JP2001044267A - Vacuum vessel load lock device - Google Patents

Vacuum vessel load lock device

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JP2001044267A
JP2001044267A JP11213960A JP21396099A JP2001044267A JP 2001044267 A JP2001044267 A JP 2001044267A JP 11213960 A JP11213960 A JP 11213960A JP 21396099 A JP21396099 A JP 21396099A JP 2001044267 A JP2001044267 A JP 2001044267A
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load lock
work
vacuum
chamber
glass substrate
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謙治 小黒
Toshihiro Uchida
俊弘 内田
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Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate restrictions from being imposed on the form of works and to enable arbitrarily setting of loading direction of the works so as to effectively utilize the space of a vacuum vessel load lock device. SOLUTION: This device is a vacuum vessel load lock device, constituted in such a way as to provide at the gateway for works of a vacuum container for performing a process treatment. Work mount pedestals provided in load lock chambers 200 for housing the works are supported rotatably by a rotor 220, and the directions of the mounted works are set to be changeable according to the removing direction of a transfer chamber 210 for carrying the works to a process treatment part. The chambers 200 are arranged vertically in a multistage structure, a work mounting unit provided in each load lock chamber 200 is supported rotatably by he rotor 220, and the chambers 200 are provided in a plurality on the periphery of the chamber 210.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は真空ロードロック装
置に係り、特に、半導体ウエハやガラス基板などにイオ
ンビームを照射してプロセス処理などを行なわせる真空
容器内においてワーク出入口に設けられてワークの受渡
しをなすための真空ロードロック装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum load lock device, and more particularly to a vacuum load lock device provided at a work entrance and exit in a vacuum vessel for irradiating a semiconductor wafer, a glass substrate, or the like with an ion beam to perform a process. The present invention relates to a vacuum load lock device for delivery.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体ウエハやガラス基板などのワーク
に薄膜を形成したり、エッチングなどのプロセス処理し
たりする場合、パーティクルなどの汚染物が少ないこと
や、イオンビームの散乱が防げるなどの理由から、通
常、真空容器内において処理が行われる。そして、従来
は、ワーク収容カセットを介して真空容器に1枚ずつロ
ードロックチャンバに搬入した後、チャンバ内を真空状
態とし、トランスファーマシンによりロードロックチャ
ンバからプロセス処理チャンバに移送するように構成さ
れている。
2. Description of the Related Art When a thin film is formed on a work such as a semiconductor wafer or a glass substrate, or when a process such as etching is performed, there are few contaminants such as particles and the scattering of an ion beam can be prevented. Usually, the processing is performed in a vacuum vessel. Conventionally, after loading one by one into a vacuum lock chamber via a work accommodating cassette into a load lock chamber, the chamber is evacuated, and the transfer machine transfers the load lock chamber to the process processing chamber. I have.

【0003】従来のシステムでは、ロードロックチャン
バ、トランスファーチャンバ、プロセスチャンバを一直
線上に配列し、ロードロックチャンバにワークを一枚ず
つ搬入して、ワークを直線移動させることで処理するよ
うな構成となっていた。しかし、近年、ワークが大型化
しており、ワークを水平方向に移動させると広いスペー
スを必要とするために、最近では、プロセス処理を行な
わせるプロセスチャンバを縦型として、ワークを上下方
向に移動させて処理する構造のものも提示されている。
In a conventional system, a load lock chamber, a transfer chamber, and a process chamber are arranged in a straight line, a work is carried one by one into the load lock chamber, and processing is performed by moving the work linearly. Had become. However, in recent years, the size of the work has increased, and a large space is required to move the work in the horizontal direction. There is also proposed a structure for processing.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、ガラス基板
のように薄くて矩形の大型ワークに対する真空プロセス
処理は、その形状に起因して搬送方向に一定の制限があ
り、ローディングする際も一枚ずつ行ない、プロセス処
理も一枚単位で行われているのが実状である。このた
め、処理効率が非常に悪いという問題があった。また、
ワークローディングの後に真空引きするが、このときロ
ーディングされた基板が吸引負圧による空気の動きによ
り真空容器内で振動して搭載台座上でバタついたり、搭
載位置がズレたりする問題があった。特に、真空容器内
では負圧吸着ができないので、搬入されたワークの固定
ができず、したがって処理速度を上げるために吸引速度
を高くするなどの対策を講じることができない。
However, vacuum processing of a large, thin, rectangular work such as a glass substrate has a certain limitation in the transport direction due to its shape. In fact, the actual processing is also performed on a sheet-by-sheet basis. For this reason, there is a problem that the processing efficiency is very poor. Also,
Vacuum is drawn after work loading, but at this time, there is a problem that the loaded substrate vibrates in the vacuum container due to the movement of air due to the negative suction pressure, so that the substrate flaps on the mounting base or the mounting position shifts. In particular, since negative pressure suction cannot be performed in the vacuum vessel, the carried-in work cannot be fixed, and therefore, it is not possible to take measures such as increasing the suction speed in order to increase the processing speed.

