JP2001152275A - X線管用途のための陰極用ワイヤ・フィラメント - Google Patents

X線管用途のための陰極用ワイヤ・フィラメント

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 X線管の陰極アセンブリ中における高温動作
のために適した熱処理済みの再結晶カリウム添加タング
ステン−レニウムフィラメントを提供する。 【解決手段】 X線陰極フィラメントが、約3〜約7重
量%のレニウム及び残部のタングステンから成るものに
約30〜約110ppmの範囲内の濃度でカリウムを添
加した材料で作製された再結晶コイル巻きワイヤから構
成される。このフィラメントは、約20ミクロンより大
きい平均粒度を有する互いにかみ合った結晶粒を含んで
いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、診断用及び治療用
の放射線医学装置〔たとえば、計算機断層撮影(CA
T)スキャナ〕において使用するためのX線管の陰極部
材として使用されるX線用ワイヤ・フィラメントに関す
るものである。更に詳しく言えば本発明は、延性と共に
耐熱衝撃性及び耐機械衝撃性を示す形態及び組成を有す
るX線用ワイヤ・フィラメント並びにそれの製造方法に
関する。
【0002】
【発明の背景】発生した熱を吸収するために油で満たさ
れた防護用鉛ケーシング内に封入されるのが通例である
従来のX線管アセンブリは、陰極部材、(陽極を構成す
る)回転円板ターゲット、及びロータを収容したガラス
管球を含んでいる。ロータは、ターゲットを回転させる
電動機アセンブリの一部を成している。X線管の外部に
は、ロータに近接してステータが設けられていて、これ
はロータの長さの約 2/3と重なり合っている。ガラス管
球にはまた、X線管によって発生されたX線の放出を可
能にする窓が設けられている。
【0003】X線の発生は、X線管内の真空中において
発生した電子が順次に放出され、加速され、そして急激
に停止されることによって起こる。電子を放出するた
め、陰極カップ内に配置されたつる巻きワイヤ・フィラ
メントを含む陰極部材が電流の供給によって電気的に白
熱状態まで加熱される。次いで、放出された電子はX線
管の陰極と陽極との間において約1万〜数十万ボルト程
度の高電圧の印加によって加速される。加速された放出
電子が方向制御されつつ回転ターゲット陽極に衝突する
結果、陽極外周面上の相異なる点において電子が停止さ
れ、その結果としてX線が放出される。X線管を動作さ
せるために必要な高電圧は変圧器によって供給される
が、その場合の交流は整流管又は空乏層整流器によって
整流される。
【0004】X線を発生させるための電子は、金属製カ
ップ内に収容されたコイルフィラメントから成る陰極ア
センブリによって供給される。従来、かかるコイルフィ
ラメントはカリウム添加タングステン・ワイヤから構成
されてきたが、それは電子放出及びX線発生のために必
要な高い動作温度において優れた構造安定性及び集束特
性を示す。X線管の性能は、陰極内におけるフィラメン
トの整列状態によって左右されることがある。従って、
タングステンコイルフィラメントは陰極カップ内に取付
けられてから一直線状に整列させられる。取付けられた
後、所望の再結晶ミクロ組織を生み出すためフィラメン
トは約2800℃に加熱される。この加熱中において、
フィラメントはたるみを生じて整列状態から外れること
が多い。その場合には、フィラメントの再整列及び熱処
理工程の繰返しが必要となる。
【0005】このようなたるみ及び整列の問題と取り組
んだものとして、本願の場合と同じ譲受人に譲渡された
ビー・エイ・クヌードセン(B.A. Knudesen) 等の米国特
許第5498185号、同第5514413号及び同第
5672085号が挙げられる。なお、それらの開示内
容は引用によって本明細書中に組込まれる。従来のX線
管アセンブリの詳細な説明を含むそれらの特許は、フィ
ラメントの整列方法及び固体の一体絶縁物ユニットの付
