JP2001281112A - 冷蔵庫の検査方法およびそのシステム - Google Patents

冷蔵庫の検査方法およびそのシステム

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JP2001281112A
JP2001281112A JP2000096232A JP2000096232A JP2001281112A JP 2001281112 A JP2001281112 A JP 2001281112A JP 2000096232 A JP2000096232 A JP 2000096232A JP 2000096232 A JP2000096232 A JP 2000096232A JP 2001281112 A JP2001281112 A JP 2001281112A
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Norio Yamanishi
紀郎 山西
Izumi Yamamoto
泉 山本
Akira Horibe
明 堀部
Tetsuto Osawa
哲人 大沢
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Fujitsu General Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 冷蔵庫の検査方法およびそのシステムで、正
確で適切な冷却性能の判定を自動的に行い、良品な製品
のみを市場へ出荷可能とすることを目的とする。 【解決手段】 第1および第2の外箱発泡機1,2の出
口およびヒートラン室3の入口には、それぞれ本体に取
り付けてある当該冷蔵庫固有情報のバーコードを読み取
るとともに、現在の時刻データを得、これらデータを送
信する第1および第2の制御盤4,5を配置する。ヒー
トラン室3の出口には同ヒートラン室3内で冷蔵庫の搭
載マイクロコンピュータおよびサーミスタを用いて検出
された各庫内温度を取り出して送信する副制御盤10を
配置する。主制御盤6は、制御盤4,5および副制御盤
10からのデータを受信し、ヒートラン室3の出口に達
した冷蔵庫について発泡工程後からヒートラン開始まで
の経過時間tを算出し、この経過時間tをもとに判定基
準値を選択し、各庫温度と判定基準値とを比較して当該
冷却性能を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は冷蔵庫の生産工程に
伴い、製品の検査を行うシステムに係り、特に詳しく
は、冷蔵庫の検査、冷却性能の良否判定を自動的に行う
ようにした冷蔵庫の検査方法およびそのシステムに関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】冷蔵庫の生産工程は、主に本体外箱と内
箱との間にウレタン液を注入して断熱発泡部材を形成す
る工程と、この発泡工程を済ませた外箱に種々の部品等
を取り付けて冷蔵庫を組み立てる組立ラインとを備えて
いる。なお、その生産工程においては、本体の冷蔵庫は
例えば無人搬送台車等によって自動的に搬送され、組み
立てられた冷蔵庫が製品として出荷できる良品である否
かが検査される。
【0003】上記のような冷蔵庫の検査では、基本的性
能である冷却性能をテストするために、上記組立ライン
で組み立てられた冷蔵庫は、ヒートラン室で一定時間通
され、ヒートラン室の出口において検査員等によって検
査される。この場合、ヒートラン室では、冷蔵庫の電気
的、機械的に異常がないかを判定するために通電運転を
行う。また、検査員等は、例えば、非接触式温度計を用
いて各庫内温度等の測定を行い、それらの測定結果と判
定基準値とを比較して冷却性能の良否を判定する。
【0004】このように、市場への出荷に際しては、製
品に対する良否判定が施され、良品な製品のみが市場に
出荷されることから、当該製品の信頼性の向上が図られ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
示した冷蔵庫の検査では、以下に示すような冷却性能不
良の製品が市場へ出荷される恐れがあり、製品の信頼性
を損なうという問題が生じる。
【0006】発泡工程からヒートラン室の入口(ヒート
ラン開始)までの時間tが個々に異なることがあるた
め、ヒートラン開始時の発泡部材の温度は、その時間t
