JP2001172791A - Tin-copper base alloy plating bath and electronic part with tin-copper base alloy film formed by the plating bath - Google Patents

Tin-copper base alloy plating bath and electronic part with tin-copper base alloy film formed by the plating bath

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JP2001172791A
JP2001172791A JP35819899A JP35819899A JP2001172791A JP 2001172791 A JP2001172791 A JP 2001172791A JP 35819899 A JP35819899 A JP 35819899A JP 35819899 A JP35819899 A JP 35819899A JP 2001172791 A JP2001172791 A JP 2001172791A
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Japan
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copper
tin
plating bath
acid
salt
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Application number
JP35819899A
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Japanese (ja)
Inventor
Seiki Tsuji
清貴 辻
Keigo Obata
惠吾 小幡
Takao Takeuchi
孝夫 武内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daiwa Kasei Kenkyusho KK
Ishihara Chemical Co Ltd
Original Assignee
Daiwa Kasei Kenkyusho KK
Ishihara Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To surely coprecipitate tin with copper, etc., in a high composition ratio in a tin-copper base ternary alloy plating bath and to prevent the formation of whiskers and the cracking in bending. SOLUTION: This tin-copper base ternary alloy plating bath contains (A) a soluble stannous salt, (B) a soluble copper salt, (C) a soluble salt of the third- component metal selected from a group consisting of iron, cobalt, nickel, bismuth, antimony, titanium and zirconium and (D) a surfactant. When the surfactant is incorporated into the tin-copper-X alloy plating bath (metallic X=iron, nickel, bismuth, etc.), the polarization of the copper and metallic X nobler in the standard electrode potential is increased, and tin is surely coprecipitated with the metallic X in a high composition ratio. Further, the formation of whiskers and the cracking in bending are prevented, and an electrodeposited film excellent in solderability is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、スズ−銅−鉄合
金、スズ−銅−ニッケル合金、スズ−銅−ビスマス合金
などのスズ−銅系の3元合金メッキ浴、並びに当該メッ
キ浴を用いてスズ−銅系合金皮膜を形成した電子部品に
関し、銅及び鉄、ニッケル、ビスマスなどの第3成分金
属と共に、スズを高い組成比で確実に共析化するととも
に、スズホイスカーやクラックの発生を防止し、ハンダ
付け性にも優れたメッキ皮膜を提供する。
The present invention relates to a tin-copper ternary alloy plating bath such as a tin-copper-iron alloy, a tin-copper-nickel alloy, a tin-copper-bismuth alloy, and the use of the plating bath. For electronic components with a tin-copper alloy film formed, together with copper and third component metals such as iron, nickel and bismuth, tin is reliably eutectoidized at a high composition ratio, and tin whiskers and cracks are generated. It provides a plating film that prevents corrosion and has excellent solderability.

【0002】[0002]

【発明の背景】近年、人体や環境に対する鉛の影響が懸
念されるようになり、また、純粋のスズメッキではホイ
スカー発生の恐れがあることから、鉛を含まないハンダ
メッキの開発が要望されている。鉛フリーのハンダとし
ては、スズ−銀合金、スズ−ビスマス合金、或はスズ−
銅合金などが検討されているが、スズ−銀合金メッキで
は、メッキ浴が分解し易くて浴の安定性が悪いうえ、コ
スト高であり、スズ合金の中では相対的にホイスカーが
発生し易い。スズ−ビスマス合金では、ホイスカーは発
生し難いが、折り曲げ加工などに際してクラックが発生
し易い。また、スズ−銅合金では、逆に、上記クラック
は発生し難く、コストも低いが、ホイスカーが発生し易
い問題が残る。従って、上述の各種スズ合金はいずれ
も、優れた利点を備えながらも、その一方で問題も有し
ており、鉛フリーのハンダの有力候補として充分という
わけではない。
BACKGROUND OF THE INVENTION In recent years, there has been a concern about the influence of lead on the human body and the environment, and whiskers may occur in pure tin plating. Therefore, there is a demand for the development of lead-free solder plating. . Lead-free solders include tin-silver alloys, tin-bismuth alloys, or tin-silver alloys.
Copper alloys and the like are being studied, but tin-silver alloy plating tends to decompose the plating bath, resulting in poor bath stability, and is expensive, and whiskers are more likely to occur in tin alloys . Whisker is unlikely to occur in a tin-bismuth alloy, but cracks are likely to occur in bending and the like. On the other hand, in the case of a tin-copper alloy, on the contrary, the above cracks are hardly generated and the cost is low, but a problem that whiskers are easily generated remains. Therefore, each of the various tin alloys described above has excellent advantages, but also has problems, and is not a sufficient candidate for a lead-free solder.

【0003】他方、スズ−銅−鉄合金、スズ−銅−ニッ
ケル合金、スズ−銅−ビスマス合金などのスズ−銅系の
3元合金では、スズ−銀合金などに比べてコストが低
く、また、スズ−銅合金が有するホイスカー発生の弊害
を抑制するなどの点で効果が期待できる。
On the other hand, tin-copper ternary alloys such as tin-copper-iron alloy, tin-copper-nickel alloy and tin-copper-bismuth alloy have lower costs than tin-silver alloy and the like. An effect can be expected in terms of suppressing the adverse effects of whisker generation of the tin-copper alloy.

【0004】[0004]

【従来の技術】例えば、特開平8−13185号公報に
は、(a)Sn2+イオン、(b)Ag+、Cu2+、In3+
Tl+及びZn2+からなる群より選ばれた金属イオンの
少なくとも一種、(c)ノニオン系界面活性剤を含有す
る、鉛を含まないスズ合金メッキ浴が記載され、その実
施例3(同公報の段落28参照)には、メタンスルホン酸
第一スズと、メタンスルホン酸銅と、メタンスルホン酸
と、オクチルフェノールエトキシレートのエチレンオキ
シド付加物とからなるスズ−銅合金メッキ浴が、また、
実施例4(同公報の段落29参照)には、メタンスルホン
酸第一スズと、メタンスルホン酸銅と、メタンスルホン
酸と、ラウリルアミンのエチレンオキシド付加物とから
なるスズ−銅合金メッキ浴が夫々開示されている。
2. Description of the Related Art For example, JP-A-8-13185 discloses (a) Sn 2+ ion, (b) Ag + , Cu 2+ , In 3+ ,
A lead-free tin alloy plating bath containing at least one metal ion selected from the group consisting of Tl + and Zn 2+ and (c) a nonionic surfactant is described in Example 3 (the same publication). (See paragraph 28)), a tin-copper alloy plating bath composed of stannous methanesulfonate, copper methanesulfonate, methanesulfonic acid, and an ethylene oxide adduct of octylphenol ethoxylate;
In Example 4 (see paragraph 29 of the publication), a tin-copper alloy plating bath composed of stannous methanesulfonate, copper methanesulfonate, methanesulfonic acid, and an ethylene oxide adduct of laurylamine was used, respectively. It has been disclosed.

【0005】しかしながら、スズ−銅−鉄合金、スズ−
銅−ニッケル合金、スズ−銅−ビスマス合金などのメッ
キ浴は上記公報には見当たらず、メッキ分野の他の公報
でも報告を発見するのは困難である。
However, tin-copper-iron alloys, tin-
Plating baths such as copper-nickel alloys and tin-copper-bismuth alloys are not found in the above-mentioned publications, and it is difficult to find reports in other publications in the field of plating.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記スズ−銅系の3元
合金を、例えば、スズ−銅−ビスマス合金に代表させて
検討すると、スズ、ビスマス、銅の標準電極電位は、下
記の通りである。 Sn2++2e-→Sn E°=−0.138 Bi3++3e-→Bi E°=+0.320 Cu2++2e-→Cu E°=+0.337 上表に見るように、ビスマス及び銅はスズより標準電極
電位が貴であるため、スズ−銅−ビスマス合金メッキ浴
を用いて電気メッキを行うと、実際には、銅やビスマス
が優先析出して、スズを高い組成比でこれらの金属と共
析化することは容易でない。
When the tin-copper ternary alloy described above is examined, for example, as a typical tin-copper-bismuth alloy, the standard electrode potentials of tin, bismuth and copper are as follows. is there. Sn 2+ + 2e → Sn E ° = −0.138 Bi 3+ + 3e → Bi E ° = + 0.320 Cu 2+ + 2e → Cu E ° = + 0.337 As seen in the above table, bismuth and copper Since the standard electrode potential is more noble than tin, when electroplating is performed using a tin-copper-bismuth alloy plating bath, copper or bismuth actually precipitates preferentially, and tin has a high composition ratio. It is not easy to eutectoid with metal.

【0007】本発明は、銅及び鉄、ニッケル、ビスマス
などの第3成分金属と共に、スズを確実に共析化させる
とともに、ホイスカーやクラックの発生を防止し、ハン
ダ付け性などに優れる電着皮膜が得られるスズ−銅系合
金メッキ浴を開発することを技術的課題とする。
According to the present invention, an electrodeposition film excellent in solderability, etc., in addition to copper and a third component metal such as iron, nickel, bismuth, etc., in which tin is reliably eutectoidized, whiskers and cracks are prevented from being generated. It is a technical object to develop a tin-copper alloy plating bath capable of obtaining the following.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】先ず、本発明者らは、例
えば、スズ−銅−ビスマス合金メッキ浴に界面活性剤を
含有すると、標準電極電位の貴な銅及びビスマスの分極
が大きくなって、スズを高い組成比で銅及びビスマスと
共析化できることを見い出した。次いで、上記スズ−銅
−ビスマス合金を初めとして、スズ−銅−鉄合金、スズ
−銅−ニッケル合金などの特定のスズ−銅系3元合金
は、ホイスカーや折り曲げ加工時のクラックの発生を有
効に防止できるうえ、ハンダ付け性にも優れており、い
わば、スズ−銅合金とスズ−X合金(X=鉄、ニッケ
ル、ビスマスなどの第3成分金属)の利点を兼備しなが
ら、夫々の2元合金の有する問題を軽減できることを見
い出し、本発明を完成した。
First, the present inventors have found that, for example, when a tin-copper-bismuth alloy plating bath contains a surfactant, the polarization of noble copper and bismuth at a standard electrode potential becomes large. It has been found that tin can be eutectoidized with copper and bismuth at a high composition ratio. Next, specific tin-copper ternary alloys such as the tin-copper-bismuth alloy, tin-copper-iron alloy, and tin-copper-nickel alloy are effective in generating whiskers and cracks during bending. In addition, it is excellent in solderability, so to say, while combining the advantages of tin-copper alloy and tin-X alloy (X = third component metal such as iron, nickel and bismuth), The inventors have found that the problems of the original alloy can be reduced, and have completed the present invention.

【0009】即ち、本発明1は、(A)可溶性第一スズ
塩、(B)可溶性銅塩、(C)鉄、コバルト、ニッケル、ビ
スマス、アンチモン、チタン、ジルコニウムからなる群
より選ばれた第3成分金属の可溶性塩の少なくとも一
種、(D)界面活性剤を含有してなるスズ−銅系合金メッ
キ浴である。
That is, the present invention 1 relates to a (A) soluble stannous salt, (B) a soluble copper salt, (C) iron, cobalt, nickel, bismuth, antimony, titanium, zirconium. A tin-copper alloy plating bath containing at least one soluble salt of a three-component metal and (D) a surfactant.

【0010】本発明2は、上記本発明1の界面活性剤
が、C1〜C20アルカノール、フェノール、ナフトー
ル、ビスフェノール類、C1〜C25アルキルフェノー
ル、アリールアルキルフェノール、C1〜C25アルキル
ナフトール、C1〜C25アルコキシル化リン酸、ソルビ
タンエステル、ポリアルキレングリコール、C1〜C22
脂肪族アミン、C1〜C22脂肪族アミドなどのエチレン
オキシド及び/又はプロピレンオキシドの付加物よりな
るノニオン系界面活性剤であることを特徴とするスズ−
銅系合金メッキ浴である。
The present invention is characterized in that the above-mentioned surfactant of the present invention comprises C 1 -C 20 alkanol, phenol, naphthol, bisphenols, C 1 -C 25 alkylphenol, arylalkylphenol, C 1 -C 25 alkylnaphthol, C 1 -C 25 alkoxylated phosphoric acid, sorbitan ester, polyalkylene glycol, C 1 -C 22
A tin nonionic surfactant comprising an adduct of ethylene oxide and / or propylene oxide such as an aliphatic amine or a C 1 to C 22 aliphatic amide;
This is a copper-based alloy plating bath.

【0011】本発明3は、(A)可溶性第一スズ塩、(B)
可溶性銅塩、(C)鉄、コバルト、ニッケル、ビスマス、
アンチモン、チタン、ジルコニウムからなる群より選ば
れた第3成分金属の可溶性塩の少なくとも一種、(D)有
機スルホン酸、脂肪族カルボン酸、オキシカルボン酸、
アミノカルボン酸等の有機酸、これらの塩などの少なく
とも一種を含有してなるスズ−銅系合金メッキ浴であ
る。
The present invention relates to (A) a soluble stannous salt, (B)
Soluble copper salt, (C) iron, cobalt, nickel, bismuth,
At least one soluble salt of the third component metal selected from the group consisting of antimony, titanium, and zirconium; (D) an organic sulfonic acid, an aliphatic carboxylic acid, an oxycarboxylic acid,
This is a tin-copper alloy plating bath containing at least one kind of organic acids such as aminocarboxylic acids and salts thereof.

