JP2001212132A - 検査方法および装置、放射線断層撮影装置並びに記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放射線検出器の感度分布の変化を簡便に検査
する検査方法および装置、そのような検査装置を備えた
放射線断層撮影装置、並びに、そのような検査機能をコ
ンピュータに実現させるプログラムを記録した記録媒体
を実現する。 【解決手段】 放射線源から放射線検出器２４に、受光
面における照射領域を変えてそれぞれ放射線４００照射
し、放射線検出信号の比に基づいて放射線検出器２４の
性能を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、検査方法および装
置、放射線断層撮影装置並びに記録媒体に関し、特に、
放射線検出器の性能を検査する方法および装置、そのよ
うな検査装置を備えた放射線断層撮影装置、並びに、そ
のような検査機能をコンピュータに実現させるプログラ
ムを記録した記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】Ｘ線を用いた放射線断層撮影装置すなわ
ちＸ線ＣＴ（ｃｏｍｐｕｔｅｒｉｚｅｄ ｔｏｍｏｇｒ
ａｐｈｙ）装置では、Ｘ線照射・検出装置を用いて撮影
対象について透過Ｘ線信号を獲得し、この透過Ｘ線信号
に基づいて撮影対象の断層像を生成（再構成）する。

【０００３】Ｘ線照射装置は、撮影断面を包含する広が
り（幅）を持ちそれに垂直な方向に厚みを持つＸ線ビー
ム（ｂｅａｍ）を照射し、Ｘ線検出装置は、複数のＸ線
検出素子をアレイ（ａｒｒａｙ）状に配置した多チャン
ネル（ｃｈａｎｎｅｌ）のＸ線検出器でＸ線ビームを検
出する。

【０００４】Ｘ線検出素子のアレイは２次元マトリクス
（ｍａｔｒｉｘ）としたものが多い。マトリクスサイズ
（ｍａｔｒｉｘ ｓｉｚｅ）は、Ｘ線ビームの幅の方向
で例えば数百程度、Ｘ線ビームの厚みの方向で例えば１
個ないし十数程度である。Ｘ線検出素子としては、通
常、シンチレータ（ｓｃｉｎｔｉｌｌａｔｏｒ）とフォ
トダイオード（ｐｈｏｔｏｄｉｏｄｅ）の組み合わせか
らなる固体Ｘ線検出器が用いられる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】固体Ｘ線検出器はＸ線
ビームの厚みの方向において感度分布を持つ。この感度
分布の経時変化がＸ線検出信号に経時変化を生じさせる
ので、早期に発見してＸ線検出器の修理や交換等、適切
な対策をとる必要がある。

【０００６】そこで、本発明の課題は、放射線検出器の
感度分布の変化を簡便に検査する検査方法および装置、
そのような検査装置を備えた放射線断層撮影装置、並び
に、そのような検査機能をコンピュータに実現させるプ
ログラムを記録した記録媒体を実現することである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】（１）上記の課題を解決
するための１つの観点での発明は、放射線源から放射線
検出器に受光面における照射領域を変えてそれぞれ放射
線を照射し、前記それぞれ照射した放射線に対応する放
射線検出信号をそれぞれ測定し、前記それぞれ測定した
放射線検出信号の比を求め、前記比に基づいて前記放射
線検出器の性能を判定することを特徴とする検査方法で
ある。

【０００８】この観点での発明では、受光面における照
射領域が異なる放射線検出信号をそれぞれ測定し、それ
らの比に基づいて放射線検出器の性能を判定するので、
放射線検出器の感度分布の変化を簡便に検査することが
できる。

【０００９】（２）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、前記放射線の照射範囲を変化させること
により前記照射領域を変化させることを特徴とする
（１）に記載の検査方法である。

【００１０】この観点での発明では、受光面における照
射範囲が異なる放射線検出信号をそれぞれ測定し、それ
らの比に基づいて放射線検出器の性能を判定するので、
放射線検出器の感度分布の変化を簡便に検査することが
できる。

【００１１】（３）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、前記放射線の照射位置を変化させること
により前記照射領域を変化させることを特徴とする
（１）に記載の検査方法である。

【００１２】この観点での発明では、受光面における照
射位置が異なる放射線検出信号をそれぞれ測定し、それ
らの比に基づいて放射線検出器の性能を判定するので、
放射線検出器の感度分布の変化を簡便に検査することが
できる。

