JP2001083197A - マイクロ波放射計 - Google Patents
マイクロ波放射計Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 低温校正用反射鏡及び高温校正源によるビー
ムのブロッキングの影響をなくし、広い観測幅を実現す
るマイクロ波放射計を提供する。 【解決手段】 低温校正用反射鏡及び高温校正源を回転
駆動するための駆動装置を付加することにより、一次放
射器の走査軌道上に低温用反射鏡と高温校正源を一次放
射器の走査円上に同時に配置する必要がなくなり、観測
時のビームのブロッキングを防止できる。
ムのブロッキングの影響をなくし、広い観測幅を実現す
るマイクロ波放射計を提供する。 【解決手段】 低温校正用反射鏡及び高温校正源を回転
駆動するための駆動装置を付加することにより、一次放
射器の走査軌道上に低温用反射鏡と高温校正源を一次放
射器の走査円上に同時に配置する必要がなくなり、観測
時のビームのブロッキングを防止できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、衛星に搭載して
地球表面の観測を行うマイクロ波放射計に関するもので
ある。
地球表面の観測を行うマイクロ波放射計に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】図１１は、例えば特開平１０−１６０７
７４号公報に記載された、衛星に搭載して地球表面を観
測する従来のマイクロ波放射計を示す図であり、図にお
いて１はマイクロ波放射計、２は観測用反射鏡、３は低
温校正用反射鏡、４は高温校正源、６は受信機、７は回
転機構、９は地球、１０は低温校正時の校正源となる宇
宙背景放射を放射する深宇宙、１４はモーメンタムホイ
ールである。図１２は低温校正時の信号の流れを示す図
である。図１３は高温校正時の信号の流れを示す図であ
る。図１４は、観測、低温校正、高温校正のタイミング
例を示す図である。
７４号公報に記載された、衛星に搭載して地球表面を観
測する従来のマイクロ波放射計を示す図であり、図にお
いて１はマイクロ波放射計、２は観測用反射鏡、３は低
温校正用反射鏡、４は高温校正源、６は受信機、７は回
転機構、９は地球、１０は低温校正時の校正源となる宇
宙背景放射を放射する深宇宙、１４はモーメンタムホイ
ールである。図１２は低温校正時の信号の流れを示す図
である。図１３は高温校正時の信号の流れを示す図であ
る。図１４は、観測、低温校正、高温校正のタイミング
例を示す図である。
【０００３】次に動作について、図１１から図１４を用
いて説明する。地球表面９の観測対象を走査するために
マイクロ波放射計１は、観測用反射鏡２、一次放射器
５、受信機６を回転機構７により回転させている。外部
熱環境等により受信機６の利得が変動するため、一定周
期毎に低温校正源と高温校正源を観測し、マイクロ波放
射系の入出力を校正する必要がある。ここで、従来は、
低温校正源である深宇宙１０からの宇宙背景放射を反射
するための低温校正用反射鏡３及びヒータにより温度制
御された電波吸収体である高温校正源４を回転機構７の
非回転部分に固定し、一次放射器が校正源の位置を通過
する際に校正信号を受信していた。観測時の信号の流れ
を図１１を用いて説明する。観測時には、地球９から放
射された電波は観測用反射鏡２、一次放射器５を介して
受信機６で受信される。低温校正時の信号の流れを図１
２を用いて説明する。低温校正時には、深宇宙１０から
の背景放射は低温校正用反射鏡３で反射し、一次放射器
５を介して受信機６で受信される。高温校正時の信号の
流れを図１３を用いて説明する。高温校正時には、高温
校正源４からの電波は一次放射器５を介して、受信機６
で受信される。図１４に観測、低温校正、高温校正のタ
イミング例を示す。低温校正用反射鏡３及び高温校正源
４は、機械的に一次放射器５の走査軌道上に設置してあ
り、一次放射器５が低温校正用反射鏡３の下を通過する
際、低温校正信号の取得を行い、高温校正源４の下を通
過する際、高温校正信号の取得を行う。また、回転機構
７により回転させる際、角運動量が発生するため、モー
メンタムホイール１４を回転させることによりキャンセ
ルしていた。
いて説明する。地球表面９の観測対象を走査するために
マイクロ波放射計１は、観測用反射鏡２、一次放射器
