JP2001120539A - マルチスライス検出器を持つｘ線診断装置 - Google Patents
マルチスライス検出器を持つｘ線診断装置Info
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 ノイズが少なくかつ分解能の高い高画質な透
視画像を有するＸ線診断装置。 【解決手段】 スライス方向にあるＸ線遮蔽コリメータ
２により特定の幅に制限された扇状のＸ線ビームを照射
しながら、被写体４又はＸ線源１とマルチスライス検出
器の一体構造のどちらか一方をスライス方向に移動させ
る。被写体スライス方向の特定範囲のＸ線計測されたデ
ータを画像再構成してＸ線透過画像を表示する。各スラ
イス対応検出素子列毎の計測データを個々に保管記録す
る。その計測データをマルチスライス検出器のスライス
列間距離に応じて一つ又は複数の特定計測列のデータ中
心位置を基準にし、各計測データ群毎に計測ビュー数を
シフトして計測位置補正を行う。位置補正後の計測デー
タ群を重み付け加算して一つ又は複数の画像表示用計測
データに統合し、Ｘ線透視用画像再構成処理を行い透視
画像を得、これを表示する。
視画像を有するＸ線診断装置。 【解決手段】 スライス方向にあるＸ線遮蔽コリメータ
２により特定の幅に制限された扇状のＸ線ビームを照射
しながら、被写体４又はＸ線源１とマルチスライス検出
器の一体構造のどちらか一方をスライス方向に移動させ
る。被写体スライス方向の特定範囲のＸ線計測されたデ
ータを画像再構成してＸ線透過画像を表示する。各スラ
イス対応検出素子列毎の計測データを個々に保管記録す
る。その計測データをマルチスライス検出器のスライス
列間距離に応じて一つ又は複数の特定計測列のデータ中
心位置を基準にし、各計測データ群毎に計測ビュー数を
シフトして計測位置補正を行う。位置補正後の計測デー
タ群を重み付け加算して一つ又は複数の画像表示用計測
データに統合し、Ｘ線透視用画像再構成処理を行い透視
画像を得、これを表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は透視画像計測を行う
Ｘ線診断装置、特にマルチスライス検出器を持つＸ線診
断装置に関する。
Ｘ線診断装置、特にマルチスライス検出器を持つＸ線診
断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ラインセンサー型のＸ線透視診断装置
（Ｘ線ＣＴ装置を含む）の従来例について図５で説明す
る。図５（ａ）はスライス方向の断面図を示し、被写体
４を中心にＸ線源と対向した位置に検出素子６３が配置
されＸ線遮蔽材からなるコリメータ２により狭スライス
Ｘ線ビーム３を照射して、被写体４が寝ている寝台５又
はＸ線源、コリメータ２，検出素子群６３の一体構造の
どちらか一方がスライス方向に連続移動して計測がなさ
れている。例としてＬ１位置からＬ２位置までの透視計
測を行い各種画像処理がなされ図５（ｂ）に示すような
画像表示器７に透視画像が表示される。
（Ｘ線ＣＴ装置を含む）の従来例について図５で説明す
る。図５（ａ）はスライス方向の断面図を示し、被写体
４を中心にＸ線源と対向した位置に検出素子６３が配置
されＸ線遮蔽材からなるコリメータ２により狭スライス
Ｘ線ビーム３を照射して、被写体４が寝ている寝台５又
はＸ線源、コリメータ２，検出素子群６３の一体構造の
どちらか一方がスライス方向に連続移動して計測がなさ
れている。例としてＬ１位置からＬ２位置までの透視計
測を行い各種画像処理がなされ図５（ｂ）に示すような
画像表示器７に透視画像が表示される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしＸ線ビーム幅を
狭くして計測する方法のため、Ｘ線のカンタムノイズの
影響が大きくＸ線の出力変動や、被写体の透過パス長が
大きい（減弱量が大きい）等の理由で、画像に線状のノ
イズ７Ａや被写体内部がよく見えない（状態７Ｂ）等の
画質上の問題があった。このノイズ低減対策方法として
は、個々の計測データの重み付け補正や、図６（ａ）に
示すようにＸ線ビーム３の幅Ｗを広くして透視計測を行
う等の手法がなされていたが、幅が広くなるために図６
（ｂ）からわかるように最終画像７Ｃの分解能が劣化し
てしまうといった問題があった。本発明は、ノイズが少
なく且つ分解能の高い高画質な透視画像を得ることを可
