JP2001141592A - Diaphragm pressure gage and its error measuring method - Google Patents

Diaphragm pressure gage and its error measuring method

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JP2001141592A
JP2001141592A JP32598499A JP32598499A JP2001141592A JP 2001141592 A JP2001141592 A JP 2001141592A JP 32598499 A JP32598499 A JP 32598499A JP 32598499 A JP32598499 A JP 32598499A JP 2001141592 A JP2001141592 A JP 2001141592A
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JP
Japan
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diaphragm
pressure
deformation
detecting
high vacuum
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Masahiko Midori
昌彦 緑
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NEC Yamaguchi Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a diaphragm pressure gage capable of detecting deviation of a measured value caused by a secular change. SOLUTION: This pressure gage is equipped with a pressure measuring chamber communicated with a pressure measuring part, a hermetic high vacuum standard chamber, a diaphragm dividing the pressure measuring chamber and the high vacuum standard chamber and deformed by the pressure difference between both chambers, a detecting means for detecting a deformation quantity of the diaphragm, and a deforming means for giving deformation to the diaphragm, the error of a measured value caused by a secular change can thus be detected.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術】本発明はダイヤフラム式圧力計に
関し、特に、経年変化によるダイヤフラムの変化量を自
己診断する機能を有したダイヤフラム式圧力計に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a diaphragm type pressure gauge, and more particularly to a diaphragm type pressure gauge having a function of self-diagnosing a change amount of a diaphragm due to aging.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、従来のダイヤフラム式圧力計
は、図5に示すように圧力測定室1と高真空基準室2と
の間に、圧力差によって変形するダイヤフラム3が配設
されており、ダイヤフラム3の変形量を高真空基準室2
内に設けた電極4で検出し、演算回路5によって、圧力
に換算してから真空装置本体6へ出力していた。
2. Description of the Related Art Generally, a conventional diaphragm type pressure gauge has a diaphragm 3 which is deformed by a pressure difference between a pressure measuring chamber 1 and a high vacuum reference chamber 2 as shown in FIG. The amount of deformation of the diaphragm 3 is set to the high vacuum reference chamber 2
Detected by an electrode 4 provided therein, converted into a pressure by an arithmetic circuit 5, and then output to the vacuum device main body 6.

【0003】また、実開昭58−165640号には、
ダイヤフラムの変位を電気容量の変化として検出する電
気容量検出方式の圧力計が記載されている。しかし、こ
こに開示された技術は、精度が良好で、大気圧変動によ
る出力圧変動を小さくして、ゲージ圧力計としても使用
できる圧力計である。したがって、本発明の経年変化に
よる測定誤差を検出する手段を備えたものとは相違する
ものである。
In Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 58-165640,
An electric capacitance detection type pressure gauge that detects displacement of a diaphragm as a change in electric capacitance is described. However, the technology disclosed herein is a pressure gauge that has good accuracy, reduces output pressure fluctuation due to atmospheric pressure fluctuation, and can be used as a gauge pressure gauge. Therefore, the present invention is different from the one provided with a means for detecting a measurement error due to aging according to the present invention.

【0004】また、実開平3−16039号では、中心
部にある電極とダイヤフラムの間の距離を可変とし、製
造上のばらつきによる誤差を補正する技術が開示され
て。しかし、ここに開示された技術では、第1の電極5
の容量と第2の電極6の間の容量が零点において等しく
なるようにダイヤフラムとの間を調節し、測定レンジ内
で容量の交差が起こることを防止ものである。したがっ
て、本発明の様に経年変化による測定誤差を検出する手
段を備えたものとは相違する。
Japanese Utility Model Application Laid-Open No. 3-16039 discloses a technique in which the distance between an electrode at the center and a diaphragm is made variable to correct errors due to manufacturing variations. However, in the technology disclosed herein, the first electrode 5
And the capacitance between the second electrode 6 and the diaphragm are adjusted so that the capacitance between the second electrode 6 and the second electrode 6 becomes equal at the zero point, thereby preventing the capacitance from crossing within the measurement range. Therefore, it is different from the one provided with a means for detecting a measurement error due to aging as in the present invention.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】一方、上記のダイヤフ
ラム式圧力計では、以下のような問題点を有していた。
第1の問題点は、ダイヤフラムが劣化したり異物等が付
着して変形量が変わった場合、圧力計自体は、変形量の
変化を検出する手段を備えていなかった。そのため、別
の圧力計を別途取り付けて確認する必要があったが、そ
の為の作業が煩雑で、圧力計の誤差が発見された時に
は、多数の製品異常が発生している場合が多かった。
On the other hand, the above-mentioned diaphragm type pressure gauge has the following problems.
The first problem is that when the deformation is changed due to the deterioration of the diaphragm or the attachment of foreign matter or the like, the pressure gauge itself has no means for detecting the change in the deformation. Therefore, it was necessary to separately attach and confirm another pressure gauge, but the work for that was complicated, and when an error of the pressure gauge was found, many product abnormalities occurred in many cases.

