JP2001022653A - Non-volatile semiconductor storage device - Google Patents

Non-volatile semiconductor storage device

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JP2001022653A
JP2001022653A JP11196824A JP19682499A JP2001022653A JP 2001022653 A JP2001022653 A JP 2001022653A JP 11196824 A JP11196824 A JP 11196824A JP 19682499 A JP19682499 A JP 19682499A JP 2001022653 A JP2001022653 A JP 2001022653A
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JP
Japan
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data
backup
area
power supply
circuit
Prior art date
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Application number
JP11196824A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenji Misumi
賢治 三角
Shinichi Hatakeyama
伸一 畠山
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To guarantee the contents of data in an EEPROM under writing even when the operation of a non-volatile semiconductor storage device (non- contact IC card) is interrupted during the execution of write. SOLUTION: A backup area 1-B is provided in a data area 1-A of an EEPROM part 4, un-written data, address information and parity information in the data area 1-A of the EEPROM part 4 are written into the backup area 1-B, and a backup operation control circuit 15 is provided for repairing data in the data area 1-A by referring to data in the data area 1-A and the backup area 1-B when the execution of reloading of data into the data area 1-A is interrupted. Thus, even when the execution of reloading of data is interrupted, data in the data area 1-A can be repaired.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、非接触ICカード
などとして使用される不揮発性半導体記憶装置に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a nonvolatile semiconductor memory device used as a non-contact IC card or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、ICカードのセキュリティ機能へ
の要望と共に、ICカード内のEEPROMのデータの
信頼性への要望が高まっている。この高いデータの信頼
性への要望に対して、従来は、EEPROMのメモリセ
ルとしての書き換え保証回数やデータ保持時間といった
デバイス寄りの特性改善を行なったきた。しかし、非接
触ICカード用EEPROMでは、アンテナからの電波
が電源電圧の発生源となるため、アンテナとICカード
間の距離などに依存する電波の状態により、EEPRO
M(メモリセル)のデータ書き換え中に電源電圧が下が
ることがあった。このように電源電圧が書き込み動作範
囲以下に低下した場合、書き換えが不十分の状態で書き
換えが終了してしまう恐れがあり、そのため書き込み禁
止回路から書き込みエラー信号は出力しているが、書き
込みエラー時のデータの中身を保証することは不可能で
あった。このため、非接触ICカード用EEPROMの
書き換えデータの信頼性を確保するための対策の確立が
求められている。
2. Description of the Related Art In recent years, along with a demand for a security function of an IC card, a demand for reliability of EEPROM data in the IC card has been increasing. In response to this demand for high data reliability, conventionally, device-specific characteristics such as the guaranteed number of rewrites and data retention time as memory cells of an EEPROM have been improved. However, in the EEPROM for a non-contact IC card, the radio wave from the antenna is a source of the power supply voltage, and therefore, the EEPROM depends on the state of the radio wave depending on the distance between the antenna and the IC card.
The power supply voltage sometimes dropped during data rewriting of M (memory cell). If the power supply voltage falls below the write operation range in this way, rewriting may be completed in an insufficiently rewritten state, and therefore a write error signal is output from the write inhibit circuit. It was impossible to guarantee the contents of the data. For this reason, it is required to establish measures for ensuring the reliability of the rewrite data of the EEPROM for the non-contact IC card.

【0003】以下、従来の非接触ICカード(不揮発性
半導体記憶装置の一例)の回路の一例を図8を参照しな
がら説明する。従来の非接触ICカードCは、非接触I
Cカード用EEPROM搭載LSI10とアンテナ部1
1から形成されている。前記LSI10は、データエリ
ア1、このデータエリア1に対する書き込み動作を実行
する書き込み回路2、およびデータエリア1に対する読
み出し動作を実行する読み出し回路3からなるEEPR
OM部4と、電源電圧(後述する)が書き込み動作範囲
以下に低下した場合、書き込みエラー信号aを出力し、
EEPROM部4における書き込み動作の実行を禁止す
る書き込み禁止回路6と、電源電圧が書き込み・読み出
しの動作範囲以下に低下した場合、EEPROM部4に
おける書き込み・読み出し動作の実行を禁止する電源リ
セット回路7と、電源レギュレート回路8と、電源発生
回路(電源部の一例)9から構成されている。前記電源
発生回路9においてアンテナ部11で受信した電波を元
に電源が発生され、またこの電源電圧の過度の電圧上昇
は、電源レギュレート回路8において、電源−接地電位
間を導通させることにより防止されている。
Hereinafter, an example of a circuit of a conventional non-contact IC card (an example of a nonvolatile semiconductor memory device) will be described with reference to FIG. The conventional non-contact IC card C is
LSI 10 with EEPROM for C card and antenna unit 1
1 is formed. The LSI 10 includes an EEPR including a data area 1, a write circuit 2 for performing a write operation on the data area 1, and a read circuit 3 for performing a read operation on the data area 1.
When the OM unit 4 and a power supply voltage (described later) fall below the write operation range, a write error signal a is output,
A write inhibit circuit 6 for inhibiting the execution of the write operation in the EEPROM unit 4; a power reset circuit 7 for inhibiting the execution of the write / read operation in the EEPROM unit 4 when the power supply voltage falls below the write / read operation range. , A power supply regulation circuit 8 and a power supply generation circuit (an example of a power supply unit) 9. Power is generated in the power generation circuit 9 based on the radio wave received by the antenna unit 11, and the excessive rise of the power supply voltage is prevented by conducting between the power supply and the ground potential in the power supply regulation circuit 8. Have been.

【0004】以上のように構成された非接触ICカード
について、以下その動作を説明する。まず、アンテナ部
11で受信した電波を元に電源発生回路9で電源を発生
し、この電源を非接触ICカード用EEPROM搭載L
SI10全体に供給する。この電源電圧は、非接触IC
カードCとこの非接触ICカードCと送受信を行う(外
部)アンテナとの間の距離に依存しており、距離が近い
ほど電源電圧が上昇し、距離が遠いほど電源電圧が低下
する。
[0004] The operation of the non-contact IC card configured as described above will be described below. First, a power supply is generated by a power supply generation circuit 9 based on a radio wave received by the antenna unit 11, and this power supply is connected to an EEPROM mounted on a non-contact IC card.
Supply to the entire SI10. This power supply voltage is a non-contact IC
The power supply voltage depends on the distance between the card C and the (external) antenna that performs transmission and reception with the non-contact IC card C. The power supply voltage increases as the distance decreases and the power supply voltage decreases as the distance increases.

