JP2001062669A - Machining method and device therefor - Google Patents

Machining method and device therefor

Info

Publication number
JP2001062669A
JP2001062669A JP23686399A JP23686399A JP2001062669A JP 2001062669 A JP2001062669 A JP 2001062669A JP 23686399 A JP23686399 A JP 23686399A JP 23686399 A JP23686399 A JP 23686399A JP 2001062669 A JP2001062669 A JP 2001062669A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processing
grinding
workpiece
tank
circulation path
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP23686399A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshitaka Murakami
敏貴 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP23686399A priority Critical patent/JP2001062669A/en
Publication of JP2001062669A publication Critical patent/JP2001062669A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Auxiliary Devices For Machine Tools (AREA)
  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To positively prevent the increase in machined chips in a machining solution by machining a workpiece while collecting machined chips formed by machining the workpiece, in a circulating path by an electrophoretic phenomenon, and eliminating the machined chips from the machining solution. SOLUTION: A collecting tank 31 is provided therein with a collecting means 61 for collecting ground chips formed by grinding a workpiece 23, from a grinding solution K by an electrophoretic phenomenon. The collecting means 61 has a pair of electrodes 63, 65 arranged in the collecting tank 31, and a DC power unit 67 for applying voltage between a pair of electrodes 63, 65. In the case of the workpiece 23 being formed of glass material mainly composed of silicon oxide, for instance, fine grains of silicon oxide which are ground chips are charged negative on the surface in the water-based grinding solution K and stuck to the positive electrode 63. Grinding can thereby be performed while positively preventing the increase in ground chips in the grinding solution K.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、研削加工等の加工
方法およびその装置に係わり、特に、研削液等の加工液
中の加工屑を有効に除去することができる加工方法およ
びその装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a processing method such as grinding and an apparatus therefor, and more particularly to a processing method and an apparatus therefor capable of effectively removing processing waste in a working fluid such as a grinding fluid.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、レンズ,プリズム,ミラー等の
光学素子、あるいは、高精度基板等の材料として、セラ
ミックス素材やガラス素材等の、いわゆる無機物系硬質
脆性材料が使用されている。従来、このような無機物系
硬質脆性材料の部品は、研削加工を行った後に、研磨加
工を行うことにより製造されている。
2. Description of the Related Art Generally, a so-called inorganic hard brittle material such as a ceramic material or a glass material is used as a material for an optical element such as a lens, a prism or a mirror, or a material for a high-precision substrate. Conventionally, such a component made of an inorganic hard brittle material is manufactured by performing a grinding process and then a polishing process.

【0003】図4は、無機物系硬質脆性材料の部品の研
削加工に使用される従来の研削装置を示すもので、この
研削装置では、回転定盤1上に固定される被加工物2
が、ダイヤモンド砥石3により研削加工される。研削加
工は、冷却,潤滑および研削屑の排出を目的として、ダ
イヤモンド砥石3と被加工物2との接触部に研削液Kを
常時供給して行われる。
FIG. 4 shows a conventional grinding device used for grinding a component made of an inorganic hard brittle material. In this grinding device, a workpiece 2 fixed on a rotary platen 1 is shown.
Is ground by the diamond grindstone 3. The grinding process is performed by constantly supplying a grinding liquid K to a contact portion between the diamond grindstone 3 and the workpiece 2 for the purpose of cooling, lubricating, and discharging grinding chips.

【0004】通常、研削液Kは、研削液槽4内に一定量
蓄えられ、循環経路5を介して、ダイヤモンド砥石3と
被加工物2との接触部に供給される。すなわち、循環経
路5は、被加工物2に供給された研削液Kを回収する回
収配管系6と、研削液槽4内の研削液Kを被加工物2に
供給する供給配管系7とを有している。
Usually, a predetermined amount of the grinding fluid K is stored in a grinding fluid tank 4 and supplied to a contact portion between the diamond grinding stone 3 and the workpiece 2 via a circulation path 5. That is, the circulation path 5 includes a collection piping system 6 for collecting the grinding fluid K supplied to the workpiece 2 and a supply piping system 7 for supplying the grinding fluid K in the grinding fluid tank 4 to the workpiece 2. Have.

