JP2001231153A - Ct test plug-testing device for protection relay board and pt test plug-testing device for protection relay board - Google Patents

Ct test plug-testing device for protection relay board and pt test plug-testing device for protection relay board

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JP2001231153A
JP2001231153A JP2000037948A JP2000037948A JP2001231153A JP 2001231153 A JP2001231153 A JP 2001231153A JP 2000037948 A JP2000037948 A JP 2000037948A JP 2000037948 A JP2000037948 A JP 2000037948A JP 2001231153 A JP2001231153 A JP 2001231153A
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JP
Japan
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inspection
test
plug
primary
test plug
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Pending
Application number
JP2000037948A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshiaki Matsubara
良紀 松原
Masayoshi Naota
昌義 直田
Takeshi Motooka
剛 本岡
Junji Matsumoto
純治 松本
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Kansai Electric Power Co Inc
Toko Seiki Co Ltd
Original Assignee
Kansai Electric Power Co Inc
Toko Seiki Co Ltd
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Publication date
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  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To remarkably reduce the number of times for inspection and required time, and at the same time to extremely improve inspection accuracy. SOLUTION: In the inside of a plug accommodation case 21 where primary-side contact terminals A to O, and secondary-side ones A to O of a CT test plug 10A can be inserted from a plug insertion port 22, primary-side contacts A1 to O1 and secondary-side ones a1 to o1 corresponding to contact terminals A to O and (a) to (o), respectively, and an inspection circuit 23 are provided. At the same time, in the outside of the plug accommodation case 21, a switch SW1, a tester 24 for measuring a resistance value, and an operation switch PSW are provided. In this case, the switch SW1 that is included in the inspection circuit 23, and changes an inspection state for confirming the non-continuity between the primary-side terminals A to O and the secondary-side ones (a) to (o) to a second inspection state for confirming the conformity/non-conformity of the continuity state between the primary-side contact terminals A to O that are mutually connected, the tester 24 for resistance value measurement that judges the conformity/non-conformity of the non-continuity and continuity state, and the operation switch PSW that turns on and off the operation of the inspection circuit 23, are provided.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、変電所内や各種産
業プラント等に設置されている保護継電器盤(以下、リ
レー盤と称する)の点検作業を行なうにあたり、機器側
(一次側)とリレー盤側(二次側)とを電気的に切り離
す場合に使用されるリレー盤用CTテストプラグ(以
下、CTテストプラグと称する)及びリレー盤用PTテ
ストプラグ(以下、PTテストプラグと称する)の接触
端子間の導通及び開放端子間の非導通の良否を判定し確
認するCTテストプラグ試験装置及びPTテストプラグ
試験装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the inspection of a protective relay panel (hereinafter referred to as a relay panel) installed in a substation or various industrial plants and the like, in which a device side (primary side) and a relay panel are inspected. Contact between a relay panel CT test plug (hereinafter, referred to as a CT test plug) and a relay panel PT test plug (hereinafter, referred to as a PT test plug), which are used to electrically disconnect the side (secondary side). The present invention relates to a CT test plug test device and a PT test plug test device that determine and confirm the quality of conduction between terminals and non-conduction between open terminals.

【0002】[0002]

【従来の技術】テストプラグには上述のようにCTテス
トプラグとPTテストプラグとがあり、また、接触端子
の数により2点式、4点式、8点式などの種類がある。
図8〜図10は、その一例である4点式CTテストプラ
グの正面図、側面図、平面図を示し、この4点式CTテ
ストプラグ10Aは、絶縁物11を挟んでそれぞれ対向
位置する4つの一次側接触端子A,B,C,O及び二次
側接触端子a,b,c,oがテストプラグ本体12から
突出されているとともに、一次側接触端子A〜Oはテス
トプラグ本体12に取出用端子14A〜14Oの締め付
けにより取付けられている接続片13を介して互いに導
通接続されている。
2. Description of the Related Art As described above, there are two types of test plugs, a CT test plug and a PT test plug, and there are two types, such as a two-point type, a four-point type, and an eight-point type, depending on the number of contact terminals.
8 to 10 show a front view, a side view, and a plan view of an example of a four-point CT test plug. The four-point CT test plug 10A is opposed to each other with an insulator 11 interposed therebetween. The two primary contact terminals A, B, C, O and the secondary contact terminals a, b, c, o protrude from the test plug main body 12, and the primary contact terminals A to O are connected to the test plug main body 12. The terminals 14A to 14O are electrically connected to each other via a connection piece 13 attached by tightening the terminals.

【0003】上記のような4点式CTテストプラグ10
Aは、リレー盤の点検作業を行なう際、図11に示すよ
うに、リレー盤14に設けられているソケット15に各
接触端子A〜O、a〜oを挿入することにより、一次側
と二次側とを電気的に切り離して通常運転時におけるC
Tからリレー盤14への矢印aで示すような電流の流れ
を矢印bで示すような電流の流れに切り替え、これによ
って、リレー盤14の点検作業時の安全性を確保するよ
うに用いられるものである。
A four-point CT test plug 10 as described above
A, when performing the inspection work of the relay panel, as shown in FIG. 11, by inserting the respective contact terminals A to O and a to o into the socket 15 provided in the relay panel 14, the primary side is connected to the primary side. C in normal operation by electrically disconnecting the
The current flow from T to the relay panel 14 as shown by the arrow a is switched to the current flow as shown by the arrow b, thereby using the relay panel 14 to ensure safety during inspection work. It is.

【0004】上記のようにリレー盤14の点検作業は主
回路を停止せず活線状態のままで行なわれるために、作
業の安全性確保の上でCTテストプラグ10Aの良否の
確認検査は極めて重要である。もし一次側接触端子A〜
O間の導通状態及び一次側接触端子A〜Oと二次側接触
端子a〜oとの開放端子間の非導通状態に異常があるC
Tテストプラグ10を使用すると、リレーの誤動作によ
る給電支障事故や設備破損、さらには人的災害等といっ
た重大事故を引き起こす可能性がある。
As described above, since the inspection work of the relay panel 14 is performed without stopping the main circuit and in a live state, it is extremely difficult to check the quality of the CT test plug 10A in order to ensure the safety of the work. is important. If the primary contact terminals A ~
There is an abnormality in the conduction state between O and the non-conduction state between the open terminals of the primary contact terminals A to O and the secondary contact terminals a to C.
When the T test plug 10 is used, there is a possibility that a serious accident such as a power supply trouble due to a malfunction of the relay, a breakage of equipment, a human disaster or the like may be caused.

