JP2001223892A - 画像処理装置、方法および記憶媒体 - Google Patents

画像処理装置、方法および記憶媒体

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JP2001223892A JP2000033919A JP2000033919A JP2001223892A JP 2001223892 A JP2001223892 A JP 2001223892A JP 2000033919 A JP2000033919 A JP 2000033919A JP 2000033919 A JP2000033919 A JP 2000033919A JP 2001223892 A JP2001223892 A JP 2001223892A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ごみや傷などによる欠損画素の補正時、可視
画像上でごみや傷などの位置を正確に検出できる画像処
理装置を提供する。 【解決手段】 送り精度による可視画像と赤外画像のず
れを検知して補正する処理(S304)では、赤外画像
を用いて副走査方向に欠損画素領域を所定数検出する。
検出された欠損画素領域の赤外画像における座標を取得
する。可視画像と赤外画像を所定画素数ずらしながら、
欠損画素領域の座標に対応する可視画像の信号値の和を
算出する。算出した信号値の和が最小のとき、可視画像
と赤外画像の欠損画素領域が一致したとみなし、ずらし
た画素数をずれ画素数として記憶する。これは可視画像
の欠損画素領域は周辺の画素よりも信号値が低いであろ
うという考えに基づく。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、銀塩カメ
ラによって撮影された現像済みのフィルムを読み取り、
適正な階調変換を行って出力するフィルムスキャナによ
り取得したデジタル画像の画素データを修正(補正)す
る画像処理装置、方法および記憶媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、フィルムに記録された画像情報を
ラインセンサにより読み取り、ラインセンサのRGB出
力電圧をアナログアンプにより増幅した後、それぞれA
/D変換器によりデジタル信号に変換し、各種デジタル
画像処理を施して出力するフィルムスキャナが知られて
いる。
【0003】このようなフィルムスキャナでは、フィル
ムスキャナ自体の解像度が上がるにつれてフィルム上の
より詳細な情報を得ることが可能となった反面、原稿で
あるフィルム上に存在するごみや傷などが出力画像に与
える影響が大きくなってしまうことが問題となってき
た。
【0004】この問題を解決する方法として、特公平6
−78991号公報では、フィルタを切り換えることに
よりフィルム上の可視情報と赤外情報を別々に取得し、
得られた赤外情報を用いてごみや傷の位置を検知し、検
知されたごみや傷の位置周辺の画素情報を参照してごみ
や傷による欠損画素を補間する方法が提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方法では、可視画像と赤外画像を取得するための走
査が異なるタイミングで行われることにより、これに起
因する走査位置のずれによって赤外画像上で検出したご
みや傷の位置と、可視画像上でのごみや傷の実際の位置
とが一致しないという新たな問題が生じていた。
【0006】そこで、本発明は、ごみや傷などによる欠
損画素の補正時、可視画像上でごみや傷などの位置を正
確に検出できる画像処理装置、方法および記憶媒体を提
供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項1に記載の画像処理装置は、同一の
画像を異なる条件で走査して第1の画像および第2の画
像を取得する画像走査手段と、前記第1の画像上の欠損
画素領域を検出する欠損画素領域検出手段と、前記第2
の画像上で前記欠損画素領域に対応する領域から所定画
素数分ずらしながら信号値の和を算出する算出手段と、
前記算出手段により前記信号値の和が最小となった場合
のずれ量を前記第1の画像と前記第2の画像とのずれ量
と決定するずれ量検出手段とを備えたことを特徴とす
る。
【0008】請求項2に記載の画像処理装置は、請求項
1に係る画像処理装置において、前記ずれ量検出手段に
より決定された前記第1の画像と前記第2の画像とのず
れ量を補正するずれ量補正手段を備えたことを特徴とす
る。
【0009】請求項3に記載の画像処理装置は、請求項
1又は2に係る画像処理装置において、前記欠損画素領
域検出手段により検出された前記欠損画素領域に基づい
て前記第2の画像上の欠損画素を補正する欠損画素補正
手段を備えたことを特徴とする。
【0010】請求項4に記載の画像処理装置では、請求
項1乃至3のいずれかに係る画像処理装置において、前
記画像走査手段は、赤外光及び可視光を照射してフィル
