JP2001250837A - Resin sealing method - Google Patents

Resin sealing method

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JP2001250837A
JP2001250837A JP2000062224A JP2000062224A JP2001250837A JP 2001250837 A JP2001250837 A JP 2001250837A JP 2000062224 A JP2000062224 A JP 2000062224A JP 2000062224 A JP2000062224 A JP 2000062224A JP 2001250837 A JP2001250837 A JP 2001250837A
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resin
circuit board
mold
opening
resin sealing
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JP2000062224A
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Japanese (ja)
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Masahiro Morimura
政弘 森村
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Apic Yamada Corp
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Apic Yamada Corp
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Publication date
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
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  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resin sealing method which can improve the productivity without producing any damage or resin contamination on a terminal joint, when sealing an opening recessed part formed on a circuit board. SOLUTION: A protection member 6 in which a window 6a corresponding to an opening recessed part 2 of a circuit board 1 is formed around the opening recessed part 2 thereof is overlapped, and the circuit board 1 is clamped together with the member 6 by a mold die 5 so as to form a resin gate on the member 6. A sealing resin 11 is press-fed through the resin gate to seal the opening recessed part 6 by resin.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する利用分野】本発明は、主として回路基板
に形成された開口凹部に回路基板側の配線パターンと電
気的に接続して半導体素子が搭載され、開口凹部の周囲
に、保護膜層より露出して外部接続端子が接合される接
合部が形成されてなる回路基板の開口凹部を樹脂封止す
る樹脂封止方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention mainly relates to a semiconductor device mounted on an opening recess formed in a circuit board by being electrically connected to a wiring pattern on the circuit board side. The present invention relates to a resin sealing method for sealing a concave portion of an opening of a circuit board on which a bonding portion to be exposed and connected to an external connection terminal is formed.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の一例として、BGA(Ba
ll Grid Array)タイプの半導体装置が実
用化されている。このBGAタイプの半導体装置の製造
方法として、例えば特開平10−199899号公報に
示す製造工程が提案されている。この半導体装置の製造
方法は、図16に示すように金属基板51の半導体素子
搭載部分にプレス処理を行って凹状に素子搭載部52を
形成する。また、素子搭載部52に対応した開口部53
が形成され、該開口部53の周囲に配線パターン54を
有する回路基板55を形成する。そして、金属基板51
の素子搭載部52に回路基板55の開口部53を位置合
わせし、これらをプリプレグ層56を介して熱圧着す
る。次いで配線パターン54の一部を外部接続端子が接
合されるランド部57として露出させて、ソルダーレジ
スト膜58により覆って半導体素子搭載基板59を形成
する。次に、半導体素子60を素子搭載部52に搭載し
て、半導体素子60の端子部と配線パターン54の端子
部とをボンディングワイヤ61により電気的に接続す
る。そして、素子搭載部52にポッティング成形法によ
り封止樹脂62を流し込んで開口部53を樹脂封止して
パケージ部を形成する。次に、ランド部57にはんだボ
ール63を載せてリフローすることによりはんだバンプ
を形成した後、切断ライン64にてダイシングにより個
片に分離して半導体装置が形成される。
2. Description of the Related Art As an example of a semiconductor device, a BGA (Ba
(II Grid Array) type semiconductor devices have been put into practical use. As a method of manufacturing the BGA type semiconductor device, for example, a manufacturing process disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-199899 has been proposed. In this method of manufacturing a semiconductor device, as shown in FIG. 16, a pressing process is performed on a semiconductor element mounting portion of a metal substrate 51 to form an element mounting portion 52 in a concave shape. An opening 53 corresponding to the element mounting portion 52 is provided.
Is formed, and a circuit board 55 having a wiring pattern 54 around the opening 53 is formed. Then, the metal substrate 51
The opening 53 of the circuit board 55 is aligned with the element mounting portion 52 of the above, and these are thermocompression-bonded via the prepreg layer 56. Next, a part of the wiring pattern 54 is exposed as a land part 57 to which an external connection terminal is bonded, and is covered with a solder resist film 58 to form a semiconductor element mounting substrate 59. Next, the semiconductor element 60 is mounted on the element mounting part 52, and the terminal part of the semiconductor element 60 and the terminal part of the wiring pattern 54 are electrically connected by the bonding wire 61. Then, the sealing resin 62 is poured into the element mounting portion 52 by a potting molding method, and the opening portion 53 is resin-sealed to form a package portion. Next, after solder balls 63 are placed on the land portions 57 and reflowed to form solder bumps, the semiconductor devices are separated into individual pieces by dicing at the cutting lines 64 to form semiconductor devices.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、パッケ
ージ部をポッティング成形法により形成する場合には、
封止樹脂62の充填や硬化に時間を要し生産性が低い上
に、樹脂圧が印加されないため、パッケージ部が不均一
になりやすく成形品質が低下する。また、ランド部57
に樹脂汚れが発生するおそれがあり、この場合はんだボ
ール63の接合不良となるおそれがある。また、仮にパ
ッケージ部をトランスファ成形法により形成する場合、
半導体素子搭載基板59をクランプするモールド金型
は、ランド部57の上にゲートランナを形成したり、エ
アーベントを形成して樹脂封止する必要があるため、ラ
ンド部57が金型ゲートにより傷ついたり、樹脂汚れが
生じ易いため、一般には用いられていない。
However, when the package is formed by the potting molding method,
It takes a long time to fill and cure the sealing resin 62, and the productivity is low. In addition, since no resin pressure is applied, the package portion is likely to be non-uniform and the molding quality is reduced. The land 57
Resin contamination may occur, and in this case, the bonding of the solder balls 63 may be defective. Also, if the package part is formed by a transfer molding method,
Since the mold for clamping the semiconductor element mounting substrate 59 needs to form a gate runner on the land 57 or form an air vent to seal the resin, the land 57 is damaged by the mold gate. It is not generally used because it easily causes resin stains.

