JP2001230779A - Ａｔｍ通信装置 - Google Patents
Ａｔｍ通信装置Info
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- JP2001230779A JP2001230779A JP2000037061A JP2000037061A JP2001230779A JP 2001230779 A JP2001230779 A JP 2001230779A JP 2000037061 A JP2000037061 A JP 2000037061A JP 2000037061 A JP2000037061 A JP 2000037061A JP 2001230779 A JP2001230779 A JP 2001230779A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＡＴＭ通信装置において、テストセルおよび
トラフィックを生成して試験対象ポートに対する試験を
可能とする。 【解決手段】 データ端末ポートＰ１とＡＴＭ回線ポー
トＰ２とを有し前記データ端末ポートと前記ＡＴＭ回線
ポートとの間の搭載伝送路を介してセルを伝送するＡＴ
Ｍ通信装置１において、対象ポートの構成情報に基づい
てテストセルを生成するテストセル生成手段１４１と、
前記テストセルをデータ端末ポートまたはＡＴＭ回線ポ
ートを介して伝送路に送出する手段１２と、前記伝送路
から戻ってきたテストセルを受信し正常に戻ってきてい
るか判定する判定手段１４６とを設けた。
トラフィックを生成して試験対象ポートに対する試験を
可能とする。 【解決手段】 データ端末ポートＰ１とＡＴＭ回線ポー
トＰ２とを有し前記データ端末ポートと前記ＡＴＭ回線
ポートとの間の搭載伝送路を介してセルを伝送するＡＴ
Ｍ通信装置１において、対象ポートの構成情報に基づい
てテストセルを生成するテストセル生成手段１４１と、
前記テストセルをデータ端末ポートまたはＡＴＭ回線ポ
ートを介して伝送路に送出する手段１２と、前記伝送路
から戻ってきたテストセルを受信し正常に戻ってきてい
るか判定する判定手段１４６とを設けた。
Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】本発明は、公衆ＡＴＭ網およ
びＡＴＭ回線、または私設ＡＴＭ網およびＡＴＭ回線を
介してＡＴＭセルによりデータ通信を行うＡＴＭ通信装
置に関し、特に接続された伝送路または搭載伝送路のＡ
ＴＭ試験を行うことができるＡＴＭ通信装置に関する。
びＡＴＭ回線、または私設ＡＴＭ網およびＡＴＭ回線を
介してＡＴＭセルによりデータ通信を行うＡＴＭ通信装
置に関し、特に接続された伝送路または搭載伝送路のＡ
ＴＭ試験を行うことができるＡＴＭ通信装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＡＴＭ通信装置による導通試験は、ＣＣ
ＩＴＴ勧告にも述べられているＯＡＭ（Ｏｐｅｒａｔｉ
ｏｎ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ ａｎｄ Ｍａｉ
ｎｔｅｎａｎｃｅ）により行われる。ＯＡＭのループパ
ック機能を用いた方法は、測定点から任意の区間の試験
を行うことが可能であり、導通試験だけではなく故障区
間の特定にも用いることができる。また、ＯＡＭセルを
擬似的なユーザセルとして伝送路に送信する方法では、
受信セルのモニタにより導通試験が可能である。
ＩＴＴ勧告にも述べられているＯＡＭ（Ｏｐｅｒａｔｉ
ｏｎ Ａｄｍｉｎｉｓｔｒａｔｉｏｎ ａｎｄ Ｍａｉ
ｎｔｅｎａｎｃｅ）により行われる。ＯＡＭのループパ
ック機能を用いた方法は、測定点から任意の区間の試験
を行うことが可能であり、導通試験だけではなく故障区
間の特定にも用いることができる。また、ＯＡＭセルを
擬似的なユーザセルとして伝送路に送信する方法では、
受信セルのモニタにより導通試験が可能である。
【０００３】しかしながら、従来の技術では試験対象ポ
ートに対して正確にテストセルを生成し、正確なトラフ
ィックによって試験を行う試験方式は開示されていなか
った。
ートに対して正確にテストセルを生成し、正確なトラフ
ィックによって試験を行う試験方式は開示されていなか
った。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、テストセル
およびトラフィックを生成して試験対象ポートに対する
