JP2001015935A - Conductive foil and wiring board using the same - Google Patents

Conductive foil and wiring board using the same

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JP2001015935A
JP2001015935A JP18748999A JP18748999A JP2001015935A JP 2001015935 A JP2001015935 A JP 2001015935A JP 18748999 A JP18748999 A JP 18748999A JP 18748999 A JP18748999 A JP 18748999A JP 2001015935 A JP2001015935 A JP 2001015935A
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JP
Japan
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conductive
layer
thin layer
conductive thin
conductive foil
Prior art date
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Application number
JP18748999A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinobu Kokubu
忍 國府
Takeshi Suzuki
武 鈴木
Fumio Echigo
文雄 越後
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To outstandingly improve shield effect of an electrical conductive foil by laminating a plurality of conductive thin layers with insulation thin layers arranged between the same. SOLUTION: An electrical conductive foil comprises a plurality of conductive thin layers 1A, 1B, and 1C, the conductive thin layer 1B formed inside thereof in a laminated direction functions as an electrical conductive layer, and both the conductive thin layers 1A and 1C formed outside thereof functions as an electrical shield layer against the conductive thin layer 1B. These conductive layers 1A to 1C are laminated with insulation thin layers 2 composed of compound of metal and nonmetal or an organic substance interposed therebetween. This makes it possible to acquire conductive foil capable of high-frequency application and to outstandingly improve shield effect.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、配線基板の回路パ
ターンの材料膜等として用いられる導電箔や、この導電
箔を回路パターンとして用いる配線基板に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a conductive foil used as a material film of a circuit pattern of a wiring board and a wiring board using the conductive foil as a circuit pattern.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の小型、軽量化および高
機能化に伴い、配線基板には、小型、軽量化および高速
信号処理化、さらには高密度実装化が要求されている。
このような要求に応えるために、従来の配線基板では、
多層化、ビアホールの小径化および回路のファイン化技
術等が必要となるが、スルーホール構造によって層間の
電気接続がなされる従前の多層基板の構造ではもはやこ
れらの要求を満足させることは極めて困難であった。そ
のために新しい構造を備えた配線基板が開発され、材料
面でも、従前のガラス基材だけではなく、有機繊維から
なる基材やフィルムを使用した配線基板も開発されてい
る。
2. Description of the Related Art In recent years, as electronic devices have become smaller, lighter, and more sophisticated, wiring boards have been required to be smaller, lighter, have faster signal processing, and have higher density packaging.
To meet such demands, conventional wiring boards
Techniques such as multi-layering, reduction in the diameter of via holes, and fine circuit technology are required, but it is extremely difficult to satisfy these requirements with the conventional multilayer substrate structure in which electrical connection between layers is made by a through-hole structure. there were. For this reason, wiring boards having a new structure have been developed, and in terms of materials, wiring boards using not only conventional glass substrates but also substrates and films made of organic fibers have been developed.

【0003】その代表例の一つとして、導電性ペースト
により層間接続を確保した完全IVH構造を有する配線
基板(例えば、特許第2601128号)がある。この
配線基板は、絶縁層にアラミド−エポキシ樹脂等のコン
ポジット材料が使用されており、低熱膨張、低誘電率、
軽量であるという長所を生かして、小型、軽量化を必要
とする多くの電子機器に利用されている。
[0003] As one of the typical examples, there is a wiring board having a complete IVH structure in which interlayer connection is ensured by a conductive paste (for example, Japanese Patent No. 26001128). This wiring board uses a composite material such as aramid-epoxy resin for the insulating layer, and has a low thermal expansion, a low dielectric constant,
Taking advantage of its light weight, it is used in many electronic devices that need to be small and light.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うにして小型、軽量化および高速信号処理化、さらには
高密度実装化に適応した上記従来の回路基板の構造にも
次のような課題があった。すなわち、LSIの集積度が
高くなるにつれて、高速信号の交錯が激しくなってノイ
ズやさらには共振や電磁波吸収による波形の乱れが生じ
ていた。そのため、これらのノイズによる波形の乱れを
防ぐために、信号線をより精度高くシールドしなければ
ならないという課題があった。
However, the structure of the above-mentioned conventional circuit board adapted to miniaturization, weight reduction, high-speed signal processing, and high-density mounting has the following problems. Was. That is, as the degree of integration of the LSI increases, the intersection of high-speed signals becomes more intense, and noise and furthermore, the disturbance of the waveform due to resonance or electromagnetic wave absorption occurs. Therefore, there is a problem that the signal lines must be shielded with higher accuracy in order to prevent waveform disturbance due to these noises.

【0005】[0005]

【発明が解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明は複数の導電薄層を有し、これら導電薄層
を、その間に絶縁薄層を介在させて積層することで導電
箔を構成した。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention has a plurality of conductive thin layers, and these conductive thin layers are laminated with an insulating thin layer interposed therebetween to form a conductive foil. Was configured.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、複数の導電薄層を有し、これら導電薄層を、その間
に絶縁薄層を介在させて積層することに特徴を有してお
り、これにより次のような作用を有する。すなわち、絶
縁薄層を挟んで積層配置された導電薄層のうち、一方を
電気的導通層とした場合、他方が電気的シールド層とし
て機能する。しかも、このようなシールド構造を、導電
箔の内部という極薄い構造内に形成するので、電気的シ
ールド層として機能する導電薄層と、電気的導通層とし
て機能する導電薄層との間の対向間隔を非常に狭いもの
とすることが可能となる。そのため、配線基板内にシー
ルド構造を形成するといった場合に比べてシールド効果
が飛躍的に高まることになる。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention is characterized in that it has a plurality of conductive thin layers, and these conductive thin layers are laminated with an insulating thin layer interposed therebetween. This has the following effects. That is, when one of the conductive thin layers stacked and arranged with the insulating thin layer interposed therebetween is used as an electrically conductive layer, the other functions as an electrical shield layer. In addition, since such a shield structure is formed in an extremely thin structure inside the conductive foil, opposition between the conductive thin layer functioning as an electrical shield layer and the conductive thin layer functioning as an electrical conductive layer The interval can be made very narrow. For this reason, the shielding effect is significantly improved as compared with the case where a shielding structure is formed in the wiring board.