【0006】また、近年の真空プロセス技術では、わず
かな圧力の違いによって、製品異常に来す場合も多くな
っており、圧力に対するシビアな管理が必要となってき
ている。
Further, in recent vacuum process technology, a product difference often occurs due to a slight difference in pressure, and severe management of pressure is required.

【0007】そこで本願発明の目的は、上記した従来の
欠点を改良するべく、誤差検出機能を有するダイヤフラ
ム式圧力計を提供することである。
An object of the present invention is to provide a diaphragm-type pressure gauge having an error detecting function in order to improve the above-mentioned conventional disadvantages.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため、基本的に以下に記載されたような構成を採用
するものである。すなわち本発明に係るダイヤフラム式
圧力計は、圧力測定部と連通している圧力測定室と、密
閉された高真空基準室と、前記圧力測定室と高真空基準
室とを区画し、両室の圧力差によって変形するダイヤフ
ラムと、該ダイヤフラムの変形量を検出する検出手段
と、前記ダイヤフラムに変形を加える変形手段とを備え
たことを特徴とするものである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention basically employs the following configuration. That is, the diaphragm-type pressure gauge according to the present invention, the pressure measurement chamber communicating with the pressure measurement unit, a sealed high vacuum reference chamber, and the pressure measurement chamber and the high vacuum reference chamber is partitioned, the two chambers A diaphragm deformed by a pressure difference, detecting means for detecting a deformation amount of the diaphragm, and deforming means for deforming the diaphragm are provided.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本発明のダイヤフラム式圧力計及
びダイヤフラム式圧力計は、上記した様な従来技術に於
ける問題点を解決する為、圧力測定部と連通している圧
力測定室と、密閉された高真空基準室と、前記圧力測定
室と高真空基準室とを区画し、両室の圧力差によって変
形するダイヤフラムと、該ダイヤフラムの変形量を検出
する検出手段と、前記ダイヤフラムに変形を加える変形
手段とを備えたので、他の圧力計を使用する事なく測定
誤差を検出することが出来る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A diaphragm pressure gauge and a diaphragm pressure gauge according to the present invention are provided with a pressure measuring chamber communicating with a pressure measuring section, in order to solve the above-mentioned problems in the prior art. A sealed high-vacuum reference chamber, a diaphragm that partitions the pressure measurement chamber and the high-vacuum reference chamber and deforms due to a pressure difference between the two chambers, a detecting unit that detects an amount of deformation of the diaphragm, and a deformable diaphragm. And a deformation means for adding the pressure, so that a measurement error can be detected without using another pressure gauge.

【0010】[0010]

【実施例】以下に、本発明に係るダイヤフラム式圧力計
及びダイヤフラム式圧力計の一具体例の構成を図面を参
照しながら詳細に説明する。図1は、本発明に係るダイ
ヤフラム式圧力計の第一の実施例の概略構成を示す説明
図である。ここで、圧力測定部及び真空装置本体10と
連通している圧力測定室11と、密閉された高真空基準
室12と、前記圧力測定室11と高真空基準室12とを
区画し、両室の圧力差によって変形するダイヤフラム1
3と、該ダイヤフラムの変形量を検出する検出手段であ
る電極14と、前記ダイヤフラム13に変形を加える変
形手段であるソレノイド15及び磁性体16とを備えて
いる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The construction of a diaphragm type pressure gauge and one example of a diaphragm type pressure gauge according to the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a first embodiment of a diaphragm type pressure gauge according to the present invention. Here, a pressure measurement chamber 11 communicating with the pressure measurement unit and the vacuum device main body 10, a sealed high vacuum reference chamber 12, and the pressure measurement chamber 11 and the high vacuum reference chamber 12 are partitioned. Diaphragm 1 deformed by pressure difference
3, an electrode 14 which is a detecting means for detecting the amount of deformation of the diaphragm, and a solenoid 15 and a magnetic body 16 which are deforming means for deforming the diaphragm 13.