【0005】本発明は、上記従来の問題点に着目してな
されたもので、ワーク形状に制限を受けることがない真
空ロードロック装置を提供することを目的としている。
また、ワークのローディング方向を任意に設定すること
ができ、スペースの有効活用ができるとともに、複数枚
のワークを同時に処理することができるようにした真空
ロードロック装置を提供することを目的とする。更に、
真空引きする際にワークを保持できるようにし、ワーク
のバタつきによる位置ずれなどの問題を引き起こすこと
のない構造とした真空ロードロック装置を提供すること
を目的としている。
The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and has as its object to provide a vacuum load lock device which is not restricted by the shape of a work.
It is another object of the present invention to provide a vacuum load lock device capable of arbitrarily setting a loading direction of a work, effectively utilizing a space, and simultaneously processing a plurality of works. Furthermore,
It is an object of the present invention to provide a vacuum load lock device that can hold a work when evacuating and has a structure that does not cause a problem such as displacement of the work due to fluttering.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る真空ロードロック装置は、プロセス処
理をなすための真空容器のワーク出入口に設けられてな
る真空ロードロック装置において,前記ワークが収容さ
れるロードロックチャンバに設けられたワーク搭載台座
をロータにより回転可能に支持し、プロセス処理部に搬
送するトランスファーチャンバの取り出し方向に合わせ
て搭載ワークの向きを変更可能としてなることを特徴と
している。
In order to achieve the above object, a vacuum load lock device according to the present invention is a vacuum load lock device provided at a work inlet / outlet of a vacuum vessel for performing a process. The work mounting pedestal provided in the load lock chamber in which the work is stored is rotatably supported by the rotor, and the orientation of the mounted work can be changed according to the removal direction of the transfer chamber transported to the processing unit. And

【0007】上記構成において、前記ロードロックチャ
ンバを上下に多段配置し、各ロードロックチャンバに設
けられた記ワーク搭載台座をロータにより回転可能に支
持するようにすればよい。また、前記ロードロックチャ
ンバを前記トランスファーチャンバの周囲に複数設けた
構成とすることができる。更に、前記ロードロックチャ
ンバには前記ワーク搭載台座の周囲に搭載ワークを把持
する振動抑制手段を設けるようにすればよい。この振動
抑制手段は、搭載ワークの点対称位置にて側端面を押圧
して搭載ワークの位置決めをなすセンタリング手段を兼
用させる構成とすることができる。
In the above configuration, the load lock chambers may be arranged vertically in multiple stages, and the work mounting pedestals provided in each load lock chamber may be rotatably supported by the rotor. Further, a plurality of the load lock chambers may be provided around the transfer chamber. Further, the load lock chamber may be provided with vibration suppressing means for gripping the mounted work around the work mounting base. The vibration suppressing means may be configured to also serve as a centering means for positioning the mounted work by pressing the side end surface at the point symmetric position of the mounted work.

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下に、本発明に係る真空ロード
ロック装置の具体的実施の形態を図面を参照して詳細に
説明する。図5に実施形態に係る真空ロードロック装置
を具備したイオン注入システムの全体構成の概略図を示
す。このシステムはワークとしてのガラス基板Wに対し
てイオンビームBを照射するプロセス処理をなすもの
で、ガラス基板Wの搬入搬出部となるロードロックチャ
ンバLC、実際のプロセス処理をなす室となる縦型のプ
ロセスチャンバPC、およびこれらの間でガラス基板の
受渡しをなすトランスファーチャンバTCとを有し、こ
れらを真空容器として構成している。この実施形態で
は、ロードロックチャンバLCを上下二段としつつこれ
を左右に併設した構成となっており、チャンバにてガラ
ス基板Wを搬入して真空引きし、プロセスチャンバPC
に真空搬送した後にプロセス処理をなし、当該プロセス
処理終了後に真空搬送して別のチャンバに戻して不活性
ガスによるパージを行なって大気搬出する一連の作業
を、ローテーションを組んで連続的に行なわせるように
している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, specific embodiments of a vacuum load lock device according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 5 shows a schematic diagram of the overall configuration of an ion implantation system including the vacuum load lock device according to the embodiment. This system performs a process of irradiating a glass substrate W as a workpiece with an ion beam B. The system includes a load lock chamber LC serving as a loading / unloading unit of the glass substrate W, and a vertical type serving as a chamber for performing the actual process. And a transfer chamber TC for transferring a glass substrate between them, and these are configured as a vacuum container. In this embodiment, the load lock chamber LC has two stages, upper and lower, and is arranged side by side. The glass substrate W is loaded into the chamber and evacuated, and the process chamber PC is evacuated.
After a vacuum transfer to the chamber, a series of operations for carrying out a vacuum transfer after the completion of the process processing, returning to another chamber, purging with an inert gas, and carrying out to the atmosphere are continuously performed by setting a rotation. Like that.

【0009】真空ロードロック装置の実施形態を図1〜
4を参照して説明する。図1は同装置の一部断面平面
図、図2は同縦断面図、図3は同側面図、図4は同装置
に内蔵されている上部ワーク搭載台座の斜視図である。
このロードロック装置は、図5にも示したように、ロー
ドロックチャンバLCを上下二段としつつこれをトラン
スファーチャンバTCに向かって左右に併設することに
より4つのロードロックチャンバUL、LL、UR、L
Rを形成している。図1〜4において、4つのロードロ
ックチャンバを番号200(200UL、200LL、
200UR、200LR)で示している。
An embodiment of a vacuum load lock device is shown in FIGS.
This will be described with reference to FIG. 1 is a partial cross-sectional plan view of the apparatus, FIG. 2 is a longitudinal sectional view of the same, FIG. 3 is a side view of the same, and FIG. 4 is a perspective view of an upper work mounting base built in the apparatus.
As shown in FIG. 5, this load lock device is provided with four load lock chambers LC, UL, LL, UR, L
R is formed. 1-4, the four load lock chambers are numbered 200 (200 UL, 200 LL,
(200 UR, 200 LR).

【0010】このチャンバ200は真空チャンバケース
202によって外部と遮断されるが、大気側との間でガ
ラス基板Wを搬出入させるため、各ロードロックチャン
バ200には開閉扉204によって仕切られる外部出入
口206が設けられ、この外部出入口206は同一面と
なるように設定され(図1右側端面)、大気トランスフ
ァーマシン208が左右上下に移動することによって、
カセット収納されたガラス基板Wを各ロードロックチャ
ンバ200に位置を合わせ、受渡しアーム209をチャ
ンバ内に出し入れしてワーク搬入ができるようにしてい
る。
Although the chamber 200 is shut off from the outside by a vacuum chamber case 202, each load lock chamber 200 has an external entrance 206 partitioned by an opening / closing door 204 in order to carry the glass substrate W in and out of the atmosphere. The exterior entrance 206 is set to be on the same plane (the right end face in FIG. 1), and the atmosphere transfer machine 208 moves left, right, up and down,
The glass substrate W stored in the cassette is aligned with each load lock chamber 200, and the transfer arm 209 is moved in and out of the chamber so that the work can be carried in.

【0011】一方、各ロードロックチャンバ200は、
真空状態におかれているトランスファーチャンバ210
(図5ではTC)に対して内部出入口212を通じてガ
ラス基板Wの受渡しをなすようにしている。トランスフ
ァーチャンバ210の中央に置かれている真空トランス
ファーマシン214は、左右のロードロックチャンバ2
00L(200UL、200LL)、200R(200
UR、200LR)に回転して向き合うことができるよ
うになっており、受渡しアーム216を差し入れてガラ
ス基板Wの受渡しをなす。このため、左右の内部出入口
212の開口面は互いに90度の角度をなして真空トラ
ンスファーマシン214に対面している。
On the other hand, each load lock chamber 200
Transfer chamber 210 under vacuum
(TC in FIG. 5), the glass substrate W is transferred through the internal entrance 212. The vacuum transfer machine 214 located at the center of the transfer chamber 210
00L (200UL, 200LL), 200R (200
UR, 200 LR), and the transfer arm 216 is inserted to transfer the glass substrate W. For this reason, the opening surfaces of the left and right internal ports 212 face the vacuum transfer machine 214 at an angle of 90 degrees to each other.

【0012】前記外部出入口206から搬入されるガラ
ス基板Wは矩形とされているため、大気搬送形態と真空
搬送形態が異なる。そこで、各ロードロックチャンバ2
00には、ワーク搭載ユニット230が内蔵され、これ
をロータにより回転可能に支持し、搬入されたガラス基
板Wをプロセス処理部に搬送するトランスファーチャン
バ210の取り出し方向に合わせて搭載ガラス基板Wの
向きを変更可能としている。この構造を図4に示した上
部ワーク搭載ユニット230Uを参照して説明する。
Since the glass substrate W carried in from the external entrance 206 is rectangular, the atmospheric transport mode and the vacuum transport mode are different. Therefore, each load lock chamber 2
00, a work mounting unit 230 is built in, rotatably supported by a rotor, and the orientation of the mounting glass substrate W is adjusted in accordance with the removal direction of the transfer chamber 210 that transports the loaded glass substrate W to the processing section. Can be changed. This structure will be described with reference to the upper work mounting unit 230U shown in FIG.

【0013】真空チャンバケース202の天板部にロー
タ220を据え付け、カップリング222および磁性流
体シール224を介して回転軸226をチャンバ内部に
突出させている。回転軸226の下端には門型吊り下げ
フレーム228を介して座板232が前記回転軸226
によって水平回転できるように支持されている。座板2
32は盤面上にガラス基板Wを搭載支持するが、この搭
載面には搭載ユニット230が固定され、ユニット上面
にガラス基板Wを載せるようにしている。搭載ユニット
230は座板232の上面に一対のバー234、234
を平行に置き、その間に小型板236を配置し、これら
の上面にガラス受け238を合計8個所設けてガラス基
板Wを載せるようにしている。そして、載置されている
ガラス基板Wの下面に、トランスファーマシン208、
214における受渡しアーム209、216に先端に設
けられたU字形状のハンドを前後からそれぞれ差し入れ
できるように、隙間を形成しているのである。
The rotor 220 is mounted on the top plate of the vacuum chamber case 202, and the rotation shaft 226 protrudes into the chamber via the coupling 222 and the magnetic fluid seal 224. At the lower end of the rotating shaft 226, a seat plate 232 is connected via a gate-shaped hanging frame 228 to the rotating shaft 226.
Is supported so that it can rotate horizontally. Seat plate 2
32 mounts and supports the glass substrate W on the board surface, and the mounting unit 230 is fixed to this mounting surface, and the glass substrate W is mounted on the upper surface of the unit. The mounting unit 230 has a pair of bars 234 and 234 on the upper surface of the seat plate 232.
Are placed in parallel, a small plate 236 is arranged between them, and a total of eight glass receivers 238 are provided on the upper surface of the small plates 236 so that the glass substrate W is placed thereon. Then, on the lower surface of the placed glass substrate W, a transfer machine 208,
A gap is formed so that a U-shaped hand provided at the tip of the transfer arms 209 and 216 in 214 can be inserted from the front and rear, respectively.

【0014】このような上部ワーク搭載ユニット230
Uは、上部ロードロックチャンバ200UL、200U
Rに各々装備されている。下部ロードロックチャンバ2
00LL、200LRにも同様のワーク搭載ユニット2
30が装備されているが、この下部ワーク搭載ユニット
230Lは、ロータ220から回転軸226に至る機構
部がチャンバ底面部に取り付けられ、チャンバ内に突出
された回転軸26に直接回転可能に支持されている。す
なわち門型吊り下げフレーム228は介在されていな
い。その他の構成は上部ワーク搭載ユニット230Uと
同様である。
Such an upper work mounting unit 230
U is the upper load lock chamber 200UL, 200U
R is equipped with each. Lower load lock chamber 2
Similar work mounting unit 2 for 00LL and 200LR
In the lower work mounting unit 230L, a mechanism from the rotor 220 to the rotating shaft 226 is mounted on the bottom surface of the chamber, and is directly rotatably supported by the rotating shaft 26 protruding into the chamber. ing. That is, the gate-type hanging frame 228 is not interposed. Other configurations are the same as those of the upper work mounting unit 230U.

【0015】このような構成により、4室のロードロッ
クチャンバ200では、それぞれ、搬入されたガラス基
板Wを搭載したワーク搭載ユニット230を45度回転
させることにより、真空トランスファーマシン214の
受渡し方向にガラス基板Wの向きを合わせることができ
る。
With such a configuration, in the four load lock chambers 200, the work mounting unit 230 on which the loaded glass substrate W is mounted is rotated by 45 degrees so that the glass is transferred in the transfer direction of the vacuum transfer machine 214. The direction of the substrate W can be adjusted.

【0016】ところで、ガラス基板Wが各ロードロック
チャンバ200に搬入された後、チャンバ内を真空引き
するが、外部出入口206は開閉扉204により閉め切
り可能とされ、同時に内部出入口212部分もシャッタ
240により閉め切り可能としている。また、真空引き
のために左右のロードロックチャンバ200L、200
Rの中間部位に真空吸引のためのダクト手段242が設
備されている。
By the way, after the glass substrate W is carried into each load lock chamber 200, the inside of the chamber is evacuated. The outside entrance 206 can be closed and opened by the opening / closing door 204, and at the same time, the inside entrance 212 is also opened by the shutter 240. It can be closed and closed. In addition, the left and right load lock chambers 200L and 200L are used for evacuation.
A duct means 242 for vacuum suction is provided at an intermediate portion of R.

【0017】ロードロックチャンバ200を真空引きす
ると、内部に搬入されているガラス基板Wは急激な圧力
変動により、ワーク搭載ユニット230上でバタつくお
それがある。これを防止するために、各ロードロックチ
ャンバ200には前記ワーク搭載台座218の周囲に搭
載ガラス基板Wを把持する振動抑制手段244を設けて
いる。これは同時に搭載ガラス基板Wを点対称位置にて
側端面を押圧して搭載ガラス基板Wの位置決めをなすセ
ンタリング手段を兼用させている。
When the load lock chamber 200 is evacuated, the glass substrate W carried therein may flap on the work mounting unit 230 due to rapid pressure fluctuation. In order to prevent this, each load lock chamber 200 is provided with a vibration suppressing means 244 for gripping the mounting glass substrate W around the work mounting base 218. This also serves as a centering means for positioning the mounting glass substrate W by pressing the side end surface of the mounting glass substrate W at a point symmetrical position.

【0018】図1にはこの振動抑制手段244の配置形
態を示し、図6〜図7に詳細構成を示している。図示の
ように、各ロードロックチャンバ200内には、ワーク
搭載ユニット230上の搭載ガラス基板Wの点対称位置
にて側端面を押圧して位置決めをなす一対の端面位置調
整手段246,246が配置され、これらが振動抑制手
段244を構成している。各端面位置調整手段246は
ワーク搭載ユニット230上に載置されているガラス基
板Wの対角線上に位置する各コーナ部分の外方に配置さ
れている。各端面位置調整手段246は真空チャンバケ
ース202の天板および底板からチャンバ内に突入され
ている回転支柱248を有している。この回転支柱24
8の先端部に水平アーム250が取り付けられており、
この水平アーム250を水平旋回してガラス基板Wの隅
部上面まで移動できるようになっており、矩形ガラス基
板Wの各縁辺に対して45度をなす角度まで旋回させて
停止されるよう構成されている。水平アーム250の上
面部には一対の押えローラ252、252が取り付けら
れ、これがガラス基板Wのコーナを挟む側端面に各々当
接するように配置される。したがって、回転支柱248
を回転させて水平アーム250の旋回を行なわせ、水平
アーム250がガラス基板Wの辺と45度をなす位置で
停止されることにより、搭載ガラス基板Wが位置ずれし
ていても押えローラ252,252によってコーナ位置
が正規の搭載位置に調整される。各端面位置調整手段2
46の水平アーム250は搭載ガラス基板Wの対角線上
に一対設けられているので、両者の作用で搭載ガラス基
板Wはワーク搭載ユニット230上でセンタリングされ
る。このセンタリングは、大気側から搬入された形態の
まま行なうようにしている。各端面位置調整手段246
は、チャンバケース202の外部に設けた水平アーム2
50をエアシリンダ256の押出しにより磁性流体シー
ル254を介して位置決め方向に操作し、位置決め後は
エアシリンダ256の引込みによって前記アーム250
が逆方向に復帰させる。エアシリンダ256を同時に作
動させることにより容易に同期させることができる。こ
の一対の端面位置調整手段246を継続して作動させる
ことにより、ロードロックチャンバ200内を真空引き
する際に、ガラス基板Wは固定保持状態となり、吸引負
圧変動によりバタついたり、位置ずれすることが防止さ
れる。
FIG. 1 shows the arrangement of the vibration suppressing means 244, and FIGS. As shown in the figure, a pair of end surface position adjusting means 246 and 246 for positioning by pressing the side end surfaces at the point symmetric positions of the mounting glass substrate W on the work mounting unit 230 are arranged in each load lock chamber 200. These constitute the vibration suppression means 244. Each end face position adjusting means 246 is arranged outside each corner portion located on a diagonal line of the glass substrate W mounted on the work mounting unit 230. Each end surface position adjusting means 246 has a rotating column 248 protruding into the chamber from the top plate and the bottom plate of the vacuum chamber case 202. This rotating support 24
8, a horizontal arm 250 is attached to the tip,
The horizontal arm 250 can be horizontally rotated to move to the upper surface of the corner of the glass substrate W, and is configured to stop by being rotated to an angle of 45 degrees with respect to each edge of the rectangular glass substrate W. ing. A pair of pressing rollers 252, 252 are attached to the upper surface of the horizontal arm 250, and are arranged so as to be in contact with the side end surfaces of the glass substrate W sandwiching the corner. Therefore, the rotating support 248
Is rotated to cause the horizontal arm 250 to rotate, and the horizontal arm 250 is stopped at a position at 45 degrees to the side of the glass substrate W. Thus, even if the mounting glass substrate W is misaligned, the pressing rollers 252, With 252, the corner position is adjusted to the normal mounting position. Each end face position adjusting means 2
The 46 horizontal arms 250 are provided in a pair on the diagonal line of the mounting glass substrate W, so that the mounting glass substrate W is centered on the work mounting unit 230 by the action of both. This centering is carried out in the state of being carried in from the atmosphere side. Each end face position adjusting means 246
Is a horizontal arm 2 provided outside the chamber case 202.
50 is operated in the positioning direction via the magnetic fluid seal 254 by pushing out the air cylinder 256, and after positioning, the arm 250
Returns in the opposite direction. By simultaneously operating the air cylinders 256, synchronization can be easily achieved. By continuously operating the pair of end surface position adjusting means 246, when the load lock chamber 200 is evacuated, the glass substrate W is in a fixed holding state, and the glass substrate W is fluttered or displaced due to a change in suction negative pressure. Is prevented.

【0019】なお、前述した真空トランスファーマシン
214は上下二段構造となっており、上部ロードロック
チャンバ200UL、200URとのワーク受渡しは上
段マシンにより行ない、下部ロードロックチャンバ20
0LL、200LRとのワーク受渡しは下段マシンによ
り行なうようにしている。
The above-described vacuum transfer machine 214 has a two-tiered structure in which the upper and lower load lock chambers 200 UL and 200 UR are transferred to and from the lower load lock chamber 20.
The delivery of the workpiece to 0LL and 200LR is performed by the lower machine.

【0020】このように構成されたロードロック装置の
作用は次のようになる。ガラス基板W単体の処理工程と
しては、ロードロックチャンバ200への搬入後の真空
引き、これに続いて真空搬送によるプロセスチャンバへ
の移送、プロセス処理、プロセスチャンバからロードロ
ックチャンバへの戻し移動のための真空搬送、ロードロ
ックチャンバ200の窒素ガスによるパージ、大気搬送
といった一連の流れとなる。具体的には、ロードロック
チャンバ200の内部出入口212のシャッタ240を
閉じてトランスファーチャンバ210との間を遮断し、
外部出入口206の扉204を開いてガラス基板Wを搬
入する。その後、扉204を閉じ、振動抑制手段244
を作動させてガラス基板Wのセンタリングを行なうと同
時にその位置に固定保持しつつ真空引きを行なう。ロー
ドロックチャンバ200の内部が真空状態に達した後
に、前記振動抑制手段244を開放し、シャッタ240
を開くと同時にロータ220を作動してワーク搭載ユニ
ット230を45度回転させて、ガラス基板Wの向きを
真空トランスファーマシン214の受渡し方向に向け
る。これを受けて真空トランスファーマシン214は受
渡しアーム216をロードロックチャンバ200内に差
し入れ、ガラス基板Wを持上げて引き抜き、回転してプ
ロセスチャンバPC側に方向を転換する。その後は、図
5から理解できるように、プロセスチャンバPCに装備
されているプラテン上にガラス基板Wを載置し、ここで
ガラス基板Wを把持した後、プラテンを垂直に転回して
ビーム照射のための垂直移動を行なってプロセス処理を
なす。この処理の完了後は、プラテン上から真空トラン
スファーマシン214がガラス基板Wを受け取り、反転
してロードロックチャンバ200の方向に向け、チャン
バ内部のワーク搭載ユニット230上に載置する。ガラ
ス基板Wを受け入れたロードロックチャンバ200はシ
ャッタ240を閉じ、窒素ガスによるパージを行なった
後、外部出入口206を開放し、大気トランスファーマ
シン208によりカセットに処理済みガラス基板Wを格
納する。
The operation of the thus constituted load lock device is as follows. As a processing step of the glass substrate W alone, evacuation after loading into the load lock chamber 200, subsequent transfer to the process chamber by vacuum transfer, process processing, and return movement from the process chamber to the load lock chamber are performed. A series of flows such as vacuum transfer, purge of the load lock chamber 200 with nitrogen gas, and atmospheric transfer. Specifically, the shutter 240 of the internal entrance 212 of the load lock chamber 200 is closed to shut off the transfer chamber 210,
The glass substrate W is carried in by opening the door 204 of the external entrance 206. Thereafter, the door 204 is closed, and the vibration suppressing means 244 is closed.
Is operated to perform centering of the glass substrate W, and at the same time, evacuate while fixing and holding at that position. After the inside of the load lock chamber 200 reaches a vacuum state, the vibration suppressing means 244 is opened, and the shutter 240
At the same time, the rotor 220 is operated to rotate the work mounting unit 230 by 45 degrees, and the direction of the glass substrate W is directed to the delivery direction of the vacuum transfer machine 214. In response to this, the vacuum transfer machine 214 inserts the transfer arm 216 into the load lock chamber 200, lifts and pulls out the glass substrate W, rotates and changes the direction to the process chamber PC side. Thereafter, as can be understood from FIG. 5, the glass substrate W is placed on the platen provided in the process chamber PC, and the glass substrate W is gripped here. Vertical movement for processing. After the completion of this processing, the vacuum transfer machine 214 receives the glass substrate W from above the platen, turns the glass substrate W in the direction of the load lock chamber 200, and places the glass substrate W on the work mounting unit 230 inside the chamber. The load lock chamber 200 that has received the glass substrate W closes the shutter 240, purges with nitrogen gas, opens the external entrance 206, and stores the processed glass substrate W in a cassette by the atmospheric transfer machine 208.

