JP2001021601A - Electronic equipment and device for diagnosing the same - Google Patents

Electronic equipment and device for diagnosing the same

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JP2001021601A
JP2001021601A JP11191546A JP19154699A JP2001021601A JP 2001021601 A JP2001021601 A JP 2001021601A JP 11191546 A JP11191546 A JP 11191546A JP 19154699 A JP19154699 A JP 19154699A JP 2001021601 A JP2001021601 A JP 2001021601A
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JP
Japan
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data
storage device
electronic device
diagnostic
failure
Prior art date
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Application number
JP11191546A
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Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Arai
努 荒井
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic equipment capable of accurately and easily being diagnosed for which of plural equipment breaks down, and capable of efficiently being repaired with respect to the failure, and a device for diagnosing the electronic equipment. SOLUTION: The presence or absence of any failure in each IC chip 12-14 is diagnosed from diagnostic data stored in a memory 21 of electronic equipment 11, and invariable data stored in the memory 21 are compared with invariable data stored in the memory 21 at the time of shipping so that the presence or absence of any failure in the memory 21 can be diagnosed by a computer 31. Therefore, it is possible to accurately and easily diagnose which of the IC chips 12-14 and the memory 21 breaks down.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本願の発明は、複数の装置が
備えられている電子機器及びその診断装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic apparatus provided with a plurality of devices and a diagnostic device therefor.

【0002】[0002]

【従来の技術】テレビジョン受像機等の電子機器では、
近年、多くの機能を実現するために多数のICチップが
使用されているので、これら多数のICチップのうちの
一つが故障して電子機器が正常に動作しなくなっても、
何れのICチップが故障しているのかを的確且つ簡易に
診断することが困難である。このため、従来の電子機器
では、電子機器が正常に動作するまで個々のICチップ
を順次に新しいICチップと交換していた。
2. Description of the Related Art In electronic equipment such as a television receiver,
In recent years, since a large number of IC chips are used to realize many functions, even if one of these many IC chips fails and the electronic device does not operate normally,
It is difficult to accurately and easily diagnose which IC chip has failed. For this reason, in a conventional electronic device, each IC chip is sequentially replaced with a new IC chip until the electronic device operates normally.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、電子機器が正
常に動作するまで個々のICチップを順次に新しいIC
チップと交換する作業は煩雑であるので、従来の電子機
器では、故障を効率的に修理することが困難であった。
そして、複数の部品の何れが故障しているのかを的確且
つ簡易に診断することが困難なことは、ICチップ以外
の装置でも同様であった。従って、本願の発明は、複数
の装置の何れが故障しているのかを的確且つ簡易に診断
することができて故障を効率的に修理することができる
電子機器及びその診断装置を提供することを目的として
いる。
However, the individual IC chips are sequentially replaced with new ICs until the electronic device operates normally.
Since the operation of exchanging a chip is complicated, it has been difficult to efficiently repair a failure in a conventional electronic device.
It is also difficult to accurately and easily diagnose which of the plurality of components has failed, even in a device other than the IC chip. Therefore, the invention of the present application provides an electronic device capable of accurately and easily diagnosing which of a plurality of devices has failed and capable of efficiently repairing the failure, and a diagnostic device therefor. The purpose is.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】請求項1に係る電子機器
では、少なくとも複数の装置の夫々における故障の有無
を示す診断データと固定的な内容を有する不変データと
が記憶装置に記憶される。このため、診断データから複
数の装置の夫々における故障の有無を診断することがで
き、記憶装置に記憶されている不変データと出荷時に記
憶装置に記憶されていた不変データとを比較することに
よって記憶装置における故障の有無を診断することがで
きる。従って、複数の装置及び記憶装置が備えられてい
ても、これらの何れが故障しているのかを的確且つ簡易
に診断することができる。
In the electronic device according to the present invention, diagnostic data indicating presence / absence of a failure in at least each of a plurality of devices and invariant data having fixed contents are stored in a storage device. For this reason, the presence or absence of a failure in each of the plurality of devices can be diagnosed from the diagnostic data, and the storage is performed by comparing the invariant data stored in the storage device with the invariable data stored in the storage device at the time of shipment. It is possible to diagnose whether there is a failure in the device. Therefore, even if a plurality of devices and storage devices are provided, it is possible to accurately and easily diagnose which of them has failed.