【0011】ダイヤフラム13の変形は、圧力測定室1
1の圧力が高真空であれば、差圧が少ないためダイヤフ
ラム13はあまり変形をせず、圧力測定室11の圧力が
低真空であれば、差圧が大きくなりダイヤフラム13は
高真空基準室12側に押されて変形をする。
The deformation of the diaphragm 13 is caused by the pressure measuring chamber 1
If the pressure in the pressure measurement chamber 11 is high vacuum, the diaphragm 13 does not deform much because the pressure difference is small, and if the pressure in the pressure measurement chamber 11 is low vacuum, the pressure difference becomes large and the diaphragm 13 becomes high vacuum reference chamber 12. It is pushed to the side and deforms.

【0012】高真空基準室12には電極14が配設され
ており、演算回路17に接続されている。電極14は静
電容量を測定することで、ダイヤフラム13の変形量を
検知することができる。圧力測定室11の圧力が変化し
た場合、ダイヤフラム13が変形し、電極14との間の
静電容量が変わる。この静電容量の変化は電極14によ
って測定され、演算回路17で換算されて圧力の変化と
して検出し、真空装置本体10へ出力される。
An electrode 14 is provided in the high vacuum reference chamber 12 and is connected to an arithmetic circuit 17. The electrode 14 can detect the amount of deformation of the diaphragm 13 by measuring the capacitance. When the pressure in the pressure measurement chamber 11 changes, the diaphragm 13 deforms and the capacitance between the diaphragm 13 and the electrode 14 changes. This change in capacitance is measured by the electrode 14, converted by the arithmetic circuit 17, detected as a change in pressure, and output to the vacuum device main body 10.

【0013】本実施例では、図1に示すようにダイヤフ
ラム13の測定する圧力面とは逆の面に、磁性体16を
配置し、その対向位置にはソレノイド15を備えてい
る。また、ソレノイド15は電源回路18と接続されて
おり、電源回路18に投入される電力により磁性体16
を引っ張り、磁性体16の取り付けられたダイヤフラム
13を歪ませるせる機能を持つ。また、ソレノイド15
に電気が供給されると、磁力によって磁性体16を引っ
張る力が生じるので、ダイヤフラム13は高真空基準室
12側に引っ張られ変形するようになっている。ダイヤ
フラム13の歪みからなる変位量は圧力測定時と同様、
静電容量として電極14によって測定が可能である。
In this embodiment, as shown in FIG. 1, a magnetic body 16 is disposed on a surface of the diaphragm 13 opposite to a pressure surface to be measured, and a solenoid 15 is provided at a position facing the magnetic body 16. The solenoid 15 is connected to a power supply circuit 18, and the magnetic substance 16
Has the function of distorting the diaphragm 13 to which the magnetic body 16 is attached. Also, the solenoid 15
When electricity is supplied to the diaphragm 13, the magnetic force generates a force to pull the magnetic body 16, so that the diaphragm 13 is pulled toward the high vacuum reference chamber 12 and deformed. The displacement amount due to the distortion of the diaphragm 13 is the same as in the pressure measurement,
The capacitance can be measured by the electrode 14.

【0014】ソレノイド15に投入する電力が一定の条
件下においては、磁性体16への引力は一定のものとな
り、ダイヤフラム13の変位量に基準が設定できる。ダ
イヤフラム式真空計を経年使用した時に発生するダイヤ
フラム13の歪み量の経年変化は、このソレノイド15
に投入する電力からなるダイヤフラム13の変位量の変
化に現れる。本発明では、基準値と比較することでダイ
ヤフラム13の変化量の異常の検知を可能としている。
Under the condition that the power supplied to the solenoid 15 is constant, the attraction to the magnetic body 16 is constant, and a reference can be set for the displacement of the diaphragm 13. The aging of the amount of distortion of the diaphragm 13 that occurs when the diaphragm type vacuum gauge is used over time is determined by the solenoid 15.
Appears in the change in the amount of displacement of the diaphragm 13 composed of the electric power supplied to the diaphragm 13. In the present invention, it is possible to detect an abnormality in the amount of change of the diaphragm 13 by comparing with a reference value.