【0007】本発明の請求項2に記載の発明は、請求項
1に係る導電箔であって、前記導電薄層のうちの少なく
とも一つは電気的導通層であり、他は電気的シールド層
であることに特徴を有しており、これにより次のような
作用を有する。すなわち、導電箔の内部という極薄い構
造内に、電気的導通層と電気的シールド層を絶縁薄層を
介して対向配置することができるので、配線基板内にシ
ールド構造を形成するといった場合に比べてシールド効
果が飛躍的に高まることになる。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the conductive foil according to the first aspect, wherein at least one of the conductive thin layers is an electrically conductive layer and the other is an electrically shielded layer. Which has the following effects. In other words, the electrically conductive layer and the electrically shielded layer can be arranged to face each other via the insulating thin layer in an extremely thin structure inside the conductive foil. As a result, the shielding effect is dramatically increased.

【0008】本発明請求項3に記載の発明は、請求項2
に係る導電箔であって、前記電気的導通層となる導電薄
層の片面もしくは両面に、前記電気的シールド層となる
導電薄層を配置することに特徴を有しており、これによ
り次のような作用を有する。すなわち、電気的導通層と
なる導電薄層の片面もしくは両面に、電気的シールド層
となる導電薄層を配置することで、なお一層シールド効
果が高まることになる。
[0008] The invention described in claim 3 of the present invention is the invention of claim 2
The conductive foil according to the above, characterized in that a conductive thin layer serving as the electrical shield layer is disposed on one or both sides of the conductive thin layer serving as the electrical conductive layer, whereby the following: It has such an effect. That is, by arranging a conductive thin layer serving as an electric shield layer on one or both surfaces of the conductive thin layer serving as an electrically conductive layer, the shielding effect is further enhanced.

【0009】本発明の請求項4に記載の発明は、請求項
2または3に係る導電箔であって、前記電気的導通層と
なる導電薄層は、銅の薄層であることに特徴を有してお
り、これにより次のような作用を有する。すなわち、電
気的導通層となる導電薄層を銅の薄層にすることで、こ
の導電薄層を導電率の高いしかも安価なものにすること
ができる。
The invention according to claim 4 of the present invention is the conductive foil according to claim 2 or 3, wherein the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer is a copper thin layer. This has the following effects. That is, when the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer is a copper thin layer, the conductive thin layer can have high conductivity and be inexpensive.

【0010】本発明の請求項5に記載の発明は、請求項
2ないし4のいずれかに係る導電箔であって、前記電気
的導通層となる導電薄層と、前記電気的シールド層とな
る前記導電薄層とを、互いに異なる導電材料から構成す
ることに特徴を有しており、これにより次のような作用
を有する。すなわち、例えば、電気的導通層となる導電
薄層を、電気的導電層に適した導電材料から構成し、電
気的シールド層となる導電薄層を、電気的シールド層に
適した導電材料から構成することが可能となり、これに
より、電気的導通性能と電気的シールド性能との両立が
可能となる。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the conductive foil according to any one of the second to fourth aspects, wherein the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer and the electrical shield layer are provided. It is characterized in that the conductive thin layer is made of different conductive materials, and thus has the following effects. That is, for example, the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer is formed from a conductive material suitable for the electrical conductive layer, and the conductive thin layer serving as the electrical shield layer is formed from a conductive material suitable for the electrical shield layer This makes it possible to achieve both electrical conduction performance and electrical shielding performance.

【0011】本発明の請求項6に記載の発明は、請求項
5に係る導電箔であって、前記電気的導通層となる導電
薄層を、前記電気的シールド層となる導電薄層より、当
該導電箔をパターニングする際に用いるエッチング液で
エッチングされにくい導電材料から構成することに特徴
を有しており、これにより次のような作用を有する。す
なわち、この導電箔を配線基板等の電気的導通層として
用いる場合には、導通箔に対してパターニング処理が実
施される。さらには、この導電箔を積層基板の内部回路
パターンに用いる場合等では、電気的導通層となる導電
材料だけを残して、他の要素(シールド層となる導電薄
層、絶縁薄層)を選択的に除去する必要がある。このよ
うな場合において、本発明のように構成すれば、両導電
薄層のエッチングレート(エッチングされにくさの度
合)の違いにより、電気的導通層となる導電薄層だけを
選択的に残すことが容易となって、精度の高いパターニ
ングが可能となる。
According to a sixth aspect of the present invention, in the conductive foil according to the fifth aspect, the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer is made to be smaller than the conductive thin layer serving as the electrical shield layer. The conductive foil is characterized by being made of a conductive material that is not easily etched by an etchant used for patterning, and has the following effects. That is, when this conductive foil is used as an electrically conductive layer such as a wiring board, a patterning process is performed on the conductive foil. Furthermore, when this conductive foil is used for an internal circuit pattern of a laminated board, other elements (a conductive thin layer serving as a shield layer, an insulating thin layer) are selected while leaving only a conductive material serving as an electrically conductive layer. Must be removed. In such a case, according to the present invention, only the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer is selectively left due to the difference in the etching rate (the degree of difficulty in etching) of both conductive thin layers. This facilitates patterning with high accuracy.

【0012】本発明の請求項7に記載の発明は、請求項
1ないし6のいずれか記載の導電箔であって、前記絶縁
薄層は、金属と非金属の化合物であることに特徴を有し
ており、これにより次のような作用を有する。すなわ
ち、絶縁薄層は、一般的な有機材料だけでなく、金属と
非金属の化合物からも構成することができる。特に、導
電薄層として金属を用い、この金属からなる導電薄層の
表面に酸化処理等を施すことで、この導電薄層と非金属
の化合物との化合物から絶縁薄層を構成すれば、比較的
簡単に絶縁薄層を形成することができる。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the conductive foil according to any one of the first to sixth aspects, wherein the insulating thin layer is a compound of a metal and a nonmetal. This has the following effects. That is, the insulating thin layer can be made of not only a general organic material but also a compound of a metal and a nonmetal. In particular, if a metal is used as the conductive thin layer and the surface of the conductive thin layer made of the metal is subjected to oxidation treatment or the like, the insulating thin layer is formed from a compound of the conductive thin layer and a nonmetallic compound. The insulating thin layer can be easily formed.

