JP2001101986A - Flat panel display device and manufacturing method therefor - Google Patents

Flat panel display device and manufacturing method therefor

Info

Publication number
JP2001101986A
JP2001101986A JP27812899A JP27812899A JP2001101986A JP 2001101986 A JP2001101986 A JP 2001101986A JP 27812899 A JP27812899 A JP 27812899A JP 27812899 A JP27812899 A JP 27812899A JP 2001101986 A JP2001101986 A JP 2001101986A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
display device
cold cathode
flat panel
panel display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP27812899A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3601374B2 (en
Inventor
Toshiaki Kusunoki
敏明 楠
Mutsumi Suzuki
睦三 鈴木
Masakazu Sagawa
雅一 佐川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP27812899A priority Critical patent/JP3601374B2/en
Publication of JP2001101986A publication Critical patent/JP2001101986A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3601374B2 publication Critical patent/JP3601374B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a flat panel display device, using cold cathode, that may achieve a high vacuum state for an easy exhaustion and fast local gas discharge. SOLUTION: An alloy film is formed onto at least a part of the surface excluding electron emission part such as cold cathode array and group electrodes, the alloy film is composed of the one selected from the group consisting essentially of or at least one selected from the group consisting of Ti, Zr and Hf.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、冷陰極アレイと蛍
光面を組み合わせたフラットパネル表示装置に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a flat panel display device in which a cold cathode array and a phosphor screen are combined.

【0002】[0002]

【従来の技術】冷陰極と蛍光面を組み合わせたフラット
パネル表示装置としては、例えば電界放射陰極アレイを
用いたフィールドエミッションディスプレイ(Field-Em
issionDisplay、以下FED)、表面伝導型電子源を用いた
表面伝導型ディスプレイ(Surface−Conduction-Electr
on-Emitter-Display、以下SED)、金属―絶縁体―金属
(Metal-Insulator-Metal、以下MIM)や金属―絶縁体―
半導体(Metal-Insulator-Semiconductor、以下MIS)等
の薄膜型電子源を用いたものや、ダイヤモンド膜、ダイ
ヤモンド状炭素膜等の電子放出膜とグリット電極等を組
み合わせたものが研究開発されている。
2. Description of the Related Art As a flat panel display device combining a cold cathode and a fluorescent screen, for example, a field emission display (Field-Em) using a field emission cathode array is known.
issionDisplay (FED), Surface-Conduction-Electr using a surface-conduction electron source
on-Emitter-Display (SED), metal-insulator-metal (Metal-Insulator-Metal, MIM) and metal-insulator-
Research and development have been made on a device using a thin-film electron source such as a semiconductor (Metal-Insulator-Semiconductor, hereinafter referred to as MIS) or a device combining a grit electrode with an electron emission film such as a diamond film or a diamond-like carbon film.

【0003】これらのフラットパネル表示装置は、表示
原理がブラウン管と同様で、加速された電子線による蛍
光体の発光に基づいているので、高輝度、高コントラス
ト、高速応答等の優れた画質が得られる特徴がある。
[0003] Since these flat panel display devices have a display principle similar to that of a cathode ray tube and are based on light emission of a phosphor by an accelerated electron beam, excellent image quality such as high brightness, high contrast and high speed response can be obtained. There is a feature that is.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】冷陰極と蛍光面を組み
合わせたフラットパネル表示装置では、冷陰極から放出
される電子線を加速して蛍光面に入射させるため、その
間を真空に保つ必要がある。その真空は高い真空度が要
求される。真空度が低い場合、冷陰極と蛍光面間に印加
される高電圧により放電が生じたり、イオン化した残留
ガスにより冷陰極がスパッタされたりする。また、冷陰
極表面が残留ガスで汚染されると表面の仕事関数が上昇
したり、表面汚染層で電子が散乱されたりして、電子放
出量の減少や、不規則な電流変動が生じてしまう。特に
電界放射陰極アレイを用いたFEDは表面汚染に敏感で、
最悪でも10-7Torr台以下の高い真空度が要求されてい
る。
In a flat panel display device in which a cold cathode and a fluorescent screen are combined, an electron beam emitted from the cold cathode is accelerated and made incident on the fluorescent screen, so that it is necessary to maintain a vacuum between them. . The vacuum requires a high degree of vacuum. When the degree of vacuum is low, a discharge occurs due to a high voltage applied between the cold cathode and the phosphor screen, or the cold cathode is sputtered by the ionized residual gas. In addition, when the cold cathode surface is contaminated with residual gas, the work function of the surface increases, or electrons are scattered in the surface contaminating layer, thereby reducing the amount of emitted electrons and causing irregular current fluctuation. . In particular, FEDs using field emission cathode arrays are sensitive to surface contamination,
At the worst, a high degree of vacuum of the order of 10 -7 Torr or less is required.

【0005】しかしながら、冷陰極と蛍光面を組み合わ
せたフラットパネル表示装置では、冷陰極アレイ基板10
と蛍光面基板110間の距離が図2に示すように200mm〜3m
m程度と狭く、さらにパネル内部には大気圧を支持する
ためのスペーサ30が配置されているため、排気のコンダ
クタンスが低い。排気管118を用いる場合はさらに排気
コンダクタンスが低下する。したがって、フラットパネ
ル表示装置で高い真空度を得ることが難しい。
However, in a flat panel display device combining a cold cathode and a fluorescent screen, the cold cathode array substrate 10
And the distance between the phosphor screen substrate 110 and 200 mm to 3 m as shown in FIG.
m, and the conductance of the exhaust gas is low because the spacer 30 for supporting the atmospheric pressure is disposed inside the panel. When the exhaust pipe 118 is used, the exhaust conductance further decreases. Therefore, it is difficult to obtain a high degree of vacuum in a flat panel display device.

【0006】さらに、真空封止した後の真空度維持に
は、フラットパネル表示装置内に搭載する蒸発型のBa
ゲッター等、あるいは非蒸発型のZrゲッター等を用い
るが、フラットパネル表示装置においてこれらのゲッタ
ー120は画像表示を妨げないよう通常図3に示すように
表示領域周辺部にのみ配置せざる得ない。したがって、
表示領域の中心部でガス放出等による真空劣化が生じた
場合、排気コンダクタンスが低いため排気に時間がかか
る。その間に、冷陰極表面が汚染されたり、放電が起き
冷陰極が破壊されたりする。
Further, in order to maintain the degree of vacuum after vacuum sealing, an evaporative Ba mounted in a flat panel display device is used.
A getter or the like, or a non-evaporable Zr getter or the like is used. However, in a flat panel display device, these getters 120 have to be usually arranged only in the periphery of the display area as shown in FIG. 3 so as not to hinder image display. Therefore,
When vacuum degradation occurs due to gas release or the like at the center of the display area, it takes a long time to exhaust because of low exhaust conductance. During that time, the surface of the cold cathode is contaminated, or electric discharge occurs to destroy the cold cathode.