試験を可能とするＡＴＭ通信装置を提供するものであ
り、また受信セルをモニタすることにより試験対象ポー
トとの導通試験を可能とするものである。
およびトラフィックを生成して試験対象ポートに対する
試験を可能とするＡＴＭ通信装置を提供するものであ
り、また受信セルをモニタすることにより試験対象ポー
トとの導通試験を可能とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明によるＡＴＭ通信
装置は、データ端末ポートとＡＴＭ回線ポートとを有し
前記データ端末ポートと前記ＡＴＭ回線ポートとの間の
搭載伝送路を介してセルを伝送する装置であり、対象ポ
ートの構成情報に基づいてテストセルを生成するテスト
セル生成手段と、前記テストセルをデータ端末ポートま
たはＡＴＭ回線ポートを介して伝送路に送出する手段
と、前記伝送路から戻ってきたテストセルを受信し正常
に戻ってきているか判定する判定手段とを有している。
装置は、データ端末ポートとＡＴＭ回線ポートとを有し
前記データ端末ポートと前記ＡＴＭ回線ポートとの間の
搭載伝送路を介してセルを伝送する装置であり、対象ポ
ートの構成情報に基づいてテストセルを生成するテスト
セル生成手段と、前記テストセルをデータ端末ポートま
たはＡＴＭ回線ポートを介して伝送路に送出する手段
と、前記伝送路から戻ってきたテストセルを受信し正常
に戻ってきているか判定する判定手段とを有している。
【０００６】さらに、本発明のＡＴＭ通信装置は、対象
ポートの構成情報を格納した構成情報記憶手段を有して
いる。
ポートの構成情報を格納した構成情報記憶手段を有して
いる。
【０００７】また、本発明のＡＴＭ通信装置は、データ
端末ポートとＡＴＭ回線ポートとを有し前記データ端末
ポートと前記ＡＴＭ回線ポートとの間の搭載伝送路を介
してセルを伝送する装置であり、対象ポートの構成情報
に基づいてテストセルを生成するテストセル生成手段
と、前記テストセルを前記搭載伝送路に送出する手段
と、前記搭載伝送路から戻ってきたテストセルを受信し
正常に戻ってきているか判定する判定手段とを含み、前
記搭載伝送路のセルフ導通試験を行うセルフ導通試験機
能を有している。
端末ポートとＡＴＭ回線ポートとを有し前記データ端末
ポートと前記ＡＴＭ回線ポートとの間の搭載伝送路を介
してセルを伝送する装置であり、対象ポートの構成情報
に基づいてテストセルを生成するテストセル生成手段
と、前記テストセルを前記搭載伝送路に送出する手段
と、前記搭載伝送路から戻ってきたテストセルを受信し
正常に戻ってきているか判定する判定手段とを含み、前
記搭載伝送路のセルフ導通試験を行うセルフ導通試験機
能を有している。
【０００８】
【作用】本発明では、対象ポートの構成情報によりテス
トセルを生成し、その構成情報のスピード設定でテスト
セルを送出させることができる。また、受信セルをモニ
タしテストセル受信を確認することができ、導通試験が
可能である。
トセルを生成し、その構成情報のスピード設定でテスト
セルを送出させることができる。また、受信セルをモニ
タしテストセル受信を確認することができ、導通試験が
可能である。
【０００９】
【発明の実施の形態】図２を用いて、本発明の一実施形
態の適用が想定されるＡＴＭ通信ネットワークの構成を
説明する。
態の適用が想定されるＡＴＭ通信ネットワークの構成を
説明する。
【００１０】ＡＴＭ通信ネットワークは、データ端末装
置（ＤＴＥ）５Ａ−１〜５Ａ―４がＤＴＥケーブル５１
を介して接続されたＡＴＭ通信装置１Ａを、ＡＴＭ回線
３１、ＡＴＭ網３、ＡＴＭ回線３１を介して、それぞれ
データ端末装置（ＤＴＥ）５Ｂ−１〜５Ｂ−４が接続さ
れたＡＴＭ通信装置１Ｂ−１〜１Ｂ−４に接続されて構
成される。ここで、データ通信は、データ端末装置５Ａ
−１対データ端末装置５Ｂ−１，データ端末装置５Ａ−
２対データ端末装置５Ｂ−２，データ端末装置５Ａ−３
対データ端末装置５Ｂ−３，データ端末装置５Ａ−４対
データ端末装置５Ｂ−４にて行われるものとする。
置（ＤＴＥ）５Ａ−１〜５Ａ―４がＤＴＥケーブル５１
を介して接続されたＡＴＭ通信装置１Ａを、ＡＴＭ回線
３１、ＡＴＭ網３、ＡＴＭ回線３１を介して、それぞれ
データ端末装置（ＤＴＥ）５Ｂ−１〜５Ｂ−４が接続さ
れたＡＴＭ通信装置１Ｂ−１〜１Ｂ−４に接続されて構
成される。ここで、データ通信は、データ端末装置５Ａ
−１対データ端末装置５Ｂ−１，データ端末装置５Ａ−
２対データ端末装置５Ｂ−２，データ端末装置５Ａ−３
