JP2001108593A - 極低温流体の静電容量型密度計測装置 - Google Patents

極低温流体の静電容量型密度計測装置

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JP2001108593A
JP2001108593A JP28882699A JP28882699A JP2001108593A JP 2001108593 A JP2001108593 A JP 2001108593A JP 28882699 A JP28882699 A JP 28882699A JP 28882699 A JP28882699 A JP 28882699A JP 2001108593 A JP2001108593 A JP 2001108593A
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electrodes
capacitance
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hydrogen
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Yuichi Kihara
勇一 木原
Kenji Nakamichi
憲治 中道
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スラッシュ水素等の極低温流体の密度を計測
するための静電容量型密度計において、電極と電極以外
の構造物との間の静電容量が電極間の静電容量よりも大
きくなって計測誤差を生ずるのを防ぐとともに、外部か
らの侵入熱の影響を受けないようにすること。 【解決手段】 スラッシュ水素製造装置におけるスラッ
シュ水素内に沈められる外筒34内に、そのスラッシュ
水素の静電容量を計測するよう対置された2つの電極3
5,36を有している。電極35,36は、外筒34の
内面から放射状に突出して配置されたリブ40に電極固
定具37を介して、外筒34から十分離して取り付けら
れており、また、外筒34が接地43されていて外筒3
4と電極35,36間に生ずる無効静電容量を減少させ
ている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ロケットの燃料や
原油・石炭などの化石燃料に替わる燃料として期待され
ているスラッシュ水素等の極低温流体の密度を誘電率の
変化を利用して計測する密度計測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、宇宙開発の進展により国内外にお
いてロケット打ち上げによる宇宙探索や気象衛星などの
人工衛星の打ち上げが頻繁に行われている。このロケッ
ト打ち上げの燃料には主に水素が使用されているが、燃
料タンクがロケットの容積のほとんどを占めるため、燃
料タンクの容積を小さくして大量の燃料が搭載できるよ
うに液体水素と固体水素を混合したスラッシュ水素の検
討が行われている。また、WE−NET(World Energy
Network)ではスラッシュ水素が現在の原油や石炭など
の化石燃料に替わるクリーンな燃料として期待されてい
る。
【0003】このスラッシュ水素は、液体水素と固体水
素が混合したシャーベット状の水素で、液体水素と比較
して密度や寒冷保有量(他の物体を冷却する能力。例え
ば或る物体を冷却する能力を液体水素とスラッシュ水素
で比較すると、固体水素が混じっている分、スラッシュ
水素の方が、液体水素より多く冷やすことが可能であ
る。)の点で大きく異なり、固体水素含有率50%のス
ラッシュ水素では液体水素に比べて密度が約16%高
く、寒冷保有量が約18%増大することが知られてい
る。
【0004】つまり、スラッシュ水素は、液体水素より
も限られた容積に、より多くの貯蔵が可能で蒸発しにく
い利点がある。このスラッシュ水素をロケットなどの燃
料としてエンジン内に最適な状態で供給するためには、
スラッシュ水素の密度を正確に把握する必要がある。
【0005】従来のスラッシュ水素製造装置の構成図で
ある図5に示すように、スラッシュ水素製造装置を構成
する容器03は二重構造となっている。内容器04には
液体水素01が充填され内容器04内の真空を保つた
め、蓋05と内容器04のフランジ06とは、その間に
パッキン07が設けられボルト08とナット09によっ
て締め付けられている。
【0006】外容器010と内容器04の間には、外部
から侵入する熱(以下侵入熱という)の影響を減少して
液体水素01の蒸発を抑える液体窒素02が充填されて
いる。外容器010は、内容器04と同じように蓋05
とフランジ011の間にパッキン012が設けられ、ボ
ルト013とナット014によって締め付けられてい