能にするＸ線診断装置を提供することにある。
狭くして計測する方法のため、Ｘ線のカンタムノイズの
影響が大きくＸ線の出力変動や、被写体の透過パス長が
大きい（減弱量が大きい）等の理由で、画像に線状のノ
イズ７Ａや被写体内部がよく見えない（状態７Ｂ）等の
画質上の問題があった。このノイズ低減対策方法として
は、個々の計測データの重み付け補正や、図６（ａ）に
示すようにＸ線ビーム３の幅Ｗを広くして透視計測を行
う等の手法がなされていたが、幅が広くなるために図６
（ｂ）からわかるように最終画像７Ｃの分解能が劣化し
てしまうといった問題があった。本発明は、ノイズが少
なく且つ分解能の高い高画質な透視画像を得ることを可
能にするＸ線診断装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、扇状で所定の
スライス幅を持つファンビームＸ線を放出するＸ線放出
手段と、これに被写体を挟んで対向して配置され、チャ
ンネル方向とスライス方向に複数の検出素子を有したマ
ルチスライス検出器と、被写体又はＸ線源とマルチスラ
イス検出器の一体構造のどちらか一方をスライス方向に
移動させて、被写体スライス方向のＸ線計測されたデー
タを画像再構成してＸ線透過画像を表示するＸ線診断装
置において、各スライス対応検出素子列毎の計測データ
を個々に保管記録する手段と、個々に保管記録された計
測データをマルチスライス検出器のスライス列間距離に
応じて一つの特定計測列のデータ中心位置を基準にし
て、各計測データ群毎に計測ビュー数をシフトして計測
位置補正を行う手段と、これら位置補正後の計測データ
群を重み付け加算して一つの画像表示用計測データに統
合する手段と、画像表示用計測データからＸ線透視用画
像再構成処理を行い透視画像を得る手段と、この透視画
像を表示する手段と、を有したマルチスライス検出器を
持つＸ線診断装置を開示する。
スライス幅を持つファンビームＸ線を放出するＸ線放出
手段と、これに被写体を挟んで対向して配置され、チャ
ンネル方向とスライス方向に複数の検出素子を有したマ
ルチスライス検出器と、被写体又はＸ線源とマルチスラ
イス検出器の一体構造のどちらか一方をスライス方向に
移動させて、被写体スライス方向のＸ線計測されたデー
タを画像再構成してＸ線透過画像を表示するＸ線診断装
置において、各スライス対応検出素子列毎の計測データ
を個々に保管記録する手段と、個々に保管記録された計
測データをマルチスライス検出器のスライス列間距離に
応じて一つの特定計測列のデータ中心位置を基準にし
て、各計測データ群毎に計測ビュー数をシフトして計測
位置補正を行う手段と、これら位置補正後の計測データ
群を重み付け加算して一つの画像表示用計測データに統
合する手段と、画像表示用計測データからＸ線透視用画
像再構成処理を行い透視画像を得る手段と、この透視画
像を表示する手段と、を有したマルチスライス検出器を
持つＸ線診断装置を開示する。
【０００５】更に本発明は、扇状で所定のスライス幅を
持つファンビームＸ線を放出するＸ線放出手段と、これ
に被写体を挟んで対向して配置され、チャンネル方向と
スライス方向に複数の検出素子を有したマルチスライス
検出器と、被写体又はＸ線源とマルチスライス検出器の
一体構造のどちらか一方をスライス方向に移動させて、
被写体スライス方向のＸ線計測されたデータを画像再構
成してＸ線透過画像を表示するＸ線診断装置において、
各スライス対応検出素子列毎の計測データを個々に保管
記録する手段と、個々に保管記録された計測データをマ
ルチスライス検出器のスライス列間距離に応じて一つの
前記特定計測列を中心とした近傍の複数計測列群の加算
され算出される中心位置を基準にして、各計測データ群
毎に計測ビュー数をシフトして計測位置補正を行う手段
と、これら位置補正後の計測データ群を重み付け加算し
て総計測列群より少ないデータ列群数に統合して画像表
示用計測データに統合する手段と、画像表示用計測デー
タからＸ線透視用画像再構成処理を行い透視画像を得る
手段と、この透視画像を表示する手段と、を有したマル
チスライス検出器を持つＸ線診断装置を開示する。
持つファンビームＸ線を放出するＸ線放出手段と、これ
に被写体を挟んで対向して配置され、チャンネル方向と
スライス方向に複数の検出素子を有したマルチスライス
検出器と、被写体又はＸ線源とマルチスライス検出器の
一体構造のどちらか一方をスライス方向に移動させて、