【0015】次に、本発明のダイヤフラム式圧力計の実
際の動作を図1,2に従って説明する。先ず、通常の圧
力測定状態では、電源回路18からソレノイド15への
電源出力はOFFの状態である。そのため、ソレノイド
15に電気は供給されず磁力は発生しないのでダイヤフ
ラム13はソレノイド15による磁力の影響を受けな
い。
Next, the actual operation of the diaphragm type pressure gauge according to the present invention will be described with reference to FIGS. First, in a normal pressure measurement state, the power supply output from the power supply circuit 18 to the solenoid 15 is in an OFF state. Therefore, no electricity is supplied to the solenoid 15 and no magnetic force is generated, so that the diaphragm 13 is not affected by the magnetic force by the solenoid 15.

【0016】ダイヤフラム13の変形は、圧力測定室1
1と高真空基準室12との圧力差によってのみおこり、
この変形量は電極14で静電容量として測定される。演
算回路17で圧力値に変換され、真空装置本体10に圧
力値として出力される。
The deformation of the diaphragm 13 is caused by the pressure measurement chamber 1
It occurs only due to the pressure difference between 1 and the high vacuum reference chamber 12,
This amount of deformation is measured as capacitance at the electrode 14. The pressure is converted into a pressure value by the arithmetic circuit 17 and output to the vacuum device main body 10 as a pressure value.

【0017】次に、圧力誤差の自己診断機能の説明をす
る。真空装置本体10は、演算回路17より圧力値の信
号を受け、圧力計の測定レンジの1/100程度の真空
状態の時であることを確認する。つまり、圧力の測定を
しなくてもいい状態(圧力測定室11と高真空基準室1
2との圧力差が少ない状態)であると判断すると、演算
回路17に誤差自己診断機能を動作させる信号を出す。
演算回路17は、そのときの測定圧力値を記憶し、電源
回路18に対しソレノイド15に電力を供給するように
指令を出す。電源回路18の出力をONとし、ソレノイ
ド15に電力を供給する。
Next, the self-diagnosis function of the pressure error will be described. The vacuum apparatus main body 10 receives the signal of the pressure value from the arithmetic circuit 17 and confirms that the vacuum state is about 1/100 of the measurement range of the pressure gauge. In other words, the pressure measurement does not need to be performed (the pressure measurement chamber 11 and the high vacuum reference chamber 1).
When it is determined that the pressure difference is smaller than the pressure difference from the control signal No. 2, the arithmetic circuit 17 outputs a signal for operating the error self-diagnosis function.
The arithmetic circuit 17 stores the measured pressure value at that time, and issues a command to the power supply circuit 18 to supply power to the solenoid 15. The output of the power supply circuit 18 is turned on to supply power to the solenoid 15.

【0018】電気を供給されたソレノイド15は、磁力
によってダイヤフラム13を高真空基準室12側に引っ
張る。このときのダイヤフラム13の変位量は電極14
によって静電容量として測定され、演算回路17に送ら
れ圧力値として変換される。演算回路17は、このとき
の圧力値と誤差自己診断機能動作開始時に記憶した圧力
値の圧力差を計算し、その値が規格範囲内であれば異常
無しと判断し、規格外であれば異常と判断して真空装置
本体10にアラーム信号を送る。その後、演算回路17
は、電源回路18に出力電源出力OFFの信号をだし、
ソレノイド15によるダイヤフラム13の引っ張りを止
め、通常の圧力測定状態に戻る。
The solenoid 15 supplied with electricity pulls the diaphragm 13 toward the high vacuum reference chamber 12 by magnetic force. At this time, the displacement of the diaphragm 13 is
Is measured as an electrostatic capacitance, and sent to the arithmetic circuit 17 to be converted as a pressure value. The arithmetic circuit 17 calculates the pressure difference between the pressure value at this time and the pressure value stored at the start of the error self-diagnosis function operation. If the value is within the specified range, it is determined that there is no abnormality. And sends an alarm signal to the vacuum apparatus main body 10. After that, the arithmetic circuit 17
Sends an output power output OFF signal to the power supply circuit 18,
The pulling of the diaphragm 13 by the solenoid 15 is stopped, and the state returns to the normal pressure measurement state.