【0012】本発明4は、上記本発明1〜3のいずれか
において、メッキ浴中に可溶性第一スズ塩と可溶性銅塩
と第3成分の可溶性金属塩を、可溶性銅塩/可溶性第一
スズ塩=0.001〜0.25で、且つ、第3成分の可溶
性金属塩/可溶性第一スズ塩=0.0001〜0.1であ
る重量比で含有することを特徴とするスズ−銅系合金メ
ッキ浴である。
According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects, the soluble stannous salt, the soluble copper salt and the soluble metal salt of the third component are mixed in the plating bath with a soluble copper salt / soluble stannous salt. A tin-copper system wherein the salt is 0.001 to 0.25 and the weight ratio of the third component soluble metal salt / soluble stannous salt is 0.0001 to 0.1. This is an alloy plating bath.

【0013】本発明5は、上記本発明1〜4のいずれか
のメッキ浴に、さらに酸化防止剤を含有することを特徴
とするスズ−銅系合金メッキ浴である。
[0013] The present invention 5 is a tin-copper alloy plating bath characterized in that the plating bath of any of the above-mentioned present inventions 1-4 further contains an antioxidant.

【0014】本発明6は、上記本発明1〜5のいずれか
のメッキ浴を用いて、電気メッキによりスズ−銅系合金
メッキ皮膜を素地上に形成した、半導体デバイス、コネ
クタ、スイッチ、抵抗、可変抵抗、コンデンサ、フィル
タ、インダクタ、サーミスタ、水晶振動子、リード線な
どの電子部品である。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device, a connector, a switch, a resistor, and a tin-copper alloy plating film formed on a substrate by electroplating using the plating bath according to any one of the first to fifth aspects. Electronic components such as variable resistors, capacitors, filters, inductors, thermistors, crystal units, and lead wires.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】本発明のスズ−銅系3元合金メッ
キ浴に用いる可溶性金属塩は、基本的に、相当する金属
イオンを水中で生成する任意の有機又は無機の金属塩を
いう。可溶性第一スズ塩の具体例としては、メタンスル
ホン酸、エタンスルホン酸、2−プロパノールスルホン
酸、p−フェノールスルホン酸などの有機スルホン酸の
第一スズ塩を初め、ホウフッ化第一スズ、スルホコハク
酸第一スズ、硫酸第一スズ、酸化第一スズ、塩化第一ス
ズなどが挙げられる。可溶性銅塩としては、上記有機ス
ルホン酸の銅塩、硫酸銅、塩化銅、酸化銅、炭酸銅、酢
酸銅、ピロリン酸銅、シュウ酸銅などが挙げられる。可
溶性の第3成分金属塩としては、第3成分金属(即ち、
鉄、コバルト、ニッケル、ビスマス、アンチモン、チタ
ン、ジルコニウム;以下、X金属という)の酸化物、塩
化物、臭化物、硝酸塩、硫酸塩、上記有機スルホン酸の
塩、スルホコハク酸塩などが挙げられる。上記可溶性第
一スズ塩、可溶性銅塩、可溶性の第3成分金属塩は夫々
単用又は併用できる。従って、本発明のメッキ浴は、基
本的にはスズ−銅−Xの3元合金メッキ浴であるが、2
種類以上のX金属塩を併用した4元以上の合金メッキ浴
(例えば、スズ−銅−鉄−ニッケル合金など)を含む概念
である(尚、本発明の呼称としては、便宜上、スズ−銅
系の3元合金メッキ浴という)。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The soluble metal salt used in the tin-copper ternary alloy plating bath of the present invention basically refers to any organic or inorganic metal salt that generates a corresponding metal ion in water. Specific examples of the soluble stannous salts include stannous salts of organic sulfonic acids such as methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, 2-propanolsulfonic acid, p-phenolsulfonic acid, stannous borofluoride, sulfosuccinic acid and the like. Stannous acid, stannous sulfate, stannous oxide, stannous chloride and the like can be mentioned. Examples of the soluble copper salt include the above-mentioned copper salts of organic sulfonic acids, copper sulfate, copper chloride, copper oxide, copper carbonate, copper acetate, copper pyrophosphate, copper oxalate and the like. Soluble third component metal salts include third component metals (ie,
Oxides, chlorides, bromides, nitrates, sulfates, salts of the above organic sulfonic acids, sulfosuccinates, and the like of iron, cobalt, nickel, bismuth, antimony, titanium, and zirconium (hereinafter, referred to as metal X). The soluble stannous salts, soluble copper salts, and soluble third component metal salts can be used alone or in combination. Therefore, the plating bath of the present invention is basically a ternary alloy plating bath of tin-copper-X,
4 or more alloy plating bath using more than one kind of X metal salt
(For example, a tin-copper-iron-nickel alloy) (for the sake of convenience, the present invention refers to a tin-copper ternary alloy plating bath).

【0016】本発明のスズ−銅系3元合金メッキ浴で
は、本発明4に示すように、メッキ浴中の可溶性第一ス
ズ塩と可溶性銅塩と第3成分の可溶性金属塩(即ち、X
金属塩)とを、下記の及びの重量比で含有すること
が好ましい。 可溶性銅塩/可溶性第一スズ塩=0.001〜0.25 可溶性X金属塩/可溶性第一スズ塩=0.0001〜
0.1 可溶性銅/可溶性第一スズ塩の重量比が0.25を越え
ると、得られた電着皮膜のハンダ付け性が低下し、ホイ
スカーが発生する恐れがあり、また、可溶性X金属塩/
可溶性第一スズ塩の重量比が0.1を越えると、電着皮
膜の折り曲げ加工時にクラックが発生する恐れがある。
上記可溶性第一スズ塩、可溶性銅塩、及び可溶性のX金
属塩を合計した可溶性塩のうちの、金属イオンとしての
全体の含有量は、メッキ浴に対して5〜100g/L、
好ましくは7〜70g/Lである。
In the tin-copper ternary alloy plating bath of the present invention, as shown in the present invention 4, the soluble stannous salt, the soluble copper salt and the soluble metal salt of the third component (that is, X
Metal salts) in the following weight ratios. Soluble copper salt / soluble stannous salt = 0.001 to 0.25 Soluble X metal salt / soluble stannous salt = 0.0001 to
When the weight ratio of 0.1 soluble copper / soluble stannous salt exceeds 0.25, the solderability of the resulting electrodeposited film may be reduced, and whiskers may be generated. /
If the weight ratio of the soluble stannous salt exceeds 0.1, cracks may be generated during bending of the electrodeposited film.
Among the soluble salts obtained by summing the soluble stannous salt, the soluble copper salt, and the soluble X metal salt, the total content as metal ions is 5 to 100 g / L with respect to the plating bath.
Preferably it is 7-70 g / L.

【0017】本発明のスズ−銅−X合金メッキ浴(金属
X=鉄、コバルト、ニッケル、ビスマス等)は酸又はそ
の塩をベースに構成され、ベースを構成する酸として
は、有機スルホン酸、脂肪族カルボン酸、オキシカルボ
ン酸、アミノカルボン酸などの有機酸が挙げられる。上
記有機スルホン酸は排水処理が容易であり、金属塩の溶
解性が高く、高速メッキが可能で、電導度も高いなどの
点で優れている。また、上記脂肪族カルボン酸、オキシ
カルボン酸、アミノカルボン酸などは、pH1〜10程
度の領域で金属塩の加水分解を防止する点で有効であ
る。上記有機酸又はその塩は単用又は併用でき、その含
有量は10〜400g/L、好ましくは50〜250g
/Lである。
The tin-copper-X alloy plating bath (metal X = iron, cobalt, nickel, bismuth, etc.) of the present invention is composed based on an acid or a salt thereof. Organic acids such as aliphatic carboxylic acids, oxycarboxylic acids, and aminocarboxylic acids are exemplified. The above-mentioned organic sulfonic acid is excellent in terms of easy drainage treatment, high solubility of metal salts, high-speed plating, and high conductivity. Further, the above aliphatic carboxylic acids, oxycarboxylic acids, aminocarboxylic acids, and the like are effective in preventing hydrolysis of metal salts in a pH range of about 1 to 10. The above organic acids or salts thereof can be used alone or in combination, and the content thereof is 10 to 400 g / L, preferably 50 to 250 g.
/ L.

【0018】浴ベースに用いられる上記有機スルホン酸
は、アルカンスルホン酸、アルカノールスルホン酸、芳
香族スルホン酸などであり、アルカンスルホン酸として
は、化学式Cn2n+1SO3H(例えば、n=1〜11)で
示されるものが使用でき、具体的には、メタンスルホン
酸、エタンスルホン酸、1―プロパンスルホン酸、2―
プロパンスルホン酸、1―ブタンスルホン酸、2―ブタ
ンスルホン酸、ペンタンスルホン酸、ヘキサンスルホン
酸、デカンスルホン酸、ドデカンスルホン酸などが挙げ
られる。
The organic sulfonic acid used in the bath base is alkanesulfonic acid, alkanolsulfonic acid, aromatic sulfonic acid and the like, and the alkanesulfonic acid is represented by the chemical formula C n H 2n + 1 SO 3 H (for example, n = 1 to 11), specifically, methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, 1-propanesulfonic acid, 2-
Examples thereof include propanesulfonic acid, 1-butanesulfonic acid, 2-butanesulfonic acid, pentanesulfonic acid, hexanesulfonic acid, decanesulfonic acid, and dodecanesulfonic acid.

【0019】上記アルカノールスルホン酸としては、化
学式 Cm2m+1-CH(OH)-Cp2p-SO3H(例えば、m=0
〜6、p=1〜5) で示されるものが使用でき、具体的には、2―ヒドロキ
シエタン―1―スルホン酸、2―ヒドロキシプロパン―
1―スルホン酸(2−プロパノールスルホン酸)、2―ヒ
ドロキシブタン―1―スルホン酸、2―ヒドロキシペン
タン―1―スルホン酸などの外、1―ヒドロキシプロパ
ン―2―スルホン酸、3―ヒドロキシプロパン―1―ス
ルホン酸、4―ヒドロキシブタン―1―スルホン酸、2
―ヒドロキシヘキサン―1―スルホン酸、2―ヒドロキ
シデカン―1―スルホン酸、2―ヒドロキシドデカン―
1―スルホン酸などが挙げられる。
[0019] Examples of the alkanol sulfonic acid, the formula C m H 2m + 1 -CH ( OH) -C p H 2p -SO 3 H ( e.g., m = 0
~ 6, p = 1 ~ 5), specifically, 2-hydroxyethane-1-sulfonic acid, 2-hydroxypropane-
1-sulfonic acid (2-propanolsulfonic acid), 2-hydroxybutane-1-sulfonic acid, 2-hydroxypentane-1-sulfonic acid, etc., as well as 1-hydroxypropane-2-sulfonic acid, 3-hydroxypropane 1-sulfonic acid, 4-hydroxybutane-1-sulfonic acid, 2
-Hydroxyhexane-1-sulfonic acid, 2-hydroxydecane-1-sulfonic acid, 2-hydroxydodecane-
1-sulfonic acid and the like.

【0020】上記芳香族スルホン酸は、基本的にベンゼ
ンスルホン酸、アルキルベンゼンスルホン酸、フェノー
ルスルホン酸、ナフタレンスルホン酸、アルキルナフタ
レンスルホン酸、ナフトールスルホン酸などであり、具
体的には、1−ナフタレンスルホン酸、2−ナフタレン
スルホン酸、トルエンスルホン酸、キシレンスルホン
酸、p−フェノールスルホン酸、クレゾールスルホン
酸、スルホサリチル酸、ニトロベンゼンスルホン酸、ス
ルホ安息香酸、ジフェニルアミン−4−スルホン酸など
が挙げられる。以上に述べた有機スルホン酸では、メタ
ンスルホン酸、エタンスルホン酸、2−プロパノールス
ルホン酸、フェノールスルホン酸などが好ましい。
The aromatic sulfonic acid is basically benzenesulfonic acid, alkylbenzenesulfonic acid, phenolsulfonic acid, naphthalenesulfonic acid, alkylnaphthalenesulfonic acid, naphtholsulfonic acid and the like. Examples include acid, 2-naphthalenesulfonic acid, toluenesulfonic acid, xylenesulfonic acid, p-phenolsulfonic acid, cresolsulfonic acid, sulfosalicylic acid, nitrobenzenesulfonic acid, sulfobenzoic acid, and diphenylamine-4-sulfonic acid. Among the organic sulfonic acids described above, methanesulfonic acid, ethanesulfonic acid, 2-propanolsulfonic acid, phenolsulfonic acid and the like are preferable.

【0021】浴ベースに用いられる前記脂肪族カルボン
酸としては、一般に、炭素数1〜6のカルボン酸が使用
でき、具体的には、酢酸、プロピオン酸、酪酸、スルホ
コハク酸、トリフルオロ酢酸などが挙げられる。上記オ
キシカルボン酸としては、クエン酸、グルコン酸、酒石
酸、リンゴ酸などが挙げられる。上記アミノカルボン酸
としては、エチレンジアミン四酢酸(EDTA)、ジエチ
レントリアミン五酢酸(DTPA)、ニトリロ三酢酸(N
TA)、イミノジ酢酸(IDA)、イミノジプロピオン酸
(IDP)、ヒドロキシエチルエチレンジアミン三酢酸
(HEDTA)、トリエチレンテトラミン六酢酸(TTH
A)、グリシン、アラニン、N−メチルグリシン、リジ
ン、グルタミン酸、アスパラギン酸などが挙げられ、こ
れらのアミノカルボン酸は上記有機スルホン酸、脂肪族
カルボン酸、或はオキシカルボン酸などと併用するのが
有用である。
As the aliphatic carboxylic acid used in the bath base, generally, a carboxylic acid having 1 to 6 carbon atoms can be used, and specific examples thereof include acetic acid, propionic acid, butyric acid, sulfosuccinic acid, and trifluoroacetic acid. No. Examples of the oxycarboxylic acid include citric acid, gluconic acid, tartaric acid, malic acid and the like. Examples of the aminocarboxylic acid include ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA), diethylenetriaminepentaacetic acid (DTPA), and nitrilotriacetic acid (N
TA), iminodiacetic acid (IDA), iminodipropionic acid
(IDP), hydroxyethylethylenediamine triacetic acid
(HEDTA), triethylenetetramine hexaacetic acid (TTH
A), glycine, alanine, N-methylglycine, lysine, glutamic acid, aspartic acid, and the like. These aminocarboxylic acids can be used in combination with the above organic sulfonic acid, aliphatic carboxylic acid, or oxycarboxylic acid. Useful.