【0007】本発明の目的は、冷陰極アレイと蛍光面を
組み合わせたフラットパネル表示装置において、フラッ
トパネル表示装置内の高い真空度を達成するとともに、
表示装置内のどの場所に於いても素早く放出ガスを排気
し、フラットパネル表示装置内全体を高い真空度に維持
し、信頼性の高いフラットパネル表示装置を実現するこ
とにある。
An object of the present invention is to achieve a high degree of vacuum in a flat panel display device in which a cold cathode array and a phosphor screen are combined,
An object of the present invention is to realize a highly reliable flat panel display device by quickly exhausting exhaust gas from any place in the display device, maintaining a high degree of vacuum in the entire flat panel display device.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記の目的は、冷陰極の
電子放出部以外の表面の少なくとも一部、または、冷陰
極と蛍光面の間の電極の表面の少なくとも一部に、Ti、
ZrおよびHfからなる群の中から選ばれた少なくとも1種
またはそれを主成分とする合金の膜を形成し、それらの
膜がガスを排気するゲッターとして使用することにより
達成できる。
The object of the present invention is to provide at least a part of the surface of the cold cathode other than the electron emission portion, or at least a part of the surface of the electrode between the cold cathode and the phosphor screen, with Ti,
This can be achieved by forming a film of at least one selected from the group consisting of Zr and Hf or an alloy containing the same as a main component, and using the films as getters for exhausting gas.

【0009】すなわち、フラットパネル表示装置内のほ
ぼ全面に形成される冷陰極アレイ自身、または冷陰極ア
レイと蛍光面間に挟まれる電極などの構造物自身がゲッ
ター作用を有することにより、フラットパネル表示装置
内のどの場所に於いても素早い排気が可能となる。した
がって排気が行いやすくフラットパネル表示装置内部全
体の高真空化が達成できる。さらに、局所的なガス放出
の素早い排気が可能となり、冷陰極汚染の防止、放電の
防止が可能となる。
That is, the cold cathode array itself formed substantially over the entire surface of the flat panel display device, or a structure itself such as an electrode sandwiched between the cold cathode array and the phosphor screen has a getter function, so that the flat panel display device is provided. Quick exhaust is possible anywhere in the device. Therefore, the exhaust can be easily performed, and a high vacuum can be achieved in the entire inside of the flat panel display device. Furthermore, quick exhaust with local gas release can be achieved, thereby preventing cold cathode contamination and discharge.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】実施例1 本発明は電界放射陰極アレイを用いたFED、表面伝導型
電子源を用いたSED、金属―絶縁体―金属(MIM)や金属
―絶縁体―半導体(MIS)等の薄膜型電子源を用いたフ
ラットパネル表示装置、あるいはダイヤモンド膜、カー
ボンナノチューブ膜やその他の種々の冷陰極のいずれを
用いた場合に対しても適用することができる。また、冷
陰極アレイ基板と蛍光面基板の間にグリット等の電極を
挟む場合にも適用できる。以下、それぞれの例について
代表的な実施例を示す。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 The present invention relates to an FED using a field emission cathode array, an SED using a surface conduction electron source, a metal-insulator-metal (MIM) or a metal-insulator-semiconductor (MIS). The present invention can be applied to a flat panel display device using a thin-film type electron source such as the above, or a case using any of a diamond film, a carbon nanotube film and other various cold cathodes. Also, the present invention can be applied to a case where an electrode such as grit is sandwiched between the cold cathode array substrate and the phosphor screen substrate. Hereinafter, representative examples will be described for each example.

【0011】まず、FEDに適用した場合の実施の形態を
図4〜5、1を用いて説明する。 FEDは冷陰極アレイに様
々な形状、材料、プロセスが開発されているが、ここで
は最も代表的なMoを用いたスピント型の冷陰極アレイに
ついて適用した実施例を示す。他のSiやカーボンナノチ
ューブ等の電界放射陰極アレイでも形状、材料、プロセ
スは異なっても基本的な構造はほぼ同様であり、本発明
の実施の形態を応用できる。
First, an embodiment applied to an FED will be described with reference to FIGS. Although various shapes, materials, and processes have been developed for the cold cathode array of the FED, an example applied to a Spindt-type cold cathode array using Mo, which is the most typical, is shown here. The basic structure is almost the same even with other field emission cathode arrays such as Si and carbon nanotubes, although the shapes, materials and processes are different, and the embodiment of the present invention can be applied.

【0012】まず図4(a)に示すようにガラス等の絶縁
性の基板10上に冷陰極の基体となるカソード電極21、カ
ソード電極21とゲート電極23を絶縁するゲート絶縁層2
2、ゲート電極23を蒸着法やスパッタ法等を用い成膜す
る。ここでゲート電極23に例えば表面をTiN等の保護膜2
4で被覆したTi膜あるいは表面をZrN等の保護膜24で被覆
したZr膜、あるいは表面をHfN等の保護膜24で被覆したH
f膜などを用いる。あるいは、Ti膜、Zr膜、Hf膜の代わ
りにTi、Zr、Hfを主成分とする合金膜を用いる。Ti,Z
r、Hf膜あるいはそれらを主成分とする合金膜の下に他
の金属層を敷いても構わない。 TiNで被覆したTi膜の成
膜法としては例えば多元のスパッタ装置によりTi、TiN
を順次成膜する方法や、初期は放電ガスにArを用い、途
中でN2に切り替える反応性スパッタなどにより形成す
る。ZrとZrNの積層膜、 HfとHfNの積層膜についても同
様にして形成可能である。 Ti、ZrおよびHfは活性な金
属であり、空気に触れると酸化等の化学反応を起こす
が、表面を例えば本実施例のように窒化膜の保護膜24で
被覆しておけば大気中で取り扱っても下地のTi、Zr、Hf
が反応することはない。
First, as shown in FIG. 4A, a cathode electrode 21 serving as a cold cathode base, and a gate insulating layer 2 for insulating the cathode electrode 21 and the gate electrode 23 are formed on an insulating substrate 10 such as glass.
2. The gate electrode 23 is formed by a vapor deposition method, a sputtering method, or the like. Here, for example, a protective film 2 such as TiN
4 or a Zr film whose surface is coated with a protective film 24 such as ZrN, or a H film whose surface is coated with a protective film 24 such as HfN.
Use an f film or the like. Alternatively, an alloy film containing Ti, Zr, and Hf as main components is used instead of the Ti film, the Zr film, and the Hf film. Ti, Z
Another metal layer may be provided under the r, Hf film or an alloy film containing these as a main component. As a method of forming a Ti film coated with TiN, for example, a Ti, TiN
Are formed sequentially or by reactive sputtering or the like in which Ar is used as a discharge gas in the initial stage and N 2 is switched in the middle. A laminated film of Zr and ZrN and a laminated film of Hf and HfN can be formed in the same manner. Ti, Zr, and Hf are active metals, which cause chemical reactions such as oxidation when exposed to air.However, if the surface is covered with a protective film 24 of a nitride film as in this embodiment, it can be handled in the air. Even the underlying Ti, Zr, Hf
Does not react.

