JP2001203101A - Resistor - Google Patents

Resistor

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JP2001203101A
JP2001203101A JP2000012550A JP2000012550A JP2001203101A JP 2001203101 A JP2001203101 A JP 2001203101A JP 2000012550 A JP2000012550 A JP 2000012550A JP 2000012550 A JP2000012550 A JP 2000012550A JP 2001203101 A JP2001203101 A JP 2001203101A
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Japan
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trimming
resistor
trace
mark
primary
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JP2000012550A
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Japanese (ja)
Inventor
Taiji Kinoshita
泰治 木下
Seiji Hoshitoku
聖治 星徳
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resistor having superior surge resistance. SOLUTION: The resistor is provided with a resistance body 13, which is formed on an insulating substrate 11 and electrically connected between counter electrodes 12a and 12b, across which an electric current is made to flow, and two trimmed traces 14a and 17a formed on the side edges of the resistance body 13.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、耐サージ特性に優
れた抵抗器に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resistor having excellent surge resistance.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、耐サージ特性に優れた抵抗器とし
ては、実公平2−38708号公報に記載のものが知ら
れている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a resistor described in Japanese Utility Model Publication No. 2-38708 is known as a resistor having excellent surge resistance.

【0003】以下、従来の抵抗器について、図面を参照
しながら説明する。
[0003] A conventional resistor will be described below with reference to the drawings.

【0004】図8は従来の抵抗器の上面図である。FIG. 8 is a top view of a conventional resistor.

【0005】図8において、1は基板である。2a,2
bは電極で、基板1の上面の両端部に設けられている。
3は抵抗体で、電極2a,2b間を電気的に接続するよ
うに設けられている。4は一方の電極2aの近傍に位置
して、電極2aと平行方向に延びるように抵抗体3の側
辺に設けられた1次トリミング跡である。5は1次トリ
ミング跡4の終端を始端とし、この始端から他方の電極
2bの方向に延びる2次トリミング跡である。
In FIG. 8, reference numeral 1 denotes a substrate. 2a, 2
b is an electrode provided at both ends of the upper surface of the substrate 1.
Reference numeral 3 denotes a resistor provided to electrically connect the electrodes 2a and 2b. Reference numeral 4 denotes a primary trimming mark provided on a side of the resistor 3 so as to be located near one of the electrodes 2a and extend in a direction parallel to the electrode 2a. Reference numeral 5 denotes a secondary trimming trace starting from the end of the primary trimming trace 4 and extending in the direction of the other electrode 2b from the starting end.

【0006】以上のように構成された従来の抵抗器に関
して、以下にその製造方法を図面を参照しながら説明す
る。
A method of manufacturing the conventional resistor having the above-described structure will be described below with reference to the drawings.

【0007】図9は、従来の抵抗器の製造方法を示す図
である。
FIG. 9 is a view showing a conventional method of manufacturing a resistor.

【0008】まず、図9(a)に示すように、基板1の
上面の両端部に一対の電極2a,2bを形成する。
First, as shown in FIG. 9A, a pair of electrodes 2a and 2b are formed on both ends of the upper surface of the substrate 1.

【0009】次に、図9(b)に示すように、基板1お
よび電極2a,2bの一部の上面に抵抗体3を形成す
る。トリミング跡形成前で抵抗体3形成後の電極2a,
2b間の抵抗値(初期抵抗値)は、目標とする抵抗値よ
りも低くなるようにし、かつ、低すぎる場合はトリミン
グ跡を長く設ける必要があるため、抵抗体の耐サージ性
などの特性が悪くなる。従って通常、目標とする抵抗値
の2分の1以上とする。
Next, as shown in FIG. 9B, a resistor 3 is formed on the upper surface of a part of the substrate 1 and the electrodes 2a and 2b. Before the trimming traces are formed, the electrodes 2a,
The resistance value between 2b (initial resistance value) should be lower than the target resistance value, and if too low, it is necessary to provide a long trimming mark. become worse. Therefore, the resistance is usually set to one half or more of the target resistance value.

【0010】次に、図9(c)に示すように、電極2
a,2b間の抵抗値が抵抗体形成後の抵抗値によって決
められる所定の抵抗値になるように、電極2aと平行方
向に延びる1次トリミング跡4を形成する。トリミング
跡4,5形成前で抵抗体13形成後の初期抵抗値が低い
ほど、1次トリミング跡4は長くなるが、初期抵抗値が
目標抵抗値の2分の1程度であった場合、その長さは抵
抗体3の全幅の3分の2程度と非常に大きくなってしま
う。
Next, as shown in FIG.
The primary trimming trace 4 extending in a direction parallel to the electrode 2a is formed so that the resistance between the electrodes a and 2b becomes a predetermined resistance determined by the resistance after the formation of the resistor. The lower the initial resistance value after the formation of the resistor 13 before the formation of the trimming traces 4 and 5, the longer the primary trimming trace 4 becomes. However, when the initial resistance value is about half the target resistance value, The length is as large as about two thirds of the entire width of the resistor 3.

【0011】最後に、図9(d)に示すように、電極2
a,2b間の抵抗値を目標とする抵抗値になるように、
1次トリミング跡4の終端を始端とし、他方の電極2b
の方向に延びる2次トリミング跡5を形成する。
Finally, as shown in FIG.
so that the resistance value between a and 2b becomes the target resistance value,
The end of the primary trimming trace 4 is set as the starting end, and the other electrode 2b
The secondary trimming trace 5 extending in the direction of is formed.

【0012】このように電極2a,2b間の抵抗値によ
って2次トリミング跡5の終端位置を決めると、2次ト
リミング跡5の長さはばらつきやすい。よって、通常
は、2次トリミング跡5の終端が電極2bと重ならない
ように、1次トリミング跡4を長めに形成して、1次ト
リミング跡4形成後の抵抗値をやや高くしておき、2次
トリミング跡5は抵抗体の全長の半分以下の長さとなる
ようにする。よって、2次トリミング跡5の始端側また
は終端側のどちらかでは少なくとも、2次トリミング跡
5と電極2aまたは2bとの距離が、2次トリミング跡
5の長さの2分の1以上になる。
When the end position of the secondary trimming mark 5 is determined by the resistance value between the electrodes 2a and 2b, the length of the secondary trimming mark 5 tends to vary. Therefore, usually, the primary trimming trace 4 is formed longer so that the terminal end of the secondary trimming trace 5 does not overlap with the electrode 2b, and the resistance value after the formation of the primary trimming trace 4 is slightly increased. The secondary trimming mark 5 is set to have a length equal to or less than half of the entire length of the resistor. Therefore, at least on either the start end side or the end side of the secondary trimming trace 5, the distance between the secondary trimming trace 5 and the electrode 2 a or 2 b is equal to or more than half the length of the secondary trimming trace 5. .

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の抵抗器は、電流を負荷したときに2次トリミング跡
5の始端(1次トリミング跡4の終端)及び/または終
端付近に電流集中の程度が増し、十分な耐サージ特性が
得られない場合があるという課題を有していた。
However, the above-mentioned conventional resistor has a degree of current concentration at the beginning of the secondary trimming trace 5 (end of the primary trimming trace 4) and / or near the end when current is loaded. However, there is a problem that sufficient surge resistance may not be obtained in some cases.

【0014】図10は、従来の抵抗器に電流を流したと
きの電流の流れを示す図である。図中の矢印が電流の向
きを示し、矢印の間隔が狭いところほど、電流が集中し
ていることを示している。
FIG. 10 is a diagram showing a current flow when a current flows through a conventional resistor. The arrows in the figure indicate the direction of the current, and the narrower the interval between the arrows, the more the current is concentrated.

【0015】図10から明らかなように、電流がトリミ
ング跡4,5によって妨げられるため、2次トリミング
跡5の両端(始端及び終端)付近で特に電流が集中して
いる。
As is apparent from FIG. 10, the current is hindered by the trimming traces 4 and 5, so that the current is particularly concentrated near both ends (start and end) of the secondary trimming trace 5.

【0016】なお、同じ電流量が流れる場合、1次トリ
ミング跡4は電流の流れと垂直に延びているため、1次
トリミング跡4が長いほど、また、1次トリミング跡4
と電極2aの距離が長いほど、この電流集中の程度は増
していく。そして、サージ電流が流れると、電流集中の
程度に応じた温度上昇が起こり、温度上昇がある程度を
超えると、抵抗体3が焼損して抵抗値が変化あるいは抵
抗体3がオープンとなってしまう。このとき、1次トリ
ミング跡4及び2次トリミング跡5で囲まれた領域では
電流が一部で逆向きに流れ、この逆電流がすべて2次ト
リミング跡5の終端付近に集中するため、2次トリミン
グ跡5の始端付近よりも2次トリミング跡5の終端付近
の方が電流集中は非常に激しくなる。
When the same amount of current flows, the primary trimming trace 4 extends perpendicular to the current flow, so that the longer the primary trimming trace 4 is, the larger the primary trimming trace 4 is.
The longer the distance between the electrode and the electrode 2a, the greater the degree of this current concentration. Then, when a surge current flows, a temperature rise occurs in accordance with the degree of current concentration, and when the temperature rise exceeds a certain level, the resistor 3 is burned and the resistance value changes or the resistor 3 is opened. At this time, in a region surrounded by the primary trimming traces 4 and the secondary trimming traces 5, the current partially flows in the reverse direction, and all the reverse currents are concentrated near the end of the secondary trimming traces 5, so that the secondary The current concentration is much more intense near the end of the secondary trimming trace 5 than near the beginning of the trimming trace 5.

【0017】本発明は上記従来の課題を解決するもの
で、耐サージ特性に優れた抵抗器を提供することを目的
とする。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a resistor having excellent surge resistance.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の抵抗器は、絶縁基板上に形成され、相対向す
る電極間に電気的に接続されて両電極間に電流が流れる
矩形状の抵抗体と、前記抵抗体の側辺に形成された2つ
のトリミング跡を備えたもので、これにより、耐サージ
特性に優れた抵抗器が得られる。
In order to solve the above-mentioned problems, a resistor according to the present invention is formed on an insulating substrate, and is electrically connected between opposing electrodes so that a current flows between the electrodes. It is provided with a resistor having a shape and two trimming marks formed on the side of the resistor, thereby obtaining a resistor having excellent surge resistance.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、絶縁基板上に形成され、相対向する電極間に電気的
に接続されて両電極間に電流が流れる矩形状の抵抗体
と、前記抵抗体の側辺に形成された2つのトリミング跡
を備えたもので、この構成によれば、初期抵抗値と目標
抵抗値が同じ場合、抵抗体に2つのトリミング跡を形成
することによってトリミング跡が1つしか形成されない
場合に比べて、トリミング跡の長さが短くなるため、ト
リミング跡の終端の電流集中を抑制することができ、こ
れにより、抵抗器の耐サージ特性が向上するという作用
を有するものである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention is a rectangular resistor formed on an insulating substrate and electrically connected between opposing electrodes so that a current flows between the electrodes. And two trimming marks formed on the side of the resistor. According to this configuration, when the initial resistance value and the target resistance value are the same, two trimming marks are formed on the resistor. As compared with the case where only one trimming mark is formed, the length of the trimming mark is shorter, so that the current concentration at the end of the trimming mark can be suppressed, thereby improving the surge resistance characteristics of the resistor. It has the action of:

【0020】請求項2に記載の発明は、絶縁基板上に形
成され、相対向する電極間に電気的に接続されて両電極
間に電流が流れる矩形状の抵抗体と、前記抵抗体の対向
する側辺の一方に形成された第1のトリミング跡と、他
方に形成された第2のトリミング跡とを備えたもので、
この構成によれば、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ場
合、抵抗体の両側辺にトリミング跡を形成することによ
ってトリミング跡が1つで抵抗体の片側辺にしか形成さ
れない場合に比べて、通常時に流れる電流をトリミング
跡によってより妨げることができるため、トリミング跡
の長さをさらに短くでき、これにより、トリミング跡の
終端の電流集中をさらに抑制することができ、抵抗器の
耐サージ特性がさらに向上するという作用を有するもの
である。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a rectangular resistor formed on an insulating substrate and electrically connected between electrodes facing each other, and a current flows between the two electrodes; A first trimming mark formed on one of the side edges to be formed, and a second trimming mark formed on the other side,
According to this configuration, when the initial resistance value and the target resistance value are the same, trimming marks are formed on both sides of the resistor, so that a single trimming mark is formed on only one side of the resistor. The current that flows during normal operation can be further impeded by the trimming traces, so that the length of the trimming traces can be further reduced, thereby further suppressing the current concentration at the end of the trimming traces and reducing the surge resistance of the resistor. It has the effect of further improving.

