JP2001176213A - データ信号を読む方法、データ信号を読むためのシステムおよび磁気ディスク記憶システム - Google Patents
データ信号を読む方法、データ信号を読むためのシステムおよび磁気ディスク記憶システムInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ランダム誤りおよび一時誤りの影響を受け
る、１つ以上のデータシンボルを表わすデータ信号から
符号化されたデータを回復するための方式（装置および
方法）を提供する。 【解決手段】 この方式に従ったシステムは、一時誤り
検出器、信頼性検出器、消去フラッガおよびデコーダを
含む。一時誤り検出器はデータ信号を受信するよう結合
され、データ信号における一時誤り（たとえばＴＡ）の
１つ以上の特徴（たとえば開始場所および中間場所）を
識別するよう構成される。信頼性検出器は、各データシ
ンボルに対する信頼性計量を計算するよう構成される。
消去フラッガは、一時誤り検出器および信頼性検出器か
ら受信した信号に基づいて消去を識別する。デコーダ
は、消去フラッガの出力に基づいてデータシンボルを消
去または有効なデータシンボルとして扱うよう構成され
る。
る、１つ以上のデータシンボルを表わすデータ信号から
符号化されたデータを回復するための方式（装置および
方法）を提供する。 【解決手段】 この方式に従ったシステムは、一時誤り
検出器、信頼性検出器、消去フラッガおよびデコーダを
含む。一時誤り検出器はデータ信号を受信するよう結合
され、データ信号における一時誤り（たとえばＴＡ）の
１つ以上の特徴（たとえば開始場所および中間場所）を
識別するよう構成される。信頼性検出器は、各データシ
ンボルに対する信頼性計量を計算するよう構成される。
消去フラッガは、一時誤り検出器および信頼性検出器か
ら受信した信号に基づいて消去を識別する。デコーダ
は、消去フラッガの出力に基づいてデータシンボルを消
去または有効なデータシンボルとして扱うよう構成され
る。
Description
【０００１】
【発明の背景】この出願は、ランダム誤りおよび一時誤
りの影響を受ける符号化情報を読むためのシステムおよ
び方法に関する。
りの影響を受ける符号化情報を読むためのシステムおよ
び方法に関する。
【０００２】さまざまな誤り訂正符号化手法が、典型的
にデジタル通信システム（たとえば、光ディスクなどの
記憶媒体から情報を読むためのシステム）において用い
られて、情報が記憶媒体に転送され、および情報が記憶
媒体から転送される速度を増加させ、かつ誤りが生じる
率を低減する。数多くの誤り訂正手法は、誤り訂正コー
ド（たとえば８ビットデータシンボルを有するリードソ
ロモン（Read Solomon）コードを用いて情報を符号化し
不適切に読出されたデータシンボルを訂正するのに用い
られる冗長（または検査）シンボルを情報に埋込む。誤
り（値が不正確で場所が不明であるデータシンボル）お
よび消去（信頼性のない値を有するが場所は知られてい
るデータシンボル）は誤り訂正コード（ＥＣＣ）デコー
ダにより識別され訂正される。ＥＣＣデコーダは、コー
ドの誤り訂正能力が、誤りの数の２倍と消去の数との和
より大きい際にデータのブロックを正しく復号化でき
る。典型的には、さらなる交差検査コードを用いてＥＣ
Ｃデコーダが正しくデータブロックを復号化するのに失
敗した際にこれを検出する。交差検査がパスすると、訂
正されたデータシンボルはホストコンピュータに返信さ
れる。しかしながら、ＥＣＣが失敗すると、データブロ
ックを再び読まなければならず、記憶媒体上のデータに
アクセスするのに必要な時間が増加する。ＥＣＣデコー
ダは誤りの倍の数の消去を訂正することができるため、
ＥＣＣデコーダの失敗率は、たとえば一時誤りなどによ
って破壊されたデータシンボルを消去することによって
低減することができる。理想的には、ＥＣＣデコーダは
誤った消去（正しい値を有するデータシンボルであって
消去されてしまったもの）の数が大きくなりすぎること
なく破壊されたデータシンボルを消去すべきである。
にデジタル通信システム（たとえば、光ディスクなどの
記憶媒体から情報を読むためのシステム）において用い
られて、情報が記憶媒体に転送され、および情報が記憶
媒体から転送される速度を増加させ、かつ誤りが生じる
率を低減する。数多くの誤り訂正手法は、誤り訂正コー
ド（たとえば８ビットデータシンボルを有するリードソ
ロモン（Read Solomon）コードを用いて情報を符号化し
不適切に読出されたデータシンボルを訂正するのに用い
られる冗長（または検査）シンボルを情報に埋込む。誤
り（値が不正確で場所が不明であるデータシンボル）お
よび消去（信頼性のない値を有するが場所は知られてい
るデータシンボル）は誤り訂正コード（ＥＣＣ）デコー
ダにより識別され訂正される。ＥＣＣデコーダは、コー
ドの誤り訂正能力が、誤りの数の２倍と消去の数との和
より大きい際にデータのブロックを正しく復号化でき
る。典型的には、さらなる交差検査コードを用いてＥＣ
Ｃデコーダが正しくデータブロックを復号化するのに失
敗した際にこれを検出する。交差検査がパスすると、訂
正されたデータシンボルはホストコンピュータに返信さ
れる。しかしながら、ＥＣＣが失敗すると、データブロ
ックを再び読まなければならず、記憶媒体上のデータに
アクセスするのに必要な時間が増加する。ＥＣＣデコー
ダは誤りの倍の数の消去を訂正することができるため、
ＥＣＣデコーダの失敗率は、たとえば一時誤りなどによ
って破壊されたデータシンボルを消去することによって
低減することができる。理想的には、ＥＣＣデコーダは
誤った消去（正しい値を有するデータシンボルであって
消去されてしまったもの）の数が大きくなりすぎること
なく破壊されたデータシンボルを消去すべきである。
【０００３】記憶媒体上に記憶されるデジタル情報を読
むプロセスにより、結果生じるデータ信号にランダムノ
イズおよび一時誤り（たとえば、データ検出器によって
仮定されるランダムノイズ源とは別の源による誤り）が
導入される。磁気抵抗（ＭＲ）ヘッドを用いる磁気記録
システム（磁気ディスクドライブ）のリードチャネルに
おいて生成される信号は、熱により引き起こされる一時
誤り（たとえば熱アスペリティ（heat asperity））の
影響を受ける。熱アスペリティ（ＴＡ）は、ＭＲヘッド
が磁気記憶ディスクの表面上の汚染または何らかの別の
隆起した特徴と衝突する際に引き起こされ得る。この衝
突によりＭＲ要素の温度が上昇し、よってその抵抗が増
加する。この抵抗の変化により、ＭＲ要素の出力におい
て電圧トランジェントを生じる。このトランジェントの
大きさはデータ信号の大きさに対して大きいこともあ
り、トランジェント持続時間はビット時間に対して長い
かもしれない。この結果、熱アスペリティはリードチャ
ネルに多数の誤りを導入し得る。実際、誤りの数はＥＣ
Ｃデコーダが訂正するには大きすぎるかもしれない。熱
アスペリティなどの一時誤りに効率よく対処する能力が
ないことはシステム全体の性能および信頼性を低減す
る。
むプロセスにより、結果生じるデータ信号にランダムノ
イズおよび一時誤り（たとえば、データ検出器によって
仮定されるランダムノイズ源とは別の源による誤り）が
導入される。磁気抵抗（ＭＲ）ヘッドを用いる磁気記録
システム（磁気ディスクドライブ）のリードチャネルに
おいて生成される信号は、熱により引き起こされる一時
誤り（たとえば熱アスペリティ（heat asperity））の
影響を受ける。熱アスペリティ（ＴＡ）は、ＭＲヘッド
が磁気記憶ディスクの表面上の汚染または何らかの別の
隆起した特徴と衝突する際に引き起こされ得る。この衝
突によりＭＲ要素の温度が上昇し、よってその抵抗が増
加する。この抵抗の変化により、ＭＲ要素の出力におい
て電圧トランジェントを生じる。このトランジェントの
大きさはデータ信号の大きさに対して大きいこともあ
り、トランジェント持続時間はビット時間に対して長い
かもしれない。この結果、熱アスペリティはリードチャ
ネルに多数の誤りを導入し得る。実際、誤りの数はＥＣ
Ｃデコーダが訂正するには大きすぎるかもしれない。熱
アスペリティなどの一時誤りに効率よく対処する能力が
ないことはシステム全体の性能および信頼性を低減す
る。
【０００４】一時誤り検出器は、一時誤りの始まりおよ
び終わり（または中間点）を検出し、データ信号におけ
る連続したシンボルを消去としてラベル付けするのに用
いられてきた。テープドライブにおいて、たとえばドロ
ップアウト検出器を用いて、データ信号振幅の包絡線
（envelope）がしきい値より下がる際にドロップアウト
の始まりを検出し、かつデータ信号包絡線が回復した際
にドロップアウトの終わりを検出するよう用いられても
よい。（ウィリアム・ライアン（William Ryan）による
「ドロップアウト検出およびビタビ信頼性計量消去フラ
ッギングとの比較性能」（“Comparative Performance
Between Drop-Out Detection and ViterbiReliability
Metric Erasure Flagging,”Ampex Corp., Intermag '9
2 Conference Digest, GA-05, 1992年4月を参照。）Ｍ
Ｒヘッドを備えた磁気ディスクドライブでは、熱アスペ
リティ検出器が、低域フィルタ処理された信号の大きさ
がしきい値を超えた際にＴＡの始まりを定義し、低域フ
ィルタ処理された信号がＴＡの識別された始まりの後に
初めてゼロを交差する際にＴＡの中間点を定義してもよ
い。
び終わり（または中間点）を検出し、データ信号におけ
る連続したシンボルを消去としてラベル付けするのに用
いられてきた。テープドライブにおいて、たとえばドロ
ップアウト検出器を用いて、データ信号振幅の包絡線
（envelope）がしきい値より下がる際にドロップアウト
の始まりを検出し、かつデータ信号包絡線が回復した際
にドロップアウトの終わりを検出するよう用いられても
よい。（ウィリアム・ライアン（William Ryan）による
「ドロップアウト検出およびビタビ信頼性計量消去フラ
ッギングとの比較性能」（“Comparative Performance