【0005】請求項2に係る電子機器では、自己診断に
よって診断データが記憶装置に記憶されるので、診断デ
ータを記憶装置に簡易に記憶させることができる。従っ
て、複数の装置及び記憶装置が備えられていても、これ
らの何れが故障しているのかを更に的確且つ簡易に診断
することができる。
In the electronic device according to the second aspect, since the diagnostic data is stored in the storage device by the self-diagnosis, the diagnostic data can be easily stored in the storage device. Therefore, even if a plurality of devices and storage devices are provided, it is possible to more accurately and easily diagnose which of these devices has failed.

【0006】請求項3に係る電子機器の診断装置では、
電子機器の記憶装置に記憶されている診断データから複
数の装置の夫々における故障の有無を診断し、記憶装置
に記憶されている不変データと出荷時に記憶装置に記憶
されていた不変データとを比較することによって記憶装
置における故障の有無を診断する。従って、電子機器に
複数の装置及び記憶装置が備えられていても、これらの
何れが故障しているのかを的確且つ簡易に診断すること
ができる。
According to a third aspect of the present invention, there is provided an electronic apparatus diagnostic apparatus comprising:
Diagnose the presence or absence of a failure in each of a plurality of devices from the diagnostic data stored in the storage device of the electronic device, and compare the invariant data stored in the storage device with the invariant data stored in the storage device at the time of shipment. By doing so, the presence or absence of a failure in the storage device is diagnosed. Therefore, even if the electronic device is provided with a plurality of devices and a storage device, it is possible to accurately and easily diagnose which of them has failed.

【0007】請求項4に係る電子機器の診断装置では、
不変データを含んでおり電子機器の出荷時にその記憶装
置に記憶されていた初期データを蓄積する蓄積装置が備
えられている。従って、記憶装置に記憶されている不変
データと出荷時に記憶装置に記憶されていた不変データ
との比較に際して不変データを蓄積装置から容易に得る
ことができ、電子機器の記憶装置における故障の有無を
的確且つ簡易に診断することができる。
According to a fourth aspect of the invention, there is provided a diagnostic apparatus for electronic equipment.
A storage device is provided for storing the initial data that includes invariant data and is stored in the storage device when the electronic device is shipped. Therefore, when comparing the invariant data stored in the storage device with the invariant data stored in the storage device at the time of shipment, the invariant data can be easily obtained from the storage device, and the presence or absence of a failure in the storage device of the electronic device can be determined. Diagnosis can be made accurately and easily.

【0008】請求項5に係る電子機器の診断装置では、
電子機器の記憶装置に記憶されている診断データ及び不
変データと蓄積装置に蓄積されている初期データとの少
なくとも一方を回線を介して入力するための通信装置が
備えられている。従って、電子機器または蓄積装置と診
断装置とが互いに遠距離に離隔していても、電子機器の
記憶装置に記憶されている診断データ及び不変データや
蓄積装置に蓄積されている初期データを容易に入力する
ことができ、電子機器における複数の装置及び記憶装置
の何れが故障しているのかを的確且つ簡易に診断するこ
とができる。
According to a fifth aspect of the invention, there is provided a diagnostic apparatus for electronic equipment.
A communication device is provided for inputting, via a line, at least one of diagnostic data and invariant data stored in a storage device of the electronic device and initial data stored in a storage device. Therefore, even if the electronic device or the storage device and the diagnostic device are far apart from each other, the diagnostic data and the invariant data stored in the storage device of the electronic device and the initial data stored in the storage device can be easily read. It is possible to input the information, and it is possible to accurately and easily diagnose which of the plurality of devices and the storage device in the electronic device has failed.

【0009】請求項6に係る電子機器の診断装置では、
回線を介して蓄積装置から入力した初期データを電子機
器の記憶装置に記憶させるので、故障と診断されて交換
された記憶装置を出荷時の状態に迅速に復元させること
ができる。
According to a sixth aspect of the invention, there is provided a diagnostic apparatus for electronic equipment.
Since the initial data input from the storage device via the line is stored in the storage device of the electronic device, the storage device that has been diagnosed as a failure and has been replaced can be quickly restored to the state at the time of shipment.