【0021】請求項3に記載の発明は、絶縁基板上に形
成され、相対向する電極間に電気的に接続されて両電極
間に電流が流れる矩形状の抵抗体と、前記抵抗体の対向
する側辺の一方に形成された第1のトリミング跡と、他
方に形成された第2のトリミング跡とを備え、前記第1
のトリミング跡と前記第2のトリミング跡は、一方の電
極側の近傍に位置して当該一方の電極に平行に延びる1
次トリミング跡と、前記1次トリミング跡の終端を始端
とし、この始端から他方の電極側に向かう電流方向に延
び、他方の電極側の近傍に終端を持つ2次トリミング跡
とを含むようにしたもので、この構成によれば、初期抵
抗値と目標抵抗値が同じ場合、抵抗体の両側辺にトリミ
ング跡を形成することによってトリミング跡が1つで抵
抗体の片側辺にしか形成されない場合に比べて、1次ト
リミング跡の長さが短くなるため、2次トリミング跡の
始端及び/または終端の電流集中を抑制することがで
き、さらに、2次トリミング跡によって1次トリミング
跡の終端部を回り込む電流を減らすことができるため、
2次トリミング跡の始端(1次トリミング跡の終端)の
電流集中を抑制することができ、これらにより、抵抗器
の耐サージ特性が向上するという作用を有するものであ
る。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a rectangular resistor formed on an insulating substrate and electrically connected between opposing electrodes to allow a current to flow between the two electrodes; A first trimming mark formed on one of the sides to be formed, and a second trimming mark formed on the other side.
And the second trimming mark are located near one electrode side and extend in parallel with the one electrode.
The secondary trimming trace includes a secondary trimming trace and a secondary trimming trace extending from the start end to the other electrode side in a current direction and having a terminal end near the other electrode side. According to this configuration, when the initial resistance value and the target resistance value are the same, trimming traces are formed on both sides of the resistor, so that only one trimming trace is formed on only one side of the resistor. In comparison, since the length of the primary trimming trace is shorter, current concentration at the start and / or end of the secondary trimming trace can be suppressed, and the terminal end of the primary trimming trace can be reduced by the secondary trimming trace. Because the current flowing around can be reduced,
The current concentration at the start end of the secondary trimming trace (end of the primary trimming trace) can be suppressed, thereby having the effect of improving the surge resistance characteristics of the resistor.

【0022】本発明の請求項4に記載の発明は、絶縁基
板上に形成され、相対向する電極間に電気的に接続され
て両電極間に電流が流れる矩形状の抵抗体と、前記抵抗
体の対向する側辺の一方に形成された第1のトリミング
跡と、他方に形成された第2のトリミング跡とを備え、
少なくとも前記第2のトリミング跡は、一方の電極側の
近傍に位置して当該一方の電極に平行に延びる1次トリ
ミング跡と、前記1次トリミング跡の終端を始端とし、
この始端から他方の電極側に向かう電流方向に延び、他
方の電極側の近傍に終端を持つ2次トリミング跡とを含
み、さらに、前記1次トリミング跡の長さを、トリミン
グ跡が1つのときにおける1次トリミング跡の長さより
短くなるようにし、そして前記2次トリミング跡の始端
及び終端の部分における電流の回り込みを抑制するよう
に、前記1次トリミング跡の終端と前記1次トリミング
跡の近傍の電極との距離、前記2次トリミング跡の終端
と前記2次トリミング跡の近傍の電極との距離をそれぞ
れ2次トリミング跡の長さの2分の1以下としたもの
で、この構成によれば、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ
場合、抵抗体の両側辺にトリミング跡を形成することに
よってトリミング跡が1つで抵抗体の片側辺にしか形成
されない場合に比べて、1次トリミング跡の長さが短く
なるため、2次トリミング跡の始端及び/または終端の
電流集中を抑制することができることに加え、電極と2
次トリミング跡の始端及び終端の距離を従来よりも短く
することができるため、さらに電流集中を抑制でき、こ
れにより、抵抗器の耐サージ特性が向上するという作用
を有するものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a rectangular resistor formed on an insulating substrate, electrically connected between opposing electrodes, and having a current flowing between both electrodes; A first trimming mark formed on one of the opposing sides of the body, and a second trimming mark formed on the other side,
At least the second trimming trace has a primary trimming trace located near one electrode side and extending in parallel with the one electrode, and an end of the primary trimming trace as a starting end,
A secondary trimming trace extending in the current direction from the start end toward the other electrode side and having an end near the other electrode side, wherein the length of the primary trimming trace is one trimming trace. In the vicinity of the end of the primary trimming trace and the primary trimming trace so as to reduce the current wrap around at the beginning and end of the secondary trimming trace. And the distance between the end of the secondary trimming trace and the electrode in the vicinity of the secondary trimming trace is less than half the length of the secondary trimming trace, respectively. For example, when the initial resistance value and the target resistance value are the same, trimming marks are formed on both sides of the resistor, compared to a case where only one trimming mark is formed on only one side of the resistor. Since the length of the primary crop marks is shortened, in addition to being able to suppress the beginning and / or end of the current concentration of the secondary trimming traces, electrodes and 2
Since the distance between the start end and the end of the next trimming mark can be made shorter than before, the current concentration can be further suppressed, thereby having the effect of improving the surge resistance characteristics of the resistor.

【0023】本発明の請求項5に記載の発明は、絶縁基
板上に形成され、相対向する電極間に電気的に接続され
て両電極間に電流が流れる矩形状の抵抗体と、前記抵抗
体の対向する側辺の一方に形成された第1のトリミング
跡と、他方に形成された第2のトリミング跡とを備え、
少なくとも前記第2のトリミング跡は、一方の電極側の
近傍に位置して当該一方の電極に平行に延びる1次トリ
ミング跡と、前記1次トリミング跡の終端を始端とし、
この始端から他方の電極側に向かう電流方向に延び、他
方の電極側の近傍に終端を持つ2次トリミング跡とを含
み、さらに、前記1次トリミング跡の長さを、トリミン
グ跡が1つのときにおける1次トリミング跡の長さより
短くなるようにし、そして前記2次トリミング跡の始端
及び終端の部分における電流の回り込みを抑制するよう
に、前記1次トリミング跡の長さを前記抵抗体の全幅の
3分の1以下としたもので、この構成によれば、初期抵
抗値と目標抵抗値が同じ場合、抵抗体の両側辺にトリミ
ング跡を形成することによってトリミング跡が1つで抵
抗体の片側辺にしか形成されない場合に比べて、1次ト
リミング跡の長さが短くなるため、2次トリミング跡の
始端及び/または終端の電流集中を抑制することができ
ることに加え、1次トリミング跡の長さを従来よりも短
くすることができるため、さらに電流集中を抑制でき、
これにより、抵抗器の耐サージ特性が向上するという作
用を有するものである。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a rectangular resistor which is formed on an insulating substrate, is electrically connected between opposing electrodes, and allows a current to flow between the electrodes. A first trimming mark formed on one of the opposing sides of the body, and a second trimming mark formed on the other side,
At least the second trimming trace has a primary trimming trace located near one electrode side and extending in parallel with the one electrode, and an end of the primary trimming trace as a starting end,
A secondary trimming trace extending in the current direction from the start end toward the other electrode side and having an end near the other electrode side, wherein the length of the primary trimming trace is one trimming trace. , And the length of the primary trimming trace is set to be equal to the full width of the resistor so as to suppress the current from flowing at the beginning and end of the secondary trimming trace. According to this configuration, when the initial resistance value and the target resistance value are the same, trimming marks are formed on both sides of the resistor, so that one trimming mark is formed on one side of the resistor. Since the length of the primary trimming trace is shorter than that of the case where the primary trimming trace is formed only on the side, current concentration at the start and / or end of the secondary trimming trace can be suppressed. Since the length of the trimming marks can be made shorter than conventionally, it can be further suppressed current concentration,
This has the effect of improving the surge resistance of the resistor.

【0024】本発明の請求項6に記載の発明は、2次ト
リミング跡の終端から、他方の電極に平行に延びる3次
トリミング跡を形成したもので、この構成によれば、2
次トリミング跡の終端近傍における逆電流を減らすこと
ができるため、2次トリミング跡の終端近傍での電流集
中をさらに抑制でき、これにより、抵抗器の耐サージ特
性がさらに向上するという作用を有するものである。
According to a sixth aspect of the present invention, a tertiary trimming trace extending parallel to the other electrode is formed from the end of the secondary trimming trace.
Since the reverse current near the end of the next trimming trace can be reduced, the current concentration near the end of the secondary trimming trace can be further suppressed, which has the effect of further improving the surge resistance characteristics of the resistor. It is.

【0025】本発明の請求項7に記載の発明は、3次ト
リミング跡の終端を抵抗体内にとどめたもので、この構
成によれば、抵抗値を測定しながらトリミングし、目標
とする抵抗値となった所でトリミングを止めることがで
きるため、高精度の抵抗値調整を行うことができるとい
う作用を有するものである。
According to a seventh aspect of the present invention, the terminal of the tertiary trimming trace is kept within the resistor. According to this configuration, the trimming is performed while measuring the resistance value, and the target resistance value is measured. Since the trimming can be stopped at the point where, the resistance value can be adjusted with high accuracy.

【0026】本発明の請求項8に記載の発明は、3次ト
リミング跡の終端を抵抗体外に延ばしたもので、この構
成によれば、2次トリミング跡の終端近傍での逆電流を
完全に防止できるため、2次トリミング跡の終端近傍で
の電流集中をさらに抑制でき、これにより、抵抗器の耐
サージ特性がさらに向上するという作用を有するもので
ある。
According to an eighth aspect of the present invention, the termination of the tertiary trimming trace is extended outside the resistor. According to this configuration, the reverse current near the termination of the secondary trimming trace is completely reduced. Since this can be prevented, current concentration near the end of the secondary trimming trace can be further suppressed, which has the effect of further improving the surge withstand characteristics of the resistor.

【0027】本発明の請求項9に記載の発明は、第1の
トリミング跡と第2のトリミング跡を、2次トリミング
跡の始端から終端へ向かう方向がそれぞれ逆向きになる
ようにしたもので、この構成によれば、最も電流集中が
起こりやすい2次トリミング跡の終端の位置を離すこと
ができるため、抵抗器の耐サージ特性がさらに向上する
という作用を有するものである。
According to a ninth aspect of the present invention, the first trimming trace and the second trimming trace are formed so that the directions from the start end to the end of the secondary trimming trace are opposite to each other. According to this configuration, since the end position of the secondary trimming trace where the current concentration is most likely to occur can be separated, the surge withstand characteristic of the resistor is further improved.

【0028】本発明の請求項10に記載の発明は、第1
のトリミング跡と第2のトリミング跡を、抵抗体の中心
に対してそれぞれ略点対称となるように形成したもの
で、この構成によれば、電流集中が起こる2次トリミン
グ跡の終端及び始端を抵抗体に均等に配置することによ
って局所的な温度上昇を抑制できるため、抵抗器の耐サ
ージ特性がさらに向上するという作用を有するものであ
る。
According to a tenth aspect of the present invention, the first aspect
Are formed so as to be substantially point-symmetric with respect to the center of the resistor. According to this configuration, the end and the start of the secondary trimming trace where current concentration occurs are determined. Since the local temperature rise can be suppressed by arranging the resistors evenly, the surge resistance of the resistor is further improved.