対データ端末装置５Ｂ−３，データ端末装置５Ａ−４対
データ端末装置５Ｂ−４にて行われるものとする。
【００１１】本発明にかかるＡＴＭ通信装置１の構成を
図面を参照して説明する。図１は、本発明によるＡＴＭ
通信装置の一実施例の構成を示すブロック図である。
図面を参照して説明する。図１は、本発明によるＡＴＭ
通信装置の一実施例の構成を示すブロック図である。
【００１２】図１において、ＡＴＭ通信装置１は、デー
タ端末（ＤＴＥ）制御部１１と、テスト用選択回路１２
と、ＡＴＭ制御部１３と、テスト回路１４と、テスト制
御部１５と、クロック生成（ＣＥ）回路１６と、構成情
報レジスタ１７とを有して構成されている。この例で
は、ＤＴＥ制御部１１とテスト用選択回路１２は、それ
ぞれ４組設けられている。
タ端末（ＤＴＥ）制御部１１と、テスト用選択回路１２
と、ＡＴＭ制御部１３と、テスト回路１４と、テスト制
御部１５と、クロック生成（ＣＥ）回路１６と、構成情
報レジスタ１７とを有して構成されている。この例で
は、ＤＴＥ制御部１１とテスト用選択回路１２は、それ
ぞれ４組設けられている。
【００１３】各ＤＴＥ制御部１１は、テスト用選択回路
１２とデータ端末ポートＰ１に接続されており、ＤＴＥ
の物理レイヤを制御する。データ端末ポートＰ１は、そ
れぞれ４台のＤＴＥと接続できるように４個のデータ端
末ポートＰ１−１〜Ｐ１−４から構成されている。
１２とデータ端末ポートＰ１に接続されており、ＤＴＥ
の物理レイヤを制御する。データ端末ポートＰ１は、そ
れぞれ４台のＤＴＥと接続できるように４個のデータ端
末ポートＰ１−１〜Ｐ１−４から構成されている。
【００１４】テスト用選択回路１２は、テストデータ送
出方向を設定するためのセレクタ１２１、１２２、１２
３が設けられ、常時はＤＴＥ制御部１１とＡＴＭ制御部
１３を接続し、テスト時にテスト回路１４をＤＴＥ制御
部１１およびＡＴＭ制御部１３に接続するように働く選
択回路である。セレクタ１２１は、ＡＴＭ回線側からの
セルまたはテスト回路１４からのテストセルのいずれか
を選択してＤＴＥ側に伝える。セレクタ１２２は、ＡＴ
Ｍ回線側からの受信テストセルまたはＤＴＥ側からの受
信テストセルのいずれかを選択してテスト回路１４へ伝
える。セレクタ１２３は、ＤＴＥ側からのセルまたはテ
スト回路１４側からのテストセルのいずれかを選択して
ＡＴＭ回線側に伝える。
出方向を設定するためのセレクタ１２１、１２２、１２
３が設けられ、常時はＤＴＥ制御部１１とＡＴＭ制御部
１３を接続し、テスト時にテスト回路１４をＤＴＥ制御
部１１およびＡＴＭ制御部１３に接続するように働く選
択回路である。セレクタ１２１は、ＡＴＭ回線側からの
セルまたはテスト回路１４からのテストセルのいずれか
を選択してＤＴＥ側に伝える。セレクタ１２２は、ＡＴ
Ｍ回線側からの受信テストセルまたはＤＴＥ側からの受
信テストセルのいずれかを選択してテスト回路１４へ伝
える。セレクタ１２３は、ＤＴＥ側からのセルまたはテ
スト回路１４側からのテストセルのいずれかを選択して
ＡＴＭ回線側に伝える。
【００１５】ＡＴＭ制御部１３は、テスト用選択回路１
２とＡＴＭ回線ポートＰ２に接続されており、ＡＴＭの
物理レイヤ，ＡＴＭレイヤ，ＡＡＬ（ＡＴＭ Ａｄａｐ
ｔａｔｉｏｎ Ｌａｙｅｒ）を制御する。ＡＴＭ制御部
１３は、それぞれ４本のＡＴＭ回線３１と接続されるよ
うに４個のＡＴＭ回線ポートＰ２−１〜Ｐ２−４から構
成されている。
２とＡＴＭ回線ポートＰ２に接続されており、ＡＴＭの
物理レイヤ，ＡＴＭレイヤ，ＡＡＬ（ＡＴＭ Ａｄａｐ
ｔａｔｉｏｎ Ｌａｙｅｒ）を制御する。ＡＴＭ制御部
１３は、それぞれ４本のＡＴＭ回線３１と接続されるよ
うに４個のＡＴＭ回線ポートＰ２−１〜Ｐ２−４から構
成されている。
【００１６】テスト回路１４は、テストセルの送出およ
び受信セルのモニタを行う回路であり、テストセルデー
タを記憶するためのテストセル用ＲＡＭ１４１と、テス
トセルを送出するためのパラレル−シリアル変換手段１
４２と、テストセルを受信するためのシリアル−パラレ
ル変換手段１４３と、受信データをモニタしテストセル
の受信を判断するためのシフトレジスタ１４４と、テス
トセル受信を知らせるためのテストセル受信レジスタ１
４５と、テスト用セルと受信セルを比較しエラーを計数
するセル比較手段１４６と、受信セルのエラーカウンタ
レジスタ１４７とを含んで構成されている。
び受信セルのモニタを行う回路であり、テストセルデー
