JP2001257222A - Semiconductor mounting device and its manufacturing method - Google Patents

Semiconductor mounting device and its manufacturing method

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JP2001257222A
JP2001257222A JP2000070989A JP2000070989A JP2001257222A JP 2001257222 A JP2001257222 A JP 2001257222A JP 2000070989 A JP2000070989 A JP 2000070989A JP 2000070989 A JP2000070989 A JP 2000070989A JP 2001257222 A JP2001257222 A JP 2001257222A
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JP
Japan
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semiconductor chip
recognition device
semiconductor
random number
contact recognition
Prior art date
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Application number
JP2000070989A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kosuke Inoue
康介 井上
Hitoshi Odajima
均 小田島
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve a problem in which it is hard to handle a semiconductor chip of small thickness, so that a non-contact recognition device in which the above semiconductor chip is built is low in capability for assembling mass- production, and the cost of a security management for prevention of the forgery of the non-contact recognition device is high. SOLUTION: A film 15 is expanded to be enlarged in area so as to enhance a semiconductor chip array in space between semiconductor chips 2 before the semiconductor chips 2 are transferred onto the tape 3 from the film 15, by which the semiconductor chips 2 are directly transferred and mounted on the tape 3 without using a suction nozzle 91. Furthermore, a random number holder 8 which holds uncreatable random numbers is provided inside a non- contact recognition device 6, and the numbers are registered on a data base 32 just before the non-contact recognition device 6 is used.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ICカードなどの
半導体チップを収める半導体パッケージ製造技術に関
し、なかでも特に、半導体チップを利用した非接触認識
デバイスの効率的な製造方法に関する発明である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor package manufacturing technique for accommodating a semiconductor chip such as an IC card, and more particularly to an efficient method for manufacturing a non-contact recognition device using a semiconductor chip.

【0002】[0002]

【従来の技術】ICカードの製造方法に関する従来例を
図17乃至19に示す。図17は半導体チップ2をペレ
ットケース92から吸着ノズル91によって吸着する工
程を示す断面図である。図18は、吸着した半導体チッ
プを粘着材92が付着したフイルム基材93上に移動し
て押し付け搭載することを示す工程の断面図である。図
19は、カバーシート94をローラ95によりカバーす
る工程の断面図である。
2. Description of the Related Art FIGS. 17 to 19 show a conventional example of a method for manufacturing an IC card. FIG. 17 is a cross-sectional view showing a step of sucking the semiconductor chip 2 from the pellet case 92 by the suction nozzle 91. FIG. 18 is a cross-sectional view of a process showing that the semiconductor chip that has been adsorbed is moved onto the film substrate 93 to which the adhesive material 92 has adhered and is pressed and mounted. FIG. 19 is a cross-sectional view of a step of covering the cover sheet 94 with the roller 95.

【0003】また、半導体チップを基板に搭載する方法
としては、特開平8−316194号公報(以下、引用
例という)に記載されている。この例では、フイルムに
貼り付いた半導体チップを必要に応じ個別に基板に押し
付け、また同時に加熱することで半導体チップの基板搭
載が行われている。
A method of mounting a semiconductor chip on a substrate is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-316194 (hereinafter referred to as a reference). In this example, the semiconductor chips attached to the film are individually pressed as needed against the substrate and simultaneously heated to mount the semiconductor chip on the substrate.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】近年、半導体パッケー
ジの形態としては薄形のものが要求されるようになって
きている。これは、半導体パッケージが薄くなること
で、任意の場所に取り付けられるなど取り扱いや携帯が
容易になるため、用途が大きく広がるためである。公衆
電話用のIC内蔵テレホンカードは、このような薄形半
導体パッケージの例である。IC内蔵テレホンカードに
おいては、半導体チップ厚さは50μm程度、テレホン
カードの厚さは0.45mm程度である。今後、薄形半
導体パッケージの用途が広がると、現状より更に薄い半
導体チップおよび半導体パッケージが求められるように
なり、その際の半導体チップの厚さは10μm前後かそ
れ以下になることが予想される。また、更なる低コスト
化の要求に応えるために半導体チップの縦横寸法も小さ
くなり、一辺が0.3mm程度かそれ以下になることが
予想される。しかしながら、薄く微小な半導体チップ
は、半導体パッケージ製造工程におけるハンドリング等
のいわゆる取り扱いが非常に難しく、従来の吸着ノズル
を用いた搭載工程を実現することが難しい。例えば、半
導体チップが吸着ノズルに吸着する際に傾きが生じ、こ
のため搭載時に半導体チップが損傷するといった現象等
々が発生する。たとえ吸着ノズルを用いた搭載工程を改
良することで、搭載が実現できた場合でも高速な搭載動
作は難しい。また、引用例において公開されている吸着
ノズルを使用しない製造方法においても、隣接する半導
体チップに損傷を与えやすいという課題が存在する。こ
のような理由から、現行の技術では、薄形半導体パッケ
ージの量産性は極度に低く、現状広く流通している半導
体パッケージと比べ、製品製造コストが大幅に増加して
しまうという問題が発生する。
In recent years, a thin semiconductor package has been required as a form. This is because the thinness of the semiconductor package makes it easy to handle and carry it, for example, it can be attached to an arbitrary place, so that its use is greatly expanded. A telephone card with a built-in IC for a public telephone is an example of such a thin semiconductor package. In a telephone card with a built-in IC, the thickness of the semiconductor chip is about 50 μm, and the thickness of the telephone card is about 0.45 mm. As the use of thin semiconductor packages expands in the future, semiconductor chips and semiconductor packages that are thinner than the current situation will be required, and the thickness of the semiconductor chips at that time is expected to be around 10 μm or less. Further, in order to meet the demand for further cost reduction, the vertical and horizontal dimensions of the semiconductor chip are also reduced, and one side is expected to be about 0.3 mm or less. However, thin and small semiconductor chips are very difficult to handle, such as handling, in a semiconductor package manufacturing process, and it is difficult to realize a mounting process using a conventional suction nozzle. For example, a tilt occurs when the semiconductor chip is suctioned by the suction nozzle, and the semiconductor chip may be damaged during mounting. Even if mounting can be realized by improving the mounting process using a suction nozzle, high-speed mounting operation is difficult. Further, even in the manufacturing method disclosed in the cited example that does not use a suction nozzle, there is a problem that an adjacent semiconductor chip is easily damaged. For these reasons, with the current technology, the mass productivity of the thin semiconductor package is extremely low, and there is a problem that the product manufacturing cost is significantly increased as compared with the semiconductor package currently widely distributed.