【0029】本発明の請求項11に記載の発明は、絶縁
基板上に形成され、相対向する電極間に電気的に接続さ
れて両電極間に電流が流れる抵抗体と、前記抵抗体の対
向する側辺の一方にのみ形成された第1のトリミング跡
と第2のトリミング跡とを備え、前記第1のトリミング
跡と前記第2のトリミング跡は、それぞれ一方の電極側
の近傍に位置して当該一方の電極に平行に延びる1次ト
リミング跡と、前記1次トリミング跡の終端を始端と
し、この始端から他方の電極側に向かう電流方向に延び
る2次トリミング跡とを含み、前記2次トリミング跡の
始端及び終端の部分における電流の回り込みを抑制する
ように、前記第1のトリミング跡と前記第2のトリミン
グ跡を、2次トリミング跡の始端から終端へ向かう方向
がそれぞれ逆向きになるように形成したもので、この構
成によれば、電極と1次トリミング跡の距離のばらつき
を容易に小さくすることができるため、電流集中が起こ
る2次トリミング跡の始端及び終端と電極との距離のば
らつきが抑えられ、これにより、耐サージ特性のばらつ
きの少ない抵抗器が容易に得られるという効果が得られ
る。
According to an eleventh aspect of the present invention, a resistor formed on an insulating substrate and electrically connected between opposing electrodes and allowing a current to flow between the electrodes is provided. A first trimming mark and a second trimming mark formed only on one of the side edges to be formed, wherein the first trimming mark and the second trimming mark are respectively located near one electrode side. A primary trimming trace extending parallel to the one electrode, and a secondary trimming trace extending from the starting end of the primary trimming trace toward the other electrode in a current direction. The first trimming trace and the second trimming trace are oppositely directed from the beginning to the end of the secondary trimming trace so as to suppress current wraparound at the beginning and end of the trimming trace. According to this configuration, the variation in the distance between the electrode and the primary trimming trace can be easily reduced, so that the start and end points of the secondary trimming trace where current concentration occurs and the electrode are formed. Variations in the distance are suppressed, and thereby, an effect is obtained that a resistor with less variation in surge resistance can be easily obtained.

【0030】すなわち、機械的に抵抗体との距離を調整
してから1次トリミングを開始すればよいため、1次ト
リミング跡の形成開始位置は精度よく決定でき、これに
より、電極と1次トリミング跡の距離が略同じになるよ
うにすることは容易であるからである。
That is, since the primary trimming may be started after mechanically adjusting the distance to the resistor, the starting position of the formation of the primary trimming trace can be determined with high accuracy. This is because it is easy to make the distances of the traces substantially the same.

【0031】本発明の請求項12に記載の発明は、粗調
整用の1次トリミング跡が微調整用の1次トリミング跡
よりも長いもので、この構成によれば、第1のトリミン
グ跡によって粗調整用の1次トリミング跡より第2のト
リミング跡が形成された抵抗体の側辺に近い方へ電流が
流れることを妨げられるため、微調整用の2次トリミン
グ跡の形成箇所に流れる電流の量が少なくなり、これに
より、微調整用のトリミングにおける抵抗値の上昇率を
抑えることができ、容易に高精度の抵抗器が得られると
いう作用を有する。
According to a twelfth aspect of the present invention, the primary trimming trace for the coarse adjustment is longer than the primary trimming trace for the fine adjustment. Since the current is prevented from flowing to the side closer to the side of the resistor where the second trimming trace is formed than the primary trimming trace for adjustment, the current flowing to the place where the secondary trimming trace for fine adjustment is formed is reduced. The amount is reduced, whereby the rate of increase in the resistance value during the trimming for fine adjustment can be suppressed, and an effect that a highly accurate resistor can be easily obtained.

【0032】(実施の形態1)以下に本発明の実施の形
態1について、図面を参照しながら説明する。
Embodiment 1 Hereinafter, Embodiment 1 of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0033】図1は本発明の実施の形態1における抵抗
器の上面図である。
FIG. 1 is a top view of the resistor according to the first embodiment of the present invention.

【0034】11はアルミナからなる矩形状の絶縁基板
である。12a,12bは基板11の上面の相対向する
両端部に設けられた銀からなる電極である。13は電極
12a,12b間を電気的に接続するように、かつ両電
極12a,12b間に電流が流れるように基板11と電
極12a,12bの上面の一部に設けられた、酸化ルテ
ニウム系の厚膜材料からなる矩形状の抵抗体である。1
4aはトリミングすることによって設けられた抵抗値を
粗調整するための第1のトリミング跡で、粗調整用の1
次トリミング跡14、粗調整用の2次トリミング跡1
5、粗調整用の3次トリミング跡16からなる。粗調整
用の1次トリミング跡14は、抵抗体13の一方の側辺
に形成され、かつ一方の電極12aの近傍に配置され、
電極12aと平行な方向に延びている。粗調整用の1次
トリミング跡14の長さは抵抗体13の全幅の3分の1
以下とし、この粗調整用の1次トリミング跡14と電極
12aとの距離は、可能な限り小さく、少なくとも粗調
整用の2次トリミング跡15の長さの2分の1以下とす
る。粗調整用の2次トリミング跡15は、粗調整用の1
次トリミング跡14の終端を始端として電極12bに向
かう電流間に延びている。粗調整用の2次トリミング跡
15の終端は、他方の電極12b近傍の抵抗体13内に
とどめるが、粗調整用の2次トリミング跡15の終端と
電極12bとの距離は、可能な限り小さく、少なくとも
粗調整用の2次トリミング跡15の長さの2分の1以下
とする。粗調整用の3次トリミング跡16は、粗調整用
の2次トリミング跡15の終端から電極12bと平行
に、抵抗体13の外側まで延びている。
Reference numeral 11 denotes a rectangular insulating substrate made of alumina. Reference numerals 12a and 12b denote silver electrodes provided at opposite ends of the upper surface of the substrate 11. Reference numeral 13 denotes a ruthenium oxide-based material provided on the substrate 11 and a part of the upper surfaces of the electrodes 12a and 12b so as to electrically connect the electrodes 12a and 12b and to allow a current to flow between the electrodes 12a and 12b. It is a rectangular resistor made of a thick film material. 1
Reference numeral 4a denotes a first trimming mark for coarse adjustment of a resistance value provided by trimming.
Next trimming mark 14, Secondary trimming mark 1 for coarse adjustment
5, a third trimming mark 16 for coarse adjustment. A primary trimming mark 14 for coarse adjustment is formed on one side of the resistor 13 and is arranged near one electrode 12a.
It extends in a direction parallel to the electrode 12a. The length of the primary trimming trace 14 for coarse adjustment is one third of the entire width of the resistor 13.
The distance between the primary trimming traces 14 for coarse adjustment and the electrode 12a is as small as possible, and is at least half the length of the secondary trimming traces 15 for coarse adjustment. The secondary trimming mark 15 for the coarse adjustment is
The end of the next trimming mark 14 extends from the end toward the electrode 12b. The end of the coarse adjustment secondary trimming trace 15 is kept in the resistor 13 near the other electrode 12b, but the distance between the coarse adjustment secondary trimming trace 15 and the electrode 12b is as small as possible. , At least half the length of the secondary trimming mark 15 for coarse adjustment. The tertiary trimming trace 16 for coarse adjustment extends from the end of the secondary trimming trace 15 for coarse adjustment to the outside of the resistor 13 in parallel with the electrode 12b.

【0035】このように、粗調整用の3次トリミング跡
16を設けたため、粗調整用の2次トリミング跡15の
終端近傍における逆電流を減らすことができ、これによ
り、3次トリミング跡を設けないものより粗調整用の2
次トリミング跡15の終端近傍での電流集中をさらに抑
制できるため、抵抗器の耐サージ特性がさらに向上す
る。
As described above, since the tertiary trimming trace 16 for coarse adjustment is provided, the reverse current near the end of the secondary trimming trace 15 for coarse adjustment can be reduced, thereby providing the tertiary trimming trace. 2 for coarse adjustment than none
Since the current concentration near the end of the next trimming mark 15 can be further suppressed, the surge resistance characteristic of the resistor is further improved.

【0036】また、粗調整用の3次トリミング跡16の
終端を抵抗体11外に延ばしたため、粗調整用の2次ト
リミング跡15の終端近傍での逆電流を完全に防止で
き、これにより、粗調整用の3次トリミング跡16の終
端を抵抗体11内にとどめたものより、粗調整用の2次
トリミング跡15の終端近傍での電流集中をさらに抑制
できるため、抵抗器の耐サージ特性がさらに向上する。
Further, since the terminal of the tertiary trimming mark 16 for coarse adjustment is extended outside the resistor 11, reverse current near the terminal of the secondary trimming mark 15 for coarse adjustment can be completely prevented. Since the terminal of the tertiary trimming trace 16 for the coarse adjustment is kept in the resistor 11, current concentration near the end of the secondary trimming trace 15 for the coarse adjustment can be further suppressed. Is further improved.

【0037】17aはトリミングすることによって設け
られた抵抗値を微調整するための第2のトリミング跡
で、微調整用の1次トリミング跡17、微調整用の2次
トリミング跡18、微調整用の3次トリミング跡19か
らなる。微調整用の1次トリミング跡17は、抵抗体1
3の粗調整用の1次トリミング跡14を形成した側辺と
対向する側辺に形成され、かつ電極12bの近傍に配置
され、電極12bと平行な方向に延びている。この微調
整用の1次トリミング跡17の長さは、抵抗体13の全
幅の3分の1以下とし、かつ、粗調整用の1次トリミン
グ跡14と略同じ長さになるようにする。
Reference numeral 17a denotes a second trimming mark for fine adjustment of a resistance value provided by trimming, a primary trimming mark 17 for fine adjustment, a secondary trimming mark 18 for fine adjustment, and a fine trimming mark 18. Of the tertiary trimming marks 19 of FIG. The primary trimming trace 17 for fine adjustment is the resistor 1
3 is formed on a side opposite to the side on which the primary trimming mark 14 for coarse adjustment is formed, and is disposed near the electrode 12b and extends in a direction parallel to the electrode 12b. The length of the primary trimming trace 17 for fine adjustment is set to be not more than one-third of the entire width of the resistor 13 and substantially the same as the length of the primary trimming trace 14 for coarse adjustment.

【0038】このように、抵抗値の粗調整用の第1のト
リミング跡14a、微調整用の第2のトリミング跡17
aを設ければ、抵抗値の精度をより高めることができ
る。
As described above, the first trimming mark 14a for coarse adjustment of the resistance value and the second trimming mark 17 for fine adjustment are provided.
If a is provided, the accuracy of the resistance value can be further improved.

【0039】また、このとき、粗調整用の1次トリミン
グ跡14と微調整用の1次トリミング跡17は、トリミ
ング跡が1つのときの1次トリミング跡より短くなって
いる。すなわち、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ場合、
トリミング跡が1つのときは1つの1次トリミング跡で
目標抵抗値にする必要があるが、トリミング跡が2つの
ときは2つの1次トリミング跡で目標抵抗値にすればよ
いからである。
At this time, the primary trimming trace 14 for coarse adjustment and the primary trimming trace 17 for fine adjustment are shorter than the primary trimming trace when there is only one trimming trace. That is, if the initial resistance value and the target resistance value are the same,
This is because, when there is one trimming mark, it is necessary to set the target resistance value at one primary trimming mark, but when there are two trimming marks, the target resistance value should be set at two primary trimming marks.

【0040】また、微調整用の1次トリミング跡17と
電極12bとの距離は、可能な限り小さく、少なくとも
微調整用の2次トリミング跡18の長さの2分の1以下
とする。微調整用の2次トリミング跡18は、微調整用
の1次トリミング跡17の終端を始端として電極12a
に向かう電流方向に延びている。微調整用の2次トリミ
ング跡18の終端は他方の電極12a近傍の抵抗体13
内にとどめるが、微調整用の2次トリミング跡18の終
端と電極12aの距離は、可能な限り小さく、少なくと
も2次トリミング跡18の長さの2分の1以下とする。
このとき、微調整用の2次トリミング跡18の始端から
終端へ向かう方向は、粗調整用の2次トリミング跡15
の始端から終端へ向かう方向と逆向きになっている。
The distance between the primary trimming trace 17 for fine adjustment and the electrode 12b is as small as possible, and is at least half the length of the secondary trimming trace 18 for fine adjustment. The secondary trimming trace 18 for fine adjustment starts from the end of the primary trimming trace 17 for fine adjustment as the starting end.
Extending in the current direction toward. The end of the secondary trimming trace 18 for fine adjustment is connected to the resistor 13 near the other electrode 12a.
However, the distance between the terminal of the secondary trimming trace 18 for fine adjustment and the electrode 12a is as small as possible, and is at least half the length of the secondary trimming trace 18 or less.
At this time, the direction from the start end to the end of the secondary trimming trace 18 for fine adjustment depends on the secondary trimming trace 15 for coarse adjustment.
Is opposite to the direction from the beginning to the end.