【0010】請求項7に係る電子機器の診断装置では、
電子機器の複数の装置及び記憶装置についての故障デー
タを格納する格納装置が備えられているので、電子機器
の複数の装置及び記憶装置における故障の統計等を容易
に得ることができる。
[0010] In the diagnostic apparatus for electronic equipment according to claim 7,
Since the storage device that stores the failure data of the plurality of devices and the storage device of the electronic device is provided, statistics of the failure in the plurality of devices and the storage device of the electronic device can be easily obtained.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、テレビジョン受像機及びそ
の診断装置に適用した本願の発明の第1及び第2実施形
態を、図1、2を参照しながら説明する。図1が、第1
実施形態を示している。テレビジョン受像機である電子
機器11では、夫々が所定の機能を実行するICチップ
12〜14が備えられており、データ線15及びクロッ
ク線16から成る2線式のバス17を介してICチップ
12〜14がマイクロコンピュータ18に接続されてい
る。従って、ICチップ12〜14はバス17を介して
マイクロコンピュータ18に制御される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, first and second embodiments of the present invention applied to a television receiver and a diagnostic device therefor will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows the first
1 shows an embodiment. The electronic device 11 as a television receiver is provided with IC chips 12 to 14 each of which executes a predetermined function, and is provided via a two-wire bus 17 including a data line 15 and a clock line 16. 12 to 14 are connected to the microcomputer 18. Accordingly, the IC chips 12 to 14 are controlled by the microcomputer 18 via the bus 17.

【0012】マイクロコンピュータ18にはEEPRO
Mであるメモリ21が備えられており、出荷時の検査で
得られる電子機器11の調整データやその他のデータが
出荷時にメモリ21の一部の領域に記憶される。調整デ
ータとしては、例えば、データ線15を介して映像IC
チップ内の制御回路に与えられる画像歪み調整データや
明るさ調整データがある。ICチップ12〜14の各々
とマイクロコンピュータ18との間のバス17上には、
アナログスイッチ22a〜24bが設けられている。こ
れらのアナログスイッチ22a〜24bは、制御線25
〜27を介してマイクロコンピュータ18によって導通
状態及び非導通状態に制御される。
The microcomputer 18 has an EEPROM
A memory 21 of M is provided, and adjustment data and other data of the electronic device 11 obtained by inspection at the time of shipment are stored in a partial area of the memory 21 at the time of shipment. As the adjustment data, for example, a video IC
There is image distortion adjustment data and brightness adjustment data provided to the control circuit in the chip. On a bus 17 between each of the IC chips 12 to 14 and the microcomputer 18,
Analog switches 22a to 24b are provided. These analog switches 22a to 24b are connected to control lines 25
The microcomputer 18 controls the conduction state and the non-conduction state through.

【0013】また、診断装置としてのコンピュータ3
1、モデム32〜34及びコンピュータ35が備えられ
ており、コンピュータ35にはファイル36が備えられ
ている。なお、例えば、テレビジョン受像機の映像の明
るさは出荷後でも使用者が調整可能であるので、メモリ
21に記憶されている明るさ調整データは内容が固定的
ではない可変調整データである。これに対して、出荷時
にメーカのみが調整可能で使用者が調整不能な調整事項
についての調整データは内容が固定的な不変調整データ
である。そして、出荷時にメモリ21に記憶されている
不変調整データ及び可変調整データや調整データ以外の
不変データを含む初期データがファイル36に蓄積され
る。
A computer 3 as a diagnostic device
1, a modem 32 to 34 and a computer 35 are provided, and the computer 35 is provided with a file 36. For example, since the brightness of the image of the television receiver can be adjusted by the user even after shipment, the brightness adjustment data stored in the memory 21 is variable adjustment data whose content is not fixed. On the other hand, the adjustment data for adjustment items that can be adjusted only by the maker but cannot be adjusted by the user at the time of shipment is invariable adjustment data having a fixed content. Then, the initial data including the constant adjustment data and the variable adjustment data and the constant data other than the adjustment data stored in the memory 21 at the time of shipment are accumulated in the file 36.