ムに記録された画像を別々に走査し、該フィルムを透過
した光を信号として検出することにより、前記第1の画
像としての赤外画像を取得し、前記第2の画像として可
視画像を取得することを特徴とする。
【0011】請求項5に記載の画像処理装置では、請求
項1乃至4のいずれかに係る画像処理装置において、前
記ずれ量検出手段は、前記第1の画像と第2の画像を別
々に走査することに起因するずれ量を検出することを特
徴とする。
【0012】請求項6に記載の画像処理方法は、同一の
画像を異なる条件で走査して第1の画像および第2の画
像を取得する工程と、前記第1の画像上の欠損画素領域
を検出する工程と、前記第2の画像上で前記欠損画素領
域に対応する領域から所定画素数分ずらしながら信号値
の和を算出する工程と、前記算出される信号値の和が最
小となった場合のずれ量を前記第1の画像と前記第2の
画像とのずれ量と決定する工程とを有することを特徴と
する。
【0013】請求項7に記載の画像処理方法は、請求項
6に係る画像処理方法において、前記決定された前記第
1の画像と前記第2の画像とのずれ量を補正する工程を
有することを特徴とする。
【0014】請求項8に記載の画像処理方法は、請求項
6又は7に係る画像処理方法において、前記検出された
前記欠損画素領域に基づいて前記第2の画像上の欠損画
素を補正する工程を有することを特徴とする。
【0015】請求項9に記載の画像処理方法は、請求項
6乃至8のいずれかに係る画像処理方法において、前記
画像を取得する工程では、赤外光及び可視光を照射して
フィルムに記録された画像を別々に走査し、該フィルム
を透過した光を信号として検出することにより、前記第
1の画像としての赤外画像を取得し、前記第2の画像と
して可視画像を取得することを特徴とする。
【0016】請求項10に記載の画像処理方法は、請求
項6乃至9のいずれかに係る画像処理方法において、前
記ずれ量を決定する工程では、前記第1の画像と第2の
画像を別々に走査することに起因するずれ量を検出する
ことを特徴とする。
【0017】請求項11に記載の記憶媒体は、画像処理
装置内のコンピュータによって実行され、画像を補正す
るプログラムが格納された記憶媒体において、前記プロ
グラムは、同一の画像を異なる条件で走査して第1の画
像および第2の画像を取得する手順と、前記第1の画像
上の欠損画素領域を検出する手順と、前記第2の画像上
で前記欠損画素領域に対応する領域から所定画素数分ず
らしながら信号値の和を算出する手順と、前記算出され
る信号値の和が最小となった場合のずれ量を前記第1の
画像と前記第2の画像とのずれ量と決定する手順とを含
むことを特徴とする記憶媒体。
【0018】請求項12に記載の記憶媒体では、請求項
11に係る記憶媒体において、前記プログラムは、前記
決定された前記第1の画像と前記第2の画像とのずれ量
を補正する手順を含むことを特徴とする。
【0019】請求項13に記載の記憶媒体では、請求項
11又は12に係る記憶媒体において、前記プログラム
は、前記検出された前記欠損画素領域に基づいて前記第
2の画像上の欠損画素を補正する手順を含むことを特徴
とする。
【0020】請求項14に記載の記憶媒体は、請求項1
1乃至13のいずれかに係る記憶媒体において、前記画
像を取得する手順では、赤外光及び可視光を照射してフ
ィルムに記録された画像を別々に走査し、該フィルムを
透過した光を信号として検出することにより、前記第1
の画像としての赤外画像を取得し、前記第2の画像とし
て可視画像を取得することを特徴とする。
【0021】請求項15に記載の記憶媒体は、請求項1
1乃至14のいずれかに係る記憶媒体において、前記ず
れ量を決定する手順では、前記第1の画像と第2の画像
を別々に走査することに起因するずれ量を検出すること
を特徴とする。
【0022】
【発明の実施の形態】本発明の画像処理装置、方法およ
び記憶媒体の実施の形態について説明する。本実施形態
の画像処理装置はネガフィルムを原稿として使用するフ
ィルムスキャナに適用される。
【0023】[第1の実施形態]図1はフィルムスキャ
ナの構成を示す図である。図において、101はフィル
ムを照明するランプであり、CPU119によって制御
されるランプ駆動回路113により駆動される。
【0024】102はフィルムを保持するフィルムフォ
ルダであり、副走査モータ108により図中矢印A方向
に移動自在である。副走査モータ108はCPU119
によって制御されるモータ駆動回路112により駆動さ
れる。また、副走査位置検出センサ107によりフィル
ムフォルダ102の位置が検出されてフィルムフォルダ
102の初期位置が取得される。
【0025】103は赤外光カットフィルタaと可視光
カットフィルタbを切り換えるフィルタ切換装置であ
り、フィルタ切換用モータ109により図中矢印B方向
に移動自在である。フィルタ切換用モータ109は、C
PU119によって制御されるフィルタ切換駆動回路1
11により駆動される。また、フィルタの切り換え状態