【0022】一方、本発明のスズ−銅−X合金メッキ浴
(金属X=鉄、コバルト、ニッケル、ビスマスなど)に含
有する上記界面活性剤としては、ノニオン系、アニオン
系、カチオン系、或は両性の各種界面活性剤が挙げら
れ、これらを単用又は併用できる。その添加量は0.0
1〜100g/L、好ましくは0.1〜50g/Lであ
る。
On the other hand, the tin-copper-X alloy plating bath of the present invention
Examples of the surfactant contained in (metal X = iron, cobalt, nickel, bismuth, etc.) include nonionic, anionic, cationic, and amphoteric surfactants, and these may be used alone or in combination. it can. The addition amount is 0.0
It is 1 to 100 g / L, preferably 0.1 to 50 g / L.

【0023】上記界面活性剤はメッキ皮膜の外観、緻密
性、平滑性、密着性、均一電着性などの改善のために用
いられるが、特に、ノニオン系界面活性剤では、大きな
改善効果が期待できる。当該ノニオン系界面活性剤は、
1〜C20アルカノール、フェノール、ナフトール、ビ
スフェノール類、C1〜C25アルキルフェノール、アリ
ールアルキルフェノール、C1〜C25アルキルナフトー
ル、C1〜C25アルコキシル化リン酸(塩)、ソルビタン
エステル、スチレン化フェノール、ポリアルキレングリ
コール、C 1〜C22脂肪族アミン、C1〜C22脂肪族アミ
ドなどにエチレンオキシド(EO)及び/又はプロピレン
オキシド(PO)を2〜300モル付加縮合したものであ
る。従って、所定のアルカノール、フェノール、ナフト
ール等のEO単独の付加物、PO単独の付加物、或は、
EOとPOが共存した付加物のいずれでも良い。
The above surfactant is used for the appearance of the plating film,
Used to improve the smoothness, smoothness, adhesion and throwing power
In particular, nonionic surfactants have large
An improvement effect can be expected. The nonionic surfactant,
C1~ C20Alkanol, phenol, naphthol, bi
Sphenols, C1~ Ctwenty fiveAlkyl phenols, ants
Alkyl phenol, C1~ Ctwenty fiveAlkyl naphtho
Le, C1~ Ctwenty fiveAlkoxylated phosphoric acid (salt), sorbitan
Ester, styrenated phenol, polyalkylene glycol
Cole, C 1~ Ctwenty twoAliphatic amine, C1~ Ctwenty twoFatty amy
Ethylene oxide (EO) and / or propylene
Oxide (PO) obtained by addition condensation of 2 to 300 moles
You. Therefore, certain alkanols, phenols, naphtho
Adduct of EO alone, adduct of PO alone, or
Any of adducts in which EO and PO coexist may be used.

【0024】エチレンオキシド(EO)及び/又はプロピ
レンオキシド(PO)を付加縮合させるC1〜C20アルカ
ノールとしては、オクタノール、デカノール、ラウリル
アルコール、テトラデカノール、ヘキサデカノール、ス
テアリルアルコール、エイコサノール、セチルアルコー
ル、オレイルアルコール、ドコサノールなどが挙げられ
る。同じくビスフェノール類としては、ビスフェノール
A、ビスフェノールBなどが挙げられる。C1〜C25
ルキルフェノールとしては、モノ、ジ、若しくはトリア
ルキル置換フェノール、例えば、p−ブチルフェノー
ル、p−イソオクチルフェノール、p−ノニルフェノー
ル、p−ヘキシルフェノール、2,4−ジブチルフェノ
ール、2,4,6−トリブチルフェノール、p−ドデシル
フェノール、p−ラウリルフェノール、p−ステアリル
フェノールなどが挙げられる。アリールアルキルフェノ
ールとしては、2−フェニルイソプロピルフェニルなど
が挙げられる。
C 1 -C 20 alkanols for addition condensation of ethylene oxide (EO) and / or propylene oxide (PO) include octanol, decanol, lauryl alcohol, tetradecanol, hexadecanol, stearyl alcohol, eicosanol and cetyl alcohol. , Oleyl alcohol, docosanol and the like. Similarly, bisphenols include bisphenol A and bisphenol B. C 1 -C 25 alkylphenols include mono-, di- or trialkyl-substituted phenols such as p-butylphenol, p-isooctylphenol, p-nonylphenol, p-hexylphenol, 2,4-dibutylphenol, 2,4, Examples include 6-tributylphenol, p-dodecylphenol, p-laurylphenol, p-stearylphenol and the like. Examples of the arylalkylphenol include 2-phenylisopropylphenyl and the like.

【0025】C1〜C25アルキルナフトールのアルキル
基としては、メチル、エチル、プロピル、ブチルヘキシ
ル、オクチル、デシル、ドデシル、オクタデシルなどが
挙げられ、ナフタレン核の任意の位置にあって良い。C
1〜C25アルコキシル化リン酸(塩)は、下記の一般式(a)
で表されるものである。 Ra・Rb・(MO)P=O …(a) (式(a)中、Ra及びRbは同一又は異なるC1〜C25アル
キル、但し、一方がHであっても良い。MはH又はアル
カリ金属を示す。)
The alkyl group of the C 1 -C 25 alkyl naphthol includes methyl, ethyl, propyl, butylhexyl, octyl, decyl, dodecyl, octadecyl and the like, and may be located at any position on the naphthalene nucleus. C
1- C 25 alkoxylated phosphoric acid (salt) has the following general formula (a)
It is represented by During Ra · Rb · (MO) P = O ... (a) ( formula (a), R a and R b identical or different C 1 -C 25 alkyl, provided that one is better even H .M is H or an alkali metal is shown.)

【0026】ソルビタンエステルとしては、モノ、ジ又
はトリエステル化した1,4−、1,5−又は3,6−ソ
ルビタン、例えばソルビタンモノラウレート、ソルビタ
ンモノパルミテート、ソルビタンジステアレート、ソル
ビタンジオレエート、ソルビタン混合脂肪酸エステルな
どが挙げられる。C1〜C22脂肪族アミンとしては、プ
ロピルアミン、ブチルアミン、ヘキシルアミン、オクチ
ルアミン、デシルアミン、ラウリルアミン、ステアリル
アミン、エチレンジアミン、プロピレンジアミンなどの
飽和及び不飽和脂肪酸アミンなどが挙げられる。C1
22脂肪族アミドとしては、プロピオン酸、酪酸、カプ
リル酸、カプリン酸、ラウリン酸、ミリスチン酸、パル
ミチン酸、ステアリン酸、ベヘン酸などのアミドが挙げ
られる。
As the sorbitan ester, mono-, di- or triester-converted 1,4-, 1,5- or 3,6-sorbitan such as sorbitan monolaurate, sorbitan monopalmitate, sorbitan distearate, sorbitan diester Oleate, sorbitan mixed fatty acid ester and the like can be mentioned. Examples of the C 1 -C 22 aliphatic amine include saturated and unsaturated fatty acid amines such as propylamine, butylamine, hexylamine, octylamine, decylamine, laurylamine, stearylamine, ethylenediamine, and propylenediamine. C 1-
The C 22 aliphatic amides, propionic acid, butyric acid, caprylic acid, capric acid, lauric acid, myristic acid, palmitic acid, stearic acid, amides such as behenic acid.

【0027】上記カチオン系界面活性剤としては、下記
の一般式(b)で表される第4級アンモニウム塩 (R1・R2・R3・R4N)+・X- …(b) (式(b)中、Xはハロゲン、ヒドロキシ、C1〜C5アル
カンスルホン酸又は硫酸、R1、R2及びR3は同一又は
異なるC1〜C20アルキル、R4はC1〜C10アルキル又
はベンジルを示す。)或は、下記の一般式(c)で表され
るピリジニウム塩などが挙げられる。 R6−(C55N−R5)+・X- …(c) (式(c)中、C55Nはピリジル基、Xはハロゲン、ヒ
ドロキシ、C1〜C5アルカンスルホン酸又は硫酸、R5
はC1〜C20アルキル、R6はH又はC1〜C10アルキル
を示す。)
[0027] As the cationic surfactant, quaternary ammonium salt (R 1 · R 2 · R 3 · R 4 N) represented by the following formula (b) + · X - ... (b) (In the formula (b), X is halogen, hydroxy, C 1 -C 5 alkanesulfonic acid or sulfuric acid, R 1 , R 2 and R 3 are the same or different C 1 -C 20 alkyl, and R 4 is C 1 -C Represents 10 alkyl or benzyl.) Or a pyridinium salt represented by the following general formula (c). R 6- (C 5 H 5 N—R 5 ) + · X (c) (In the formula (c), C 5 H 5 N is a pyridyl group, X is a halogen, hydroxy, C 1 -C 5 alkane sulfone. Acid or sulfuric acid, R 5
Represents C 1 -C 20 alkyl, and R 6 represents H or C 1 -C 10 alkyl. )

【0028】塩の形態のカチオン系界面活性剤の例とし
ては、ラウリルトリメチルアンモニウム塩、ステアリル
トリメチルアンモニウム塩、ラウリルジメチルエチルア
ンモニウム塩、オクタデシルジメチルエチルアンモニウ
ム塩、ジメチルベンジルラウリルアンモニウム塩、セチ
ルジメチルベンジルアンモニウム塩、オクタデシルジメ
チルベンジルアンモニウム塩、トリメチルベンジルアン
モニウム塩、トリエチルベンジルアンモニウム塩、ヘキ
サデシルピリジニウム塩、ラウリルピリジニウム塩、ド
デシルピリジニウム塩、ステアリルアミンアセテート、
ラウリルアミンアセテート、オクタデシルアミンアセテ
ートなどが挙げられる。
Examples of the cationic surfactants in the form of salts include lauryl trimethyl ammonium salt, stearyl trimethyl ammonium salt, lauryl dimethyl ethyl ammonium salt, octadecyl dimethyl ethyl ammonium salt, dimethyl benzyl lauryl ammonium salt, cetyl dimethyl benzyl ammonium salt Octadecyldimethylbenzylammonium salt, trimethylbenzylammonium salt, triethylbenzylammonium salt, hexadecylpyridinium salt, laurylpyridinium salt, dodecylpyridinium salt, stearylamine acetate,
Laurylamine acetate, octadecylamine acetate and the like can be mentioned.

【0029】上記アニオン系界面活性剤としては、アル
キル硫酸塩、ポリオキシエチレンアルキルエーテル硫酸
塩、ポリオキシエチレンアルキルフェニルエーテル硫酸
塩、アルキルベンゼンスルホン酸塩、(モノ、ジ、トリ)
アルキルナフタレンスルホン酸塩などが挙げられる。ア
ルキル硫酸塩としては、ラウリル硫酸ナトリウム、オレ
イル硫酸ナトリウムなどが挙げられる。ポリオキシエチ
レンアルキルエーテル硫酸塩としては、ポリオキシエチ
レン(EO12)ノニルエーテル硫酸ナトリウム、ポリオ
キシエチレン(EO15)ドデシルエーテル硫酸ナトリウ
ムなどが挙げられる。ポリオキシエチレンアルキルフェ
ニルエーテル硫酸塩としては、ポリオキシエチレン(E
O15)ノニルフェニルエーテル硫酸塩などが挙げられ
る。アルキルベンゼンスルホン酸塩としては、ドデシル
ベンゼンスルホン酸ナトリウムなどが挙げられる。ま
た、(モノ、ジ、トリ)アルキルナフタレンスルホン酸塩
としては、ジブチルナフタレンスルホン酸ナトリウムな
どが挙げられる。
Examples of the anionic surfactant include alkyl sulfates, polyoxyethylene alkyl ether sulfates, polyoxyethylene alkyl phenyl ether sulfates, alkylbenzene sulfonates, (mono, di, tri)
Alkyl naphthalene sulfonate and the like can be mentioned. Examples of the alkyl sulfate include sodium lauryl sulfate and sodium oleyl sulfate. Examples of the polyoxyethylene alkyl ether sulfate include sodium polyoxyethylene (EO12) nonyl ether sulfate and sodium polyoxyethylene (EO15) dodecyl ether sulfate. As polyoxyethylene alkyl phenyl ether sulfate, polyoxyethylene (E
O15) Nonyl phenyl ether sulfate and the like. Examples of the alkyl benzene sulfonate include sodium dodecyl benzene sulfonate. Examples of the (mono, di, tri) alkylnaphthalenesulfonate include sodium dibutylnaphthalenesulfonate.

【0030】上記両性界面活性剤としては、カルボキシ
ベタイン、イミダゾリンベタイン、スルホベタイン、ア
ミノカルボン酸などが挙げられる。また、エチレンオキ
シド及び/又はプロピレンオキシドとアルキルアミン又
はジアミンとの縮合生成物の硫酸化、或はスルホン酸化
付加物も使用できる。
Examples of the amphoteric surfactant include carboxybetaine, imidazoline betaine, sulfobetaine, aminocarboxylic acid and the like. Sulfation or sulfonated adducts of condensation products of ethylene oxide and / or propylene oxide with alkylamines or diamines can also be used.