被写体スライス方向のＸ線計測されたデータを画像再構
成してＸ線透過画像を表示するＸ線診断装置において、
各スライス対応検出素子列毎の計測データを個々に保管
記録する手段と、個々に保管記録された計測データをマ
ルチスライス検出器のスライス列間距離に応じて一つの
前記特定計測列を中心とした近傍の複数計測列群の加算
され算出される中心位置を基準にして、各計測データ群
毎に計測ビュー数をシフトして計測位置補正を行う手段
と、これら位置補正後の計測データ群を重み付け加算し
て総計測列群より少ないデータ列群数に統合して画像表
示用計測データに統合する手段と、画像表示用計測デー
タからＸ線透視用画像再構成処理を行い透視画像を得る
手段と、この透視画像を表示する手段と、を有したマル
チスライス検出器を持つＸ線診断装置を開示する。
【０００６】
【発明の実施の形態】図１にＸ線ＣＴ装置におけるスキ
ャナー内部計測ユニット配置例を示す。図１（ａ）がチ
ャンネル方向でみた配置例、図１（ｂ）がスライス方向
でみた配置例を示す。Ｘ線管球１から発生したＸ線は図
示していないＸ線ビーム補償装置に内蔵されたＸ線補償
物を通過して、被写体計測時検出器入射Ｘ線量がほぼ一
定値になるＸ線ビーム強度分布に校正される。このＸ線
ビームは更に上記ビーム補償装置の下部に配置されたＸ
線を遮る金属体等から構成される。Ｘ線側コリメータ２
によるスライスにビーム幅が制限された扇状Ｘ線ビーム
３となって照射される。このＸ線ビーム３は寝台５上に
寝ている被写体４を通過し、Ｘ線管球１と対向した位置
関係にあるｃｈ方向（図１（ａ））とスライス方向図１
（ｂ）に複数の検出素子を有したマルチスライス用検出
器６に入射される。
ャナー内部計測ユニット配置例を示す。図１（ａ）がチ
ャンネル方向でみた配置例、図１（ｂ）がスライス方向
でみた配置例を示す。Ｘ線管球１から発生したＸ線は図
示していないＸ線ビーム補償装置に内蔵されたＸ線補償
物を通過して、被写体計測時検出器入射Ｘ線量がほぼ一
定値になるＸ線ビーム強度分布に校正される。このＸ線
ビームは更に上記ビーム補償装置の下部に配置されたＸ
線を遮る金属体等から構成される。Ｘ線側コリメータ２
によるスライスにビーム幅が制限された扇状Ｘ線ビーム
３となって照射される。このＸ線ビーム３は寝台５上に
寝ている被写体４を通過し、Ｘ線管球１と対向した位置
関係にあるｃｈ方向（図１（ａ））とスライス方向図１
（ｂ）に複数の検出素子を有したマルチスライス用検出
器６に入射される。
【０００７】この検出器６は特願平１０−７８５８３、
特願平１０−２７４２８５等に示される方法等で組み立
てられ、この検出器の一般的構造例としては、図１
（ａ）、（ｂ）に示すように、検出器ケースと、そのケ
ース内に設けられた検出ブロック６２と、その入射方向
前方に設置した散乱線除去のためのグリッド６１とを持
つ。更に、検出ブロック６２は、図２（ａ）又は（ｂ）
に示すようなＸ線を光に変更するシンチレータ６４と光
を電気信号に変換するフォトセンサー６５の組み合わせ
で構成された検出素子群６３が搭載されたマルチスライ
ス用検出ブロック６２であって、複数個配置されてい
る。図２（ａ）は４列（ＡＢＣＤ）９行区分例、図２
（ｂ）は５列（ＡＢＣＤＥ）９行区分例を示す。
特願平１０−２７４２８５等に示される方法等で組み立
てられ、この検出器の一般的構造例としては、図１
（ａ）、（ｂ）に示すように、検出器ケースと、そのケ
ース内に設けられた検出ブロック６２と、その入射方向
前方に設置した散乱線除去のためのグリッド６１とを持
つ。更に、検出ブロック６２は、図２（ａ）又は（ｂ）
に示すようなＸ線を光に変更するシンチレータ６４と光
を電気信号に変換するフォトセンサー６５の組み合わせ
で構成された検出素子群６３が搭載されたマルチスライ
ス用検出ブロック６２であって、複数個配置されてい
る。図２（ａ）は４列（ＡＢＣＤ）９行区分例、図２
（ｂ）は５列（ＡＢＣＤＥ）９行区分例を示す。
【０００８】装置の一部にはＸ線検出器６の全面に更に
入射Ｘ線ビーム幅を規制する検出器側コリメータが配置
されるものもある。検出器６に入射したＸ線は電流信号
に変換され、この電流信号は図示していない検出器増幅
回路によって電気信号に変換され、これら計測電気信号
は同じく図には示してない画像処理装置に送られ、よく
知られた画像再構成手法によってＣＴ画像や透視画像が
作られモニター等の画像表示器７に画像表示される。
