JP2001127421A - Ball mounter and mounting method - Google Patents

Ball mounter and mounting method

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JP2001127421A
JP2001127421A JP31084399A JP31084399A JP2001127421A JP 2001127421 A JP2001127421 A JP 2001127421A JP 31084399 A JP31084399 A JP 31084399A JP 31084399 A JP31084399 A JP 31084399A JP 2001127421 A JP2001127421 A JP 2001127421A
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JP
Japan
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substrate
ball
mounting
pickup head
solder
Prior art date
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Application number
JP31084399A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiharu Fujimori
義晴 藤森
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Athlete FA Corp
Original Assignee
Athlete FA Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus for mounting solder balls on a board while correcting warpage. SOLUTION: Warpage of a board is corrected by pressing a head having a lower surface, provided with a plurality of protrusions and suction holes, against a board. After the board is held flatly by means of a vacuum chuck pad provided on a board mounting base, solder balls are separated from the suction holes and mounted on the board.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は基板にボールを搭載
するボール搭載装置及びボール搭載方法に係るもので、
詳しくは基板の反りを平坦にしボールを搭載するボール
搭載装置及びボール搭載方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a ball mounting apparatus and a ball mounting method for mounting a ball on a substrate.
More specifically, the present invention relates to a ball mounting apparatus and a ball mounting method for mounting a ball by flattening the warpage of a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】複数個の半導体素子を実装した基板に、
数千個のはんだボールを一度に搭載する技術が実用され
ている。常用されている基板にはテープ基板、プリント
回路基板と半導体ウエハ等があり、第5図ははんだボー
ル4480個を一度に搭載する大型なテープ基板の一例
である。テープ基板22は56個のIC23が実装さ
れ、その内の28個のICが封止樹脂24で一緒にモー
ルドされたもので、(a)はテープ基板の平面図、
(b)はテープ基板の正面図、(c)はテープ基板の下面
図で、下面図(c)に記載された小さな白丸はビアホー
ルを有する多層のテープ基板の電極上に搭載されたはん
だボールである。
2. Description of the Related Art On a substrate on which a plurality of semiconductor elements are mounted,
A technique for mounting thousands of solder balls at a time has been put to practical use. Commonly used substrates include a tape substrate, a printed circuit board, and a semiconductor wafer. FIG. 5 shows an example of a large-sized tape substrate on which 4480 solder balls are mounted at one time. The tape substrate 22 has 56 ICs 23 mounted thereon, and 28 ICs among them are molded together with a sealing resin 24. (a) is a plan view of the tape substrate,
(B) is a front view of the tape substrate, (c) is a bottom view of the tape substrate, and small white circles described in the bottom view (c) are solder balls mounted on electrodes of a multilayer tape substrate having via holes. is there.

【0003】第6図は、所定の基準点からの偏倚量(m
m)で前記テープ基板の反り量を表したものである。偏
倚(反り)が最大の所と最小の所では0.66mmの差が
ある。反り量がこのように大きいテープ基板は単に搭載
台に載せられ真空吸着パットで吸引されても、基板は搭
載台に密着して平坦になることはない。そのため基板が
真空吸引パットに吸着されるまで基板を押圧して、基板
を平坦にする。実際は基板が平坦になるまで基板を搭載
台に押圧する。この時の押圧力は1.3〜1.5Kgで
ある。はんだボールの搭載を基板が反った状態で行う
と、基板が反って高くなった位置に対応する吸着孔に吸
着されたはんだボールは吸着孔に押し込まれ食い付く。
その結果、はんだボールを基板に搭載する工程でピック
アップヘッドの真空をブレイクし更にピックアップヘッ
ドを上昇させながらはんだボールの離脱を促進するため
にピックアップヘッドに振動を与えても、はんだボール
はピックアップヘッドから基板に離脱しない確率が著し
く増大する欠点を有する。更に、反り分を考慮し上空よ
りボールを落下させるとボール搭載位置ズレの要因とな
り不可である。また、基板を搭載台に固定しないではん
だボールを基板に搭載すると、ピックアップヘッドを上
昇させる時に基板の反りが元に戻るので、はんだボール
を基板に搭載する条件が反りの大きい所と小さい所で異
なり、均一な条件ではんだボールを基板に搭載できなく
なる欠点がある。
FIG. 6 shows a deviation amount (m) from a predetermined reference point.
m) represents the warpage of the tape substrate. There is a difference of 0.66 mm between the position where the deflection (warpage) is maximum and the position where the deflection is minimum. Even if the tape substrate having such a large amount of warpage is simply placed on the mounting table and sucked by the vacuum suction pad, the substrate does not adhere to the mounting table and becomes flat. Therefore, the substrate is pressed until the substrate is sucked by the vacuum suction pad, thereby flattening the substrate. In practice, the substrate is pressed against the mounting table until the substrate becomes flat. The pressing force at this time is 1.3 to 1.5 kg. When the mounting of the solder ball is performed in a state where the substrate is warped, the solder ball adsorbed by the suction hole corresponding to the position where the substrate is warped and raised is pushed into the suction hole and bites.
As a result, even when the vacuum is applied to the pickup head to break the vacuum of the pickup head in the process of mounting the solder ball on the substrate and further raise the pickup head to accelerate the detachment of the solder ball, the solder ball is still removed from the pickup head. There is a disadvantage that the probability of not separating from the substrate is significantly increased. Further, if the ball is dropped from the sky in consideration of the warpage, the ball mounting position is displaced, which is impossible. Also, if the solder balls are mounted on the board without fixing the board to the mounting table, the warpage of the board will return to the original when the pickup head is raised. In contrast, there is a disadvantage that the solder balls cannot be mounted on the substrate under uniform conditions.

