JP2001060696A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

Info

Publication number
JP2001060696A
JP2001060696A JP2000195961A JP2000195961A JP2001060696A JP 2001060696 A JP2001060696 A JP 2001060696A JP 2000195961 A JP2000195961 A JP 2000195961A JP 2000195961 A JP2000195961 A JP 2000195961A JP 2001060696 A JP2001060696 A JP 2001060696A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
display device
film
semiconductor integrated
stick
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000195961A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3442726B2 (en
Inventor
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
Yasuhiko Takemura
保彦 竹村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP07970895A external-priority patent/JP3406727B2/en
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Priority to JP2000195961A priority Critical patent/JP3442726B2/en
Publication of JP2001060696A publication Critical patent/JP2001060696A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3442726B2 publication Critical patent/JP3442726B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the thickness of the driver circuit portion of a display device by only removing the substrate of a stick crystal, after the mechanical and electrical connection of a semiconductor integrate circuit having a thin film transistor which is equivalent to the stick crystal are completed on the substrate of the display device. SOLUTION: A semiconductor integrated circuit is constituted in such a structure that an N-channel TFT 12 and a P-channel TFT 13 are sandwiched between a base insulating film 11 and an interlayer insulating film 14 or a passivation film 15 of silicon nitride, etc. The electrical connection and mechanical bonding between a stick crystal and the substrate of a liquid crystal display device are completed by bonding the substrate of a stick driver to the substrate of the display device, by injecting an adhesive into the space between the substrates, applying a pressure to the substrates, and then, heat-treating the adhesive in an oven. When the work is left in the flow of a mixed gas of fluorine trichloride and nitrogen, only a releasable layer is selectively etched and the bottom face of a base film is exposed. Consequently, the substrate of the stick crystal can be separated from a semiconductor integrated circuit.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置等の
パッシブマトリクス型もしくはアクティブマトリクス型
の表示装置に関し、特に、駆動用の半導体集積回路を効
果的に実装したことにより、表示装置の基板に占める面
積を大きくした、ファッショナブルな表示装置を得るこ
とを目的とする。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a passive-matrix or active-matrix display device such as a liquid crystal display device, and more particularly to a display device substrate having a driving semiconductor integrated circuit effectively mounted thereon. It is an object to obtain a fashionable display device that occupies a large area.

【0002】[0002]

【従来の技術】マトリクス型の表示装置としては、パッ
シブマトリクス型とアクティブマトリクス型の構造が知
られている。パッシブマトリクス型では、第1の基板上
に透明導電膜等でできた多数の短冊型の電気配線(ロー
配線)をある方向に形成し、第2の基板上には、前記第
1の基板上の電気配線とは概略垂直な方向に同様な短冊
型の電気配線(カラム配線)を形成する。そして、両基
板上の電気配線が対向するように基板を配置する。
2. Description of the Related Art As a matrix type display device, a passive matrix type and an active matrix type are known. In the passive matrix type, a large number of strip-shaped electric wirings (row wirings) made of a transparent conductive film or the like are formed in a certain direction on a first substrate, and on the second substrate, the above-mentioned first substrate is formed. A similar strip-shaped electric wiring (column wiring) is formed in a direction substantially perpendicular to the electric wiring. Then, the substrates are arranged such that the electric wirings on both substrates face each other.

【0003】基板間に液晶材料のように電圧・電流等に
よって、透光性、光反射・散乱性の変化する電気光学材
料を設けておけば、第1の基板の任意のロー配線と第2
の基板の任意のカラム配線との間に電圧・電流等を印加
すれば、その交差する部分の透光性、光反射・散乱性等
を選択できる。このようにして、マトリクス表示が可能
となる。
If an electro-optic material, such as a liquid crystal material, which changes in translucency, light reflection and scattering due to voltage and current, is provided between substrates, an arbitrary low wiring of the first substrate and a second wiring can be provided.
If a voltage, current, or the like is applied between the substrate and any column wiring, the transmissive property, the light reflection / scattering property, and the like of the intersecting portion can be selected. In this way, matrix display becomes possible.

【0004】アクティブマトリクス型では、第1の基板
上に多層配線技術を用いて、ロー配線とカラム配線とを
形成し、この配線の交差する部分に画素電極を設け、画
素電極には薄膜トランジスタ(TFT)等のアクティブ
素子を設けて、画素電極の電位や電流を制御する構造と
する。また、第2の基板上にも透明導電膜を設け、第1
の基板の画素電極と、第2の基板の透明導電膜とが対向
するように基板を配置する。
In the active matrix type, a row wiring and a column wiring are formed on a first substrate by using a multi-layer wiring technique, a pixel electrode is provided at an intersection of the wiring, and a thin film transistor (TFT) is provided for the pixel electrode. ) Is provided to control the potential and current of the pixel electrode. Also, a transparent conductive film is provided on the second substrate,
The substrate is arranged such that the pixel electrode of the substrate and the transparent conductive film of the second substrate face each other.

【0005】いずれにせよ、基板はプロセスによって選
択された。例えば、透明導電膜を形成して、これをエッ
チングして、ロー・カラム配線パターンを形成する以外
には特に複雑なプロセスのないパッシブマトリクス型で
は、基板はガラス以外に、プラスチックでもよかった。
一方、比較的、高温の成膜工程を有し、また、ナトリウ
ム等の可動イオンを避ける必要のあるアクティブマトリ
クス型では、基板としてアルカリ濃度の極めて低いガラ
ス基板を用いる必要があった。
[0005] In any case, the substrate was selected by the process. For example, in a passive matrix type having no complicated process except for forming a transparent conductive film and etching the same to form a row / column wiring pattern, a plastic substrate may be used instead of glass.
On the other hand, in the active matrix type which has a relatively high temperature film forming step and needs to avoid mobile ions such as sodium, it is necessary to use a glass substrate having an extremely low alkali concentration as a substrate.

【0006】[0006]

【発明の解決しようとする課題】いずれにせよ、従来の
マトリクス型表示装置においては、特殊なもの以外は、
マトリクスを駆動するための半導体集積回路(周辺駆動
回路、もしくは、バー回路という)を取り付ける必要が
あった。従来は、これは、テープ自動ボンディング(T
AB)法やチップ・オン・グラス(COG)法によって
なされてきた。しかしながら、マトリクスの規模は数1
00行にも及ぶ大規模なものであるので、集積回路の端
子も非常に多く、対するドライバー回路は、長方形状の
ICパッケージや半導体チップであるため、これらの端
子を基板上の電気配線と接続するために配線を引き回す
必要から、表示画面に比して、周辺部分の面積が無視で
きないほど大きくなった。
In any case, in the conventional matrix type display device, except for special ones,
It was necessary to attach a semiconductor integrated circuit (peripheral drive circuit or bar circuit) for driving the matrix. Traditionally, this has been the case with tape automatic bonding (T
AB) and chip-on-glass (COG) methods. However, the size of the matrix is
Since it is a large-scale one that has as many as 00 rows, the number of integrated circuit terminals is very large, and the driver circuit is a rectangular IC package or semiconductor chip. Therefore, these terminals are connected to electric wiring on the substrate. Therefore, the area of the peripheral portion has become so large that it cannot be ignored compared to the display screen.