【００１３】（４）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、放射線源から放射線検出器に受光面にお
ける照射領域を変えてそれぞれ放射線を照射する放射線
照射手段と、前記それぞれ照射した放射線に対応する放
射線検出信号をそれぞれ測定する測定手段と、前記それ
ぞれ測定した放射線検出信号の比を求める比算出手段
と、前記比に基づいて前記放射線検出器の性能を判定す
る判定手段とを具備することを特徴とする検査装置であ
る。

【００１４】この観点での発明では、測定手段で受光面
における照射領域が異なる放射線検出信号をそれぞれ測
定し、判定手段でそれらの比に基づいて放射線検出器の
性能を判定するので、放射線検出器の感度分布の変化を
簡便に検査することができる。

【００１５】（５）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、前記放射線照射手段は前記放射線の照射
範囲を変化させることにより前記照射領域を変化させる
ことを特徴とする（４）に記載の検査装置である。

【００１６】この観点での発明では、測定手段で受光面
における照射範囲が異なる放射線検出信号をそれぞれ測
定し、判定手段でそれらの比に基づいて放射線検出器の
性能を判定するので、放射線検出器の感度分布の変化を
簡便に検査することができる。

【００１７】（６）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、前記放射線の照射位置を変化させること
により前記照射領域を変化させることを特徴とする
（４）に記載の検査装置である。

【００１８】この観点での発明では、測定手段で受光面
における照射位置が異なる放射線検出信号をそれぞれ測
定し、判定手段でそれらの比に基づいて放射線検出器の
性能を判定するので、放射線検出器の感度分布の変化を
簡便に検査することができる。

【００１９】（７）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、放射線源および放射線検出器を用いて撮
影対象に関する透過放射線信号を獲得する信号獲得手段
と、前記獲得した透過放射線信号に基づいて画像を生成
する画像生成手段と、前記放射線源から前記放射線検出
器に受光面における照射領域を変えてそれぞれ放射線を
照射する放射線照射手段と、前記それぞれ照射した放射
線に対応する放射線検出信号をそれぞれ測定する測定手
段と、前記それぞれ測定した放射線検出信号の比を求め
る比算出手段と、前記比に基づいて前記放射線検出器の
性能を判定する判定手段とを具備することを特徴とする
放射線断層撮影装置である。

【００２０】この観点での発明では、測定手段で受光面
における照射領域が異なる放射線検出信号をそれぞれ測
定し、判定手段でそれらの比に基づいて放射線検出器の
性能を判定するので、放射線検出器の感度分布の変化を
簡便に検査することができる。また、検査によって性能
が確認された放射線検出器による断層撮影を行うことが
できる。

【００２１】（８）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、放射線源から放射線検出器に受光面にお
ける照射領域を変えてそれぞれ放射線を照射する放射線
照射機能と、前記それぞれ照射した放射線に対応する放
射線検出信号をそれぞれ測定する測定機能と、前記それ
ぞれ測定した放射線検出信号の比を求める比算出機能
と、前記比に基づいて前記放射線検出器の性能を判定す
る判定機能とをコンピュータに実現させるプログラムを
コンピュータで読み取り可能なように記録したことを特
徴とする記録媒体である。

【００２２】この観点での発明では、記録媒体に記録さ
れたプログラムが、測定機能で受光面における照射領域
が異なる放射線検出信号をそれぞれ測定し、判定機能で
それらの比に基づいて放射線検出器の性能を判定するの
で、放射線検出器の感度分布の変化を簡便に検査するこ
とができる。

【００２３】（９）上記の課題を解決するための他の観
点での発明は、放射線源および放射線検出器を用いて撮
影対象に関する透過放射線信号を獲得する信号獲得機能
と、前記獲得した透過放射線信号に基づいて画像を生成
する画像生成機能と、前記放射線源から前記放射線検出
器に受光面における照射領域を変えてそれぞれ放射線を
照射する放射線照射機能と、前記それぞれ照射した放射
線に対応する放射線検出信号をそれぞれ測定する測定機
能と、前記それぞれ測定した放射線検出信号の比を求め
る比算出機能と、前記比に基づいて前記放射線検出器の
性能を判定する判定機能とをコンピュータに実現させる
プログラムをコンピュータで読み取り可能なように記録
したことを特徴とする記録媒体である。