【0031】代表的なカルボキシベタイン、或はイミダ
ゾリンベタインとしては、ラウリルジメチルアミノ酢酸
ベタイン、ミリスチルジメチルアミノ酢酸ベタイン、ス
テアリルジメチルアミノ酢酸ベタイン、ヤシ油脂肪酸ア
ミドプロピルジメチルアミノ酢酸ベタイン、2−ウンデ
シル−1−カルボキシメチル−1−ヒドロキシエチルイ
ミダゾリニウムベタイン、2−オクチル−1−カルボキ
シメチル−1−カルボキシエチルイミダゾリニウムベタ
インなどが挙げられ、硫酸化及びスルホン酸化付加物と
してはエトキシル化アルキルアミンの硫酸付加物、スル
ホン酸化ラウリル酸誘導体ナトリウム塩などが挙げられ
る。
Representative carboxybetaines or imidazoline betaines include betaine lauryldimethylaminoacetate, betaine myristyldimethylaminoacetate, betaine stearyldimethylaminoacetate, coconut fatty acid amidopropyldimethylaminoacetate betaine, 2-undecyl-1- Carboxymethyl-1-hydroxyethylimidazolinium betaine, 2-octyl-1-carboxymethyl-1-carboxyethylimidazolinium betaine, and the like. Examples of the sulfated and sulfonated adducts include sulfate addition of ethoxylated alkylamine. And sodium salts of sulfonated lauric acid derivatives.

【0032】上記スルホベタインとしては、ヤシ油脂肪
酸アミドプロピルジメチルアンモニウム−2−ヒドロキ
シプロパンスルホン酸、N−ココイルメチルタウリンナ
トリウム、N−パルミトイルメチルタウリンナトリウム
などが挙げられる。アミノカルボン酸としては、ジオク
チルアミノエチルグリシン、N−ラウリルアミノプロピ
オン酸、オクチルジ(アミノエチル)グリシンナトリウム
塩などが挙げられる。
Examples of the sulfobetaine include coconut fatty acid amidopropyldimethylammonium-2-hydroxypropanesulfonic acid, sodium N-cocoylmethyltaurine, sodium N-palmitoylmethyltaurine and the like. Examples of the aminocarboxylic acid include dioctylaminoethylglycine, N-laurylaminopropionic acid, octyldi (aminoethyl) glycine sodium salt, and the like.

【0033】他方、本発明のスズ−銅−X合金メッキ浴
(金属X=鉄、コバルト、ニッケル、ビスマス等)には、
上記界面活性剤の外に、目的に応じて公知の酸化防止
剤、光沢剤、半光沢剤、錯化剤、pH調整剤、緩衝剤な
どの各種添加剤を混合できることはいうまでもない。上
記酸化防止剤は浴中のスズの酸化防止を目的とし、その
具体例としては、アスコルビン酸又はその塩、ハイドロ
キノン、カテコール、レゾルシン、フロログルシン、ク
レゾールスルホン酸又はその塩、フェノールスルホン酸
又はその塩、ナフトールスルホン酸又はその塩などが挙
げられる。
On the other hand, the tin-copper-X alloy plating bath of the present invention
(Metal X = iron, cobalt, nickel, bismuth, etc.)
It goes without saying that various additives such as known antioxidants, brighteners, semi-brighteners, complexing agents, pH adjusters, and buffering agents can be mixed in addition to the above-mentioned surfactants according to the purpose. The antioxidant is intended to prevent the oxidation of tin in the bath, as specific examples thereof, ascorbic acid or a salt thereof, hydroquinone, catechol, resorcin, phloroglucin, cresolsulfonic acid or a salt thereof, phenolsulfonic acid or a salt thereof, And naphtholsulfonic acid or a salt thereof.

【0034】上記光沢剤としては、m−クロロベンズア
ルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、p−ヒドロキ
シベンズアルデヒド、1−ナフトアルデヒド、ベンジリ
デンアルデヒド、サリチルアルデヒド、パラアルデヒド
などの各種アルデヒド、バニリン、トリアジン、イミダ
ゾール、インドール、キノリン、2−ビニルピリジン、
アニリンなどが挙げられる。
Examples of the above brightener include various aldehydes such as m-chlorobenzaldehyde, p-nitrobenzaldehyde, p-hydroxybenzaldehyde, 1-naphthaldehyde, benzylidene aldehyde, salicylaldehyde and paraaldehyde, vanillin, triazine, imidazole, indole, Quinoline, 2-vinylpyridine,
Aniline and the like.

【0035】上記半光沢剤としては、チオ尿素類、N―
(3―ヒドロキシブチリデン)―p―スルファニル酸、N
―ブチリデンスルファニル酸、N―シンナモイリデンス
ルファニル酸、2,4―ジアミノ―6―(2′―メチルイ
ミダゾリル(1′))エチル―1,3,5―トリアジン、2,
4―ジアミノ―6―(2′―エチル―4―メチルイミダ
ゾリル(1′))エチル―1,3,5―トリアジン、2,4―
ジアミノ―6―(2′―ウンデシルイミダゾリル(1′))
エチル―1,3,5―トリアジン、サリチル酸フェニル、
或は、ベンゾチアゾール、2―メチルベンゾチアゾー
ル、2―(メチルメルカプト)ベンゾチアゾール、2―ア
ミノベンゾチアゾール、2―アミノ―6―メトキシベン
ゾチアゾール、2―メチル―5―クロロベンゾチアゾー
ル、2―ヒドロキシベンゾチアゾール、2―アミノ―6
―メチルベンゾチアゾール、2―クロロベンゾチアゾー
ル、2,5―ジメチルベンゾチアゾール、2―メルカプ
トベンゾチアゾール、6―ニトロ―2―メルカプトベン
ゾチアゾール、5―ヒドロキシ―2―メチルベンゾチア
ゾール、2―ベンゾチアゾールチオ酢酸等のベンゾチア
ゾール類などが挙げられる。
As the semi-brightening agent, thioureas, N-
(3-hydroxybutylidene) -p-sulfanilic acid, N
-Butylidene sulfanilic acid, N-cinnamoylidene sulfanilic acid, 2,4-diamino-6- (2′-methylimidazolyl (1 ′)) ethyl-1,3,5-triazine,
4-diamino-6- (2'-ethyl-4-methylimidazolyl (1 ')) ethyl-1,3,5-triazine, 2,4-
Diamino-6- (2'-undecylimidazolyl (1 '))
Ethyl-1,3,5-triazine, phenyl salicylate,
Or benzothiazole, 2-methylbenzothiazole, 2- (methylmercapto) benzothiazole, 2-aminobenzothiazole, 2-amino-6-methoxybenzothiazole, 2-methyl-5-chlorobenzothiazole, 2-hydroxy Benzothiazole, 2-amino-6
-Methylbenzothiazole, 2-chlorobenzothiazole, 2,5-dimethylbenzothiazole, 2-mercaptobenzothiazole, 6-nitro-2-mercaptobenzothiazole, 5-hydroxy-2-methylbenzothiazole, 2-benzothiazolethio Benzothiazoles such as acetic acid are exemplified.

【0036】上記錯化剤は主に銅、金属X(X=鉄、コ
バルト、ニッケル、ビスマス等)、或はスズの浴中への
溶解を安定促進するためのもので、具体的には、グルコ
ン酸、グルコヘプトン酸、エチレンジアミン、エチレン
ジアミン四酢酸(EDTA)、ジエチレントリアミン五酢
酸(DTPA)、ニトリロ三酢酸(NTA)、イミノジ酢酸
(IDA)、イミノジプロピオン酸(IDP)、ヒドロキシ
エチルエチレンジアミン三酢酸(HEDTA)、トリエチ
レンテトラミン六酢酸(TTHA)、シュウ酸、クエン
酸、酒石酸、ロッシェル塩、乳酸、リンゴ酸、マロン
酸、酢酸、或はこれらの塩、チオ尿素又はその誘導体な
どが挙げられる。上記pH調整剤としては、塩酸、硫酸
等の各種の酸、水酸化アンモニウム、水酸化ナトリウム
等の各種の塩基などが挙げられる。上記緩衝剤として
は、ホウ酸類、リン酸類、塩化アンモニウムなどが挙げ
られる。
The above-mentioned complexing agent is mainly for stably promoting the dissolution of copper, metal X (X = iron, cobalt, nickel, bismuth, etc.) or tin in a bath. Gluconic acid, glucoheptonic acid, ethylenediamine, ethylenediaminetetraacetic acid (EDTA), diethylenetriaminepentaacetic acid (DTPA), nitrilotriacetic acid (NTA), iminodiacetic acid
(IDA), iminodipropionic acid (IDP), hydroxyethylethylenediaminetriacetic acid (HEDTA), triethylenetetramine hexaacetic acid (TTHA), oxalic acid, citric acid, tartaric acid, Rochelle salt, lactic acid, malic acid, malonic acid, acetic acid Or salts thereof, thiourea or derivatives thereof. Examples of the pH adjuster include various acids such as hydrochloric acid and sulfuric acid, and various bases such as ammonium hydroxide and sodium hydroxide. Examples of the buffer include boric acids, phosphoric acids, and ammonium chloride.

【0037】本発明のスズ−銅系の3元合金メッキ浴に
おける上記各種添加剤の含有濃度は、バレルメッキ、ラ
ックメッキ、高速連続メッキ、ラックレスメッキなどに
対応して任意に調整・選択できる。
The content of the various additives in the tin-copper ternary alloy plating bath of the present invention can be arbitrarily adjusted and selected according to barrel plating, rack plating, high-speed continuous plating, rackless plating, and the like. .

【0038】本発明のスズ−銅系の3元合金メッキ浴を
用いて電気メッキを行う場合、浴温は0℃以上、好まし
くは10〜50℃程度である。陰極電流密度は0.01
〜150A/dm2、好ましくは0.1〜30A/dm2
程度である。また、浴のpHも酸性からほぼ中性までの
領域に適用できるが、特に、弱酸性〜強酸性の範囲が好
ましい。
When electroplating is performed using the tin-copper ternary alloy plating bath of the present invention, the bath temperature is 0 ° C. or higher, preferably about 10 to 50 ° C. Cathode current density is 0.01
To 150 A / dm 2 , preferably 0.1 to 30 A / dm 2
It is about. Further, the pH of the bath can be applied to a range from acidic to almost neutral, but a range from weakly acidic to strongly acidic is particularly preferable.

【0039】本発明6は、上記本発明1〜5のメッキ浴
を用いて、スズ−銅−X合金メッキ皮膜(金属X=鉄、
コバルト、ニッケル、ビスマス等)を素地上に形成した
電子部品であり、その具体例としては、半導体デバイ
ス、抵抗、可変抵抗、コンデンサ、フィルタ、インダク
タ、サーミスタ、水晶振動子などのチップ部品、コネク
タ、スイッチなどの機構部品、或はフープ材、線材(例
えば、リード線)などが挙げられる。
The present invention 6 provides a tin-copper-X alloy plating film (metal X = iron,
(Cobalt, nickel, bismuth, etc.) formed on a substrate, such as semiconductor devices, resistors, variable resistors, capacitors, filters, inductors, thermistors, crystal oscillators and other chip components, connectors, A mechanical component such as a switch, a hoop material, a wire (for example, a lead wire), and the like are included.

【0040】[0040]

【作用】スズ−銅−X合金メッキ浴(金属X=鉄、コバ
ルト、ニッケル、ビスマス等)においては、界面活性剤
が存在しない場合、銅或は金属Xの分極が小さいため、
メッキ浴に電流密度を負荷するとこれらの金属がスズよ
り優先析出してしまい、スズ−銅−Xの3元合金の形成
は容易でない。これに対して、スズ−銅−X合金メッキ
浴に界面活性剤を含有すると、銅及び金属Xの分極曲線
が変化し、標準電極電位の貴な銅及び金属Xの分極が大
きくなってスズに近付くため、スズが高い組成比で銅及
び金属Xと確実に共析化すると推定できる。
In a tin-copper-X alloy plating bath (metal X = iron, cobalt, nickel, bismuth, etc.), when no surfactant is present, the polarization of copper or metal X is small.
When a current density is applied to the plating bath, these metals preferentially precipitate over tin, and it is not easy to form a ternary alloy of tin-copper-X. On the other hand, when a surfactant is contained in the tin-copper-X alloy plating bath, the polarization curve of copper and metal X changes, and the polarization of noble copper and metal X at the standard electrode potential increases, resulting in tin. Since it approaches, it can be estimated that tin is eutectoid with copper and metal X reliably at a high composition ratio.

【0041】[0041]

【発明の効果】(1)後述の試験例に示すように、界面活
性剤がないメッキ浴では、銅だけが優先析出したり、或
は、銅と金属X(金属X=鉄、コバルト、ニッケル、ビ
スマス等)が優先析出するため、その析出物は、銅の組
成比、或は銅及び金属Xの組成比がきわめて大きくてハ
ンダ付け性に劣るうえ、実用レベルの外観、緻密性を具
備することができない。これに対して、本発明では、ス
ズ−銅−X合金メッキ浴に界面活性剤を含有するため、
スズが銅及び金属Xと円滑に共析化し、実用レベルのス
ズ−銅−Xの3元合金メッキ皮膜が良好に形成できる。
また、本発明のスズ−銅系合金メッキ皮膜は、人体や環
境に悪影響が少ない鉛フリーのハンダ皮膜である点で、
高い実用性を備えている。
(1) As shown in the test examples described below, in a plating bath having no surfactant, only copper is preferentially precipitated, or copper and metal X (metal X = iron, cobalt, nickel , Bismuth, etc.), the precipitate has a very large composition ratio of copper, or a composition ratio of copper and metal X, and is inferior in solderability, and has a practical level of appearance and denseness. Can not do. On the other hand, in the present invention, since the tin-copper-X alloy plating bath contains a surfactant,
Tin can be eutectoidized smoothly with copper and metal X, and a ternary alloy plating film of tin-copper-X at a practical level can be favorably formed.
In addition, the tin-copper-based alloy plating film of the present invention is a lead-free solder film having little adverse effect on the human body and the environment.
It has high practicality.