【0004】近時、ボール搭載法により8〜12インチ
ウエハにバンプを形成する試みが始められている。半導
体ウエハは半導体回路部を保護するための保護膜が半導
体形成面側に塗布されるので、保護膜の重合収縮等の原
因でウエハに反りが生じる。反りの量は基板が3インチ
ウエハ等小径では問題にならないが、ウエハの径が大き
くなる程反りの量は大きくなりボール搭載工程で不良を
発生させる。また、テープ基板はテープの剛性が低いた
め反りが大きくなる本質的な欠点を有している。
Recently, attempts have been made to form bumps on an 8 to 12 inch wafer by a ball mounting method. Since a protective film for protecting the semiconductor circuit portion is applied to the semiconductor wafer side of the semiconductor wafer, the wafer is warped due to polymerization shrinkage of the protective film and the like. The amount of warpage does not matter when the substrate has a small diameter such as a 3-inch wafer. However, as the diameter of the wafer increases, the amount of warpage increases and a defect occurs in the ball mounting process. Further, the tape substrate has an essential disadvantage that the warpage is increased due to the low rigidity of the tape.

【0005】本願発明に関連した公知技術として、反っ
た基板にはんだボールを搭載する方法(特開平09−2
98356号公報)が知られている。図8はそれに開示
されたもので、基板の反りに倣ってはんだボールを基板
に押圧できるように、はんだボールは加圧ゴム25を介
して剣山ピン(エジェクタピン)26で加圧される。押
圧されるはんだボールには加圧ゴムの弾性力とフラック
スの粘弾性力が作用する。加圧ゴムの弾性力はフラック
スの粘弾性力より格段に大きく且つはんだボールは柔ら
かく低荷重で容易に変形するので、エジェクタピンの先
端あるいは吸着孔に食い付くはんだボールを皆無にする
ことはできない。また、基板の反り矯正方法ははんだボ
ール搭載基板でなくはんだ付けをするプリント基板の例
であるが特開平04−230094号公報に開示されて
いる。
As a known technique related to the present invention, a method of mounting solder balls on a warped substrate (Japanese Patent Laid-Open No. 09-2)
No. 98356). FIG. 8 discloses this, in which a solder ball is pressed by a pin pin (ejector pin) 26 via a pressing rubber 25 so that the solder ball can be pressed against the substrate following the warpage of the substrate. An elastic force of the pressurized rubber and a viscoelastic force of the flux act on the pressed solder ball. Since the elastic force of the pressurized rubber is much larger than the viscoelastic force of the flux and the solder balls are soft and easily deformed with a low load, it is not possible to eliminate all the solder balls that bite into the tip of the ejector pin or the suction hole. The method of correcting the warpage of the substrate is not a solder ball mounting substrate but an example of a printed circuit board to be soldered, which is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】このように、従来例は
反った基板を平坦になるように矯正し搭載台に固定した
後にはんだボールを搭載する方法と手段を何ら開示し示
唆するものではない。本願発明になるボール搭載装置と
搭載方法は反った基板の反りを平坦にした後にボールを
基板に搭載することにより、はんだボールが押圧され吸
着口やエジェクタピンに食い付きボール搭載不良が発生
することを防止することを第1の目的とする。他の目的
はボールを搭載する時に基板の反りによる搭載条件の差
異を小さくすることにある。
As described above, the prior art does not disclose or suggest any method and means for mounting a solder ball after correcting a warped substrate to be flat and fixing it to a mounting table. . The ball mounting apparatus and the mounting method according to the present invention are such that, by flattening the warped substrate and mounting the ball on the substrate, the solder ball is pressed and bites into the suction port and the ejector pin to cause a defective ball mounting. The first object is to prevent the following. Another object is to reduce the difference in mounting conditions due to warpage of the substrate when mounting the ball.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するものであり、本発明のボール搭載装置はボールの供
給部、基板を搭載し位置決めするテーブル、複数の吸着
孔を下面に有するピックアップヘッド及びピックアップ
ヘッドを移動させる移動機構からなるボール搭載装置で
あって、吸着孔に吸着されたボールの高さより高さが高
い突起をピックアップヘッドの下面に設けたものであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems, and a ball mounting apparatus according to the present invention has a ball supply section, a table for mounting and positioning a substrate, and a pickup having a plurality of suction holes on its lower surface. A ball mounting device comprising a moving mechanism for moving a head and a pickup head, wherein a protrusion having a height higher than the height of a ball sucked in a suction hole is provided on a lower surface of the pickup head.

【0008】また、本発明はピックアップヘッドの下面
に設けられた複数の吸着孔に吸着されたボールを基板に
搭載するボール搭載方法であって、基板にフラックスを
印刷する工程、ピックアップヘッドの下面にボールを吸
着する工程、ピックアップヘッドを基板の上に移動する
工程、ピックアップヘッドの下面に設けられた突起を基
板に押圧し基板を実質的に平坦にする工程、ボールを吸
着孔から基板に搭載する工程とピックアップヘッドを基
板から離間させる工程からなるボール搭載方法である。
The present invention also relates to a ball mounting method for mounting balls adsorbed on a plurality of suction holes provided on a lower surface of a pickup head on a substrate, wherein a step of printing a flux on the substrate, A step of adsorbing a ball, a step of moving a pickup head over a substrate, a step of pressing a projection provided on a lower surface of the pickup head against the substrate to substantially flatten the substrate, and mounting the ball on the substrate from a suction hole. This is a ball mounting method including a step and a step of separating the pickup head from the substrate.

