JP2001133501A - 製品の検査方法 - Google Patents
製品の検査方法Info
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- JP2001133501A JP2001133501A JP31463999A JP31463999A JP2001133501A JP 2001133501 A JP2001133501 A JP 2001133501A JP 31463999 A JP31463999 A JP 31463999A JP 31463999 A JP31463999 A JP 31463999A JP 2001133501 A JP2001133501 A JP 2001133501A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 異なるプローブを用いなければならない複数
の製品群の検査をする場合に、検査用のプローブを検査
する製品に合せて変更すれば、そのまま共通のテスタを
用いて異なる種類の製品群に適正な信号を印加してを検
査することができる製品の検査方法を提供する。 【解決手段】 複数種類の製品１Ａ、１Ｂをそれぞれ検
査するための信号発生回路およびその接続端子２１〜２
８が設けられたテスタ２と、一端部に製品の種類に応じ
た前記信号発生回路の接続端子２１〜２８に電気的に接
続し得る端子（接続ピン）４１〜４８を有し、他端部に
該製品に応じたプローブ３Ａ、３Ｂを有するコネクタ４
Ａ、４Ｂとを用い、検査をする製品１Ａ、１Ｂに応じた
プローブ３Ａ、３Ｂを有する所定のコネクタ４Ａ、４Ｂ
をテスタ２の接続端子２１〜２８に結合して製品１Ａ、
１Ｂの検査をする。
の製品群の検査をする場合に、検査用のプローブを検査
する製品に合せて変更すれば、そのまま共通のテスタを
用いて異なる種類の製品群に適正な信号を印加してを検
査することができる製品の検査方法を提供する。 【解決手段】 複数種類の製品１Ａ、１Ｂをそれぞれ検
査するための信号発生回路およびその接続端子２１〜２
８が設けられたテスタ２と、一端部に製品の種類に応じ
た前記信号発生回路の接続端子２１〜２８に電気的に接
続し得る端子（接続ピン）４１〜４８を有し、他端部に
該製品に応じたプローブ３Ａ、３Ｂを有するコネクタ４
Ａ、４Ｂとを用い、検査をする製品１Ａ、１Ｂに応じた
プローブ３Ａ、３Ｂを有する所定のコネクタ４Ａ、４Ｂ
をテスタ２の接続端子２１〜２８に結合して製品１Ａ、
１Ｂの検査をする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、同種の製品で、規
格が多少異なる製品群に電圧などの信号を印加して検査
をする製品の検査方法に関する。さらに詳しくは、製品
が異なると、その検査のためのプローブが異なるが、そ
のプローブを交換することにより、自動的に印加し得る
信号も変更して簡単に検査をすることができる製品の検
査方法に関する。
格が多少異なる製品群に電圧などの信号を印加して検査
をする製品の検査方法に関する。さらに詳しくは、製品
が異なると、その検査のためのプローブが異なるが、そ
のプローブを交換することにより、自動的に印加し得る
信号も変更して簡単に検査をすることができる製品の検
査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】たとえば電池ボックスに設けられる回路
には、充電式電池への過充電や過放電を防止するための
保護回路が設けられており、その回路が正常であるか否
かを検査するような場合、その回路に外部から電圧を印
加して充電し、一定の電位になれば回路が切れるか否か
などの検査をする必要がある。このような場合、製品に
よってその電圧が異なる場合とか、スイッチの位置によ
りその充電器の正負が逆になる場合など印加する信号を
変化させる必要がある。
には、充電式電池への過充電や過放電を防止するための
保護回路が設けられており、その回路が正常であるか否
かを検査するような場合、その回路に外部から電圧を印
加して充電し、一定の電位になれば回路が切れるか否か
などの検査をする必要がある。このような場合、製品に
よってその電圧が異なる場合とか、スイッチの位置によ