５、受信機６を回転機構７により回転させている。外部
熱環境等により受信機６の利得が変動するため、一定周
期毎に低温校正源と高温校正源を観測し、マイクロ波放
射系の入出力を校正する必要がある。ここで、従来は、
低温校正源である深宇宙１０からの宇宙背景放射を反射
するための低温校正用反射鏡３及びヒータにより温度制
御された電波吸収体である高温校正源４を回転機構７の
非回転部分に固定し、一次放射器が校正源の位置を通過
する際に校正信号を受信していた。観測時の信号の流れ
を図１１を用いて説明する。観測時には、地球９から放
射された電波は観測用反射鏡２、一次放射器５を介して
受信機６で受信される。低温校正時の信号の流れを図１
２を用いて説明する。低温校正時には、深宇宙１０から
の背景放射は低温校正用反射鏡３で反射し、一次放射器
５を介して受信機６で受信される。高温校正時の信号の
流れを図１３を用いて説明する。高温校正時には、高温
校正源４からの電波は一次放射器５を介して、受信機６
で受信される。図１４に観測、低温校正、高温校正のタ
イミング例を示す。低温校正用反射鏡３及び高温校正源
４は、機械的に一次放射器５の走査軌道上に設置してあ
り、一次放射器５が低温校正用反射鏡３の下を通過する
際、低温校正信号の取得を行い、高温校正源４の下を通
過する際、高温校正信号の取得を行う。また、回転機構
７により回転させる際、角運動量が発生するため、モー
メンタムホイール１４を回転させることによりキャンセ
ルしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来のマイクロ波放射
計では、低温校正用反射鏡３や高温校正源４が回転機構
７の非回転部分に固定され、一回転周期中にそれらを観
測する必要があった。このため、低温校正用反射鏡３や
高温校正源４による一次放射器５や観測用反射鏡２から
のビームのブロッキングにより地球表面が観測できる観
測幅が制限されていた。
計では、低温校正用反射鏡３や高温校正源４が回転機構
７の非回転部分に固定され、一回転周期中にそれらを観
測する必要があった。このため、低温校正用反射鏡３や
高温校正源４による一次放射器５や観測用反射鏡２から
のビームのブロッキングにより地球表面が観測できる観
測幅が制限されていた。
【０００５】また、校正源によるビームのブロッキング
により、複数の高温校正源を配することが出来ず、観測
信号に対する精度の高い入出力曲線が得られず、校正精
度が制限されるという問題があった。
により、複数の高温校正源を配することが出来ず、観測
信号に対する精度の高い入出力曲線が得られず、校正精
度が制限されるという問題があった。
【０００６】また、回転機構による回転により発生する
角運動量を補正するためのモーメンタムホイール１４を
別途用意する必要があった。
角運動量を補正するためのモーメンタムホイール１４を
別途用意する必要があった。
【０００７】この発明は、上記課題を改善するためにな
されたものであり、低温校正用反射鏡及び高温校正源を
回転駆動する回転機構を付加することにより、広い観測
幅の実現を可能とするマイクロ波放射計を提供するもの
である。
されたものであり、低温校正用反射鏡及び高温校正源を
回転駆動する回転機構を付加することにより、広い観測
幅の実現を可能とするマイクロ波放射計を提供するもの
である。
【０００８】
【課題を解決するための手段】第１の発明のマイクロ放
射計は、地球表面からのマイクロ波雑音電波を反射する
ための観測用反射鏡と、上記観測用反射鏡により反射さ
れた電波を受信するための一次放射器と、一次放射器か
らの受信信号を取得するための受信機と、上記観測用反
射鏡、一次放射器、受信機を回転駆動するための第１の
回転機構と、宇宙放射からの低温校正用電波を反射する
低温校正用反射鏡と、高温校正源と、低温校正用反射鏡
と高温校正源を回転駆動し、低温校正時には低温校正用
反射鏡が一次放射器の上に位置し、高温校正時には、高
温校正源が一次放射器の上に位置するように回転させる
第２の回転機構とを具備したものである。
射計は、地球表面からのマイクロ波雑音電波を反射する
ための観測用反射鏡と、上記観測用反射鏡により反射さ
れた電波を受信するための一次放射器と、一次放射器か
らの受信信号を取得するための受信機と、上記観測用反
射鏡、一次放射器、受信機を回転駆動するための第１の
