JP2001167569A - Fifo memory device - Google Patents

Fifo memory device

Info

Publication number
JP2001167569A
JP2001167569A JP35080299A JP35080299A JP2001167569A JP 2001167569 A JP2001167569 A JP 2001167569A JP 35080299 A JP35080299 A JP 35080299A JP 35080299 A JP35080299 A JP 35080299A JP 2001167569 A JP2001167569 A JP 2001167569A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
read
data
memory device
line
decoder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP35080299A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shunichi Sakata
俊一 坂田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yaskawa Electric Corp filed Critical Yaskawa Electric Corp
Priority to JP35080299A priority Critical patent/JP2001167569A/en
Publication of JP2001167569A publication Critical patent/JP2001167569A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a means to settle the problem that the reading circuit of a conventional FIFO memory device cannot designate the addresses other than #0 address on a line that is shifted from a memory array to a read register nor read out the same line in plural times and four of eight lines become the blacking sections to deteriorate the picture quality when the image data are enlarged into a large 8-line image from a comparatively small 4-line image, for example, in an image processing mode. SOLUTION: The read circuits (1, 2, 3) of a serial access memory of a FIFO which carries out asynchronous read/write operations are provided with a means 5 which performs the read resetting operations in each prescribed timing to read recorders 3 (33, 34...3n) which select read registers 2 (201, 202...20n) and means (#T, L/STR, 28) which inhibit temporarily the read transfer operations to the read registers 2 from a memory array 1.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、記憶装置特に画像
処理用メモリとして広く用いられているFIFOタイプ
のシリアルアクセスメモリに係り、特にその同一データ
の複数回の読み出し手段を備えるFIFOメモリ装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a FIFO type serial access memory widely used as a storage device, particularly as an image processing memory, and more particularly to a FIFO memory device provided with a means for reading the same data a plurality of times.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3は、従来からの技術を示す非同期で
リード、ライト動作を行うFIFO[First-in First-ou
t] のシリアルアクセスメモリ[Serial Access Memory]
の概略の回路構成図である。全ての図面において、同一
符号は同一若しくは相当部材あるいは機能ブロックを示
す図3におて、先ずデータ入力11・DINが入力する
と、ロウデコーダ[Row-Decoder]10 と、ライトクロック
[Write-Clock]14,ライトリセット[Write-Reset] 15でラ
イトデーコーダ[Write-Decoder]13 の出力が次段のシリ
アルライトレジスタ[Serial-Write-Register] 12を介し
て、そのレジスタ12のデータ入力11を適宜にメモリアレ
イ[Memory-Array]1に書き込む。そして、このメモリア
レイ1に書き込まれたデータを、リードクロック[Read-
Clock]4,リードリセット[Read-Reset]5により、リー
ドデーコーダ[Read-Dec-oder] 3の出力が次段のシリア
ルリードレジスタ[Serial-Read-Register]2を介して、
メモリアレイ1からレジスタ2へ移されたデータは、デ
ータ出力6または7として逐次データ出力バッファ8を
経て、データ出力9として出力される。つまり、リー
ド,ライト共通のメモリ領域に対して、ライト専用のラ
イトレジスタ12, デコーダ13、リード専用のリードレジ
スタ2, デコーダ3をそれぞれ持ち、データはこられら
のレジスタ, デコーダを介してメモリ領域へアクセスさ
れる。
2. Description of the Related Art FIG. 3 shows a conventional technique in which a FIFO [First-in First-ou] for asynchronously performing read and write operations is used.
t] Serial Access Memory
3 is a schematic circuit configuration diagram of FIG. In all the drawings, the same reference numerals denote the same or corresponding members or functional blocks. In FIG. 3, when a data input 11 / DIN is input first, a row decoder [Row-Decoder] 10 and a write clock
[Write-Clock] 14, Write reset [Write-Reset] 15, the output of the write decoder [Write-Decoder] 13 passes through the serial write register [Serial-Write-Register] 12 of the next stage, The data input 11 is written into the memory array [Memory-Array] 1 as appropriate. Then, the data written in the memory array 1 is transferred to the read clock [Read-
Clock] 4 and read reset [Read-Reset] 5, the output of the read decoder [Read-Dec-oder] 3 is transmitted through the serial read register [Serial-Read-Register] 2 at the next stage.
The data transferred from the memory array 1 to the register 2 is sequentially output as a data output 9 through a data output buffer 8 as a data output 6 or 7. In other words, a write register 12 and a decoder 13 dedicated to writing and a read register 2 and decoder 3 dedicated to reading are provided for a memory area common to read and write, and data is transferred to the memory area via these registers and decoder. Is accessed.