りその充電器の正負が逆になる場合など印加する信号を
変化させる必要がある。
【０００３】そのため、従来は、たとえば図２（ａ）に
示されるように、個々の製品１１Ａ、１１Ｂごとに個別
のテスタ１２Ａ、１２Ｂを準備し、そのテスタ１２Ａ、
１２Ｂにその製品用のプローブ１３Ａ、１３Ｂを接続し
たコネクタ１４Ａ、１４Ｂを接続して検査をしていた。
示されるように、個々の製品１１Ａ、１１Ｂごとに個別
のテスタ１２Ａ、１２Ｂを準備し、そのテスタ１２Ａ、
１２Ｂにその製品用のプローブ１３Ａ、１３Ｂを接続し
たコネクタ１４Ａ、１４Ｂを接続して検査をしていた。
【０００４】また、別の方法としては、図２（ｂ）に示
されるように、テスタ１２Ｃを共通化すると共に、テス
タ１２Ｃに設定切替部１５を設けておき、製品に応じて
その設定切替部１５により製品にあった出力とするよう
にし、同時にその製品１１Ａ、１１Ｂにあったプローブ
１３Ａ、１３Ｂを有するコネクタ１４Ａ、１４Ｂを接続
して検査をする方法が採られている。
されるように、テスタ１２Ｃを共通化すると共に、テス
タ１２Ｃに設定切替部１５を設けておき、製品に応じて
その設定切替部１５により製品にあった出力とするよう
にし、同時にその製品１１Ａ、１１Ｂにあったプローブ
１３Ａ、１３Ｂを有するコネクタ１４Ａ、１４Ｂを接続
して検査をする方法が採られている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の製品の検査方法
は、前述のように、個々の製品ごとにテスタを準備する
か、類似の製品ごとに共用のテスタを準備しておき、検
査をする製品に合せてテスタの設定をすると共に、その
製品用のプローブに交換して検査をしている。前者の方
法では、テスタを製品ごとに準備しなければならないた
め、コストアップになると共に、その保管場所も多くを
要し能率が悪い。また、後者の場合でも、製品によって
端子などが変わるため、プローブを変更しなければなら
ないことはやむを得ないとしても、一々テスタの設定を
製品に合せて行わなければならず、非常に手間がかかる
と共に、設定の切替を間違えると、製品に誤った信号を
印加することになり、充電器などを接続して検査をする
場合には、製品を破壊する場合もあるという問題があ
る。
は、前述のように、個々の製品ごとにテスタを準備する
か、類似の製品ごとに共用のテスタを準備しておき、検
査をする製品に合せてテスタの設定をすると共に、その
製品用のプローブに交換して検査をしている。前者の方
法では、テスタを製品ごとに準備しなければならないた
め、コストアップになると共に、その保管場所も多くを
要し能率が悪い。また、後者の場合でも、製品によって
端子などが変わるため、プローブを変更しなければなら
ないことはやむを得ないとしても、一々テスタの設定を
製品に合せて行わなければならず、非常に手間がかかる
と共に、設定の切替を間違えると、製品に誤った信号を
印加することになり、充電器などを接続して検査をする
場合には、製品を破壊する場合もあるという問題があ
る。
【０００６】本発明は、このような問題を解決するため
になされたもので、異なるプローブを用いなければなら
ない複数の製品群の検査をする場合に、検査用のプロー
ブを検査する製品に合せて変更すれば、そのまま共通の
テスタを用いて異なる種類の製品群に適正な信号を印加
してを検査することができる製品の検査方法を提供する
ことを目的とする。
になされたもので、異なるプローブを用いなければなら
ない複数の製品群の検査をする場合に、検査用のプロー
ブを検査する製品に合せて変更すれば、そのまま共通の
テスタを用いて異なる種類の製品群に適正な信号を印加
してを検査することができる製品の検査方法を提供する
ことを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
になされた本発明に係る製品の検査方法は、複数種類の
製品にプローブにより信号を供給して製品の特性検査を
する場合に、前記複数種類の製品をそれぞれ検査するた
めの信号発生回路およびその接続端子が設けられたテス
タと、一端部に製品の種類に応じた前記信号発生回路の
前記接続端子と電気的に接続し得る端子を有し、他端部
に該製品に応じたプローブを有するコネクタとを用い、
検査をする製品に応じたプローブを有する所定のコネク