回転機構と、宇宙放射からの低温校正用電波を反射する
低温校正用反射鏡と、高温校正源と、低温校正用反射鏡
と高温校正源を回転駆動し、低温校正時には低温校正用
反射鏡が一次放射器の上に位置し、高温校正時には、高
温校正源が一次放射器の上に位置するように回転させる
第２の回転機構とを具備したものである。
【０００９】第２の発明のマイクロ放射計は、上記高温
校正源を温度の異なる複数の校正源で構成したものであ
る。
校正源を温度の異なる複数の校正源で構成したものであ
る。
【００１０】第３の発明のマイクロ放射計は、上記第２
の回転機構の非回転部分に設けられ、上記低温校正用反
射鏡及び高温校正源からの電波を上記一次放射器へ入力
させる第３の反射鏡を備えたものである。
の回転機構の非回転部分に設けられ、上記低温校正用反
射鏡及び高温校正源からの電波を上記一次放射器へ入力
させる第３の反射鏡を備えたものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】実施の形態１．図１は、この発明
の実施の形態１によるマイクロ波放射計の構成を示す図
であり、図において１はマイクロ波放射計、２は観測用
反射鏡、３は低温校正用反射鏡、４は高温校正源、５は
一次放射器、６は受信機、７は回転機構、８は校正源用
回転機構、９は地球、１０は深宇宙である。また、図２
はこの発明のマイクロ波放射計の観測時の信号の流れを
示す図である。図３はこの発明のマイクロ波放射計の低
温校正時の信号の流れを示す図である。図４はこの発明
のマイクロ波放射計の高温校正時の信号の流れを示す図
である。図５はこの発明のマイクロ波放射計の観測時の
タイミング例を示す図である。図６はこの発明のマイク
ロ波放射計の低温校正時のタイミング例を示す図であ
る。図７はこの発明のマイクロ波放射計の高温校正時の
タイミング例を示す図である。
の実施の形態１によるマイクロ波放射計の構成を示す図
であり、図において１はマイクロ波放射計、２は観測用
反射鏡、３は低温校正用反射鏡、４は高温校正源、５は
一次放射器、６は受信機、７は回転機構、８は校正源用
回転機構、９は地球、１０は深宇宙である。また、図２
はこの発明のマイクロ波放射計の観測時の信号の流れを
示す図である。図３はこの発明のマイクロ波放射計の低
温校正時の信号の流れを示す図である。図４はこの発明
のマイクロ波放射計の高温校正時の信号の流れを示す図
である。図５はこの発明のマイクロ波放射計の観測時の
タイミング例を示す図である。図６はこの発明のマイク
ロ波放射計の低温校正時のタイミング例を示す図であ
る。図７はこの発明のマイクロ波放射計の高温校正時の
タイミング例を示す図である。
【００１２】次に動作について、図１から図７を用いて
説明する。回転機構７により観測用反射鏡２、一次放射
器５、受信機６は回転し、校正源用回転機構８により低
温校正用反射鏡３、高温校正源４は回転する。この際、
校正用回転機構８は、回転機構７とは逆回転に回転さ
せ、その回転速度は、低温校正用反射鏡３と高温校正源
４が交互に一次放射器５の回転と同期するようにする。
まず、観測時の信号の流れを図２を用いて説明する。観
測時には、地球９から放射されるマイクロ波雑音電波は
観測用反射鏡２で反射され一次放射器５を介して受信機
６で受信される。
説明する。回転機構７により観測用反射鏡２、一次放射
器５、受信機６は回転し、校正源用回転機構８により低
温校正用反射鏡３、高温校正源４は回転する。この際、
校正用回転機構８は、回転機構７とは逆回転に回転さ
せ、その回転速度は、低温校正用反射鏡３と高温校正源
４が交互に一次放射器５の回転と同期するようにする。
まず、観測時の信号の流れを図２を用いて説明する。観
測時には、地球９から放射されるマイクロ波雑音電波は
観測用反射鏡２で反射され一次放射器５を介して受信機
６で受信される。
【００１３】低温校正時の信号の流れを図３を用いて説
明する。低温校正は、回転機構７、校正源用回転機構８
の回転により一次放射器５が低温校正用反射鏡３の位置
に来た時に行い、深宇宙１０からの背景放射は低温校正
用反射鏡３で反射され一次放射器５を介して受信機６で
受信される。
明する。低温校正は、回転機構７、校正源用回転機構８
の回転により一次放射器５が低温校正用反射鏡３の位置
に来た時に行い、深宇宙１０からの背景放射は低温校正