【0009】次に、本発明は、ピックアップヘッドの下
面に設けられた複数の吸着孔に吸着されたボールを基板
に搭載するボール搭載方法であって、基板を実質的に平
坦にする工程、実質的に平坦に矯正された基板を搭載台
に保持する工程、ピックアップヘッドの下面にボールを
吸着する工程、前記はんだボールの下部にフラックスを
塗布する工程、ピックアップヘッドを基板の上に移動す
る工程、ボールを吸着孔から基板に搭載する工程とピッ
クアップヘッドを基板から離間させる工程からなるボー
ル搭載方法である。
Next, the present invention relates to a ball mounting method for mounting a ball sucked in a plurality of suction holes provided on a lower surface of a pickup head on a substrate, the method comprising: Holding the substrate that has been flattened flat on a mounting table, adsorbing a ball to the lower surface of the pickup head, applying flux to the lower part of the solder ball, moving the pickup head onto the substrate, This is a ball mounting method including a step of mounting a ball on a substrate from a suction hole and a step of separating a pickup head from the substrate.

【0010】更に、本発明は、ピックアップヘッドの下
面に設けられた複数の吸着孔に吸着されたボールを基板
に搭載するボール搭載方法であって、前記基板を実質的
に平坦に矯正する工程、前記ピックアップヘッドの前記
下面に前記はんだボールを吸着する工程、前記ボールを
前記吸着孔から前記基板に搭載する工程と前記ピックア
ップヘッドを前記基板から離間させる工程からなる。
Further, the present invention provides a ball mounting method for mounting a ball sucked in a plurality of suction holes provided on a lower surface of a pickup head on a substrate, the method comprising: correcting the substrate to be substantially flat; The method includes a step of adsorbing the solder ball on the lower surface of the pickup head, a step of mounting the ball on the substrate from the suction hole, and a step of separating the pickup head from the substrate.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を実施例に基
づき図面を参照して説明する。図1は実施例に用いたボ
ール搭載装置の正面図である。1ははんだボール供給
部、2ははんだボール、3ははんだボールに振動を与え
るバイブレータ、4ははんだボールのピックアップヘッ
ド、5は複数の吸着孔が形成されているピックアップヘ
ッドの下面、6はピックアップヘッド4のキャビティ
部、7はピックアップヘッド4のXYZθ方向の位置決
めとZ方向への加圧をするためのXYZθテーブル、8
はXYZθテーブル7が移動するベース、9はベース8
をZ方向に大きく移動させるZ方向駆動装置、10はピ
ックアップヘッド4のキャビティ部6を減圧する真空ポ
ンプ、11はライン状の光源、12ははんだボールを搭
載する基板、13は上部に基板の搭載台18を有するX
YZθテーブル、14はキャビティ部6を減圧するため
真空ポンプ10に接続する配管、27はエアシリンダか
らなる加圧装置、28は加圧力を微調整するためにカウ
ンタバランス機能を持たせたバネである。基板とピック
アップヘッドの位置決めにそれぞれXYZθテーブルを
用いたが、θテーブルは一方にあれば実用上困ることは
ないので、いずれか一方に設けるだけでも良い。ピック
アップヘッドの移動機構はXYZθテーブル7、ベース
8とZ方向駆動装置9からなりる。ピックアップヘッド
をXYZθテーブル7で位置決めしZ方向駆動装置9で
所定位置まで降下させた後、加圧装置27で突起17を
基板12に押圧して基板12を搭載台18に押圧し平坦
にする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described based on embodiments with reference to the drawings. FIG. 1 is a front view of the ball mounting device used in the embodiment. 1 is a solder ball supply unit, 2 is a solder ball, 3 is a vibrator for giving a vibration to the solder ball, 4 is a pickup head of the solder ball, 5 is a lower surface of a pickup head having a plurality of suction holes, and 6 is a pickup head. 4 is a cavity portion, 7 is an XYZθ table for positioning the pickup head 4 in the XYZθ direction and pressurizing in the Z direction, 8
Is a base on which the XYZθ table 7 moves, 9 is a base 8
A Z-direction drive device for largely moving the head in the Z-direction, 10 a vacuum pump for reducing the pressure in the cavity 6 of the pickup head 4, 11 a linear light source, 12 a substrate on which solder balls are mounted, and 13 a substrate mounted on top. X with table 18
Table 14 is a YZθ table, 14 is a pipe connected to the vacuum pump 10 to depressurize the cavity 6, 27 is a pressurizing device composed of an air cylinder, 28 is a spring having a counterbalance function for finely adjusting the pressing force. . Although the XYZ θ tables are used for positioning the substrate and the pickup head, if there is only one θ table, there is no practical problem. The pickup head moving mechanism includes an XYZθ table 7, a base 8, and a Z-direction driving device 9. After the pickup head is positioned by the XYZθ table 7 and lowered to a predetermined position by the Z-direction driving device 9, the projection 17 is pressed against the substrate 12 by the pressing device 27, and the substrate 12 is pressed against the mounting table 18 to be flat.