随したX線管陰極アセンブリを提供するものである。
【0006】再結晶済みのドープしたタングステン・フ
ィラメントは室温で低い延性を有しているため、再結晶
陰極は極めて脆くなる。更にまた、かかるドープしたタ
ングステン・フィラメントは実質的な熱衝撃及び機械衝
撃が存在する用途において大きな欠点を示す。熱衝撃
は、たとえば、急速循環型CATのX線装置への使用時
におけるフィラメントの急速な熱サイクルによって生じ
ることがある。このような条件下では、フィラメント温
度はほぼ瞬間的に約2500℃の放出温度にまで上昇さ
せられる。また、たとえば走査型CATのX線装置のガ
ントリー内における高速の回転及び逆回転は大きな機械
衝撃を生じることがあるが、かかる装置はこの種のX線
管にとって益々重要な用途となりつつある。
【0007】約3〜約30重量%(w/o) のレニウム及び
残部のタングステンから成るタングステン−レニウム合
金を白熱電球用のフィラメントとして使用することは公
知である。タングステン及びドープしたタングステンへ
のレニウムの添加は、延性を増大させることによって耐
熱衝撃性及び耐機械衝撃性を高めるという利益をもたら
すことが認められた。しかるに、従来のかかるタングス
テン−レニウム合金は一般に微細な等軸ミクロ組織を有
していたが、これはそれから作製されるフィラメントの
クリープ性能に悪影響を及ぼし、そして高温への暴露時
にはフィラメントのたるみを引起こした。クリープに由
来するフィラメントのたるみは、(上記のごとき)陰極
カップ内における陰極用ワイヤ・フィラメントの位置狂
いの原因となることが認められており、またかかるフィ
ラメントから放出されるX線が適正な集束を示さないこ
とも知られている。タングステン−レニウム・フィラメ
ント部材の実用寿命は、X線用ワイヤ・フィラメントの
動作時間中において高温下で起こるクリープ及びその結
果としてのクリープ破損によって制限されるものと考え
られてきた。従って、(X線管が通例動作する温度であ
る)2300℃を越える範囲内の高温においては顕著な
クリープを示すという理由で、かかる温度でのタングス
テン−レニウム・ワイヤの使用は不適当であることが先
行技術において認められていた。〔エッチ・ジェイ・フ
ロスト及びエム・エフ・アシュビー(H.J. Frost & M.F.
Ashby) 著「デフォーメイション・マップス−ザ・プ
ラスティシティ・アンド・クリープ・オブ・メタルズ・
アンド・セラミックス(Deformation Maps−The Plastic
ity and Creep of Metals and Ceramics) (パーガモン
社、1982年)の150〜152頁を参照された
い。〕
【0008】
【発明の概要】本発明は、X線管の陰極アセンブリ中に
おける高温動作のために適した熱処理済みの再結晶カリ
ウム添加タングステン−レニウム・フィラメントを提供
するものである。かかるフィラメントは、タングステン
及びドープしたタングステン・フィラメントに対してク
リープ寿命の向上を示す。本発明に係わるフィラメント
には、約20ミクロンより大きい粒度を有する概して一
様な再結晶ミクロ組織を生み出す熱処理工程が施され
る。このような大きさの粒度は、タングステン−レニウ
ム・フィラメントに固有の耐熱性及び耐衝撃性の保持に
加えてクリープ強度の向上をもたらす。詳しく述べれ
ば、本発明のX線用ワイヤ・フィラメントは約3.0〜
約7.0重量%の範囲内のレニウム、約30〜約110
ppmの範囲内のカリウム、及び残部のタングステンか
ら成ると共に、約20ミクロンより大きい粒度を有する
互いにかみ合った結晶粒を含んでいる。
【0009】陰極カップ内への設置に先立ち、本発明の
フィラメントには約2600〜約3230℃の範囲内の
温度で約0.1分〜約5時間の時間にわたり熱処理が施
される。かかる熱処理は、たとえば、約3170〜約3
230℃の範囲内の温度で約1.5〜約3.0分の時間
にわたり加熱することによって行われるか、あるいは約
2870〜約2930℃の範囲内の温度で約4時間にわ