る。
【0007】図5中の015は内容器04内に液体水素
01を充填する注入口で、016は内容器04と外容器
010の間に液体窒素02を注入するための注入口を示
している。それぞれの注入口015,016は注入後に
蓋017によって密封される。スラッシュ水素の製造
は、以下に示すからの手順でフリーズ・ソー(間欠
減圧)法により行う。
【0008】 内容器04内に液体水素01、外容器
010と内容器04の間に液体窒素02をそれぞれ充填
した状態で真空ポンプ018を起動し、バルブ019を
開け、配管020を介して内容器04内を水素の3重点
(約53torr)まで減圧して、液体水素01の液面02
1を凝固させ固体水素022の層を液面021に形成さ
せ、バルブ019を閉める。
【0009】 内容器04内の内圧を一定に保つた
め、圧力計023に組み込まれた圧力センサーで圧力の
変化を感知し、その情報が信号線044と制御器024
を通して電磁弁025に指令が送られ、断続的に電磁弁
025の開閉を行い、配管020,026を介して内容
器04内の減圧が行われる。つまり、圧力計023が内
容器04内に内圧(約53torr)を常に保持するように
制御器024で電磁弁025をコントロールしている。
【0010】 電磁弁025が閉の場合、内容器04
内では外部からの侵入熱によって液体水素01が蒸発し
て圧力が変化し固体水素022の層が幾分か溶け出す。
そして、蓋05に取り付けられたモータ027と回転軸
028及び回転羽根029で構成された攪拌機030
で、液体水素01を攪拌すると内容器04内で対流が発
生し、液面021が揺れ液面上の固体水素022が小さ
く割れて、液体水素01よりも比重の重い固体水素03
1は内容器04の下方に沈降する。
【0011】 暫くすると外部からの侵入熱により液
体水素01が蒸発し、圧力計023が53torrより変化
すると制御器024により電磁弁025が開く。
【0012】上記からの手順を間欠的に繰り返すこ
とにより、内容器04内では液体水素01と固体水素0
31が混合した水素、すなわちスラッシュ水素の製造が
可能となる。スラッシュ水素製造中、攪拌機030は常
に作動している。
【0013】内容器04内には、内部のスラッシュ水素
の密度を計測する静電容量型密度計測装置(以下密度計
測装置という)033が配設されており、その密度計測
装置033は、図5に示すように支持パイプ032を介
して蓋05からぶら下げて取り付けられており、密度計
測装置033からの計測線038が支持パイプ032の
中を通して静電容量測定器(以下LCRメータという)
039に接続されている。また、計測線038を通して
支持パイプ032の上部端末や、攪拌機030の回転軸
028と蓋05の周囲は内容器04内の真空を保つため
密封されている。
【0014】スラッシュ水素製造装置内のスラッシュ水
素の密度は、図5のように内容器04内に配置した密度
計測装置033によって計測されるが、スラッシュ水素
製造装置内から供給される配管途中のスラッシュ水素の
密度を計測する場合は、配管の途中に同様の密度計測装
置033を設置して計測する。
【0015】次に密度計測装置033について説明す
る。密度計測装置033は、静電容量Cが電極間物質の
誘電率εに比例することを利用するものである。静電容
量Cと比誘電率εの関係は次式(1)で表される。
【0016】C=Co ε+Cd ……(式1) Co は電極の大きさや形状によって決まる定数であり、
d は密度計測装置033の電極以外の構造物に発生す
る無効静電容量で、この値が大きすぎると計測誤差の要
因となる。
【0017】密度計測装置033の詳細を示す図6にお
いて、静電容量を計測するための電極035および電極
036は電気伝導率の高い銅板などを使用し、お互いに
向かい合った形で外筒034と電極035,036を絶
縁するための絶縁物037に貼り付けられ、さらに絶縁
物037はスラッシュ水素が通過する外筒034に筒状
に曲げて嵌め込まれている。電極035と電極036間
の静電容量は、計測線038を介してLCRメータ03
9で計測する。静電容量を正確に計測するためには、式
1に示すCd の無効静電容量を消去するかまたは定量的
にする必要がある。
【0018】図5に示したスラッシュ水素製造装置の従
来例では、スラッシュ水素製造装置内の密度計測装置0
33を図示しているが、スラッシュ水素製造装置内から
供給される配管途中のスラッシュ水素の密度は、密度計
測装置033の外筒034を配管に置き換えて配管の途
中に密度計測装置033を設置する。
【0019】従来、絶縁物037にはテフロンなどを使
用しているが、絶縁物037を曲げて嵌め込むため絶縁
物037に貼り付けられた電極035,036が部分的
に剥がれたり、外筒034と絶縁物037の密着が悪化