はフィルタ切換検知センサ104によってCPU119
に伝えられる。
【0026】本実施形態では、副走査モータ108およ
びフィルタ切換用モータ109としてステッピングモー
タが用いられ、副走査位置検出センサ107およびフィ
ルタ切換検知センサ104としてフォトインタラブタが
用いられている。
【0027】105はランプ101により照射されてフ
ィルムを透過した光をCCDラインセンサ(以下、単に
CCDという)106上に結像させる結像レンズであ
る。CCD106はCPU119によって制御されるC
CD駆動回路110により駆動され、CCDの蓄積電荷
を出力するタイミングを制御可能な電子シャッタ機能を
有する。また、CCD106はフィルムフォルダ102
の移動方向Aに対して垂直方向(図面垂直方向)に位置
するように取り付けられており、この位置関係によりC
CD106の長手方向(図面垂直方向)である主走査方
向と、フィルムフォルダ102の移動方向である副走査
方向は直交関係にある。
【0028】114はCCD106から出力されたアナ
ログ画像信号のゲイン設定やクランプ処理を行うアナロ
グ処理回路であり、アナログアンプによりRGBそれぞ
れの信号を独立に増幅することが可能である。115は
アナログ処理回路114から出力されるアナログ信号を
デジタル信号に変換するA/D変換器である。
【0029】116はA/D変換器115によりデジタ
ル化された画像信号を処理するデジタル画像処理部であ
り、ヒストグラム作成部(図示せず)、入力信号のネガ
ポジ変換やホワイトバランス調整を行って適正な階調に
調整するための階調変換曲線を作成する階調変換曲線作
成部などを有する。画像処理部116はゲートアレイに
より構成してもよいし、CPUやROMを有するDSP
などのマイクロコンピュータユニットにより構成しても
よい。本実施形態では、画像処理部16はDSPなどの
マイクロコンピュータユニットで構成され、CPU(図
示せず)がROMに格納された制御プログラムを実行す
る場合について示す。
【0030】117は画像データを一時的に記憶するラ
インバッファである。118はパーソナルコンピュータ
(パソコン)などの外部機器との接続を行うインターフ
ェース部である。119はフィルムスキャナ全体の動作
を制御するためのプログラム(ソフトウェア)を記憶す
るROM、およびこのプログラムに基づき、外部機器か
らの命令にしたがって各種動作を行うCPUが内蔵され
たシステムコントローラ(単に、CPUともいう)であ
る。
【0031】システムコントローラ119内のソフトウ
ェア(以下、ファームソフトという)と、パソコンなど
の外部機器からフィルムスキャナを操作するためのソフ
トウェア(以下、ドライバソフトという)とを用いた通
信処理によって、画像データは外部機器に出力される。
【0032】図2は赤外光によるフィルム上のごみや傷
の検知方法を示す図である。同図(A)はネガフィルム
に可視光を照射した場合にCCD106から出力される
1ライン分の出力信号を示す。同図(B)は同じくネガ
フィルムに赤外光を照射した場合にCCD106から出
力される1ライン分の出力信号を示す。
【0033】フィルタ切換装置103により赤外カット
フィルタaを光路上に配置した場合、同図(A)に示す
ように、可視光がフィルム上に照射され、ごみや傷によ
るCCD106の出力信号の変化と画像によるCCD1
06の出力信号の変化との判別が困難である。
【0034】一方、フィルタ切換装置103により光路
上に可視光カットフィルタbを配置した場合、同図
(B)に示すように、赤外光がフィルム上に照射され、
画像によるCCD106の出力信号の変化はほとんどな
いので、ごみや傷によるCCD106の出力信号の変化
が主に現れ、閾値を設定することでフィルム上のごみや
傷の位置を検知することが可能となる。
【0035】この検知方法はフィルムの波長に対する透
過率の特性を利用したものである。一般的なフィルムは
赤外光に対して高い透過率を有するので、赤外光をフィ
ルムに照射することにより、フィルム上に記録された画
像情報に関係なく、フィルム上のごみや傷による信号変
化の情報だけを得ることができる。
【0036】同図(B)では、フィルム上のごみや傷に
よる赤外光の減衰量に応じて、最適な補正処理を選択す
るために、閾値1と閾値2の2つの閾値が設定されてい
る。閾値の算出方法としては、例えば赤外信号レベルの
最大値を算出し、そこから所定割合の位置に閾値1を設
定し、それよりもさらに小さい割合の位置に閾値2を設
定する方法などを用いることができる。尚、赤外信号レ
ベルの最大値を基準値に使用して閾値を算出したが、最
大値の代わりに平均値や中央値を基準値に使用してもよ
く、特に算出方法は限定されない。
【0037】つぎに、ごみや傷による欠損画素領域の補
正処理について説明する。図3は画像処理部116にお
いて行われるごみや傷による欠損画素領域の補正処理手
順を示すフローチャートである。この処理プログラムは
画像処理部116内のROMに格納されており、同じく