用反射鏡３で反射され一次放射器５を介して受信機６で
受信される。
【００１４】高温校正時の信号の流れを図４を用いて説
明する。高温校正は、回転機構７、校正源用回転機構８
の回転により一次放射器が高温校正源４の位置に来た時
に行い、高温校正源５からの電波は一次放射器５を介し
て受信機６で受信される。
明する。高温校正は、回転機構７、校正源用回転機構８
の回転により一次放射器が高温校正源４の位置に来た時
に行い、高温校正源５からの電波は一次放射器５を介し
て受信機６で受信される。
【００１５】図５から図７を用いて、観測、低温校正、
高温校正のタイミングを説明する。図５に観測時の一次
放射器５、低温校正用反射鏡３、高温校正源４のタイミ
ングを示す。観測は、校正源用回転機構８により低温校
正用反射鏡３及び高温校正源４が、一次放射器５による
一次放射器の走査軌道１１から外れる位置で観測信号の
受信を行う。
高温校正のタイミングを説明する。図５に観測時の一次
放射器５、低温校正用反射鏡３、高温校正源４のタイミ
ングを示す。観測は、校正源用回転機構８により低温校
正用反射鏡３及び高温校正源４が、一次放射器５による
一次放射器の走査軌道１１から外れる位置で観測信号の
受信を行う。
【００１６】図６に低温校正時の一次放射器５、低温校
正用反射鏡３及び高温校正源４のタイミングを示す。低
温校正時には、回転機構７、校正源用回転機構８により
低温校正用反射鏡３と一次放射器５が、それぞれの走査
軌道である一次放射器の走査軌道１１と校正源の走査軌
道１２において交差する際に、校正信号を受信する。
正用反射鏡３及び高温校正源４のタイミングを示す。低
温校正時には、回転機構７、校正源用回転機構８により
低温校正用反射鏡３と一次放射器５が、それぞれの走査
軌道である一次放射器の走査軌道１１と校正源の走査軌
道１２において交差する際に、校正信号を受信する。
【００１７】図７に高温校正時の一次放射器５、低温校
正用反射鏡３及び高温校正源４のタイミングを示す。高
温校正時には、回転機構７、校正源用回転機構８により
高温校正源４と一次放射器５が、それぞれの走査軌道で
ある一次放射器の走査軌道１１と校正源の走査軌道１２
において交差する際に、校正信号を受信する。
正用反射鏡３及び高温校正源４のタイミングを示す。高
温校正時には、回転機構７、校正源用回転機構８により
高温校正源４と一次放射器５が、それぞれの走査軌道で
ある一次放射器の走査軌道１１と校正源の走査軌道１２
において交差する際に、校正信号を受信する。
【００１８】実施の形態２．図８は、この発明の実施の
形態２によるマイクロ波放射計の構成を示す図であり、
図において１はマイクロ波放射計、２は観測用反射鏡、
３は低温校正用反射鏡、４a、４bは温度の異なる高温校
正源、５は一次放射器、６は受信機、７は回転機構、８
は校正源用回転機構、９は地球、１０は深宇宙である。
また、図９はこの発明のマイクロ波放射計の観測、低温
校正、高温校正のタイミングを示す図である。
形態２によるマイクロ波放射計の構成を示す図であり、
図において１はマイクロ波放射計、２は観測用反射鏡、
３は低温校正用反射鏡、４a、４bは温度の異なる高温校
正源、５は一次放射器、６は受信機、７は回転機構、８
は校正源用回転機構、９は地球、１０は深宇宙である。
また、図９はこの発明のマイクロ波放射計の観測、低温
校正、高温校正のタイミングを示す図である。
【００１９】次に動作について説明する。回転機構７に
より観測用反射鏡２、一次放射器５、受信機６は回転
し、校正源用回転機構８により低温校正用反射鏡３、高
温校正源４a、４bは回転する。この際、校正用回転機構
８は、回転機構７とは逆回転に回転させ、その回転速度
は、低温校正用反射鏡３と高温校正源４a、４bが交互に
一次放射器５の回転と同期するようにする。
より観測用反射鏡２、一次放射器５、受信機６は回転
し、校正源用回転機構８により低温校正用反射鏡３、高
温校正源４a、４bは回転する。この際、校正用回転機構
８は、回転機構７とは逆回転に回転させ、その回転速度
は、低温校正用反射鏡３と高温校正源４a、４bが交互に
一次放射器５の回転と同期するようにする。
【００２０】観測時には、地球からの放射は観測用反射
鏡２により反射され、一次放射器５を介して受信機６で
受信される。低温校正時は、回転機構７、校正源用回転
