JP2001264026A - Measuring method of dynamic strain under influence of welding arc light, and measuring instrument - Google Patents

Measuring method of dynamic strain under influence of welding arc light, and measuring instrument

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JP2001264026A
JP2001264026A JP2000078514A JP2000078514A JP2001264026A JP 2001264026 A JP2001264026 A JP 2001264026A JP 2000078514 A JP2000078514 A JP 2000078514A JP 2000078514 A JP2000078514 A JP 2000078514A JP 2001264026 A JP2001264026 A JP 2001264026A
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dynamic strain
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and a measuring instrument, capable of measuring dynamic strain occurring in an object to be welded in the course of welding at desired position, except a molten pool and at a desired time, even under the influence of arc light. SOLUTION: In this method of measuring dynamic strain, a strain measuring point under the influence of arc light is irradiated with a laser beam, and the change and movement of a speckle pattern caused by mutual interference of irregular reflected laser beams are detected on surface of sensors. When the irregularly reflected laser beams are detected on the surface of the sensor, the arc light is shaded by shade tubes, each having a pin hole.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この出願の発明は、動的ひず
み測定方法とその測定装置に関するものである。さらに
詳しくは、この出願の発明は、溶接施工途中の被溶接物
に発生する動的ひずみを、アーク光の影響下にあって
も、溶融池を除く所望の個所および所望の時期に測定す
ることができる方法とその測定装置に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a dynamic strain measuring method and a dynamic strain measuring apparatus. More specifically, the invention of this application is to measure a dynamic strain generated in an object to be welded during welding at a desired place and at a desired time except for a weld pool, even under the influence of arc light. And a measuring device therefor.

【0002】[0002]

【従来の技術とその課題】通常の溶接は加熱のための熱
源が用いられて、溶接熱源による加熱や冷却を局部的に
行う場合が多い。局部的な加熱は熱応力を生じ、容易に
塑性変形を生じさせるため、冷却後の溶接部には塑性ひ
ずみ及び残留応力が存在することになる。溶接部に存在
する溶接変形および残留応力は、溶接割れおよび脆性破
壊などの原因となり、製品の使用性能に大きな影響を与
えている。そのため、溶接部に生じるひずみの測定は、
製品の信頼性を向上させるためには重要である。特に、
溶接時の溶接位置直近あるいは溶接金属の凝固直後に、
その位置におけるひずみ挙動を検出することが可能とな
れば、高温割れ等の溶接部の欠陥評価や、さらには残留
応力の推定のための力学的情報を得ることができ、製品
の信頼性の向上に寄与することができる。
2. Description of the Related Art In general welding, a heat source for heating is used, and heating and cooling by a welding heat source are often performed locally. Since local heating generates thermal stress and easily causes plastic deformation, plastic strain and residual stress exist in the weld after cooling. Welding deformation and residual stress existing in the welded portion cause welding cracks and brittle fracture, etc., and greatly affect the performance of the product. Therefore, the measurement of the strain generated in the weld is
It is important to improve product reliability. In particular,
Immediately after the welding position during welding or immediately after solidification of the weld metal,
If it becomes possible to detect the strain behavior at that position, it is possible to obtain mechanical information for evaluating weld defects such as hot cracks and for estimating residual stress, and improve product reliability. Can be contributed to.

【0003】しかしながら、従来より、溶接等のアーク
光の影響下でひずみをその場測定することは不可能であ
った。そのため、溶接アーク光の影響の及ばない被溶接
物の裏側に生じるひずみを、レーザーを用いた非接触の
高温ひずみ測定法によって測定するなどの工夫をしてい
た。
However, conventionally, it has been impossible to measure strain in situ under the influence of arc light such as welding. For this reason, various measures have been taken, such as measuring the strain generated on the back side of the workpiece not affected by the welding arc light by a non-contact high-temperature strain measurement method using a laser.

【0004】そこで、この出願の発明は、以上の通りの
事情に鑑みてなされたものであり、従来技術の課題を解
消し、溶接施工途中の被溶接物に生じる動的ひずみを、
アーク光の影響下にあっても、溶融池を除く所望の個所
および所望の時期に測定することができる方法を提供す
ることを課題としている。
Therefore, the invention of this application has been made in view of the circumstances described above, and solves the problems of the prior art to reduce the dynamic strain generated in the workpiece during welding.
It is an object of the present invention to provide a method capable of performing measurement at a desired place except a molten pool and at a desired time even under the influence of arc light.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】そこで、この出願の発明
は、上記の課題を解決するものとして、以下の通りの発
明を提供する。
Accordingly, the invention of this application provides the following invention to solve the above problems.

【0006】すなわち、まず第1には、この出願の発明
は、溶接アーク光の影響下にあるひずみ測定点にレーザ
ーを照射して、乱反射したレーザーの相互干渉によって
生じるスペックルパターンの変化および移動をセンサー
面上で検出する動的ひずみ測定法であって、ピンホール
および遮光筒によってアーク光を遮光し、乱反射したレ
ーザーをセンサー面上で検出することを特徴とする動的
ひずみ測定方法を提供する。
That is, first of all, the invention of this application irradiates a laser to a strain measuring point under the influence of welding arc light, and changes and moves a speckle pattern caused by mutual interference of irregularly reflected lasers. A dynamic strain measurement method that detects arc on a sensor surface, wherein the arc light is shielded by a pinhole and a light shielding tube, and irregularly reflected laser is detected on the sensor surface. I do.

【0007】そして、第2には、この出願の発明は、上
記第1の発明において、さらにバンドパスフィルターに
よってアーク光のレーザーと異なる波長成分をカットす
ることを特徴とする動的ひずみ測定方法を提供する。
Secondly, the invention of the present application provides a dynamic strain measuring method according to the first aspect, further comprising cutting a wavelength component different from that of the laser of the arc light with a band-pass filter. provide.