【００２４】この観点での発明では、記録媒体に記録さ
れたプログラムが、測定機能で受光面における照射領域
が異なる放射線検出信号をそれぞれ測定し、判定機能で
それらの比に基づいて放射線検出器の性能を判定するの
で、放射線検出器の感度分布の変化を簡便に検査するこ
とができる。また、検査によって性能が確認された放射
線検出器による断層撮影を行うことができる。

【００２５】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。図１にＸ線ＣＴ装置のブロ
ック（ｂｌｏｃｋ）図を示す。本装置は本発明の実施の
形態の一例である。本装置の構成によって、本発明の装
置に関する実施の形態の一例が示される。本装置の動作
によって、本発明の方法に関する実施の形態の一例が示
される。

【００２６】図１に示すように、本装置は、走査ガント
リ（ｇａｎｔｒｙ）２、撮影テーブル（ｔａｂｌｅ）４
および操作コンソール（ｃｏｎｓｏｌｅ）６を備えてい
る。走査ガントリ２はＸ線管２０を有する。Ｘ線管２０
は、本発明における放射線源の実施の形態の一例であ
る。Ｘ線管２０から放射された図示しないＸ線は、コリ
メータ２２により例えば扇状のＸ線ビームすなわちファ
ンビーム（ｆａｎ ｂｅａｍ）となるように成形され、
検出器アレイ２４に照射される。Ｘ線管２０およびコリ
メータ２２からなる部分は、本発明における放射線照射
手段の実施の形態の一例である。

【００２７】検出器アレイ２４は、扇状のＸ線ビームの
幅の方向にアレイ状に配列された複数のＸ線検出素子を
有する。検出器アレイ２４は、本発明における放射線検
出器の実施の形態の一例である。検出器アレイ２４の構
成については後にあらためて説明する。

【００２８】Ｘ線管２０、コリメータ２２および検出器
アレイ２４は、Ｘ線照射・検出装置を構成する。Ｘ線照
射・検出装置については、後にあらためて説明する。検
出器アレイ２４にはデータ収集部２６が接続されてい
る。データ収集部２６は検出器アレイ２４の個々のＸ線
検出素子の検出データを収集する。データ収集部２６は
本発明における測定手段の実施の形態の一例である。

【００２９】Ｘ線管２０からのＸ線の照射は、Ｘ線コン
トローラ（ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）２８によって制御さ
れる。なお、Ｘ線管２０とＸ線コントローラ２８との接
続関係については図示を省略する。コリメータ２２は、
コリメータコントローラ３０によって制御される。な
お、コリメータ２２とコリメータコントローラ３０との
接続関係については図示を省略する。

【００３０】以上のＸ線管２０からコリメータコントロ
ーラ３０までのものが、走査ガントリ２の回転部３４に
搭載されている。回転部３４の回転は、回転コントロー
ラ３６によって制御される。なお、回転部３４と回転コ
ントローラ３６との接続関係については図示を省略す
る。以上のような、Ｘ線管２０ないし回転コントローラ
３６を備えた走査ガントリ２は、本発明における信号獲
得手段の実施の形態の一例である。

【００３１】撮影テーブル４は、図示しない撮影対象を
走査ガントリ２のＸ線照射空間に搬入および搬出するよ
うになっている。撮影対象とＸ線照射空間との関係につ
いては後にあらためて説明する。

【００３２】操作コンソール６は中央処理装置６０を有
する。中央処理装置６０は、例えばコンピュータ（ｃｏ
ｍｐｕｔｅｒ）等によって構成される。中央処理装置６
０には、制御インタフェース（ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）６
２が接続されている。制御インタフェース６２には、走
査ガントリ２と撮影テーブル４が接続されている。中央
処理装置６０は制御インタフェース６２を通じて走査ガ
ントリ２および撮影テーブル４を制御する。

【００３３】走査ガントリ２内のデータ収集部２６、Ｘ
線コントローラ２８、コリメータコントローラ３０およ
び回転コントローラ３６が制御インタフェース６２を通
じて制御される。なお、それら各部と制御インタフェー
ス６２との個別の接続については図示を省略する。

