JP2001170798A - Flux for soldering, solder paste, electronic part device, electronic circuit module, electronic circuit device and soldering method - Google Patents

Flux for soldering, solder paste, electronic part device, electronic circuit module, electronic circuit device and soldering method

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JP2001170798A
JP2001170798A JP2000083001A JP2000083001A JP2001170798A JP 2001170798 A JP2001170798 A JP 2001170798A JP 2000083001 A JP2000083001 A JP 2000083001A JP 2000083001 A JP2000083001 A JP 2000083001A JP 2001170798 A JP2001170798 A JP 2001170798A
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electronic circuit
resin
soldering
circuit module
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Minoru Takatani
稔 高谷
Toshiyuki Abe
寿之 阿部
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a flux and solder paste for soldering capable of sufficiently dealing with the higher density of packaging, the miniaturizing of parts, narrower pitch of the arrangement spacings of the parts, etc., with sufficient strength of joining and a soldering method. SOLUTION: The flux 3 contains an adhesive resin and a hardener. This flux or the solder paste containing the same is applied on a part mounting substrate 1 and the electronic parts 4 are mounted thereon and are soldered.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、はんだ付け用フラ
ックス、はんだぺ一スト、電子部品装置、電子回路モジ
ュール、電子回路装置、及び、はんだ付け方法に関す
る。
The present invention relates to a soldering flux, a solder paste, an electronic component device, an electronic circuit module, an electronic circuit device, and a soldering method.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、部品搭載基板に対する部品のは
んだ付けに当たっては、周知のように、フラックスが用
いられる。フラックスの主な機能は、部品搭載基板に設
けられた金属導体及び部品のはんだ付け用金属の表面の
酸化皮膜を除去し、はんだの濡れ性を向上させることに
ある。フラックスとしては、ロジンを主成分とするもの
が最もよく知られている。ロジンには、アビエチン酸、
レボビマル酸等のカルボン酸が含まれており、カルボキ
シル基の働きにより、はんだ付けされる金属表面の酸化
膜を除去する。
2. Description of the Related Art For example, in soldering a component to a component mounting board, a flux is used as is well known. The main function of the flux is to remove the oxide film on the surface of the metal conductor provided on the component mounting board and the metal for soldering the component, thereby improving the wettability of the solder. As the flux, those containing rosin as a main component are best known. Rosin contains abietic acid,
A carboxylic acid such as levobimaric acid is contained, and the function of the carboxyl group removes an oxide film on the surface of the metal to be soldered.

【0003】フラックスには、通常、上述したロジンの
外、印刷性の向上及び仮止め強度を得る目的で、溶剤、
可塑剤またはチキソ剤等の各種の添加物が配合される。
例えば、特開平11−121915号公報は、粘性を、
アルコール添加によって調整するタイプのフラックスを
開示している。
[0003] In addition to the above-mentioned rosin, the flux generally contains a solvent,
Various additives such as a plasticizer or a thixotropic agent are blended.
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-121915 discloses that
A type of flux that is adjusted by adding alcohol is disclosed.

【0004】更に、別のフラックスとして、ミル規格で
規定されているRMA(ハロゲンフリー)系フラックス
も知られている。このフラックスの場合、リフロー後、
フラックス等の洗浄工程が省略される。
Further, as another flux, an RMA (halogen-free) flux defined by a mill standard is also known. In the case of this flux, after reflow
The step of cleaning flux and the like is omitted.

【0005】上述したフラックスは、はんだ付け後は、
はんだ付けされた部品の接着に関与せず、はんだ接合
は、はんだ金属の溶融接合によって達成される。従っ
て、はんだ付けされる金属間の接合強度は、はんだ接合
面積に依存する。
[0005] After the above-mentioned flux is soldered,
Independent of the bonding of the soldered components, the solder joint is achieved by the fusion joining of the solder metal. Therefore, the joint strength between the metals to be soldered depends on the solder joint area.

【0006】ところが、各種電子機器において、高密度
実装が進むにつれ、部品が小型化され、部品の配置間隔
が狭ピッチ化され、これに伴い、はんだ接合面積の狭小
化が急速に進展しつつあり、現段階でも、既に、十分な
はんだ付け強度を確保することが困難になっている。し
かも、実装の高密度化、部品の小型化及び部品の配置間
隔の狭ピッチ化は、更に進展する傾向にあり、はんだ接
合面積のみによってはんだ接合強度を確保する従来手段
では、この技術動向に対応することが、ますます困難に
なる傾向にある。
However, in various electronic devices, as high-density mounting has progressed, components have been reduced in size and the pitch between components has been narrowed, and accordingly, the solder joint area has been rapidly narrowed. Even at this stage, it is already difficult to secure sufficient soldering strength. Furthermore, the trend toward higher mounting density, miniaturization of components, and narrower pitch of component placement tend to progress further, and conventional means of securing solder joint strength only by the solder joint area responds to this technical trend. Is increasingly difficult to do.

【0007】一般に、はんだ接合強度を確保する手段と
して、はんだのフィレット部を形成し、部品の端子と部
品搭載基板上の導体(ランドまたははんだバンプ)との
はんだ接合面積を拡大する手段が採られている。ところ
が、高密度実装においては、フィレット部の接合面積も
小さくなってしまうため、フィレット部による接合強度
の増大手段も採りにくい。
In general, as means for securing the solder joint strength, a means for forming a solder fillet portion and increasing the solder joint area between a terminal of a component and a conductor (land or solder bump) on a component mounting board is employed. ing. However, in high-density mounting, the joint area of the fillet portion is reduced, so that it is difficult to employ a means for increasing the joint strength by the fillet portion.

【0008】また、例えば、各種の電子回路モジュール
では、両面実装タイプの部品搭載基板を用い、部品搭載
基板の一面上に高温はんだを用いて部品をはんだ付け
(通炉)した後、他面に部品を搭載し、再び通炉する。
従って、部品搭載基板の他面側における部品のはんだ付
けに当たっては、一面側の高温はんだよりも低い融点を
持つ低温はんだを用いてはんだ付けする必要がある。従
来、はんだの融点はPbの含有量によって調整するのが
一般的であった。
Further, for example, in various electronic circuit modules, a component mounting board of a double-sided mounting type is used, and components are soldered on one side of the component mounting board using high-temperature solder (furnace passing) and then on the other side. Mount the parts and ventilate again.
Therefore, when soldering components on the other side of the component mounting board, it is necessary to use low-temperature solder having a lower melting point than the high-temperature solder on the one side. Conventionally, the melting point of the solder has generally been adjusted by the Pb content.

【0009】ところが、地球環境保全の立場から、Pb
を含有しないはんだ(Pbフリーはんだ)が要求され、
そのようなはんだ組成の開発が盛んに行われている。し
かし、Pbフリーはんだで、従来の高温はんだに匹敵す
る高温融点のはんだ組成は、現在のところ、実用化され
ていない。理由として、Pbフリーはんだ自体の融点が
220℃前後と、共晶はんだに比較し、約40℃も上昇
するため、Pb以外の代替組成が見つからないからであ
る。このため、両面実装タイプの部品搭載基板におい
て、両面側で用いられるはんだの融点差を十分にとるこ
とができず、部品を部品搭載基板上に実装する際、部品
が浮動し、または脱落する等の不具合が生じる。
However, from the viewpoint of global environmental protection, Pb
Is required (Pb-free solder)
The development of such solder compositions has been actively pursued. However, a Pb-free solder composition having a high-temperature melting point comparable to that of a conventional high-temperature solder has not been put to practical use at present. The reason is that the melting point of the Pb-free solder itself is around 220 ° C., which is about 40 ° C. higher than that of the eutectic solder, so that no alternative composition other than Pb can be found. For this reason, in a double-sided component mounting board, the difference in melting point of the solder used on both sides cannot be sufficiently obtained, and when mounting the component on the component mounting board, the component floats or falls off. Will occur.

【0010】更に、半導体チップを用いた電子回路モジ
ュールにおいては、半導体チップをチップ搭載基板には
んだ付けした後、封止剤を接合界面に流し込み、半導体
チップと、チップ搭載基板とを封止剤で接着固定する作
業が付加される。
Furthermore, in an electronic circuit module using a semiconductor chip, after the semiconductor chip is soldered to the chip mounting substrate, a sealing agent is poured into the bonding interface, and the semiconductor chip and the chip mounting substrate are sealed with the sealing agent. An operation of bonding and fixing is added.

【0011】ところが、封止剤注入時にフラックスの残
渣が残っていると、フラックスのために、封止剤が半導
体チップと基板との間の界面に十分に到達せず、接着力
が発揮できない。そこで、封止剤を注入する前、フラッ
クスを洗浄する工程が付加される。フラックスの洗浄
は、通常、揮発性有機溶剤を用い、数回に分けて行なわ
れる。ところが、環境保全等の目的から、揮発性有機溶
剤の使用が規制されており、フラックスの洗浄工程は、
コストおよび環境保全の両面から、負担の大きい工程と
なっている。
However, if a residue of the flux remains when the sealing agent is injected, the sealing agent does not sufficiently reach the interface between the semiconductor chip and the substrate due to the flux, and the adhesive force cannot be exhibited. Therefore, a step of cleaning the flux before injecting the sealing agent is added. The washing of the flux is usually performed in several steps using a volatile organic solvent. However, the use of volatile organic solvents has been regulated for the purpose of environmental protection, etc.
This is a heavy burden process in terms of both cost and environmental protection.

【0012】更に、上述のようにして得られた電子回路
モジュールをマザー基板に搭載して、電子回路装置を構
成する場合、チップ搭載基板にセラミックを用い、マザ
ー基板に有機樹脂基板を用いた組み合わせにおいては、
搭載後の熱衝撃試験などにおいて、セラミック基板及び
有機樹脂基板の熱膨張率の違いから、はんだ接合部に収
縮応力が集中し、クラックが入り易く、接合寿命が短い
とされている。よってはんだ接合強度向上を図るため、
封止剤の注入を行ないたいが、マザー基板全体を、フラ
ックス洗浄工程及び封止剤注入工程に付することは、か
なりのコストアップを招くため、実際には行われていな
い。
Further, when the electronic circuit module obtained as described above is mounted on a mother substrate to form an electronic circuit device, a combination using a ceramic for a chip mounting substrate and an organic resin substrate for a mother substrate. In
In a thermal shock test or the like after mounting, due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the ceramic substrate and the organic resin substrate, shrinkage stress is concentrated at the solder joint, cracks are likely to occur, and the joint life is short. Therefore, to improve the solder joint strength,
Although it is desired to inject a sealant, it is not actually performed to subject the entire mother substrate to a flux cleaning step and a sealant injection step, since this considerably increases the cost.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、実装
の高密度化、部品の小型化及び部品の配置間隔の狭ピッ
チ化等に対しても、十分な接合強度をもって対応し得る
はんだ付け用フラックス及びはんだペースト及びはんだ
付け方法を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a soldering device capable of coping with high-density mounting, downsizing of components, and narrowing of arrangement intervals of components with sufficient bonding strength. And a solder paste and a soldering method.

【0014】本発明のもう一つの課題は、両面実装タイ
プの部品搭載基板において、両面側で用いられるはんだ
の融点差を十分にとらなくとも、部品の浮動または脱落
等の不具合を確実に阻止し得るはんだ付け用フラックス
及びはんだペースト及びはんだ付け方法を提供すること
である。
Another object of the present invention is to provide a component mounting board of a double-sided mounting type that can reliably prevent a component from floating or falling off even if the difference in the melting points of the solders used on both sides is not sufficiently obtained. An object of the present invention is to provide a soldering flux, a solder paste, and a soldering method.

【0015】本発明の更にもう一つの課題は、フラック
ス洗浄工程を必要とせず、製造コストの安価な電子部品
装置、電子回路モジュール及び電子回路装置を提供する
ことである。
Still another object of the present invention is to provide an electronic component device, an electronic circuit module, and an electronic circuit device which do not require a flux cleaning step and are inexpensive to manufacture.