たり加熱することによって行われる。かかる熱処理を単
独で実施するか、あるいは引抜きスケジュールと組合わ
せて実施することにより、約20ミクロンより大きい平
均粒度を有する互いにかみ合った結晶粒を含むフィラメ
ントが得られる。
【0010】本発明に係わるフィラメントは、X線装置
におけるタングステン−レニウム・ワイヤ・フィラメン
トの使用を可能にし、その結果としてタングステン−レ
ニウム・フィラメントの利点を実現することを可能にす
る。すなわち、一定範囲内のカリウム・ドープ剤を添加
すること、並びに約20ミクロンを越える粒度を生み出
すような熱処理及び(又は)成形操作を用いて粒度を更
に調整することにより、タングステン−レニウム・フィ
ラメントの利点をX線用途において得ることができる。
かかる利点としては、公知のタングステン及びドープし
たタングステン・フィラメントに比べて熱衝撃及び機械
衝撃の少なくとも一方に対する抵抗性が向上することが
挙げられるが、それのみに限定されるわけではない。
【0011】更に詳しく述べれば本発明は、約3.0〜
約5.5重量%のレニウム及び残部のタングステンから
成るものに約30〜約110ppmの範囲内のカリウム
を添加した組成を有すると共に、約20ミクロンより大
きい粒度を有する互いにかみ合った結晶粒を含むよう
な、X線管の陰極として使用するためのX線用ワイヤ・
フィラメントを提供する。
【0012】本発明の別の側面に従えば、X線管の陰極
として使用するためのコイル巻きワイヤフィラメントの
製造方法が提供される。かかる方法は、(a)約4〜約
6重量%のレニウム及び残部のタングステンから成るも
のに約30〜約110ppmのカリウムを添加した材料
から実質的に成るワイヤ部材を、1回以上の連続した引
抜きパスによって棒材から形成する工程であって、各々
の引抜きパスによりワイヤ部材の横断面積を減少させる
工程と、(b)ワイヤ部材の横断面積の累積減少率を少
なくとも約40%にする工程と、(c)ワイヤ部材中に
コイルを形成する工程と、(d)約2600〜約323
0℃の範囲内の温度で約0.1分〜約5時間の時間にわ
たり加熱することによってワイヤ部材に熱処理を施す工
程とを含み、これにより、約20ミクロンを越える平均
粒度を有する互いにかみ合った結晶粒組織を有するフィ
ラメントが得られる。
【0013】本発明の上記及びその他の実施の態様、利
点及び顕著な特徴は、添付の図面を参照しながら本発明
の実施の態様を開示する以下の詳細な説明を読むことに
よって自ずから明らかとなろう。なお、図面中において
は、同じ構成要素は同じ参照番号によって表わされてい
る。
【0014】
【好適な実施の態様の詳細な説明】本発明のカリウム添
加タングステン−レニウム線(ワイヤ)は、コイル巻き
フィラメントに成形された場合、任意公知のX線管の構
造中又は米国特許第5515413号明細書中に記載さ
れた陰極カップアセンブリ中において陰極として使用す
るために特に適している。
【0015】本発明のカリウム添加タングステン−レニ
ウム・ワイヤは、約30〜約110ppm(たとえば、
約55〜約70ppm)の範囲内のカリウム濃度を有す
るように製造される。完全に焼結されたタングステン−
レニウム・インゴット中においては、かかるカリウムは
元素状カリウムのバブルから成る細長いストランドとし
て存在するのが通例である。一般に、カリウム濃度が高
くなるほどクリープ性能の高いフィラメントが得られる
が、カリウム・レベルが高くなるほどワイヤの製造は困
難になる。レニウム含量は約3〜約7重量%(w/o) の範
囲内にあるが、最も普通には約3(w/o) である。組成の
残部はタングステンによって構成される。
【0016】陰極カップの組立て及びX線管内への設置
後に行われてきた熱処理工程は、陰極カップ内へのフィ
ラメントの取付けに先立ち、管理された温度下での熱処
理又は熱処理サイクルを用いて炉内で行うことができ
る。あるいはまた、かかる熱処理工程を自己抵抗加熱に
よって行うこともできる。上記のごときカリウム添加タ
ングステン−レニウム・ワイヤは、下記に一層詳しく記