【0014】電子機器11では、通常の動作時には、マ
イクロコンピュータ18がアナログスイッチ22a〜2
4bの総てを導通状態に制御するので、マイクロコンピ
ュータ18とICチップ12〜14との間で信号が正常
に送受信される。しかし、ICチップ12〜14のうち
の何れかにおいてそのデータ線15用の端子またはクロ
ック線16用の端子とグラウンドまたは電源とが短絡し
ていると、マイクロコンピュータ18から何れのICチ
ップ12〜14へ信号が送信されても、データ線15ま
たはクロック線16は低論理レベルまたは高論理レベル
に維持されたままであり、また、信号の送信先であるI
Cチップ12〜14からマイクロコンピュータ18へ肯
定応答(ACK)信号も返信されない。
In the electronic device 11, during normal operation, the microcomputer 18 operates the analog switches 22a to 22a.
Since all of 4b are controlled to be conductive, signals are normally transmitted and received between the microcomputer 18 and the IC chips 12 to 14. However, if the terminal for the data line 15 or the terminal for the clock line 16 is short-circuited to the ground or the power supply in any one of the IC chips 12 to 14, the microcomputer 18 outputs any of the IC chips 12 to 14. The data line 15 or the clock line 16 is maintained at the low logic level or the high logic level even if a signal is transmitted to the
An acknowledgment (ACK) signal is not returned from the C chips 12 to 14 to the microcomputer 18.

【0015】このため、マイクロコンピュータ18は、
この時点で、ICチップ12〜14のうちの何れかにお
いてそのデータ線15用の端子またはクロック線16用
の端子とグラウンドまたは電源とが短絡していると判断
する。すると、マイクロコンピュータ18は、一旦、ア
ナログスイッチ22a〜24bの総てを非導通状態に制
御し、その後、制御線25〜27を介した制御によって
アナログスイッチ22a、22bを導通状態にすると共
に残りのアナログスイッチ23a〜24bを非導通状態
にする。
For this reason, the microcomputer 18
At this time, it is determined that the terminal for the data line 15 or the terminal for the clock line 16 and the ground or the power supply are short-circuited in any one of the IC chips 12 to 14. Then, the microcomputer 18 once controls all of the analog switches 22a to 24b to be in a non-conductive state, and then controls the analog switches 22a and 22b to be in a conductive state by control via the control lines 25 to 27, and also sets the remaining analog switches to a non-conductive state. The analog switches 23a to 24b are turned off.

【0016】そして、マイクロコンピュータ18は、I
Cチップ12のアドレス信号とACK信号とをクロック
線16及びアナログスイッチ22bを介してICチップ
12へ送信し、アナログスイッチ22a及びデータ線1
5を介してICチップ12から返信されるACK信号を
受信する。この場合、クロック線16に接続されている
ICチップ12のクロック端子とこのICチップ12の
グラウンドまたは電源とが短絡していると、クロック線
16は低論理レベルまたは高論理レベルに維持されたま
まである。
The microcomputer 18 has I
The address signal of the C chip 12 and the ACK signal are transmitted to the IC chip 12 via the clock line 16 and the analog switch 22b, and the analog switch 22a and the data line 1 are transmitted.
5 is received from the IC chip 12 via the ACK signal. In this case, if the clock terminal of the IC chip 12 connected to the clock line 16 and the ground or power supply of the IC chip 12 are short-circuited, the clock line 16 is maintained at the low logic level or the high logic level. is there.

【0017】このため、マイクロコンピュータ18がク
ロック線16及びアナログスイッチ22bを介してIC
チップ12へ送信した信号とクロック線16の状態とが
一致しておらず、その結果、ICチップ12はACK信
号を受信することができず、ICチップ12がアナログ
スイッチ22a及びデータ線15を介してマイクロコン
ピュータ18へACK信号を返信することもない。
For this reason, the microcomputer 18 is connected to the IC via the clock line 16 and the analog switch 22b.
The signal transmitted to the chip 12 and the state of the clock line 16 do not match. As a result, the IC chip 12 cannot receive the ACK signal, and the IC chip 12 receives the ACK signal via the analog switch 22a and the data line 15. Therefore, no ACK signal is returned to the microcomputer 18.

【0018】また、データ線15に接続されているIC
チップ12のデータ端子とこのICチップ12のグラウ
ンドまたは電源とが短絡していると、データ線15は低
論理レベルまたは高論理レベルに維持されたままであ
る。このため、ICチップ12がアナログスイッチ22
a及びデータ線15を介してマイクロコンピュータ18
へACK信号を返信しても、マイクロコンピュータ18
はACK信号を受信することができない。
An IC connected to the data line 15
If the data terminal of the chip 12 and the ground or power supply of the IC chip 12 are short-circuited, the data line 15 remains at the low logic level or the high logic level. For this reason, the IC chip 12
a and the microcomputer 18 via the data line 15
Returns an ACK signal to the microcomputer 18
Cannot receive the ACK signal.