【0008】さらに、第3には、この出願の発明は、上
記第2の発明において、レーザーの強度を上げてアーク
光との強度比を大きくすることや、第4には、NDフィ
ルターによって全体の光量を落とすことを特徴とする動
的ひずみ測定方法をも提供する。
Thirdly, the invention of this application is characterized in that, in the above second invention, the intensity of the laser is increased to increase the intensity ratio with respect to the arc light. The present invention also provides a dynamic strain measurement method characterized by reducing the amount of light.

【0009】一方で、第5には、この出願の発明は、動
的ひずみ測定装置であって、ひずみ測定点にレーザーを
照射するレーザー源と乱反射したレーザーを検出する検
出部と検出した信号を処理する手段とを備え、検出部は
遮光筒とその内部に順に備えられた2つのピンホールお
よびセンサーを有していることを特徴とする動的ひずみ
測定装置を提供する。
On the other hand, fifthly, the invention of this application is a dynamic strain measuring apparatus, which comprises a laser source for irradiating a laser to a strain measuring point, a detecting unit for detecting a laser that has been irregularly reflected, and a detected signal. A dynamic strain measuring device, comprising: a light-shielding cylinder; and two pinholes and a sensor provided sequentially inside the light-shielding cylinder.

【0010】また、第6には、この出願の発明は、上記
第5の発明において、検出部にバンドパスフィルターを
有することや、第7には、検出部にNDフィルターを有
することを特徴とする動的ひずみ測定装置を提供する。
Sixth, the invention of this application is characterized in that, in the fifth invention, a band-pass filter is provided in the detecting section, and seventh, an ND filter is provided in the detecting section. A dynamic strain measuring device is provided.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】この出願の発明は、上記の通りの
特徴を持つものであるが、以下にその実施の形態につい
て説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The invention of this application has the features as described above, and embodiments thereof will be described below.

【0012】まず、この出願の第1の発明が提供する動
的ひずみ測定方法は、溶接アーク光の影響下にあるひず
み測定点にレーザーを照射して、乱反射したレーザーの
相互干渉によって生じるスペックルパターンの変化およ
び移動をセンサー面上で検出する動的ひずみ測定法であ
って、ピンホールおよび遮光筒によってアーク光を遮光
し、乱反射したレーザーをセンサー面上で検出すること
を特徴としている。
First, a dynamic strain measuring method provided by the first invention of this application irradiates a laser to a strain measuring point under the influence of welding arc light, and generates speckle caused by mutual interference of irregularly reflected lasers. A dynamic strain measuring method for detecting a change and movement of a pattern on a sensor surface, wherein the arc light is shielded by a pinhole and a light shielding tube, and irregularly reflected laser is detected on the sensor surface.

【0013】スペックル(斑紋)パターンは、粗面の凹
凸が照射光の波長よりも数波長以上大きいときに粗面か
ら散乱した光が干渉しあって形成される。レーザーは、
ひずみ測定点からの情報を得るために照射するものであ
り、たとえば、Arイオンレーザー等の可干渉光が使用
できる。
The speckle pattern is formed by interference of light scattered from the rough surface when the roughness of the rough surface is several wavelengths or more larger than the wavelength of the irradiation light. The laser is
Irradiation is performed to obtain information from the strain measurement point. For example, coherent light such as an Ar ion laser can be used.

【0014】このようなスペックルパターンをセンサ上
に生じさせ、センサによって連続的に検出して電子的処
理を施す。これによって、スペックルの変化および移動
を測定点におけるひずみの変化量として得ることができ
る。信号の電子的処理は、例えば、レーザー光強度等と
して検出したデータを測定点におけるひずみ変化曲線に
変換することなどで示される。センサとしては、例え
ば、CCDカメラやビジコンカメラ等の電気的リニアイ
メージセンサ等が使用できる。平面イメージまたは線形
イメージを連続的に検出できることで、リアルタイムに
ひずみ結果を得ることができ、ひずみ挙動や所望の時期
でのひずみ量を得ることができる。
[0014] Such a speckle pattern is generated on a sensor, continuously detected by the sensor, and subjected to electronic processing. Thereby, the change and movement of the speckle can be obtained as the amount of change of the strain at the measurement point. The electronic processing of the signal is represented by, for example, converting data detected as laser light intensity or the like into a distortion change curve at a measurement point. As the sensor, for example, an electric linear image sensor such as a CCD camera or a vidicon camera can be used. By being able to continuously detect a planar image or a linear image, a strain result can be obtained in real time, and a strain behavior and a strain amount at a desired time can be obtained.

【0015】この発明の方法で重要なことは、溶接アー
ク光という極めて強烈な光の影響下であってもその影響
を排除し、以上のようなレーザー光を検出可能にする点
である。
What is important in the method of the present invention is that even under the influence of welding arc light, which is extremely intense, the influence is eliminated and the above-described laser light can be detected.

【0016】すなわち、その方法として、溶接アークが
ひずみ測定点から離れた場所にある時には、ピンホール
および遮光筒を用いてアーク光を遮光する。
That is, as a method, when the welding arc is at a position distant from the strain measurement point, the arc light is shielded by using a pinhole and a light shielding cylinder.

【0017】図1に、溶接アークがひずみ測定点から離
れた場所にある場合のひずみ測定の概略を示した側面図
を示した。遮光筒(16、26)は、その中心線が、ひ
ずみ測定点(5)、すなわちレーザー(3)反射点から
の放射線上となるように設置されている。図では、遮光
筒(16、26)内に、レーザー(3)反射点側から順
に、2つのピンホール(11、12、21、22)、バ
ンドパスフィルター(13、23)、NDフィルター
(14、24)およびセンサ(15、25)が設置され
ている。
FIG. 1 is a side view showing an outline of strain measurement when a welding arc is located at a position distant from a strain measurement point. The light-shielding cylinders (16, 26) are installed so that the center line is on the radiation from the strain measurement point (5), that is, the laser (3) reflection point. In the figure, two pinholes (11, 12, 21, 22), band-pass filters (13, 23), and an ND filter (14) are sequentially arranged in the light-shielding tubes (16, 26) from the laser (3) reflection point side. , 24) and sensors (15, 25).