【0041】このように、第1のトリミング跡14aと
第2のトリミング跡17aを、2次トリミング跡の始端
から終端へ向かう方向がそれぞれ逆向きになるようにし
たため、最も電流集中が起こりやすい2次トリミング跡
15,18の終端の位置を離すことができ、それぞれの
始端から終端へ向かう方向が同じになるように形成した
場合に比べて抵抗器の耐サージ特性がさらに向上する。
As described above, the first trimming trace 14a and the second trimming trace 17a are configured such that the directions from the start end to the end of the secondary trimming trace are opposite to each other. The end positions of the next trimming traces 15 and 18 can be separated, and the surge resistance characteristics of the resistor are further improved as compared with the case where the directions from the start end to the end are the same.

【0042】さらに、第1のトリミング跡14aと第2
のトリミング跡17aを抵抗体11の中心に対してそれ
ぞれ略点対称となるように形成すれば、電流集中が起こ
る2次トリミング跡15,18の終端及び始端を抵抗体
11に均等に配置することによって局所的な温度上昇を
抑制できるため、抵抗器の耐サージ特性がさらに向上す
る。
Further, the first trimming mark 14a and the second trimming mark 14a
If the trimming traces 17a are formed so as to be substantially point-symmetric with respect to the center of the resistor 11, the ends and the starting ends of the secondary trimming traces 15 and 18 where current concentration occurs can be arranged evenly on the resistor 11. As a result, a local temperature rise can be suppressed, so that the surge resistance characteristics of the resistor can be further improved.

【0043】微調整用の3次トリミング跡19は、微調
整用の2次トリミング跡18の終端から電極12aと平
行に延び、その終端を抵抗体13内に持つ。
The tertiary trimming trace 19 for fine adjustment extends from the end of the secondary trimming trace 18 for fine adjustment in parallel with the electrode 12 a, and has the end in the resistor 13.

【0044】このように、微調整用の3次トリミング跡
19の終端を抵抗体13内にとどめるようにすれば、抵
抗値を測定しながらトリミングし、目標とする抵抗値と
なった所でトリミングを止めることができるので、抵抗
値の高精度化を容易に実現できる。
As described above, if the end of the tertiary trimming trace 19 for fine adjustment is kept in the resistor 13, trimming is performed while measuring the resistance value, and trimming is performed at the target resistance value. Can be stopped, so that it is possible to easily realize a high-precision resistance value.

【0045】一方、微調整用の3次トリミング跡19を
抵抗体13の外側まで延ばす場合、微調整用の3次トリ
ミング跡19を形成することによる抵抗値の上昇分が微
調整用の2次トリミング跡18の終端位置によってばら
つくため、最終抵抗値のばらつきが大きくなる。
On the other hand, when the tertiary trimming trace 19 for fine adjustment is extended to the outside of the resistor 13, the rise in the resistance value due to the formation of the tertiary trimming trace 19 for fine adjustment is reduced by the second trimming trace for fine adjustment. Since the trimming trace 18 varies depending on the end position, the variation in the final resistance value increases.

【0046】もちろん、微調整用の3次トリミング跡1
9も、その終端を抵抗体11外に延ばせば、上記した微
調整用の3次トリミング跡16と同様に抵抗器の耐サー
ジ特性がさらに向上するが、微調整用の3次トリミング
跡19は抵抗値の微調整のために設けているため、その
終端を抵抗体13内にとどめて高精度の抵抗値調整を行
うようにする方がよい。
Of course, the third trimming mark 1 for fine adjustment
In the case 9, if the terminal is extended out of the resistor 11, the surge resistance of the resistor is further improved as in the case of the above-described tertiary trimming trace 16 for fine adjustment. Since it is provided for fine adjustment of the resistance value, it is better to perform the high-precision resistance value adjustment by keeping the terminal end in the resistor 13.

【0047】なお、上記の構成において、微調整用の3
次トリミング跡16と微調整用の3次トリミング跡19
を設けたものについて説明したが、これらの両方または
どちらか一方がなくてもよい。
It should be noted that, in the above configuration, 3
Next trimming mark 16 and third trimming mark 19 for fine adjustment
Has been described, but both or either of them may not be provided.

【0048】また、粗調整用の3次トリミング跡16の
終端が抵抗体13の外側にまで延びたもので説明した
が、抵抗体13内にとどめてもよい。
Although the third trimming mark 16 for coarse adjustment has been described as extending to the outside of the resistor 13, it may be limited to the resistor 13.

【0049】また、抵抗体13の信頼性を向上させるた
めに、抵抗体13の全面を覆うようにほう珪酸ガラス系
の厚膜ガラス材料からなるプリコートガラスを、トリミ
ング跡14a,17aを形成する前に設けてもよい。
Further, in order to improve the reliability of the resistor 13, a pre-coated glass made of a borosilicate glass-based thick film glass material is formed so as to cover the entire surface of the resistor 13 before the trimming marks 14 a and 17 a are formed. May be provided.

【0050】また、抵抗体13の信頼性を向上させるた
めに、トリミング跡14a,17aを形成した後で、ガ
ラスや樹脂材料からなる抵抗体13を覆う保護膜層を形
成してもよい。
In order to improve the reliability of the resistor 13, after forming the trimming marks 14a and 17a, a protective film layer covering the resistor 13 made of glass or a resin material may be formed.

【0051】以上のように構成された本発明の実施の形
態1について、以下にその製造方法を説明する。
The manufacturing method of the first embodiment of the present invention configured as described above will be described below.

【0052】図2は本発明の実施の形態1における抵抗
器の製造方法を示す工程図である。
FIG. 2 is a process chart showing a method of manufacturing the resistor according to the first embodiment of the present invention.

【0053】まず、図2(a)に示すように、絶縁基板
11の上面の両端部に導電性ペーストをスクリーン印刷
し、これを焼成することによって電極12a,12bを
形成する。
First, as shown in FIG. 2A, a conductive paste is screen-printed on both ends of the upper surface of the insulating substrate 11 and the electrodes are fired to form the electrodes 12a and 12b.

【0054】次に、図2(b)に示すように、電極12
aと電極12bを電気的に接続するように、絶縁基板1
1と電極12a,12bの上面の一部に抵抗ペーストを
スクリーン印刷し、これを焼成することによって抵抗体
13を形成する。このとき、トリミング跡14a,17
a形成前の電極12a,12b間の抵抗値(初期抵抗
値)は、後述するレーザによるトリミングで高くするこ
とは可能であるが、低くすることは非常に困難なので、
あらかじめ目標とする抵抗値よりも低くなるようにして
おく。ただし、トリミング前の初期抵抗値が低いほどト
リミング跡14a,17aの長さを長く設ける必要があ
るため、耐サージ特性は悪くなる。従って、目標値に対
する比率が低すぎるもの、通常は2分の1以下のものは
取り除く。
Next, as shown in FIG.
a and the electrode 12b are electrically connected to each other.
A resistor paste is screen-printed on a part of the upper surfaces of the electrodes 1 and the electrodes 12a and 12b, and the resistor paste is fired to form the resistor 13. At this time, the trimming marks 14a, 17
Although the resistance value (initial resistance value) between the electrodes 12a and 12b before the formation of “a” can be increased by laser trimming described later, it is very difficult to reduce it.
The resistance value should be lower than the target resistance value in advance. However, the lower the initial resistance value before the trimming, the longer the length of the trimming traces 14a and 17a must be provided, so that the surge resistance is deteriorated. Therefore, those whose ratio to the target value is too low, usually less than half, are removed.

【0055】次に、図2(c)に示すように、電極12
a,12b間の抵抗値を測定しながら、抵抗体13形成
後の抵抗値によって決められる所定の抵抗値になるま
で、電極12a近傍の抵抗体13の外側から電極12a
と平行な方向にレーザをスキャンして、抵抗体13に粗
調整用の1次トリミング跡14を形成する。電極12a
と粗調整用の1次トリミング跡14の距離が短いほど、
粗調整用の1次トリミング跡14終端近傍の電流集中を
抑制でき、すなわち、抵抗体13の耐サージ特性は向上
するため、電極12aと粗調整用の1次トリミング跡1
4が重ならないように製造上の諸条件(トリミングの開
始位置精度や抵抗体13及び電極12a,12bの形成
位置精度など)を考慮した上で、粗調整用の1次トリミ
ング跡14の形成開始位置を設定し、電極12aと粗調
整用の1次トリミング跡14との距離を短くしておく。
また、粗調整用の1次トリミング跡14の長さが、抵抗
体13の全幅の3分の1を超えないように、設備設定を
行う。
Next, as shown in FIG.
While measuring the resistance value between the electrodes 12a and 12b, the electrodes 12a from the outside of the resistor 13 near the electrode 12a until a predetermined resistance value determined by the resistance value after the formation of the resistor 13 is reached.
The laser is scanned in a direction parallel to the direction shown in FIG. 1 to form a primary trimming mark 14 for coarse adjustment on the resistor 13. Electrode 12a
And the shorter the distance between the primary trimming marks 14 for rough adjustment and the
Since the current concentration near the end of the primary trimming trace 14 for coarse adjustment can be suppressed, that is, the surge resistance of the resistor 13 is improved, the electrode 12a and the primary trimming trace 1 for coarse adjustment are improved.
The formation of the primary trimming marks 14 for coarse adjustment is started in consideration of various manufacturing conditions (such as the precision of the starting position of trimming and the precision of the forming positions of the resistor 13 and the electrodes 12a and 12b) so that the 4 does not overlap. The position is set, and the distance between the electrode 12a and the primary trimming trace 14 for coarse adjustment is shortened.
Further, the equipment setting is performed so that the length of the primary trimming trace 14 for rough adjustment does not exceed one third of the entire width of the resistor 13.

【0056】次に、図2(d)に示すように、電極12
a,12b間の抵抗値を測定しながら所定の抵抗値にな
るまで、粗調整用の1次トリミング跡14の終端を始端
として、電極12bの方向に延びる粗調整用の2次トリ
ミング跡15を形成する。この粗調整用の2次トリミン
グ跡15の終端が電極12bに近いほど、粗調整用の2
次トリミング跡15終端近傍の電流集中は抑制でき、す
なわち、耐サージ特性は向上するので、粗調整用の2次
トリミング跡15は、電極12bと重ならないように製
造上の諸条件を考慮した上で、あらかじめ決められた長
さでトリミングする。
Next, as shown in FIG.
The secondary trimming traces 15 for coarse adjustment extending in the direction of the electrode 12b starting from the end of the primary trimming traces 14 for coarse adjustment until the predetermined resistance value is reached while measuring the resistance value between a and 12b. Form. As the end of the secondary trimming mark 15 for rough adjustment is closer to the electrode 12b, the secondary trimming mark 15 for rough adjustment
Since the current concentration near the end of the next trimming mark 15 can be suppressed, that is, the surge withstand characteristic is improved, the secondary trimming mark 15 for rough adjustment is made in consideration of various manufacturing conditions so as not to overlap the electrode 12b. Then, trim with a predetermined length.

【0057】次に、図2(e)に示すように、電極12
a,12b間の抵抗値を測定しながら所定の抵抗値にな
るまで、粗調整用の2次トリミング跡15の終端を始端
として、粗調整用の1次トリミング跡14と同じ方向に
延びる粗調整用の3次トリミング跡16を形成し、第1
のトリミング跡14aを設ける。粗調整用の3次トリミ
ング跡16は、抵抗体13の外側まで延びるように粗調
整用の1次トリミング跡14と略同じ長さとする。
Next, as shown in FIG.
Coarse adjustment extending in the same direction as the primary trimming trace 14 for coarse adjustment starting from the end of the secondary trimming trace 15 for coarse adjustment until the resistance value reaches a predetermined value while measuring the resistance value between a and 12b. Forming a third trimming mark 16 for the first
Is provided. The tertiary trimming trace 16 for coarse adjustment has substantially the same length as the primary trimming trace 14 for coarse adjustment so as to extend to the outside of the resistor 13.