入射Ｘ線ビーム幅を規制する検出器側コリメータが配置
されるものもある。検出器６に入射したＸ線は電流信号
に変換され、この電流信号は図示していない検出器増幅
回路によって電気信号に変換され、これら計測電気信号
は同じく図には示してない画像処理装置に送られ、よく
知られた画像再構成手法によってＣＴ画像や透視画像が
作られモニター等の画像表示器７に画像表示される。
【０００９】ここで、上記Ｘ線計測機構の計測動作全体
に図示していない制御装置の指令により全体制御されて
おり、コリメータ２の開口幅の制御により複数のＸ線ビ
ーム幅の設定、スキャナー回転や静止、スキャナー角度
設定、更には、Ｘ線高圧発生装置を制御してＸ線の出力
制御、寝台５の動作制御等スキャナーや寝台の計測全体
の制御が行われる。
に図示していない制御装置の指令により全体制御されて
おり、コリメータ２の開口幅の制御により複数のＸ線ビ
ーム幅の設定、スキャナー回転や静止、スキャナー角度
設定、更には、Ｘ線高圧発生装置を制御してＸ線の出力
制御、寝台５の動作制御等スキャナーや寝台の計測全体
の制御が行われる。
【００１０】次に、このようなＸ線計測機構を持ったＣ
Ｔ装置において本発明での透視計測方法について図３を
用いて説明する。図３（ａ）は透視計測方法を示し、図
３（ｂ）はマルチスライス用検出器６での透視計測によ
り記録される計測データの形状を示す。
Ｔ装置において本発明での透視計測方法について図３を
用いて説明する。図３（ａ）は透視計測方法を示し、図
３（ｂ）はマルチスライス用検出器６での透視計測によ
り記録される計測データの形状を示す。
【００１１】図３（ａ）の計測手順は以下のようにな
る。 （１）Ｘ線ビーム３の中心位置Ｌｐと透視開始位置Ｌ１
が一致するように寝台５を移動する。 （２）事前に操作卓等から入力された透視計測条件の内
容を参照して、Ｘ線条件の設定、Ｘ線管球１と検出器６
との回転角度位置の固定、複数個の検出器列をカバーす
る任意の幅を持ったＸ線ビーム３になるようにコリメー
タ２の開口幅の設定等の計測準備を行う。 （３）操作卓上の計測開始指示によりＸ線の照射開始と
ほぼ同時に上記停止位置を開始位置として寝台５を右方
向に移動させると共に、少なくともＸ線ビーム３の幅を
カバーする検出素子群６３（図３（ａ）に示す本例では
スライス列Ｂ、Ｃ、Ｄの３列以上）の計測を開始し終点
のＬ２位置まで計測を続ける。 （４）個々のスライス列のデータは図３（ｂ）のように
個別に検出器６のｃｈ数と計測繰り返し回数を示すｖｉ
ｅｗ数の２次元マトリックスの形で分割記録保存する。
る。 （１）Ｘ線ビーム３の中心位置Ｌｐと透視開始位置Ｌ１
が一致するように寝台５を移動する。 （２）事前に操作卓等から入力された透視計測条件の内
容を参照して、Ｘ線条件の設定、Ｘ線管球１と検出器６
との回転角度位置の固定、複数個の検出器列をカバーす
る任意の幅を持ったＸ線ビーム３になるようにコリメー
タ２の開口幅の設定等の計測準備を行う。 （３）操作卓上の計測開始指示によりＸ線の照射開始と
ほぼ同時に上記停止位置を開始位置として寝台５を右方
向に移動させると共に、少なくともＸ線ビーム３の幅を
カバーする検出素子群６３（図３（ａ）に示す本例では
スライス列Ｂ、Ｃ、Ｄの３列以上）の計測を開始し終点
のＬ２位置まで計測を続ける。 （４）個々のスライス列のデータは図３（ｂ）のように
個別に検出器６のｃｈ数と計測繰り返し回数を示すｖｉ
ｅｗ数の２次元マトリックスの形で分割記録保存する。
【００１２】ここで、検出素子群６３の各列同時に計測
を開始した場合、各素子の配列ピッチの違いにより個々
の検出素子列の被写体検出データの現れ方に検出時間差
は生じてしまい、本例では最初にＤ列→Ｃ列→Ｂ列の順
になる。ここで、次の方法で個々の計測データ群の位置
補正を行う。 寝台５の移動速度を Ｖ［ｍｍ／ｓ］ 透視計測の計測レート Ｒ［Ｖｉｅｗ／ｓ］ Ｘ線管球２と検出器６の回転中心である計測領域中心線
Ｍにおけるスライス方向検出素子群６３の検出器ピッチ
をＰ［ｍｍ］とすると、計測データ群の各スライス列位
置ずれビュー数Ｖｐ（ピッチ当たりのビュー数）は、 Ｖｐ＝Ｐ／（Ｖ／Ｒ） で表すことができる。ここで、（Ｖ／Ｒ）は、１ビュー
で寝台が進む距離（ｍｍ／ｖｉｅｗ）である。その位置
ずれビュー数Ｖｐの様子が図３（ｂ）である。そこで、
図４（ａ）に示すように、Ｘ線ビーム３の中心位置に一
致しているスライス列Ｃを基準として個々のスライス列
