JP2001273960A - Socket for semiconductor mounting and its manufacturing method - Google Patents

Socket for semiconductor mounting and its manufacturing method

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JP2001273960A
JP2001273960A JP2000085971A JP2000085971A JP2001273960A JP 2001273960 A JP2001273960 A JP 2001273960A JP 2000085971 A JP2000085971 A JP 2000085971A JP 2000085971 A JP2000085971 A JP 2000085971A JP 2001273960 A JP2001273960 A JP 2001273960A
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semiconductor
electrode
press
elastomer
plate
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JP2000085971A
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Inventor
Hiroto Komatsu
博登 小松
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Shin Etsu Polymer Co Ltd
Shin Etsu Chemical Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Polymer Co Ltd
Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a socket for mounting a semiconductor that has a sufficient insulation resistance between electrodes and that has a less load when pressure- contacted. SOLUTION: In a socket for mounting the semiconductor comprising a framework for connection in a face-to-face position to a circuit board 110 mounted with a packaged semiconductor 100 and pressure-contacting type connectors to obtain an electric connection by compressing the package from an upper side, the pressure-contacting type connector 14 comprises an insulating elastomer 21 on a flat plate, metal wires 16 arranged on both sides of this elastomer and a plate 20 with holes in a position equivalent to an electrode of the semiconductor. The metal wires 16 are plurally arranged through the holes of the plate 20 and formed as an electrode part.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パッケージ化され
た半導体、主にはLGA、BGA等のエリアアレイ型パ
ッケージに対応した半導体を基板に実装する際に使用す
る半導体ソケット及びその製造方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor socket used for mounting a packaged semiconductor, mainly a semiconductor corresponding to an area array type package such as LGA and BGA on a substrate, and a method of manufacturing the same. It is.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来このような半導体を実装するための
ソケットには、金属ピンを樹脂フレーム配列させたソケ
ット、スプリンプローブを樹脂に配列したソケット、あ
るいは異方導電性シートを使用したソケット等が使用さ
れてきた。
2. Description of the Related Art Conventionally, sockets for mounting such a semiconductor include a socket in which metal pins are arranged in a resin frame, a socket in which spring probes are arranged in resin, and a socket using an anisotropic conductive sheet. Have been used.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】金属ピンを配列したソ
ケット、スプリングプローブを配列したソケットでは、
半導体を電気的に接続するための圧縮を、金属のバネ性
で対応しているため、スプリングバネや、湾曲したバネ
ピンを使用するので、導通経路が長くなると共に電気容
量が大きくなり、昨今の半導体の高速化に対応できてい
ないと言う問題がある。一方、異方導電性シートを使用
したソケットもこの用途に使用されているが、金属線が
全エリアに均一に配列されているので、接続に寄与しな
い金属線が、電極間に埋設されているため、電極間絶縁
抵抗の低下、クロストークの発生という問題があり、さ
らに、多くの金属線を圧縮させるため圧接時の荷重が増
大すると言う問題も抱えていた。
In a socket in which metal pins are arranged and a socket in which spring probes are arranged,
Since the compression for electrically connecting the semiconductor is supported by the spring property of a metal, a spring spring or a curved spring pin is used, so the conduction path becomes longer and the electric capacity becomes larger. There is a problem that it is not possible to cope with the high speed. On the other hand, sockets using anisotropic conductive sheets are also used for this purpose, but metal wires that do not contribute to connection are buried between the electrodes because the metal wires are uniformly arranged in all areas. Therefore, there is a problem that the inter-electrode insulation resistance decreases and crosstalk occurs, and furthermore, there is a problem that a load at the time of press-fitting increases because many metal wires are compressed.

【0004】本発明の課題は、十分な電極間絶縁抵抗を
確保し、クロストークの発生を極力抑えられ、かつ圧接
時の荷重が少なくてすむ半導体実装用ソケットを提供す
ることにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor mounting socket which ensures a sufficient inter-electrode insulation resistance, minimizes the occurrence of crosstalk, and requires a small load during pressure welding.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は次のような手段を採用した。請求項1記載
の発明は、パッケージ化された半導体を実装する基板に
位置合わせするための枠体と、パッケージを上方より圧
縮することで電気的接続を得られる圧接型コネクタから
構成される半導体実装用ソケットにおいて、前記圧接型
コネクタが、平板上の絶縁性エラストマーと、該エラス
トマーの表裏面にわたって配置された金属線と、半導体
の電極に相当する位置に穴を有するプレートとにより構
成され、前記金属線は前記プレートの穴を貫通して複数
本配列され電極部として形成されていることを特徴とし
ている。
To solve the above problems, the present invention employs the following means. According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor package comprising a frame for positioning a packaged semiconductor on a substrate on which the package is mounted, and a press-connecting connector for obtaining electrical connection by compressing the package from above. In the socket, the press-connecting type connector is constituted by an insulating elastomer on a flat plate, a metal wire disposed over the front and back surfaces of the elastomer, and a plate having a hole at a position corresponding to a semiconductor electrode; It is characterized in that a plurality of wires penetrate through the holes of the plate and are arranged as electrode portions.