【0016】本発明の更にもう一つの課題は、はんだ接
合寿命を、従来よりも著しく長期化させた高信頼度の電
子部品装置、電子回路モジュール及び電子回路装置を提
供することである。
Still another object of the present invention is to provide a highly reliable electronic component device, an electronic circuit module, and an electronic circuit device in which the life of the solder joint is significantly prolonged as compared with the conventional art.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため、本発明に係るはんだ付け用フラックスは、接着性
樹脂と硬化剤とを含有する。
In order to solve the above-mentioned problems, a soldering flux according to the present invention contains an adhesive resin and a curing agent.

【0018】本発明に係るフラックスは、接着性樹脂
と、硬化剤とを含有するから、はんだ付け後に、接着性
樹脂を、部品搭載基板と部品を固定する接着剤として機
能させることができる。このため、衝撃や熱ストレスに
対し、部品の剥離、脱落を防ぎ、はんだ接合の信頼性を
向上させることができる。この点、はんだ付け後に、接
着機能を持たない従来のロジン系フラックスと著しく異
なる。
Since the flux according to the present invention contains an adhesive resin and a curing agent, the adhesive resin can function as an adhesive for fixing the component mounting board to the component after soldering. For this reason, it is possible to prevent the components from peeling or falling off due to impact or thermal stress, and to improve the reliability of the solder joint. This point is significantly different from the conventional rosin flux having no bonding function after soldering.

【0019】しかも、本発明に係るフラックスを使用す
ることにより、フィレット部がなくても、十分な固着強
度を確保できる。このため、部品搭載基板上に形成され
る部品接続用導体(ランド)に、フィレット部を生じさ
せるための領域を設ける必要がなくなるので、実装密度
を向上させることが可能となる。
Moreover, by using the flux according to the present invention, a sufficient fixing strength can be ensured even without a fillet portion. For this reason, it is not necessary to provide a region for generating a fillet portion in the component connection conductor (land) formed on the component mounting board, so that the mounting density can be improved.

【0020】本発明に係るフラックスにおいて、接着性
樹脂としては、多数の樹脂材料から、温度に応じて、高
い接着力を示す樹脂を選択し、これを接着性樹脂として
用いることができる。従って、両面実装タイプの部品搭
載基板の1面目に本発明に係るフラックスを用いて、部
品をはんだ付けした後、部品搭載基板の2面目に通常の
共晶はんだを用い、リフロー炉を通炉した場合でも、1
面目に搭載された部品がシフティング、マンハッタン現
象(部品立ち現象)または脱落等の不具合を起こすこと
はない。勿論、1面目及び2面目の両はんだ付け処理に
おいて、本発明に係るフラックスを用いることができ
る。
In the flux according to the present invention, as the adhesive resin, a resin having a high adhesive strength can be selected from a large number of resin materials according to the temperature, and this can be used as the adhesive resin. Therefore, after the components were soldered on the first side of the component mounting board of the double-sided mounting type using the flux according to the present invention, the reflow furnace was passed through the reflow furnace using normal eutectic solder on the second side of the component mounting board. Even 1
The components mounted on the surface do not cause problems such as shifting, Manhattan phenomenon (component standing phenomenon) or dropping. Of course, the flux according to the present invention can be used in both the first and second soldering processes.

【0021】本発明に係るフラックスは液状またはペー
ストの形態を採ることができる。このようなフラックス
は、印刷、ディスペンサー塗布、スプレー、はけ塗り等
の手段によって、部品搭載基板等に容易に塗布できる。
The flux according to the present invention can be in the form of a liquid or a paste. Such a flux can be easily applied to a component mounting substrate or the like by means such as printing, dispenser application, spraying, and brushing.

【0022】本発明に係るフラックスにおいて、好まし
い接着性樹脂は、熱硬化性樹脂である。熱硬化性樹脂の
具体例としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリ
イミド樹脂、シリコン樹脂または変性樹脂またはアクリ
ル樹脂から選択された少なくとも一種を挙げることがで
きる。例示された樹脂材料の種類及び配合量は、接着温
度帯及び目標とする皮膜硬度等に応じて選択することが
できる。
In the flux according to the present invention, a preferable adhesive resin is a thermosetting resin. Specific examples of the thermosetting resin include at least one selected from an epoxy resin, a phenol resin, a polyimide resin, a silicone resin, a modified resin, and an acrylic resin. The types and amounts of the exemplified resin materials can be selected according to the bonding temperature range, the target film hardness, and the like.

【0023】硬化剤は、接着性樹脂を硬化させるもので
あればよい。好ましくは、カルボン酸を含む。カルボン
酸を含む硬化剤は、熱硬化性樹脂に対する硬化作用のみ
ならず、はんだ付けされる金属表面の酸化膜を除去する
フラックス作用も兼ね備える。
The curing agent may be any as long as it cures the adhesive resin. Preferably, it contains a carboxylic acid. The curing agent containing a carboxylic acid has not only a hardening action on the thermosetting resin but also a flux action for removing an oxide film on the surface of the metal to be soldered.

【0024】本発明に係るフラックスは、溶剤、可塑剤
及びチキソ剤等を含んでいてもよい。溶剤は、接着性樹
脂の硬化温度及び硬化速度を調整すると共に、塗布形態
に応じて粘度を調整するために加えられる。可塑剤及び
チキソ剤も、塗布形態に応じて、粘度を調整するために
加えられる。溶剤、可塑剤及びチキソ剤等は、その使用
目的に合うように、配合量が選択される。
The flux according to the present invention may contain a solvent, a plasticizer, a thixotropic agent and the like. The solvent is added to adjust the curing temperature and the curing speed of the adhesive resin and to adjust the viscosity according to the application form. Plasticizers and thixotropic agents are also added to adjust the viscosity depending on the form of application. The amounts of the solvent, plasticizer, thixotropic agent and the like are selected according to the purpose of use.

【0025】本発明に係るフラックスは、接着性樹脂、
還元作用をもたらす有機酸、カルボン酸、溶剤または硬
化剤を封入したマイクロカプセルの形態であってもよ
い。
The flux according to the present invention comprises an adhesive resin,
It may be in the form of microcapsules enclosing an organic acid, carboxylic acid, solvent or curing agent that provides a reducing action.

【0026】更に、本発明に係るフラックスは、はんだ
粉末と混合して、はんだペーストを構成するために用い
ることもできる。はんだ粉末は、Sn、Cu、Ag、S
b、Pb、In、Zn及びBiから選択することができ
る。Pbフリーのはんだペーストを得る場合には、はん
だ粉末はPb以外のはんだ粉末で構成する。
Further, the flux according to the present invention can be mixed with a solder powder and used for forming a solder paste. Solder powder is Sn, Cu, Ag, S
b, Pb, In, Zn and Bi. To obtain a Pb-free solder paste, the solder powder is composed of a solder powder other than Pb.

【0027】本発明は、更に、上述したフラックスを用
いた電子部品装置、電子回路モジュール及び電子回路装
置を開示する。まず、本発明に係る電子部品装置は、少
なくとも1つの電子部品と、部品搭載基板と、はんだ付
け用フラックスとを含む。前記電子部品は、部品搭載基
板の上にはんだ付けされている。前記はんだ付け用フラ
ックスは、接着性樹脂と、硬化剤とを含有し、前記電子
部品と前記部品搭載基板との間に介在し、両者を接着し
ている。
The present invention further discloses an electronic component device, an electronic circuit module and an electronic circuit device using the above-mentioned flux. First, an electronic component device according to the present invention includes at least one electronic component, a component mounting board, and a soldering flux. The electronic component is soldered on a component mounting board. The soldering flux contains an adhesive resin and a curing agent, is interposed between the electronic component and the component mounting board, and adheres the two.

【0028】前記電子部品と前記部品搭載基板との間に
介在するはんだ付け用フラックスは、接着性樹脂と、硬
化剤とを含有しており、接着剤として機能する。このは
んだ付け用フラックスは洗浄する必要がなく、そのまま
接着はんだ付け用フラックスとして用いることができ
る。従って、フラックス洗浄工程を必要とせず、製造コ
ストの安価な電子部品装置を得ることができる。しか
も、はんだ付け用フラックスは、接着性樹脂と、硬化剤
とを含有しており、接着剤として機能するから、はんだ
接合寿命を、従来よりも著しく長期化させた高信頼度の
電子部品装置を得ることができる。
The soldering flux interposed between the electronic component and the component mounting board contains an adhesive resin and a curing agent, and functions as an adhesive. This soldering flux does not need to be washed and can be used as it is as an adhesive soldering flux. Therefore, it is possible to obtain an electronic component device that does not require a flux cleaning step and has a low manufacturing cost. In addition, since the soldering flux contains an adhesive resin and a hardening agent and functions as an adhesive, a highly reliable electronic component device with a significantly longer solder joining life than before has been developed. Obtainable.

【0029】次に、本発明に係る電子回路モジュール
は、半導体チップと、チップ搭載基板と、はんだ付け用
フラックスとを含む。前記半導体チップは、少なくとも
1つの半導体素子を含み、チップ搭載基板の上にはんだ
付けされている。前記はんだ付け用フラックスは、接着
性樹脂と、硬化剤とを含有し、前記半導体チップと前記
チップ搭載基板との間に介在し、両者を接着している。
Next, an electronic circuit module according to the present invention includes a semiconductor chip, a chip mounting board, and a soldering flux. The semiconductor chip includes at least one semiconductor element and is soldered on a chip mounting substrate. The soldering flux contains an adhesive resin and a curing agent, is interposed between the semiconductor chip and the chip mounting board, and adheres the two.

【0030】前記半導体チップと前記チップ搭載基板と
の間に介在するはんだ付け用フラックスは、接着性樹脂
と、硬化剤とを含有しており、接着剤として機能する。
このはんだ付け用フラックスは洗浄する必要がなく、そ
のまま接着はんだ付け用フラックスとして用いることが
できる。従って、フラックス洗浄工程を必要とせず、製
造コストの安価な電子回路モジュールを得ることができ
る。しかも、はんだ付け用フラックスは、接着性樹脂
と、硬化剤とを含有しており、接着剤として機能するか
ら、はんだ接合寿命を、従来よりも著しく長期化させた
高信頼度の電子回路モジュールを得ることができる。
The soldering flux interposed between the semiconductor chip and the chip mounting board contains an adhesive resin and a curing agent, and functions as an adhesive.
This soldering flux does not need to be washed and can be used as it is as an adhesive soldering flux. Therefore, it is possible to obtain an electronic circuit module which does not require a flux cleaning step and has a low manufacturing cost. In addition, since the soldering flux contains an adhesive resin and a hardening agent and functions as an adhesive, a highly reliable electronic circuit module with a significantly longer solder joining life than before has been developed. Obtainable.

【0031】更に、本発明に係る電子回路装置は、電子
回路モジュールと、マザー基板と、はんだ付け用フラッ
クスとを含む。前記電子回路装置は、前記マザー基板上
にはんだ付けされている。前記はんだ付け用フラックス
は、接着性樹脂と、硬化剤とを含有し、前記半導体チッ
プと前記マザー基板との間に介在し、両者を接着してい
る。このはんだ付け用フラックスは洗浄する必要がな
く、そのまま接着はんだ付け用フラックスとして用いる
ことができる。従って、フラックス洗浄工程を必要とし
ないから、製造コストの安価な電子回路装置を得ること
ができる。しかも、はんだ付け用フラックスは、接着性
樹脂と、硬化剤とを含有しており、接着剤として機能す
るから、はんだ接合寿命を、従来よりも著しく長期化さ
せた高信頼度の電子回路装置を得ることができる。
Further, an electronic circuit device according to the present invention includes an electronic circuit module, a mother board, and a soldering flux. The electronic circuit device is soldered on the mother board. The soldering flux contains an adhesive resin and a curing agent, is interposed between the semiconductor chip and the mother substrate, and adheres the two. This soldering flux does not need to be washed and can be used as it is as an adhesive soldering flux. Therefore, since a flux cleaning step is not required, an electronic circuit device having a low manufacturing cost can be obtained. In addition, since the soldering flux contains an adhesive resin and a hardening agent and functions as an adhesive, a highly reliable electronic circuit device with a significantly longer solder joining life than before has been developed. Obtainable.