【0012】図2は本発明になるピックアップヘッドの
1例である。2ははんだボール、15はんだボールを吸
着するための吸着孔、16は光源11からの光を検出す
る光センサ、17は基板12を平坦にするための突起で
ある。突起17はピックアップヘッドの下面5に配設さ
れ、図2には5個の突起を例示してある。突起の必要個
数は基板の反りの状況、基板の剛性及び基板の大きさに
より決める。突起の配設個数は基板の中央付近に1個設
ける場合が最小個数で、中央付近と周辺付近に3〜9個
配置するが、反りが複雑な場合、基板の面積が大きい場
合及び突起の押圧面積が小さい場合等はさらに個数を増
やす。半導体ウエハの反りを矯正する場合、半導体ウエ
ハはスクライブラインの巾が50ミクロン前後で、スク
ライブラインを押圧するには突起17の径は30ミクロ
ン前後と針のようになるので、突起の個数を多くする
か、バンプが形成されていない半導体回路部等を押圧す
る。半導体回路部を押圧する場合は保護膜や回路を破壊
しないように突起17の材質を弾性体にするか又は突起
の先端にゴムなどの弾性体を配設する。突起の高さは突
起を立てた後に平面研削加工により精密に調整する。下
面5からのはんだボール15の高さ(Tb)は、吸着孔
15に面取りがなされているので、はんだボールの径よ
り小さくなる。下面5からの突起17の高さをTpとす
ると、TpはTbより大きく、具体的には2〜30%大き
く、5〜15%大きくすることがより好ましい。はんだ
ボールの搭載前に基板に印刷されるフラックスの厚みあ
るいははんだボールに塗布されるフラックスの厚みは1
0〜200ミクロンである。はんだボールを基板へ搭載
する場合、フラックスの粘着性を利用するので、はんだ
ボールをフラックスの中に適量押し込む必要がある。押
圧力により吸着孔に食い付かず且つはんだボールがフラ
ックスの粘着力を十分に受けるように、はんだボールの
フラックスへの押し込み量、押し込み速度、ピックアッ
プヘッドと基板との離間速度、ピックアップヘッドへに
加える振動の振幅の大きさと回数及び振動を加える時期
等の搭載条件を適切に定めることが大切である。
FIG. 2 shows an example of a pickup head according to the present invention. Reference numeral 2 denotes a solder ball, 15 suction holes for sucking solder balls, 16 an optical sensor for detecting light from the light source 11, and 17 a projection for flattening the substrate 12. The protrusions 17 are provided on the lower surface 5 of the pickup head, and FIG. 2 illustrates five protrusions. The required number of projections is determined according to the warpage of the substrate, the rigidity of the substrate, and the size of the substrate. The number of protrusions is the minimum number when one is provided near the center of the substrate, and 3 to 9 are provided near the center and the periphery. When the area is small, the number is further increased. When correcting the warpage of the semiconductor wafer, the semiconductor wafer has a scribe line width of about 50 μm, and the diameter of the projection 17 is about 30 μm to press the scribe line. Alternatively, a semiconductor circuit portion on which no bump is formed is pressed. When the semiconductor circuit portion is pressed, the material of the protrusion 17 is made of an elastic material or an elastic material such as rubber is provided at the tip of the protrusion so as not to break the protective film or the circuit. The height of the projections is precisely adjusted by surface grinding after the projections are set. The height (Tb) of the solder ball 15 from the lower surface 5 is smaller than the diameter of the solder ball because the suction hole 15 is chamfered. Assuming that the height of the projection 17 from the lower surface 5 is Tp, Tp is larger than Tb, specifically, 2 to 30% larger, and more preferably 5 to 15% larger. The thickness of the flux printed on the substrate before the solder balls are mounted or the thickness of the flux applied to the solder balls is 1
0-200 microns. When a solder ball is mounted on a substrate, the adhesiveness of the flux is used, so it is necessary to push the solder ball into the flux in an appropriate amount. The amount of the solder ball pushed into the flux, the pushing speed, the separation speed between the pickup head and the substrate, and the addition to the pickup head so that the solder ball does not bite into the suction hole due to the pressing force and sufficiently receive the adhesive force of the flux. It is important to appropriately determine the mounting conditions such as the magnitude and number of vibration amplitudes and the timing of vibration application.

【0013】第3図は本発明に用いられた搭載台の部分
断面図で、18はXYZθテーブル13の上部に配設さ
れ基板を搭載する搭載台、19は基板を真空吸着する真
空吸着パット、20は真空吸着パット19の逃げのため
の凹部、21は真空吸着のための給排気路である。給排
気路21は真空ポンプ10と連結されている。真空吸着
パット19はシリコンゴム製である。真空吸着パットの
配設個数は搭載台の中央部に1個が最小であるが、複数
の真空吸着パットを配設することが好ましい。比較的平
坦で反り量が小さい場合、押圧しなくとも、基板が搭載
台に移送されると真空吸着パットにより基板が吸引され
搭載台の上面に密着する。しかし、基板の反り量あるい
は剛性が大きい場合、基板が搭載台に置かれて真空吸引
されても搭載台の上面に密着しない。この場合基板を搭
載台上に置いた後に基板を搭載台に押圧しなければなら
ない。なお、押圧方法はヘッドの下面に配設された突
起、ヘッドの下面、他の押圧治具等で押圧しても良く押
圧方法は特段限定されない。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view of the mounting table used in the present invention. Reference numeral 18 denotes a mounting table provided on the XYZθ table 13 for mounting a substrate, 19 denotes a vacuum suction pad for vacuum-sucking the substrate, Reference numeral 20 denotes a recess for the vacuum suction pad 19 to escape, and reference numeral 21 denotes a supply / exhaust passage for vacuum suction. The supply / exhaust passage 21 is connected to the vacuum pump 10. The vacuum suction pad 19 is made of silicone rubber. Although the number of vacuum suction pads provided is preferably one at the center of the mounting table, it is preferable to provide a plurality of vacuum suction pads. In the case where the substrate is relatively flat and has a small amount of warpage, the substrate is sucked by the vacuum suction pad and is brought into close contact with the upper surface of the mounting table without being pressed when the substrate is transferred to the mounting table. However, if the amount of warpage or rigidity of the substrate is large, the substrate does not adhere to the upper surface of the mounting table even if the substrate is placed on the mounting table and vacuum-sucked. In this case, after the substrate is placed on the mounting table, the substrate must be pressed against the mounting table. Note that the pressing method may be pressing with a projection disposed on the lower surface of the head, the lower surface of the head, another pressing jig, or the like, and the pressing method is not particularly limited.