【0042】(2)本発明では、スズ−銅系の3元合金メ
ッキ浴として、スズ−銅−鉄合金、スズ−銅−コバルト
合金、スズ−銅−ニッケル合金、スズ−銅−ビスマス合
金などの特定の3元合金メッキ浴に限定するため、得ら
れる合金メッキ皮膜に関して、ハンダ付け性に優れ、ホ
イスカーや折り曲げ加工時のクラックの発生を有効に防
止できるうえ、スズ−銀合金メッキ皮膜などに比べてコ
ストも低減できる。
(2) In the present invention, tin-copper-based ternary alloy plating baths include tin-copper-iron alloy, tin-copper-cobalt alloy, tin-copper-nickel alloy, tin-copper-bismuth alloy, etc. In order to limit to the specific ternary alloy plating bath, the resulting alloy plating film is excellent in solderability, can effectively prevent the occurrence of cracks during whisker and bending work, and can be used for tin-silver alloy plating film etc. The cost can also be reduced.

【0043】(3)本発明3では、スズ−銅−X(金属X=
鉄、コバルト、ニッケル、ビスマス等)の3元合金メッ
キ浴において、可溶性第一スズ塩、可溶性銅塩、可溶性
のX金属塩との関係を、可溶性銅塩/可溶性第一スズ塩
=0.001〜0.25で、且つ、可溶性X金属塩/可溶
性第一スズ塩=0.0001〜0.1である重量比に限定
するため(後述の試験例参照)、皮膜外観やハンダ付け性
の向上、或は、ホイスカーや折り曲げ加工時のクラック
の発生防止の点で、一層顕著な効果が期待できる。
(3) In the present invention 3, tin-copper-X (metal X =
In a ternary alloy plating bath of iron, cobalt, nickel, bismuth, etc., the relationship between soluble stannous salt, soluble copper salt, and soluble X metal salt is expressed as: soluble copper salt / soluble stannous salt = 0.001. To 0.25 and the weight ratio of soluble X metal salt / soluble stannous salt = 0.0001 to 0.1 (see Test Examples below), so that the appearance of the coating and the solderability are improved. Alternatively, a more remarkable effect can be expected in preventing the occurrence of cracks during whisker or bending.

【0044】(4)本発明2では、界面活性剤としてノニ
オン系界面活性剤を選択するため(後述の試験例参照)、
析出する電着皮膜の外観、緻密性をより有効に向上でき
る。
(4) In the present invention 2, since a nonionic surfactant is selected as the surfactant (see the test example described later),
The appearance and denseness of the deposited electrodeposition film can be more effectively improved.

【0045】[0045]

【実施例】以下、スズ−銅系の3元合金メッキ浴の実施
例を順次述べるととともに、当該メッキ浴から得られた
電着皮膜の外観、折り曲げ時のクラック発生度合、ホイ
スカー発生度合、並びにハンダ付け性などの各種試験例
を説明する。尚、本発明は下記の実施例、試験例などに
拘束されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内
で任意の変形をなし得ることは勿論である。
EXAMPLES Examples of tin-copper ternary alloy plating baths will be described below in order, as well as the appearance of the electrodeposited film obtained from the plating bath, the degree of occurrence of cracks during bending, the degree of occurrence of whiskers, and Various test examples such as solderability will be described. It should be noted that the present invention is not limited to the following examples and test examples, and it is needless to say that any modifications can be made within the technical idea of the present invention.

【0046】下記の実施例並びに比較例のスズ−銅系合
金メッキ浴において、実施例1〜9及び比較例1〜3は
スズ−銅−ビスマス合金メッキ浴の例であり、このう
ち、実施例1〜7は、浴中の可溶性金属塩の重量比にお
いて、Cu2+/Sn2+が1/4以下で、且つ、Bi3+
Sn2+が0.1以下の例であり、また、基本的に界面活
性剤の種類を様々に変化させたものである。具体的に
は、実施例1及び実施例3〜4はノニオン系界面活性剤
を用いた例、実施例2はアニオン系界面活性剤の例、実
施例6〜7は両性界面活性剤の例、実施例5はノニオン
系界面活性剤とカチオン系界面活性剤を併用した例であ
る。また、浴中の可溶性金属塩の重量比において、実施
例8はCu2+/Sn2+が1/4を越える例、実施例9は
Bi3+/Sn2+が0.1を越える例である。これに対し
て、比較例1は実施例1を基本とした界面活性剤のブラ
ンク例、比較例2は実施例3を基本とした界面活性剤の
ブランク例、比較例3は実施例4を基本とした界面活性
剤(及び酸化防止剤)のブランク例である。尚、実施例4
〜7は酸化防止剤を添加した例であり、実施例6は弱酸
性浴の例である。
In the tin-copper alloy plating baths of the following Examples and Comparative Examples, Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 3 are examples of tin-copper-bismuth alloy plating baths. Nos. 1 to 7 indicate that Cu 2+ / Sn 2+ is 1/4 or less and Bi 3+ /
This is an example in which Sn 2+ is 0.1 or less, and basically, the type of the surfactant is variously changed. Specifically, Examples 1 and 3 and 4 are examples using a nonionic surfactant, Example 2 is an example of an anionic surfactant, Examples 6 and 7 are examples of an amphoteric surfactant, Example 5 is an example in which a nonionic surfactant and a cationic surfactant are used in combination. Further, in the weight ratio of the soluble metal salt in the bath, Example 8 is an example where Cu 2+ / Sn 2+ exceeds 1/4, and Example 9 is an example where Bi 3+ / Sn 2+ exceeds 0.1. It is. In contrast, Comparative Example 1 was a blank example of a surfactant based on Example 1, Comparative Example 2 was a blank example of a surfactant based on Example 3, and Comparative Example 3 was based on Example 4. 1 is a blank example of a surfactant (and an antioxidant). Example 4
Examples 7 to 7 are examples in which an antioxidant is added, and Example 6 is an example of a weakly acidic bath.

【0047】実施例10〜14はスズ−銅−鉄合金メッ
キ浴の例であり、このうち、実施例10〜12は、浴中
の可溶性金属塩の重量比において、Cu2+/Sn2+が1
/4以下で、且つ、Fe2+/Sn2+が0.1以下の例で
ある。実施例13はCu2+/Sn2+が1/4を越える
例、実施例14はFe2+/Sn2+が0.1を越える例で
ある。これに対して、比較例4は実施例10を基準とし
たスズ−銅−鉄合金メッキ浴中に界面活性剤を含有しな
いブランク例である。
Examples 10 to 14 are examples of tin-copper-iron alloy plating baths. Among them, Examples 10 to 12 are Cu 2+ / Sn 2+ in terms of the weight ratio of soluble metal salt in the bath. Is 1
/ 4 or less and Fe 2+ / Sn 2+ is 0.1 or less. Example 13 is an example where Cu 2+ / Sn 2+ exceeds 1/4, and Example 14 is an example where Fe 2+ / Sn 2+ exceeds 0.1. On the other hand, Comparative Example 4 is a blank example containing no surfactant in the tin-copper-iron alloy plating bath based on Example 10.

【0048】実施例15〜19はスズ−銅−ニッケル合
金メッキ浴の例であり、このうち、実施例15〜17
は、浴中の可溶性金属塩の重量比において、Cu2+/S
2+が1/4以下で、且つ、Ni2+/Sn2+が0.1以
下の例である。実施例18はCu2+/Sn2+が1/4を
越える例、実施例19はNi2+/Sn2+が0.1を越え
る例である。これに対して、比較例5は実施例15を基
準としたスズ−銅−ニッケル合金メッキ浴中に界面活性
剤を含有しないブランク例である。
Examples 15 to 19 are examples of tin-copper-nickel alloy plating baths.
Is based on the weight ratio of soluble metal salts in the bath, Cu 2+ / S
This is an example in which n 2+ is 1/4 or less and Ni 2+ / Sn 2+ is 0.1 or less. Example 18 is an example where Cu 2+ / Sn 2+ exceeds 1/4, and Example 19 is an example where Ni 2+ / Sn 2+ exceeds 0.1. On the other hand, Comparative Example 5 is a blank example containing no surfactant in the tin-copper-nickel alloy plating bath based on Example 15.

【0049】実施例20〜24はスズ−銅−コバルト合
金メッキ浴の例であり、このうち、実施例20〜22
は、浴中の可溶性金属塩の重量比において、Cu2+/S
2+が1/4以下で、且つ、Co3+/Sn2+が0.1以
下の例である。また、実施例23はCu2+/Sn2+が1
/4を越える例、実施例24はCo3+/Sn2+が0.1
を越える例である。これに対して、比較例6は実施例2
0を基準としたスズ−銅−コバルト合金メッキ浴中に界
面活性剤を含有しないブランク例である。
Examples 20 to 24 are examples of tin-copper-cobalt alloy plating baths.
Is based on the weight ratio of soluble metal salts in the bath, Cu 2+ / S
This is an example in which n 2+ is 1/4 or less and Co 3+ / Sn 2+ is 0.1 or less. In Example 23, Cu 2+ / Sn 2+ was 1
In Example 24, the ratio of Co 3+ / Sn 2+ was 0.1.
It is an example that exceeds. On the other hand, Comparative Example 6 is the same as Example 2
This is an example of a blank containing no surfactant in a tin-copper-cobalt alloy plating bath based on 0.

【0050】実施例25〜26はスズ−銅−アンチモン
合金メッキ浴の例であり、いずれも、浴中の可溶性金属
塩の重量比において、Cu2+/Sn2+が1/4以下で、
且つ、Sb3+/Sn2+が0.1以下の例である。また、
比較例7は実施例25を基準としたスズ−銅−アンチモ
ン合金メッキ浴中に界面活性剤を含有しないブランク例
である。実施例27はスズ−銅−チタン合金メッキ浴の
例であり、浴中の可溶性金属塩の重量比において、Cu
2+/Sn2+が1/4以下で、且つ、Ti3+/Sn2+
0.1以下の例である。また、比較例8は実施例27を
基準としたスズ−銅−チタン合金メッキ浴中に界面活性
剤を含有しないブランク例である。実施例28はスズ−
銅−ジルコニウム合金メッキ浴の例であり、浴中の可溶
性金属塩の重量比において、Cu2+/Sn2+が1/4以
下で、且つ、Zr2+/Sn 2+が0.1以下である例であ
る。また、比較例9は実施例28を基準としたスズ−銅
−ジルコニウム合金メッキ浴中に界面活性剤を含有しな
いブランク例である。
Examples 25 and 26 were tin-copper-antimony
These are examples of alloy plating baths, all of which are soluble metals in the bath.
In terms of salt weight ratio, Cu2+/ Sn2+Is less than 1/4,
And Sb3+/ Sn2+Are examples of 0.1 or less. Also,
Comparative Example 7 is tin-copper-antimony based on Example 25.
Example of a blank containing no surfactant in the alloy plating bath
It is. Example 27 is a tin-copper-titanium alloy plating bath.
By way of example, in the weight ratio of soluble metal salts in the bath, Cu
2+/ Sn2+Is less than 1/4 and Ti3+/ Sn2+But
This is an example of 0.1 or less. Comparative Example 8 is similar to Example 27.
Surface activity in standard tin-copper-titanium alloy plating bath
This is a blank example containing no agent. Example 28 is tin-
This is an example of a copper-zirconium alloy plating bath.
In terms of the weight ratio of the reactive metal salt, Cu2+/ Sn2+Is 1/4 or more
Below and Zr2+/ Sn 2+Is less than 0.1
You. Comparative Example 9 is tin-copper based on Example 28.
-Do not include surfactants in the zirconium alloy plating bath.
This is a blank example.