【0019】従って、マイクロコンピュータ18が、ク
ロック線16及びアナログスイッチ22bを介してIC
チップ12へ送信した信号とクロック線16の状態とが
一致しているか否かを調べたり、ICチップ12へのア
ドレス信号とACK信号との送信に対するACK信号が
ICチップ12から返信されるか否かを調べたりするこ
とによって、ICチップ13、14における短絡の影響
を受けることなく、ICチップ12においてクロック端
子やデータ端子とグラウンドまたは電源とが短絡してい
るか否かを検出することができる。
Therefore, the microcomputer 18 is connected to the IC via the clock line 16 and the analog switch 22b.
It checks whether the signal transmitted to the chip 12 and the state of the clock line 16 match, or determines whether the ACK signal for the transmission of the address signal and the ACK signal to the IC chip 12 is returned from the IC chip 12. By checking whether or not the clock terminal or the data terminal is short-circuited to the ground or the power supply in the IC chip 12 without being affected by the short-circuit in the IC chips 13 and 14.

【0020】ICチップ12に短絡が生じていることが
判明した場合は、そのことをメモリ21中のICチップ
12に対応する領域に記憶する。そして、今度は、制御
線25〜27を介した制御によってアナログスイッチ2
3a、23bを導通状態にすると共に残りのアナログス
イッチ22a、22b、24a、24bを非導通状態に
して、ICチップ12に対する上述の検査と同様の検査
をICチップ13に対して実行する。更に、ICチップ
14に対しても同様にして検査を実行する。つまり、電
子機器11では、ICチップ12〜14の夫々における
短絡の有無を示す診断データが自己診断によってメモリ
21に記憶される。
If it is determined that a short circuit has occurred in the IC chip 12, the fact is stored in an area of the memory 21 corresponding to the IC chip 12. Then, this time, the analog switch 2 is controlled by the control via the control lines 25 to 27.
With the 3a and 23b conducting and the remaining analog switches 22a, 22b, 24a and 24b in the non-conducting state, a test similar to that described above for the IC chip 12 is performed on the IC chip 13. Further, the inspection is similarly performed on the IC chip 14. That is, in the electronic device 11, the diagnostic data indicating the presence or absence of a short circuit in each of the IC chips 12 to 14 is stored in the memory 21 by self-diagnosis.

【0021】ICチップ12〜14のうちの何れかにお
いて短絡が生じていると、電子機器11は正常には動作
しない。この場合に電子機器11の使用者がメーカや販
売店に連絡すると、修理担当者は、モデム32、33及
び電話線37を介して電子機器11にコンピュータ31
を接続すると共にモデム32、34及び電話線38を介
してコンピュータ35にもコンピュータ31を接続す
る。そして、修理担当者は、コンピュータ31に搭載さ
れているソフトウェアでメモリ21中のICチップ12
〜14に対応する領域を調べることによってICチップ
12〜14における短絡の有無を診断し、この診断結果
をコンピュータ31の画面に表示する。
If a short circuit occurs in any of the IC chips 12 to 14, the electronic device 11 does not operate normally. In this case, when the user of the electronic device 11 contacts the maker or the dealer, the repair person instructs the electronic device 11 to the computer 31 via the modems 32 and 33 and the telephone line 37.
And the computer 31 is also connected to the computer 35 via the modems 32 and 34 and the telephone line 38. Then, the repair person uses the software installed in the computer 31 to read the IC chip 12 in the memory 21.
By examining the areas corresponding to .about.14, the presence or absence of a short circuit in the IC chips 12 to 14 is diagnosed, and the diagnosis result is displayed on the screen of the computer 31.

【0022】一方、メモリ21中であってICチップ1
2〜14における短絡の有無を示す領域とは異なる領域
に記憶されていた調整データがメモリ21自体の故障に
よって破壊された場合にも、電子機器11は正常には動
作しない。このため、修理担当者は、コンピュータ31
によってコンピュータ35を介してファイル36から初
期データを入力し、メモリ21に記憶されている不変デ
ータと初期データ中の不変データとを比較し、これらの
不変データが互いに等しくなければメモリ21が故障し
ていると診断し、この診断結果をコンピュータ31の画
面に表示する。
On the other hand, the IC chip 1 in the memory 21
Even when the adjustment data stored in the area different from the area indicating the presence / absence of the short circuit in 2 to 14 is destroyed by the failure of the memory 21 itself, the electronic device 11 does not operate normally. For this reason, the repair staff must
The initial data is input from the file 36 through the computer 35, and the invariant data stored in the memory 21 is compared with the invariant data in the initial data. If these invariant data are not equal to each other, the memory 21 fails. Is diagnosed, and the result of the diagnosis is displayed on the screen of the computer 31.