【0005】また半導体チップに認証機能をもたせる用
途も増えることが予想される。このような認証機能を有
する半導体チップが、身近なあらゆる商品に取り付けら
れることになると、半導体チップのセキュリティ管理
は、従来の製造された半導体パッケージの入庫、在庫、
出庫を厳重に管理する方法ではコストがかさむという問
題点が存在する。管理が不充分になると、チップの盗難
や偽造に対応できなくなり、認証機能付半導体チップを
出荷している団体および使用している団体の社会的信用
が失墜するなど極めて大きな損害が発生することとな
る。
[0005] Further, it is expected that applications for providing an authentication function to a semiconductor chip will increase. When a semiconductor chip having such an authentication function is to be attached to all kinds of commodities, security management of the semiconductor chip is performed by storing, stocking, and stocking a conventionally manufactured semiconductor package.
There is a problem in that the method of strictly managing the delivery increases costs. Insufficient management will not be able to respond to chip theft or counterfeiting, and will cause extremely large damages such as the loss of social credibility of the organization shipping and using the semiconductor chip with authentication function. Become.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明では、前述の問題
点を解決するために以下の手段を設けた。
According to the present invention, the following means are provided to solve the above-mentioned problems.

【0007】半導体パッケージの製造にあたり、半導体
チップを貼り付けたフイルムを面方向に引き伸ばすこと
で半導体チップの間隔を拡大し、半導体チップがこのフ
イルムに貼り付けられた状態で半導体パッケージの製造
を行うことで、吸着ノズルを用いた半導体チップの搭載
工程を不要とし、かつ多くの半導体チップを同時に搭載
できるようにした。
In manufacturing a semiconductor package, the distance between the semiconductor chips is increased by stretching the film to which the semiconductor chip is attached in the plane direction, and the semiconductor package is manufactured in a state where the semiconductor chip is attached to the film. Thus, the step of mounting a semiconductor chip using a suction nozzle is not required, and more semiconductor chips can be mounted at the same time.

【0008】また、半導体パッケージの組立の途中にお
いて、外部へ読み出し可能かつ再現不能な無二の乱数デ
ータが発生する乱数保持部を半導体パッケージ内に設け
た。この乱数データを半導体パッケージの認証を行うデ
ータとしてデータベースに登録するようにしたことで、
半導体パッケージのセキュリティ管理を容易にした。
In addition, during the assembly of the semiconductor package, a random number holding unit for generating one-of-a-kind random number data which can be read out and cannot be reproduced is provided in the semiconductor package. By registering this random number data in the database as data for authenticating the semiconductor package,
Security management of semiconductor packages has been simplified.

【0009】また、半導体パッケージの組立および基幹
コンピュータへの登録を、半導体パッケージの使用開始
と同時に行うようにしたことで、半導体パッケージの製
造工程におけるセキュリティ管理を最小限にした。
Further, by assembling the semiconductor package and registering it in the main computer simultaneously with the start of use of the semiconductor package, security management in the semiconductor package manufacturing process is minimized.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下では、本発明の実施例につい
て説明する。なお、図中の同一符号については同一の構
成要素を表しているため、重ねての説明を省略している
場合がある。
Embodiments of the present invention will be described below. Note that the same reference numerals in the drawings denote the same components, and thus overlapping description may be omitted.