【0019】次に、正常時と異常時の動作の違いについ
て図2、図3を用いて説明する。図には圧力計にフルス
ケールが1330Paのものを使用した場合の動作一例
である。まず正常の動作時では、図2に示すように圧力
測定時、演算回路17から真空装置本体10に送られる
測定圧力出力は、圧力測定室11の圧力と同じ値を示
し、ポイントAでは、共に931Paを示す。ポイント
Bは測定圧力出力が0Paの点である。このときに、真
空装置本体10が圧力を測定しなくていい状態でかつ圧
力計の測定レンジの1/100程度の真空状態であると
判断し、圧力誤差自己診断機能を動作させる。
Next, the difference between the normal operation and the abnormal operation will be described with reference to FIGS. The figure shows an example of the operation when a pressure gauge having a full scale of 1330 Pa is used. First, during normal operation, when measuring pressure, as shown in FIG. 2, the measured pressure output sent from the arithmetic circuit 17 to the vacuum apparatus main body 10 shows the same value as the pressure in the pressure measurement chamber 11, and at point A, 931 Pa is shown. Point B is a point where the measured pressure output is 0 Pa. At this time, it is determined that the vacuum device main body 10 does not need to measure the pressure and is in a vacuum state of about 1/100 of the measurement range of the pressure gauge, and the pressure error self-diagnosis function is operated.

【0020】電源回路出力はONし、ダイヤフラム13
は磁力により高真空基準室12側に引っ張られ、測定圧
力出力は1064Paとなる。演算回路17内に持たせ
た誤差自己診断機能動作時の測定圧力出力の規格を10
37.4Paから1090.6Paの範囲とすると、こ
の1064Paは正常な値である。その為、演算回路1
7はC点で自己診断を終了すると、真空装置本体10に
アラームの出力はせずに、電源回路出力をOFFして元
の圧力測定状態にもどる。図3に示すように、スパンズ
レが発生した異常時では、圧力測定時、真空装置本体1
0に送られる測定圧力出力は、実際の圧力と異なった値
を示しており、ポイントAでは圧力測定室の圧力は85
1.2Paであるのに対し、測定圧力出力は931Pa
である。
The output of the power supply circuit is turned on, and the diaphragm 13 is turned on.
Is pulled toward the high vacuum reference chamber 12 by the magnetic force, and the measured pressure output becomes 1064 Pa. The standard of the measured pressure output during the operation of the error self-diagnosis function provided in the arithmetic circuit 17 is 10
Assuming a range of 37.4 Pa to 1090.6 Pa, 1064 Pa is a normal value. Therefore, the arithmetic circuit 1
When the self-diagnosis is completed at the point C, the alarm is not output to the vacuum apparatus main body 10, but the power supply circuit output is turned off to return to the original pressure measurement state. As shown in FIG. 3, when an error occurs in which a span shift occurs, the vacuum device 1
The measured pressure output sent to 0 shows a different value from the actual pressure, and at point A, the pressure in the pressure measurement chamber is 85
1.2 Pa, whereas the measured pressure output is 931 Pa
It is.

【0021】ポイントBから真空装置本体10が圧力誤
差自己診断機能を動作させた状態では、測定圧力出力は
1163.8Paを示す。この場合、先に述べた規格範
囲の1037.4Paから1090.6Paの範囲から
外れている為、演算回路17は異常と判断し、真空装置
本体10にアラーム信号を出力する。
From the point B, when the vacuum apparatus main body 10 operates the pressure error self-diagnosis function, the measured pressure output indicates 1163.8 Pa. In this case, the arithmetic circuit 17 determines that there is an abnormality, and outputs an alarm signal to the vacuum device main body 10 because the value is out of the above-mentioned standard range of 1037.4 Pa to 1090.6 Pa.