画像処理部116内のCPUによって実行される。
【0038】フィルタ切換装置103により赤外光カッ
トフィルタaおよび可視光カットフィルタbを交互に光
軸上に配置し、ネガフィルムを走査することによりネガ
フィルムを透過した光がCCD106によってそれぞれ
読み取られ、A/D変換器115によりデジタル信号と
して出力された可視画像および赤外画像を画像処理部1
16に入力する(ステップS301、S302)。
【0039】赤外画像からごみや傷による欠損画素を検
知するための閾値を算出する(ステップS303)。つ
づいて、可視画像と赤外画像のずれを補正する処理を行
う(ステップS304)。赤外画像と可視画像は、前述
したように、フィルムフォルダ102を副走査モータ1
08により図中矢印A方向に移動させることによりCC
D106によって読み取られるが、本実施形態では、1
回の往復移動で可視画像と赤外画像を別々に取得するの
で、送り精度による誤差が生じることが予想される。ご
みや傷による欠損画素の補正は画素単位で行われる補正
であるので、この誤差による可視画像と赤外画像の数画
素のずれもできるだけ補正する必要がある。
【0040】図4はずれ補正処理を示す図である。ま
ず、赤外画像を用いて副走査方向に欠損画素領域を所定
数検出する(同図(A)参照)。これは送り精度による
可視画像と赤外画像のずれを検知するための補正処理で
あるので、ずれる方向として副走査方向だけであるとい
う前提に基づいている。
【0041】検出された欠損画素領域の赤外画像におけ
る座標を取得する(同図(B)参照)。そして、可視画
像と赤外画像を副走査方向(図中、矢印a方向)に所定
画素数ずつずらしながら(同図(C)参照)、欠損画素
領域の座標に対応する可視画像の信号値の和を算出す
る。算出した信号値の和が最小のとき、可視画像と赤外
画像の欠損画素領域が一致したとみなし、ずらした画素
数をずれ画素数として記憶する。これは可視画像の欠損
画素領域は周辺の画素よりも信号値が低いであろうとい
う考えに基づく。尚、欠損画素領域を検出する際の所定
数、および可視画像と赤外画像をずらす際の所定画素数
は、補正の精度と所要時間のどちらを優先するかによっ
て適当な値に決められる。
【0042】尚、ずれを検出する際の可視画像の信号値
としては、輝度信号値でもよいし、特定の色信号値であ
ってもよい。また、可視画像の信号値の和を算出する代
わりに、欠損画素領域内の赤外画像の信号値の和と可視
画像の信号値の和の総和を算出し、総和が最小であると
きを判断するようにしてもよい。
【0043】このように、ステップS304のずれ補正
処理を行うことにより、可視画像と赤外画像の副走査方
向のずれが補正された後、1回目の補正処理である補正
処理1を行う(ステップS305)。補正処理1は、欠
損画素領域の赤外画像における減衰量から可視画像の欠
損画素領域の信号値を算出するというものである。これ
は、欠損画素領域の赤外画像の減衰量が比較的少なく、
可視画像において欠損画素領域の可視信号値が残ってい
る場合に有効な補正処理であり、赤外画像の信号レベル
が図2の閾値1と閾値2の間に入るような欠損画素領域
に対して行われる。
【0044】このように、ステップS305の補正処理
1により比較的減衰量が少ない欠損画素領域が補正され
た後、補正処理1で補正しきれなかった閾値2以下まで
赤外信号レベルが減衰した欠損画素領域について補正す
る補正処理2を行う(ステップS306)。本実施形態
では、欠損画素領域の周囲に位置する正常画素領域(正
常画素パターン)を使って欠損画素領域を置換するの
で、補正処理2をパターン置換という。
【0045】図5はステップS306におけるパターン
置換処理手順を示すフローチャートである。まず、赤外
画像の左上の画素を始点として水平方向に画素単位で走
査を開始する(ステップS501)。そして、欠損画素
領域および正常画素パターンを検出して置換を行う(ス
テップS502)。
【0046】再び画像の左上の画素を始点として画素単
位で垂直方向に走査を行う(ステップS503)。同様
に、欠損画素領域および正常画素パターンを検出して置
換を行う(ステップS504)。この後、処理を終了す
る。
【0047】図6はステップS502およびステップS
504における欠損画素領域の検出および置換処理手順
を示すフローチャートである。図7は欠損画素領域の検
出を示す図である。まず、欠損画素(図7の欠損画素
1)を検出する(ステップS601)。検出された欠損
画素1から連続する欠損画素を検出し(図7の欠損画素
2〜5)、それらを欠損画素領域とする。
【0048】このとき、前述したずれ補正により赤外画
像と可視画像のずれは補正されていることが前提である
が、ずれが補正されていない場合でも、図8に示すよう
に、ずれ補正の精度によっては欠損画素領域を、実際に
検出された画素領域より副走査方向両側にn画素分拡大
させることで、ずれによる欠損画素領域の未検出を未然
に防ぐことができる。図8は拡大された欠損画素領域を