【0006】請求項1記載の発明において、圧接型コネ
クタの金属線が、該圧接型コネクタの厚み方向に対し、
45°〜90°の範囲で一定の角度を持たせ配列されて
おり、該金属線の長さが0.5mm〜2mmの範囲であ
ることが好ましい。
[0006] In the first aspect of the present invention, the metal wire of the press-connecting connector is arranged in a thickness direction of the press-connecting connector.
It is preferable that the metal wires are arranged with a certain angle in a range of 45 ° to 90 °, and the length of the metal wire is in a range of 0.5 mm to 2 mm.

【0007】請求項1記載の発明において、圧接型コネ
クタの金属線が、螺旋状に成形され、その旋回数rが0
<r≦1の範囲であることが好ましい。
According to the first aspect of the present invention, the metal wire of the press-connecting connector is formed in a spiral shape, and the number of turns r is zero.
<R ≦ 1 is preferable.

【0008】請求項1記載の発明において、圧接型コネ
クタの表裏の少なくとも1面が電極部のみ0.05mm
〜0.3mmの範囲で一定に突出していることが好まし
い。
According to the first aspect of the present invention, at least one of the front and back surfaces of the pressure contact type connector has only an electrode portion of 0.05 mm
It is preferable to protrude constantly within a range of 0.3 mm.

【0009】請求項1記載の発明において、プレート
は、前記半導体を実装する基板と半導体実装用ソケット
の枠体との相関的位置を制御するための穴を有している
ことが好ましい。
In the first aspect of the present invention, the plate preferably has a hole for controlling a relative position between a substrate on which the semiconductor is mounted and a frame of a semiconductor mounting socket.

【0010】請求項1記載の発明において、プレートの
少なくとも1面側が絶縁性エラストマーに覆われてなる
ことが好ましい。
In the first aspect of the present invention, it is preferable that at least one surface of the plate is covered with an insulating elastomer.

【0011】請求項2記載の発明である半導体実装用ソ
ケットの製造方法は、絶縁性エストラマーの中に複数の
金属線を埋設した複数本の線状体を成形する工程と、半
導体の電極位置に相対する位置に穴を備えたプレートを
成形する工程と、このプレートを複数枚平行に並べてそ
の電極位置用の穴全てに前記線状体を貫通させ、これら
プレートを所定の間隔に配置する工程と、これをエラス
トマー注型用金型に挿入して絶縁性エラストマー部材を
注型し硬化させる工程と、硬化させたものを金型から取
り出し各プレート間で切断し圧接型コネクタを形成する
工程と、電極位置以外のエラストマーをレーザーで彫り
込み電極部を突出させる工程と、この圧接型コネクタを
半導体を実装する基板に対し相対する位置に接続させる
ため枠体と一体化する工程と、を備えたことを特徴とし
ている。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a semiconductor mounting socket, comprising: forming a plurality of linear bodies in which a plurality of metal wires are embedded in an insulating elastomer; Forming a plate having holes at opposing positions, arranging a plurality of such plates in parallel, penetrating the linear body through all the holes for the electrode positions, and arranging these plates at predetermined intervals; A step of casting this into an elastomer casting mold to cast and cure the insulating elastomer member, and a step of taking out the cured product from the mold and cutting between the plates to form a press-fit connector. Laser engraving of the elastomer other than the electrode position with a laser to protrude the electrode part, and integration with the frame to connect this press-fit connector to the position opposite to the board on which the semiconductor is mounted It is characterized by comprising that the step.

【0012】請求項2記載の発明において、プレートを
成形する工程は、半導体を実装する基板と半導体実装用
ソケットの枠体との相関的位置を制御するための位置制
御穴を開ける工程を含むのが好ましい。
In the invention described in claim 2, the step of forming the plate includes a step of forming a position control hole for controlling a relative position between the substrate on which the semiconductor is mounted and the frame of the semiconductor mounting socket. Is preferred.

【0013】[0013]