【0051】(A)スズ−銅−ビスマス合金メッキ浴の実
施例1〜9並びに比較例1〜3を示す(図1参照)。 《実施例1》下記の組成でスズ−銅−ビスマス合金メッ
キ浴を建浴した。 硫酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L 硫酸銅(Cu2+として) 1g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 2g/L 硫酸 100g/L トリスチレン化フェノールポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO3) 5g/L
(A) Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 3 of a tin-copper-bismuth alloy plating bath are shown (see FIG. 1). << Example 1 >> A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous sulfate (as Sn 2+ ) 20 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 1 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 2 g / L Sulfuric acid 100 g / L Tristyrenated phenol polyethoxylate (EO15) − Polypropoxylate (PO3) 5g / L

【0052】《実施例2》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 硫酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L 硫酸銅(Cu2+として) 1g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 2g/L 硫酸 100g/L ジブチルナフタレンスルホン酸ナトリウム 2g/L
Example 2 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous sulfate (as Sn 2+ ) 20 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 1 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 2 g / L Sulfuric acid 100 g / L Sodium dibutylnaphthalene sulfonate 2 g / L

【0053】《実施例3》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 2g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 4g/L メタンスルホン酸 100g/L ラウリルアルコールポリエトキシレート(EO15) 10g/L
Example 3 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 2 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 4 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Lauryl alcohol polyethoxylate (EO15 ) 10g / L

【0054】《実施例4》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L メタンスルホン酸銅(Cu2+として) 2g/L メタンスルホン酸ビスマス(Bi3+として) 4g/L メタンスルホン酸 150g/L α−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 10g/L カテコール 1g/L
Example 4 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper methanesulfonate (as Cu 2+ ) 2 g / L Bismuth methanesulfonate (as Bi 3+ ) 4 g / L Methanesulfonic acid 150 g / L α-naphthol Polyethoxylate (EO10) 10g / L Catechol 1g / L

【0055】《実施例5》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 フェノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L 塩化銅(Cu2+として) 4g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 8g/L フェノールスルホン酸 150g/L ノニルフェノールポリエトキシレート(EO13) 15g/L セチルジメチルベンジルアンモニウムクロリド 1g/L 没食子酸 1.2g/L
Example 5 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous phenolsulfonate (as Sn 2+ ) 50 g / L Copper chloride (as Cu 2+ ) 4 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 8 g / L Phenolsulfonic acid 150 g / L Nonylphenol polyethoxylate (EO13) 15g / L Cetyldimethylbenzylammonium chloride 1g / L Gallic acid 1.2g / L

【0056】《実施例6》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L メタンスルホン酸銅(Cu2+として) 2g/L メタンスルホン酸ビスマス(Bi3+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L グルコン酸ナトリウム 200g/L ニトリロ三酢酸 20g/L 2−ウンデシル−1−カルボキシメチル −1−ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン 2g/L アスコルビン酸 2g/L pH=5 (アンモニア水で調整)
Example 6 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 20 g / L Copper methanesulfonate (as Cu 2+ ) 2 g / L Bismuth methanesulfonate (as Bi 3+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Sodium gluconate 200 g / L nitrilotriacetic acid 20 g / L 2-undecyl-1-carboxymethyl-1-hydroxyethylimidazolinium betaine 2 g / L ascorbic acid 2 g / L pH = 5 (adjusted with aqueous ammonia)

【0057】《実施例7》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 硫酸第一スズ(Sn2+として) 15g/L 硫酸銅(Cu2+として) 1g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 1g/L クエン酸 200g/L ラウリルジメチルアミノ酢酸ベタイン 2g/L 没食子酸 1g/L pH=3 (水酸化ナトリウムで調整)
Example 7 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous sulfate (as Sn 2+ ) 15 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 1 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 1 g / L Citric acid 200 g / L Lauryl dimethylaminoacetate betaine 2 g / L Gallic acid 1g / L pH = 3 (adjusted with sodium hydroxide)

【0058】《実施例8》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 15g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 4g/L メタンスルホン酸 100g/L ラウリルアルコールポリエトキシレート(EO15) 10g/L
Example 8 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 15 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 4 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Lauryl alcohol polyethoxylate (EO15 ) 10g / L

【0059】《実施例9》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 2g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 10g/L メタンスルホン酸 100g/L ラウリルアルコールポリエトキシレート(EO15) 10g/L
Example 9 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 2 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 10 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Lauryl alcohol polyethoxylate (EO15 ) 10g / L

【0060】《比較例1》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 硫酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L 硫酸銅(Cu2+として) 1g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 2g/L 硫酸 100g/L
Comparative Example 1 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous sulfate (as Sn 2+ ) 20 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 1 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 2 g / L Sulfuric acid 100 g / L

【0061】《比較例2》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 2g/L 硫酸ビスマス(Bi3+として) 4g/L メタンスルホン酸 100g/L
Comparative Example 2 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 2 g / L Bismuth sulfate (as Bi 3+ ) 4 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L

【0062】《比較例3》下記の組成でスズ−銅−ビス
マス合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L メタンスルホン酸銅(Cu2+として) 2g/L メタンスルホン酸ビスマス(Bi3+として) 4g/L メタンスルホン酸 150g/L
Comparative Example 3 A tin-copper-bismuth alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper methanesulfonate (as Cu 2+ ) 2 g / L Bismuth methanesulfonate (as Bi 3+ ) 4 g / L Methanesulfonic acid 150 g / L

【0063】(B)スズ−銅−鉄合金メッキ浴の実施例1
0〜14及び比較例4を示す(図2A参照)。 《実施例10》下記の組成でスズ−銅−鉄合金メッキ浴
を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 7g/L 硫酸第一鉄(Fe2+として) 0.5g/L メタンスルホン酸 100g/L トリスチレン化フェノールポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO3) 10g/L
(B) Example 1 of tin-copper-iron alloy plating bath
0 to 14 and Comparative Example 4 are shown (see FIG. 2A). Example 10 A tin-copper-iron alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 7 g / L Ferrous sulfate (as Fe 2+ ) 0.5 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Tristyrenation Phenol polyethoxylate (EO15)-polypropoxylate (PO3) 10 g / L

【0064】《実施例11》下記の組成でスズ−銅−鉄
合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 7g/L 硫酸第一鉄(Fe2+として) 3g/L メタンスルホン酸 100g/L トリスチレン化フェノールポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO3) 10g/L
Example 11 A tin-copper-iron alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 7 g / L Ferrous sulfate (as Fe 2+ ) 3 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Tristyrenated phenol poly Ethoxylate (EO15)-Polypropoxylate (PO3) 10g / L

【0065】《実施例12》下記の組成でスズ−銅−鉄
合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 1g/L 硫酸第一鉄(Fe2+として) 0.5g/L メタンスルホン酸 100g/L トリスチレン化フェノールポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO3) 10g/L
Example 12 A tin-copper-iron alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 1 g / L Ferrous sulfate (as Fe 2+ ) 0.5 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Tristyrenation Phenol polyethoxylate (EO15)-polypropoxylate (PO3) 10 g / L

【0066】《実施例13》下記の組成でスズ−銅−鉄
合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 20g/L 硫酸第一鉄(Fe2+として) 0.5g/L メタンスルホン酸 100g/L トリスチレン化フェノールポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO3) 10g/L
Example 13 A tin-copper-iron alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 20 g / L Ferrous sulfate (as Fe 2+ ) 0.5 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Tristyrenation Phenol polyethoxylate (EO15)-polypropoxylate (PO3) 10 g / L

【0067】《実施例14》下記の組成でスズ−銅−鉄
合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 7g/L 硫酸第一鉄(Fe2+として) 6g/L メタンスルホン酸 100g/L トリスチレン化フェノールポリエトキシレート(EO15) −ポリプロポキシレート(PO3) 10g/L
Example 14 A tin-copper-iron alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 7 g / L Ferrous sulfate (as Fe 2+ ) 6 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Tristyrenated phenol poly Ethoxylate (EO15)-Polypropoxylate (PO3) 10g / L

【0068】《比較例4》下記の組成でスズ−銅−鉄合
金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 7g/L 硫酸第一鉄(Fe2+として) 0.5g/L メタンスルホン酸 100g/L
Comparative Example 4 A tin-copper-iron alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 7 g / L Ferrous sulfate (as Fe 2+ ) 0.5 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L

【0069】(C)スズ−銅−ニッケル合金メッキ浴の実
施例15〜19並びに比較例5を示す(図2B参照)。
《実施例15》下記の組成でスズ−銅−ニッケル合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 3g/L 硫酸ニッケル(Ni2+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
(C) Examples 15 to 19 of the tin-copper-nickel alloy plating bath and Comparative Example 5 are shown (see FIG. 2B).
Example 15 A tin-copper-nickel alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 3 g / L Nickel sulfate (as Ni 2+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0070】《実施例16》下記の組成でスズ−銅−ニ
ッケル合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 9g/L 硫酸ニッケル(Ni2+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
Example 16 A tin-copper-nickel alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 9 g / L Nickel sulfate (as Ni 2+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0071】《実施例17》下記の組成でスズ−銅−ニ
ッケル合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 3g/L 硫酸ニッケル(Ni2+として) 4g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
Example 17 A tin-copper-nickel alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 3 g / L Nickel sulfate (as Ni 2+ ) 4 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0072】《実施例18》下記の組成でスズ−銅−ニ
ッケル合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 25g/L 硫酸ニッケル(Ni2+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
Example 18 A tin-copper-nickel alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 25 g / L Nickel sulfate (as Ni 2+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0073】《実施例19》下記の組成でスズ−銅−ニ
ッケル合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 3g/L 硫酸ニッケル(Ni2+として) 7g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
Example 19 A tin-copper-nickel alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 3 g / L Nickel sulfate (as Ni 2+ ) 7 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0074】《比較例5》下記の組成でスズ−銅−ニッ
ケル合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 3g/L 硫酸ニッケル(Ni2+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L
Comparative Example 5 A tin-copper-nickel alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 3 g / L Nickel sulfate (as Ni 2+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L

【0075】(D)スズ−銅−コバルト合金メッキ浴の実
施例20〜24並びに比較例6を示す(図3A参照)。 《実施例20》下記の組成でスズ−銅−コバルト合金メ
ッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 3g/L 硫酸コバルト(Co3+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
(D) Examples 20 to 24 of the tin-copper-cobalt alloy plating bath and Comparative Example 6 are shown (see FIG. 3A). Example 20 A tin-copper-cobalt alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 3 g / L Cobalt sulfate (as Co 3+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0076】《実施例21》下記の組成でスズ−銅−コ
バルト合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 9g/L 硫酸コバルト(Co3+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
Example 21 A tin-copper-cobalt alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 9 g / L Cobalt sulfate (as Co 3+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0077】《実施例22》下記の組成でスズ−銅−コ
バルト合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 3g/L 硫酸コバルト(Co3+として) 4g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
Example 22 A tin-copper-cobalt alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 3 g / L Cobalt sulfate (as Co 3+ ) 4 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0078】《実施例23》下記の組成でスズ−銅−コ
バルト合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 25g/L 硫酸コバルト(Co3+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
Example 23 A tin-copper-cobalt alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 25 g / L Cobalt sulfate (as Co 3+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0079】《実施例24》下記の組成でスズ−銅−コ
バルト合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 3g/L 硫酸コバルト(Co3+として) 7g/L メタンスルホン酸 100g/L β−ナフトールポリエトキシレート(EO10) 8g/L
Example 24 A tin-copper-cobalt alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 3 g / L Cobalt sulfate (as Co 3+ ) 7 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L β-naphthol polyethoxylate ( EO10) 8g / L

【0080】《比較例6》下記の組成でスズ−銅−コバ
ルト合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 40g/L 硫酸銅(Cu2+として) 3g/L 硫酸コバルト(Co3+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L
Comparative Example 6 A tin-copper-cobalt alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 40 g / L Copper sulfate (as Cu 2+ ) 3 g / L Cobalt sulfate (as Co 3+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L

【0081】(E)スズ−銅−アンチモン合金メッキ浴の
実施例25〜26並びに比較例7を示す(図3B参照)。 《実施例25》下記の組成でスズ−銅−アンチモン合金
メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L メタンスルホン酸銅(Cu2+として) 2g/L 塩化アンチモン(Sb3+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L グルコン酸ナトリウム 200g/L ニトリロ三酢酸 20g/L 2−ウンデシル−1−カルボキシメチル −1−ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン 2g/L アスコルビン酸 2g/L pH=5 (アンモニア水で調整)
(E) Examples 25 to 26 of the tin-copper-antimony alloy plating bath and Comparative Example 7 are shown (see FIG. 3B). Example 25 A tin-copper-antimony alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 20 g / L Copper methanesulfonate (as Cu 2+ ) 2 g / L Antimony chloride (as Sb 3+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Sodium gluconate 200 g / L L Nitrilotriacetic acid 20 g / L 2-undecyl-1-carboxymethyl-1-hydroxyethylimidazolinium betaine 2 g / L Ascorbic acid 2 g / L pH = 5 (adjusted with aqueous ammonia)

【0082】《実施例26》下記の組成でスズ−銅−ア
ンチモン合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L メタンスルホン酸銅(Cu2+として) 2g/L 塩化アンチモン(Sb3+として) 0.5g/L メタンスルホン酸 100g/L グルコン酸ナトリウム 200g/L ニトリロ三酢酸 20g/L 2−ウンデシル−1−カルボキシメチル −1−ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン 2g/L アスコルビン酸 2g/L pH=5 (アンモニア水で調整)
Example 26 A tin-copper-antimony alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 20 g / L Copper methanesulfonate (as Cu 2+ ) 2 g / L Antimony chloride (as Sb 3+ ) 0.5 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Sodium gluconate 200 g / L nitrilotriacetic acid 20 g / L 2-undecyl-1-carboxymethyl-1-hydroxyethylimidazolinium betaine 2 g / L ascorbic acid 2 g / L pH = 5 (adjusted with aqueous ammonia)

【0083】《比較例7》下記の組成でスズ−銅−アン
チモン合金メッキ浴を建浴した。 メタンスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 20g/L メタンスルホン酸銅(Cu2+として) 2g/L 塩化アンチモン(Sb3+として) 1g/L メタンスルホン酸 100g/L グルコン酸ナトリウム 200g/L ニトリロ三酢酸 20g/L アスコルビン酸 2g/L pH=5 (アンモニア水で調整)
Comparative Example 7 A tin-copper-antimony alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous methanesulfonate (as Sn 2+ ) 20 g / L Copper methanesulfonate (as Cu 2+ ) 2 g / L Antimony chloride (as Sb 3+ ) 1 g / L Methanesulfonic acid 100 g / L Sodium gluconate 200 g / L L Nitrilotriacetic acid 20 g / L Ascorbic acid 2 g / L pH = 5 (adjusted with aqueous ammonia)