【0004】本発明の目的は、上記従来技術の課題を解
決し、回路基板に形成された開口凹部を樹脂封止する際
に、端子接合部に傷や樹脂汚れが生ずることがなく生産
性を向上させた樹脂封止方法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to improve productivity without causing scratches or resin stains on terminal joints when resin-sealing an opening recess formed in a circuit board. An object of the present invention is to provide an improved resin sealing method.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は次の構成を備える。即ち、回路基板に形成
された開口凹部に回路基板側の配線パターンと電気的に
接続して半導体素子が搭載され、開口凹部の周囲に、保
護膜層より露出して外部接続端子が接合される接合部が
形成されてなる回路基板の開口凹部を樹脂封止する樹脂
封止方法において、回路基板の開口凹部の周囲に、該開
口凹部に対応する窓が形成された保護部材を重ね合わ
せ、該保護部材と共に回路基板をモールド金型でクラン
プして該保護部材上に形成された樹脂路を介して封止樹
脂を圧送して開口凹部を樹脂封止することを特徴とす
る。
To solve the above-mentioned problems, the present invention has the following arrangement. That is, the semiconductor element is mounted in the opening recess formed in the circuit board while being electrically connected to the wiring pattern on the circuit board side, and the external connection terminal is exposed around the opening recess and exposed from the protective film layer. In a resin sealing method for resin-sealing an opening concave portion of a circuit board formed with a joint portion, a protection member having a window corresponding to the opening concave portion is superimposed around the opening concave portion of the circuit board, and The circuit board is clamped together with the protection member by a mold, and the sealing resin is pressure-fed through a resin path formed on the protection member to seal the opening concave portion with the resin.

【0006】また、保護部材として、耐熱性マスキング
テープを使用し、該耐熱性マスキングテープを樹脂封止
前に回路基板の保護膜層に貼合わすようにしても良い。
また、モールド金型の開口凹部側のクランプ面に、リリ
ースフィルムを吸着保持して樹脂封止するようにしても
良い。また、回路基板は、半導体素子を収容可能な貫通
穴が形成された樹脂基板に金属板が貼合わされて開口凹
部が形成されていても良い。また、モールド金型の上下
クランプ面に、リリースフィルムを吸着保持して樹脂封
止するようにしても良い。また、保護部材として、保護
プレートを使用し、該保護プレートを樹脂封止前に回路
基板の保護膜層に重ね合わすようにしても良い。
Further, a heat-resistant masking tape may be used as a protective member, and the heat-resistant masking tape may be bonded to a protective film layer of a circuit board before resin sealing.
Alternatively, the release film may be suction-held and held on the clamp surface on the side of the opening concave portion of the molding die and then sealed with a resin. In addition, the circuit board may be formed by bonding a metal plate to a resin substrate having a through-hole capable of accommodating a semiconductor element and forming an opening recess. Alternatively, the release film may be sucked and held on the upper and lower clamp surfaces of the molding die and sealed with a resin. Further, a protection plate may be used as a protection member, and the protection plate may be superimposed on the protection film layer of the circuit board before resin sealing.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る樹脂封止方法
の好適な実施の形態について添付図面と共に詳述する。 [第1実施例]図1は樹脂封止後の回路基板を示す説明
図、図2は樹脂封止工程におけるモールド金型の断面説
明図、図3は図2のモールド金型のゲート位置を含む断
面説明図、図4は図2のモールド金型におけるゲート位
置及びエアーベント位置を示す説明図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the resin sealing method according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. [First Embodiment] FIG. 1 is an explanatory view showing a circuit board after resin sealing, FIG. 2 is a cross-sectional explanatory view of a mold in a resin sealing step, and FIG. 3 shows a gate position of the mold in FIG. FIG. 4 is an explanatory view showing a gate position and an air vent position in the mold shown in FIG.