【作用】請求項1記載の発明によると、絶縁性エラスト
マー中に配備された金属線の位置がプレートにより規制
され半導体の電極に相当する位置のみとなっているの
で、十分な絶縁抵抗を得られ、クロストークが最小限に
抑制され、さらに、金属線を圧縮させるため圧接時の荷
重を減少させることができる。また、金属線を傾けれ
ば、バネ性が向上し、少ない押圧力で半導体接点及び基
板接点への接触性を保つことができる。金属線を螺旋状
に成形したものにあっては、さらにバネ性が向上し、少
ない押圧力で半導体接点及び基板接点への接触性を保つ
ことができる。圧接型コネクタの表裏の少なくとも1面
が電極部のみ一定に突出したものにすると、押圧力をさ
らに減少させることができる。プレートに、半導体実装
用ソケットの枠体との相関的位置を制御するための穴を
設けたものにあっては、枠体を基板に装着すると半導体
の電極部と基板の電極とが一致する。また、プレートの
一面側のみにエラストマーを配置すれば、押圧力を減少
させることができる。請求項2記載の発明によれば、請
求項1記載のような半導体実装用ソケットを作製するこ
とができる。
According to the first aspect of the invention, since the position of the metal wire provided in the insulating elastomer is restricted by the plate and is only the position corresponding to the semiconductor electrode, a sufficient insulation resistance can be obtained. In addition, crosstalk can be suppressed to a minimum, and the load at the time of pressing can be reduced because the metal wire is compressed. Further, if the metal wire is inclined, the spring property is improved, and the contact with the semiconductor contact and the substrate contact can be maintained with a small pressing force. When the metal wire is formed into a spiral shape, the spring property is further improved, and the contact with the semiconductor contact and the substrate contact can be maintained with a small pressing force. If at least one of the front and back surfaces of the press-connecting connector is formed such that only the electrode portion protrudes constantly, the pressing force can be further reduced. When the plate is provided with a hole for controlling the relative position of the semiconductor mounting socket relative to the frame, when the frame is mounted on the substrate, the electrode portions of the semiconductor coincide with the electrodes of the substrate. If the elastomer is arranged only on one side of the plate, the pressing force can be reduced. According to the second aspect of the present invention, the semiconductor mounting socket according to the first aspect can be manufactured.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は、本発明の第1の実施の形
態である半導体実装用ソケット10を用いて、半導体パ
ッケージ100を実装基板110に取り付ける状態を示
す斜視図で、図2は分解側面図である。半導体実装用ソ
ケット10は、パッケージ化された半導体を実装する実
装基板110に位置合わせするための枠体12と、パッ
ケージ100を上方より圧縮することで電気的接続を得
られる圧接型コネクタ14から構成されている。なお、
図中の符号120はヒートシンクである。図3は、この
半導体実装用ソケット10を用いて、半導体パッケージ
100を実装基板110に取り付けた状態の縦断面図、
図4は図3の丸枠A部の拡大図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a state in which a semiconductor package 100 is mounted on a mounting substrate 110 using a semiconductor mounting socket 10 according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an exploded side view. The semiconductor mounting socket 10 is composed of a frame 12 for positioning the packaged semiconductor on a mounting substrate 110 and a press-connecting connector 14 for obtaining electrical connection by compressing the package 100 from above. Have been. In addition,
Reference numeral 120 in the figure is a heat sink. FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing a state where the semiconductor package 100 is mounted on a mounting substrate 110 using the semiconductor mounting socket 10;
FIG. 4 is an enlarged view of a portion A of the round frame in FIG.

【0015】次に、この半導体実装用ソケット10の製
造方法について説明する。先ず、半導体実装用ソケット
10のうち圧接型コネクタ14の製造方法について図
5,6を参照して説明する。なお、図6中の符号13は
抜き刃である。図5(a)に示すように、3枚の未硬化
シリコーンゴムシート15の間に、それぞれ2本の金属
線16を並列させた状態で挟んでプレス硬化させる。次
に、出来上がった金属線入りのシート17を、(b)に
示すように、カッター18で切断して、(c)に示すよ
うな線状体19にする。該線状体19は、内部に4本の
金属線16が含まれている。この金属線16は、断面が
円形、楕円形、方形等の各種形状の金属線で、材質は、
銅、タングステン、鉄、ニッケル、金、銀、あるいはこ
れらの合金等を使用することができ、これらの表面にニ
ッケル、Au、Pd、Pt等の各種金属をメッキするこ
とは任意とする。
Next, a method of manufacturing the semiconductor mounting socket 10 will be described. First, a method of manufacturing the press contact type connector 14 of the semiconductor mounting socket 10 will be described with reference to FIGS. Reference numeral 13 in FIG. 6 is a punching blade. As shown in FIG. 5 (a), two metal wires 16 are sandwiched between three uncured silicone rubber sheets 15 in a state of being arranged in parallel, and press-cured. Next, the completed sheet 17 containing a metal wire is cut by a cutter 18 as shown in FIG. 3B to form a linear body 19 as shown in FIG. The linear body 19 includes four metal wires 16 inside. The metal wire 16 is a metal wire of various shapes such as circular, elliptical, and square in cross section.
Copper, tungsten, iron, nickel, gold, silver, or alloys thereof can be used. Plating various metals such as nickel, Au, Pd, and Pt on the surface thereof is optional.

【0016】一方、図5(d)に示すような、半導体パ
ッケージの電極位置に相対する位置に穴20aを備え、
かつ前記枠体12との相関的位置を制御するための位置
制御穴20bを有するプレート20を作製する。プレー
ト20は、ステンレス、銅、42アロイ等の金属やポリ
エステル、ABS、LCP等の樹脂からなり、厚みは
0.05mmから0.5mmの範囲とする事で接続時の
圧縮を安定して行うことができるものである。
On the other hand, as shown in FIG. 5D, a hole 20a is provided at a position opposite to the electrode position of the semiconductor package.
Further, a plate 20 having a position control hole 20b for controlling a relative position with respect to the frame 12 is manufactured. The plate 20 is made of a metal such as stainless steel, copper, or 42 alloy, or a resin such as polyester, ABS, or LCP, and has a thickness in a range of 0.05 mm to 0.5 mm to stably perform compression during connection. Can be done.