【0005】距離が近い場合、電源レギュレート回路8
により、デバイス保護のため、ある一定電圧以上に電源
電圧が上昇しないようにレギュレート動作を行なう。よ
って、書き込み・読み出し動作の実行に十分な電源電圧
が安定して供給されるため、書き込み回路2・読み出し
回路3を用いて、データエリア1に対する書き込み・読
み出し動作の実行が可能となる。しかし、距離が遠い場
合、電源電圧が書き込み・読み出しの動作範囲以下に低
下すると、書き込み禁止回路6により書き込み動作の実
行が禁止され、電源リセット回路7により書き込み・読
み出し動作の実行が禁止されてしまい、書き換えが不十
分の状態でも書き換えが終了してしまっている。そし
て、書き込み禁止回路6から書き込みエラー信号aを出
力している。
When the distance is short, the power supply regulation circuit 8
Thus, for device protection, a regulation operation is performed so that the power supply voltage does not rise above a certain fixed voltage. Therefore, a power supply voltage sufficient for executing the write / read operation is stably supplied, so that the write / read operation for the data area 1 can be executed using the write circuit 2 and the read circuit 3. However, when the distance is long, if the power supply voltage falls below the write / read operation range, the execution of the write operation is prohibited by the write inhibit circuit 6, and the execution of the write / read operation is prohibited by the power reset circuit 7. However, even when the rewriting is insufficient, the rewriting has been completed. Then, a write error signal a is output from the write inhibit circuit 6.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の構
成では、非接触ICカード用EEPROM部4の書き込
み実行中に電源電圧が書き込み動作範囲以下に低下した
場合、書き込み禁止回路6から書き込みエラー信号aを
出力しているが、書き込み中のデータの中身を保証する
ことは不可能であるという問題を有していた。
However, in the above-described conventional configuration, when the power supply voltage falls below the write operation range during the execution of the write operation of the EEPROM section 4 for the non-contact IC card, a write error signal is output from the write inhibit circuit 6. Although a is output, there is a problem that it is impossible to guarantee the contents of the data being written.

【0007】本発明は、このような非接触ICカードな
どとして使用される不揮発性半導体記憶装置において、
書き込み実行中に電源電圧が書き込み動作範囲以下に低
下した場合でも、書き込み中のEEPROMのデータの
中身を保証することができることを目的とする。
The present invention relates to a nonvolatile semiconductor memory device used as such a non-contact IC card and the like.
It is an object of the present invention to be able to guarantee the contents of EEPROM data being written even when the power supply voltage falls below the write operation range during writing.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の不揮発性半導体
記憶装置においては、データエリア、このデータエリア
に対する書き込み動作を実行する書き込み回路、および
前記データエリアに対する読み出し動作を実行する読み
出し回路からなるEEPROM部を備えた不揮発性半導
体記憶装置であって、前記EEPROM部のデータエリ
アにバックアップエリアを設け、前記EEPROM部の
データエリアの書き込み前のデータとアドレス情報とパ
リティ情報を、前記バックアップエリアに対して書き込
み、データエリアへのデータの書き換え中にその実行が
中断されたとき、データエリアとバックアップエリア内
のデータを参照することにより、データエリアのデータ
を修復するバックアップ動作制御回路を設けたことを特
徴としたものである。
According to the present invention, there is provided a nonvolatile semiconductor memory device comprising an EEPROM comprising a data area, a write circuit for performing a write operation on the data area, and a read circuit for performing a read operation on the data area. A backup area provided in a data area of the EEPROM section, and data, address information, and parity information before writing in the data area of the EEPROM section are transferred to the backup area. A backup operation control circuit for restoring data in the data area by referring to the data in the data area and the backup area when execution is interrupted during writing and rewriting of data in the data area is provided. It was .

【0009】この本発明によれば、書き込み実行中に電
源電圧が書き込み動作範囲以下に低下し、書き込み動作
が中断された場合でも、書き込み中のEEPROMのデ
ータの中身を保証することができる不揮発性半導体記憶
装置が得られる。
According to the present invention, even when the power supply voltage drops below the write operation range during the execution of the write operation and the write operation is interrupted, the nonvolatile content of the EEPROM data being written can be assured. A semiconductor memory device is obtained.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、データエリア、このデータエリアに対する書き込み
動作を実行する書き込み回路、および前記データエリア
に対する読み出し動作を実行する読み出し回路からなる
EEPROM部を備えた不揮発性半導体記憶装置であっ
て、前記EEPROM部のデータエリアにバックアップ
エリアを設け、前記EEPROM部のデータエリアの書
き込み前のデータとアドレス情報とパリティ情報を、前
記バックアップエリアに対して書き込み、データエリア
へのデータの書き換え中にその実行が中断されたとき、
データエリアとバックアップエリア内のデータを参照す
ることにより、データエリアのデータを修復するバック
アップ動作制御回路を設けたことを特徴としたものであ
り、EEPROM部のデータエリアの書き込み前のデー
タとアドレス情報とパリティ情報を、バックアップエリ
アに対して書き込んでおくことにより、データの書き換
え中に電源が書き換えの動作電圧以下に低下し、データ
の書き換えの実行が中断されたとき、データエリアとバ
ックアップエリア内のデータを参照することにより、デ
ータエリアのデータの修復が可能になるという作用を有
する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention according to claim 1 of the present invention provides an EEPROM unit comprising a data area, a write circuit for performing a write operation on the data area, and a read circuit for performing a read operation on the data area. Wherein a backup area is provided in a data area of the EEPROM section, and data, address information, and parity information before writing in the data area of the EEPROM section are written in the backup area. , When its execution is interrupted while rewriting data in the data area,
A backup operation control circuit for restoring data in the data area by referring to data in the data area and the backup area is provided. The data and address information before writing in the data area in the EEPROM section are provided. And the parity information are written to the backup area, so that the power supply drops below the rewriting operating voltage during the data rewrite, and when the execution of the data rewrite is interrupted, the data area and the backup area are not rewritten. By referring to the data, the data area can be repaired.