【0008】図1において、本実施例で樹脂封止される
回路基板について説明する。1は配線パターンが形成さ
れた回路基板であり、ガラスエポキシ樹脂基板等の絶縁
樹脂基板が用いられる。この回路基板1は、単層或いは
多層のいずれの回路基板であっても良い。回路基板1に
は、開口凹部2が形成されている。この開口凹部2の底
部は半導体素子搭載部3として用いられる。この素子搭
載部3には半導体素子4が搭載されており、回路基板側
の配線パターンとボンディングワイヤなどにより電気的
に接続されている。また、回路基板1の開口凹部2の周
囲には、配線パターンに接続する外部接続端子が接合さ
れる接合部(ランド部)が保護膜層(ソルダレジスト
層)より露出形成されている。
Referring to FIG. 1, a circuit board sealed with resin in this embodiment will be described. Reference numeral 1 denotes a circuit board on which a wiring pattern is formed, and an insulating resin substrate such as a glass epoxy resin substrate is used. The circuit board 1 may be a single-layer or multi-layer circuit board. An opening recess 2 is formed in the circuit board 1. The bottom of the opening concave portion 2 is used as a semiconductor element mounting portion 3. A semiconductor element 4 is mounted on the element mounting section 3 and is electrically connected to a wiring pattern on the circuit board side by bonding wires or the like. Around the opening concave portion 2 of the circuit board 1, a joint (land portion) to which an external connection terminal connected to the wiring pattern is joined is formed to be exposed from the protective film layer (solder resist layer).

【0009】上記回路基板1を公知のトランスファ成形
装置に備えたモールド金型5に搬入して樹脂封止する。
先ず、図1に示すように、回路基板1の開口凹部2の周
囲に保護部材(耐熱マスキングテープなど)6を粘着さ
せておく。保護部材6には開口凹部2に対応する窓6a
が形成されている。保護部材6の材質はエポキシ系樹脂
材など任意のものが用いられる。尚、保護部材6を接着
する場合、保護膜層のみに接着剤を介して貼合わせるの
が好ましい。
The circuit board 1 is carried into a mold 5 provided in a known transfer molding apparatus and sealed with a resin.
First, as shown in FIG. 1, a protective member (such as a heat-resistant masking tape) 6 is adhered to the periphery of the opening concave portion 2 of the circuit board 1. The protection member 6 has a window 6 a corresponding to the opening recess 2.
Are formed. An arbitrary material such as an epoxy resin material is used for the material of the protection member 6. When the protective member 6 is bonded, it is preferable that the protective member 6 is bonded only to the protective film layer via an adhesive.

【0010】図2において、モールド金型5は、上型7
及び下型8を備えており、下型8側に回路基板1を収容
するキャビティ凹部9が形成されている。図3におい
て、上型7には、図示しないポットに連通する金型ラン
ナゲート10が形成されている。保護部材6が粘着され
た回路基板1をモールド金型5でクランプし、保護部材
6上に形成された金型ランナゲート10を介して封止樹
脂11をポットより圧送して開口凹部2を樹脂封止す
る。図4にモールド金型5に形成された金型ランナゲー
ト10及びエアーベント溝12の配置例を示す。開口凹
部2の周囲は保護部材6に覆われているので、金型ラン
ナゲート10及びエアーベント溝12を上型7の任意の
位置に形成できるので、金型設計の自由度が広がる。
In FIG. 2, a molding die 5 includes an upper die 7
And a lower mold 8, and a cavity recess 9 for housing the circuit board 1 is formed on the lower mold 8 side. In FIG. 3, a mold runner gate 10 communicating with a pot (not shown) is formed in the upper mold 7. The circuit board 1 to which the protection member 6 is adhered is clamped by the mold 5, and the sealing resin 11 is pressure-fed from the pot via the mold runner gate 10 formed on the protection member 6, and the opening concave portion 2 is made of resin. Seal. FIG. 4 shows an arrangement example of the mold runner gate 10 and the air vent groove 12 formed in the mold 5. Since the periphery of the opening concave portion 2 is covered with the protective member 6, the mold runner gate 10 and the air vent groove 12 can be formed at arbitrary positions of the upper mold 7, so that the degree of freedom of the mold design is increased.

【0011】樹脂封止後、モールド金型5より回路基板
1を取り出して、成形品ランナゲート等の不要樹脂を分
離した後、保護部材6を剥がして、露出した接合部には
んだボール13を搭載してリフローすることにより接合
する。本実施例では半導体装置個片を樹脂封止する場合
について説明したが、該回路基板1には半導体装置が複
数連なった状態或いはマトリクス状に配置された状態で
樹脂封止しても良い。この場合には、樹脂封止後に回路
基板1をダイシングして個片に分離することで半導体装
置が製造される。
After resin sealing, the circuit board 1 is taken out of the mold 5 and unnecessary resin such as a runner gate of a molded product is separated. Then, the protective member 6 is peeled off, and the solder balls 13 are mounted on the exposed joints. And reflow to join. In this embodiment, the case where the semiconductor device pieces are sealed with resin is described. However, the circuit board 1 may be sealed with resin in a state where a plurality of semiconductor devices are connected or arranged in a matrix. In this case, the semiconductor device is manufactured by dicing the circuit board 1 after resin sealing and separating it into individual pieces.