Between Drop-Out Detection and ViterbiReliability
Metric Erasure Flagging,”Ampex Corp., Intermag '9
2 Conference Digest, GA-05, 1992年4月を参照。）Ｍ
Ｒヘッドを備えた磁気ディスクドライブでは、熱アスペ
リティ検出器が、低域フィルタ処理された信号の大きさ
がしきい値を超えた際にＴＡの始まりを定義し、低域フ
ィルタ処理された信号がＴＡの識別された始まりの後に
初めてゼロを交差する際にＴＡの中間点を定義してもよ
い。
【０００５】ランダム誤りのみ（一時誤りではない）の
影響を受けるサンプリングされたデータ検出システムに
おいて、別の消去ラベル付けシステムが提案されてい
る。このシステムにおいて、検出器は、データサンプル
が決定境界（decision boundary）に近すぎる際には必
ず消去を生じる。各データシンボルに対し、通常、信頼
性計量が、そのデータシンボルにおけるビットに影響を
与える決定に対し、最小の決定マージンに基づいて計算
される（データサンプルと決定境界との距離が決定マー
ジンである）。ゼロマージンが存在する場合、データシ
ンボルは２分の１の誤り確率を有し、決定マージンが増
大するにつれ、誤り確率が減少する。あるアプローチで
は、データはソフト出力ビタビ検出器を用いて検出さ
れ、ある特定の時間における決定マージン（このアプロ
ーチではビタビ差分計量）は、最良パスに対するパス計
量と、その時点で最良パスと再びマージする際の拒否さ
れたパスに対するパス計量との差の大きさに対応する。
（たとえば、「ソフト決定出力によるビタビアルゴリズ
ムおよびその応用」（“A Viterbi Algorithm with Sof
t-Decision Outputs and Its Applications,”J. Hagen
auerおよびP. Hoeher, Proc. of IEEE GLOBECOME '89 C
onference, Dallas, Texas, 1989年11月, pp. 1680-168
6を参照。）
影響を受けるサンプリングされたデータ検出システムに
おいて、別の消去ラベル付けシステムが提案されてい
る。このシステムにおいて、検出器は、データサンプル
が決定境界（decision boundary）に近すぎる際には必
ず消去を生じる。各データシンボルに対し、通常、信頼
性計量が、そのデータシンボルにおけるビットに影響を
与える決定に対し、最小の決定マージンに基づいて計算
される（データサンプルと決定境界との距離が決定マー
ジンである）。ゼロマージンが存在する場合、データシ
ンボルは２分の１の誤り確率を有し、決定マージンが増
大するにつれ、誤り確率が減少する。あるアプローチで
は、データはソフト出力ビタビ検出器を用いて検出さ
れ、ある特定の時間における決定マージン（このアプロ
ーチではビタビ差分計量）は、最良パスに対するパス計
量と、その時点で最良パスと再びマージする際の拒否さ
れたパスに対するパス計量との差の大きさに対応する。
（たとえば、「ソフト決定出力によるビタビアルゴリズ
ムおよびその応用」（“A Viterbi Algorithm with Sof
t-Decision Outputs and Its Applications,”J. Hagen
auerおよびP. Hoeher, Proc. of IEEE GLOBECOME '89 C
onference, Dallas, Texas, 1989年11月, pp. 1680-168
6を参照。）
【０００６】
【発明の概要】この発明は、ランダム誤りおよび一時誤
りの影響を受ける、１つ以上のデータシンボルを表わす
データ信号からの符号化されたデータを回復するための
方式に関する。この発明は、一時誤り検出器、信頼性検
出器、消去フラッガおよびデコーダを含むシステムを特
徴とする。一時誤り検出器は、データ信号を受信するよ
う結合され、データ信号における一時誤り（たとえばＴ
Ａ）の１つ以上の特徴（たとえば開始場所および中間場
所）を識別するよう構成される。信頼性検出器は、各デ
ータシンボルに対し信頼性計量を計算するよう構成され
る。消去フラッガは、一時誤り検出器および信頼性検出
器から受信した信号に基づいて消去を識別する。デコー
ダは、消去フラッガの出力に基づいてデータシンボルを
消去としてか、または有効データシンボルとして扱うよ
うに構成される。
りの影響を受ける、１つ以上のデータシンボルを表わす
データ信号からの符号化されたデータを回復するための
方式に関する。この発明は、一時誤り検出器、信頼性検
出器、消去フラッガおよびデコーダを含むシステムを特
徴とする。一時誤り検出器は、データ信号を受信するよ
う結合され、データ信号における一時誤り（たとえばＴ
Ａ）の１つ以上の特徴（たとえば開始場所および中間場
所）を識別するよう構成される。信頼性検出器は、各デ
ータシンボルに対し信頼性計量を計算するよう構成され
る。消去フラッガは、一時誤り検出器および信頼性検出
器から受信した信号に基づいて消去を識別する。デコー
ダは、消去フラッガの出力に基づいてデータシンボルを
消去としてか、または有効データシンボルとして扱うよ
うに構成される。
【０００７】別の局面では、この発明は、上述のシステ
ムの特徴に加えて、少なくとも１つの磁気記憶ディスク
と、その少なくとも１つの磁気記憶ディスクから符号化
されたデータ信号を抽出するよう構成される少なくとも
１つの磁気抵抗（ＭＲ）ヘッドとを含む磁気ディスク記
憶システムを特徴とする。
ムの特徴に加えて、少なくとも１つの磁気記憶ディスク
と、その少なくとも１つの磁気記憶ディスクから符号化
されたデータ信号を抽出するよう構成される少なくとも
１つの磁気抵抗（ＭＲ）ヘッドとを含む磁気ディスク記
憶システムを特徴とする。
【０００８】実施例には以下の特徴の１つ以上が含まれ
てもよい。一実施例では、データブロックの初めにおい
て始まり、識別された一時誤り開始場所において終わる
第１の消去期間が規定され、第１の消去期間の終わりに
おいて始まり、識別された中間場所から予め選択された
数のデータシンボル分だけ後に終わる第２の消去期間が
規定され、第２の消去期間の終わりにおいて始まる第３
の消去期間が規定される。第３の消去期間は第２の一時
誤りが検出された際に終わり得る。第１の消去期間内の
各データシンボルは有効データシンボルとしてラベル付
けされてもよく、第２の消去期間内の各データシンボル
は消去としてラベル付けされてもよく、第３の消去期間
内の各データシンボルは、計算された信頼性計量の最小
信頼性しきい値に対する比較に基づいて消去または有効
データシンボルとしてラベル付けされてもよい。代わり
に、第１の消去期間内の各データシンボルは、第１の計
算された信頼性計量の第１の最小信頼性しきい値に対す
る比較に基づいて消去または有効データシンボルとして
ラベル付けされてもよく、第２の消去期間内の各データ
シンボルは、第２の計算された信頼性計量（これは第１
の信頼性計量とは異なる）の第２の最小信頼性しきい値
に対する比較に基づいて消去または有効データシンボル
としてラベル付けされてもよい。同様に、第３の消去期
間は第３の信頼性計量および対応するしきい値を用いて
もよい。第３の計算された信頼性計量は第１および第２
の信頼性計量とは異なっていてもよい。たとえば、第１
の信頼性計量は加法的ホワイトガウシアンノイズモデル
に基づいて計算されてもよく、第２または第３の信頼性
計量は同じノイズモデルに基づいてではあるが、異なっ
た平均値および分散（variance）により計算されてもよ
い。
てもよい。一実施例では、データブロックの初めにおい
て始まり、識別された一時誤り開始場所において終わる
第１の消去期間が規定され、第１の消去期間の終わりに
おいて始まり、識別された中間場所から予め選択された
数のデータシンボル分だけ後に終わる第２の消去期間が
規定され、第２の消去期間の終わりにおいて始まる第３
の消去期間が規定される。第３の消去期間は第２の一時
誤りが検出された際に終わり得る。第１の消去期間内の
各データシンボルは有効データシンボルとしてラベル付
けされてもよく、第２の消去期間内の各データシンボル
は消去としてラベル付けされてもよく、第３の消去期間
内の各データシンボルは、計算された信頼性計量の最小
信頼性しきい値に対する比較に基づいて消去または有効
データシンボルとしてラベル付けされてもよい。代わり
に、第１の消去期間内の各データシンボルは、第１の計
算された信頼性計量の第１の最小信頼性しきい値に対す
る比較に基づいて消去または有効データシンボルとして
ラベル付けされてもよく、第２の消去期間内の各データ
シンボルは、第２の計算された信頼性計量（これは第１
の信頼性計量とは異なる）の第２の最小信頼性しきい値
に対する比較に基づいて消去または有効データシンボル
としてラベル付けされてもよい。同様に、第３の消去期
間は第３の信頼性計量および対応するしきい値を用いて
もよい。第３の計算された信頼性計量は第１および第２
の信頼性計量とは異なっていてもよい。たとえば、第１
の信頼性計量は加法的ホワイトガウシアンノイズモデル
に基づいて計算されてもよく、第２または第３の信頼性
計量は同じノイズモデルに基づいてではあるが、異なっ
た平均値および分散（variance）により計算されてもよ
い。
【０００９】消去フラッガは、一時誤り検出器および信
頼性検出器の双方により生成される消去情報の論理和を
求めることにより１つ以上のデータシンボルを消去とし
てラベル付けしてもよい。
頼性検出器の双方により生成される消去情報の論理和を
求めることにより１つ以上のデータシンボルを消去とし
てラベル付けしてもよい。
【００１０】計算された信頼性計量はビタビ差分計量に
基づいていてもよい。データシンボルは、そのデータシ
ンボルに関連付けられる任意の時間に対し、計算された
ビタビ差分計量が最小信頼性しきい値より小さい場合に
消去としてラベル付けされてもよい。代わりに、計算さ
れた信頼性計量は、データシンボルにわたる最良パスに
沿ったビタビパス計量における増加であってもよい（た