【0011】請求項2に記載の発明は、データエリア、
このデータエリアに対する書き込み動作を実行する書き
込み回路、および前記データエリアに対する読み出し動
作を実行する読み出し回路からなるEEPROM部を備
えた不揮発性半導体記憶装置であって、前記EEPRO
M部のデータエリアに複数のバックアップエリアを設
け、前記EEPROM部に、前記バックアップエリア内
のアドレス毎の書き込み回数をカウントし、書き込み毎
にバックアップエリア内のアドレスを順次変更するバッ
クアップエリア・アドレスカウンタを設け、前記EEP
ROM部のデータエリアの書き込み前のデータとアドレ
ス情報とパリティ情報を、前記バックアップエリア・ア
ドレスカウンタにより指定されたバックアップエリアに
対して書き込み、データエリアへのデータの書き換え中
にその実行が中断されたとき、前記データエリアと前記
バックアップエリア・アドレスカウンタにより指定され
たバックアップエリア内のデータを参照することによ
り、データエリアのデータを修復するバックアップ動作
制御回路を設けたことを特徴としたものであり、EEP
ROM部のデータエリアの書き込み前のデータとアドレ
ス情報とパリティ情報を、バックアップエリア・アドレ
スカウンタにより複数のバックアップエリアを順に指定
しながら書き込むことにより、すなわち順次アドレスを
変更しながら書き込むことにより、データの書き換え中
に電源が書き換えの動作電圧以下に低下し、データの書
き換えの実行が中断されたとき、データエリアとバック
アップエリア・アドレスカウンタにより指定されたバッ
クアップエリア内のデータを参照することにより、デー
タの修復が可能になり、さらにバックアップエリアの書
き換え回数を向上することが可能になるという作用を有
する。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a data area,
A nonvolatile semiconductor memory device comprising: a write circuit for performing a write operation on the data area; and an EEPROM unit including a read circuit for performing a read operation on the data area.
A plurality of backup areas are provided in the data area of the M section, and the EEPROM section is provided with a backup area / address counter for counting the number of times of writing for each address in the backup area and sequentially changing the address in the backup area for each writing. Provided, the EEP
The data, address information, and parity information before writing in the data area of the ROM section are written to the backup area designated by the backup area / address counter, and the execution is interrupted while the data area is being rewritten. A backup operation control circuit for restoring data in the data area by referring to data in the backup area designated by the data area and the backup area / address counter, EEP
By writing the data, address information, and parity information before writing in the data area of the ROM section while sequentially designating a plurality of backup areas by the backup area / address counter, that is, writing while changing the address sequentially, the data of the data is written. When the power supply drops below the rewriting operating voltage during rewriting and the execution of data rewriting is interrupted, the data in the data area and the data in the backup area specified by the backup area / address counter are referenced to allow the data to be rewritten. This has the effect of enabling restoration and further improving the number of times of rewriting of the backup area.

【0012】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
の発明であって、アンテナ部と、このアンテナ部で受信
した電波を元に電源を発生する電源部と、前記電源部が
発生する電源電圧が一定値以上の場合には前記バックア
ップ動作制御回路のバックアップ機能を解除する電源電
圧検知回路を備えたことを特徴としたものであり、電源
電圧検知回路により電源部が発生する電源電圧が一定値
以上の場合にはバックアップ機能を解除して電源供給が
十分な場合の不要なバックアップ動作を実施しないこと
により、バックアップエリアの書き換え回数を更に向上
することが可能になるという作用を有する。
The invention according to claim 3 is the invention according to claim 2, wherein the antenna unit, a power supply unit for generating power based on radio waves received by the antenna unit, and the power supply unit A power supply voltage detection circuit that releases the backup function of the backup operation control circuit when the power supply voltage to be supplied is equal to or higher than a predetermined value. Is greater than or equal to a certain value, the backup function is released and unnecessary backup operation is not performed when the power supply is sufficient, so that the number of times of rewriting the backup area can be further improved.

【0013】請求項4に記載の発明は、請求項2に記載
の発明であって、アンテナ部と、このアンテナ部で受信
した電波を元に電源を発生する電源部と、電源−接地電
位間を導通させることにより過度の電源電圧上昇を防止
する電源電圧レギュレート回路と、前記電源電圧レギュ
レート回路により電源−接地電位間に流れるレギュレー
ト電流が一定値以上の場合には前記バックアップ動作制
御回路のバックアップ機能を解除するレギュレート電流
検知回路を備えたことを特徴としたものであり、電源電
圧レギュレート回路により電源−接地電位間に流れるレ
ギュレート電流が一定値以上の場合、バックアップ機能
を解除して電源供給が十分な場合の不要なバックアップ
動作を実施しないことにより、バックアップエリアの書
き換え回数を更に向上することが可能になるという作用
を有する。
The invention according to claim 4 is the invention according to claim 2, wherein the antenna section, a power supply section for generating power based on radio waves received by the antenna section, and a power supply-ground potential A power supply voltage regulating circuit for preventing an excessive rise of the power supply voltage by conducting the power supply voltage, and the backup operation control circuit when a regulated current flowing between a power supply and a ground potential by the power supply voltage regulating circuit is a predetermined value or more. The power supply voltage regulation circuit releases the backup function when the regulated current flowing between the power supply and the ground potential exceeds a certain value. By not performing unnecessary backup operations when the power supply is sufficient, the number of times of rewriting the backup area can be further increased. It has the effect that it is possible to above.

【0014】以下、本発明の実施の形態について、図面
を参照しながら説明する。なお、従来例の図8の構成と
同一の構成には同一の符号を付して説明を省略する。 [実施の形態1]図1は本発明の実施の形態1における
不揮発性半導体記憶装置である非接触ICカードの回路
図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The same components as those of the conventional example shown in FIG. 8 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. [First Embodiment] FIG. 1 is a circuit diagram of a non-contact IC card which is a nonvolatile semiconductor memory device according to a first embodiment of the present invention.

【0015】本発明の実施の形態1においては、EEP
ROM部4において、データエリア1−Aにバックアッ
プエリア1−Bを設け、新たにバックアップ動作制御回
路(詳細は後述する)15を設けている。以上のように
構成された非接触ICカードについて、以下その動作に
ついて説明する。
In the first embodiment of the present invention, the EEP
In the ROM section 4, a backup area 1-B is provided in the data area 1-A, and a backup operation control circuit (to be described in detail later) 15 is newly provided. The operation of the non-contact IC card configured as described above will be described below.

【0016】まず、アンテナ部11で受信した電波を元
に電源発生回路9で電源を発生し、この電源を非接触I
Cカード用EEPROM搭載LSI10全体に供給す
る。この電源電圧は、(外部)アンテナと非接触ICカ
ードC間の距離に依存しており、距離が近いほど電源電
圧が上昇し、距離が遠いほど電源電圧が低下する。距離
が近い場合、電源レギュレート回路8により、デバイス
保護のため、ある一定電圧以上に電源電圧が上昇しない
ようにレギュレート動作を行なう。
First, a power supply is generated by a power supply generation circuit 9 based on a radio wave received by the antenna section 11, and this power supply is
It is supplied to the entire LSI 10 equipped with the EEPROM for the C card. The power supply voltage depends on the distance between the (external) antenna and the non-contact IC card C. The power supply voltage increases as the distance is shorter, and the power supply voltage decreases as the distance is longer. If the distance is short, a regulation operation is performed by the power supply regulation circuit 8 so that the power supply voltage does not rise to a certain fixed voltage or more for device protection.