【0022】図4は、本発明のダイヤフラム式圧力計の
他の実施例を示す概略構成図である。本実施例では、ダ
イヤフラム13の高真空基準室12側に歪みゲージ19
が取り付いており、その信号は演算回路17に入力され
ている。図4は図1と比較すると歪みゲージ19が追加
されており、電極14が削除されている。ダイヤフラム
13の変形量は、図1では電極14で静電容量にて測定
していたが、図4の場合、歪みゲージ19によって電気
抵抗として測定されているからである。このようにダイ
ヤフラム13を用いた真空計では、ダイヤフラム13の
変形量を測定する技術は一通りではないが、スパンズレ
自己診断機能は適用できる。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing another embodiment of the diaphragm type pressure gauge of the present invention. In the present embodiment, a strain gauge 19 is provided on the high vacuum reference chamber 12 side of the diaphragm 13.
The signal is input to the arithmetic circuit 17. FIG. 4 is different from FIG. 1 in that a strain gauge 19 is added and the electrode 14 is omitted. This is because the amount of deformation of the diaphragm 13 is measured by the capacitance at the electrode 14 in FIG. 1, but is measured as electric resistance by the strain gauge 19 in FIG. As described above, in the vacuum gauge using the diaphragm 13, the technique of measuring the amount of deformation of the diaphragm 13 is not limited, but a span shift self-diagnosis function can be applied.

【0023】次に、本発明の誤差測定方法について説明
する。先ず、真空装置本体10と連通している圧力測定
室11と、密閉された高真空基準室12と、前記圧力測
定室11と高真空基準室12とを区画し、両室の圧力差
によって変形するダイヤフラム13と、該ダイヤフラム
13の変形量を検出する検出手段と、前記ダイヤフラム
に変形を加える変形手段と、前記真空装置本体、検出手
段及び変形手段を制御する演算回路17とを備えたダイ
ヤフラム式圧力計において、圧力設定工程で、前記演算
回路17が真空装置本体10の真空度を高真空基準室1
2と略等しい圧力に設定する。
Next, the error measuring method of the present invention will be described. First, a pressure measurement chamber 11 communicating with the vacuum apparatus main body 10, a sealed high vacuum reference chamber 12, and the pressure measurement chamber 11 and the high vacuum reference chamber 12 are partitioned and deformed by a pressure difference between the two chambers. Diaphragm, comprising: a diaphragm 13 to be deformed; detecting means for detecting the amount of deformation of the diaphragm 13; deforming means for deforming the diaphragm; and an arithmetic circuit 17 for controlling the vacuum device main body, detecting means and deforming means. In the pressure gauge, in the pressure setting step, the arithmetic circuit 17 adjusts the degree of vacuum of the vacuum device body 10 to the high vacuum reference chamber 1.
Set to a pressure approximately equal to 2.

【0024】次に、変形工程で前記変形手段がダイヤフ
ラム13に所定圧力が加わった場合と同等の変形を与え
る。変形手段は、例えば、磁性体16とソレノイド15
である。次に、検出工程によって、前記変形手段によっ
てダイヤフラム13に所定圧力が加わった場合と同等の
変形を与えた際の変形量を検出手段で検出する。検出手
段は、例えば、電極14であり、静電容量の変化として
測定する。
Next, in the deformation step, the deformation means gives the same deformation as when a predetermined pressure is applied to the diaphragm 13. The deforming means is, for example, a magnetic body 16 and a solenoid 15
It is. Next, in the detecting step, the amount of deformation when the same deformation as when a predetermined pressure is applied to the diaphragm 13 by the deforming means is detected by the detecting means. The detection means is, for example, the electrode 14 and measures the change as a change in capacitance.

【0025】比較工程では、検出手段の検出結果と、前
記変形手段によってダイヤフラム13に与えた所定圧力
値とを演算回路17によって比較する。この比較工程に
より比較した結果、測定値が所定の範囲を越えた場合
に、警報工程によって警報を真空装置本体10へ出力す
る。このように、本発明のダイヤフラム式圧力計及びそ
の誤差測定方法では、ダイヤフラムに、圧力とは異なっ
た力を加えることができるようにすることで、ダイヤフ
ラムの状態が確認できるようになり、スパンズレの自己
診断が可能となる。
In the comparing step, the detection result of the detecting means is compared with a predetermined pressure value applied to the diaphragm 13 by the deforming means by the arithmetic circuit 17. When the measured value exceeds a predetermined range as a result of the comparison in this comparison step, an alarm is output to the vacuum apparatus main body 10 in the alarm step. As described above, in the diaphragm pressure gauge and the error measurement method of the present invention, by applying a force different from the pressure to the diaphragm, the state of the diaphragm can be confirmed, and the span shift can be confirmed. Self-diagnosis becomes possible.