載されるような所望のフィラメント形状に形成される。
タングステン工具を用いて内部及び外部から支持された
フィラメントは炉内の配置され、そして熱処理工程を施
される。この熱処理工程はフィラメントの再結晶を引起
こすように機能するものであって、結晶粒の成長及び最
終の粒度を決定するフィラメントのミクロ組織を制御す
るために役立つ。約20ミクロンより大きい所望の粒度
及びクリープ破損に対する抵抗性を得るためには、本明
細書中に列挙される特定の因子に応じ、約2600〜約
3200℃の範囲内の温度で約0.10分〜約5時間の
時間にわたる加熱が行われるのが通例である。
【0017】本発明によって規定されるような熱処理工
程の条件下では、フィラメントには再結晶組織及び約2
0ミクロンより大きい粒度が付与される。このような結
晶粒組織のため、フィラメントの耐熱衝撃性及び耐機械
衝撃性を損なうことなしにフィラメントのクリープ強度
が得られるのである。
【0018】タングステン−レニウム・フィラメントは
一般にそれの最高使用温度より高い再結晶温度を有し、
従ってかかる最高使用温度より高くかつかかる再結晶温
度より高い温度での熱処理は再結晶した結晶粒組織を生
み出す。しかるに、高い熱処理温度においては、熱処理
工程中における過度のカリウム・バブル成長及び(又
は)蒸発のために得られる熱処理フィラメントの早期破
損を招くことがある。従って、熱処理中における再結晶
時間及び結晶粒成長は、最少限のバブル成長を伴いなが
ら粒度の増大を促進するように調整する必要がある。
【0019】本発明のタングステン−レニウム・フィラ
メントは、次のような工程に従って製造される。実質的
に純粋なタングステン粉末を適宜所望の重量パーセント
のレニウム粉末と混合してふるいを通した後、30〜1
10ppmの濃度となるように元素状カリウムが添加さ
れる。なお、かかるカリウムは不純物として存在するも
のであってもよい。一定量の混合粉末を秤量して鋼製の
金型に充填した後、その金型が油圧プレス内に挿入され
る。プレス内で加圧成形した後、通例は約1/2インチ
×約1/2インチ(127mm×127mm)の横断面
を有する加圧成形インゴット棒材が耐火性容器(「ボー
ト」)内に配置され、そして水素雰囲気を有する炉内に
挿入される。かかる炉内において一定時間にわたり12
00℃に維持することにより、インゴットの予備焼結工
程が実施される。その後、水素雰囲気中において棒材に
電流を流して抵抗加熱することにより、インゴットの完
全焼結が行われる。かかる工程中において、棒材内には
タングステン結晶並びにカリウム・バブルの細長い連鎖
が生成し始まる。
【0020】その後、棒材は丸棒にスエージ加工され
る。すなわち、棒材が約1200〜約1600℃の範囲
内の温度に加熱され、そして毎分約10000回の打撃
速度で急速な槌打ちを施すように設計された金型に通さ
れる。スエージ加工の結果、丸棒中に生成された結晶は
伸長され、それによって所望の繊維状組織が生み出され
る。スエージ加工装置は、1回のパス当り約12%だけ
丸棒の直径を減少させるのが通例である。2回以上の据
込みを施した後、丸棒のスエージ加工を更に続行するた
め、約2500℃を越える温度に加熱することによって
丸棒を再結晶させる必要がある場合もある。場合によっ
ては追加の再結晶工程を伴いながら追加のスエージ加工
を行うことにより、約0.25〜約0.10インチ
(6.3〜2.5mm)の範囲内の直径を有する丸棒を
得ることができる。
【0021】その後、1回以上の引抜きパスにより、ス
エージ加工された丸棒が炭化タングステン又はダイヤモ
ンドから成る1個以上の型を通して引抜かれる。各回の
引抜きパスにより、丸棒の直径は更に減少する。複数の
引抜きパスの後には、所望の線径が得られるまで直径を
減少させるための追加の引抜きパスを可能にするため、
(約1200〜約1600℃の範囲内の)低温熱処理及
び(又は)(再結晶温度より高い)高温熱処理が必要と
なる場合がある。X線用ワイヤ・フィラメントの所望の
直径は、通例約0.010〜約0.025インチ(0.