【0058】また、第1のトリミング跡14a形成後の
抵抗値は目標抵抗値より低くなるようにする。そして、
第2のトリミング跡17aを形成して最終的に目標とす
る抵抗値にする。なお、抵抗値によって粗調整用の2次
トリミング跡15をとどめても(3次トリミング跡を設
けなくても)よいが、その終端位置と電極12bとの距
離がばらつきやすくなる。
The resistance value after the formation of the first trimming mark 14a is set lower than the target resistance value. And
A second trimming mark 17a is formed to finally reach a target resistance value. Although the secondary trimming trace 15 for coarse adjustment may be kept (not provided with the tertiary trimming trace) depending on the resistance value, the distance between the terminal position of the secondary trimming trace 15 and the electrode 12b tends to vary.

【0059】次に、図2(f)に示すように、電極12
a,12b間の抵抗値を測定しながら所定の抵抗値にな
るまで、抵抗体13の第1のトリミング跡14aが形成
された側辺と対向する側辺に、電極12b近傍の抵抗体
13の外側から電極12bと平行な方向に延びる微調整
用の1次トリミング跡17を形成する。電極12bと微
調整用の1次トリミング跡17の距離は、電極12aと
粗調整用の1次トリミング跡14の距離と略同一とす
る。また、微調整用の1次トリミング跡17の長さは、
設備設定により抵抗体13の全幅の3分の1を超えない
ようにすると共に、粗調整用の1次トリミング跡14と
略同じ長さになるようにしておく。
Next, as shown in FIG.
The resistance of the resistor 13 near the electrode 12b is placed on the side opposite to the side on which the first trimming mark 14a is formed on the resistor 13 until the predetermined resistance is reached while measuring the resistance between the electrodes a and 12b. A primary trimming trace 17 for fine adjustment extending from the outside in a direction parallel to the electrode 12b is formed. The distance between the electrode 12b and the primary trimming trace 17 for fine adjustment is substantially the same as the distance between the electrode 12a and the primary trimming trace 14 for coarse adjustment. Also, the length of the primary trimming trace 17 for fine adjustment is
By setting the equipment, the total width of the resistor 13 is set not to exceed one-third, and the length is set to be substantially the same as the length of the primary trimming trace 14 for coarse adjustment.

【0060】このように、トリミング跡14a,17a
を抵抗体の両側辺に形成しているので、1次トリミング
跡14,17の長さをそれぞれ抵抗体13の全幅の3分
の1以下と短くしても、抵抗体13形成後の抵抗値が目
標抵抗値の2分の1程度のものを目標抵抗値までトリミ
ングすることができる。よって、歩留に影響を与えるこ
となく、耐サージ特性を向上させることができる。
As described above, the trimming marks 14a, 17a
Are formed on both sides of the resistor. Therefore, even if the lengths of the primary trimming traces 14 and 17 are shortened to one third or less of the entire width of the resistor 13, respectively, the resistance value after the resistor 13 is formed. Can trim about half the target resistance value to the target resistance value. Therefore, the surge withstand characteristics can be improved without affecting the yield.

【0061】次に、図2(g)に示すように、電極12
a,12b間の抵抗値を測定しながら所定の抵抗値にな
るまで、微調整用の1次トリミング跡17の終端を始端
として、電極12aの方向に延びる微調整用の2次トリ
ミング跡18を形成する。
Next, as shown in FIG.
The secondary trimming traces 18 for fine adjustment extending in the direction of the electrode 12a starting from the end of the primary trimming traces 17 for fine adjustment until the resistance value reaches a predetermined resistance value while measuring the resistance value between the a and 12b. Form.

【0062】最後に、図2(h)に示すように、電極1
2a,12b間の抵抗値を測定しながら目標とする抵抗
値になるまで、微調整用の2次トリミング跡18の終端
を始端として、微調整用の2次トリミング跡17と同じ
方向に延びる微調整用の3次トリミング跡19を形成
し、第2のトリミング跡17aを設ける。この微調整用
の3次トリミング跡19の形成後、電極12a,12b
間の抵抗値が目標とする抵抗値となる。また、微調整用
の3次トリミング跡19は、抵抗体13内にとどまるよ
うにする。
Finally, as shown in FIG.
While measuring the resistance value between 2a and 12b, until the target resistance value is reached, the fine trimming trace 18 extending in the same direction as the fine adjustment secondary trimming trace 17 is started from the end of the secondary trimming trace 18 for fine adjustment. A third trimming mark 19 for adjustment is formed, and a second trimming mark 17a is provided. After the formation of the tertiary trimming mark 19 for fine adjustment, the electrodes 12a and 12b
The resistance value between them becomes the target resistance value. Further, the tertiary trimming trace 19 for fine adjustment is made to remain in the resistor 13.

【0063】以上のように構成、製造された本発明の実
施の形態1における抵抗器について、以下にその動作を
説明する。
The operation of the resistor constructed and manufactured as described above according to the first embodiment of the present invention will be described below.

【0064】図3は、本発明の実施の形態1における抵
抗器に電流を流したときの電流の流れを示す図である。
図中の矢印は電流の向きを示す。電流を示す線が集まっ
ているところほど、電流が集中している。
FIG. 3 is a diagram showing a current flow when a current flows through the resistor according to the first embodiment of the present invention.
The arrows in the figure indicate the direction of the current. The more concentrated the lines indicating the current, the more the current is concentrated.

【0065】また、図11は、3次トリミング跡を設け
た他の従来の抵抗器に電流を流したときの電流の流れを
示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a current flow when a current flows through another conventional resistor provided with a third trimming mark.

【0066】図3及び図10、図11から明らかなよう
に、電流がトリミング跡によって妨げられるため、2次
トリミング跡の両端(始端及び/または終端)付近で電
流集中が起こるが、図3に示す本発明の実施の形態1に
おける抵抗器は、図10や図11に示す従来の抵抗器の
ようにトリミング跡が1つで抵抗体の片側辺にしか形成
されない場合と比べて、2次トリミング跡15,18の
始端及び/または終端の電流集中を抑制することがわか
る。
As is clear from FIGS. 3, 10 and 11, the current is hindered by the trimming traces, so that current concentration occurs near both ends (start and / or end) of the secondary trimming traces. The resistor according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. 10 and FIG. 11 has a second trimming as compared with the conventional resistor shown in FIGS. 10 and 11 in which only one trimming mark is formed on only one side of the resistor. It can be seen that current concentration at the start and / or end of the traces 15, 18 is suppressed.

【0067】つまり、少なくとも粗調整用の1次トリミ
ング跡14と電極12aまたは微調整用の1次トリミン
グ跡16と電極12bとの距離を小さくすれば、2次ト
リミング跡15,18の終端または始端で電流集中を防
ぐことができる。
That is, if at least the distance between the primary trimming trace 14 for coarse adjustment and the electrode 12a or the primary trimming trace 16 for fine adjustment and the electrode 12b is reduced, the end or start end of the secondary trimming traces 15 and 18 is obtained. Can prevent current concentration.

【0068】(表1)は、有限要素法を用いて、抵抗体
の形状及び初期抵抗値と目標抵抗値が同じとする条件で
計算したときの、トリミング跡の形状と電流密度の最大
値との関係を比較した結果を示す図である。
Table 1 shows the shape of the trimming trace and the maximum value of the current density when calculated using the finite element method under the condition that the shape and initial resistance of the resistor and the target resistance are the same. FIG. 9 is a diagram showing a result of comparing the relationships of FIG.

【0069】[0069]

【表1】 [Table 1]

【0070】トリミング跡の形状として、トリミング跡
が1つで抵抗体の片側辺にしか形成されず3次トリミン
グ跡なし(図10に相当する)、トリミング跡が1つで
抵抗体の片側辺にしか形成されず3次トリミング跡あり
(図11に相当する)、トリミング跡が2つで抵抗体の
両側辺に形成され3次トリミング跡なし、トリミング跡
が2つで抵抗体の両側辺に形成され3次トリミング跡あ
り(図1に相当する)の4つの条件で比較した。結果は
トリミング跡が1つで抵抗体の片側辺にしか形成されず
3次トリミング跡なし(図10に相当する)の場合の最
大電流密度を1として計算しており、値が小さいほど電
流集中が抑制できていることを示している。
As the shape of the trimming mark, one trimming mark is formed only on one side of the resistor and no tertiary trimming mark (corresponding to FIG. 10), and one trimming mark is formed on one side of the resistor. Only the tertiary trimming traces are formed (corresponding to FIG. 11), two trimming traces are formed on both sides of the resistor, no tertiary trimming traces are formed, and two trimming traces are formed on both sides of the resistor. The comparison was made under the four conditions of the third trimming trace (corresponding to FIG. 1). The result is calculated assuming that the maximum current density in the case where there is one trimming trace and is formed only on one side of the resistor and there is no tertiary trimming trace (corresponding to FIG. 10) is 1, and the smaller the value, the more the current concentration Is suppressed.

【0071】(表1)より明らかなように、トリミング
跡が2つの抵抗体の両側辺に形成される3次トリミング
跡あり(図1に相当する)が最も電流集中を抑制でき、
耐サージ特性が向上することがわかる。
As is clear from Table 1, when there are tertiary trimming marks formed on both sides of the two resistors (corresponding to FIG. 1), the current concentration can be suppressed most.
It can be seen that the surge resistance is improved.

【0072】また、2次トリミング跡15,18と電極
12a,12bの始端及び終端との距離(粗調整用の1
次トリミング跡14の終端と粗調整用の1次トリミング
跡14の近傍の電極12aとの距離、微調整用の1次ト
リミング跡17の終端と微調整用の1次トリミング跡1
7の近傍の電極12bとの距離、粗調整用の2次トリミ
ング跡15の終端と粗調整用の2次トリミング跡15の
近傍の電極12bとの距離、微調整用の2次トリミング
跡18の終端と微調整用の2次トリミング跡18の近傍
の電極12aとの距離)がそれぞれ2次トリミング跡1
5,18の長さの2分の1以下としたため、2次トリミ
ング跡15,18と電極12a,12bの始端及び終端
との距離を従来よりも短くすることができ、これによ
り、さらに電流集中を抑制でき、抵抗器の耐サージ特性
がさらに向上する。
The distance between the secondary trimming marks 15 and 18 and the start and end of the electrodes 12a and 12b (1 for coarse adjustment)
Distance between the end of the next trimming trace 14 and the electrode 12a near the primary trimming trace 14 for coarse adjustment, the end of the primary trimming trace 17 for fine adjustment, and the primary trimming trace 1 for fine adjustment
7, the distance between the end of the secondary trimming mark 15 for coarse adjustment and the electrode 12b near the secondary trimming mark 15 for coarse adjustment, the distance between the electrode 12b near the secondary trimming mark 15 for coarse adjustment, and the secondary trimming mark 18 for fine adjustment. The distance between the terminal and the electrode 12a near the secondary trimming trace 18 for fine adjustment) is the secondary trimming trace 1 respectively.
Since the length of each of the secondary trimming marks 15 and 18 and the start and end of each of the electrodes 12a and 12b can be made shorter than in the related art, the current concentration can be further reduced. And the surge resistance of the resistor can be further improved.

【0073】さらに、1次トリミング跡14,17の長
さを抵抗体11の全幅の3分の1以下としたため、1次
トリミング跡14,17の長さを従来よりも短くするこ
とができ、これにより、さらに電流集中を抑制でき、抵
抗器の耐サージ特性がさらに向上し、かつ従来と同程度
の抵抗体形成後の抵抗値範囲で製造できるためコスト力
に優れる。
Further, since the length of the primary trimming traces 14 and 17 is less than one third of the entire width of the resistor 11, the length of the primary trimming traces 14 and 17 can be made shorter than before. As a result, the current concentration can be further suppressed, the surge resistance of the resistor can be further improved, and the resistor can be manufactured in the same resistance value range as after the resistor is formed, which is excellent in cost performance.

【0074】ここで、トリミング跡が2つで抵抗体の両
側辺に形成され3次トリミング跡あり(図1に相当す
る)の場合において、(表2)は2次トリミング跡と電
極の始端及び終端との距離の、2次トリミング跡の長さ
に対する比率、(表3)は1次トリミング跡の長さの抵
抗体の全幅に対する比率について、各抵抗器にサージを
印加しそれぞれ不良(抵抗体がオープンとなったもの)
の発生数を示す図である。
Here, in the case where two trimming marks are formed on both sides of the resistor and there are tertiary trimming marks (corresponding to FIG. 1), (Table 2) shows the secondary trimming marks and the starting end of the electrode and The ratio of the distance from the end to the length of the secondary trimming mark and the ratio of the length of the primary trimming mark to the total width of the resistor are shown in Table 3. Is now open)
FIG. 4 is a diagram showing the number of occurrences.