【0021】実施形態では、ロードロックチャンバ20
0が4室あるため、上記工程をローテーションを組ん
で、連続的に行なうようにし、ガラス基板Wの1枚の処
理がおよそ4分要するものとして、連続処理によって平
均1分/1枚のタクトタイムで処理できるものとなって
いる。これは具体的には、4枚のガラス基板Wを同時に
運用しており、1枚目について例えばロードロックチャ
ンバ200ULに搬入して真空引きしている工程におい
て、ロードロックチャンバ200LLに装填されて供給
された2枚目は下段の真空トランスファーマシン214
によってプロセスチャンバPCからロードロックチャン
バ200LLへの戻し搬送を行なわせた後に窒素ガスパ
ージ、基板交換作業を行なうようにし、ロードロックチ
ャンバ200URに装填されて供給された3枚目はプロ
セス処理と、その後に上段の真空トランスファーマシン
214によって戻り搬送工程に置かれる。またロードロ
ックチャンバ200LRを通じて供給された4枚目は下
段の真空トランスファーマシン214によってプロセス
チャンバへの供給過程からプラテン搭載過程にあるよう
に設定する。この全体の処理工程を図8に示す。厳密に
は図示の各工程の時間が同一でないため、待ち時間が含
まれるが、この連続処理を実施することによって大幅に
タクトタイムを縮小することができる。
In the embodiment, the load lock chamber 20
Since there are four chambers 0, the above-described process is performed continuously by setting a rotation. Assuming that one processing of one glass substrate W requires about 4 minutes, an average of 1 minute / takt time is obtained by continuous processing. It can be processed with. Specifically, in a process in which four glass substrates W are operated at the same time and the first substrate is loaded into the load lock chamber 200UL and evacuated, for example, the glass substrate W is loaded into the load lock chamber 200LL and supplied. The second sheet is the lower vacuum transfer machine 214
After the transfer from the process chamber PC to the load lock chamber 200LL is performed, the nitrogen gas purge and the substrate replacement operation are performed. The third sheet loaded and supplied to the load lock chamber 200UR is subjected to the process processing and thereafter. The upper stage vacuum transfer machine 214 sets the return transfer process. The fourth sheet supplied through the load lock chamber 200LR is set by the lower vacuum transfer machine 214 so as to be in the process of supplying the process chamber to the platen mounting process. FIG. 8 shows the entire processing steps. Strictly speaking, the time of each step shown is not the same, so a waiting time is included. However, by performing this continuous processing, the tact time can be greatly reduced.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、プロセ
ス処理をなすための真空容器のワーク出入口に設けられ
てなる真空ロードロック装置において,前記ワークが収
容されるロードロックチャンバに設けられたワーク搭載
ユニットをロータにより回転可能に支持し、プロセス処
理部に搬送するトランスファーチャンバの取り出し方向
に合わせて搭載ワークの向きを変更可能としているた
め、ワーク形状に制限を受けることがなく、ワークのロ
ーディング方向を任意に設定することができ、スペース
の有効活用ができるものとなる。更に、ロードロックチ
ャンバを上下に多段配置し、各ロードロックチャンバに
設けられた記ワーク搭載ユニットをロータにより回転可
能に支持する構成とし、ロードロックチャンバを前記ト
ランスファーチャンバの周囲に複数設けた構成とするこ
とにより、複数枚のワークを同時に処理することがで
き、タクトタイムを縮減することが可能となっている。
ワーク搭載ユニットの周囲に搭載ワークを把持する振動
抑制手段を設け、これを搭載ワークの点対称位置にて側
端面を押圧して搭載ワークの位置決めをなすセンタリン
グ手段を兼用させた構成とすることにより、真空引きす
る際にワークを保持でき、ワークのバタつきによる位置
ずれなどの問題を引き起こすことのない構造とした真空
ロードロック装置とすることができる。
As described above, the present invention relates to a vacuum load lock device provided at a work entrance / exit of a vacuum vessel for performing a process, wherein the vacuum lock device is provided in a load lock chamber for accommodating the work. The work mounting unit is rotatably supported by the rotor, and the direction of the mounted work can be changed according to the take-out direction of the transfer chamber to be transported to the process processing unit. The direction can be set arbitrarily, and the space can be effectively used. Furthermore, a configuration in which the load lock chambers are arranged in multiple stages vertically, the work mounting unit provided in each load lock chamber is rotatably supported by a rotor, and a plurality of load lock chambers are provided around the transfer chamber. By doing so, a plurality of workpieces can be processed at the same time, and the tact time can be reduced.
Vibration suppression means for gripping the mounted work is provided around the work mounting unit, and this is configured as a centering means that also presses the side end surface at the point symmetrical position of the mounted work to position the mounted work. In addition, a vacuum load lock device having a structure that can hold a work when vacuuming and does not cause problems such as displacement of the work due to fluttering can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】実施形態に係る真空ロードロック装置の平面断
面図である。
FIG. 1 is a plan sectional view of a vacuum load lock device according to an embodiment.