【００３４】中央処理装置６０には、また、データ収集
バッファ６４が接続されている。データ収集バッファ６
４には、走査ガントリ２のデータ収集部２６が接続され
ている。データ収集部２６で収集されたデータがデータ
収集バッファ６４を通じて中央処理装置６０に入力され
る。

【００３５】中央処理装置６０は、データ収集バッファ
６４を通じて収集した複数ビューのプロジェクションデ
ータを用いて画像再構成を行う。画像再構成には、例え
ばフィルタード・バックプロジェクション（ｆｉｌｔｅ
ｒｅｄ ｂａｃｋ ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）法等が用い
られる。中央処理装置６０は、本発明における画像生成
手段の実施の形態の一例である。

【００３６】中央処理装置６０には、また、記憶装置６
６が接続されている。記憶装置６６は、各種のデータや
再構成画像および本装置の機能を実現するためのプログ
ラム（ｐｒｏｇｒａｍ）等を記憶する。中央処理装置６
０には、また、表示装置６８と操作装置７０がそれぞれ
接続されている。表示装置６８は、中央処理装置６０か
ら出力される再構成画像やその他の情報を表示する。操
作装置７０は、操作者によって操作され、各種の指示や
情報等を中央処理装置６０に入力する。

【００３７】図２に、検出器アレイ２４の模式的構成を
示す。同図に示すように、検出器アレイ２４は、複数の
Ｘ線検出素子２４（ｉｋ）をアレイ状に配列した、多チ
ャンネルのＸ線検出器となっている。Ｘ線検出素子２４
（ｉｋ）は、本発明における放射線検出素子の実施の形
態の一例である。

【００３８】複数のＸ線検出素子２４（ｉｋ）は、全体
として、円筒凹面状に湾曲したＸ線入射面を形成する。
ｉはチャンネル番号であり例えばｉ＝１〜１０００であ
る。ｋは列番号であり例えばｋ＝１，２である。Ｘ線検
出素子２４（ｉｋ）は、列番号ｋが同一なもの同士でそ
れぞれ検出素子列を構成する。なお、検出器アレイ２４
は２列に限るものではなく３列以上の多列であって良
い。また、１列のアレイであって良いのはもちろんであ
る。以下、検出器アレイ２４が２列の例で説明するが、
１列あるいは３列以上の多列の場合も同様になる。

【００３９】Ｘ線検出素子２４（ｉｋ）は、例えばシン
チレータとフォトダイオードの組み合わせによって構成
される。なお、これに限るものではなく、例えばカドミ
ウム・テルル（ＣｄＴｅ）等を利用した半導体Ｘ線検出
素子であって良い。

【００４０】図３に、Ｘ線照射・検出装置におけるＸ線
管２０とコリメータ２２と検出器アレイ２４の相互関係
を示す。なお、図３の（ａ）は走査ガントリ２の正面か
ら見た状態を示す図、（ｂ）は側面から見た状態を示す
図である。同図に示すように、Ｘ線管２０から放射され
たＸ線は、コリメータ２２により扇状のＸ線ビーム４０
０となるように成形され、検出器アレイ２４に照射され
るようになっている。

【００４１】図３の（ａ）では、扇状のＸ線ビーム４０
０の広がりすなわちＸ線ビーム４００の幅を示す。Ｘ線
ビーム４００の幅方向は、検出器アレイ２４におけるチ
ャンネルの配列方向に一致する。（ｂ）ではＸ線ビーム
４００の厚みを示す。Ｘ線ビーム４００の厚み方向は、
検出器アレイ２４における列の並設方向（ｋ方向）に一
致する。

【００４２】このようなＸ線ビーム４００の扇面に体軸
を交差させて、例えば図４に示すように、撮影テーブル
４に載置された撮影対象８がＸ線照射空間に搬入され
る。走査ガントリ２は、内部にＸ線照射・検出装置を包
含する筒状の構造になっている。

【００４３】Ｘ線照射空間は、走査ガントリ２の筒状構
造の内側空間に形成される。Ｘ線ビーム４００によって
スライスされた撮影対象８の像が検出器アレイ２４に投
影される。検出器アレイ２４によって、撮影対象８を透
過したＸ線が検出される。撮影対象８に照射するＸ線ビ
ーム４００の厚みｔｈは、コリメータ２２のアパーチャ
（ａｐｅｒｔｕｒｅ）の開度により調節される。このよ
うなＸ線照射・検出装置を撮影対象８の体軸の周りで回
転させ、複数のビュー方向での透過Ｘ線信号をそれぞれ
収集する。