【0017】ここで、データの書き換えの手順を図2の
説明図を参照しながら説明する。まず、書き込み回路2
により書き込み動作前のバックアップエリア1−Bのデ
ータを消去状態とする。次に、データエリア1−A内の
書き込みを実行する前のデータを読み出し回路3により
読み出し、その読み出しデータとアドレス情報とパリテ
ィ情報を書き込み回路2によりバックアップエリア1−
B内に書き込む。
Here, the procedure of rewriting data will be described with reference to the explanatory diagram of FIG. First, the writing circuit 2
This puts the data in the backup area 1-B before the writing operation into the erased state. Next, data in the data area 1-A before writing is executed is read by the read circuit 3, and the read data, address information, and parity information are written by the write circuit 2 to the backup area 1-A.
Write in B.

【0018】次に、書き込み回路2によりデータエリア
1−A内の書き込みを実施したいアドレスのデータを消
去する。次に、書き込み回路2によりデータエリア1−
Aに新しいデータを書き込む。最後に、書き込み回路2
によりバックアップエリア1−B内のデータとアドレス
情報とパリティ情報のデータを消去して消去状態とし、
最初の消去状態に戻る。
Next, the write circuit 2 erases the data in the data area 1-A at the address to be written. Next, the data area 1-1 is written by the write circuit 2.
Write new data to A. Finally, the writing circuit 2
To erase the data in the backup area 1-B, the address information, and the data of the parity information to bring them into an erased state,
Return to the first erased state.

【0019】前記書き換え手順によるデータエリア1−
Aのデータ書き換え中に、電源電圧が書き込み動作範囲
以下に低下し、書き込み禁止回路6により書き込み動作
が中断された場合における、バックアップ動作制御回路
15の動作、すなわちバックアップ動作制御回路15に
よるデータの修復方法を図3のフローチャートに従って
説明する。このデータの修復は、再度の電源が投入され
た後に実行される。
Data area 1 according to the rewriting procedure
The operation of the backup operation control circuit 15, ie, the restoration of data by the backup operation control circuit 15, when the power supply voltage falls below the write operation range during the data rewriting of A and the write operation is interrupted by the write inhibit circuit 6. The method will be described with reference to the flowchart of FIG. The restoration of this data is executed after the power is turned on again.

【0020】まず、バックアップエリア1−Bのデータ
を読み出し(ステップ−1)、この読み出しデータが消
去データであるかどうかを判断する(ステップ−2)。
読み出しデータが消去データのとき、データエリア1−
Aには、書き換え前のデータ、または書き換え後のデー
タが書き込まれていると判断する(ステップ−3)。上
記ステップ−2において、バックアップエリア1−Bの
読み出しデータが何らかのデータやアドレス情報とパリ
ティ情報が書き込まれているとき、アドレス情報を元に
データエリア1−A内の該当アドレスのデータを読み出
す(ステップ−4)。
First, the data in the backup area 1-B is read (step-1), and it is determined whether or not the read data is erase data (step-2).
When the read data is erase data, the data area 1-
It is determined that data before rewriting or data after rewriting is written in A (step-3). In step 2 above, when some data or address information and parity information are written in the read data of the backup area 1-B, the data of the corresponding address in the data area 1-A is read based on the address information (step 2). -4).

【0021】次に、データエリア1−Aの読み出しデー
タがが消去データであるかどうかを判断する(ステップ
−5)。読み出しデータが消去データのとき、バックア
ップエリア1−Bに書き換え前のデータが書き込まれて
いると判断する(ステップ−6)。次に読み出したバッ
クアップエリア1−Bとデータエリア1−Aのデータが
同一であるかを判断し(ステップ−7)、同一のデータ
が書き込まれていれば、データエリア1−Aに書き換え
前のデータが書き込まれていると判断する(ステップ−
8)。
Next, it is determined whether or not the read data of the data area 1-A is erase data (step-5). If the read data is erased data, it is determined that the data before rewriting has been written in the backup area 1-B (step-6). Next, it is determined whether the read data in the backup area 1-B and the data in the data area 1-A are the same (step-7). If the same data has been written, the data area 1-A before the rewriting is written into the data area 1-A. Judge that data has been written (step-
8).

【0022】ステップ−7において、読み出したデータ
が同一でないとき、バックアップエリア1−Bのパリテ
ィ情報が適正なデータかを判断する(ステップ−9)。
バックアップエリア1−Bのパリティ情報が適正なデー
タであれば、データエリア1−Aには書き換え後のデー
タが、また、バックアップエリア1−Bには書き換え前
のデータが書き込まれていると判断する(ステップ−1
0)。しかし、バックアップエリア1−Bのパリティ情
報が適正なデータでなければ、データエリア1−Aには
書き換え前のデータが書き込まれ、またバックアップエ
リア1−Bには書き換え前のデータの書き込みが中断さ
れており、正しいデータが書き込まれていないと判断す
る(ステップ−11)。
If the read data are not the same in step-7, it is determined whether the parity information in the backup area 1-B is proper data (step-9).
If the parity information of the backup area 1-B is proper data, it is determined that the data after rewriting is written in the data area 1-A and the data before rewriting is written in the backup area 1-B. (Step-1
0). However, if the parity information of the backup area 1-B is not proper data, the data before rewriting is written in the data area 1-A, and the writing of the data before rewriting is interrupted in the backup area 1-B. It is determined that correct data has not been written (step-11).

【0023】上記判断したデータエリア1−Aとバック
アップエリア1−B内のデータを参照して、データエリ
ア1−Aのデータの修復を行う(ステップ−12)。よっ
て、電源電圧が書き込み動作範囲以下に低下し、書き込
み禁止回路6により書き込み動作が中断された場合で
も、データエリア1−Aとバックアップエリア1−B内
のデータを参照することにより、データエリア1−Aの
データの修復が可能になる。
The data in the data area 1-A is restored with reference to the data in the data area 1-A and the backup area 1-B determined above (step-12). Therefore, even if the power supply voltage falls below the write operation range and the write operation is interrupted by the write inhibit circuit 6, the data in the data area 1-A and the data in the backup area 1-B can be referred to. -A data can be restored.