【0003】図4は、従来技術の一例 [従来例] として
のFIFO動作を行うメモリ装置の回路構成、特にリー
ド回路の構成を表すブロック図である。最初に、各第1
のゲートを構成するnMOS[nChannel-Metal Oxide Se
miconductor で、図4ではFET・Field-Effect Trans
istor を示す] 211,212,213,214,21n をオンにして、メ
モリアレイ1からのデータをスタテックRAMを成す20
1,202,…,20nに記憶させてある。次に、リードリセット
信号5・STRがあると、サージ吸収回路[ ダイオード
52,54]を経て、ノア56、インバータ57さらにノア31, イ
ンバータ32を経て、そのポインタ( リードリセット信号
5・STR) はシフトレジスタ[Shift-Register]33から
シリアルリードクロック[Serial ReadClock]に従って,
各シフトレジスタ34, …,3n へと逐次シフトされて行
き、そのシフトの度に各第2のゲートを構成するnMO
S221,222,…,22nをオンにし、スタテックメモリ201,20
2,…,20n[ SRAM] に記憶されていたデータを、デー
タ出力Dout またはそれと逆相のデータ出力/Dout と
して読み出され、最後段のシフトレジスタ3nからの出
力後僅かの遅延時間を置いて、再び第1のゲート群がオ
ンになり先の動作を繰り返す。従って、スタテックメモ
リ201,202,…,20n[ SRAM] に記憶された同一のメモ
リアレイ1からのデータを再び読みだすことはできなか
った。すなわち従来例では、リードサイクルにおけるリ
ード動作は、まずリードリセット信号5・STRの入来
を受けて、内部アドレスを0番地にイニシアルし、その
後、シリアルリードクロック4・RCKに同期して逐次
にデータ出力Dout (または/Dout )をレジスタ2よ
り出力する。なお、ライト動作は本発明に直接的な関連
がないから省略する。
FIG. 4 is a block diagram showing a circuit configuration of a memory device which performs a FIFO operation as an example of the prior art [conventional example], particularly a configuration of a read circuit. First, each first
NMOS [nChannel-Metal Oxide Se
In Fig. 4, FET ・ Field-Effect Trans
is turned on) 211, 212, 213, 214, 21n are turned on, and the data from the memory array 1 is used to form a static RAM.
1,202, ..., 20n. Next, when there is a read reset signal 5 · STR, a surge absorbing circuit [diode
52, 54], the NOR 56, the inverter 57, the NOR 31 and the inverter 32, and the pointer (read reset signal 5.STR) from the shift register [Shift-Register] 33 according to the serial read clock [Serial ReadClock].
Each of the shift registers 34,..., 3n is sequentially shifted, and each shift corresponds to the nMO constituting the second gate.
S221, 222,..., 22n are turned on, and the static memories 201 and 20 are turned on.
The data stored in the 2,..., 20n [SRAM] is read out as the data output Dout or the data output / Dout having the opposite phase to the data output Dout, and after a short delay after the output from the last-stage shift register 3n. , The first group of gates is turned on again, and the previous operation is repeated. Therefore, the data from the same memory array 1 stored in the static memories 201, 202,..., 20n [SRAM] cannot be read again. That is, in the conventional example, in the read operation in the read cycle, first, upon receiving the read reset signal 5 · STR, the internal address is initialized to address 0, and then the data is sequentially read in synchronization with the serial read clock 4 · RCK. The output Dout (or / Dout) is output from the register 2. Note that the write operation is not directly related to the present invention, and is therefore omitted.