【0011】図13に非接触認識デバイス6を示す。非
接触認識デバイス6は半導体パッケージの一種であり、
その中には半導体チップ2が搭載されており、その半導
体チップ2は、外部とのデータ通信に使用するアンテナ
7に接続されている。また、非接触認識デバイス6は、
その製造の際に乱数を発生し、かつそれを保持する乱数
保持部8を有している。乱数保持部8は微粒子9のラン
ダムな配置およびそれぞれの寸法等のパターン情報を有
している。このパターン情報は数値データなどに変換可
能であり、乱数として利用可能である。このため、非接
触認識デバイス6には、半導体チップ2内のデータおよ
び乱数保持部8が保持している乱数が記録されている。
なお、乱数保持部8が保持している乱数は、非接触認識
デバイス6の製造過程のおいてランダムに発生するよう
になっているため、まったく同じ乱数を保持する非接触
認識デバイス6を複製することは不可能である。
FIG. 13 shows a non-contact recognition device 6. The non-contact recognition device 6 is a kind of semiconductor package,
The semiconductor chip 2 is mounted therein, and the semiconductor chip 2 is connected to an antenna 7 used for data communication with the outside. In addition, the non-contact recognition device 6
It has a random number holding unit 8 that generates a random number at the time of its manufacture and holds it. The random number holding unit 8 has pattern information such as the random arrangement of the fine particles 9 and their respective dimensions. This pattern information can be converted into numerical data and the like, and can be used as random numbers. Therefore, the data in the semiconductor chip 2 and the random number held by the random number holding unit 8 are recorded in the non-contact recognition device 6.
Since the random numbers held by the random number holding unit 8 are generated at random in the manufacturing process of the non-contact recognition device 6, the non-contact recognition device 6 that holds exactly the same random numbers is copied. It is impossible.

【0012】図14は、非接触認識デバイス6の組立の
過程において微粒子9を乱数保持部8に散布することで
乱数保持部8に乱数を記録する方法の一例を示してい
る。微粒子収納タンク96に貯蔵された微粒子9は、溶
剤タンク97と混合され、ガス配管99からのガス流に
より、ノズル98より噴霧される。非接触認識デバイス
6上の半導体チップ2など微粒子9の付着を防止する必
要がある場所、つまり乱数保持部8以外は、マスク10
1によって覆われている。このため、微粒子9は乱数保
持部8に分散し付着する。溶剤は揮発するため、乱数保
持部8には微粒子9のみが残る。
FIG. 14 shows an example of a method of recording random numbers in the random number holding unit 8 by dispersing the fine particles 9 in the random number holding unit 8 in the process of assembling the non-contact recognition device 6. The fine particles 9 stored in the fine particle storage tank 96 are mixed with the solvent tank 97 and sprayed from the nozzle 98 by the gas flow from the gas pipe 99. Except for the place where it is necessary to prevent the attachment of the fine particles 9 such as the semiconductor chip 2 on the non-contact recognition device 6, that is, other than the random number holding unit 8,
Covered by one. For this reason, the fine particles 9 are dispersed and attached to the random number holding unit 8. Since the solvent is volatilized, only the fine particles 9 remain in the random number holding unit 8.

【0013】図15は、別のパターン情報が記録された
乱数保持部8に有する非接触認識デバイス6を示してい
る。このように微粒子9はランダムに乱数保持部8上に
付着しているため、微粒子9がまったく同じ配列パター
ンで存在することはありえないため、このパターン情報
を乱数データとして使用することが可能となる。微粒子
9としては直径10μm以下のガラスビーズを使用する
ことができる。非接触認識デバイス6は最終的にはラミ
ネートされるため、微粒子9は、半導体チップ2と同様
に固定される。このため、微粒子9のパターン情報は経
時変化することはないため、乱数データも保持される。
例えば、悪意のある第三者が、非接触認識デバイス6を
複製することを試みても多数の微粒子9を本物と全く同
一に配置することは実際上不可能となる。また、非接触
認識デバイス6の分解を試みた場合でも、分解した時点
で微粒子9は脱落したり、位置ズレを生じたりするた
め、再組立後も分解前と同一の乱数データを保持するこ
とは不可能となっている。非接触認識デバイス6内の半
導体チップ2が保存しているデータおよび前述の乱数デ
ータを、非接触認識デバイス6を使用する直前におい
て、データベースに両者を対応づけた上で保存すること
で非接触認識デバイス6の認証確認がより確実なものと
なる。なお、本実施例において示したような微粒子9を
用いた乱数の発生方法のほかにもインクの滲みを利用す
る方法、箔を散布する方法、指紋状の乱数パターンを転
写する方法、製造時に非接触認識デバイス6内に閉じ込
められた異物を利用する方法などが考えられる。
FIG. 15 shows a non-contact recognition device 6 provided in a random number holding unit 8 in which another pattern information is recorded. As described above, since the fine particles 9 are randomly attached to the random number holding unit 8, the fine particles 9 cannot exist in exactly the same arrangement pattern. Therefore, this pattern information can be used as random number data. As the fine particles 9, glass beads having a diameter of 10 μm or less can be used. Since the non-contact recognition device 6 is finally laminated, the fine particles 9 are fixed similarly to the semiconductor chip 2. For this reason, since the pattern information of the fine particles 9 does not change with time, random number data is also held.
For example, even if a malicious third party attempts to duplicate the non-contact recognition device 6, it is practically impossible to arrange a large number of the fine particles 9 exactly the same as the real one. Further, even when the disassembly of the non-contact recognition device 6 is attempted, the fine particles 9 fall off or dislocate at the time of disassembly. It is impossible. By storing the data stored in the semiconductor chip 2 in the non-contact recognition device 6 and the above-described random number data in a database immediately before using the non-contact recognition device 6 in association with both, the non-contact recognition is performed. The authentication confirmation of the device 6 becomes more reliable. In addition to the method of generating random numbers using the fine particles 9 as described in the present embodiment, a method using ink bleeding, a method of spraying a foil, a method of transferring a fingerprint-like random number pattern, A method of utilizing a foreign substance trapped in the contact recognition device 6 may be considered.