【0024】以上のように本実施の形態1によれば、E
EPROM部4にデータエリア1−Aにバックアップエ
リア1−Bを設け、書き込み回路2、読み出し回路3、
電源リセット回路7、書き込み禁止回路6、バックアッ
プ動作制御回路15とを備え、EEPROM部4のデー
タエリア1−Aの書き込み前のデータとアドレス情報と
パリティ情報を、バックアップエリア1−Bに対して書
き込んでおくことにより、データの書き換え中に電源が
書き換えの動作電圧以下に低下し、データの書き換え動
作が中断し、正常に終了できなかった場合でも、データ
エリア1−Aとバックアップエリア1−B内のデータを
参照することにより、データエリア1−Aのデータの修
復することができる。 [実施の形態2]図4は本発明の実施の形態2における
不揮発性半導体記憶装置である非接触ICカードの回路
図である。
As described above, according to the first embodiment, E
A backup area 1-B is provided in the data area 1-A in the EPROM section 4, and the write circuit 2, the read circuit 3,
It includes a power reset circuit 7, a write inhibit circuit 6, and a backup operation control circuit 15, and writes data, address information, and parity information of the data area 1-A of the EEPROM section 4 before writing to the backup area 1-B. Thus, even if the power supply drops below the operating voltage for rewriting during data rewriting and the data rewriting operation is interrupted and cannot be completed normally, the data area 1-A and the backup area 1-B are not , The data in the data area 1-A can be restored. Second Embodiment FIG. 4 is a circuit diagram of a non-contact IC card which is a nonvolatile semiconductor memory device according to a second embodiment of the present invention.

【0025】実施の形態2では、実施の形態1の構成
に、新たに、EEPROM部4にバックアップエリア・
アドレスカウンタ12を設けている。このバックアップ
エリア・アドレスカウンタ12は、バックアップエリア
1−B内のアドレス毎の書き込み回数をカウントし、書
き込み毎にバックアップエリア1−B内のアドレスを順
次変更する。またバックアップエリア1−Bを複数とし
ている。
In the second embodiment, in addition to the configuration of the first embodiment, a backup area
An address counter 12 is provided. The backup area / address counter 12 counts the number of times of writing for each address in the backup area 1-B, and sequentially changes the address in the backup area 1-B for each writing. Also, there are a plurality of backup areas 1-B.

【0026】以上のように構成された非接触ICカード
について、以下その動作について説明する。まず、アン
テナ部11で受信した電波を元に電源発生回路9で電源
を発生し、この電源を非接触ICカード用EEPROM
搭載LSI10全体に供給する。この電源電圧は、(外
部)アンテナと非接触ICカードC間の距離に依存して
おり、距離が近いほど電源電圧が上昇し、距離が遠いほ
ど電源電圧が低下する。
The operation of the non-contact IC card configured as described above will be described below. First, a power source is generated by a power source generating circuit 9 based on a radio wave received by the antenna unit 11, and the power source is connected to an EEPROM for a non-contact IC card.
It is supplied to the entire mounted LSI 10. The power supply voltage depends on the distance between the (external) antenna and the non-contact IC card C. The power supply voltage increases as the distance is shorter, and the power supply voltage decreases as the distance is longer.

【0027】距離が近い場合、電源レギュレート回路9
により、デバイス保護のため、ある一定電圧以上に電源
電圧が上昇しないようにレギュレート動作を行なう。こ
こで、データの書き換えの手順を図5の説明図を参照し
ながら説明する。まず、書き込み回路2により書き込み
動作前のバックアップエリア・アドレスカウンタ12が
示すバックアップエリア1−Bのデータを消去状態とす
る。
If the distance is short, the power supply regulation circuit 9
Thus, for device protection, a regulation operation is performed so that the power supply voltage does not rise above a certain fixed voltage. Here, the procedure of rewriting data will be described with reference to the explanatory diagram of FIG. First, the write circuit 2 puts the data in the backup area 1-B indicated by the backup area / address counter 12 before the write operation into an erased state.

【0028】次に、データエリア1−A内の書き込みを
実行する前のデータを読み出し回路3により読み出し、
その読み出しデータとアドレス情報とパリティ情報を書
き込み回路2によりバックアップエリア・アドレスカウ
ンタ12が示すバックアップエリア1−B内に書き込
む。次に、書き込み回路2によりデータエリア1−A内
の書き込みを実施したいアドレスのデータを消去する。
Next, the data in the data area 1-A before the writing is executed is read by the reading circuit 3,
The read data, address information and parity information are written by the write circuit 2 into the backup area 1-B indicated by the backup area / address counter 12. Next, the write circuit 2 erases the data in the data area 1-A at the address where the write is desired.

【0029】次に、書き込み回路2によりデータエリア
1−Aに新しいデータを書き込む。最後に、書き込み回
路2によりバックアップエリア・アドレスカウンタ12
が示すバックアップエリア1−B内のデータとアドレス
情報とパリティ情報のデータを消去して消去状態とし、
最初の消去状態に戻る。このとき、バックアップエリア
・アドレスカウンタ12をインクリメントし、その情報
をEEPROM部4に書き込む。
Next, new data is written to the data area 1-A by the write circuit 2. Finally, the write area 2 controls the backup area / address counter 12
And erases the data in the backup area 1-B, the address information, and the parity information indicated by the
Return to the first erased state. At this time, the backup area / address counter 12 is incremented, and the information is written into the EEPROM unit 4.

【0030】このように、バックアップエリア・アドレ
スカウンタ12により、データエリア1−Aの書き込み
前のデータとアドレス情報とパリティ情報が、複数のバ
ックアップエリア1−Bに対して順次アドレスを変更し
ながら書き込まれる。前記書き換え手順によるデータエ
リア1−Aのデータ書き換え中に、電源電圧が書き込み
動作範囲以下に低下し、書き込み禁止回路6により書き
込み動作が中断された場合における、バックアップ動作
制御回路15のデータの修復方法は、実施の形態1の図
3のフローチャートに示す手順と同一であり、説明を省
略する。
As described above, the backup area / address counter 12 writes the data, the address information, and the parity information of the data area 1-A before writing to the plurality of backup areas 1-B while sequentially changing the addresses. It is. A method of restoring data in the backup operation control circuit 15 when the power supply voltage falls below the write operation range and the write operation is interrupted by the write inhibit circuit 6 during the data rewrite of the data area 1-A by the rewrite procedure. Is the same as the procedure shown in the flowchart of FIG. 3 of the first embodiment, and the description is omitted.