254〜0.63mm)の範囲内にある。
【0022】スエージ加工済みの丸棒の形成後における
(中間の高温又は低温応力除去焼なましを伴う)引抜き
工程並びに最終熱処理の時間及び温度はいずれも、得ら
れるワイヤ部材中における互いにかみ合った結晶粒の生
成及び生成される結晶粒の平均粒度に対して様々な程度
に影響を及ぼす。本発明に係わる方法の一例について述
べれば、(通例は約0.10〜約0.25インチの範囲
内の直径を有する)スエージ加工済みの丸棒の形成後、
かかる丸棒は1回以上の引抜きパスにより型を通して引
抜かれる。各回の引抜きパスにより、線の直径は更に減
少する。フィラメントに関して所望される直径〔たとえ
ば、約0.010インチ(2.54mm)〕に到達した
後、かかるワイヤ部材中につる巻きコイルが形成され
る。その後、約2600〜約3230℃の範囲内の温度
で約0.1分〜約5時間の時間にわたり加熱することに
よってワイヤ部材を再結晶させれば、約20ミクロンを
越える平均粒度を有する互いにかみ合った結晶粒組織が
ワイヤ部材中に生み出される。
【0023】一般に、最終熱処理の温度が高くかつ時間
が長くなるほど、粒度は大きくなる。結晶粒の粒度及び
かみ合いの程度は、最終の再結晶熱処理に依存するばか
りでなく、(もし起こるとすれば)スエージ加工操作中
における再結晶の量並びに約3〜約7(w/o) の範囲内に
おいて使用される実際のレニウム含量にも依存する。
【0024】本発明を例証するため、以下に実施例を示
す。これらの実施例は本発明の範囲内にある特徴を明ら
かにするためのものに過ぎないのであって、本発明の範
囲を制限するものと解すべきでない。
【0025】[実施例1]実質的に純粋な(99.5
%)タングステン粉末を適当な重量の実質的に純粋な
(99.8%)レニウム粉末と混合することにより、5
5ppmの濃度で元素状カリウムを含有するタングステ
ン−3重量%レニウム混合物を調製した。この混合粉末
を加圧成形することにより、横断面が約1/2インチ×
約1/2インチのインゴットを形成した。かかるインゴ
ットを水素雰囲気の炉内に入れ、そして約1200℃で
予備焼結した。その後、融解アンペア数の約90%の電
流を棒材に流すことにより、水素雰囲気中においてイン
ゴットを抵抗加熱した。その後、約1200〜約160
0℃の範囲内の温度で一連の据込みを施すことにより、
得られた棒材を直径約0.25インチ(6.3mm)の
丸棒にスエージ加工した。直径約0.25インチへの最
後の据込みに先立ち、丸棒には約2500℃の中間再結
晶熱処理が施された。その後、得られた丸棒には成形型
を通して複数の引抜きパスを施した。なお、最後の引抜
き工程に先立って約1200℃の低温中間焼なましが施
された。このようにして、約0.010インチ(254
mm)の直径が得られた。かかるフィラメントに対し、
約2600℃で約60分間にわたる最終熱処理が施され
た。
【0026】図1には、こうして得られたフィラメント
のミクロ組織が倍率500×で示されている。平均粒度
は約8ミクロンである。
【0027】下記の非制限的な実施例(実施例2)にお
いては、再結晶時間及び温度を変更したところ、タング
ステン−3(w/o) レニウム・ワイヤ・フィラメントに関