示す図である。
【0049】ステップS601により欠損画素領域が検
出された場合、その欠損画素領域はパターン置換が可能
な領域であるか否かをチェックする(ステップS60
2)。すなわち、以下のチェック項目〜の1つでも
満たさない場合、パターン置換が不可能であると判断す
る。
【0050】欠損画素領域が所定画素数以下である。
【0051】欠損画素領域の両端に正常画素が存在す
る。
【0052】欠損画素領域の両端に存在する正常画素
は互いに近色である。
【0053】チェック項目は、欠損画素領域が大き過
ぎた場合、処理時間が長くなるために設けられたもので
あり、所定画素数は処理時間との兼ね合いで決定され
る。チェック項目では、本実施形態のパターン置換は
欠損画素領域の両端の正常画素パターンを使用して置換
する処理であるので、欠損画素領域の両端には正常画素
が存在しなければならない。チェック項目は、欠損画
素の両端に位置する正常画素が互いに近色でない場合、
パターン置換を行ったときに修正画素が周辺画素と明ら
かに違った印象を与えて置換として好ましくない結果と
ならないように設けられたのである。
【0054】図9はステップS602におけるパターン
チェック処理手順を示すフローチャートである。まず、
欠損画素領域が所定画素数以下であるか否かを判別する
(ステップS901)。所定画素数以下である場合、欠
損画素領域の両端に正常画素が存在するか否かを判別す
る(ステップS902)。正常画素が存在する場合、欠
損画素領域の両端に存在する正常画素は互いに近色であ
るか否かを判別する(ステップS903)。互いに近色
である場合、パターン置換可能であると判断し(ステッ
プS904)、処理を終了する。一方、ステップS90
1で所定画素数以下でない場合、ステップS902で正
常画素が存在しない場合、あるいはステップS903で
正常画素は互いに近色でない場合、パターン置換不可で
あるとして判断し(ステップS904)、処理を終了す
る。
【0055】このようにして、欠損画素領域がパターン
置換可能であるか否かをチェックし、置換可能であると
判断された場合、欠損画素領域の両端から正常画素パタ
ーンを最大欠損画素領域を構成する画素数分検出する
(ステップS603)。そして、走査した画素(注目画
素)が以下のチェック項目〜を満たす場合、正常画
素パターンとして検出される。
【0056】正常画素である。
【0057】欠損画素領域の両端画素と近色である。
【0058】画像の端に来ていない。
【0059】条件では、正常画素パターンを検出して
いるので、当然、走査中に欠損が検出された場合、正常
画素パターンの検出を中止する。条件では、検出され
た正常画素パターンは欠損画素領域を構成する画素と近
色でない場合、パターン置換を行ったときに修正画素が
周辺画素と明らかに違った印象を与えて置換として好ま
しくないためである。条件では、画像の端に来てしま
った場合、それ以上正常画素を検出することは不可能で
あるので、検出を中止するためである。
【0060】図10はステップS603における正常画
素パターンの検出処理手順を示すフローチャートであ
る。まず、注目画素が正常画素であるか否かを判別し
(ステップS1001)、正常画素である場合、欠損画
素領域の両端の画素と近色であるか否かを判別する(ス
テップS1002)。注目画素が欠損画素領域の両端の
画素と近色である場合、注目画素が画像の端に来ていな
いか否かを判別する(ステップS1003)。画像の端
に来ていない場合、注目画素を正常画素パターンとして
検出する(ステップS1004)。さらに、検出された
正常画素パターンより欠損画素領域が大きいか否かを判
別し(ステップS1005)、大きい場合、次の画素を
注目画素とし(ステップS1007)、ステップS10
01の処理に戻る。
【0061】一方、ステップS1001で注目画素が正
常画素でない場合、ステップS1002で注目画素が欠
損画素領域の両端の画素と近色でない場合、ステップS
1003で注目画素が画像の端に来ている場合、あるい
はステップS1005で正常画素パターンの大きさが欠
損画素領域以上である場合、検出を中止し(ステップS
1006)、処理を終了する。
【0062】このようにして欠損画素領域の両端に正常
画素パターンを検出した後、これら正常画素パターンを
用いて欠損画素領域の置換を行い(ステップS60
4)、処理を終了する。このとき、欠損画素領域の両端
のいずれか一方だけに正常画素パターンが検出された場
合、その正常画素パターンを用いて置換を行う。また、
欠損画素領域の両端に正常画素パターンが検出された場
合、画素数の多い正常画素パターンで置換を行う。図1
1は画素数の多い正常画素パターンで置換を行う例を示
す図である。さらに、欠損画素領域の両端に正常画素パ
ターンが検出され、しかも、両画素パターンの画素数が
同じである場合、正常画素パターンを構成する画素同士
で最大レベル差の小さい正常画素パターンで置換を行
う。図12は最大レベル差の小さい正常画素パターンで