【0023】ICチップ12〜14のうちの何れかにお
いて短絡が生じていると診断した場合は、そのICチッ
プ12〜14を交換し、メモリ21が故障していると診
断した場合は、メモリ21を交換し、更に、ファイル3
6から入力してある初期データを交換済のメモリ21に
複写する。故障部分の交換等が終了すると、コンピュー
タ31からの指示によってマイクロコンピュータ18に
上述の自己診断を再び行わせ、更に、コンピュータ31
による上述の診断を再び行うことによって故障部分の交
換等の適否を確認する。この様にして修理が完了する
と、電子機器11の症状や修理履歴等の故障データをコ
ンピュータ31に記憶させる。
If it is diagnosed that a short circuit has occurred in any of the IC chips 12 to 14, the IC chips 12 to 14 are replaced. Exchange, and file 3
6 is copied to the exchanged memory 21. When the replacement of the failed part or the like is completed, the microcomputer 18 is made to perform the self-diagnosis again according to an instruction from the computer 31, and
By performing the above-described diagnosis again, it is confirmed whether the replacement of the failed part is appropriate. When the repair is completed in this way, the computer 31 stores failure data such as symptoms of the electronic device 11 and repair history.

【0024】以上の説明からも明らかな様に、マイクロ
コンピュータ18による自己診断とコンピュータ31や
電話線37、38等の使用とによって電子機器11のI
Cチップ12〜14及びメモリ21の何れが故障してい
るのかを的確且つ簡易に診断することができ、この様な
的確且つ簡易な診断とコンピュータ31や電話線37、
38等の使用による初期データの複写とによって故障部
分を的確且つ簡易に交換等することができ、更に、マイ
クロコンピュータ18による自己診断とコンピュータ3
1や電話線37、38等の使用とによって故障部分の交
換等の適否を容易に確認することができる。
As is clear from the above description, the self-diagnosis by the microcomputer 18 and the use of the computer 31, the telephone lines 37 and 38, etc.
Which of the C chips 12 to 14 and the memory 21 has failed can be diagnosed accurately and easily, and such accurate and simple diagnosis and the computer 31 and the telephone line 37 can be performed.
38 can be replaced accurately and easily by copying the initial data by using the system 38 or the like.
1 or the use of the telephone lines 37, 38, etc., it is possible to easily confirm the suitability of replacement of the failed part.

【0025】図2が、第2実施形態を示している。この
第2実施形態は、修理担当者が電子機器11の設置場所
にコンピュータ31を持参した場合の形態である。この
ため、この第2実施形態も、コンピュータ31がマイク
ロコンピュータ18に直接に接続され、モデム33及び
電話線37が用いられておらず、その代わりに、モデム
41及びコンピュータ42が備えられており、モデム3
2、41及び電話線43を介してコンピュータ31がコ
ンピュータ42にも接続されることを除いて、図1に示
した第1実施形態と同様の構成を有している。
FIG. 2 shows a second embodiment. The second embodiment is an embodiment in which a repair person brings the computer 31 to a place where the electronic device 11 is installed. Therefore, also in the second embodiment, the computer 31 is directly connected to the microcomputer 18 and the modem 33 and the telephone line 37 are not used, and instead, a modem 41 and a computer 42 are provided, Modem 3
It has a configuration similar to that of the first embodiment shown in FIG. 1 except that the computer 31 is also connected to the computer 42 via the telephone lines 2 and 41 and the telephone line 43.

【0026】この第2実施形態では、電子機器11の症
状や修理履歴等の故障データをコンピュータ31の他に
コンピュータ42にも記憶させる。なお、モデム41及
びコンピュータ42は第1実施形態にも備えられていて
もよく、また、電子機器11の症状や修理履歴等の故障
データをコンピュータ35に記憶させるのであれば、モ
デム41及びコンピュータ42は第2実施形態でも不要
である。
In the second embodiment, failure data such as symptoms and repair history of the electronic device 11 is stored in the computer 42 in addition to the computer 31. Note that the modem 41 and the computer 42 may be provided in the first embodiment, and if the computer 35 stores failure data such as symptoms and repair history of the electronic device 11, the modem 41 and the computer 42 Is not required in the second embodiment.