【0014】図16に非接触認識デバイス6を用いた認
識方法を示す。非接触認識デバイス6は、物体100に
取り付けられている。物体100には、有価証券、店頭
陳列商品、IDカード、生物等々の識別が必要となるあ
らゆるものが該当する。非接触認識デバイス6は、認識
コントローラ43に接続した質問機アンテナ42からの
送信電波に反応して内部に保持しているデータを発信
し、質問機アンテナ42および認識コントローラ43が
これを受信する。また、画像カメラ41などのセンサに
より非接触認識デバイス6の乱数保持部8に保持された
非接触認識デバイス6固有の乱数情報が取り込まれ、認
識コントローラ43によって乱数データに変換される。
認識コントローラ43は、受信したデータと認識した乱
数を、ネットワーク31を介してデータベース32に登
録されているものと比較し、非接触認識デバイス6の真
贋を確認し、データベース32に登録されているデータ
に対応する物体100に関する情報を受け取る。これに
より得られた認証データは、図示しない接続機器によ
り、表示もしくは、変換され活用される。これにより、
非接触認識デバイス6が取り付けられた物体100の在
庫管理、荷物の追跡、真贋の確認等々が行えるようにな
る。また、非接触認識デバイス6は生物体に取り付ける
ことも可能であり、その場合は生物の追跡、識別などが
行えるようになる。
FIG. 16 shows a recognition method using the non-contact recognition device 6. The non-contact recognition device 6 is attached to the object 100. The object 100 corresponds to anything that needs to be identified, such as securities, over-the-counter products, ID cards, and living things. The non-contact recognition device 6 transmits data stored therein in response to a transmission radio wave from the interrogator antenna 42 connected to the recognition controller 43, and the interrogator antenna 42 and the recognition controller 43 receive the data. Further, random number information unique to the non-contact recognition device 6 held in the random number holding unit 8 of the non-contact recognition device 6 by a sensor such as the image camera 41 is taken in, and converted into random number data by the recognition controller 43.
The recognition controller 43 compares the received data and the recognized random number with those registered in the database 32 via the network 31 to confirm the authenticity of the non-contact recognition device 6, and checks the data registered in the database 32. Receiving information on the object 100 corresponding to. The authentication data thus obtained is displayed or converted and used by a connection device (not shown). This allows
Inventory management, tracking of luggage, confirmation of authenticity, etc. of the object 100 to which the non-contact recognition device 6 is attached can be performed. In addition, the non-contact recognition device 6 can be attached to a living body, and in that case, tracking and identification of the living thing can be performed.

【0015】以下においては、非接触認識デバイス6の
製造方法に関して説明する。
Hereinafter, a method of manufacturing the non-contact recognition device 6 will be described.

【0016】図1に非接触認識デバイス6に内蔵される
半導体チップ6が多数個形成された半導体ウェーハ1を
示す。半導体ウェーハ1は、その面が薄型フイルム11
に貼りつけられている。また、フイルム11は金属枠1
0に貼り付けられている。各半導体チップ6は、この時
点までに非接触認識デバイス6として必要となるデータ
をその内部に保持している。
FIG. 1 shows a semiconductor wafer 1 on which a large number of semiconductor chips 6 built in a non-contact recognition device 6 are formed. The semiconductor wafer 1 has a thin film 11 on its surface.
Is pasted on. The film 11 is a metal frame 1
0. Each semiconductor chip 6 holds therein data necessary for the contactless recognition device 6 up to this point.

