JP2001027606A - 蛍光計測方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 蛍光計測装置において、微小なゴミやほこり
が光学系に付着したり光路に侵入することを防止するこ
とにより、信頼性の高い診断情報を得ることができるよ
うにする。 【解決手段】 励起光源１０から発生した励起光Ｌｅを
光Ａファイバ２０、光分離ユニット３００および光Ｂフ
ァイバ４０を経由して光ファイバコネクタ５０によって
接続された先端光ファイバ６０の端部Ｓｏから試料１０
０に向けて照射し、この励起光Ｌｅの照射により試料１
００から発生した蛍光やラマン光等の再放射光Ｓｈを再
び先端光ファイバ６０の端部Ｓｏから入射させ先端光フ
ァイバ６０、光Ｂファイバ４０および光分離ユニット３
００を経由して光Ｃファイバ７０の端部Ｃｏに接続され
た分光測光器８０に導き、この分光測光器８０により再
放射光Ｓｈを測光する。光分離ユニット３００は密封容
器２００に収容され、さらに光ファイバコネクタ５０と
ともにアースされる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は蛍光計測方法および
装置に関し、詳しくは生体等の試料に励起光を照射する
ことにより試料から発せられる蛍光やラマン光等の再放
射光を測定する蛍光計測方法および装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、励起光の照射により試料から
発生する蛍光やラマン光等の再放射光を測光する計測装
置を用いて、生体等から発生する再放射光の画像あるい
はスペクトルを取得し、診断に供する情報を得る蛍光計
測方式が知られており、近年では光ファイバを用いて、
光源から発せられる励起光を生体内部へ導き、その励起
光の照射により生体内部から発せられる蛍光やラマン光
等の再放射光を計測して生体内部の診断情報を得る蛍光
計測方式等も検討されている。

【０００３】上記のような微弱な再放射光を測定すると
きには測定対象となる再放射光に混入する照明光あるい
は自然光等の背景ノイズを種々の方式により除去する試
みがなされており、例えば、背景光が測光器に入射する
前に、特定の波長領域の光の強度を減衰させるフィルタ
を配設したり、測光された複数の検出値を演算すること
により背景光を除いたりする方式等が知られている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特定の
波長領域の光の強度をフィルタにより減衰させたり、測
定された複数の測光値を演算することにより背景光を除
く方式等では、測定対象である再放射光と同質の光（測
定対象となる再放射光と共通の波長領域の光であって共
通の光路を進む光）を除くことは困難である。すなわ
ち、前記測定装置の光学系の光路に侵入したほこり等の
異物に励起光が照射されることにより該異物から発生す
る再放射光は、測定対象である生体等から発生する再放
射光と共通の波長領域を備えている場合があるので両者
が共通の光路に混在する場合には分離することが困難と
なる。従って、測定対象外のほこり等の異物から発生す
る再放射光が分離されずに測定対象光に混入して測光器
に入射し、測定の精度を劣化させることがある。

【０００５】光ファイバを励起光および再放射光の光路
として生体内等の狭所を計測する蛍光計測方式において
は、この光ファイバの光路の途中には異物は侵入しない
が、光ファイバの光路の分岐点および光路の中継点等の
光学系においては光ファイバから外部に射出された光を
光学部品を介して他の光ファイバに入射させるので、光
路の分岐点および中継点等の光学系内の光路に異物が侵
入したり光学部品に異物が付着したりして上記のような
測定の精度を劣化させるという問題が依然として残る。

【０００６】また、このような再放射光は、励起光がほ
こり等の異物を直接照射して生じるもののみならず、散
乱等により光路を逸脱した励起光が迷光となり光学部品
の支持体等を照射することにより支持体を構成する物質
から発生することもある。例えば、光ファイバーへ入射
する光路において本来の光路を逸脱しコア部からクラッ
ド部に入射する入射角が小さくなった励起光からなる迷
光は、コア部とクラッド部との境界で全反射せずにクラ
ッド部を通過してクラッド部の周りのバッファ層あるい
はバッファ層の周りの樹脂層に到達し、バッファ層ある
いは樹脂層が励起されて蛍光やラマン光等の再放射光を
発生し、その再放射光が測定対象光に混入して測光器に
入射し、測定の精度を劣化させるという問題も生じる。