【0013】続いて、ホト工程、エッチング工程により
電子放出部となる部分のゲート電極23を選択的に除去す
る。エッチングはウェットエッチングまたはドライエッ
チングを用いる。続いて、ゲート絶縁膜22をウェットエ
ッチングまたはドライエッチングで選択的に除去する
(図4(b))。
Subsequently, the gate electrode 23 in a portion to be an electron emitting portion is selectively removed by a photo step and an etching step. For the etching, wet etching or dry etching is used. Subsequently, the gate insulating film 22 is selectively removed by wet etching or dry etching (FIG. 4B).

【0014】次にゲート電極膜23の保護膜24上に斜め回
転蒸着法によりNiなどの犠牲層25を形成する(図4
(c))。続いてMoなどのエミッタ材料を回転蒸着法によ
り形成し、ゲート電極23の開口部内にエミッタコーン26
を形成する(図4(d))。最後に犠牲層25をエッチングす
ることにより不要なMo膜を除去し、電界放射冷陰極アレ
イを完成する(図4(e))。
Next, a sacrificial layer 25 of Ni or the like is formed on the protective film 24 of the gate electrode film 23 by an oblique rotation evaporation method (FIG. 4).
(c)). Subsequently, an emitter material such as Mo is formed by a rotary evaporation method, and an emitter cone 26 is formed in the opening of the gate electrode 23.
Is formed (FIG. 4D). Finally, unnecessary Mo film is removed by etching the sacrifice layer 25 to complete the field emission cold cathode array (FIG. 4 (e)).

【0015】なお、本実施例では、ゲート電極膜23のみ
有する電界放射冷陰極アレイについての実施例を示した
が、電界放射陰極アレイからの放出電子を収束するため
図5のようにゲート電極上に絶縁体28を介しフォーカス
電極27を設けている電界放射陰極アレイの場合にはフォ
ーカス電極27表面にTiNの保護膜24で被覆したTi膜ある
いはZrNの保護膜24で被覆したZr膜などを用いればよ
い。
In this embodiment, the field emission cold cathode array having only the gate electrode film 23 has been described. However, in order to converge the electrons emitted from the field emission cathode array, as shown in FIG. In the case of a field emission cathode array in which a focus electrode 27 is provided via an insulator 28, a Ti film coated with a TiN protective film 24 on the surface of the focus electrode 27 or a Zr film coated with a ZrN protective film 24 is used. I just need.

【0016】次に、図1に示し様に、上記の電界放射陰
極を用いた冷陰極アレイの基板10を別途作製した蛍光面
の面板110と、スペーサ30、枠部材116を介し、パネル周
辺部にゲッター120を配してフリットガラス115を用い封
着、排気する。ゲッター120はZr非蒸発型ゲッター等を
パネル内に配置するか、ゲッター室を設け蒸発型Baゲッ
ターを配置する。フリットガラス封着は大気中でも可能
であるが、TiN膜等の保護膜24のダメージを防止するた
め、窒素やAr等の不活性ガス中あるいは真空中で行うの
が望ましい。ガス中で封着した場合は、封着後に排気管
118を用いて加熱排気を行ってパネル内を脱ガスし、排
気管118をチップオフして封止する。真空中で封着した
場合は排気管118を用いず、封着過程で脱ガスを兼ねる
ことも可能である。
Next, as shown in FIG. 1, a cold cathode array substrate 10 using the above-mentioned field emission cathode is provided with a fluorescent surface plate 110 separately manufactured, a spacer 30, a frame member 116, and a panel peripheral portion. A getter 120 is provided, and sealing and exhaust are performed using frit glass 115. As the getter 120, a Zr non-evaporable getter or the like is disposed in the panel, or a getter chamber is provided and an evaporable Ba getter is disposed. The frit glass sealing can be performed in the air, but is preferably performed in an inert gas such as nitrogen or Ar or in a vacuum in order to prevent damage to the protective film 24 such as a TiN film. When sealing in gas, exhaust pipe after sealing
The panel is degassed by heating and exhausting using 118, and the exhaust pipe 118 is chipped off and sealed. When sealing is performed in a vacuum, the exhaust pipe 118 is not used, and degassing can be performed in the sealing process.

【0017】本実施例の電界放射陰極を用いた冷陰極ア
レイの場合、排気管118を用い加熱排気を行う際、ある
いは真空封着の際、真空中で電界放射陰極アレイが加熱
されるので、非蒸発型ゲッターと同様の機構により、ゲ
ート電極23あるいはフォーカス電極27の保護膜24を構成
するTiN、ZrN、HfNのNが下地のTi膜、Zr膜あるいはHf膜
等の内部に拡散し、図1のようにパネル内のゲート電極2
3の表面は保護膜24が除去され活性なTi膜、Zr膜、Hf膜
が露出する。この膜は表示装置内の残留ガスと反応する
ようになり、ゲッター作用を発揮する。すなわちゲッタ
ー内蔵型の冷陰極を形成することができる。本実施例で
はゲート電極23、あるいはフォーカス電極27にTi膜、Zr
膜、Hf膜を用いたが、その他電子放出部以外の表面に露
出する部分に用いてもよい。
In the case of the cold cathode array using the field emission cathode of this embodiment, the field emission cathode array is heated in a vacuum when heating and exhausting using the exhaust pipe 118 or at the time of vacuum sealing. By the same mechanism as the non-evaporable getter, the N of TiN, ZrN, and HfN constituting the protective film 24 of the gate electrode 23 or the focus electrode 27 diffuses into the underlying Ti film, Zr film, Hf film, or the like. Gate electrode 2 in panel like 1
On the surface of 3, the protective film 24 is removed, and the active Ti film, Zr film, and Hf film are exposed. This film reacts with the residual gas in the display device and exhibits a getter function. That is, a cold cathode with a built-in getter can be formed. In this embodiment, a Ti film, a Zr
Although a film and an Hf film are used, they may be used for other portions exposed on the surface other than the electron-emitting portion.

【0018】このように本発明によれば、冷陰極を用い
たフラットパネル表示装置の表示部周囲のみならず、表
示部全体にわたりゲッターを備えることができる。した
がって、従来問題であった排気コンダクタンスの低さに
起因するフラットパネル表示装置の低真空、局所的なガ
ス放出に対する排気の遅さが解消される。
As described above, according to the present invention, the getter can be provided not only around the display section of the flat panel display device using the cold cathode but also over the entire display section. Therefore, it is possible to eliminate the conventional problem of low vacuum in the flat panel display device due to low exhaust conductance and slow exhaustion due to local gas release.