タを記憶するためのテストセル用ＲＡＭ１４１と、テス
トセルを送出するためのパラレル−シリアル変換手段１
４２と、テストセルを受信するためのシリアル−パラレ
ル変換手段１４３と、受信データをモニタしテストセル
の受信を判断するためのシフトレジスタ１４４と、テス
トセル受信を知らせるためのテストセル受信レジスタ１
４５と、テスト用セルと受信セルを比較しエラーを計数
するセル比較手段１４６と、受信セルのエラーカウンタ
レジスタ１４７とを含んで構成されている。
【００１７】テスト制御部１５は、テストセルの送出ポ
ートの切換を行うテスト用選択回路１２と、テスト回路
１４と、ＣＥ回路１６とを制御する。
ートの切換を行うテスト用選択回路１２と、テスト回路
１４と、ＣＥ回路１６とを制御する。
【００１８】ＣＥ回路１６は、対象ポートの構成情報に
基づいてテスト回路１４にクロックを出力する回路であ
り、この例では８ｋＨｚと１.５４４ＭＨｚのクロック
を選択的に出力する。
基づいてテスト回路１４にクロックを出力する回路であ
り、この例では８ｋＨｚと１.５４４ＭＨｚのクロック
を選択的に出力する。
【００１９】本発明において、対象ポートとは、ＡＴＭ
回線ポートにおいては、試験の対象となるＡＴＭ回線が
接続されたＡＴＭ回線ポートに設定される特定のバーチ
ャルチャネルを意味し、ＤＴＥポートにおいては、ＤＴ
Ｅに接続される物理的なポートを意味している。
回線ポートにおいては、試験の対象となるＡＴＭ回線が
接続されたＡＴＭ回線ポートに設定される特定のバーチ
ャルチャネルを意味し、ＤＴＥポートにおいては、ＤＴ
Ｅに接続される物理的なポートを意味している。
【００２０】本発明における対象ポートの構成情報と
は、各ポート毎に設定される仮想パス識別子（ＶＰＩ）
および仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）によって形成され
る情報であり、構成情報用ＲＡＭ１７に格納される。
は、各ポート毎に設定される仮想パス識別子（ＶＰＩ）
および仮想チャネル識別子（ＶＣＩ）によって形成され
る情報であり、構成情報用ＲＡＭ１７に格納される。
【００２１】以下、本発明にかかるＡＴＭ通信装置の動
作について説明する。ＡＴＭ通信装置１は、ＡＴＭ回線
ポートＰ２をＡＴＭ網３のＡＴＭ回線３１に接続し、デ
ータ端末ポートＰ１−１〜Ｐ１−４をデータ端末（ＤＴ
Ｅ）５Ａ−１〜５Ａ−４に接続する。
作について説明する。ＡＴＭ通信装置１は、ＡＴＭ回線
ポートＰ２をＡＴＭ網３のＡＴＭ回線３１に接続し、デ
ータ端末ポートＰ１−１〜Ｐ１−４をデータ端末（ＤＴ
Ｅ）５Ａ−１〜５Ａ−４に接続する。
【００２２】ＡＴＭ回線３１は、ＡＴＭ通信プロトコル
により仮想杓なパスに分割され、ＡＴＭ回線上はこの仮
想パス（ＶＰ）単位で処理される。そして、５３バイト
の固定長のセルと呼ばれるパケットにデータ端末ポート
Ｐ１からのデータを分割して搭載し、このセルのヘッダ
部に仮想パス（ＶＰ）の中のどの仮想チヤネル（ＶＣ）
を使用して相手にデータを送れば良いか識別するための
仮想パス識別子（ＶＰＩ）と仮想チヤネル識別子（ＶＣ
Ｉ）を設定することにより、所定のＡＴＭ回線３１上に
送出される。
により仮想杓なパスに分割され、ＡＴＭ回線上はこの仮
想パス（ＶＰ）単位で処理される。そして、５３バイト
の固定長のセルと呼ばれるパケットにデータ端末ポート
Ｐ１からのデータを分割して搭載し、このセルのヘッダ
部に仮想パス（ＶＰ）の中のどの仮想チヤネル（ＶＣ）
を使用して相手にデータを送れば良いか識別するための
仮想パス識別子（ＶＰＩ）と仮想チヤネル識別子（ＶＣ
Ｉ）を設定することにより、所定のＡＴＭ回線３１上に
送出される。
【００２３】テストセルの生成およびテストセルの送出
処理について説明する。
処理について説明する。
【００２４】先ず、テスト制御部１５は、テストセルデ
ータ用ＲＡＭ１４１に対しテストセルデータを格納する
とともに、テスト用選択回路１２に対しテストセルの送
出ポートの切換えを行う。尚、テスト用選択回路１２は
ＤＴＥポートＰ１対応に設けてある。
ータ用ＲＡＭ１４１に対しテストセルデータを格納する
とともに、テスト用選択回路１２に対しテストセルの送
出ポートの切換えを行う。尚、テスト用選択回路１２は
ＤＴＥポートＰ１対応に設けてある。
【００２５】テストセルデータは、構成情報レジスタ１
７２に格納された対象ポートの構成情報を用いてセルヘ
ッダ部が設定され、ユーザ情報部に対してはテストセル