【0014】第4図は本発明になる第1のはんだボール
搭載方法のフローチャートである。特殊な場合を除き、
はんだ付けにははんだとフラックスが必要であり、フラ
ックスとはんだが一体になっていない限り、いずれかの
工程でフラックスを基板に塗布する。フラックスの塗布
方法にはスクリーン印刷で基板の必要部にマスクを用い
てフラックスをスクリーン印刷する方法とピックアップ
ヘッドに吸着されたはんだボールの下部をフラックスに
浸漬してフラックスを塗布する方法とがある。第4図は
前者であり、第5図は後者である。フラックスをスクリ
ーン印刷する前者のボール搭載方法では、基板にフラッ
クスを印刷する工程、基板を搭載台に移送する工程、基
板を搭載台に真空吸着パットで固定する工程、はんだボ
ールをピックアップヘッドに吸着する工程、ピックアッ
プヘッドを基板の上に移動する工程、ピックアップヘッ
ドを降下させる工程、ピックアップヘッドの下面に設け
られた突起を基板に押圧し基板を平坦にする工程、ピッ
クアップヘッドに吸着されたはんだボールを基板に搭載
する工程、ピックアップヘッドを上昇させボール供給部
上に移動させる工程及び基板をアンロードしてリフロー
工程等の次工程に移送する工程からなる。フラックスの
印刷工程とはんだボールをピックアップヘッドに吸着さ
せる工程とを並行して実施することはタクトの短縮に有
効である。はんだボールをピックアップヘッドへ吸着さ
せる工程と基板に搭載する工程での欠陥検査には画像処
理と光検出処理の2つの方法がある。画像処理による欠
陥検査はCCDで読み込んだ基板の画像情報を設定され
ている基準データと比較し欠陥の有無を検査する方法で
ある。光検出処理による欠陥検査はボールによる遮光の
有無により搭載欠陥の有無を判別する方法である。はん
だボール搭載に欠陥があることが判明した場合、仕掛か
り中の部品は不良品とし、工程を初期に戻し再スタート
させる。はんだボールを基板に搭載する工程は、はんだ
ボールがピックアップヘッドに真空吸着されているので
まず真空をブレイクした後ピックアップヘッドをゆっく
り上昇させながら必要に応じてピックアップヘッドに振
動を加えて、はんだボールをピックアップヘッドから基
板に離脱させる。このように、ピックアップヘッドを基
板から離間させながら、はんだボールをピックアップヘ
ッドから基板に搭載するので、はんだボールをピックア
ップヘッドから基板に搭載する工程とピックアップヘッ
ドを基板から離間させる工程とが一部重なり合う。
FIG. 4 is a flowchart of a first solder ball mounting method according to the present invention. Except in special cases,
Soldering requires solder and flux, and the flux is applied to the substrate in any process unless the flux and solder are integrated. The method of applying the flux includes a method of screen-printing the flux on a required portion of the substrate by screen printing using a mask, and a method of applying a flux by dipping the lower part of the solder ball adsorbed on the pickup head into the flux. FIG. 4 shows the former, and FIG. 5 shows the latter. In the former ball mounting method of screen printing a flux, a step of printing a flux on a substrate, a step of transferring the substrate to a mounting table, a step of fixing the substrate to the mounting table with a vacuum suction pad, and suctioning a solder ball to a pickup head Moving the pickup head over the substrate, lowering the pickup head, pressing a projection provided on the lower surface of the pickup head against the substrate to flatten the substrate, and removing the solder balls adsorbed by the pickup head. The method includes a step of mounting on a substrate, a step of raising a pickup head and moving it onto a ball supply unit, and a step of unloading and transferring the substrate to a next step such as a reflow step. Performing the flux printing step and the step of attracting the solder balls to the pickup head in parallel is effective for shortening the tact time. There are two methods for defect inspection in the process of adsorbing the solder ball to the pickup head and the process of mounting the solder ball on the substrate, image processing and light detection processing. Defect inspection by image processing is a method of comparing image information of a substrate read by a CCD with set reference data and inspecting for the presence or absence of a defect. Defect inspection by light detection processing is a method of determining the presence or absence of a mounting defect based on the presence or absence of light shielding by a ball. If it is found that there is a defect in the solder ball mounting, the part in process is regarded as defective, and the process is returned to the initial stage and restarted. In the process of mounting the solder ball on the board, the solder ball is vacuum-adsorbed to the pickup head, so first break the vacuum, then slowly raise the pickup head and apply vibration to the pickup head as necessary, The substrate is separated from the pickup head. As described above, since the solder ball is mounted on the substrate from the pickup head while the pickup head is separated from the substrate, the step of mounting the solder ball on the substrate from the pickup head and the step of separating the pickup head from the substrate partially overlap. .

【0015】第5図は本発明になる第2のはんだボール
搭載方法のフローチャートで、ピックアップヘッドに吸
着されたはんだボールの下部をフラックスに漬けてフラ
ックスを塗布する場合である。この方法は、基板を搭載
台に移送する工程、基板を押圧し平坦にし且つ基板を搭
載台に固定する工程、ピックアップヘッドをボール供給
部上に移動させる工程、はんだボールをピックアップヘ
ッドに吸着する工程、はんだボールの下部をフラックス
に浸漬しフラックスをはんだボールに塗布する工程、ピ
ックアップヘッドを基板上に移動する工程、ピックアッ
プヘッドに吸着されたはんだボールを基板に搭載する工
程、ピックアップヘッドを上昇させる工程及び基板をア
ンロードしてはんだリフロー工程等の次工程に移送する
工程からなる。この方法では、突起17があると、はん
だボールにフラックスを塗布する工程でフラックスが突
起17にも同時に塗布されるので、下面に突起17が配
設されないピックアップヘッドを用いる方が好ましい。
突起17に塗布されたフラックスはボールを基板に搭載
した後まで残るので、次にボールをピックアップする時
に、残っているフラックスにボールがダンゴ状に付着し
実害を及ぼす。また、基板を搭載台に押圧するのにピッ
クアップヘッド以外の他の治具を用いても良い。
FIG. 5 is a flowchart of a second solder ball mounting method according to the present invention, in which a lower portion of a solder ball adsorbed by a pickup head is immersed in a flux to apply a flux. The method includes a step of transferring a substrate to a mounting table, a step of pressing and flattening the substrate and fixing the substrate to the mounting table, a step of moving a pickup head onto a ball supply unit, and a step of attracting a solder ball to the pickup head. Immersing the lower part of the solder ball in the flux and applying the flux to the solder ball, moving the pickup head onto the substrate, mounting the solder ball adsorbed by the pickup head on the substrate, raising the pickup head And a step of unloading the substrate and transferring it to the next step such as a solder reflow step. In this method, when the projections 17 are provided, the flux is simultaneously applied to the projections 17 in the step of applying the flux to the solder balls. Therefore, it is preferable to use a pickup head in which the projections 17 are not provided on the lower surface.
Since the flux applied to the projections 17 remains until after the ball is mounted on the substrate, the next time the ball is picked up, the ball adheres to the remaining flux in a dango-like manner, causing actual harm. Further, a jig other than the pickup head may be used to press the substrate against the mounting table.