【0005】そこで、テストプラグの使用に際しては、
その実使用の前に導通及び非導通の確認検査(試験)を
欠くことができない。ところで、テストプラグは外観を
見ただけでは内部の損傷状況や異常の有無を的確に判断
することができない。そのため、従来一般には、図12
に示すように、テスター16を使用し、作業員がテスタ
ー測定端子17をテストプラグ10Aの導電部(一次側
接触端子A〜O、二次側接触端子a〜o)に押圧接触さ
せながら、テスター16の指針を読み取るといった検査
作業が行なわれていた。なお、ここまでは、4点式CT
テストプラグを例にして説明したが、4点式PTテスト
プラグや8点式CTテストプラグなどもその構成の一部
が異なるのみで、その使用方法や検査の必要性及び検査
作業方法などは基本的に4点式CTテストプラグの場合
とほぼ同様である。
Therefore, when using the test plug,
Prior to its actual use, a conduction and non-conductivity confirmation inspection (test) is indispensable. By the way, it is not possible to accurately judge the internal damage state or the presence / absence of an abnormality only by looking at the external appearance of the test plug. For this reason, conventionally, generally, FIG.
As shown in FIG. 1, the operator uses the tester 16 to press the tester measurement terminal 17 into contact with the conductive portions (primary contact terminals A to O and secondary contact terminals a to o) of the test plug 10A. Inspection work such as reading 16 pointers was performed. Up to this point, the 4-point CT
Although the test plugs have been described as examples, the 4-point PT test plug and the 8-point CT test plug are only partially different in their configuration. It is almost the same as the case of the four-point CT test plug.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たような従来の検査作業の場合は、テストプラグの導電
部が歪変形していると、その導電部に対するテスター測
定端子17の押圧接触力にばらつきが生じたり、テスタ
ー16の指針を読み取るための目線の移動によって接触
端子17が導電部から離れたりするなどの接触不良によ
って誤判定しやすい。
However, in the conventional inspection operation as described above, if the conductive portion of the test plug is deformed and deformed, the contact force of the tester measuring terminal 17 against the conductive portion varies. Or the contact terminal 17 is separated from the conductive part due to the movement of the line of sight for reading the pointer of the tester 16, and thus an erroneous determination is easily made.

【0007】その上、4点式CTテストプラグの1個あ
たりで相間(一次側接触端子同士間)の導通確認で6
回、極間(一次側接触端子と二次側接触端子間)の非導
通確認で4回の計10回、4点式PTテストプラグの場
合も1個あたりも同様に計10回、8点式CTテストプ
ラグでは1個あたりで相間の導通確認が28回、極間の
非導通確認で8回の計36回もの検査が必要である。そ
して、1台のリレー盤の点検作業では、複数個のテスト
プラグの使用を必要とし、例えば4点式PTテストプラ
グ2個と4点式CTテストプラグ16個の使用を必要と
する場合では、検査回数の合計が180回にも及び、検
査作業に膨大な時間及び手間を要するばかりでなく、同
じ作業の繰り返しによりミスを起こしやすく、検査精度
自体も劣り信頼性の低下を招くという問題があった。
[0007] In addition, the conduction between the phases (between the primary contact terminals) was confirmed for each of the four-point CT test plugs.
10 times in total, 4 times by non-conductivity confirmation between the times and poles (between the primary side contact terminal and the secondary side contact terminal), and in the case of a four-point PT test plug, also 10 times in total, 8 points each In the case of the expression CT test plug, it is necessary to check the conduction between the phases 28 times for each plug, and to check the non-conduction between the poles eight times, for a total of 36 tests. Inspection work of one relay panel requires the use of a plurality of test plugs. For example, when it is necessary to use two 4-point PT test plugs and 16 4-point CT test plugs, The total number of inspections reaches 180, and not only does the inspection work require enormous amount of time and labor, but it is also easy to make mistakes due to repetition of the same operation, and the inspection accuracy itself deteriorates, leading to a decrease in reliability. Was.

【0008】本発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、検査回数の著しい減少及び所要時間の著しい削減を
図りつつ、検査精度の向上を達成することができるCT
テストプラグ試験装置及びPTテストプラグ試験装置を
提供することを目的としている。
[0008] The present invention has been made in view of the above circumstances, and a CT capable of achieving an improvement in inspection accuracy while significantly reducing the number of inspections and the required time.
It is an object to provide a test plug test device and a PT test plug test device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るCTテストプラグ試験装置は、CTテ
ストプラグにおける複数の一次側接触端子及び二次側接
触端子をそれぞれ挿入可能なプラグ挿入口を持ったプラ
グ収納ケースの内部には、該ケース内に挿入されたCT
テストプラグの各接触端子に電気的に接続可能な複数の
一次側接点及び二次側接点と、それら一次側接点と二次
側接点とを接続する検査回路とが設けられているととも
に、プラグ収納ケースの外部には、上記検査回路中に介
在されて少なくとも一次側接触端子と二次側接触端子間
の短絡の有無を検出して非導通を確認する第1検査状態
と一次側接触端子のうち予め互いに接続されている接触
端子相互間の接触抵抗値を検出して導通状態の良否を確
認する第2検査状態とに切替可能な検査状態切替用スイ
ッチと、上記非導通状態及び導通状態の良否の検査結果
を表示する手段と、検査回路の動作をオン・オフする操
作スイッチとが設けられていることを特徴とするもので
ある。
In order to achieve the above object, a CT test plug testing apparatus according to the present invention provides a plug capable of inserting a plurality of primary contact terminals and secondary contact terminals in a CT test plug. In the inside of the plug storage case having the insertion port, the CT inserted into the case is inserted.
A plurality of primary contacts and secondary contacts that can be electrically connected to the respective contact terminals of the test plug, and an inspection circuit that connects the primary contacts and the secondary contacts are provided, and the plug housing is provided. Outside the case, a first inspection state interposed in the inspection circuit and detecting at least the presence or absence of a short circuit between the primary contact terminal and the secondary contact terminal to confirm non-conduction, and the primary contact terminal An inspection state changeover switch capable of switching to a second inspection state for detecting a contact resistance value between contact terminals connected to each other in advance to check whether the conduction state is good or not, and whether the non-conduction state and the conduction state are good or bad; And an operation switch for turning on and off the operation of the inspection circuit.

【0010】上記構成の本発明によれば、試験装置のプ
ラグ収納ケース内にCTテストプラグを挿入した後、操
作スイッチをオンにした上で、検査状態切替用スイッチ
を順次切替えるといったワンタッチ操作を行なうだけ
で、少なくともCTテストプラグにおける一次側接触端
子と二次側接触端子間の短絡の有無を検出して非導通を
確認する検査及び一次側接触端子のうち予め互いに接続
されている接触端子相互間の接触抵抗値を検出して導通
状態の良否を確認する第2検査とを実行し、その検査結
果を外部表示することが可能であり、検査回数の著しい
低減及び所要時間の著しい削減が図れるとともに、検査
作業そのものが非常に単純かつ容易であって経験の差に
よる精度レベル差が全くなく、誰が検査しても精度及び
信頼性の高い検査が行なえる。
According to the present invention having the above-described structure, after the CT test plug is inserted into the plug storage case of the test apparatus, the operation switch is turned on, and then the one-touch operation of sequentially switching the inspection state switch is performed. A test for detecting non-conduction by detecting the presence or absence of a short circuit between the primary contact terminal and the secondary contact terminal in at least the CT test plug, and between the contact terminals that are previously connected to each other among the primary contact terminals. And a second inspection for detecting the contact resistance value of the first and second inspections to confirm whether the conduction state is good or not, and the inspection result can be displayed externally, and the number of inspections and the required time can be significantly reduced. Inspection work itself is very simple and easy, there is no difference in accuracy level due to differences in experience, and inspection with high accuracy and reliability Playable.

【0011】また、本発明に係るPTテストプラグ試験
装置は、PTテストプラグにおける複数の一次側接触端
子及び二次側接触端子をそれぞれ挿入可能なプラグ挿入
口を持ったプラグ収納ケースの内部には、該ケース内に
挿入されたPTテストプラグの各接触端子に電気的に接
続可能な複数の一次側接点及び二次側接点と、それら一
次側接点と二次側接点とを相間をずらせ抵抗を介して接
続してPTテストプラグの一次側接触端子と二次側接触
端子間の短絡の有無及び一次側と二次側接触端子それぞ
れの隣接する端子間の短絡の有無を検出して極間及び相
間の非導通の良否を確認することが可能な検査回路とが
設けられているとともに、プラグ収納ケースの外部に
は、上記検査回路に介在されて上記非導通状態の良否の
検査結果を表示する手段と、検査回路の動作をオン・オ
フする操作スイッチとが設けられていることを特徴とす
るものである。
Further, the PT test plug testing apparatus according to the present invention provides a PT test plug test apparatus in which a plurality of primary contact terminals and secondary contact terminals of a PT test plug are inserted into a plug storage case having a plug insertion opening. A plurality of primary contacts and secondary contacts that can be electrically connected to the respective contact terminals of the PT test plug inserted into the case, and the primary contact and the secondary contact are shifted in phase to reduce resistance. To detect the presence or absence of a short circuit between the primary contact terminal and the secondary contact terminal of the PT test plug, and the presence or absence of a short circuit between the adjacent terminals of the primary and secondary contact terminals. An inspection circuit capable of checking the quality of non-conduction between the phases is provided, and the inspection result of the non-conduction state is displayed outside the plug storage case through the inspection circuit. It is characterized in that the stage, and an operation switch for turning on and off the operation of the inspection circuit is provided.

【0012】上記構成の本発明によれば、試験装置のプ
ラグ収納ケース内にPTテストプラグを挿入した後、操
作スイッチをオンにするといったワンタッチ操作を行な
うだけで、PTテストプラグの一次側接触端子と二次側
接触端子間の短絡の有無及び一次側と二次側接触端子そ
れぞれの隣接する端子間の短絡の有無を検出して極間及
び相間の非導通の良否を確認する検査を実行し、その検
査結果を外部表示することが可能であり、検査回数の著
しい低減及び所要時間の著しい削減が図れるとともに、
検査作業そのものが非常に単純かつ容易であって経験の
差による精度レベル差が全くなく、誰が検査しても精度
及び信頼性の高い検査が行なえる。
According to the present invention having the above-described structure, after the PT test plug is inserted into the plug storage case of the test apparatus, the one-touch operation such as turning on the operation switch is performed, and the primary contact terminal of the PT test plug is operated. A check is performed to detect the presence or absence of a short circuit between the terminal and the secondary contact terminal and the presence or absence of a short circuit between the adjacent terminals of the primary and secondary contact terminals, and to confirm the quality of non-conductivity between the poles and phases. , The inspection results can be displayed externally, and the number of inspections and the required time can be significantly reduced.
The inspection work itself is very simple and easy, there is no difference in accuracy level due to differences in experience, and anyone can perform an inspection with high accuracy and reliability.

【0013】上記CTテストプラグ試験装置及びPTテ
ストプラグ試験装置において、その検査結果表示手段と
して、抵抗値計測用テスターまたは設定値と検出値とを
比較し両者の差が許容範囲であるか否かを判定しその判
定結果を点灯あるいはブザー等で表示する手段のいずれ
を採用してもよいが、特に後者の手段によれば、テスタ
ーの指針の読取りミスによる誤判定がなく、検査精度の
面でより有効である。
In the above-mentioned CT test plug test apparatus and PT test plug test apparatus, a tester for measuring a resistance value or a set value is compared with a detected value as an inspection result display means, and whether or not the difference between the two is within an allowable range is determined. May be adopted, and any of means for displaying the result of the judgment by lighting or a buzzer may be employed.In particular, according to the latter means, there is no erroneous judgment due to a reading error of the pointer of the tester, and in terms of inspection accuracy. More effective.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
にもとづいて説明する。図1は本発明に係るCTテスト
プラグ試験装置の実施例1である4点式CTテストプラ
グ試験装置20Aの外観図、図2は(a)がその内部回
路図、(b)が検査品である4点式CTテストプラグ1
0Aの側面図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is an external view of a four-point CT test plug test apparatus 20A which is a first embodiment of a CT test plug test apparatus according to the present invention. FIG. 2A is an internal circuit diagram, and FIG. Certain 4-point CT test plug 1
It is a side view of OA.

【0015】図1において、21はプラグ収納ケースで
あり、このプラグ収納ケース21の側面には、図8〜図
10で示したような4点式CTテストプラグ10Aにお
ける一次側接触端子A〜O及び二次側接触端子a〜oを
挿入可能なプラグ挿入口22が形成されているととも
に、その内部には、図2に示すように、該ケース21内
に挿入された4点式CTテストプラグ10Aの各接触端
子A〜O、a〜oに電気的に接続可能な一次側接点A1
〜O1及び二次側接点a1〜o1と、これら一次側接点
A1〜O1と二次側接点a1〜o1とを接続する検査回
路23が設けられている。
In FIG. 1, reference numeral 21 denotes a plug storage case, and primary contact terminals A to O of a four-point CT test plug 10A as shown in FIGS. A plug insertion port 22 into which secondary contact terminals a to o can be inserted, and a four-point CT test plug inserted into the case 21 as shown in FIG. Primary contact A1 that can be electrically connected to each of the contact terminals A to O and a to o of 10A
To O1 and secondary contacts a1 to o1, and an inspection circuit 23 for connecting the primary contacts A1 to O1 and the secondary contacts a1 to o1.

【0016】上記検査回路23には、一次側接触端子A
〜Oと二次側接触端子a〜o間(極間)の短絡の有無を
検出して非導通を確認する第1検査状態と接続片13を
介して導通接続されている一次側接触端子A〜O相互間
(相間)の接触抵抗値を検出して導通状態の良否を確認
する第2検査状態とテストプラグ10Aの内部配線の断
線の有無を確認する第3検査状態とに順次切替可能な4
接点を持つ検査状態切替用スイッチSW1と、上記非導
通、導通状態の良否及び断線の有無等を接触抵抗値とし
て測定する抵抗値測定用テスター24と、上記検査回路
23の動作をオン・オフする操作スイッチPSWとが介
在されている。
The inspection circuit 23 includes a primary contact terminal A
A first inspection state in which non-conduction is confirmed by detecting the presence / absence of a short circuit between 接触 O and the secondary contact terminals a to o (between poles) and a primary contact terminal A that is conductively connected via the connection piece 13. It is possible to sequentially switch between a second inspection state in which the state of conduction is confirmed by detecting a contact resistance value between OO (interphase) and a third inspection state in which the presence or absence of disconnection of the internal wiring of the test plug 10A is confirmed. 4
An inspection state changeover switch SW1 having a contact point, a resistance value measurement tester 24 for measuring the non-conductivity, the quality of the conduction state, the presence / absence of disconnection, and the like as a contact resistance value, and the operation of the inspection circuit 23 on / off. An operation switch PSW is interposed.

【0017】また、上記プラグ収納ケース21の外部
(上面部)には、上記検査状態切替用スイッチSW1の
スナップ操作片25と操作スイッチPSWの押しボタン
式操作部26と上記抵抗値測定用テスター24による抵
抗検出値と予め設定されている抵抗設定値とを比較して
両値の差が許容範囲であるか否かを判定して点灯状態が
切り換わるシグナルランプ27が設けられている。
On the outside (upper surface) of the plug storage case 21, a snap operation piece 25 of the inspection state changeover switch SW1, a push button type operation part 26 of the operation switch PSW, and the resistance value measurement tester 24 are provided. A signal lamp 27 is provided, which compares a resistance detection value obtained from the above with a preset resistance setting value to determine whether the difference between the two values is within an allowable range and switches the lighting state.