Ｄ、Ｂの計測データ群に対してＶｐのビュー数分上下に
シフトして単純加算又は重み付け加算処理を行い、図４
（ｂ）に示す透視計測データを算出する。
を開始した場合、各素子の配列ピッチの違いにより個々
の検出素子列の被写体検出データの現れ方に検出時間差
は生じてしまい、本例では最初にＤ列→Ｃ列→Ｂ列の順
になる。ここで、次の方法で個々の計測データ群の位置
補正を行う。 寝台５の移動速度を Ｖ［ｍｍ／ｓ］ 透視計測の計測レート Ｒ［Ｖｉｅｗ／ｓ］ Ｘ線管球２と検出器６の回転中心である計測領域中心線
Ｍにおけるスライス方向検出素子群６３の検出器ピッチ
をＰ［ｍｍ］とすると、計測データ群の各スライス列位
置ずれビュー数Ｖｐ（ピッチ当たりのビュー数）は、 Ｖｐ＝Ｐ／（Ｖ／Ｒ） で表すことができる。ここで、（Ｖ／Ｒ）は、１ビュー
で寝台が進む距離（ｍｍ／ｖｉｅｗ）である。その位置
ずれビュー数Ｖｐの様子が図３（ｂ）である。そこで、
図４（ａ）に示すように、Ｘ線ビーム３の中心位置に一
致しているスライス列Ｃを基準として個々のスライス列
Ｄ、Ｂの計測データ群に対してＶｐのビュー数分上下に
シフトして単純加算又は重み付け加算処理を行い、図４
（ｂ）に示す透視計測データを算出する。
【００１３】その後、一般的によく知られた各種感度補
正やＸ線透視用画像構成処理を行って最終透視画像を
得、これを表示装置７に表示する。ここで、Ｘ線透視用
画像再構成処理とは、図４（ｂ）から図４（ｃ）へのデ
ータ換算の処理を云う。例えば数ビューデータを加算平
均や各種の重み付けで表示装置（モニタ）７のピクセル
データに変換して、ピクセルサイズ（例えば５１２×５
１２や３１２×３１２）のデータにおきかえる処理であ
る。
正やＸ線透視用画像構成処理を行って最終透視画像を
得、これを表示装置７に表示する。ここで、Ｘ線透視用
画像再構成処理とは、図４（ｂ）から図４（ｃ）へのデ
ータ換算の処理を云う。例えば数ビューデータを加算平
均や各種の重み付けで表示装置（モニタ）７のピクセル
データに変換して、ピクセルサイズ（例えば５１２×５
１２や３１２×３１２）のデータにおきかえる処理であ
る。
【００１４】以上の実施の態様によれば、図３（ａ）に
示すように照射Ｘ線ビーム３を広くすることで、計測に
用いるＸ線量が増加してＸ線のカンタムノイズが減少す
る。又、スライス方向開口幅が狭いマルチスライス検出
器による個々のスライス列計測がなされるため、等価的
に狭スライス計測で実現可能なパーシャルボリューム効
果の少ない高分解能計測データが複数同時に計測でき、
個々のスライス列計測データの位置補正により複数の等
価同一位置狭スライス計測データを算出することが出来
る。そして、個々のスライス列計測データの位置補正に
より複数の等価同一位置狭スライス計測データを算出す
ることが出来る。
示すように照射Ｘ線ビーム３を広くすることで、計測に
用いるＸ線量が増加してＸ線のカンタムノイズが減少す
る。又、スライス方向開口幅が狭いマルチスライス検出
器による個々のスライス列計測がなされるため、等価的
に狭スライス計測で実現可能なパーシャルボリューム効
果の少ない高分解能計測データが複数同時に計測でき、
個々のスライス列計測データの位置補正により複数の等
価同一位置狭スライス計測データを算出することが出来
る。そして、個々のスライス列計測データの位置補正に
より複数の等価同一位置狭スライス計測データを算出す
ることが出来る。
【００１５】本発明では検出素子群６３の最小計測Ｘ線
ビーム幅での画像再構成を行ったが、Ｘ線ビーム中心位
置近傍の複数計測スライス列を加算して等価的により広
いＸ線ビーム計測データとしたデータ位置を基準にして
もよく、当然Ｘ線ビーム位置中心と検出素子群位置が一
致しない、例えば、図２（ａ）の検出器素子群との計測
組み合わせでも適用できる。
ビーム幅での画像再構成を行ったが、Ｘ線ビーム中心位
置近傍の複数計測スライス列を加算して等価的により広
いＸ線ビーム計測データとしたデータ位置を基準にして
もよく、当然Ｘ線ビーム位置中心と検出素子群位置が一
致しない、例えば、図２（ａ）の検出器素子群との計測
組み合わせでも適用できる。
【００１６】又、今回の実施例では計測素子群の計測取
り込みを同時に開始したが、予め入力される計測条件を
取り込み位置ずれ分のｖｉｅｗ数を認識しておいて、個
々のスライス群の計測開始を前記ｖｉｅｗ数分に相当す
る時間をずらして計測してもよい。又、本例では画像再