【0007】この問題を解決する方法として、特開平7
−14880には、ドライバー回路を、マトリクスの1
辺とほぼ同じ程度の細長い基板(スティック、もしく
は、スティック・クリスタルという)上に形成し、これ
をマトリクスの端子部に接続するという方法が開示され
ている。ドライバー回路としては、幅2mmほど程度で
十分であることにより、このような配置が可能となる。
このため、基板のほとんどを表示画面とすることができ
た。
As a method for solving this problem, Japanese Patent Application Laid-Open
-14880 has a driver circuit and one of the matrices.
A method is disclosed in which a substrate is formed on an elongated substrate (referred to as a stick or a stick crystal) having substantially the same size as a side and connected to a terminal portion of a matrix. Such an arrangement is possible because a width of about 2 mm is sufficient for the driver circuit.
For this reason, most of the substrates could be used as display screens.

【0008】もちろん、この場合には、マトリクスの面
積が大きなものでは、回路をシリコンウェハー上に形成
することができないので、ガラス基板等の上に形成する
必要がある。したがって、半導体回路に用いられる能動
素子はTFTである。
Of course, in this case, if the area of the matrix is large, the circuit cannot be formed on a silicon wafer, so it is necessary to form the circuit on a glass substrate or the like. Therefore, the active element used in the semiconductor circuit is a TFT.

【0009】しかしながら、スティック・クリスタルに
関しては、ドライバー回路の基板の厚さが、表示装置全
体の小型化に支障をきたした。例えば、表示装置をより
薄くする必要から基板の厚さを0.3mmとすること
は、基板の種類や工程を最適化することにより可能であ
る。しかし、スティック・クリスタルの厚さは、製造工
程で必要とされる強度から0.5mm以下とすることは
困難であり、結果として、基板を張り合わせたときに、
0.2mm以上もスティック・クリスタルが出ることと
なる。
However, regarding the stick crystal, the thickness of the substrate of the driver circuit has hindered the miniaturization of the entire display device. For example, it is possible to reduce the thickness of the substrate to 0.3 mm because the display device needs to be thinner by optimizing the type and process of the substrate. However, it is difficult for the thickness of the stick crystal to be 0.5 mm or less due to the strength required in the manufacturing process. As a result, when the substrates are bonded together,
Stick crystals will come out more than 0.2mm.

【0010】また、スティック・クリスタルと表示装置
の基板の種類が異なると、熱膨張の違い等の理由によ
り、回路に欠陥が生じることがあった。特に、表示装置
の基板として、プラスチック基板を用いると、この問題
が顕著であった。なぜならば、スティック・クリスタル
の基板としては、プラスチックを用いることは、耐熱性
の観点から、実質的に不可能なためである。本発明はこ
のようなスティック・クリスタルの抱えていた問題を解
決し、表示装置のより一層の小型・軽量化を目的とする
ものである。
If the type of the substrate of the stick crystal is different from that of the substrate of the display device, the circuit may be defective due to a difference in thermal expansion or the like. In particular, when a plastic substrate is used as a substrate of a display device, this problem is remarkable. This is because it is substantially impossible to use plastic as the stick crystal substrate from the viewpoint of heat resistance. An object of the present invention is to solve such a problem of the stick crystal and to further reduce the size and weight of the display device.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は、表示装置の基
板上に、スティック・クリスタルと同等な半導体集積回
路を機械的に接着し、かつ、電気的な接続を完了したの
ち、該スティック・クリスタルの基板のみを除去するこ
とによって、ドライバー回路部分の薄型化を実施するこ
とを特徴とする。このような構造では、基板の熱膨張に
よる変形応力は、回路全般に均一にかかり、したがっ
て、特定の箇所にのみ応力が集中して、欠陥が発生する
ということは避けられる。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, a semiconductor integrated circuit equivalent to a stick crystal is mechanically bonded onto a substrate of a display device, and after electrical connection is completed, the stick is removed. It is characterized in that the thickness of the driver circuit portion is reduced by removing only the crystal substrate. In such a structure, the deformation stress due to the thermal expansion of the substrate is uniformly applied to the entire circuit, and therefore, it is possible to prevent the stress from being concentrated only at a specific location and causing a defect.

【0012】本発明の基本的な構成は、電気配線と、こ
れに電気的に接続され、TFTを有する細長い半導体集
積回路を有する第1の基板の電気配線の形成された面に
対して、表面に透明導電膜を有する第2の基板の透明導
電膜を対向させた構造の表示装置であり、特開平7−1
4880のスティック・クリスタルと同様、前記半導体
集積回路は、概略、表示装置の表示面(すなわち、マト
リクス)の1辺の長さに等しく、かつ、他の基板上に作
製されたものを剥離して、前記第1の基板に装着したも
のである
The basic structure of the present invention is that an electric wiring and a surface of the first substrate, which is electrically connected to the electric wiring and has an elongated semiconductor integrated circuit having a TFT, are formed with respect to a surface on which the electric wiring is formed. The display device has a structure in which a transparent conductive film of a second substrate having a transparent conductive film is opposed to the second substrate.
Like the 4880 stick crystal, the semiconductor integrated circuit is roughly equal to the length of one side of the display surface (that is, the matrix) of the display device, and is peeled off from a substrate manufactured on another substrate. , Mounted on the first substrate.

【0013】特に、パッシブマトリクス型の場合には、
第1の方向に延びる複数の透明導電膜の第1の電気配線
と、これに接続され、TFTを有し、第1の方向に概略
垂直な第2の方向に延びる細長い第1の半導体集積回路
とを有する第1の基板と、第2の方向に延びる複数の透
明導電膜の第2の電気配線と、これに接続され、TFT
を有し、前記第1の方向に延びる第2の半導体集積回路
とを有する第2の基板とを、第1の電気配線と第2の電
気配線が対向するように配置した表示装置で、第1およ
び第2の半導体集積回路は他の基板上に作製されたもの
を剥離して、それぞれの基板に装着したものである。
Particularly, in the case of the passive matrix type,
A first electric wiring of a plurality of transparent conductive films extending in a first direction and an elongated first semiconductor integrated circuit connected to the first electric wiring and having a TFT and extending in a second direction substantially perpendicular to the first direction And a second electric wiring of a plurality of transparent conductive films extending in the second direction, and a TFT
And a second substrate having a second semiconductor integrated circuit extending in the first direction and a second substrate arranged so that the first electric wiring and the second electric wiring face each other. The first and second semiconductor integrated circuits are obtained by peeling off those manufactured on another substrate and mounting them on the respective substrates.