し、液体水素01が電極035,036と絶縁物03
7、あるいは絶縁物037と外筒034の間すなわち絶
縁部分に侵入し、それぞれの電極035,036と外筒
034間の距離が近いため、電極035と電極036間
の静電容量Co εよりも、電極035,電極036と外
筒034間の無効静電容量Cd の値が大きくなってスラ
ッシュ水素の密度比誘電率を正確に計測できないという
問題が発生している。
【0020】また、外筒034は熱伝導率や低温脆性の
面から従来ステンレス管を使用しており、外筒034を
スラッシュ水素製造装置から供給されるスラッシュ水素
用配管として使用し、その途中に密度計測装置033を
設置する場合、外部からの侵入熱によって外筒034近
傍の固体水素を融解して電極間のスラッシュ水素密度を
変化させ、周囲のスラッシュ水素より密度を低く計測し
てしまう問題もある。
【0021】
【発明が解決しようとする課題】以上、スラッシュ水素
に例をとって説明したように、極低温流体の密度を計測
する従来の静電容量型密度計測装置が前記したような問
題点を有していた点に鑑み、本発明はスラッシュ水素等
の極低温流体の密度を計測するための静電容量型密度計
測装置において、電極と電極以外の構造物との間の静電
容量が電極間の静電容量よりも大きくなって計測誤差を
生ずるのを防ぐとともに、外部からの侵入熱の影響を受
けないように構成した静電容量型密度計測装置を提供す
ることを課題としている。
【0022】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明は、内部にスラッシュ水素等の極低温流体が
入る外筒内に、同外筒内の極低温流体の静電容量を計測
するよう対置された電極を有する極低温流体の静電容量
型密度計測装置において、前記外筒の内面から放射状に
突出して配置されたリブに電極固定具を介して前記電極
を取り付けて構成した極低温流体の静電容量型密度計測
装置を提供する。
【0023】このように構成した本発明の静電容量型密
度計測装置においては、外筒内に対置される電極が、外
筒の内面から放射状に突出して設けられたリブに電極固
定具を介して取り付けられていて、電極が外筒から十分
離されているので、電極と外筒間に生ずる無効静電容量
(Cd )を減少させることが可能である。
【0024】また、電極が外筒の内面から放射状に突出
して設けられたリブに取り付けられていて外筒から離さ
れているので外部からの侵入熱が電極に影響するのを防
いでいる。このように、本発明の静電容量型密度計測装
置によれば、スラッシュ水素等の極低温流体の密度を正
確に計測することができる。
【0025】以上説明した本発明の密度計測装置におい
て、前記電極固定具を、外筒の管軸方向に間隔を保って
複数個配置した構成にすると、電極と電極固定具との間
の接触面積を小さくして電極を外筒内に取り付けること
ができ、電極固定具が電極間の静電容量に与える影響を
小さくすることができる。
【0026】また、本発明による密度計測装置におい
て、外筒内に対置された電極を複数対配置した構成とす
ると、電極間の静電容量が増して電極間の静電容量が安
定し、密度の計測精度が向上するので好ましい。
【0027】更にまた、本発明の密度計測装置におい
て、電極が内部に取り付けられる外筒の外面を光沢面に
すると、外部から外筒内に侵入する熱を減少し、固体水
素の融解や液体水素の蒸発を抑制する上で効果的であ
る。また、本発明による密度計測装置において、外筒を
接地すると、外筒と電極の電位を無くして密度の計測精
度を上げることができる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、本発明による静電容量型密
度計測装置を図1〜図4に示した実施の形態に基づいて
具体的に説明する。
【0029】(第1実施形態)まず、図1,図2に示し
た第1実施形態による密度計測装置について説明する。
図1と図2において、35及び36は静電容量を発生さ
せる電極で、これらの電極35および電極36は、外面
が光沢面を有するステンレスの外筒34より小径で短筒
状の電極固定具37を外筒34の長さ方向に一定間隔を
もって配置し、お互いに向かい合わせた形で電極固定具
37に接着されている。
【0030】電極固定具37は、外筒34の内面から放
射状に突出して配置されたリブ40によって外筒34に
固定されている。電極固定具37とリブ40は外筒34
と電極35,36を絶縁するためにテフロンなどの絶縁
物を使用している。
【0031】外筒34は、図5に示された従来例のよう
にスラッシュ水素製造装置内で密度計測装置33の外筒
34として使用される場合もあるが、スラッシュ水素を
供給する配管と共用した形で使用する場合がある。電極
35,36からの計測配線38は、LCRメータ39に