置換を行う例を示す図である。こうして正常画素パター
ンが決定され、欠損画素領域を埋めていく。
【0063】このように、欠損画素領域に対して2回の
補正処理を施した後、修正された画素について平均化処
理を施し(ステップS307)、周辺画素との違和感を
無くして画像を出力する(ステップS308)。この
後、補正処理を終了する。
【0064】本実施形態のフィルムスキャナでは、ネガ
フィルムの可視画像および赤外画像を取得し、ネガフィ
ルム上に存在するごみや傷による欠損画素位置を検出
し、赤外画像上の欠損画素の位置に対応する可視画像上
の欠損画素を補正する場合、補正に先立って可視画像お
よび赤外画像を取得するための走査が異なるタイミング
で行われることに起因する走査位置のずれを検出してそ
のずれを補正することにより、ごみや傷などによる欠損
画素の補正時、可視画像上でごみや傷の位置を正確に検
出することができる。
【0065】尚、本実施形態では、欠損画素領域の検出
方法として、水平方向(副走査方向)に走査を行った
後、垂直方向(主走査方向)に走査を行う方法を示した
が、順序として垂直方向の走査を行った後、水平方向の
走査を行ってもよい。また、水平方向だけの走査や垂直
方向だけの走査による検出方法も、補正の精度と所要計
算時間との兼ね合い次第では可能である。
【0066】[第2の実施形態]第2の実施形態におけ
るフィルムスキャナの構成は前記第1の実施形態と同様
であるので、その説明を省略し、ここでは、前記第1の
実施形態と異なるパターン置換処理についてだけ説明す
る。
【0067】図13は第2の実施形態におけるパターン
置換処理手順を示すフローチャートである。まず、赤外
画像の左上の画素を始点として水平方向に画素単位で走
査を開始する(ステップS1301)。欠損画素領域お
よび正常画素パターンを検出して置換を行い(ステップ
S1302)、処理を終了する。ここで、ステップS1
302における欠損画素領域の検出および正常画素パタ
ーンの置換処理を前述した図6にしたがって説明する。
【0068】すなわち、欠損画素領域を検出し(ステッ
プS601)、赤外画像を画素単位で走査して赤外信号
が図2の閾値2を下回るような欠損画素を検出する(図
14の欠損画素1)。図14は欠損画素領域の検出を示
す図である。検出された欠損画素1から水平および垂直
の両方向に連続する欠損画素を検出し(図14の欠損画
素2〜5、II〜VI)、これら連続する欠損画素の領域を
それぞれ欠損画素領域A、欠損画素領域Bとする。
【0069】欠損画素領域Aおよび欠損画素領域Bを構
成する画素数をそれぞれ比較し、画素数の少ない欠損画
素領域を置換用欠損画素領域として採用する。このと
き、前記第1の実施形態で示したずれ補正により赤外画
像と可視画像のずれは補正されていることが前提である
が、ずれ補正の精度によっては、欠損画素領域を実際に
検出された画素領域より副走査方向あるいは主走査方向
の両側にn画素大きくとる、つまり拡大することで、ず
れによる欠損画素領域の未検出を未然に防ぐことができ
る。
【0070】欠損画素領域が検出された場合、その欠損
画素領域がパターン置換可能な領域であるか否かをチェ
ックするステップS602以降の処理については、前記
第1の実施形態と同様である。
【0071】このように、第2の実施形態では、欠損画
素領域の検出方法として、水平方向に走査して欠損画素
を検出し、検出された欠損画素を始点として水平方向お
よび垂直方向に連続する欠損画素を検出したが、水平方
向に走査する代わりに垂直方向に走査して始点となる欠
損画素を検出するようにしてもよい。
【0072】また、置換用欠損画素領域を決定する際に
つぎのようにしてもよい。図15は欠損画素領域Aおよ
び欠損画素領域Bの両端にそれぞれ位置する正常画素を
示す図である。正常画素ア、イ、ウ、エが全て近色であ
る場合、欠損画素領域Aおよび欠損画素領域Bそれぞれ
を構成する画素数を比較し、画素数の少ない欠損画素領
域を置換用欠損画素領域として採用する。一方、正常画
素ア、イ、ウ、エが全て近色でない場合、この時点で対
象となる欠損画素領域はパターン置換不可である判断
し、次の欠損画素の検出を始めるようにしてもよい。
【0073】尚、以上が本発明の実施の形態の説明であ
るが、本発明は、これら実施の形態の構成に限られるも
のではなく、クレームで示した機能、または、実施の形
態の構成が持つ機能が達成できる構成であればどのよう
なものであっても適用可能である。例えば、フィルムス
キャナに限らず、複写機、ファクシミリ装置、デジタル
カメラなどに適用することも可能である。
【0074】また、以上の実施の形態のソフトウェア構
成とハードウェア構成は、適宜置き換えることが可能で
ある。さらに、本発明は、クレーム、または、実施の形
態の構成の全体もしくは一部が1つの装置を形成するも
のであっても、他の装置と結合するようなものであって
も、さらには、装置を構成する要素となるようなもので
あってもよい。