して所要の互いにかみ合った結晶粒組織及び約20ミク
ロンを越える平均粒度が生み出され、その結果としてク
リープ抵抗性を有するフィラメントが得られることが判
明した。
【0028】[実施例2]実施例1において得られたも
のと同じ直径0.010インチのタングステン−3(w/
o) レニウム・ワイヤ・フィラメントを使用した。ただ
し、この場合には、約2600℃で約60分間にわたる
最終熱処理を施す代りに、約3200℃で約2分間にわ
たる最終熱処理(再結晶)がフィラメントに施された。
【0029】図2には、こうして得られたミクロ組織が
倍率500×で示されているが、約20ミクロンより大
きい粒度が達成されたことがわかる。
【0030】X線管内における電子放出のために必要な
温度においては、かかるフィラメントのクリープ寿命は
実施例1のフィラメント以上に満足すべきものであるこ
とが判明した。こうして得られたフィラメント部材はま
た、従来のタングステン・フィラメントに勝る延性を示
すと共に、同等の降伏強さを有していた。
【0031】以上、様々な実施の態様に関連して本発明
を説明したが、本明細書に基づけば、本発明の範囲内に
おいて様々な組合せの構成要素、変更又は改良を使用し
得ることが当業者には容易に理解されよう。
【図面の簡単な説明】
【図1】55ppmのカリウムを含有するタングステン
−3%レニウム・フィラメントを2600℃で1時間に
わたり熱処理したものの走査電子顕微鏡写真(倍率50
0×)である。
【図2】55ppmのカリウムを含有するタングステン
−3%レニウム・フィラメントを3200℃で2分間に
わたり熱処理したものの走査電子顕微鏡写真(倍率50
0×)である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C22F 1/00 630 C22F 1/00 630B 630K 650 650C 661 661Z 683 683 685 685Z 691 691B 691C 694 694A (72)発明者 デニス・ジョセフ・ダルペ アメリカ合衆国、ニューヨーク州、スケネ クタデイ、ニスカユナ・ドライブ、2336番 (72)発明者 ブルース・エー・クヌドセン アメリカ合衆国、ニューヨーク州、アムス テルダム、ベルファンス・ロード、238番

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 約3〜約7重量%のレニウム及び残部の
    タングステンから成るものに約30〜約110ppmの
    範囲内の濃度でカリウムを添加した材料で作製された熱
    処理済みの再結晶コイル巻きワイヤ部材で構成されてい
    て、約20ミクロンより大きい平均粒度を有する互いに
    かみ合った結晶粒を含むことを特徴とする、X線管の陰
    極として使用するためのX線用ワイヤ・フィラメント。
  2. 【請求項2】 前記熱処理が、前記コイル巻きワイヤ部
    材を約2600〜約3200℃の範囲内の温度で約0.
    1分〜約5時間の時間にわたり加熱することから成る請
    求項1記載のフィラメント。
  3. 【請求項3】 前記熱処理が、前記コイル巻きワイヤ部
    材を約3170〜約3230℃の範囲内の温度で約1.