【0016】翻って、フラックス印刷工程で用いた基板
の搭載台を引き続きボール搭載工程に用いる場合、ボー
ル搭載工程で基板を再度平坦にする必要はない。従っ
て、このボール搭載方法は、基板を押圧し平坦にし搭載
台に固定する工程、ピックアップヘッドにはんだボール
を吸着する工程、ピックアップヘッドを基板上に移動す
る工程、ピックアップヘッドに吸着されたはんだボール
を基板に搭載する工程、ピックアップヘッドを基板から
離間させる工程及び基板をアンロードしてはんだリフロ
ー工程等の次工程に移送する工程からなる。ピックアッ
プヘッドに吸着されたはんだボールを基板に搭載する操
作は、真空のブレイク、ピックアップヘッドの上昇及び
ヘッドの振動の操作からなる。
On the other hand, when the mounting table of the substrate used in the flux printing step is continuously used in the ball mounting step, it is not necessary to flatten the substrate again in the ball mounting step. Therefore, this ball mounting method includes a step of pressing the substrate to flatten and fix it to the mounting table, a step of adsorbing the solder ball to the pickup head, a step of moving the pickup head onto the substrate, and a step of moving the solder ball adsorbed to the pickup head. The method includes a step of mounting on a substrate, a step of separating a pickup head from the substrate, and a step of unloading the substrate and transferring the substrate to a next step such as a solder reflow step. The operation of mounting the solder balls adsorbed on the pickup head on the substrate includes operations of vacuum break, lifting of the pickup head, and vibration of the head.

【0017】本発明において、実質的に平坦にすること
とは、はんだボールを搭載するのに不都合が生じない平
坦度に基板を矯正することである。ボール搭載に不都合
が生じる確率の小さい範囲の反り量は、はんだボールの
径によって異なるが、ボール径の大略10%以下あるい
は印刷されたフラックスの厚みの1/2以下である。は
んだボールの径が760ミクロンでフラックスの厚みは
120ミクロンの場合、基板の反り量の許容限界は大略
60ミクロンである。はんだボール径が小さくなる程基
板に許容される反りの量は小さくなる。具体的には、基
板の反り量は5ミクロン〜76ミクロンが好ましく、そ
して30ミクロン以下がより好ましい。理論的に云え
ば、基板の反り量はゼロが最善で、次善の反り量は、ボ
ールがフラックス中に不均一な深さに浸漬されるが基板
に接触し押圧されない範囲である。最悪な反りはボール
が基板を直接押圧する場合である。なお、フラックスは
ボールに適量塗布され、適量限界を超えてはならないこ
とは云うまでもないことである。
In the present invention, the term “substantially flat” means to correct a substrate to a flatness that does not cause inconvenience in mounting a solder ball. The amount of warpage in the range where the probability of inconvenience in mounting the ball is small depends on the diameter of the solder ball, but is approximately 10% or less of the ball diameter or 1 / or less of the thickness of the printed flux. When the diameter of the solder ball is 760 microns and the thickness of the flux is 120 microns, the allowable limit of the amount of warpage of the substrate is approximately 60 microns. The smaller the solder ball diameter, the smaller the amount of warpage allowed for the substrate. Specifically, the amount of warpage of the substrate is preferably 5 microns to 76 microns, and more preferably 30 microns or less. Theoretically, the best warpage of the substrate is zero, and the next best warpage is the range in which the ball is immersed in the flux at a non-uniform depth but does not touch and press the substrate. The worst warpage is when the ball directly presses the substrate. It goes without saying that an appropriate amount of flux is applied to the ball and must not exceed the appropriate amount limit.

【0018】本発明における適正な押圧力は基板を実質
的に平坦にできる力であり、例示するとテープ基板の場
合0.3〜2.5Kgで、ガラスエポキシ基板と半導体
ウエハの場合0.5〜10Kgである。この時にボール
に作用する力は主にフラックスの粘弾性力であり、その
粘弾性力はフラックスの組成、操作温度、荷重速度等に
より制御できるので、ボールに印加される力を任意に容
易に制御できる。また、基板の剛性は板厚の3乗に比例
するので多層樹脂回路基板や半導体ウエハは厚さによっ
ては更に大きい加圧力を加えないと反った基板が平坦に
ならない場合も生じるが、ボールに印加される力はこの
場合においてもフラックスの粘弾性力だけである。
The proper pressing force in the present invention is a force capable of substantially flattening the substrate, and is, for example, 0.3 to 2.5 kg for a tape substrate, and 0.5 to 2.5 kg for a glass epoxy substrate and a semiconductor wafer. 10 kg. At this time, the force acting on the ball is mainly the viscoelastic force of the flux, and the viscoelastic force can be controlled by the composition of the flux, the operating temperature, the load speed, etc., so the force applied to the ball can be easily controlled arbitrarily. it can. Also, since the rigidity of the substrate is proportional to the cube of the plate thickness, depending on the thickness of the multilayer resin circuit substrate or semiconductor wafer, the warped substrate may not be flat unless a greater pressing force is applied. In this case, the only applied force is the viscoelasticity of the flux.