【0017】図2は、図1に示した半導体ウェーハ1を
各半導体チップ2単位に分離した状態を示している。分
離方法としては、現在広く普及している回転刃による切
断のほか、化学的なエッチング技術による分離を行って
も良い。なお、化学的なエッチング技術によるチップ分
離を採用する場合、半導体チップ2の形状は、四角形で
はなく、六角形や円形など任意の形状とすることができ
る。
FIG. 2 shows a state in which the semiconductor wafer 1 shown in FIG. 1 is separated into two semiconductor chips. As a separation method, in addition to cutting with a rotating blade which is widely used at present, separation by a chemical etching technique may be performed. When chip separation by a chemical etching technique is adopted, the shape of the semiconductor chip 2 can be an arbitrary shape such as a hexagon or a circle instead of a square.

【0018】図3にフイルム11に貼り付けられた多数
個の半導体チップ2の間隔を広げている状態を示す。こ
の図において矢印で示した個所の断面を図4に示す。図
4においては、フイルム11の半導体チップ2が貼り付
けられていない側の面を押し上げブロック12が押し上
げている。フイルム11の周囲は金属枠10に固定され
ているため、フイルム11は押し広げられ、フイルム1
1に貼り付けられている半導体チップ2間には、隙間が
形成される。
FIG. 3 shows a state in which the interval between a large number of semiconductor chips 2 attached to the film 11 is widened. FIG. 4 shows a cross section of a portion indicated by an arrow in FIG. In FIG. 4, a block 12 pushes up the surface of the film 11 on the side where the semiconductor chip 2 is not attached. Since the periphery of the film 11 is fixed to the metal frame 10, the film 11 is spread out,
A gap is formed between the semiconductor chips 2 attached to 1.

【0019】この状態で、図5に示すように、第二のフ
イルム15およびその周囲を保持している第二の金属枠
14および第二のフイルム15の一面に押し当てられて
いる第二の押上げブロック13を、隙間が形成された半
導体チップ2に押し当てることで、第二のフイルム15
に転写する。転写は、半導体チップ2とフイルム11と
の間の粘着力や接着力よりも半導体チップ2と第二のフ
イルム15との間の粘着力や接着力を大きくすることで
可能となる。粘着力の制御方法としては、紫外線の照射
や加熱など従来から知られている方法が各種利用でき
る。
In this state, as shown in FIG. 5, the second film 15 and the second metal frame 14 holding the periphery thereof and the second film 15 pressed against one surface of the second film 15 are provided. The push-up block 13 is pressed against the semiconductor chip 2 in which the gap is formed, so that the second film 15 is formed.
Transfer to The transfer can be performed by making the adhesive force or the adhesive force between the semiconductor chip 2 and the second film 15 larger than the adhesive force or the adhesive force between the semiconductor chip 2 and the film 11. As a method for controlling the adhesive force, various conventionally known methods such as irradiation with ultraviolet rays and heating can be used.

【0020】このように第二のフイルム15に半導体チ
ップ2を転写した状態を図6に示す。この状態でさらに
既に図4に示した方法と同じ方法で半導体チップ2の間
隔を広げた状態を図7に示す。図7中には無いが、第二
のフイルム15の半導体チップ2が貼り付けられていな
い面側に第二の押し上げブロック13が存在している。
この第二の押上げブロック13が、第二のフイルム15
を押し広げることで、半導体チップ2の間隔は、図6に
示した状態よりも広がっている。第二の押上げブロック
13は、図9に示されている。
FIG. 6 shows a state in which the semiconductor chip 2 is transferred to the second film 15 in this manner. FIG. 7 shows a state in which the distance between the semiconductor chips 2 is further increased in this state by the same method as that shown in FIG. Although not shown in FIG. 7, the second lifting block 13 exists on the side of the second film 15 on which the semiconductor chip 2 is not attached.
The second push-up block 13 is used for the second film 15.
, The interval between the semiconductor chips 2 is wider than the state shown in FIG. The second push-up block 13 is shown in FIG.

【0021】この状態で、図8および図9に示すように
搭載ブロック16およびテープ3が半導体チップ2上に
下降する。なお、図9は図8における矢印で示した個所
における断面図である。搭載ブロック16は、テープ3
を半導体チップ2に押し付けることで、半導体チップ2
をテープ3上に転写する。転写は、半導体チップ2と第
二のフイルム15との間の粘着力や接着力よりも半導体
チップ2とテープ3との間の粘着力や接着力を大きくす
ることで可能となる。一度の転写動作では、半導体チッ
プ2を1個ずつではなく、複数個同時にテープ3上に転
写することができる。一度に転写される半導体チップ2
の個数は、搭載ブロック16の大きさなどにより決定さ
れることとなる。半導体チップ2をテープ3に転写した
後に搭載ブロック16は上昇し、テープ3はその長さ方
向に送られる。テープに転写された半導体チップ4は、
この動作により、搭載ブロック16上から外れ、次の工
程に送られる。
In this state, the mounting block 16 and the tape 3 are lowered onto the semiconductor chip 2 as shown in FIGS. FIG. 9 is a cross-sectional view at a location indicated by an arrow in FIG. The mounting block 16 is a tape 3
Is pressed against the semiconductor chip 2 so that the semiconductor chip 2
Is transferred onto the tape 3. The transfer can be performed by making the adhesive force or the adhesive force between the semiconductor chip 2 and the tape 3 larger than the adhesive force or the adhesive force between the semiconductor chip 2 and the second film 15. In a single transfer operation, a plurality of semiconductor chips 2 can be transferred onto the tape 3 simultaneously, instead of one by one. Semiconductor chip 2 transferred at once
Is determined by the size of the mounting block 16 and the like. After transferring the semiconductor chip 2 to the tape 3, the mounting block 16 is raised, and the tape 3 is fed in its length direction. The semiconductor chip 4 transferred to the tape is
By this operation, it comes off the mounting block 16 and is sent to the next step.