【００４４】検出器アレイ２４に対するＸ線ビーム４０
０の照射状態のさらに詳細な模式図を図５および図６に
示す。同図において、ｉはチャンネル方向、ｋは列の並
びの方向、ｙはＸ線ビーム４００が到来する方向であ
る。以下同様である。

【００４５】図５に示すように、コリメータ２２におけ
るコリメータ片２２０，２２２をアパーチャを狭める方
向に変位させることにより、Ｘ線検出素子２４２，２４
４における投影像のスライス厚ｔｈを薄くする。また、
図６に示すようにコリメータ片２２０，２２２をアパー
チャを広げる方向に動かすことにより、投影像のスライ
ス厚ｔｈを厚くする。スライス厚の変更に応じて、Ｘ線
検出素子２４２，２４４の受光面における照射領域が変
化する。すなわち照射範囲の変化に伴って照射領域が変
化する。

【００４６】次に、検出器アレイ２４の性能検査につい
て説明する。検出器アレイ２４の性能検査には、撮影対
象８が無い状態で収集したＸ線検出データが用いられ
る。そのようなデータとしては、例えば、本装置の使用
開始前に行うウォームアップ・スキャン（ｗａｒｍ−ｕ
ｐ ｓｃａｎ）、すなわち、Ｘ線管２０を所定の温度ま
で立ち上げるための予備的なスキャンを行う間に収集し
たデータが用いられる。

【００４７】この場合のデータ収集は、図５に示したよ
うな薄い（例えばｔｈ＝１ｍｍ）スライス、および、図
６に示したような厚い（例えばｔｈ＝５ｍｍ）スライス
でそれぞれ行われる。

【００４８】図７に、検出器アレイ２４の性能を検査す
る観点での中央処理装置６０のブロック図を示す。同図
に示すように、中央処理装置６０は、除算ユニット６０
２および判定ユニット６０４を有する。除算ユニット６
０２および判定ユニット６０４は、いずれも、例えばコ
ンピュータプログラム等により実現される。除算ユニッ
ト６０２は、本発明における比算出手段の実施の形態の
一例である。判定ユニット６０４は、本発明における判
定手段の実施の形態の一例である。

【００４９】除算ユニット６０２は、メモリ６０６，６
０６’から読み出した２つのデータの比を求める。メモ
リ６０６には、薄いスライスによるＸ線検出データが記
憶され、メモリ６０６’には厚いスライスによるＸ線検
出データが記憶されている。なお、データは検出器アレ
イ２４の各列ごとに記憶される。

【００５０】除算ユニット６０２は、それらＸ線検出デ
ータにつき、各列ごとにチャンネルが同一なもの同士で
比を求める。チャンネルごとの比算出値ｒは判定ユニッ
ト６０４に入力される。判定ユニットは比算出値ｒに基
づいて検出器アレイ２４の性能の劣化の有無を判定す
る。判定には所定の上限値Ｒ１および下限値Ｒ２が用い
られ、比算出値ｒが上下限値Ｒ１，Ｒ２の間にある状態
を正常とし、上下限値Ｒ１，Ｒ２を逸脱したことをもっ
て性能劣化とする。

【００５１】一般に、Ｘ線検出素子２４２，２４４はｋ
方向に感度分布を有するが、本装置では、上記のよう
に、薄いスライスと厚いスライスのＸ線検出データの比
を利用するので、感度分布の経時的な変化をも含めた性
能劣化を検出することができる。このため、予め性能劣
化がない状態でＸ線検出データを求め、それを判定の基
準値として保存する必要がない。

【００５２】判定結果は表示装置６８に表示される。こ
れによって性能が劣化したチャンネルのチャンネル番号
が表示される。表示にあたっては、検出器アレイ２４の
略図をも表示し、劣化したチャンネルの位置を略図上で
表示するのが、劣化箇所の直感的な把握を容易にする点
で好ましい。