【0014】また、アクティブマトリクス型の場合に
は、第1の方向に延びる複数の第1の電気配線と、これ
に接続され、TFTを有し、第1の方向に概略垂直な第
2の方向に延びる第1の半導体集積回路と、第2の方向
に延びる複数の第2の電気配線と、これに接続され、T
FTを有し、第1の方向に延びる第2の半導体集積回路
とを有する第1の基板を表面に透明導電膜を有する第2
の基板に、第1の基板の第1および第2の電気配線と、
第2の基板の透明導電膜とが、対向するように、配置さ
せた表示装置で、第1および第2の半導体集積回路は他
の基板上に作製されたものを剥離して、第1の基板に装
着したものである。
In the case of the active matrix type, a plurality of first electric wirings extending in a first direction, a second electric wiring connected to the first electric wirings, and having a TFT, are substantially perpendicular to the first direction. A first semiconductor integrated circuit extending in the first direction, a plurality of second electric wirings extending in the second direction,
A first substrate having an FT and having a second semiconductor integrated circuit extending in a first direction;
A first and a second electric wiring of the first substrate,
In a display device in which the transparent conductive film of the second substrate is arranged so as to face the first substrate, the first and second semiconductor integrated circuits formed on another substrate are separated from each other, and the first and second semiconductor integrated circuits are separated from each other. It is mounted on a substrate.

【0015】TFTを有する半導体集積回路を他の基板
上に形成し、これを剥離して、他の基板に接着する(も
しくは、他の基板に接着したのち、元の基板を除去す
る)方法は、一般的にはSOI(シリコン・オン・イン
シュレータ)技術の1つとして知られており、特表平6
−504139やその他の公知の技術、あるいは、以下
の実施例で用いるような技術を使用すればよい。
A method of forming a semiconductor integrated circuit having a TFT on another substrate, peeling the semiconductor integrated circuit, and attaching the semiconductor integrated circuit to another substrate (or removing the original substrate after attaching to another substrate) Is generally known as one of SOI (Silicon On Insulator) technologies.
504139 or other known techniques, or techniques such as those used in the following embodiments may be used.

【0016】本発明の表示装置の断面の例を示すと、図
1のようになる。図1(A)は、比較的、小さな倍率で
見たものである。図の左側は、半導体集積回路の設けら
れたドライバー回路部7を、また、右側は、マトリクス
部8を示す。基板1上には透明等電膜等の材料でできた
電気配線4のパターンを形成し、さらに、金のような材
料で突起物(バンプ)6を設ける。一方、半導体集積回
路2は、実質的にTFTと同程度の厚さのもので、これ
には、接続部分に導電性酸化物のように、酸化によって
接触抵抗の変動しない材料によって、電極5を設けてお
き、これをバンプ6に接触させる。そして、機械的に固
定するために、半導体集積回路2と基板1の間には、樹
脂3を封入する。(図1(A))
FIG. 1 shows an example of a cross section of the display device of the present invention. FIG. 1A is viewed at a relatively small magnification. The left side of the figure shows the driver circuit section 7 provided with the semiconductor integrated circuit, and the right side shows the matrix section 8. On the substrate 1, a pattern of an electric wiring 4 made of a material such as a transparent isoelectric film is formed, and further, a projection (bump) 6 is provided with a material such as gold. On the other hand, the semiconductor integrated circuit 2 has a thickness substantially equal to that of the TFT, and the electrode 5 is made of a material such as a conductive oxide whose contact resistance does not change by oxidation, such as a conductive oxide. It is provided and brought into contact with the bump 6. Then, a resin 3 is sealed between the semiconductor integrated circuit 2 and the substrate 1 for mechanical fixing. (Fig. 1 (A))

【0017】図1(A)のうち、点線で囲まれた接触部
を拡大したのが、図1(B)である。符号は、図1
(A)と同じ物を示す。さらに、図1(B)の点線で囲
まれた部分を拡大したのが、図1(C)である。すなわ
ち、半導体集積回路は、Nチャネル型TFT(12)と
Pチャネル型TFT(13)が、下地絶縁膜11、層間
絶縁物14、あるいは、窒化珪素等のパッシベーション
膜15で挟まれた構造となる。(図1(B)、図1
(C))
FIG. 1B is an enlarged view of a contact portion surrounded by a dotted line in FIG. The code is shown in FIG.
The same thing as (A) is shown. FIG. 1C is an enlarged view of a portion surrounded by a dotted line in FIG. That is, the semiconductor integrated circuit has a structure in which an N-channel TFT (12) and a P-channel TFT (13) are sandwiched between a base insulating film 11, an interlayer insulator 14, or a passivation film 15 such as silicon nitride. . (FIG. 1 (B), FIG. 1
(C))

【0018】通常、半導体集積回路を形成する際の下地
膜11としては酸化珪素を用いるが、それだけでは、耐
湿性等が劣るので、別途、パッシベーション膜をその上
に設けなければならないが、図3に示すように、半導体
回路とその接触部の厚さが液晶の基板間厚さよりも薄け
れば、対向基板16を回路の上に重ねることも可能であ
る。その場合には、特開平5−66413に開示されて
いる液晶表示装置と同等に、ドライバー回路部7の外側
で、エポキシ樹脂等のシール剤17によって液晶封止
(シール)処理をおこない、また、基板1と16の間に
は、液晶材料18を満たすので、外部から可動イオン等
が侵入することが無く、特別にパッシベーション膜を設
ける必要はない。(図3)
Normally, silicon oxide is used as the base film 11 when a semiconductor integrated circuit is formed. However, since silicon oxide alone is inferior in moisture resistance, a passivation film must be separately provided thereon. As shown in (1), if the thickness of the semiconductor circuit and its contact portion is smaller than the thickness of the liquid crystal between the substrates, the counter substrate 16 can be overlaid on the circuit. In that case, liquid crystal sealing (sealing) processing is performed outside the driver circuit section 7 with a sealing agent 17 such as an epoxy resin, similarly to the liquid crystal display device disclosed in JP-A-5-66413. Since the liquid crystal material 18 is filled between the substrates 1 and 16, no mobile ions or the like enter from the outside, so that it is not necessary to provide a special passivation film. (Fig. 3)

【0019】また、接触部分に関しては、バンプを用い
る方法の他に、図1(D)に示すように、金の粒9のよ
うな導電性粒子を接着部分に拡散させ、これによって、
電気的な接触を得るようにしてもよい。粒子の直径は、
半導体集積回路2と基板1の間隔よりやや大きくすると
よい。(図1(D)) このような表示装置の作製順序の概略は、図2に示され
る。図2はパッシブマトリクス型の表示装置の作製手順
を示す。まず、多数の半導体集積回路22を適当な基板
21の上に形成する。(図2(A))
As for the contact portion, in addition to the method using a bump, as shown in FIG. 1D, conductive particles such as gold particles 9 are diffused into the bonding portion, thereby
Electrical contact may be obtained. The diameter of the particles is
It is preferable that the distance is slightly larger than the distance between the semiconductor integrated circuit 2 and the substrate 1. (FIG. 1D) An outline of a manufacturing order of such a display device is shown in FIG. FIG. 2 shows a manufacturing procedure of a passive matrix display device. First, a number of semiconductor integrated circuits 22 are formed on a suitable substrate 21. (Fig. 2 (A))