接続され、外筒34と電極35,36の電位をなくする
ため、外筒34からアース線41を介してLCRメータ
39に接続し、さらにLCRメータ39からアース線4
2を介して接地43している。なお、本実施例による密
度計測装置は、図5に示したスラッシュ水素製造装置内
に配置される密度計測装置033について改良したもの
であり、スラッシュ水素製造装置の部分については図5
に示した従来例と同様のため説明を省略する。
【0032】本密度計測装置33は、外筒34に外面が
光沢面を有するステンレス管を使用したことにより、外
部からの侵入熱を防止し液体水素1の蒸発や固体水素3
1の融解を減少させている。また、本密度計測装置にお
ける電極35,36は、電極固定具37とリブ40によ
り外筒34から十分な距離を有し、外筒34の長さ方向
に一定間隔をもって複数個の電極固定具37を配設した
ことにより電極35,36と絶縁物である電極固定具3
7の接触面を最小限にして取り付けることができる。
【0033】また、リブ40を外筒34の内面から放射
状に突出させて配設することで密度計測装置33を通過
するスラッシュ水素の進路を妨げない。また、外筒34
と電極35,36の電位をなくすため外筒34からアー
ス線41,42とLCRメータ39を介して接地43し
ている。本密度計測装置33では、電極35および電極
36と外筒34間が十分離れていることと、外筒34が
接地43されていることにより、(式1)の無効静電容
量Cd を減少することが可能となり、電極35と電極3
6間の静電容量Co εを従来に比べ精度良く計測する事
が可能となる。
【0034】また、電極35と電極36が外筒34から
十分離れていることにより、外部からの侵入熱を外筒3
4で受け、電極35および電極36への影響が軽減さ
れ、電極35,36間のスラッシュ水素密度と内容器4
内のスラッシュ水素密度の差を減少することが可能とな
る。また、外筒34の外面が光沢面を有していることに
より、侵入熱は反射して外部へ戻り、外筒34の温度上
昇を減少し、外筒34周辺のスラッシュ水素中の固体水
素の融解を従来に比べ減少させることが可能となる。こ
の結果、スラッシュ水素用静電容量型密度計測装置の精
度が向上する。
【0035】(第2実施形態)次に、図3,図4に示し
た第2実施形態による密度計測装置について説明する。
この第2実施形態による密度計測装置では、対置された
電極を複数対外筒34内に配置したものである。すなわ
ち、図3と図4において、静電容量を発生する電極44
と電極45、及び電極46と電極47が、外面に光沢面
を有するステンレスの外筒34に、お互いに向かい合っ
て対をなす形で複数対配置している。
【0036】外筒34の長さ方向に一定間隔で配置され
た電極固定具49は平板状になっており、また放射状に
配置されたリブ48は2本組になっている点で相違する
が、電極44,45,46,47からの計測配線38、
静電容量を計測するLCRメータ39、さらに外筒34
と電極35,36,44,45間の電位をなくすための
アース線41,42及び接地43の構成については、第
1実施形態のものと同様のため説明を省略する。また、
本第2実施形態での電極44,45,46,47は加工
面を考慮して平面板を使用しているが曲面板を使用して
もよい。
【0037】なお、本実施形態による密度計測装置も、
図5に示したスラッシュ水素製造装置内に配置される密
度計測装置033について改良したものであり、スラッ
シュ水素製造装置の部分については図5に示した従来例
と同様のためその説明を省略する。
【0038】本第2実施形態による密度計測装置33
は、静電容量を発生する電極44と電極45及び電極4
6と電極47を、外面に光沢面を有するステンレスの外
筒34に、お互いに向かい合って対をなす形で複数対配
置することにより静電容量が増大し、電極間の静電容量
が安定し密度計の計測精度が向上する。以上説明した以
外の作用や効果については第1実施形態による密度計測
装置と同様のためその説明を省略する。
【0039】以上、本発明を図示した実施形態に基づい
て具体的に説明したが、本発明がこれらの実施形態に限
定されず特許請求の範囲に示す本発明の範囲内で、その
具体的構造、構成に種々の変更を加えてよいことはいう
までもない。
【0040】例えば、上記実施形態では、スラッシュ水
素の密度計測装置として説明しているが、スラッシュ水
素以外の極低温流体の密度計測装置として用いてもよ
い。
【0041】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明は、内部
にスラッシュ水素等の極低温流体が入る外筒内に、同外
筒内の極低温流体の静電容量を計測するよう対置された
電極を有する極低温流体の静電容量型密度計測装置にお