【0022】このようにテープ3上に転写された半導体
チップ4は、図10に示すように第二のテープ5により
ラミネートされる。ラミネートは市販されているラミネ
ート装置を使用することが可能であり、上ローラ18と
下ローラ19により、大気圧より低い圧力環境下で第二
のテープ5でテープに転写された半導体チップ4を覆っ
た後に、加熱することで行われる。ラミネートにより、
非接触認識デバイス6が連続的に形成される。
The semiconductor chip 4 thus transferred onto the tape 3 is laminated with a second tape 5 as shown in FIG. A commercially available laminating apparatus can be used for lamination. The upper roller 18 and the lower roller 19 cover the semiconductor chip 4 transferred to the tape with the second tape 5 under a pressure environment lower than the atmospheric pressure. After that, heating is performed. By lamination,
The non-contact recognition device 6 is formed continuously.

【0023】図11は、図10中のAで示したテープ3
の状態を示している。このように、非接触認識デバイス
6が外部と通信に使用する図13に示したアンテナ7お
よび乱数保持部8は、ラミネートまでにテープ3上に形
成しておくこととなる。なお、アンテナ7と半導体チッ
プ2の接続工程を削減するために、半導体チップ2上に
予め半導体プロセスによりアンテナ7を形成しておいて
も良い。
FIG. 11 shows the tape 3 indicated by A in FIG.
The state of is shown. As described above, the antenna 7 and the random number holding unit 8 shown in FIG. 13 that the non-contact recognition device 6 uses for communication with the outside are formed on the tape 3 before lamination. Note that the antenna 7 may be formed in advance on the semiconductor chip 2 by a semiconductor process in order to reduce the number of steps for connecting the antenna 7 and the semiconductor chip 2.

【0024】このように本発明では、非接触認識デバイ
ス6の組立を、吸着ノズル91を使用することなく実施
する。このため、半導体チップ2の損傷を防ぐことが出
来る。しかも複数個の半導体チップ2を同時に基板であ
るテープ3に搭載するため、量産性にも優れている。
As described above, according to the present invention, the non-contact recognition device 6 is assembled without using the suction nozzle 91. Therefore, damage to the semiconductor chip 2 can be prevented. Moreover, since a plurality of semiconductor chips 2 are simultaneously mounted on the tape 3 as a substrate, mass productivity is excellent.

【0025】連続的に形成された非接触認識デバイス6
が、認識対象となる物体100に取り付ける方法を図1
2に示す。連続的に形成された非接触認識デバイス6
は、リール21に収納されており、ひとつずつ繰り出さ
れる。非接触認識デバイス6はカッタ23により個片に
切断され、ディスペンサ24により接着剤24が滴下さ
れ、貼付機22の回転動作により、物体100に取り付
けられる。非接触認識デバイス6は、取り付け前に検査
アンテナ28との交信により、良品判定が行われ、不良
品については物体100に取り付けられず、図示しない
回収機構により回収される。非接触認識デバイス6の取
り付けと同時に登録コントローラ26の指令に基づき、
乱数登録画像カメラ25により、非接触認識デバイス6
の乱数保持部8の乱数情報を読み取り、データ登録アン
テナ27により非接触認識デバイス6内の半導体チップ
2に登録されているデータを読み取る。これらの情報
は、組み合わせられて、ネットワーク31を介してデー
タベース32に登録される。このように非接触認識デバ
イス6は、物体100に取り付けられて初めて半導体チ
ップ2に登録されているデータならびに乱数情報がデー
タベース3に登録されるため、物体100に取り付けら
れる以前の非接触認識デバイス6の価値は低いため、保
管コストを削減できる。また、無二の乱数データを有し
ているため偽造による損害も防止できる。
Non-contact recognition device 6 formed continuously
FIG. 1 shows a method of attaching to an object 100 to be recognized.
It is shown in FIG. Non-contact recognition device 6 formed continuously
Are stored in the reel 21 and are fed out one by one. The non-contact recognition device 6 is cut into individual pieces by the cutter 23, the adhesive 24 is dropped by the dispenser 24, and the non-contact recognition device 6 is attached to the object 100 by the rotating operation of the attaching machine 22. Before the non-contact recognition device 6 is attached, a non-defective product is determined by communication with the inspection antenna 28, and a defective product is not attached to the object 100 but is collected by a collection mechanism (not shown). At the same time as the attachment of the non-contact recognition device 6, based on the command of the registration controller 26,
The non-contact recognition device 6 by the random number registration image camera 25
The random number information of the random number holding unit 8 is read, and data registered in the semiconductor chip 2 in the non-contact recognition device 6 is read by the data registration antenna 27. These pieces of information are combined and registered in the database 32 via the network 31. As described above, since the data and the random number information registered in the semiconductor chip 2 are registered in the database 3 only after being attached to the object 100, the non-contact recognition device 6 is attached to the object 100 before being attached to the object 100. Is low in value, so storage costs can be reduced. In addition, since it has unique random number data, damage due to forgery can be prevented.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明によれば、以下の効果がある。す
なわち、吸着ノズルを使用しない半導体チップ搭載が可
能となり、かつ多数個の薄形半導体チップの一括搭載が
容易となるため、非接触認証デバイス等の薄形半導体パ
ッケージの量産性が格段に向上する。
According to the present invention, the following effects can be obtained. That is, since semiconductor chips can be mounted without using a suction nozzle, and a large number of thin semiconductor chips can be easily mounted at the same time, mass productivity of thin semiconductor packages such as non-contact authentication devices is significantly improved.

