JP2001245179A - 画像データの歪み低減方法、及びその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 デブロッキングフィルタやデリンギングフィ
ルタでは、処理の段数が多かったり、またフィルタのタ
ップが長ったりするために処理が複雑という問題点があ
った。また、フィルタ処理により画像にボケが発生する
という問題があった。 【解決手段】 入力された画像データを圧縮復元して出
力する際に用いる画像データの歪み低減方法において、
前記画像データの各画素に対して、着目画素の近傍に位
置する画素のうち、その画素値が着目画素の画素値に近
似するものだけを選択し、選択された画素値の平均値を
前記着目画素の新たな画素値とすることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は圧縮符号化により画
像データに生じた歪みを低減する方法、及びその装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】JPEGやMPEGなどのDCT（ブロック離散余
弦変換：DCT（Discrete Cosine Transform））符号化さ
れた画像では、高い圧縮率においてブロック歪みやモス
キート歪みが発生するという問題があり、これらのノイ
ズを低減するための技術として、例えば「ISO/IEC JTC1
/SC29/WG11 MPEG97/N1796: MPEG-4 Video Verification
Model Version 8.0」に記述されているデブロッキング
フィルタやデリンギングフィルタが用いられている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】然しながら、デブロッ
キングフィルタやデリンギングフィルタでは、処理の段
数が多かったり、またフィルタのタップが長ったりする
ために処理が複雑という問題点があった。

【０００４】また、フィルタ処理により画像にボケが発
生するという問題があった。

【０００５】

【課題を解決するための手段】そこで、本発明は、斯か
る問題点を解決するべく、請求項１の画像データの歪み
低減方法に係る発明は、入力された画像データを圧縮復
元して出力する際に用いる画像データの歪み低減方法に
おいて、前記画像データの各画素に対して、着目画素の
近傍に位置する画素のうち、その画素値が前記着目画素
の画素値に近似するものだけを選択し、選択された画素
値の平均値を前記着目画素の新たな画素値とすることを
特徴とする。

【０００６】請求項２の画像データの歪み低減方法に係
る発明は、請求項１に記載の発明において、前記着目画
素の近傍に位置する画素とは、前記着目画素を含んでＫ
×Ｋ（Ｋ：自然数）の範囲内に属する画素であることを
特徴とする。

【０００７】請求項３の画像データの歪み低減方法に係
る発明は、請求項１に記載の発明において、前記着目画
素の画素値に近似するものを選択する場合には、前記着
目画素の画素値と各画素の画素値との差分が第１しきい
値未満である画素を選択することを特徴とする。

【０００８】請求項４の画像データの歪み低減方法に係
る発明は、入力された画像データを圧縮復元して出力す
る際に用いる画像データの歪み低減方法において、前記
画像データのうち、着目画素が着目ブロックの境界内に
位置するか否かを判定する第１処理と、前記着目画素の
属する着目ブロック内に強いエッジがあるか否かを判定
する第２処理と、前記第１処理、及び第２処理の結果、
前記着目画素が前記着目ブロックの境界内に位置すると
き、又は前記着目画素の属する着目ブロック内に強いエ
ッジがあるとき、前記着目画素の近傍に位置する画素の
うち、その画素値が着目画素の画素値に近似するものだ
けを選択し、選択された画素値の平均値を前記着目画素
の新たな画素値とし、一方前記第１処理、及び第２処理
の結果、前記着目画素が着目ブロックの境界内に位置し
ないとき、又は前記着目画素の属する着目ブロック内に
強いエッジがないとき、前記着目画素の画素値をそのま
ま画像データとして出力することを特徴とする。

【０００９】請求項５の画像データの歪み低減方法に係
る発明は、入力された画像データを圧縮復元して出力す
る際に用いる画像データの歪み低減方法において、前記
画像データのうち、着目画素の属する着目ブロック内の
最大エッジ強度を算出する第1処理と、前記第1処理の結
果及び圧縮時の量子化幅の値より、圧縮歪みに起因する
エッジを判別するための第２しきい値と、補正すべきエ
ッジを判別するための第３しきい値とを算出する第２処
理と、前記着目画素位置のエッジ強度を算出する第３処
理と、前記着目画素位置のエッジ強度が第２しきい値よ
り小さい場合には、前記着目画素の近傍に位置する画素
のうち、前記第２しきい値に基づいてその画素値が着目
画素の画素値に近似するものだけを選択し、選択された
画素値の平均値を前記着目画素の新たな画素値とし、前
記着目画素位置のエッジ強度が第３しきい値より大きい
場合にはエッジの補正を行い、前記着目画素位置のエッ
ジ強度が第２しきい値以上、第３しきい値以下の場合に
は、前記着目画素の画素値をそのまま画像データとして
出力することを特徴とする。

【００１０】請求項６の画像データの歪み低減方法に係
る発明は、請求項１から５のうちいずれかに記載の発明
において、前記画像データは、静止画像データ、動画像
データであることを特徴とする。

【００１１】請求項７の画像データの歪み低減装置に係
る発明は、入力された画像データを圧縮復元して出力す
る際に用いる画像データの歪み低減装置において、全画
像データの各画素に対して、着目画素の近傍に位置する
画素のうち、その画素値が前記着目画素の画素値に近似
するものだけを選択し、選択された画素値の平均値を着
目画素の新たな画素値とすることを特徴とする。

【００１２】請求項８の画像データの歪み低減装置に係
る発明は、請求項７に記載の発明において、前記着目画
素の近傍に位置する画素とは、前記着目画素を含んでＫ
×Ｋ（Ｋ：自然数）の範囲内に属する画素であることを
特徴とする。

【００１３】請求項９の画像データの歪み低減装置に係
る発明は、請求項７に記載の発明において、前記着目画
素の画素値に近似するものを選択する場合には、着目画
素の画素値と各画素の画素値との差分が第１しきい値未
満である画素を選択することを特徴とする。