構成用の計測データを算出したのちに各種感度補正を行
ったが、個々の計測データ群を作成する前に個々の計測
データ群に対して各種感度補正を行ってもよく、更には
個々の計測データ群で画像再構成処理まで行い複数の各
透視画像の位置ずれを行って画像加算して最終表示画像
を表示してもよい。
り込みを同時に開始したが、予め入力される計測条件を
取り込み位置ずれ分のｖｉｅｗ数を認識しておいて、個
々のスライス群の計測開始を前記ｖｉｅｗ数分に相当す
る時間をずらして計測してもよい。又、本例では画像再
構成用の計測データを算出したのちに各種感度補正を行
ったが、個々の計測データ群を作成する前に個々の計測
データ群に対して各種感度補正を行ってもよく、更には
個々の計測データ群で画像再構成処理まで行い複数の各
透視画像の位置ずれを行って画像加算して最終表示画像
を表示してもよい。
【００１７】
【発明の効果】本発明では個々のスライス列計測データ
の位置補正により複数の等価同一位置狭スライス計測デ
ータを算出することができ、任意の重み加算処理を行っ
た画像再構成用狭スライス高Ｓ／Ｎ計測データを元に各
種画像処理を行い最終画像を表示するため、高分解能で
高画質の透視画像を提供できる。
の位置補正により複数の等価同一位置狭スライス計測デ
ータを算出することができ、任意の重み加算処理を行っ
た画像再構成用狭スライス高Ｓ／Ｎ計測データを元に各
種画像処理を行い最終画像を表示するため、高分解能で
高画質の透視画像を提供できる。
【図１】Ｘ線ＣＴ装置における実施例図である。
【図２】マルチスライス用検出器ブロックの実施例図で
ある。
ある。
【図３】透視計測実施例と計測データ記録保管実施例図
である。
である。
【図４】透視計測画像再構成用計測データの作成説明図
である。
である。
【図５】従来型ＣＴ装置での狭スライス透視計測説明図
である。
である。
【図６】従来型ＣＴ装置での広スライス透視計測説明図
である。
である。
１ Ｘ線管球 ２ コリメータ ３ Ｘ線ビーム ４ 被写体 ５ 寝台 ６ マルチスライス用検出器 ６１ グリッド ６２ マルチスライス用検出ブロック ６３ 検出素子群 ６４ シンチレータ ７ 画像表示器
Claims (2)
- 【請求項１】 扇状で所定のスライス幅を持つファンビ
ームＸ線を放出するＸ線放出手段と、これに被写体を挟
んで対向して配置され、チャンネル方向とスライス方向
に複数の検出素子を有したマルチスライス検出器と、被
写体又はＸ線源とマルチスライス検出器の一体構造のど
ちらか一方をスライス方向に移動させて、被写体スライ
ス方向のＸ線計測されたデータを画像再構成してＸ線透
過画像を表示する、マルチスライス検出器を持つＸ線診
断装置において、各スライス対応検出素子列毎の計測デ
ータを個々に保管記録する手段と、個々に保管記録され
た計測データをマルチスライス検出器のスライス列間距
離に応じて一つの特定計測列のデータ中心位置を基準に
して、各計測データ群毎に計測ビュー数をシフトして計
測位置補正を行う手段と、これら位置補正後の計測デー
タ群を重み付け加算して一つの画像表示用計測データに
統合する手段と、画像表示用計測データからＸ線透視用
画像再構成処理を行い透視画像を得る手段と、この透視
画像を表示する手段と、を有したマルチスライス検出器
を持つＸ線診断装置。 - 【請求項２】 扇状で所定のスライス幅を持つファンビ
ームＸ線を放出するＸ線放出手段と、これに被写体を挟
んで対向して配置され、チャンネル方向とスライス方向
に複数の検出素子を有したマルチスライス検出器と、被
写体又はＸ線源とマルチスライス検出器の一体構造のど
ちらか一方をスライス方向に移動させて、被写体スライ
ス方向のＸ線計測されたデータを画像再構成してＸ線透
過画像を表示する、マルチスライス検出器を持つＸ線診
断装置において、各スライス対応検出素子列毎の計測デ
ータを個々に保管記録する手段と、個々に保管記録され
た計測データをマルチスライス検出器のスライス列間距
離に応じて一つの前記特定計測列を中心とした近傍の複
数計測列群の加算され算出される中心位置を基準にし
て、各計測データ群毎に計測ビュー数をシフトして計測
位置補正を行う手段と、これら位置補正後の計測データ
群を重み付け加算して総計測列群より少ないデータ列群
数に統合して画像表示用計測データに統合する手段と、
画像表示用計測データからＸ線透視用画像再構成処理を