【0004】さらにまた、参考例として、特開平6-2750
69号公報・発明の名称シリアルメモリが見られる。この
参考例の目的はFIFO並びにLIFO動作可能なシリ
アルメモリの提供にあり、その構成はシリアル入力され
たデータを内部でパラレル変換して複数ビットの単位で
メモリアレイに書き込みを行い、またメモリアレイから
複数ビットの単位で読み出したデータを内部でシリアル
に変換して出力するシリアルメモリにおいて、シリアル
入力データに対するパラレル変換の順序、メモリアレイ
から読出されたパラレルデータに対するシリアル変換の
順序を選択的に逆転できる第1の手段(シリアル・パラ
レル変換回路、デコーダ、ライトカウンタ)、第2の手
段(パラレル・シリアル変換回路、デコーダ、リードカ
ウンタ)を採用すると共に、メモリアレイに対するアク
セスアドレスをリードとライトでそれぞれ昇順と降順に
逆転できるメモリコントローラを採用している。この参
考例の要旨からも、直接的には本発明の範疇から外れて
いる。
Further, as a reference example, JP-A-6-2750
No. 69, title of invention Serial memory can be seen. The purpose of this reference example is to provide a serial memory capable of performing FIFO and LIFO operations. Its configuration is to internally convert serially input data into parallel data and write the data into a memory array in units of a plurality of bits. In a serial memory that internally converts data read in units of a plurality of bits into serial data and outputs the data, the order of parallel conversion for serial input data and the order of serial conversion for parallel data read from a memory array can be selectively reversed. The first means (serial / parallel conversion circuit, decoder, write counter) and the second means (parallel / serial conversion circuit, decoder, read counter) are employed, and the access addresses to the memory array are read and written in ascending order. Can be reversed in descending order It has adopted the re-controller. The gist of this reference example also directly falls outside the scope of the present invention.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】このようにして、従来
例の構成になるFIFOでは、外部からはアドレスが0
番地以外の指定はできず、同一ラインの複数回の読み出
しもできないという問題があり、画像処理に際しての大
きな隘路となっていた。例えば、4ラインの比較的小さ
な画面より、8ラインの大きな画面に画像データを拡大
するような場合、8ライン中の4ラインがブラッキング
区間となり、画質が落ちてしまうという不具合が、屡発
生する事態となっていた。そこで本発明では、リードレ
ジスタのアドレスポインタに外部より制御可能なリセッ
ト端子 [ラインリセット信号L/STRを導入する手
段] を付加し、最も簡潔な回路を付加して、この出力操
作時に同一データを2度書いて行けば、画像が粗になる
ことは無いという現象を解明し、これに適応したFIF
Oメモリ装置を提供することを目的とする。
As described above, in the FIFO having the conventional configuration, the address is 0 from the outside.
There is a problem that it is not possible to specify an address other than the address, and it is not possible to read the same line a plurality of times, which has been a major bottleneck in image processing. For example, in a case where image data is enlarged to a large screen of eight lines rather than a relatively small screen of four lines, four lines out of eight lines become a blacking interval, and a problem that image quality often deteriorates often occurs. It was a situation. Therefore, in the present invention, an externally controllable reset terminal [means for introducing the line reset signal L / STR] is added to the address pointer of the read register, the simplest circuit is added, and the same data is output during this output operation. Elucidating the phenomenon that the image will not be coarse if written twice, the FIF adapted to this
It is an object to provide an O memory device.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項1の発明は、非同期リード、ライト
動作を行うFIFOのシリアルアクセスメモリのリード
回路において、リードレジスタを選択するリードデコー
ダを所定のタイミングにてリードリセットを行う手段
と、メモリアレイよりレジスタへのリード転送を暫時禁
止させる手段を具備することを特徴とするFIFOメモ
リ装置である。このように本発明の請求項1の発明によ
れば、メモリアレイよりレジスタへのリード転送を暫時
禁止させる信号が出る毎に、リードデコーダがリセット
されるから、リードデコーダは再度最初からのリードを
同じラインにおいて行えるという特段の効果を奏する。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a read circuit for selecting a read register in a read circuit of a FIFO serial access memory performing asynchronous read and write operations. A FIFO memory device comprising: means for resetting a read of a decoder at a predetermined timing; and means for temporarily inhibiting read transfer from a memory array to a register. As described above, according to the first aspect of the present invention, the read decoder is reset every time a signal for temporarily inhibiting the read transfer from the memory array to the register is output. It has a special effect that it can be performed on the same line.