とえば、データシンボルの終わりと一致した時点で終わ
る最良パスに対するビタビパス計量からデータシンボル
の初めと一致する時点で終わる最良パスに対するビタビ
パス計量を引く）。データシンボルはビタビパス計量が
最小信頼性しきい値を超えた際に消去としてラベル付け
されてもよい。
基づいていてもよい。データシンボルは、そのデータシ
ンボルに関連付けられる任意の時間に対し、計算された
ビタビ差分計量が最小信頼性しきい値より小さい場合に
消去としてラベル付けされてもよい。代わりに、計算さ
れた信頼性計量は、データシンボルにわたる最良パスに
沿ったビタビパス計量における増加であってもよい（た
とえば、データシンボルの終わりと一致した時点で終わ
る最良パスに対するビタビパス計量からデータシンボル
の初めと一致する時点で終わる最良パスに対するビタビ
パス計量を引く）。データシンボルはビタビパス計量が
最小信頼性しきい値を超えた際に消去としてラベル付け
されてもよい。
【００１１】この発明の利点には以下のようなものがあ
る。この発明では、熱アスペリティなどの一時誤りのＥ
ＣＣ失敗率に対する影響を、一時検出器および信頼性検
出器からの情報のすべてを用いて低減する。一時誤りの
影響を受けるデータ信号における消去を正しく識別する
システムの能力を向上させることにより、この発明では
デコーダがデータ信号におけるより多数の誤りを訂正す
ることが可能となる。
る。この発明では、熱アスペリティなどの一時誤りのＥ
ＣＣ失敗率に対する影響を、一時検出器および信頼性検
出器からの情報のすべてを用いて低減する。一時誤りの
影響を受けるデータ信号における消去を正しく識別する
システムの能力を向上させることにより、この発明では
デコーダがデータ信号におけるより多数の誤りを訂正す
ることが可能となる。
【００１２】他の特徴および利点は図面および特許請求
の範囲を含む以下の説明から明らかになるであろう。
の範囲を含む以下の説明から明らかになるであろう。
【００１３】
【好ましい実施例の説明】図１を参照して、磁気ディス
ク記憶システム１０は、各々が軸１８について回転する
よう構成される複数の磁気記憶ディスク１２、１４およ
び１６と、複数のヘッド支持アセンブリ２２、２４、２
６、２８、３０および３２を含むヘッドスタックアセン
ブリ２０とを含み、ヘッド支持アセンブリの各々はそれ
ぞれ対応のスライダ３４、３６、３８、４０、４２およ
び４４にジンバル機構によって結合される。各スライダ
３４−４４は、磁気記憶ディスク１２−１６からデータ
を読出し、データを書込むことのできる１つ以上の磁気
読取／書込トランスデューサ（ＭＲヘッド）を支持す
る。各磁気記憶ディスク１２−１６は各ディスク上に支
持される磁気記録媒体に情報を記憶し、その情報は同心
データトラックの環状パターンに記憶される。ディスク
が回転するにつれ、スライダをディスクの表面上の適当
な場所へ移動させることによって、ディスクの異なる場
所に記憶されているデータにアクセスすることができ
る。スライダ運動はアクチュエータアセンブリ４６によ
り制御され、アクチュエータアセンブリ４６はデータ支
持アセンブリ２２−３２の位置を制御する。ヘッド支持
アセンブリ２２−３２は、ディスク１２−１６の表面に
対してスライダ３４−４４をずらせる。ディスク１２−
１６の回転により、スライダ３４−４４とディスク１２
−１６の表面との間にエアーベアリングが生じ、このエ
アーベアリングがスライダ３４−４４をディスク１２−
１６の表面の上方に小さい実質的に一定の距離だけ持ち
上げる。
ク記憶システム１０は、各々が軸１８について回転する
よう構成される複数の磁気記憶ディスク１２、１４およ
び１６と、複数のヘッド支持アセンブリ２２、２４、２
６、２８、３０および３２を含むヘッドスタックアセン
ブリ２０とを含み、ヘッド支持アセンブリの各々はそれ
ぞれ対応のスライダ３４、３６、３８、４０、４２およ
び４４にジンバル機構によって結合される。各スライダ
３４−４４は、磁気記憶ディスク１２−１６からデータ
を読出し、データを書込むことのできる１つ以上の磁気
読取／書込トランスデューサ（ＭＲヘッド）を支持す
る。各磁気記憶ディスク１２−１６は各ディスク上に支
持される磁気記録媒体に情報を記憶し、その情報は同心
データトラックの環状パターンに記憶される。ディスク
が回転するにつれ、スライダをディスクの表面上の適当
な場所へ移動させることによって、ディスクの異なる場
所に記憶されているデータにアクセスすることができ
る。スライダ運動はアクチュエータアセンブリ４６によ
り制御され、アクチュエータアセンブリ４６はデータ支
持アセンブリ２２−３２の位置を制御する。ヘッド支持
アセンブリ２２−３２は、ディスク１２−１６の表面に
対してスライダ３４−４４をずらせる。ディスク１２−
１６の回転により、スライダ３４−４４とディスク１２
−１６の表面との間にエアーベアリングが生じ、このエ
アーベアリングがスライダ３４−４４をディスク１２−
１６の表面の上方に小さい実質的に一定の距離だけ持ち
上げる。
【００１４】上に説明したように、記憶ディスク１２−
１６から情報を読出すプロセスはランダムノイズおよび
一時誤りを含む干渉の影響を受けやすい。これらの誤り
の重大性を低減するため、情報は公知の誤り訂正コード
手法を用いて記憶ディスク１２−１６上に符号化され、
この公知の誤り訂正コード手法により、レコーダがリー
ドチャネルに導入される誤りのうちいくつかまたはその
すべてを訂正することが可能となる。しかしながら、特
定の誤り（たとえば熱アスペリティ）はリードチャネル
にかなりの数の誤りを導入し得る。記憶ディスクから読
まれたデータ信号における誤りの数がデコーダの誤り訂
正能力を超えている場合、リードチャネルは記憶ディス
クがもう１回回転して読出プロセスを繰返すのを待たな
ければならない。複数回の読出の試行は望ましいもので
はない。なぜなら、さらに読出を試みる度に、記憶シス
テムのアクセス時間全体が増加するためである。以下に
詳細に説明するように、この発明は、記憶ディスクから
読出されたデータ信号における消去を識別するのに用い
ることのできる信頼性計量を計算することによって熱ア
スペリティなどの一時誤りの影響を低減する。データ信
号における消去を正しく識別するシステムの能力を向上
させることにより、この発明ではデコーダがデータ信号
におけるより多数の誤りを訂正することが可能となる。
１６から情報を読出すプロセスはランダムノイズおよび
一時誤りを含む干渉の影響を受けやすい。これらの誤り
の重大性を低減するため、情報は公知の誤り訂正コード
手法を用いて記憶ディスク１２−１６上に符号化され、
この公知の誤り訂正コード手法により、レコーダがリー
ドチャネルに導入される誤りのうちいくつかまたはその
すべてを訂正することが可能となる。しかしながら、特
定の誤り（たとえば熱アスペリティ）はリードチャネル
にかなりの数の誤りを導入し得る。記憶ディスクから読
まれたデータ信号における誤りの数がデコーダの誤り訂
正能力を超えている場合、リードチャネルは記憶ディス
クがもう１回回転して読出プロセスを繰返すのを待たな
ければならない。複数回の読出の試行は望ましいもので
はない。なぜなら、さらに読出を試みる度に、記憶シス
テムのアクセス時間全体が増加するためである。以下に
詳細に説明するように、この発明は、記憶ディスクから
読出されたデータ信号における消去を識別するのに用い
ることのできる信頼性計量を計算することによって熱ア
スペリティなどの一時誤りの影響を低減する。データ信
号における消去を正しく識別するシステムの能力を向上
させることにより、この発明ではデコーダがデータ信号
におけるより多数の誤りを訂正することが可能となる。
【００１５】［基本的なリードチャネル構成］図２を参
照して、リードチャネル４８の一実施例において、ＭＲ
ヘッド３５は、磁気記憶ディスク１２上に記憶される局
所的な磁気遷移により生じるＭＲ要素における抵抗変化
の結果としてデータ信号５０を発生する。ＭＲヘッド３
５はデータ信号５０を一時誤り検出器５２およびデータ
検出器５４に送信する。一時誤り検出器５２はデータ信
号５０を分析し、データ信号５０における一時誤り（た
とえばＴＡ）の１つ以上の特徴（たとえば開始場所およ
び中間場所）を識別する。データ検出器５４はデータ信
号５０からデータシンボルを抽出する。データ検出器５
４は、各データシンボルに対し信頼性計量を計算する信
頼性検出器５６を含む。また、データ検出器５４は、た
とえば、ここに引用により援用されるナッドソン（Knud
son）による米国特許第５，５２１，９４５号に記載さ
れるＥＰＲ４ポストプロセッサを含んでいてもよい。一
時誤り検出器５２からの一時誤りの場所情報と、データ
検出器５４からの抽出されたデータシンボルおよび信頼
性計量情報とが消去フラッガ５８に送信される。消去フ
ラッガ５８は少なくとも一部は、１つ以上の信頼性計量
と１つ以上の対応する最小信頼性しきい値との比較に基
づいて消去を識別する。消去が識別された後、デコーダ
５９がデータ信号５０における誤りおよび消去を訂正
し、データ検出器５４から受信したデータシンボルから
訂正されたデータシンボル６０のシーケンスを生成す
る。
照して、リードチャネル４８の一実施例において、ＭＲ
ヘッド３５は、磁気記憶ディスク１２上に記憶される局
所的な磁気遷移により生じるＭＲ要素における抵抗変化
の結果としてデータ信号５０を発生する。ＭＲヘッド３
５はデータ信号５０を一時誤り検出器５２およびデータ
検出器５４に送信する。一時誤り検出器５２はデータ信
号５０を分析し、データ信号５０における一時誤り（た
とえばＴＡ）の１つ以上の特徴（たとえば開始場所およ
び中間場所）を識別する。データ検出器５４はデータ信
号５０からデータシンボルを抽出する。データ検出器５
４は、各データシンボルに対し信頼性計量を計算する信
頼性検出器５６を含む。また、データ検出器５４は、た
とえば、ここに引用により援用されるナッドソン（Knud
son）による米国特許第５，５２１，９４５号に記載さ
れるＥＰＲ４ポストプロセッサを含んでいてもよい。一
時誤り検出器５２からの一時誤りの場所情報と、データ
検出器５４からの抽出されたデータシンボルおよび信頼