【0019】実施例2 冷陰極に表面伝導型電子源を用いたSEDの場合の本発明
の実施例を図6〜8に示す。まずガラス等の絶縁性の基
板10上に表面伝導型電子源の給電パッド31となる金属電
極膜を形成する。本実施例ではこの膜にTiNの保護膜32
で被覆したTi膜、表面をZrNの保護膜32で被覆したZr
膜、あるいは表面をHfNの保護膜32で被覆したHf膜など
を用いる。あるいは、Ti、Zr、Hfの代わりにそれらを主
成分とする合金膜を用いる。TiあるいはZr膜等の下に他
の金属層を敷いても構わない。 TiNで被覆したTi膜の成
膜法としては例えば多元のスパッタ装置によりTi、TiN
を順次成膜する方法や、初期は放電ガスにArを用い、途
中でN2に切り替える反応性スパッタなどにより形成す
る。ZrとZrNの積層膜やHfとHfNの積層膜についても同様
である。 Ti、Zr、Hfは活性な金属であり、空気に触れ
ると酸化等の化学反応を起こすが、表面を例えば本実施
例のように窒化膜の保護膜32で被覆しておけば大気中で
取り扱っても下地のTi、Zr、Hfが反応することはない。
また、 TiN、 ZrN、HfNのいずれも導電性窒化物であ
り、給電パッド31の一部としても機能する。
Embodiment 2 FIGS. 6 to 8 show an embodiment of the present invention in the case of an SED using a surface conduction electron source as a cold cathode. First, a metal electrode film serving as a power supply pad 31 of a surface conduction electron source is formed on an insulating substrate 10 such as glass. In this embodiment, a TiN protective film 32 is
Ti film coated with, Zr surface coated with ZrN protective film 32
A film or an Hf film whose surface is covered with an HfN protective film 32 is used. Alternatively, instead of Ti, Zr, and Hf, an alloy film containing these as main components is used. Another metal layer may be provided under the Ti or Zr film or the like. As a method of forming a Ti film coated with TiN, for example, a Ti, TiN
Are formed sequentially or by reactive sputtering or the like in which Ar is used as a discharge gas in the initial stage and N 2 is switched in the middle. The same applies to a stacked film of Zr and ZrN or a stacked film of Hf and HfN. Ti, Zr, and Hf are active metals and cause chemical reactions such as oxidation when exposed to air.However, if the surface is covered with a protective film 32 of a nitride film as in this embodiment, it can be handled in the air. However, the underlying Ti, Zr, and Hf do not react.
Further, TiN, ZrN, and HfN are all conductive nitrides and function as a part of the power supply pad 31.

【0020】続いてホト工程、エッチング工程により金
属電極膜を正極、負極となる1組の給電パッド31の形状
に加工する(図6(a))。
Subsequently, the metal electrode film is processed into a pair of power supply pads 31 serving as a positive electrode and a negative electrode by a photo process and an etching process (FIG. 6A).

【0021】つぎに、スクリーン印刷等の手法により行
電極33、絶縁膜34、列電極35を順次形成し、行電極33お
よび列電極35をそれぞれ給電パッド31に接続する(図6
(b))。
Next, the row electrode 33, the insulating film 34, and the column electrode 35 are sequentially formed by a method such as screen printing, and the row electrode 33 and the column electrode 35 are connected to the power supply pad 31 (FIG. 6).
(b)).

【0022】続いてインクジェット法等により給電パッ
ド31の間にPdOなどの導電膜36を形成し(図6(c))、さ
らに給電パッド31間に通電することによって導電膜36中
に電子放出部を形成するフォーミング処理を行って表面
伝導型電子源を用いた冷陰極アレイ基板を完成する(図
6(d))。
Subsequently, a conductive film 36 such as PdO is formed between the power supply pads 31 by an ink-jet method or the like (FIG. 6C). Is formed to complete a cold cathode array substrate using a surface conduction electron source (FIG. 6 (d)).

【0023】次に、図7に示すように、上記の基板10を
別途作製した蛍光面の面板110と、スペーサ30と枠部材1
16を介し、表示部の周辺にゲッター120を配してフリッ
トガラス115を用いて封着、排気する。ゲッター120は非
蒸発型ゲッターをパネル内に配置するか、ゲッター室を
設け蒸発型Baゲッターを配置する。フリットガラス封着
は大気中でも可能であるが、TiN膜等の保護膜32のダメ
ージを防止するため、窒素やAr等のガス中あるいは真空
中で行うのが望ましい。ガス中で封着した場合は、排気
管118を用いて加熱排気を行って脱ガスし排気管118をチ
ップオフし、封止する。真空中で封着した場合は排気管
118を用いず、封着過程で脱ガスを兼ねることも可能で
ある。
Next, as shown in FIG. 7, a face plate 110 of a phosphor screen, on which the above-mentioned substrate 10 is separately formed, a spacer 30 and a frame member 1 are formed.
A getter 120 is arranged around the display unit via 16, sealed with frit glass 115, and evacuated. As the getter 120, a non-evaporable getter is arranged in a panel, or a getter chamber is provided and an evaporable Ba getter is arranged. Although frit glass sealing can be performed in the air, it is desirable to perform sealing in a gas such as nitrogen or Ar or in a vacuum in order to prevent damage to the protective film 32 such as a TiN film. When sealing is performed in a gas, heating and exhaust are performed using the exhaust pipe 118 to degas, and the exhaust pipe 118 is chipped off and sealed. Exhaust pipe when sealed in vacuum
Instead of using 118, it is also possible to combine degassing during the sealing process.

【0024】本実施例の表面伝導型電子源アレイを形成
した基板10を用いた場合、排気管118を用い加熱排気を
行って封止する際、あるいは真空封着の際、真空中で表
面伝導型電子源アレイが加熱されると、非蒸発型ゲッタ
ーと同様の機構により給電パッド31の保護膜32を構成す
るTiN、ZrN、HfNのNがTi膜、Zr膜、あるいはHf膜内部に
拡散し、保護膜32が除去され、給電パッド31の表面に活
性なTi膜、Zr膜、Hf膜が露出する。なお、この露出をさ
せるには、真空中で加熱処理を行えばよいので、真空に
封止後に別途加熱処理を行っても構わない。この活性な
膜は表示装置内の残留ガスと反応するようになり、ゲッ
ター作用を発揮する。すなわちゲッター内蔵型の冷陰極
を形成することができる。
When the substrate 10 on which the surface conduction electron source array of the present embodiment is formed is used, when sealing is performed by heating and exhausting using an exhaust pipe 118, or when conducting vacuum sealing, When the type electron source array is heated, N of TiN, ZrN, and HfN constituting the protective film 32 of the power supply pad 31 diffuses into the Ti film, Zr film, or Hf film by a mechanism similar to the non-evaporable getter. Then, the protective film 32 is removed, and the active Ti film, Zr film, and Hf film are exposed on the surface of the power supply pad 31. Note that heat exposure may be performed in a vacuum to make the exposure, and thus heat treatment may be separately performed after sealing in a vacuum. This active film reacts with the residual gas in the display device and exerts a getter function. That is, a cold cathode with a built-in getter can be formed.

【0025】このように本発明によれば、冷陰極を用い
たフラットパネル表示装置の表示部周囲のみならず、表
示部全体にわたりゲッターを備えることができる。した
がって、従来問題であった排気コンダクタンスの低さに
起因するフラットパネル表示装置の低真空、局所的なガ
ス放出に対する排気の遅さが解消される。
As described above, according to the present invention, the getter can be provided not only around the display section of the flat panel display device using the cold cathode but also over the entire display section. Therefore, it is possible to eliminate the conventional problem of low vacuum in the flat panel display device due to low exhaust conductance and slow exhaustion due to local gas release.