【0032】本発明は、更に、上述したフラックス及び
はんだペーストを用いたはんだ付け方法についても開示
する。
The present invention further discloses a soldering method using the above-mentioned flux and solder paste.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】<フラックス、電子部品装置> 実施例1 熱硬化性樹脂としてビスフェノールAを用い、硬化剤に
はカルボン酸の無水物を使用した。熱硬化性樹脂及び硬
化剤の配合比は重量比で1:1とした。また、粘性を確
保するために、少量の溶剤及びチクソ剤を配合した。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS <Flux and electronic component device> Example 1 Bisphenol A was used as a thermosetting resin, and carboxylic anhydride was used as a curing agent. The mixing ratio of the thermosetting resin and the curing agent was 1: 1 by weight. Further, a small amount of a solvent and a thixotropic agent were blended in order to secure the viscosity.

【0034】上記組成にて調製したフラックス3を、予
め、はんだバンプ21、22を施した部品搭載基板1
(図1(a)参照)の上に塗布(図1(b)参照)し
た。次に、図1(c)に示すように、長さ1mm、幅
0.5mmのチップ状の電子部品4を搭載した。電子部
品4は、基体40の相対する両端に端部電極41、42
を有し、端部電極41、42がはんだバンプ21、22
上に位置するようにして、部品搭載基板1上に配置し
た。電子部品4を搭載した部品搭載基板1を、リフロー
炉に通炉し、電子部品4の基体40の両端に設けられた
端部電極41、42をはんだバンプ21、22にはんだ
接合した。これにより、本発明に係る電子部品装置が得
られる。フラックス3は、電子部品4と部品搭載基板1
との間に生じる間隔に充填され、接着性はんだ付け用フ
ラックスとして機能する。得られた電子部品装置につい
て、図2に示すように、電子部品4を横方向F1に押
し、部品横押し強度を測定した。
The flux 3 prepared with the above composition is applied to the component mounting board 1 on which the solder bumps 21 and 22 have been applied in advance.
(See FIG. 1 (a)) and applied (see FIG. 1 (b)). Next, as shown in FIG. 1C, a chip-shaped electronic component 4 having a length of 1 mm and a width of 0.5 mm was mounted. The electronic component 4 has end electrodes 41 and 42 at opposite ends of the base 40.
And the end electrodes 41 and 42 are solder bumps 21 and 22
It was arranged on the component mounting board 1 so as to be positioned above. The component mounting board 1 on which the electronic component 4 was mounted was passed through a reflow furnace, and end electrodes 41 and 42 provided at both ends of the base 40 of the electronic component 4 were soldered to the solder bumps 21 and 22. Thereby, the electronic component device according to the present invention is obtained. The flux 3 includes the electronic component 4 and the component mounting board 1
And functions as an adhesive soldering flux. As for the obtained electronic component device, as shown in FIG. 2, the electronic component 4 was pushed in the lateral direction F1, and the component lateral pressing strength was measured.

【0035】比較例1 比較のために、従来のロジン系フラックスを用い、図1
に従って部品を搭載し、はんだ付け処理を行い、次に、
図2に示した試験方法に従い、部品横押し強度を測定し
た。
Comparative Example 1 For comparison, a conventional rosin-based flux was used, and FIG.
The components are mounted according to and soldering is performed.
According to the test method shown in FIG. 2, the lateral pressing strength of the component was measured.

【0036】図3は横押し強度試験結果を示している。
図3に示すように、従来のロジンフラックスを用いた比
較例1の横押し強度平均値は800g程度であったが、
本発明に係るフラックスを使用した実施例1では、平均
値1600g程度の横押し強度を得ることができた。
FIG. 3 shows the results of the lateral pressing strength test.
As shown in FIG. 3, the average lateral pressing strength of Comparative Example 1 using the conventional rosin flux was about 800 g,
In Example 1 using the flux according to the present invention, an average lateral pressing strength of about 1600 g could be obtained.

【0037】電子部品4と部品搭載基板1との間に生じ
る間隔に充填されているフラックスは、接着性樹脂と、
硬化剤とを含有しており、接着性接着剤として機能す
る。このフラックス(はんだ付け用フラックス)3は洗
浄する必要がなく、そのまま接着はんだ付け用フラック
スとして用いることができる。従って、フラックス洗浄
工程を必要としない製造コストの安価な電子部品装置を
得ることができる。しかも、フラックス3で構成される
はんだ付け用フラックスは、接着性樹脂と、硬化剤とを
含有しており、接着性はんだ付け用フラックスとして機
能するから、はんだ接合寿命を、従来よりも著しく長期
化させた高信頼度の電子部品装置を得ることができる。
The flux filled in the space generated between the electronic component 4 and the component mounting board 1 is composed of an adhesive resin,
It contains a curing agent and functions as an adhesive. This flux (flux for soldering) 3 does not need to be washed and can be used as it is as a flux for adhesive soldering. Therefore, it is possible to obtain an inexpensive electronic component device that does not require a flux cleaning step. Moreover, since the soldering flux composed of the flux 3 contains an adhesive resin and a curing agent and functions as an adhesive soldering flux, the solder joining life is significantly prolonged as compared with the conventional soldering flux. As a result, a highly reliable electronic component device can be obtained.

【0038】実施例2 実施例1で調製したフラックスと、はんだ粉末とを混合
し、はんだぺーストを調製した。はんだ粉末に対するフ
ラックスの配合量は10wt%とした。このはんだペー
ストを用いて、チップ部品を部品搭載基板上にはんだ付
けした。図4(a)〜(c)は部品搭載基板の詳細と、
部品搭載基板に対するチップ部品のはんだ付け工程を示
す部分断面図である。部品搭載基板1は、Cu膜51
(52)、Ni膜61(62)及びAu膜71(72)
を順次に積層して形成した2つのランドを有する。
Example 2 A solder paste was prepared by mixing the flux prepared in Example 1 and a solder powder. The mixing amount of the flux with respect to the solder powder was 10 wt%. Using this solder paste, a chip component was soldered on a component mounting board. 4A to 4C show details of the component mounting board,
It is a fragmentary sectional view showing the soldering process of a chip part to a parts mounting board. The component mounting board 1 includes a Cu film 51.
(52), Ni film 61 (62) and Au film 71 (72)
Are sequentially laminated to form two lands.

【0039】上述した部品搭載基板1のランドの上に、
本発明に係るはんだペースト81(82)を塗布した
(図4(a)参照)。はんだペースト81(82)の塗
布に当たっては、厚み100μmのメタルマスクを用い
て印刷した。メタルマスクの開口寸法は0.5mm×
0.3mmとし、電子部品4の搭載されるランド寸法と
同寸法とした。
On the land of the component mounting board 1 described above,
The solder paste 81 (82) according to the present invention was applied (see FIG. 4A). When applying the solder paste 81 (82), printing was performed using a metal mask having a thickness of 100 μm. The opening size of the metal mask is 0.5mm x
0.3 mm, which is the same as the land size on which the electronic component 4 is mounted.

【0040】そして、はんだペースト81(82)の上
に、長さ1mm、幅0.5mmの電子部品4を搭載(図
4(b)参照)し、リフロー炉に通炉することにより、
電子部品4を部品搭載基板1上にはんだ付けした(図4
(c)参照)。これにより、本発明に係る電子部品装置
が得られる。
Then, the electronic component 4 having a length of 1 mm and a width of 0.5 mm is mounted on the solder paste 81 (82) (see FIG. 4B), and is passed through a reflow furnace.
The electronic component 4 was soldered onto the component mounting board 1 (FIG. 4).
(C)). Thereby, the electronic component device according to the present invention is obtained.

【0041】この後、図2に示した方法に従って横押し
強度を測定した。図4(c)において、参照符号3は、
はんだペースト81(82)に含まれていた本発明に係
るフラックスを示し、端部電極41、42の外側でフィ
レット状になる。
Thereafter, the lateral pressing strength was measured according to the method shown in FIG. In FIG. 4C, reference numeral 3 is
The flux according to the present invention included in the solder paste 81 (82) is shown as a fillet outside the end electrodes 41 and 42.

【0042】比較例2 比較のため、従来のロジン系フラックスを含むはんだペ
ーストを用い、チップ部品を部品搭載基板にはんだ付け
した。はんだ粉末に対するロジン系フラックスの配合量
は10wt%とした。
Comparative Example 2 For comparison, a chip component was soldered to a component mounting board using a conventional solder paste containing a rosin-based flux. The blending amount of the rosin flux with respect to the solder powder was 10 wt%.

【0043】図5(a)〜(c)は部品搭載基板の詳細
と、部品搭載基板に対するチップ部品のはんだ付け工程
を示す部分断面図である。図示するように、部品搭載基
板1は、Cu膜51(52)、Ni膜61(62)及び
Au膜71(72)を順次に積層した2つのランドを有
する。この部品搭載基板1のランドの上に、ロジン系フ
ラックスを含有するはんだペースト91(92)を塗布
した(図5(a)参照)。
FIGS. 5A to 5C are partial cross-sectional views showing details of the component mounting board and a step of soldering chip components to the component mounting board. As illustrated, the component mounting board 1 has two lands in which a Cu film 51 (52), a Ni film 61 (62), and an Au film 71 (72) are sequentially stacked. A solder paste 91 (92) containing a rosin-based flux was applied onto the lands of the component mounting board 1 (see FIG. 5A).

【0044】そして、ロジン系フラックスを含有するは
んだペースト91(92)の上に、長さ1mm、幅0.
5mmの電子部品4を搭載(図5(b)参照)し、リフ
ロー炉に通炉することにより、電子部品4を部品搭載基
板1上にはんだ付けした(図5(c)参照)。この後、
図2に示した方法に従って、部品横押し強度を測定し
た。
Then, on the solder paste 91 (92) containing the rosin-based flux, a length of 1 mm and a width of 0.1 mm are applied.
The electronic component 4 of 5 mm was mounted (see FIG. 5B) and passed through a reflow furnace to solder the electronic component 4 onto the component mounting board 1 (see FIG. 5C). After this,
According to the method shown in FIG. 2, the lateral pressing strength of the component was measured.

【0045】図6は実施例2及び比較例2の部品横押し
強度試験の結果を示す図である。図示するように、比較
例2の横押し強度の平均値は600g程度であったが、
実施例2では平均値1500g程度の強度を得ることが
できた。
FIG. 6 is a diagram showing the results of the lateral pressing strength test of the components of Example 2 and Comparative Example 2. As shown in the figure, the average value of the lateral pressing strength of Comparative Example 2 was about 600 g,
In Example 2, an average strength of about 1500 g could be obtained.

【0046】実施例3 実施例1で調製したフラックスと、はんだ粉末とを混合
し、はんだぺ一ストを調製した。はんだ粉末に対するフ
ラックスの配合量は、20〜45wt%まで増やした。
Example 3 The flux prepared in Example 1 and the solder powder were mixed to prepare a solder paste. The mixing amount of the flux with respect to the solder powder was increased to 20 to 45 wt%.

【0047】このはんだぺ一ストを用い、図7に従っ
て、電子部品4を部品搭載基板1に搭載し、はんだ付け
した。図7を参照して具体的に述べると、部品搭載基板
1は、Cu膜51(52)、Ni膜61(62)及びA
u膜71(72)を順次に積層して形成した2つのラン
ドを有する(図7(a)参照)。
Using this solder paste, the electronic component 4 was mounted on the component mounting board 1 and soldered according to FIG. Specifically, referring to FIG. 7, the component mounting board 1 includes a Cu film 51 (52), a Ni film 61 (62),
It has two lands formed by sequentially stacking u films 71 and 72 (see FIG. 7A).

【0048】上述した部品搭載基板1のランドの上に、
本発明に係るはんだペースト81(82)を塗布した
(図7(a)参照)。はんだペースト81(82)の塗
布に当たっては、厚み100μmのメタルマスクを用い
て印刷した。メタルマスクの開口寸法は0.5mm×
0.3mmとし、電子部品4の搭載されるランド寸法と
同寸法とした。
On the land of the component mounting board 1 described above,
The solder paste 81 (82) according to the present invention was applied (see FIG. 7A). When applying the solder paste 81 (82), printing was performed using a metal mask having a thickness of 100 μm. The opening size of the metal mask is 0.5mm x
0.3 mm, which is the same as the land size on which the electronic component 4 is mounted.