性計量情報とが消去フラッガ５８に送信される。消去フ
ラッガ５８は少なくとも一部は、１つ以上の信頼性計量
と１つ以上の対応する最小信頼性しきい値との比較に基
づいて消去を識別する。消去が識別された後、デコーダ
５９がデータ信号５０における誤りおよび消去を訂正
し、データ検出器５４から受信したデータシンボルから
訂正されたデータシンボル６０のシーケンスを生成す
る。
【００１６】リードチャネル４８の構成要素の詳細な説
明を図２から図５に関連して以下に挙げる。
明を図２から図５に関連して以下に挙げる。
【００１７】一時誤り検出器 一時誤り検出器５２はさまざまな一時誤り検出手法を用
いて実現してもよい。２つの異なる一時誤り検出器の実
施例を以下に説明する。
いて実現してもよい。２つの異なる一時誤り検出器の実
施例を以下に説明する。
【００１８】アナログ一時検出器構成 図３を参照して、一実施例では、アナログ一時誤り検出
器７０は、可変利得増幅器からの符号化されたデータ信
号を受ける入力７４を備える低域フィルタ７２を含む
（たとえば図４の実施例を参照）。低域フィルタ７２は
データ信号をフィルタ処理し、一時誤り信号を通過させ
るよう構成される。たとえば、低域フィルタ７２は、周
波数が約２ＭＨｚ以上であるデータ信号をフィルタ処理
して除くように構成されていてもよい。低域フィルタ７
２の出力は、比較器７６の負端子および比較器７８の正
端子のそれぞれに結合される。比較器７６の正端子はプ
ログラム可能な負のしきい値（−Ｖth）に結合され、比
較器７８の負端子はプログラム可能な正のしきい値（＋
Ｖth）に結合される。比較器７６、７８の出力は出力８
４を有する論理和ゲート８０において組合わされる。一
時誤りが生じた際（たとえば熱アスペリティの結果）、
低域フィルタ７２の出力信号の振幅が増大する。この振
幅がＶthを超えると、比較器７６、７８の出力信号の一
方がハイの論理レベルに対応し、この場合、出力８４も
ハイの論理レベルとなる。それ以外の場合では、双方の
比較器の出力信号はローの論理レベルに対応し、この場
合、出力８４もローの論理レベルとなる。より高い精度
のため、信号の包絡線を追跡するしきい値を用いてもよ
い。
器７０は、可変利得増幅器からの符号化されたデータ信
号を受ける入力７４を備える低域フィルタ７２を含む
（たとえば図４の実施例を参照）。低域フィルタ７２は
データ信号をフィルタ処理し、一時誤り信号を通過させ
るよう構成される。たとえば、低域フィルタ７２は、周
波数が約２ＭＨｚ以上であるデータ信号をフィルタ処理
して除くように構成されていてもよい。低域フィルタ７
２の出力は、比較器７６の負端子および比較器７８の正
端子のそれぞれに結合される。比較器７６の正端子はプ
ログラム可能な負のしきい値（−Ｖth）に結合され、比
較器７８の負端子はプログラム可能な正のしきい値（＋
Ｖth）に結合される。比較器７６、７８の出力は出力８
４を有する論理和ゲート８０において組合わされる。一
時誤りが生じた際（たとえば熱アスペリティの結果）、
低域フィルタ７２の出力信号の振幅が増大する。この振
幅がＶthを超えると、比較器７６、７８の出力信号の一
方がハイの論理レベルに対応し、この場合、出力８４も
ハイの論理レベルとなる。それ以外の場合では、双方の
比較器の出力信号はローの論理レベルに対応し、この場
合、出力８４もローの論理レベルとなる。より高い精度
のため、信号の包絡線を追跡するしきい値を用いてもよ
い。
【００１９】一時誤りの開始場所は、一時誤りが検出さ
れたことを一時誤り検出器７０の出力が初めて示す（た
とえばハイの論理レベルに切換わる）時に対応し得る。
一時誤りの中間場所は、一時誤りの識別された開始場所
以降、データ信号の大きさが初めてゼロを交差した際に
これを判定するよう構成されるゼロ交差検出器８１によ
って検出されてもよい。一時誤りの開始場所および中間
場所ならびに他の特徴を識別するための他の手法を用い
てもよい。アナログ一時誤り検出器２３０を用いて、一
時誤りを補償するためデータ信号を修正してもよい。Ｔ
Ａに対しては、データ信号を高域フィルタ処理すること
によってベースラインのずれを取除く試みがなされる。
図４の実施例では、高域フィルタ処理は、ＶＧＡ２１０
の上流にあるＡＣ結合回路２０９がＴＡ２３１の検出さ
れた初めに応答するようにさせ、かつＶＧＡ２１０の下
流にあるＡＣ結合回路２１１における時定数をＴＡ２３
２の検出された中間点に応答させることによって行なわ
れる。
れたことを一時誤り検出器７０の出力が初めて示す（た
とえばハイの論理レベルに切換わる）時に対応し得る。
一時誤りの中間場所は、一時誤りの識別された開始場所
以降、データ信号の大きさが初めてゼロを交差した際に
これを判定するよう構成されるゼロ交差検出器８１によ
って検出されてもよい。一時誤りの開始場所および中間
場所ならびに他の特徴を識別するための他の手法を用い
てもよい。アナログ一時誤り検出器２３０を用いて、一
時誤りを補償するためデータ信号を修正してもよい。Ｔ
Ａに対しては、データ信号を高域フィルタ処理すること
によってベースラインのずれを取除く試みがなされる。
図４の実施例では、高域フィルタ処理は、ＶＧＡ２１０
の上流にあるＡＣ結合回路２０９がＴＡ２３１の検出さ
れた初めに応答するようにさせ、かつＶＧＡ２１０の下
流にあるＡＣ結合回路２１１における時定数をＴＡ２３
２の検出された中間点に応答させることによって行なわ
れる。
【００２０】期間定義プロセッサ８２は消去フラッガ５
８に結合される出力８３を有する。期間定義プロセッサ
８２はデータ信号における異なった消去期間を識別する
よう構成される。たとえば、期間定義プロセッサ８２
は、第１の消去期間の終わりと識別された一時誤り開始
場所における第２の消去期間の始まりを識別してもよ
く、第２の消去期間の終わりと、識別された一時誤り中
間場所から予め選択された数のデータシンボル分だけ後
における第３の消去期間の始まりとを識別してもよい。
第２の消去期間の終わりの前の予め選択された数のデー
タシンボルは実験に基づいて定めてもよい。
８に結合される出力８３を有する。期間定義プロセッサ
８２はデータ信号における異なった消去期間を識別する
よう構成される。たとえば、期間定義プロセッサ８２
は、第１の消去期間の終わりと識別された一時誤り開始
場所における第２の消去期間の始まりを識別してもよ
く、第２の消去期間の終わりと、識別された一時誤り中
間場所から予め選択された数のデータシンボル分だけ後
における第３の消去期間の始まりとを識別してもよい。
第２の消去期間の終わりの前の予め選択された数のデー
タシンボルは実験に基づいて定めてもよい。
【００２１】デジタル一時検出器構成 別の実施例では、等化器２１２（図４）の出力はアナロ
グデジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ２１４によりデジタル
化され、一時誤り検出器の入力はＡ／Ｄコンバータの出
力に結合される。デジタル一時誤り検出器２３４は、Ａ
／Ｄコンバータの出力において生成されるデジタル化さ
れたサンプルの移動平均（ＭＡ）を計算し、かつこのＭ
Ａをプログラム可能なしきい値（ＭＡth）と比較するこ
とによって一時誤りの存在を検出する。デジタル一時誤
り検出器２３４はＡ／Ｄコンバータの出力からデータサ
ンプル（ｙk）を読む。デジタル一時誤り検出器２３４
は以下のようにサンプル時間ｋに対応するＭＡkを計算
する。
グデジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ２１４によりデジタル
化され、一時誤り検出器の入力はＡ／Ｄコンバータの出
力に結合される。デジタル一時誤り検出器２３４は、Ａ
／Ｄコンバータの出力において生成されるデジタル化さ
れたサンプルの移動平均（ＭＡ）を計算し、かつこのＭ
Ａをプログラム可能なしきい値（ＭＡth）と比較するこ
とによって一時誤りの存在を検出する。デジタル一時誤
り検出器２３４はＡ／Ｄコンバータの出力からデータサ
ンプル（ｙk）を読む。デジタル一時誤り検出器２３４
は以下のようにサンプル時間ｋに対応するＭＡkを計算
する。
【００２２】
【数１】
【００２３】ここでＮは移動平均の長さである。Ｎ＝２
４の実現例では、ランダムノイズを平均することによっ
て良好な性能が得られる。計算されたＭＡがデータシン
ボルに関連づけられる任意のサンプル時間に対するＭＡ
thより大きい場合、対応するデータシンボルを消去して
もよい。
４の実現例では、ランダムノイズを平均することによっ
て良好な性能が得られる。計算されたＭＡがデータシン
ボルに関連づけられる任意のサンプル時間に対するＭＡ
thより大きい場合、対応するデータシンボルを消去して
もよい。
【００２４】一実現例では、Ａ／Ｄコンバータ入力にお
けるデータ信号にはどんなＤＣオフセットもなく、この
場合、一時誤りがない場合計算されたＭＡは小さくなる
であろう。この実現例では、（ノイズおよび一時誤りの
ない場合の）最大ノイズレスＭＡをデータ信号に対して
計算してもよい。しきい値（ＭＡth）は最大ノイズレス
ＭＡよりもかなり高いものでなければならず、これによ
り一時誤り検出器が誤ってランダムノイズを一時誤りと
して扱うことがないようにする。
けるデータ信号にはどんなＤＣオフセットもなく、この
場合、一時誤りがない場合計算されたＭＡは小さくなる
であろう。この実現例では、（ノイズおよび一時誤りの
ない場合の）最大ノイズレスＭＡをデータ信号に対して
計算してもよい。しきい値（ＭＡth）は最大ノイズレス
ＭＡよりもかなり高いものでなければならず、これによ
り一時誤り検出器が誤ってランダムノイズを一時誤りと
して扱うことがないようにする。
【００２５】データ検出器 データ検出器５４はサンプルデータ検出システムであ
り、このサンプルデータ検出システムにおいて読出信号
は等化器２１２によってフィルタ処理され、アナログデ
ジタルコンバータ２１４によって１／Ｔのチャネルレー
トでサンプリングされ、ここでＴはチャネルシンボルの
持続時間である。特に、データ検出器５４は部分応答最
尤度（ＰＲＭＬ：partial response maximum likelihoo