【0019】図1ではボール供給部1にボールが多層に
積み込まれた状態を示した。しかし、ボールが多過ぎて
互いに干渉し過ぎないように、ボール供給部に挿入され
るボール量を、ボールが積層されず、1層で且つ互いに
離間できるボール数に管理することが好ましい。また、
ボールはバイブレータ3で振動が与えられる以外に下か
ら乾燥空気又は窒素ガス等を噴出しボールを浮かせる方
法でも良い。更に、ボール表面の酸化を防止するため、
還元ガスを供給すること、ボール供給部あるいはピック
アップヘッドに設けられた電極を通してボールに5ボル
ト以下の電圧を印加することも良い。印加される電圧は
直流に交流を重畳すること、更に直流を所定の周期で反
転することも良い。
FIG. 1 shows a state in which balls are stacked in the ball supply section 1 in multiple layers. However, it is preferable to control the amount of balls inserted into the ball supply unit to be the number of balls that can be separated from each other in one layer without the balls being stacked, so that the balls are not so many that they interfere with each other. Also,
The ball may be vibrated by the vibrator 3 or by blowing dry air or nitrogen gas from below to float the ball. Furthermore, to prevent oxidation of the ball surface,
It is also possible to supply a reducing gas or to apply a voltage of 5 volts or less to the ball through an electrode provided on the ball supply unit or the pickup head. The applied voltage may be obtained by superimposing an alternating current on a direct current, and further inverting the direct current at a predetermined cycle.

【0020】本発明におけるボールははんだボールの他
に金属ボール、セラミックボール、プラスチックボー
ル、金属被服をしたセラミックボール、金属被服をした
プラスチックボール等を指す。はんだボールは鉛-錫共
晶はんだ、高温はんだ、低温はんだ、鉛フリーはんだの
他に金はんだ等である。ボールの径は100〜760ミ
クロンで、200〜500ミクロンが多用される。ボー
ルの形状は球体以外に多角形体及び非球面曲面体でも良
い。
The ball in the present invention refers to a metal ball, a ceramic ball, a plastic ball, a ceramic ball coated with a metal, a plastic ball coated with a metal, and the like, in addition to the solder ball. Solder balls include lead-tin eutectic solder, high-temperature solder, low-temperature solder, lead-free solder, and gold solder. The diameter of the ball is 100 to 760 microns, and 200 to 500 microns is frequently used. The shape of the ball may be a polygon or an aspherical curved surface in addition to a sphere.

【0021】本発明における突起の高さは、はんだボー
ルより高いことが必須条件であるが、ボールを基板に直
接押圧しないで且つボールにフラックスを必要且つ十分
塗布することのできる条件を満たすことが大切で、はん
だボールの高さより2〜30%高いことが好ましく、5
〜15%高いことがより好ましい。
In the present invention, it is essential that the height of the projection is higher than that of the solder ball. However, the height of the projection must satisfy the condition that the ball is not directly pressed onto the substrate and that the flux can be applied sufficiently and sufficiently to the ball. It is important that the height should be 2 to 30% higher than the height of the solder ball.
More preferably, it is higher by ~ 15%.

【0022】本発明におけるフラックスの組成は、スキ
ージ印刷するためにチキソ剤を添加して印刷されたフラ
ックスの形状が常温で崩れないことが必要で、他方、は
んだ粉末とフラックスの混合物即ちクリームはんだでも
良い。クリームはんだの場合、はんだボールが金属ボー
ル等はんだボールでなくても良い。
In the present invention, the composition of the flux requires that the shape of the flux printed by adding a thixotropic agent for squeegee printing does not collapse at room temperature. On the other hand, a mixture of solder powder and flux, that is, a cream solder, good. In the case of cream solder, the solder ball may not be a solder ball such as a metal ball.

【0023】[0023]

【発明の効果】本発明に係るボール搭載装置と搭載方法
によれば、反りのある基板であっても基板が平坦にされ
た状態でボール搭載を行うので、ボールがピックアップ
ヘッドの吸着孔に食い付き搭載エラーとなること及びボ
ール搭載位置ズレが生じることはない。更に、ピックア
ップヘッドに吸着されたボールを基板に搭載する時にボ
ールとフラックスとの関係が均一であるから、フラック
スの均一な塗布、高い歩留まり及び高精度なボール搭載
を容易に行うことができる。このようなことから、本発
明になるボール搭載装置と搭載方法により大型ウエハ及
び大型回路基板へのボール搭載が工業的に初めて可能に
なり半導体実装技術の進歩に対する貢献度は極めて大き
いものである。
According to the ball mounting apparatus and the mounting method of the present invention, even if the substrate is warped, the ball is mounted in a state where the substrate is flat, so that the ball digs into the suction hole of the pickup head. There will be no mounting error and no ball mounting position shift. Furthermore, since the relationship between the ball and the flux is uniform when the ball adsorbed by the pickup head is mounted on the substrate, uniform application of the flux, high yield and high precision ball mounting can be easily performed. For this reason, the ball mounting apparatus and mounting method according to the present invention enable the ball to be mounted on a large wafer or a large circuit board for the first time industrially, and the contribution to the progress of the semiconductor mounting technology is extremely large.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】はんだボール搭載装置の正面図[Figure 1] Front view of solder ball mounting device

【図2】本発明のピックアップヘッドの断面図FIG. 2 is a cross-sectional view of the pickup head of the present invention.