【００５３】その際、正常なチャンネルを例えばグリー
ン（ｇｒｅｅｎ）で表示し、正常範囲にはあるが劣化し
かかっているチャンネルは、イエロー（ｙｅｌｌｏｗ）
で表示し、劣化したチャンネルはレッド（ｒｅｄ）で表
示する等、色分けにして表示するのが認識性を良くする
点で好ましい。

【００５４】また、毎回のウォームアップ・スキャン時
の比算出値を保存しておき、その変化のトレンド（ｔｒ
ｅｎｄ）から性能劣化を予測し、検出器アレイ２４の交
換や修理等が必要になる時期を事前に報知するようにし
ても良い。これにより、検出器アレイ２４の故障による
稼働停止を未然に回避することができる。

【００５５】ところで、ウォームアップ・スキャン中に
は、温度上昇に伴うＸ線管２０の熱膨張によりＸ線焦点
がｋ方向に移動する。これによって、例えば、ウォーム
アップ・スキャンの開始時点で図８に示すように検出器
アレイ２４の図における右寄りに照射していたＸ線ビー
ム４００が、ウォームアップ・スキャンの終了間際で
は、図９に示すように図における左寄りに照射する状態
になる。すなわち、照射位置の変化に伴ってＸ線の照射
領域が変化する。

【００５６】通常は、オートコリメータ（ａｕｔｏ ｃ
ｏｌｌｉｍａｔｏｒ）と呼ばれる照射位置自動調節機能
により、照射位置は検出器アレイ２４上のｋ方向の中央
となるように調節されるが、オートコリメータを無効に
してウォームアップ・スキャンすることにより、図８に
示す状態から図９に示す状態までＸ線ビーム４００の照
射位置が変化させることができる。

【００５７】そこで、図８の状態で収集したＸ線検出デ
ータと図９の状態で収集したＸ線検出データ比に基づい
て判定ユニット６０４により性能劣化の有無を判定する
ようにしても良い。すなわち、図８の状態で収集したＸ
線検出データをメモリ６０６に記憶し、図９の状態で収
集したＸ線検出データをメモリ６０６’に記憶し、除算
ユニット６０２両者の比を求め、比算出値に基づいて判
定ユニット６０４により性能劣化の有無を判定する。そ
の際、判定の基準値はこのような照射状態に適合したも
のを用いることはいうまでもない。なお、図８および図
９の状態は、Ｘ線管２０の熱膨張によるＸ線焦点移動を
利用する代わりに、コリメータ２２の意図的な調節によ
り実現するようにしても良い。

【００５８】このように、別々な照射位置でのＸ線検出
データの比を利用するので、感度分布の経時的な変化を
も含めた性能劣化を検出することができる。したがっ
て、予め性能劣化がない状態でＸ線検出データを求め
て、それを判定の基準値として保存する必要がない。

【００５９】以上のような本装置の機能を中央処理装置
６０（コンピュータ）に実現させるためのプログラム
が、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され
る。コンピュータで読み取り記録媒体は、磁気的な記録
媒体、光学的な記録媒体、磁気的光学的な記録媒体およ
び半導体を用いた記憶媒体のいずれであっても良い。な
お、本書では記録媒体は記憶媒体と同義である。

【００６０】以上、放射線としてＸ線を用いた例で説明
したが、放射線はＸ線に限るものではなく、例えばγ線
等の他の種類の放射線であっても良い。ただし、現時点
では、Ｘ線がその発生、検出および制御等に関し実用的
な手段が最も充実している点で好ましい。

【００６１】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、放射線検出器の感度分布の変化を簡便に検査する
検査方法および装置、そのような検査装置を備えた放射
線断層撮影装置、並びに、そのような検査機能をコンピ
ュータに実現させるプログラムを記録した記録媒体を実
現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図
である。