【0017】次に、図5(e)に示すように、上記のプ
レート20を複数枚平行に並べて、各穴20aに線状体
19を挿通する。この状態を側面から見ると(f)に示
すようになる。続いて、(g)に示すように、プレート
20を水平面に対して45°〜90°の範囲で傾けた状
態にして、注型用金型に挿入し絶縁性エラストマー21
を注入して熱硬化処理を行う。出来上がった立方体上の
ものを、(h)に示すように、ワイヤーソー22を用い
てプレート20間を1個ずつスライスする。使用する絶
縁性エラストマー21は、シリコーンゴム、ブチルゴ
ム、ニトリルゴム、アクリルゴム、フッ素ゴム等を選択
することができるが、広い温度範囲で安定したゴム特性
を有し、比較的安価なシリコーンゴムが望ましい。
Next, as shown in FIG. 5E, a plurality of the plates 20 are arranged in parallel, and the linear members 19 are inserted into the respective holes 20a. This state is as shown in FIG. Subsequently, as shown in (g), the plate 20 is tilted in a range of 45 ° to 90 ° with respect to the horizontal plane, and inserted into the casting mold to form the insulating elastomer 21.
To perform a thermosetting treatment. The completed cube is sliced one by one between the plates 20 using a wire saw 22 as shown in FIG. As the insulating elastomer 21 to be used, silicone rubber, butyl rubber, nitrile rubber, acrylic rubber, fluorine rubber, or the like can be selected, but silicone rubber having stable rubber properties over a wide temperature range and relatively inexpensive silicone rubber is desirable. .

【0018】続いて、図5(h)でスライスされた図6
(a)に示すものに、(b)に示すように抜き刃13を
あてがって、枠体12の底面に接触する部分の絶縁性エ
ラストマー21を削り取り形を整える(c)。さらに、
(d)に示すように、レーザを用いて線状体19の部分
を除いた絶縁性エラストマー21の表裏面(図では先ず
表面の処理のみ示す)を若干(0.05mm〜0.3m
m)の範囲削り取って、圧接型コネクタ14を完成させ
る。なお、金属線の長さは0.5mm〜2mmの範囲で
ある。
Subsequently, FIG. 6 sliced in FIG.
As shown in (a), a punching blade 13 is applied to the one shown in (a) to scrape off the insulating elastomer 21 at the portion in contact with the bottom surface of the frame body 12 to prepare a shape (c). further,
As shown in (d), the front and back surfaces of the insulating elastomer 21 (only the front surface treatment is shown in the figure) except for the portion of the linear body 19 using a laser are slightly (0.05 mm to 0.3 m).
m) is cut off to complete the press-connecting connector 14. The length of the metal wire is in the range of 0.5 mm to 2 mm.

【0019】次に、半導体パッケージ100を実装する
実装基板110に位置合わせするための枠体12につい
て説明する。枠体12は、図1,2に示すように、4角
形の筒状に形成されており、底面には位置決め突起12
aが設けられていて、実装基板110の所定位置に設け
られた穴に嵌合させることにより、半導体パッケー10
0を実装基板110上に位置決めできる。さらに、この
突起12aがプレート20の位置制御穴20bに嵌合さ
せることにより、半導体パッケージ100、圧接型コネ
クタ14、実装基板110の位置決めが行えることにな
る。なお、枠体12の素材は、エポキシ樹脂、アクリル
樹脂、ポリエーテル樹脂、ポリフェニレンスルファイド
樹脂、ポリエーテルサルフォン樹脂、ポリエーテルイミ
ド樹脂等で、これらの樹脂にガラス繊維等で補強するこ
とは任意とされる。また、これの枠体の成型には、切削
加工、射出成形等が用いられる。
Next, the frame 12 for positioning the semiconductor package 100 on the mounting substrate 110 will be described. As shown in FIGS. 1 and 2, the frame 12 is formed in a quadrangular cylindrical shape, and has a positioning protrusion 12 on the bottom surface.
a is provided, and the semiconductor package 10 is fitted into a hole provided at a predetermined position of the mounting board 110.
0 can be positioned on the mounting board 110. Further, by fitting the projection 12a into the position control hole 20b of the plate 20, the semiconductor package 100, the press-connecting connector 14, and the mounting board 110 can be positioned. The material of the frame 12 is an epoxy resin, an acrylic resin, a polyether resin, a polyphenylene sulfide resin, a polyether sulfone resin, a polyetherimide resin, or the like, and it is optional to reinforce these resins with glass fibers or the like. It is said. Cutting, injection molding or the like is used for molding the frame.

【0020】この実施形態では、上記のように構成した
ので、絶縁性エラストマー中に配備された金属線の位置
がプレートにより規制された結果、半導体の電極に相当
する位置のみとなり、十分な電極間絶縁抵抗が得られ、
クロストークが最小限に抑制され、さらに、金属線を圧
縮させるため圧接時の荷重を減少させることができる。
In this embodiment, as described above, since the position of the metal wire provided in the insulating elastomer is regulated by the plate, only the position corresponding to the electrode of the semiconductor is obtained. Insulation resistance is obtained,
Crosstalk is suppressed to a minimum, and the load at the time of pressing can be reduced because the metal wire is compressed.