【0020】そして、これを分断して、スティック・ク
リスタル23、24を得る。得られたスティック・クリ
スタルは、次の工程に移る前に電気特性をテストして、
良品・不良品に選別するとよい。(図2(B)) 次に、スティック・クリスタル23、24の回路の形成
された面を、それぞれ、別の基板25、27の透明導電
膜による配線のパターンの形成された面26、28上に
接着し、電気的な接続を取る。(図2(C)、図2
(D))
Then, this is divided to obtain stick crystals 23 and 24. The resulting stick crystal is tested for electrical properties before moving on to the next step.
It is good to sort out good / defective products. (FIG. 2B) Next, the circuit-formed surfaces of the stick crystals 23 and 24 are respectively placed on the surfaces 26 and 28 of another substrates 25 and 27 on which wiring patterns are formed by the transparent conductive film. And make an electrical connection. (FIG. 2 (C), FIG.
(D))

【0021】その後、SOI技術によって、スティック
・ドライバー23、24の基板をはがし、半導体集積回
路29、30のみを前記基板の面26、28上に残す。
(図2(E)、図2(F)) 最後に、このようにして得られた基板を向かい合わせる
ことにより、パッシブマトリクス型表示装置が得られ
る。なお、面26は、面26の逆の面、すなわち、配線
パターンの形成されていない方の面を意味する(図2
(G))
Thereafter, the substrates of the stick drivers 23 and 24 are peeled off by the SOI technique, leaving only the semiconductor integrated circuits 29 and 30 on the surfaces 26 and 28 of the substrate.
(FIGS. 2E and 2F) Finally, a passive matrix display device is obtained by facing the substrates thus obtained. The surface 26 means the opposite surface of the surface 26, that is, the surface on which the wiring pattern is not formed (FIG. 2).
(G))

【0022】上記の場合には、ロー・スティック・クリ
スタル(ロー配線を駆動するドライバー回路用のスティ
ック・クリスタル)とカラム・スティック・クリスタル
(カラム配線を駆動するドライバー回路用のスティック
・クリスタル)を同じ基板21から切りだしたが、別の
基板から切りだしてもよいことは言うまでもない。ま
た、図2ではパッシブマトリクス型表示装置の例を示し
たが、アクティブマトリクス型表示装置でも、同様にお
こなえることは言うまでもない。さらに、フィルムのよ
うな材料を基板として形成される場合は実施例に示し
た。
In the above case, the row stick crystal (stick crystal for the driver circuit for driving the row wiring) and the column stick crystal (the stick crystal for the driver circuit for driving the column wiring) are the same. Although it is cut from the substrate 21, it goes without saying that it may be cut from another substrate. Although FIG. 2 shows an example of a passive matrix display device, it goes without saying that the same can be applied to an active matrix display device. Further, the case where a material such as a film is formed as the substrate is described in the embodiment.

【0023】[0023]

【実施例】〔実施例1〕本実施例は、パッシブマトリク
ス型液晶表示装置の一方の基板の作製工程の概略を示す
ものである。本実施例を図4および図5を用いて説明す
る。図4には、スティック・クリスタル上にドライバー
回路を形成する工程の概略を示す。また、図5には、ス
ティック・クリスタルを液晶表示装置の基板に実装する
工程の概略を示す。
[Embodiment 1] This embodiment shows an outline of a manufacturing process of one substrate of a passive matrix type liquid crystal display device. This embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 4 schematically shows a process of forming a driver circuit on a stick crystal. FIG. 5 schematically shows a process of mounting a stick crystal on a substrate of a liquid crystal display device.

【0024】まず、ガラス基板31上に剥離層として、
厚さ3000Åのシリコン膜32を堆積した。シリコン
膜32は、その上に形成される回路と基板とを分離する
際にエッチングされるので、膜質についてはほとんど問
題とされないので、量産可能な方法によって堆積すれば
よい。さらに、シリコン膜はアモルファスでも結晶性で
もよい。
First, as a release layer on the glass substrate 31,
A 3000 Å thick silicon film 32 was deposited. Since the silicon film 32 is etched when the substrate and the circuit formed thereon are separated, there is almost no problem with the film quality. Therefore, the silicon film 32 may be deposited by a method capable of mass production. Further, the silicon film may be amorphous or crystalline.

【0025】また、ガラス基板は、コーニング705
9、同1737、NHテクノグラスNA45、同35、
日本電気硝子OA2等の無アルカリもしくは低アルカリ
ガラスや石英ガラスを用いればよい。石英ガラスを用い
る場合には、そのコストが問題となるが、本発明では1
つの液晶表示装置に用いられる面積は極めて小さいの
で、単位当たりのコストは十分に小さい。
The glass substrate is made of Corning 705.
9, 1737, NH Techno Glass NA45, 35
An alkali-free or low alkali glass such as Nippon Electric Glass OA2 or quartz glass may be used. When quartz glass is used, the cost is a problem.
Since the area used for one liquid crystal display device is extremely small, the cost per unit is sufficiently small.

【0026】シリコン膜32上には、厚さ5000Åの
酸化珪素膜33を堆積した。この酸化珪素膜は下地膜と
なるので、作製には十分な注意が必要である。そして、
公知の方法により、結晶性の島状シリコン領域(シリコ
ン・アイランド)34、35を形成した。このシリコン
膜の厚さは、必要とする半導体回路の特性を大きく左右
するが、一般には、薄いほうが好ましかった。本実施例
では400〜600Åとした。
On the silicon film 32, a 5000-nm-thick silicon oxide film 33 is deposited. Since this silicon oxide film serves as a base film, sufficient care must be taken in its production. And
Crystalline island-like silicon regions (silicon islands) 34 and 35 were formed by a known method. The thickness of the silicon film greatly affects the required characteristics of the semiconductor circuit, but generally, the thinner the film, the better. In this embodiment, the angle is set to 400 to 600 °.