【0026】なお、本実施例では給電パッド31にTiNの
保護膜32で被覆したTi膜あるいは表面をZrNの保護膜32
で被覆したZr膜等を用いたが、図8に示すように絶縁層3
4上に形成される行または列配線のいずれかの上にTiNの
保護膜32で被覆したTi膜あるいは表面をZrNの保護膜32
で被覆したZr膜等を成膜、加工することも可能である。
あるいは他の表面に形成される金属膜にTiNの保護膜32
で被覆したTi膜あるいは表面をZrNの保護膜32で被覆し
たZr膜等を用いることも可能である。
In this embodiment, a Ti film coated on the power supply pad 31 with a TiN protective film 32 or a ZrN protective film 32
Although a Zr film or the like covered with was used, as shown in FIG.
4.A Ti film or a surface coated with a ZrN protective film 32 coated with a TiN protective film 32 on either the row or column wiring formed on
It is also possible to form and process a Zr film or the like coated with.
Alternatively, a TiN protective film 32 is formed on a metal film formed on another surface.
It is also possible to use a Ti film coated with, a Zr film whose surface is coated with a protective film 32 of ZrN, or the like.

【0027】実施例3 冷陰極に薄膜型電子源を用いた場合の本発明の実施例を
図9〜11に示す。ここではMIM型の電子源を例に説明
するがMIS型も同様の手法が応用できる。
Embodiment 3 FIGS. 9 to 11 show an embodiment of the present invention in which a thin-film electron source is used as a cold cathode. Here, an MIM type electron source will be described as an example, but a similar method can be applied to an MIS type.

【0028】まず、下部電極11用の金属膜を成膜する。
下部電極11の材料としてはAlやAl合金を用いる。ここで
は、Ndを2原子量%ドープしたAl-Nd合金を用いた。成
膜には例えば、スパッタリング法を用いる。膜厚は300
nmとした。成膜後はホト工程、エッチング工程により図
9(a)に示すようなストライプ形状の下部電極11を形成す
る。エッチングは例えば燐酸、酢酸、硝酸の混合水溶液
でのウェットエッチングを用いる。
First, a metal film for the lower electrode 11 is formed.
As a material of the lower electrode 11, Al or an Al alloy is used. Here, an Al—Nd alloy doped with 2 atomic% of Nd was used. For example, a sputtering method is used for film formation. The film thickness is 300
nm. After the film formation,
A stripe-shaped lower electrode 11 as shown in FIG. 9A is formed. For the etching, for example, wet etching with a mixed aqueous solution of phosphoric acid, acetic acid, and nitric acid is used.

【0029】次に、保護絶縁層14、絶縁層12の形成方法
を図9(b)を用いて説明する。まず下部電極11上の電子放
出部となる部分をレジスト膜でマスクし、その他の部分
を選択的に厚く陽極酸化し,保護絶縁層14とする。化成
電圧を100Vとすれば、厚さ約136 nmの保護絶縁層14が形
成される。つぎにレジスト膜を除去し残りの下部電極11
の表面を陽極酸化する。例えば化成電圧を6Vとすれば、
下部電極11上に厚さ約10nmの絶縁層12が形成される。
Next, a method for forming the protective insulating layer 14 and the insulating layer 12 will be described with reference to FIG. First, a portion serving as an electron emission portion on the lower electrode 11 is masked with a resist film, and the other portion is selectively anodized thickly to form a protective insulating layer 14. If the formation voltage is 100 V, a protective insulating layer 14 having a thickness of about 136 nm is formed. Next, the resist film is removed and the remaining lower electrode 11 is removed.
Anodize the surface of. For example, if the formation voltage is 6V,
On the lower electrode 11, an insulating layer 12 having a thickness of about 10 nm is formed.

【0030】次に図9(c)に示すように上部電極13への給
電線となる上部バス電極膜をスパッタリング法で成膜
し、加工する。ここでは多層膜を用い上部バス電極下層
15の材料としてWを、上部バス電極中間層として16の材
料としてAl-Nd合金、上部バス電極上層として17の材料
として表面をTiNの保護膜18で被覆したTi、表面をZrNの
保護膜18で被覆したZrで、あるいは表面をHfNの保護膜1
8で被覆したHfで形成した。その膜厚は、上部バス電極
下層15は後で形成する上部電極13が上部バス電極下層15
の段差で断線しないように数nm〜数10nm程度と薄くし、
上部バス電極中間層16は給電を十分にするため、数100n
m程度と厚く成膜する。加工は、ホト工程、エッチング
工程により上部バス電極の積層膜を下部電極11とは直交
する方向にストライプ状にエッチングする。エッチング
は、上部バス電極上層17のTi等 とその保護膜18のTiN等
の積層膜、上部バス電極中間層16のAl-Ndを連続してエ
ッチングする。さらに上部バス電極下層15のWを上層、
中間層より外側に延在するようにエッチングし、上部電
極13への給電パッドとする。
Next, as shown in FIG. 9C, an upper bus electrode film serving as a power supply line to the upper electrode 13 is formed by a sputtering method and processed. Here, a multilayer film is used and the lower layer of the upper bus electrode
W as a material of 15; Al-Nd alloy as a material of 16 as an upper bus electrode intermediate layer; Ti as a material of 17 as an upper layer of the upper bus electrode, the surface of which is coated with a protective film 18 of TiN; Protective film 1 coated with Zr or with HfN on the surface
Formed with Hf coated with 8. The upper bus electrode lower layer 15 is formed by forming the upper electrode 13 to be formed later.
Thin to several nm to several tens of nm to avoid disconnection due to the step
The upper bus electrode intermediate layer 16 has several hundred
The film is formed as thick as about m. In the processing, the stacked film of the upper bus electrode is etched in a stripe shape in a direction orthogonal to the lower electrode 11 by a photo process and an etching process. In the etching, a laminated film of Ti or the like of the upper layer 17 of the upper bus electrode, a laminated film of TiN or the like of the protective film 18 thereof, and Al—Nd of the intermediate layer 16 of the upper bus electrode are continuously etched. Further, W of the upper bus electrode lower layer 15 is upper layer,
Etching is performed so as to extend outside the intermediate layer to form a power supply pad to the upper electrode 13.

【0031】最後に図9(d)に示すように上部電極13のス
パッタ成膜、加工を行う。上部電極13としては例えばI
r、Pt , Auの積層膜を用い膜厚は数nmである。ここでは
3nmとした。また、上部電極13は電子放出部と上部バス
電極との給電をとる部分以外は除去する。これにより、
上部バス電極表面に表面をTiN等の保護膜18で被覆したT
i等を露出させることができる。また、上部電極13とし
てはIr、Pt , Auの積層膜の代わりにTiN、ZrN、HfNを用
いることも可能である。この場合は電子放出部以外の上
部バス電極上に上部電極13の膜を残しても、上部バス電
極表面の構造がTiNの保護膜18で被覆したTi、表面をZrN
で被覆したZr膜、表面をHfNで被覆したHf膜となる。
Finally, as shown in FIG. 9D, the upper electrode 13 is formed by sputtering and processed. As the upper electrode 13, for example, I
A laminated film of r, Pt, and Au is used and the film thickness is several nm. here
3 nm. In addition, the upper electrode 13 is removed except for a portion for supplying power to the electron emitting portion and the upper bus electrode. This allows
T coated on the upper bus electrode surface with a protective film 18 such as TiN
i and the like can be exposed. Further, as the upper electrode 13, TiN, ZrN, or HfN can be used instead of the laminated film of Ir, Pt, and Au. In this case, even if the film of the upper electrode 13 is left on the upper bus electrode other than the electron emission portion, the structure of the upper bus electrode surface is Ti coated with the TiN protective film 18, and the surface is formed of ZrN.
And a HfN film whose surface is coated with HfN.