タを前記テスタの接続端子と結合して製品の検査をする
ことを特徴としている。
になされた本発明に係る製品の検査方法は、複数種類の
製品にプローブにより信号を供給して製品の特性検査を
する場合に、前記複数種類の製品をそれぞれ検査するた
めの信号発生回路およびその接続端子が設けられたテス
タと、一端部に製品の種類に応じた前記信号発生回路の
前記接続端子と電気的に接続し得る端子を有し、他端部
に該製品に応じたプローブを有するコネクタとを用い、
検査をする製品に応じたプローブを有する所定のコネク
タを前記テスタの接続端子と結合して製品の検査をする
ことを特徴としている。
【０００８】本発明によれば、検査をする製品群の種類
が変っても、その製品にあったプローブを有するコネク
タをテスタの接続端子に接続して（差し込んで）検査を
するだけで、製品の検査をすることができる。そのた
め、設定を間違えて製品に誤った信号を印加することが
なくなり、製品の保護および検査の効率化に寄与する。
が変っても、その製品にあったプローブを有するコネク
タをテスタの接続端子に接続して（差し込んで）検査を
するだけで、製品の検査をすることができる。そのた
め、設定を間違えて製品に誤った信号を印加することが
なくなり、製品の保護および検査の効率化に寄与する。
【０００９】
【発明の実施の形態】つぎに、図面を参照しながら本発
明の製品の検査方法について説明をする。本発明による
製品の検査方法は、複数種類の製品にプローブにより信
号を供給して製品の特性検査をする場合に、複数種類の
製品１Ａ、１Ｂをそれぞれ検査するための信号発生回路
およびその接続端子２１〜２８が設けられたテスタ２
と、一端部に製品の種類に応じた前記信号発生回路の接
続端子２１〜２８に電気的に接続し得る端子（接続ピ
ン）４１〜４８を有し、他端部に該製品に応じたプロー
ブ３Ａ、３Ｂを有するコネクタ４Ａ、４Ｂとを用い、検
査をする製品１Ａ、１Ｂに応じたプローブ３Ａ、３Ｂを
有する所定のコネクタ４Ａ、４Ｂをテスタ２の接続端子
２１〜２８に結合して製品１Ａ、１Ｂの検査をすること
を特徴としている。
明の製品の検査方法について説明をする。本発明による
製品の検査方法は、複数種類の製品にプローブにより信
号を供給して製品の特性検査をする場合に、複数種類の
製品１Ａ、１Ｂをそれぞれ検査するための信号発生回路
およびその接続端子２１〜２８が設けられたテスタ２
と、一端部に製品の種類に応じた前記信号発生回路の接
続端子２１〜２８に電気的に接続し得る端子（接続ピ
ン）４１〜４８を有し、他端部に該製品に応じたプロー
ブ３Ａ、３Ｂを有するコネクタ４Ａ、４Ｂとを用い、検
査をする製品１Ａ、１Ｂに応じたプローブ３Ａ、３Ｂを
有する所定のコネクタ４Ａ、４Ｂをテスタ２の接続端子
２１〜２８に結合して製品１Ａ、１Ｂの検査をすること
を特徴としている。
【００１０】図１に示される例は、電池ボックスに設け
られる電池保護回路の検査をする例が示されている。そ
のため、検査としては、充電器により電圧を印加して、
過充電の電圧が電池側に印加されないようにする回路が
正常に働くか、また、電池が放電して電圧が下がった場
合やショートした場合などに過放電にならないように回
路を遮断する回路が正常に動作するか否かを検査する例
であるため、信号としては充電器による電圧を印加する
テスタになっている。しかも製品によってはスイッチの
位置などにより印加すべき電圧が正と負の場合があり、
そのため異なる充電器Ａ、Ｂをそれぞれ製品Ａ、製品Ｂ
に接続して検査をするようになっている。しかし、通常
の特性検査のような場合には、この充電器に代えて、そ
れぞれ特性検査用の信号を印加することになる。
られる電池保護回路の検査をする例が示されている。そ
のため、検査としては、充電器により電圧を印加して、
過充電の電圧が電池側に印加されないようにする回路が
正常に働くか、また、電池が放電して電圧が下がった場
合やショートした場合などに過放電にならないように回
路を遮断する回路が正常に動作するか否かを検査する例
であるため、信号としては充電器による電圧を印加する
テスタになっている。しかも製品によってはスイッチの
位置などにより印加すべき電圧が正と負の場合があり、
そのため異なる充電器Ａ、Ｂをそれぞれ製品Ａ、製品Ｂ