【0075】実験は抵抗体の形状が2.5mm×2.2mm
の矩形状のものに、100W、10msecの矩形波の
サージをそれぞれ印加した。
In the experiment, the shape of the resistor was 2.5 mm × 2.2 mm.
A rectangular wave surge of 100 W and 10 msec was applied to each of the rectangular shapes.

【0076】[0076]

【表2】 [Table 2]

【0077】[0077]

【表3】 [Table 3]

【0078】(表2)、(表3)から明らかなように、
2次トリミング跡と電極の始端及び終端との距離が2次
トリミング跡の長さの2分の1以下、1次トリミング跡
の長さが抵抗体の全幅の3分の1以下のとき、耐サージ
性に優れていることがわかる。
As is clear from (Table 2) and (Table 3),
When the distance between the secondary trimming trace and the beginning and end of the electrode is less than half the length of the secondary trimming trace, the length of the primary trimming trace is less than one-third of the total width of the resistor. It turns out that it is excellent in the surge property.

【0079】上記した本発明の実施の形態1における抵
抗器は、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ場合、抵抗体1
1の両側辺にトリミング跡を形成することによってトリ
ミング跡が1つで抵抗体の片側辺にしか形成されない場
合に比べて、1次トリミング跡14,17の長さが短く
なるため、2次トリミング跡15,18の始端及び/ま
たは終端の電流集中を抑制することができ、これによ
り、抵抗器の耐サージ特性が向上するという効果が得ら
れる。
In the above-described resistor according to the first embodiment of the present invention, when the initial resistance value and the target resistance value are the same,
By forming the trimming traces on both sides of 1, the length of the primary trimming traces 14 and 17 is shorter than in the case where only one trimming trace is formed on one side of the resistor, so that the secondary trimming is performed. The current concentration at the start and / or end of the traces 15 and 18 can be suppressed, whereby the effect of improving the surge resistance characteristics of the resistor can be obtained.

【0080】なお、この効果については3次トリミング
跡を設けなくても得られることはいうまでもない。
It is needless to say that this effect can be obtained without providing a third trimming mark.

【0081】また、2次トリミング跡15,18が無く
ても、抵抗体の側辺に2つのトリミング跡を形成さえす
れば、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ場合、抵抗体に2
つのトリミング跡を形成することによってトリミング跡
が1つしか形成されない場合に比べて、トリミング跡の
長さが短くなるため、トリミング跡の終端の電流集中を
抑制することができ、これにより、抵抗器の耐サージ特
性が向上する。
Even if the secondary trimming traces 15 and 18 are not provided, as long as only two trimming traces are formed on the side of the resistor, if the initial resistance value and the target resistance value are the same, the resistor may be replaced by two.
Since the length of the trimming trace is shorter than the case where only one trimming trace is formed by forming one trimming trace, it is possible to suppress the current concentration at the end of the trimming trace, whereby the resistor The surge withstand characteristic of is improved.

【0082】さらに、抵抗体の対向する側辺の一方に第
1のトリミング跡と、他方に形成された第2のトリミン
グ跡とを備えれば、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ場
合、抵抗体の両側辺にトリミング跡を形成することによ
ってトリミング跡が上記したように抵抗体の片側辺にし
か形成されない場合に比べて、通常時に流れる電流をト
リミング跡によってより妨げることができるため、トリ
ミング跡の長さをさらに短くでき、これにより、トリミ
ング跡の終端の電流集中をさらに抑制することができ、
抵抗器の耐サージ特性がさらに向上する。
Further, if a first trimming mark is provided on one of the opposing sides of the resistor and a second trimming mark is formed on the other side, the resistance may be reduced when the initial resistance value and the target resistance value are the same. By forming trimming traces on both sides of the body, compared to the case where trimming traces are formed only on one side of the resistor as described above, the current flowing at normal times can be more hindered by the trimming traces. Can be further reduced, thereby further suppressing the current concentration at the end of the trimming mark,
The surge resistance of the resistor is further improved.

【0083】ここで、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ場
合、抵抗体の両側辺にトリミング跡を形成するものは、
トリミング跡が1つで抵抗体の片側辺にしか形成しない
ものに対して、1次トリミング跡の数が2倍になるた
め、1次トリミング跡の長さは約半分になる。
Here, when the initial resistance value and the target resistance value are the same, those which form trimming marks on both sides of the resistor are as follows.
Since the number of primary trimming traces is doubled for a single trimming trace formed only on one side of the resistor, the length of the primary trimming trace is reduced to about half.

【0084】(実施の形態2)以下に本発明の実施の形
態について、図面を参照しながら説明する。
(Embodiment 2) An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0085】図4は本発明の実施の形態2における抵抗
器の上面図である。
FIG. 4 is a top view of the resistor according to the second embodiment of the present invention.

【0086】31はアルミナからなる矩形状の絶縁基板
である。32a,32bは絶縁基板31の上面の相対向
する両端部に設けられた銀からなる電極である。33は
電極32a,32b間を電気的に接続するように、かつ
両電極32a,32b間に電流が流れるように絶縁基板
31と電極32a,32bの上面の一部に設けられた、
酸化ルテニウム系の厚膜材料からなる矩形状の抵抗体で
ある。34aはトリミングすることによって設けられた
抵抗値を粗調整するための第1のトリミング跡で、粗調
整用の1次トリミング跡34、粗調整用の2次トリミン
グ跡35からなる。粗調整用の1次トリミング跡34
は、抵抗体33の一方の側辺に形成され、かつ一方の電
極32aの近傍に配置され、電極32aと平行な方向に
延びている。この粗調整用の1次トリミング跡34と電
極32aとの距離は、極力短くする。粗調整用の2次ト
リミング跡35は、粗調整用の1次トリミング跡34の
終端を始端として他方の電極32bに向かう電流方向に
延びている。
Reference numeral 31 denotes a rectangular insulating substrate made of alumina. Reference numerals 32a and 32b are silver electrodes provided at opposite ends of the upper surface of the insulating substrate 31. 33 is provided on a part of the upper surface of the insulating substrate 31 and the electrodes 32a and 32b so as to electrically connect the electrodes 32a and 32b and to allow a current to flow between the electrodes 32a and 32b.
It is a rectangular resistor made of a ruthenium oxide-based thick film material. Reference numeral 34a denotes a first trimming mark for coarsely adjusting the resistance value provided by trimming, and includes a first trimming mark 34 for coarse adjustment and a second trimming mark 35 for coarse adjustment. Primary trimming mark 34 for coarse adjustment
Is formed on one side of the resistor 33, is disposed near one electrode 32a, and extends in a direction parallel to the electrode 32a. The distance between the primary trimming mark 34 for rough adjustment and the electrode 32a is made as short as possible. The secondary trimming mark 35 for coarse adjustment extends in the current direction toward the other electrode 32b starting from the end of the primary trimming mark 34 for coarse adjustment.

【0087】36aはトリミングすることによって設け
られた抵抗値を微調整するための第2のトリミング跡
で、微調整用の1次トリミング跡36、微調整用の2次
トリミング跡37からなる。微調整用の1次トリミング
跡36は、抵抗体33の粗調整用の1次トリミング跡3
4が設けられた側辺に形成され、かつ他方の電極32b
の近傍に配置され、電極32bと平行な方向に延びてい
る。また、微調整用の1次トリミング跡36は、粗調整
用の1次トリミング跡34よりも短くなっており、この
微調整用の1次トリミング跡36と電極32bとの距離
は、極力短くなっている。
Reference numeral 36a denotes a second trimming mark for fine adjustment of the resistance value provided by trimming, which comprises a first trimming mark 36 for fine adjustment and a second trimming mark 37 for fine adjustment. The primary trimming trace 36 for fine adjustment is the primary trimming trace 3 for coarse adjustment of the resistor 33.
4 is formed on the side where the electrode 4 is provided, and the other electrode 32b
, And extends in a direction parallel to the electrode 32b. In addition, the primary trimming trace 36 for fine adjustment is shorter than the primary trimming trace 34 for coarse adjustment, and the distance between the primary trimming trace 36 for fine adjustment and the electrode 32b is as short as possible. ing.

【0088】さらに、1次トリミング跡34,36はト
リミング跡が1つのときの1次トリミング跡の長さより
短くなっている。
Further, the length of the primary trimming traces 34 and 36 is shorter than the length of the primary trimming trace when there is one trimming trace.

【0089】すなわち、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ
場合、トリミング跡が1つのときは1つの1次トリミン
グ跡で目標抵抗値にする必要があるが、トリミング跡が
2つのときは2つの1次トリミング跡で目標抵抗値にす
ればよいからである。
That is, when the initial resistance value and the target resistance value are the same, it is necessary to set the target resistance value by one primary trimming trace when there is one trimming trace, but when the number of trimming traces is two, two primary trimming traces are required. This is because the target resistance value may be set at the next trimming mark.

【0090】また、微調整用の2次トリミング跡37
は、微調整用の1次トリミング跡36の終端を始端とし
て電極32aに向かう電流方向に延びている。
Further, a secondary trimming mark 37 for fine adjustment is provided.
Extends from the end of the fine adjustment primary trimming trace 36 in the current direction toward the electrode 32a.

【0091】従って、第1のトリミング跡34aと第2
のトリミング跡36aは、それぞれの2次トリミング跡
35,37の始端から終端へ向かう方向がそれぞれ逆向
きになるように形成されている。
Therefore, the first trimming mark 34a and the second trimming mark 34a
The trimming trace 36a is formed such that the directions from the start end to the end of the respective secondary trimming traces 35 and 37 are opposite to each other.

【0092】この構成にすれば、粗調整用の1次トリミ
ング跡34と電極32aおよび微調整用の1次トリミン
グ跡36と電極32bとの距離を容易に小さく保つこと
ができる。
With this configuration, the distance between the primary trimming mark 34 for coarse adjustment and the electrode 32a and the distance between the primary trimming mark 36 for fine adjustment and the electrode 32b can be easily kept small.

【0093】何故なら、機械的に抵抗体との距離を調整
してから1次トリミングを開始すればよいため、1次ト
リミング跡の形成開始位置は精度よく決定できるからで
ある。
This is because the primary trimming may be started after the distance to the resistor is mechanically adjusted, and thus the formation start position of the primary trimming trace can be accurately determined.

【0094】以上のように構成された本発明の実施の形
態2について、以下にその製造方法を説明する。
A method of manufacturing the second embodiment of the present invention configured as described above will be described below.

【0095】図5は本発明の実施の形態2における抵抗
器の製造方法を示す工程図である。
FIG. 5 is a process chart showing a method of manufacturing a resistor according to the second embodiment of the present invention.

【0096】まず、図5(a)に示すように、絶縁基板
31の上面の両端部に導電性ペーストをスクリーン印刷
し、これを焼成することによって電極32a,32bを
形成する。
First, as shown in FIG. 5A, a conductive paste is screen-printed on both ends of the upper surface of the insulating substrate 31, and the electrodes 32a and 32b are formed by firing.

【0097】次に、図5(b)に示すように、電極32
aと32bを電気的に接続するように、絶縁基板31と
電極32a,32bの上面の一部に抵抗ペーストをスク
リーン印刷し、これを焼成することによって抵抗体33
を形成する。このとき、トリミング跡34a,36a形
成前の電極32a,32b間の抵抗値(初期抵抗値)
は、後述するレーザによるトリミングで高くすることは
可能であるが、低くすることは非常に困難なので、あら
かじめ目標とする抵抗値よりも低くなるようにしてお
く。ただし、トリミング前の初期抵抗値が低いほどトリ
ミング跡34a,36aの長さを長く設ける必要がある
ため、耐サージ特性は悪くなる。従って、目標値に対す
る比率が低すぎるもの、通常は2分の1以下のものは取
り除く。
Next, as shown in FIG.
A resistor paste is screen-printed on a part of the upper surface of the insulating substrate 31 and the electrodes 32a and 32b so that the resistor 33a is electrically connected to the resistor 32b.
To form At this time, the resistance value between the electrodes 32a and 32b before the trimming marks 34a and 36a are formed (initial resistance value)
Can be increased by trimming with a laser, which will be described later, but it is very difficult to reduce the resistance, so that the resistance is set to be lower than a target resistance value in advance. However, the lower the initial resistance value before the trimming, the longer the length of the trimming traces 34a and 36a needs to be provided, so that the surge resistance is deteriorated. Therefore, those whose ratio to the target value is too low, usually less than half, are removed.