【図3】搭載台の部分断面図FIG. 3 is a partial sectional view of a mounting table.

【図4】本発明になる第1のはんだボール搭載方法のフ
ローチャート
FIG. 4 is a flowchart of a first solder ball mounting method according to the present invention.

【図5】本発明になる第2のはんだボール搭載方法のフ
ローチャート
FIG. 5 is a flowchart of a second solder ball mounting method according to the present invention.

【図6】実装中のテープ基板の図で(a)は平面図、
(b)は正面図、(c)は下面図
6A is a plan view of the tape substrate during mounting, and FIG.
(B) is a front view and (c) is a bottom view.

【図7】実装中のテープ基板の反り量の測定結果FIG. 7 is a measurement result of a warpage amount of a tape substrate during mounting.

【図8】従来例のボール搭載装置の一部FIG. 8 is a part of a conventional ball mounting device.

【符号の説明】 1 ボール供給部 2 ボール 3 バイブレータ 4 ピックアップヘッド 5 ピックアップヘッドの下面 6 キャビティ 7 XYZθテーブル 8 ベース 9 Z方向駆動装置 10 真空ポンプ 11 光源 12 基板 13 XYZθテーブル 14 配管 15 はんだボール 16 吸着孔 17 突起 18 搭載台 19 真空吸着パット 20 真空吸着パット用凹部 21 給排気路 22 テープ基板 23 IC(半導体チップ) 24 封止樹脂 25 加圧ゴム 26 剣山ピン 27 バネ 28 加圧装置 29 ボール搭載部[Description of Signs] 1 Ball supply unit 2 Ball 3 Vibrator 4 Pickup head 5 Lower surface of pickup head 6 Cavity 7 XYZθ table 8 Base 9 Z direction driving device 10 Vacuum pump 11 Light source 12 Substrate 13 XYZθ table 14 Piping 15 Solder ball 16 Suction Hole 17 Projection 18 Mounting base 19 Vacuum suction pad 20 Vacuum suction pad recess 21 Supply / exhaust passage 22 Tape substrate 23 IC (semiconductor chip) 24 Sealing resin 25 Pressurized rubber 26 Sword pin 27 Spring 28 Pressure device 29 Ball mounting portion

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ボールの供給部、基板を搭載し位置決めす
るテーブル、複数の吸着孔を下面に有するピックアップ
ヘッド及び前記ピックアップヘッドを移動させる移動機
構からなるボール搭載装置において、前記ボールの高さ
より高い突起を前記ピックアップヘッドの前記下面に配
設したことを特徴とするボール搭載装置。
1. A ball mounting apparatus comprising a ball supply unit, a table for mounting and positioning a substrate, a pickup head having a plurality of suction holes on a lower surface, and a moving mechanism for moving the pickup head. A ball mounting device, wherein a projection is provided on the lower surface of the pickup head.
【請求項2】ピックアップヘッドの下面に設けられた複
数の吸着孔にボールを吸着した後前記ボールを基板に搭
載するボール搭載方法において、前記基板にフラックス
を印刷する工程、前記基板を搭載台に移送する工程、前
記ピックアップヘッドの前記下面に前記ボールを吸着す
る工程、前記ピックアップヘッドを前記基板の上に移動
する工程、前記下面に設けられた突起を前記基板に押圧
し前記基板を実質的に平坦にする工程、前記ボールを前
記吸着孔から前記基板に搭載する工程と前記ピックアッ
プヘッドを前記基板から離間させる工程からなることを
特徴とするボール搭載方法。
2. A ball mounting method for mounting a ball on a substrate after adsorbing the ball to a plurality of suction holes provided on a lower surface of a pickup head, wherein a flux is printed on the substrate, and the substrate is mounted on a mounting table. Transferring, picking up the ball on the lower surface of the pickup head, moving the pickup head over the substrate, pressing a projection provided on the lower surface against the substrate to substantially press the substrate. A ball mounting method, comprising: flattening, mounting the ball on the substrate from the suction hole, and separating the pickup head from the substrate.
【請求項3】ピックアップヘッドの下面に設けられた複
数の吸着孔にボールを吸着した後前記ボールを基板に搭
載するボール搭載方法において、前記基板を実質的に平
坦にする工程、前記ピックアップヘッドの前記下面に前
記ボールを吸着する工程、前記ボールの下部にフラック
スを塗布する工程、前記ピックアップヘッドを前記基板
の上に移動する工程、前記ボールを前記吸着孔から前記
基板に搭載する工程と前記ピックアップヘッドを前記基
板から離間させる工程からなることを特徴とするボール
搭載方法。
3. A method of mounting a ball on a substrate after the ball is sucked into a plurality of suction holes provided on a lower surface of the pickup head, wherein the substrate is substantially flattened. A step of adsorbing the ball on the lower surface, a step of applying a flux to a lower portion of the ball, a step of moving the pickup head over the substrate, a step of mounting the ball on the substrate from the suction hole, and a step of picking up A method for mounting a ball, comprising a step of separating a head from the substrate.
【請求項4】ピックアップヘッドの下面に設けられた複
数の吸着孔にボールを吸着した後前記ボールを基板に搭
載するボール搭載方法において、前記基板を実質的に平
坦にする工程、前記ピックアップヘッドの前記下面に前
記ボールを吸着する工程、前記ボールを前記吸着孔から
前記基板に搭載する工程と前記ピックアップヘッドを前
記基板から離間させる工程からなることを特徴とするボ
ール搭載方法。
4. A ball mounting method for mounting a ball on a substrate after the ball is sucked into a plurality of suction holes provided on the lower surface of the pickup head, wherein the substrate is substantially flattened. A ball mounting method comprising: a step of adsorbing the ball on the lower surface; a step of mounting the ball on the substrate from the suction hole; and a step of separating the pickup head from the substrate.
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