【0013】本発明の請求項8に記載の発明は、請求項
1ないし7のいずれかに係る導電箔であって、当該導電
箔は、配線基板の回路パターンの材料膜として用いられ
るものであり、かつ、前記絶縁薄層の厚みを、前記配線
基板を構成する絶縁基材の厚みより薄くすることに特徴
を有しており、これにより次のような作用を有する。す
なわち、導電箔の内部という、絶縁基材の厚みに比べて
極薄い構造内に電気的シールド構造を形成することにな
って、シールド構造を構成する両導電薄層の対向間隔を
非常に狭いものとすることが可能となる。そのため、配
線基板内にシールド構造を形成するといった場合に比べ
てシールド効果が飛躍的に高まることになる。
The invention according to claim 8 of the present invention is the conductive foil according to any one of claims 1 to 7, wherein the conductive foil is used as a material film of a circuit pattern of a wiring board. In addition, the thickness of the insulating thin layer is made smaller than the thickness of the insulating base material constituting the wiring board, thereby having the following effects. In other words, the electrical shield structure is formed in a structure that is extremely thin compared to the thickness of the insulating base material, that is, the inside of the conductive foil, and the facing distance between the two conductive thin layers constituting the shield structure is extremely narrow. It becomes possible. For this reason, the shielding effect is significantly improved as compared with the case where a shielding structure is formed in the wiring board.

【0014】以上説明した請求項1〜8の導電箔は、本
発明の請求項9,10に記載した配線基板に適用すれ
ば、その効果は顕著なものとなる。さらには、請求項1
1に記載したように、回路パターンに配設される絶縁薄
層の厚みを、前記絶縁基材の厚みより薄くすれば、導電
箔の内部という、絶縁基材の厚みに比べて極薄い構造内
に電気的シールド構造を形成することになって、シール
ド構造を構成する両導電薄層の対向間隔を非常に狭いも
のとすることが可能となる。そのため、配線基板内にシ
ールド構造を形成するといった場合に比べてシールド効
果が飛躍的に高まることになる。
If the above-described conductive foils according to claims 1 to 8 are applied to the wiring boards according to claims 9 and 10 of the present invention, the effect becomes remarkable. Furthermore, claim 1
As described in 1, if the thickness of the insulating thin layer provided in the circuit pattern is made thinner than the thickness of the insulating base material, the inside of the conductive foil, which is an extremely thin structure as compared with the thickness of the insulating base material, Since the electric shield structure is formed at the same time, it is possible to make the distance between the two conductive thin layers constituting the shield structure very small. For this reason, the shielding effect is significantly improved as compared with the case where a shielding structure is formed in the wiring board.

【0015】以下に本発明の実施の形態を詳細に説明す
る。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.

【0016】図1は本発明の一実施の形態の導電箔の構
造を示す断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing the structure of a conductive foil according to an embodiment of the present invention.

【0017】この導電箔は、複数の導電薄層(この例で
は3層)1A、1B、1Cを有し、これら導電薄層1A
〜1Cを、その間に絶縁薄層2、2を介在させて積層し
ており、これにより、積層方向内側に位置する導電薄層
1Bは、電気的導通層として機能するのに適したものと
なり、外側に位置する導電薄層1A、1Cは、導電薄層
1Bに対する電気的シールド層として機能するのに適し
たものとなっている。
This conductive foil has a plurality of conductive thin layers (three layers in this example) 1A, 1B and 1C.
To 1C are laminated with the insulating thin layers 2 and 2 interposed therebetween, whereby the conductive thin layer 1B located on the inner side in the stacking direction becomes suitable for functioning as an electrically conductive layer, The outer conductive thin layers 1A and 1C are suitable for functioning as an electric shield layer for the conductive thin layer 1B.

【0018】これら導電薄層1A〜1Cは、銅、アルミ
ニウム、ニッケル、銀等の金属から構成するのが適当で
ある。これは、これらの金属がメッキや蒸着といった比
較的簡単な工法により作成することができるためであ
る。本実施の形態では、その一例としてメッキにより導
電薄層1A〜1Cを形成する。
The conductive thin layers 1A to 1C are suitably made of a metal such as copper, aluminum, nickel, and silver. This is because these metals can be formed by a relatively simple method such as plating or vapor deposition. In the present embodiment, as an example, the conductive thin layers 1A to 1C are formed by plating.

【0019】さらには、導電薄層1Bは上記した銅から
構成するのが好ましい。これは、電気的導通層として必
要な導電率を有する導電薄層1Bを安価にしかも簡単に
作成することができるためである。導電薄層1A,1C
はアルミニウムから構成するのが好ましい。これは、電
気的シールド層として必要な電気特性を有する導電薄層
1A、1Cを安価にしかも簡単に作成することができる
ためである。さらには、アルミニウムは次のような特性
を有している。すなわち、このような複層構造の導通箔
をエッチングする際に用いるのに適したエッチング液
(例えば、塩酸)に対するエッチングレートは、アルミ
ニウム(導電薄層1A、1C)の方が銅(導電薄層1
B)より大きい(エッチングされやすい)性質を有して
いる。そのため、導電薄層1A、1B、1Cの材料を上
記のように(導電薄層1A、1C:アルミニウム、導電
薄層1B:銅)選定することで、導電薄層1Bの方が導
電薄層1A、1Cよりエッチングされにくいという特徴
を、導電箔に付与することができる。
Further, the conductive thin layer 1B is preferably made of the above-mentioned copper. This is because the conductive thin layer 1B having the necessary conductivity as the electrically conductive layer can be easily formed at low cost. Conductive thin layers 1A, 1C
Is preferably made of aluminum. This is because the conductive thin layers 1A and 1C having the necessary electric characteristics as the electric shield layer can be formed at low cost and easily. Further, aluminum has the following characteristics. That is, the etching rate for an etching solution (for example, hydrochloric acid) suitable for use in etching the conductive foil having such a multilayer structure is that copper (conductive thin layer) is higher for aluminum (conductive thin layers 1A and 1C). 1
B) It has a larger (easy to etch) property. Therefore, by selecting the material of the conductive thin layers 1A, 1B, and 1C as described above (conductive thin layers 1A and 1C: aluminum, conductive thin layer 1B: copper), the conductive thin layer 1B becomes the conductive thin layer 1A. A characteristic that etching is harder than that of 1C can be imparted to the conductive foil.

【0020】絶縁薄層2としては、金属と非金属の化合
物(例えば、導電薄層1A〜1Cの酸化物)や有機物か
ら構成されている。絶縁薄層2を導電薄層1A〜1Cの
酸化物から構成すれば、導電薄層1A〜1Cを酸化処理
するだけで絶縁薄層2を形成できるので、その形成を容
易に行うことができる。また、有機物からなる絶縁薄層
2をスプレー塗布により形成しすることもできる。
The insulating thin layer 2 is composed of a compound of a metal and a nonmetal (for example, an oxide of the conductive thin layers 1A to 1C) or an organic substance. If the insulating thin layer 2 is composed of an oxide of the conductive thin layers 1A to 1C, the insulating thin layer 2 can be formed only by oxidizing the conductive thin layers 1A to 1C, and therefore, it can be easily formed. Further, the insulating thin layer 2 made of an organic substance can be formed by spray coating.