【0018】このピンホール(11、12、21、2
2)は遮光筒(16、26)の横断面の中央に空いてお
り、一つ目のピンホール(11、21)と二つ目のピン
ホール(12、22)が間隔を持って設置されている。
そのため、一つ目のピンホール(11、21)を遮光筒
(16、26)断面に垂直に入射した光のみが二つ目の
ピンホール(12、22)を通過することができる。
The pinholes (11, 12, 21, 2)
2) is open at the center of the cross section of the light-shielding tube (16, 26), and the first pinholes (11, 21) and the second pinholes (12, 22) are installed with an interval. ing.
Therefore, only the light that has entered the first pinhole (11, 21) perpendicularly to the cross section of the light-shielding cylinder (16, 26) can pass through the second pinhole (12, 22).

【0019】たとえば、レーザー源(2)より照射され
たレーザー(3)は、ミラー(4)等を経てひずみ測定
点(5)に照射される。ひずみ測定点(5)で乱反射し
たレーザーの一部(17、27)は、遮光筒(16、2
6)内の2つのピンホール(11、12、21、22)
を通過することができる。一方のひずみ測定点(5)か
ら離れたアーク(7)から発せられるアーク光(18、
28)は、遮光筒(16、26)断面に垂直に入射でき
ないため、2つのピンホール(11、12、21、2
2)および遮光筒(16、26)よって完全に遮断され
る。すなわち、アーク光(18、28)がセンサ(1
5、25)に達することができないことが示される。
For example, a laser (3) emitted from a laser source (2) is applied to a strain measurement point (5) via a mirror (4) and the like. Part of the laser (17, 27) diffusely reflected at the strain measurement point (5) is
6) Two pinholes in (11, 12, 21, 22)
Can pass through. Arc light (18,) emitted from an arc (7) away from one strain measurement point (5)
28) cannot be perpendicularly incident on the cross-section of the light-shielding cylinder (16, 26), so that two pinholes (11, 12, 21, 2)
2) and the light shielding cylinders (16, 26) completely shut off the light. That is, the arc light (18, 28) is applied to the sensor (1).
5, 25) cannot be reached.

【0020】なお、溶接アーク(7)がひずみ測定点
(5)から離れた場所にあるとは、以上の説明からも分
かるように、溶接アーク(7)から発せられるアーク光
(18、28)が2つのピンホール(11、12、2
1、22)を通過できない位置にあることを示してい
る。
The fact that the welding arc (7) is located away from the strain measurement point (5) means that the arc light (18, 28) emitted from the welding arc (7) can be understood from the above description. Are two pinholes (11, 12, 2
1, 22).

【0021】これによって、溶接アークがひずみ測定点
から離れた場所にある時には、アーク光の影響を全く受
けずにひずみ測定を行うことが可能となる。
Thus, when the welding arc is at a position distant from the strain measurement point, the strain can be measured without being affected by the arc light at all.

【0022】この出願の第2の発明が提供する動的ひず
み測定方法は、上記第1の発明において、さらにバンド
パスフィルターによってアーク光のレーザーと異なる波
長成分をカットすることを特徴としている。
The dynamic strain measurement method provided by the second invention of this application is characterized in that, in the first invention, a wavelength component different from that of the laser of the arc light is further cut by a band-pass filter.

【0023】溶接アークがひずみ測定点に近い場所にあ
る時、すなわち、溶接アークから発せられるアーク光が
2つのピンホールを通過するような位置にある時には、
さらにバンドパスフィルターによってレーザーの波長以
外の波長のアーク光をカットする。図2に、溶接アーク
がひずみ測定点に近い場所にある場合のひずみ測定の概
略を示した側面図を示した。
When the welding arc is located near the strain measurement point, that is, when the arc light emitted from the welding arc passes through two pinholes,
Further, an arc light having a wavelength other than the wavelength of the laser is cut by a bandpass filter. FIG. 2 is a side view showing an outline of strain measurement when the welding arc is located near the strain measurement point.

【0024】アーク(7)がひずみ測定点(5)直上お
よび周辺にある時には、アーク光(18、28)は乱反
射したレーザー(17、27)とほぼ同じ光路をとる。
そして一部のアーク光(18、28)および乱反射した
レーザー(18、28)は遮光筒(16、26)断面に
ほぼ垂直に入射し、ピンホール(11、12、21、2
2)および遮光筒(16、26)を通過する。
When the arc (7) is directly above and around the strain measuring point (5), the arc light (18, 28) takes almost the same optical path as the diffusely reflected laser (17, 27).
Then, a part of the arc light (18, 28) and the laser (18, 28) irregularly reflected enter the section of the light-shielding cylinder (16, 26) almost perpendicularly, and the pinhole (11, 12, 21, 2)
2) and the light shielding tube (16, 26).

【0025】しかしながら、遮光筒(16、26)内に
設置された、レーザー(3)の波長に合わせたバンドパ
スフィルター(13、23)によって、アーク光(1
8、28)のレーザー(3)と同じ波長帯以外の波長成
分はカットされる。すなわち、ピンホール(11、1
2、21、22)を通過した光のうち、乱反射したレー
ザー(17、27)は、全てがセンサー(15、25)
面上にまで達するが、アーク光(18、28)は、その
ほとんどが遮られてセンサー(15、25)面に達する
ことはない。
However, the arc light (1) is applied by the band-pass filters (13, 23) set in the light shielding tubes (16, 26) and adapted to the wavelength of the laser (3).
Wavelength components outside the same wavelength band as the laser (3) of (8, 28) are cut. That is, the pinholes (11, 1
All of the lasers (17, 27) diffusely reflected among the light passing through (2, 21, 22) are sensors (15, 25).
Although reaching the surface, most of the arc light (18, 28) is blocked and does not reach the sensor (15, 25) surface.