【0027】また、結晶性シリコンを得るには、アモル
ファスシリコンにレーザー等の強光を照射する方法(レ
ーザーアニール法)や、熱アニールによって固相成長さ
せる方法(固相成長法)が用いられる。固相成長法を用
いる際には、特開平6−244104に開示されるよう
に、ニッケル等の触媒元素をシリコンに添加すると、結
晶化温度を下げ、アニール時間を短縮できる。さらに
は、特開平6−318701のように、一度、固相成長
法によって結晶化せしめたシリコンを、レーザーアニー
ルしてもよい。いずれの方法を採用するかは、必要とさ
れる半導体回路の特性や基板の耐熱温度等によって決定
すればよい。
In order to obtain crystalline silicon, a method of irradiating amorphous silicon with strong light such as a laser (laser annealing method) or a method of solid-phase growth by thermal annealing (solid-phase growth method) is used. When using the solid phase growth method, as disclosed in JP-A-6-244104, when a catalytic element such as nickel is added to silicon, the crystallization temperature can be lowered and the annealing time can be shortened. Further, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-318701, laser anneal may be performed on silicon crystallized once by the solid phase growth method. Which method is adopted may be determined depending on the required characteristics of the semiconductor circuit, the heat-resistant temperature of the substrate, and the like.

【0028】その後、プラズマCVD法もしくは熱CV
D法によって、厚さ1200Åの酸化珪素のゲイト絶縁
膜36を堆積し、さらに、厚さ5000Åの結晶性シリ
コンによって、ゲイト電極・配線37、38を形成し
た。ゲイト配線は、アルミニウムやタングステン、チタ
ン等の金属や、あるいはそれらの珪化物でもよい。さら
に、金属のゲイト電極を形成する場合には、特開平5−
267667もしくは同6−338612に開示される
ように、その上面もしくは側面を陽極酸化物で被覆して
もよい。ゲイト電極をどのような材料で構成するかは、
必要とされる半導体回路の特性や基板の耐熱温度等によ
って決定すればよい。(図4(A))
Thereafter, a plasma CVD method or a thermal CV
A gate insulating film 36 of silicon oxide having a thickness of 1200 ° was deposited by the method D, and gate electrodes / wirings 37 and 38 were formed of crystalline silicon having a thickness of 5000 °. The gate wiring may be a metal such as aluminum, tungsten, or titanium, or a silicide thereof. Further, when a metal gate electrode is formed, Japanese Patent Laid-Open No.
As disclosed in 267667 or 6-338612, the top or side surfaces may be coated with anodic oxide. What kind of material the gate electrode is composed of
What is necessary is just to determine according to the required characteristics of a semiconductor circuit, the heat resistant temperature of a board | substrate, etc. (FIG. 4 (A))

【0029】その後、セルフアライン的に、イオンドー
ピング法等の手段によりN型およびP型の不純物をシリ
コン・アイランドに導入し、N型領域39、P型領域4
0を形成した。そして、公知の手段で、層間絶縁物(厚
さ5000Åの酸化珪素膜)41を堆積した。そして、
これにコンタクトホールを開孔し、アルミニウム合金配
線41〜44を形成した。(図4(B))
Thereafter, N-type and P-type impurities are introduced into the silicon island in a self-aligned manner by an ion doping method or the like to form an N-type region 39 and a P-type region 4.
0 was formed. Then, an interlayer insulator (a 5000-thick silicon oxide film) 41 was deposited by a known means. And
A contact hole was formed in this, and aluminum alloy wirings 41 to 44 were formed. (FIG. 4 (B))

【0030】さらに、これらの上に、パッシベーション
膜として、厚さ2000Åの窒化珪素膜46をプラズマ
CVD法によって堆積し、これに、出力端子の配線44
に通じるコンタクトホールを開孔した。そして、スパッ
タ法によって、インディウム錫酸化物被膜(ITO、厚
さ1000Å)の電極47を形成した。ITOは透明の
導電性酸化物である。その後、直径約50μm、高さ約
30μmの金のバンプ48を機械的にITO電極47の
上に形成した。このようにして得られた回路を適当な大
きさに分断し、よって、スティック・クリスタルが得ら
れた。(図4(C))
Further, a silicon nitride film 46 having a thickness of 2000 .ANG. Is deposited thereon as a passivation film by a plasma CVD method.
A contact hole leading to was opened. Then, an electrode 47 having an indium tin oxide film (ITO, thickness: 1000 Å) was formed by a sputtering method. ITO is a transparent conductive oxide. Thereafter, a gold bump 48 having a diameter of about 50 μm and a height of about 30 μm was mechanically formed on the ITO electrode 47. The circuit thus obtained was divided into suitable sizes, and thus a stick crystal was obtained. (FIG. 4 (C))

【0031】一方、液晶表示装置の基板49にも、厚さ
1000ÅのITOによって電極50を形成した。本実
施例では、液晶表示装置の基板としては、厚さ0.3m
mのポリエチレン・サルファイル(PES)を用いた。
そして、この基板49に、スティックドライバーの基板
31を圧力を加えて接着した。このとき、電極47と電
極50はバンプ48によって、電気的に接続される。
(図5(A))
On the other hand, the electrode 50 was also formed on the substrate 49 of the liquid crystal display device by using ITO having a thickness of 1000 °. In this embodiment, the thickness of the substrate of the liquid crystal display device is 0.3 m.
m polyethylene polyethylene (PES) was used.
Then, the substrate 31 of the stick driver was bonded to the substrate 49 by applying pressure. At this time, the electrode 47 and the electrode 50 are electrically connected by the bump 48.
(FIG. 5 (A))

【0032】次に熱硬化性の有機樹脂を混合した接着剤
51をスティック・クリスタル31と液晶表示装置の基
板49の隙間に注入した。なお、接着剤は、スティック
・クリスタル31と液晶表示装置の基板49を圧着する
前に、いずれかの表面に塗布しておいてもよい。
Next, an adhesive 51 mixed with a thermosetting organic resin was injected into the gap between the stick crystal 31 and the substrate 49 of the liquid crystal display. The adhesive may be applied to one of the surfaces before the stick crystal 31 and the substrate 49 of the liquid crystal display device are pressed.

【0033】そして、120℃の窒素雰囲気のオーブン
で、15分間処理することにより、スティック・クリス
タル31と基板49との電気的な接続と機械的な接着を
完了した。なお、完全な接着の前に、電気的な接続が不
十分であるか否かを、特開平7−14880に開示され
る方法によってテストした後、本接着する方法を採用し
てもよい。(図5(B))
Then, the electrical connection and the mechanical bonding between the stick crystal 31 and the substrate 49 were completed by performing a treatment for 15 minutes in an oven in a nitrogen atmosphere at 120 ° C. Before the complete bonding, whether or not the electrical connection is insufficient may be tested by the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-14880, and then the final bonding method may be adopted. (FIG. 5 (B))

【0034】このように処理した基板を、三塩化フッ素
(ClF3 )と窒素の混合ガスの気流中に放置した。
三塩化フッ素と窒素の流量は、共に500sccmとし
た。反応圧力は1〜10Torrとした。温度は室温と
した。三塩化フッ素等のハロゲン化フッ素は、珪素を選
択的にエッチングする特性が知られている。一方、酸化
物(酸化珪素やITO)はほとんどエッチングせず、ア
ルミニウムも表面に安定な酸化物被膜を形成すると、そ
の段階で反応が停止するので、エッチングされない。
The substrate thus treated was left in a gas flow of a mixed gas of fluorine trichloride (ClF 3) and nitrogen.
The flow rates of fluorine trichloride and nitrogen were both 500 sccm. The reaction pressure was 1 to 10 Torr. The temperature was room temperature. It is known that fluorine halide such as fluorine trichloride has a property of selectively etching silicon. On the other hand, oxides (silicon oxide or ITO) are hardly etched, and aluminum is not etched because a reaction stops at that stage if a stable oxide film is formed on the surface.