【0026】尚、本発明は以上の実施例に限ることなく
本発明の技術思想に基づいて種々の設計変更が可能であ
る。
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various design changes can be made based on the technical concept of the present invention.

【0027】[0027]

【発明の効果】第一の効果は、圧力のスパンズレが原因
となる製品異常の大量流出を防止することができる点で
ある。その理由は、自己診断機能を有することで、圧力
のスパンズレを容易にチェックすることができ、早期に
異常を発見することができる為である。圧力を測定する
為のダイヤフラムに、圧力とは異なった力を加えること
ができるようにすることで、ダイヤフラムの状態が確認
できるようになる為、スパンズレの自己診断が可能とな
り、容易にチェックができるからである。
The first effect is that it is possible to prevent a large amount of abnormal product from flowing out due to a difference in pressure span. The reason is that by having the self-diagnosis function, the span deviation of the pressure can be easily checked, and an abnormality can be found at an early stage. By making it possible to apply a force different from the pressure to the diaphragm for measuring the pressure, the state of the diaphragm can be confirmed, so that self-diagnosis of span shift is possible and checking can be easily performed Because.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1は、本発明に係るダイヤフラム式圧力計の
第一の実施例の概略構成を示す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a first embodiment of a diaphragm type pressure gauge according to the present invention.

【図2】図2は、同ダイヤフラム式圧力計の動作説明図
である。
FIG. 2 is an operation explanatory diagram of the diaphragm type pressure gauge.

【図3】図3は、スパンズレが発生した場合のダイヤフ
ラム式圧力計の動作説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an operation of a diaphragm type pressure gauge when a span shift occurs.

【図4】図4は、本発明に係るダイヤフラム式圧力計の
第二の実施例の概略構成を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory view showing a schematic configuration of a diaphragm type pressure gauge according to a second embodiment of the present invention.

【図5】図5は、従来のダイヤフラム式圧力計の構成を
示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a configuration of a conventional diaphragm type pressure gauge.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 圧力測定室 2 高真空基準室 3 ダイヤフラム 4 電極 5 演算回路 6 真空装置本体 10 真空装置本体 11 圧力測定室 12 高真空基準室 13 ダイヤフラム 14 電極 15 ソレノイド 16 磁性体 17 演算回路 18 電源回路 19 歪みゲージ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Pressure measurement chamber 2 High vacuum reference chamber 3 Diaphragm 4 Electrode 5 Operation circuit 6 Vacuum apparatus main body 10 Vacuum apparatus main body 11 Pressure measurement chamber 12 High vacuum reference chamber 13 Diaphragm 14 Electrode 15 Solenoid 16 Magnetic body 17 Operation circuit 18 Power supply circuit 19 Distortion gauge