【0032】図10に別の構造のMIM型電子源の例を示
す。この構造は、下部電極11、保護絶縁層14、絶縁層1
2、上部バス電極が電子放出部を除きパシベーション膜1
9で被覆されている。したがって、 TiNの保護膜18で被
覆したTi膜等はパシベーション膜19上に形成する。ま
た、上部電極13はその上から形成する。この場合も、
上部電極にIr、Pt , Auの積層膜を用いる場合は電子放
出部のみに上部電極13を形成する。上部電極13がTiN、Z
rN、HfNの場合には図10のように全面に形成しても構わ
ない。
FIG. 10 shows an example of a MIM type electron source having another structure. This structure consists of a lower electrode 11, a protective insulating layer 14, an insulating layer 1
2.The upper bus electrode is a passivation film except for the electron emission part.
Coated with 9. Therefore, a Ti film or the like covered with the TiN protective film 18 is formed on the passivation film 19. The upper electrode 13 is formed from above. Again,
When a laminated film of Ir, Pt, and Au is used for the upper electrode, the upper electrode 13 is formed only in the electron emission portion. Upper electrode 13 is TiN, Z
In the case of rN and HfN, they may be formed on the entire surface as shown in FIG.

【0033】次に、図11に示すように上記の薄膜型電子
源アレイを形成した基板10を別途作製した蛍光面の面板
110とスペーサ30と枠部材116を介し、表示部の周辺にゲ
ッター120を配してフリットガラス115を用いて封着、排
気する。ゲッター120は非蒸発型ゲッターをパネル内に
配置するか、ゲッター室を設け蒸発型Baゲッターを配置
する。フリットガラス封着は大気中でも可能であるが、
TiN膜等の保護膜18のダメージを防止するため、窒素やA
r等のガス中あるいは真空中で行うのが望ましい。ガス
中で封着した場合は、排気管118を用いて加熱排気を行
って脱ガスし排気管118をチップオフし封止する。真空
中で封着した場合は排気管118を用いず、封着過程で脱
ガスを兼ねることも可能である。
Next, as shown in FIG. 11, a substrate 10 on which the above-mentioned thin-film type electron source array was formed was separately prepared with a fluorescent surface plate.
A getter 120 is arranged around the display unit via the 110, the spacer 30, and the frame member 116, and sealing and exhaust are performed using frit glass 115. As the getter 120, a non-evaporable getter is disposed in a panel, or a getter chamber is provided and an evaporable Ba getter is disposed. Frit glass sealing is possible even in the atmosphere,
In order to prevent damage to the protective film 18 such as a TiN film, nitrogen or A
It is desirable to carry out in a gas such as r or in a vacuum. When sealing is performed in a gas, heating and exhaust are performed using the exhaust pipe 118 to degas, and the exhaust pipe 118 is chipped off and sealed. When sealing is performed in a vacuum, the exhaust pipe 118 is not used, and degassing can be performed in the sealing process.

【0034】本実施例の薄膜型電子源アレイ基板を用い
た場合、排気管118を用い加熱排気を行う際、あるいは
真空封着の際、真空中で薄膜型電子源アレイが加熱され
ることによりTiN、ZrN等のNがTi膜、あるいはZr膜等の
内部に拡散し、保護膜18が除去されて活性なTi膜、Zr膜
等が露出する。この膜は表示装置内の残留ガスと反応す
るようになり、ゲッター作用を発揮する。
When the thin film type electron source array substrate of the present embodiment is used, when the heating and exhausting is performed using the exhaust pipe 118, or when the vacuum sealing is performed, the thin film type electron source array is heated in a vacuum. N such as TiN and ZrN diffuses into the Ti film or the Zr film and the like, and the protective film 18 is removed to expose the active Ti film and the Zr film. This film reacts with the residual gas in the display device and exhibits a getter function.

【0035】このように本発明によれば、冷陰極を用い
たフラットパネル表示装置の表示部周囲のみならず、表
示部全体にわたりゲッターを備えることができる。した
がって、従来問題であった排気コンダクタンスの低さに
起因するフラットパネル表示装置の低真空、局所的なガ
ス放出に対する排気の遅さが解消される。
As described above, according to the present invention, the getter can be provided not only around the display section of the flat panel display device using the cold cathode but also over the entire display section. Therefore, it is possible to eliminate the conventional problem of low vacuum in the flat panel display device due to low exhaust conductance and slow exhaustion due to local gas release.

【0036】実施例4 冷陰極の中には、ダイヤモンド膜やダイヤモンド状カー
ボン膜等の電子放出膜と蛍光面の間に別途メッシュ金属
等のグリット電極などを用いる場合がある。このような
冷陰極と蛍光面の間に電極を設ける場合の例について実
施例を図12に示す。
Embodiment 4 In some cold cathodes, a grit electrode of mesh metal or the like is separately used between an electron emission film such as a diamond film or a diamond-like carbon film and a phosphor screen. An example in which an electrode is provided between such a cold cathode and a phosphor screen is shown in FIG.

【0037】まず、基板10上に冷陰極のカソード電極41
を形成し、つぎにダイヤモンド膜等の電子放出膜42を形
成する。
First, a cold cathode 41 is placed on the substrate 10.
Is formed, and then an electron emission film 42 such as a diamond film is formed.

【0038】次に、基板10と別途作製した蛍光面の面板
110をTiNの保護膜で被覆したTi、表面をZrNの保護膜で
被覆したZr、あるいは表面をHfNの保護膜で被覆したHf
をコーティングしたメッシュ金属等のグリット電極43.
とスペーサ30と枠部材116を介し、表示部の周辺にゲッ
ター120を配してフリットガラス115を用いて封着、排気
する。ゲッター120は非蒸発型ゲッターをパネル内に配
置するか、ゲッター室を設け蒸発型Baゲッターを配置す
る。フリットガラス封着は大気中でも可能であるが、Ti
N膜等の保護膜のダメージを防止するため、窒素やAr等
のガス中あるいは真空中で行うのが望ましい。ガス中で
封着した場合は、排気管118を用いて加熱排気を行って
脱ガスし排気管118をチップオフし封止する。真空中で
封着した場合は排気管118を用いず、封着過程で脱ガス
を兼ねることも可能である。
Next, a face plate of a phosphor screen separately prepared from the substrate 10
Ti coated 110 with TiN protective film, Zr surface coated with ZrN protective film, or Hf coated surface with HfN protective film
Grit electrode made of mesh metal coated with 43.
A getter 120 is disposed around the display unit via the spacers 30 and the frame member 116, and sealing and exhaust are performed using frit glass 115. As the getter 120, a non-evaporable getter is disposed in a panel, or a getter chamber is provided and an evaporable Ba getter is disposed. Frit glass sealing is possible in air, but Ti
In order to prevent damage to the protective film such as the N film, it is preferable to perform the process in a gas such as nitrogen or Ar or in a vacuum. When sealing is performed in a gas, heating and exhaust are performed using the exhaust pipe 118 to degas, and the exhaust pipe 118 is chipped off and sealed. When sealing is performed in a vacuum, the exhaust pipe 118 is not used, and degassing can be performed in the sealing process.