データ用ＲＡＭ１４１から読み出されたテストパターン
データが設定される。
７２に格納された対象ポートの構成情報を用いてセルヘ
ッダ部が設定され、ユーザ情報部に対してはテストセル
データ用ＲＡＭ１４１から読み出されたテストパターン
データが設定される。
【００２６】テスト用選択回路１２は、実際にデータの
流れている回線上にてセレクタによりデータの流れる方
向を切り換える。通常、セレクタ１２１はＡＴＭ回線側
からのセルをＤＴＥ側に伝えるように設定され、セレク
タ１２３はＤＴＥ側からのセルをＡＴＭ回線側に伝える
ように設定される。
流れている回線上にてセレクタによりデータの流れる方
向を切り換える。通常、セレクタ１２１はＡＴＭ回線側
からのセルをＤＴＥ側に伝えるように設定され、セレク
タ１２３はＤＴＥ側からのセルをＡＴＭ回線側に伝える
ように設定される。
【００２７】テストセルをＡＴＭ回線側に送出する場
合、テスト用選択回路１２−１に示すように、対象ポー
トの構成情報によって設定されたタイムスロットで、セ
レクタ１２３−１をテストセル送出側に、セレクタ１２
２−１をＡＴＭ回線側からのテストセル受信側に切り換
える。
合、テスト用選択回路１２−１に示すように、対象ポー
トの構成情報によって設定されたタイムスロットで、セ
レクタ１２３−１をテストセル送出側に、セレクタ１２
２−１をＡＴＭ回線側からのテストセル受信側に切り換
える。
【００２８】テストセルをＤＴＥ側に送出する場合、テ
スト用選択回路１２−４に示すように、対象ポートの構
成情報によって設定されたタイムスロットで、セレクタ
１２１−４をテストセル送出側に、セレクタ１２２−４
をデータ端末側からのテストセル受信側に切り換える。
スト用選択回路１２−４に示すように、対象ポートの構
成情報によって設定されたタイムスロットで、セレクタ
１２１−４をテストセル送出側に、セレクタ１２２−４
をデータ端末側からのテストセル受信側に切り換える。
【００２９】ＣＥ（クロックイネーブル）回路１３は、
対象ポートの構成情報に応じたタイムスロットでクロッ
クを出力する。テスト制御部１５は、対象ポートの構成
情報に応じたタイムスロットで、テストセルの送出を起
動し、テストセル送出のタイミング（タイムスロット）
でセレクタ１２１または１２３をテストセル送信側に切
り換える。このことによって、テストセル（５３バイト
構造）の繰り返しデータが所定のタイムスロットで対象
ポートに送出され、トラフィックを発生することができ
る。
対象ポートの構成情報に応じたタイムスロットでクロッ
クを出力する。テスト制御部１５は、対象ポートの構成
情報に応じたタイムスロットで、テストセルの送出を起
動し、テストセル送出のタイミング（タイムスロット）
でセレクタ１２１または１２３をテストセル送信側に切
り換える。このことによって、テストセル（５３バイト
構造）の繰り返しデータが所定のタイムスロットで対象
ポートに送出され、トラフィックを発生することができ
る。
【００３０】次ぎに、テストセル受信判定処理について
説明する。上記のように、テストセルを所定のタイムス
ロットで繰り返し送出することによってトラフィックを
発生させた時に、同時にセル受信モニタを行う。テスト
セル送出時のセレクタの切り換えにより対象ポートに送
出されたセルは、対象ポートに設置された送出セルを折
り返すことが可能なループバックコネクタや、対象ポー
トに接続されたデータ端末や通信相手の通信装置のルー
プバック機能によってループバックされ、テスト用選択
回路１２に流れて来た受信セルはテスト回路１４に送ら
れ、ＣＥ回路１６から該当するタイムスロットにのみ出
力されるクロックを用いて、テストセル受信レジスタ１
４５においてモニタされ、セル比較回路１４６におい
て、受信セルのデータとテストセル用データを５３バイ
ト中の１６バイトのみをチェックして、エラーの発生の
有無を判定する。
説明する。上記のように、テストセルを所定のタイムス
ロットで繰り返し送出することによってトラフィックを
発生させた時に、同時にセル受信モニタを行う。テスト
セル送出時のセレクタの切り換えにより対象ポートに送
出されたセルは、対象ポートに設置された送出セルを折
り返すことが可能なループバックコネクタや、対象ポー
トに接続されたデータ端末や通信相手の通信装置のルー
プバック機能によってループバックされ、テスト用選択
回路１２に流れて来た受信セルはテスト回路１４に送ら
れ、ＣＥ回路１６から該当するタイムスロットにのみ出