が短いほど冷めずに高く、また、その時間tが長いほど
冷めて低くなるだけでなく、外気温度によっても影響を
受け、全ての冷蔵庫について同じであるとは言えない。
【0007】したがって、ヒートラン室の出口において
は、その時間tや外気温度により各冷蔵庫毎に庫内温度
が異なったものとなり、良否の判定に支障を来たし、冷
却性能の判定を誤ってしまうことにもなる。
【0008】また、冷蔵庫の庫内温度等の検査がヒート
ラン室の出口のみの1ポイントでしか行われないため、
ヒートラン室内での時間(冷蔵庫の運転時間)等によ
り、庫内温度が異なったものとなるほか、測定ミスや測
定誤差等が生ずることもあり、これらによって冷却性能
の判定を誤ってしまうこともある。さらにまた、検査員
等が各庫内温度の測定時に扉を開けるため、庫内温度が
一定に保たず、各検査員等における測定結果に誤差が生
じ、冷却性能の判定が適切なものと言えない。
【0009】本発明は、上記課題に鑑みなされたもので
あり、その目的は、上述した不具合を解消して適切な冷
却性能の判定を可能とし、良品な製品のみを市場へ出荷
することができるようにした冷蔵庫の検査方法およびそ
のシステムを提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、少なくとも冷蔵庫の本体外箱と内箱の間
に発泡材料を注入して断熱発泡部材を形成する発泡工程
と、この発泡工程を済ませた外箱に所定部材等を組み込
んで製品の冷蔵庫を組み立てる組立ラインとを経た後
に、この冷蔵庫をヒートラン室に入れて一定時間運転し
た後、この冷蔵庫の冷却性能を検査する冷蔵庫の検査方
法であって、上記発泡工程からヒートラン室に入るまで
の経過時間tを計時する一方、上記ヒートラン室内での
運転時に当該冷蔵庫の搭載マイクロコンピュータおよび
サーミスタによって、同冷蔵庫の各庫内温度を連続的、
あるいは一定時間毎に測定、記憶し、このヒートラン室
を出た冷蔵庫の各庫内温度と判定基準値とを比較して冷
却性能の良否を判定し、上記判定基準値として少なくと
も上記経過時間tに応じた値を用いるようにしたことを
特徴としている。
【0011】上記判定基準値は、上記経過時間tの他
に、機種や外気温度を加味して求めてデータベースと
し、上記冷却性能の良否判定に際して上記経過時間t、
機種および外気温度に応じて上記データベースから所定
の判定基準値を選択するとよい。これにより、判定基準
値としてより適切なものを選択することができ、当該冷
蔵庫の冷却性能をより正確に判定することができる。
【0012】本発明は、少なくとも冷蔵庫の本体外箱と
内箱の間に発泡材料を注入して断熱発泡部材を形成する
発泡工程と、この発泡工程を済ませた外箱に所定部材等
を組み込んで製品の冷蔵庫を組み立てる組立ラインとを
経た後に、この冷蔵庫をヒートラン室に入れて一定時間
運転した後、この冷蔵庫の冷却性能を検査する冷蔵庫の
検査システム方法であって、上記発泡工程前に外箱の所
定箇所に当該冷蔵庫の固有情報のバーコードを取り付
け、上記発泡工程の出口および上記ヒートラン室の入口
でそれぞれ外箱あるいは当該冷蔵庫のバーコードを読み
取るとともに、現在の時刻データを得、これらデータを
送信するための機能を備えた制御盤と、上記ヒートラン
室の出口で同ヒートラン室内で冷蔵庫の搭載マイクロコ
ンピュータによる自己診断テストとともに、サーミスタ
を用いて検出された各庫内温度データを取り出して送信
するための機能を備えた副制御盤と、上記制御盤および
副制御盤からのデータを受信し、上記ヒートラン室の出
口に達した冷蔵庫について上記発泡工程後からヒートラ
ン開始までの経過時間tを算出してこの経過時間tに応
じた判定基準値を選択し、上記ヒートラン室で測定した
各庫温度と判定基準値とを比較して当該冷却性能を判定
するための機能を備えた主制御盤とを備えていることを
特徴としている。
【0013】上記制御盤と主制御盤とのデータ送信は微
弱電波で行い、該主制御盤は、冷蔵庫個々にデータテー
ブルを作成するとともに、そのデータテーブルに受信し
たデータを書き込み、このデータテーブルにより上記経
過時間tを算出するとよい。また、上記制御盤と主制御
盤とのデータ送信は微弱電波で行うとともに、上記副制
御盤と主制御盤とのデータ送信はLAN対応で行い、該
副制御盤は外気温度も測定して主制御盤に送信し、その