【0039】本実施例を用いた場合、排気管118を用い
加熱排気を行う際、あるいは真空封着の際、真空中でグ
リット電極43が加熱されることによりコーティングした
TiN、ZrN、HfNのNがTi膜、Zr膜、HfN膜内部に拡散し、
保護膜が除去されて活性なTi膜、Zr膜がグリット電極43
の表面に露出する。この膜は表示装置内の残留ガスと反
応するようになり、ゲッター作用を発揮する。
In the case of using this embodiment, the coating was performed by heating the grit electrode 43 in vacuum when performing heating and exhausting using the exhaust pipe 118 or during vacuum sealing.
N of TiN, ZrN, HfN diffuses into Ti film, Zr film, HfN film,
The protective film is removed and the active Ti film and Zr film become grid electrodes 43.
Exposed on the surface. This film reacts with the residual gas in the display device and exhibits a getter function.

【0040】このように本発明によれば、冷陰極を用い
たフラットパネル表示装置の表示部周囲のみならず、表
示部全体にわたりゲッターを備えることができる。した
がって、従来問題であった排気コンダクタンスの低さに
起因するフラットパネル表示装置の低真空、局所的なガ
ス放出に対する排気の遅さが解消される。
As described above, according to the present invention, the getter can be provided not only around the display section of the flat panel display device using the cold cathode but also over the entire display section. Therefore, it is possible to eliminate the conventional problem of low vacuum in the flat panel display device due to low exhaust conductance and slow exhaustion due to local gas release.

【0041】[0041]

【発明の効果】本発明によれば、ゲッターを冷陰極アレ
イ基板内、あるいはグリット電極等に内蔵するフラット
パネル表示装置を作成できる。そのため、フラットパネ
ル表示装置の低真空、局所的なガス放出に対する排気の
遅さが解消される。したがって、放電や冷陰極アレイの
表面汚染等の劣化が起きない信頼性の高いフラットパネ
ル表示装置を作成できる。
According to the present invention, a flat panel display device in which a getter is built in a cold cathode array substrate or in a grid electrode or the like can be manufactured. For this reason, the delay in evacuation due to low vacuum and local gas release of the flat panel display device is eliminated. Therefore, a highly reliable flat panel display device free from deterioration such as discharge and cold cathode array surface contamination can be produced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電界放射冷陰極アレイを用いたフラッ
トパネル表示装置の構造を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a structure of a flat panel display device using a field emission cold cathode array of the present invention.

【図2】従来のフラットパネル表示装置の構造を示す図
である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a structure of a conventional flat panel display device.

【図3】従来のフラットパネル表示装置の構造を示す図
である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a structure of a conventional flat panel display device.

【図4】本発明の電界放射冷陰極アレイの構造と製法を
示す図である。
FIG. 4 is a view showing the structure and manufacturing method of the field emission cold cathode array of the present invention.

【図5】本発明の電界放射冷陰極アレイの別の構造を示
す図である。
FIG. 5 is a diagram showing another structure of the field emission cold cathode array of the present invention.

【図6】本発明の表面伝導型電子源アレイの構造と製法
を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing the structure and manufacturing method of the surface conduction electron source array of the present invention.

【図7】本発明の表面伝導型電子源アレイを用いたフラ
ットパネル表示装置の構造を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a structure of a flat panel display device using the surface conduction electron source array of the present invention.

【図8】本発明の表面伝導型電子源アレイの別の構造を
示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing another structure of the surface conduction electron source array of the present invention.

【図9】本発明の薄膜型電子源の構造、製法を示す図で
ある。
FIG. 9 is a view showing a structure and a manufacturing method of a thin film type electron source of the present invention.

【図10】本発明の薄膜型電子源の別の構造を示す図で
ある。
FIG. 10 is a diagram showing another structure of the thin-film electron source of the present invention.

【図11】本発明の薄膜型電子源アレイを用いたフラッ
トパネル表示装置の構造を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a structure of a flat panel display device using the thin-film type electron source array of the present invention.

【図12】本発明の冷陰極と蛍光面の間に電極を挟むフ
ラットパネル表示装置の構造を示す図である。
FIG. 12 is a view showing a structure of a flat panel display device of the present invention in which an electrode is interposed between a cold cathode and a phosphor screen.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10・・・基板,11・・・下部電極,12・・・絶縁層,13
・・・上部電極,14・・・保護絶縁層,15・・・上部バ
ス電極下層,16・・・上部バス電極中間層,17・・・上
部バス電極上層、18・・・保護膜、19・・・パシベーシ
ョン膜、21・・・カソード電極、22・・・ゲート絶縁
層、23・・・ゲート電極、24・・・保護層、25・・・犠
牲層、26・・・エミッタコーン、27・・・フォーカス電
極、28・・・絶縁膜、30・・・スペーサ,31・・・給電
パッド,32・・・保護膜,33・・・行電極, 34・・・
絶縁膜,35・・・列電極,36・・・導電膜,41・・・カ
ソード電極,42・・・電子放出膜,43・・・グリット電
極、110・・・面板, 115・・・フリットガラス、116・
・・枠部材、118・・・排気管、120・・・ゲッター。
10 ... substrate, 11 ... lower electrode, 12 ... insulating layer, 13
... upper electrode, 14 ... protective insulating layer, 15 ... upper bus electrode lower layer, 16 ... upper bus electrode intermediate layer, 17 ... upper bus electrode upper layer, 18 ... protective film, 19 ... passivation film, 21 ... cathode electrode, 22 ... gate insulating layer, 23 ... gate electrode, 24 ... protective layer, 25 ... sacrificial layer, 26 ... emitter cone, 27 ... focus electrode, 28 ... insulating film, 30 ... spacer, 31 ... power supply pad, 32 ... protective film, 33 ... row electrode, 34 ...
Insulating film, 35 column electrode, 36 conductive film, 41 cathode electrode, 42 electron emission film, 43 grid electrode, 110 face plate, 115 frit Glass, 116
..Frame members, 118 ... exhaust pipes, 120 ... getters.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐川 雅一 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 Fターム(参考) 5C012 AA05 5C032 AA01 JJ08 5C036 EE01 EE14 EE19 EG11 EG50 EH02  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing from the front page (72) Masakazu Sagawa 7-1-1, Omika-cho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture F-term in Hitachi Research Laboratory, Hitachi Ltd. 5C012 AA05 5C032 AA01 JJ08 5C036 EE01 EE14 EE19 EG11 EG50 EH02