d）シグナリングと称される同期サンプリング検出手法
を実現する。一実現例では、ビタビ検出器が離散的サン
プル２１６（ｙk）の結果生じるシーケンスに対し動作
する。このビタビ検出器は、ゼロ平均を有する加法的
な、独立した、同一に分布するガウスノイズにおけるサ
ンプリングされた部分応答リードチャネルの最尤度検出
のため設計される。このビタビ検出器は、格子状図の分
岐に沿った「最良」ルートを定める反復法を実現する。
各格子分岐に対し、その分岐に対する確率の対数に対応
する計量が計算される場合、ビタビアルゴリズムを用い
て最高のログ確率を蓄積する格子に沿ったパスを定める
ようにしてもよい（すなわち、「最尤度」シーケン
ス）。
り、このサンプルデータ検出システムにおいて読出信号
は等化器２１２によってフィルタ処理され、アナログデ
ジタルコンバータ２１４によって１／Ｔのチャネルレー
トでサンプリングされ、ここでＴはチャネルシンボルの
持続時間である。特に、データ検出器５４は部分応答最
尤度（ＰＲＭＬ：partial response maximum likelihoo
d）シグナリングと称される同期サンプリング検出手法
を実現する。一実現例では、ビタビ検出器が離散的サン
プル２１６（ｙk）の結果生じるシーケンスに対し動作
する。このビタビ検出器は、ゼロ平均を有する加法的
な、独立した、同一に分布するガウスノイズにおけるサ
ンプリングされた部分応答リードチャネルの最尤度検出
のため設計される。このビタビ検出器は、格子状図の分
岐に沿った「最良」ルートを定める反復法を実現する。
各格子分岐に対し、その分岐に対する確率の対数に対応
する計量が計算される場合、ビタビアルゴリズムを用い
て最高のログ確率を蓄積する格子に沿ったパスを定める
ようにしてもよい（すなわち、「最尤度」シーケン
ス）。
【００２６】この発明を実現するのに用いてもよいデー
タ検出器の記載は、グエン（Nguyen）による米国特許第
５，３４１，３８７号（「ＰＲＭＬクラスＩＶサンプリ
ングデータ検出のための調整可能な検出しきい値を有す
るビタビ検出器」（“Viterbi Detector Having Adjust
able Detection Thresholds For PRML Class IV Sampli
ng Data Detection”））およびナッドソンによる米国
特許第５，５２１，９４５号（「サンプルデータ検出の
ための複雑さの低減されたＥＰＲ４ポストプロセッサ」
（“Reduced Complexity EPR4 Post-Processor For Sam
pled Data Detection”））において見出されるであろ
う。これらはともにここに引用により援用される。
タ検出器の記載は、グエン（Nguyen）による米国特許第
５，３４１，３８７号（「ＰＲＭＬクラスＩＶサンプリ
ングデータ検出のための調整可能な検出しきい値を有す
るビタビ検出器」（“Viterbi Detector Having Adjust
able Detection Thresholds For PRML Class IV Sampli
ng Data Detection”））およびナッドソンによる米国
特許第５，５２１，９４５号（「サンプルデータ検出の
ための複雑さの低減されたＥＰＲ４ポストプロセッサ」
（“Reduced Complexity EPR4 Post-Processor For Sam
pled Data Detection”））において見出されるであろ
う。これらはともにここに引用により援用される。
【００２７】データ検出器２２２はＰＲＭＬ読出データ
チャネルと関連して実現されるのが好ましいが、これは
ピーク検出リードチャネルなどの他のリードチャネルと
関連して実現されてもよい。
チャネルと関連して実現されるのが好ましいが、これは
ピーク検出リードチャネルなどの他のリードチャネルと
関連して実現されてもよい。
【００２８】信頼性検出器 信頼性検出器５６は、各データシンボルに対する信頼性
計量を計算する。この情報は一時誤り検出器７０、２３
４により抽出された一時誤りの特徴に関連する情報とと
もに、消去フラッガ５８が少なくとも一部において、信
頼性計量の最小信頼性しきい値に対する比較に基づいて
消去を識別することを可能にする。より高い精度で消去
を識別することにより、デコーダがデータ信号において
より多数の誤りを訂正することができるため、システム
性能に対する一時誤りの影響を低減することができる。
計量を計算する。この情報は一時誤り検出器７０、２３
４により抽出された一時誤りの特徴に関連する情報とと
もに、消去フラッガ５８が少なくとも一部において、信
頼性計量の最小信頼性しきい値に対する比較に基づいて
消去を識別することを可能にする。より高い精度で消去
を識別することにより、デコーダがデータ信号において
より多数の誤りを訂正することができるため、システム
性能に対する一時誤りの影響を低減することができる。
【００２９】以下に詳細に説明するように、信頼性検出
器５６により、データシンボル内のデータビットのいず
れかが誤りであるという尤度を示す信頼性計量（たとえ
ばビタビパス計量またはビタビ差分計量）を計算するこ
とによって消去フラッガ５８が誤りを識別する精度を向
上できる。
器５６により、データシンボル内のデータビットのいず
れかが誤りであるという尤度を示す信頼性計量（たとえ
ばビタビパス計量またはビタビ差分計量）を計算するこ
とによって消去フラッガ５８が誤りを識別する精度を向
上できる。
【００３０】パス計量 ビタビパス計量とは、検出されたパス上の蓄積された二
乗ユークリッド距離である。パス計量が急速に距離を蓄
積する場合、計算されたパスにおける状態遷移がより信
頼性がおけないものであることと、よって対応するデー
タシンボルが誤りである可能性がより高いことが推断で
きる。このように、一実施例では、パス計量が増加する
速度が最小信頼性しきい値を超える場合、対応するデー
タシンボルが消去としてラベル付けされる。一実現例で
は、パス計量は２進値として記憶され、消去フラッガ５
８は、この２進値のビットのうちの１つが変化しないま
まであるサイクルの数をモニタし、そのサイクルの数が
予め選択されたしきい値よりも小さい場合にしきい値遷
移に先行するデータシンボルが消去としてラベル付けさ
れる。
乗ユークリッド距離である。パス計量が急速に距離を蓄
積する場合、計算されたパスにおける状態遷移がより信
頼性がおけないものであることと、よって対応するデー
タシンボルが誤りである可能性がより高いことが推断で
きる。このように、一実施例では、パス計量が増加する
速度が最小信頼性しきい値を超える場合、対応するデー
タシンボルが消去としてラベル付けされる。一実現例で
は、パス計量は２進値として記憶され、消去フラッガ５
８は、この２進値のビットのうちの１つが変化しないま
まであるサイクルの数をモニタし、そのサイクルの数が
予め選択されたしきい値よりも小さい場合にしきい値遷
移に先行するデータシンボルが消去としてラベル付けさ
れる。
【００３１】ビタビ検出器は、ノイズの多いサンプルの
シーケンスとノイズレスサンプルのすべての可能なシー
ケンスとの間の二乗ユークリッド距離を最小にすること
によってパス計量を生成するよう構成されてもよい。上
述したように、ビタビアルゴリズムは、格子を通る最小
計量パスを定めるための反復アルゴリズムであり、この
場合の計量は二乗ユークリッド距離である。各クロック
サイクルにおいて、ビタビ検出器は状態計量を更新し、
状態の各々に対して１つのサバイバーパス（survivor p
ath）を選択する。サバイバーパスはある特定の状態に
つながる最小計量パスを表わし、状態計量はサバイバー
パスに関連づけられる計量を表わす。状態計量を更新す
るため、検出器はサバイバーパスを延長して次の格子深
さにおける各状態への２つのパスを得る。パス計量は状
態計量を分岐計量に加算することによって得られ、この
分岐計量は、現在のノイズの多いサンプルと分岐に関連
づけられるノイズレスサンプルとの間の二乗ユークリッ
ド距離を表わす。各状態に入る２つのパスに関連づけら
れるパス計量は比較され、最小計量パスがサバイバーパ
スとして選択され、このパスに対するパス計量が新しい
状態計量として選択される。
シーケンスとノイズレスサンプルのすべての可能なシー
ケンスとの間の二乗ユークリッド距離を最小にすること
によってパス計量を生成するよう構成されてもよい。上
述したように、ビタビアルゴリズムは、格子を通る最小
計量パスを定めるための反復アルゴリズムであり、この
場合の計量は二乗ユークリッド距離である。各クロック
サイクルにおいて、ビタビ検出器は状態計量を更新し、
状態の各々に対して１つのサバイバーパス（survivor p
ath）を選択する。サバイバーパスはある特定の状態に
つながる最小計量パスを表わし、状態計量はサバイバー
パスに関連づけられる計量を表わす。状態計量を更新す
るため、検出器はサバイバーパスを延長して次の格子深
さにおける各状態への２つのパスを得る。パス計量は状
態計量を分岐計量に加算することによって得られ、この
分岐計量は、現在のノイズの多いサンプルと分岐に関連
づけられるノイズレスサンプルとの間の二乗ユークリッ
ド距離を表わす。各状態に入る２つのパスに関連づけら
れるパス計量は比較され、最小計量パスがサバイバーパ
スとして選択され、このパスに対するパス計量が新しい
状態計量として選択される。
【００３２】ビタビパス計量は、ここに引用により援用
されるパタポーシャン（Patapoutian）他による米国特
許第５，６６１，７６０号に記載されるように計算され
てもよい。
されるパタポーシャン（Patapoutian）他による米国特
許第５，６６１，７６０号に記載されるように計算され
てもよい。
【００３３】差分計量 ビタビ差分計量とは、検出されたビタビパスの二乗ユー
クリッド距離と、検出されたパスにマージする競合する
ビタビパスの二乗ユークリッド距離との差である。この
差分計量が小さい場合、対応するデータシンボルが誤り
である可能性が高いことが推断できる。すなわち、一実
施例において、差分計量が最小信頼性しきい値よりも小