【0005】回収配管系6は、研削液槽4の第1槽8に
開口され、この回収配管系6には、比較的大きい研削屑
を除去するフィルタ9が配置されている。供給配管系7
は、研削液槽4の第2槽10に吸引管11を介して開口
され、この供給配管系7には、研削液供給ポンプ12お
よび流量制御バルブ13が配置されている。
[0005] The recovery piping system 6 is opened to the first tank 8 of the grinding fluid tank 4, and a filter 9 for removing relatively large grinding dust is disposed in the recovery piping system 6. Supply piping system 7
Is opened through a suction pipe 11 to a second tank 10 of the grinding fluid tank 4, and a grinding fluid supply pump 12 and a flow control valve 13 are arranged in the supply piping system 7.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
研削装置では、研削加工により生成された微小な研削屑
を研削液K中から除去することが困難であり、加工時間
の増大に伴い、研削液K中の研削屑が増大し、研削液K
の性能が劣化するという問題があった。
However, in the conventional grinding apparatus, it is difficult to remove minute grinding debris generated by the grinding process from the grinding fluid K, and as the processing time increases, the grinding fluid is reduced. Grinding debris in K increases, and grinding fluid K
There is a problem that the performance of the device deteriorates.

【0007】すなわち、研削液Kを供給する主目的であ
る、冷却,潤滑および研削屑の排出が効率的に行なわれ
なくなり、次第に加工品質が劣化するという問題があっ
た。また、研削液K中の研削屑は、ダイヤモンド砥石3
の目詰まりによる砥石の性能の劣化、あるいは、砥石摩
耗等を引き起こすという問題があった。そこで、従来、
研削抵抗や被加工物2の品質等をモニターしながら研削
液槽4内の研削液Kの全量を交換することが行われてい
るが、このような方法では、研削液Kの交換を比較的頻
繁に行う必要があり、加工能率が低下するという問題が
あった。
That is, there is a problem that cooling, lubrication and discharge of grinding chips, which are the main objects of supplying the grinding liquid K, are not efficiently performed, and the processing quality is gradually deteriorated. Grinding debris in the grinding fluid K is a diamond grindstone 3
There is a problem that the performance of the grindstone is deteriorated due to clogging of the grindstone or the grindstone is worn. So, conventionally,
While the total amount of the grinding fluid K in the grinding fluid tank 4 is exchanged while monitoring the grinding resistance, the quality of the workpiece 2, and the like, the replacement of the grinding fluid K is relatively difficult in such a method. It has to be performed frequently and there is a problem that the processing efficiency is reduced.

【0008】本発明は、かかる従来の問題を解決するた
めになされたもので、加工液中の加工屑の増大を確実に
防止しながら加工を行うことができる加工方法およびそ
の装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a conventional problem, and provides a processing method and apparatus capable of performing processing while reliably preventing an increase in processing chips in a processing liquid. With the goal.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1の加工方法は、
循環経路を介して循環される加工液を、被加工物に供給
しながら、前記被加工物を加工工具により加工する加工
方法において、前記被加工物の加工により生ずる加工屑
を、前記循環経路内において、電気泳動現象により収集
し前記加工液中から除去しながら加工を行うことを特徴
とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a processing method comprising:
In a processing method of processing a workpiece with a processing tool while supplying a processing fluid circulated through a circulation path to the workpiece, processing chips generated by processing the workpiece are removed in the circulation path. , Wherein the processing is carried out while collecting by electrophoresis and removing from the processing liquid.

【0010】請求項2の加工装置は、循環経路を介して
循環される加工液を、被加工物に供給しながら、前記被
加工物を加工工具により加工する加工装置において、前
記循環経路内に、前記被加工物の加工により生ずる加工
屑を、前記加工液中から電気泳動現象により収集する収
集手段を配置してなることを特徴とする。請求項3の加
工装置は、請求項2記載の加工装置において、前記収集
手段は、前記循環経路に配置される収集槽と、前記収集
槽内に配置される一対の電極と、前記一対の電極の間に
電圧を印加する直流電源装置とを有することを特徴とす
る。
A processing apparatus according to a second aspect of the present invention is a processing apparatus for processing a workpiece with a processing tool while supplying a processing fluid circulated through the circulation path to the workpiece, And a collecting means for collecting processing waste generated by processing the workpiece from the processing liquid by an electrophoretic phenomenon. The processing apparatus according to claim 3 is the processing apparatus according to claim 2, wherein the collecting unit is configured to collect a tank disposed in the circulation path, a pair of electrodes disposed in the collection tank, and the pair of electrodes. And a DC power supply for applying a voltage between them.