【０００７】特に、生体の自家蛍光の強度は弱いため、
微小なゴミやほこりが光学系に付着したりわずかな励起
光からなる迷光が発生するこにより測定対象外の蛍光や
ラマン光等の再放射光が発生し、測光されるスペクトル
のプロファイルを変化させるので、検出された画像やス
ペクトルの品質が劣化してしまう。

【０００８】本発明は上記事情に鑑みなされたものであ
って、微小なゴミやほこりが光学系に付着したり光路に
侵入することを防止することにより、信頼性の高い診断
情報を得ることができる蛍光計測方法および装置を提供
することを目的とするものである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明の蛍光計測方法
は、励起光が照射された試料から発せられ、光ファイバ
および光学系を経由して射出された蛍光やラマン光等の
再放射光を測光する蛍光計測方法において、光学系を、
該光学系にほこりが付着しないようにアースすることを
特徴とするものである。

【００１０】本発明の蛍光計測装置は、励起光を発生す
る励起光源と、励起光が照射された試料から発せられる
蛍光やラマン光等の再放射光を伝達する光ファイバおよ
び光学系からなる光伝達手段と、光伝達手段から射出さ
れた再放射光を測光する測光手段とを備えた蛍光計測装
置において、光学系が、該光学系へのほこりの付着を防
止するアース手段を備えていることを特徴とするもので
ある。

【００１１】前記光ファイバが、２つの光ファイバから
なる場合、前記光学系をこれら２つの光ファイバを中継
する、両端にそれぞれ前記２つの光ファイバの端部が挿
入される開口部を有した筒状の光ファイバコネクタとす
ることができる。

【００１２】前記光ファイバコネクタは、光ファイバコ
ネクタの開口部の中央にピンホール板もしくは結合レン
ズが設けられたものとすることができる。また、この光
ファイバコネクタの開口部内は、陽圧とされたものとす
ることができる。さらに、この光ファイバコネクタの開
口部は、内面に黒アルマイト処理が施されたものとする
ことができる。

【００１３】前記光学系は、密封容器に収容されている
ものとすることことができ、この密封容器は、アースさ
れたものとすることができ、さらに内部を陽圧にされた
ものとすることもできる。

【００１４】前記光ファイバは、励起光源に一端を接続
された第１の光ファイバと、試料に一端を近接された第
２の光ファイバと、測光手段に一端を接続された第３の
光ファイバとからなり、密封容器が、これら３つの光フ
ァイバのそれぞれの他端に光密に接続されており、光学
系が、第１の光ファイバから入射した励起光を第２の光
ファイバに入射させ、第２の光ファイバから入射した試
料から発せられた再放射光を第３の光ファイバに入射さ
せるものとすることができる。

【００１５】なお、前記「結合レンズ」とは、２つの光
ファイバの光路を中継するレンズであり、例えば光ファ
イバの端面から射出された光束を一旦１点に集光し、そ
の後発散する光束を再び集光して他の光ファイバに入射
させることにより２つの光ファイバの光路を中継する光
学系等を意味する。

【００１６】

【発明の効果】本発明による蛍光計測方法および装置に
よれば、光ファイバあるいは光学系をアースすることに
より、励起光が通過する光路の周辺に浮遊するほこり等
の異物が静電気力によって光学部品に引き付けられて付
着することを阻止することにより、これらの異物に励起
光が照射されることによって生じる蛍光やラマン光等の
再放射光の発生を防止することができる。従って、測定
対象となる試料から発生した再放射光のみを計測の対象
とすることができるので信頼性の高い診断情報を得るこ
とができる。

【００１７】また、前記光ファイバを２つの光ファイバ
とし、前記光学系を２つの光ファイバを中継する両端に
それぞれ前記２つの光ファイバの端部が挿入される開口
部を有した筒状の光ファイバコネクタとして、この開口
部の中央部にピンホール板を配設すれば、本来２つの光
ファイバを伝搬する励起光以外の光を遮断することがで
きるので、光ファイバのコア部以外への励起光の入射を
阻止することができ、光ファイバのバッファ層およびさ
らにその周りの樹脂層あるいは光ファイバコネクタの開
口部の内面等に励起光が照射されて再放射光が発生する
ことを防止することができる。