いて、前記外筒の内面から放射状に突出して配置された
リブに電極固定具を介して前記電極を取り付けて構成し
た極低温流体の静電容量型密度計測装置を提供する。
【0042】このように構成した本発明の静電容量型密
度計測装置においては、外筒の内面から放射状に突出し
て設けられたリブに電極固定具を介して電極が取り付け
られていて、電極は外筒から十分離されて、電極と外筒
間に生ずる無効静電容量(C d )を減少させているとと
もに、電極が外筒から離されていて外部からの侵入熱に
よる影響を受けるのを防止されている。このように、本
発明の静電容量型密度計測装置によれば、スラッシュ水
素等の極低温流体の密度を正確に計測することができ
る。
【0043】本発明の密度計測装置において、前記電極
固定具を、外筒の管軸方向に間隔を保って複数個配置し
た構成としたものでは、電極と電極固定具との間の接触
面積を小さくして電極が外筒内に取り付けるられるの
で、電極固定具が電極間の静電容量に与える影響を小さ
くすることができる。
【0044】また、本発明による密度計測装置におい
て、外筒内に対置された電極を複数対配置した構成とし
たものでは、電極間の静電容量が増して電極間の静電容
量が安定し、密度の計測精度が向上する。
【0045】更にまた、本発明の密度計測装置におい
て、電極が内部に取り付けられる外筒の外面を光沢面に
すると、外部から外筒内に侵入する熱を減少し、固体水
素の融解や液体水素の蒸発を抑制する。また、本発明に
よる密度計測装置において、外筒を接地したものでは、
外筒と電極の電位を無くして密度の計測精度が向上す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態による静電容量型密度計
測装置における図2のB−B線に沿う断面図。
【図2】図1のA−A線に沿う横断面図。
【図3】本発明の第2実施形態による静電容量型密度計
測装置における図4のD−D線に沿う断面図。
【図4】図3のC−C線に沿う断面図。
【図5】従来のスラッシュ水素製造装置を示す構成図。
【図6】図5の装置に用いられている密度計の詳細を示
す図面で図7のE−E線に沿う断面図。
【図7】図6のF−F線に沿う横断面図。
【符号の説明】
01 液体水素 02 液体窒素 04 内容器 010 外容器 015 液体水素の注入口 016 液体窒素の注入口 018 真空ポンプ 022 固体水素 024 制御装置 025 電磁弁 029 回転羽根 031 固体水素 33 密度計測装置 34 外筒 35 電極 36 電極 37 電極固定具 38 計測配線 39 LCRメータ 40 リブ 41 アース線 42 アース線 43 接地 44 電極 45 電極 46 電極 47 電極 48 リブ 49 電極固定具

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部にスラッシュ水素等の極低温流体が
    入る外筒内に、同外筒内の極低温流体の静電容量を計測
    するよう対置された電極を有する極低温流体の静電容量
    型密度計測装置において、前記外筒の内面から放射状に
    突出して配置されたリブに電極固定具を介して前記電極
    を取り付けたことを特徴とする極低温流体の静電容量型
    密度計測装置。
  2. 【請求項2】 前記電極固定具を、前記外筒の管軸方向
    に間隔を保って複数個配置したことを特徴とする請求項
    1に記載の極低温流体の静電容量型密度計測装置。
  3. 【請求項3】 対置された前記電極を複数対配置したこ
    とを特徴とする請求項1又は2に記載の極低温流体の静
    電容量型密度計測装置。
  4. 【請求項4】 前記外筒の外面を光沢面としたことを特
    徴とする請求項1〜3のつずれか1つに記載の極低温流
    体の静電容量型密度計測装置。
  5. 【請求項5】 前記外筒を接地したことを特徴とする請
    求項1〜3のいずれか1つに記載の極低温流体の静電容
    量型密度計測装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008215505A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 水素供給ステーション

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JP2008215505A (ja) * 2007-03-05 2008-09-18 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 水素供給ステーション

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