【0012】上記樹脂封止方法によれば、回路基板1の
開口凹部2の周囲に形成された保護膜層に保護部材6を
貼合わせ、該保護部材6上に形成された金型ランナゲー
ト10を介して封止樹脂11を圧送して開口凹部2を樹
脂封止できるので、モールド金型5により回路基板1を
クランプした際に、接合部を金型ゲートにより傷ついた
り、汚れたりすることがなく、はんだボール13の接合
性が低下することもない。また、金型ランナゲート10
やエアーベント溝12もモールド金型5の任意の位置に
形成できるので、金型設計の自由度が広がる。また、回
路基板1は、トランスファー成形法により樹脂封止でき
るので、生産性も向上できる。
According to the above resin sealing method, the protection member 6 is bonded to the protection film layer formed around the opening recess 2 of the circuit board 1, and the mold runner gate 10 formed on the protection member 6 is bonded. When the circuit board 1 is clamped by the mold 5, the sealing portion 11 can be damaged or stained by the mold gate when the circuit board 1 is clamped. In addition, the bondability of the solder balls 13 does not decrease. Also, the mold runner gate 10
The air vent groove 12 and the air vent groove 12 can also be formed at arbitrary positions on the mold 5, thereby increasing the degree of freedom in mold design. Further, since the circuit board 1 can be resin-sealed by the transfer molding method, productivity can be improved.

【0013】[第2実施例]次に第1実施例に係る樹脂
封止方法の他例について、図5及び図6を参照して説明
する。図5は樹脂封止工程におけるモールド金型の断面
説明図、図6は図5のモールド金型のゲート位置を含む
断面説明図である。尚、第1実施例と同一部材には同一
番号を付して説明を援用するものとする。図5におい
て、モールド金型5の上型7側(開口凹部2側)のクラ
ンプ面には、リリースフィルム14が吸着保持されてい
る。リリースフィルム14は、長尺状或いは短冊状のい
ずれであってもよく、少なくとも金型面のうち樹脂路を
覆って図示しない吸引機構により吸着されているのが望
ましい。リリースフィルム14は、モールド金型5の加
熱温度に耐えられる耐熱性を有するもので、金型面より
容易に剥離するものであって、柔軟性、伸展性を有する
フィルム材、例えば、PTFE、ETFE、PET、F
EP、フッ素含浸ガラスクロス、ポリプロピレン、ポリ
塩化ビニリジン等が好適に用いられる。尚、本実施例に
おいてはキャビティ凹部9を含む下型9にもリリースフ
ィルム14を設けても良い。これによって、成形品の金
型面からの離型性を高めることができる。
Second Embodiment Next, another example of the resin sealing method according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 5 is a cross-sectional explanatory view of the mold in the resin sealing step, and FIG. 6 is a cross-sectional explanatory view including the gate position of the mold in FIG. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description is referred to. In FIG. 5, a release film 14 is held by suction on a clamp surface on the upper mold 7 side (opening recess 2 side) of the mold 5. The release film 14 may be either a long shape or a strip shape, and is desirably sucked by a suction mechanism (not shown) so as to cover at least the resin path in the mold surface. The release film 14 has heat resistance enough to withstand the heating temperature of the mold 5 and is easily peeled from the mold surface, and is a film material having flexibility and extensibility, for example, PTFE, ETFE. , PET, F
EP, fluorine impregnated glass cloth, polypropylene, polyvinylidene chloride and the like are preferably used. In this embodiment, the release film 14 may be provided on the lower mold 9 including the cavity recess 9. Thereby, the releasability of the molded product from the mold surface can be improved.

【0014】[第3実施例]次に樹脂封止方法の他例に
ついて、図7〜図9を参照して説明する。図7は樹脂封
止後の回路基板を示す説明図、図8は樹脂封止工程にお
けるモールド金型の断面説明図、図9は図8のモールド
金型のゲート位置を含む断面説明図である。尚、第1実
施例と同一部材には同一番号を付して説明を援用するも
のとする。
Third Embodiment Next, another example of the resin sealing method will be described with reference to FIGS. 7 is an explanatory view showing a circuit board after resin sealing, FIG. 8 is a sectional explanatory view of a mold in a resin sealing step, and FIG. 9 is a sectional explanatory view including a gate position of the mold in FIG. . The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description is referred to.

【0015】本実施例の樹脂封止方法に用いられる回路
基板の構成について説明する。図7において、ガラスエ
ポキシ樹脂基板(例えば厚さ0.65mm)などの回路
基板1には貫通孔がプレスにより形成されている。回路
基板1の一方の基板面には配線パターン上に保護膜層
(ソルダレジスト層)が形成されており、該配線パター
ンの一部が接合部(ランド部)として露出形成されてい
る。また回路基板1の他方の面には、回路基板1よりサ
イズが大きい銅板等の金属板(例えば厚さ0.25m
m)よりなる放熱板15が貼合わされて開口凹部2が形
成されている。この開口凹部2の底部は、半導体素子4
を搭載する半導体素子搭載部3として用いられる。
The configuration of the circuit board used in the resin sealing method of this embodiment will be described. In FIG. 7, through holes are formed in a circuit board 1 such as a glass epoxy resin substrate (for example, having a thickness of 0.65 mm) by pressing. On one substrate surface of the circuit board 1, a protective film layer (solder resist layer) is formed on a wiring pattern, and a part of the wiring pattern is exposed and formed as a joint (land). On the other surface of the circuit board 1, a metal plate such as a copper plate (for example, having a thickness of 0.25 m
The heat sink 15 made of m) is bonded to form the opening concave portion 2. The bottom of the opening recess 2 is
Is used as the semiconductor element mounting portion 3 for mounting the semiconductor device.