【００１８】また、前記光ファイバコネクタの開口部の
中央部に、光束を集光させる結合レンズを配設すれば、
効率よく光を２つの光ファイバ間で伝達することができ
る。

【００１９】また、前記光ファイバコネクタの開口部内
を陽圧にすれば、ほこり等の異物が開口部内に侵入する
ことを防止することができ、これらの異物に励起光が照
射されることにより生じる不要な再放射光の発生を防止
することができる。

【００２０】また、前記光学系を密封容器に収容すれ
ば、ほこり等の異物が光学系の周辺部から侵入すること
を防止することができ、これらの異物に励起光が照射さ
れることにより生じる不要な再放射光の発生を防止する
ことができる。

【００２１】さらにまた、その密封容器をアースすれ
ば、周辺に浮遊するほこり等の異物が静電気力によって
密封容器に引き付けられて光学系の光路内に侵入するこ
とを防ぐことができ、これらの異物に励起光が照射され
ることにより生じる不要な再放射光の発生を防止するこ
とができる。

【００２２】また、この密封容器内を陽圧にすれば、ほ
こり等の異物が密封容器の内部に侵入することを防止す
ることができ、光学系の光路にこれらの異物が浮遊およ
び付着することにより発生する不要な再放射光の発生を
防止することができる。

【００２３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施の形
態について図面を参照して説明する。

【００２４】図１は本発明の蛍光計測方法を実施する蛍
光計測装置の１つの実施の形態として蛍光スペクトルを
測定する蛍光診断装置の概略を示す図である。

【００２５】図１に示すように、上記蛍光計測装置は、
励起光源１０から発生した励起光Ｌｅを光Ａファイバ２
０、光分離ユニット３００および光Ｂファイバ４０を経
由して先端光ファイバ６０の端部Ｓｏから試料１００に
向けて照射し、前記励起光Ｌｅの照射により試料１００
から発生した蛍光やラマン光等の再放射光Ｓｈを再び先
端光ファイバ６０の端部Ｓｏから入射させ、光Ｂファイ
バ４０および光分離ユニット３００を経由して光Ｃファ
イバ７０の端部Ｃｏに接続された分光測光器８０に導
き、この分光測光器８０によって前記再放射光Ｓｈを測
光する構成となっている。

【００２６】光分離ユニット３００は、励起光源１０か
ら入射する励起光Ｌｅを試料１００に向う光Ｂファイバ
４０へ導き、光Ｂファイバ４０から入射する再放射光Ｓ
ｈを分光測光器８０に向う光Ｃファイバ７０に導く作用
を有するもので、次のような構成を有している。すなわ
ち、光分離ユニットベース３０上には光軸Ｘ、および光
軸Ｘに直交する光軸Ｙが設定されており、光軸Ｙに沿っ
て後述する光Ａファイバ２０の端部Ａｏを保持するファ
イバマウントＳＪＡ、ファイバマウントＳＪＡに保持さ
れた端部Ａｏから射出される励起光Ｌｅを平行光束にす
る集光Ａレンズ３１および集光Ａレンズ３１によって平
行光束とされた励起光Ｌｅに混入する、試料１００の励
起に不要な波長領域の光を遮断するバンドパスフィルタ
３２が光軸Ｙと同軸に配設されている。

【００２７】光軸Ｘと光軸Ｙとの交差点には励起光Ｌｅ
の波長領域を反射し、測定対象となる再放射光Ｓｈの波
長領域を透過するダイクロイックミラー面を接合面とし
て備えたキューブビームスプリッタ（以下ダイクロイッ
クビームスプリッタ３３と呼ぶ）が光分離ユニットベー
ス３０上に保持され、光軸Ｙに沿ってバンドパスフィル
タ３２を透過した励起光Ｌｅを光軸Ｙの方向に反射す
る。