【0007】本発明の請求項2の発明は、請求項1に記
載のFIFOメモリ装置において、前記リードデコーダ
を所定のタイミングにて前記リードリセットを行う手段
がリードリセット付ラッチ回路であることを特徴とする
請求項1に記載のFIFOメモリ装置である。かくして
本発明の請求項2の発明によれば、請求項1の効果を発
揮するのに最適の回路構成をとることができ、動作の信
頼性が向上するとう顕著な特長が認められる。
According to a second aspect of the present invention, in the FIFO memory device according to the first aspect, the means for resetting the read decoder at a predetermined timing is a latch circuit with a read reset. 2. The FIFO memory device according to claim 1, wherein: Thus, according to the invention of claim 2 of the present invention, it is possible to obtain an optimum circuit configuration for exhibiting the effect of claim 1, and a remarkable feature that operation reliability is improved is recognized.

【0008】本発明の請求項3の発明は、請求項2記載
のFIFOメモリ装置において、リードリセットを行う
リードリセット信号と前記ラインリセット信号の論理和
をとる回路と、メモリアレイとリードデコーダの中間部
に配設したスタテックメモリ群への前記メモリアレイか
らのデータの入力を制御する第1のゲート群と、前記ス
タテックメモリ群に記憶されたデータを前記スタテック
メモリ群から外部へ出力させるを第2のゲート群を備
え、前記論理和出力にて前記第1のゲート群を一定時間
開けて一斉に前記メモリアレイからのデータを前記スタ
テックメモリ群に記憶させる手段と、シリアルクロック
により演算するリードデコーダによって前記第2のゲー
ト群を1つずつ一定時間逐次開き、データ出力を外部に
出力する手段とを設けるとともに、前記リードデコーダ
の最終番地の前記スタテックメモリの読み出しがなされ
てから、前記ラインリセット信号を与えて、次のライン
へデータの読み出しへの転送を禁止し、引続き前回読み
出しのラインの最初からの読み出しを再度行う手段を具
備したことを特徴とする請求項2に記載のFIFOメモ
リ装置である。このようにして本発明の請求項3の発明
によれば、確実かつ高速で同一ラインの再読み出しが可
能という有効性が発揮できる。
According to a third aspect of the present invention, in the FIFO memory device according to the second aspect, a circuit for obtaining a logical sum of a read reset signal for performing a read reset and the line reset signal is provided between the memory array and the read decoder. A first gate group for controlling the input of data from the memory array to the static memory group disposed in the unit, and outputting the data stored in the static memory group to the outside from the static memory group Means for storing data from the memory array in the static memory group simultaneously by opening the first gate group for a certain period of time by the logical sum output, and calculating by a serial clock. Means for sequentially opening the second gate group one by one for a predetermined time by a read decoder, and outputting data output to the outside. At the same time, after the read of the static memory at the last address of the read decoder is performed, the line reset signal is given to prohibit the transfer of data read to the next line, and the first line of the previously read line is continued. 3. The FIFO memory device according to claim 2, further comprising means for re-reading data from the memory. Thus, according to the invention of claim 3 of the present invention, the effectiveness that the same line can be reread reliably and at high speed can be exhibited.