【0011】請求項4の加工装置は、請求項3記載の加
工装置において、前記収集槽の一側に、前記加工液が流
入される流入槽を前記収集槽に連通して形成するととも
に、前記収集槽の他側に、前記加工液が流出される流出
槽を前記収集槽に連通して形成してなることを特徴とす
る。
According to a fourth aspect of the present invention, in the processing apparatus according to the third aspect, an inflow tank into which the working fluid flows is formed on one side of the collection tank so as to communicate with the collection tank. An outflow tank through which the working fluid flows out is formed on the other side of the collection tank in communication with the collection tank.

【0012】(作用)請求項1の加工方法では、被加工
物の加工により生ずる加工屑が、循環経路内において、
電気泳動現象により収集され、加工液中から加工屑を除
去しながら加工が行われる。
(Operation) According to the processing method of the first aspect, the processing waste generated by processing the workpiece is generated in the circulation path.
It is collected by the electrophoresis phenomenon, and processing is performed while removing processing waste from the processing liquid.

【0013】なお、電気泳動現象については、後に詳細
に説明する。請求項2の加工装置では、循環経路内に収
集手段が配置され、この収集手段により、被加工物の加
工により生ずる加工屑が、加工液中から電気泳動現象に
より収集される。請求項3の加工装置では、循環経路に
収集槽が配置され、収集槽内に一対の電極が配置され
る。
The electrophoresis phenomenon will be described later in detail. According to the second aspect of the present invention, the collecting means is disposed in the circulation path, and the collecting means collects the processing waste generated by processing the workpiece from the working fluid by an electrophoretic phenomenon. In the processing device according to the third aspect, the collection tank is arranged in the circulation path, and the pair of electrodes is arranged in the collection tank.

【0014】そして、直流電源装置により一対の電極の
間に電圧を印加すると、加工液中の加工屑が、電気泳動
現象により、いずれか一方の電極に付着される。請求項
4の加工装置では、収集槽の一側に、加工液が流入され
る流入槽を形成し、収集槽の他側に、加工液が流出され
る流出槽を形成したので、収集槽内の加工液が層流に近
い状態となり、電気泳動現象が効率的に行われる。
[0014] When a voltage is applied between the pair of electrodes by the DC power supply device, machining chips in the machining fluid adhere to one of the electrodes due to an electrophoresis phenomenon. In the processing apparatus according to the fourth aspect, the inflow tank into which the processing liquid flows is formed on one side of the collection tank, and the outflow tank from which the processing liquid flows out is formed on the other side of the collection tank. Is in a state close to laminar flow, and the electrophoresis phenomenon is efficiently performed.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面を用いて詳細
に説明する。図1は、本発明の加工装置の第1の実施形
態を示しており、この実施形態では、本発明がロータリ
ー型平面研削加工方式の研削装置に適用される。この研
削装置では、回転定盤21上に、平面形状をした被加工
物23が固定されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a first embodiment of a processing apparatus according to the present invention. In this embodiment, the present invention is applied to a rotary type surface grinding type grinding apparatus. In this grinding device, a workpiece 23 having a planar shape is fixed on a rotary platen 21.

【0016】回転定盤21は、図示しない駆動機構によ
り回転される。被加工物23は、レンズ,プリズム,ミ
ラー等の光学素子あるいは高精度基板等からなり、ガラ
ス素材あるいはセラミックス等の無機物系硬質脆性材料
により形成されている。被加工物23の上方には、カッ
プ型研削ホイール25に取り付けられたダイヤモンド砥
石27が配置されている。
The turn table 21 is rotated by a drive mechanism (not shown). The workpiece 23 is made of an optical element such as a lens, a prism, a mirror, or the like, or a high-precision substrate, and is formed of an inorganic hard brittle material such as a glass material or ceramics. Above the workpiece 23, a diamond grindstone 27 attached to a cup type grinding wheel 25 is arranged.

【0017】カップ型研削ホイール25は、図示しない
駆動機構により高速で回転される。この実施形態では、
回転定盤21の下方には、研削液槽29が配置され、研
削液槽29内には、所定量の研削液Kが蓄えられてい
る。研削液槽29は、収集槽31の一側に流入槽33を
形成し、他側に流出槽35を形成して構成されている。
The cup-type grinding wheel 25 is rotated at a high speed by a drive mechanism (not shown). In this embodiment,
A grinding liquid tank 29 is disposed below the rotary platen 21, and a predetermined amount of the grinding liquid K is stored in the grinding liquid tank 29. The grinding liquid tank 29 is configured such that an inflow tank 33 is formed on one side of the collection tank 31 and an outflow tank 35 is formed on the other side.