【0098】次に、図5(c)に示すように、電極32
a,32b間の抵抗値を測定しながら所定の抵抗値にな
るまで、レーザを電極32a近傍の抵抗体33の外側か
ら電極32aと平行な方向にスキャンして、抵抗体33
に粗調整用の1次トリミング跡34を形成する。電極3
2aと粗調整用の1次トリミング跡34の距離が短いほ
ど、粗調整用の1次トリミング跡34終端近傍の電流集
中を抑制でき、すなわち、抵抗体33の耐サージ特性は
向上するため、電極32aと粗調整用の1次トリミング
跡34が重ならないように製造上の諸条件(トリミング
の開始位置精度や抵抗体33及び電極32a,32bの
形成位置精度など)を考慮した上で、粗調整用の1次ト
リミング跡34の形成開始位置を設定する。
Next, as shown in FIG.
The laser is scanned from the outside of the resistor 33 in the vicinity of the electrode 32a in a direction parallel to the electrode 32a until the predetermined resistance is reached while measuring the resistance between the resistors 33a and 32b.
Then, a primary trimming mark 34 for coarse adjustment is formed. Electrode 3
As the distance between 2a and the coarse adjustment primary trimming mark 34 is shorter, the current concentration near the end of the coarse adjustment primary trimming mark 34 can be suppressed, that is, the surge resistance of the resistor 33 is improved. In consideration of manufacturing conditions (accuracy of starting position of trimming, formation accuracy of resistors 33 and electrodes 32a and 32b, etc.), coarse adjustment is performed so that 32a and primary trimming mark 34 for coarse adjustment do not overlap. The formation start position of the primary trimming mark 34 is set.

【0099】次に、図5(d)に示すように、電極32
a,32b間の抵抗値を測定しながら所定の抵抗値にな
るまで、粗調整用の1次トリミング跡34の終端を始端
として、電極32bの方向に延びる粗調整用の2次トリ
ミング跡35を形成し、第1のトリミング跡34aを設
ける。
Next, as shown in FIG.
The secondary trimming traces 35 for coarse adjustment extending in the direction of the electrode 32b starting from the end of the primary trimming traces 34 for coarse adjustment until the predetermined resistance value is reached while measuring the resistance value between the a and 32b. Formed, and a first trimming mark 34a is provided.

【0100】次に、図5(e)に示すように、電極32
a,32b間の抵抗値を測定しながら所定の抵抗値にな
るまで、粗調整用の1次トリミング跡34を設けた側辺
に、電極32b近傍の抵抗体33の外側から電極32b
と平行な方向に延びる微調整用の1次トリミング跡36
を形成する。このとき、微調整用の1次トリミング跡3
6が粗調整用の1次トリミング跡34より短くなるよう
にする。
Next, as shown in FIG.
While measuring the resistance value between the electrodes 32a and 32b, the electrode 32b is placed from the outside of the resistor 33 near the electrode 32b on the side where the primary trimming mark 34 for coarse adjustment is provided until the predetermined resistance value is reached.
Primary trimming trace 36 for fine adjustment extending in a direction parallel to
To form At this time, the primary trimming marks 3 for fine adjustment
6 is shorter than the primary trimming trace 34 for coarse adjustment.

【0101】最後に、図5(f)に示すように、電極3
2a,32b間の抵抗値を測定しながら目標とする抵抗
値になるまで、微調整用の1次トリミング跡37の終端
を始端として、電極32aの方向に延びる微調整用の1
次トリミング跡37を形成し、第2のトリミング跡36
aを設ける。この微調整用の1次トリミング跡37を形
成した後、電極32a,32b間の抵抗値が目標とする
抵抗値になる。また、第1のトリミング跡34aと第2
のトリミング跡36aは、それぞれの2次トリミング跡
35,37の始端から終端へ向かう方向がそれぞれ逆向
きになるように形成されている。
Finally, as shown in FIG.
While measuring the resistance value between 2a and 32b, until the target resistance value is reached, the fine trimming 1 extends in the direction of the electrode 32a starting from the end of the fine trimming trace 37 as a starting end.
A next trimming mark 37 is formed, and a second trimming mark 36 is formed.
a is provided. After forming the primary trimming trace 37 for fine adjustment, the resistance value between the electrodes 32a and 32b becomes the target resistance value. Also, the first trimming mark 34a and the second trimming mark 34a
The trimming trace 36a is formed such that the directions from the start end to the end of the respective secondary trimming traces 35 and 37 are opposite to each other.

【0102】このとき、粗調整用の1次トリミング跡3
4が微調整用の1次トリミング跡36よりも長いため、
微調整用の2次トリミング跡37の形成箇所は、粗調整
用の1次トリミング跡34によって電流の流れる量が少
なくなり、これにより、第2のトリミング跡36aにお
ける抵抗値の上昇率を抑えることができ、容易に高精度
の抵抗器が得られる。
At this time, the primary trimming marks 3 for rough adjustment
4 is longer than the primary trimming trace 36 for fine adjustment,
In the place where the secondary trimming trace 37 for fine adjustment is formed, the amount of current flowing is reduced by the primary trimming trace 34 for coarse adjustment, thereby suppressing the rate of increase of the resistance value in the second trimming trace 36a. And a highly accurate resistor can be easily obtained.

【0103】以上のように構成、製造された本発明の実
施の形態2における抵抗器について、以下にその動作を
説明する。
The operation of the resistor constructed and manufactured as described above according to the second embodiment of the present invention will be described below.

【0104】図6は、本発明の実施の形態2における抵
抗器に電流を流したときの電流の流れを示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a current flow when a current flows through the resistor according to the second embodiment of the present invention.

【0105】図6から明らかなように、第1のトリミン
グ跡34aによって粗調整用の1次トリミング跡34よ
り抵抗体33の側辺に近い方へ電流が流れることを妨げ
られるため、第2のトリミング跡36aの形成箇所に流
れる電流が少なくなっていることがわかる。
As is clear from FIG. 6, the first trimming mark 34a prevents the current from flowing closer to the side of the resistor 33 than the primary trimming mark 34 for coarse adjustment, and thus the second trimming mark 34a is used. It can be seen that the current flowing through the portion where the trimming trace 36a is formed is reduced.

【0106】なお、2次トリミング跡36または/及び
38の終端から電極32a,32bと同じ方向に延びる
3次トリミング跡を設けてもよい。
It is also possible to provide a tertiary trimming trace extending in the same direction as the electrodes 32a and 32b from the end of the secondary trimming trace 36 and / or 38.

【0107】また、1次トリミング跡34,36が設け
られた抵抗体33の側辺と対向する側辺に、トリミング
跡を設けてもよく、例えば図7(a)に示すように、コ
の字状のトリミング跡38を設けたり、図7(b)に示
すように、一方の側辺に設けられたトリミング跡34
a,36a同様にトリミング跡39および40を設けて
もよい。
Further, trimming marks may be provided on the side opposite to the side of the resistor 33 provided with the primary trimming marks 34 and 36. For example, as shown in FIG. A trimming mark 38 in the shape of a letter is provided, or a trimming mark 34 provided on one side as shown in FIG.
The trimming marks 39 and 40 may be provided as in the case of a and 36a.

【0108】上記した本発明の実施の形態2における抵
抗器は、第1のトリミング跡34aと第2のトリミング
跡36aを、2次トリミング跡35,37の始端から終
端へ向かう方向がそれぞれ逆向きになるように形成した
ため、電極32a,32bと1次トリミング跡34,3
6の距離のばらつきを容易に小さくすることができ、こ
れにより、電流集中が起こる2次トリミング跡35,3
7の始端及び終端と電極32a,32bとの距離のばら
つきが抑えられるため、耐サージ特性のばらつきの少な
い抵抗器が容易に得られるという効果が得られる。
In the above-described resistor according to the second embodiment of the present invention, the first trimming trace 34a and the second trimming trace 36a are directed in opposite directions from the beginning to the end of the secondary trimming traces 35 and 37, respectively. The electrodes 32a, 32b and the primary trimming marks 34, 3
6 can be easily reduced, so that secondary trimming marks 35 and 3 where current concentration occurs can be achieved.
Variations in the distance between the start and end of the electrode 7 and the electrodes 32a, 32b are suppressed, so that an effect is obtained that a resistor with less variation in surge resistance can be easily obtained.

【0109】すなわち、機械的に抵抗体との距離を調整
してから1次トリミングを開始すればよいため、1次ト
リミング跡34,36の形成開始位置は精度よく決定で
き、これにより、電極32a,32bと1次トリミング
跡34,36の距離が略同じになるようにすることは容
易であるからである。
That is, the primary trimming may be started after mechanically adjusting the distance from the resistor, so that the formation start position of the primary trimming traces 34 and 36 can be determined with high accuracy. , 32b and the primary trimming traces 34, 36 can be easily made substantially the same.

【0110】なお、本発明の実施の形態1及び2におけ
る抵抗器は、1次トリミング跡と電極との距離、1次ト
リミング跡の長さ、2次トリミング跡の始端及び終端と
電極との距離を極力小さくできれば、耐サージ特性を最
も向上させることができる。
The resistors according to the first and second embodiments of the present invention have a distance between the primary trimming trace and the electrode, a length of the primary trimming trace, and a distance between the starting end and the end of the secondary trimming trace and the electrode. As far as possible, the surge resistance can be improved most.

【0111】1次トリミング跡と電極との距離について
は、機械的に調整できる最も短い距離にする必要があ
る。
The distance between the primary trimming trace and the electrode must be the shortest distance that can be mechanically adjusted.

【0112】図3、図6からわかるように、通常は2次
トリミング跡の両端(始端及び終端)付近で電流集中が
起こるが、1次トリミング跡と電極との距離が非常に短
かければ、電極から1次トリミング跡の終端(2次トリ
ミング跡の始端及び終端)に流れる電流が非常に小さく
なるため、確実に電流集中が抑制できる。
As can be seen from FIGS. 3 and 6, current concentration usually occurs near both ends (start and end) of the secondary trimming trace, but if the distance between the primary trimming trace and the electrode is very short, Since the current flowing from the electrode to the end of the primary trimming trace (the start and end of the secondary trimming trace) becomes extremely small, current concentration can be reliably suppressed.

【0113】1次トリミング跡の長さ、2次トリミング
跡と電極との距離については、トリミングによって初期
抵抗値から目標抵抗値へ修正する際、それぞれが最も短
くなるように形成する必要がある。ただし、電流集中の
程度に最も影響を与える1次トリミング跡の長さを短く
することを優先する必要がある。
The length of the primary trimming trace and the distance between the secondary trimming trace and the electrode must be formed so as to be the shortest when correcting the initial resistance value to the target resistance value by trimming. However, it is necessary to give priority to shortening the length of the primary trimming trace that most affects the degree of current concentration.

【0114】[0114]

【発明の効果】以上のように本発明の抵抗器は、絶縁基
板上に形成され、相対向する電極間に電気的に接続され
て両電極間に電流が流れる矩形状の抵抗体と、前記抵抗
体の側辺に形成された2つのトリミング跡を備えたもの
で、この構成によれば、初期抵抗値と目標抵抗値が同じ
場合、抵抗体に2つのトリミング跡を形成することによ
ってトリミング跡が1つしか形成されない場合に比べ
て、トリミング跡の長さが短くなるため、トリミング跡
の終端の電流集中を抑制することができ、これにより、
抵抗器の耐サージ特性が向上するという有利な効果が得
られる。
As described above, the resistor according to the present invention is formed on an insulating substrate, is electrically connected between electrodes facing each other, and has a rectangular shape in which a current flows between the electrodes. According to this configuration, when the initial resistance value and the target resistance value are the same, two trimming marks are formed on the resistor to form a trimming mark by forming two trimming marks on the resistor. Since the length of the trimming trace is shorter than the case where only one is formed, the current concentration at the end of the trimming trace can be suppressed.
An advantageous effect that the surge resistance characteristic of the resistor is improved can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1における抵抗器の上面図FIG. 1 is a top view of a resistor according to a first embodiment of the present invention.

【図2】(a)〜(h)同抵抗器の製造方法を示す工程
FIGS. 2A to 2H are process diagrams showing a method of manufacturing the resistor.