主制御盤は冷蔵庫個々にデータテーブルを作成するとと
もに、そのデータテーブルに受信したデータを書き込
み、このデータテーブルにより上記経過時間tを算出
し、上記判定基準値を上記経過時間t、外気温度および
当該冷蔵庫の機種に応じて決定するとよい。これによ
り、各冷蔵庫毎の生産、管理を容易にすることができ、
各冷蔵庫の冷却性能の判定に際しては、各冷蔵庫毎に経
過時間tが異なっても、人手を煩わせることなく、適切
な判定を自動的に行うことができる。
【0014】上記判定基準値は上記経過時間tあるいは
同経過時間t、外気温度および機種をもとにして経験的
に求めてデータベースとし、このデータベースから判定
基準値を選択して決定するとよい。これにより、判定基
準値としてはより適切なものが選択でき、当該冷蔵庫の
冷却性能をより正確に判定することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図1
ないし図6を参照して詳しく説明する。図1において、
この冷蔵庫の検査方法およびそのシステムは、各冷蔵庫
毎に第1および第2の外箱発泡機1,2の出口からヒー
トラン室3の入口までの経過時間tを得るとともに、ヒ
ートラン室3内で各庫内温度等を計測し、このヒートラ
ン室3を出た冷蔵庫についてのその経過時間tおよび測
定温度等を得るとともに、経過時間t等に応じた判定基
準値を選択し、その測定庫内温度と判定基準値とを比較
して当該冷蔵庫の冷却性能の良否を自動的に判定する。
【0016】そのため、冷蔵庫となる本体外箱の所定箇
所に同冷蔵庫固有情報(機種、製品番号、工程内ID
等)のバーコードを付した後、第1および第2の外箱発
泡機1,2に流し、外箱と内箱の間にウレタン液を注入
して断熱発泡部材を形成する。これら外箱発泡機1,2
の出口には、第1および第2の制御盤4,5が配置され
ており、発泡を済ませた外箱の位置を検出してバーコー
ド読み取るとともに、日時を得、そのバーコードの情報
および日時を主制御盤6に送信する。
【0017】また、第1および第2の外箱発泡機1,2
から出た外箱を組立ライン7に搬送して製品となる冷蔵
庫に組み立てられる。このとき、例えば冷蔵庫の外観等
を検査する検査ライン8に搬送した後、その冷蔵庫をヒ
ートラン室3に搬送するが、このヒートラン室3の入口
には第3の制御盤9が配置されており、バーコードを読
み取るとともに、日時を得、そのバーコードの情報およ
び日時を主制御盤5に送信する。
【0018】ヒートラン室3の入口では冷蔵庫の電源プ
ラグをコンセントボードに差し込み、当該冷蔵庫を通常
運転状態とする。また、ヒートラン室3においては、冷
蔵庫の制御部(搭載マイクロコンピュータ)において、
テストプログムにしたがって自己診断テストを実行し、
少なくとも各庫内温度を記憶する。
【0019】そして、ヒートラン室3の出口には副制御
盤10が配置されており、ヒートラン室3の出口におい
て、冷蔵庫の自己診断テストのテストピンショート用コ
ネククタを外し、後述するコネクタ10aを接続する。
副制御盤10は、その冷蔵庫を検出してバーコードを読
み取るとともに、その自己診断テストの結果、各庫内温
度をコネクタ10aを介して取り出し、これらと日時と
をLAN対応に変換して主制御盤6に転送する。
【0020】なお、第1ないし第3の制御盤4,5,9
および副制御盤10は、少なくともそれぞれ外箱や製品
の冷蔵庫を確実に検出することができる場所に配置す
る。図2に示すように、第1ないし第3の制御盤4,
5,9は、外箱が当該位置にかかったことを検出するた
めの位置検出センサ部4a,5a,9aと、その外箱の
バーコードを読み取るバーコード読取部4b,5b,9
bと、外箱の位置検出やバーコードの情報を送信する通
信部4c,5c,9cとを有し、それら位置検出センサ
部4a,5a,9a、バーコード読取部4b,5b,9
bおよび通信部4c,5c,9cを制御する制御部4
d,5d,9dとからなる。
【0021】また、図3に示すように、副制御盤10
は、冷蔵庫に接続するコネクタ10aと、ヒートラン室
3を出た冷蔵庫が当該位置にかかったことを検出するた
めの位置検出センサ部10bと、その冷蔵庫のバーコー
ドを読み取るバーコード読取部10cと、外気温度(お
よびヒートラン室の温度)等を測定する温度センサ部1
0d、コネクタ10aを介して冷蔵庫の制御部から温度
データ等の情報を入力するためのインターフェイス10