【0018】流入槽33には、研削液Kの回収配管系3
7が開口され、流出槽35には、研削液Kの供給配管系
39が開口されている。そして、これにより研削液Kの
循環経路41が形成されている。回収配管系37の上端
には、回転定盤21の下部を覆って研削液Kの回収部4
3が形成されている。
In the inflow tank 33, a recovery piping system 3 for the grinding fluid K is provided.
7 is opened, and a supply piping system 39 for the grinding liquid K is opened in the outflow tank 35. Thus, a circulation path 41 of the grinding liquid K is formed. At the upper end of the recovery pipe system 37, the lower part of the rotary platen 21 is covered to collect the grinding fluid K.
3 are formed.

【0019】回収配管系37の下端は、流入槽33の上
面に形成される貫通穴33aから、流入槽33内に挿入
されている。また、回収配管系37には、比較的大きい
研削屑を除去するフィルタ45が配置されている。供給
配管系39の上端には、ダイヤモンド砥石27と被加工
物23との接触部に研削液Kを供給する供給部47が形
成されている。
The lower end of the recovery piping system 37 is inserted into the inflow tank 33 through a through hole 33 a formed in the upper surface of the inflow tank 33. Further, a filter 45 for removing relatively large grinding dust is disposed in the collection piping system 37. At an upper end of the supply piping system 39, a supply unit 47 for supplying the grinding liquid K to a contact portion between the diamond grindstone 27 and the workpiece 23 is formed.

【0020】供給配管系39の下端は、流量制御バルブ
49を介して研削液供給ポンプ51に接続されている。
研削液供給ポンプ51は、流出槽35の上面に固定され
ており、研削液供給ポンプ51の吸引管53が、流出槽
35に形成される貫通穴35aから、流出槽35内に挿
入されている。
The lower end of the supply piping system 39 is connected to a grinding fluid supply pump 51 via a flow control valve 49.
The grinding liquid supply pump 51 is fixed to the upper surface of the outflow tank 35, and the suction pipe 53 of the grinding liquid supply pump 51 is inserted into the outflow tank 35 from a through hole 35 a formed in the outflow tank 35. .

【0021】この実施形態では、収集槽31と流入槽3
3とは、仕切板55により仕切られ、仕切板55には、
多数の小孔55aが形成されている。また、収集槽31
と流出槽35とは、仕切板57により仕切られ、仕切板
57には、多数の小孔57aが形成されている。流出槽
35には、研削液Kの液温を制御するヒータおよびクー
ラパイプからなる液温制御器59が配置されている。
In this embodiment, the collection tank 31 and the inflow tank 3
3 is divided by a partition plate 55, and the partition plate 55
Many small holes 55a are formed. In addition, collection tank 31
And the outflow tank 35 are partitioned by a partition plate 57, and the partition plate 57 has a large number of small holes 57a. In the outflow tank 35, a liquid temperature controller 59 composed of a heater and a cooler pipe for controlling the liquid temperature of the grinding liquid K is arranged.

【0022】そして、この実施形態では、収集槽31内
には、被加工物23の研削加工により生ずる研削屑を、
研削液K中から電気泳動現象により収集する収集手段6
1が設けられている。この収集手段61は、収集槽31
内に配置される一対の電極63,65と、この一対の電
極63,65の間に電圧を印加する直流電源装置67と
を有している。
In this embodiment, in the collecting tank 31, grinding chips generated by grinding the workpiece 23 are stored.
Collection means 6 for collecting from the grinding fluid K by the electrophoresis phenomenon
1 is provided. This collecting means 61 is provided in the collecting tank 31.
It has a pair of electrodes 63 and 65 disposed therein, and a DC power supply 67 for applying a voltage between the pair of electrodes 63 and 65.