さい場合、対応するデータシンボルは消去としてラベル
付けされる。
クリッド距離と、検出されたパスにマージする競合する
ビタビパスの二乗ユークリッド距離との差である。この
差分計量が小さい場合、対応するデータシンボルが誤り
である可能性が高いことが推断できる。すなわち、一実
施例において、差分計量が最小信頼性しきい値よりも小
さい場合、対応するデータシンボルは消去としてラベル
付けされる。
【００３４】ビタビ検出器は、たとえばパタポーシャン
他による米国特許第５，６６１，７６０号に記載される
ように差分計量を生成するよう構成してもよい。差分計
量は、ある特定の状態に入る２つのパス計量の差として
規定される。差分計量の符号は２つのパス計量の比較に
等しい。
他による米国特許第５，６６１，７６０号に記載される
ように差分計量を生成するよう構成してもよい。差分計
量は、ある特定の状態に入る２つのパス計量の差として
規定される。差分計量の符号は２つのパス計量の比較に
等しい。
【００３５】消去フラッガ 消去フラッガ５８は、少なくとも一部は、１つ以上の上
述の信頼性計量の１つ以上の対応する最小信頼性しきい
値に対しての比較に基づいて消去を識別する。
述の信頼性計量の１つ以上の対応する最小信頼性しきい
値に対しての比較に基づいて消去を識別する。
【００３６】一実施例では、一時誤りがアナログ一時誤
り検出器７０によって検出されると、消去フラッガ５８
がデータブロックの初めにおいて始まり識別された一時
誤り開始場所において終わる第１の消去期間と、第１の
消去期間の終わりにおいて始まり識別された中間場所か
ら予め選択された数のデータシンボル分だけ後に終わる
第２の消去期間と、第２の消去期間の終わりにおいて始
まる第３の消去期間とを規定してもよい。第３の消去期
間は第２の一時誤りが検出された際に終わってもよい。
第１の消去期間内の各データシンボルは有効データシン
ボルとしてラベル付けされてもよく、第２の消去期間内
の各データシンボルは消去としてラベル付けされてもよ
く、第３の消去期間内の各データシンボルは、計算され
た信頼性計量と最小信頼性しきい値との比較に基づいて
消去または有効データシンボルとしてラベル付けされて
もよい。代わりに、第１の消去期間内の各データシンボ
ルは、第１の計算された信頼性計量と第１の最小信頼性
しきい値との比較に基づいて消去または有効データシン
ボルとしてラベル付けされてもよく、第２の消去期間内
の各データシンボルは、（第１の信頼性計量とは異な
る）第２の計算された信頼性計量と第２の最小信頼性し
きい値との比較に基づいて消去または有効データシンボ
ルとしてラベル付けされてもよい。同様に、第３の消去
期間は第３の信頼性計量および対応するしきい値を用い
てもよい。第３の計算された信頼性計量は第１および第
２の信頼性計量とは異なっていてもよい。たとえば、第
１の信頼性計量は加法的ホワイトガウシアンノイズモデ
ルに基づいて計算されてもよく、第２または第３の信頼
性計量は同じノイズモデルに基づいてであるが異なった
平均値および分散を用いて計算されてもよい。
り検出器７０によって検出されると、消去フラッガ５８
がデータブロックの初めにおいて始まり識別された一時
誤り開始場所において終わる第１の消去期間と、第１の
消去期間の終わりにおいて始まり識別された中間場所か
ら予め選択された数のデータシンボル分だけ後に終わる
第２の消去期間と、第２の消去期間の終わりにおいて始
まる第３の消去期間とを規定してもよい。第３の消去期
間は第２の一時誤りが検出された際に終わってもよい。
第１の消去期間内の各データシンボルは有効データシン
ボルとしてラベル付けされてもよく、第２の消去期間内
の各データシンボルは消去としてラベル付けされてもよ
く、第３の消去期間内の各データシンボルは、計算され
た信頼性計量と最小信頼性しきい値との比較に基づいて
消去または有効データシンボルとしてラベル付けされて
もよい。代わりに、第１の消去期間内の各データシンボ
ルは、第１の計算された信頼性計量と第１の最小信頼性
しきい値との比較に基づいて消去または有効データシン
ボルとしてラベル付けされてもよく、第２の消去期間内
の各データシンボルは、（第１の信頼性計量とは異な
る）第２の計算された信頼性計量と第２の最小信頼性し
きい値との比較に基づいて消去または有効データシンボ
ルとしてラベル付けされてもよい。同様に、第３の消去
期間は第３の信頼性計量および対応するしきい値を用い
てもよい。第３の計算された信頼性計量は第１および第
２の信頼性計量とは異なっていてもよい。たとえば、第
１の信頼性計量は加法的ホワイトガウシアンノイズモデ
ルに基づいて計算されてもよく、第２または第３の信頼
性計量は同じノイズモデルに基づいてであるが異なった
平均値および分散を用いて計算されてもよい。
【００３７】デコーダ デコーダ５９は従来の誤り訂正復号化手法を用いて誤り
を訂正し、データ検出器５４から受取ったデジタルデー
タ値からデータシンボル６０を生成する。
を訂正し、データ検出器５４から受取ったデジタルデー
タ値からデータシンボル６０を生成する。
【００３８】［詳細なリードチャネル構成］図４に示さ
れるように、部分応答サンプリングデータ磁気リードチ
ャネル４８は、回転磁気記憶ディスク１２およびＭＲヘ
ッド３５を含む。ＭＲヘッド３５は、スライダと記憶デ
ィスク１２から情報を読むための（および情報を書込む
ための）トランスデューサとを含む閉ループサーボ内で
動作するロータリ音声コイルアクチュエータにより位置
づけされてもよい。読出動作モードにおいて、磁束遷移
がＭＲヘッド３５の読出要素において引き起こされ、パ
ス２０６にわたって読出プリアンプ２０８に供給され
る。電圧制御利得増幅器（ＶＧＡ）２１０はデータ信号
を制御可能に増幅する。等化器２１２は、利得の正規化
されたデータ信号の等化の一部（またはすべて）を予め
定められたスペクトル（たとえばＰＲ４スペクトル）に
与える。アナログデジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ２１４
はチャネルレートにおいてデータ信号をサンプリングし
てデータ信号の離散的時間サンプルをもたらす。等化さ
れた信号は次に、タイミング制御ループ２１８を制御す
るよう印加され、タイミング制御ループ２１８はＡ／Ｄ
コンバータ２１４内のサンプリングの速度および位相を
設定する。また、等化された信号は利得制御ループ２２
０に印加され、利得制御ループ２２０はＶＧＡ２１０を
制御して正規化された利得をもたらす。等化された信号
はデータ検出器５４によって分析される。データ検出器
５４はビタビ検出器２２３を含んでいてもよく、これは
米国特許第５，３４１，３８７号に記載されるように、
記憶ディスク１２から読出されたデータ信号の最尤度シ
ーケンス推定値からなる検出されたデータ信号２２４を
生じるよう構成される。データ検出器５４はまた、上述
のように信頼性計量２２６（たとえばパス計量または差
分計量）を計算するよう構成される。検出されたデータ
信号２２４は変調デコーダ２２７の入力に供給され、変
調デコーダ２２７は、変調コード違反が起こったかどう
かを示す第１の出力と、検出されたデータシンボルに対
応する第２の出力とを生成する。計算された信頼性計量
信号２２６および変調デコーダ出力信号は消去フラッガ
５８の入力に供給される。消去フラッガ５８の出力と変
調デコーダ２２７からの検出されたデータシンボルとは
誤り訂正コード（ＥＣＣ）デコーダ５９の入力に供給さ
れる。たとえばナッドソンによる米国特許第５，５２
１，９４５号に記載されるようなＥＰＲ４ポストプロセ
ッサもまたリードチャネル２００の複雑さを低減するた
めに設けられていてもよい。
れるように、部分応答サンプリングデータ磁気リードチ
ャネル４８は、回転磁気記憶ディスク１２およびＭＲヘ
ッド３５を含む。ＭＲヘッド３５は、スライダと記憶デ
ィスク１２から情報を読むための（および情報を書込む
ための）トランスデューサとを含む閉ループサーボ内で
動作するロータリ音声コイルアクチュエータにより位置
づけされてもよい。読出動作モードにおいて、磁束遷移
がＭＲヘッド３５の読出要素において引き起こされ、パ
ス２０６にわたって読出プリアンプ２０８に供給され
る。電圧制御利得増幅器（ＶＧＡ）２１０はデータ信号
を制御可能に増幅する。等化器２１２は、利得の正規化
されたデータ信号の等化の一部（またはすべて）を予め
定められたスペクトル（たとえばＰＲ４スペクトル）に
与える。アナログデジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ２１４
はチャネルレートにおいてデータ信号をサンプリングし
てデータ信号の離散的時間サンプルをもたらす。等化さ
れた信号は次に、タイミング制御ループ２１８を制御す
るよう印加され、タイミング制御ループ２１８はＡ／Ｄ
コンバータ２１４内のサンプリングの速度および位相を
設定する。また、等化された信号は利得制御ループ２２
０に印加され、利得制御ループ２２０はＶＧＡ２１０を
制御して正規化された利得をもたらす。等化された信号
はデータ検出器５４によって分析される。データ検出器
５４はビタビ検出器２２３を含んでいてもよく、これは
米国特許第５，３４１，３８７号に記載されるように、
記憶ディスク１２から読出されたデータ信号の最尤度シ
ーケンス推定値からなる検出されたデータ信号２２４を
生じるよう構成される。データ検出器５４はまた、上述
のように信頼性計量２２６（たとえばパス計量または差
分計量）を計算するよう構成される。検出されたデータ
信号２２４は変調デコーダ２２７の入力に供給され、変
調デコーダ２２７は、変調コード違反が起こったかどう
かを示す第１の出力と、検出されたデータシンボルに対
応する第２の出力とを生成する。計算された信頼性計量
信号２２６および変調デコーダ出力信号は消去フラッガ
５８の入力に供給される。消去フラッガ５８の出力と変
調デコーダ２２７からの検出されたデータシンボルとは
誤り訂正コード（ＥＣＣ）デコーダ５９の入力に供給さ
れる。たとえばナッドソンによる米国特許第５，５２
１，９４５号に記載されるようなＥＰＲ４ポストプロセ
ッサもまたリードチャネル２００の複雑さを低減するた