【0018】次に、上記のように構成された4点式CT
テストプラグ試験装置20Aによる試験(検査)要領に
ついて説明する。検査品である4点式CTテストプラグ
10Aをプラグ挿入口22を通してプラグ収納ケース2
1内に差し込み収納し、次の順序で所定の検査を行な
う。 (1)検査状態切替用スイッチSW1が接点SW1−1
の位置にある状態で操作スイッチPSWをオンにするこ
とで、テスター24が0Ωにあることを確認する。 (2)この接点SW1−1の位置でテスター24を介し
て抵抗値を測定することにより、一次側接触端子A〜O
と二次側接触端子a〜o間(極間)の短絡の有無を検出
して非導通を確認する。この非導通はシグナルランプ2
7の点灯状態によって確認する。 (3)次に、検査状態切替用スイッチSW1を接点SW
1−2の位置に切り替えてテスター24を介して接触抵
抗値を測定することにより、接続片13を介して導通接
続されている一次側接触端子A〜O相互間(相間)の導
通状態の良否及び取出用端子14A〜14Oによる接続
片13の締め付け不具合の有無を確認する。この確認も
シグナルランプ27の点灯と非点灯で一見して判定でき
る。 (4)さらに、検査状態切替用スイッチSW1を接点S
W1−3またはSW1−4の位置に切り替えてテスター
24を介して抵抗値を測定することにより、図3に示す
ように、CTテストプラグ10Aにおける各接触端子A
〜O、a〜oとそれらに対応する取出用端子14A〜1
4O、14a〜14o間の内部接続線28A,28aの
断線(×印)の有無を確認する。
Next, the four-point CT constructed as described above is used.
A test (inspection) procedure by the test plug test device 20A will be described. The four-point CT test plug 10A, which is an inspection product, is inserted into the plug storage case 2 through the plug insertion port 22.
1 and stored therein, and a predetermined inspection is performed in the following order. (1) The inspection state switch SW1 is a contact SW1-1.
By turning on the operation switch PSW in the state of, it is confirmed that the tester 24 is at 0Ω. (2) By measuring the resistance value at the position of the contact SW1-1 via the tester 24, the primary contact terminals A to O are measured.
The non-conduction is confirmed by detecting the presence or absence of a short circuit between the secondary contact terminals a to o (between poles). This non-conduction is caused by signal lamp 2
Confirm by the lighting state of 7. (3) Next, the inspection state switch SW1 is set to the contact SW.
By switching the position to the position 1-2 and measuring the contact resistance value via the tester 24, the quality of the conduction state between the primary contact terminals A to O (interphase) conductively connected via the connection piece 13 is determined. Also, it is confirmed whether or not there is a fastening failure of the connection piece 13 by the extraction terminals 14A to 140. This confirmation can also be determined at a glance by turning on and off the signal lamp 27. (4) Further, the inspection state changeover switch SW1 is set to the contact S
By switching to the position of W1-3 or SW1-4 and measuring the resistance value via the tester 24, as shown in FIG. 3, each contact terminal A in the CT test plug 10A
To O, a to o, and corresponding extraction terminals 14A to 14A
The presence or absence of disconnection (x mark) of the internal connection lines 28A and 28a between 4O and 14a to 14o is checked.

【0019】図4は本発明に係るCTテストプラグ試験
装置の実施例2である4点式零相用CTテストプラグ試
験装置20Bを示し、同図の(a)はその内部回路図、
(b)は4点式零相用CTテストプラグ10Bの側面図
である。なお、この4点式零相用CTテストプラグ試験
装置20Bは、実施例1の図1に示した4点式CTテス
トプラグ試験装置20Aの外観とほぼ同一であるため、
その外観図の記載は省略する。
FIG. 4 shows a four-point zero-phase CT test plug test apparatus 20B which is a second embodiment of the CT test plug test apparatus according to the present invention, and FIG.
(B) is a side view of the four-point zero-phase CT test plug 10B. Note that the four-point zero-phase CT test plug test device 20B is almost the same as the appearance of the four-point CT test plug test device 20A shown in FIG.
The description of the external view is omitted.

【0020】実施例2の4点式零相用CTテストプラグ
試験装置20Bによる検査品である4点式零相用CTテ
ストプラグ10Bは、図4の(b)のように、一次側接
触端子A〜Oのうち、A−B及びC−Oを接続片13
A,13Bを介して導通接続し、B−C間は非導通にし
ているものである。
The four-point zero-phase CT test plug 10B, which is an inspection product of the four-point zero-phase zero-phase CT test plug test apparatus 20B of the second embodiment, has a primary contact terminal as shown in FIG. Of A to O, AB and CO are connected to connection pieces 13.
Conduction connection is made through A and 13B, and non-conduction is established between B and C.

【0021】一方、4点式零相用CTテストプラグ試験
装置20Bは、その検査回路23に、一次側接触端子A
〜Oと二次側接触端子a〜o間(極間)の短絡の有無を
検出して非導通を確認する第1検査状態と一次側接触端
子B−C間(相間)の短絡の有無を検出して非導通を確
認する第2検査状態と接続片13A,13Bを介して導
通接続されている一次側接触端子A−B、C−O相互間
(相間)の接触抵抗値を検出して導通状態の良否及び取
出用端子14A−14B、14C−14Oによる接続片
13A,13Bの締め付け不具合の有無を確認する第3
検査状態とに順次切替可能な2接点式の検査状態切替用
スイッチSW1及びオン・オフ式のスイッチSW2と、
上記非導通、導通状態の良否及び断線の有無等を接触抵
抗値として測定する抵抗値測定用テスター24と、上記
検査回路23の動作をオン・オフする操作スイッチPS
Wとを介在して構成されている。
On the other hand, the four-point zero-phase CT test plug test apparatus 20B includes a primary side contact terminal A
The first inspection state in which non-conductivity is confirmed by detecting the presence or absence of a short circuit between O to O and the secondary contact terminals a to o (between poles) and the presence or absence of a short circuit between the primary contact terminals B and C (between phases). A second inspection state for detecting non-conduction and detecting a contact resistance value between the primary contact terminals AB and CO (interphase) electrically connected via the connection pieces 13A and 13B. A third check is made to determine whether the conduction state is good or not, and whether there is any failure in fastening the connection pieces 13A and 13B by the extraction terminals 14A to 14B and 14C to 140.
A two-contact inspection state switch SW1 and an on / off switch SW2 that can be sequentially switched to an inspection state;
A resistance value measurement tester 24 for measuring the non-conductivity, the state of conduction, the presence or absence of disconnection, and the like as a contact resistance value, and an operation switch PS for turning on and off the operation of the inspection circuit 23.
W is interposed.