【0084】(F)スズ−銅−チタン合金メッキ浴の実施
例27及び比較例8を示す(図4A参照)。 《実施例27》下記の組成でスズ−銅−チタン合金メッ
キ浴を建浴した。 フェノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L 塩化銅(Cu2+として) 4g/L 塩化チタン(Ti3+として) 3g/L フェノールスルホン酸 150g/L ノニルフェノールポリエトキシレート(EO13) 15g/L セチルジメチルベンジルアンモニウムクロリド 1g/L 没食子酸 1.2g/L
(F) Example 27 and Comparative Example 8 of the tin-copper-titanium alloy plating bath are shown (see FIG. 4A). << Example 27 >> A tin-copper-titanium alloy plating bath was constructed with the following composition. Stannous phenolsulfonate (as Sn 2+ ) 50 g / L Copper chloride (as Cu 2+ ) 4 g / L Titanium chloride (as Ti 3+ ) 3 g / L Phenolsulfonic acid 150 g / L Nonylphenol polyethoxylate (EO13) 15g / L Cetyldimethylbenzylammonium chloride 1g / L Gallic acid 1.2g / L

【0085】《比較例8》下記の組成でスズ−銅−チタ
ン合金メッキ浴を建浴した。 フェノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L 塩化銅(Cu2+として) 4g/L 塩化チタン(Ti3+として) 3g/L フェノールスルホン酸 150g/L 没食子酸 1.2g/L
Comparative Example 8 A tin-copper-titanium alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous phenolsulfonate (as Sn 2+ ) 50 g / L Copper chloride (as Cu 2+ ) 4 g / L Titanium chloride (as Ti 3+ ) 3 g / L Phenolsulfonic acid 150 g / L Gallic acid 1.2 g / L

【0086】(G)スズ−銅−ジルコニウム合金メッキ浴
の実施例28及び比較例9を示す(図4B参照)。 《実施例28》下記の組成でスズ−銅−ジルコニウム合
金メッキ浴を建浴した。 フェノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L 塩化銅(Cu2+として) 4g/L 塩化ジルコニウム(Zr2+として) 3g/L フェノールスルホン酸 150g/L ノニルフェノールポリエトキシレート(EO13) 15g/L セチルジメチルベンジルアンモニウムクロリド 1g/L 没食子酸 1.2g/L
(G) Example 28 and Comparative Example 9 of a tin-copper-zirconium alloy plating bath are shown (see FIG. 4B). Example 28 A tin-copper-zirconium alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous phenolsulfonate (as Sn 2+ ) 50 g / L Copper chloride (as Cu 2+ ) 4 g / L Zirconium chloride (as Zr 2+ ) 3 g / L Phenolsulfonic acid 150 g / L Nonylphenol polyethoxylate (EO13) 15g / L Cetyldimethylbenzylammonium chloride 1g / L Gallic acid 1.2g / L

【0087】《比較例9》下記の組成でスズ−銅−ジル
コニウム合金メッキ浴を建浴した。 フェノールスルホン酸第一スズ(Sn2+として) 50g/L 塩化銅(Cu2+として) 4g/L 塩化ジルコニウム(Zr2+として) 3g/L フェノールスルホン酸 150g/L 没食子酸 1.2g/L
Comparative Example 9 A tin-copper-zirconium alloy plating bath having the following composition was prepared. Stannous phenolsulfonate (as Sn 2+ ) 50 g / L Copper chloride (as Cu 2+ ) 4 g / L Zirconium chloride (as Zr 2+ ) 3 g / L Phenolsulfonic acid 150 g / L Gallic acid 1.2 g / L

【0088】《メッキ皮膜の膜厚、組成及び外観の測定
試験例》そこで、上記実施例1〜28並びに比較例1〜
9の各スズ−銅−X(X=ビスマス、鉄、ニッケル、コ
バルト、アンチモン、チタン、ジルコニウム;以下の試
験例も同様)の3元合金メッキ浴を用いて、42合金製
の板(25×25mm)上に図1の左寄り欄に示す陰極電
流密度(A/dm2)、メッキ時間(分)、及び浴温(℃)の
条件下で電気メッキを行い、得られた皮膜を蛍光X線膜
厚計(セイコー電子工業社製;SFT3300S)を用い
て膜厚測定するとともに、皮膜外観を目視観察した。ま
た、逆王水によりメッキ皮膜を70℃で溶解して、当該
皮膜組成を原子吸光光度法により測定した。上記外観試
験の評価基準は次の通りである。 ◎:白色の均一外観であった。 ○:灰色の均一外観であった。 △:色調にムラがあった。 ×:黒色外観を呈し、或は、粉末状又はデンドライト状
で析出した。
<< Measurement Test Example of Film Thickness, Composition and Appearance of Plating Film >> Then, Examples 1 to 28 and Comparative Examples 1 to
Using a ternary alloy plating bath of each tin-copper-X (X = bismuth, iron, nickel, cobalt, antimony, titanium, and zirconium; the same applies to the following test examples), a 42 alloy plate (25 × 25 mm), electroplating was performed under the conditions of the cathode current density (A / dm 2 ), plating time (min), and bath temperature (° C.) shown in the left column of FIG. The film thickness was measured using a film thickness meter (manufactured by Seiko Denshi Kogyo; SFT3300S), and the appearance of the film was visually observed. Further, the plating film was dissolved at 70 ° C. with reverse aqua regia, and the composition of the film was measured by an atomic absorption spectrophotometry. The evaluation criteria for the appearance test are as follows. A: White uniform appearance. :: Gray uniform appearance. Δ: Color tone was uneven. ×: A black appearance was observed, or a powder or dendrite was precipitated.

【0089】図1〜図4の中央欄はその結果を示す。各
スズ−銅−X合金メッキ浴の試験結果を浴の種類ごとに
観察した場合、可溶性金属塩の重量比において、Cu2+
/Sn2+が1/4以下で、且つ、Xn+(n=2又は3)/
Sn2+が0.1以下の実施例を見ると(例えば、スズ−銅
−ビスマス合金メッキ浴では、実施例1〜7参照)、メ
ッキ浴の種類を問わず、析出したメッキ皮膜中の銅は1
0重量%以下であり、金属XもBiの場合に9.2重量
%を示したのが最大であった(実施例5参照)。一方、可
溶性金属塩の重量比において、Cu2+/Sn2+が1/4
を越える実施例を見た場合でも(例えば、スズ−銅−ビ
スマス合金メッキ浴では、実施例8参照)、析出したメ
ッキ皮膜中の銅の組成比は増えるが、最大でも20重量
%前後にとどまっており、逆に、Xn+/Sn2+が0.1
を越える実施例を見ると(例えば、スズ−銅−ビスマス
合金メッキ浴では、実施例9参照)、析出したメッキ皮
膜中の金属Xの組成比は増えるが、やはり最大でも10
重量%弱にとどまっていた。これらの結果は、メッキ浴
の種類を問わず、同じであった。これにより、スズが高
い組成比で、銅及び金属Xと共に確実に共析化して、特
定のスズ−銅系の3元合金(スズ−銅−X合金)メッキ皮
膜が円滑に形成されていることが確認できた。特に、ス
ズ−銅−チタン合金やスズ−銅−ジルコニウム合金の形
成も可能である点が注目される。これに対して、比較例
1〜9のメッキ浴では、いずれも銅が優先析出し、殊
に、スズ−銅−ビスマス合金メッキ浴の比較例1〜3で
は、銅及びビスマスが共に優先析出した。
The results are shown in the center columns of FIGS. When the test results of each tin-copper-X alloy plating bath were observed for each type of bath, the weight ratio of soluble metal salt was Cu 2+
/ Sn 2+ is 以下 or less and X n + (n = 2 or 3) /
Looking at the examples in which Sn 2+ is 0.1 or less (for example, in the case of a tin-copper-bismuth alloy plating bath, see Examples 1 to 7), regardless of the type of the plating bath, the copper in the deposited plating film Is 1
It was 0% by weight or less, and the maximum of metal X was 9.2% by weight in the case of Bi (see Example 5). On the other hand, Cu 2+ / Sn 2+ is 1 / in weight ratio of soluble metal salt.
(For example, in the case of a tin-copper-bismuth alloy plating bath, see Example 8), the composition ratio of copper in the deposited plating film increases, but stays at around 20% by weight at the maximum. On the contrary, X n + / Sn 2+ is 0.1.
(For example, in the case of a tin-copper-bismuth alloy plating bath, see Example 9), the composition ratio of the metal X in the deposited plating film is increased, but also at a maximum of 10%.
It was less than a little by weight. These results were the same regardless of the type of plating bath. This ensures that tin has a high composition ratio and is eutectoid with copper and metal X, and a specific tin-copper ternary alloy (tin-copper-X alloy) plating film is formed smoothly. Was confirmed. In particular, it is noted that a tin-copper-titanium alloy or a tin-copper-zirconium alloy can be formed. In contrast, in the plating baths of Comparative Examples 1 to 9, copper was preferentially precipitated, and particularly in Comparative Examples 1 to 3 of the tin-copper-bismuth alloy plating bath, copper and bismuth were both preferentially precipitated. .

【0090】メッキ皮膜の外観は、浴の種類を問わず、
Cu2+/Sn2+が1/4以下で、且つ、Xn+/Sn2+
0.1以下の2条件を満たす実施例では、◎〜○の評価
であり、上記2条件の一方の重量比が多い実施例では、
○の評価であった。比較例1〜9では、上述のように銅
が優先析出した結果、概ね粉末状又はデンドライト状を
呈し、メッキ皮膜としての体をなさず、全ての評価は×
であった。ちなみに、メッキ皮膜の外観は、可溶性金属
塩や錯化剤などの種類、或は濃度などに影響される場合
が少なくないが、スズ−銅−ビスマス合金メッキ浴に着
目してその実施例の試験結果を観察すると、実施例1及
び3〜7と実施例2との対比に見るように、概ね、界面
活性剤にノニオン系界面活性剤を選択すると、皮膜外観
の評価が◎に向上する傾向が強かった。
Regarding the appearance of the plating film, regardless of the type of bath,
In Examples in which Cu 2+ / Sn 2+ is 1 / or less and X n + / Sn 2+ is 0.1 or less, the evaluation is の to ○, and one of the above two conditions is evaluated. In an embodiment having a large weight ratio,
O was evaluated. In Comparative Examples 1 to 9, as a result of the preferential precipitation of copper as described above, the powder was substantially in the form of powder or dendrite, and did not form a body as a plating film.
Met. By the way, the appearance of the plating film is often affected by the type or concentration of the soluble metal salt or complexing agent, etc., but attention was paid to the tin-copper-bismuth alloy plating bath. Observing the results, as can be seen from the comparison between Examples 1 and 3 to 7 and Example 2, when a nonionic surfactant is generally selected as the surfactant, the evaluation of the film appearance tends to improve to ◎. It was strong.

【0091】《折り曲げ加工時のクラック発生試験例》
上記実施例1〜28並びに比較例1〜9の各スズ−銅−
X合金メッキ浴を用いて、上記外観等の試験例と同じ条
件で42合金製のリードフレーム上に電気メッキを行
い、90度に1回だけ折り曲げて、引っ張り力が集中す
る折り曲げ部の外側表面を走査型電子顕微鏡(1000
倍)で微視観察した。当該試験の評価基準は次の通りで
ある。 ◎:クラックなし。 ○:クラックの幅の平均値が0.5μm以下であった。 △:クラックの幅の平均値が0.5μm以上であった。 尚、比較例1〜9の析出物は上記メッキ外観試験の結果
からも判るように、メッキ皮膜の体をなしていないか、
きわめて不充分であったため、折り曲げ試験は実施でき
なかった。
<< Example of crack generation test at bending process >>
Each tin-copper of Examples 1-28 and Comparative Examples 1-9
Using an X alloy plating bath, electroplating is performed on a lead frame made of 42 alloy under the same conditions as in the test example of the above appearance and the like, and it is bent only once at 90 degrees, and the outer surface of the bent portion where the tensile force is concentrated. The scanning electron microscope (1000
Microscopic observation). The evaluation criteria for this test are as follows. A: No crack. :: The average value of the crack width was 0.5 μm or less. Δ: The average value of the crack width was 0.5 μm or more. In addition, as can be seen from the results of the plating appearance test, the precipitates of Comparative Examples 1 to 9 do not form a plating film,
The bending test could not be performed because it was extremely insufficient.

【0092】図1〜図4の右から2欄目はその結果を示
す。メッキ浴の種類を問わず、メッキ浴の重量比におい
て、Xn+/Sn2+が0.1以下の実施例では、得られた
皮膜中の金属Xの組成比が少なくなり、折り曲げ試験結
果は概ね◎〜○の評価であり、逆に、Xn+/Sn2+
0.1を越える実施例では、金属Xの組成比が多くなる
ため、折り曲げ試験結果は概ね△の評価であった。例え
ば、スズ−銅−ビスマス合金メッキ浴において、実施例
6〜7の評価は◎であり、実施例9の評価は△であった
(図1参照)。スズ−銅−ニッケル合金メッキ浴におい
て、実施例15の評価は○であり、実施例19の評価は
△であった(図2B参照)。また、スズ−銅−コバルト合
金メッキ浴において、実施例20の評価は○であり、実
施例24の評価は△であった(図3A参照)。但し、スズ
−銅−鉄合金メッキ浴では、Cu2+/Sn2+が1/4を
越える実施例13の評価は△であり、逆に、Xn+/Sn
2+が0.1を越える実施例14の評価は○であった(図2
A参照)。また、スズ−銅−ニッケル合金、スズ−銅−
コバルト合金メッキ浴でも、Cu2+/Sn2+が1/4を
越える実施例18、23の評価は△であった(図2B、
図3A参照)。
The second column from the right of FIGS. 1 to 4 shows the results. Regardless of the type of plating bath, in the examples where X n + / Sn 2+ is 0.1 or less in the weight ratio of the plating bath, the composition ratio of metal X in the obtained film is small, and the bending test result is as follows. In the examples where X n + / Sn 2+ exceeds 0.1, the composition ratio of the metal X is increased, and the bending test result is generally evaluated as Δ. For example, in the tin-copper-bismuth alloy plating bath, the evaluations of Examples 6 to 7 were ◎, and the evaluation of Example 9 was △.
(See FIG. 1). In the tin-copper-nickel alloy plating bath, the evaluation of Example 15 was ○, and the evaluation of Example 19 was △ (see FIG. 2B). In the tin-copper-cobalt alloy plating bath, the evaluation of Example 20 was ○, and the evaluation of Example 24 was △ (see FIG. 3A). However, in the tin-copper-iron alloy plating bath, the evaluation of Example 13 in which Cu 2+ / Sn 2+ exceeded 1/4 was Δ, and conversely, X n + / Sn
The evaluation of Example 14 in which 2+ exceeded 0.1 was evaluated as ○ (FIG. 2).
A). Also, tin-copper-nickel alloy, tin-copper-
In the cobalt alloy plating bath, the evaluations of Examples 18 and 23 where Cu 2+ / Sn 2+ exceeded 1/4 were △ (FIG. 2B,
(See FIG. 3A).