eと、それら位置検出センサ部10b、バーコード読取
部10cおよび外気温度(およびヒートラン室の温度)
等を制御し、当該全てのデータをLAN対応に変換して
主制御盤6に転送するサブPC10fと、そのLAN対
応処理結果のデータ等を表示するモニタ10gとからな
る。
【0022】また、主制御盤6は、第1ないし第3の制
御盤4,5,9からの送信情報を受信するための通信機
6aと、それら送信情報により、外箱発泡機1,2の出
口からヒートラン室3までの時間tを各冷蔵庫毎に算出
してデータテーブルに書き込む。また、LANを介して
副制御盤10から転送された情報によりヒートラン室3
内での時間を算出し、この時間と温度データをそのデー
タテーブルに書き込み、このテーブルを参照して当該冷
蔵庫の良否を判定するホストPC6bと、そのテーブル
や良否判定結果等を表示するモニタ6cとからなる。
【0023】なお、第1ないし第3の制御盤4,5,9
と主制御盤6との通信は、微弱電波を用いるが、オンラ
インとしてもよい。また、主制御盤6は、副制御盤10
とLANでオンライン接続してなるが、微弱電波であっ
てもよく、副制御盤10と同様にヒートラン室3の出口
付近に配置するとよい。
【0024】次に、上記構成の冷蔵庫の検査システムの
動作を図4ないし図6のフローチャート図を参照して具
体的に説明する。まず、従来と同様に、冷蔵庫の本体外
箱が無人搬送台車に乗ってAライン、Bラインを自動的
に流れ、第1および第2の外箱発泡機1,2においてそ
れぞれの外箱に断熱発泡部材が形成された後、この外箱
を組立ライン7に流して製品としての冷蔵庫に組み立て
られる。しかる後、その冷蔵庫が、検査ライン8、さら
にヒートラン室3に流されているものとする。このと
き、本体外箱の所定箇所にバーコードを貼ってAライン
およびBラインに流す。このバーコードのデータとして
は、冷蔵庫の機種、製品番号、工程内IDとする。
【0025】図4に示すように、第1および第2の制御
盤4,5の制御部4d,5dは、第1および第2の外箱
発泡機1,2から出てきた外箱をそれぞれ検出すると、
ステップST1からST2に進み、当該外箱のバーコー
ドを読み取る。続いて、現在の日、時間(時刻)等を得
るとともに(ステップST3)、バーコードのデータ
(機種、製品番号、ID)およびその日時を主制御盤6
に送信する(ステップST4)。上述した処理は、新た
な本体外箱の検出毎に、繰り返される。
【0026】一方、第1および第2の外箱発泡機1,2
から出た外箱が組み立てラインに流され、製品の冷蔵庫
が組み立てられ、この冷蔵庫が検査ライン8を経てヒー
トラン室3の入口に達する。すると、検査員等の係が冷
蔵庫の電源プラグをコンセントボードに差し込み、当該
冷蔵庫を通常運転状態としてヒートラン室3に流す。
【0027】第3の制御盤9の制御部9dは、図4のル
ーチンを実行しており、製品の冷蔵庫を検出すると、ス
テップST1からST2に進み、当該冷蔵庫のバーコー
ドを読み取る。続いて、現在の日、時間(時刻)等を得
るとともに(ステップST3)、バーコードのデータ
(機種、ID)およびその日時を主制御盤6に送信する
(ステップST4)。上述した処理は、新たな冷蔵庫の
検出毎に、繰り返される。
【0028】上記冷蔵庫は、ヒートラン室3内を一定時
間かかって搬送されるが、そのヒートラン室3内の冷蔵
庫は当該制御手段(搭載マイクロコンピュータ)によっ
てテストプログラムがスタートされ、自己診断テストが
実行される。その自己診断テストでは、例えば各庫内の
温度が連続的(一定時間毎)に測定され、これら測定結
果のデータを記憶される。なお、それら温度測定は既に
備えられているサーミスタを利用して行う。
【0029】そして、上記冷蔵庫がヒートラン室3の出
口に達すると、検査員等の係がテストピンショート用コ
ネクタを外し、副制御盤10のコネクタ10aを接続
し、自己診断テストのデータ等の取り込み可能とする。
その副制御盤10のサブPC10fは、図5に示すルー
チンを実行しており、冷蔵庫を検出すると、ステップS
T10からST11に進み、当該冷蔵庫のバーコードを
読み取る。
【0030】続いて、当該冷蔵庫の制御手段に対してデ
ータ転送の指令を発し(ステップST12)、その制御
手段からのデータの取り込み準備をする。その冷蔵庫の
制御手段からの転送される各庫内温度のデータ(ヒート