【0026】また、微小のアーク光がセンサーに入って
も単純にスペックルの波形にプラスされること、センサ
ーの素子の並び上でアーク光による光強度分布が平らで
あればスペックルの波形がベースアップされるだけなの
で測定自体には影響はないことを仮定することで、ひず
みを算出することができる。
Also, even if a minute arc light enters the sensor, it is simply added to the speckle waveform. If the light intensity distribution due to the arc light is flat on the arrangement of the sensor elements, the speckle waveform becomes Distortion can be calculated by assuming that there is no effect on the measurement itself because it is only base-up.

【0027】これによって、溶接アークがひずみ測定点
に近い場所にある時でも、アーク光の影響を受けずにひ
ずみ測定を行うことが可能となる。
Thus, even when the welding arc is located near the strain measurement point, the strain can be measured without being affected by the arc light.

【0028】この出願の第3の発明が提供する動的ひず
み測定方法は、上記第2の発明において、レーザーの強
度を上げてアーク光との強度比を大きくする。
In the dynamic strain measuring method provided by the third invention of this application, in the second invention, the intensity of the laser is increased to increase the intensity ratio with respect to the arc light.

【0029】アーク光は、ほぼ全波長域にわたる光を含
んでいるため、使用するレーザーと同じあるいは近い波
長を持つ光が存在することになる。このようなレーザー
と同じあるいは近い波長を持つアーク光成分は、レーザ
ー波長に合わせたバンドパスフィルターをも透過してし
まう。アーク光のうちで、バンドパスフィルターを通過
してしまう光の量が多い場合には、レーザーの強度を上
げることが望ましい。これによって、レーザーとアーク
光との強度比を大きくすることができる。
Since the arc light includes light covering almost the entire wavelength range, light having the same or a similar wavelength as the laser used exists. The arc light component having the same or near wavelength as that of the laser passes through a band-pass filter corresponding to the laser wavelength. When a large amount of the arc light that passes through the band-pass filter is large, it is desirable to increase the laser intensity. Thereby, the intensity ratio between the laser and the arc light can be increased.

【0030】すなわち、これによって、溶接アークがひ
ずみ測定点に近い場所にある時でも、S/N比の良いひ
ずみ測定を行うことが可能となる。
In other words, this makes it possible to perform strain measurement with a good S / N ratio even when the welding arc is located near the strain measurement point.

【0031】この出願の第4の発明が提供する動的ひず
み測定方法は、上記第2または第3の発明において、N
Dフィルターによって全体の光量を落とす。
The dynamic strain measuring method provided by the fourth invention of the present application is the method according to the second or third invention, wherein
The total light amount is reduced by the D filter.

【0032】レーザーの強度を上げてレーザーとアーク
光との強度比を大きくする等した場合、センサー内の各
素子で光量が飽和することが考えられる。このようなと
きは、図2のように、さらに、NDフィルター(14、
24)を用いることで、S/N比を保持したまま全体の
光量を落とすことができる。
When the intensity ratio of the laser and the arc light is increased by increasing the intensity of the laser, it is conceivable that the light amount is saturated in each element in the sensor. In such a case, as shown in FIG. 2, an ND filter (14,
By using the method 24), the entire light amount can be reduced while maintaining the S / N ratio.

【0033】以上のことから、溶接施工途中の動的ひず
みを、アーク光の影響下にあっても、溶融池を除く所望
の個所および所望の時期に測定することが可能となる。
As described above, the dynamic strain during welding can be measured at a desired location except for the molten pool and at a desired time even under the influence of arc light.

【0034】この出願の第5、第6および第7の発明が
提供する動的ひずみ測定装置は、上記の発明の測定方法
を実現するものであり、ひずみ測定点にレーザーを照射
するレーザー源と乱反射したレーザーを検出する検出部
と検出した信号を処理する手段とを備え、検出部は遮光
筒とその内部に順に備えられた2つのピンホールおよび
センサーを、さらにはバンドパスフィルターやNDフィ
ルターを有することを特徴としている。もちろん、この
他にも、レーザーの方向を制御するミラー等が備えられ
てもよい。
The dynamic strain measuring apparatus provided by the fifth, sixth and seventh inventions of the present application realizes the measuring method of the above invention, and includes a laser source for irradiating a laser to a strain measuring point. It comprises a detector for detecting the irregularly reflected laser and a means for processing the detected signal. The detector comprises a light-shielding cylinder and two pinholes and a sensor provided therein sequentially, and further includes a band-pass filter and an ND filter. It is characterized by having. Of course, other than this, a mirror or the like for controlling the direction of the laser may be provided.

【0035】レーザー源、センサー、および検出信号の
処理手段は、レーザー源から発振されたレーザーの反射
光スペックルを連続的に検出して処理できるものであれ
ば、一般に知られているものを利用することができる。
As the laser source, the sensor, and the processing means of the detection signal, generally known ones can be used as long as they can continuously detect and process the reflected light speckle of the laser oscillated from the laser source. can do.

【0036】レーザーの種類は特に限定されないが、た
とえば、溶接等に適用する場合には、赤熱域との重複を
避けるために赤色光の使用は避けることが望ましい。ま
た、測定位置合わせを簡便化するために、可視光のレー
ザーを使用すること等が例示される。
The type of laser is not particularly limited. For example, when the laser is applied to welding or the like, it is desirable to avoid using red light in order to avoid overlap with a red heat region. In addition, use of a visible light laser to simplify measurement position alignment is exemplified.

【0037】センサーについては、データ収録装置の能
力も考慮して、1〜2MHz程度で駆動できるものであ
れば十分である。たとえば、素子数が1000〜300
0個程度のリニアイメージサンサ等が例示される。
It is sufficient that the sensor can be driven at about 1 to 2 MHz in consideration of the capability of the data recording device. For example, if the number of elements is 1000 to 300
About 0 linear image sensors are exemplified.

【0038】また、ピンホール、および遮光筒について
も、一般的に知られているものから、使用するレーザー
およびセンサ等に合わせて適宜設定および選択すること
ができる。たとえば、ピンホールの孔径は、被測定物上
のレーザースポット径と、測定点からセンサまでの距
離、センサの素子数とそのピッチによって決定すること
ができる。遮光筒についても、内部に無反射の塗料を塗
ったものや、アルマイト処理をしたものなどが例示され
る。
The pinhole and the light-shielding cylinder can be appropriately set and selected from commonly known ones according to the laser and the sensor to be used. For example, the hole diameter of the pinhole can be determined by the laser spot diameter on the object to be measured, the distance from the measurement point to the sensor, the number of sensor elements, and the pitch thereof. Examples of the light-shielding cylinder also include a light-shielding cylinder coated with a non-reflective paint or an anodized aluminum.

【0039】バンドパスフィルターはについては、特に
制限はないが、アーク光の透過を少しでも減らすため
に、使用するレーザーの波長に合わせてできるだけ半値
幅の狭いものを用いることが例示される。
There is no particular limitation on the bandpass filter, but in order to reduce the transmission of arc light as much as possible, it is exemplified to use a bandpass filter having a half width as narrow as possible in accordance with the wavelength of the laser to be used.

【0040】NDフィルターについても特に制限はない
が、たとえば、複数枚組み合わせて用いることなども示
される。具体的には、透過率が50%と10%のNDフ
ィルターを重ねることで、透過率5%のNDフィルター
として使用すること等が例示される。
Although there is no particular limitation on the ND filter, for example, use of a combination of a plurality of filters is shown. Specifically, the use of an ND filter having a transmittance of 5% by stacking ND filters having a transmittance of 50% and 10% is exemplified.

【0041】この出願の発明の装置で重要なことは検出
部の構造である。図2に、この発明のひずみ測定装置の
概略の側面図を例示した。検出部には、遮光筒(16、
26)およびセンサー(15、25)とが備えられ、そ
れらの間には光の入射側から順に、第5の発明の測定装
置では2つのピンホール(11、12、21、22)
が、第6の発明の測定装置ではさらにバンドパスフィル
ター(13、23)が、第7の発明の測定装置ではさら
にNDフィルター(14、24)が備えられている。
What is important in the apparatus according to the present invention is the structure of the detection unit. FIG. 2 illustrates a schematic side view of a strain measuring device according to the present invention. The detection unit includes a light shielding tube (16,
26) and sensors (15, 25), between which, in order from the light incident side, two pinholes (11, 12, 21, 22) in the measuring device of the fifth invention.
However, the measuring device of the sixth invention further includes a band-pass filter (13, 23), and the measuring device of the seventh invention further includes an ND filter (14, 24).

【0042】ピンホール(11、12、21、22)
は、遮光筒(16、26)横断面の中心にあり、間隔を
持って2つが配置されるため、1つめのピンホール(1
1、12)に垂直に入射した光のみが2つめのピンホー
ル(21、22)を通過することができる。
Pinholes (11, 12, 21, 22)
Is located at the center of the cross section of the light-shielding cylinder (16, 26), and the two are arranged at an interval, so that the first pinhole (1
Only light vertically incident on (1, 12) can pass through the second pinholes (21, 22).

【0043】バンドパスフィルター(13、23)は、
使用するレーザー(3)と同じ波長帯の光のみを透過さ
せるため、2つめのピンホール(21、22)を通過し
た光であっても使用するレーザー(3)と異なる波長の
光を通すことはない。
The band pass filters (13, 23)
In order to transmit only light in the same wavelength band as the laser (3) to be used, pass light having a different wavelength from the laser (3) to be used even if the light has passed through the second pinholes (21, 22). There is no.

【0044】NDフィルター(14、24)は、S/N
比を高めるために増大した光量を、光の強度比を保持し
たまま低下させることができる。
The ND filters (14, 24) are S / N
The amount of light increased to increase the ratio can be reduced while maintaining the light intensity ratio.

【0045】また、遮光筒(16、26)は、バンドパ
スフィルター(13、23)およびNDフィルター(1
4、24)の着脱が可能であり、使用するレーザーや各
種条件等に合わせて選択したものを測定前に設置するこ
とができる。図には示されていないが、複数枚のNDフ
ィルター(14、24)の着脱が可能なように、マウン
ト数に余裕を持たせておくこともできる。また、必要の
ないフィルタ類(13、14、23、24)は装着しな
くてもよい。この場合は、もちろん、遮光筒の機能を維
持できるようにフィルタ類装着部からの光の侵入が無い
ようにする。
The light shielding tubes (16, 26) are provided with band-pass filters (13, 23) and ND filters (1).
4, 24) can be attached and detached, and one selected according to the laser to be used, various conditions, and the like can be installed before measurement. Although not shown in the figure, a sufficient number of mounts can be provided so that a plurality of ND filters (14, 24) can be attached and detached. Unnecessary filters (13, 14, 23, 24) need not be attached. In this case, of course, light is prevented from entering from the filter mounting portion so that the function of the light shielding tube can be maintained.