【0016】上記回路基板1を公知のトランスファ成形
装置に備えたモールド金型17に搬入して樹脂封止す
る。図7に示すように、回路基板1の開口凹部2の周囲
に保護部材(耐熱マスキングテープなど)6を粘着させ
ておく。尚、保護部材6を接着する場合、保護膜層のみ
に接着剤を介して貼合わせるのが好ましい。
The circuit board 1 is carried into a mold 17 provided in a known transfer molding apparatus and sealed with a resin. As shown in FIG. 7, a protection member (such as a heat-resistant masking tape) 6 is adhered to the periphery of the opening recess 2 of the circuit board 1. When the protective member 6 is bonded, it is preferable that the protective member 6 is bonded only to the protective film layer via an adhesive.

【0017】図8において、モールド金型17は、上型
18及び下型19を備えており、上型18側に回路基板
1を収容するキャビティ凹部20が形成されている。更
に、図9において、上型18には、図示しないポットに
連通する金型ランナゲート22が形成されている。図9
において、回路基板1をモールド金型18でクランプ
し、保護部材6上に形成された金型ランナゲート22を
介して封止樹脂11をポットより圧送して開口凹部2を
樹脂封止する。本実施例においても、金型ランナゲート
22やエアーベント溝(図示せず)はモールド金型18
の任意の位置に形成できる。
In FIG. 8, a mold 17 includes an upper mold 18 and a lower mold 19, and a cavity recess 20 for accommodating the circuit board 1 is formed on the upper mold 18 side. Further, in FIG. 9, a mold runner gate 22 communicating with a pot (not shown) is formed in the upper mold 18. FIG.
Then, the circuit board 1 is clamped by the mold 18 and the sealing resin 11 is pressure-fed from the pot via the mold runner gate 22 formed on the protection member 6 to seal the opening recess 2 with resin. Also in the present embodiment, the mold runner gate 22 and the air vent groove (not shown) are provided in the mold 18.
Can be formed at any position.

【0018】[第4実施例]次に第3実施例に係る樹脂
封止方法の他例について、図10及び図11を参照して
説明する。図10は樹脂封止工程におけるモールド金型
の断面説明図、図11は図10のモールド金型のゲート
位置を含む断面説明図である。尚、第3実施例と同一部
材には同一番号を付して説明を援用するものとする。図
10において、モールド金型17の上型18側(開口凹
部2側)のキャビティ凹部20を含むクランプ面には、
リリースフィルム14が吸着保持されている。リリース
フィルム14は、長尺状或いは短冊状のいずれであって
もよく、少なくとも金型面のうち樹脂路を覆って図示し
ない吸引機構により吸着されているのが望ましい。図1
1に示すように、回路基板1をモールド金型18でクラ
ンプし、保護部材6上に形成された金型ランナゲート2
2を介して封止樹脂11をポットより圧送して開口凹部
2を樹脂封止する。これによって、成形品の金型面から
の離型性を高めることができる。
[Fourth Embodiment] Next, another example of the resin sealing method according to the third embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is an explanatory cross-sectional view of a mold in a resin sealing step, and FIG. 11 is an explanatory cross-sectional view including a gate position of the mold in FIG. The same members as those in the third embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description is referred to. In FIG. 10, the clamp surface including the cavity recess 20 on the upper mold 18 side (opening recess 2 side) of the molding die 17 includes:
The release film 14 is held by suction. The release film 14 may be either a long shape or a strip shape, and is desirably sucked by a suction mechanism (not shown) so as to cover at least the resin path in the mold surface. FIG.
As shown in FIG. 1, the circuit board 1 is clamped by a mold 18 and the mold runner gate 2 formed on the protection member 6 is formed.
The sealing resin 11 is pressure-fed from the pot through the opening 2 to seal the opening recess 2 with resin. Thereby, the releasability of the molded product from the mold surface can be improved.

【0019】[第5実施例]次に第3実施例に係る樹脂
封止方法の更に他例について、図12及び図13を参照
して説明する。図12は樹脂封止工程におけるモールド
金型の断面説明図、図13は図12のモールド金型のゲ
ート位置を含む断面説明図である。尚、第3実施例と同
一部材には同一番号を付して説明を援用するものとす
る。図12及び図13において、モールド金型17の上
下クランプ面にリリースフィルム14を吸着保持して樹
脂封止するようにしても良い。この場合、回路基板1に
貼付けた保護部材6は、リリースフィルム14があるた
めゲート位置では不要であり、省略可能である。
Fifth Embodiment Next, still another example of the resin sealing method according to the third embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 12 is a cross-sectional explanatory view of a mold in a resin sealing step, and FIG. 13 is a cross-sectional explanatory view including a gate position of the mold in FIG. The same members as those in the third embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description is referred to. 12 and 13, the release film 14 may be suction-held on the upper and lower clamp surfaces of the mold 17 and sealed with a resin. In this case, the protective member 6 attached to the circuit board 1 is unnecessary at the gate position because of the release film 14, and can be omitted.