【0022】次に、上記のように構成された4点式零相
用CTテストプラグ試験装置20Aによる試験(検査)
要領について説明する。検査品である4点式零相用CT
用テストプラグ10Bをプラグ挿入口22を通してプラ
グ収納ケース21内に差し込み収納し、次の順序で所定
の検査を行なう。 (1)検査状態切替用スイッチSW1が接点SW1−1
の位置にある状態で操作スイッチPSWをオンにするこ
とで、テスター24が0Ωにあることを確認する。 (2)次いで、スイッチSW2をオンにし、切替用スイ
ッチSW1が接点SW1−1の位置にある状態でテスタ
ー24を介して抵抗値を測定することにより、一次側接
触端子A〜Oと二次側接触端子a〜o間(極間)の短絡
の有無を検出して非導通を確認する。この非導通はシグ
ナルランプ27の点灯状態によって確認する。 (3)次に、スイッチSW2をオフにし、切替用スイッ
チSW1を接点SW1−2の位置に切り替えてテスター
24を介して抵抗値を測定することにより、一次側接触
端子B−C間(相間)の短絡の有無を検出して非導通を
確認する。この非導通はシグナルランプ27の点灯状態
によって確認する。 (4)さらに、切替用スイッチSW1を接点SW−2の
位置にしたままで、スイッチSW2をオンにすることに
より、接続片13A,13Bを介して導通接続されてい
る一次側接触端子A−B間、C−O間(相間)の導通状
態の良否を確認するとともに、取出用端子14A−14
B、14C−14Oによる接続片13A,13Bの締め
付け不具合の有無を確認する。この確認もシグナルラン
プ27の点灯状態によって一見して判定できる。
Next, a test (inspection) by the 4-point type zero-phase CT test plug test apparatus 20A configured as described above.
The procedure will be described. 4-point zero-phase CT for inspection
The test plug 10B is inserted and stored in the plug storage case 21 through the plug insertion port 22, and a predetermined inspection is performed in the following order. (1) The inspection state switch SW1 is a contact SW1-1.
By turning on the operation switch PSW in the state of, it is confirmed that the tester 24 is at 0Ω. (2) Next, the switch SW2 is turned on, and the resistance value is measured via the tester 24 in a state where the changeover switch SW1 is at the position of the contact point SW1-1, so that the primary side contact terminals A to O and the secondary side are measured. The non-conduction is confirmed by detecting the presence or absence of a short circuit between the contact terminals a to o (between poles). This non-conduction is confirmed by the lighting state of the signal lamp 27. (3) Next, the switch SW2 is turned off, the switch SW1 is switched to the position of the contact SW1-2, and the resistance value is measured via the tester 24, so that the primary contact terminals BC are connected (interphase). The presence or absence of a short circuit is detected to confirm non-conduction. This non-conduction is confirmed by the lighting state of the signal lamp 27. (4) Further, by turning on the switch SW2 while keeping the changeover switch SW1 at the position of the contact point SW-2, the primary contact terminals AB which are conductively connected via the connection pieces 13A and 13B. Between the terminals C and CO (between the phases) and the extraction terminals 14A-14
B, Check whether there is any fastening failure of the connection pieces 13A, 13B by 14C-14O. This confirmation can also be determined at a glance by the lighting state of the signal lamp 27.

【0023】図5は本発明に係るCTテストプラグ試験
装置の実施例3である8点式CTテストプラグ試験装置
20Cを示し、同図の(a)は内部回路図、(b)は8
点式CTテストプラグ10Cの側面図である。なお、こ
の8点式CTテストプラグ試験装置2CBは、実施例1
の図1に示した4点式CTテストプラグ試験装置20A
の外観とほぼ同一であるため、その外観図の記載は省略
する。
FIG. 5 shows an eight-point CT test plug test apparatus 20C which is a third embodiment of the CT test plug test apparatus according to the present invention. FIG. 5 (a) is an internal circuit diagram, and FIG.
It is a side view of 10C of point type CT test plugs. Note that this 8-point CT test plug test apparatus 2CB is used in the first embodiment.
4-A CT test plug test apparatus 20A shown in FIG.
Since the appearance is almost the same, the description of the appearance is omitted.

【0024】実施例3の8点式CTテストプラグ試験装
置20Cによる検査品である8点式CTテストプラグ1
0Cは、図5の(b)のように、一次側接触端子A,A
´〜O,O´のうち、A−A´、B−B´、C−C´及
びO−O´をそれぞれ接続片13A,13B,13C,
13Oを介して導通接続し、A´−B間、B´−C間、
C´−O間はそれぞれ非導通にしているものである。
An 8-point CT test plug 1 which is an inspection product by the 8-point CT test plug test apparatus 20C of the third embodiment.
0C is the primary contact terminal A, A as shown in FIG.
A to A ', BB', CC 'and OO' among the pieces 'A to O and O' are referred to as connecting pieces 13A, 13B, and 13C, respectively.
Conductively connected through 130, between A'-B, between B'-C,
The portions between C 'and O are non-conductive.

【0025】一方、8点式CTテストプラグ試験装置2
OCは、プラグ挿入ケース21の内部に8点式CTテス
トプラグ10Cを該ケース21に挿入した時、その一次
側接触端子A,A´〜O,O´及び二次側接触端子a,
a´〜o,o´にそれぞれ電気的に接続可能な一次側接
点A1,A1´〜O1,O1´及び二次側接点a1,a
1´〜o1,o1´と、これら一次側接点A1,A1´
〜O1,O1´と二次側接点a1,a1´〜o1,o1
´とを接続する検査回路23が設けられている。
On the other hand, an 8-point CT test plug test apparatus 2
When the OC test plug 10C is inserted into the plug insertion case 21, the OC contacts the primary contact terminals A, A ′ to O, O ′ and the secondary contact terminals a,
Primary contacts A1, A1 'to O1, O1' and secondary contacts a1, a which can be electrically connected to a 'to o, o', respectively.
1'-o1, o1 'and these primary side contacts A1, A1'
To O1, O1 'and secondary side contacts a1, a1' to o1, o1
And an inspection circuit 23 is provided for connection with the '.

【0026】この検査回路23に、一次側接触端子A,
A´〜O,O´と二次側接触端子a,a´〜o,o´間
(極間)の短絡の有無を検出して非導通を確認する第1
検査状態と一次側接触端子A´−B、B´−C、C´−
O間(相間)の短絡の有無を抵抗Rとの比較により検出
して非導通を確認する第2検査状態と接続片13A,1
3B,13Cを介して導通接続されている一次側接触端
子A−A´、B−B´、C−C´、O−O´相互間(相
間)の接触抵抗値を検出して導通状態の良否及び取出用
端子14A−14A´、14B−14−B´、14C−
14C´、14O−14O´による接続片13A,13
B,13Cの締め付け不具合の有無を確認する第3検査
状態とに順次切替可能な2接点式の検査状態切替用スイ
ッチSW1及び互いに連動する3つのオン・オフ式のス
イッチSW2と、上記非導通、導通状態の良否及び断線
の有無等を接触抵抗値として測定する抵抗値測定用テス
ター24と、上記検査回路23の動作をオン・オフする
操作スイッチPSWとを介在している。
The inspection circuit 23 includes primary contact terminals A,
A first method for detecting non-conduction by detecting the presence or absence of a short circuit between A 'to O, O' and the secondary contact terminals a, a 'to o, o' (between poles).
Inspection state and primary side contact terminals A'-B, B'-C, C'-
A second inspection state in which the presence / absence of a short circuit between O (between phases) is detected by comparing with the resistance R to confirm non-conduction, and the connection pieces 13A,
The contact state between the primary-side contact terminals AA ′, BB ′, CC ′, and OO ′ (between phases) that are conductively connected via 3B and 13C is detected, and the conductive state is established. Pass / fail terminals 14A-14A ', 14B-14-B', 14C-
Connection pieces 13A, 13 by 14C ', 14O-14O'
A two-contact type inspection state changeover switch SW1 which can be sequentially switched to a third inspection state for confirming whether or not there is a tightening failure of B and 13C, and three on / off type switches SW2 interlocked with each other; A resistance value measuring tester 24 for measuring the quality of the conduction state and the presence / absence of disconnection as a contact resistance value, and an operation switch PSW for turning on / off the operation of the inspection circuit 23 are provided.