【0046】また、この出願の発明の装置では、試験片
表面に発生するひずみを2次元で測定するために、複数
の検出部を設置することができる。たとえば、ひずみ測
定点の四方に複数の検出部を設置して、溶接アークの移
動方向とそれに直角な方向との2方向のひずみ測定を実
施すること等が可能となる。
In the apparatus according to the invention of the present application, a plurality of detectors can be installed in order to two-dimensionally measure the strain generated on the surface of the test piece. For example, it is possible to install a plurality of detectors on four sides of the strain measurement point and to perform strain measurement in two directions, that is, the direction in which the welding arc moves and the direction perpendicular thereto.

【0047】また、非接触でひずみ測定が行えるため、
レーザー源および検出部は、レーザーが届く範囲でひず
み測定点から離れた場所に設置することができる。たと
えば、トーチ等の機器の移動を妨げることなくひずみ測
定を実施することが可能となる。
Further, since strain measurement can be performed without contact,
The laser source and the detection unit can be installed at a position away from the strain measurement point within a range where the laser reaches. For example, strain measurement can be performed without hindering movement of a device such as a torch.

【0048】これによって、溶接施工途中の動的ひずみ
を、アーク光の影響下にあっても、溶融池を除く所望の
個所および所望の時期に測定できるひずみ測定装置が実
現される。
As a result, a strain measuring device capable of measuring the dynamic strain during the welding process at a desired location except a molten pool and at a desired time even under the influence of arc light is realized.

【0049】以下、添付した図面に沿って実施例を示
し、この発明の実施の形態についてさらに詳しく説明す
る。
Hereinafter, embodiments will be described with reference to the accompanying drawings, and embodiments of the present invention will be described in more detail.

【0050】[0050]

【実施例】(実施例1)試験片として60×120×
3.8mmのSUS304ステンレス鋼板を用い、その
矩形板の中央を60mmにわたってGTA(ガス・タン
グステン・アーク)で加熱し、発生したひずみを連続的
に測定した。ひずみ測定の概要を示した平面図を図3に
示した。
EXAMPLE (Example 1) 60 × 120 × as a test piece
Using a 3.8 mm SUS304 stainless steel plate, the center of the rectangular plate was heated with GTA (gas tungsten arc) over 60 mm, and the generated strain was continuously measured. FIG. 3 is a plan view showing the outline of the strain measurement.

【0051】ひずみ測定点は加熱線の中央とし、測定レ
ーザーには波長514.5nmのArイオンレーザーを
用いた。レーザー反射光の検出は、X、X’の2点で連
続的に行った。GTAは、加熱開始とともにY方向に移
動し、移動速度は240mm/分であった。また、アー
ク電流は(1)100Aおよび(2)200Aの2通り
に設定した。 (実施例2)ひずみ測定点を、試験片の加熱線上中央よ
り直角に5mm離れた地点とし、レーザー反射光の検出
を、図3中のX、X’、Y、Y’の4点で行った。ま
た、GTAの移動速度を120mm/分とし、アーク電
流を70Aとした。その他は実施例1と同様に動的ひず
み測定を行った。 (実施例3)ひずみ測定点を、試験片の加熱線上中央よ
り直角に8.5mm離れた地点とした。その他は実施例
2と同じ条件で動的ひずみ測定を行った。
The strain measurement point was at the center of the heating wire, and an Ar ion laser having a wavelength of 514.5 nm was used as a measurement laser. Detection of the laser reflected light was continuously performed at two points X and X '. GTA moved in the Y direction at the start of heating, and the moving speed was 240 mm / min. The arc current was set in two ways, (1) 100A and (2) 200A. (Example 2) The strain measurement point was set at a point 5 mm perpendicular to the center on the heating line of the test piece, and detection of laser reflected light was performed at four points X, X ', Y, and Y' in FIG. Was. The moving speed of the GTA was 120 mm / min, and the arc current was 70 A. Otherwise, the dynamic strain was measured in the same manner as in Example 1. (Example 3) The strain measurement point was a point 8.5 mm away from the center on the heating line of the test piece at right angles. Otherwise, the dynamic strain was measured under the same conditions as in Example 2.

【0052】実施例1の試験片の、加熱開始から測定点
のX方向に発生したひずみ挙動を算出した結果の一例を
図4に示した。
FIG. 4 shows an example of the result of calculating the strain behavior of the test piece of Example 1 generated in the X direction at the measurement point from the start of heating.

【0053】アークは点弧と同時に移動を始め、7.5
秒(図中に点線で示した)で測定点に達した。この前後
数秒間のひずみがゼロとなっているのは、GTAトーチ
がレーザーの反射光を遮り、測定ができなかったためで
ある。その後は、徐々にひずみが増加していく様子が観
察できた。
The arc starts to move at the same time as the ignition, and 7.5
The measurement point was reached in seconds (indicated by the dotted line in the figure). The distortion for several seconds before and after this is zero because the GTA torch blocked the reflected light of the laser and the measurement could not be performed. Thereafter, it was observed that the strain gradually increased.

【0054】アーク電流を(1)100Aと(2)20
0Aに変化させたときのひずみ挙動の違いも観察できる
ことが確認された。
The arc currents were (1) 100 A and (2) 20
It was confirmed that a difference in strain behavior when changing to 0A can be observed.

【0055】なお、ひずみ測定点を加熱線上に設定して
GTAトーチの移動をY方向としたため、Y方向のレー
ザー反射光は常にGTAトーチに遮られてしまうので、
Y方向のひずみ測定は行わなかった。
Since the movement of the GTA torch is set in the Y direction by setting the strain measurement point on the heating line, the laser reflected light in the Y direction is always blocked by the GTA torch.
No strain measurement in the Y direction was performed.

【0056】実施例2および実施例3の試験片の、加熱
開始から測定点に発生したひずみ挙動を算出した結果の
一例を図5および図6に示した。
FIGS. 5 and 6 show one example of the results of calculating the strain behavior of the test pieces of Examples 2 and 3 generated at the measurement points from the start of heating.