【0021】この導電箔は、導電薄層1A〜1Cと絶縁
薄層2とを積層することで、導電薄層1Bに対するシー
ルド構造を形成することができ、しかもこのようなシー
ルド構造を、導電箔の内部という極薄い構造内に形成す
ることができる。そのため、電気的シールド層として機
能する導電薄層1A、1Cと、その内側に位置する導電
薄層1Bとの間の対向間隔(これは絶縁薄層2の厚みに
依存する)を非常に狭いものとすることが可能となり、
シールド効果が顕著なものとなっている。
This conductive foil can form a shield structure for the conductive thin layer 1B by laminating the conductive thin layers 1A to 1C and the insulating thin layer 2. Can be formed in an extremely thin structure inside. Therefore, the opposing distance between the conductive thin layers 1A and 1C functioning as an electric shield layer and the conductive thin layer 1B located inside thereof (which depends on the thickness of the insulating thin layer 2) is extremely small. It becomes possible,
The shielding effect is remarkable.

【0022】次に、上記導電箔を回路パターンとして用
いる配線基板の構造について、図2を参照して説明す
る。この配線基板は、複数枚のシート状絶縁基材(以
下、絶縁基材と称す)3を、その間に回路パターン4を
挟んで交互に積層することで構成されている。回路パタ
ーン4は、図1で示す導電箔をフォトリソグラフィ方法
を用いた既存のパターニング方法により、導電箔の不要
な部分を選択的に除去することで構成されており、この
ようにして形成された回路パターン4は各絶縁基材3の
表面に位置合わせしたうえで密着配置されている。
Next, the structure of a wiring board using the conductive foil as a circuit pattern will be described with reference to FIG. This wiring board is configured by alternately stacking a plurality of sheet-shaped insulating base materials (hereinafter, referred to as insulating base materials) 3 with a circuit pattern 4 interposed therebetween. The circuit pattern 4 is formed by selectively removing unnecessary portions of the conductive foil from the conductive foil shown in FIG. 1 by an existing patterning method using a photolithography method, and thus formed. The circuit pattern 4 is closely attached to the surface of each insulating base material 3 after being positioned.

【0023】配線基板には、その厚み方向に沿って貫通
するスルーホール5が形成されており、さらには、スル
ーホール5には、その内壁面からスルーホール5近傍の
配線基板の表面にかけてスルーホールメッキ6が形成さ
れている。スルーホールメッキ6は、金メッキ、銀メッ
キ、銅メッキ等の公知の金属メッキ法により形成するこ
とができる。回路パターン4の電気的導通層を構成する
導電薄層1B(内側に位置する導電薄層)は、必要な箇
所においてスルーホールメッキ6に当接して電気的に接
続されている。一方、回路パターン4の電気的シールド
層を構成する導電薄層1A、1Cは次のように形成され
ている。すなわち、導電薄層1A、1Cのスルーホール
形成部位には、スルーホールより大径の開口7が形成さ
れており、これにより導電薄層1A、1Cはスルーホー
ル5形成部位からその平面方向に離間して配置されてい
る。
The wiring board is formed with a through hole 5 penetrating in the thickness direction thereof. Further, the through hole 5 extends from the inner wall surface to the surface of the wiring board near the through hole 5. Plating 6 is formed. The through-hole plating 6 can be formed by a known metal plating method such as gold plating, silver plating, or copper plating. The conductive thin layer 1B (the conductive thin layer located inside) constituting the electrically conductive layer of the circuit pattern 4 is in contact with and electrically connected to the through-hole plating 6 at a necessary portion. On the other hand, the conductive thin layers 1A and 1C constituting the electric shield layer of the circuit pattern 4 are formed as follows. That is, openings 7 having a larger diameter than the through holes are formed in the through-hole forming portions of the conductive thin layers 1A and 1C, whereby the conductive thin layers 1A and 1C are separated from the through-hole 5 forming portions in the plane direction. It is arranged.

【0024】絶縁基材3としては、絶縁ベース材に熱硬
化性樹脂を含浸したプリプレグを使用する。絶縁ベース
材としては、ガラス布材、ガラス不織布材、アラミド布
材、アラミド不織布材、液晶ポリマー不織布材等が挙げ
られる。また、熱硬化性樹脂としては、フェノール樹
脂、ナフタレン系樹脂、ユリア樹脂、アミノ樹脂、アル
キッド樹脂、ケイ素樹脂、フラン樹脂、不飽和ポリエス
テル樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン樹脂等の公知の
熱硬化性樹脂が挙げられ、絶縁基材3を構成するプリプ
レグはこれらの絶縁ベース材と熱硬化性樹脂との組み合
わせで構成することができる。
As the insulating base material 3, a prepreg in which an insulating base material is impregnated with a thermosetting resin is used. Examples of the insulating base material include a glass cloth material, a glass nonwoven material, an aramid cloth material, an aramid nonwoven material, and a liquid crystal polymer nonwoven material. Further, as the thermosetting resin, a known thermosetting resin such as a phenol resin, a naphthalene resin, a urea resin, an amino resin, an alkyd resin, a silicon resin, a furan resin, an unsaturated polyester resin, an epoxy resin, and a polyurethane resin. The prepreg constituting the insulating base material 3 can be constituted by a combination of these insulating base materials and a thermosetting resin.

【0025】図2を参照して説明した配線基板は、スル
ーホールメッキ6により層間接続していた。次に導電性
ペーストを用いた導電性充填材で層間接続した配線基板
の構成について、図3を参照して説明する。
The wiring board described with reference to FIG. Next, the configuration of a wiring board connected between layers with a conductive filler using a conductive paste will be described with reference to FIG.

【0026】この配線基板も、複数枚のシート状絶縁基
材(絶縁基材)10を、その間に回路パターン11を挟
んで交互に積層することで構成されている。回路パター
ン11は、図1で示す導電箔をフォトリソグラフィ方法
を用いた既存のパターニング方法により、導電箔の不要
な部分を選択的に除去することで構成されており、この
ようにして形成された回路パターン11は各絶縁基材1
0の表面に位置合わせしたうえで密着配置されている。
This wiring board is also constructed by alternately laminating a plurality of sheet-like insulating base materials (insulating base materials) 10 with a circuit pattern 11 interposed therebetween. The circuit pattern 11 is formed by selectively removing unnecessary portions of the conductive foil by an existing patterning method using a photolithography method from the conductive foil illustrated in FIG. 1, and thus formed. The circuit pattern 11 is made of each insulating substrate 1
0 and closely attached to each other.

【0027】各絶縁基材10には、その厚み方向に沿っ
て貫通孔12が形成されており、さらには、各貫通孔1
2には、中間接続体13が充填配置されている。中間接
続体13は貫通孔12に導電性ペーストを充填して加熱
加圧処理することで形成されている。ここで、回路パタ
ーン11には、中間接続体13の当接位置に次のような
加工がなされている。すなわち、回路パターン11を構
成する導電薄層1A〜1Cのうち、中間接続体13に当
接する側に位置する外側の導電薄層1A、1C、および
これら導電薄層1A、1Cと内側の導電薄層1Bとの間
に位置する絶縁薄層2とがまえもってパターニングによ
り選択的に除去されている。これにより、中間接続体1
3に当接する位置では、内側の導電薄層1B(電気的導
通層)が露出しており、この導電薄層1Bが中間接続体
13に当接して電気的に接続されている。
Each insulating substrate 10 has a through hole 12 formed in the thickness direction thereof.
2 is provided with an intermediate connector 13. The intermediate connector 13 is formed by filling the through hole 12 with a conductive paste and subjecting the paste to heating and pressurizing. Here, the following processing is performed on the circuit pattern 11 at the contact position of the intermediate connector 13. That is, of the conductive thin layers 1A to 1C constituting the circuit pattern 11, the outer conductive thin layers 1A and 1C located on the side in contact with the intermediate connector 13, and these conductive thin layers 1A and 1C and the inner conductive thin layer The insulating thin layer 2 located between the layer 1B and the layer 1B has previously been selectively removed by patterning. Thereby, the intermediate connector 1
3, the inner conductive thin layer 1 </ b> B (electrically conductive layer) is exposed, and the conductive thin layer 1 </ b> B is in contact with and electrically connected to the intermediate connector 13.

【0028】中間接続体13を構成する導電性ペースト
は、少なくとも導電性粉末と熱硬化性樹脂から成る。導
電性粉末には、銅粉末、銀粉末、ニッケル粉末、アルミ
ニウム粉末等の金属粉末、および上記金属の被覆層を有
する粉末が挙げられるが、その形態は樹脂状、フレーク
状、球状、不定形のいずれの形態であっても良い。熱硬
化性樹脂には、フェノール系樹脂、ナフタレン系樹脂、
ユリア樹脂、アミノ樹脂、アルキッド樹脂、ケイ素樹
脂、フラン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、エポキシ樹
脂、ポリウレタン樹脂等の公知の熱硬化性樹脂が挙げら
れ、これらを適宜組み合わせることができる。また導電
性ペーストの酸化安定性や粘度調整のために添加剤や溶
剤を加えることができる。
The conductive paste constituting the intermediate connector 13 is made of at least a conductive powder and a thermosetting resin. Examples of the conductive powder include metal powders such as copper powder, silver powder, nickel powder, and aluminum powder, and powders having a coating layer of the above-described metal, and the form is resin-like, flake-like, spherical, or amorphous. Either form may be used. Thermosetting resins include phenolic resins, naphthalene resins,
Known thermosetting resins such as urea resin, amino resin, alkyd resin, silicon resin, furan resin, unsaturated polyester resin, epoxy resin and polyurethane resin can be used, and these can be appropriately combined. In addition, additives and solvents can be added for adjusting the oxidation stability and viscosity of the conductive paste.

【0029】上述した実施の形態では、導電薄層1A〜
1Cには銅、アルミニウム、ニッケル、銀等の金属をそ
の例として挙げ、また、絶縁薄層2としては金属と非金
属の化合物、有機物などが挙げたが、本発明はここに挙
げた導電層、絶縁層の構成に限定するものではなく、既
知の金属、化合物を含むものであるのはいうまでもな
い。
In the above embodiment, the conductive thin layers 1A to 1A
Examples of 1C include metals such as copper, aluminum, nickel, and silver, and examples of the thin insulating layer 2 include compounds of metals and nonmetals, organic substances, and the like. It is needless to say that the present invention is not limited to the configuration of the insulating layer, but includes known metals and compounds.

【0030】なお、上述した実施の形態では、3層の導
電薄層1A〜1Cを有して本発明の導電箔を構成してい
たが、2層の導電薄層を有して本発明の導電薄層を構成
してもよいし、4層以上の導電薄層を有して本発明を構
成してもよい。さらに、その場合、単層の導電薄層から
電気的導通層を構成してもよいし、複層の導電薄層から
電気的導通層を構成してもよい。さらには、電気的導通
層となる導電薄層は、導電箔の内部に配置するのがシー
ルド特性を向上させるうえで好ましいが、最外層に配置
してもよいのはいうまでもない。
In the above-described embodiment, the conductive foil of the present invention has three conductive thin layers 1A to 1C, but has two conductive thin layers. A conductive thin layer may be formed, or the present invention may be formed with four or more conductive thin layers. Further, in that case, the electrical conduction layer may be formed from a single conductive thin layer, or the electrical conduction layer may be configured from a plurality of conductive thin layers. Further, the conductive thin layer serving as an electrically conductive layer is preferably disposed inside the conductive foil from the viewpoint of improving the shielding characteristics, but it is needless to say that the conductive thin layer may be disposed on the outermost layer.

【0031】[0031]

【実施例】以下に本発明の理解を容易にするため、本発
明の実施例を挙げてさらに本発明を説明するが、本発明
はこの実施例に限定されるものではない。また、図4は
実施例での本発明の配線基板の実施例での工法を示す
が、本発明は、このような工法により作製するものに限
定されるものでもない。
EXAMPLES In order to facilitate understanding of the present invention, the present invention will be further described with reference to examples of the present invention. However, the present invention is not limited to these examples. Further, FIG. 4 shows a method in an embodiment of the wiring board of the present invention in the embodiment, but the present invention is not limited to one manufactured by such a method.