【図2】同装置の縦断面図である。FIG. 2 is a longitudinal sectional view of the same device.

【図3】同装置の側面図である。FIG. 3 is a side view of the same device.

【図4】同装置における上部ワーク搭載台座の構成を示
す斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view showing a configuration of an upper work mounting base in the apparatus.

【図5】実施形態に係る真空ロードロック装置を具備し
たイオン注入システムの全体構成の概略図である。
FIG. 5 is a schematic diagram of an overall configuration of an ion implantation system including the vacuum load lock device according to the embodiment.

【図6】振動抑制手段の側面図である。FIG. 6 is a side view of the vibration suppressing unit.

【図7】振動抑制手段の平面図である。FIG. 7 is a plan view of a vibration suppressing unit.

【図8】実施形態に係る真空ロードロック装置による作
業工程図である。
FIG. 8 is a work process diagram by the vacuum load lock device according to the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

200 ロードロックチャンバ 202 真空チャンバケース 204 開閉扉 206 外部出入口 208 大気トランスファーマシン 209 受渡しアーム 210 トランスファーチャンバ 212 内部出入口 214 真空トランスファーマシン 216 受渡しアーム 220 ロータ 222 カップリング 224 磁性流体シール 226 回転軸 228 吊り下げフレーム 230 搭載ユニット 232 座板 234 バー 236 小型板 238 ガラス受け 240 シャッタ 242 真空ダクト手段 244 振動抑制手段 246 端面位置調整手段 248 回転支柱 250 水平アーム 252 押えローラ 254 磁性流体シール 256 エアシリンダ 200 Load lock chamber 202 Vacuum chamber case 204 Opening / closing door 206 External entrance 208 Atmospheric transfer machine 209 Delivery arm 210 Transfer chamber 212 Internal entrance / exit 214 Vacuum transfer machine 216 Delivery arm 220 Rotor 222 Coupling 224 Magnetic fluid seal 226 Rotating shaft 228 Hanging frame 230 Mounting unit 232 Seat plate 234 Bar 236 Small plate 238 Glass receiver 240 Shutter 242 Vacuum duct means 244 Vibration suppression means 246 End face position adjustment means 248 Rotating support 250 Horizontal arm 252 Holding roller 254 Magnetic fluid seal 256 Air cylinder

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 プロセス処理をなすための真空容器のワ
ーク出入口に設けられてなる真空ロードロック装置にお
いて,前記ワークが収容されるロードロックチャンバに
設けられたワーク搭載台座をロータにより回転可能に支
持し、プロセス処理部に搬送するトランスファーチャン
バの取り出し方向に合わせて搭載ワークの向きを変更可
能としてなることを特徴とする真空容器ロードロック装
置。
In a vacuum load lock device provided at a work entrance / exit of a vacuum vessel for performing a process, a work mounting base provided in a load lock chamber for accommodating the work is rotatably supported by a rotor. A vacuum vessel load lock device characterized in that the orientation of the mounted work can be changed according to the direction in which the transfer chamber to be transported to the process section is taken out.
【請求項2】 前記ロードロックチャンバを上下に多段
配置し、各ロードロックチャンバに設けられた記ワーク
搭載台座をロータにより回転可能に支持してなることを
特徴とする請求項1に記載の真空容器ロードロック装
置。
2. The vacuum according to claim 1, wherein said load lock chambers are vertically arranged in multiple stages, and said work mounting pedestals provided in each load lock chamber are rotatably supported by a rotor. Container load lock device.
【請求項3】 前記ロードロックチャンバを前記トラン
スファーチャンバの周囲に複数設けたことを特徴とする
請求項1または2のいずれか1に記載の真空ロードロッ
ク装置。
3. The vacuum load lock device according to claim 1, wherein a plurality of the load lock chambers are provided around the transfer chamber.
【請求項4】 前記ロードロックチャンバには前記ワー
ク搭載台座の周囲に搭載ワークを把持する振動抑制手段
を設けたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか
1に記載の真空ロードロック装置。
4. The vacuum load lock device according to claim 1, wherein said load lock chamber is provided with a vibration suppressing means for gripping the mounted work around said work mounting base. .
【請求項5】 前記振動抑制手段は搭載ワークの点対称
位置にて側端面を押圧して搭載ワークの位置決めをなす
センタリング手段を兼用させてなることを特徴とする請
求項4に記載の真空ロードロック装置。
5. The vacuum load according to claim 4, wherein said vibration suppressing means also serves as a centering means for pressing a side end face at a point symmetrical position of the mounted work to position the mounted work. Locking device.
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