【００２８】また、光分離ユニットベース３０上にはダ
イクロイックビームスプリッタ３３によって反射された
光軸Ｘに沿って進行する励起光Ｌｅを集光する集光Ｂレ
ンズ３４および後述する光Ｂファイバ４０の一端Ｂｉを
保持するファイバマウントＳＪＢが光軸Ｘと同軸に配設
されており、さらに光軸Ｘに沿った前記励起光Ｌｅの進
行方向とは反対の方向には試料１００から発生する再放
射光Ｓｈと同じ波長領域の光を透過し励起光Ｌｅと同じ
波長領域の光を遮断するバリアフィルタ３５、バリアフ
ィルタ３５を透過した再放射光Ｓｈを焦点ｆｃに集光す
る集光Ｃレンズ３６および後述する光Ｃファイバ７０の
端部Ｃｉを保持するファイバマウントＳＪＣが光軸Ｙと
同軸に配設されている。

【００２９】光Ａファイバ２０の端部Ａｏは前記光軸Ｙ
と同軸にかつその端面のコア部が集光Ａレンズ３１の焦
点ｆａの位置と一致するようにファイバマウントＳＪＡ
によって保持され、他方の端部Ａｉには光源１０が接続
されている。

【００３０】光Ｂファイバ４０の一端Ｂｉはその端面の
コア部が集光Ｂレンズ３４の焦点ｆｂの位置と一致する
ように前記光軸Ｘと同軸にファイバマウントＳＪＢによ
って保持され、光Ｂファイバ４０の他端Ｂｏは光ファイ
バコネクタ５０を介して先端光ファイバ６０の一端Ｓｉ
に接続され先端光ファイバ６０の他端Ｓｏは試料に隣接
される。

【００３１】前記光Ｃファイバ７０の端部Ｃｉはその端
面のコア部が集光Ｃレンズ３６の焦点ｆｃの位置と一致
するように光軸Ｘと同軸にファイバマウントＳＪＣによ
って保持されており、他方の端部Ｃｏは分光測光器８０
に接続されている。

【００３２】ここで、端部Ａｏ、端部Ｂｉおよび端部Ｃ
ｉそれぞれの端面のコア部に焦点位置ｆａ、ｆｂ、ｆｃ
を一致させた集光Ａレンズ３１、集光Ｂレンズ３４およ
び集光Ｃレンズ３６は、光ファイバの端面のコア部から
射出された光を平行光束とし、一方平行光束がファイバ
端面の側と反対の側から入射した場合は各光ファイバの
端面のコア部に光を集光するので、上記ダイクロイック
ビームスプリッタ３３で反射する光束もしくはダイクロ
イックビームスプリッタ３３を透過する光束は平行光束
のまま変化せずその光路を進む。

【００３３】なお、前記集光Ａレンズ３１、ダイクロイ
ックビームスプリッタ３３、集光Ｂレンズ３４、集光Ｃ
レンズ３６、バンドパスフィルタ３２およびバリアフィ
ルタ３５は図示していない支持体により光分離ユニット
ベース３０上に支持され、さらに光Ａファイバ２０の端
部Ａｏ、光Ｂファイバ４０の端部Ｂｉおよび光Ｃファイ
バ７０の端部Ｃｉをそれぞれ支持するファイバマウント
ＳＪＡ、ファイバマウントＳＪＢおよびファイバマウン
トＳＪＣが配設されて光分離ユニット３００が構成され
ており、さらにこの光分離ユニット３００は密封容器２
００に収容されている。

【００３４】また、密封容器２００の内部は図示してい
ない加圧器により陽圧にされており、光Ａファイバ２
０、光Ｂファイバ４０および光Ｃファイバ７０は密封容
器２００の壁面を貫通するように配され、密封容器２０
０内の圧力が下がらないように各光ファイバが密封容器
２００を貫通する部分はシールされている。 また、光
分離ユニット３００および密封容器２００は蛍光診断装
置の筐体にアースされている。

【００３５】なお、前記光ファイバコネクタ５０は、図
２に示すような円筒形状で両端に開口部Ｈｏを有し、そ
の内面はアルマイト処理が施され、図示してない配線に
より蛍光診断装置の筐体にアースされている。また、開
口部Ｈｏの中心部には光Ｂファイバ４０、および先端光
ファイバ６０のコア部の径とほぼ等しい径のピンホール
Ｐｈが中心部に開口されたピンホール板５１が配設さ
れ、開口部Ｈｏの両側に光Ｂファイバ４０の端部Ｂｏお
よび先端光ファイバ６０の端部Ｓｉが抜き差し可能に挿
入されている。

【００３６】さらに、光ファイバコネクタ５０の側面に
は開口部Ｈｏ内を陽圧にするための清浄な気体を注入す
る気体注入口Ｋｃが設けられており図示していない加圧
器と気体注入口Ｋｃとをホース５２で接続することによ
って加圧器から清浄な気体が注入されるので開口部Ｈｏ
内は陽圧にされている。

【００３７】なお、光ファイバコネクタ５０と光Ｂファ
イバ４０の端部Ｂｏ、および光ファイバコネクタ５０と
先端光ファイバ６０の端部Ｓｉとは、光Ｂファイバ４０
の端部Ｂｏに取り付けられたＢファイバホルダ４１およ
び先端光ファイバ６０の端部Ｓｉに取り付けられた先端
ファイバホルダ６１がそれぞれ光ファイバコネクタ５０
の開口部Ｈｏの両端に嵌合されることにより同軸上に固
定されている。

【００３８】次に、本発明の実施形態の蛍光診断装置の
作用について説明する。

【００３９】光源１０から発せられた励起光Ｌｅは光Ａ
ファイバ２０の端部Ａｉに入射し、光Ａファイバ２０に
よって密封容器２００内に導かれ、光分離ユニット３０
０の集光Ａレンズ３１の焦点ｆａの位置に配設された光
Ａファイバ２０の端部Ａｏの端面のコア部から射出さ
れ、集光Ａレンズ３１により光軸Ｙと平行な平行光束と
されバンドパスフィルタ３２に入射する。ここで、バン
ドパスフィルタ３２によって試料の励起に利用される波
長帯域以外の光が遮断される。バンドパスフィルタ３２
を透過した励起光Ｌｅは、ダイクロイックビームスプリ
ッタ３３によって光軸Ｘ上の集光Ｂレンズ３４の方向に
反射され、集光Ｂレンズ３４によって光Ｂファイバ４０
の端部Ｂｉの端面のコア部に集光され光Ｂファイバ４０
に入射して密封容器２００の外に導かれる。

【００４０】光分離ユニット３００は密封容器２００に
収容され加圧器により清浄な気体が送り込まれ陽圧にな
っているので、容器外部からのほこりの侵入は阻止する
ことができ、さらに密封容器２００は蛍光診断装置の筐
体にアースされているので、静電気力によりほこりを引
き付け内部にほこりを侵入させることもない。また、光
分離ユニット３００もアースされており、より具体的に
は光分離ユニットベース３０が蛍光診断装置の筐体にア
ースされ、光分離ユニットベース３０上に支持されてい
る各光学部品およびマウント等も間接的にアースされて
いるので、密封容器２００内にほこりが侵入したとして
も静電気力により引き付けられて各光学部品に付着する
ことはない。

【００４１】光Ｂファイバ４０の端部Ｂｉから入射した
励起光Ｌｅは、次に光ファイバコネクタ５０の開口部Ｈ
ｏ内に挿入された光Ｂファイバ４０の端部Ｂｏから射出
されピンホール板５１のピンホールＰｈを通過して光フ
ァイバコネクタ５０の開口部Ｈｏの他端から挿入されて
いる先端光ファイバ６０の端部Ｓｉに入射する（図２参
照）。

【００４２】光ファイバコネクタ５０の開口部Ｈｏ内に
は加圧器により気体注入口Ｋｃから清浄な気体が送り込
まれるので光Ｂファイバ４０の端部Ｂｏあるいは先端光
ファイバ６０の端部Ｓｉを抜き差ししても開口部Ｈｏ内
に外部からほこりが侵入することはない、さらに光ファ
イバコネクタ５０はアースされているので静電気力によ
り開口部Ｈｏ内にほこりが引き寄せられ付着することも
阻止することができる。