【0027】また、以上の第1及び第2実施形態の電子
機器11では2線式のバス17が用いられているが、3
線式のバスが用いられてもよい。また、以上の第1及び
第2実施形態の電子機器11ではバス17上にアナログ
スイッチ22a〜24bが設けられているが、複数のI
Cチップ12〜14とマイクロコンピュータ18とを個
別に導通状態及び非導通状態にすることができるスイッ
チであれば、アナログスイッチ22a〜24b以外のス
イッチが用いられてもよい。
In the electronic equipment 11 of the first and second embodiments, the two-wire bus 17 is used.
A line bus may be used. In the electronic device 11 of the first and second embodiments described above, the analog switches 22a to 24b are provided on the bus 17;
A switch other than the analog switches 22a to 24b may be used as long as the switches can individually make the C chips 12 to 14 and the microcomputer 18 conductive and non-conductive.

【0028】また、以上の第1及び第2実施形態ではテ
レビジョン受像機である電子機器11のICチップ12
〜14に短絡が生じている場合のみが説明されている
が、短絡以外の故障がICチップ12〜14に生じてい
る場合や、ICチップ12〜14以外の装置かまたはメ
モリ21に故障が生じている場合や、テレビジョン受像
機以外の電子機器に故障が生じている場合にも、本願の
発明を適用することができる。
In the first and second embodiments, the IC chip 12 of the electronic device 11 as a television receiver is used.
Although only the case where a short circuit has occurred in the IC chips 12 to 14 has been described, a case in which a failure other than a short circuit has occurred in the IC chips 12 to 14 or a malfunction has occurred in a device other than the IC chips 12 to 14 or the memory 21 The invention of the present application can also be applied to a case where a failure occurs in an electronic device other than the television receiver.

【0029】[0029]

【発明の効果】請求項1に係る電子機器では、複数の装
置及び記憶装置が備えられていても、これらの何れが故
障しているのかを的確且つ簡易に診断することができる
ので、故障を効率的に修理することができる。
According to the electronic apparatus of the first aspect, even if a plurality of devices and storage devices are provided, it is possible to accurately and easily diagnose which of them is faulty, and therefore, it is possible to diagnose the fault. It can be repaired efficiently.

【0030】請求項2に係る電子機器では、複数の装置
及び記憶装置が備えられていても、これらの何れが故障
しているのかを更に的確且つ簡易に診断することができ
るので、故障を更に効率的に修理することができる。
In the electronic device according to the second aspect, even if a plurality of devices and storage devices are provided, it is possible to more accurately and easily diagnose which of them has failed. It can be repaired efficiently.

【0031】請求項3に係る電子機器の診断装置では、
電子機器に複数の装置及び記憶装置が備えられていて
も、これらの何れが故障しているのかを的確且つ簡易に
診断することができるので、電子機器の故障を効率的に
修理することができる。
According to a third aspect of the invention, there is provided an electronic apparatus diagnostic apparatus.
Even if the electronic device is provided with a plurality of devices and storage devices, it is possible to accurately and easily diagnose which of them has failed, so that the failure of the electronic device can be efficiently repaired. .

【0032】請求項4に係る電子機器の診断装置では、
電子機器の記憶装置における故障の有無を的確且つ簡易
に診断することができるので、電子機器の記憶装置の故
障を効率的に修理することができる。
In the diagnostic apparatus for electronic equipment according to claim 4,
Since the presence or absence of a failure in the storage device of the electronic device can be accurately and easily diagnosed, the failure of the storage device of the electronic device can be efficiently repaired.

【0033】請求項5に係る電子機器の診断装置では、
電子機器または蓄積装置と診断装置とが互いに遠距離に
離隔していても、電子機器における複数の装置及び記憶
装置の何れが故障しているのかを的確且つ簡易に診断す
ることができるので、電子機器の故障を効率的に修理す
ることができる。
According to a fifth aspect of the invention, there is provided a diagnostic apparatus for electronic equipment.
Even if the electronic device or the storage device and the diagnostic device are far apart from each other, it is possible to accurately and easily diagnose which of the plurality of devices and the storage device in the electronic device has failed. Equipment failures can be repaired efficiently.

【0034】請求項6に係る電子機器の診断装置では、
故障と診断されて交換された記憶装置を出荷時の状態に
迅速に復元させることができるので、電子機器の記憶装
置の故障を更に効率的に修理することができる。
In the diagnostic apparatus for electronic equipment according to claim 6,
Since the storage device that has been diagnosed as a failure and has been replaced can be quickly restored to the state at the time of shipment, the failure of the storage device of the electronic device can be repaired more efficiently.