【0049】そして、はんだペースト81(82)の上
に、長さ1mm、幅0.5mmの電子部品4を搭載(図
7(b)参照)し、リフロー炉に通炉することにより、
電子部品4を部品搭載基板1上にはんだ付けした(図7
(c)参照)。これにより、本発明に係る電子部品装置
が得られる。
Then, the electronic component 4 having a length of 1 mm and a width of 0.5 mm is mounted on the solder paste 81 (82) (see FIG. 7B), and is passed through a reflow furnace.
The electronic component 4 was soldered onto the component mounting board 1 (FIG. 7).
(C)). Thereby, the electronic component device according to the present invention is obtained.

【0050】はんだ付け後の外観は、図8に示す通りで
ある。図8は図7(c)の8ー8線に沿った断面図であ
る。実施例3では、意図的にフラックス含有量を増やし
たはんだぺ一ストを用いたものであるが、実質、はんだ
量が少なくて済み、電子部品4は、図8に示すように、
傾斜することなく、正常な状態ではんだ付けされた。図
7(c)及び図10において、参照符号3は、はんだペ
ースト81(82)に含まれていた本発明に係るフラッ
クスを示し、端部電極41、42の外側でフィレット状
になる。
The appearance after soldering is as shown in FIG. FIG. 8 is a sectional view taken along line 8-8 in FIG. In the third embodiment, a solder paste whose flux content is intentionally increased is used. However, the solder amount is substantially small, and the electronic component 4 is, as shown in FIG.
Soldered in normal condition without tilting. In FIG. 7C and FIG. 10, reference numeral 3 indicates the flux according to the present invention included in the solder paste 81 (82), which becomes a fillet outside the end electrodes 41 and 42.

【0051】また、本発明に係るフラックスを含有する
はんだペーストを用いたことにより、はんだ付け後の電
子部品4の周辺を、フラックスが覆い、部品横押し強度
の向上も認められた。このように、はんだぺ一スト中の
フラックス含有率を故意に向上させることにより、はん
だ厚みを、はんだぺ一ストによって制御も可能となる。
特に、フラックスの含有量が35wt%以上の領域で、
斜めはんだ付けを回避し、かつ、従来品と同等以上の接
合強度を得ることができた。
Further, by using the solder paste containing the flux according to the present invention, the periphery of the electronic component 4 after soldering was covered with the flux, and the improvement of the lateral pressing strength of the component was also recognized. Thus, by intentionally improving the flux content in the solder paste, the thickness of the solder can be controlled by the solder paste.
In particular, in the region where the flux content is 35 wt% or more,
Diagonal soldering was avoided, and a bonding strength equal to or higher than that of the conventional product was obtained.

【0052】比較例3 比較のために、従来のロジン系フラックス含有のはんだ
ペーストを用い、図9に従って、電子部品4を部品搭載
基板1に搭載し、はんだ付けした。図9を参照して具体
的に述べると、部品搭載基板1は、Cu膜51(5
2)、Ni膜61(62)及びAu膜71(72)を順
次に積層して形成した2つのランドを有する(図9
(a)参照)。
Comparative Example 3 For comparison, the electronic component 4 was mounted on the component mounting board 1 and soldered according to FIG. 9 using a conventional rosin-based flux-containing solder paste. More specifically, referring to FIG. 9, the component mounting board 1 includes a Cu film 51 (5
2), two lands formed by sequentially laminating a Ni film 61 (62) and an Au film 71 (72) (FIG. 9).
(A)).

【0053】上述した部品搭載基板1のランドの上に、
ロジン系フラックス含有のはんだペースト91(92)
を塗布した(図9(a)参照)。はんだペースト91
(92)の塗布に当たっては、厚み100μmのメタル
マスクを用いて印刷した。メタルマスクの開口寸法は
0.5mm×0.3mmとし、電子部品4の搭載される
ランド寸法と同寸法とした。
On the land of the component mounting board 1 described above,
Rosin flux-containing solder paste 91 (92)
Was applied (see FIG. 9A). Solder paste 91
In the application of (92), printing was performed using a metal mask having a thickness of 100 μm. The opening size of the metal mask was 0.5 mm × 0.3 mm, and was the same as the land size on which the electronic component 4 was mounted.

【0054】そして、はんだペースト91(92)の上
に、長さ1mm、幅0.5mmの電子部品4を搭載(図
9(b)参照)し、リフロー炉に通炉することにより、
電子部品4を部品搭載基板1上にはんだ付けした(図9
(c)参照)。
Then, the electronic component 4 having a length of 1 mm and a width of 0.5 mm is mounted on the solder paste 91 (92) (see FIG. 9B) and passed through a reflow furnace.
The electronic component 4 was soldered onto the component mounting board 1 (FIG. 9).
(C)).

【0055】リフローはんだ付け後の外観は、図10に
示す通りである。図10は図9(c)の10ー10線に
沿った部分断面図である。図10に示すように、従来の
ロジン系フラックス含有はんだぺ一ストではんだ付けし
たものは、はんだ量が多すぎ、電子部品4が斜めにはん
だ付けされた。図9(c)及び図10において、参照符
号93は、はんだペースト91(92)に含まれていた
ロジン系フラックスを示す。
The appearance after reflow soldering is as shown in FIG. FIG. 10 is a partial cross-sectional view along the line 10-10 in FIG. 9C. As shown in FIG. 10, when the conventional rosin flux-containing solder was soldered, the amount of solder was too large, and the electronic component 4 was obliquely soldered. In FIG. 9C and FIG. 10, reference numeral 93 indicates a rosin-based flux contained in the solder paste 91 (92).

【0056】実施例4 フラックスの配合組成について検討した。接着性樹脂と
して、液状エポキシ樹脂を用い、硬化剤としてアビエチ
ン酸(カルボン酸)を用いた。液状エポキシ樹脂に対
し、アビエチン酸を、表1に示す重量比で配合した。こ
のフラックスを基板上に塗布し、230℃のリフロー炉
に通炉し、樹脂硬化膜について検証した。
Example 4 The composition of the flux was examined. Liquid epoxy resin was used as the adhesive resin, and abietic acid (carboxylic acid) was used as the curing agent. Abietic acid was added to the liquid epoxy resin at a weight ratio shown in Table 1. This flux was applied on a substrate and passed through a reflow oven at 230 ° C. to verify the cured resin film.

【0057】表1に示すように、液状エポキシ樹脂1w
t%に対し、アビエチン酸1wt%の配合比のとき、硬
い硬化膜となり、最も良好な結果が得られる。その他の
配合比では、硬化しなかったり、ゲル状になったり、あ
るいは弾性硬化膜になったりするので、適当でない。リ
フロー温度に対しては、エポキシ樹脂の配合比、或い
は、エポキシ樹脂の分子量、官能基数を変え、硬化剤
(カルボン酸)の種類を検討すれば、任意の温度で、所
望の硬化膜(接着性)を得ることができる。
As shown in Table 1, the liquid epoxy resin 1w
When the mixing ratio of abietic acid is 1 wt% with respect to t%, a hard cured film is obtained, and the best result is obtained. Other compounding ratios are not suitable because they do not cure, become gel-like, or become elastic cured films. With respect to the reflow temperature, if the mixing ratio of the epoxy resin, or the molecular weight and the number of functional groups of the epoxy resin are changed and the type of the curing agent (carboxylic acid) is examined, the desired cured film (adhesive ) Can be obtained.

【0058】実施例5 実施例4で調製したフラックスと、はんだ粉末とを混合
し、はんだペーストを調製した。はんだ粉末としては、
Sn(96.5)Ag(3.5)を用いた。フラックス
の含有量は25wt%とした。これを実施例5とする。
Example 5 A solder paste was prepared by mixing the flux prepared in Example 4 with solder powder. As solder powder,
Sn (96.5) Ag (3.5) was used. The content of the flux was 25 wt%. This is Example 5.

【0059】図11は実施例5のはんだペーストを用い
てチップ部品をはんだ付けした場合、及び、従来のロジ
ン系はんだペーストを用いてチップ部品をはんだ付けし
た場合について、リフロー温度と部品横押し強度との関
係を示す図である。図において、曲線L1は実施例5の
はんだペーストを用いた場合の特性、曲線L2は従来の
ロジン系はんだペーストを用いた場合の特性である。
FIG. 11 shows the reflow temperature and the component lateral pressing strength when the chip component is soldered using the solder paste of Example 5 and when the chip component is soldered using the conventional rosin-based solder paste. FIG. In the drawing, a curve L1 shows the characteristics when the solder paste of Example 5 is used, and a curve L2 shows the characteristics when the conventional rosin-based solder paste is used.

【0060】図11に示すように、フラックスを含有す
るはんだぺ一ストは、220〜260℃のリフロー温度
範囲において、従来のロジン系はんだペーストよりも高
い接合強度を示す。特に、リフロー温度230℃以上で
高い接合強度を確保することができた。
As shown in FIG. 11, the solder paste containing the flux exhibits higher bonding strength than the conventional rosin-based solder paste in the reflow temperature range of 220 to 260 ° C. In particular, high bonding strength could be secured at a reflow temperature of 230 ° C. or higher.

【0061】実施例6 実施例5に示したはんだペーストを用いて、チップ部品
を部品搭載基板にはんだ付けし、本発明に係る電子部品
装置を得た。この後、部品搭載基板とチップ部品の端子
極の接合性について観察したところ、フラックスを含有
するはんだペーストは、ロジン系はんだペーストと同様
の接合性を有していた。因に、従来の導電性接着剤や異
方性導電ぺ一ストを上記フラックスと同様に評価した場
合、部品搭載基板と部品の端子との接合は得られなかっ
た。
Example 6 Using the solder paste shown in Example 5, a chip component was soldered to a component mounting board to obtain an electronic component device according to the present invention. Thereafter, when the bonding property between the component mounting board and the terminal electrode of the chip component was observed, the solder paste containing the flux had the same bonding property as the rosin-based solder paste. By the way, when the conventional conductive adhesive and anisotropic conductive paste were evaluated in the same manner as the above-mentioned flux, joining of the component mounting board and the terminal of the component was not obtained.

【0062】上記実施例では、部品搭載基板1の一面に
電子部品4を搭載する例を示したが、部品搭載基板1の
両面に電子部品4を搭載することができる。この場合、
部品搭載基板1の一面上に、本発明に係るはんだペース
トによるはんだ付け処理を実行した後、部品搭載基板1
の他面上で、本発明に係るはんだペーストとは異なるは
んだ、例えば、従来のロジン系はんだペーストを用い
て、電子部品4をはんだ付けすることができる。これと
は異なって、部品搭載基板1の両面側において、本発明
に係るはんだペーストを用いて、電子部品4をはんだ付
けすることもできる。何れの場合も、電子部品4がシフ
ティング、マンハッタン現象(部品立ち現象)または脱
落等の不具合を起こすことはない。
In the above embodiment, the electronic component 4 is mounted on one surface of the component mounting board 1, but the electronic component 4 can be mounted on both surfaces of the component mounting board 1. in this case,
After performing a soldering process using the solder paste according to the present invention on one surface of the component mounting board 1, the component mounting board 1
On the other side, the electronic component 4 can be soldered using a solder different from the solder paste according to the present invention, for example, a conventional rosin-based solder paste. Alternatively, the electronic component 4 can be soldered on both sides of the component mounting board 1 using the solder paste according to the present invention. In any case, the electronic component 4 does not cause a problem such as shifting, a Manhattan phenomenon (component standing phenomenon), or falling off.

【0063】<電子回路モジュール>本発明に係る電子
回路モジュールは、既に述べた電子部品装置との対比に
おいて、電子部品が、半導体チップに置き換わる点、及
び、部品搭載基板がチップ搭載基板に置き換わる点を除
けば、本質的に異なる点はない。換言すれば、本発明に
係る電子回路モジュールの基本構成は、実質的に、電子
部品装置に開示されている。用いられる半導体チップに
は、特に限定はない。半導体チップには、一般には、半
導体素子(図示しない)または受動回路素子が含まれ
る。チップサイズパッケージ(CSP)と称される電子
回路モジュールも、当然用いることができる。
<Electronic Circuit Module> The electronic circuit module according to the present invention differs from the above-described electronic component device in that the electronic component is replaced by a semiconductor chip and the component mounting board is replaced by a chip mounting board. Apart from, there is essentially no difference. In other words, the basic configuration of the electronic circuit module according to the present invention is substantially disclosed in the electronic component device. The semiconductor chip used is not particularly limited. The semiconductor chip generally includes a semiconductor element (not shown) or a passive circuit element. An electronic circuit module called a chip size package (CSP) can of course be used.