【0027】次に、上記のように構成された8点式CT
テストプラグ試験装置20Cによる試験(検査)要領に
ついて説明する。検査品である8点式CTテストプラグ
10Cをプラグ挿入口22を通してプラグ収納ケース2
1内に差し込み収納し、次の順序で所定の検査を行な
う。 (1)検査状態切替用スイッチSW1が接点SW1−1
の位置にある状態で操作スイッチPSWをオンにするこ
とで、テスター24が0Ωにあることを確認する。 (2)次いで、3つのスイッチSW2をオンにし、切替
用スイッチSW1が接点SW1−1の位置にある状態で
テスター24を介して抵抗値を測定することにより、一
次側接触端子A,A´〜O,O´と二次側接触端子a,
a´〜o,o´間(極間)の短絡の有無を検出して非導
通を確認する。この非導通はシグナルランプ27の点灯
状態によって確認する。 (3)次に、3つのスイッチSW2をオフにし、切替用
スイッチSW1を接点SW1−2の位置に切り替えてテ
スター24を介して抵抗値を測定することにより、その
測定値が3RΩであることか否かで一次側接触端子A´
−B、B´−C、C´−O間(相間)の短絡の有無を検
出して非導通を確認する。この非導通はシグナルランプ
27の点灯状態によって確認する。 (4)さらに、切替用スイッチSW1を接点SW−2の
位置にしたままで、スイッチSW2をオンにすることに
より、接続片13A,13B,13Cを介して導通接続
されている一次側接触端子A−A´、B−B´、C−C
´、O−O´間(相間)の導通状態の良否を確認すると
ともに、取出用端子14A〜14A´、14B〜14B
´、14C−14C´、14O−14O´による接続片
13A,13B,13Cの締め付け不具合の有無を確認
する。この確認もシグナルランプ27の点灯状態によっ
て一見して判定できる。
Next, the 8-point CT constructed as described above is used.
A test (inspection) procedure by the test plug test device 20C will be described. Insert the 8-point CT test plug 10C, which is the inspection product, through the plug insertion port 22 into the plug storage case 2.
1 and stored therein, and a predetermined inspection is performed in the following order. (1) The inspection state switch SW1 is a contact SW1-1.
By turning on the operation switch PSW in the state of, it is confirmed that the tester 24 is at 0Ω. (2) Next, the three switches SW2 are turned on, and the resistance value is measured via the tester 24 in a state where the changeover switch SW1 is at the position of the contact point SW1-1. O, O 'and the secondary contact terminals a,
The non-conduction is confirmed by detecting the presence / absence of a short circuit between a 'to o, o' (between poles). This non-conduction is confirmed by the lighting state of the signal lamp 27. (3) Next, the three switches SW2 are turned off, the changeover switch SW1 is switched to the position of the contact SW1-2, and the resistance is measured via the tester 24 to determine whether the measured value is 3RΩ. Whether the primary side contact terminal A '
Non-conduction is confirmed by detecting the presence or absence of a short circuit between -B, B'-C, and C'-O (between phases). This non-conduction is confirmed by the lighting state of the signal lamp 27. (4) Further, by turning on the switch SW2 while keeping the switch SW1 at the position of the contact SW-2, the primary contact terminal A which is conductively connected via the connection pieces 13A, 13B, 13C. -A ', BB', CC
, And the quality of the conduction state between OO '(between phases) is checked, and the extraction terminals 14A to 14A', 14B to 14B
', 14C-14C', and 14O-14O 'to confirm the presence or absence of a fastening failure of the connection pieces 13A, 13B, 13C. This confirmation can also be determined at a glance by the lighting state of the signal lamp 27.

【0028】図6は本発明に係るPTテストプラグ試験
装置の実施例である4点式PTテストプラグ試験装置2
0Dの外観図、図7は(a)が内部回路図、(b)が検
査品である4点式PTテストプラグ10Dの側面図であ
る。
FIG. 6 shows a four-point PT test plug test apparatus 2 which is an embodiment of a PT test plug test apparatus according to the present invention.
FIG. 7A is an internal circuit diagram, and FIG. 7B is a side view of a four-point PT test plug 10D which is an inspection product.

【0029】図6において、31はプラグ収納ケースで
あり、このプラグ収納ケース31の側面には、4点式P
Tテストプラグ10Dにおける一次側接触端子A〜O及
び二次側接触端子a〜oを挿入可能なプラグ挿入口32
が形成されているとともに、その内部には、図7の
(a)に示すように、該ケース31内に挿入された4点
式PTテストプラグ10Dの各接触端子A〜O、a〜o
に電気的に接続可能な一次側接点A1〜O1及び二次側
接点a1〜o1と、これら一次側接点A1〜O1と二次
側接点a1〜o1とを接続する検査回路33が設けられ
ている。
In FIG. 6, reference numeral 31 denotes a plug storage case, and a four-point P
A plug insertion port 32 into which the primary contact terminals A to O and the secondary contact terminals a to o of the T test plug 10D can be inserted.
As shown in FIG. 7A, contact terminals A to O and a to o of the four-point PT test plug 10D inserted into the case 31 are formed inside the case.
And a test circuit 33 for connecting the primary contacts A1 to O1 and the secondary contacts a1 to o1 which are electrically connectable to the primary contacts A1 to O1 and the secondary contacts a1 to o1. .

【0030】この実施例の4点式PTテストプラグ試験
装置20Dによる検査品である4点式PTテストプラグ
10Dは、図7の(b)のように、一次側接触端子A〜
O及び二次側接触端子a〜oの極間及び相間の全てが非
導通に構成されているものである。
As shown in FIG. 7B, the four-point PT test plug 10D, which is an inspection product of the four-point PT test plug test apparatus 20D of this embodiment, has primary contact terminals A to
O and between the poles and phases of the secondary contact terminals a to o are all non-conductive.

【0031】上記検査回路33には、図7の(a)に示
すように、一次側接点A1〜O1及び二次側接点a1〜
o1を相間をずらせて接続する6つの抵抗Rと、二次側
接点a1−o1間を接続する1つの抵抗Rが介在され、
これによって、4点式PT用テストプラグ10Dの一次
側接触端子A〜Oと二次側接触端子a〜o間の短絡の有
無及び一次側と二次側それぞれにおいて隣接する各端子
A−B,B−C,C−O、a−b,b−c,c−o間の
短絡の有無を検出して極間及び各相間の非導通の良否を
確認にすることが可能になされているとともに、それら
非導通状態の良否を抵抗値として測定する抵抗値測定用
テスター34と、上記検査回路33の動作をオン・オフ
する操作スイッチPSWとが介在されている。
As shown in FIG. 7A, the inspection circuit 33 has primary contacts A1 to O1 and secondary contacts a1 to A1.
Six resistors R that connect o1 with their phases shifted from each other, and one resistor R that connects between the secondary contacts a1 and o1 are interposed.
Thus, the presence or absence of a short circuit between the primary contact terminals A to O and the secondary contact terminals a to o of the four-point PT test plug 10D, and the terminals AB and B adjacent to each other on the primary and secondary sides, It is possible to detect the presence or absence of a short circuit between BC, CO, ab, bc, and co to confirm the quality of non-conductivity between the electrodes and between the phases. A resistance measurement tester 34 for measuring the quality of the non-conduction state as a resistance value, and an operation switch PSW for turning on and off the operation of the inspection circuit 33 are interposed.