【0020】[第6実施例]次に樹脂封止方法の更に他
例について、図14を参照して説明する。図14はモー
ルド金型のゲート位置を含む断面説明図である。尚、第
1実施例と同一部材には同一番号を付して説明を援用す
るものとする。回路基板1には配線パターンが形成され
ており、ガラスエポキシ樹脂基板等の絶縁樹脂基板が用
いられる。この回路基板1は、単層或いは多層のいずれ
の回路基板であっても良い。回路基板1には銅板などの
放熱板が24が接着されて開口凹部2が形成されてい
る。この開口凹部2の底部は半導体素子搭載部3として
用いられる。この素子搭載部3には半導体素子4が搭載
されており、回路基板側の配線パターンとボンディング
ワイヤなどにより電気的に接続されている。また、回路
基板1の開口凹部2の周囲には、配線パターンに接続す
る外部接続端子が接合される接合部(ランド部)が保護
膜層(ソルダレジスト層)より露出形成されている。
Sixth Embodiment Next, still another example of the resin sealing method will be described with reference to FIG. FIG. 14 is an explanatory sectional view including the gate position of the mold. The same members as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description is referred to. A wiring pattern is formed on the circuit board 1, and an insulating resin substrate such as a glass epoxy resin substrate is used. The circuit board 1 may be a single-layer or multi-layer circuit board. A heat sink 24 such as a copper plate is adhered to the circuit board 1 to form the opening concave portion 2. The bottom of the opening concave portion 2 is used as a semiconductor element mounting portion 3. A semiconductor element 4 is mounted on the element mounting section 3 and is electrically connected to a wiring pattern on the circuit board side by bonding wires or the like. Around the opening concave portion 2 of the circuit board 1, a joint (land portion) to which an external connection terminal connected to the wiring pattern is joined is formed to be exposed from the protective film layer (solder resist layer).

【0021】上記回路基板1を公知のトランスファ成形
装置に備えたモールド金型27に搬入して樹脂封止す
る。回路基板1の開口凹部2の周囲に形成された保護膜
層に、該開口凹部2に対応する窓26aが形成された保
護プレート26を位置合わせして重ね合わせておく。保
護プレート26の板厚は、例えば0.1mm程度のもの
で、材質は耐熱性のある樹脂材、樹脂離型性金属板など
が好適に用いられ、一度使ったら廃棄するものとする。
The circuit board 1 is loaded into a mold 27 provided in a known transfer molding apparatus and sealed with a resin. A protective plate 26 having a window 26a corresponding to the opening 2 is positioned and overlaid on a protective film layer formed around the opening 2 of the circuit board 1. The plate thickness of the protection plate 26 is, for example, about 0.1 mm, and the material is preferably a heat-resistant resin material, a resin-releasing metal plate, or the like.

【0022】図14において、モールド金型27は、上
型28及び下型29を備えており、下型29側に回路基
板1を収容するキャビティ凹部30が形成されている。
上型28には、図示しないポットに連通する金型ランナ
ゲート31が形成されている。回路基板1をモールド金
型27でクランプし、保護プレート26上に形成された
金型ランナゲート10を介して封止樹脂11をポットよ
り圧送して開口凹部2を樹脂封止する。この場合、開口
凹部2の周囲は保護プレート26に覆われているので、
接合部に傷や汚れが生ずることはなく、金型ランナゲー
ト31及びエアーベント溝(図示せず)をモールド金型
27の任意の位置に形成できるので、金型設計の自由度
が広がる。また、保護プレート26は、基板面に接着さ
れていないので、回路基板1への着脱が容易に行える。
Referring to FIG. 14, a mold 27 includes an upper mold 28 and a lower mold 29, and a cavity recess 30 for accommodating the circuit board 1 is formed on the lower mold 29 side.
A mold runner gate 31 communicating with a pot (not shown) is formed in the upper mold 28. The circuit board 1 is clamped by a mold 27 and the sealing resin 11 is pressure-fed from a pot via a mold runner gate 10 formed on the protection plate 26 to seal the opening recess 2 with resin. In this case, since the periphery of the opening concave portion 2 is covered with the protection plate 26,
There is no damage or dirt on the joint, and the mold runner gate 31 and the air vent groove (not shown) can be formed at arbitrary positions of the mold 27, so that the degree of freedom in mold design is increased. Further, since the protection plate 26 is not adhered to the substrate surface, it can be easily attached to and detached from the circuit board 1.