【0064】図12は本発明に係る電子回路モジュール
の正面部分断面図である。図示された電子回路モジュー
ルは、半導体チップ100と、チップ搭載基板200
と、はんだ付け用フラックス400とを含む。図示され
た半導体チップ100は、下面等の適当な位置に、適当
数の端子電極110、120が形成してあって、この端
子電極110、120を、はんだ210、220によっ
て、チップ搭載基板200の上のランド230、240
に接合してある。
FIG. 12 is a partial front sectional view of an electronic circuit module according to the present invention. The illustrated electronic circuit module includes a semiconductor chip 100 and a chip mounting substrate 200.
And a soldering flux 400. The illustrated semiconductor chip 100 has an appropriate number of terminal electrodes 110 and 120 formed at appropriate positions such as a lower surface, and the terminal electrodes 110 and 120 are attached to the chip mounting substrate 200 by solders 210 and 220. Upper lands 230, 240
It is joined to.

【0065】チップ搭載基板200は、セラミック基
板、有機樹脂基板またはそれらの組み合わせによって構
成することができる。チップ搭載基板200の内部に
は、一般に、単層または複数層の導体パターン、及び、
厚み方向に設けられたビヤホール等が形成されている。
導体パターンは、単に、回路引き回しのために備えられ
る他、キャパシタまたはインダクタ等を構成するために
備えられることもある。
The chip mounting substrate 200 can be constituted by a ceramic substrate, an organic resin substrate, or a combination thereof. Generally, a single-layer or multiple-layer conductor pattern is provided inside the chip mounting substrate 200, and
Via holes and the like provided in the thickness direction are formed.
The conductor pattern is provided merely for circuit routing, and may be provided for forming a capacitor or an inductor.

【0066】はんだ付け用フラックス400は、接着性
樹脂と、硬化剤とを含有し、半導体チップ100と、チ
ップ搭載基板200との間に介在し、両者を接着してい
る。はんだ付け用フラックス400は接着剤として機能
する。
The soldering flux 400 contains an adhesive resin and a curing agent, is interposed between the semiconductor chip 100 and the chip mounting board 200, and adheres them. The soldering flux 400 functions as an adhesive.

【0067】図示実施例において、はんだ付け用フラッ
クス400は、半導体チップ100とチップ搭載基板2
00との間の隙間を、ほぼ埋めるように充填されてい
る。
In the illustrated embodiment, the soldering flux 400 comprises the semiconductor chip 100 and the chip mounting substrate 2.
It is filled so as to substantially fill the gap between the two.

【0068】既に述べたように、はんだ付け用フラック
ス400は洗浄する必要がなく、そのまま接着剤として
用いることができる。従って、フラックス洗浄工程を必
要とせず、製造コストの安価な電子回路モジュールを得
ることができる。しかも、はんだ付け用フラックスは、
接着性樹脂と、硬化剤とを含有しており、接着剤として
機能するから、はんだ接合寿命を、従来よりも著しく長
期化させた高信頼度の電子回路モジュールを得ることが
できる。
As described above, the soldering flux 400 does not need to be cleaned, and can be used as it is as an adhesive. Therefore, it is possible to obtain an electronic circuit module which does not require a flux cleaning step and has a low manufacturing cost. Moreover, the soldering flux is
Since it contains an adhesive resin and a curing agent and functions as an adhesive, it is possible to obtain a highly reliable electronic circuit module in which the solder joining life is significantly prolonged as compared with the related art.

【0069】図13は図12に示したCSP(チップサ
イズパッケ−ジ)等の電子回路モジュールのはんだ付け
方法を説明する図である。このはんだ付け方法は、図1
に示したはんだ付け方法を、電子回路モジュールのはん
だ付けに適用したものに相当する。既に述べたように、
接着性樹脂と、硬化剤とを含有するフラックス400
を、予め、はんだバンプ210、220を形成したチッ
プ搭載基板200の上に塗布する。はんだバンプ21
0、220はチップ搭載基板200の表面に設けられた
ランド230、240の上に形成されている。フラック
ス400の詳細は、既に述べた通りである。
FIG. 13 is a view for explaining a method of soldering an electronic circuit module such as a CSP (chip size package) shown in FIG. This soldering method is shown in FIG.
Corresponds to a method applied to soldering of an electronic circuit module. As already mentioned,
Flux 400 containing adhesive resin and curing agent
Is applied in advance on the chip mounting substrate 200 on which the solder bumps 210 and 220 have been formed. Solder bump 21
Reference numerals 0 and 220 are formed on lands 230 and 240 provided on the surface of the chip mounting substrate 200. The details of the flux 400 are as described above.

【0070】そして、このチップ搭載基板200の上に
半導体チップ100を搭載する。半導体チップ100
は、端子電極110、120がはんだバンプ210、2
20上に位置するようにして、チップ搭載基板200上
に配置する。その後、半導体チップ100を搭載したチ
ップ搭載基板200を、リフロー炉に通炉し、半導体チ
ップ100の基体40の両端に設けられた端子電極11
0、120をはんだバンプ210、220にはんだ接合
する。これにより、図12に示した電子回路モジュール
が得られる。
Then, the semiconductor chip 100 is mounted on the chip mounting substrate 200. Semiconductor chip 100
Means that the terminal electrodes 110 and 120 are solder bumps 210 and 2
20 and is arranged on the chip mounting board 200. Thereafter, the chip mounting substrate 200 on which the semiconductor chip 100 is mounted is passed through a reflow furnace, and the terminal electrodes 11 provided on both ends of the base 40 of the semiconductor chip 100 are provided.
0 and 120 are soldered to the solder bumps 210 and 220. Thereby, the electronic circuit module shown in FIG. 12 is obtained.

【0071】図14は本発明に係る電子回路モジュール
の別の例を示す正面部分断面図である。図において、図
12に図示された構成部分と同一の構成部分には、同一
の参照符号を付してある。図示実施例において、はんだ
付け用フラックス400は、半導体チップ100とチッ
プ搭載基板200との間に介在し、はんだバンプ21
0、220の周りで、両者を接着している。
FIG. 14 is a partial front sectional view showing another example of the electronic circuit module according to the present invention. In the figure, the same components as those shown in FIG. 12 are denoted by the same reference numerals. In the illustrated embodiment, the soldering flux 400 is interposed between the semiconductor chip 100 and the chip mounting substrate 200,
Around 0 and 220, both are bonded.

【0072】この場合も、はんだ付け用フラックス40
0は洗浄する必要がなく、そのまま接着剤として用いる
ことができる。従って、フラックス洗浄工程を必要とせ
ず、製造コストの安価な電子回路モジュールを得ること
ができる。しかも、はんだ付け用フラックスは、接着性
樹脂と、硬化剤とを含有しており、接着剤として機能す
るから、はんだ接合寿命を、従来よりも著しく長期化さ
せた高信頼度の電子回路モジュールを得ることができ
る。
Also in this case, the soldering flux 40
0 does not need to be washed and can be used as an adhesive as it is. Therefore, it is possible to obtain an electronic circuit module which does not require a flux cleaning step and has a low manufacturing cost. In addition, since the soldering flux contains an adhesive resin and a hardening agent and functions as an adhesive, a highly reliable electronic circuit module with a significantly longer solder joining life than before has been developed. Obtainable.

【0073】図15は図14に示した電子回路モジュー
ルのはんだ付け方法を説明する図である。このはんだ付
け方法は、図4〜8に示したはんだ付け方法を、電子回
路モジュールのはんだ付けに適用したものに相当する。
既に述べた組成のはんだ粉末含有フラックス410、4
20を、予め、チップ搭載基板200の表面に設けられ
たランド230、240の上に塗布する。
FIG. 15 is a view for explaining a method of soldering the electronic circuit module shown in FIG. This soldering method corresponds to a method in which the soldering method shown in FIGS. 4 to 8 is applied to soldering of an electronic circuit module.
Flux 410, 4 containing solder powder having the composition already described
20 is applied on lands 230 and 240 provided on the surface of the chip mounting substrate 200 in advance.

【0074】そして、このチップ搭載基板200の上に
半導体チップ100を搭載する。半導体チップ100
は、端子電極110、120がはんだ粉末含有フラック
ス410、420上に位置するようにして、チップ搭載
基板200上に配置する。半導体チップ100を搭載し
たチップ搭載基板200を、リフロー炉に通炉し、半導
体チップ100の両端に設けられた端子電極110、1
20をはんだ粉末含有フラックス410、420に含ま
れるはんだ成分によりはんだ接合する。
Then, the semiconductor chip 100 is mounted on the chip mounting substrate 200. Semiconductor chip 100
Are arranged on the chip mounting substrate 200 such that the terminal electrodes 110 and 120 are positioned on the solder powder-containing fluxes 410 and 420. The chip mounting substrate 200 on which the semiconductor chip 100 is mounted is passed through a reflow furnace, and the terminal electrodes 110, 1
20 is soldered by the solder components contained in the solder powder-containing fluxes 410 and 420.

【0075】接合状態では、はんだ粉末含有フラックス
410、420に含まれる接着性樹脂及び硬化剤が、半
導体チップ100とチップ搭載基板200との間に介在
し、はんだバンプ210、220の周りで、両者を接着
する。これにより、図14に示した電子回路モジュール
が得られる。図15において、はんだ粉末含有フラック
ス410、420の量を増加させることにより、図12
に図示したように、はんだ付け用フラックス400が、
半導体チップ100とチップ搭載基板200との間の隙
間を、ほぼ埋めるように充填した構造を実現することも
できる。
In the joined state, the adhesive resin and the curing agent contained in the solder powder-containing fluxes 410 and 420 are interposed between the semiconductor chip 100 and the chip mounting board 200, and around the solder bumps 210 and 220, Glue. Thereby, the electronic circuit module shown in FIG. 14 is obtained. In FIG. 15, by increasing the amount of the solder powder-containing fluxes 410 and 420, FIG.
As shown in the figure, the soldering flux 400 is
A structure in which the gap between the semiconductor chip 100 and the chip mounting substrate 200 is filled so as to substantially fill the gap can also be realized.

【0076】次に具体的な実施例及び比較例を挙げて説
明する。
Next, specific examples and comparative examples will be described.

【0077】実施例7 まず、次の組成になる熱硬化性フラックス入りのはんだ
ぺ一ストを調製した。
Example 7 First, a solder paste containing a thermosetting flux having the following composition was prepared.

【0078】フラックス:ビスフエノールA樹脂/無水
フタル酸を質量比1対1で混合し、溶剤を10質量%添
加したもの はんだ粉末:Sn−3.5Ag 上記はんだ粉末に対し、上記フラックスを、10質量%
の割合で添加した。はんだ粉末の組成はリフロー温度に
応じて選択できるもので、他の組成系でもよい。また、
フラックスの配合量も任意に選択できる。
Flux: Bisphenol A resin / phthalic anhydride mixed at a mass ratio of 1: 1 and a solvent added by 10% by mass Solder powder: Sn-3.5Ag mass%
At a rate of The composition of the solder powder can be selected according to the reflow temperature, and another composition system may be used. Also,
The amount of the flux can also be arbitrarily selected.

【0079】上述した熱硬化性フラックス入りのはんだ
ぺ一ストを、スクリーン印刷法により、有機系チップ搭
載基板上に塗布した。スクリーン印刷に当たっては、メ
タルマスタ厚み100μmのスクリーンを用いた。
The above-mentioned solder paste containing a thermosetting flux was applied on an organic chip mounting substrate by a screen printing method. In screen printing, a metal master screen having a thickness of 100 μm was used.

【0080】次に、予め、はんだバンプが形成されてい
る半導体チップを有機系チップ搭載基板上に載せ、リフ
ロー炉に通炉した。リフロー温度は、最高温度240℃
とし、220℃以上の通炉時間を30秒とした。
Next, the semiconductor chip on which the solder bumps were formed was previously mounted on an organic chip mounting substrate and passed through a reflow furnace. Reflow temperature up to 240 ° C
The furnace passing time at 220 ° C. or more was 30 seconds.

【0081】比較例7 比較のため、封止剤を用いた従来品、および、封止剤を
用いない従来品を用意した。
Comparative Example 7 For comparison, a conventional product using a sealing agent and a conventional product using no sealing agent were prepared.

【0082】<試験>実施例7に係る電子回路モジュー
ル、及び、2種の従来電子回路モジュールを熱衝撃試験
に付した。熱衝撃試験は、(一55℃)を0.5時間保
持し、次に(+125℃)を0.5時間保持し、これを
1サイクルとし、2000サイクルまで行った。その後
に、はんだ接続部分における直流抵抗(RDC)を測定
した。
<Test> The electronic circuit module according to Example 7 and two types of conventional electronic circuit modules were subjected to a thermal shock test. The thermal shock test was carried out at (-155 ° C.) for 0.5 hour, and then at (+ 125 ° C.) for 0.5 hour. Thereafter, the direct current resistance (RDC) at the solder connection part was measured.

【0083】図16はRDC測定結果を示すグラフであ
る。図16において、横軸に熱衝撃サイクル(サイク
ル)を採り、縦軸にRDC(Ω)を採ってある。特性L
11は封止剤を用いない従来品の特性、特性L12は封
止剤を用いた従来品の特性、特性L13は本発明に係る
実施例7の特性である。
FIG. 16 is a graph showing the results of RDC measurement. In FIG. 16, the horizontal axis represents the thermal shock cycle (cycle), and the vertical axis represents RDC (Ω). Characteristic L
11 is the characteristic of the conventional product without using the sealant, characteristic L12 is the characteristic of the conventional product using the sealant, and characteristic L13 is the characteristic of Example 7 according to the present invention.

【0084】図16において、封止剤を用いなかった従
来品は、特性L11で示されているように、1500サ
イクルを越えると、RDCが急激に増大しており、RD
Cが劣化している。これに対して、本発明に係る実施例
7は、特性L13で示されるように、2000サイクル
を経過してもRDCの劣化は見られなかった。これは、
封止剤を用いた従来品の特性L12と同等の特性であ
る。
In FIG. 16, in the conventional product without using the sealing agent, as shown by the characteristic L11, the RDC sharply increased after 1500 cycles, and the RD
C has deteriorated. On the other hand, in the seventh embodiment according to the present invention, as shown by the characteristic L13, no deterioration of the RDC was observed even after the lapse of 2000 cycles. this is,
This is equivalent to the characteristic L12 of the conventional product using the sealing agent.

【0085】<電子回路装置>本発明係る電子回路装置
は、既に述べた電子部品装置との対比において、電子部
品が、電子回路モジュールに置き換わる点、及び、部品
搭載基板がマザー基板に置き換わる点を除けば、本質的
に異なる点はない。換言すれば、本発明に係る電子回路
装置の基本構成は、実質的に、電子部品装置に開示され
ている。
<Electronic Circuit Device> The electronic circuit device according to the present invention is different from the above-described electronic component device in that the electronic component is replaced by an electronic circuit module and the component mounting board is replaced by a mother board. Apart from that, there is essentially no difference. In other words, the basic configuration of the electronic circuit device according to the present invention is substantially disclosed in the electronic component device.

【0086】図17は本発明に係る電子回路装置の正面
部分断面図である。図示された電子回路装置は、電子回
路モジュール300と、マザー基板500と、はんだ付
け用フラックス600とを含む。
FIG. 17 is a front partial sectional view of an electronic circuit device according to the present invention. The illustrated electronic circuit device includes an electronic circuit module 300, a mother board 500, and a soldering flux 600.

【0087】電子回路モジュール300は、従来タイプ
の電子回路モジュールを用いることもできるが、好まし
くは、図12、14に示した構造のものを用いる。電子
回路モジュール300は、下面等の適当な位置に、適当
数の端子電極250、260が形成してあって、この端
子電極250、260を、はんだバンプ510、520
によって、マザー基板500の上のランド530、54
0に接合してある。
As the electronic circuit module 300, a conventional type electronic circuit module can be used, but preferably the one having the structure shown in FIGS. In the electronic circuit module 300, an appropriate number of terminal electrodes 250, 260 are formed at appropriate positions such as the lower surface, and these terminal electrodes 250, 260 are connected to the solder bumps 510, 520.
The lands 530, 54 on the mother substrate 500
0.

【0088】マザー基板200は、セラミック基板、有
機樹脂基板またはそれらの組み合わせによって構成する
ことができる。マザー基板500の内部には、単層また
は複数層の導体パターン、及び、厚み方向に設けられた
ビヤホール等が形成されることがある。導体パターン
は、単に、回路引き回しのために備えられる他、キャパ
シタまたはインダクタ等を構成するために備えられるこ
ともある。
The mother substrate 200 can be constituted by a ceramic substrate, an organic resin substrate, or a combination thereof. Inside the mother substrate 500, a conductor pattern of a single layer or a plurality of layers, a via hole provided in a thickness direction, or the like may be formed. The conductor pattern is provided merely for circuit routing, and may be provided for forming a capacitor or an inductor.

【0089】はんだ付け用フラックス600は、接着性
樹脂と、硬化剤とを含有し、電子回路モジュール300
と、マザー基板500との間に介在し、両者を接着して
いる。はんだ付け用フラックス600は、接着剤として
機能する。図示実施例において、はんだ付け用フラック
ス600は、電子回路モジュール300とマザー基板5
00との間の隙間を、ほぼ埋めるように充填されてい
る。
The soldering flux 600 contains an adhesive resin and a curing agent, and contains the electronic circuit module 300.
And the mother substrate 500, and are bonded to each other. The soldering flux 600 functions as an adhesive. In the illustrated embodiment, the soldering flux 600 includes the electronic circuit module 300 and the mother board 5.
It is filled so as to substantially fill the gap between the two.

【0090】はんだ付け用フラックス600は洗浄する
必要がなく、そのまま接着剤として用いることができ
る。従って、フラックス洗浄工程を必要とせず、製造コ
ストの安価な電子回路装置を得ることができる。しか
も、はんだ付け用フラックスは、接着性樹脂と、硬化剤
とを含有しており、接着剤として機能するから、はんだ
接合寿命を、従来よりも著しく長期化させた高信頼度の
電子回路装置を得ることができる。
The soldering flux 600 does not need to be cleaned, and can be used as it is as an adhesive. Accordingly, it is possible to obtain an electronic circuit device which does not require a flux cleaning step and has a low manufacturing cost. In addition, since the soldering flux contains an adhesive resin and a hardening agent and functions as an adhesive, a highly reliable electronic circuit device with a significantly longer solder joining life than before has been developed. Obtainable.

【0091】図18は図17に示した電子回路装置のは
んだ付け方法を説明する図である。このはんだ付け方法
は、図1に示したはんだ付け方法を、電子回路装置のは
んだ付けに適用したものに相当する。既に述べたよう
に、接着性樹脂と、硬化剤とを含有するフラックス60
0を、予め、はんだバンプ510、520を形成したマ
ザー基板500の上に塗布する。フラックス600はは
んだ粉末を含有しない。
FIG. 18 is a view for explaining a method of soldering the electronic circuit device shown in FIG. This soldering method corresponds to a method in which the soldering method shown in FIG. 1 is applied to soldering of an electronic circuit device. As described above, the flux 60 containing the adhesive resin and the curing agent is used.
0 is applied on the mother substrate 500 on which the solder bumps 510 and 520 have been formed in advance. The flux 600 does not contain solder powder.

【0092】はんだバンプ510、520はマザー基板
500の表面に設けられたランド530、540の上に
形成されている。そして、このマザー基板500の上に
電子回路モジュール300を搭載する。電子回路モジュ
ール300は、端子電極250、260がはんだバンプ
510、520上に位置するようにして、マザー基板5
00上に配置する。電子回路モジュール300を搭載し
たマザー基板500を、リフロー炉に通炉し、電子回路
モジュール300の端子電極250、260をはんだバ
ンプ510、520にはんだ接合する。これにより、図
17に示した電子回路装置が得られる。
The solder bumps 510 and 520 are formed on lands 530 and 540 provided on the surface of the mother board 500. Then, the electronic circuit module 300 is mounted on the mother board 500. The electronic circuit module 300 is configured such that the terminal electrodes 250 and 260 are located on the solder bumps 510 and 520,
Place on top of 00. The mother board 500 on which the electronic circuit module 300 is mounted is passed through a reflow furnace, and the terminal electrodes 250 and 260 of the electronic circuit module 300 are soldered to the solder bumps 510 and 520. Thereby, the electronic circuit device shown in FIG. 17 is obtained.

【0093】図19は本発明に係る電子回路装置の別の
例を示す正面部分断面図である。図において、図17に
図示された構成部分と同一の構成部分には、同一の参照
符号を付してある。図示実施例において、はんだ付け用
フラックス600は、電子回路モジュール300とマザ
ー基板500との間に介在し、はんだバンプ510、5
20の周りで、両者を接着している。
FIG. 19 is a partial front sectional view showing another example of the electronic circuit device according to the present invention. In the figure, the same components as those shown in FIG. 17 are denoted by the same reference numerals. In the illustrated embodiment, the soldering flux 600 is interposed between the electronic circuit module 300 and the mother board 500, and the solder bumps 510, 5
Around 20, the two are glued.

【0094】この場合も、はんだ付け用フラックス60
0は洗浄する必要がなく、そのまま接着剤として用いる
ことができる。従って、フラックス洗浄工程を必要とせ
ず、製造コストの安価な電子回路装置を得ることができ
る。しかも、はんだ付け用フラックス600は、はんだ
粉末を含む他、接着性樹脂と、硬化剤とを含有してお
り、接着剤として機能するから、はんだ接合寿命を、従
来よりも著しく長期化させた高信頼度の電子回路装置を
得ることができる。
In this case, too, the soldering flux 60 is used.
0 does not need to be washed and can be used as an adhesive as it is. Accordingly, it is possible to obtain an electronic circuit device which does not require a flux cleaning step and has a low manufacturing cost. Moreover, since the soldering flux 600 contains an adhesive resin and a curing agent in addition to the solder powder and functions as an adhesive, the solder joining life is significantly extended compared to conventional soldering fluxes. A reliable electronic circuit device can be obtained.

【0095】図20は図19に示した電子回路装置のは
んだ付け方法を説明する図である。このはんだ付け方法
は、図4〜8に示したはんだ付け方法を、電子回路装置
のはんだ付けに適用したものに相当する。既に述べた組
成にて調製したはんだ粉末含有フラックス610、62
0を、予め、マザー基板500の表面に設けられたラン
ド530、540の上に塗布する。そして、このマザー
基板500の上に電子回路モジュール300を搭載す
る。電子回路モジュール300は、端子電極250、2
60がはんだ粉末含有フラックス610、620上に位
置するようにして、マザー基板500上に配置する。
FIG. 20 is a view for explaining a method of soldering the electronic circuit device shown in FIG. This soldering method corresponds to a method in which the soldering method shown in FIGS. 4 to 8 is applied to soldering of an electronic circuit device. Solder powder-containing fluxes 610, 62 prepared with the composition already described.
0 is applied on lands 530 and 540 provided on the surface of the mother substrate 500 in advance. Then, the electronic circuit module 300 is mounted on the mother board 500. The electronic circuit module 300 includes terminal electrodes 250, 2
60 is arranged on the mother substrate 500 such that the 60 is located on the solder powder-containing fluxes 610 and 620.

【0096】次に、電子回路モジュール300を搭載し
たマザー基板500を、リフロー炉に通炉し、電子回路
モジュール300に設けられた端子電極250、260
をはんだ粉末含有フラックス610、620に含まれる
はんだ成分によりはんだ接合する。はんだ粉末含有フラ
ックス610、620に含まれる接着性樹脂及び硬化剤
が、電子回路モジュール300とマザー基板500との
間に介在し、はんだバンプ510、520の周りで、両
者を接着する。これにより、図19に示した電子回路装
置が得られる。図20において、はんだ粉末含有フラッ
クス610、620の量を増加させることにより、図1
7に図示したように、はんだ付け用フラックス600
が、電子回路モジュール300とマザー基板500との
間の隙間を、ほぼ埋めるように充填した構造を実現する
こともできる。
Next, the mother board 500 on which the electronic circuit module 300 is mounted is passed through a reflow furnace, and the terminal electrodes 250 and 260 provided on the electronic circuit module 300 are provided.
Is soldered with the solder components contained in the solder powder-containing fluxes 610 and 620. The adhesive resin and the curing agent contained in the solder powder-containing fluxes 610 and 620 are interposed between the electronic circuit module 300 and the mother board 500, and adhere the two around the solder bumps 510 and 520. Thus, the electronic circuit device shown in FIG. 19 is obtained. In FIG. 20, by increasing the amount of the flux 610, 620 containing the solder powder, FIG.
As shown in FIG. 7, the soldering flux 600
However, it is also possible to realize a structure in which a gap between the electronic circuit module 300 and the mother board 500 is substantially filled.

【0097】次に具体的な実施例を挙げて説明する。Next, a specific example will be described.

【0098】実施例8 まず、次の組成になる熱硬化性フラックス入りのはんだ
ぺ一ストを調製した。
Example 8 First, a solder paste containing a thermosetting flux having the following composition was prepared.

【0099】フラックス:ビスフエノールA樹脂/無水
フタル酸を質量比1対1で混合し、溶剤を10質量%添
加したもの はんだ粉末:Sn−3.5Ag 上記はんだ粉末に対し、上記フラックスを、10質量%
の割合で添加した。はんだ粉末の組成はリフロー温度に
応じて選択できるもので、他の組成系でもよい。また、
フラックスの配合量も任意に選択できる。
Flux: Bisphenol A resin / phthalic anhydride mixed at a mass ratio of 1: 1 and a solvent added by 10% by mass. Solder powder: Sn-3.5Ag. mass%
At a rate of The composition of the solder powder can be selected according to the reflow temperature, and another composition system may be used. Also,
The amount of the flux can also be arbitrarily selected.

【0100】マザー基板としては、有機系マザー基板を
用いた。電子回路モジュールは、有機系のチップ搭載基
板を用い、その上に半導体チップを搭載したものを用い
た。有機系チップ搭載基板の下面に備えられた端子電極
の表面には、有機系マザー基板とはんだ付けが可能なよ
うに、Auめっき処理を施した。
As the mother substrate, an organic mother substrate was used. As the electronic circuit module, an organic chip mounting substrate was used, on which a semiconductor chip was mounted. Au plating was applied to the surface of the terminal electrode provided on the lower surface of the organic chip mounting substrate so that it could be soldered to the organic mother substrate.

【0101】上述した熱硬化性フラックス入りのはんだ
ぺ一ストを、スクリーン印刷法により、有機系チップ搭
載基板上に塗布した。スクリーン印刷に当たっては、メ
タルマスタ厚み100μmのスクリーンを用いた。
The above-mentioned solder paste containing a thermosetting flux was applied on an organic chip mounting substrate by a screen printing method. In screen printing, a metal master screen having a thickness of 100 μm was used.

【0102】次に、電子回路モジュールを、有機系マザ
ー基板上に載せ、リフロー炉に通炉した。リフロー温度
は、最高温度240℃とし、220℃以上の通炉時間を
30秒とした。
Next, the electronic circuit module was mounted on an organic mother substrate and passed through a reflow furnace. The reflow temperature was set to a maximum temperature of 240 ° C., and the furnace passing time of 220 ° C. or more was set to 30 seconds.

【0103】実施例9 電子回路モジュールのチップ搭載基板を、セラミック基
板とした他は、実施例8と同様にして、電子回路装置を
製造した。
Example 9 An electronic circuit device was manufactured in the same manner as in Example 8, except that the chip mounting substrate of the electronic circuit module was a ceramic substrate.

【0104】比較例8 電子回路モジュールのチップ搭載基板を有機系材料によ
って構成し、この電子回路モジュールを、従来のフラッ
クスを用いて、有機系マザー基板にはんだ付けした。有
機系チップ搭載基板の下面に備えられた端子電極の表面
には、有機系マザー基板とはんだ付けが可能なように、
Auめっき処理を施した。
Comparative Example 8 A chip mounting substrate of an electronic circuit module was made of an organic material, and this electronic circuit module was soldered to an organic mother substrate using a conventional flux. On the surface of the terminal electrode provided on the lower surface of the organic chip mounting board, so that it can be soldered to the organic mother board,
Au plating was performed.

【0105】比較例9 電子回路モジュールのチップ搭載基板をセラミック材料
によって構成し、この電子回路モジュールを、従来のフ
ラックスを用いて、有機系マザー基板にはんだ付けし
た。セラミック系チップ搭載基板の下面に備えられた端
子電極の表面には、有機系マザー基板とはんだ付けが可
能なように、Auめっき処理を施した。
Comparative Example 9 A chip mounting board of an electronic circuit module was made of a ceramic material, and this electronic circuit module was soldered to an organic mother board using a conventional flux. Au plating was applied to the surface of the terminal electrode provided on the lower surface of the ceramic chip mounting substrate so that it could be soldered to the organic mother substrate.

【0106】<試験>実施例8、9に係る電子回路モジ
ュール、及び、比較例8、9に係る従来電子回路モジュ
ールを熱衝撃試験に付した。熱衝撃試験は、(一55
℃)を0.5時間保持し、次に(+125℃)を0.5
時間保持し、これを1サイクルとし、2000サイクル
まで行った。その後に、はんだ接続部分における直流抵
抗(RDC)を測定した。
<Test> The electronic circuit modules according to Examples 8 and 9 and the conventional electronic circuit modules according to Comparative Examples 8 and 9 were subjected to a thermal shock test. The thermal shock test was (
° C) for 0.5 hours, then (+ 125 ° C) to 0.5
This was held for one hour, and this was taken as one cycle, and was performed up to 2000 cycles. Thereafter, the direct current resistance (RDC) at the solder connection part was measured.

【0107】図21はRDC測定結果を示すグラフであ
る。図21において、横軸に熱衝撃サイクル(サイク
ル)を採り、縦軸にRDC(Ω)を採ってある。特性L
21は比較例9の特性、特性L22は実施例8、9及び
比較例8の特性である。
FIG. 21 is a graph showing the results of RDC measurement. In FIG. 21, the horizontal axis represents the thermal shock cycle (cycle), and the vertical axis represents RDC (Ω). Characteristic L
Reference numeral 21 denotes the characteristic of Comparative Example 9, and characteristic L22 denotes the characteristic of Examples 8, 9 and Comparative Example 8.

【0108】図21において、電子回路モジュールのチ
ップ搭載基板がセラミック材料でなり、マザー基板が有
機材料でなる比較例9は、特性L21で示されているよ
うに、1000サイクルを越えると、RDCが急激に増
大し、RDCが劣化する。これに対して、本発明に係る
実施例8、9は、特性L22で示されるように、200
0サイクルを経過してもRDCの劣化は見られなかっ
た。特に、実施例9の特性L22と、比較例9の特性L
21との対比から明らかなように、電子回路モジュール
のチップ搭載基板を、セラミック基板とし、マザー基板
を有機樹脂基板とした場合、従来は著しいRDCの劣化
を招いていた(特性L21参照)が、本発明によれば、
このような基板の組み合わせにおいても、RDCの劣化
を阻止できる(特性L22参照)という優れた効果が得
られる。
In FIG. 21, in Comparative Example 9 in which the chip mounting substrate of the electronic circuit module is made of a ceramic material and the mother substrate is made of an organic material, as shown by the characteristic L21, when the number of cycles exceeds 1,000, the RDC is reduced. It increases rapidly and RDC deteriorates. On the other hand, in the eighth and ninth embodiments according to the present invention, as shown by the characteristic L22, 200
No RDC degradation was observed even after 0 cycles. In particular, the characteristic L22 of Example 9 and the characteristic L of Comparative Example 9
As is clear from the comparison with No. 21, when the chip mounting substrate of the electronic circuit module is a ceramic substrate and the mother substrate is an organic resin substrate, the RDC has been remarkably deteriorated in the past (see characteristic L21). According to the present invention,
Even in such a combination of substrates, an excellent effect that deterioration of RDC can be prevented (see characteristic L22) can be obtained.

【0109】図示は省略するが、本発明に係るはんだペ
ーストを用いる場合、本発明に係るフラックスを封止剤
として用い、電子部品と部品搭載基板、半導体チップと
チップ搭載基板及び電子回路モジュールとマザー基板と
を、フラックスでなる封止剤によって接合することもで
きる。また、本発明に係るフラックスを用いた部品搭載
基板において、本フラックスの上層部に一般的な封止剤
を形成することもできる。
Although illustration is omitted, when the solder paste according to the present invention is used, the flux according to the present invention is used as a sealant, and the electronic component and the component mounting substrate, the semiconductor chip and the chip mounting substrate, and the electronic circuit module and the mother board are used. The substrate can also be joined by a sealing agent made of flux. Further, in the component mounting board using the flux according to the present invention, a general sealing agent can be formed on the upper layer of the flux.

【0110】[0110]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、次
のような効果が得られる。 (a)実装の高密度化、部品の小型化及び部品の配置間
隔の狭ピッチ化等に対しても、十分な接合強度をもって
対応し得るはんだ付け用フラックス及びはんだペースト
及びはんだ付け方法を提供することができる。 (b)両面実装タイプの部品搭載基板において、部品の
浮動または脱落等の不具合を確実に阻止し得るはんだ付
け用フラックス及びはんだペースト及びはんだ付け方法
を提供することができる。 (c)フラックス洗浄工程を必要とせず、製造コストの
安価な電子部品装置、電子回路モジュール及び電子回路
装置を提供することができる。 (d)はんだ接合寿命を、従来よりも著しく長期化させ
た高信頼度の電子部品装置、電子回路モジュール及び電
子回路装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained. (A) To provide a soldering flux, a solder paste, and a soldering method capable of coping with high bonding density, miniaturization of components, and narrowing of arrangement intervals of components with sufficient bonding strength. be able to. (B) It is possible to provide a soldering flux, a solder paste, and a soldering method that can reliably prevent a problem such as floating or falling off of a component on a component mounting board of a double-sided mounting type. (C) It is possible to provide an electronic component device, an electronic circuit module, and an electronic circuit device which do not require a flux cleaning step and are inexpensive to manufacture. (D) It is possible to provide a highly reliable electronic component device, an electronic circuit module, and an electronic circuit device in which the life of the solder joint is significantly prolonged as compared with the related art.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るフラックスを用いたチップ部品の
はんだ付け方法を示す部分断面図である。
FIG. 1 is a partial sectional view illustrating a method for soldering a chip component using a flux according to the present invention.

【図2】部品搭載基板にはんだ付けされたチップ部品の
横押し強度試験方法を示す部分断面図である。
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a method of testing the lateral pressing strength of a chip component soldered to a component mounting board.

【図3】図2に示した部品横押し強度試験による結果を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a result of a lateral pressing strength test of the part shown in FIG. 2;

【図4】本発明に係るフラックスを含有するはんだペー
ストを用いた場合について、部品搭載基板の詳細と、部
品搭載基板に対するチップ部品のはんだ付け工程を示す
部分断面図である。
FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing details of a component mounting board and a step of soldering a chip component to the component mounting board when a solder paste containing a flux according to the present invention is used.

【図5】従来のロジン系フラックスを含有するはんだペ
ーストを用いた場合について、部品搭載基板の詳細と、
部品搭載基板に対するチップ部品のはんだ付け工程を示
す部分断面図である。
FIG. 5 shows details of a component mounting board when a conventional solder paste containing a rosin-based flux is used;
It is a fragmentary sectional view showing the soldering process of a chip part to a parts mounting board.

【図6】図4に示す本発明に係るはんだ付け方法と、図
5に示す従来のはんだ付け方法とについて、部品横押し
強度試験の結果を示す図である。
6 is a diagram showing the results of a component lateral pressing strength test for the soldering method according to the present invention shown in FIG. 4 and the conventional soldering method shown in FIG.

【図7】本発明に係るフラックスを含有するはんだペー
ストを用いたはんだ付け方法を示す部分断面図である。
FIG. 7 is a partial cross-sectional view showing a soldering method using a solder paste containing a flux according to the present invention.

【図8】図7に示した本発明に係るはんだ付け方法によ
って、チップ部品を部品搭載基板上にはんだ付けした場
合の外観を示す図であって、図7の8ー8線に沿った部
分断面図である。
8 is a view showing an appearance when the chip component is soldered on the component mounting board by the soldering method according to the present invention shown in FIG. 7, and a portion along the line 8-8 in FIG. 7; It is sectional drawing.

【図9】従来のロジン系フラックス含有のはんだペース
トを用いたはんだ付け方法を示す部分断面図である。
FIG. 9 is a partial cross-sectional view showing a conventional soldering method using a rosin-based flux-containing solder paste.

【図10】図9に示した従来のはんだ付け方法によっ
て、チップ部品を部品搭載基板上にはんだ付けした場合
の外観を示す図であって、図9の10ー10線に沿った
部分断面図である。
10 is a view showing the appearance when the chip component is soldered on the component mounting board by the conventional soldering method shown in FIG. 9, and is a partial cross-sectional view along the line 10-10 in FIG. 9; It is.

【図11】本発明に係るはんだペーストを用いてチップ
部品をはんだ付けした場合と、従来のロジン系フラック
ス含有はんだペーストを用いてチップ部品をはんだ付け
した場合のリフロー温度と部品横押し強度との関係を示
す図である。
FIG. 11 is a graph showing the relationship between the reflow temperature and the component lateral pressing strength when a chip component is soldered using the solder paste according to the present invention and when a chip component is soldered using a conventional rosin-based flux-containing solder paste. It is a figure showing a relation.

【図12】本発明に係る電子回路モジュールの正面部分
断面図である。
FIG. 12 is a front partial sectional view of an electronic circuit module according to the present invention.

【図13】図12に示した電子回路モジュールのはんだ
付け方法を説明する図である。
13 is a diagram illustrating a method of soldering the electronic circuit module shown in FIG.

【図14】本発明に係る電子回路モジュールの別の例を
示す正面部分断面図である。
FIG. 14 is a front partial sectional view showing another example of the electronic circuit module according to the present invention.

【図15】図14に示した電子回路モジュールのはんだ
付け方法を説明する図である。
15 is a diagram illustrating a method of soldering the electronic circuit module shown in FIG.

【図16】RDC測定結果を示すグラフである。FIG. 16 is a graph showing RDC measurement results.

【図17】本発明に係る電子回路装置の正面部分断面図
である。
FIG. 17 is a front partial sectional view of an electronic circuit device according to the present invention.

【図18】図17に示した電子回路装置のはんだ付け方
法を説明する図である。
18 is a diagram illustrating a method of soldering the electronic circuit device shown in FIG.

【図19】本発明に係る電子回路装置の別の例を示す正
面部分断面図である。
FIG. 19 is a front partial sectional view showing another example of the electronic circuit device according to the present invention.

【図20】図19に示した電子回路装置のはんだ付け方
法を説明する図である。
20 is a diagram illustrating a method of soldering the electronic circuit device shown in FIG.

【図21】RDC測定結果を示すグラフである。FIG. 21 is a graph showing an RDC measurement result.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 部品搭載基板 21、22 はんだバンプ 3 フラックス 4 チップ部品 81、82 はんだペースト DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Component mounting board 21 and 22 Solder bump 3 Flux 4 Chip component 81 and 82 Solder paste

フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/34 512 H05K 3/34 512C // B23K 1/00 330 B23K 1/00 330E Fターム(参考) 5E319 AA03 AA07 AB05 BB05 BB07 BB11 5F044 LL01 LL04 LL11 RR17 RR18 RR19 Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat II (reference) H05K 3/34 512 H05K 3/34 512C // B23K 1/00 330 B23K 1/00 330E F-term (reference) 5E319 AA03 AA07 AB05 BB05 BB07 BB11 5F044 LL01 LL04 LL11 RR17 RR18 RR19

Claims (24)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 接着性樹脂と、硬化剤とを含有するはん
だ付け用フラックス。
1. A soldering flux containing an adhesive resin and a curing agent.
【請求項2】 請求項1に記載されたフラックスであっ
て、液状またはペースト状であるフラックス。
2. The flux according to claim 1, wherein the flux is a liquid or a paste.
【請求項3】 請求項1または2の何れかに記載された
フラックスであって、前記接着性樹脂は、熱硬化性樹脂
を含むフラックス。
3. The flux according to claim 1, wherein the adhesive resin contains a thermosetting resin.
【請求項4】 請求項3に記載されたフラックスであっ
て、 前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、
ポリイミド樹脂、シリコン樹脂、変性樹脂またはアクリ
ル樹脂から選択された少なくとも一種を含むフラック
ス。
4. The flux according to claim 3, wherein the thermosetting resin is an epoxy resin, a phenol resin,
A flux containing at least one selected from a polyimide resin, a silicone resin, a modified resin, and an acrylic resin.
【請求項5】 請求項4に記載されたフラックスであっ
て、 前記硬化剤は、カルボン酸を含むフラックス。
5. The flux according to claim 4, wherein the curing agent contains a carboxylic acid.
【請求項6】 はんだ粉末と、フラックスとを含むはん
だペーストであって、 前記フラックスは、請求項1乃至5の何れかに記載され
たものでなり、 前記はんだ粉末は、前記フラックスと混合されているは
んだペースト。
6. A solder paste containing a solder powder and a flux, wherein the flux is as defined in any one of claims 1 to 5, wherein the solder powder is mixed with the flux. Have solder paste.
【請求項7】 請求項6に記載されたはんだペーストで
あって、 前記はんだ粉末は、Sn、Cu、Ag、Sb、Pb、I
n、ZnまたはBiから選択された少なくとも一種を含
むはんだペースト。
7. The solder paste according to claim 6, wherein the solder powder is Sn, Cu, Ag, Sb, Pb, Ib.
A solder paste containing at least one selected from n, Zn, and Bi.
【請求項8】 少なくとも1つの電子部品と、部品搭載
基板と、はんだ付け用フラックスとを含む電子部品装置
であって、 前記電子部品は、部品搭載基板の上にはんだ付けされて
おり、 前記はんだ付け用フラックスは、接着性樹脂と、硬化剤
とを含有し、前記電子部品と前記部品搭載基板との間に
介在し、両者を接着している電子部品装置。
8. An electronic component device comprising at least one electronic component, a component mounting board, and a soldering flux, wherein the electronic component is soldered on the component mounting board, An electronic component device, wherein the attaching flux contains an adhesive resin and a curing agent, is interposed between the electronic component and the component mounting board, and adheres both.
【請求項9】 請求項8に記載された電子部品装置であ
って、前記はんだ付け用フラックスは、熱硬化性樹脂を
含む電子部品装置。
9. The electronic component device according to claim 8, wherein the soldering flux contains a thermosetting resin.
【請求項10】 請求項9に記載された電子部品装置で
あって、 前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、
ポリイミド樹脂、シリコン樹脂、変性樹脂またはアクリ
ル樹脂から選択された少なくとも一種を含む電子部品装
置。
10. The electronic component device according to claim 9, wherein the thermosetting resin is an epoxy resin, a phenol resin,
An electronic component device including at least one selected from a polyimide resin, a silicon resin, a modified resin, and an acrylic resin.
【請求項11】 請求項8乃至10の何れかに記載され
た電子部品装置であって、 前記硬化剤は、カルボン酸を含む電子部品装置。
11. The electronic component device according to claim 8, wherein the curing agent contains a carboxylic acid.
【請求項12】 半導体チップと、チップ搭載基板と、
はんだ付け用フラックスとを含む電子回路モジュールで
あって、 前記半導体チップは、少なくとも1つの半導体素子を含
み、チップ搭載基板の上にはんだ付けされており、 前記はんだ付け用フラックスは、接着性樹脂と、硬化剤
とを含有し、前記半導体チップと前記チップ搭載基板と
の間に介在し、両者を接着している電子回路モジュー
ル。
12. A semiconductor chip, a chip mounting board,
An electronic circuit module including a soldering flux, wherein the semiconductor chip includes at least one semiconductor element, and is soldered on a chip mounting board, wherein the soldering flux includes an adhesive resin and And a curing agent, interposed between the semiconductor chip and the chip mounting substrate and bonding the two.
【請求項13】 請求項12に記載された電子回路モジ
ュールであって、前記はんだ付け用フラックスは、熱硬
化性樹脂を含む電子回路モジュール。
13. The electronic circuit module according to claim 12, wherein the soldering flux contains a thermosetting resin.
【請求項14】 請求項13に記載された電子回路モジ
ュールであって、 前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、
ポリイミド樹脂、シリコン樹脂、変性樹脂またはアクリ
ル樹脂から選択された少なくとも一種を含む電子回路モ
ジュール。
14. The electronic circuit module according to claim 13, wherein the thermosetting resin is an epoxy resin, a phenol resin,
An electronic circuit module including at least one selected from a polyimide resin, a silicon resin, a modified resin, and an acrylic resin.
【請求項15】 請求項12乃至14の何れかに記載さ
れた電子回路モジュールであって、 前記硬化剤は、カルボン酸を含む電子回路モジュール。
15. The electronic circuit module according to claim 12, wherein the curing agent contains a carboxylic acid.
【請求項16】 電子回路モジュールと、マザー基板
と、はんだ付け用フラックスとを含む電子回路装置であ
って、 前記電子回路モジュールは、前記マザー基板上にはんだ
付けされており、 前記はんだ付け用フラックスは、接着性樹脂と、硬化剤
とを含有し、前記半導体チップと前記チップ搭載基板と
の間に介在し、両者を接着している電子回路装置。
16. An electronic circuit device including an electronic circuit module, a motherboard, and a soldering flux, wherein the electronic circuit module is soldered on the motherboard, and the soldering flux is provided. Is an electronic circuit device that contains an adhesive resin and a curing agent, is interposed between the semiconductor chip and the chip mounting substrate, and adheres both.
【請求項17】 請求項16に記載された電子回路装置
であって、前記電子回路モジュールは、請求項12乃至
15の何れかに記載されたものでなる電子回路装置。
17. The electronic circuit device according to claim 16, wherein the electronic circuit module is the electronic circuit device according to any one of claims 12 to 15.
【請求項18】 請求項16または17の何れかに記載
された電子回路装置であって、前記接着性樹脂は、熱硬
化性樹脂を含む電子回路装置。
18. The electronic circuit device according to claim 16, wherein the adhesive resin includes a thermosetting resin.
【請求項19】 請求項18に記載された電子回路装置
であって、 前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、
ポリイミド樹脂、シリコン樹脂、変性樹脂またはアクリ
ル樹脂から選択された少なくとも一種を含む電子回路装
置。
19. The electronic circuit device according to claim 18, wherein the thermosetting resin is an epoxy resin, a phenol resin,
An electronic circuit device including at least one selected from a polyimide resin, a silicon resin, a modified resin, and an acrylic resin.
【請求項20】 請求項16乃至19の何れかに記載さ
れた電子回路装置であって、 前記硬化剤は、カルボン酸を含む電子回路装置。
20. The electronic circuit device according to claim 16, wherein the curing agent contains a carboxylic acid.
【請求項21】 請求項1乃至5の何れかに記載された
フラックスを用いてはんだ付けする方法。
21. A method of soldering using the flux according to claim 1.
【請求項22】 請求項6または7の何れかに記載され
たはんだペーストを用いてはんだ付けする方法。
22. A method of soldering using the solder paste according to claim 6.
【請求項23】 請求項20乃至22の何れかに記載さ
れた方法であって、基板の上に電子部品、電子回路モジ
ュールまたは半導体チップをはんだ付けするはんだ付け
方法。
23. The method according to claim 20, wherein an electronic component, an electronic circuit module, or a semiconductor chip is soldered on the substrate.
【請求項24】 請求項23に記載された方法であっ
て、 前記基板の一面上に、前記はんだペーストによるはんだ
付け処理を実行し、 次に、前記基板の他面上で、前記はんだペーストとは異
なるはんだを用いて、電子部品をはんだ付けする工程を
含むはんだ付け方法。
24. The method according to claim 23, wherein a soldering process using the solder paste is performed on one surface of the substrate, and then the solder paste is formed on the other surface of the substrate. Is a soldering method including a step of soldering electronic components using different solders.
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