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 圧力測定部と連通している圧力測定室
と、密閉された高真空基準室と、前記圧力測定室と高真
空基準室とを区画し、両室の圧力差によって変形するダ
イヤフラムと、該ダイヤフラムの変形量を検出する検出
手段と、前記ダイヤフラムに変形を加える変形手段とを
備えたことを特徴とするダイヤフラム式圧力計。
1. A diaphragm which divides a pressure measurement chamber communicating with a pressure measurement section, a sealed high vacuum reference chamber, and the pressure measurement chamber and the high vacuum reference chamber, and is deformed by a pressure difference between the two chambers. And a detecting means for detecting the amount of deformation of the diaphragm, and a deforming means for deforming the diaphragm.
【請求項2】 前記検出手段は、ダイヤフラムと所定の
間隔を有して配置された電極であることを特徴とする請
求項1記載のダイヤフラム式圧力計。
2. The diaphragm-type pressure gauge according to claim 1, wherein said detection means is an electrode disposed at a predetermined distance from the diaphragm.
【請求項3】 前記検出手段は、ダイヤフラム上に設置
された歪みゲージであることを特徴とする請求項1また
は2記載のダイヤフラム式圧力計。
3. The diaphragm-type pressure gauge according to claim 1, wherein said detection means is a strain gauge installed on a diaphragm.
【請求項4】 前記変形手段は、ダイヤフラム上に取り
付けられた磁性体と前記高真空基準室内にダイヤフラム
と対向して配置されたソレノイドとで構成さ=れている
ことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載のダ
イヤフラム式圧力計。
4. The apparatus according to claim 1, wherein said deforming means comprises a magnetic member mounted on a diaphragm and a solenoid disposed in said high vacuum reference chamber so as to face said diaphragm. 4. The diaphragm type pressure gauge according to any one of items 1 to 3.
【請求項5】 前記ダイヤフラムの変形量を検出する検
出手段からの検出信号と、前記ダイヤフラムに変形を加
える変形手段による基準変化量とを比較演算回路で比較
し、比較結果にもとづいて警報を出力することを特徴と
する請求項1から4のいずれかに記載のダイヤフラム式
圧力計。
5. A comparison operation circuit compares a detection signal from a detection means for detecting a deformation amount of the diaphragm with a reference change amount by a deformation means for deforming the diaphragm, and outputs an alarm based on the comparison result. The diaphragm type pressure gauge according to any one of claims 1 to 4, wherein:
【請求項6】 前記ダイヤフラムの変形量を検出する検
出手段からの検出信号と、前記ダイヤフラムに変形を加
える変形手段による基準変化量とを比較演算回路で比較
し、比較結果が規格範囲を越えた場合に警報を出力する
ことを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載のダ
イヤフラム式圧力計。
6. A comparison operation circuit compares a detection signal from a detecting means for detecting an amount of deformation of the diaphragm with a reference change amount by a deforming means for deforming the diaphragm, and a comparison result exceeds a standard range. The diaphragm type pressure gauge according to any one of claims 1 to 5, wherein an alarm is output in such a case.
【請求項7】 真空装置本体と連通している圧力測定室
と、密閉された高真空基準室と、前記圧力測定室と高真
空基準室とを区画し、両室の圧力差によって変形するダ
イヤフラムと、該ダイヤフラムの変形量を検出する検出
手段と、前記ダイヤフラムに変形を加える変形手段と、
前記真空装置本体、検出手段及び変形手段を制御する演
算回路とを備えたダイヤフラム式圧力計において、前記
演算回路が真空装置本体の真空度を高真空基準室と略等
しい圧力に設定する圧力設定工程と、前記変形手段がダ
イヤフラムに所定圧力が加わった場合と同等の変形を与
える変形工程と、前記変形手段によってダイヤフラムに
所定圧力が加わった場合と同等の変形を与えた際の変形
量を検出手段で検出する検出工程と、検出手段の検出結
果と、前記変形手段によってダイヤフラムに与えた所定
圧力値とを演算回路によって比較する比較工程と、該比
較工程により比較した結果が、予め定めた所定の許容範
囲を越えた場合に警報を発生する警報工程を備えたこと
を特徴とするダイヤフラム式圧力計の誤差測定方法。
7. A diaphragm which divides a pressure measurement chamber communicating with a vacuum device main body, a sealed high vacuum reference chamber, and the pressure measurement chamber and the high vacuum reference chamber, and is deformed by a pressure difference between the two chambers. Detection means for detecting the amount of deformation of the diaphragm, deformation means for applying a deformation to the diaphragm,
In a diaphragm type pressure gauge provided with an arithmetic circuit for controlling said vacuum device main body, a detecting means and a deformation means, a pressure setting step in which said arithmetic circuit sets the degree of vacuum of said vacuum device main body to a pressure substantially equal to a high vacuum reference chamber And a deformation step in which the deformation means applies a deformation equivalent to a case where a predetermined pressure is applied to the diaphragm, and a deformation amount when the deformation means applies a deformation equivalent to the case where a predetermined pressure is applied to the diaphragm. A comparing step of comparing the detection result of the detecting means with a predetermined pressure value given to the diaphragm by the deforming means by an arithmetic circuit, and a result of the comparison in the comparing step is a predetermined predetermined value. An error measuring method for a diaphragm-type pressure gauge, comprising an alarming step of generating an alarm when an allowable value is exceeded.
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