【００１４】請求項１０の画像データの歪み低減装置に
係る発明は、入力された画像データを圧縮復元して出力
する際に用いる画像データの歪み低減装置において、画
像データを入力する画像データ入力部と、全画像データ
の各画素に対して、着目画素の近傍に位置する画素のう
ち、その画素値が着目画素の画素値に近似するものだけ
を選択する画素選択部と、該画素選択部で選択された画
素値の平均値を求める平均値算出部と、前記画像データ
のうち、着目画素が着目ブロックの境界内に位置するか
否かを判定するブロック境界判定部と、前記着目画素の
属する着目ブロック内に強いエッジがあるか否かを判定
するエッジブロック判定部と、前記ブロック境界判定
部、及びエッジブロック判定部での処理の結果、前記画
素選択部、及び平均値算出部の処理を行うか否かを決定
するフィルタ適用判定部と、処理された画像データを出
力する画像データ出力部と、を備え、前記ブロック境界
判定部、及びエッジブロック判定部での処理の結果、前
記着目画素が着目ブロックの境界内に位置するとき、又
は前記着目画素の属する着目ブロック内に強いエッジが
あると判断されたとき、前記画素選択部は前記着目画素
の近傍に位置する画素のうち、その画素値が着目画素の
画素値に近似するものだけを選択し、前記平均値算出部
は前記画素選択部で選択された画素値の平均値を算出
し、前記画像データ出力部はその平均値を前記着目画素
の新たな画素値として出力することを特徴とする。

【００１５】請求項１１の画像データの歪み低減装置に
係る発明は、請求項１０に記載の発明において、前記ブ
ロック境界判定部、及びエッジブロック判定部での処理
の結果、前記着目画素が着目ブロックの境界内に位置し
ないとき、又は前記着目画素の属する着目ブロック内に
強いエッジがないと判断されたとき、前記画像データ入
力部から入力された画像データは前記画像データ出力部
に直接送出されることを特徴とする。

【００１６】請求項１２の画像データの歪み低減装置に
係る発明は、入力された画像データを圧縮復元して出力
する際に用いる画像データの歪み低減装置において、画
像データを入力する画像データ入力部と、全画像データ
の各画素に対して、着目画素の近傍に位置する画素のう
ち、その画素値が着目画素の画素値に近似するものだけ
を選択する画素選択部と、該画素選択部で選択された画
素値の平均値を求める平均値算出部と、前記画像データ
のうち、着目画素の属する着目ブロック内の最大エッジ
強度を算出するブロック最大エッジ強度算出部と、前記
ブロック最大エッジ強度算出部の出力及び圧縮時の量子
化幅の値より、圧縮歪みに起因するエッジを判別するた
めの第２しきい値と、補正すべきエッジを判別するため
の第３しきい値とを算出するしきい値算出部と、前記着
目画素位置のエッジ強度を算出する着目画素エッジ強度
算出部と、前記しきい値算出部、及び着目画素エッジ強
度算出部の結果、前記画素選択部、及び平均値算出部の
処理を行うか、若しくはエッジ補正処理行うか、若しく
はいずれの処理も行わないかを決定するフィルタ適用判
定部と、処理された画像データを出力する画像データ出
力部と、を備え、前記フィルタ適用判定部の結果に従っ
て、前記着目画素位置のエッジ強度が第２しきい値より
小さい場合には、前記着目画素の近傍に位置する画素の
うち、前記第２しきい値に基づいてその画素値が着目画
素の画素値に近似するものだけを選択し、選択された画
素値の平均値を前記着目画素の新たな画素値とし、前記
着目画素位置のエッジ強度が第３しきい値より大きい場
合にはエッジの補正を行い、前記着目画素位置のエッジ
強度が第２しきい値以上、第３しきい値以下の場合に
は、前記着目画素の画素値をそのまま画像データとして
出力することを特徴とする。

【００１７】請求項１３の画像データの歪み低減装置に
係る発明は、請求項７から１２のうちいずれかに記載の
発明において、前記画像データは、静止画像データ、動
画像データであることを特徴とする。

【００１８】

【発明の実施の形態】本発明の好適な実施の形態を図面
に従って説明する。 ＜第１の実施の形態＞図１は、第１の実施の形態に係る
発明を実現するための画像データの歪みを低減する装置
の概略構成図である。

【００１９】図１に示すように、画像データ入力部１０
１は、例えばＪＰＥＧデコーダ１００から入力された全
画像データを画素選択部１０３に入力し、画素選択部１
０３は入力された全画像データの入力画素値と予め定め
られたしきい値Ｔｈ１（第1しきい値）とを比較（差
分）し、その比較結果である画像データを平均値算出部
１０４に送出する。

【００２０】平均値算出部１０４では、画素毎に比較結
果である差分値がしきい値Ｔｈ１未満の画像データを選
択し、該当する入力画素値の算術平均を行い、その結果
を画像データ出力部１０５に送出する。画像データ出力
部１０５は、平均値算出部１０４で処理した画像データ
を着目画素の新たな画素値として置換し、出力画像とし
て画像データ表示部１０７へ出力する。

【００２１】尚、第２の実施の形態で説明するが、ブロ
ック境界判定部、及びエッジブロック判定部での処理の
結果、着目画素が着目ブロックの境界内に位置しないと
き、又は着目画素の属する着目ブロック内に強いエッジ
がないと判断されたとき、画像データ入力部から入力さ
れた画像データは平均値算出部１０４で処理されること
なく、画像データ出力部１０５に直接送出されて、出力
される。

【００２２】ここで、図１に示した装置の処理ステップ
を図２のフローチャートに従って説明する。

【００２３】図２において、着目画素位置（ｉ，ｊ）の
うち着目画素垂直位置ｊを「０」とし（ステップ２０
１）、また着目画素位置（ｉ，ｊ）のうち着目画素水平
位置ｉを「０」とする（ステップ２０１１）。

【００２４】着目画素位置の近傍画素位置（ｕ，ｖ）の
うち近傍画素垂直位置ｖを初期化して、ｖ＝−Ｋとする
と共に、近傍画素値の合計ＳＵＭを初期化して、ＳＵＭ
＝０とする。併せて、近傍画素位置（ｕ，ｖ）の全てに
対して以下の処理をする際に用いるカウンタＮを初期化
して、Ｎ＝０とする（ステップ２０２）。

【００２５】着目画素位置の近傍画素位置（ｕ，ｖ）の
うち近傍画素水平位置ｕを初期化して、ｕ＝−Ｋとする
（ステップ２０２１）。

【００２６】着目画素位置（ｉ，ｊ）の入力画素値Ｘ
（ｉ，ｊ）と近傍画素位置（ｉ'，ｊ'）の入力画素値Ｘ
（ｉ'，ｊ'）との差分ｄを算出する（ステップ２０
３）。

【００２７】ここで、ｉ'＝ｉ＋ｕ、但し、ｉ'＜０なら
ばｉ'＝０、ｉ'≧Ｗならばｉ'＝Ｗ−１に補正する。

【００２８】また、ｊ'＝ｊ＋ｖ、但し、ｊ'＜０ならば
ｊ'＝０、ｊ'≧Ｈならばｊ'＝Ｈ−１に補正する。

【００２９】ステップ２０３で算出した各画素値の差分
ｄが第1しきい値（Ｔｈ１）未満であるとき、次の処理
１）、２）を行う。

【００３０】１）画素値Ｘ（ｉ'，ｊ'）を合計ＳＵＭに
加算し、ＳＵＭの値を更新する。

【００３１】２）画素数のカウンタＮをＮ＋１に更新す
る。 （ステップ２０４）。すなわち、合計ＳＵＭを求める場
合、近接する画素の画素値を平滑（平均）化するため
に、各着目画素における差分ｄが第1しきい値（Ｔｈ
１）未満の画素を選択し、それらの画素値の合計ＳＵＭ
と画素数Ｎを求める。