【0057】実施例2および実施例3の場合共に、X方
向のひずみ測定では、GTAトーチがレーザーの反射光
を遮った数秒間のみ測定ができなかった。Y方向のひず
み測定は、途切れることなく連続的に行うことが確認で
きた。もちろん、熱源(GTAトーチ)通過前および、
通過後に測定個所が凝固した直後からのひずみ挙動も観
察できた。
In both Examples 2 and 3, in the strain measurement in the X direction, measurement could not be performed for only a few seconds when the GTA torch blocked the reflected light of the laser. It was confirmed that the strain measurement in the Y direction was continuously performed without interruption. Of course, before passing through the heat source (GTA torch) and
The strain behavior immediately after the measurement location solidified after passing was also observed.

【0058】以上のことから、この発明の動的ひずみ測
定法によって、アーク光影響下での動的ひずみ測定がで
きることが確認された。また、各種条件を変化させたと
きの、所望の個所および所望の時期のひずみを観察可能
なことが確認できた。 (実施例4)アーク光の影響の無い試験片の加熱部分の
裏側のひずみの測定を実施例1と同様に行い、リニアイ
メージセンサで検出されるスペックルの波形を所定の間
隔で数千画面収録して原波形とした。図7に、原波形と
処理波形および算出したひずみ変化曲線の一例を示し
た。
From the above, it was confirmed that the dynamic strain measurement under the influence of arc light can be performed by the dynamic strain measurement method of the present invention. It was also confirmed that when various conditions were changed, it was possible to observe distortion at desired locations and at desired times. (Example 4) The strain on the back side of the heated portion of the test piece without the influence of the arc light was measured in the same manner as in Example 1, and the waveform of the speckle detected by the linear image sensor was displayed at predetermined intervals for several thousand screens. The original waveform was recorded. FIG. 7 shows an example of the original waveform, the processed waveform, and the calculated distortion change curve.

【0059】図7(a)は、収録した原波形の一枚を例
示したものである。リニアイメージセンサ上に並んだ2
048個の素子のうち真中の1000個の素子で検出し
た光強度:Anを示している。
FIG. 7A shows an example of one of the recorded original waveforms. 2 lined up on a linear image sensor
The light intensity: An detected by the middle 1000 elements of the 048 elements is shown.

【0060】(b)および(c)は、光強度:Anをそ
れぞれ2倍:Bnおよび4倍:Cnにしたものの一例で
ある。実際にレーザーの強度を2倍および4倍にしてひ
ずみ測定を行った場合には、これと同じ波形が得られ
る。
(B) and (c) are examples in which the light intensity: An is doubled: Bn and quadrupled: Cn, respectively. When strain measurement is actually performed with the laser intensity doubled and quadrupled, the same waveform is obtained.

【0061】(d)は、仮想的なアーク光を上記同様に
1000個の素子で検出した光強度:Dを示したもので
ある。
(D) shows the light intensity: D obtained by detecting virtual arc light with 1000 elements in the same manner as described above.

【0062】そして(A)に、収録した原波形のうち7
20画面(A1〜A720)を用いて算出したひずみ変
化曲線を示した。
Then, (A) shows that among the recorded original waveforms, 7
The strain change curves calculated using 20 screens (A1 to A720) are shown.

【0063】(A)’は、原波形720画面(A1〜A
720)のうち、中程の320枚(A201〜A52
0)にアーク光強度:Dを一律に足して算出したひずみ
変化曲線を示した。すなわち、ひずみ測定の途中でアー
ク光の影響を受けた場合のひずみ変化曲線の算出結果を
表している。
(A) 'shows the original waveform 720 screen (A1 to A
720), the middle 320 (A201 to A52)
0) shows a strain change curve calculated by uniformly adding the arc light intensity: D. That is, it shows the calculation result of the strain change curve when the influence of the arc light is applied during the strain measurement.

【0064】(B)’は、光強度を2倍にした原波形7
20画面(B1〜B720)のうち、中程の320枚
(B201〜B520)にアーク光強度:Dを一律に足
して算出したひずみ変化曲線を示した。すなわち、レー
ザー強度を2倍にして行ったひずみ測定の途中にアーク
光の影響を受けた場合の、ひずみ変化を算出した結果を
表している。
(B) ′ shows the original waveform 7 with the light intensity doubled.
Of the 20 screens (B1 to B720), the strain change curve calculated by uniformly adding the arc light intensity: D is shown on the middle 320 (B201 to B520). In other words, it shows the result of calculating the change in strain when the laser beam is affected by the arc light during the strain measurement performed by doubling the laser intensity.

【0065】(C)’も同様に、光強度を4倍にした原
波形720画面(C1〜C720)のうち、中程の32
0枚(C201〜C520)にアーク光強度:Dを一律
に足して算出したひずみ変化曲線を示した。すなわち、
レーザー強度を4倍にして行ったひずみ測定の途中にア
ーク光の影響を受けた場合の、ひずみ変化を算出した結
果を表している。
Similarly, (C) ′ of the original waveform 720 screen (C1 to C720) whose light intensity has been quadrupled has a middle 32
A strain change curve calculated by uniformly adding the arc light intensity: D to zero sheets (C201 to C520) is shown. That is,
It shows the result of calculating the change in strain when the laser beam is affected by the arc light during the strain measurement performed by quadrupling the laser intensity.

【0066】(A)および(A)’〜(C)’を比較す
ると、(A)’から(C)’になるにつれて、(A)の
ひずみ変化曲線に近づくことが分かる。これは、アーク
光の影響があっても、レーザー強度を大きくすること
で、ひずみ変化曲線の算出の結果には影響を与えなくな
るということを示している。
Comparing (A) and (A) ′ to (C) ′, it is understood that the strain change curve of (A) approaches from (A) ′ to (C) ′. This indicates that even if there is an effect of arc light, increasing the laser intensity does not affect the result of calculating the strain change curve.