【0032】まず、図4(a)に示すように、芳香族ポ
リアミド不織布に熱硬化性エポキシ樹脂を含浸させた内
層用プリプレグ基材20を用意し、この内層用プリプレ
グ基材20の所定の位置に、図4(b)に示すように、
レーザー加工法などを利用し貫通孔21を形成する。そ
して、形成した貫通孔21に導電性ペースト22を充填
する。熱硬化性樹脂22は実施の形態で説明したよう
に、熱硬化性樹脂に導電性粉末を混合したものを用いる
一方、内層用プリプレグ基材20に貼着する内層用導電
箔25、25を用意する。内層用導電箔25は2層の導
電薄層23A、23Bと絶縁薄層24とを絶縁薄層24
を間にして互い違いに積層配置して構成されている。そ
して、このように構成される内層用導電箔25をパター
ニングする。このパターニングは、内層用導電箔25を
任意の回路パターン形状にパターニングする処理と、所
定位置において、内層用プリプレグ基材20に接する側
に位置する導電薄層(図では導電薄層23B)を選択的
に残して、他方の導電薄層(図では導電薄層23A)と
絶縁薄層24とを除去するパターニング処理とを含む。
ここでいう所定位置とは、内層用導電箔25が、後述す
る外層用プリプレグ基材30の導電性ペースト32に接
する位置をいう。
First, as shown in FIG. 4A, a prepreg base material 20 for an inner layer in which an aromatic polyamide nonwoven fabric is impregnated with a thermosetting epoxy resin is prepared, and a predetermined position of the prepreg base material 20 for the inner layer is prepared. Then, as shown in FIG.
The through holes 21 are formed by using a laser processing method or the like. Then, the conductive paste 22 is filled in the formed through holes 21. As described in the embodiment, while the thermosetting resin 22 is a mixture of the thermosetting resin and the conductive powder, the inner layer conductive foils 25 and 25 to be adhered to the inner layer prepreg base material 20 are prepared. I do. The inner layer conductive foil 25 is formed by separating the two conductive thin layers 23A and 23B and the insulating thin layer 24 from each other.
, And are alternately stacked and arranged. Then, the inner layer conductive foil 25 configured as described above is patterned. In this patterning, a process of patterning the inner layer conductive foil 25 into an arbitrary circuit pattern shape and, at a predetermined position, a conductive thin layer (conductive thin layer 23B in the figure) located on the side in contact with the inner layer prepreg base material 20 are selected. And a patterning process for removing the other conductive thin layer (conductive thin layer 23A in the figure) and the insulating thin layer 24.
Here, the predetermined position refers to a position where the conductive foil 25 for the inner layer contacts the conductive paste 32 of the prepreg base material 30 for the outer layer described later.

【0033】このとき、作業中の内層用導電箔25の保
護、およびパターニングによる内層用導電箔25の分離
防止を目的として、内層用導電箔25の一方の面に保護
シート26を貼着しておく。保護シート26を貼着する
のは後の工程で用いる外層用導電箔35でも同様であ
る。
At this time, a protective sheet 26 is attached to one surface of the inner layer conductive foil 25 for the purpose of protecting the inner layer conductive foil 25 during operation and preventing the inner layer conductive foil 25 from being separated by patterning. deep. The same applies to the case where the protective sheet 26 is attached to the outer layer conductive foil 35 used in a later step.

【0034】次に、図4(c)に示すように、内層用プ
リプレグ基材20を間にして、その両面にパターン形成
済の内層用導電箔25を積層配置する。このとき、保護
シート26を外側にして内層用導電箔25を配置すると
ともに、内側に配置される導電薄層(図では導電薄層2
3B)のパターン形成部と導電性ペースト22とが当接
するように、内層用導電箔25を配置する。このように
配置することで、内側に位置して導電性ペースト22に
当接する導電薄層(図では導電薄層25B)が電気的導
通層として機能し、外側に位置して導電性ペースト22
に接しない導電薄層(図では導電薄層23A)が電気的
シールド層として機能する。内側に位置する内層用プリ
プレグ基材20では、外部からのノイズの混入を阻止す
ればよいので、電気的導通層(導電薄層35B)より外
側に電気的シールド層(導電薄層23A)を配置する。
内層用プリプレグ基材20と内層用導電箔25とを積層
配置したのち、保護シート26を除去する。
Next, as shown in FIG. 4 (c), with the prepreg base material 20 for the inner layer in between, the conductive foils 25 for the patterned inner layer are laminated on both surfaces thereof. At this time, the conductive foil 25 for the inner layer is arranged with the protective sheet 26 on the outside, and the conductive thin layer (conductive thin layer 2 in FIG.
The inner layer conductive foil 25 is arranged so that the pattern forming portion 3B) and the conductive paste 22 are in contact with each other. With this arrangement, the conductive thin layer (conductive thin layer 25B in the figure) located inside and in contact with the conductive paste 22 functions as an electrically conductive layer, and located outside and the conductive paste 22
The conductive thin layer (the conductive thin layer 23A in the figure) not in contact with the layer functions as an electric shield layer. In the prepreg base material 20 for the inner layer located on the inner side, since it is only necessary to prevent mixing of noise from the outside, the electric shield layer (conductive thin layer 23A) is arranged outside the electrically conductive layer (conductive thin layer 35B). I do.
After laminating the inner layer prepreg base material 20 and the inner layer conductive foil 25, the protective sheet 26 is removed.

【0035】上述した状態で、200℃の加熱温度、5
0kg/cm2の加圧力、1時間の処理時間の条件で内
層用プリプレグ基材20および内層用導電箔25を加熱
加圧成形する。これにより、図4(d)に示すように、
内層回路パターン27(内層用導電箔25の加熱処理
物)と中間接続体28(導電性ペースト22の加熱処理
物)とを備えた内層基材29を作製する。
Under the above-mentioned conditions, the heating temperature of 200 ° C., 5
The inner layer prepreg base material 20 and the inner layer conductive foil 25 are heated and pressed under the conditions of a pressure of 0 kg / cm 2 and a processing time of 1 hour. As a result, as shown in FIG.
An inner substrate 29 having an inner circuit pattern 27 (a heat-treated material of the inner-layer conductive foil 25) and an intermediate connector 28 (a heat-treated material of the conductive paste 22) is prepared.

【0036】さらに、内層用プリプレグ基材20と同様
の材料からなる外層用プリプレグ基材30、30を用意
し、この外層用プリプレグ基材30、30の所定の位置
に、レーザー加工法などを利用し貫通孔31を形成す
る。そして、形成した貫通孔31に導電性ペースト32
を充填する。さらに、導電ペースト32を充填した外層
用プリプレグ基材30、30で、内層基材29の両面を
挟み込む。
Further, outer layer prepreg base materials 30, 30 made of the same material as the inner layer prepreg base material 20 are prepared, and a predetermined position of the outer layer prepreg base material 30, 30 is applied by a laser processing method or the like. Then, a through hole 31 is formed. Then, the conductive paste 32 is formed in the formed through hole 31.
Fill. Furthermore, both surfaces of the inner layer base material 29 are sandwiched between the outer layer prepreg base materials 30 and 30 filled with the conductive paste 32.