【図２】図１に示した装置における検出器アレイの模式
図である。

【図３】図１に示した装置におけるＸ線照射・検出装置
の模式図である。

【図４】図１に示した装置におけるＸ線照射・検出装置
の模式図である。

【図５】図１に示した装置におけるＸ線照射・検出装置
の模式図である。

【図６】図１に示した装置におけるＸ線照射・検出装置
の模式図である。

【図７】性能検査の観点での中央処理装置のブロック図
である。

【図８】図１に示した装置におけるＸ線照射・検出装置
の模式図である。

【図９】図１に示した装置におけるＸ線照射・検出装置
の模式図である。

【符号の説明】

２ 走査ガントリ ２０ Ｘ線管 ２２ コリメータ ２４ 検出器アレイ ２６ データ収集部 ２８ Ｘ線コントローラ ３０ コリメータコントローラ ３４ 回転部 ３６ 回転コントローラ ４ 撮影テーブル ６ 操作コンソール ６０ データ処理装置 ６２ 制御インタフェース ６４ データ収集バッファ ６６ 記憶装置 ６８ 表示装置 ７０ 操作装置 ８ 撮影対象 ４００ Ｘ線ビーム ６０２ 除算ユニット ６０４ 判定ユニット ６０６，６０６’ メモリ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G088 EE02 FF02 FF14 GG19 JJ05 JJ11 JJ36 KK24 LL26 MM04 4C093 CA41 CA50 EA14 EB12 EB13 EB17 FA16 FD09 FD11 GA05