【0009】本発明の請求項4の発明は、請求項3記載
のFIFOメモリ装置において、前記次のラインへデー
タの読み出しへの転送を暫時禁止する回数を2回以上任
意に行う計数手段の出力と、前記ラインリセット信号と
の論理積とり、その出力信号を前記論理和をとる回路の
入力段へ与える手段を具備したことを特徴とする請求項
3に記載のFIFOメモリ装置である。かくして本発明
の請求項4の発明によれば、同一ラインの読み出しが複
数回連続してなされうることから、精緻な画像データの
取得ができ斯界に裨益するところありと言えよう。
According to a fourth aspect of the present invention, in the FIFO memory device according to the third aspect, an output of the counting means for arbitrarily twice or more arbitrarily inhibiting transfer to data read to the next line for at least two times. 4. The FIFO memory device according to claim 3, further comprising means for obtaining a logical product of the logical sum of the line reset signal and the line reset signal, and supplying an output signal thereof to an input stage of the circuit for obtaining the logical sum. Thus, according to the invention of claim 4 of the present invention, since the same line can be read a plurality of times consecutively, it can be said that there is a place where it is possible to obtain fine image data and benefit the world.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態におけ
るFIFOメモリのリード機能をなす電子回路の構成を
示すブロック図である。ところで、図1の本発明の回路
構成において従来例の図4に対比させ識別すれば、灰色
の枠で囲んだ部分が本発明によって創設された回路であ
る。すなわち、(1) 符号の 500で示す、ラインリセッ
ト信号L/STRがノア56への入力段に至るサージ吸収
回路を含む信号入力回路と、(2) 符号の 200で示す、
インバータ57の出力段からインバータ28を経てナンド22
の入力段へ至る時間差回路と、(3) 符号の 300で示
す、インバータ21出力段からノア31の入力段へ至る信号
帰還回路である。(4) なお図示を省略しているが、信
号入力回路 500のさらに前段に計時手段[例えば、タイ
マ, コンピュータ等] を設け、リードリセット信号L/
STRの送出時点( 後述する図2における時点t8から最
初のRCKの立ち下がり時点t9)を調整する回路、例え
ば両信号の論理積をとる回路の入力段に両信号を導入
し、その出力段を信号入力回路 500の入力段に与える手
段を設ける。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an electronic circuit having a read function of a FIFO memory according to an embodiment of the present invention. By the way, in the circuit configuration of the present invention shown in FIG. 1, when compared with FIG. 4 of the conventional example, the portion surrounded by a gray frame is a circuit created by the present invention. That is, (1) a signal input circuit including a surge absorbing circuit which is provided with a line reset signal L / STR reaching an input stage to the NOR 56, denoted by 500, and (2) a signal input circuit, denoted by 200,
From the output stage of the inverter 57 to the NAND 22 via the inverter 28
And (3) a signal feedback circuit from the output stage of the inverter 21 to the input stage of the NOR 31 indicated by reference numeral 300. (4) Although not shown, a time measuring means [for example, a timer, a computer, etc.] is provided further upstream of the signal input circuit 500, and the read reset signal L /
Both signals are introduced into the input stage of a circuit for adjusting the STR transmission time point (the time point t9 of the first RCK from the time point t8 in FIG. 2 to be described later), for example, a circuit that takes the logical product of the two signals, and the output stage thereof is connected. Means for providing to the input stage of the signal input circuit 500 are provided.

【0011】図2は、図1に示した本発明の電子回路に
おける各信号パルスの動作・機能を表すタイミングチャ
ートである。縦軸にパルス信号の電圧、横軸に時間の推
移を示す。また、図2の最上段に記載した0ライン,1
ライン,2ライン,…は図3のロウデコーダ10により選
択される横並びに格納されたデータ列の横並びラインを
称呼している。さらに、(a) 〜(o) はそれぞれのパルス
信号の名称・機能を示す。そこで、図1,図2を用いて
本発明のリード動作を説明する。初めに、メモリアレイ
1より所定のデータがシリアルリードレジスタ2へ転送
し、そこに格納されているとする。シリアルリードクロ
ック4・RCKに同期させてリードリセット信号5・S
TRを”H”レベル[High Level]とすれば、内部アドレ
スは”0" 番地にイニシャライズされ、シリアルリード
クロック4・RCKに同期して、先ず0ライン目の#0
[0番目] のポインタ [シフトレジスタ33] が選択され
る、つまりnMOS221,222 のゲートがオンにされる
(時点t2) 。
FIG. 2 is a timing chart showing the operation and function of each signal pulse in the electronic circuit of the present invention shown in FIG. The vertical axis shows the voltage of the pulse signal, and the horizontal axis shows the transition of time. Also, 0 line, 1 line described at the top of FIG.
Lines, two lines,... Refer to horizontal lines selected by the row decoder 10 in FIG. 3 and horizontal lines of stored data strings. (A) to (o) show the names and functions of the respective pulse signals. Therefore, the read operation of the present invention will be described with reference to FIGS. First, it is assumed that predetermined data is transferred from the memory array 1 to the serial read register 2 and stored therein. Read reset signal 5 ・ S in synchronization with serial read clock 4 ・ RCK
If TR is set at "H" level [High Level], the internal address is initialized to address "0", and first, # 0 of line 0 is synchronized with the serial read clock 4 • RCK.
The [0th] pointer [shift register 33] is selected, that is, the gates of the nMOSs 221 and 222 are turned on (time t2).