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】冷陰極と蛍光面を組み合わせたフラットパ
ネル表示装置に於いて、上記冷陰極の電子放出部以外の
表面の少なくとも一部に、TiまたはZrおよびHfからなる
群の中から選ればれた少なくとも1種またはそれを主成
分とする合金の膜が形成されていることを特徴とするフ
ラットパネル表示装置。
In a flat panel display device comprising a combination of a cold cathode and a fluorescent screen, at least a part of the surface of the cold cathode other than the electron emission portion is selected from the group consisting of Ti or Zr and Hf. A flat panel display device, wherein a film of at least one kind or an alloy containing the same as a main component is formed.
【請求項2】上記冷陰極は、電界放射陰極アレイ、金属
―絶縁体―金属型電子源、金属―絶縁体―半導体型電子
源および表面伝導型電子源からなる群の中から選ばれた
1種であることを特徴とするフラットパネル表示装置。
2. The cold cathode is selected from the group consisting of a field emission cathode array, a metal-insulator-metal electron source, a metal-insulator-semiconductor electron source and a surface conduction electron source. A flat panel display device, which is a seed.
【請求項3】冷陰極と蛍光面を組み合わせたフラットパ
ネル表示装置において、上記冷陰極と上記蛍光面の間に
電極が設けられており、該電極の表面の少なくとも一部
にTi、ZrおよびHfからなる群の中から選ばれた少なくと
も1種またはそれを主成分とする合金の膜が形成されて
いることを特徴とするフラットパネル表示装置。
3. A flat panel display device comprising a combination of a cold cathode and a fluorescent screen, wherein an electrode is provided between the cold cathode and the fluorescent screen, and Ti, Zr and Hf are formed on at least a part of the surface of the electrode. Wherein a film of at least one selected from the group consisting of or an alloy containing the same as a main component is formed.
【請求項4】冷陰極の電子放出部以外の表面の少なくと
も一部に、Ti、ZrおよびHfからなる群の中から選ばれた
少なくとも1種またはそれを主成分とする合金の膜を形
成するフラットパネル表示装置の製造方法において、上
記膜の形成後に、上記膜上に窒化膜を被覆する工程と、
上記冷陰極を形成した基板と蛍光面を形成した基板を貼
り合わせ真空に封じるパネル封止工程中またはこの工程
より後に、上記窒化膜を加熱し上記膜表面を露出する工
程を有することを特徴とするフラットパネル表示装置の
製造方法。
4. A film of at least one selected from the group consisting of Ti, Zr and Hf or an alloy containing the same as a main component is formed on at least a part of the surface of the cold cathode other than the electron emission portion. In the method for manufacturing a flat panel display device, after forming the film, a step of coating the film with a nitride film;
During or after the panel sealing step in which the substrate on which the cold cathode is formed and the substrate on which the fluorescent screen is formed are bonded and sealed in vacuum, a step of heating the nitride film and exposing the film surface is provided. Of manufacturing flat panel display device.
【請求項5】冷陰極と蛍光面の間に設ける電極の表面の
少なくとも一部に、Ti、ZrおよびHfからなる群の中から
選ばれた少なくとも1種またはそれを主成分とする合金
の膜を形成するフラットパネル表示装置の製造方法にお
いて、上記膜の形成後に、上記膜上に窒化膜を被覆する
工程と、上記冷陰極を形成した基板と蛍光面を形成した
基板を貼り合わせ真空に封じるパネル封止工程中または
この工程より後に、上記窒化膜を加熱し上記膜表面を露
出する工程を有することを特徴とするフラットパネル表
示装置の製造方法。
5. A film of at least one selected from the group consisting of Ti, Zr and Hf or an alloy containing the same as a main component, on at least a part of the surface of the electrode provided between the cold cathode and the phosphor screen. In the method for manufacturing a flat panel display device, a step of coating a nitride film on the film after the formation of the film, and bonding the substrate on which the cold cathode is formed and the substrate on which the fluorescent screen is formed and sealing the vacuum. A method for manufacturing a flat panel display device, comprising a step of heating the nitride film and exposing the film surface during or after the panel sealing step.
JP27812899A 1999-09-30 1999-09-30 Display device Expired - Fee Related JP3601374B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27812899A JP3601374B2 (en) 1999-09-30 1999-09-30 Display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27812899A JP3601374B2 (en) 1999-09-30 1999-09-30 Display device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001101986A true JP2001101986A (en) 2001-04-13
JP3601374B2 JP3601374B2 (en) 2004-12-15

Family

ID=17593003

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27812899A Expired - Fee Related JP3601374B2 (en) 1999-09-30 1999-09-30 Display device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3601374B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001210225A (en) * 1999-11-12 2001-08-03 Sony Corp Getter, flat display and method for manufacturing the flat display
JP2006294318A (en) * 2005-04-07 2006-10-26 Sony Corp Flat-panel display device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001210225A (en) * 1999-11-12 2001-08-03 Sony Corp Getter, flat display and method for manufacturing the flat display
JP2006294318A (en) * 2005-04-07 2006-10-26 Sony Corp Flat-panel display device

Also Published As

Publication number Publication date
JP3601374B2 (en) 2004-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5663608A (en) Field emission display devices, and field emisssion electron beam source and isolation structure components therefor
US6741026B2 (en) Field emission display including carbon nanotube film and method for fabricating the same
US5578900A (en) Built in ion pump for field emission display
JPH08171877A (en) Anode plate for flat panel display with accumulated getter
US5684356A (en) Hydrogen-rich, low dielectric constant gate insulator for field emission device
JP2987140B2 (en) Field emission electron source, method of manufacturing the same, flat light emitting device, display device, and solid-state vacuum device
JPH08250050A (en) Field emission type display element
JP3057081B2 (en) Method for manufacturing airtight container and method for manufacturing image forming apparatus using airtight container
JP3829482B2 (en) Vacuum container for field emission device
JP3465705B2 (en) Method of manufacturing cold cathode field emission device and method of manufacturing cold cathode field emission display
JP2001101986A (en) Flat panel display device and manufacturing method therefor
JP3285703B2 (en) Image forming device
JP2001143608A (en) Method of forming carbon thin film, method of fabricating cold cathode field emission element, and method of manufacturing image display using it
US20110234091A1 (en) Non-evaporable getter for field-emission display
JP3217579B2 (en) Display device
JP2992901B2 (en) Method of manufacturing image display device
JP2003197134A (en) Image display device, and method for manufacturing the same
JP2002100311A (en) Picture display device and its manufacturing method
JP3402780B2 (en) Image display device
JP2606406Y2 (en) Vacuum sealing device and display device
JP3598267B2 (en) Image display device
JP2001035357A (en) Thin-film type electron source and manufacture therefor and thin-film type electron source applied apparatus
JP4831009B2 (en) Focused field emission cathode and field emission display
JP2003249162A (en) Cold cathode field electron emission element and method for manufacturing the same, and cold cathode field electron emission display device
JP2002313214A (en) Electron emitting device and cathode ray tube

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040531

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040608

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040806

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040831

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040913

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees