JP2001056354A - Method for detecting contact failure due to fine short- circuiting on conductive conductor - Google Patents

Method for detecting contact failure due to fine short- circuiting on conductive conductor

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JP2001056354A
JP2001056354A JP2000215616A JP2000215616A JP2001056354A JP 2001056354 A JP2001056354 A JP 2001056354A JP 2000215616 A JP2000215616 A JP 2000215616A JP 2000215616 A JP2000215616 A JP 2000215616A JP 2001056354 A JP2001056354 A JP 2001056354A
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JP
Japan
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error
voltage difference
contact failure
measured
conductive wire
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Application number
JP2000215616A
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Inventor
Sokan Kin
相煥 金
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YURIN GIKEN KK
Original Assignee
YURIN GIKEN KK
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/58Testing of lines, cables or conductors

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To detect instantaneous contact failure due to fine short-circuiting by adding an electrical signal between both terminals on a conductive conductor, measuring the electrical signal between both the ends, and comparing it with a reference value. SOLUTION: A lead wire 200 is fixed to both ends on a conductive conductor 190 to be measured for electric contact. Then, current is supplied onto the conductive conductor 190 from a power supply device 210, and the voltage difference between both the lead wires 200 is measured by a measurement means 220. A microprocessor compares the measured voltage difference with a voltage error within a specific range by a first comparison means 230, and stores the measured voltage difference in a storage means 240 as a measurement reference value. Then, vibration is applied onto the conductive conductor 190 from a vibration means 250, and the voltage difference between both the lead wires 200 is measured and is compared with a measurement reference value being stored by a second comparison means 260. Then, when the difference between the two values is equal to or more than a predetermined specific range, a judgment means 270 judges that contact failure due to slight short-circuiting on the conductive conductor 190 has occurred.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は,伝導性導線上の微
細短絡による接触不良を感知するための方法であり,特
に振動などの外部衝撃によって伝導性導線が電気的に連
結された状態から瞬間的に短絡されたり又は短絡されて
いる状態から電気的連結状態に変わる時間がミリセコン
ド(ms)以下である瞬間的な微細短絡による接触不良
を感知するための方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting a contact failure due to a minute short circuit on a conductive wire. The present invention relates to a method for detecting a contact failure due to an instantaneous micro short-circuit in which the time required for a short-circuit or a transition from a short-circuited state to an electrical connection state is less than milliseconds (ms).

【0002】[0002]

【従来の技術】電子工学及び計測工学の発達によって現
代のほとんど全ての製品及びシステム運用が電子制御か
ら成っている。このような電子制御による製品またはシ
ステムの基本構成は実際にある機能を実行する実行部
と,この実行部を所望する範囲以内で正常動作させるた
めに特定入力信号に関する実行部の電気的な反応信号を
感知した後,これに対応した電気的なコントロール信号
を上記実行部に伝達して制御するコントロール部と,上
記実行部と上記コントロール部間を電気的に連結する連
結部と,から成る。
BACKGROUND OF THE INVENTION With the development of electronics and metrology, almost all modern products and system operations consist of electronic controls. The basic configuration of such an electronically controlled product or system consists of an execution unit that actually performs a certain function, and an electrical response signal of the execution unit relating to a specific input signal in order to operate this execution unit normally within a desired range. And a control unit for transmitting an electrical control signal corresponding to the detected signal to the execution unit for control, and a connection unit for electrically connecting the execution unit and the control unit.

【0003】一方,このような電子制御による部品また
はシステムに異状が生じた場合,従来の一般的な診断装
置は各部分に対して次のような異状有無の診断をした。
即ち,上記特定入力信号に対して上記実行部に正常的な
出力信号を出力するか,上記実行部から入力された信号
に対して上記コントロール部の出力制御信号が正常値を
持つか,上記連結部がショートあるいは断線などの電気
的な欠陥があるか,を確認することによって欠陥部位を
見いだすことができた。
On the other hand, when an abnormality occurs in a component or a system by such electronic control, a conventional general diagnosis device diagnoses each part for the following abnormality.
That is, whether a normal output signal is output to the execution unit in response to the specific input signal, whether an output control signal of the control unit has a normal value in response to the signal input from the execution unit, By confirming whether or not the portion has an electrical defect such as a short circuit or a disconnection, the defective portion can be found.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】このような診断装置は
電子制御技術の発達とともに多様な用途及び形態に発展
した。しかしながら,このような診断装置の技術的な発
展にもかかわらず,最も単純で基本的に測定及び診断が
行われるべきものであるのに,従来の診断装置では測定
及び診断ができない特定項目が存在する。
Such diagnostic devices have evolved into various uses and forms with the development of electronic control technology. However, despite the technical development of such diagnostic devices, there are specific items that cannot be measured and diagnosed with conventional diagnostic devices, even though they are the simplest and basically to be measured and diagnosed. I do.

【0005】このような従来の診断装置によって測定及
び診断ができない基本項目として代表的なものは,伝導
性導線上に極めて短い時間内に瞬間的に発生する微細短
絡による接触不良を測定することである。
A typical basic item that cannot be measured and diagnosed by such a conventional diagnostic device is to measure a contact failure due to a micro short-circuit that occurs instantaneously within a very short time on a conductive wire. is there.

【0006】このような瞬間的な接触不良の原因は多様
で,その一例として持続的な外部振動によって物理的な
疲労が累積されて微細な短絡が発生することがある。こ
のような微細短絡の場合には,外部から振動を加えると
瞬間的な接触不良が規則的にあるいは不規則的に発生す
るようになる。従来の診断装置ではこのような微細短絡
による瞬間的な接触不良は測定できず,ただ完全な断線
があるかどうかのみの区別が可能であった。
There are various causes of such instantaneous contact failures. For example, a minute short circuit may occur due to accumulation of physical fatigue due to continuous external vibration. In the case of such a fine short circuit, when vibration is applied from the outside, instantaneous contact failures occur regularly or irregularly. The conventional diagnostic apparatus cannot measure such instantaneous contact failure due to a micro short circuit, and can distinguish only whether there is a complete disconnection.

【0007】例えば,自動車内の電子部品の場合には,
上記のような持続的な振動による瞬間的な接触不良の可
能性が非常に高い。しかし,従来のスキャナーのような
診断装置では,どこの部品またはどこの部位に問題が発
生したという情報を提供するだけで,実際に問題になる
部品あるいは部位を検査してみると診断装置の診断結果
とは違って正常的に動作することが多かった。このよう
な微細断線による瞬間的な接触不良は一般的なテスター
でも測定がほぼ不可能であるので,整備業所では故障原
因を見つけるために多くの時間を消費するにもかかわら
ず,正確な診断ができなかった。そして,そのために顧
客との紛争がたびたび発生するというのが実情であっ
た。
For example, in the case of electronic parts in a car,
The possibility of momentary contact failure due to the continuous vibration as described above is very high. However, a conventional diagnostic device such as a scanner merely provides information that a problem has occurred in which part or part, and when the part or part that actually causes a problem is inspected, the diagnostic device diagnoses the problem. In many cases, it worked normally unlike the result. Since instantaneous contact failure due to such minute disconnection is almost impossible to measure even with a general tester, accurate diagnosis is performed in a maintenance shop, although it takes a lot of time to find the cause of the failure. Could not. The fact is that disputes with customers often occur.

【0008】このような微細短絡による瞬間的な接触不
良の測定及び診断は,最も基本的に要求され実行される
べきものであるにもかかわらず,その効果的な解決方法
が提示されていなかった。
[0008] Although the measurement and diagnosis of such instantaneous contact failure due to a micro short circuit is the most fundamentally required and to be performed, no effective solution has been proposed. .

【0009】本発明は,このような問題に鑑みてなされ
たもので,その目的とするところは,微細短絡による瞬
間的な接触不良の感知方法を提供することにある。
The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to provide a method for detecting an instantaneous contact failure due to a minute short circuit.

【0010】[0010]

【発明を解決するための手段】上記課題を解決するため
に,本発明による瞬間的な接触不良感知方法は請求項1
に記載のように,次のようである。まず,従来の診断装
置によって誤動作の部位を確認した後,上記誤動作の部
位内あるいは上記誤動作部位と連結された電気配線のよ
うな伝導性導線上の両端部にリード線を固定して電気的
な接触をさせる。この時に上記リード線は動かないよう
に固定して測定エラーを減らす。次に,上記伝導性導線
上に電流を供給して上記両リード線間の電圧差を測定す
る。上記測定された電圧差はマイクロプロセサーに入力
され,上記マイクロプロセサーは上記測定された電圧差
が特定範囲の誤差内にあるかを判断し,上記特定範囲の
誤差内にある場合,上記測定された電圧差を測定基準値
として設定して貯蔵する。次に外部から上記伝導性導線
上に振動を加える。上記伝導性導線に微細な短絡がある
場合,上記伝導性導線は上記振動によって瞬間的な接触
不良が発生し,この時に上記両リード線間の電圧差が急
変するようになる。上記測定された瞬間的な接触不良に
よる電圧差は測定器自体が有する誤差や測定周囲のノイ
ズなどによっても影響を受ける可能性があるのでこのよ
うな部分に対する電圧変化は上記伝導性導線の自体の微
細断線による接触不良と見てはいけない。従って外部か
ら振動を加えた後測定された両リード線間の電圧差は上
記マイクロプロセサーに入力された後,既に貯蔵された
測定基準値と比較してその値の変化が特定範囲内である
場合,上記測定器の自体に対した誤差や測定周囲のノイ
ズなどによって測定された電圧値と判断して両リード線
間の電圧差を再測定し,特定範囲以上である場合,伝導
性導線上の微細短絡による接触不良と判断する。上記特
定範囲は使用者によって要求される測定の精密度によっ
て使用者が任意で指定して入力することもできる。上記
マイクロプロセサーは上記伝導性導線上の微細短絡によ
る接触不良と判断されると,使用者にその事実を知らせ
るために別途の表示装置に特定エラー信号を出力し,上
記表示装置は上記出力された特定エラー信号が入力され
て使用者に識別できる形態の信号として使用者にエラー
発生を知らせるようになる。
In order to solve the above-mentioned problems, an instant contact failure detecting method according to the present invention is described in claim 1.
It is as described below. First, after confirming the malfunctioning part with the conventional diagnostic device, the lead wire is fixed to both ends of the malfunctioning part or on both ends of the conductive wire such as the electric wiring connected to the malfunctioning part, and the electrical connection is established. Make contact. At this time, the lead wire is fixed so as not to move to reduce measurement errors. Next, a current is supplied to the conductive wire to measure a voltage difference between the two lead wires. The measured voltage difference is input to a microprocessor, and the microprocessor determines whether the measured voltage difference is within an error of a specific range. If the measured voltage difference is within an error of the specific range, the microprocessor determines the measured voltage difference. The voltage difference is set as a measurement reference value and stored. Next, vibration is applied from outside to the conductive wire. When the conductive wire has a minute short circuit, the vibration causes an instantaneous contact failure due to the vibration, and at this time, a voltage difference between the two lead wires suddenly changes. The voltage difference due to the measured instantaneous contact failure may be affected by errors in the measuring instrument itself, noise around the measurement, and the like. It should not be considered as poor contact due to fine disconnection. Therefore, if the voltage difference between the two leads measured after external vibration is input to the above microprocessor and compared with the already stored measurement reference value, the change in the value is within a specified range. The voltage difference between the two leads is re-measured based on the voltage value measured due to errors in the measuring instrument itself or noise around the measurement. Judge as contact failure due to micro short circuit. The specific range may be arbitrarily specified and input by the user according to the precision of the measurement required by the user. If the microprocessor determines that the contact failure is caused by a minute short circuit on the conductive wire, the microprocessor outputs a specific error signal to a separate display device to notify a user of the fact, and the display device outputs the specified error signal. When a specific error signal is input, the user is notified of the occurrence of the error as a signal that can be identified to the user.

【0011】以上のように本発明は,微細短絡による接
触不良があるかを判断するために測定しようとする伝導
性導線上の両端間に電気的な信号を加えた後,上記両端
間の電気的な信号の変化を測定して基準値と比較する。
この時の電気的な信号は,測定でき,測定値が基準値と
比較できるものであれば,どんな種類の電気的な信号で
もよいが,特に電圧値が望ましい。
As described above, according to the present invention, an electric signal is applied between both ends of a conductive wire to be measured in order to determine whether there is a contact failure due to a micro short circuit, and then an electric signal between the both ends is applied. A typical signal change is measured and compared with a reference value.
The electrical signal at this time may be any type of electrical signal as long as it can be measured and the measured value can be compared with a reference value, but a voltage value is particularly desirable.

【0012】特に本発明によれば,請求項2に記載のよ
うに,伝導性導線上の微細短絡による接触不良感知方法
は,上記伝導性導線上の微細な短絡が振動による上記伝
導性導線が電気的に連結された状態から瞬間的に短絡さ
れたり又は短絡されている状態から瞬間的に電気的な連
結状態に変わる時間がミリセコンド(ms)以下である
瞬間的な接触不良を感知するのに好適である。
In particular, according to the present invention, as set forth in claim 2, the method for detecting a contact failure due to a fine short circuit on a conductive wire comprises the step of: Detecting a momentary short-circuit from an electrically connected state or instantaneous contact failure in which a time from a short-circuited state to an instantaneously electrically connected state is less than milliseconds (ms). It is suitable for.

【0013】また,請求項3に記載のように,上記表示
装置はモニターによって特定形態のエラー信号を表示す
ることができる。その際に,請求項4に記載のように,
上記モニターによるエラー信号表示は使用者によって設
定された周期内に発生されたエラー信号をモニター上に
連続的にあるいは固定させて表示するようにしてもよ
い。本発明によって使用者に微細短絡による接触不良を
知らせるまた他の手段は,請求項5に記載のように,音
響による方法である。上記音響によるエラー状態表示
は,請求項6に記載のように,エラーの程度によって発
生される音響の強度を変化させて表示するようにしても
よい。本発明によって使用者に微細短絡による接触不良
を知らせるまた他の手段は,請求項7に記載のように,
別途の発光手段によることである。上記発光手段による
エラー状態表示は,請求項8に記載のように,エラーの
程度によって発光される光の強度を変化させて表示する
ようにしてもよい。
The display device can display a specific type of error signal on a monitor. At that time, as described in claim 4,
The display of the error signal by the monitor may be such that an error signal generated within a cycle set by the user is displayed continuously or fixed on the monitor. Yet another means for informing a user of a contact failure due to a micro short circuit according to the present invention is an acoustic method. The error state display by the sound may be displayed by changing the intensity of the sound generated according to the degree of the error. According to the present invention, another means for notifying a user of a contact failure due to a micro short circuit is as follows.
This is due to a separate light emitting means. The display of the error state by the light emitting means may be performed by changing the intensity of the emitted light depending on the degree of the error.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下,図面に基づいて本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図1は本発明の実施の形態
に係る瞬間的な接触不良感知方法を説明するフローチャ
ートである。図2は本発明の実施の形態に係る瞬間的な
接触不良感知方法を具現するためのハードウェア構成図
である。図1,図2を参照して本発明の実施の形態に係
る瞬間的な接触不良感知方法を説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a flowchart illustrating a method of instantaneously detecting a contact failure according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a hardware configuration diagram for implementing the instantaneous contact failure detection method according to the embodiment of the present invention. An instant contact failure detection method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0015】まず,測定装置のハードウェアを初期化す
る(s10)。その後,測定対象である伝導性導線190
上の両端部にリード線200を固定して電気的な接触を
させる。そして,伝導性導線190上に電源供給装置2
10により電流を供給して,伝導性導線の両端に固定し
結合させた両リード線200間の電圧差を測定手段22
0により測定する(s20)。
First, the hardware of the measuring device is initialized (s10). Then, the conductive wire 190 to be measured is
Lead wires 200 are fixed to both upper ends to make electrical contact. Then, the power supply device 2 is placed on the conductive wire 190.
A current is supplied by means 10 to measure the voltage difference between the two leads 200 fixed and coupled to both ends of the conductive wire.
It measures by 0 (s20).

【0016】測定された電圧差はマイクロプロセサーに
入力され,マイクロプロセサーは測定された電圧差と特
定範囲の誤差を第1比較手段230により比較し,測定
された電圧差が特定範囲の誤差内にあるかを判断する
(s30)。判断の結果,特定範囲の誤差内にある場合に
は,測定された電圧差を測定基準値として設定して貯蔵
手段240により貯蔵する(s40)。
The measured voltage difference is input to the microprocessor, and the microprocessor compares the measured voltage difference with an error in a specific range by the first comparing means 230, and makes the measured voltage difference fall within the error in the specific range. Determine if there is
(s30). If it is determined that the difference is within the error of the specific range, the measured voltage difference is set as a measurement reference value and stored by the storage unit 240 (s40).

【0017】次に外部から伝導性導線190上に振動手
段250により振動を加える(s50)。そして両リード
線200間の電圧差を測定してマイクロプロセサーに入
力する(s60)。マイクロプロセサーは測定された両リ
ード線200間の電圧差と既に貯蔵された測定基準値と
を第2比較手段260により比較する(s70)。
Next, vibration is applied to the conductive wire 190 from the outside by the vibration means 250 (s50). Then, the voltage difference between the two lead wires 200 is measured and input to the microprocessor (s60). The microprocessor compares the measured voltage difference between the two leads 200 with the stored reference value by the second comparing means 260 (s70).

【0018】比較した結果,二つの値の差異が特定範囲
内である場合(一例として±3%),判断手段270によ
り,測定器自体に関する誤差や測定周囲のノイズなどに
よって測定された電圧値であると判断して両リード線2
00間の電圧差を再測定する(s80)。
As a result of the comparison, when the difference between the two values is within a specific range (for example, ± 3%), the judging means 270 uses the voltage value measured due to an error relating to the measuring instrument itself or noise around the measurement. Judging that there are both lead wire 2
The voltage difference between 00 and 00 is measured again (s80).

【0019】比較した結果,二つの値の差異が特定範囲
以上である場合,判断手段270により,伝導性導線1
90上の微細短絡による接触不良と判断する(s90)。
伝導性導線190上の微細短絡による接触不良と判断さ
れると,マイクロプロセサーが使用者にその事実を知ら
せるために別途の表示装置280に特定エラー信号を出
力する(s100)。表示装置280は,出力された特定
エラー信号が入力されて,使用者に識別できる形態の信
号で使用者にエラー発生を知らせるようになる(s11
0)。
As a result of the comparison, if the difference between the two values is greater than a specific range, the determining means 270 determines that the conductive wire 1
It is determined that there is a contact failure due to a micro short circuit on 90 (s90).
If it is determined that there is a contact failure due to a minute short circuit on the conductive wire 190, the microprocessor outputs a specific error signal to a separate display device 280 to notify the user of the fact (s100). The display device 280 receives the output specific error signal and informs the user of the occurrence of the error using a signal in a form that can be identified to the user (s11).
0).

【0020】エラー発生の表示方法としては,モニター
によって特定形態のエラー信号を表示し,使用者によっ
て設定された周期内に発生されたエラー信号をモニター
上に連続的にあるいは固定させて表示するようにしても
よい。あるいは,音響によってエラー状態を表示し,エ
ラーの程度によって発生される音響の強度を変化させる
ようにしてもよい。または,発光手段によってエラー状
態を表示し,エラーの程度によって発光される光の強度
を変化させて表示するようにしてもよい。
As a method of displaying the occurrence of an error, an error signal of a specific form is displayed on a monitor, and an error signal generated within a cycle set by a user is displayed continuously or fixed on the monitor. It may be. Alternatively, an error state may be displayed by sound, and the intensity of the generated sound may be changed according to the degree of the error. Alternatively, the error state may be displayed by the light emitting means, and the intensity of the emitted light may be changed and displayed according to the degree of the error.

【0021】本実施の形態の瞬間的な接触不良感知方法
は色々な形態の測定分野に適用できる。一例として自動
車整備業所で自動車の状態を診断するための必修手段で
あるスキャナー,従来のテスター,オシロスコープなど
に適用可能である。特に従来のスキャナーは自動車整備
業所の専門家以外には正確な診断が難しかったが,本実
施の形態の瞬間的な接触不良感知方法を適用した診断装
置を利用すると家庭でも手軽に自動車の状態が診断でき
るようになる。
The instant contact failure detecting method of the present embodiment can be applied to various types of measurement fields. As an example, the present invention can be applied to a scanner, a conventional tester, an oscilloscope, and the like, which are necessary means for diagnosing the state of a vehicle at a vehicle maintenance shop. In particular, it was difficult for conventional scanners to make accurate diagnoses except for the specialists in the car maintenance industry. However, using the diagnostic device to which the instantaneous contact failure detection method of this embodiment is applied makes it easy to use the scanner at home. Can be diagnosed.

【0022】本実施の形態は従来の技術の問題点を解決
するための具体的な手段が一見単純なことのように見え
るが,今まで当業者にとって切実に要求されてきたにも
かかわらず,その解決手段が提示されなかった部分を,
一番簡単な方法で解決して提示しているという点にその
特徴がある。
In this embodiment, concrete means for solving the problems of the prior art seem at first glance to be simple. However, despite the urgent need for those skilled in the art, The part where the solution was not presented is
The feature is that the solution is presented in the simplest way.

【0023】以上,添付図面を参照しながら本発明にか
かる好適な実施形態について説明したが,本発明はかか
る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であ
れば,特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内
において,各種の変更例または修正例に想到し得ること
は明らかであり,それらについても当然に本発明の技術
的範囲に属するものと了解される。
While the preferred embodiment according to the present invention has been described with reference to the accompanying drawings, it is needless to say that the present invention is not limited to such an example. It is clear that a person skilled in the art can conceive various changes or modifications within the scope of the technical idea described in the claims, and it is obvious that the technical scope of the present invention is not limited thereto. It is understood that it belongs to.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上,詳細に説明したように本発明によ
れば,従来では専門家さえも診断しづらかった瞬間的な
接触不良に関する診断を誰でも容易に速く診断でき,自
動車診断用スキャナー,テスター,オシロスコープなど
に適用可能な瞬間的な接触不良感知方法を提供すること
ができる。
As described in detail above, according to the present invention, anybody can easily and quickly diagnose the instantaneous contact failure which has been difficult for even a specialist to diagnose in the past. It is possible to provide an instantaneous contact failure detection method applicable to a tester, an oscilloscope, and the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の実施の形態に係る瞬間的な接触不良
感知方法を説明するフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart illustrating a method of instantaneously detecting a contact failure according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施の形態に係る瞬間的な接触不良
感知のためのハードウェア構成図である。
FIG. 2 is a hardware configuration diagram for instantaneous contact failure detection according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

190 伝導性導線 200 リード線 220 測定手段 250 振動手段 280 表示装置 190 conductive wire 200 lead 220 measuring means 250 vibrating means 280 display