【0023】図2は、電気泳動現象を説明するための説
明図である。すなわち、従来、微細な粒子が水等の溶媒
の中に分散している場合に、溶媒中の微粒子の表面近傍
に電気二重層が形成され、表面電位差が生じることが知
られている。これは、微粒子および溶媒の材質を問わ
ず、普遍的に発生する性質を持ち、研削加工の際に、被
加工物23から離脱,排出された研削屑が分散している
研削液K中においても当然発現する。
FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining the electrophoresis phenomenon. That is, it has been known that when fine particles are dispersed in a solvent such as water, an electric double layer is formed near the surface of the fine particles in the solvent, and a surface potential difference occurs. This is a property that occurs universally regardless of the material of the fine particles and the solvent, and even in the grinding fluid K in which grinding chips separated from the workpiece 23 and discharged during grinding are dispersed. Naturally expressed.

【0024】この表面近傍に電気二重層が形成された微
粒子を含む溶液に対し、外部から電場を与えると、例え
ば、微粒子の表面が正に帯電している場合には、この微
粒子は負極側へと泳動運動を行うことになり、これが、
電気泳動現象と呼ばれる物理現象である。なお、ガラス
素材を構成している網目構造酸化物として広く用いられ
ている一般的な材料は、酸化シリコン(シリカ SiO2
であり、この酸化シリコンの微粒子69は、水中におい
ては、図2に示すように、負に帯電する。
When an electric field is externally applied to a solution containing fine particles having an electric double layer formed near the surface, for example, when the surface of the fine particles is positively charged, the fine particles move to the negative electrode side. And electrophoretic movement, which is
This is a physical phenomenon called an electrophoresis phenomenon. A general material widely used as a network oxide constituting a glass material is silicon oxide (silica SiO 2 ).
The silicon oxide fine particles 69 are negatively charged in water as shown in FIG.

【0025】また、現在、工業用もしくは構造用材料と
して広く用いられている代表的なセラミックス素材とし
て、酸化アルミニウム(アルミナ Al2O3),酸化ジル
コニウム(ジルコニア ZrO2)等が挙げられるが、酸化
アルミニウムは、水中において正に帯電し、酸化ジルコ
ニウムは負に帯電することが知られている。そして、図
2において、負に帯電した酸化シリコンの微粒子69
は、電気泳動により、一対の電極63,65のうちの正
の電極63側に移動し、正の電極63に付着される。
At present, typical ceramic materials widely used as industrial or structural materials include aluminum oxide (alumina Al 2 O 3 ) and zirconium oxide (zirconia ZrO 2 ). It is known that aluminum is positively charged in water and zirconium oxide is negatively charged. In FIG. 2, the negatively charged silicon oxide fine particles 69 are formed.
Moves to the positive electrode 63 side of the pair of electrodes 63 and 65 by electrophoresis, and is attached to the positive electrode 63.

【0026】従って、図1の被加工物23が、例えば、
酸化シリコンを主成分としたガラス素材である場合に
は、研削屑である酸化シリコンの微粒子69は、水ベー
スの研削液K中において、その表面が負に帯電し、正の
電極63に付着される。なお、加工時間の増加と共に、
正の電極63には、研削屑の付着が増大してくるため、
所定時間毎に、正の電極63を収集槽31から取り外
し、研削屑を除去することが望ましい。
Therefore, the workpiece 23 shown in FIG.
In the case of a glass material containing silicon oxide as a main component, the fine particles 69 of silicon oxide, which are grinding dust, have a negatively charged surface in a water-based grinding liquid K and adhere to the positive electrode 63. You. In addition, with the increase in processing time,
Since the attachment of grinding dust increases on the positive electrode 63,
It is desirable that the positive electrode 63 be removed from the collection tank 31 at predetermined time intervals to remove grinding debris.

【0027】上述した研削方法では、被加工物23の研
削により生ずる研削屑を、循環経路41内において、電
気泳動現象により収集し研削液K中から除去しながら研
削加工を行うようにしたので、研削液K中の研削屑の増
大を確実に防止しながら研削加工を行うことができる。
また、上述した研削装置では、循環経路41内に、被加
工物23の研削により生ずる研削屑を、研削液K中から
電気泳動現象により収集する収集手段61を配置したの
で、研削液K中の研削屑の増大を確実に防止しながら研
削加工を行うことができる。
In the above-described grinding method, grinding chips generated by grinding the workpiece 23 are collected by the electrophoresis phenomenon in the circulation path 41, and the grinding process is performed while removing the grinding chips from the grinding fluid K. Grinding can be performed while reliably preventing an increase in grinding dust in the grinding liquid K.
Further, in the above-described grinding apparatus, since the collecting means 61 for collecting grinding dust generated by grinding the workpiece 23 from the grinding liquid K by the electrophoretic phenomenon is disposed in the circulation path 41, Grinding can be performed while reliably preventing an increase in grinding waste.