【0012】以下、逐次1番地(時点t3) 、2番地、
…、n番地(時点t4)[シフトレジスタ34, …3n] のデー
タがシリアルにアクセスされる。n番地目の選択が終わ
った時点(t4) から時点(t6) の時間内に、#T [T番
目] に”H”パルスが出力される(時点t5) 。この時、
nMOS211 ,nMOS212 ,…,がオン、メモリアレ
イ1よりの1ライン目の読み出しデータを転送する。こ
の後、1ライン目のデータを0番地,1番地,…,n番
地とシリアルに読み出す(時点t6〜t8) 。このn番地終
了の後(時点t8) 、ラインリセット信号50・L/STR
をシリアルリードクロック4・RCKに同期させ、”
H”レベルを与えると(時点t9) 、図1中の#0〜”n
までのポインタnMOS211 ,nMOS212 ,…がイニ
シアライズされ、この時のデータは1 ラインのままのデ
ータを保持する。このような状態で、読み出し動作を行
えば(時点t10 〜t12)、同一ライン例えば1ライン)を
2度読み出しすることが実現できる。そして、前記(4)
で説明した手段を適用すれば、複数回わたって、同一ラ
インのデータの読み出しも可能である。
Hereinafter, addresses 1 (time t3), addresses 2,
.., N (time t4) [Shift register 34,... 3n] are serially accessed. An "H" pulse is output at #T [Tth] within the time from the time (t4) when the selection of the n-th address is completed (t4) to the time (t6) (time t5). At this time,
are turned on, and transfer the read data of the first line from the memory array 1. Thereafter, the data of the first line is read out serially with addresses 0, 1,..., N (time t6 to t8). After the end of the address n (time t8), the line reset signal 50 · L / STR
Is synchronized with the serial read clock 4 · RCK.
When the "H" level is given (time point t9), # 0 to "n" in FIG.
The pointers nMOS 211, nMOS 212,... Are initialized, and the data at this time retains data of one line. If a read operation is performed in such a state (time t10 to t12), the same line, for example, one line can be read twice. And (4)
If the means described in (1) is applied, it is possible to read data of the same line a plurality of times.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上詳細に述べたように、本発明によれ
ば、従来のFIFO動作に加えて、同一ラインのデータ
を、最も容易な方法にて実現でき、画像の拡大あるい
は。イメージ替えが容易に実現できる。すなわち、本発
明の請求項1の発明によれば、メモリアレイよりレジス
タへのリード転送を暫時禁止させる信号が出る毎に、リ
ードデコーダがリセットされるからリードデコーダは再
度最初からリードを同じラインにおいて行えるという特
段の効果を奏する。そして請求項2の発明によれば、請
求項1の高価を発揮するのに最適の回路構成をとること
ができ、動作の信頼性が向上するとう顕著な効果が認め
られ、さらに請求項3の発明によれば、確実かつ高速で
同一ラインの再読み出しが可能という有効性が発揮で
き、さらにまた請求項4の発明によれば、同一ラインの
読み出しが複数回連続してなされうることから、精緻な
画像データの取得ができ斯界に裨益するところがあると
言えよう。
As described above in detail, according to the present invention, in addition to the conventional FIFO operation, the data of the same line can be realized by the simplest method, and the image can be enlarged or enlarged. Image change can be easily realized. That is, according to the first aspect of the present invention, the read decoder is reset every time a signal for temporarily inhibiting the read transfer from the memory array to the register is output. It has a special effect that it can be performed. According to the second aspect of the present invention, it is possible to obtain an optimal circuit configuration for exhibiting the high cost of the first aspect, and a remarkable effect of improving the operation reliability is recognized. According to the present invention, the same line can be re-read reliably and at high speed, and the same line can be read a plurality of times in succession. It can be said that there is a place where it is possible to acquire various image data and benefit the world.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態におけるFIFOメモリの
リード機能をなす電子回路の構成を示すブロック図
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic circuit that performs a read function of a FIFO memory according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した本発明の電子回路における各信号
パルスの動作・機能を表すタイミングチャート
FIG. 2 is a timing chart showing the operation and function of each signal pulse in the electronic circuit of the present invention shown in FIG.