【0037】一方、3層の導電薄層33A、33B、3
3Cと絶縁薄層34A、34Bとを互い違いに積層配置
してなる外層用導電箔35を用意したうえで、この外層
用導電箔35をパターニングする。このパターニング
は、外層用導電箔35全体を任意の回路パターン形状に
パターニングする処理と、所定位置において、外層用プ
リプレグ基材30、30に接する側に位置する導電薄層
(図では導電薄層33C)、およびこの導電薄層(33
C)と内側に位置する導電薄層33Bとの間に配置され
た絶縁薄層34Bとを選択的に除去するパターニング処
理とを含む。ここでいう所定位置とは、外層用導電箔3
5が、外層用プリプレグ基材30の導電性ペースト32
に接する位置をいう。
On the other hand, the three conductive thin layers 33A, 33B, 3
After preparing an outer layer conductive foil 35 in which 3C and the insulating thin layers 34A and 34B are alternately stacked, the outer layer conductive foil 35 is patterned. This patterning is a process of patterning the entire outer layer conductive foil 35 into an arbitrary circuit pattern shape, and a conductive thin layer (the conductive thin layer 33C in the figure) located at a predetermined position on the side in contact with the outer layer prepreg base materials 30, 30. ) And this conductive thin layer (33)
C) and a patterning process for selectively removing the insulating thin layer 34B disposed between the conductive thin layer 33B located inside. Here, the predetermined position is the conductive foil 3 for the outer layer.
5 is the conductive paste 32 of the outer layer prepreg base material 30
Refers to the position in contact with

【0038】次に、図4(e)に示すように、内層基材
29を間にして、その両面に外層用プリプレグ基材3
0、30を配置し、さらに、外層用プリプレグ基材3
0、30の外側面に、パターニング済の外層用導電箔3
5を積層配置する。このとき、導電薄層33Bの露出部
と導電性ペースト32とが当接するように、外層用導電
箔35を配置する。このように配置することで、導電性
ペースト32に当接する導電薄層35Bが電気的導通層
として機能し、導電薄層35Bの両側に位置する導電薄
層33A、33Bが電気的シールド層として機能する。
最外層に位置する外層用プリプレグ基材30、30で
は、位置的に外部からノイズが混入しやすいため、電気
的導通層(導電薄層35B)の両側に電気的シールド層
(導電薄層35A、35B)を配置する。
Next, as shown in FIG. 4 (e), the prepreg base material 3 for the outer layer is provided on both surfaces thereof with the inner base material 29 interposed therebetween.
0, 30 are arranged, and the prepreg base material 3 for the outer layer is further provided.
0, 30 on the outer surface of the conductive foil 3 for patterned outer layer
5 are stacked. At this time, the outer layer conductive foil 35 is arranged so that the exposed portion of the conductive thin layer 33B and the conductive paste 32 are in contact with each other. With such an arrangement, the conductive thin layer 35B in contact with the conductive paste 32 functions as an electrical conductive layer, and the conductive thin layers 33A and 33B located on both sides of the conductive thin layer 35B function as an electrical shield layer. I do.
In the outermost prepreg base material 30, 30 located at the outermost layer, noise is apt to be mixed in from the outside in the position, so that the electric shield layers (conductive thin layers 35A, 35A, 35A, 35B) is arranged.

【0039】上述した状態で、内層用プリプレグ基材2
0と同様の処理条件(200℃の加熱温度、50kg/
cm2の加圧力、1時間の処理時間)で外層用プリプレ
グ基材30および外層用導電箔35(内層基材29を含
む)を加熱加圧成形する。これにより、図4(f)に示
すように、外層回路パターン36(外層用導電箔35の
加熱処理物)と中間接続体37(導電性ペースト32の
加熱処理物)とを備えた外層基材38、38を形成する
とともに、作製した外層基材38、38と内層基材29
とを積層一体化し、これにより、信号線をシールドでき
る構造を持つ4層構造の配線基板を得る。
In the above state, the prepreg base material 2 for the inner layer
0 (heating temperature of 200 ° C., 50 kg /
The prepreg base material 30 for the outer layer and the conductive foil 35 for the outer layer (including the inner layer base material 29) are heated and pressed under a pressure of 1 cm 2 and a processing time of 1 hour. Thus, as shown in FIG. 4 (f), the outer layer base material including the outer layer circuit pattern 36 (the heat-treated product of the outer layer conductive foil 35) and the intermediate connector 37 (the heat-treated product of the conductive paste 32). Forming the outer layer base materials 38 and 38 and the inner layer base material 29
Are laminated and integrated, thereby obtaining a four-layer wiring board having a structure capable of shielding signal lines.

【0040】この配線基板を用いて、EMI規格のFC
Cに基づき放射量、伝導量の測定を行った。放射量、伝
導量共に最高値がEMI規格のFCCのレベルB限度値
よりも10dB低いことを確認した。放射エミッショ
ン、伝導エミッションにおいてEMI規格FCC/DO
CのクラスBの限度範囲内であることを確認した。
Using this wiring board, an EMI standard FC
The amount of radiation and the amount of conduction were measured based on C. It was confirmed that the maximum value of both the radiation amount and the conduction amount was 10 dB lower than the level B limit value of the FCC of the EMI standard. EMI standard FCC / DO for radiated and conducted emissions
It was confirmed that the value was within the limit of Class B of C.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上の説明したように、本発明によれ
ば、信号線をシ−ルドできる電気的導通層を有した高周
波対応の導電箔や、この導電箔を用いた配線基板を得る
ことができる。しかも、このようなシールド構造を、導
電箔の内部という極薄い構造内に形成するので、電気的
シールド層として機能する導電薄層と、その内側に位置
する導電薄層との間の対向間隔を非常に狭いものとする
ことが可能となる。そのため、配線基板内にシールド構
造を形成するといった場合に比べてシールド効果が飛躍
的に高まることになる。
As described above, according to the present invention, a high-frequency conductive foil having an electrical conductive layer capable of shielding signal lines and a wiring board using this conductive foil are obtained. Can be. Moreover, since such a shield structure is formed in an extremely thin structure inside the conductive foil, the opposing distance between the conductive thin layer functioning as an electrical shield layer and the conductive thin layer located inside the conductive thin layer is reduced. It can be very narrow. For this reason, the shielding effect is significantly improved as compared with the case where a shielding structure is formed in the wiring board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施の形態の導電箔の構成を示す
断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a conductive foil according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の一実施の形態の配線基板の構成を示
す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a wiring board according to one embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の他の実施の形態の配線基板の構成を
示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a wiring board according to another embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の配線基板の一実施例の製造方法を示
す図であって、その製造方法の各工程をそれぞれ示す断
面図である。
FIG. 4 is a view showing a method of manufacturing the wiring board according to one embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view showing each step of the manufacturing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1A,1C 導電薄層(電気的シールド層) 1B 導
電薄層(電気的導通層) 2 絶縁薄層 3 絶縁基材 4 回路パターン 5 スルーホ
ール 10 絶縁基材 11 回路パ
ターン 12 貫通孔 13 中間接
続体 20 内層用プリプレグ基材 21 貫通孔 22 導電性ペースト 23A,23B 導電薄
層 24 絶縁薄層 25 内層用
導電箔 26 保護シート 27 内層配
線 28 中間接続体 29 内層基
材 30 外層用プリプレグ基材 31 貫通孔 32 導電性ペースト 33A〜33C 導電薄
層 34 絶縁薄層 35 外層用
導電箔
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1A, 1C Conductive thin layer (electric shield layer) 1B Conductive thin layer (electrically conductive layer) 2 Insulating thin layer 3 Insulating base material 4 Circuit pattern 5 Through hole 10 Insulating base material 11 Circuit pattern 12 Through hole 13 Intermediate connector Reference Signs List 20 prepreg base material for inner layer 21 through hole 22 conductive paste 23A, 23B conductive thin layer 24 insulating thin layer 25 conductive foil for inner layer 26 protective sheet 27 inner wiring 28 intermediate connector 29 inner base material 30 prepreg base material for outer layer 31 penetration Hole 32 conductive paste 33A to 33C conductive thin layer 34 insulating thin layer 35 conductive foil for outer layer