機構８の回転により低温校正用反射鏡３、一次放射器５
が同じ位置に来たときに深宇宙１０からの宇宙背景放射
を低温校正用反射鏡３で反射し一次放射器５を介して受
信機６により受信する。高温校正は、高温校正源４a、
高温校正源４bを用いて行われ、高温校正源４aと一次放
射器５が同じ位置に来たとき高温校正源４aからの高温
校正電波を一次放射器を介して受信機６で受信し、高温
校正源４bと一次放射器５が同じ位置に来たとき高温校
正源４bからの高温校正電波を一次放射器を介して受信
機６で受信する。
鏡２により反射され、一次放射器５を介して受信機６で
受信される。低温校正時は、回転機構７、校正源用回転
機構８の回転により低温校正用反射鏡３、一次放射器５
が同じ位置に来たときに深宇宙１０からの宇宙背景放射
を低温校正用反射鏡３で反射し一次放射器５を介して受
信機６により受信する。高温校正は、高温校正源４a、
高温校正源４bを用いて行われ、高温校正源４aと一次放
射器５が同じ位置に来たとき高温校正源４aからの高温
校正電波を一次放射器を介して受信機６で受信し、高温
校正源４bと一次放射器５が同じ位置に来たとき高温校
正源４bからの高温校正電波を一次放射器を介して受信
機６で受信する。
【００２１】実施の形態３．図１０は、この発明の実施
の形態３によるマイクロ波放射計の構成を示す図であ
り、図において１はマイクロ波放射計、２は観測用反射
鏡、３は低温校正用反射鏡、４a、４bは高温校正源、５
は一次放射器、６は受信機、７は回転機構、８は校正源
用転機構、９は地球、１０は深宇宙、１３は反射鏡であ
る。
の形態３によるマイクロ波放射計の構成を示す図であ
り、図において１はマイクロ波放射計、２は観測用反射
鏡、３は低温校正用反射鏡、４a、４bは高温校正源、５
は一次放射器、６は受信機、７は回転機構、８は校正源
用転機構、９は地球、１０は深宇宙、１３は反射鏡であ
る。
【００２２】次に動作について説明する。回転機構７に
より観測用反射鏡２、一次放射器５、受信機６は回転す
る。反射鏡１３は回転機構７の非回転部分に取り付けら
れる。また、校正源用回転機構８により低温校正用反射
鏡３、高温校正源４は回転する。観測時には、地球から
の放射は観測用反射鏡２により反射され、一次放射器５
を介して受信機６で受信される。低温校正時には、回転
機構７により一次放射器が反射鏡１３の下に、校正源用
回転機構８により低温校正用反射鏡３と反射鏡１０が正
対する位置に来た際に、深宇宙１０からの宇宙背景放射
は低温校正用反射鏡３、反射鏡１３で反射され一次放射
器５を介して受信機６で受信される。高温校正時には、
回転機構７により一次放射器が反射鏡１３の下に、校正
源用回転機構８により高温校正源４と反射鏡１３が正対
する位置に来た際に、高温校正源４からの電波は反射鏡
１３、一次放射器５を介して受信機６で受信される。
より観測用反射鏡２、一次放射器５、受信機６は回転す
る。反射鏡１３は回転機構７の非回転部分に取り付けら
れる。また、校正源用回転機構８により低温校正用反射
鏡３、高温校正源４は回転する。観測時には、地球から
の放射は観測用反射鏡２により反射され、一次放射器５
を介して受信機６で受信される。低温校正時には、回転
機構７により一次放射器が反射鏡１３の下に、校正源用
回転機構８により低温校正用反射鏡３と反射鏡１０が正
対する位置に来た際に、深宇宙１０からの宇宙背景放射
は低温校正用反射鏡３、反射鏡１３で反射され一次放射
器５を介して受信機６で受信される。高温校正時には、
回転機構７により一次放射器が反射鏡１３の下に、校正
源用回転機構８により高温校正源４と反射鏡１３が正対
する位置に来た際に、高温校正源４からの電波は反射鏡
１３、一次放射器５を介して受信機６で受信される。
【００２３】
【発明の効果】第１の発明によれば、低温校正用反射鏡
及び高温校正源を回転するための校正源用回転機構を持
つことにより、一次放射器の走査軌道上に低温校正用反
射鏡と高温校正源の両方を配置する必要がなくなるた
め、観測時のビームのブロッキングを防ぐことができ、
広い観測幅を実現することが出来る。また、低温校正用
反射鏡及び高温校正源の回転により、観測用反射鏡、一
次放射器、受信機を回転することにより発生する角運動
量をキャンセルすることが出来る。
及び高温校正源を回転するための校正源用回転機構を持
つことにより、一次放射器の走査軌道上に低温校正用反