ラン室3の温度や冷蔵庫についての時間等も含む)を取
り込み、一旦内部メモリに記憶する(ステップST1
3)。その内部制御手段からの全てのデータ受け取りが
完了すると、ステップST14からST15に進み、デ
ータ受け取りをモニタ10gに表示し、検査員等の係に
知らせる。
【0031】続いて、内部メモリに記憶したデータをL
AN対応に変換する(ステップST16)。また、温度
センサ部10dを用いて外気温度を検出し、この温度デ
ータもLAN対応に変換し、これらLAN用に変換した
データを主制御盤6に転送する(ステップST17)。
上述した処理は、新たな冷蔵庫の検出毎に、繰り返され
る。
【0032】ここで、主制御盤6のホストPC6bは、
図6に示すルーチンを実行しており、第1ないし第3の
制御盤4,5,9あるいは副制御盤10からデータが送
信されると、ステップST20からST21に進み、第
1の制御盤4、第2の制御盤5、第3の制御盤9あるい
は副制御盤10の何れかからのデータ転送であるかを判
断する。
【0033】第1の制御盤4や第2の制御盤5からのデ
ータ転送であれば、ステップST21からST22に進
み、転送データを受け取り、内部メモリに一旦記憶す
る。続いて、冷蔵庫の機種やIDラベル等ためのデータ
テーブルを作成し(ステップST23)、上記内部メモ
リに記憶したデータをそのデータテーブルに書き込む
(ステップST24)。
【0034】また、第3の制御盤9からのデータ転送で
あれば、ステップST21からST25に進み、転送デ
ータを受け取る。続いて、その受け取ったデータを既に
作成した同じラベルのデータテーブルに書き込む(ステ
ップST26)。
【0035】続いて、当該冷蔵庫について、第1あるい
は第2の外箱発泡機1,2の出口からヒートラン室3の
入口までの経過時間tを算出し(ステップST27)、
この経過時間t等をもとにして各庫内温度の判定基準値
をデータベースにより選択する(ステップST28)。
【0036】なお、そのデータベースは、その経過時間
tだけなく、機種や外気温度を加味して各庫内温度の判
定基準値をデータ化したものにするとよく、さらに、ヒ
ートラン室3の温度や同ヒートラン室3での時間も加味
すると好ましい。例えば、データベースの判定基準値
は、経過時間tが長いほど、また外気温度が高いほど、
通常の判定基準値(従来の判定基準値)より高めとし、
その経過時間tが短いほど、また、外気温度が低いほ
ど,通常の判定基準値より低めとする。
【0037】さらに、副制御盤10からのデータ転送で
あれば、ステップST21からST29に進み、転送デ
ータを受け取る。続いて、その受け取ったデータを既に
作成した同じラベルのデータテーブルに書き込む(ステ
ップST30)。続いて、ヒートラン室3の出口に達し
た冷蔵庫毎に、同冷蔵庫のラベルのデータテーブルから
読み出した温度データと判定基準値とを比較する(ステ
ップST31)。
【0038】この場合、データテーブルからは、各庫内
温度のデータが読み出され、これらデータの各庫内温度
と既に選択した判定基準値とがそれぞれ比較される。そ
れら比較結果をもとにして当該冷蔵庫の良否(冷却性能
の良否)の判定処理を行い(ステップST32)、この
良否判定結果を同じラベルのデータテーブルに書き込み
保存し(ステップST33)、モニタ6dに受取完了を
表示する。検査員等の係がその受取完了を確認してコネ
クタ10aを冷蔵庫から取り外す。
【0039】上述した処理は、第1の制御盤4、第2の
制御盤5、第3の制御盤9あるいは副制御盤10からの
データ転送毎に、繰り返され、第1および第2の外箱発
泡機1,2の出口からヒートラン室3の出口に達した冷
蔵庫の情報がデータテーブル化される。このデータテー
ブルには、各冷蔵庫の機種、IDラベル毎に、発泡完了
からヒートラン開始までの時間t、ヒートラン時の各庫
内温度、外気温度および冷却性能の判定結果等が記録さ
れる。したがって、その記録をモニタ6cで表示すれ
ば、各冷蔵庫の良否が一目瞭然となって判断され、生
産、検査管理の向上が図れる。
【0040】このように、生産された冷蔵庫の全てつい
て、検査データを自動的に収集し、また扉を開けずにヒ
ートラン時の各庫内温度のデータを得ることができる。
また、それらを測定する冷蔵庫のサーミスタが固定であ
り、測定位置が変わらないことから、測定誤差や測定ミ
ス等もなく、正確で最適なデータを収集することができ