【0021】続いて、本発明に係る半導体実装用ソケッ
トの第2の実施の形態について説明する。但し、枠体1
2については、第1の実施の形態と変わらないので省略
するとともに、第1の実施の形態と同一または相当する
部分には同一符号を付し説明を省略する。以下、後述の
実施の形態でも同様である。第2の実施の形態である半
導体実装用ソケットの圧接型コネクタ24は、図7
(a)〜(d)に示すように構成されている。なお、
(a)は平面図、(b)は(a)のb−b線による断面
図、(c)は(a)のC部の拡大図、(d)は(b)の
d部の拡大図である。
Next, a second embodiment of the semiconductor mounting socket according to the present invention will be described. However, frame 1
2 is the same as that of the first embodiment and is omitted, and the same or corresponding parts as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. Hereinafter, the same applies to the following embodiments. The press-fit type connector 24 of the semiconductor mounting socket according to the second embodiment is shown in FIG.
It is configured as shown in (a) to (d). In addition,
(A) is a plan view, (b) is a cross-sectional view taken along line bb of (a), (c) is an enlarged view of a C section of (a), and (d) is an enlarged view of a d section of (b). It is.

【0022】第2の実施の形態に用いる圧接型コネクタ
24が、第1の実施の形態と異なる点は、線状体の構造
にある。線状体29は円柱状のシリコーンゴムで、内部
に配置されている複数(図では8本)の金属線26は断
面が円形で、かつ線状体29の表裏にかけて螺旋状に成
形され、その旋回数rが0<r≦1の範囲になってい
る。なお、螺旋の旋回半径は線状体29の半径に近いも
のとしている。
The press contact type connector 24 used in the second embodiment differs from the first embodiment in the structure of the linear body. The linear body 29 is made of cylindrical silicone rubber, and a plurality of (eight in the figure) metal wires 26 disposed inside have a circular cross section, and are spirally formed over the front and back of the linear body 29. The number of turns r is in the range of 0 <r ≦ 1. The radius of the spiral is close to the radius of the linear body 29.

【0023】この構成によれば、さらにバネ性が向上
し、少ない押圧力で半導体接点及び基板接点への接触性
を保つことができる。
According to this configuration, the spring property is further improved, and the contact with the semiconductor contact and the substrate contact can be maintained with a small pressing force.

【0024】次に、本発明に係る半導体実装用ソケット
の第3の実施の形態について説明する。第3の実施の形
態である半導体実装用ソケットの圧接型コネクタ34
は、図8(a)〜(f)に示すように構成されている。
なお、(a)は平面図、(b)は(a)のb−b線によ
る断面図、(c)は(a)のC部の拡大図、(d)は
(a)のd−d線による断面図、(e)は(b)のE部
の拡大図、(f)は(d)のF部の拡大図である。
Next, a third embodiment of the semiconductor mounting socket according to the present invention will be described. Press-fit connector 34 of semiconductor mounting socket according to a third embodiment.
Is configured as shown in FIGS. 8A to 8F.
(A) is a plan view, (b) is a cross-sectional view taken along line bb of (a), (c) is an enlarged view of a portion C of (a), and (d) is dd of (a). FIG. 7E is an enlarged view of a portion E in FIG. 7B, and FIG. 7F is an enlarged view of an F portion in FIG.

【0025】第3の実施の形態に用いる圧接型コネクタ
34が、第1の実施の形態と異なる点は、先ず線状体の
構造にある。線状体39は四角柱状のシリコーンゴム
で、内部に配置されている金属線36の断面も四角形状
であり、6本配置されている。さらに、(e)、(f)
から明らかなように、裏面のみ絶縁性エストラマー21
が削られている点である。なお、この図では、プレート
20の図示を省略している。
The first embodiment differs from the first embodiment in that the press-contact type connector 34 used in the third embodiment is different from the first embodiment in the structure of the linear body. The linear body 39 is a quadrangular prism-shaped silicone rubber, and the cross section of the metal wire 36 disposed inside is also quadrangular, and six wires are disposed. (E), (f)
As is clear from FIG.
It is a point that has been cut. In this figure, the illustration of the plate 20 is omitted.

【0026】この構成によれば、第1の実施の形態に比
べ、絶縁性エストラマー21の削り込みが片面のみであ
るので作業時間の短縮が図れることになる。
According to this configuration, as compared with the first embodiment, since the insulating elastomer 21 is cut off on only one side, the working time can be reduced.