に接続して検査をするようになっている。しかし、通常
の特性検査のような場合には、この充電器に代えて、そ
れぞれ特性検査用の信号を印加することになる。
【００１１】本発明では、テスタ２の内部に製品１Ａ、
１Ｂをそれぞれ検査するための電圧を生成する充電器
Ａ、Ｂが設けられており、それぞれの出力端子が接続端
子２５、２６、および接続端子２７、２８として設けら
れている。そして、共通部の接続端子２１〜２４が設け
られている。一方、製品１Ａを検査するためのプローブ
３Ａが接続されたコネクタ４Ａの一端側には、テスタ２
の接続端子２１〜２６に合致するように端子（接続ピ
ン）４１〜４６が設けられている。そして、このコネク
タ４Ａの中で、プローブピン３１に所定の接続がなされ
るように、プローブピン３１とテスタ２の接続端子２１
〜２６との配線がなされている。そのため、製品１Ａを
検査するためのプローブ３Ａを有するコネクタ４Ａの端
子（接続ピン）４１〜４６をテスタ２の接続端子２１〜
２６に接続すれば（差し込めば）、そのままプローブ３
Ａのプローブピン３１を製品１Ａに接触させることによ
り、製品１Ａに所定の電圧を印加して検査をすることが
できる。
１Ｂをそれぞれ検査するための電圧を生成する充電器
Ａ、Ｂが設けられており、それぞれの出力端子が接続端
子２５、２６、および接続端子２７、２８として設けら
れている。そして、共通部の接続端子２１〜２４が設け
られている。一方、製品１Ａを検査するためのプローブ
３Ａが接続されたコネクタ４Ａの一端側には、テスタ２
の接続端子２１〜２６に合致するように端子（接続ピ
ン）４１〜４６が設けられている。そして、このコネク
タ４Ａの中で、プローブピン３１に所定の接続がなされ
るように、プローブピン３１とテスタ２の接続端子２１
〜２６との配線がなされている。そのため、製品１Ａを
検査するためのプローブ３Ａを有するコネクタ４Ａの端
子（接続ピン）４１〜４６をテスタ２の接続端子２１〜
２６に接続すれば（差し込めば）、そのままプローブ３
Ａのプローブピン３１を製品１Ａに接触させることによ
り、製品１Ａに所定の電圧を印加して検査をすることが
できる。
【００１２】また、製品１Ｂを検査するプローブ３Ｂが
接続されたコネクタ４Ｂは、端子（接続ピン）４１〜４
４と端子（接続ピン）４７、４８をその一端部側に有し
ている。そのため、テスタ２の接続端子部にコネクタ４
Ｂを差し込むと、共通部の接続端子２１〜２４と、製品
１Ｂ用の接続端子２７、２８に接続される。このコネク
タ４Ｂも、図１（ｂ）に示されるように、端子４１〜４
４および４７、４８がプローブ３Ｂの各プローブ３１と
配線がなされているため、テスタ２の必要な接続端子２
１〜２８にそのまま各プローブピン３１が接続される。
そして、このプローブピン３１を製品１Ｂの所定の端子
に接続することにより、製品１Ｂに所定の電圧が印加さ
れ、検査がなされる。
接続されたコネクタ４Ｂは、端子（接続ピン）４１〜４
４と端子（接続ピン）４７、４８をその一端部側に有し
ている。そのため、テスタ２の接続端子部にコネクタ４
Ｂを差し込むと、共通部の接続端子２１〜２４と、製品
１Ｂ用の接続端子２７、２８に接続される。このコネク
タ４Ｂも、図１（ｂ）に示されるように、端子４１〜４
４および４７、４８がプローブ３Ｂの各プローブ３１と
配線がなされているため、テスタ２の必要な接続端子２
１〜２８にそのまま各プローブピン３１が接続される。
そして、このプローブピン３１を製品１Ｂの所定の端子
に接続することにより、製品１Ｂに所定の電圧が印加さ
れ、検査がなされる。
【００１３】本発明によれば、類似の製品を検査するた
めのテスタを共通化すると共に、類似するが、各製品ご
とに個別の信号発生回路を設けておき、共通部分および
各製品の個別の接続端子をテスタに設けている。さら
に、各製品を検査するプローブが接続されたコネクタを
テスタに接続して検査をするようにしているため、類似
の製品を検査する場合にプローブを変えるためのコネク
タを変更するだけで、自動的にその製品にあった信号が
印加されるようになっている。その結果、テスタを製品
ごとに何台も準備する必要がなく、また、製品によって
テスタの設定を切り替える必要もなく、非常に簡単に製
品の検査をすることができる。
めのテスタを共通化すると共に、類似するが、各製品ご