行い透視画像を得る手段と、この透視画像を表示する手
段と、を有したマルチスライス検出器を持つＸ線診断装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30642599A JP2001120539A (ja) | 1999-10-28 | 1999-10-28 | マルチスライス検出器を持つｘ線診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30642599A JP2001120539A (ja) | 1999-10-28 | 1999-10-28 | マルチスライス検出器を持つｘ線診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001120539A true JP2001120539A (ja) | 2001-05-08 |
Family
ID=17956872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30642599A Pending JP2001120539A (ja) | 1999-10-28 | 1999-10-28 | マルチスライス検出器を持つｘ線診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001120539A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7587021B2 (en) | 2005-01-12 | 2009-09-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computer tomography apparatus |
| US8003950B2 (en) | 2008-01-18 | 2011-08-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector, X-ray CT apparatus, and method for manufacturing radiation detector |
| WO2014077287A1 (ja) * | 2012-11-14 | 2014-05-22 | 株式会社 東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1999
- 1999-10-28 JP JP30642599A patent/JP2001120539A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7587021B2 (en) | 2005-01-12 | 2009-09-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computer tomography apparatus |
| US8003950B2 (en) | 2008-01-18 | 2011-08-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector, X-ray CT apparatus, and method for manufacturing radiation detector |
| WO2014077287A1 (ja) * | 2012-11-14 | 2014-05-22 | 株式会社 東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2014113474A (ja) * | 2012-11-14 | 2014-06-26 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置、ｘ線ｃｔ装置の制御プログラム |
| CN104797194A (zh) * | 2012-11-14 | 2015-07-22 | 株式会社东芝 | X射线ct装置 |
| US10123763B2 (en) | 2012-11-14 | 2018-11-13 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray CT system |
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