    5〜約3.0分の時間にわたり加熱することから成る請
    求項2記載のフィラメント。
  4. 【請求項4】 前記熱処理が、前記コイル巻きワイヤ部
    材を約2870〜2930℃の範囲内の温度で約4時間
    にわたり加熱することから成る請求項2記載のフィラメ
    ント。
  5. 【請求項5】 前記レニウムが約3.0〜約5.5重量
    %の範囲内の量で存在する請求項2記載のフィラメン
    ト。
  6. 【請求項6】 前記カリウムが約40〜約70重量%の
    範囲内の濃度で存在する請求項5記載のフィラメント。
  7. 【請求項7】 約4〜約6重量%のレニウム及び残部の
    タングステンから成るものに約30〜約70ppmのカ
    リウムを添加した組成を有するコイル巻きワイヤ部材に
    対し、約2700〜約3200℃の範囲内の温度で約
    0.1分〜約4時間の時間にわたり熱処理を施すことに
    よって構成されていて、約20ミクロンより大きい平均
    粒度を有する互いにかみ合った結晶粒を含むことを特徴
    とする、X線管の陰極として使用するための熱処理済み
    再結晶フィラメント。
  8. 【請求項8】 前記熱処理が、前記コイル巻きワイヤ部
    材を約3170〜約3230℃の範囲内の温度で約2分
    間にわたり加熱することから成る請求項7記載のフィラ
    メント。
  9. 【請求項9】 前記熱処理が、前記コイル巻きワイヤ部
    材を約2870〜2930℃の範囲内の温度で約4時間
    にわたり加熱することから成る請求項7記載のフィラメ
    ント。
  10. 【請求項10】 約4〜約6重量%のレニウム及び残部
    のタングステンから成るものに約30〜約70ppmの
    カリウムを添加した材料から成るワイヤ部材を、1回以
    上の連続した引抜きパスによってスエージ加工棒材から
    形成する工程であって、前記引抜きパスの各々が前記ワ
    イヤ部材の横断面積を減少させ、かつ前記ワイヤ部材の
    横断面積の累積減少率が少なくとも約40%である工程
    と、前記ワイヤ部材中にコイルを形成する工程と、約2
    600〜約3230℃の範囲内の温度で約0.1分〜約
    5時間の時間にわたり加熱することによって前記ワイヤ
    部材に熱処理を施すことにより、約20ミクロンを越え
    る平均粒度を有する互いにかみ合った結晶粒組織を有す
    るフィラメントを作成する工程と、を有することを特徴
    とする、X線管の陰極として使用するためのコイル巻き
    ワイヤ・フィラメントの製造方法。
  11. 【請求項11】 前記ワイヤ部材が少なくとも2回の引
    抜きパスによって棒材から形成される場合において、最
    後の引抜きパスに先立って応力除去焼なましを施す工程
    を更に含む請求項10記載の方法。
  12. 【請求項12】 前記応力除去焼なましが前記ワイヤ部
    材の再結晶温度より低い低温応力除去焼なましである請
    求項10記載の方法。
  13. 【請求項13】 前記応力除去焼なましが前記ワイヤ部
    材の再結晶温度より高い高温応力除去焼なましである請
    求項10記載の方法。
  14. 【請求項14】 前記熱処理が、前記ワイヤ部材を約3
    170〜約3230℃の範囲内の温度で約2分間にわた
    り加熱することから成る請求項10記載の方法。
  15. 【請求項15】 前記熱処理が、前記ワイヤ部材を約2
    870〜2930℃の範囲内の温度で約4時間にわたり
    加熱することから成る請求項10記載の方法。
  16. 【請求項16】 (a)約4〜約6重量%のレニウム及
    び残部のタングステンから成るものに約30〜約70p
    pmのカリウムを添加した材料から成るワイヤ部材を、
    一連の引抜きパスによって棒材から形成する工程であっ
    て、前記引抜きパスの各々により前記ワイヤ部材の横断
    面積を減少させる工程と、 (b)少なくとも1回の前記引抜きパスの後に前記ワイ
    ヤ部材の再結晶温度より低い低温応力除去焼なましを施
    す工程と、 (c)前記焼なましの後に少なくとも1回の引抜きパス
    を行うことにより、前記焼なまし後における前記ワイヤ
    部材の横断面積の累積減少率を少なくとも約40%にす
    る工程と、 (d)前記ワイヤ部材中にコイルを形成する工程と、 (e)約3170〜約3230℃の範囲内の温度で約2
    分間にわたり加熱することによって前記ワイヤ部材に熱
    処理を施すことにより、約20ミクロンを越える平均粒
    度を有する互いにかみ合った結晶粒組織を有するフィラ
    メントを作成する工程と、を含むことを特徴とする、X
    線管の陰極として使用するためのコイル巻きワイヤ・フ
    ィラメントの製造方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003031668A1 (fr) * 2001-10-09 2003-04-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Fil de tungstene, element de chauffage de cathode et filament pour lampe anti-vibrations
EP1335410A2 (en) * 2002-01-11 2003-08-13 General Electric Company Tungsten-rhenium filament and method for producing same
JP2015524144A (ja) * 2012-05-22 2015-08-20 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ カソードフィラメント組立体