力されるクロックを用いて、テストセル受信レジスタ１
４５においてモニタされ、セル比較回路１４６におい
て、受信セルのデータとテストセル用データを５３バイ
ト中の１６バイトのみをチェックして、エラーの発生の
有無を判定する。
【００３１】１セル中の１ビットでもエラーを検出した
場合、エラーカウンタレジスタ１４７をカウントアップ
する。
場合、エラーカウンタレジスタ１４７をカウントアップ
する。
【００３２】テストセル送出起動後、少なくとも１セル
を受信するとテストセル受信レジスタ１４５に反映され
る。受信したセルがテストセルであることは、受信した
セルのヘッダ部の５バイトによって検出する。
を受信するとテストセル受信レジスタ１４５に反映され
る。受信したセルがテストセルであることは、受信した
セルのヘッダ部の５バイトによって検出する。
【００３３】以上の動作により、対象ポートの構成情報
のスピードにてテストセルのトラフィックを発生させ、
受信セルをモニタしテストセルが正常に戻ってきている
かを判定することができる。
のスピードにてテストセルのトラフィックを発生させ、
受信セルをモニタしテストセルが正常に戻ってきている
かを判定することができる。
【００３４】例えば、図２に示すＡＴＭ通信ネットワー
クにおいて、ＡＴＭ通信装置１ＡとＡＴＭ通信装置１Ｂ
−１との間の導通試験を行う場合、ＡＴＭ通信装置１Ｂ
−１をＡＴＭ側から送られてくるデータをループバック
できるよう外向ループ設定にし、ＡＴＭ通信装置１Ａか
らデータ端末側へ送られるデータをループバックできる
ようＡＴＭ通信装置１ＡのＤＴＥポートＰ１にループコ
ネクタを設置し、ＡＴＭ通信装置１ＡからＡＴＭ通信装
置１Ｂ−１またはＤＴＥポートＰ１に対してテストセル
を送出し、ＡＴＭ通信装置１Ｂ−１側またはＤＴＥポー
トＰ１−１に設けたループバックコネクタから戻ってく
るテストセルを受信することにより確認できる。
クにおいて、ＡＴＭ通信装置１ＡとＡＴＭ通信装置１Ｂ
−１との間の導通試験を行う場合、ＡＴＭ通信装置１Ｂ
−１をＡＴＭ側から送られてくるデータをループバック
できるよう外向ループ設定にし、ＡＴＭ通信装置１Ａか
らデータ端末側へ送られるデータをループバックできる
ようＡＴＭ通信装置１ＡのＤＴＥポートＰ１にループコ
ネクタを設置し、ＡＴＭ通信装置１ＡからＡＴＭ通信装
置１Ｂ−１またはＤＴＥポートＰ１に対してテストセル
を送出し、ＡＴＭ通信装置１Ｂ−１側またはＤＴＥポー
トＰ１−１に設けたループバックコネクタから戻ってく
るテストセルを受信することにより確認できる。
【００３５】ループバックして戻ってきたテストセルを
受信した結果、エラーカウンタが“０”であれば、ＡＴ
Ｍ端末装置１Ａのテスト用選択回路１２とループバック
との間の導通は正常と判断される。また、エラーカウン
タが“１”以上であればループバックからテストセルが
戻ってきているが、セルデータが異常であり、構成情報
の設定誤り等が考えられる。テストセルを受信しなけれ
ば、正常に対向装置のループ設定がされていない等が考
えられる。
受信した結果、エラーカウンタが“０”であれば、ＡＴ
Ｍ端末装置１Ａのテスト用選択回路１２とループバック
との間の導通は正常と判断される。また、エラーカウン
タが“１”以上であればループバックからテストセルが
戻ってきているが、セルデータが異常であり、構成情報
の設定誤り等が考えられる。テストセルを受信しなけれ
ば、正常に対向装置のループ設定がされていない等が考
えられる。
【００３６】以上のように、データ端末がデータ端末ポ
ートに接続されていなくても、ＡＴＭ通信装置間の導通
試験が可能となり、また、ループバックを設定する個所
を順次変更して導通試験を行うことによって、伝送路の
故障箇所を特定する試験も可能となる。
ートに接続されていなくても、ＡＴＭ通信装置間の導通
試験が可能となり、また、ループバックを設定する個所
を順次変更して導通試験を行うことによって、伝送路の
故障箇所を特定する試験も可能となる。
【００３７】図３のフローチャートを用いて、搭載伝送
路のセルフ導通試験処理動作を説明する。
路のセルフ導通試験処理動作を説明する。
【００３８】セルフ導通試験を実行するには、先ず、セ
ルフ導通試験を実行するテストポートを設定する（ステ
ップＳ１）。テストポートの設定は、テストセルデータ
用ＲＡＭ１４１にテストセルデータを格納し、テスト用
選択回路１２−１のセレクタの設定を変更して、テスト
セルの送出ポートの切り換えを行い、テストポートの回