【００３２】着目画素位置の近傍画素位置（ｕ，ｖ）の
うちｕが近傍画素の所定範囲（Ｋ）になったか否かを判
断し（ステップ２０５）、ｕの値がＫの値を越えていれ
ば、ステップ２０７に進み、一方ｕの値がＫの値以下で
あれば、ステップ２０６に進んで、ｕ＝ｕ＋１として処
理を行った後，ステップ２０３に戻って前述の処理を行
う。

【００３３】着目画素位置の近傍画素位置（ｕ，ｖ）の
うちｖが近傍画素の所定範囲（Ｋ）になったか否かを判
断し（ステップ２０７）、ｖの値がＫの値を越えていれ
ば、ステップ２０９に進み、一方ｖの値がＫの値以下で
あれば、ステップ２０８に進んで、ｖ＝ｖ＋１として処
理を行った後，ステップ２０２１に戻って前述の処理を
行う。

【００３４】尚、前述のＫの値は、１、又は２程度が好
ましいため、ブロックとしては、３×３サイズ（Ｋ＝
１）、又は５×５サイズ（Ｋ＝２）となる。

【００３５】次に、近傍画素値の合計ＳＵＭを、画素数
Ｎで除算して出力画素値を求める（ステップ２０９）。
ここでＮの最大値はブロック数を構成する画素数となる
（Ｋ＝１の場合には、Ｎ＝９、Ｋ＝２の場合には、Ｎ＝
２５）。尚、この出力画素値の値は、０〜２５５の範囲
に整数化する。

【００３６】近傍画素位置（ｉ'，ｊ'）のｉに対して画
像の幅全体に関して処理を行ったか否かを判断し（ステ
ップ２１０）、画像の幅全体に対して処理を行っていれ
ば、ステップ２１２に進み、一方画像の幅全体に対して
処理を行っていなければ、ステップ２１１に進んで、ｉ
＝ｉ＋１として処理を行った後，ステップ２０２に戻っ
て前述の処理を行う。

【００３７】最後に、近傍画素位置（ｉ'，ｊ'）のｊに
対して画像の高さ全体に関して処理を行ったか否かを判
断し（ステップ２１２）、画像の高さ全体に対して処理
を行っていれば終了し、一方画像の高さ全体に対して処
理を行っていなければ、ステップ２１３に進んで、ｊ＝
ｊ＋１として処理を行った後，ステップ２０１１に戻っ
て前述の処理を行う。

【００３８】次に、図２の処理をした場合の入力画素値
と出力画素値の一例を図３に示す。

【００３９】図３（Ａ）では、ブロックノイズやモスキ
ートノイズは、比較的弱いエッジであるため、近傍画素
との差がしきい値未満となりノイズ成分が平滑化され
る。

【００４０】また、図３（Ｂ）では、本来のエッジ（強
いエッジ）は近傍画素との差がしきい値以上となるた
め、図3（Ｂ）のように平滑化されず、エッジは保存さ
れる。

【００４１】更に、図３（Ｃ）では、平坦な部分は出力
も平坦なままとなる。 ＜第２の実施の形態＞例えば、ＪＰＥＧの圧縮歪みは、
ブロック（ブロック離散余弦変換：ＤＣＴ（Discrete C
osine Transform）処理を行う単位、例えば８×８画
素）の境界付近、或いは強いエッジの周辺に発生するた
め、第２の実施の形態では、ブロック境界判定処理、及
びエッジブロック判定処理を行っており、斯かる点が第
１の実施の形態と異なる点である。

【００４２】図４は、第２の実施の形態に係る発明を実
現するための画像データの歪みを低減する装置の概略構
成図であり、図１で用いた符号と同じ符号については、
機能が同一のため、その説明を割愛する。

【００４３】図４において、ブロック境界判定部４０４
は、入力画素位置４０３に従ってブロック境界を判定す
る。また、エッジブロック判定部４０８は、入力画素位
置４０３、及びエッジ抽出部４０６で付与されたエッジ
フラッグ４０７に従ってエッジブロックを判定する。

【００４４】フィルタ適用判定部４０５は、ブロック境
界判定部４０４、及びエッジブロック判定部４０８から
の指示に基づいて、入力画像データを第１の実施の形態
で示した処理を行うか、入力画像データをそのままスル
ーさせて画像データ出力部１０５へ出力させるか否かを
決定し、それに従って切換器４０１、及び切換器４０２
を切り換える。

【００４５】以下に、第２の実施の形態における処理を
図６のフローチャートに従って説明する。

【００４６】図６において、着目画素位置（ｉ，ｊ）の
うち着目画素垂直位置ｊを「０」とし（ステップ６０
１）、また着目画素位置（ｉ，ｊ）のうち着目画素水平
位置ｉを「０」とする（ステップ６０１１）。

【００４７】次に、着目画素がブロック境界の近傍であ
るか否かを判定する（ステップ６０２）。具体的には、
（ｉ−ｎ）の絶対値がしきい値Ｔｈ２未満であるか、又
は（ｊ−ｍ）の絶対値がしきい値Ｔｈ２未満であるか否
かを求め、適合すれば、着目画素がブロック境界の近
傍、即ち図５に示すBoundary A、Boundary B、Bounda
ry C、及びBoundary Dに近接していると判断する。こ
こで、（ｎ，ｍ）は着目画素に最も近いブロック境界位
置を表し、例えば図５の（ｉ，ｊ）では矢印方向に存在
するBoundary Aのｎ、ｍの値、Boundary Bのｎ、ｍの
値を夫々用いて前述の演算を行う。

【００４８】ステップ６０２でのブロック境界判定にお
いて、ブロック境界の近傍であると判定された場合に
は、前述したステップ２０２〜２０９の処理（図２参
照）を行う。

【００４９】ブロック境界の近傍でない場合には、次
に、各ブロック中に強いエッジが存在するか否かの判定
を行う（ステップ６０３）。各ブロック中にエッジブロ
ックが存在すれば、エッジフラグEdgeFlag（Ｋ，Ｌ）を
「１」とし、エッジブロックが存在しなければ、エッジ
フラグEdgeFlag（Ｋ，Ｌ）を「０」とする。斯かる具体
的な処理については後述する。