【0027】次に、本発明に係る半導体実装用ソケット
の第4の実施の形態について説明する。第4の実施の形
態である半導体実装用ソケットの圧接型コネクタ44
は、図9(a)〜(f)に示すように構成されている。
なお、(a)は平面図、(b)は(a)のb−b線によ
る断面図、(c)は(a)のC部の拡大図、(d)は
(a)のd−d線による断面図、(e)は(b)のE部
の拡大図、(f)は(d)のF部の拡大図である。
Next, a fourth embodiment of the semiconductor mounting socket according to the present invention will be described. Press-fit connector 44 of semiconductor mounting socket according to a fourth embodiment.
Are configured as shown in FIGS. 9A to 9F.
(A) is a plan view, (b) is a cross-sectional view taken along line bb of (a), (c) is an enlarged view of a portion C of (a), and (d) is dd of (a). FIG. 7E is an enlarged view of a portion E in FIG. 7B, and FIG. 7F is an enlarged view of an F portion in FIG.

【0028】第4の実施の形態に用いる圧接型コネクタ
44が、第1の実施の形態と異なる点は、先ず線状体の
構造にある。線状体49は四角柱状のシリコーンゴムで
ある点は同じであるが、内部に配置されている金属線4
6が薄い金属箔を断面が格子形状になるように組み合わ
せたものである点が異なる。さらに、(e)、(f)か
ら明らかなように、裏面のみ絶縁性エストラマー21が
削られている。なお、この図でも、プレート20の図示
を省略している。
The point that the press-contact type connector 44 used in the fourth embodiment differs from that of the first embodiment lies in the structure of the linear body. The linear body 49 is the same in that it is a quadrangular prism-shaped silicone rubber, but the metal wire 4 disposed inside is linear.
6 is a combination of thin metal foils so that the cross section has a lattice shape. Further, as is clear from (e) and (f), the insulating elastomer 21 is shaved only on the back surface. In this figure, the illustration of the plate 20 is omitted.

【0029】次に、本発明に係る半導体実装用ソケット
の第5の実施の形態について説明する。第5の実施の形
態である半導体実装用ソケットの圧接型コネクタ54
は、図10(a)〜(e)に示すように構成されてい
る。なお、(a)は平面図、(b)は(a)のb−b線
による断面図、(c)は(a)のC部の拡大図、(d)
は(a)のd−d線による断面図、(e)は(b)のE
部の拡大図である。
Next, a fifth embodiment of the semiconductor mounting socket according to the present invention will be described. Press-fit connector 54 of semiconductor mounting socket according to a fifth embodiment.
Are configured as shown in FIGS. 10 (a) to 10 (e). (A) is a plan view, (b) is a cross-sectional view taken along line bb of (a), (c) is an enlarged view of a portion C of (a), (d)
3A is a sectional view taken along line dd in FIG. 3A, and FIG.
It is an enlarged view of a part.

【0030】第5の実施の形態に用いる圧接型コネクタ
54が、第1の実施の形態と異なる点は、線状体の構造
にある。線状体59は四角柱状のシリコーンゴムである
点は同じであるが、内部に配置されている6本の金属線
56が、それぞれ薄い金属箔を撚った状態で配置されて
いる点が異なる。なお、この図でも、プレート20の図
示を省略している。
A different point of the press contact type connector 54 used in the fifth embodiment from the first embodiment lies in the structure of the linear body. The linear body 59 is the same in that it is a quadrangular prism-shaped silicone rubber, but differs in that the six metal wires 56 arranged inside are arranged in a state in which a thin metal foil is twisted. . In this figure, the illustration of the plate 20 is omitted.

【0031】[0031]

【実施例】圧接型コネクタ成形 シリコーンゴムKE−951Uを100重量部に加硫C
−8Aを2重量部、シランカップリング材KBM−40
3を2重量部(いずれも信越化学工業(株)製品名)を
混練しシリコーン材料を調整する。
[Example] Press-molded connector molding 100 parts by weight of silicone rubber KE-951U vulcanized C
-8A, 2 parts by weight, silane coupling material KBM-40
3 and 2 parts by weight (all are product names of Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) are kneaded to prepare a silicone material.

【0032】調整したシリコーン材料をカレンダーロー
ルを用いて幅200mm厚み0.2mmの未加硫状態の
シリコーンシートを作製する。このシリコーンシートに
幅0.1mm厚み0.05mmの金メッキリボン(金属
線)を0.2mmの間隔を開けて2本配列し、さらに2
0mmの間隔を開け更に2本を配列させる。シリコーン
シート裁断し、リボンが配列したシート2枚とリボンが
配列されていないシート1枚を作製し、リボン位置がず
れないように3枚のシートを重ね合わせ、クリアランス
0.55mmの金型挿入し、温度150℃、5分間加熱
加圧硬化を行う。この成型品をリボンが中央となるよう
に幅0.5mmに裁断し、更に長さを50mmに裁断す
る事で、断面が0.5mmの長さ、50mmのひも状圧
接型コネクタ部材4本作製した。この繰り返しを行い、
圧接型コネクタ部材(線状体)を合計64本作製した。
An unvulcanized silicone sheet having a width of 200 mm and a thickness of 0.2 mm is prepared from the prepared silicone material using a calender roll. Two gold-plated ribbons (metal wires) each having a width of 0.1 mm and a thickness of 0.05 mm are arranged on the silicone sheet at an interval of 0.2 mm.
A further two are arranged at an interval of 0 mm. The silicone sheet was cut, and two sheets with ribbons arranged and one sheet without ribbons were produced. Three sheets were overlapped so that the ribbon position was not shifted, and a mold with a clearance of 0.55 mm was inserted. Heat and pressure cure at a temperature of 150 ° C. for 5 minutes. This molded product is cut to a width of 0.5 mm so that the ribbon is located at the center, and further cut to a length of 50 mm, thereby producing four string-shaped press-connecting connector members having a cross section of 0.5 mm in length and 50 mm. did. Repeat this,
A total of 64 press contact type connector members (linear bodies) were produced.