とに個別の信号発生回路を設けておき、共通部分および
各製品の個別の接続端子をテスタに設けている。さら
に、各製品を検査するプローブが接続されたコネクタを
テスタに接続して検査をするようにしているため、類似
の製品を検査する場合にプローブを変えるためのコネク
タを変更するだけで、自動的にその製品にあった信号が
印加されるようになっている。その結果、テスタを製品
ごとに何台も準備する必要がなく、また、製品によって
テスタの設定を切り替える必要もなく、非常に簡単に製
品の検査をすることができる。
【００１４】しかも、製品にあったプローブが接続され
たコネクタをテスタに差し込んで接続するため、プロー
ブが間違っておれば製品に接続することができず、プロ
ーブが正しければ必ずその製品にあった信号を印加する
ことができ、設定の切替を間違えて誤った信号を製品に
印加し、製品を破損するということもなくなる。
たコネクタをテスタに差し込んで接続するため、プロー
ブが間違っておれば製品に接続することができず、プロ
ーブが正しければ必ずその製品にあった信号を印加する
ことができ、設定の切替を間違えて誤った信号を製品に
印加し、製品を破損するということもなくなる。
【００１５】なお、前述の例では、電池保護回路の検査
の例で、検査のために入力する信号が充電器による電圧
印加の例であったが、この例に限らず、通常の何種類も
の信号を印加して検査する場合でも、同様にコネクタ内
でプローブピンとテスタの接続端子とが接続される配線
が設けられたコネクタを準備しておき、製品にあったプ
ローブを選び、そのコネクタをテスタに差し込んでプロ
ーブの各プローブピンを製品に接触させることにより、
正確な信号を印加して製品の検査を行うことができる。
の例で、検査のために入力する信号が充電器による電圧
印加の例であったが、この例に限らず、通常の何種類も
の信号を印加して検査する場合でも、同様にコネクタ内
でプローブピンとテスタの接続端子とが接続される配線
が設けられたコネクタを準備しておき、製品にあったプ
ローブを選び、そのコネクタをテスタに差し込んでプロ
ーブの各プローブピンを製品に接触させることにより、
正確な信号を印加して製品の検査を行うことができる。
【００１６】また、前述の例では、製品の種類がＡとＢ
の２種類のみの例であったが、同様の製品群がもっと多
数ある場合でも、それぞれの製品に独立した信号を供給
する接続端子をテスタ側に設けておき、その接続端子の
必要な部分に合うような接続ピンとその製品に合ったプ
ローブを有するコネクタを準備すれば、何種類の製品に
も対応することができる。
の２種類のみの例であったが、同様の製品群がもっと多
数ある場合でも、それぞれの製品に独立した信号を供給
する接続端子をテスタ側に設けておき、その接続端子の
必要な部分に合うような接続ピンとその製品に合ったプ
ローブを有するコネクタを準備すれば、何種類の製品に
も対応することができる。
【００１７】
【発明の効果】本発明によれば、製品の種類毎に異なる
テスターを準備する必要がなく、類似する製品ごとに一
種類のテスタを準備すればよいため、テスタの台数を減
らすことができ、保管管理が非常に楽になる。しかも、
検査のときは、その製品に合せた設定をする必要がな
く、その製品に合致するプローブが接続されたコネクタ
部をテスタの接続端子部に接続するだけで、正確な入力
信号を印加して検査をすることができる。その結果、非
常に簡単に検査をすることができると共に、誤って他の
製品の信号を印加し、製品を破損するということもなく
なる。そのため、検査工程における工数を削減すること
ができると共に、破損による歩留り低下を来すこともな
くなり、コストダウンに寄与することができる。
テスターを準備する必要がなく、類似する製品ごとに一
種類のテスタを準備すればよいため、テスタの台数を減
らすことができ、保管管理が非常に楽になる。しかも、
検査のときは、その製品に合せた設定をする必要がな
く、その製品に合致するプローブが接続されたコネクタ
部をテスタの接続端子部に接続するだけで、正確な入力
信号を印加して検査をすることができる。その結果、非
常に簡単に検査をすることができると共に、誤って他の
製品の信号を印加し、製品を破損するということもなく