【0032】また、上記プラグ収納ケース31の外部
(上面部)には、上記操作スイッチPSWの押しボタン
式操作部36と上記抵抗値測定用テスター34による測
定抵抗値と予め設定されている設定抵抗値とを比較して
両値の差が許容範囲であるか否かを判定して点灯状態が
切り換わるシグナルランプ37が設けられている。
On the outside (upper surface) of the plug storage case 31, a resistance value measured by a push-button type operation part 36 of the operation switch PSW and a resistance value measured by the resistance value measuring tester 34 and a preset resistance value are set. A signal lamp 37 is provided which compares the values with each other to determine whether the difference between the two values is within an allowable range and switches the lighting state.

【0033】次に、上記のように構成された4点式PT
テストプラグ試験装置20Dによる試験(検査)要領に
ついて説明する。検査品である4点式PTテストプラグ
10Dをプラグ挿入口32を通してプラグ収納ケース3
1内に差し込み収納し、次の順序で所定の検査を行な
う。 (1)操作スイッチPSWをオンにすることで、テスタ
ー34が0Ωにあることを確認する。 (2)次いで、テスター34を介して抵抗値を測定する
ことにより、その測定抵抗値と予め設定されている設定
抵抗値とを比較して両値が7RΩであるか否かをによっ
て一次側接触端子A〜Oと二次側接触端子a〜o間の短
絡の有無及び一次側と二次側それぞれにおいて隣接する
各端子A−B,B−C,C−O、a−b,b−c,c−
o間の短絡の有無を検出して極間及び各相間の非導通の
良否を確認にする。この非導通はシグナルランプ37の
点灯状態によって確認することができる。
Next, the four-point PT constructed as described above is used.
A test (inspection) procedure by the test plug test device 20D will be described. A four-point PT test plug 10D, which is an inspection product, is inserted into the plug storage case 3 through the plug insertion port 32.
1 and stored therein, and a predetermined inspection is performed in the following order. (1) By turning on the operation switch PSW, it is confirmed that the tester 34 is at 0Ω. (2) Next, by measuring the resistance value through the tester 34, the measured resistance value is compared with a preset resistance value, and it is determined whether both values are 7RΩ or not. The presence or absence of a short circuit between the terminals A to O and the secondary contact terminals a to o, and the adjacent terminals AB, BC, CO, ab, and bc on the primary side and the secondary side, respectively. , C-
The presence / absence of a short circuit between o and o is checked to determine the quality of non-conductivity between the electrodes and between the phases. This non-conduction can be confirmed by the lighting state of the signal lamp 37.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、CTテ
ストプラグの検査にあたっては、プラグ収納ケース内へ
のCTテストプラグの挿入とスイッチ切替操作といった
単純な操作を行なうだけで、CTテストプラグにおける
一次側接触端子と二次側接触端子間の非導通確認及び一
次側接触端子のうち予め互いに接続されている接触端子
相互間の導通状態良否の確認という所定の検査を実行
し、その検査結果を外部表示することができ、また、P
Tテストプラグの検査にあたっては、プラグ収納ケース
内へのPTテストプラグの挿入と操作スイッチのオン操
作といったワンタッチ操作を行なうだけで、PTテスト
プラグの一次側接触端子と二次側接触端子間(極間)及
び一次側と二次側接触端子それぞれの隣接する端子間
(相間)の非導通の確認という所定の検査を実行し、そ
の検査結果を外部表示することができるので、CT、P
Tいずれのテストプラグにおいても、検査回数の著しい
低減及び所要時間の著しい削減を図ることができるとと
もに、検査作業そのものが非常に単純かつ容易で経験の
差による精度レベルの差が全くなく、誰が検査しても非
常に高精度な検査を行なうことができ、検査に対する信
頼性を著しく向上することができるという効果を奏す
る。
As described above, according to the present invention, when inspecting a CT test plug, a simple operation such as insertion of a CT test plug into a plug storage case and switching operation is performed. A predetermined test is performed to check the non-conduction between the primary contact terminal and the secondary contact terminal of the plug and to confirm the continuity between the contact terminals of the primary contact terminals that are connected to each other in advance. The result can be displayed externally, and P
To test the T test plug, simply perform a one-touch operation, such as inserting the PT test plug into the plug storage case and turning on the operation switch, and then between the primary contact terminal and the secondary contact terminal of the PT test plug. ) And the non-conductivity between adjacent terminals (phases) of the primary and secondary contact terminals, and the inspection results can be externally displayed.
In each test plug, the number of inspections and the required time can be significantly reduced, and the inspection operation itself is very simple and easy, and there is no difference in accuracy level due to differences in experience. However, an extremely high-precision inspection can be performed, and the reliability of the inspection can be significantly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るCTテストプラグ試験装置の実施
例1である4点式CTテストプラグ試験装置の外観概略
斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view showing the appearance of a four-point CT test plug test apparatus that is Embodiment 1 of a CT test plug test apparatus according to the present invention.

【図2】同上試験装置における(a)内部回路図、
(b)検査品である4点式CTテストプラグの側面図で
ある。
FIG. 2 (a) is an internal circuit diagram of the above test apparatus,
(B) It is a side view of the four-point type CT test plug which is an inspection product.

【図3】同上試験装置による検査動作時における断線有
無の確認状況の説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a state of confirmation of presence / absence of disconnection at the time of an inspection operation by the test apparatus.

【図4】本発明に係るCTテストプラグ試験装置の実施
例2である4点式零相用CTテストプラグ試験装置にお
ける(a)内部回路図、(b)検査品である4点式零相
用CTテストプラグの側面図である。
FIG. 4A is an internal circuit diagram of a four-point zero-phase CT test plug test apparatus according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 4B is a four-point zero-phase test article. FIG. 2 is a side view of a CT test plug for use.

【図5】本発明に係るCTテストプラグ試験装置の実施
例3である8点式CTテストプラグ試験装置における
(a)内部回路図、(b)検査品である8点式CTテス
トプラグの側面図である。
5A is an internal circuit diagram of an 8-point CT test plug test apparatus according to a third embodiment of the present invention, and FIG. 5B is a side view of an 8-point CT test plug as an inspection product. FIG.

【図6】本発明に係るPTテストプラグ試験装置の実施
例である4点式PTテストプラグ試験装置の外観概略斜
視図である。
FIG. 6 is a schematic perspective view of the appearance of a four-point PT test plug test device which is an embodiment of the PT test plug test device according to the present invention.

【図7】同上試験装置の(a)内部回路図、(b)検査
品である4点式PTテストプラグの側面図である。
FIG. 7A is an internal circuit diagram of the same test apparatus, and FIG. 7B is a side view of a four-point PT test plug as an inspection product.

【図8】4点式CTテストプラグの正面図である。FIG. 8 is a front view of a four-point CT test plug.

【図9】同上4点式CTテストプラグの側面図である。FIG. 9 is a side view of the same four-point CT test plug.

【図10】同上4点式CTテストプラグの平面図であ
る。
FIG. 10 is a plan view of the same four-point CT test plug.

【図11】同上4点式CTテストプラグの使用状態の説
明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram of a usage state of the same four-point CT test plug.