【0075】また、本発明は複数の機器から構成される
システムに適用してもよいし、1つの機器からなる装置
に適用してもよい。また、本発明はシステムあるいは装
置にプログラムを供給することによって達成される場合
にも適用できることはいうまでもない。この場合、本発
明を達成するためのソフトウェアによって表されるプロ
グラムを格納した記憶媒体をシステムあるいは装置に読
み出すことによってそのシステムあるいは装置が本発明
の効果を享受することが可能となる。
【0076】図16は記憶媒体としての画像処理部11
6内のROMのメモリマップを示す図である。ROMに
は、図3のフローチャートに示す補正処理プログラムモ
ジュール、図5のフローチャートに示すパターン置換処
理プログラムモジュール、図6のフローチャートに示す
欠損画素領域の検出および置換処理プログラムモジュー
ル、図9のフローチャートに示すパターンチェック処理
プログラムモジュール、図10のフローチャートに示す
正常画素パターンの検出処理プログラムモジュール、図
13のフローチャートに示すパターン置換処理プログラ
ムモジュールなどが格納されている。
【0077】プログラムモジュールを供給する記憶媒体
としては、ROMに限らず、例えばフロッピーディス
ク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、C
D−ROM、CD−R、DVD、磁気テープ、不揮発性
のメモリカードなどを用いることができる。
【0078】
【発明の効果】本発明によれば、同一の画像を異なる条
件で走査して第1の画像および第2の画像を取得し、第
1の画像に基づいて第2の画像上の欠損画素領域を検出
する場合に、第1の画像および第2の画像を取得するた
めの走査が異なる条件で行われることに起因する第1の
画像と第2の画像とのずれ量を検出することにより、第
2の画像上の欠損画素領域を正確に検出できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】フィルムスキャナの構成を示す図である。
【図2】赤外光によるフィルム上のごみや傷の検知方法
を示す図である。
【図3】画像処理部116において行われるごみや傷に
よる欠損画素領域の補正処理手順を示すフローチャート
である。
【図4】ずれ補正処理を示す図である。
【図5】ステップS306におけるパターン置換処理手
順を示すフローチャートである。
【図6】ステップS502およびステップS504にお
ける欠損画素領域の検出および置換処理手順を示すフロ
ーチャートである。
【図7】欠損画素領域の検出を示す図である。
【図8】拡大された欠損画素領域を示す図である。
【図9】ステップS602におけるパターンチェック処
理手順を示すフローチャートである。
【図10】ステップS603における正常画素パターン
の検出処理手順を示すフローチャートである。
【図11】画素数の多い正常画素パターンで置換を行う
例を示す図である。
【図12】最大レベル差の小さい正常画素パターンで置
換を行う例を示す図である。
【図13】第2の実施形態におけるパターン置換処理手
順を示すフローチャートである。
【図14】欠損画素領域の検出を示す図である。
【図15】欠損画素領域Aおよび欠損画素領域Bの両端
にそれぞれ位置する正常画素を示す図である。
【図16】記憶媒体としての画像処理部116内のRO
Mのメモリマップを示す図である。
【符号の説明】
102 フィルムフォルダ 103 フィルタ切換装置 106 CCD 111 フィルタ切換駆動回路 116 画像処理部 119 システムコントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5B047 AA05 AB04 BA01 BB02 BC05 BC07 CA17 CB23 DA06 DB01 DC09 5C062 AA01 AB03 AB17 AB33 AB41 AB43 AB44 AC02 AC21 AC61 AE03 5C072 AA01 BA15 CA02 DA02 DA09 DA23 EA05 UA06 UA20 VA03 WA01 5C077 LL02 MM03 MM30 MP08 PP23 PP32 PP43 PQ08 PQ12 PQ20 PQ24 RR01 SS01 TT09

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 同一の画像を異なる条件で走査して第1
    の画像および第2の画像を取得する画像走査手段と、 前記第1の画像上の欠損画素領域を検出する欠損画素領
    域検出手段と、 前記第2の画像上で前記欠損画素領域に対応する領域か
    ら所定画素数分ずらしながら信号値の和を算出する算出
    手段と、 前記算出手段により前記信号値の和が最小となった場合
    のずれ量を前記第1の画像と前記第2の画像とのずれ量
    と決定するずれ量検出手段とを備えたことを特徴とする
    画像処理装置。
  2. 【請求項2】 前記ずれ量検出手段により決定された前