【図3】同抵抗器の電流の流れを示す図FIG. 3 is a diagram showing a current flow of the resistor.

【図4】本発明の実施の形態2における抵抗器の上面図FIG. 4 is a top view of the resistor according to the second embodiment of the present invention.

【図5】(a)〜(h)同抵抗器の製造方法を示す工程
FIGS. 5A to 5H are process diagrams showing a method of manufacturing the resistor.

【図6】同抵抗器における電流の流れを示す図FIG. 6 is a view showing a current flow in the resistor.

【図7】(a)(b)同抵抗器の他の例を示す上面図7A and 7B are top views showing another example of the resistor.

【図8】従来の抵抗器の上面図FIG. 8 is a top view of a conventional resistor.

【図9】同抵抗器の製造方法を示す工程図FIG. 9 is a process chart showing a method for manufacturing the resistor.

【図10】同抵抗器の電流の流れを示す図FIG. 10 is a view showing a current flow of the resistor.

【図11】同抵抗器の他の例の電流の流れを示す図FIG. 11 is a view showing a current flow of another example of the resistor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11,31 絶縁基板 12a,12b,32a,32b 電極 13,33 抵抗体 14a,34a 第1のトリミング跡 14,34 粗調整用の1次トリミング跡 15,35 粗調整用の2次トリミング跡 16 粗調整用の3次トリミング跡 17a,36a 第2のトリミング跡 17,36 微調整用の1次トリミング跡 18,37 微調整用の2次トリミング跡 19 微調整用の3次トリミング跡 11, 31 Insulating substrate 12a, 12b, 32a, 32b Electrode 13, 33 Resistor 14a, 34a First trimming mark 14, 34 Primary trimming mark for coarse adjustment 15, 35 Secondary trimming mark for coarse adjustment 16 Coarse Tertiary trimming marks 17a, 36a for adjustment Second trimming marks 17, 36 Primary trimming marks for fine adjustment 18, 37 Secondary trimming marks for fine adjustment 19 Tertiary trimming marks for fine adjustment

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成12年2月10日(2000.2.1
0)
[Submission date] February 10, 2000 (2000.2.1
0)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】請求項12[Correction target item name] Claim 12

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0031[Correction target item name] 0031

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0031】本発明の請求項12に記載の発明は、第1
のトリミング跡の1次トリミング跡が第2のトリミング
跡の1次トリミング跡よりも長いもので、この構成によ
れば、第1のトリミング跡によって第1のトリミング跡
1次トリミング跡より第2のトリミング跡が形成され
た抵抗体の側辺に近い方へ電流が流れることを妨げられ
るため、第2のトリミング跡の2次トリミング跡の形成
箇所に流れる電流の量が少なくなり、これにより、第2
のトリミング跡のトリミングにおける抵抗値の上昇率を
抑えることができ、容易に高精度の抵抗器が得られると
いう作用を有する。
According to a twelfth aspect of the present invention, the first aspect
The first trimming mark of the trimming mark of the second is the second trimming mark
According to this configuration, the first trimming trace is longer than the first trimming trace.
Of the primary crop marks than the second trimming marks are formed resistor for impeded the current from flowing into the closer to the side, the current flowing to the area where the secondary trimming remains of the second trimming marks the amount is reduced, thereby, the second
Has an effect that the rate of increase in the resistance value during the trimming of the trimming trace can be suppressed, and a highly accurate resistor can be easily obtained.

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁基板上に形成され、相対向する電極
間に電気的に接続されて両電極間に電流が流れる矩形状
の抵抗体と、前記抵抗体の側辺に形成された2つのトリ
ミング跡を備えた抵抗器。
1. A rectangular resistor which is formed on an insulating substrate and is electrically connected between electrodes facing each other and in which a current flows between both electrodes, and two rectangular resistors formed on the sides of the resistor. Resistor with trimming marks.
【請求項2】 絶縁基板上に形成され、相対向する電極
間に電気的に接続されて両電極間に電流が流れる矩形状
の抵抗体と、前記抵抗体の対向する側辺の一方に形成さ
れた第1のトリミング跡と、他方に形成された第2のト
リミング跡とを備えた抵抗器。
2. A rectangular resistor formed on an insulating substrate and electrically connected between opposing electrodes and having a current flowing between the electrodes, and formed on one of the opposing sides of the resistor. A first trimming mark formed on the other side and a second trimming mark formed on the other side.
【請求項3】 絶縁基板上に形成され、相対向する電極
間に電気的に接続されて両電極間に電流が流れる矩形状
の抵抗体と、前記抵抗体の対向する側辺の一方に形成さ
れた第1のトリミング跡と、他方に形成された第2のト
リミング跡とを備え、前記第1のトリミング跡と前記第
2のトリミング跡は、一方の電極側の近傍に位置して当
該一方の電極に平行に延びる1次トリミング跡と、前記
1次トリミング跡の終端を始端とし、この始端から他方
の電極側に向かう電流方向に延び、他方の電極側の近傍
に終端を持つ2次トリミング跡とを含むようにした抵抗
器。
3. A rectangular resistor formed on an insulating substrate and electrically connected between opposing electrodes and having a current flowing between the electrodes, and formed on one of the opposing sides of the resistor. And a second trimming mark formed on the other, wherein the first trimming mark and the second trimming mark are located in the vicinity of one electrode side and Primary trimming trace extending in parallel to the first and second electrodes, and secondary trimming starting from the end of the primary trimming trace and extending in the current direction from the starting end toward the other electrode and having an end near the other electrode. A resistor that contains a trace.
【請求項4】 絶縁基板上に形成され、相対向する電極
間に電気的に接続されて両電極間に電流が流れる矩形状
の抵抗体と、前記抵抗体の対向する側辺の一方に形成さ
れた第1のトリミング跡と、他方に形成された第2のト
リミング跡とを備え、少なくとも前記第2のトリミング
跡は、一方の電極側の近傍に位置して当該一方の電極に
平行に延びる1次トリミング跡と、前記1次トリミング
跡の終端を始端とし、この始端から他方の電極側に向か
う電流方向に延び、他方の電極側の近傍に終端を持つ2
次トリミング跡とを含み、さらに、前記1次トリミング
跡の長さを、トリミング跡が1つのときにおける1次ト
リミング跡の長さより短くなるようにし、そして前記2
次トリミング跡の始端及び終端の部分における電流の回
り込みを抑制するように、前記1次トリミング跡の終端
と前記1次トリミング跡の近傍の電極との距離、前記2
次トリミング跡の終端と前記2次トリミング跡の近傍の
電極との距離をそれぞれ2次トリミング跡の長さの2分
の1以下とした抵抗器。
4. A rectangular resistor formed on an insulating substrate and electrically connected between opposing electrodes and having a current flowing between the electrodes, and formed on one of the opposing sides of the resistor. And a second trimming mark formed on the other, and at least the second trimming mark is located near one electrode side and extends in parallel with the one electrode. A primary trimming trace and an end of the primary trimming trace as a start end, extending in the current direction from the start end toward the other electrode side, and having an end near the other electrode side 2
A second trimming mark, the length of the first trimming mark being shorter than the length of the first trimming mark when there is one trimming mark, and
A distance between an end of the primary trimming trace and an electrode near the primary trimming trace, the distance between the end of the primary trimming trace and an electrode near the primary trimming trace.
A resistor in which the distance between the end of the secondary trimming trace and the electrode near the secondary trimming trace is less than half the length of the secondary trimming trace, respectively.
【請求項5】 絶縁基板上に形成され、相対向する電極
間に電気的に接続されて両電極間に電流が流れる矩形状
の抵抗体と、前記抵抗体の対向する側辺の一方に形成さ
れた第1のトリミング跡と、他方に形成された第2のト
リミング跡とを備え、少なくとも前記第2のトリミング
跡は、一方の電極側の近傍に位置して当該一方の電極に
平行に延びる1次トリミング跡と、前記1次トリミング
跡の終端を始端とし、この始端から他方の電極側に向か
う電流方向に延び、他方の電極側の近傍に終端を持つ2
次トリミング跡とを含み、さらに、前記1次トリミング
跡の長さを、トリミング跡が1つのときにおける1次ト
リミング跡の長さより短くなるようにし、そして前記2
次トリミング跡の始端及び終端の部分における電流の回
り込みを抑制するように、前記1次トリミング跡の長さ
を前記抵抗体の全幅の3分の1以下とした抵抗器。
5. A rectangular resistor which is formed on an insulating substrate, is electrically connected between electrodes facing each other, and flows a current between the electrodes, and is formed on one of opposed sides of the resistor. And a second trimming mark formed on the other, and at least the second trimming mark is located near one electrode side and extends in parallel with the one electrode. A primary trimming trace and an end of the primary trimming trace as a start end, extending in the current direction from the start end toward the other electrode side, and having an end near the other electrode side 2
A second trimming mark, the length of the first trimming mark being shorter than the length of the first trimming mark when there is one trimming mark, and
A resistor in which the length of the primary trimming trace is equal to or less than one-third of the entire width of the resistor so as to suppress the current from flowing around at the beginning and end of the next trimming trace.
【請求項6】 2次トリミング跡の終端から他方の電極
に平行に延びる3次トリミング跡を形成した請求項3〜
5のいずれかに記載の抵抗器。
6. A tertiary trimming trace extending parallel to the other electrode from the end of the secondary trimming trace.
6. The resistor according to any one of 5.
【請求項7】 3次トリミング跡の終端を抵抗体内にと
どめた請求項6記載の抵抗器。
7. The resistor according to claim 6, wherein an end of the third trimming trace is kept within the resistor.
【請求項8】 3次トリミング跡の終端を抵抗体外に延
ばした請求項6記載の抵抗器。
8. The resistor according to claim 6, wherein the end of the third trimming trace extends outside the resistor.
【請求項9】 第1のトリミング跡と第2のトリミング
跡を、2次トリミング跡の始端から終端へ向かう方向が
それぞれ逆向きになるように形成した請求項3〜5のい
ずれかに記載の抵抗器。
9. The secondary trimming trace according to claim 3, wherein the first trimming trace and the second trimming trace are formed such that the directions from the start end to the end of the secondary trimming trace are opposite to each other. Resistor.
【請求項10】 第1のトリミング跡と第2のトリミン
グ跡を、抵抗体の中心に対してそれぞれ略点対称となる
ように形成した請求項9に記載の抵抗器。
10. The resistor according to claim 9, wherein the first trimming mark and the second trimming mark are formed so as to be substantially point-symmetric with respect to the center of the resistor.
【請求項11】 絶縁基板上に形成され、相対向する電
極間に電気的に接続されて両電極間に電流が流れる抵抗
体と、前記抵抗体の対向する側辺の一方にのみ形成され
た第1のトリミング跡と第2のトリミング跡とを備え、
前記第1のトリミング跡と前記第2のトリミング跡は、
それぞれ一方の電極側の近傍に位置して当該一方の電極
に平行に延びる1次トリミング跡と、前記1次トリミン
グ跡の終端を始端とし、この始端から他方の電極側に向
かう電流方向に延びる2次トリミング跡とを含み、前記
2次トリミング跡の始端及び終端の部分における電流の
回り込みを抑制するように、前記第1のトリミング跡と
前記第2のトリミング跡を、2次トリミング跡の始端か
ら終端へ向かう方向がそれぞれ逆向きになるように形成
した抵抗器。
11. A resistor formed on an insulating substrate, electrically connected between opposing electrodes, and having a current flowing between the electrodes, and formed on only one of the opposing sides of the resistor. A first trimming mark and a second trimming mark,
The first trimming trace and the second trimming trace are:
A primary trimming mark located in the vicinity of one of the electrodes and extending in parallel with the one electrode; and an end terminating at the end of the primary trimming mark and extending in a current direction from the starting end toward the other electrode. A second trimming trace, wherein the first trimming trace and the second trimming trace are moved from the beginning of the secondary trimming trace so as to suppress current wraparound at the beginning and end of the secondary trimming trace. Resistors formed so that the directions toward the ends are opposite.
【請求項12】 粗調整用の1次トリミング跡が、微調
整用の1次トリミング跡よりも長い請求項11記載の抵
抗器。
12. The resistor according to claim 11, wherein the primary trimming trace for coarse adjustment is longer than the primary trimming trace for fine adjustment.
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