【0028】さらに、上述した研削装置では、収集手段
61を、循環経路41に配置される収集槽31と、収集
槽31内に配置される一対の電極63,65と、一対の
電極63,65の間に電圧を印加する直流電源装置67
とから構成したので、研削液K中の研削屑を電気泳動現
象により確実に除去することができる。
Further, in the above-described grinding apparatus, the collecting means 61 is provided with the collecting tank 31 disposed in the circulation path 41, the pair of electrodes 63 and 65 disposed in the collecting tank 31, and the pair of electrodes 63 and 65. DC power supply 67 for applying voltage during
The grinding dust in the grinding fluid K can be reliably removed by the electrophoresis phenomenon.

【0029】また、上述した研削装置では、収集槽31
の一側に、研削液Kが流入される流入槽33を形成し、
収集槽31の他側に、研削液Kが流出される流出槽35
を形成したので、収集槽31内の研削液Kが層流に近い
状態となり、電気泳動現象を効率的に行うことができ
る。図3は、本発明の第2の実施形態を示すもので、こ
の実施形態では、被加工物23Aが、非球面形状とさ
れ、回転定盤21の上面に、支持部材71を介して固定
されている。
In the above-described grinding apparatus, the collection tank 31
On one side, an inflow tank 33 into which the grinding fluid K flows is formed,
An outflow tank 35 from which the grinding liquid K flows out to the other side of the collection tank 31.
Is formed, the grinding liquid K in the collection tank 31 becomes close to a laminar flow, and the electrophoresis phenomenon can be performed efficiently. FIG. 3 shows a second embodiment of the present invention. In this embodiment, the workpiece 23A has an aspherical shape, and is fixed to the upper surface of the rotary platen 21 via a support member 71. ing.

【0030】また、被加工物23Aの上方には、ストレ
ート型研削ホイール73に取り付けられたダイヤモンド
砥石27Aが配置されている。なお、上述した部分を除
いて第1の実施形態と略同様に構成されているため、同
一部分には同一符号を付して詳細な説明を省略する。こ
の第2の実施形態においても第1の実施形態と同様の効
果を得ることができる。
A diamond grindstone 27A mounted on a straight grinding wheel 73 is disposed above the workpiece 23A. Since the configuration is substantially the same as that of the first embodiment except for the above-described portions, the same portions will be denoted by the same reference numerals and detailed description thereof will be omitted. In the second embodiment, the same effects as in the first embodiment can be obtained.

【0031】なお、上述した実施形態では、研削加工に
本発明を適用した例について説明したが、本発明はかか
る実施形態に限定されるものではなく、例えば、特殊な
切削加工等にも同様に適用することができる。
In the embodiment described above, an example in which the present invention is applied to grinding is described. However, the present invention is not limited to such an embodiment. Can be applied.

【0032】[0032]

【発明の効果】以上述べたように、請求項1の加工方法
では、被加工物の加工により生ずる加工屑を、循環経路
内において、電気泳動現象により収集し加工液中から除
去しながら加工を行うようにしたので、加工液中の加工
屑の増大を確実に防止しながら加工を行うことができ
る。
As described above, according to the processing method of the first aspect, the processing chips generated by processing the workpiece are collected by electrophoresis in the circulation path and removed from the processing liquid while processing. Since the processing is performed, the processing can be performed while reliably preventing an increase in the processing waste in the processing liquid.

【0033】請求項2の加工装置では、循環経路内に、
被加工物の加工により生ずる加工屑を、加工液中から電
気泳動現象により収集する収集手段を配置したので、加
工液中の加工屑の増大を確実に防止しながら加工を行う
ことができる。請求項3の加工装置では、収集手段を、
循環経路に配置される収集槽と、収集槽内に配置される
一対の電極と、一対の電極の間に電圧を印加する直流電
源装置とから構成したので、加工液中の加工屑を電気泳
動現象により確実に除去することができる。
In the processing apparatus according to the second aspect, in the circulation path,
Since the collecting means for collecting the processing chips generated by processing the workpiece from the processing liquid by the electrophoresis phenomenon is arranged, the processing can be performed while reliably preventing the processing chips from increasing in the processing liquid. In the processing apparatus according to claim 3, the collecting means includes:
Since it is composed of a collection tank arranged in the circulation path, a pair of electrodes arranged in the collection tank, and a DC power supply device for applying a voltage between the pair of electrodes, the processing chips in the machining fluid are electrophoresed. It can be reliably removed by the phenomenon.