    記第1の画像と前記第2の画像とのずれ量を補正するず
    れ量補正手段を備えたことを特徴とする請求項1記載の
    画像処理装置。
  3. 【請求項3】 前記欠損画素領域検出手段により検出さ
    れた前記欠損画素領域に基づいて前記第2の画像上の欠
    損画素を補正する欠損画素補正手段を備えたことを特徴
    とする請求項1又は2記載の画像処理装置。
  4. 【請求項4】 前記画像走査手段は、赤外光及び可視光
    を照射してフィルムに記録された画像を別々に走査し、
    該フィルムを透過した光を信号として検出することによ
    り、前記第1の画像としての赤外画像を取得し、前記第
    2の画像として可視画像を取得することを特徴とする請
    求項1乃至3のいずれか記載の画像処理装置。
  5. 【請求項5】 前記ずれ量検出手段は、前記第1の画像
    と第2の画像を別々に走査することに起因するずれ量を
    検出することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか記
    載の画像処理装置。
  6. 【請求項6】 同一の画像を異なる条件で走査して第1
    の画像および第2の画像を取得する工程と、 前記第1の画像上の欠損画素領域を検出する工程と、 前記第2の画像上で前記欠損画素領域に対応する領域か
    ら所定画素数分ずらしながら信号値の和を算出する工程
    と、 前記算出される信号値の和が最小となった場合のずれ量
    を前記第1の画像と前記第2の画像とのずれ量と決定す
    る工程とを有することを特徴とする画像処理方法。
  7. 【請求項7】 前記決定された前記第1の画像と前記第
    2の画像とのずれ量を補正する工程を有することを特徴
    とする請求項6記載の画像処理方法。
  8. 【請求項8】 前記検出された前記欠損画素領域に基づ
    いて前記第2の画像上の欠損画素を補正する工程を有す
    ることを特徴とする請求項6又は7記載の画像処理方
    法。
  9. 【請求項9】 前記画像を取得する工程では、赤外光及
    び可視光を照射してフィルムに記録された画像を別々に
    走査し、該フィルムを透過した光を信号として検出する
    ことにより、前記第1の画像としての赤外画像を取得
    し、前記第2の画像として可視画像を取得することを特
    徴とする請求項6乃至8のいずれか記載の画像処理方
    法。
  10. 【請求項10】 前記ずれ量を決定する工程では、前記
    第1の画像と第2の画像を別々に走査することに起因す
    るずれ量を検出することを特徴とする請求項6乃至9の
    いずれか記載の画像処理方法。
  11. 【請求項11】 画像処理装置内のコンピュータによっ
    て実行され、画像を補正するプログラムが格納された記
    憶媒体において、 前記プログラムは、 同一の画像を異なる条件で走査して第1の画像および第
    2の画像を取得する手順と、 前記第1の画像上の欠損画素領域を検出する手順と、 前記第2の画像上で前記欠損画素領域に対応する領域か
    ら所定画素数分ずらしながら信号値の和を算出する手順
    と、 前記算出される信号値の和が最小となった場合のずれ量
    を前記第1の画像と前記第2の画像とのずれ量と決定す
    る手順とを含むことを特徴とする記憶媒体。
  12. 【請求項12】 前記プログラムは、前記決定された前
    記第1の画像と前記第2の画像とのずれ量を補正する手
    順を含むことを特徴とする請求項11記載の記憶媒体。
  13. 【請求項13】 前記プログラムは、前記検出された前
    記欠損画素領域に基づいて前記第2の画像上の欠損画素
    を補正する手順を含むことを特徴とする請求項11又は
    12記載の記憶媒体。
  14. 【請求項14】 前記画像を取得する手順では、赤外光
    及び可視光を照射してフィルムに記録された画像を別々
    に走査し、該フィルムを透過した光を信号として検出す
    ることにより、前記第1の画像としての赤外画像を取得
    し、前記第2の画像として可視画像を取得することを特
    徴とする請求項11乃至13のいずれか記載の記憶媒
    体。
  15. 【請求項15】 前記ずれ量を決定する手順では、前記
    第1の画像と第2の画像を別々に走査することに起因す
    るずれ量を検出することを特徴とする請求項11乃至1
    4のいずれか記載の記憶媒体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN112312122A (zh) * 2020-02-12 2021-02-02 北京字节跳动网络技术有限公司 摄像头保护膜的检测方法及装置

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