【0035】請求項7に係る電子機器の診断装置では、
電子機器の複数の装置及び記憶装置における故障の統計
等を容易に得ることができるので、これらの統計等を電
子機器の設計や製造にフィードバックさせることができ
る。
In the diagnostic apparatus for electronic equipment according to claim 7,
Since statistics of failures in a plurality of devices and storage devices of the electronic device can be easily obtained, these statistics and the like can be fed back to the design and manufacture of the electronic device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本願の発明の第1実施形態のブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention.

【図2】本願の発明の第2実施形態のブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram of a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…電子機器、12〜14…ICチップ(複数の装
置)、21…メモリ(記憶装置)、31…コンピュータ
(診断装置)、32〜34…モデム(通信装置)、35
…コンピュータ(蓄積装置)、37、38…電話線(回
線)、42…コンピュータ(格納装置)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Electronic equipment, 12-14 ... IC chip (a plurality of devices), 21 ... Memory (storage device), 31 ... Computer (diagnosis device), 32-34 ... Modem (communication device), 35
... computers (storage devices), 37, 38 ... telephone lines (lines), 42 ... computers (storage devices)

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の装置及び記憶装置が備えられてお
り、少なくとも前記複数の装置の夫々における故障の有
無を示す診断データと固定的な内容を有する不変データ
とが前記記憶装置に記憶される電子機器。
A plurality of devices and a storage device are provided, and at least diagnostic data indicating presence / absence of a failure in each of the plurality of devices and invariant data having fixed contents are stored in the storage device. Electronics.
【請求項2】 自己診断によって前記診断データが前記
記憶装置に記憶される請求項1記載の電子機器。
2. The electronic apparatus according to claim 1, wherein the diagnostic data is stored in the storage device by a self-diagnosis.
【請求項3】 複数の装置及び記憶装置が備えられてお
り、少なくとも前記複数の装置の夫々における故障の有
無を示す診断データと固定的な内容を有する不変データ
とが前記記憶装置に記憶される電子機器の診断装置であ
って、前記診断データから前記複数の装置の夫々におけ
る故障の有無を診断し、前記記憶装置に記憶されている
前記不変データと前記電子機器の出荷時に前記記憶装置
に記憶されていた前記不変データとを比較することによ
って前記記憶装置における故障の有無を診断する電子機
器の診断装置。
3. A plurality of devices and a storage device are provided, and at least diagnostic data indicating presence / absence of a failure in each of the plurality of devices and invariant data having fixed contents are stored in the storage device. A diagnostic device for an electronic device, wherein the diagnostic data is used to diagnose the presence or absence of a failure in each of the plurality of devices, and the invariable data stored in the storage device and stored in the storage device when the electronic device is shipped. A diagnostic device for an electronic device that diagnoses the presence or absence of a failure in the storage device by comparing the stored data with the invariable data.
【請求項4】 前記不変データを含んでおり前記出荷時
に前記記憶装置に記憶されていた初期データを蓄積する
蓄積装置が備えられている請求項3記載の電子機器の診
断装置。
4. The diagnostic device for an electronic device according to claim 3, further comprising a storage device that stores the initial data that includes the invariable data and is stored in the storage device at the time of shipment.
【請求項5】 前記記憶装置に記憶されている前記診断
データ及び前記不変データと前記蓄積装置に蓄積されて
いる前記初期データとの少なくとも一方を回線を介して
入力するための通信装置が備えられている請求項4記載
の電子機器の診断装置。
5. A communication device for inputting, via a line, at least one of the diagnostic data and the invariable data stored in the storage device and the initial data stored in the storage device. The diagnostic device for an electronic device according to claim 4, wherein
【請求項6】 前記回線を介して入力した前記初期デー
タを前記記憶装置に記憶させる請求項5記載の電子機器
の診断装置。
6. The diagnostic apparatus for an electronic device according to claim 5, wherein the initial data input via the line is stored in the storage device.
【請求項7】 前記複数の装置及び前記記憶装置につい
ての故障データを格納する格納装置が備えられている請
求項3記載の電子機器の診断装置。
7. The diagnostic apparatus for an electronic device according to claim 3, further comprising a storage device that stores failure data of the plurality of devices and the storage device.
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