射鏡と高温校正源の両方を配置する必要がなくなるた
め、観測時のビームのブロッキングを防ぐことができ、
広い観測幅を実現することが出来る。また、低温校正用
反射鏡及び高温校正源の回転により、観測用反射鏡、一
次放射器、受信機を回転することにより発生する角運動
量をキャンセルすることが出来る。
【００２４】第２の発明によれば、上記効果に加え、温
度の異なる高温校正源を配することにより、精度の高い
校正が実現することが出来る。
度の異なる高温校正源を配することにより、精度の高い
校正が実現することが出来る。
【００２５】第３の発明によれば、上記効果に加え、反
射鏡を付加することにより、一次放射器の回転軌道と低
温校正用反射鏡及び高温校正源の回転軌道が交差する必
要が無くなり、観測用反射鏡、一次放射器、受信機を回
転するための回転機構と、低温校正用反射鏡、高温校正
源を回転する校正源用回転機構の配置に対する自由度が
増すとともに、校正源用回転機構の回転中心から低温校
正用反射鏡、高温校正源の取付距離を短くすることが出
来、小型、軽量化が可能となる。
射鏡を付加することにより、一次放射器の回転軌道と低
温校正用反射鏡及び高温校正源の回転軌道が交差する必
要が無くなり、観測用反射鏡、一次放射器、受信機を回
転するための回転機構と、低温校正用反射鏡、高温校正
源を回転する校正源用回転機構の配置に対する自由度が
増すとともに、校正源用回転機構の回転中心から低温校
正用反射鏡、高温校正源の取付距離を短くすることが出
来、小型、軽量化が可能となる。
【図１】 この発明の実施の形態１を示すマイクロ波放
射計である。
射計である。
【図２】 この発明の実施の形態１のマイクロ波放射計
の観測時を示す図である。
の観測時を示す図である。
【図３】 この発明の実施の形態１のマイクロ波放射計
の低温校正時を示す図である。
の低温校正時を示す図である。
【図４】 この発明の実施の形態１のマイクロ波放射計
の高温校正時を示す図である。
の高温校正時を示す図である。
【図５】 この発明の実施の形態１のマイクロ波放射計
の観測時のタイミングを示す図である。
の観測時のタイミングを示す図である。
【図６】 この発明の実施の形態１のマイクロ波放射計
の低温校正時のタイミングを示す図である。
の低温校正時のタイミングを示す図である。
【図７】 この発明の実施の形態１のマイクロ波放射計
の高温校正時のタイミングを示す図である。
の高温校正時のタイミングを示す図である。
【図８】 この発明の実施の形態２を示すマイクロ波放
射計である。
射計である。
【図９】 この発明の実施の形態２のマイクロ波放射計
の観測、低温校正、高温校正タイミングを示す図であ
る。
の観測、低温校正、高温校正タイミングを示す図であ
る。
【図１０】 この発明の実施の形態３を示すマイクロ波
放射計である。
放射計である。
【図１１】 従来のマイクロ波放射計の校正例を示す図
である。
である。
【図１２】 従来のマイクロ波放射計の低温校正時を示
す図である。
す図である。
【図１３】 従来のマイクロ波放射計の高温校正時を示
す図である。
す図である。
【図１４】 従来のマイクロ波放射計の観測タイミング
を示す図である。
を示す図である。
１ マイクロ波放射計、２ 観測用反射鏡、３ 低温校
正用反射鏡、４ 高温校正源、５ 一次放射器、６ 受
信機、７ 回転機構、８ 校正用回転機構、９ 地球、
１０ 深宇宙、１１ 一次放射器の走査軌道、１２ 校
正源の走査軌道、１３ 反射鏡、１４ モーメンタムホ
イール。
正用反射鏡、４ 高温校正源、５ 一次放射器、６ 受
信機、７ 回転機構、８ 校正用回転機構、９ 地球、
１０ 深宇宙、１１ 一次放射器の走査軌道、１２ 校
正源の走査軌道、１３ 反射鏡、１４ モーメンタムホ
イール。
Claims (3)
- 【請求項１】 衛星に搭載して地球表面の観測を行うマ
イクロ波放射計において、地球表面からのマイクロ波雑
音電波を反射するための観測用反射鏡と、上記観測用反
射鏡により反射された電波を受信するための一次放射器
と、一次放射器からの受信信号を取得するための受信機
と、上記観測用反射鏡、一次放射器、受信機を回転駆動
するための第１の回転機構と、宇宙放射からの低温校正
用電波を反射する低温校正用反射鏡と、高温校正源と、
低温校正用反射鏡と高温校正源を回転駆動し、低温校正