【００５０】ステップ６０３でのエッジブロック判定に
おいて、エッジフラグEdgeFlag（Ｋ，Ｌ）＝０の場合に
は、入力画像データの画素値をそのまま画像データ出力
部１０５へ出力する。

【００５１】一方、ステップ６０３でのエッジブロック
判定において、エッジフラグEdgeFlag（Ｋ，Ｌ）＝１の
場合には、前述したステップ２０２〜２０９の処理（図
２参照）を行う。

【００５２】ステップ６０５では、画像の幅全体に関し
て処理を行ったか否かを判断し、画像の幅全体に対して
処理を行っていれば、ステップ６０７に進み、一方画像
の幅全体に対して処理を行っていなければ、ステップ６
０６に進んで、ｉ＝ｉ＋１として処理を行った後，ステ
ップ６０２に戻って前述の処理を行う。

【００５３】次に、画像の高さ全体に関して処理を行っ
たか否かを判断し（ステップ６０７）、画像の高さ全体
に対して処理を行っていれば終了し、一方画像の高さ全
体に対して処理を行っていなければ、ステップ６０８に
進んで、ｊ＝ｊ＋１として処理を行った後，ステップ６
０１１に戻って前述の処理を行う。

【００５４】最後に、第２の実施の形態のステップ６０
３（図６参照）のエッジブロックの判定処理を図７のフ
ローチャートに従って説明する。

【００５５】図７において、まず着目ブロック位置
（Ｋ，Ｌ）のうち、着目ブロック垂直位置Ｌを「０」と
し（ステップ７０１）、また着目ブロック位置（Ｋ，
Ｌ）のうち着目ブロック水平位置Ｋを「０」とする（ス
テップ７０１１）。本発明では、ＤＣＴ変換を行う際の
一単位ブロックがブロック（８×８画素）であるため、
図５に示すブロックが基準となる。

【００５６】ブロックを構成する垂直画素位置ｊ＝Ｌ×
８とし（ステップ７０２）、またブロックを構成する水
平画素位置ｉ＝Ｋ×８とする（ステップ７０２１）。

【００５７】次に、水平方向の画素レベルの変化ｄ１を
算出すると共に、垂直方向の画素レベルの変化ｄ２を算
出する（ステップ７０３）。この処理を画像の幅、高さ
全体に対して行う。

【００５８】水平方向の画素レベルの変化ｄ１、或いは
垂直方向の画素レベルの変化ｄ２がしきい値Ｔｈ３とを
比較し、着目ブロック位置（Ｋ，Ｌ）中に強いエッジが
存在するか否かを判定する（ステップ７０４）。

【００５９】同一ブロック内の水平方向の画素に対して
処理を行い（ステップ７０５、７０６）、更に同一ブロ
ック内の垂直方向の画素に対して処理を行い（ステップ
７０７、７０８）を行う。

【００６０】前述の処理を行い、そのブロック中に強い
エッジがなければ、エッジフラッグEdgeFlag（Ｋ，Ｌ）
＝０に設定し（ステップ７０９）、一方そのブロック中
に強いエッジがあれば、エッジフラッグEdgeFlag（Ｋ，
Ｌ）＝１に設定する（ステップ７１０）。

【００６１】水平方向のブロックに対して全て処理を行
っているか否かを判断し（ステップ７１１）、全て処理
を行っていなければ、ステップ７１２に進んで水平方向
の右隣りのブロックに関して処理を継続し（ステップ７
１２）、一方全て処理を行っていれば、ステップ７１３
に進む。

【００６２】垂直方向のブロックに対して全て処理を行
っているか否かを判断し（ステップ７１３）、全て処理
を行っていなければ、ステップ７１４に進んで垂直方向
の下側のブロックに関して処理を継続し（ステップ７１
４）、一方全て処理を行っていれば、終了する。

【００６３】このように、第２の実施の形態では、ブロ
ックの境界付近、或いは各ブロック中に強いエッジを有
する画素に対して、第１の実施の形態で説明した平滑
（平均）化処理を施し、それに該当しない画素に対して
は、その画素値をそのまま用いることによって圧縮歪み
を低減することができるようになる。具体的には、図８
はＤＣＴ変換を行う際の一単位ブロックとそのうちの数
個のブロックに強いエッジを模式的に表わした図であ
り、ブロック境界（８０１）は、図５に示すBoundary
A、Boundary B、Boundary C、及びBoundary Dに相当
する。曲線（８０２）で表わされる画像が数個のブロッ
クに亘って存在する場合、第1の実施の形態で説明した
平滑（平均）化処理をハッチング（斜線）を付した箇所
に適用することによって、ブロック歪みやモスキート歪
みを低減することができる。 ＜第３の実施の形態＞第３の実施の形態では、歪み低減
の副作用である画像のボケを回避するため、着目画素位
置の変化（エッジ）が歪みによるものか、或いは元々存
在したものかを識別し、平滑化若しくはエッジ補正を適
用すべきか否かの判定処理を行っており、斯かる点が第
１、第２の実施の形態と異なる点である。

【００６４】図９は、第３の実施の形態に係る発明を実
現するための画像データの歪みを低減する装置の概略構
成図であり、図１で用いた符号と同じ符号については、
機能が同一のため、その説明を割愛する。

【００６５】図９において、最小勾配方向画素選択部９
０１は水平方向、垂直方向、右斜め方向、及び左斜め方
向の入力画素値の変化（勾配）が最小となる方向の画素
を求め、最小となる方向の画素値データを新画素値算出
部９０２に送り、新画素値算出部９０２はそれらの画素
値の算術平均値、或いはこの平均値と着目画素位置の画
素値の勾配から新しい画素値を算出する。

【００６６】ブロック内最大エッジ強度算出部９０８
は、各ブロック内でのエッジ強度の最大値を算出する。
また、しきい値算出部９０７は、画像データを圧縮（エ
ンコード）した際に用いた量子化幅、入力画素位置、及
びブロック内最大エッジ強度算出部９０８の結果からフ
ィルタの切り換えのためのしきい値を算出する。また、
着目画素エッジ強度算出部９０６は入力画素位置におけ
るエッジ強度を算出する。