【0093】《ホイスカー発生試験例》上記実施例1〜
28並びに比較例1〜9の各スズ−銅−X合金メッキ浴
を用いて、上記外観等の試験例と同じ条件でCDA19
4材製のリードフレーム上に電気メッキを行い、温度8
5℃、相対湿度85%の条件下で1カ月間保管した後
に、メッキ表面を走査型電子顕微鏡(1000倍)を用い
て、ホイスカーの発生状況を微視観察した。ホイスカー
試験の評価基準は次の通りである。 ○:ホイスカーは認められず。 ×:ホイスカーが1本以上認められた。 尚、比較例1〜9の析出物はメッキ皮膜の体をなしてい
ないか、きわめて不充分であったため、ホイスカー試験
は実施できなかった。
<< Example of Whisker Generation Test >>
28 and each of the tin-copper-X alloy plating baths of Comparative Examples 1 to 9 under the same conditions as in the above-described test examples such as appearance, and
Electroplating was performed on a four-piece lead frame, and the temperature was 8
After being stored for one month under the conditions of 5 ° C. and 85% relative humidity, the surface of the plating was microscopically observed using a scanning electron microscope (× 1000). The evaluation criteria for the whisker test are as follows. :: No whisker was observed. X: One or more whiskers were observed. In addition, the whisker test could not be performed because the precipitates of Comparative Examples 1 to 9 did not form the body of the plating film or were extremely insufficient.

【0094】図1〜図4の右から3欄目はその結果を示
す。メッキ浴の種類を問わず、実施例は全て○の評価で
あり、本発明のスズ−銅系の3元合金では、いずれもホ
イスカーの発生を有効に防止できることが明らかになっ
た。
The results are shown in the third column from the right in FIGS. Regardless of the type of the plating bath, the examples were all evaluated as ○, and it was revealed that the tin-copper ternary alloy of the present invention can effectively prevent the generation of whiskers.

【0095】《ハンダ付け性の試験例》上記実施例1〜
28並びに比較例1〜9の各スズ−銅−X合金メッキ浴
を用いて、上記ホイスカー試験例と同じ条件でCDA1
94材製のリードフレーム上に電気メッキを行い、温度
105℃、相対湿度100%の条件で8時間エージング
を行い、得られた各試料を下記の条件でハンダバスに浸
漬して、ゼロクロスタイム(秒)を測定した。 ハンダバス:Sn−2wt%Ag−3wt%Bi−0.
75wt%Cu フラックス:25wt%ロジンのイソプロピルアルコー
ル溶液 温度:250℃ 時間:5秒 浸漬速度:25mm/秒 浸漬深さ:2mm
<< Test Example of Solderability >>
28 and each of the tin-copper-X alloy plating baths of Comparative Examples 1 to 9 under the same conditions as in the above whisker test example.
Electroplating was performed on a lead frame made of 94 materials, aging was performed at a temperature of 105 ° C. and a relative humidity of 100% for 8 hours, and each of the obtained samples was immersed in a solder bath under the following conditions to obtain a zero cross time (sec. ) Was measured. Solder bath: Sn-2 wt% Ag-3 wt% Bi-0.
75 wt% Cu flux: 25 wt% rosin in isopropyl alcohol Temperature: 250 ° C. Time: 5 seconds Immersion speed: 25 mm / sec Immersion depth: 2 mm

【0096】図1〜図4の最右欄はその結果を示す。実
施例1〜28では、メッキ浴の種類を問わず、共にゼロ
クロスタイムがきわめて小さかった。即ち、同種類のメ
ッキ浴同士で、各実施例をゼロクロスタイムの大きな比
較例1〜9に比較すると、各実施例のメッキ皮膜はハン
ダ付け性に優れていることが明らかになった。また、メ
ッキ浴の種類ごとの試験結果に着目した場合、浴中の可
溶性銅塩濃度の異なる実施例同士でゼロクロスタイムを
対比すると、Cu2+/Sn2+が1/4以下の実施例のゼ
ロクロスタイムは、Cu2+/Sn2+が1/4を越える実
施例のそれより小さかった。例えば、スズ−銅−ビスマ
ス合金メッキ浴において、実施例1のゼロクロスタイム
は実施例8のそれより小さく、ハンダ付け性がより改善
されていることが確認できた。
The rightmost columns in FIGS. 1 to 4 show the results. In Examples 1 to 28, the zero cross time was extremely small regardless of the type of the plating bath. That is, when the respective examples were compared with Comparative Examples 1 to 9 having a large zero-crossing time between plating baths of the same type, it was revealed that the plating films of the respective examples had excellent solderability. In addition, when focusing on the test results for each type of plating bath, comparing the zero cross times between the examples in which the soluble copper salt concentration in the bath is different, the examples of Examples in which Cu 2+ / Sn 2+ is 1 / or less are obtained. The zero cross time was smaller than that of the examples in which Cu 2+ / Sn 2+ exceeded 1 /. For example, in a tin-copper-bismuth alloy plating bath, the zero cross time of Example 1 was smaller than that of Example 8, confirming that the solderability was further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施例1〜9並びに比較例1〜3の各スズ−銅
−ビスマス合金メッキ浴から得られた電着皮膜の皮膜組
成、外観、折り曲げ時のクラック発生度合、ホイスカー
発生度合、ハンダ付け性などの各種試験結果を示す図表
である。
FIG. 1 shows the coating composition, appearance, degree of cracking during folds, degree of whisker generation, and soldering of the electrodeposited films obtained from the tin-copper-bismuth alloy plating baths of Examples 1 to 9 and Comparative Examples 1 to 3. 5 is a table showing the results of various tests such as attaching properties.

【図2】図2Aは実施例10〜14並びに比較例4の各
スズ−銅−鉄合金メッキ浴の各種試験結果を示す図表、
図2Bは実施例15〜19並びに比較例5の各スズ−銅
−ニッケル合金メッキ浴の各種試験結果を示す図表であ
る。
FIG. 2A is a chart showing various test results of each tin-copper-iron alloy plating bath of Examples 10 to 14 and Comparative Example 4.
FIG. 2B is a chart showing various test results of the tin-copper-nickel alloy plating baths of Examples 15 to 19 and Comparative Example 5.

【図3】図3Aは実施例20〜24並びに比較例6の各
スズ−銅−コバルト合金メッキ浴の各種試験結果を示す
図表、図3Bは実施例25〜26並びに比較例7の各ス
ズ−銅−アンチモン合金メッキ浴の各種試験結果を示す
図表である。
FIG. 3A is a table showing various test results of each of the tin-copper-cobalt alloy plating baths of Examples 20 to 24 and Comparative Example 6, and FIG. 3B is a table showing each of the tin-copper-cobalt alloy plating baths of Examples 25 to 26 and Comparative Example 7. It is a table | surface which shows the various test results of a copper-antimony alloy plating bath.

【図4】図4Aは実施例27並びに比較例8の各スズ−
銅−チタン合金メッキ浴の各種試験結果を示す図表、図
4Bは実施例28並びに比較例9の各スズ−銅−ジルコ
ニウム合金メッキ浴の各種試験結果を示す図表である。
FIG. 4A is a graph showing the tin content of each of Examples 27 and Comparative Example 8.
4B is a chart showing various test results of the copper-titanium alloy plating bath, and FIG. 4B is a chart showing various test results of the tin-copper-zirconium alloy plating baths of Example 28 and Comparative Example 9.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小幡 惠吾 兵庫県明石市二見町南二見21番地の8 株 式会社大和化成研究所内 (72)発明者 武内 孝夫 兵庫県明石市二見町南二見21番地の8 株 式会社大和化成研究所内 Fターム(参考) 4K023 AB34 BA06 BA26 BA29 CB03 CB05 CB13 CB21 CB28 CB33 DA02 DA06 DA07 DA08 4K024 AA21 BB09 CA01 CA02 CA03 CA04 CA06 GA16  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Inventor Keigo Obata 21 Futami-cho, Futami-cho, Akashi City, Hyogo Prefecture 8 Inside Daiwa Kasei Research Laboratories (72) Inventor Takao Takeuchi 21 Futami-cho, Futami-cho, Akashi-shi, Hyogo 8 Daiwa Chemical Research Laboratories F Term (Reference) 4K023 AB34 BA06 BA26 BA29 CB03 CB05 CB13 CB21 CB28 CB33 DA02 DA06 DA07 DA08 4K024 AA21 BB09 CA01 CA02 CA03 CA04 CA06 GA16

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 (A)可溶性第一スズ塩、 (B)可溶性銅塩、 (C)鉄、コバルト、ニッケル、ビスマス、アンチモン、
チタン、ジルコニウムからなる群より選ばれた第3成分
金属の可溶性塩の少なくとも一種、 (D)界面活性剤 を含有してなるスズ−銅系合金メッキ浴。
1. A soluble stannous salt, (B) a soluble copper salt, (C) iron, cobalt, nickel, bismuth, antimony,
A tin-copper alloy plating bath containing at least one soluble salt of a third component metal selected from the group consisting of titanium and zirconium, and (D) a surfactant.
【請求項2】 請求項1に記載の界面活性剤が、C1
20アルカノール、フェノール、ナフトール、ビスフェ
ノール類、C1〜C25アルキルフェノール、アリールア
ルキルフェノール、C1〜C25アルキルナフトール、C1
〜C25アルコキシル化リン酸、ソルビタンエステル、ポ
リアルキレングリコール、C1〜C22脂肪族アミン、C1
〜C22脂肪族アミドなどのエチレンオキシド及び/又は
プロピレンオキシドの付加物よりなるノニオン系界面活
性剤であることを特徴とするスズ−銅系合金メッキ浴。
2. The method according to claim 1, wherein the surfactant is C 1 to C 1 .
C 20 alkanols, phenol, naphthol, bisphenol, C 1 -C 25 alkyl phenols, aryl phenols, C 1 -C 25 alkyl naphthol, C 1
-C 25 alkoxylated phosphoric acid, sorbitan ester, polyalkylene glycol, C 1 -C 22 aliphatic amine, C 1
Tin, characterized in that -C 22 a nonionic surfactant consisting of adducts of ethylene oxide and / or propylene oxide, such as fatty amide - copper alloy plating baths.
【請求項3】 (A)可溶性第一スズ塩、 (B)可溶性銅塩、 (C)鉄、コバルト、ニッケル、ビスマス、アンチモン、
チタン、ジルコニウムからなる群より選ばれた第3成分
金属の可溶性塩の少なくとも一種、 (D)有機スルホン酸、脂肪族カルボン酸、オキシカルボ
ン酸、アミノカルボン酸等の有機酸、これらの塩などの
少なくとも一種 を含有してなるスズ−銅系合金メッキ浴。
3. A soluble stannous salt, (B) a soluble copper salt, (C) iron, cobalt, nickel, bismuth, antimony,
At least one soluble salt of a third component metal selected from the group consisting of titanium and zirconium; (D) organic acids such as organic sulfonic acids, aliphatic carboxylic acids, oxycarboxylic acids, and aminocarboxylic acids; A tin-copper alloy plating bath containing at least one kind.
【請求項4】 メッキ浴中に可溶性第一スズ塩と可溶性
銅塩と第3成分の可溶性金属塩を、可溶性銅塩/可溶性
第一スズ塩=0.001〜0.25で、且つ、第3成分の
可溶性金属塩/可溶性第一スズ塩=0.0001〜0.1
である重量比で含有することを特徴とする請求項1〜3
のいずれか1項のスズ−銅系合金メッキ浴。
4. A method according to claim 1, wherein the soluble stannous salt, the soluble copper salt and the soluble metal salt of the third component are contained in the plating bath at a ratio of 0.001 to 0.25 of soluble copper salt / soluble stannous salt. 3 components soluble metal salt / soluble stannous salt = 0.0001 to 0.1
4. The composition of claim 1, wherein the weight ratio is
The tin-copper alloy plating bath according to any one of the above.
【請求項5】 請求項1〜4のいずれか1項に記載のメ
ッキ浴に、さらに酸化防止剤を含有することを特徴とす
るスズ−銅系合金メッキ浴。
5. A tin-copper alloy plating bath, wherein the plating bath according to claim 1 further comprises an antioxidant.
【請求項6】 請求項1〜5のいずれか1項に記載のメ
ッキ浴を用いて、電気メッキによりスズ−銅系合金メッ
キ皮膜を素地上に形成した、半導体デバイス、コネク
タ、スイッチ、抵抗、可変抵抗、コンデンサ、フィル
タ、インダクタ、サーミスタ、水晶振動子、リード線な
どの電子部品。
6. A semiconductor device, a connector, a switch, a resistor, and a tin-copper alloy plating film formed on a substrate by electroplating using the plating bath according to claim 1. Electronic components such as variable resistors, capacitors, filters, inductors, thermistors, crystal units, and lead wires.
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