【0023】[第7実施例]次に第6実施例に係る樹脂
封止方法の更に他例について、図15を参照して説明す
る。図15はモールド金型のゲート位置を含む断面説明
図である。尚、第6実施例と同一部材には同一番号を付
して説明を援用するものとする。第6実施例は、保護プ
レート26を、接合部が形成された基板面に重ね合わせ
ていたが、保護プレート26を回路基板1の保護膜層に
接着剤を介して貼合わされていても良い。保護プレート
26は剥離性を考慮して、回路基板1より大きいサイズ
のものが用いられる。尚、保護プレート26を接着する
場合、保護膜層のみに接着剤を介して貼合わせるのが好
ましい。また、保護プレート26は回路基板1に単に載
せただけでも良い。図15に示すように、回路基板1を
モールド金型27でクランプし、保護プレート26上に
形成された金型ランナゲート31を介して封止樹脂11
をポットより圧送して開口凹部2を樹脂封止する。この
とき、金型ランナゲート31側の保護プレート26を金
型ランナゲート31側に広く設けることで離型性を高め
ることができる。
Seventh Embodiment Next, still another example of the resin sealing method according to the sixth embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 15 is an explanatory sectional view including the gate position of the mold. The same members as those in the sixth embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description is referred to. In the sixth embodiment, the protection plate 26 is superposed on the substrate surface on which the joint is formed. However, the protection plate 26 may be bonded to the protection film layer of the circuit board 1 via an adhesive. The protection plate 26 has a larger size than the circuit board 1 in consideration of the peelability. When the protection plate 26 is bonded, it is preferable that the protection plate 26 is bonded to only the protection film layer via an adhesive. Further, the protection plate 26 may be simply placed on the circuit board 1. As shown in FIG. 15, the circuit board 1 is clamped by the mold 27 and the sealing resin 11 is inserted through the mold runner gate 31 formed on the protection plate 26.
Is pressure-fed from the pot to seal the opening recess 2 with resin. At this time, the releasability can be improved by providing the protection plate 26 on the mold runner gate 31 side widely on the mold runner gate 31 side.

【0024】本発明の好適な実施例について種々述べて
きたが、本発明は上述の実施例に限定されるのではな
く、例えば保護部材6や保護プレート26の材質や大き
さは任意である等、発明の精神を逸脱しない範囲で多く
の改変を施し得るのはもちろんである。
Although various preferred embodiments of the present invention have been described, the present invention is not limited to the above-described embodiments. For example, the material and size of the protection member 6 and the protection plate 26 are arbitrary. Of course, many modifications can be made without departing from the spirit of the invention.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明に係る樹脂封止方法を用いると、
回路基板の開口凹部の周囲に保護部材を重ね合わせて、
該保護部材上に形成された金型ランナゲートを介して封
止樹脂を圧送して開口凹部を樹脂封止できるので、モー
ルド金型により回路基板をクランプした際に、端子接合
部を金型ゲートにより傷ついたり、汚れたりすることが
なく、はんだボールの接合性が低下することもない。ま
た、金型ランナゲートやエアーベント溝もモールド金型
の任意の位置に形成できるので、金型設計の自由度が広
がる。また、回路基板は、トランスファー成形法により
樹脂封止できるので、生産性も向上できる。
According to the resin sealing method of the present invention,
Overlay the protective member around the opening recess of the circuit board,
Since the sealing resin can be sealed by pressing the sealing resin through the mold runner gate formed on the protection member, when the circuit board is clamped by the mold, the terminal joint is formed by the mold gate. There is no damage and no dirt, and there is no decrease in solder ball bonding. In addition, since the mold runner gate and the air vent groove can be formed at any positions of the mold, the degree of freedom in mold design is increased. Further, since the circuit board can be sealed with a resin by a transfer molding method, productivity can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1実施例に係る樹脂封止後の回路基板を示す
説明図である。
FIG. 1 is an explanatory view showing a circuit board after resin sealing according to a first embodiment.

【図2】樹脂封止工程におけるモールド金型の断面説明
図である。
FIG. 2 is an explanatory sectional view of a mold in a resin sealing step.

【図3】図2のモールド金型のゲート位置を含む断面説
明図である。
FIG. 3 is an explanatory sectional view including a gate position of the mold shown in FIG. 2;

【図4】図2のモールド金型におけるゲート位置及びエ
アーベント位置を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory view showing a gate position and an air vent position in the mold shown in FIG. 2;

【図5】第2実施例に係る樹脂封止工程におけるモール
ド金型の断面説明図である。
FIG. 5 is an explanatory sectional view of a molding die in a resin sealing step according to a second embodiment.

【図6】図5のモールド金型のゲート位置を含む断面説
明図である。
6 is an explanatory sectional view including a gate position of the mold shown in FIG. 5;

【図7】第3実施例に係る樹脂封止後の回路基板を示す
説明図である。
FIG. 7 is an explanatory view showing a circuit board after resin sealing according to a third embodiment.

【図8】樹脂封止工程におけるモールド金型の断面説明
図である。
FIG. 8 is an explanatory sectional view of a mold in a resin sealing step.

【図9】図8のモールド金型のゲート位置を含む断面説
明図である
9 is an explanatory sectional view including a gate position of the mold shown in FIG. 8;

【図10】第4実施例に係る樹脂封止工程におけるモー
ルド金型の断面説明図である。
FIG. 10 is an explanatory sectional view of a molding die in a resin sealing step according to a fourth embodiment.