【0027】また、本発明にある半導体パッケージは、
再現不可能な無二の乱数情報を保持しており、半導体チ
ップに記録されている情報とともにこの乱数情報も、半
導体パッケージの使用開始と同時にデータベースに登録
するため、偽造や保管等に費やすコストを最小限に抑え
ることができる。
The semiconductor package according to the present invention comprises:
It holds unreproducible random number information, and this random number information is registered in the database together with the information recorded on the semiconductor chip at the start of use of the semiconductor package, which reduces the cost of forgery and storage. Can be minimized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の半導体ウェーハがフイルムおよび金属
枠に固定されている状態を示した図である。
FIG. 1 is a view showing a state in which a semiconductor wafer of the present invention is fixed to a film and a metal frame.

【図2】本発明の半導体ウェーハを半導体チップ単位に
分離した状態を示した図である。
FIG. 2 is a diagram showing a state where a semiconductor wafer of the present invention is separated into semiconductor chips.

【図3】本発明の半導体チップの間隔を広げた状態を示
した図である。
FIG. 3 is a diagram showing a state in which the interval between the semiconductor chips of the present invention is widened.

【図4】本発明の図3中の二点破線部における断面図で
ある。
FIG. 4 is a cross-sectional view taken along a dashed double-dotted line in FIG.

【図5】本発明の半導体チップを第二のフイルムに転写
する状態を示した図である。
FIG. 5 is a view showing a state in which the semiconductor chip of the present invention is transferred to a second film.

【図6】本発明の半導体チップを第二のフイルムに転写
した状態を示した図である。
FIG. 6 is a view showing a state in which the semiconductor chip of the present invention has been transferred to a second film.

【図7】本発明の半導体チップの間隔を広げた図であ
る。
FIG. 7 is a diagram in which the interval between the semiconductor chips of the present invention is increased.

【図8】本発明の半導体チップをテープ上に転写する状
態を示した図である。
FIG. 8 is a diagram showing a state in which the semiconductor chip of the present invention is transferred onto a tape.

【図9】本発明の図8中の二点破線部における断面図で
ある。
FIG. 9 is a cross-sectional view of the present invention taken along a two-dot broken line in FIG.

【図10】本発明の半導体チップをラミネートしている
状態を示した図である。
FIG. 10 is a view showing a state where the semiconductor chip of the present invention is laminated.

【図11】本発明の半導体チップがテープ上に転写され
た状態を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a state in which the semiconductor chip of the present invention has been transferred onto a tape.

【図12】本発明の非接触認識デバイスの取り付けおよ
び認証情報のデータベースへの登録方法を示した図であ
る。
FIG. 12 is a diagram showing a method of attaching a non-contact recognition device of the present invention and registering authentication information in a database.

【図13】本発明の非接触認識デバイスの構造を示した
図である。
FIG. 13 is a diagram showing a structure of a non-contact recognition device of the present invention.

【図14】本発明の乱数保持部の形成方法を示した図で
ある。
FIG. 14 is a diagram illustrating a method of forming a random number holding unit according to the present invention.

【図15】本発明の異なる乱数を保持する非接触認識デ
バイスを示した図である。
FIG. 15 is a diagram showing a non-contact recognition device holding different random numbers according to the present invention.

【図16】本発明の非接触認識デバイスを用いた認証方
法を示した図である。
FIG. 16 is a diagram showing an authentication method using the non-contact recognition device of the present invention.

【図17】従来のICカードの製造方法における半導体
チップ吸着工程を示した図である。
FIG. 17 is a diagram showing a semiconductor chip suction step in a conventional IC card manufacturing method.