【0033】これとは別に、0.1mm厚みのSUS3
04板をエッチングを用いて、外形30mm□電極部に
相当する位置に0.6mm□で、かつ1mmピッチで6
4個の電極アライメントホールと、枠体との嵌合用穴、
更にねじ穴を設けたアライメント板(プレート)を40
枚作製した。このアライメント板を40枚重ね合わせ、
ひも状圧接型コネクタ部材を電極部全てに挿入しアライ
メント板間隔が1mmとなるようにスペーサーを挟みな
がらアライメント間隔を調整しさらに、アライメント板
を32°に傾け、注型用金型に挿入した。
Separately, SUS3 having a thickness of 0.1 mm
04 plate is etched at a position corresponding to the outer diameter of 30 mm square electrode part with 0.6 mm square and 1 mm pitch by etching.
Four electrode alignment holes, holes for fitting with the frame,
Furthermore, 40 alignment plates (plates) with screw holes
Were produced. Forty alignment plates are overlaid,
The string-shaped press-contact type connector member was inserted into all the electrode portions, and the alignment interval was adjusted while sandwiching a spacer so that the alignment plate interval became 1 mm. Further, the alignment plate was tilted at 32 ° and inserted into the casting mold.

【0034】液状シリコーンゴムKE−1800A B
材にカラーBKを10重量部配合し、注型型にそそぎ込
み3時間放置脱法処理を行った後、120℃に設定した
熱板上で2時間の硬化処理を行う。硬化体を金型から取
り出し、アライメント板間をワイヤーソーを用いてスラ
イスを行い、シート状物を作製した。YAGレーザーで
電極間のシリコーンゴムを約0.3mm彫り込みを行い
電極部のみを突出させ、本ソケットを製作した。
Liquid silicone rubber KE-1800A B
The material is mixed with 10 parts by weight of color BK, poured into a casting mold and left for 3 hours to perform a demolding treatment, and then a curing treatment is performed on a hot plate set at 120 ° C. for 2 hours. The cured product was taken out of the mold and sliced between the alignment plates using a wire saw to produce a sheet. This socket was manufactured by engraving about 0.3 mm of silicone rubber between the electrodes with a YAG laser so that only the electrode portions protruded.

【0035】上記方法により作製したソケットを、測定
基板を用いて圧縮特性、接続抵抗性を測定したところ、
0.3mm圧縮変移させるための荷重は、64接続に対
し19Nで1接続あたり0.3Nと十分に低い荷重であ
ることが判明した。また、このときの接続抵抗は0.0
15Ωであり、接続抵抗としても十分に低いことが確認
された。また、0−100℃(1cycle/時間)の
温度サイクル、振動試験、衝撃試験等をおこない接続信
頼性を確認したが、各評価においても十分な信頼性が確
保されていることが確認され、本案のソケットを完成さ
せた。
When the compression characteristics and the connection resistance of the socket manufactured by the above method were measured using a measurement substrate,
The load for compressing and shifting by 0.3 mm was found to be a sufficiently low load of 19 N for 64 connections and 0.3 N per connection. The connection resistance at this time is 0.0
15 Ω, and it was confirmed that the connection resistance was sufficiently low. In addition, the connection reliability was confirmed by performing a temperature cycle of 0-100 ° C (1 cycle / hour), a vibration test, a shock test, etc., and it was confirmed that sufficient reliability was secured in each evaluation. Completed the socket.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
絶縁性エラストマー中に配備された金属線の位置がプレ
ートにより規制され半導体の電極に相当する位置のみと
なっているので、十分な電極間絶縁抵抗を得られ、クロ
ストークが最小限に抑制され、さらに、金属線を圧縮さ
せるため圧接時の荷重を減少させることができる。
As described above, according to the present invention,
Since the position of the metal wire provided in the insulating elastomer is restricted by the plate and is only the position corresponding to the semiconductor electrode, a sufficient inter-electrode insulation resistance is obtained, and crosstalk is suppressed to a minimum. Further, since the metal wire is compressed, the load at the time of pressing can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態である半導体実装用
ソケットによる半導体の実装例を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a semiconductor mounting example using a semiconductor mounting socket according to a first embodiment of the present invention;

【図2】図1に示す実装例の分解側面図である。FIG. 2 is an exploded side view of the mounting example shown in FIG.

【図3】実装状態の縦断面図である。FIG. 3 is a vertical sectional view of a mounted state.