る。
【0041】また、上記自動的に収集したデータをもと
にして冷蔵庫の良否(冷却性能の良否)を判定するが、
その判定に際しての判定基準値が各冷蔵庫毎に適切な値
で選択されることから、冷却性能の良否を正確に判定す
ることができる。さらに、上述した処理がほとんど人手
をかけずに、自動的に行われることから、製品の良否判
定にバラツキが生じることもなく、製品の性能の安定化
が図れることにもなる。
【0042】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、以下に述
べる効果を奏する。本発明の冷蔵庫の検査方法は、本体
外箱の発泡工程から製品の冷蔵庫をヒートラン室に入れ
るまでの経過時間tを計時する一方、ヒートラン室内で
の運転時に当該冷蔵庫の搭載マイクロコンピュータおよ
びサーミスタによって同冷蔵庫の各庫内温度を連続的、
あるいは一定時間毎に測定して記憶し、ヒートラン室を
出た冷蔵庫の各庫内温度と判定基準値とを比較して冷却
性能の良否を判定する。したがって、その判定基準値と
して少なくともその経過時間tに応じた値を用いること
から、各庫内温度の測定誤差や測定ミスもなく、正確な
データにより製品の良否の判定を行うことができ、また
製品の良否判定に用いる判定基準値が適切な値であるこ
とから、適切な冷却性能の判定が可能となり、良品な製
品のみを市場へ出荷することができるという効果があ
る。
【0043】本発明の冷蔵庫の検査システムは、本体外
箱の発泡工程の出口およびヒートラン室の入口でそれぞ
れ外箱あるいは当該冷蔵庫のバーコードを読み取るとと
もに、現在の時刻データを得、これらデータを送信する
ための機能を備えた制御盤と、ヒートラン室の出口で同
ヒートラン室内で冷蔵庫の搭載マイクロコンピュータに
よる自己診断テストとともにサーミスタを用いて検出さ
れた各庫内温度データを取り出して送信するための機能
を備えた副制御盤と、制御盤および副制御盤からのデー
タを受信し、ヒートラン室の出口に達した冷蔵庫につい
て発泡工程後からヒートラン開始までの経過時間tを算
出するとともに、この経過時間tに応じた判定基準値を
選択し、ヒートラン室で測定した各庫温度と判定基準値
とを比較して当該冷却性能を判定するための機能を備え
た主制御盤とを備えていることとから、上述した効果に
加え、人手(検査員等)を煩わせることなく、自動的に
正確で適切なデータを得ることができ、製品の良否判定
にバラツキが生じることもなく、製品性能の安定化が図
れ、生産、検査管理の自動化が可能になるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態を示し、冷蔵庫の検査シ
ステムを説明するための概略的ブロック線図。
【図2】図1に示す冷蔵庫の検査システムに用いる第1
ないし第3の制御盤を説明するための概略的ブロック線
図。
【図3】図1に示す冷蔵庫の検査システムに用いる主制
御盤および副制御盤を説明するための概略的ブロック線
図。
【図4】図2に示す第1ないし第3の制御盤の動作を説
明するための概略的フローチャート図。
【図5】図3に示す副制御盤の動作を説明するための概
略的フローチャート図。
【図6】図3に示す主制御盤の動作を説明するための概
略的フローチャート図。
【符号の説明】
1,2 外箱発泡機 3 ヒートラン室 4 第1の制御盤 4a,5a,9a 位置検出センサ部 4b,5b,9b バーコード読取部 4c,5c,9c 通信部 4d,5d,9d 制御部 5 第2の制御盤 6 主制御盤 6a 通信機 6b メインPC 6c モニタ 7 組立ライン 9 第3の制御盤 10 副制御盤 10a コネクタ 10b 位置検出センサ部 10c バーコード読取部 10d 温度センサ部 10e インターフェイス 10f サブPC 10g モニタ t 経過時間(発泡機出口からヒートラン室入口までの
冷蔵庫搬送時間)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀部 明 神奈川県川崎市高津区末長1116番地 株式 会社富士通ゼネラル内 (72)発明者 大沢 哲人 神奈川県川崎市高津区末長1116番地 株式 会社富士通ゼネラル内 Fターム(参考) 2G024 AD12 AD39 BA11 CA17 FA01 FA06