なる。そのため、検査工程における工数を削減すること
ができると共に、破損による歩留り低下を来すこともな
くなり、コストダウンに寄与することができる。
【図１】本発明による検査方法の一実施形態におけるテ
スタと製品とを接続するコネクタおよびプローブの関係
を説明する図である。
スタと製品とを接続するコネクタおよびプローブの関係
を説明する図である。
【図２】従来の検査方法の一例を説明するための概念図
を示す図である。
を示す図である。
１Ａ、１Ｂ 製品 ２ テスタ ３Ａ、３Ｂ プローブ ４Ａ、４Ｂ コネクタ ２１〜２８ 接続端子 ４１〜４８ 端子（接続ピン）
Claims (1)
- 【請求項１】 複数種類の製品にプローブにより信号を
供給して製品の特性検査をする製品の検査方法であっ
て、前記複数種類の製品をそれぞれ検査するための信号
発生回路およびその接続端子が設けられたテスタと、一
端部に製品の種類に応じた前記信号発生回路の前記接続
端子に電気的に接続し得る端子を有し、他端部に該製品
に応じたプローブを有するコネクタとを用い、検査をす
る製品に応じたプローブを有する所定のコネクタを前記
テスタの接続端子と結合して製品の検査をする製品の検
査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31463999A JP2001133501A (ja) | 1999-11-05 | 1999-11-05 | 製品の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31463999A JP2001133501A (ja) | 1999-11-05 | 1999-11-05 | 製品の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001133501A true JP2001133501A (ja) | 2001-05-18 |
Family
ID=18055754
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31463999A Pending JP2001133501A (ja) | 1999-11-05 | 1999-11-05 | 製品の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001133501A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003185718A (ja) * | 2001-12-17 | 2003-07-03 | Ricoh Co Ltd | ステッピングモータ評価装置 |
| KR100777267B1 (ko) | 2006-01-26 | 2007-11-20 | 우 옵트로닉스 코포레이션 | 전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치 |
| US9502171B2 (en) | 2006-09-27 | 2016-11-22 | Vishay Dale Electronics, Llc | Inductor with thermally stable resistance |
-
1999
- 1999-11-05 JP JP31463999A patent/JP2001133501A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003185718A (ja) * | 2001-12-17 | 2003-07-03 | Ricoh Co Ltd | ステッピングモータ評価装置 |
| KR100777267B1 (ko) | 2006-01-26 | 2007-11-20 | 우 옵트로닉스 코포레이션 | 전자소자 테스트 시스템의 범용 프루브 장치 |
| US9502171B2 (en) | 2006-09-27 | 2016-11-22 | Vishay Dale Electronics, Llc | Inductor with thermally stable resistance |
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