance adjustment amount between head and disk, disk drive device and manufacturing method thereof
US8395859B2 (en) 2010-10-29 2013-03-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of detecting touchdown of magnetic head using timestamps, and magnetic disk drive to which the method is applied
US9443543B1 (en) 2015-03-11 2016-09-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Disk storage device and method for controlling head flying height

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