Claims (24)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 放射線源から放射線検出器に受光面にお
   ける照射領域を変えてそれぞれ放射線を照射し、 前記それぞれ照射した放射線に対応する放射線検出信号
   をそれぞれ測定し、 前記それぞれ測定した放射線検出信号の比を求め、 前記比に基づいて前記放射線検出器の性能を判定する、 ことを特徴とする検査方法。
2. 【請求項２】 前記放射線の照射範囲を変化させること
   により前記照射領域を変化させる、ことを特徴とする請
   求項１に記載の検査方法。
3. 【請求項３】 前記放射線の照射位置を変化させること
   により前記照射領域を変化させる、ことを特徴とする請
   求項１記載の検査方法。
4. 【請求項４】 前記放射線は照射方向に垂直でかつ互い
   に垂直な２方向においてそれぞれ幅および厚みを有し、 前記放射線検出器は前記放射線の幅の方向に１次元的に
   配列された複数の放射線検出素子を有する、ことを特徴
   とする請求項１ないし請求項３のうちのいずれか１つに
   記載の検査方法。
5. 【請求項５】 前記放射線は照射方向に垂直でかつ互い
   に垂直な２方向においてそれぞれ幅および厚みを有し、 前記放射線検出器は前記放射線の幅および厚みの方向に
   ２次元的に配列された複数の放射線検出素子を有する、
   ことを特徴とする請求項１ないし請求項３のうちのいず
   れか１つに記載の検査方法。
6. 【請求項６】 前記放射線はＸ線である、ことを特徴と
   する請求項１ないし請求項５のうちのいずれか１つに記
   載の検査方法。
7. 【請求項７】 放射線源から放射線検出器に受光面にお
   ける照射領域を変えてそれぞれ放射線を照射する放射線
   照射手段と、 前記それぞれ照射した放射線に対応する放射線検出信号
   をそれぞれ測定する測定手段と、 前記それぞれ測定した放射線検出信号の比を求める比算
   出手段と、 前記比に基づいて前記放射線検出器の性能を判定する判
   定手段と、 を具備することを特徴とする検査装置。
8. 【請求項８】 前記放射線照射手段は前記放射線の照射
   範囲を変化させることにより前記照射領域を変化させ
   る、ことを特徴とする請求項７に記載の検査装置。
9. 【請求項９】 前記放射線の照射位置を変化させること
   により前記照射領域を変化させる、ことを特徴とする請
   求項７に記載の検査装置。
10. 【請求項１０】 前記放射線は照射方向に垂直でかつ互
    いに垂直な２方向においてそれぞれ幅および厚みを有
    し、 前記放射線検出器は前記放射線の幅の方向に１次元的に
    配列された複数の放射線検出素子を有する、ことを特徴
    とする請求項７ないし請求項９のうちのいずれか１つに
    記載の検査装置。
11. 【請求項１１】 前記放射線は照射方向に垂直でかつ互
    いに垂直な２方向においてそれぞれ幅および厚みを有
    し、 前記放射線検出器は前記放射線の幅および厚みの方向に
    ２次元的に配列された複数の放射線検出素子を有する、
    ことを特徴とする請求項７ないし請求項９のうちのいず
    れか１つに記載の検査装置。
12. 【請求項１２】 前記放射線はＸ線である、 ことを特徴とする請求項７ないし請求項１１のうちのい
    ずれか１つに記載の検査装置。
13. 【請求項１３】 放射線源および放射線検出器を用いて
    撮影対象に関する透過放射線信号を獲得する信号獲得手
    段と、 前記獲得した透過放射線信号に基づいて画像を生成する
    画像生成手段と、 前記放射線源から前記放射線検出器に受光面における照
    射領域を変えてそれぞれ放射線を照射する放射線照射手
    段と、 前記それぞれ照射した放射線に対応する放射線検出信号
    をそれぞれ測定する測定手段と、 前記それぞれ測定した放射線検出信号の比を求める比算
    出手段と、 前記比に基づいて前記放射線検出器の性能を判定する判
    定手段と、を具備することを特徴とする放射線断層撮影
    装置。
14. 【請求項１４】 前記放射線照射手段は前記放射線の照
    射範囲を変化させることにより前記照射領域を変化させ
    る、ことを特徴とする請求項１３に記載の放射線断層撮
    影装置。
15. 【請求項１５】 前記放射線の照射位置を変化させるこ
    とにより前記照射領域を変化させる、ことを特徴とする
    請求項１３に記載の放射線断層撮影装置。
16. 【請求項１６】 前記放射線は照射方向に垂直でかつ互
    いに垂直な２方向においてそれぞれ幅および厚みを有
    し、 前記放射線検出器は前記放射線の幅の方向に１次元的に
    配列された複数の放射線検出素子を有する、ことを特徴
    とする請求項１３ないし請求項１５のうちのいずれか１
    つに記載の放射線断層撮影装置。
17. 【請求項１７】 前記放射線は照射方向に垂直でかつ互
    いに垂直な２方向においてそれぞれ幅および厚みを有
    し、 前記放射線検出器は前記放射線の幅および厚みの方向に
    ２次元的に配列された複数の放射線検出素子を有する、
    ことを特徴とする請求項１３ないし請求項１５のうちの
    いずれか１つに記載の放射線断層撮影装置。
18. 【請求項１８】 前記放射線はＸ線である、 ことを特徴とする請求項１３ないし請求項１５のうちの
    いずれか１つに記載の放射線断層撮影装置。
19. 【請求項１９】 放射線源から放射線検出器に受光面に
    おける照射領域を変えてそれぞれ放射線を照射する放射
    線照射機能と、 前記それぞれ照射した放射線に対応する放射線検出信号
    をそれぞれ測定する測定機能と、 前記それぞれ測定した放射線検出信号の比を求める比算
    出機能と、 前記比に基づいて前記放射線検出器の性能を判定する判
    定機能と、 をコンピュータに実現させるプログラムをコンピュータ
    で読み取り可能なように記録したことを特徴とする記録
    媒体。
20. 【請求項２０】 前記放射線照射機能は前記放射線の照
    射範囲を変化させることにより前記照射領域を変化させ
    る、ことを特徴とする請求項１９に記載の記録媒体。
21. 【請求項２１】 前記放射線の照射位置を変化させるこ
    とにより前記照射領域を変化させる、ことを特徴とする
    請求項１９に記載の記録媒体。
22. 【請求項２２】 放射線源および放射線検出器を用いて
    撮影対象に関する透過放射線信号を獲得する信号獲得機
    能と、 前記獲得した透過放射線信号に基づいて画像を生成する
    画像生成機能と、 前記放射線源から前記放射線検出器に受光面における照
    射領域を変えてそれぞれ放射線を照射する放射線照射機
    能と、 前記それぞれ照射した放射線に対応する放射線検出信号
    をそれぞれ測定する測定機能と、 前記それぞれ測定した放射線検出信号の比を求める比算
    出機能と、 前記比に基づいて前記放射線検出器の性能を判定する判
    定機能と、をコンピュータに実現させるプログラムをコ
    ンピュータで読み取り可能なように記録したことを特徴
    とする記録媒体。
23. 【請求項２３】 前記放射線照射機能は前記放射線の照
    射範囲を変化させることにより前記照射領域を変化させ
    る、 ことを特徴とする請求項２２に記載の記録媒体。
24. 【請求項２４】 前記放射線の照射位置を変化させるこ
    とにより前記照射領域を変化させる、ことを特徴とする
    請求項２２に記載の記録媒体。