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも冷蔵庫の本体外箱と内箱の間
    に発泡材料を注入して断熱発泡部材を形成する発泡工程
    と、該発泡工程を済ませた外箱に所定部材等を組み込ん
    で製品の冷蔵庫を組み立てる組立ラインとを経た後に、
    該冷蔵庫をヒートラン室に入れて一定時間運転した後、
    該冷蔵庫の冷却性能を検査する冷蔵庫の検査方法であっ
    て、前記発泡工程からヒートラン室に入るまでの時間t
    を計時する一方、前記ヒートラン室内での運転時に当該
    冷蔵庫の搭載マイクロコンピュータおよびサーミスタに
    よって、同冷蔵庫の各庫内温度を連続的、あるいは一定
    時間毎に測定、記憶し、該ヒートラン室を出た冷蔵庫の
    各庫内温度と判定基準値とを比較して冷却性能の良否を
    判定し、前記判定基準値として少なくとも前記時間tに
    応じた値を用いるようにしたことを特徴とする冷蔵庫の
    検査方法。
  2. 【請求項2】 前記判定基準値は、前記時間tの他に、
    機種や外気温度を加味して求めてデータベースとし、前
    記冷却性能の良否判定に際して前記時間t、機種および
    外気温度に応じて前記データベースから所定の判定基準
    値を選択するようにした請求項1に記載の冷蔵庫の検査
    方法。
  3. 【請求項3】 少なくとも冷蔵庫の本体外箱と内箱の間
    に発泡材料を注入して断熱発泡部材を形成する発泡工程
    と、該発泡工程を済ませた外箱に所定部材等を組み込ん
    で製品の冷蔵庫を組み立てる組立ラインとを経た後に、
    該冷蔵庫をヒートラン室に入れて一定時間運転した後、
    該冷蔵庫の冷却性能を検査する冷蔵庫の検査システム方
    法であって、前記発泡工程前に外箱の所定箇所に当該冷
    蔵庫の固有情報のバーコードを取り付け、前記発泡工程
    の出口および前記ヒートラン室の入口でそれぞれ外箱あ
    るいは当該冷蔵庫のバーコードを読み取るとともに、現
    在の時刻データを得、これらデータを送信するための機
    能を備えた制御盤と、前記ヒートラン室の出口で同ヒー
    トラン室内で冷蔵庫の搭載マイクロコンピュータによる
    自己診断テストとともに、サーミスタを用いて検出され
    た各庫内温度データを取り出して送信するための機能を
    備えた副制御盤と、前記制御盤および副制御盤からのデ
    ータを受信し、前記ヒートラン室の出口に達した冷蔵庫
    について前記発泡工程後からヒートラン開始までの経過
    時間tを算出して該経過時間tに応じた判定基準値を選
    択し、前記ヒートラン室で測定した各庫温度と判定基準
    値とを比較して当該冷却性能を判定するための機能を備
    えた主制御盤とを備えていることを特徴とする冷蔵庫の
    検査システム。
  4. 【請求項4】 前記制御盤と主制御盤とのデータ送信は
    微弱電波で行い、該主制御盤は、冷蔵庫個々にデータテ
    ーブルを作成するとともに、そのデータテーブルに受信
    したデータを書き込み、該データテーブルにより前記経
    過時間tを算出するようにした請求項3に記載の冷蔵庫
    の検査システム。
  5. 【請求項5】 前記制御盤と主制御盤とのデータ送信は
    微弱電波で行うとともに、前記副制御盤と主制御盤との
    データ送信はLAN対応で行い、該副制御盤は外気温度
    も測定して主制御盤に送信し、該主制御盤は冷蔵庫個々
    にデータテーブルを作成するとともに、そのデータテー
    ブルに受信したデータを書き込み、該データテーブルに
    より前記経過時間tを算出し、前記判定基準値を前記経
    過時間t、外気温度および当該冷蔵庫の機種に応じて決
    定するようにした請求項3に記載の冷蔵庫の検査システ
    ム。
  6. 【請求項6】 前記判定基準値は、前記経過時間tある
    いは同経過時間t、外気温度および機種をもとにして経
    験的に求めてデータベースとし、該データベースから判
    定基準値を選択して決定するようにした請求項3,4ま
    たは5に記載の冷蔵庫の検査システム。
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