【0067】これによって、この発明の方法においてレ
ーザー強度を高めることで、動的ひずみ測定でのアーク
光の影響が抑制できることが示された。
Thus, it was shown that by increasing the laser intensity in the method of the present invention, the influence of arc light on dynamic strain measurement can be suppressed.

【0068】もちろん、この発明は以上の例に限定され
るものではなく、細部については様々な態様が可能であ
ることは言うまでもない。
Of course, the present invention is not limited to the above-described example, and it goes without saying that various embodiments are possible in detail.

【0069】[0069]

【発明の効果】以上詳しく説明した通り、この発明によ
って、溶接施工途中の被溶接物に発生する動的ひずみ
を、アーク光の影響下にあっても、溶融池を除く所望の
個所および所望の時期に測定することができる。
As described above in detail, according to the present invention, even when under the influence of arc light, a dynamic strain generated in a workpiece during welding can be obtained at a desired position except a molten pool and at a desired position. It can be measured at the time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】溶接アークがひずみ測定点から離れた場所にあ
る場合のひずみ測定の概略を示した側面図である。
FIG. 1 is a side view showing an outline of strain measurement when a welding arc is located at a position distant from a strain measurement point.

【図2】溶接アークがひずみ測定点に近い場所にある場
合のひずみ測定の概略を示した側面図である。
FIG. 2 is a side view showing an outline of strain measurement when a welding arc is located near a strain measurement point.

【図3】この発明の方法によるひずみ測定の概略を例示
した平面図である。
FIG. 3 is a plan view schematically illustrating strain measurement by the method of the present invention.

【図4】測定点のX方向に発生したひずみ変化曲線の一
例を示した図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a strain change curve generated in a X direction at a measurement point.

【図5】測定点のXおよびY方向に発生したひずみ変化
曲線の一例を示した図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a strain change curve generated in the X and Y directions at a measurement point.

【図6】測定点のXおよびY方向に発生したひずみ変化
曲線の一例を示した図である。
FIG. 6 is a diagram showing an example of a strain change curve generated in the X and Y directions at a measurement point.

【図7】この発明の測定方法で検出した原波形と、処理
波形および算出したひずみ変化曲線の一例を示した図で
ある。
FIG. 7 is a diagram showing an example of an original waveform detected by the measurement method of the present invention, a processed waveform, and a calculated distortion change curve.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 被溶接物 2 レーザー源 3 レーザー 4 ミラー 5 ひずみ測定点 6 トーチ 7 アーク 8 データロガー 9 コンピュータ 10 ひずみ変化 11、12、21、22 ピンホール 13、23 バンドパスフィルター 14、24 NDフィルター 15、25 センサー 16、26 遮光筒 17、27 乱反射したレーザー 18、28 アーク光 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Workpiece 2 Laser source 3 Laser 4 Mirror 5 Strain measuring point 6 Torch 7 Arc 8 Data logger 9 Computer 10 Strain change 11, 12, 21, 22 Pinhole 13, 23 Bandpass filter 14, 24 ND filter 15, 25 Sensor 16, 26 Light-shielding tube 17, 27 Diffusely reflected laser 18, 28 Arc light

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 溶接アーク光の影響下にあるひずみ測定
点にレーザーを照射して、乱反射したレーザーの相互干
渉によって生じるスペックルパターンの変化および移動
をセンサー面上で検出する動的ひずみ測定法であって、
ピンホールおよび遮光筒によってアーク光を遮光し、乱
反射したレーザーをセンサー面上で検出することを特徴
とする動的ひずみ測定方法。
A dynamic strain measuring method for irradiating a laser to a strain measuring point under the influence of a welding arc light and detecting a change and movement of a speckle pattern caused by mutual interference of irregularly reflected lasers on a sensor surface. And
A method for measuring dynamic strain, characterized in that arc light is shielded by a pinhole and a light-shielding cylinder, and irregularly reflected laser is detected on a sensor surface.
【請求項2】 請求項1において、さらにバンドパスフ
ィルターによってアーク光のレーザーと異なる波長成分
をカットすることを特徴とする動的ひずみ測定方法。
2. The dynamic strain measuring method according to claim 1, further comprising cutting a wavelength component different from that of the laser of the arc light by a band-pass filter.
【請求項3】 請求項2において、レーザーの強度を上
げてアーク光との強度比を大きくすることを特徴とする
動的ひずみ測定方法。
3. The dynamic strain measuring method according to claim 2, wherein the intensity of the laser is increased to increase the intensity ratio with respect to the arc light.
【請求項4】 請求項2または3において、NDフィル
ターによって全体の光量を落とすことを特徴とする動的
ひずみ測定方法。
4. The dynamic strain measuring method according to claim 2, wherein the entire amount of light is reduced by an ND filter.
【請求項5】 動的ひずみ測定装置であって、ひずみ測
定点にレーザーを照射するレーザー源と乱反射したレー
ザーを検出する検出部と検出した信号を処理する手段と
を備え、検出部は遮光筒とその内部に順に備えられた2
つのピンホールおよびセンサーを有していることを特徴
とする動的ひずみ測定装置。
5. A dynamic strain measuring apparatus, comprising: a laser source for irradiating a laser to a strain measuring point; a detecting unit for detecting a laser beam irregularly reflected; and a means for processing a detected signal, wherein the detecting unit is a light shielding tube. And the two provided inside it
A dynamic strain measuring device having two pinholes and a sensor.
【請求項6】 検出部にバンドパスフィルターを有する
ことを特徴とする請求項5に記載の動的ひずみ測定装
置。
6. The dynamic strain measuring apparatus according to claim 5, wherein the detecting section has a band-pass filter.
【請求項7】 検出部にNDフィルターを有することを
特徴とする請求項5または6に記載の動的ひずみ測定装
置。
7. The dynamic strain measuring apparatus according to claim 5, wherein the detecting section has an ND filter.
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