めに設けられていてもよい。
【００３９】アナログ一時誤り検出器２３０は、可変利
得増幅器（ＶＧＡ）２１０の出力において生成された信
号を受け、低域フィルタの出力がしきい値を超えると消
去フラグ２２８に「１」（ハイの論理レベル）を供給す
る。プリアンプの出力がしきい値以下である場合、一時
誤り検出器２３０は消去フラッガ５８に「０」（ローの
論理レベル）を供給する。デジタル一時誤り検出器２３
４はデータ検出器の入力において等化されたデータサン
プルを受け、計算された移動平均値がプログラム可能な
しきい値を超えた場合に消去フラッガ５８に「１」（ハ
イの論理レベル）を供給する。計算された移動平均値が
しきい値以下である場合、一時誤り検出器２３０は消去
フラッガ５８に「０」（ローの論理レベル）を供給す
る。
得増幅器（ＶＧＡ）２１０の出力において生成された信
号を受け、低域フィルタの出力がしきい値を超えると消
去フラグ２２８に「１」（ハイの論理レベル）を供給す
る。プリアンプの出力がしきい値以下である場合、一時
誤り検出器２３０は消去フラッガ５８に「０」（ローの
論理レベル）を供給する。デジタル一時誤り検出器２３
４はデータ検出器の入力において等化されたデータサン
プルを受け、計算された移動平均値がプログラム可能な
しきい値を超えた場合に消去フラッガ５８に「１」（ハ
イの論理レベル）を供給する。計算された移動平均値が
しきい値以下である場合、一時誤り検出器２３０は消去
フラッガ５８に「０」（ローの論理レベル）を供給す
る。
【００４０】図５に示されるように、一実現例では、消
去フラッガ５８は、アナログ一時誤り検出器７０および
デジタル一時誤り検出器２３４から一時誤り情報を受
け、変調デコーダ２２７から変調コード違反情報を受
け、信頼性検出器５６から信頼性計量情報を受けるよう
構成される。ＡＮＤゲート２５０、２５２により、アナ
ログ一時誤り情報か、デジタル一時誤り情報か、アナロ
グ一時誤り情報およびデジタル一時誤り情報の双方に基
づいてか、またはアナログおよびデジタル一時誤り情報
のいずれにも基づくことなく、消去を識別するように消
去フラッガ５８をプログラムできる。ＡＮＤゲート２５
４、２５６、２５８により、消去フラッガ５８を以下の
もの、すなわち、一時誤り情報、比較器２６０によって
行なわれる、計算された信頼性計量と最小信頼性しきい
値との比較、および変調デコーダ２２７から受取った変
調コード違反情報、のうちの１つ以上に基づいて消去を
識別するようプログラムすることができる。受取った情
報とプログラムされた情報選択に基づいて、消去フラッ
ガ５８は、ある特定のデータシンボルがＥＣＣデコーダ
５９によって消去として扱われるべきであるか否かを示
す消去フラグを出力する。
去フラッガ５８は、アナログ一時誤り検出器７０および
デジタル一時誤り検出器２３４から一時誤り情報を受
け、変調デコーダ２２７から変調コード違反情報を受
け、信頼性検出器５６から信頼性計量情報を受けるよう
構成される。ＡＮＤゲート２５０、２５２により、アナ
ログ一時誤り情報か、デジタル一時誤り情報か、アナロ
グ一時誤り情報およびデジタル一時誤り情報の双方に基
づいてか、またはアナログおよびデジタル一時誤り情報
のいずれにも基づくことなく、消去を識別するように消
去フラッガ５８をプログラムできる。ＡＮＤゲート２５
４、２５６、２５８により、消去フラッガ５８を以下の
もの、すなわち、一時誤り情報、比較器２６０によって
行なわれる、計算された信頼性計量と最小信頼性しきい
値との比較、および変調デコーダ２２７から受取った変
調コード違反情報、のうちの１つ以上に基づいて消去を
識別するようプログラムすることができる。受取った情
報とプログラムされた情報選択に基づいて、消去フラッ
ガ５８は、ある特定のデータシンボルがＥＣＣデコーダ
５９によって消去として扱われるべきであるか否かを示
す消去フラグを出力する。
【００４１】再び図４を参照して、ＥＣＣデコーダ５９
は公知の誤り訂正手法を用いて訂正されたデータシンボ
ルからなる誤りの訂正された出力信号６０を発生する。
たとえば、誤りを訂正するだけを目的とする実現例で
は、リードソロモンＥＣＣデコーダが４つのステップ、
すなわち、１）シンドロームを計算するステップと、
２）誤り場所多項式を計算するステップと、３）誤り場
所を識別するステップと、４）誤り値を計算するステッ
プと、を行なうよう構成される。誤りおよび消去を訂正
するための実現例では、リードソロモンＥＣＣデコーダ
は、さらに、５）計算されたシンドロームを修正するス
テップと、６）修正されたシンドロームに対する誤り場
所多項式を計算するステップと、７）誤り場所を識別す
るステップと、８）誤り値および消去値を計算するステ
ップの付加的なステップとを行なうよう構成される。
は公知の誤り訂正手法を用いて訂正されたデータシンボ
ルからなる誤りの訂正された出力信号６０を発生する。
たとえば、誤りを訂正するだけを目的とする実現例で
は、リードソロモンＥＣＣデコーダが４つのステップ、
すなわち、１）シンドロームを計算するステップと、
２）誤り場所多項式を計算するステップと、３）誤り場
所を識別するステップと、４）誤り値を計算するステッ
プと、を行なうよう構成される。誤りおよび消去を訂正
するための実現例では、リードソロモンＥＣＣデコーダ
は、さらに、５）計算されたシンドロームを修正するス
テップと、６）修正されたシンドロームに対する誤り場
所多項式を計算するステップと、７）誤り場所を識別す
るステップと、８）誤り値および消去値を計算するステ
ップの付加的なステップとを行なうよう構成される。
【００４２】図６（Ａ）から図６（Ｆ）を参照して、動
作中、消去フラッガ５８により生成されるソフト決定情
報を取込むことにより（これは少なくとも一部は、信頼
性検出器５６により供給される信頼性計量情報に基づい
て計算されたものである）、リードチャネル４８が消去
を識別する精度が向上し、よって、ＥＣＣデコーダ５９
により訂正され得る誤りの数が増加する。たとえば、プ
リアンプ２０８の出力において生成される一時誤り信号
２７０は図６（Ａ）の特性振幅プロファイルを有し得
る。ＴＡ訂正の後、ＡＣ結合回路２１１の出力２６１に
おいて生成される一時誤り信号は図６（Ｂ）の特性振幅
プロファイルを有し得る。一時誤り信号２６１を受信し
た際、一時誤り検出器７０、２３４は図６（Ｃ）のプロ
ファイルを有する消去フラグ２６５を生成する。信頼性
検出器５６は、１つ以上の計算された信頼性計量２２６
と１つ以上の対応する最小信頼性しきい値との比較に基
づいて消去フラグ２２８（図６（Ｄ））を生成する。変
調デコーダ２２７は変調コード制約に違反があった場合
に誤りを識別する。変調デコーダ２２７により生成され
る消去フラッガは図６（Ｅ）のプロファイルを有してい
てもよい。この結果、消去信号２６６（図６（Ｆ））が
消去フラッガ５８のＯＲゲート２５９の出力において生
成される。出力信号２６６はこのため、一時誤り検出お
よび信頼性計算の結果として識別される消去の重ね合わ
せに対応する。
作中、消去フラッガ５８により生成されるソフト決定情
報を取込むことにより（これは少なくとも一部は、信頼
性検出器５６により供給される信頼性計量情報に基づい
て計算されたものである）、リードチャネル４８が消去
を識別する精度が向上し、よって、ＥＣＣデコーダ５９
により訂正され得る誤りの数が増加する。たとえば、プ
リアンプ２０８の出力において生成される一時誤り信号
２７０は図６（Ａ）の特性振幅プロファイルを有し得
る。ＴＡ訂正の後、ＡＣ結合回路２１１の出力２６１に
おいて生成される一時誤り信号は図６（Ｂ）の特性振幅
プロファイルを有し得る。一時誤り信号２６１を受信し
た際、一時誤り検出器７０、２３４は図６（Ｃ）のプロ
ファイルを有する消去フラグ２６５を生成する。信頼性
検出器５６は、１つ以上の計算された信頼性計量２２６
と１つ以上の対応する最小信頼性しきい値との比較に基
づいて消去フラグ２２８（図６（Ｄ））を生成する。変
調デコーダ２２７は変調コード制約に違反があった場合
に誤りを識別する。変調デコーダ２２７により生成され
る消去フラッガは図６（Ｅ）のプロファイルを有してい
てもよい。この結果、消去信号２６６（図６（Ｆ））が
消去フラッガ５８のＯＲゲート２５９の出力において生
成される。出力信号２６６はこのため、一時誤り検出お
よび信頼性計算の結果として識別される消去の重ね合わ
せに対応する。
【００４３】他の実施例も特許請求の範囲内に含まれ
る。
る。
【図１】 アクチュエータアセンブリと、各々がそれぞ
れ対応のＭＲヘッドに結合される複数のヘッド支持アセ
ンブリと、複数の磁気記憶ディスクを含む磁気記憶ドラ
イブシステムの側面図である。
れ対応のＭＲヘッドに結合される複数のヘッド支持アセ
ンブリと、複数の磁気記憶ディスクを含む磁気記憶ドラ
イブシステムの側面図である。
【図２】 図１の磁気記憶ドライブシステムのリードチ
ャネルのブロック図である。
ャネルのブロック図である。
【図３】 アナログ一時誤り検出器のブロック図であ
る。
る。
【図４】 磁気記憶ドライブシステムのリードチャネル
のブロック図である。
のブロック図である。
【図５】 消去フラッガのブロック図である。
【図６】 （Ａ）から（Ｆ）は経時的にプロットされた
図４のリードチャネルの異なる構成要素の出力により生
成される信号のグラフ図である。
図４のリードチャネルの異なる構成要素の出力により生
成される信号のグラフ図である。
１０ 磁気ディスク記憶システム、１２，１４，１６
磁気記憶ディスク、１８ 軸、２０ ヘッドスタックア
センブリ、２２，２４，２６，２８，３０，３２ ヘッ
ド支持アセンブリ、３４，３６，３８，４０，４２，４
４ スライダ、３５ ＭＲヘッド、４８ リードチャネ
ル、５０ データ信号、５２ 一時誤り検出器、５４
データ検出器、５６ 信頼性検出器、５８ 消去フラッ
ガ、５９誤り訂正コード（ＥＣＣ）デコーダ、７０ ア
ナログ一時誤り検出器、７２低域フィルタ、７６，７８
比較器、８０ 論理和ゲート、８２ 期間定義プロセ
ッサ、８４ 出力、２００ リードチャネル、２０８
プリアンプ、２０９ＡＣ結合回路、２１０ ＶＧＡ、２
１１ ＡＣ結合回路、２１２ 等化器、２１４ Ａ／Ｄ