【００６７】フィルタ適用判定部９０５は、着目画素エ
ッジ強度算出部９０６、しきい値算出部９０７の結果に
基づいて、（１）入力画像データに対して第１の実施の
形態で示した処理を行うか、（２）エッジの補正部（最
小勾配方向画素選択部９０１、及び新画素値算出部９０
２）によりエッジの形状補正処理、及び強調処理を行う
か、及び（３）入力画像データをそのままスルーさせて
画像データ出力部１０５へ出力させるか、を決定し、そ
れらの結果に従って切換器９０３、及び切換器９０４を
切り換える。

【００６８】以下に、第３の実施の形態における処理を
図１０のフローチャートに従って説明する。

【００６９】図１０において、着目画素位置（ｉ，ｊ）
のうち着目画素垂直位置ｊを「０」とし（ステップ１０
０１）、また着目画素位置（ｉ，ｊ）のうち着目画素水
平位置ｉを「０」とする（ステップ１００２）。

【００７０】次に、着目画素が属するブロック内のエッ
ジ強度の最大値Eblk、及び圧縮時の量子化幅Qより、圧
縮歪みに起因するエッジを判別するためのしきい値Th11
と、補正すべきエッジを判別するためのしきい値Th12を
算出する（ステップ１００３）。例えば、Th11=max(Ebl
k/3, Q), Th12=max(Th11,R)（但し、Rは、正の整数であ
る。）とする。Eblkの算出方法については後述する。

【００７１】さらに着目画素位置のエッジ強度E(i,j)を
求める。例えばそのエッジ強度E(i,j)を求める一例とし
て、E(i,j)=max(|X(i,j)-X(i-1,j)|, |X(i,j)-X(i,j-1)
|)を用いる（ステップ１００４）。

【００７２】ステップ１００５では、しきい値Th11, Th
12及び着目画素位置のエッジ強度E(i,j)に基づいてフィ
ルタ適用判定部９０５での切換処理を行う。具体的には
E(i,j)<Th11の場合には、前述したステップ２０２〜２
０９の処理（図２参照）を行い（ステップ１００６）、
E(i,j)>Th12の場合にはエッジの補正処理を行い(ステッ
プ１００７)、それ以外の場合には入力画素値をそのま
ま出力する(ステップ１００８)。尚、ステップ１００７
の処理については、後述する。

【００７３】ステップ１００９では、画像の幅全体に関
して処理を行ったか否かを判断し、画像の幅全体に対し
て処理を行っていれば、ステップ１０１１に進み、一方
画像の幅全体に対して処理を行っていなければ、ステッ
プ１０１０に進んで、ｉ＝ｉ＋１として処理を行った
後，ステップ１００３に戻って前述の処理を行う。

【００７４】次に、画像の高さ全体に関して処理を行っ
たか否かを判断し（ステップ１０１１）、画像の高さ全
体に対して処理を行っていれば終了し、一方画像の高さ
全体に対して処理を行っていなければ、ステップ１０１
２に進んで、ｊ＝ｊ＋１として処理を行った後，ステッ
プ１００２に戻って前述の処理を行う。

【００７５】次に、第３の実施の形態のステップ１００
３のブロック内の最大エッジ強度の算出処理について図
１１を用いて説明する。

【００７６】図１１において、まず着目ブロック位置
（Ｋ，Ｌ）のうち、着目ブロック垂直位置Ｌを「０」と
し（ステップ１１０１）、また着目ブロック位置（Ｋ，
Ｌ）のうち着目ブロック水平位置Ｋを「０」とする（ス
テップ１１０２）。本発明では、ＤＣＴ変換を行う際の
一単位ブロックがブロック（８×８画素）であるため、
図５に示すブロックが基準となる。

【００７７】まず、着目ブロックの最大エッジ強度Ｅｂ
ｌｋ（Ｋ，Ｌ）＝０とする（ステップ１１０３）。

【００７８】ブロックを構成する垂直画素位置ｊ＝Ｌ×
８とし（ステップ１１０４）、またブロックを構成する
水平画素位置ｉ＝Ｋ×８とする（ステップ１１０５）。

【００７９】次に、着目画素位置のエッジ強度Ｅを求め
る。例えば、E(i,j)=max(|X(i,j)-X(i-1,j)|, |X(i,j)-
X(i,j-1)|)とする（ステップ１１０５）。さらにE (i,
j) >Eblk(K,L)ならEblk(K,L)をE(i,j)に更新する（ステ
ップ１１０６）。この処理をブロック内の全ての画素に
対して繰り返す（ステップ１１０７、１１０８、１１０
９、１１１０）。

【００８０】水平方向のブロックに対して全て処理を行
っているか否かを判断し（ステップ１１１１）、全て処
理を行っていなければ、ステップ１１１２に進んで水平
方向の右隣りのブロックに関して処理を継続し（ステッ
プ１１０３）、一方全て処理を行っていれば、ステップ
１１１３に進む。

【００８１】垂直方向のブロックに対して全て処理を行
っているか否かを判断し（ステップ１１１３）、全て処
理を行っていなければ、ステップ１１１４に進んで垂直
方向の下側のブロックに関して処理を継続し、一方全て
処理を行っていれば、終了する。

【００８２】最後に、第３の実施の形態のステップ１０
０７（図１０参照）のエッジの補正処理を図１２のフロ
ーチャートに従って説明する。

【００８３】図１２において、着目画素位置（i,j）の
うち着目画素垂直位置ｊを「０」とし（ステップ１２０
１）、また着目画素位置（i,j）のうち着目画素水平位
置ｉを「０」とする（ステップ１２０１a）。

【００８４】次に、図１３（ａ）に示すように、着目画
素位置（i,j）を中心とした水平方向の画素を対象とし
た画素値差分ｄ１、及び着目画素位置（i,j）を中心と
した垂直方向の画素を対象とした画素値差分ｄ２を算出
する（ステップ１２０２）。具体的には、 水平方向の画素値差分ｄ１＝｜Ｘ（i-1,j）−Ｘ（i+1,
j）｜ 垂直方向の画素値差分ｄ２＝｜Ｘ（i,j-1）−Ｘ（i,j+
1）｜ を算出する。

【００８５】ステップ１２０２で求めた、水平方向の画
素値差分ｄ１と第１しきい値（Ｔｈ１）との大小関係を
比較すると共に、垂直方向の画素値差分ｄ２と第２しき
い値（Ｔｈ２）との大小関係を比較する（ステップ１２
０３）。