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 越後 文雄 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5E338 AA03 AA16 BB75 CC01 CC05 CD11 EE13 5E346 AA11 AA12 AA15 AA42 AA43 BB01 BB15 CC02 CC08 CC16 CC31 CC32 CC58 DD02 DD12 EE02 EE06 EE07 EE09 FF04 FF18 GG15 GG28 HH01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Fumio Echigo 1006 Kazuma Kadoma, Kazuma, Osaka Pref. F-term (reference) in Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. CC08 CC16 CC31 CC32 CC58 DD02 DD12 EE02 EE06 EE07 EE09 FF04 FF18 GG15 GG28 HH01

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数の導電薄層を有し、これら導電薄層
を、その間に絶縁薄層を介在させて積層することを特徴
とする導電箔。
1. A conductive foil comprising a plurality of conductive thin layers, wherein the conductive thin layers are laminated with an insulating thin layer interposed therebetween.
【請求項2】 請求項1記載の導電箔であって、 前記導電薄層のうちの少なくとも一つは電気的導通層で
あり、他は電気的シールド層であることを特徴とする導
電箔。
2. The conductive foil according to claim 1, wherein at least one of the thin conductive layers is an electrically conductive layer, and the other is an electrical shield layer.
【請求項3】 請求項2記載の導電箔であって、 前記電気的導通層となる導電薄層の片面もしくは両面
に、前記電気的シールド層となる導電薄層を配置するこ
とを特徴とする導電箔。
3. The conductive foil according to claim 2, wherein a conductive thin layer serving as the electrical shield layer is disposed on one or both surfaces of the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer. Conductive foil.
【請求項4】 請求項2または3記載の導電箔であっ
て、 前記電気的導通層となる導電薄層は、銅の薄層であるこ
とを特徴とする導電箔。
4. The conductive foil according to claim 2, wherein the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer is a copper thin layer.
【請求項5】 請求項2ないし4のいずれか記載の導電
箔であって、 前記電気的導通層となる導電薄層と、前記電気的シール
ド層となる前記導電薄層とを、互いに異なる導電材料か
ら構成することを特徴とする導電箔。
5. The conductive foil according to claim 2, wherein the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer and the conductive thin layer serving as the electrical shield layer are formed of different conductive layers. A conductive foil comprising a material.
【請求項6】 請求項5記載の導電箔であって、 前記電気的導通層となる導電薄層を、前記電気的シール
ド層となる導電薄層より、当該導電箔をパターニングす
る際に用いるエッチング液でエッチングされにくい導電
材料から構成することを特徴とする導電箔。
6. The conductive foil according to claim 5, wherein the conductive thin layer serving as the electrically conductive layer is etched from the conductive thin layer serving as the electrical shield layer when patterning the conductive foil. A conductive foil comprising a conductive material that is not easily etched by a liquid.
【請求項7】 請求項1ないし6のいずれか記載の導電
箔であって、 前記絶縁薄層は、金属と非金属の化合物であることを特
徴とする導電箔。
7. The conductive foil according to claim 1, wherein the insulating thin layer is a compound of a metal and a nonmetal.
【請求項8】 請求項1ないし7のいずれか記載の導電
箔であって、 当該導電箔は、配線基板の回路パターンの材料膜として
用いられるものであり、かつ、前記絶縁薄層の厚みを、
前記配線基板を構成する絶縁基材の厚みより薄くするこ
とを特徴とする導電薄膜。
8. The conductive foil according to claim 1, wherein the conductive foil is used as a material film of a circuit pattern of a wiring board, and the thickness of the insulating thin layer is reduced. ,
A conductive thin film, which is thinner than a thickness of an insulating base material constituting the wiring board.
【請求項9】 熱硬化性樹脂が含浸された絶縁基材の表
面に回路パターンを形成してなる配線基板であって、 前記回路パターンを、請求項1ないし7のいずれか記載
の導電箔から構成することを特徴とする配線基板。
9. A wiring board comprising a circuit pattern formed on a surface of an insulating base material impregnated with a thermosetting resin, wherein the circuit pattern is formed from the conductive foil according to claim 1. A wiring substrate, comprising:
【請求項10】 請求項9記載の配線基板であって、 当該配線基板は、前記絶縁層に貫通孔を形成するととも
に、この貫通孔に導電性ペーストの充填物からなる中間
接続体を配設したものであることを特徴とする配線基
板。
10. The wiring board according to claim 9, wherein the wiring board has a through hole formed in the insulating layer, and an intermediate connector made of a conductive paste filling is provided in the through hole. A wiring substrate, characterized in that:
【請求項11】 請求項9または10記載の配線基板で
あって、 前記回路パターンに配設される絶縁薄層の厚みを、前記
絶縁基材の厚みより薄くすることを特徴とする配線基
板。
11. The wiring board according to claim 9, wherein a thickness of the insulating thin layer provided in the circuit pattern is smaller than a thickness of the insulating base material.
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