【図4】図3のA部の拡大図である。FIG. 4 is an enlarged view of a portion A in FIG. 3;

【図5】半導体実装用ソケットの製造工程を示す図であ
FIG. 5 is a diagram showing a manufacturing process of the semiconductor mounting socket.

【図6】図5に示す工程の続きを示す図である。FIG. 6 is a view showing a continuation of the step shown in FIG. 5;

【図7】本発明の第2の実施の形態である半導体実装用
ソケットに用いる圧接型コネクタを示す図である。
FIG. 7 is a view showing a press-contact type connector used for a semiconductor mounting socket according to a second embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第3の実施の形態である半導体実装用
ソケットに用いる圧接型コネクタを示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a press-contact type connector used for a semiconductor mounting socket according to a third embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第4の実施の形態である半導体実装用
ソケットに用いる圧接型コネクタを示す図である。
FIG. 9 is a view showing a press-contact type connector used for a semiconductor mounting socket according to a fourth embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第5の実施の形態である半導体実装
用ソケットに用いる圧接型コネクタを示す図である。
FIG. 10 is a view showing a press-fit type connector used for a semiconductor mounting socket according to a fifth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 半導体実装用ソケット 12 枠体 12a 位置決め突起 13 抜き刃 14、24、34、44、54 圧接型コネクタ 15 未硬化シリコンゴム 16、26、36、46、56 金属棒 17 シート 18 カッター 19、29、39、49、59 線状体 20 プレート 20a 穴 20b 位置制御穴 21 絶縁性エラストマー 22 ワイヤーソー 100 半導体パッケージ 110 実装基板 120 ヒートシンク DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Socket for semiconductor mounting 12 Frame 12a Positioning protrusion 13 Extraction blade 14, 24, 34, 44, 54 Press-fit type connector 15 Uncured silicon rubber 16, 26, 36, 46, 56 Metal rod 17 Sheet 18 Cutter 19, 29, 39, 49, 59 Linear body 20 Plate 20a Hole 20b Position control hole 21 Insulating elastomer 22 Wire saw 100 Semiconductor package 110 Mounting board 120 Heat sink

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パッケージ化された半導体を実装する基
板に対し相対する位置に接続させるため枠体と、パッケ
ージを上方より圧縮することで電気的接続を得られる圧
接型コネクタから構成される半導体実装用ソケットにお
いて、 前記圧接型コネクタが、平板上の絶縁性エラストマー
と、該エラストマーの表裏面にわたって配置された金属
線と、半導体の電極に相当する位置に穴を有するプレー
トとにより構成され、前記金属線は前記プレートの穴を
貫通して複数本配列され電極部として形成されているこ
とを特徴とする半導体実装用ソケット。
1. A semiconductor package comprising a frame for connecting a packaged semiconductor at a position opposed to a substrate on which the package is mounted, and a press-fit type connector for obtaining electrical connection by compressing the package from above. In the socket, the press-connecting connector is constituted by an insulating elastomer on a flat plate, a metal wire arranged over the front and back surfaces of the elastomer, and a plate having a hole at a position corresponding to a semiconductor electrode; A semiconductor mounting socket, wherein a plurality of wires are arranged through the holes of the plate to form an electrode portion.
【請求項2】 絶縁性エストラマーの中に複数の金属線
を埋設した複数本の線状体を成形する工程と、半導体の
電極位置に相対する位置に穴を備えたプレートを成形す
る工程と、このプレートを複数枚平行に並べてその電極
位置用の穴全てに前記線状体を貫通させ、これらプレー
トを所定の間隔に配置する工程と、これをエラストマー
注型用金型に挿入して絶縁性エラストマー部材を注型し
硬化させる工程と、硬化させたものを金型から取り出し
各プレート間で切断し圧接型コネクタを形成する工程
と、この圧接型コネクタを半導体を実装する基板に対し
相対する位置に接続させるため枠体と一体化する工程
と、電極位置以外のエラストマーをレーザーで彫り込み
電極部を突出させる工程とを備えたことを特徴とする半
導体実装用ソケットの製造方法。
2. A step of forming a plurality of linear bodies in which a plurality of metal wires are embedded in an insulating elastomer, and a step of forming a plate having holes at positions corresponding to electrode positions of a semiconductor. Arranging a plurality of such plates in parallel, penetrating the linear body through all the holes for the electrode positions, arranging these plates at predetermined intervals, and inserting the plates into an elastomer casting mold to insulate them; A step of casting and curing the elastomer member, a step of taking out the cured product from the mold and cutting between the plates to form a press-connecting connector, and a position of the press-connecting connector facing the substrate on which the semiconductor is mounted. A semiconductor mounting socket, comprising: a step of integrating the frame with a frame body for connection to the electrode; and a step of laser engraving an elastomer other than the electrode position to project the electrode portion. Construction method.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2007038283A (en) * 2005-08-05 2007-02-15 D D K Ltd Method for cutting laminated board, method for cutting layered part in electric connector, and electric connector using the cutting method
JP2012164554A (en) * 2011-02-08 2012-08-30 Tsutomu Takahashi Elastomer contact sheet and method of manufacturing the same

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