【００４３】また、励起光Ｌｅを射出する射出面となる
光Ｂファイバ４０の端部Ｂｏの端面のコア部の径、ピン
ホールＰｈの径および励起光Ｌｅを入射する入射面とな
る先端光ファイバ６０の端部Ｓｉのコア部の径とは、ほ
ぼ等しい径となっているので端部Ｂｏのコア部から端部
Ｓｉの端面のコア部に向う光路から逸脱した方向へ向う
励起光Ｌｅはピンホール板５１によって遮断される。従
って、励起光Ｌｅが開口部Ｈｏの内面に入射したり端部
Ｓｉの入射面のクラッド面を通過し先端光ファイバ６０
のバッファ層あるいは樹脂層に入射したりすることによ
り不要な再放射光が発生する現象を防止することができ
る。さらに開口部Ｈｏの内面に励起光Ｌｅが入射したと
しても開口部Ｈｏの内面にはアルマイト処理が施されて
いるので再放射光の発生を阻止することができる。

【００４４】また、図３に示すような集光Ａレンズ５３
および集光Ｂレンズ５４からなる結合レンズ５５を光フ
ァイバコネクタ５０の開口部Ｈｏ内の中央に配置して、
不要な再放射光の発生および侵入を阻止することもでき
る。すなわち、端部Ｂｏのコア部から射出された励起光
Ｌｅの光束を集光Ａレンズ５３によってピンホール板５
１の中心部に集光し、ピンホールＰｈ１を通過した後に
発散する光束を再び集光Ｂレンズ５４によって集光し端
部Ｓｉのコア部に入射させることにより、光路を逸脱し
た励起光Ｌｅをピンホール板５１で遮断する構成とする
ことにより不要な再放射光の発生および侵入を阻止しよ
うとするものであり、ピンホールＰｈ１の径を小さく設
定するほどノイズ（正規の光路を逸脱した光）を除去す
る効果が高まる。

【００４５】なお、上記再放射光の発生および侵入を防
ぐ効果は、光ファイバコネクタ５０の開口部Ｈｏへ清浄
な気体を注入することによる開口部Ｈｏ内の陽圧化、光
ファイバコネクタ５０のアース、結合レンズ５５の挿
入、ピンホール板５１の挿入をそれぞれ単独に実施して
も、あるいはこれらの中のいくつかを組み合わせても得
ることができる。

【００４６】先端光ファイバ６０の端部Ｓｉに入射した
励起光Ｌｅは、次に先端光ファイバ６０内を通過し端部
Ｓｏから試料１００に向かって射出される。

【００４７】励起光Ｌｅが試料１００に照射されると試
料１００から再放射光Ｓｈが発生し、その再放射光Ｓｈ
は先端光ファイバ６０の端部Ｓｏから再び入射し前記励
起光Ｌｅの通過した光路を逆の方向に進行し、光Ｂファ
イバ４０の端部Ｂｉから射出される。

【００４８】光Ｂファイバ４０の端部Ｂｉから射出され
た再放射光Ｓｈは、集光Ｂレンズ３４によって平行光束
とされダイクロイックビームスプリッタ３３およびバリ
ヤフィルタ３５を透過し集光Ｃレンズ３６によって光Ｃ
ファイバ７０の端部Ｃｉの端面のコア部集光される。

【００４９】ここで、再放射光に混入した励起光Ｌｅは
ダイクロイックビームスプリッタ３３のダイクロイック
ミラー面によって光軸Ｙ方向に分離され、さらにバリヤ
フィルタ３５によって遮断され再放射光のみが光Ｃファ
イバ７０に入射する。

【００５０】光Ｃファイバ７０に入射した再放射光Ｓｈ
は端部Ｃｏから射出され、分光測光器８０に入射し、分
光および測光されて、画像やスペクトルのデータに変換
され診断に供する情報として提供される。

【００５１】以上のように本発明の蛍光計測方法および
装置によれば、微小なゴミやほこりが光学系に付着した
り光路に侵入することを防止することにより、信頼性の
高い診断情報を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の蛍光計測装置を蛍光診断装置に適用し
た概略構成図