コンバータ、２１８ タイミング制御ループ、２２０
利得制御ループ、２２２ データ検出器、２２３ ビタ
ビ検出器、２２４ データ信号、２２６ 信頼性計量、
２２７ 変調デコーダ、２２８ 消去フラグ、２３０
アナログ一時誤り検出器、２３１，２３２ ＴＡ、２３
４ デジタル一時誤り検出器、２５０，２５２ ＡＮＤ
ゲート、２５４，２５６，２５８ ＡＮＤゲート、２５
９ ＯＲゲート、２６０ 比較器、２６１ 出力、２６
６ 消去信号、２７０一時誤り信号。
磁気記憶ディスク、１８ 軸、２０ ヘッドスタックア
センブリ、２２，２４，２６，２８，３０，３２ ヘッ
ド支持アセンブリ、３４，３６，３８，４０，４２，４
４ スライダ、３５ ＭＲヘッド、４８ リードチャネ
ル、５０ データ信号、５２ 一時誤り検出器、５４
データ検出器、５６ 信頼性検出器、５８ 消去フラッ
ガ、５９誤り訂正コード（ＥＣＣ）デコーダ、７０ ア
ナログ一時誤り検出器、７２低域フィルタ、７６，７８
比較器、８０ 論理和ゲート、８２ 期間定義プロセ
ッサ、８４ 出力、２００ リードチャネル、２０８
プリアンプ、２０９ＡＣ結合回路、２１０ ＶＧＡ、２
１１ ＡＣ結合回路、２１２ 等化器、２１４ Ａ／Ｄ
コンバータ、２１８ タイミング制御ループ、２２０
利得制御ループ、２２２ データ検出器、２２３ ビタ
ビ検出器、２２４ データ信号、２２６ 信頼性計量、
２２７ 変調デコーダ、２２８ 消去フラグ、２３０
アナログ一時誤り検出器、２３１，２３２ ＴＡ、２３
４ デジタル一時誤り検出器、２５０，２５２ ＡＮＤ
ゲート、２５４，２５６，２５８ ＡＮＤゲート、２５
９ ＯＲゲート、２６０ 比較器、２６１ 出力、２６
６ 消去信号、２７０一時誤り信号。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｂ ５７２Ｆ Ｇ０６Ｆ 11/10 ３３０ Ｇ０６Ｆ 11/10 ３３０Ｌ Ｇ１１Ｂ 20/14 ３４１ Ｇ１１Ｂ 20/14 ３４１Ｂ Ｈ０３Ｍ 13/41 Ｈ０３Ｍ 13/41 Ｈ０４Ｌ 1/00 Ｈ０４Ｌ 1/00 Ｂ (72)発明者 ホッセイン・セダラット アメリカ合衆国、94309 カリフォルニア 州、スタンフォード、ピィ・オゥ・ボック ス・11809（番地なし) (72)発明者 ケリー・フィッツパトリック アメリカ合衆国、01776 マサチューセッ ツ州、スドゥベリー、ラン・ブルック・サ ークル、17
Claims (26)
- 【請求項１】 ランダム誤りおよび一時誤りの影響を受
ける１つ以上の符号化されたデータシンボルを表わすデ
ータ信号を読む方法であって、 データ信号における一時誤りの１つ以上の特徴を識別す
るステップと、 １つ以上のデータシンボルに対する信頼性計量を計算す
るステップと、 識別された一時誤り特徴と計算された信頼性計量の最小
信頼性しきい値に対する比較とに基づいて１つ以上のデ
ータシンボルを消去または有効データシンボルとしてラ
ベル付けするステップと、 誤りおよび消去を訂正することによって訂正されたデー
タシンボルを生成するステップとを含む、方法。 - 【請求項２】 識別された一時誤り特徴が一時誤りの開
始場所に対応し、一時誤りの識別された開始場所におい
て始まるいくつかの連続したデータシンボルを消去とし
てラベル付けするステップをさらに含む、請求項１に記
載の方法。 - 【請求項３】 第１のデータシンボルから始まり識別さ
れた一時誤り開始場所において終わる第１の消去期間
と、識別された一時誤り開始場所において始まり一時誤
りの識別された中間場所からいくつかの連続データシン
ボル分だけ後に終わる第２の消去期間とを規定するステ
ップをさらに含む、請求項１に記載の方法。 - 【請求項４】 第１の消去期間内の各データシンボルは
有効データシンボルとしてラベル付けされ、第２の消去
期間内の各データシンボルは消去としてラベル付けされ
る、請求項３に記載の方法。 - 【請求項５】 第１の消去期間内の各データシンボル
は、第１の計算された信頼性計量と第１の最小信頼性し
きい値との比較に基づいて消去または有効データシンボ
ルとしてラベル付けされ、第２の消去期間内の各データ
シンボルは、第２の計算された信頼性計量と第２の最小
信頼性しきい値との比較に基づいて消去または有効デー
タシンボルとしてラベル付けされる、請求項３に記載の
方法。 - 【請求項６】 第１および第２の信頼性計量は異なった
ものである、請求項５に記載の方法。 - 【請求項７】 第１および第２の最小信頼性しきい値は
異なったものである、請求項５に記載の方法。 - 【請求項８】 第２の消去期間の終わりにおいて始まる
第３の消去期間を規定するステップをさらに含み、第３
の消去期間内の各データシンボルは、第３の計算された
信頼性計量と第３の最小信頼性しきい値との比較に基づ
いて消去または有効データシンボルとしてラベル付けさ
れる、請求項５に記載の方法。 - 【請求項９】 第３の信頼性計量は第１および第２の信
頼性計量とは異なる、請求項８に記載の方法。 - 【請求項１０】 計算される信頼性計量はビタビ差分計
量に基づく、請求項１に記載の方法。 - 【請求項１１】 データシンボルは、計算されたビタビ
差分計量がデータシンボルに関連づけられる任意の時間
に対する最小信頼性しきい値より小さい場合に消去とし
てラベル付けされる、請求項１０に記載の方法。 - 【請求項１２】 計算される信頼性計量はビタビパス計
量である、請求項１に記載の方法。 - 【請求項１３】 データシンボルは、データシンボルに
わたって蓄積されたビタビパス計量が最小信頼性しきい
値を超える際に消去としてラベル付けされる、請求項１
２に記載の方法。 - 【請求項１４】 変調コード検証に基づいて１つ以上の
データシンボルを消去または有効データシンボルとして
ラベル付けするステップをさらに含む、請求項１に記載
の方法。 - 【請求項１５】 ランダム誤りおよび一時誤りの影響を
受ける、１つ以上の符号化されたデータシンボルを表わ
すデータ信号を読むためのシステムであって、 符号化されたデータシンボルを受けるよう結合され、デ
ータ信号における一時誤りの１つ以上の特徴を識別する
よう構成される一時誤り検出器と、 １つ以上のデータシンボルに対して信頼性計量を計算す
るよう構成される信頼性検出器と、 識別された一時誤り特徴と計算された信頼性計量の最小
信頼性しきい値に対する比較とに基づいて１つ以上のデ
ータシンボルを識別または有効データシンボルとしてラ
ベル付けするよう構成される消去フラッガと、 消去フラッガに結合され、誤りおよび消去を訂正するこ
とにより訂正されたデータシンボルを生成するよう構成
されるデコーダとを含む、システム。 - 【請求項１６】 一時誤り検出器は、熱アスペリティに
より生じる一時誤りの特徴を識別するよう構成される、
請求項１５に記載のシステム。 - 【請求項１７】 一時誤り検出器は、ドロップアウトま
たは欠陥により生じる一時誤りの特徴を識別するよう構
成される、請求項１５に記載のシステム。 - 【請求項１８】 信頼性検出器は、ソフト出力ビタビ検
出器である、請求項１５に記載のシステム。 - 【請求項１９】 信頼性検出器は、データシンボルにお
ける各ビットに対してビタビ差分計量を計算するよう構
成され、データシンボルに、最も低い計算されたビタビ
差分計量に対応する信頼性計量を割当てる、請求項１８
に記載のシステム。 - 【請求項２０】 消去フラッガは、割当てられたビタビ
差分計量が最小信頼性しきい値より小さい場合にデータ
シンボルを消去としてラベル付けする、請求項１９に記
載のシステム。 - 【請求項２１】 信頼性検出器は、データシンボルにわ
たって蓄積されたビタビパス計量を計算するよう構成さ
れる、請求項１８に記載のシステム。 - 【請求項２２】 消去フラッガは、データシンボルにわ
たって蓄積された計算されたビタビパス計量が最小信頼
性しきい値を超えた場合にデータシンボルを消去として
ラベル付けする、請求項２１に記載のシステム。 - 【請求項２３】 少なくとも１つの磁気記憶ディスク
と、 ランダム誤りおよび一時誤りの影響を受ける、１つ以上
の符号化されたデータシンボルを表わすデータ信号を前
記少なくとも１つの磁気記憶ディスクから抽出するよう
構成される少なくとも１つの磁気抵抗（ＭＲ）ヘッド
と、 符号化されたデータシンボルを受けるよう結合され、デ
ータ信号における一時誤りの１つ以上の特徴を識別する
よう構成される一時誤り検出器と、 １つ以上のデータシンボルに対する信頼性計量を計算す
るよう構成される信頼性検出器と、 識別された一時誤り特徴と計算された信頼性計量の最小
信頼性しきい値に対する比較とに基づいて１つ以上のデ
ータシンボルを消去または有効データシンボルとしてラ
ベル付けするよう構成される消去フラッガと、 消去フラッガに結合され、誤りおよび消去を訂正するこ
とによって訂正されたデータシンボルを生成するよう構
成されるデコーダとを含む、磁気ディスク記憶システ
ム。 - 【請求項２４】 信頼性検出器は、ソフト出力ビタビ検
出器である、請求項２３に記載のシステム。 - 【請求項２５】 ビタビ検出器は、データシンボルにお
ける各ビットに対してビタビ差分計量を計算するよう構
成され、データシンボルに、最も低い計算されたビタビ
差分計量に対応する信頼性計量を割当て、消去フラッガ
は、割当てられたビタビ差分計量が最小信頼性しきい値
より小さい場合にデータシンボルを消去としてラベル付
けする、請求項２４に記載のシステム。 - 【請求項２６】 ビタビ検出器は、データシンボルに対
するビタビパス計量を計算するよう構成され、消去フラ
ッガは、データシンボルにわたって蓄積された計算され
たビタビパス計量が最小信頼性しきい値を超える際にデ
ータシンボルを消去としてラベル付けする、請求項２４
に記載のシステム。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070530 |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080205 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080701 |