時には低温校正用反射鏡が一次放射器の上に位置し、高
温校正時には、高温校正源が一次放射器の上に位置する
ように回転させる第２の回転機構とを具備したことを特
徴とするマイクロ波放射計。 - 【請求項２】 上記高温校正源を温度の異なる複数の校
正源で構成したことを特徴とする請求項１記載のマイク
ロ波放射計。 - 【請求項３】 上記第２の回転機構の非回転部分に設け
られ、上記低温校正用反射鏡及び高温校正源からの電波
を上記一次放射器へ入力させる第３の反射鏡を備えたこ
とを特徴とする請求項１又は２記載のマイクロ波放射
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25837099A JP2001083197A (ja) | 1999-09-13 | 1999-09-13 | マイクロ波放射計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25837099A JP2001083197A (ja) | 1999-09-13 | 1999-09-13 | マイクロ波放射計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001083197A true JP2001083197A (ja) | 2001-03-30 |
Family
ID=17319310
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25837099A Pending JP2001083197A (ja) | 1999-09-13 | 1999-09-13 | マイクロ波放射計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001083197A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011063041A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Mitsubishi Electric Corp | スキャニング装置 |
| CN103018790A (zh) * | 2012-12-12 | 2013-04-03 | 上海航天测控通信研究所 | 一种微波探测仪在轨运行时的定标装置和方法 |
| CN103487859A (zh) * | 2013-10-18 | 2014-01-01 | 上海航天测控通信研究所 | 一种微波辐射计冷空反射镜的赋形设计方法 |
| CN108267739A (zh) * | 2016-12-30 | 2018-07-10 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种地基微波辐射计及其定标方法、大气探测方法 |
-
1999
- 1999-09-13 JP JP25837099A patent/JP2001083197A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011063041A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Mitsubishi Electric Corp | スキャニング装置 |
| CN103018790A (zh) * | 2012-12-12 | 2013-04-03 | 上海航天测控通信研究所 | 一种微波探测仪在轨运行时的定标装置和方法 |
| CN103487859A (zh) * | 2013-10-18 | 2014-01-01 | 上海航天测控通信研究所 | 一种微波辐射计冷空反射镜的赋形设计方法 |
| CN103487859B (zh) * | 2013-10-18 | 2015-10-14 | 上海航天测控通信研究所 | 一种微波辐射计冷空反射镜的赋形设计方法 |
| CN108267739A (zh) * | 2016-12-30 | 2018-07-10 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种地基微波辐射计及其定标方法、大气探测方法 |
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