JP2001274117A - 半導体ウエハ固定用シート - Google Patents
半導体ウエハ固定用シートInfo
- Publication number
- JP2001274117A JP2001274117A JP2000086796A JP2000086796A JP2001274117A JP 2001274117 A JP2001274117 A JP 2001274117A JP 2000086796 A JP2000086796 A JP 2000086796A JP 2000086796 A JP2000086796 A JP 2000086796A JP 2001274117 A JP2001274117 A JP 2001274117A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor wafer
- adhesive layer
- sheet
- chipping
- sensitive adhesive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Dicing (AREA)
- Adhesive Tapes (AREA)
- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
Abstract
体ウエハをダイシングする際、切削抵抗によるチップと
ブレードの干渉によってチッピングや、ブレードの目詰
まりによって発生するダイシング速度制限という問題が
あった。 【解決手段】シート状の基材と、該基材上に積層された
粘着剤層を有する半導体ウエハ固定用シートにおいて、
粘着剤層の厚みを3〜7μmにし、該粘着剤層の弾性率
を5.0×104〜5.0×106dyn/cm2(測定
温度23℃、周波数1Hz)としたことを特徴とする。
Description
シートに係り、特に発明の構成を最小限に抑えつつ半導
体ウエハをダイシングした際のチッピング(半導体ウエ
ハのチップに欠けを生じさせること)を防止でき、歩留
の向上、ダイシング速度向上を可能にした半導体ウエハ
固定用シートに関する。
体ウエハ固定用シートが粘着されてからチップ状に切断
(ダイシング)される。
切削抵抗によるチップとブレードの干渉によってチッピ
ング(チップの一部が欠けてしまう現象)や、ブレード
の目詰まりによって発生するダイシング速度制限(低速
であれば目詰まりが生じないため、ダイシング速度が上
がらない)という問題があった。
ウエハ固定用シートとして、基材と粘着剤層の間にチッ
ピング防止層を積層し、チッピング防止効果を持たせた
手段を開示している(特願平11−88513号)。
ング防止効果を有する優れた発明である。しかしなが
ら、本発明にあっては、積層数が増えるため、製品の構
成数及び製造工程が増えるという新たな課題が生じてし
まっていた。また、粘着剤層に新たな構成を付加してい
ないため、ダイシング速度が上がらないという課題を解
決できないままであった。
を最小限に抑えつつ半導体ウエハダイシング時にチッピ
ングが生じない一方、ダイシング速度を向上させた半導
体ウエハ固定用シートを提供することにある。
鋭意検討を行った結果、シート状の基材と、該基材上に
積層された粘着剤層を有する半導体ウエハ固定用シート
において、粘着剤層の厚みを3〜7μmにし、該粘着剤
層の弾性率を5.0×104〜5.0×106dyn/c
m2(測定温度23℃、周波数1Hz)にしたことによ
って、上記課題を解決できることを見出だし、本発明を
完成した。
みと粘着剤層の弾性率を限定することにより、ダイシン
グ時の切削抵抗を抑制しチップとブレードの干渉を抑え
て上記チッピングを防止しする一方、ブレードの目詰ま
りを抑制してダイシング速度の向上を図るものである。
の粘着剤層として、厚みを3〜7μmにしたのは、あま
りに薄いとダイシング時にチップを保持するのに十分な
粘着力が得られずチップ飛びが発生し、あまりに厚いと
チッピング防止効果が出ないためである。該粘着剤層の
弾性率を5.0×104〜5.0×106dyn/cm 2
(測定温度23℃、周波数1Hz)としたのは、あまり
に低いと裏面チッピング、すなわち粘着剤貼り付け側の
チップ面の欠けが生じ、あまりに高いとチップの粘着力
が低くなり十分なチップ保持性が得られずダイシング時
にチップ飛びを引き起こすためである。
ポリマ、エラストマ等の従来公知の一般型粘着剤を使用
できる。また、該粘着剤層に紫外線硬化作用を発揮させ
る場合には、該粘着剤層に、紫外線硬化性化合物や上記
紫外線硬化開始剤を添加することができる。
は2個以上の官能基を有する官能性の紫外線硬化物がよ
く、例えばアクリレート系化合物、ウレタンアクリレー
ト、ウレタンアクリレート系オリゴマ及び/又はモノ
マ、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレート
等の単体又は混合系がある。
ばトリメチロールプロパントリアクリレート、テトラメ
チロールメタンテトラアクリレート、ペンタエリスリト
ールトリアクリレート、ペンタエリスリトールテトラア
クリレート、ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペ
ンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサアク
リレートあるいは1,4−ブチレングリコールジアクリ
レート、1,6−ヘキサンジオールジアクリレート、ポ
リエチレングリコールジアクリレート、オリゴエステル
アクリレート等がある。
ばポリエステルウレタンアクリレート、ポリエーテルウ
レタンアクリレート、4官能ウレタンアクリレート、6
官能ウレタンアクリレート等がある。
素−炭素二重結合を少なくとも二個以上有する紫外線硬
化性化合物であり、例えば、ポリエステル型又はポリエ
ーテル型等のポリオール化合物と、多価イソシアネート
化合物、例えば(2,4−トリレンジイソシアナート、
2,6−トリレンジイソシアナート、1,3−キシリレ
ンジイソシアナート、1,4−キシリレンジイソシアナ
ート、ジフエニルメタン4,4−ジイソシアナート等)
を反応させて得られる端末イソシアナートウレタンプレ
ポリマにヒドロキシル基を有するアクリレートあるいは
メタクリレート(例えば2−ヒドロキシエチルアクリレ
ート、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、2−ヒド
ロキシプロピルアクリレート、2−ヒドロキシプロピル
メタクリレート、ポリエチレングリコールアクリレー
ト、ポリエチレングリコールメタクリレート等)を反応
させて得られるものがある。
キシ基とアクリル酸又はメタクリル酸との反応によって
合成されるものであり、ビスフエノールA型、ビスフエ
ノールS型、ビスフエノールF型、エポキシ油化型、フ
エノールノボラツク型、脂環型等がある。
ル、ポリオールと2塩基酸より合成したポリエステル骨
格に残ったOH基に、アクリル酸を縮合してアクリレー
トにしたものであり、例えば無水フタル酸/プロピレン
オキサイドジオール/アクリル酸、アジピン酸/1,6
−ヘキサンジオール/アクリル酸、トリメリツト酸/ジ
エチレングリコール/アクリル酸等がある。
ダイシングされたチップをピックアップする前に粘着剤
層全体の凝集力を高めてその粘着力を下げるために用い
られるものであり、この配合比はあまりに少ないと硬化
が遅く作業性に劣り、あまりに多いと未反応の開始剤が
残り汚染が生じてしまうため、好ましくは0.1〜10
重量部、さらに好ましくは1〜5重量部がよい。
は、クロロアセトフエノン、ジエトキシアセトフエノ
ン、ヒドロキシアセトフエノン、1−ヒドロキシシクロ
ヘキシルフエニルケトン、α−アミノアセトフエノン、
2−メチル−1−(4−(メチルチオ)フエニル)−2
−モルホリノープロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−
2−メチル−1−フエニルプロパン−1−オン、1−
(4−イソプロピルフエニル)−2−ヒドロキシ−2−
メチルプロパン−1−オン、1−(4−ドデシルフエニ
ル)−2−ヒドロキシ−2−メチルプロパン−1−オ
ン、混合光開始剤、4−(2−ヒドロキシエトキシ)−
フエニル(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ケトン、ア
リルケトン含有光開始剤、ベンゾイン、ベンゾインメチ
ルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイ
ソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、
ベンゾインエーテル、ベンジルジメチルケタール、ベン
ゾフエノン、ベンゾイル安息香酸、ベンゾイル安息香酸
メチル、4−フエニルベンゾフエノン、ヒドロキシベン
ゾフエノン、アクリル化ベンゾフエノン、4−ベンゾイ
ル−4’−メチルジフエニルサルフアイド、3,3’−
ジメチル−4−メトキシベンゾフエノン、メチル−O−
ベンゾイルベンゾエート、チオキサンソン、2−クロル
チオキサンソン、2−メチルチオキサンソン、2,4−
ジメチルチオキサンソン、イソプロピルチオキサンソ
ン、2,4−ジクロロチオキサンソン、2,4−ジエチ
ルチオキサンソン、2,4−ジイソプロピルチオキサン
ソン、α−アシルオキシムエステル、α−アシロキシム
エステル、アシルホスフインオキサイド、メチルフエニ
ルグリオキシレート、グリオキシエステル、3−ケトク
マリン、2−エチルアンスラキノン、カンフアーキノ
ン、ベンジル、9,10−フエナンスレンキノン、アン
スラキノン、ジベンゾスベロン、4’,4’’−ジエチ
ルイソフタロフエノン、ミヒラーケトン、環状光開始
剤、テトラメチルチウラムモノサルフアイド、3,
3’,4,4’−テトラ(t−ブチルパーオキシカルボ
ニル)ベンゾフエノン等がある。上記クロロアセトフエ
ノンとしては、4−フエノキシジクロロアセトフエノ
ン、4−t−ブチル−ジクロロアセトフエノン、4−t
−ブチル−トリクロロアセトフエノン等がある。
は、該紫外線硬化開始剤に対して必要に応じて光開始助
剤を配合しても良い。該光開始助剤は、それ自体は紫外
線照射によって活性化はしないが、紫外線硬化開始剤と
併用することにより紫外線硬化開始剤単独使用より開始
反応が促進され、硬化反応を効率的にするものである。
芳香族アミンがあり、具体的にはトリエタノールアミ
ン、メチルジエタノールアミン、トリイソプロパノール
アミン、n−ブチルアミン、N−メチルジエタノールア
ミン、ジエチルアミノエチルメタクリレート、ミヒラー
ケトン、4,4’−ジエチルアミノフエノン、4,4’
−ジエチルアミノベンゾフエノン、2−ジメチルアミノ
安息香酸エチル、4−ジメチルアミノ安息香酸エチル、
4−ジメチルアミノ安息香酸(nブトキシ)エチル、4
−ジメチルアミノ安息香酸イソアミル、4−ジメチルア
ミノ安息香酸2−エチルヒキシル、重合性3級アミン、
トリエチルアミン、テトラエチルペンタアミン、ジメチ
ルアミノエーテル等がある。
射が必要になる。この紫外線照射量は、紫外線硬化開始
剤や紫外線硬化性化合物の種類によって異なるが、例え
ば20〜500J/cm2(365nm)の範囲が好ま
しく、さらに好ましくは50〜150J/cm2(36
5nm)の範囲がよい。これはあまりに少ないと紫外線
照射による凝集力向上が図れず、粘着力が低下しないた
め切断されたチップをピックアップする際にピックアッ
プ不良を発生させることとなり、あまりに多いと紫外線
照射ラインの速度が遅くなり生産性が悪くなるためであ
る。
導体固定用シートの基材として使用される従来公知の合
成樹脂を採用でき、上記粘着剤層に紫外線硬化組成物等
を配合する場合には基材側からの紫外線を粘着剤層にま
で届かせる必要があるため紫外線透過性のシートである
必要がある。具体的には、ポリ塩化ビニル、ポリブテ
ン、ポリブタジエン、ポリウレタン、エチレン−酢酸ビ
ニルコポリマ、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチ
レン、ポリプロピレン等の単独層、複合層又は複数層を
採用できる。なお、該基材の厚みは10〜500μmの
範囲内から選択される。
は、必要に応じて粘着剤上にポリエチレンラミネート
紙、剥離処理プラスチツクフイルム等の剥離紙又は剥離
シートを密着させて保存される。
基材上に積層された粘着剤層を有する半導体ウエハ固定
用シートにおいて、粘着剤層の厚みを3〜7μmにし、
該粘着剤層の弾性率を5.0×104〜5.0×106d
yn/cm2(測定温度23℃、周波数1Hz)とした
ことを特徴とし、これにより細かいチッピングが生じ
ず、ダイシング速度向上を可能にし、さらに発明の構成
を最小限に抑えた。
各実施例を比較例と比較しつつ、表1を用いて詳細に説
明する。
トは、厚さ100μmのポリプロピレンでできたシート
状基材と、該基材上に積層された厚さ5μm、弾性率9
×105dyn/cm2の粘着剤層としてのアクリル系粘
着剤を備えたものである。
℃、周波数1Hzの条件下で測定器RDA−II(レオ
メトリック社)で測定したものであり、「チップ飛び」
はダイシング時にチップ飛びが一つも無いものを○、チ
ップ飛びが一つでも発生したものを×とした。「チッピ
ング」は半導体固定用シート上に厚さ400μmのシリ
コンウエハを貼り付けてから20分後に3.8mm×
7.0mm角チップへフルカツトしたチップを200倍
の顕微鏡で見て任意に抽出したサンプル30個全てに1
5μm以上の大きさの欠けが1個もなかった場合を○、
そうでない場合を×とした。
チッピングの両方において良好であった。
ポリマとしてのポリアクリル100重量部の他、紫外線
硬化性化合物としての6官能性ウレタンアクリレートオ
リゴマ100重量部と、紫外線硬化開始剤としてのベン
ゾインイソプロピルエーテル8重量部を配合し、さらに
基材を紫外線透過型にしたものである。
スに表1に示した粘着剤厚と弾性率を変化させたもので
ある。
硬くなりすぎチップ飛びに問題があり、弾性率が低かっ
た比較例2では軟らかすぎるためチッピングに問題があ
った。粘着剤層の厚みが厚かった比較例3ではチップの
振動が抑制しきれずチッピングに問題があり、同厚みが
薄かった比較例4ではチップの保持に十分な粘着力が得
られずチップ飛びに問題があった。また、粘着剤層の厚
みが厚く且つ弾性率が高い比較例5ではチッピングに問
題があった。
で行ったダイシング速度を160%に高速化しても、チ
ップ飛び及びチッピングが生じなかった。
トは、シート状の基材と、該基材上に積層された粘着剤
層を有する半導体ウエハ固定用シートにおいて、粘着剤
層の厚みを3〜7μmにし、該粘着剤層の弾性率を5.
0×104〜5.0×106dyn/cm2(測定温度2
3℃、周波数1Hz)としたことを特徴とし、これによ
り発明の構成を最小限に抑えつつダイシング時の切削抵
抗を抑制しチップとブレードの干渉を抑えているのでチ
ッピングを防止でき、さらに、ブレードの目詰まりを抑
制しているのでダイシング速度の向上が図れた。
Claims (2)
- 【請求項1】 シート状の基材と、該基材上に積層され
た粘着剤層を有する半導体ウエハ固定用シートにおい
て、粘着剤層の厚みを3〜7μmにし、該粘着剤層の弾
性率を5.0×104〜5.0×106dyn/cm
2(測定温度23℃、周波数1Hz)としたことを特徴
とする半導体ウエハ固定用シート。 - 【請求項2】 上記基材が紫外線透過性シートであり、
上記粘着剤層には紫外線硬化化合物及び紫外線硬化開始
剤が含有されていることを特徴とする請求項1記載の半
導体ウエハ固定用シート。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000086796A JP2001274117A (ja) | 2000-03-27 | 2000-03-27 | 半導体ウエハ固定用シート |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000086796A JP2001274117A (ja) | 2000-03-27 | 2000-03-27 | 半導体ウエハ固定用シート |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007329459A Division JP2008098669A (ja) | 2007-12-21 | 2007-12-21 | 半導体ウエハ・ダイシング方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001274117A true JP2001274117A (ja) | 2001-10-05 |
Family
ID=18602907
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000086796A Pending JP2001274117A (ja) | 2000-03-27 | 2000-03-27 | 半導体ウエハ固定用シート |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001274117A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7041190B2 (en) | 2002-06-10 | 2006-05-09 | Nitto Denko Corporation | Adhesive sheet for dicing glass substrate and method of dicing glass substrate |
-
2000
- 2000-03-27 JP JP2000086796A patent/JP2001274117A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7041190B2 (en) | 2002-06-10 | 2006-05-09 | Nitto Denko Corporation | Adhesive sheet for dicing glass substrate and method of dicing glass substrate |
KR101261045B1 (ko) | 2002-06-10 | 2013-05-03 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 유리 기판 다이싱용 점착 시이트 및 유리 기판 다이싱 방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100705149B1 (ko) | 반도체 웨이퍼의 제조방법 | |
JP3388674B2 (ja) | エネルギー線硬化型感圧接着剤組成物およびその利用方法 | |
JP4776189B2 (ja) | ウエハ加工用テープ | |
JP4095794B2 (ja) | 複合フィルム及び半導体製品保持シート | |
WO2016111283A1 (ja) | ダイシングテープ | |
KR20070118094A (ko) | 웨이퍼 다이싱용 점착 테이프 및 그것을 이용한 칩의제조방법 | |
KR20180105568A (ko) | 다이싱용 점착 테이프, 다이싱용 점착 테이프의 제조 방법, 및 반도체 칩의 제조 방법 | |
JP2000281991A (ja) | 半導体ウエハ固定用シート | |
JP2002009018A (ja) | 半導体ウエハ用ダイシングフィルム | |
JP6832784B2 (ja) | ステルスダイシング用粘着テープ及びそれを用いた半導体チップの製造方法 | |
JPH10150007A (ja) | 半導体ウエハ固定用シート | |
JP2004075940A (ja) | 電子部材用粘着テープ | |
JP2009158503A (ja) | ウエハ加工用テープ | |
JP2001274117A (ja) | 半導体ウエハ固定用シート | |
JP3659795B2 (ja) | 粘着シート | |
JP3501624B2 (ja) | 半導体ウエハ固定用シート | |
JP2002294184A (ja) | 半導体ウエハ固定用シート | |
JP6829250B2 (ja) | 半導体加工用粘着テープ、及びそれを用いた半導体チップ又は半導体部品の製造方法 | |
JP4377144B2 (ja) | 半導体ウエハ固定用シート | |
JPH09328663A (ja) | 半導体ウエハ固定用シート | |
JP3439066B2 (ja) | 半導体ウエハのダイシング方法 | |
JP2008098669A (ja) | 半導体ウエハ・ダイシング方法 | |
JPWO2004087828A1 (ja) | 電子部材用粘着テープ | |
JP3883405B2 (ja) | 電子部材用粘着テープ | |
JP2000281992A (ja) | 半導体ウエハ固定用シート |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070410 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070424 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070620 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20071030 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071221 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20080104 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20080208 |