【0034】請求項4の加工装置では、収集槽の一側
に、加工液が流入される流入槽を形成し、収集槽の他側
に、加工液が流出される流出槽を形成したので、収集槽
内の加工液が層流に近い状態となり、電気泳動現象を効
率的に行うことができる。
In the processing apparatus according to the fourth aspect, the inflow tank into which the processing liquid flows is formed on one side of the collection tank, and the outflow tank from which the processing liquid flows out is formed on the other side of the collection tank. The working fluid in the collection tank is close to a laminar flow, and the electrophoresis phenomenon can be performed efficiently.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の加工装置の第1の実施形態を示す説明
図である。
FIG. 1 is an explanatory view showing a first embodiment of a processing apparatus of the present invention.

【図2】電気泳動現象を説明するための説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining an electrophoresis phenomenon.

【図3】本発明の加工装置の第2の実施形態を示す説明
図である。
FIG. 3 is an explanatory view showing a second embodiment of the processing apparatus of the present invention.

【図4】従来の加工装置を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory view showing a conventional processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

23 被加工物 27 ダイヤモンド砥石 29 研削液槽 31 収集槽 33 流入槽 35 流出槽 41 循環経路 61 収集手段 63,65 電極 67 直流電源装置 K 研削液 23 Workpiece 27 Diamond grinding stone 29 Grinding liquid tank 31 Collection tank 33 Inflow tank 35 Outflow tank 41 Circulation path 61 Collection means 63, 65 Electrode 67 DC power supply K Grinding liquid

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 循環経路を介して循環される加工液を、
被加工物に供給しながら、前記被加工物を加工工具によ
り加工する加工方法において、 前記被加工物の加工により生ずる加工屑を、前記循環経
路内において、電気泳動現象により収集し前記加工液中
から除去しながら加工を行うことを特徴とする加工方
法。
1. A working fluid circulated through a circulation path,
In a processing method of processing the workpiece by a processing tool while supplying the workpiece to a workpiece, processing chips generated by processing the workpiece are collected by electrophoresis in the circulation path and are collected in the processing fluid. A processing method characterized in that processing is performed while removing from the surface.
【請求項2】 循環経路を介して循環される加工液を、
被加工物に供給しながら、前記被加工物を加工工具によ
り加工する加工装置において、 前記循環経路内に、前記被加工物の加工により生ずる加
工屑を、前記加工液中から電気泳動現象により収集する
収集手段を配置してなることを特徴とする加工装置。
2. A processing fluid circulated through a circulation path,
A processing apparatus for processing the workpiece with a processing tool while supplying the workpiece to a workpiece, wherein, in the circulation path, processing chips generated by processing the workpiece are collected from the machining fluid by an electrophoretic phenomenon. A processing apparatus characterized by comprising a collecting means for performing processing.
【請求項3】 請求項2記載の加工装置において、 前記収集手段は、 前記循環経路に配置される収集槽と、 前記収集槽内に配置される一対の電極と、 前記一対の電極の間に電圧を印加する直流電源装置と、 を有することを特徴とする加工装置。3. The processing apparatus according to claim 2, wherein the collection unit includes: a collection tank arranged in the circulation path; a pair of electrodes arranged in the collection tank; A processing apparatus, comprising: a DC power supply for applying a voltage. 【請求項4】 請求項3記載の加工装置において、 前記収集槽の一側に、前記加工液が流入される流入槽を
前記収集槽に連通して形成するとともに、前記収集槽の
他側に、前記加工液が流出される流出槽を前記収集槽に
連通して形成してなることを特徴とする加工装置。
4. The processing apparatus according to claim 3, wherein an inflow tank into which the processing liquid flows is formed in communication with the collection tank on one side of the collection tank, and on another side of the collection tank. A processing apparatus, wherein an outflow tank from which the processing liquid flows out is formed in communication with the collection tank.
JP23686399A 1999-08-24 1999-08-24 Machining method and device therefor Pending JP2001062669A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23686399A JP2001062669A (en) 1999-08-24 1999-08-24 Machining method and device therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23686399A JP2001062669A (en) 1999-08-24 1999-08-24 Machining method and device therefor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001062669A true JP2001062669A (en) 2001-03-13