【００８６】水平方向の画素値差分ｄ１が第１しきい値
（Ｔｈ１）より大きいか、又は垂直方向の画素値差分ｄ
２（Ｔｈ２）が第２しきい値（Ｔｈ２）より大きい場合
にはステップ１２０５に進んで、更に図３（ｂ）に示す
ように、着目画素位置（i,j）を中心とした右斜め方向
の画素を対象とした画素値差分ｄ３、及び着目画素位置
（i,j）を中心とした左斜め方向の画素を対象とした画
素値差分ｄ４を算出する（ステップ１２０５）。具体的
には、 左斜め方向の画素値差分ｄ３＝｜Ｘ（i-1,j-1）−Ｘ（i
+1,j+1）｜ 右斜め方向の画素値差分ｄ４＝｜Ｘ（i+1,j-1）−Ｘ（i
-1,j+1）｜ を算出する。

【００８７】ステップ１２０２で算出した水平方向の画
素値差分ｄ１、垂直方向の画素値差分ｄ２、及びステッ
プ１２０５で算出した右斜め方向の画素値差分ｄ３、左
斜め方向の画素値差分ｄ４のうち、最小値を算出する
（ステップ１２０６）。

【００８８】ステップ１２０６で求めた最小値に従って
最小勾配方向の画素値の平均値を求める（ステップ１２
０７）。エッジにおいて高域強調効果を得るために、前
記平均値と着目画素位置の画素値の勾配から新しい画素
値を算出する。

【００８９】具体的には、 if(d1 = dmin) Y(i,j) = (X(i-1,j) + X(i,j) + X(i+1,j) ) / 3 + L( X(i,j)-m1) …(1) else if(d2 = dmin) Y(i,j) = (X(i,j-1) + X(i,j) + X(i,j+1) )/3 + L(X( i,j)-m2) …(2) else if(d3 = dmin) Y(i,j) = (X(i-1,j-1) + X(i,j) + X(i+1,j+1) ) / 3 + L(X(i,j)-m3) …(3) else if(d4 = dmin) Y(i,j) = (X(i+1,j-1) + X(i,j) + X(i-1,j+1) ) / 3 + L(X(i,j)-m4) …(4) を求める。尚、 m1 = (X(i,j-1)+X(i,j+1))/2 …(5) m2 = (X(i-1,j)+X(i+1,j))/2 …(6) m3 = (X(i+1,j-1)+X(i-1,j+1))/2 …(7) m4 = (X(i-1,j-1)+X(i+1,j+1))/2 …(8) である。

【００９０】ただし、dminはd1〜d4の最小値とし、また
Ｌは０以上の実数であり、Ｌが大きい程、高域強調度が
大きくなる。

【００９１】尚、前述の（１）〜（４）式において、エ
ッジの高域強調効果を得る必要がない場合には、Ｌ＝０
とすればよい。

【００９２】一方、前述の（５）〜（８）式の他に以下
の式を適用しても、エッジの高域強調効果を得ることが
できる。このとき、 m1=m2=m3=m4= ( X(i-1,j-1)+X(i,j-1)+X(i+1,j-1)+ X(i
-1,j)+X(i,j)+X(i+1,j)+X(i-1,j+1)+X(i,j+1)+X(i+1,j+
1) )/9 によって、ｍ１、ｍ２、ｍ３、及びｍ４を求める。

【００９３】着目画素位置（ｉ，ｊ）のｉに対して画像
の幅全体に関して処理を行ったか否かを判断し（ステッ
プ１２０８）、画像の幅全体に対して処理を行っていれ
ば、ステップ１２１０に進み、一方画像の幅全体に対し
て処理を行っていなければ、ステップ１２０９に進ん
で、ｉ＝ｉ＋１として処理を行った後，ステップ１２０
２に戻って前述の処理を行う。

【００９４】最後に、着目画素位置（ｉ，ｊ）のｊに対
して画像の高さ全体に関して処理を行ったか否かを判断
し（ステップ１２１０）、画像の高さ全体に対して処理
を行っていれば終了し、一方画像の高さ全体に対して処
理を行っていなければ、ステップ１２１１に進んで、ｊ
＝ｊ＋１として処理を行った後，ステップ１２０１ａに
戻って前述の処理を行う。

【００９５】次に、図１２の処理をした場合の入力画素
値と出力画素値の一例を図１４、図１５及び図１６に示
す。

【００９６】図１４（Ａ）では、エッジ形状がギザギザ
状に歪んでいる場合、エッジ画素のレベルが不連続にな
っている。この場合に、最小勾配方向はエッジの方向
（左斜め方向）となり、この方向の画素値の平均値で着
目画素の値を置き換えることにより、エッジ画素のレベ
ルが連続になり、エッジ形状が補正される。

【００９７】また、図１４（Ｂ）では、着目画素位置の
近傍にエッジが存在しない場合には、エッジ以外の画素
に対してはもとの画素値のまま出力する。

【００９８】図１５（Ａ）は図１２のステップ１２０７
においてＬ＝１として高域強調のための項を加算した場
合である。この場合、エッジ形状の補正に加えて、エッ
ジの強調が行われる。

【００９９】図１５（Ｂ）では図１４（Ｂ）と同じく、
着目画素位置の近傍にエッジが存在しない場合には、エ
ッジ以外の画素に対してはもとの画素値のまま出力す
る。

【０１００】図１６は５×５の画素サイズに対してエッ
ジ強調効果を得る場合の例を示している。同図（Ａ）の
Ｘ１、Ｘ２、及びＸ３を着目画素位置とした場合、図１
２に示した処理を夫々の着目画素に対して行うことによ
り、図１６（Ｂ）のＹ１、Ｙ２、及びＹ３の画素位置の
画素値は新画素値に置換され、エッジの強調が行われ
る。

【０１０１】このように、第３の実施の形態では、画像
中のエッジが、圧縮歪みに起因するものか、元々存在し
ているものかを判別し、前者に対して、第１の実施の形
態で説明した平滑（平均）化処理を施し、後者に対して
はエッジ補正処理を施し、どちらにも該当しない画素に
対しては、その画素値をそのまま用いることによって圧
縮歪みを低減することができるようになる。

【０１０２】具体的には、図１７はＤＣＴ変換を行う際
の一単位ブロックと圧縮歪みによって生じた弱いエッジ
及び元々存在する強いエッジを模式的に表わした図であ
る。圧縮歪みによって生じた弱いエッジ（１７０２）に
は、第1の実施の形態で説明した平滑（平均）化処理が
施されることにより歪みが低減し（１７０４）、元々存
在する強いエッジ（１７０３）にはエッジ補正処理が施
され、エッジの途切れの補正や強調が行われる（１７０
５）。またこれ以外の画素はそのまま保存される。これ
により、画像のボケを回避しつつ圧縮歪みの低減を行う
ことができる。