線側に内向きループを設置することによって行われる。
ルフ導通試験を実行するテストポートを設定する（ステ
ップＳ１）。テストポートの設定は、テストセルデータ
用ＲＡＭ１４１にテストセルデータを格納し、テスト用
選択回路１２−１のセレクタの設定を変更して、テスト
セルの送出ポートの切り換えを行い、テストポートの回
線側に内向きループを設置することによって行われる。
【００３９】次いで、１秒程度の時間待機してＡＴＭ通
信装置１Ａ内に残ったセル（データ）が消滅するのを待
つ（Ｓ２）。
信装置１Ａ内に残ったセル（データ）が消滅するのを待
つ（Ｓ２）。
【００４０】次に、対象ポートの構成情報を用いてヘッ
ダを構成したテストセルをテスト用選択回路１２を介し
て対象ポートに宛て送出する（Ｓ３）。
ダを構成したテストセルをテスト用選択回路１２を介し
て対象ポートに宛て送出する（Ｓ３）。
【００４１】テストセル送出後、所定の時間待機した
［セルフ導通試験の場合１秒程度，データ伝送試験の場
合１０秒程度］（Ｓ４）後、セル比較手段１４６におい
て、テストセルを受信したか否かを判定する（Ｓ５）。
［セルフ導通試験の場合１秒程度，データ伝送試験の場
合１０秒程度］（Ｓ４）後、セル比較手段１４６におい
て、テストセルを受信したか否かを判定する（Ｓ５）。
【００４２】テストセル受信が発生している場合には、
エラーカウンタ１４７の内容が“０”か否かを判定する
（Ｓ６）。エラーカウンタの内容が“０”であるときに
は、全テストポートのテストが終了したか否かを判定し
て（Ｓ８）、全テストポートの試験が終了したときには
試験処理を終了する（Ｓ１０）。
エラーカウンタ１４７の内容が“０”か否かを判定する
（Ｓ６）。エラーカウンタの内容が“０”であるときに
は、全テストポートのテストが終了したか否かを判定し
て（Ｓ８）、全テストポートの試験が終了したときには
試験処理を終了する（Ｓ１０）。
【００４３】ステップＳ５においてテストセル受信が発
生していない場合、およびステップＳ６においてエラー
カウンタが“１”以上の場合には、各種エラーロギング
を採取する（Ｓ７）。その後、ステップＳ８で未テスト
ポートを判断する。
生していない場合、およびステップＳ６においてエラー
カウンタが“１”以上の場合には、各種エラーロギング
を採取する（Ｓ７）。その後、ステップＳ８で未テスト
ポートを判断する。
【００４４】ステップＳ８で、次テストポートの設定を
行い（Ｓ９）、ステップＳ１に戻り次ぎのポートのテス
トを繰り返す。
行い（Ｓ９）、ステップＳ１に戻り次ぎのポートのテス
トを繰り返す。
【００４５】以上のセルフ導通試験機能は、搭載伝送路
のセルフ導通試験処理動作を示すフローチャートのステ
ップＳ８を、全テストポートの試験が終了したか否かを
判定することに代えて、所定の時間が終了したか否かを
判定することに変更することにより、ポート数による条
件ではなく時間による条件でセルフ導通試験を終了させ
るようにすることも可能である。
のセルフ導通試験処理動作を示すフローチャートのステ
ップＳ８を、全テストポートの試験が終了したか否かを
判定することに代えて、所定の時間が終了したか否かを
判定することに変更することにより、ポート数による条
件ではなく時間による条件でセルフ導通試験を終了させ
るようにすることも可能である。
【００４６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のＡＴＭ通
信装置では対象ポートの構成情報によりテストセルを生
成し、その構成情報のスピード設定でテストセルを送出
させることができる。また、受信セルをモニタしテスト
セル受信を判断することができ導通試験ができるという
利点がある。
信装置では対象ポートの構成情報によりテストセルを生
成し、その構成情報のスピード設定でテストセルを送出
させることができる。また、受信セルをモニタしテスト
セル受信を判断することができ導通試験ができるという
利点がある。
【図１】本発明の実施例によるＡＴＭ通信装置の構成を
示すブロック図。
示すブロック図。
【図２】本発明の一実施形態の適用が想定されるＡＴＭ
通信ネットワークの構成図。
通信ネットワークの構成図。
【図３】本発明の搭載伝送賂のセルフ導通試験処理動作
を示すフローチャート。
を示すフローチャート。