Family

ID=17006925

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23686399A Pending JP2001062669A (en) 1999-08-24 1999-08-24 Machining method and device therefor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001062669A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006075939A (en) * 2004-09-09 2006-03-23 Toyo Advanced Technologies Co Ltd Slurry degradation detection method, slurry exchange method and wire saw
JP2013121637A (en) * 2011-12-12 2013-06-20 Disco Corp Work waste liquid treatment device
JP2013123781A (en) * 2011-12-15 2013-06-24 Disco Corp Apparatus for treating processing waste liquid
CN106625010A (en) * 2017-03-02 2017-05-10 合肥智慧龙图腾知识产权股份有限公司 Water-cooling type drilling machine tool
JP2018062018A (en) * 2016-10-11 2018-04-19 ファナック株式会社 Machine tool
CN109676810A (en) * 2017-10-16 2019-04-26 斯沃奇集团研究和开发有限公司 Method for cutting watch mirror
US10759065B2 (en) 2016-10-11 2020-09-01 Fanuc Corporation Machine tool
CN113649852A (en) * 2021-08-13 2021-11-16 安徽省安达兴智能装备有限公司 Cutting fluid cooling and separating device and five-axis machining center

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006075939A (en) * 2004-09-09 2006-03-23 Toyo Advanced Technologies Co Ltd Slurry degradation detection method, slurry exchange method and wire saw
JP2013121637A (en) * 2011-12-12 2013-06-20 Disco Corp Work waste liquid treatment device
JP2013123781A (en) * 2011-12-15 2013-06-24 Disco Corp Apparatus for treating processing waste liquid
JP2018062018A (en) * 2016-10-11 2018-04-19 ファナック株式会社 Machine tool
US10486315B2 (en) 2016-10-11 2019-11-26 Fanuc Corporation Machine tool
US10759065B2 (en) 2016-10-11 2020-09-01 Fanuc Corporation Machine tool
CN106625010A (en) * 2017-03-02 2017-05-10 合肥智慧龙图腾知识产权股份有限公司 Water-cooling type drilling machine tool
CN109676810A (en) * 2017-10-16 2019-04-26 斯沃奇集团研究和开发有限公司 Method for cutting watch mirror
US11054790B2 (en) * 2017-10-16 2021-07-06 The Swatch Group Research And Development Ltd Method for cutting watch crystals
CN113649852A (en) * 2021-08-13 2021-11-16 安徽省安达兴智能装备有限公司 Cutting fluid cooling and separating device and five-axis machining center

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6431964B1 (en) Planarization apparatus and method
KR100336933B1 (en) Surface polishing machine
JP2001062669A (en) Machining method and device therefor
JP2008149388A (en) Cutting apparatus
KR20190038999A (en) Polishing apparatus
JP2007088143A (en) Edge grinding device
JP5622445B2 (en) Grinding method and grinding apparatus
JP4808278B2 (en) Planar processing apparatus and method
JP3893749B2 (en) Thin plate processing method and processing apparatus
CN1338728A (en) Manufacture of glass substrate as magnetic recording media
KR100638980B1 (en) Slurry filter cleaning device of chemical mechanical polishing
JP4144725B2 (en) Glass substrate chamfering method and apparatus
JP4553868B2 (en) Planar processing equipment
CN110303385A (en) Monocrystalline silicon nondestructive polishing method based on liquid phase polishing environment regulation and control
JP2971714B2 (en) Mirror polishing method for semiconductor substrate
JP4189265B2 (en) Mirror finishing device
JP2013091130A (en) Grinding abrasive grain collecting device, grinding liquid control system, method of manufacturing glass substrate, and method of collecting grinding abrasive grain
KR102419871B1 (en) Substrate polishing apparatus and method of discharging polishing liquid in substrate polishing apparatus
JP2000326185A (en) Grinding and polishing device and grinding and polishing method
JP2017196725A (en) Wrapping polishing surface plate and device using the same
SU889408A1 (en) Cutting fluid feeding system
WO2019204215A1 (en) Apparatus for dressing an abrasive wheel
JP3356693B2 (en) Ultra-precision grinding method and grinding device
JPH078134Y2 (en) Flat polishing machine
JPH08108427A (en) Machining device for comb tooth groove