【図18】従来のICカードの製造方法における半導体
チップ搭載工程を示した図である。
FIG. 18 is a view showing a semiconductor chip mounting step in a conventional IC card manufacturing method.

【図19】従来のICカードの製造方法における半導体
チップカバー工程を示した図である。
FIG. 19 is a view showing a semiconductor chip cover step in a conventional IC card manufacturing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…半導体ウェーハ、2…半導体チップ、3…テープ、
4…テープに転写された半導体チップ、5…第二のテー
プ、6…非接触認識デバイス、7…アンテナ、8…乱数
保持部、9…微粒子、10…金属枠、11…フイルム、
12…押し上げブロック、13…第二の押し上げブロッ
ク、14…第二の金属枠、15…第二のフイルム、16
…搭載ブロック、18…上ローラ、19…下ローラ、2
1…リール、22…貼付機、23…カッタ、24…ディ
スペンサ、25…乱数登録画像カメラ、26…登録コン
トローラ、27…データ登録アンテナ、28…検査アン
テナ、31…ネットワーク、32…データベース、41
…画像カメラ、42…質問機アンテナ、43…認識コン
トローラ、91…吸着ノズル、92…ペレットケース、
93…フイルム基材、94…カバーシート、95…ロー
ラ、96…微粒子収納タンク、97…溶剤タンク、98
…ノズル、99…ガス配管、100…物体、101…マ
スク
1. Semiconductor wafer, 2. Semiconductor chip, 3. Tape,
4 semiconductor chip transferred to tape, 5 second tape, 6 non-contact recognition device, 7 antenna, 8 random number holding unit, 9 fine particles, 10 metal frame, 11 film
12 ... push-up block, 13 ... second push-up block, 14 ... second metal frame, 15 ... second film, 16
... Mounting block, 18 ... Top roller, 19 ... Bottom roller, 2
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Reel, 22 ... Pasting machine, 23 ... Cutter, 24 ... Dispenser, 25 ... Random number registration image camera, 26 ... Registration controller, 27 ... Data registration antenna, 28 ... Inspection antenna, 31 ... Network, 32 ... Database, 41
... image camera, 42 ... interrogator antenna, 43 ... recognition controller, 91 ... suction nozzle, 92 ... pellet case,
93: film base material, 94: cover sheet, 95: roller, 96: particle storage tank, 97: solvent tank, 98
... Nozzle, 99 ... Gas piping, 100 ... Object, 101 ... Mask

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G06K 19/10 G06K 19/00 R 19/07 H H01L 21/301 H01L 21/78 P Fターム(参考) 2C005 MA02 MA19 NA08 RA22 RA24 5B035 AA13 BA03 BB03 BB09 CA01 CA23 5B058 CA15 KA32 KA33 5F047 FA90 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) G06K 19/10 G06K 19/00 R 19/07 H H01L 21/301 H01L 21/78 PF term (Reference) 2C005 MA02 MA19 NA08 RA22 RA24 5B035 AA13 BA03 BB03 BB09 CA01 CA23 5B058 CA15 KA32 KA33 5F047 FA90

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】無二の乱数データを保持する乱数保持部を
設けたことを特徴とする半導体実装装置。
1. A semiconductor mounting device comprising a random number holding section for holding random number data.
【請求項2】乱数保持部に保持された無二の乱数データ
と内蔵する半導体チップが保持している認証データとを
組み合わせてデータベースに登録することを特徴とする
半導体実装装置。
2. A semiconductor mounting apparatus wherein a combination of unique random number data held in a random number holding unit and authentication data held by a built-in semiconductor chip is registered in a database.
【請求項3】無二の乱数データと認証データとのデータ
ベースへの登録を、認証が必要となる物体へ取り付ける
のとほぼ同時に行うことを特徴とする半導体実装装置。
3. A semiconductor mounting apparatus, wherein registration of one-of-a-kind random number data and authentication data in a database is performed almost simultaneously with attachment to an object requiring authentication.
【請求項4】半導体チップが貼り付けられたフイルムに
張力を付与することで、隣接する半導体チップ間の間隔
を拡大する工程を有することを特徴とする半導体実装装
置の製造方法。
4. A method of manufacturing a semiconductor mounting device, comprising a step of applying a tension to a film to which a semiconductor chip is attached to increase a distance between adjacent semiconductor chips.
【請求項5】半導体チップ間の間隔が所望の間隔となる
まで、半導体チップが貼り付けられたフイルムから第二
のフイルムへ半導体チップを転写し、第二のフイルムに
張力付与を付与する工程を繰り返すことを特徴とする請
求項4記載の半導体実装装置の製造方法。
5. A process for transferring a semiconductor chip from a film to which a semiconductor chip is attached to a second film and applying a tension to the second film until the interval between the semiconductor chips becomes a desired interval. 5. The method according to claim 4, wherein the method is repeated.
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