【図12】同上4点式CTテストプラグに対する従来の
検査方法を説明する正面図である。
FIG. 12 is a front view for explaining a conventional inspection method for the four-point CT test plug.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10A,10B,10C,10D テストプラグ 20A,20B,20C,20D 試験装置 21,31 プラグ収納ケース 22,32 プラグ挿入口 23,33 検査回路 24,34 抵抗値測定用テスター A,A´〜O,O´ 一次側接触端子 a,a´〜o,o´ 二次側接触端子 A1,A1´〜O1,O1´ 一次側接点 a1,a1´〜o1,o1´ 二次側接点 SW1,SW2 検査状態切替用スイッチ PSW 操作スイッチ R 抵抗 10A, 10B, 10C, 10D Test plug 20A, 20B, 20C, 20D Test device 21, 31 Plug storage case 22, 32 Plug insertion port 23, 33 Inspection circuit 24, 34 Resistance value tester A, A 'to O, O 'Primary contact terminal a, a' to o, o 'Secondary contact terminal A1, A1' to O1, O1 'Primary contact a1, a1' to o1, o1 'Secondary contact SW1, SW2 Inspection state Changeover switch PSW Operation switch R Resistance

フロントページの続き (72)発明者 直田 昌義 大阪府大阪市北区中之島3丁目3番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 本岡 剛 大阪府大阪市北区中之島3丁目3番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 松本 純治 大阪府摂津市千里丘3丁目14番40号 東光 精機株式会社内 Fターム(参考) 5G042 FF02 Continuing from the front page (72) Inventor Masayoshi Naota 3-3-22 Nakanoshima, Kita-ku, Osaka-shi, Kansai Electric Power Co., Inc. (72) Inventor Tsuyoshi Motooka 3-2-22-2 Nakanoshima, Kita-ku, Osaka, Kansai (72) Inventor Junji Matsumoto 3-14-40 Senrioka, Settsu-shi, Osaka Toko Seiki Co., Ltd. F-term (reference) 5G042 FF02

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 保護継電器盤用CTテストプラグにおけ
る複数の一次側接触端子及び二次側接触端子をそれぞれ
挿入可能なプラグ挿入口を持ったプラグ収納ケースの内
部には、該ケース内に挿入されたCTテストプラグの各
接触端子に電気的に接続可能な複数の一次側接点及び二
次側接点と、それら一次側接点と二次側接点とを接続す
る検査回路とが設けられているとともに、 プラグ収納ケースの外部には、上記検査回路中に介在さ
れて少なくとも一次側接触端子と二次側接触端子間の短
絡の有無を検出して非導通を確認する第1検査状態と一
次側接触端子のうち予め互いに接続されている接触端子
相互間の接触抵抗値を検出して導通状態の良否を確認す
る第2検査状態とに切替可能な検査状態切替用スイッチ
と、上記非導通状態及び導通状態の良否の検査結果を表
示する手段と、検査回路の動作をオン・オフする操作ス
イッチとが設けられていることを特徴とする保護継電器
盤用CTテストプラグ試験装置。
1. A plug test case having a plug insertion hole into which a plurality of primary contact terminals and secondary contact terminals of a protective relay panel CT test plug can be inserted, is inserted into the case. A plurality of primary contacts and secondary contacts that can be electrically connected to the respective contact terminals of the CT test plug, and an inspection circuit that connects the primary contacts and the secondary contacts are provided. A first inspection state and a primary contact terminal are provided outside the plug storage case, wherein the primary inspection terminal is interposed in the inspection circuit to detect at least a short circuit between the primary contact terminal and the secondary contact terminal to confirm non-conduction. An inspection state changeover switch capable of switching to a second inspection state for detecting a contact resistance value between contact terminals connected to each other in advance to check whether the conduction state is good or not, and the non-conduction state and the conduction state Test results and means for displaying the operation of the on-off operating the switch and the CT test plug test device for protection relay board, characterized in that provided in the inspection circuit of the quality.
【請求項2】 上記の検査結果表示手段が、抵抗値計測
用テスターである請求項1に記載の保護継電器盤用CT
テストプラグ試験装置。
2. The CT for a protective relay panel according to claim 1, wherein said inspection result display means is a tester for measuring a resistance value.
Test plug test equipment.
【請求項3】 上記の検査結果表示手段が、設定値と検
出値とを比較し両値の差が許容範囲であるか否かを判定
してその判定結果を表示するものである請求項1に記載
の保護継電器盤用CTテストプラグ試験装置。
3. The inspection result display means according to claim 1, wherein the set value and the detected value are compared to determine whether a difference between the two values is within an allowable range, and the determination result is displayed. 4. A CT test plug test device for a protective relay panel according to claim 1.
【請求項4】 上記の検査状態切替用スイッチは、上記
第1検査状態及び第2検査状態の他に、一次側接触端子
のうち予め互いに非接続状態にある接触端子同士間の短
絡の有無を検出して非導通を確認する第3検査状態にも
切替え可能に構成されている請求項1,2または3に記
載の保護継電器盤用CTテストプラグ試験装置。
4. The switch for inspection state switching, in addition to the first inspection state and the second inspection state, determines whether there is a short circuit between the contact terminals of the primary-side contact terminals that are not connected to each other in advance. 4. The CT test plug test apparatus for a protective relay panel according to claim 1, wherein the apparatus is configured to be able to switch to a third inspection state for detecting and confirming non-conduction.
【請求項5】 保護継電器盤用PTテストプラグにおけ
る複数の一次側接触端子及び二次側接触端子をそれぞれ
挿入可能なプラグ挿入口を持ったプラグ収納ケースの内
部には、該ケース内に挿入されたPTテストプラグの各
接触端子に電気的に接続可能な複数の一次側接点及び二
次側接点と、それら一次側接点と二次側接点とを相間を
ずらせ抵抗を介して接続してPTテストプラグの一次側
接触端子と二次側接触端子間の短絡の有無及び一次側と
二次側接触端子それぞれの隣接する端子間の短絡の有無
を検出して極間及び相間の非導通の良否を確認すること
が可能な検査回路とが設けられているとともに、 プラグ収納ケースの外部には、上記検査回路に介在され
て上記非導通状態の良否の検査結果を表示する手段と、
検査回路の動作をオン・オフする操作スイッチとが設け
られていることを特徴とする保護継電器盤用PTテスト
プラグ試験装置。
5. A plug storage case having a plug insertion port into which a plurality of primary side contact terminals and secondary side contact terminals of a PT test plug for a protective relay panel can be inserted is inserted into the case. A plurality of primary contacts and secondary contacts that can be electrically connected to the respective contact terminals of the PT test plug, and the primary and secondary contacts are shifted in phase and connected via a resistor to perform a PT test. The presence or absence of a short circuit between the primary contact terminal and the secondary contact terminal of the plug and the presence or absence of a short circuit between adjacent terminals of the primary and secondary contact terminals are used to determine the quality of non-conductivity between the poles and phases. An inspection circuit that can be checked; and a means for displaying the inspection result of the non-conduction state via the inspection circuit outside the plug storage case;
An operation switch for turning on and off an inspection circuit is provided. A PT test plug test device for a protective relay panel.
【請求項6】 上記の検査結果表示手段が、抵抗値計測
用テスターである請求項5に記載の保護継電器盤用PT
テストプラグ試験装置。
6. The PT for a protective relay panel according to claim 5, wherein the inspection result display means is a tester for measuring a resistance value.
Test plug test equipment.
【請求項7】 上記の検査結果表示手段が、設定値と検
出値とを比較し両値の差が許容範囲であるか否かを判定
してその判定結果を表示するものである請求項5または
6に記載の保護継電器盤用PTテストプラグ試験装置。
7. The inspection result display means compares the set value and the detected value, determines whether the difference between the two values is within an allowable range, and displays the determination result. Or a PT test plug test apparatus for a protective relay panel according to 6.
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