【0035】本実施例では、三フッ化塩素に侵される可
能性のある材料は、剥離層(シリコン)32、シリコン
・アイランド34、35、ゲイト電極37、38、アル
ミニウム合金配線41〜44、接着剤51であるが、こ
のうち、剥離層と接着剤以外は外側に酸化珪素等の材料
が存在するため、三フッ化塩素が到達できない。実際に
は、図5(C)に示すように、剥離層32のみが選択的
にエッチングされ、空孔52が形成された。(図5
(C))
In this embodiment, the materials which can be attacked by chlorine trifluoride include the release layer (silicon) 32, silicon islands 34 and 35, gate electrodes 37 and 38, aluminum alloy wirings 41 to 44, Although the agent 51 is a material other than the release layer and the adhesive, the material such as silicon oxide exists outside, and chlorine trifluoride cannot reach the agent. Actually, as shown in FIG. 5C, only the peeling layer 32 was selectively etched, and the holes 52 were formed. (FIG. 5
(C))

【0036】さらに、経過すると剥離層は完全にエッチ
ングされ、下地膜の底面53が露出し、スティック・ク
リスタルの基板31を半導体回路と分離することができ
た。三塩化フッ素によるエッチングでは、下地膜の底面
でエッチングが停止するので、該底面53は極めて平坦
であった。(図5(D)) このようにして、液晶表示装置の一方の基板への半導体
集積回路の形成を終了した。このようにして得られる基
板を用いて、液晶表示装置が完成される。
Further, after the lapse of time, the peeling layer was completely etched, the bottom surface 53 of the underlying film was exposed, and the stick crystal substrate 31 could be separated from the semiconductor circuit. In the etching with fluorine trichloride, the etching was stopped at the bottom surface of the base film, so that the bottom surface 53 was extremely flat. (FIG. 5D) Thus, the formation of the semiconductor integrated circuit over one substrate of the liquid crystal display device is completed. Using the substrate thus obtained, a liquid crystal display device is completed.

【0037】〔実施例2〕本実施例は、フィルム状のパ
ッシブマトリクス型液晶表示装置を連続的に形成する方
法(ロール・トゥー・ロール法)に関するものである。
図6に本実施例の生産システムを示す。フィルム状の液
晶表示装置を得るための基板材料としては、PES(ポ
リエチレンサルファイル)、PC(ポリカーボネー
ト)、ポリイミドから選ばれたものを用いればよい。P
ET(ポリエチレンテレフタレート)、PEN(ポリエ
チレンナフタレート)は、多結晶性のプラスチックであ
るため、特に偏光によって、表示をおこなう、液晶材料
には用いることが適切でなかった。
[Embodiment 2] This embodiment relates to a method (roll-to-roll method) for continuously forming a film-shaped passive matrix type liquid crystal display device.
FIG. 6 shows a production system according to the present embodiment. As a substrate material for obtaining a film-shaped liquid crystal display device, a material selected from PES (polyethylene sulfil), PC (polycarbonate), and polyimide may be used. P
Since ET (polyethylene terephthalate) and PEN (polyethylene naphthalate) are polycrystalline plastics, they are not suitable for use as a liquid crystal material for displaying, in particular, polarized light.

【0038】図6に示すシステムは、液晶電気光学装置
を構成する基板として、カラーフィルターの設けられた
基板を作製する流れ(図の下側)と、その対向基板を作
製する流れ(図の上側)とに大別される。まず、カラー
フィルター側基板の作製工程について説明する。
In the system shown in FIG. 6, as a substrate constituting the liquid crystal electro-optical device, a flow for producing a substrate provided with a color filter (lower side in the figure) and a flow for producing the opposite substrate (upper side in the figure) ). First, a manufacturing process of the color filter side substrate will be described.

【0039】ロール71に巻き取られているフィルム
に、印刷法により、その表面にRGBの3色のカラーフ
ィルタを形成する。カラーフィルタの形成は、3組のロ
ール72によっておこわれる。なお作製する液晶表示装
置がモノクロの場合は、この工程は不要である。(工程
「カラーフィルター印刷」)
On the film wound around the roll 71, three color filters of RGB are formed on the surface by a printing method. The formation of the color filters is performed by three sets of rolls 72. This step is unnecessary when the liquid crystal display device to be manufactured is monochrome. (Process "color filter printing")

【0040】さらに、ロール73によって、オーバーコ
ート剤(平坦化膜)を印刷法によって形成する。オーバ
ーコート剤は、カラーフィルタの形成によって凹凸とな
った表面を平坦化するためのものである。このオーバー
コート剤を構成する材料としては、透光性を有する樹脂
材料を用いればよい。(工程「オーバーコート剤(平坦
化膜)印刷」) 次に、ロール74を用い、印刷法により必要とするパタ
ーンにロー(カラム)電極を形成する。この印刷法によ
る電極の形成は、導電性のインクを用いておこなう。
(工程「電極形成」)
Further, an overcoat agent (flattening film) is formed by a roll 73 using a printing method. The overcoat agent is for flattening the uneven surface due to the formation of the color filter. As a material constituting the overcoat agent, a resin material having a light transmitting property may be used. (Step “Printing Overcoat Agent (Planarization Film)”) Next, using the roll 74, a row (column) electrode is formed in a required pattern by a printing method. The formation of the electrodes by this printing method is performed using a conductive ink.
(Process "electrode formation")

【0041】さらに、ロール75によって、配向膜を印
刷法で形成し(工程「配向膜印刷」)、加熱炉76を通
過させることによって、配向膜を焼き固める。(工程
「配向膜焼成」) さらに、ロール77を通過させることによって、配向膜
の表面にラビング処理をおこなう。こうして配向処理が
完了する。(工程「ラビング」)
Further, an alignment film is formed by a printing method using a roll 75 (step “alignment film printing”), and is passed through a heating furnace 76 to harden the alignment film. (Step “Firing of Alignment Film”) Further, a rubbing treatment is performed on the surface of the alignment film by passing through a roll 77. Thus, the alignment process is completed. (Process "rubbing")