【０１０３】尚、本発明の特許請求の範囲では、「前記
着目画素の画素値に近似するものを選択する場合には、
着目画素の画素値と各画素の画素値との差分が第１しき
い値未満である画素を選択する」としているが、本発明
の目的からすれば、着目画素の画素値と各画素の画素値
とを比較できれば良く、「未満」の代わりに「以下」と
しても何ら問題は無く、本発明を適用することは可能で
ある。

【０１０４】更に「第２しきい値」と「第３しきい値」
との大小比較においても、本発明の特許請求の範囲で
は、「前記着目画素位置のエッジ強度が第２しきい値よ
り小さい場合には、前記着目画素の近傍に位置する画素
のうち、前記第２しきい値に基づいてその画素値が着目
画素の画素値に近似するものだけを選択し、選択された
画素値の平均値を前記着目画素の新たな画素値とし、前
記着目画素位置のエッジ強度が第３しきい値より大きい
場合にはエッジの補正を行い、前記着目画素位置のエッ
ジ強度が第２しきい値以上、第３しきい値以下の場合に
は、前記着目画素の画素値をそのまま画像データとして
出力する」としているが、本発明の目的からすれば、着
目画素の画素値と各画素の画素値とを比較できれば良
く、「前記着目画素位置のエッジ強度が第２しきい値以
下の場合には、前記着目画素の近傍に位置する画素のう
ち、前記第２しきい値に基づいてその画素値が着目画素
の画素値に近似するものだけを選択し、選択された画素
値の平均値を前記着目画素の新たな画素値とし、前記着
目画素位置のエッジ強度が第３しきい値以上の場合には
エッジの補正を行い、前記着目画素位置のエッジ強度が
第２しきい値より大きく、第３しきい値より小さい場合
には、前記着目画素の画素値をそのまま画像データとし
て出力する」としても何ら問題は無く、本発明を適用す
ることは可能である。

【０１０５】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
よれば、簡易な構成により効果的にブロック歪みやモス
キート歪みを低減すると共に、画像の尖鋭感を増すこと
ができる。

【０１０６】更に、本発明はＫ×Ｋサイズの一回のフィ
ルタリングにより、低い演算量で、効果的に圧縮歪みを
減らすことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第1の実施の形態に係る発明を実現す
るための画像データの歪みを低減する装置の概略構成図
である。

【図２】第１の実施の形態を処理するフローチャートで
ある。

【図３】歪み低減の原理を示す模式図である。

【図４】本発明の第２の実施の形態に係る発明を実現す
るための画像データの歪みを低減する装置の概略構成図
である。

【図５】ＤＣＴ変換する際の一ブロック単位における境
界を示す図である。

【図６】第２の実施の形態を処理するフローチャートで
ある。

【図７】第２の実施の形態のステップ６０３のエッジブ
ロックの判定処理についてのフローチャートである。

【図８】ＤＣＴ変換を行う際の一単位ブロックとそのう
ちの数個のブロックに強いエッジを模式的に表わした図
である。

【図９】本発明の第３の実施の形態に係る発明を実現す
るための装置の概略構成図である。

【図１０】第３の実施の形態を処理するフローチャート
である。

【図１１】第３の実施の形態のステップ１００３のブロ
ック内の最大エッジ強度の算出処理を示すフローチャー
トである。

【図１２】第３の実施の形態のステップ１００７のエッ
ジの補正処理についてのフローチャートである。

【図１３】着目画素位置（ｉ，ｊ）の近傍の画素図であ
る。

【図１４】エッジ補正の原理を示す模式図である。

【図１５】３×３の画素サイズにおけるエッジ補正の原
理を示す模式図である。

【図１６】５×５の画素サイズにおけるエッジ補正の原
理を示す模式図である。

【図１７】ＤＣＴ変換を行う際の一単位ブロックと圧縮
歪みによって生じた弱いエッジ及び元々存在する強いエ
ッジを模式的に表わした図である。

【符号の説明】

１００…ＪＰＥＧデコーダ １０１…画像データ入力部 １０２…入力画素値 １０３…画素選択部 １０４…平均値算出部 １０５…画像データ出力部 １０６…出力画素値 １０７…画像データ表示部 ４０１…切換部 ４０２…切換部 ４０３…入力画素位置 ４０４…ブロック境界判定部 ４０５…フィルタ適用判定部 ４０６…エッジ抽出部 ４０７…エッジフラグ ４０８…エッジブロック判定部 ９０１…最小勾配方向画素選択部 ９０２…新画素値算出部 ９０３…切換部 ９０４…切換部 ９０５…フィルタ適用判定部 ９０６…着目画素エッジ強度算出部 ９０７…しきい値算出部 ９０８…ブロック内最大エッジ強度算出部

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5C021 PA32 PA53 PA58 PA62 PA76 PA82 PA83 RA02 RA07 RB08 YA03 YC04 YC08 5C059 KK02 KK03 KK04 MA00 PP01 PP04 SS06 TA69 TB07 TC02 TC06 TC33 TD08 TD12 UA05 UA33 5C078 BA21 CA21 CA25 DA01 DA02 DA16 DB00

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 入力された画像データを圧縮復元して出
   力する際に用いる画像データの歪み低減方法において、 前記画像データの各画素に対して、着目画素の近傍に位
   置する画素のうち、その画素値が前記着目画素の画素値
   に近似するものだけを選択し、選択された画素値の平均
   値を前記着目画素の新たな画素値とすることを特徴とす
   る画像データの歪み低減方法。
2. 【請求項２】 前記着目画素の近傍に位置する画素と
   は、前記着目画素を含んでＫ×Ｋ（Ｋ：自然数）の範囲
   内に属する画素であることを特徴とする請求項１に記載
   の画像データの歪み低減方法。
3. 【請求項３】 前記着目画素の画素値に近似するものを
   選択する場合には、前記着目画素の画素値と各画素の画
   素値との差分が第１しきい値未満である画素を選択する
   ことを特徴とする請求項１に記載の画像データの歪み低
   減方法。
4. 【請求項４】 入力された画像データを圧縮復元して出
   力する際に用いる画像データの歪み低減方法において、 前記画像データのうち、着目画素が着目ブロックの境界
   内に位置するか否かを判定する第１処理と、前記着目画
   素の属する着目ブロック内に強いエッジがあるか否かを
   判定する第２処理と、前記第１処理、及び第２処理の結
   果、前記着目画素が前記着目ブロックの境界内に位置す
   るとき、又は前記着目画素の属する着目ブロック内に強
   いエッジがあるとき、前記着目画素の近傍に位置する画
   素のうち、その画素値が着目画素の画素値に近似するも
   のだけを選択し、選択された画素値の平均値を前記着目
   画素の新たな画素値とし、一方前記第１処理、及び第２
   処理の結果、前記着目画素が着目ブロックの境界内に位
   置しないとき、又は前記着目画素の属する着目ブロック
   内に強いエッジがないとき、前記着目画素の画素値をそ
   のまま画像データとして出力することを特徴とする画像
   データの歪み低減方法。
5. 【請求項５】 入力された画像データを圧縮復元して出
   力する際に用いる画像データの歪み低減方法において、 前記画像データのうち、着目画素の属する着目ブロック
   内の最大エッジ強度を算出する第1処理と、前記第1処理
   の結果及び圧縮時の量子化幅の値より、圧縮歪みに起因
   するエッジを判別するための第２しきい値と、補正すべ
   きエッジを判別するための第３しきい値とを算出する第
   ２処理と、前記着目画素位置のエッジ強度を算出する第
   ３処理と、前記着目画素位置のエッジ強度が第２しきい
   値より小さい場合には、前記着目画素の近傍に位置する
   画素のうち、前記第２しきい値に基づいてその画素値が
   着目画素の画素値に近似するものだけを選択し、選択さ
   れた画素値の平均値を前記着目画素の新たな画素値と
   し、前記着目画素位置のエッジ強度が第３しきい値より
   大きい場合にはエッジの補正を行い、前記着目画素位置
   のエッジ強度が第２しきい値以上、第３しきい値以下の
   場合には、前記着目画素の画素値をそのまま画像データ
   として出力することを特徴とする画像データの歪み低減
   方法。
6. 【請求項６】 前記画像データは、静止画像データ、動
   画像データであることを特徴とする請求項１から５のう
   ちいずれかに記載の画像データの歪み低減方法。
7. 【請求項７】 入力された画像データを圧縮復元して出
   力する際に用いる画像データの歪み低減装置において、 全画像データの各画素に対して、着目画素の近傍に位置
   する画素のうち、その画素値が前記着目画素の画素値に
   近似するものだけを選択し、選択された画素値の平均値
   を着目画素の新たな画素値とすることを特徴とする画像
   データの歪み低減装置。
8. 【請求項８】 前記着目画素の近傍に位置する画素と
   は、前記着目画素を含んでＫ×Ｋ（Ｋ：自然数）の範囲
   内に属する画素であることを特徴とする請求項７に記載
   の画像データの歪み低減装置。
9. 【請求項９】 前記着目画素の画素値に近似するものを
   選択する場合には、着目画素の画素値と各画素の画素値
   との差分が第１しきい値未満である画素を選択すること
   を特徴とする請求項７に記載の画像データの歪み低減装
   置。
10. 【請求項１０】 入力された画像データを圧縮復元して
    出力する際に用いる画像データの歪み低減装置におい
    て、 画像データを入力する画像データ入力部と、 全画像データの各画素に対して、着目画素の近傍に位置
    する画素のうち、その画素値が着目画素の画素値に近似
    するものだけを選択する画素選択部と、 該画素選択部で選択された画素値の平均値を求める平均
    値算出部と、 前記画像データのうち、着目画素が着目ブロックの境界
    内に位置するか否かを判定するブロック境界判定部と、 前記着目画素の属する着目ブロック内に強いエッジがあ
    るか否かを判定するエッジブロック判定部と、 前記ブロック境界判定部、及びエッジブロック判定部で
    の処理の結果、前記画素選択部、及び平均値算出部の処
    理を行うか否かを決定するフィルタ適用判定部と、 処理された画像データを出力する画像データ出力部と、
    を備え、 前記ブロック境界判定部、及びエッジブロック判定部で
    の処理の結果、前記着目画素が着目ブロックの境界内に
    位置するとき、又は前記着目画素の属する着目ブロック
    内に強いエッジがあると判断されたとき、前記画素選択
    部は前記着目画素の近傍に位置する画素のうち、その画
    素値が着目画素の画素値に近似するものだけを選択し、
    前記平均値算出部は前記画素選択部で選択された画素値
    の平均値を算出し、前記画像データ出力部はその平均値
    を前記着目画素の新たな画素値として出力することを特
    徴とする画像データの歪み低減装置。
11. 【請求項１１】 前記ブロック境界判定部、及びエッジ
    ブロック判定部での処理の結果、前記着目画素が着目ブ
    ロックの境界内に位置しないとき、又は前記着目画素の
    属する着目ブロック内に強いエッジがないと判断された
    とき、前記画像データ入力部から入力された画像データ
    は前記画像データ出力部に直接送出されることを特徴と
    する請求項１０に記載の画像データの歪み低減装置。
12. 【請求項１２】 入力された画像データを圧縮復元して
    出力する際に用いる画像データの歪み低減装置におい
    て、 画像データを入力する画像データ入力部と、 全画像データの各画素に対して、着目画素の近傍に位置
    する画素のうち、その画素値が着目画素の画素値に近似
    するものだけを選択する画素選択部と、 該画素選択部で選択された画素値の平均値を求める平均
    値算出部と、 前記画像データのうち、着目画素の属する着目ブロック
    内の最大エッジ強度を算出するブロック最大エッジ強度
    算出部と、 前記ブロック最大エッジ強度算出部の出力及び圧縮時の
    量子化幅の値より、圧縮歪みに起因するエッジを判別す
    るための第２しきい値と、補正すべきエッジを判別する
    ための第３しきい値とを算出するしきい値算出部と、 前記着目画素位置のエッジ強度を算出する着目画素エッ
    ジ強度算出部と、 前記しきい値算出部、及び着目画素エッジ強度算出部の
    結果、前記画素選択部、及び平均値算出部の処理を行う
    か、若しくはエッジ補正処理行うか、若しくはいずれの
    処理も行わないかを決定するフィルタ適用判定部と、 処理された画像データを出力する画像データ出力部と、
    を備え、 前記フィルタ適用判定部の結果に従って、前記着目画素
    位置のエッジ強度が第２しきい値より小さい場合には、
    前記着目画素の近傍に位置する画素のうち、前記第２し
    きい値に基づいてその画素値が着目画素の画素値に近似
    するものだけを選択し、選択された画素値の平均値を前
    記着目画素の新たな画素値とし、前記着目画素位置のエ
    ッジ強度が第３しきい値より大きい場合にはエッジの補
    正を行い、前記着目画素位置のエッジ強度が第２しきい
    値以上、第３しきい値以下の場合には、前記着目画素の
    画素値をそのまま画像データとして出力することを特徴
    とする画像データの歪み低減装置。
13. 【請求項１３】 前記画像データは、静止画像データ、
    動画像データであることを特徴とする請求項７から１２
    のうちいずれかに記載の画像データの歪み低減装置。