【図3】FIFOシリアルアクセスメモリの概略回路構
成図
FIG. 3 is a schematic circuit configuration diagram of a FIFO serial access memory;

【図4】従来例のFIFOにおける電子回路の構成を示
すブロック図
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of an electronic circuit in a conventional FIFO.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 メモリアレイ 2 シリアルレジスタ 3 リードデコーダ 4 リードロック [RCK] 5 リードリセット [STK] 6 データ出力 [Dout] 7 逆相データ出力 [/Dout] 8 データ出力バッファ 9 出力データ [DOUT] 10 ロウデコーダ 11 データ入力 [DIN] 12 シリアルライトレジスタ 13 ライトデコーダ 14 ライトクロック [WCK] 15 ライトリセット [STW] 21,23,24,25,26,27,28,32,57 インバータ(位相反転
器) 22 ナンド (否定論理積回路) 31,56 ノア(否定論理和回路) 33,34,3n シフトレジスタ(リセット付ラッチ回路) 201,202,20n スターティックメモリ(SRAM) 211,212,213,214,21n nMOS(第1のゲート) 221,222,223,224,22n nMOS(第2のゲート) 51,52,53,54 ダイオード 55 直流定電圧 #0,#1,#n 0〜n番地 #T データ転送信号 t1,t2,t3,t4,t5,t6,t7,t8,t9,t10,t11,t12,t13,t14 各
時点
1 Memory Array 2 Serial Register 3 Read Decoder 4 Read Lock [RCK] 5 Read Reset [STK] 6 Data Output [Dout] 7 Negative Phase Data Output [/ Dout] 8 Data Output Buffer 9 Output Data [DOUT] 10 Row Decoder 11 Data input [DIN] 12 Serial write register 13 Write decoder 14 Write clock [WCK] 15 Write reset [STW] 21,23,24,25,26,27,28,32,57 Inverter (phase inverter) 22 NAND ( NOR circuit (Negative AND circuit) 31,56 NOR (Negative OR circuit) 33,34,3n Shift register (Latch circuit with reset) 201,202,20n Static memory (SRAM) 211,212,213,214,21n nMOS (First gate) 221,222,223,224,22n nMOS (second gate) 51, 52, 53, 54 Diode 55 DC constant voltage # 0, # 1, # n0-n address #T Data transfer signal t1, t2, t3, t4, t5, t6, t7, t8, t9 , t10, t11, t12, t13, t14