【0031】なお、バックアップエリア1−Bのデータ
は、バックアップエリア・アドレスカウンタ12が指定
するバックアップエリア1−Bから読み出され、この読
み出しデータにより判断される。以上のように本実施の
形態2によれば、EEPROM部4にデータエリア1−
Aと複数のバックアップエリア1−Bを有し、バックア
ップエリア1−B内のアドレス毎の書き込み回数をカウ
ントし、書き込み毎にバックアップエリア1−B内のア
ドレスを順次変更するバックアップエリア・アドレスカ
ウンタ12を用いたバックアップ機能を有し、書き込み
回路2、読み出し回路3、電源リセット回路7、書き込
み禁止回路6とを備え、EEPROM部4のデータエリ
ア1−Aの書き込み前のデータとアドレス情報とパリテ
ィ情報を、バックアップエリア・アドレスカウンタ12
が示すバックアップエリア1−Bに対して書き込んでお
くことにより、データの書き換え中に電源が書き換えの
動作電圧以下に低下し、データの書き換え動作が中断
し、正常に終了できなかった場合でも、データエリア1
−Aとバックアップエリア1−Bとのデータを参照する
ことにより、データエリア1−Aのデータの修復を可能
にすることができると共に、バックアップエリア1−B
の書き換え回数を向上することができる。 [実施の形態3]図6は本発明の実施の形態3における
不揮発性半導体記憶装置である非接触ICカードの回路
図である。
The data in the backup area 1-B is read from the backup area 1-B designated by the backup area / address counter 12, and is determined based on the read data. As described above, according to the second embodiment, the data area 1-
A and a plurality of backup areas 1-B. The backup area / address counter 12 counts the number of times of writing for each address in the backup area 1-B, and sequentially changes the address in the backup area 1-B for each writing. A write circuit 2, a read circuit 3, a power reset circuit 7, and a write inhibit circuit 6, and the data, address information, and parity information of the data area 1-A of the EEPROM unit 4 before writing. To the backup area / address counter 12
Is written in the backup area 1-B, the power supply drops below the rewriting operation voltage during data rewriting, and even if the data rewriting operation is interrupted and cannot be completed normally, Area 1
By referring to the data in the backup area 1-A and the data in the backup area 1-B, the data in the data area 1-A can be restored and the backup area 1-B can be restored.
Can be improved. [Third Embodiment] FIG. 6 is a circuit diagram of a non-contact IC card which is a nonvolatile semiconductor memory device according to a third embodiment of the present invention.

【0032】実施の形態3においては、実施の形態2の
構成に新たに、電源部が発生する電源電圧が一定値以上
の場合にはバックアップ機能を解除する電源電圧検知回
路13を備えている。以上のように構成された非接触I
Cカードについて、以下その動作について説明する。
In the third embodiment, a power supply voltage detecting circuit 13 for canceling the backup function when the power supply voltage generated by the power supply section is equal to or higher than a certain value is newly provided in the configuration of the second embodiment. Non-contact I configured as described above
The operation of the C card will be described below.

【0033】まず、アンテナ部11で受信した電波を元
に電源発生回路9で電源を発生し、この電源を非接触I
Cカード用EEPROM搭載LSI10全体に供給す
る。この電源電圧は、(外部)アンテナと非接触ICカ
ードC間の距離に依存しており、距離が近いほど電源電
圧が上昇し、距離が遠いほど電源電圧が低下する。距離
が近い場合、電源レギュレート回路8により、デバイス
保護のため、ある一定電圧以上に電源電圧が上昇しない
ようにレギュレート動作を行なう。次に、電源電圧検知
回路13により、電源レギュレート回路8が発生する電
源電圧が一定値以上の場合には、前記実施の形態2の如
く、バックアップエリア1−Bを用いたバックアップ機
能を解除する。すなわち、電源電圧が十分に供給されて
いる場合には、アンテナと非接触ICカードC間の距離
が近いことが判る。そのため、瞬時にして電源が低下
し、書き込み動作が中断されることがないため、バック
アップ機能が不要となる。
First, a power supply is generated by a power supply generation circuit 9 based on a radio wave received by the antenna unit 11, and this power supply is
It is supplied to the entire LSI 10 equipped with the EEPROM for the C card. The power supply voltage depends on the distance between the (external) antenna and the non-contact IC card C. The power supply voltage increases as the distance is shorter, and the power supply voltage decreases as the distance is longer. If the distance is short, a regulation operation is performed by the power supply regulation circuit 8 so that the power supply voltage does not rise to a certain fixed voltage or more for device protection. Next, when the power supply voltage generated by the power supply regulation circuit 8 is equal to or higher than a predetermined value, the power supply voltage detection circuit 13 cancels the backup function using the backup area 1-B as in the second embodiment. . That is, when the power supply voltage is sufficiently supplied, it is understood that the distance between the antenna and the non-contact IC card C is short. Therefore, the power supply instantaneously drops and the write operation is not interrupted, so that the backup function becomes unnecessary.

【0034】また、電源電圧検知回路13により、電源
レギュレート回路8が発生する電源電圧が一定値以下の
場合には、前記実施の形態2と同様に、バックアップ機
能を実施する。よって、電源電圧検知回路13により電
源レギュレート回路8が発生する電源電圧が一定値以上
の場合にはバックアップ機能を解除して電源供給が十分
な場合の不要なバックアップ動作を実施しないことによ
り、実施の形態2に記載の作用に加えて、バックアップ
エリア1−Bの書き換え回数を更に向上することが可能
になる。
When the power supply voltage generated by the power supply regulation circuit 8 is equal to or lower than a predetermined value by the power supply voltage detection circuit 13, the backup function is performed similarly to the second embodiment. Therefore, when the power supply voltage generated by the power supply regulation circuit 8 by the power supply voltage detection circuit 13 is equal to or higher than a predetermined value, the backup function is released and unnecessary backup operation when the power supply is sufficient is not performed. In addition to the operation described in the second embodiment, the number of times of rewriting of the backup area 1-B can be further improved.

【0035】以上のように本実施の形態3によれば、実
施の形態2の非接触ICカード用EEPROM部4と、
アンテナ部11で受信した電波を元に電源を発生する電
源部と、電源部が発生する電源電圧が一定値以上の場合
には前記バックアップ機能を解除する電源電圧検知回路
13とを備え、電源電圧検知回路13により電源部が発
生する電源電圧が一定値以上の場合にはバックアップ機
能を解除して電源供給が十分な場合の不要なバックアッ
プ動作を実施しないことにより、実施の形態2に記載の
作用に加えて、バックアップエリア1−Bの書き換え回
数を更に向上することができる。 [実施の形態4]図7は本発明の実施の形態4における
不揮発性半導体記憶装置である非接触ICカードの回路
図である。
As described above, according to the third embodiment, the non-contact IC card EEPROM unit 4 of the second embodiment
A power supply unit for generating power based on radio waves received by the antenna unit; and a power supply voltage detection circuit for canceling the backup function when the power supply voltage generated by the power supply unit is equal to or higher than a predetermined value. When the power supply voltage generated by the power supply unit by the detection circuit 13 is equal to or higher than a certain value, the backup function is released and unnecessary backup operation when power supply is sufficient is not performed, so that the operation according to the second embodiment is performed. In addition, the number of times of rewriting of the backup area 1-B can be further improved. [Fourth Embodiment] FIG. 7 is a circuit diagram of a non-contact IC card which is a nonvolatile semiconductor memory device according to a fourth embodiment of the present invention.

【0036】実施の形態4においては、実施の形態2の
構成に、新たに、電源電圧レギュレート回路8により電
源−接地電位間に流れるレギュレート電流が一定値以上
の場合にはバックアップ機能を解除するレギュレート電
流検知回路14を備えている。以上のように構成された
非接触ICカードについて、以下その動作について説明
する。
In the fourth embodiment, the backup function is released when the regulated current flowing between the power supply and the ground potential is a predetermined value or more by the power supply voltage regulating circuit 8 in addition to the configuration of the second embodiment. A regulation current detection circuit 14 is provided. The operation of the non-contact IC card configured as described above will be described below.

【0037】まず、アンテナ部11で受信した電波を元
に電源発生回路9で電源を発生し、この電源を非接触I
Cカード用EEPROM搭載LSI10全体に供給す
る。この電源電圧は、(外部)アンテナと非接触ICカ
ードC間の距離に依存しており、距離が近いほど電源電
圧が上昇し、距離が遠いほど電源電圧が低下する。距離
が近い場合、電源レギュレート回路8により、デバイス
保護のため、ある一定電圧以上に電源電圧が上昇しない
ようにレギュレート動作を行なう。レギュレート動作時
には、電源−接地電位間を導通させることにより過度の
電源電圧上昇を防止する。
First, a power source is generated by a power source generating circuit 9 based on a radio wave received by the antenna unit 11, and this power source is
It is supplied to the entire LSI 10 equipped with the EEPROM for the C card. The power supply voltage depends on the distance between the (external) antenna and the non-contact IC card C. The power supply voltage increases as the distance is shorter, and the power supply voltage decreases as the distance is longer. If the distance is short, a regulation operation is performed by the power supply regulation circuit 8 so that the power supply voltage does not rise to a certain fixed voltage or more for device protection. During the regulation operation, an excessive power supply voltage rise is prevented by conducting between the power supply and the ground potential.

【0038】次に、レギュレート電流検知回路14によ
り、電源−接地電位間に流れるレギュレート電流が一定
値以上の場合には、前記実施の形態2のようなバックア
ップエリアを用いたバックアップ機能を解除する。すな
わち、レギュレート電流が一定値以上の場合には、電源
電圧の供給も十分であり、アンテナと非接触ICカード
C間の距離が近いことが判る。そのため、瞬時にして電
源が低下し、書き込み動作が中断されることがないた
め、バックアップ機能が不要となる。また、レギュレー
ト電流検知回路14により、電源−接地電位間に流れる
レギュレート電流が一定値以下の場合には、前記実施の
形態2と同様のバックアップ機能を実施する。よって、
レギュレート電流検知回路14によりレギュレート電流
が一定値以上の場合にはバックアップ機能を解除して電
源供給が十分な場合の不要なバックアップ動作を実施し
ないことにより、実施の形態2に記載の作用に加えて、
バックアップエリア1−Bの書き換え回数を更に向上す
ることが可能になる。
Next, when the regulated current flowing between the power supply and the ground potential is equal to or more than a predetermined value, the regulated current detecting circuit 14 releases the backup function using the backup area as in the second embodiment. I do. That is, when the regulation current is equal to or more than a certain value, the supply of the power supply voltage is sufficient, and it is understood that the distance between the antenna and the non-contact IC card C is short. Therefore, the power supply instantaneously drops and the write operation is not interrupted, so that the backup function becomes unnecessary. Further, when the regulated current flowing between the power supply and the ground potential is equal to or less than a predetermined value by the regulated current detection circuit 14, a backup function similar to that of the second embodiment is performed. Therefore,
The regulation current detection circuit 14 releases the backup function when the regulation current is equal to or more than a certain value, and does not perform an unnecessary backup operation when the power supply is sufficient. in addition,
The number of times of rewriting of the backup area 1-B can be further improved.

【0039】以上のように本実施の形態4によれば、実
施の形態2の非接触ICカード用EEPROM部4と、
アンテナ部11で受信した電波を元に電源を発生する電
源部と、電源−接地電位間に流れるレギュレート電流が
一定値以上の場合には前記バックアップ機能を解除する
レギュレート電流検知回路14とを備え、レギュレート
電流検知回路14により電源−接地電位間に流れるレギ
ュレート電流が一定値以上の場合にはバックアップ機能
を解除して電源供給が十分な場合の不要なバックアップ
動作を実施しないことにより、実施の形態2に記載の作
用に加えて、バックアップエリア1−Bの書き換え回数
を更に向上することができる。
As described above, according to the fourth embodiment, the non-contact IC card EEPROM unit 4 of the second embodiment
A power supply unit that generates power based on radio waves received by the antenna unit 11 and a regulated current detection circuit 14 that releases the backup function when the regulated current flowing between the power supply and the ground potential is equal to or more than a certain value. When the regulated current flowing between the power supply and the ground potential is equal to or more than a predetermined value by the regulated current detection circuit 14, the backup function is released and unnecessary backup operation when the power supply is sufficient is not performed. In addition to the operation described in the second embodiment, the number of times of rewriting of backup area 1-B can be further improved.

【0040】なお、本実施の形態では、不揮発性半導体
記憶装置として非接触ICカードについて説明している
が、本発明は、非接触ICカードに限ることなく、書き
込み実行中に電源電圧が書き込み動作範囲以下に低下
し、書き込み動作が中断される記憶装置に適用すること
ができる。
In this embodiment, a non-contact IC card is described as a non-volatile semiconductor memory device. However, the present invention is not limited to a non-contact IC card, and the power supply voltage may be changed during a write operation. The present invention can be applied to a storage device in which the write operation is interrupted when the write operation falls below the range.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、データの
書き換え中に電源が書き換えの動作電圧以下に低下し、
データの書き換え動作が中断された場合でも、再度の電
源投入後、EEPROM部のデータエリアとバックアッ
プエリア内のデータを参照することにより、データの修
復が可能になるという有利な効果が得られる。
As described above, according to the present invention, during rewriting of data, the power supply drops below the rewriting operating voltage,
Even if the data rewriting operation is interrupted, after the power is turned on again, by referring to the data in the data area of the EEPROM unit and the data in the backup area, an advantageous effect that the data can be restored can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態1における不揮発性半導体
記憶装置である非接触ICカードの回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a non-contact IC card which is a nonvolatile semiconductor memory device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同非接触ICカードにおけるデータの書き込み
動作の説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a data write operation in the non-contact IC card.

【図3】同非接触ICカードにおけるデータの修復方法
を説明するフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating a method of restoring data in the non-contact IC card.

【図4】本発明の実施の形態2における不揮発性半導体
記憶装置である非接触ICカードの回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram of a non-contact IC card which is a nonvolatile semiconductor memory device according to a second embodiment of the present invention.

【図5】同非接触ICカードにおけるデータの書き込み
動作の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of a data writing operation in the contactless IC card.

【図6】本発明の実施の形態3における不揮発性半導体
記憶装置である非接触ICカードの回路図である。
FIG. 6 is a circuit diagram of a non-contact IC card which is a nonvolatile semiconductor memory device according to a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施の形態4における不揮発性半導体
記憶装置である非接触ICカードの回路図である。
FIG. 7 is a circuit diagram of a non-contact IC card which is a nonvolatile semiconductor memory device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図8】従来の不揮発性半導体記憶装置である非接触I
Cカードの回路図である。
FIG. 8 shows a non-contact I which is a conventional nonvolatile semiconductor memory device.
It is a circuit diagram of a C card.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

C ICカード 1−A データエリア 1−B バックアップエリア 2 書き込み回路 3 読み出し回路 4 EEPROM部 6 書き込み禁止回路 7 電源リセット回路 8 電源レギュレート回路 9 電源発生回路 10 非接触ICカード用EEPROM搭載LSI 11 アンテナ部 12 バックアップエリア・アドレスカウンタ 13 電源電圧検知回路 14 レギュレート電流検知回路 15 バックアップ動作制御回路 a 書き込みエラー信号 C IC card 1-A Data area 1-B Backup area 2 Write circuit 3 Read circuit 4 EEPROM section 6 Write inhibit circuit 7 Power reset circuit 8 Power regulation circuit 9 Power generation circuit 10 Non-contact IC card EEPROM mounted LSI 11 Antenna Unit 12 Backup area / address counter 13 Power supply voltage detection circuit 14 Regulated current detection circuit 15 Backup operation control circuit a Write error signal

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 データエリア、このデータエリアに対す
る書き込み動作を実行する書き込み回路、および前記デ
ータエリアに対する読み出し動作を実行する読み出し回
路からなるEEPROM部を備えた不揮発性半導体記憶
装置であって、 前記EEPROM部のデータエリアにバックアップエリ
アを設け、 前記EEPROM部のデータエリアの書き込み前のデー
タとアドレス情報とパリティ情報を、前記バックアップ
エリアに対して書き込み、データエリアへのデータの書
き換え中にその実行が中断されたとき、データエリアと
バックアップエリア内のデータを参照することにより、
データエリアのデータを修復するバックアップ動作制御
回路を設けたことを特徴とする不揮発性半導体記憶装
置。
1. A non-volatile semiconductor storage device comprising: a data area; a write circuit for performing a write operation on the data area; and an EEPROM unit including a read circuit for performing a read operation on the data area, A backup area is provided in the data area of the EEPROM section, and data, address information, and parity information before writing in the data area of the EEPROM section are written in the backup area, and the execution is interrupted during rewriting of data in the data area. The data area and the data in the backup area,
A nonvolatile semiconductor memory device comprising a backup operation control circuit for restoring data in a data area.
【請求項2】 データエリア、このデータエリアに対す
る書き込み動作を実行する書き込み回路、および前記デ
ータエリアに対する読み出し動作を実行する読み出し回
路からなるEEPROM部を備えた不揮発性半導体記憶
装置であって、 前記EEPROM部のデータエリアに複数のバックアッ
プエリアを設け、 前記EEPROM部に、前記バックアップエリア内のア
ドレス毎の書き込み回数をカウントし、書き込み毎にバ
ックアップエリア内のアドレスを順次変更するバックア
ップエリア・アドレスカウンタを設け、 前記EEPROM部のデータエリアの書き込み前のデー
タとアドレス情報とパリティ情報を、前記バックアップ
エリア・アドレスカウンタにより指定されたバックアッ
プエリアに対して書き込み、データエリアへのデータの
書き換え中にその実行が中断されたとき、前記データエ
リアとバックアップエリア・アドレスカウンタにより指
定されたバックアップエリア内のデータを参照すること
により、データエリアのデータを修復するバックアップ
動作制御回路を設けたことを特徴とする不揮発性半導体
記憶装置。
2. A nonvolatile semiconductor memory device comprising: a data area; a write circuit for performing a write operation on the data area; and an EEPROM unit including a read circuit for performing a read operation on the data area, A plurality of backup areas are provided in the data area of the unit, and the EEPROM unit is provided with a backup area address counter for counting the number of times of writing for each address in the backup area and sequentially changing the address in the backup area for each writing. The data, address information, and parity information before writing in the data area of the EEPROM section are written to the backup area designated by the backup area / address counter, and the data is written to the data area. A backup operation control circuit for restoring data in the data area by referring to the data in the data area and the backup area designated by the backup area / address counter when the execution is interrupted during rewriting; A nonvolatile semiconductor memory device characterized by the above-mentioned.
【請求項3】 アンテナ部と、このアンテナ部で受信し
た電波を元に電源を発生する電源部と、前記電源部が発
生する電源電圧が一定値以上の場合には前記バックアッ
プ動作制御回路のバックアップ機能を解除する電源電圧
検知回路を備えたことを特徴とする請求項2に記載の不
揮発性半導体記憶装置。
3. An antenna unit, a power supply unit for generating power based on radio waves received by the antenna unit, and a backup of the backup operation control circuit when a power supply voltage generated by the power supply unit is a predetermined value or more. 3. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 2, further comprising a power supply voltage detection circuit for canceling the function.
【請求項4】 アンテナ部と、このアンテナ部で受信し
た電波を元に電源を発生する電源部と、電源−接地電位
間を導通させることにより過度の電源電圧上昇を防止す
る電源電圧レギュレート回路と、前記電源電圧レギュレ
ート回路により電源−接地電位間に流れるレギュレート
電流が一定値以上の場合には前記バックアップ動作制御
回路のバックアップ機能を解除するレギュレート電流検
知回路を備えたことを特徴とする請求項2に記載の不揮
発性半導体記憶装置。
4. An antenna unit, a power supply unit that generates power based on radio waves received by the antenna unit, and a power supply voltage regulation circuit that prevents excessive power supply voltage rise by conducting between a power supply and a ground potential. And a regulating current detecting circuit for canceling a backup function of the backup operation control circuit when a regulating current flowing between a power supply and a ground potential by the power supply voltage regulating circuit is equal to or more than a certain value. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 2.
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Cited By (4)

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