【図11】図10のモールド金型のゲート位置を含む断
面説明図である
11 is an explanatory cross-sectional view including a gate position of the mold shown in FIG. 10;

【図12】第5実施例に係る樹脂封止工程におけるモー
ルド金型の断面説明図である。
FIG. 12 is an explanatory sectional view of a molding die in a resin sealing step according to a fifth embodiment.

【図13】図10のモールド金型のゲート位置を含む断
面説明図である
13 is an explanatory sectional view including a gate position of the mold shown in FIG. 10;

【図14】第6実施例に係るモールド金型のゲート位置
を含む断面説明図である。
FIG. 14 is an explanatory cross-sectional view including a gate position of a mold according to a sixth embodiment.

【図15】第7実施例に係るモールド金型のゲート位置
を含む断面説明図である。
FIG. 15 is an explanatory sectional view including a gate position of a mold according to a seventh embodiment.

【図16】従来の半導体装置の製造方法を示す説明図で
ある。
FIG. 16 is an explanatory view showing a conventional method for manufacturing a semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回路基板 2 開口凹部 3 半導体素子搭載部 4 半導体素子 5、17、27 モールド金型 6 保護部材 6a、26a 窓 7、18、28 上型 8、19、29 下型 9、20、30 キャビティ凹部 10、22、31 金型ランナゲート 11 封止樹脂 12 エアーベント溝 13 はんだボール 14 リリースフィルム 15、24 放熱板 26 保護プレート DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board 2 Opening recess 3 Semiconductor element mounting part 4 Semiconductor element 5, 17, 27 Mold 6 Protective member 6a, 26a Window 7, 18, 28 Upper die 8, 19, 29 Lower die 9, 20, 30 Cavity concave 10, 22, 31 Mold runner gate 11 Sealing resin 12 Air vent groove 13 Solder ball 14 Release film 15, 24 Heat sink 26 Protection plate

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回路基板に形成された開口凹部に回路基
板側の配線パターンと電気的に接続して半導体素子が搭
載され、前記開口凹部の周囲に、保護膜層より露出して
外部接続端子が接合される接合部が形成されてなる前記
回路基板の開口凹部を樹脂封止する樹脂封止方法におい
て、 前記回路基板の開口凹部の周囲に、該開口凹部に対応す
る窓が形成された保護部材を重ね合わせ、該保護部材と
共に前記回路基板をモールド金型でクランプして該保護
部材上に形成された樹脂路を介して封止樹脂を圧送して
前記開口凹部を樹脂封止することを特徴とする樹脂封止
方法。
A semiconductor element is mounted in an opening recess formed in a circuit board while being electrically connected to a wiring pattern on the circuit board side, and an external connection terminal is exposed around the opening recess from a protective film layer. In a resin sealing method for resin-sealing an opening recess of the circuit board formed with a joint portion to be joined, a protection corresponding to a window corresponding to the opening recess is formed around the opening recess of the circuit board. By overlapping the members, clamping the circuit board together with the protection member with a molding die, and forcing the sealing resin through a resin path formed on the protection member to seal the opening concave portion with the resin. Characteristic resin sealing method.
【請求項2】 前記保護部材として、耐熱性マスキング
テープを使用し、該耐熱性マスキングテープを樹脂封止
前に前記回路基板の保護膜層に粘着することを特徴とす
る請求項1記載の樹脂封止方法。
2. The resin according to claim 1, wherein a heat-resistant masking tape is used as the protective member, and the heat-resistant masking tape is adhered to a protective film layer of the circuit board before resin sealing. Sealing method.
【請求項3】 前記モールド金型は、前記回路基板の開
口凹部側のクランプ面に、リリースフィルムを吸着保持
して樹脂封止することを特徴とする請求項1又は2記載
の樹脂封止方法。
3. The resin sealing method according to claim 1, wherein the molding die seals the resin by sucking and holding a release film on a clamp surface of the circuit board on the side of the opening concave portion. .
【請求項4】 前記回路基板は、前記半導体素子を収容
可能な貫通穴が形成された樹脂基板に金属板が貼合わさ
れて前記開口凹部が形成されていることを特徴とする請
求項1、2又は3記載の樹脂封止方法。
4. The circuit board according to claim 1, wherein the opening is formed by bonding a metal plate to a resin substrate having a through-hole capable of accommodating the semiconductor element. Or the resin sealing method according to 3.
【請求項5】 前記モールド金型の上下クランプ面に、
リリースフィルムを吸着保持して樹脂封止することを特
徴とする請求項4記載の樹脂封止方法。
5. An upper and lower clamp surface of the mold,
The resin sealing method according to claim 4, wherein the resin is sealed by holding the release film by suction.
【請求項6】 前記保護部材として、保護プレートを
使用し、該保護プレートを樹脂封止前に前記回路基板の
保護膜層に重ね合わすことを特徴とする請求項1記載の
樹脂封止方法。
6. The resin sealing method according to claim 1, wherein a protective plate is used as the protective member, and the protective plate is overlapped with a protective film layer of the circuit board before resin sealing.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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