【符号の説明】 １ ＡＴＭ通信装置 １１ ＤＴＥ制御部 １２ テスト用選択回路 １２１、１２２、１２３ セレクタ １３ ＡＴＭ制御部 １４ テスト回路 １４１ テストセルデータ用ＲＡＭ １４２ パラレル−シリアル変換手段 １４３ シリアル−パラレル変換手段 １４４ シフトレジスタ １４５ テストセル受信レジスタ １４６ セル比較手段 １４７ エラーカウンタレジスタ １５ テスト制御部 １６ ＣＥ回路 １７ 構成情報レジスタ Ｐ１ データ端末ポート Ｐ２ ＡＴＭ回線ポート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 信仁 福島県郡山市字船場向94番地 株式会社日 立テレコムテクノロジー内 (72)発明者 増田 博昭 福島県郡山市字船場向94番地 株式会社日 立テレコムテクノロジー内 (72)発明者 湯峯 康次 福島県郡山市字船場向94番地 株式会社日 立テレコムテクノロジー内 Ｆターム(参考） 5K030 GA14 HA10 HB14 HB29 HC01 JA03 JA06 JA10 KA05 KA15 LE06 MC02 5K035 AA07 BB03 DD03 GG02 GG06 HH09 JJ04 MM03
Claims (3)
- 【請求項１】 データ端末ポートとＡＴＭ回線ポートと
を有し前記データ端末ポートと前記ＡＴＭ回線ポートと
の間の搭載伝送路を介してセルを伝送するＡＴＭ通信装
置において、対象ポートの構成情報に基づいてテストセ
ルを生成するテストセル生成手段と、前記テストセルを
データ端末ポートまたはＡＴＭ回線ポートを介して伝送
路に送出する手段と、前記伝送路から戻ってきたテスト
セルを受信し正常に戻ってきているか判定する判定手段
とを含むことを特徴とするＡＴＭ通信装置。 - 【請求項２】 対象ポートの構成情報を格納した構成情
報記憶手段を有することを特徴とする請求項１に記載の
ＡＴＭ通信装置。 - 【請求項３】 データ端末ポートとＡＴＭ回線ポートと
を有し前記データ端末ポートと前記ＡＴＭ回線ポートと
の間の搭載伝送路を介してセルを伝送するＡＴＭ通信装
置において、対象ポートの構成情報に基づいてテストセ
ルを生成するテストセル生成手段と、前記テストセルを
前記搭載伝送路に送出する手段と、前記搭載伝送路から
戻ってきたテストセルを受信し正常に戻ってきているか
判定する判定手段とを含み、前記搭載伝送路のセルフ導
通試験を行うセルフ導通試験機能を有することを特徴と
するＡＴＭ通信装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000037061A JP2001230779A (ja) | 2000-02-15 | 2000-02-15 | Ａｔｍ通信装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000037061A JP2001230779A (ja) | 2000-02-15 | 2000-02-15 | Ａｔｍ通信装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001230779A true JP2001230779A (ja) | 2001-08-24 |
Family
ID=18561001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000037061A Pending JP2001230779A (ja) | 2000-02-15 | 2000-02-15 | Ａｔｍ通信装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001230779A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013539644A (ja) * | 2010-09-10 | 2013-10-24 | アルカテル−ルーセント | ネットワーク内の性能特性を測定するための相互接続された装置の動的構成 |
-
2000
- 2000-02-15 JP JP2000037061A patent/JP2001230779A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013539644A (ja) * | 2010-09-10 | 2013-10-24 | アルカテル−ルーセント | ネットワーク内の性能特性を測定するための相互接続された装置の動的構成 |
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