CN106906396A (zh) * 2017-03-06 2017-06-30 威海多晶钨钼科技有限公司 一种均匀细晶钨棒材及其制备方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6624577B2 (en) * 2001-03-19 2003-09-23 General Electric Company Tungsten-rhenium filament and method for producing same
EP2135879A3 (en) * 2002-06-28 2010-06-23 Domantis Limited Ligand
US20050155680A1 (en) * 2004-01-16 2005-07-21 Gyorgy Nagy High ductility, high hot tensile strength tungsten wire and method of manufacture
US7576481B2 (en) * 2005-06-30 2009-08-18 General Electric Co. High voltage stable cathode for x-ray tube
WO2009013685A1 (en) * 2007-07-24 2009-01-29 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Thermionic electron emitter, method for preparing same and x-ray source including same
US10614989B2 (en) * 2017-08-29 2020-04-07 General Electric Company Creep resistant electron emitter material and fabrication method
US11043352B1 (en) 2019-12-20 2021-06-22 Varex Imaging Corporation Aligned grain structure targets, systems, and methods of forming

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5515413A (en) * 1994-09-26 1996-05-07 General Electric Company X-ray tube cathode cup assembly

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3989549A (en) * 1975-04-21 1976-11-02 Gte Sylvania Incorporated Method of making incandescent lamp
JPS60224742A (ja) * 1984-04-23 1985-11-09 Toshiba Corp レニウム−タングステン合金
US5389853A (en) * 1992-10-01 1995-02-14 General Electric Company Incandescent lamp filament with surface crystallites and method of formation
US5498185A (en) 1994-09-26 1996-03-12 General Electric Company Methods of making an improved X-ray tube cathode cup assembly

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5515413A (en) * 1994-09-26 1996-05-07 General Electric Company X-ray tube cathode cup assembly

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003031668A1 (fr) * 2001-10-09 2003-04-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Fil de tungstene, element de chauffage de cathode et filament pour lampe anti-vibrations
CN100426445C (zh) * 2001-10-09 2008-10-15 株式会社东芝 钨丝、阴极加热器和防振灯灯丝
US9236212B2 (en) 2001-10-09 2016-01-12 Kabushiki Kaisha Toshiba Tungsten wire, cathode heater and vibration service lamp filament
EP1335410A2 (en) * 2002-01-11 2003-08-13 General Electric Company Tungsten-rhenium filament and method for producing same
EP1335410A3 (en) * 2002-01-11 2006-02-08 General Electric Company Tungsten-rhenium filament and method for producing same
JP2015524144A (ja) * 2012-05-22 2015-08-20 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ カソードフィラメント組立体
CN106906396A (zh) * 2017-03-06 2017-06-30 威海多晶钨钼科技有限公司 一种均匀细晶钨棒材及其制备方法

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