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 伝導性導線上の微細な短絡によって起こ
る接触不良を感知する方法であって,検索しようとする
伝導性導線上の両端部にリード線を固定して電気的接触
をさせる段階と,前記伝導性導線上に電流を供給した
後,前記両リード線間の電圧差を測定する段階と,前記
測定された電圧差をマイクロプロセサーに入力し,前記
マイクロプロセサーが前記測定された電圧差は特定範囲
の誤差内にあるかを判断する段階と,前記判断の結果,
前記特定範囲の誤差内にある場合,前記測定された電圧
差を測定基準値として設定して貯蔵する段階と,前記伝
導性導線上に振動を加える段階と,前記両リード線間の
電圧差を測定して前記マイクロプロセサーに入力する段
階と,前記マイクロプロセサーは測定された両リード線
間の電圧差と既に貯蔵された前記測定基準値を比較する
段階と,前記比較の結果,二つの値の差異が特定範囲内
である場合,測定器自体に関する誤差や測定周囲のノイ
ズなどにより測定された電圧値であると判断して両リー
ド線間の電圧差を再測定するように指示する段階と,前
記比較の結果,二つの値の差異が特定範囲以上である場
合,伝導性導線上の微細短絡による接触不良と判断する
段階と,前記伝導性導線上の微細短絡による接触不良と
判断された場合,前記マイクロプロセサーが使用者にそ
の事実を知らせるために別途の表示装置に特定エラー信
号を出力する段階と,前記表示装置は前記マイクロプロ
セサーから前記特定エラー信号が入力されて使用者に識
別できる形態の信号として使用者にエラー発生を知らせ
る段階と,を含むことを特徴とする伝導性導線上の微細
短絡による接触不良感知方法。
1. A method for detecting a contact failure caused by a minute short circuit on a conductive wire, the method comprising: fixing a lead wire to both ends of the conductive wire to be searched to make electrical contact; Measuring the voltage difference between the two leads after supplying a current on the conductive wire, and inputting the measured voltage difference to a microprocessor so that the microprocessor can measure the voltage difference. Is a step of determining whether the error is within a specific range, and as a result of the determination,
If the error is within the specific range, setting and storing the measured voltage difference as a measurement reference value, applying a vibration on the conductive wire, and determining a voltage difference between the two lead wires. Measuring and inputting the measured value to the microprocessor, the microprocessor comparing the measured voltage difference between the two leads with the stored reference value, and as a result of the comparison, If the difference is within a specific range, determining that the voltage value is measured due to an error relating to the measuring instrument itself or noise around the measurement, and instructing to re-measure the voltage difference between the two lead wires; As a result of the comparison, when the difference between the two values is greater than a specific range, determining that the contact failure is caused by a minute short circuit on the conductive wire; and determining that the contact failure is caused by the minute short circuit on the conductive wire. , The microprocessor outputs a specific error signal to a separate display device to notify the user of the fact, and the display device receives the specific error signal from the microprocessor and identifies the user. Informing a user of the occurrence of an error as a signal.
【請求項2】 前記伝導性導線上の微細な短絡は振動に
よって,前記伝導性導線が電気的に連結された状態から
瞬間的に短絡されたり,又は短絡されている状態から瞬
間的に電気的な連結状態に変わる時間がミリセコンド
(ms)以下であることを特徴とする請求項1に記載の
伝導性導線上の微細短絡による接触不良感知方法。
2. A minute short-circuit on the conductive wire is instantaneously short-circuited from the electrically connected state by the vibration, or is instantaneously short-circuited from the short-circuited state by the vibration. 2. The method according to claim 1, wherein the time required to change the connection state is less than milliseconds (ms).
【請求項3】 前記使用者にエラー発生を知らせる段階
は,モニターによって特定形態のエラー信号を表示する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の伝導性導線上
の微細短絡による接触不良感知方法。
3. The method according to claim 1, wherein the step of notifying the user of the occurrence of the error includes displaying a specific type of error signal on a monitor. Method.
【請求項4】 前記モニターによるエラー信号表示は,
使用者によって設定された周期内に発生されたエラー信
号をモニターに固定させて表示することを特徴とする請
求項3に記載の伝導性導線上の微細短絡による接触不良
感知方法。
4. An error signal display by the monitor,
4. The method of claim 3, wherein an error signal generated within a period set by a user is fixedly displayed on a monitor and displayed.
【請求項5】 前記使用者にエラー発生を知らせる段階
は,音響によってエラー状態を表示することを特徴とす
る請求項1又は2に記載の伝導性導線上の微細短絡によ
る接触不良感知方法。
5. The method as claimed in claim 1, wherein the step of notifying the user of the occurrence of the error includes displaying an error state by a sound.
【請求項6】 前記音響によるエラー状態表示は,エラ
ーの程度によって発生される音響の強度を変化させて表
示することを特徴とする請求項5に記載の伝導性導線上
の微細短絡による接触不良感知方法。
6. The contact failure according to claim 5, wherein the error status indication by the sound is displayed by changing the intensity of the sound generated according to the degree of the error. Sensing method.
【請求項7】 前記使用者にエラー発生を知らせる段階
は,発光手段によってエラー状態を表示することを特徴
とする請求項1又は2に記載の伝導性導線上の微細短絡
によって接触不良感知方法。
7. The method according to claim 1, wherein the step of notifying the user of the occurrence of the error includes displaying an error state by a light emitting unit.
【請求項8】 前記発光手段によるエラー状態表示は,
エラーの程度によって発光される光の強度を変化させて
表示することを特徴とする請求項7に記載の伝導性導線
上の微細短絡による接触不良感知方法。
8. An error status display by said light emitting means,
The method according to claim 7, wherein the display is performed by changing the intensity of the emitted light according to the degree of the error.
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