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 非同期リード、ライト動作を行うFIF
Oのシリアルアクセスメモリのリード回路において、 リードレジスタを選択するリードデコーダを所定のタイ
ミングにてリードリセットを行う手段と、 メモリアレイよりレジスタへのリード転送を暫時禁止さ
せる手段を具備することを特徴とするFIFOメモリ装
置。
1. An FIF for performing asynchronous read and write operations
The read circuit of the O serial access memory includes means for resetting a read decoder for selecting a read register at a predetermined timing, and means for temporarily inhibiting read transfer from the memory array to the register. FIFO memory device.
【請求項2】 請求項1に記載のFIFOメモリ装置に
おいて、 前記リードデコーダを所定のタイミングにて前記リード
リセットを行う手段がリードリセット付ラッチ回路であ
ることを特徴とする請求項1に記載のFIFOメモリ装
置。
2. The FIFO memory device according to claim 1, wherein the means for resetting the read decoder at a predetermined timing is a latch circuit with a read reset. FIFO memory device.
【請求項3】 請求項2記載のFIFOメモリ装置にお
いて、 リードリセットを行うリードリセット信号と前記ライン
リセット信号の論理和をとる回路と、 メモリアレイとリードデコーダの中間部に配設したスタ
テックメモリ群への前記メモリアレイからのデータの入
力を制御する第1のゲート群と、前記スタテックメモリ
群に記憶されたデータを前記スタテックメモリ群から外
部へ出力させるを第2のゲート群を備え、 前記論理和出力にて前記第1のゲート群を一定時間開け
て一斉に前記メモリアレイからのデータを前記スタテッ
クメモリ群に記憶させる手段と、 シリアルクロックにより演算するリードデコーダによっ
て前記第2のゲート群を1つずつ一定時間逐次開き、デ
ータ出力を外部に出力する手段とを設けるとともに、 前記リードデコーダの最終番地の前記スタテックメモリ
の読み出しがなされてから、前記ラインリセット信号を
与えて、次のラインへデータの読み出しへの転送を禁止
し、引続き前回読み出しのラインの最初からの読み出し
を再度行う手段を具備したことを特徴とする請求項2に
記載のFIFOメモリ装置。
3. The FIFO memory device according to claim 2, wherein a circuit for performing an OR operation of a read reset signal for performing a read reset and the line reset signal, and a static memory disposed at an intermediate portion between the memory array and the read decoder. A first group of gates for controlling input of data from the memory array to a group, and a second group of gates for outputting data stored in the static memory group to the outside from the static memory group. Means for opening the first gate group by the logical sum output for a predetermined time and simultaneously storing data from the memory array in the static memory group, and the second decoder by means of a read decoder operated by a serial clock. Means for sequentially opening the gate groups one by one for a fixed time and outputting data output to the outside; After the static memory of the last address of the decoder is read, the line reset signal is given to prohibit the transfer of the data to the next line to be read, and the read from the beginning of the previous read line is continued again. 3. The FIFO memory device according to claim 2, further comprising means for performing.
【請求項4】 請求項3記載のFIFOメモリ装置にお
いて、 前記次のラインへデータの読み出しへの転送を暫時禁止
する回数を2回以上任意に行う計数手段の出力と、前記
ラインリセット信号との論理積とり、その出力信号を前
記論理和をとる回路の入力段へ与える手段を具備したこ
とを特徴とする請求項3に記載のFIFOメモリ装置。
4. The FIFO memory device according to claim 3, wherein an output of a counting means for arbitrarily arbitrarily inhibiting transfer of data reading to the next line to data reading two or more times and the line reset signal are provided. 4. The FIFO memory device according to claim 3, further comprising means for taking a logical product and providing an output signal thereof to an input stage of the circuit for obtaining the logical sum.
JP35080299A 1999-12-09 1999-12-09 Fifo memory device Pending JP2001167569A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35080299A JP2001167569A (en) 1999-12-09 1999-12-09 Fifo memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35080299A JP2001167569A (en) 1999-12-09 1999-12-09 Fifo memory device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001167569A true JP2001167569A (en) 2001-06-22

Family

ID=18412979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35080299A Pending JP2001167569A (en) 1999-12-09 1999-12-09 Fifo memory device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001167569A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4847809A (en) Image memory having standard dynamic RAM chips
US7529139B2 (en) N-port memory circuits allowing M memory addresses to be accessed concurrently and signal processing methods thereof
US4961169A (en) Method of and apparatus for generating variable time delay
US6600693B2 (en) Method and circuit for driving quad data rate synchronous semiconductor memory device
US5042007A (en) Apparatus for transposing digital data
KR940000612B1 (en) Semiconductor memory device
US5852748A (en) Programmable read-write word line equality signal generation for FIFOs
US5444660A (en) Sequential access memory and its operation method
JPS603714B2 (en) variable length shift register
JP2001167569A (en) Fifo memory device
JPH04505679A (en) Storage-based line delay architecture
JPS6146916B2 (en)
JP3021810B2 (en) Multi-port memory
US6804166B2 (en) Method and apparatus for operating a semiconductor memory at double data transfer rate
JPH06124584A (en) Sequential memory and method for sequentially storing of data unit
KR950009076B1 (en) Dual port memory and control method
JPH04360425A (en) Semiconductor storage device
JP3104001B2 (en) Line buffer and image processing apparatus using the same
JPS61194909A (en) Digital signal delay circuit apparatus
JPH06124586A (en) Semiconductor memory device
JP3057728B2 (en) Semiconductor storage device
SU1198764A1 (en) Television standard converter
JPS6043592B2 (en) Large capacity static shift register
JPH0237035B2 (en)
JPS6250791A (en) Dynamic type semiconductor memory