【0042】次に、圧着装置78によって、基板上にス
ティック・クリスタルを装着し(工程「スティック装
着」)、加熱炉79を通過させることにより、接着剤が
硬化し、接着が完了する。(工程「接着剤硬化」) 本実施例では、剥離層は実施例1と同様にシリコンを用
いたので、次に、三塩化フッ素チャンバー80(差圧排
気して、三塩化フッ素が外部に漏出しないようにしたチ
ャンバー)によって、剥離層をエッチングし、よって、
スティック・クリスタルの基板を剥離する。(工程「ス
ティック剥離」)
Next, the stick crystal is mounted on the substrate by the pressure bonding device 78 (step "stick mounting"), and the adhesive is hardened by passing through the heating furnace 79 to complete the bonding. (Process “Adhesive curing”) In this example, silicon was used for the release layer in the same manner as in Example 1, and then, the fluorine trichloride chamber 80 (differential pressure exhaust was performed, and fluorine trichloride leaked to the outside) The release layer is etched by the
Peel off the stick crystal substrate. (Process "stick peeling")

【0043】その後、スペーサー散布器81より、フィ
ルム基板上にスペーサーを散布し(工程「スペーサー散
布」)、ロール82を用いて、シール材を印刷法によっ
て形成する。シール剤は、対向する基板同士を接着する
ためと、液晶が一対の基板間から漏れ出ないようにする
ためのものである。なお、本実施例では、半導体回路の
厚みを液晶基板間よりも薄くすることにより、図3のよ
うに、半導体集積回路の外部がシールされるような構造
(特開平5−66413に開示されている)とした。
(工程「シール印刷」)
Thereafter, spacers are scattered on the film substrate by the spacer scatterer 81 (step "spacer scatter"), and a sealing material is formed by a printing method using the roll 82. The sealant is for bonding the opposing substrates together and for preventing the liquid crystal from leaking out between the pair of substrates. In the present embodiment, the thickness of the semiconductor circuit is made smaller than that between the liquid crystal substrates so that the outside of the semiconductor integrated circuit is sealed as shown in FIG. 3 (disclosed in JP-A-5-66413). Is).
(Process "Seal printing")

【0044】この後、液晶滴下装置83を用いて液晶の
滴下をおこない、液晶層をフィルム基板上に形成する。
こうして、カラーフィルター側基板が完成する。以上の
工程は、各ロールが回転することにより、連続的に進行
していく。次に、対向基板の作製工程を示す。ロール6
1から送りだされたフィルム基板上に、ロール62によ
って、所定のパターンにカラム(ロー)電極を形成す
る。(工程「電極形成」) さらにロール63によって、配向膜を印刷法により形成
し(工程「配向膜印刷」)、加熱炉64を通過させるこ
とによって、配向膜を焼き固める。(工程「配向膜焼
成」)
Thereafter, the liquid crystal is dropped using the liquid crystal dropping device 83 to form a liquid crystal layer on the film substrate.
Thus, the color filter side substrate is completed. The above-described process proceeds continuously as each roll rotates. Next, a manufacturing process of the counter substrate will be described. Roll 6
A column (row) electrode is formed in a predetermined pattern by a roll 62 on the film substrate fed from 1. (Step “electrode formation”) Further, an alignment film is formed by a printing method using a roll 63 (step “alignment film printing”), and is passed through a heating furnace 64 to harden the alignment film. (Step "Firing the alignment film")

【0045】その後、フィルム基板を、ロール65に通
過させることによって、配向処理をおこなう。(工程
「ラビング」) 次に、圧着装置66によって、基板上にスティック・ク
リスタルを装着し(工程「スティック装着」)、加熱炉
67を通過することにより、接着剤が硬化する。(工程
「接着剤硬化」) さらに、三塩化フッ素チャンバー68によって、スティ
ック・クリスタルの基板を剥離する。(工程「スティッ
ク剥離」)
After that, the film substrate is passed through a roll 65 to perform an orientation treatment. (Step “rubbing”) Next, the stick crystal is mounted on the substrate by the pressure bonding device 66 (step “stick mounting”), and the adhesive is cured by passing through the heating furnace 67. (Process “Adhesive curing”) Further, the stick crystal substrate is peeled off by the fluorine trichloride chamber 68. (Process "stick peeling")

【0046】以上の処理を経たフィルム基板はロール6
9を経由して、次のロール84に送られる。ロール84
では、カラーフィルター側基板と対向基板を貼り合わせ
て、セルとする。(工程「セル組」) その後、加熱炉85において加熱することにより、シー
ル材を硬化せしめ、基板同士の貼り合わせが完了する。
(工程「シール剤硬化」) さらにカッター86によって所定の寸法に切断すること
により、フィルム状の液晶表示装置が完成する。(工程
「分段」)
The film substrate that has undergone the above processing is a roll 6
9, and is sent to the next roll 84. Roll 84
Then, the color filter-side substrate and the counter substrate are attached to form a cell. (Step “Cell Set”) Thereafter, the sealing material is cured by heating in a heating furnace 85, and the bonding of the substrates is completed.
(Step “curing of the sealant”) Further, the film is cut into a predetermined size by the cutter 86 to complete the film-shaped liquid crystal display device. (Process "Segmentation")

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明では、表示装置の基板の種類や厚
さ、大きさに関して、さまざまなバリエーションが可能
である。例えば、実施例2に示したように、極めて薄い
フィルム状の液晶表示装置を得ることもできる。この場
合には、表示装置を曲面に合わせて張りつけてもよい。
さらに、基板の種類の制約が緩和された結果、プラスチ
ック基板のように、軽く、耐衝撃性の強い材料を用いる
こともでき、携行性も向上する。
According to the present invention, various variations are possible for the type, thickness and size of the substrate of the display device. For example, as shown in Embodiment 2, an extremely thin film liquid crystal display device can be obtained. In this case, the display device may be attached to a curved surface.
Furthermore, as a result of the restriction on the type of substrate being relaxed, a light-weight and highly impact-resistant material such as a plastic substrate can be used, and portability is also improved.

【0048】また、ドライバー回路の専有する面積が小
さいので、表示装置と他の装置の配置の自由度が高ま
る。典型的には、ドライバー回路を表示面の周囲の幅数
mmの領域に押し込めることが可能であるので、表示装
置自体は極めてシンプルであり、ファッション性に富ん
だ製品である。その応用範囲もさまざまに広がり、よっ
て、本発明の工業的価値は極めて高い。
Further, since the area occupied by the driver circuit is small, the degree of freedom in the arrangement of the display device and other devices is increased. Typically, since the driver circuit can be pushed into an area having a width of several mm around the display surface, the display device itself is a very simple and fashionable product. The range of application is variously expanded, and therefore, the industrial value of the present invention is extremely high.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の断面構造を示す。FIG. 1 shows a cross-sectional structure of the present invention.

【図2】 本発明の表示装置の作製方法の概略を示す。FIG. 2 shows an outline of a method for manufacturing a display device of the present invention.

【図3】 本発明の1例の表示装置の断面構造を示す。FIG. 3 shows a cross-sectional structure of a display device according to an example of the present invention.

【図4】 本発明に用いるスティック・クリスタルの作
製工程を示す。
FIG. 4 shows a process for producing a stick crystal used in the present invention.