【図２】光ファイバコネクタの詳細図

【図３】光ファイバコネクタの開口部に結合レンズを配
置した図

【符号の説明】

１０ 光源 ２０ 光Ａファイバ ３０ 光分離ユニットベース ３１ 集光Ａレンズ ３２ バンドパスフィルタ ３３ ダイクロイックビームスプリッタ ３４ 集光Ｂレンズ ３５ バリアフィルタ ３６ 集光Ｃレンズ ４０ 光Ｂファイバ ５０ 光ファイバコネクタ ６０ 先端光ファイバ ７０ 光Ｃファイバ ８０ 分光測光器 １００ 試料 ２００ 密封容器 ３００ 光分離ユニット ＳＪＡ ファイバマウント ＳＪＢ ファイバマウント ＳＪＣ ファイバマウント Ｌｅ 励起光 Ｓｈ 再放射光 Ａｉ 端部 Ａｏ 端部 Ｂｉ 端部 Ｂｏ 端部 Ｃｉ 端部 Ｃｏ 端部 ｆａ 焦点 ｆｂ 焦点 ｆｃ 焦点

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 励起光が照射された試料から発せられ、
   光ファイバおよび光学系を経由して射出された蛍光やラ
   マン光等の再放射光を測光する蛍光計測方法において、 前記光学系を、該光学系にほこりが付着しないようにア
   ースすることを特徴とする蛍光計測方法。
2. 【請求項２】 励起光を発生する励起光源と、該励起光
   が照射された試料から発せられる蛍光やラマン光等の再
   放射光を伝達する光ファイバおよび光学系からなる光伝
   達手段と、該光伝達手段から射出された再放射光を測光
   する測光手段とを備えた蛍光計測装置において、 前記光学系が、該光学系へのほこりの付着を防止するア
   ース手段を備えていることを特徴とする蛍光計測装置。
3. 【請求項３】 前記光ファイバが、２つの光ファイバか
   らなり、前記光学系が該２つの光ファイバを中継する両
   端にそれぞれ前記２つの光ファイバの端部が挿入される
   開口部を有した筒状の光ファイバコネクタからなること
   を特徴とする請求項２記載の蛍光計測装置。
4. 【請求項４】 前記光ファイバコネクタが、該光ファイ
   バコネクタの前記開口部の中央にピンホール板が設けら
   れたものであることを特徴とする請求項３記載の蛍光計
   測装置。
5. 【請求項５】 前記光ファイバコネクタが、前記光ファ
   イバコネクタの前記開口部の中央に前記第１の光ファイ
   バの光路と前記第２の光ファイバの光路とを中継する結
   合レンズが設けられたものであることを特徴とする請求
   項３または４記載の蛍光計測装置。
6. 【請求項６】 前記光ファイバコネクタの前記開口部内
   が、陽圧とされたものであることを特徴とする請求項３
   から５のいずれか１項記載の光測定装置。
7. 【請求項７】 前記光ファイバコネクタの前記開口部
   が、内面に黒アルマイト処理が施されたものであること
   を特徴とする請求項３から６いずれか１項記載の蛍光計
   測装置。
8. 【請求項８】 前記光学系が密封容器に収容されている
   ことを特徴とする請求項２から７のいずれか１項記載の
   蛍光計測装置。
9. 【請求項９】 前記密封容器がアースされたものである
   ことを特徴とする請求項８記載の蛍光計測装置。
10. 【請求項１０】 前記密封容器が内部を陽圧にされたも
    のであることを特徴とする請求項８または９記載の蛍光
    計測装置。
11. 【請求項１１】 前記光ファイバが、前記励起光源に一
    端を接続された第１の光ファイバと、前記試料に一端を
    近接された第２の光ファイバと、前記測光手段に一端を
    接続された第３の光ファイバとからなり、前記密封容器
    が、これら３つの光ファイバのそれぞれの他端に光密に
    接続されており、前記光学系が、前記第１の光ファイバ
    から入射した励起光を前記第２の光ファイバに入射さ
    せ、前記第２の光ファイバから入射した試料から発せら
    れた再放射光を前記第３の光ファイバに入射させるもの
    であることを特徴とする請求項８から１０のいずれか１
    項記載の蛍光計測装置。