【図5】 スティック・クリスタルを基板に接着する工
程を示す。
FIG. 5 shows a step of bonding a stick crystal to a substrate.

【図6】 フィルム液晶表示装置の連続的製法システム
を示す。
FIG. 6 shows a continuous manufacturing system for a film liquid crystal display.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ・・・ 液晶表示装置の基板 2 ・・・ 半導体集積回路 3 ・・・ 接着剤 4 ・・・ 液晶表示装置の電極 5 ・・・ 半導体集積回路の電極 6 ・・・ バンプ 7 ・・・ ドライバー回路部 8 ・・・ マトリクス部 9 ・・・ 導電性粒子 11・・・ 下地膜 12・・・ Nチャネル型TFT 13・・・ Pチャネル型TFT 14・・・ 層間絶縁物 15・・・ パッシベーション膜 16・・・ 液晶表示装置の対向基板 17・・・ シール剤 18・・・ 液晶材料 21・・・ スティック・クリスタルを形成する基板 22・・・ 半導体集積回路 23、24 スティック・クリスタル 25、27 液晶表示装置の基板 26、28 配線パターンの形成されている面 29、30 液晶表示装置の基板上に移されたドライバ
ー回路26 ・・・ 配線パターンの形成されている面と逆の面 31・・・ スティック・クリスタルを形成する基板 32・・・ 剥離層 33・・・ 下地膜 34、35 シリコン・アイランド 36・・・ ゲイト絶縁膜 37、38 ゲイト電極 39・・・ N型領域 40・・・ P型領域 41・・・ 層間絶縁物 42〜44 アルミニウム合金配線 46・・・ パッシベーション膜 47・・・ 導電性酸化物膜 48・・・ バンプ 49・・・ 液晶表示装置の基板 50・・・ 液晶表示装置の電極 51・・・ 接着剤 52・・・ 空孔 53・・・ 下地膜の底面
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate of liquid crystal display device 2 ... Semiconductor integrated circuit 3 ... Adhesive 4 ... Electrode of liquid crystal display device 5 ... Electrode of semiconductor integrated circuit 6 ... Bump 7 ... Driver Circuit portion 8 Matrix portion 9 Conductive particles 11 Base film 12 N-channel TFT 13 P-channel TFT 14 Interlayer insulator 15 Passivation film Reference Signs List 16: Counter substrate of liquid crystal display device 17: Sealant 18: Liquid crystal material 21: Substrate forming stick crystal 22: Semiconductor integrated circuit 23, 24 Stick crystal 25, 27 Liquid crystal Substrate of display device 26, 28 Surface on which wiring pattern is formed 29, 30 Driver circuit 26 transferred onto substrate of liquid crystal display device ... Form of wiring pattern Surface opposite to the surface formed 31 ... Stick crystal forming substrate 32 ... Release layer 33 ... Under film 34,35 Silicon island 36 ... Gate insulating film 37,38 Gate electrode 39 ... N-type region 40 ... P-type region 41 ... Interlayer insulator 42-44 Aluminum alloy wiring 46 ... Passivation film 47 ... Conductive oxide film 48 ... Bump 49 ... · Liquid crystal display device substrate 50 ··· Liquid crystal display device electrode 51 · · · Adhesive 52 · · · Voids 53 · · · Bottom surface of base film

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 可撓性を有する基板の上方に設けられた
半導体集積回路であって、前記半導体集積回路は薄膜ト
ランジスタを有することを特徴とする半導体集積回路。
1. A semiconductor integrated circuit provided over a flexible substrate, wherein the semiconductor integrated circuit includes a thin film transistor.
【請求項2】 請求項1において、前記基板は樹脂でな
ることを特徴とする半導体集積回路。
2. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein said substrate is made of a resin.
【請求項3】 請求項2において、前記樹脂として、ポ
リエチレンサルファイル、ポリカーボネート、ポリイミ
ド、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタ
レートのいずれかの材料を用いることを特徴とする半導
体集積回路。
3. The semiconductor integrated circuit according to claim 2, wherein any one of polyethylene salfile, polycarbonate, polyimide, polyethylene terephthalate, and polyethylene naphthalate is used as the resin.
【請求項4】 請求項1乃至3において、前記薄膜トラ
ンジスタの結晶構造は結晶性であることを特徴とする半
導体集積回路。
4. The semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein a crystal structure of the thin film transistor is crystalline.
【請求項5】 請求項1乃至4のいずれか1に記載の方
法の半導体集積回路を用いたことを特徴とするマトリク
ス型表示装置。
5. A matrix display device using the semiconductor integrated circuit according to any one of claims 1 to 4.
JP2000195961A 1995-03-10 2000-06-29 Method of mounting semiconductor integrated circuit for display device Expired - Fee Related JP3442726B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000195961A JP3442726B2 (en) 1995-03-10 2000-06-29 Method of mounting semiconductor integrated circuit for display device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP07970895A JP3406727B2 (en) 1995-03-10 1995-03-10 Display device
JP2000195961A JP3442726B2 (en) 1995-03-10 2000-06-29 Method of mounting semiconductor integrated circuit for display device

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP07970895A Division JP3406727B2 (en) 1995-03-10 1995-03-10 Display device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001060696A true JP2001060696A (en) 2001-03-06
JP3442726B2 JP3442726B2 (en) 2003-09-02

Family

ID=28676581

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000195961A Expired - Fee Related JP3442726B2 (en) 1995-03-10 2000-06-29 Method of mounting semiconductor integrated circuit for display device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3442726B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017103395A (en) * 2015-12-03 2017-06-08 三菱電機株式会社 Semiconductor device manufacturing method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017103395A (en) * 2015-12-03 2017-06-08 三菱電機株式会社 Semiconductor device manufacturing method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3442726B2 (en) 2003-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3406727B2 (en) Display device
JP3579492B2 (en) Method for manufacturing display device
US8547516B2 (en) Display device and method of fabricating the same
US5834327A (en) Method for producing display device
JPH08262475A (en) Production of display device
JP3638656B2 (en) Display device and manufacturing method thereof
JP3406894B2 (en) Method for manufacturing display device
JP3442726B2 (en) Method of mounting semiconductor integrated circuit for display device
JP3406893B2 (en) Method for manufacturing display device
JP4799509B2 (en) Peeling method
JP4094539B2 (en) Method for manufacturing semiconductor integrated circuit
JP4339102B2 (en) Method for manufacturing display device
JP3579045B2 (en) Manufacturing method of semiconductor integrated circuit
JP3657596B2 (en) Method for manufacturing semiconductor integrated circuit
JP3579044B2 (en) Manufacturing method of semiconductor integrated circuit
JP3757228B2 (en) Method for manufacturing semiconductor integrated circuit
JP2004171005A (en) Semiconductor integrated circuit

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090620

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090620

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090620

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100620

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110620

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110620

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120620

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120620

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130620

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130620

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees