JP2001013261A - Contamination detection method and device - Google Patents

Contamination detection method and device

Info

Publication number
JP2001013261A
JP2001013261A JP11185983A JP18598399A JP2001013261A JP 2001013261 A JP2001013261 A JP 2001013261A JP 11185983 A JP11185983 A JP 11185983A JP 18598399 A JP18598399 A JP 18598399A JP 2001013261 A JP2001013261 A JP 2001013261A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
foreign matter
image
foreign
visible
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP11185983A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Kurita
耕一 栗田
Takashi Okai
隆 岡井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP11185983A priority Critical patent/JP2001013261A/en
Publication of JP2001013261A publication Critical patent/JP2001013261A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately detect contamination that cannot be detected by a method using an X-ray transmittance, a capturing method, and an infrared application method using static electricity. SOLUTION: Light at the wavelength region of UV and visible regions being emitted from a UV + visible lamp 20 to an object 2 to be carried being carried by a conveyor 1, the image of the object 2 to be carried at this time is picked up by a camera 22 through a UV filter 26 and a visible ND filter 27, an image through the UV filter 26 obtained by an image-processing device 30 is compared with an image being transmitted through the visible ND filter 27 by a contamination removal decision device 31 for judging contamination 2b, and the contamination 2b is sent to a contamination collection box 5 by a dropout conveyor 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば食品加工の
際の材料選別に適用されるもので、コンベア等で搬送中
の食品材料等の搬送物に混在する異物を検出する異物検
出方法及びその装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is applied to, for example, material selection at the time of food processing, and a foreign matter detection method for detecting foreign matter mixed in a conveyed material such as food material being conveyed by a conveyor or the like, and a method of detecting the same. Related to the device.

【0002】[0002]

【従来の技術】食品加工業における食品の材料選別で
は、良品である食品材料から例えば金属や石などの異物
が混在しているので、コンベアで搬送中の食品材料から
異物を検出している。
2. Description of the Related Art In food material sorting in the food processing industry, foreign materials such as metals and stones are mixed from non-defective food materials. Therefore, foreign materials are detected from food materials being conveyed by a conveyor.

【0003】図5は目視観察による異物検出方法の模式
図である。コンベア1は、複数連結されて搬送ラインを
構成して搬送物2を搬送するものとなっている。なお、
搬送物2は、良品2aと異物2とを合わせて称する。
FIG. 5 is a schematic view of a method for detecting foreign matter by visual observation. A plurality of conveyors 1 are connected to form a transport line, and transport the transported object 2. In addition,
The conveyed product 2 is referred to as a non-defective product 2a and a foreign material 2 together.

【0004】これらコンベア1のうち異物の選別部署の
各コンベア1の間には、ドロップアウトコンベア3が設
けられ、ドロップアウトコンベア駆動装置4の操作によ
って回動し、このドロップアウトコンベア3の下方に配
置された異物回収箱5に異物2bを送り込むようになっ
ている。又、各コンベア1の先端部には、良品回収箱6
が配置されている。
[0004] A drop-out conveyor 3 is provided between the conveyors 1 of the foreign matter sorting section among these conveyors 1, and is rotated by operating a drop-out conveyor driving device 4. The foreign matter 2b is sent to the arranged foreign matter collection box 5. A non-defective collection box 6 is provided at the tip of each conveyor 1.
Is arranged.

【0005】このような目視観察による異物検出方法で
は、通常、1ラインに2人の選別作業者7a、7bが搬
送ライン中に搬送される異物2bを検出して直接手で取
り除くか、又は異物2bを検出したときにドロップアウ
トコンベア駆動装置4を操作し、ドロップアウトコンベ
ア3を回動させて異物2bを一部の良品2aと共に異物
回収箱5に送り込んでいる。
In such a foreign matter detection method by visual observation, usually, two sorting workers 7a and 7b detect the foreign matter 2b conveyed on the transport line in one line and directly remove the foreign matter 2b by hand. When 2b is detected, the dropout conveyor driving device 4 is operated, the dropout conveyor 3 is rotated, and the foreign matter 2b is sent into the foreign matter collection box 5 together with some good products 2a.

【0006】しかしながら、この異物検出方法では、ラ
イン速度が速い場合及び検査時間が長くなるような場合
には、人為的なミスにより異物2bの見落としが生じ易
くなる問題を抱えている。
However, this foreign matter detection method has a problem that when the line speed is high or the inspection time is long, the foreign matter 2b is easily overlooked due to a human error.

【0007】このような方法で実施されていた異物検出
について、搬送ラインの高速化及び異物検出の精度を高
めるために、次の方法が用いられている。
The following method has been used for detecting foreign matter, which has been performed by such a method, in order to increase the speed of a transport line and increase the accuracy of foreign matter detection.

【0008】図6はX線を用いた異物検出装置の構成図
である。コンベア1には、このコンベア1を囲うように
X線透過異物検出装置8が設けられている。このX線透
過異物検出装置8は、検査対象としての搬送物2の上方
及び下部、すなわちコンベア1の上方又は下方のいずれ
か一方にX線発生部を配置するとともに他方にX線検出
部を配置したものとなっている。
FIG. 6 is a configuration diagram of a foreign substance detection device using X-rays. The conveyor 1 is provided with an X-ray transmitting foreign substance detection device 8 so as to surround the conveyor 1. This X-ray penetrating foreign matter detection device 8 has an X-ray generation unit arranged above and below the conveyed object 2 to be inspected, that is, either above or below the conveyor 1 and an X-ray detection unit arranged at the other. It has become.

【0009】このX線透過異物検出装置8は、X線発生
部から放射されたX線をコンベア1に搬送される搬送物
2に照射し、この搬送物2を透過したX線をX線検出部
で検出し、そのX線透過量に応じた電気信号を出力す
る。
The X-ray transmitting foreign object detecting device 8 irradiates the X-ray radiated from the X-ray generation unit to the conveyed object 2 conveyed to the conveyor 1, and detects the X-ray transmitted through the conveyed object 2 for X-ray detection. And outputs an electric signal corresponding to the X-ray transmission amount.

【0010】画像処理装置9は、X線透過異物検出装置
8から出力され電気信号を入力し、この電気信号に基づ
いてX線透過量に応じた画像信号を作成して異物除去判
定装置10に送る。
The image processing device 9 receives the electric signal output from the X-ray transmitting foreign object detecting device 8, creates an image signal corresponding to the amount of X-ray transmission based on the electric signal, and sends the image signal to the foreign object removal determining device 10. send.

【0011】この異物除去判定装置10は、搬送物2の
うち良品2aと異物2bとのX線透過量の違いを利用し
て異物2bを判定するもので、良品2aと異物2bとの
各X線透過量の差の著しいもの、例えば搬送物2の良品
2aとして干し魚や茶葉中に異物2bとして金属及び石
などが混在している場合、X線透過量の違いから異物2
bを判定し、このときドロップアウトコンベア駆動装置
4を駆動する。
The foreign matter removal determining apparatus 10 determines the foreign matter 2b by utilizing the difference in the amount of X-ray transmission between the non-defective article 2a and the foreign substance 2b in the conveyed article 2. Each X of the non-defective article 2a and the foreign substance 2b is determined. If there is a remarkable difference in the amount of X-ray transmission, for example, if a good product 2a of the conveyed product 2 contains a foreign substance 2b in the dried fish or tea leaves and a metal or a stone as a foreign substance 2b, the difference in the amount of X-ray transmission causes the foreign substance 2
b is determined, and the dropout conveyor driving device 4 is driven at this time.

【0012】このドロップアウトコンベア駆動装置4
は、ドロップアウトコンベア3を回動して異物2bを一
部の良品2aと共に異物回収箱5に送り込む。
This drop-out conveyor drive 4
Rotates the dropout conveyor 3 and sends the foreign matter 2b into the foreign matter collection box 5 together with a part of the good product 2a.

【0013】しかしながら、この異物検出装置では、良
品2aと異物2bとの各X線透過量の差の著しいもの、
例えば搬送物2の良品2aとして干し魚や茶葉中に異物
2bとして金属及び石などが混在する場合に異物2bを
感度高く検出できるが、異物2bのX線透過率が良品2
aのX線透過率に近い場合、例えば異物2bとして木片
や木屑などでは、異物2bを検出することが極めて困難
となる。このため、異物2bの検出対象が限定されてし
まう。
However, in this foreign matter detecting device, the difference between the X-ray transmission amounts of the non-defective product 2a and the foreign matter 2b is remarkable.
For example, when a good product 2a of the conveyed product 2 includes a dried fish or tea, and a foreign material 2b containing a metal or a stone as a foreign material 2b, the foreign material 2b can be detected with high sensitivity.
In the case where the X-ray transmittance a is close to, for example, a piece of wood or wood chips as the foreign substance 2b, it is extremely difficult to detect the foreign substance 2b. Therefore, the detection target of the foreign matter 2b is limited.

【0014】図7は、図6に示すX線を用いた異物検出
装置では検出できない異物2b、例えば毛髪や繊維質等
の検出に適用される静電気を用いた補集方法を示す図で
ある。この補集方法は、搬送ラインのコンベア1上にコ
ロナ放電用ワイヤー電極11及び補集部12を配置し、
コロナ放電用ワイヤー電極11によりコロナ放電を発生
させ、このコロナ放電により空気中にイオンを生じさせ
る。
FIG. 7 is a diagram showing a collection method using static electricity applied to the detection of foreign matter 2b, for example, hair or fiber, which cannot be detected by the foreign matter detection device using X-rays shown in FIG. In this collection method, a corona discharge wire electrode 11 and a collection unit 12 are arranged on a conveyor 1 of a transport line,
Corona discharge is generated by the corona discharge wire electrode 11, and ions are generated in the air by the corona discharge.

【0015】この状態に、搬送ラインに搬送されている
良品2aに毛髪や繊維質等の異物2bが混在している
と、イオンが毛髪や繊維質等の異物2bに付着し、異物
2bが帯電する。
In this state, if the non-defective product 2a conveyed to the conveyance line contains foreign matter 2b such as hair or fiber, ions adhere to the foreign matter 2b such as hair or fiber and the foreign matter 2b is charged. I do.

【0016】補集部12は、帯電された電荷と逆極性の
電圧を印加した異物補集電極を備えており、イオンの帯
電された毛髪や繊維質等の異物2bを選択的に回収す
る。
The collection unit 12 includes a foreign matter collection electrode to which a voltage having a polarity opposite to that of the charged electric charge is applied, and selectively collects the foreign matter 2b such as hair or fiber charged with ions.

【0017】しかしながら、静電気を用いた補集方法で
は、毛髪や繊維質等の重量の軽い異物2bのみを回収す
ることができるが、重量の重いものや金属粉等の電気伝
導性を有する異物2bに対しては原理的に回収が不可能
であり、X線透過方式と同様に木片や木屑の検出は困難
である。
However, according to the collection method using static electricity, only the light foreign matter 2b such as hair or fiber can be collected, but the heavy foreign matter 2b having electrical conductivity such as metal powder can be collected. Is in principle impossible to collect, and similarly to the X-ray transmission method, it is difficult to detect wood chips and wood chips.

【0018】図8は上記X線透過方式や静電気を用いた
補集方法では検出や回収の困難な異物2bを検出するた
めに開発された赤外線照射方式の異物検出装置の構成図
である。
FIG. 8 is a block diagram of an infrared irradiation type foreign substance detection device developed to detect the foreign substance 2b which is difficult to detect and collect by the above-mentioned X-ray transmission method or the collection method using static electricity.

【0019】この赤外線照射方式は、ランプ電源13か
らハロゲンランプ14に電力を供給し、このハロゲンラ
ンプ14から光を連続的又はパルス的に発光させて搬送
物2に照射する。このとき赤外線カメラ15は、ハロゲ
ンランプ14からの光で照射された搬送物2を撮像して
その画像信号を出力する。
In this infrared irradiation method, electric power is supplied from a lamp power supply 13 to a halogen lamp 14, and light is emitted from the halogen lamp 14 continuously or in a pulsed manner to irradiate the article 2. At this time, the infrared camera 15 captures an image of the transported object 2 irradiated with the light from the halogen lamp 14 and outputs an image signal thereof.

【0020】画像処理装置16は、赤外線カメラ15か
ら出力され画像信号を入力し、この画像信号に基づいて
熱伝導率や比熱を現わす画像信号を作成して異物除去判
定装置17に送る。
The image processing device 16 receives an image signal output from the infrared camera 15, creates an image signal representing thermal conductivity and specific heat based on the image signal, and sends it to the foreign matter removal determination device 17.

【0021】この異物除去判定装置17は、画像処理装
置16から出力された画像信号を入力し、搬送物2のう
ち良品2aと異物2bとの熱伝導率や比熱との差に基づ
いて異物2bを判定し、このときにドロップアウトコン
ベア駆動装置4を駆動する。
The foreign matter removal determining device 17 receives the image signal output from the image processing device 16 and determines the foreign matter 2b based on the difference between the thermal conductivity and the specific heat between the non-defective product 2a and the foreign matter 2b. Is determined, and the dropout conveyor driving device 4 is driven at this time.

【0022】このドロップアウトコンベア駆動装置4
は、ドロップアウトコンベア3を回動して異物2bを一
部の良品2aと共に異物回収箱5に送り込む。
This dropout conveyor driving device 4
Rotates the dropout conveyor 3 and sends the foreign matter 2b into the foreign matter collection box 5 together with a part of the good product 2a.

【0023】この赤外線照射方式の異物検出装置では、
良品2aと異物2bとの熱伝導率や比熱との差が大きく
異なれば、上記X線透過方式による装置で検出できない
異物2bに対して検出感度を有利に持つことができる
が、良品2aと異物2bとの熱伝導率や比熱とに大きさ
差異がなければ、異物2bの検出が困難となる。
In this infrared irradiation type foreign matter detector,
If there is a large difference between the thermal conductivity and the specific heat of the non-defective product 2a and the foreign material 2b, it is possible to advantageously have the detection sensitivity for the foreign material 2b that cannot be detected by the apparatus using the X-ray transmission method. If there is no difference between the thermal conductivity and the specific heat of the foreign matter 2b, it is difficult to detect the foreign matter 2b.

【0024】[0024]

【発明が解決しようとする課題】以上のように目視によ
る異物検出方法では、ライン速度が速い場合及び検査時
間が長くなるような場合には、人為的なミスにより異物
2bの見落としが生じ易くなる。
As described above, in the foreign matter detection method by visual observation, when the line speed is high or the inspection time is long, the foreign matter 2b is easily overlooked due to a human error. .

【0025】これに対して、X線透過率を用いた方法で
は、異物2bのX線透過率が良品2aのX線透過率に近
い場合には、異物2bを検出することが極めて困難とな
り異物2bの検出対象が限定されてしまい、又、静電気
を用いた補集方法では、重量の重いものや金属粉等の電
気伝導性を有する異物2bに対しては原理的に回収が不
可能となり、赤外線照射方式では、良品2aと異物2b
との熱伝導率や比熱とに大きさ差異がなければ、異物2
bの検出が困難となる。
On the other hand, in the method using the X-ray transmittance, when the X-ray transmittance of the foreign matter 2b is close to the X-ray transmittance of the non-defective product 2a, it is extremely difficult to detect the foreign matter 2b. The detection target of 2b is limited, and in the collection method using static electricity, it is impossible in principle to collect foreign substances 2b having heavy conductivity or electrically conductive substances such as metal powder. In the infrared irradiation method, a good product 2a and a foreign material 2b
If there is no difference between the thermal conductivity and specific heat of
It becomes difficult to detect b.

【0026】そこで本発明は、X線透過率を用いた方法
や静電気を用いた補集方法、赤外線照射方式により検出
が出来ない異物に対しても高精度に検出ができる異物検
出方法及びその装置を提供するとを目的とする。
Therefore, the present invention provides a foreign matter detection method and apparatus which can detect a foreign matter which cannot be detected by an infrared irradiation method with high accuracy even if the method uses an X-ray transmittance, a collection method using static electricity, or the like. To provide.

【0027】[0027]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
搬送中の複数の搬送物に混在する異物を検出する異物検
出方法において、搬送物と異物とに対する光の反射特性
に依存する各波長を含む光を搬送物及び異物に照射し、
各波長のうち一方の波長に基づいて得られる搬送物及び
異物の画像と他方の波長に基づいて得られる搬送物及び
異物の画像とを比較して異物を検出するものである。
According to the first aspect of the present invention,
In a foreign matter detection method for detecting foreign matter mixed in a plurality of conveyed objects being conveyed, irradiating the conveyed object and the foreign matter with light including each wavelength depending on a reflection characteristic of light for the conveyed object and the foreign matter,
The foreign object is detected by comparing the image of the transferred object and the foreign object obtained based on one of the wavelengths with the image of the transferred object and the foreign object obtained based on the other wavelength.

【0028】請求項2記載の発明は、請求項1記載の異
物検出方法において、紫外領域の波長と可視領域の波長
とを含む光を搬送中の搬送物及び異物に照射する。
According to a second aspect of the present invention, in the foreign matter detection method according to the first aspect, light having a wavelength in the ultraviolet region and a wavelength in the visible region is irradiated on the conveyed object and the foreign matter during the transportation.

【0029】請求項3記載の発明は、搬送中の複数の搬
送物に混在する異物を検出する異物検出装置において、
搬送物と異物とに対する光の反射特性に依存する各波長
を含む光を搬送物及び異物に照射する照明光学系と、こ
の照明光学系により照明された搬送物及び異物を撮像す
る撮像手段と、この撮像手段の撮像により得られる各波
長のうち一方の波長に基づいて得られる搬送物及び異物
の画像と他方の波長に基づいて得られる搬送物及び異物
の画像とを比較して異物を検出する判定手段と、を備て
いる。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a foreign matter detecting apparatus for detecting foreign matter mixed in a plurality of articles being conveyed,
An illumination optical system that irradiates the transport object and the foreign matter with light including each wavelength that depends on the reflection characteristics of light with respect to the transport object and the foreign object, and an imaging unit that captures an image of the transport object and the foreign object illuminated by the illumination optical system, A foreign object is detected by comparing the image of the transferred object and the foreign substance obtained based on one of the wavelengths obtained by the imaging by the imaging unit with the image of the transferred object and the foreign substance obtained based on the other wavelength. Determination means.

【0030】請求項4記載の発明は、請求項3記載の異
物検出装置において、照明光学系は、紫外領域の波長と
可視領域の波長との光を搬送中の搬送物及び異物に照射
する。
According to a fourth aspect of the present invention, in the foreign matter detection device according to the third aspect, the illumination optical system irradiates a light beam having a wavelength in the ultraviolet region and a wavelength in the visible region to the conveyed object and the foreign material being conveyed.

【0031】請求項5記載の発明は、請求項4記載の異
物検出装置において、照明光学系は、パルス状の光を放
射する。
According to a fifth aspect of the present invention, in the foreign object detecting device of the fourth aspect, the illumination optical system emits pulsed light.

【0032】[0032]

【発明の実施の形態】(1) 以下、本発明の第1の実施の
形態について図面を参照して説明する。なお、図5と同
一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略す
る。
(1) Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0033】図1は異物検出装置の構成図である。コン
ベア1の上方には、紫外領域(UV)と可視領域の波長
領域の光を放射するUV+可視ランプ20として例えば
キセノンランプが配置されている。このUV+可視ラン
プ20の検出対象となる搬送物2への光の入射角は、選
別対象の良品2a及び異物2bの光反射特性により最適
な照射角度が存在する。この照射角度は、例えば小魚を
加工した煮干し中に混在する木片を異物2bとして検出
する場合、約0〜40度で良好な選別が可能となる。
又、UV+可視ランプ20から放射された光の搬送物2
への照射方向は、搬送物2の搬送方向又はこの搬送方向
に対して垂直方向、さらにはこれら方向の間のいずれで
あってもよい。このUV+可視ランプ20は、UVラン
プ電源21から電力供給を受けて点灯するものとなって
いる。
FIG. 1 is a block diagram of the foreign matter detecting device. Above the conveyor 1, for example, a xenon lamp is disposed as a UV + visible lamp 20 that emits light in a wavelength region of an ultraviolet region (UV) and a visible region. The UV + visible lamp 20 has an optimal incident angle of light to the conveyed object 2 to be detected due to the light reflection characteristics of the non-defective product 2a and the foreign matter 2b to be sorted. When the irradiation angle is, for example, detected as a foreign substance 2b, a wood chip mixed in a dried and processed small fish, a good selection can be made at about 0 to 40 degrees.
Also, the conveyed material 2 of the light emitted from the UV + visible lamp 20
The direction in which the object 2 is irradiated may be the direction in which the article 2 is conveyed, the direction perpendicular to the direction of conveyance, or any direction between these directions. The UV + visible lamp 20 is lit by receiving power supply from a UV lamp power supply 21.

【0034】コンベア1の上方には、カメラ22として
例えば工業用テレビジョンカメラが配置されている。こ
のカメラ22の前方には、モータ23によって回転する
フィルターホルダー24が回転自在に配置されている。
なお、モータ23は、モータ駆動電源25からの電力供
給を受けて所定の回転速度で回転するものとなってい
る。
Above the conveyor 1, for example, an industrial television camera is arranged as the camera 22. In front of the camera 22, a filter holder 24 rotated by a motor 23 is rotatably arranged.
The motor 23 rotates at a predetermined rotation speed upon receiving power supply from the motor drive power supply 25.

【0035】フィルターホルダー24には、UVフィル
ター26及び可視NDフィルター27が例えば回転軸を
中心とする円周上に180度の間隔をおいてもうけられ
ている。このうちUVフィルター26は、木片を異物2
bとして検出する場合、例えば300〜400nmの波
長領域の光を透過するものが用いられる。このような波
長領域のUVフィルター26を用いることにより、UV
フィルター26を透過した搬送物2の像(以下、UV画
像と称する)は、煮干しのUV光の反射強度が木片のU
V光の反射強度よりも約10倍以上高くなる。
In the filter holder 24, a UV filter 26 and a visible ND filter 27 are provided at intervals of, for example, 180 degrees on the circumference around the rotation axis. Among them, the UV filter 26 removes
In the case of detecting as b, one that transmits light in a wavelength region of, for example, 300 to 400 nm is used. By using the UV filter 26 in such a wavelength region, the UV
The image of the transported object 2 that has passed through the filter 26 (hereinafter, referred to as a UV image) has a reflection intensity of the boiled-out UV light of U of a wooden piece.
It becomes about 10 times or more higher than the reflection intensity of V light.

【0036】フィルターホルダー24の円周縁には、フ
ォトインタラプタ28が配置されている。このフォトイ
ンタラプタ28は、回転中のフィルターホルダー24に
おけるUVフィルター26又は可視NDフィルター27
がカメラ22の視野内に入ったことを検出してその検出
信号を出力して同期信号発生器29に送るものとなって
いる。
A photo-interrupter 28 is arranged around the circumference of the filter holder 24. The photo interrupter 28 is provided with a UV filter 26 or a visible ND filter 27 in the rotating filter holder 24.
Is detected within the field of view of the camera 22, and a detection signal is output and sent to the synchronization signal generator 29.

【0037】この同期信号発生器29は、フォトインタ
ラプタ28から出力される検出信号を受けたときに同期
信号を発生して画像処理装置30に送るものとなってい
る。
The synchronization signal generator 29 generates a synchronization signal when receiving a detection signal output from the photo interrupter 28 and sends it to the image processing device 30.

【0038】この画像処理装置30は、同期信号発生器
29から出力される各同期信号を受ける毎にカメラ22
から出力される画像信号を入力し、UVフィルター26
を透過したときの画像信号と可視NDフィルター27を
透過したときの画像信号とをそれぞれ所定の輝度レベル
で2値化処理し、その2値化画像を異物除去判定装置3
1に送出する機能を有している。
Each time the image processing device 30 receives each synchronization signal output from the synchronization signal generator 29, the camera 22
Input the image signal output from the
The image signal transmitted through the ND filter and the image signal transmitted through the visible ND filter 27 are respectively binarized at predetermined luminance levels, and the binarized image is subjected to the foreign matter removal determination device 3.
1 is provided.

【0039】この画像処理装置30により得れる各画像
のうちUVフィルター26を透過したときのUV画像で
は煮干しのUV光の反射強度が木片のUV光の反射強度
よりも約10倍以上高くなり、可視NDフィルター27
を透過したときの画像(可視画像と称する)では煮干し
と木片とからの反射が同時に検出される。
In each of the images obtained by the image processing apparatus 30, in the UV image transmitted through the UV filter 26, the reflection intensity of the boiled UV light is about 10 times or more higher than the reflection intensity of the UV light of the wood chip. , Visible ND filter 27
In the image when the light is transmitted (referred to as a visible image), the reflection from the boiled and the piece of wood is detected at the same time.

【0040】異物除去判定装置31は、画像処理装置3
0により得られるUVフィルター26を透過したときの
2値化画像と可視NDフィルター27を透過したときの
2値化画像とを比較し解析し、UVフィルター26を透
過したときのUV画像では検出されず、可視NDフィル
ター27を透過したときの可視画像から検出されるもの
を異物2bとしての木片としてその位置を判断し、その
検出信号をドロップアウトコンベア駆動装置4に出力す
る機能を有している。
The foreign matter removal judging device 31 includes the image processing device 3
The binarized image transmitted through the UV filter 26 and the binarized image transmitted through the visible ND filter 27 are compared and analyzed, and are detected in the UV image transmitted through the UV filter 26. However, it has a function of judging the position detected from the visible image transmitted through the visible ND filter 27 as a wooden piece as the foreign matter 2b and outputting the detection signal to the dropout conveyor driving device 4. .

【0041】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。
Next, the operation of the above-configured device will be described.

【0042】コンベア1により搬送されている搬送物2
に対してUV+可視ランプ20から放射されたUV領域
と可視領域の波長領域の光が照射される。
Conveyed object 2 being conveyed by conveyor 1
Is irradiated with light in a UV region and a wavelength region of a visible region emitted from the UV + visible lamp 20.

【0043】一方、フィルタホルダー24は、モータ駆
動電源25からの電力供給を受けて所定の回転速度で回
転しており、この状態にカメラ22は、UVフィルター
26又は可視NDフィルター27がその視野内に配置さ
れたときに、これらUVフィルター26又は可視NDフ
ィルター27を透過した各画像を撮像してその画像信号
を出力する。
On the other hand, the filter holder 24 is rotated at a predetermined rotational speed by receiving the power supply from the motor drive power supply 25, and in this state, the camera 22 moves the UV filter 26 or the visible ND filter 27 within its visual field. , Each image transmitted through the UV filter 26 or the visible ND filter 27 is captured, and the image signal is output.

【0044】これと共に、フォトインタラプタ28は、
回転中のフィルターホルダー24におけるUVフィルタ
ー26又は可視NDフィルター27がカメラ22の視野
内に入ったことを検出してその検出信号を出力して同期
信号発生器29に送る。
At the same time, the photo interrupter 28
It detects that the UV filter 26 or the visible ND filter 27 in the rotating filter holder 24 has entered the field of view of the camera 22, outputs a detection signal and sends it to the synchronization signal generator 29.

【0045】この同期信号発生器29は、フォトインタ
ラプタ28から出力される検出信号を受けたときに同期
信号を発生して画像処理装置30に送る。
The synchronization signal generator 29 generates a synchronization signal when receiving the detection signal output from the photo interrupter 28 and sends it to the image processing device 30.

【0046】この画像処理装置30は、同期信号発生器
29から出力される同期信号を受ける毎にカメラ22か
ら出力される画像信号を入力し、UVフィルター26を
透過したときの画像信号と可視NDフィルター27を透
過したときの画像信号とをそれぞれ所定の輝度レベルで
2値化処理し、その2値化データを異物除去判定装置3
1に送出する。
The image processing device 30 inputs an image signal output from the camera 22 every time the synchronization signal output from the synchronization signal generator 29 is received, and outputs the image signal transmitted through the UV filter 26 and the visible ND signal. The image signal transmitted through the filter 27 is binarized at a predetermined luminance level, and the binarized data is converted into a foreign matter removal determination device 3.
Send to 1.

【0047】この異物除去判定装置31は、画像処理装
置30により得られるUVフィルター26を透過したと
きの2値化画像と可視NDフィルター27を透過したと
きの2値化画像とを比較し解析し、このうちUVフィル
ター26を透過したときのUV画像では煮干しのUV光
の反射強度が木片のUV光の反射強度よりも約10倍以
上高くなり、可視NDフィルター27を透過したときの
可視画像では煮干しと木片とからの反射が同時に検出さ
れることから、UVフィルター26を透過したときのU
V画像では検出されず、可視NDフィルター27を透過
したときの可視画像から検出されるものを異物2bとし
ての木片としてその位置を判断し、その検出信号をドロ
ップアウトコンベア駆動装置4に出力する。
The foreign matter removal determination device 31 compares and analyzes a binary image transmitted through the UV filter 26 obtained by the image processing device 30 and a binary image transmitted through the visible ND filter 27. Of these, in the UV image transmitted through the UV filter 26, the reflection intensity of the boiled UV light is about 10 times or more higher than the reflection intensity of the UV light of the wood piece, and the visible image transmitted through the visible ND filter 27. In U.S.A., since reflections from boiled and wood chips are detected at the same time, U
The position which is not detected in the V image but is detected from the visible image when transmitted through the visible ND filter 27 is determined as a piece of wood as the foreign matter 2b, and the detection signal is output to the dropout conveyor driving device 4.

【0048】このドロップアウトコンベア駆動装置4
は、ドロップアウトコンベア3を回動して異物2bを異
物回収箱5に送り込む。そして、良品2aは、ドロップ
アウトコンベア3を通過し、そのまま次のコンベア1で
搬送されて良品回収箱6に回収され、異物選別が完了す
る。
This dropout conveyor driving device 4
Rotates the dropout conveyor 3 and sends the foreign matter 2 b into the foreign matter collection box 5. Then, the non-defective product 2a passes through the drop-out conveyor 3, is conveyed as it is on the next conveyor 1, is collected in the non-defective product collection box 6, and the foreign matter sorting is completed.

【0049】このように上記第1の実施の形態において
は、コンベア1により搬送されている搬送物2に対して
UV+可視ランプ20から放射されたUV領域と可視領
域の波長領域の光を照射し、このときの搬送物2をUV
フィルター26及び可視NDフィルター27を通してカ
メラ22により撮像し、UVフィルター26を透過した
ときのUV画像と可視NDフィルター27を透過したと
きの可視画像とを比較して異物2bを判断し、ドロップ
アウトコンベア3で異物2bを異物回収箱5に送り込む
ようにしたので、人により目視検査に比べて大幅に良品
2aと異物2bとの選別効率と選別精度が高くなり、従
来におけるX線透過率を用いた方法や静電気を用いた補
集方法、赤外線照射方式では原理的に検出不可能な異
物、例えば煮干しに木片が混在していても、この木片を
異物2bとして高精度に検出できる。
As described above, in the first embodiment, the conveyed object 2 conveyed by the conveyor 1 is irradiated with light in the UV region and the visible region radiated from the UV + visible lamp 20. In this case, the transferred object 2 is UV
The image is taken by the camera 22 through the filter 26 and the visible ND filter 27, and the UV image transmitted through the UV filter 26 is compared with the visible image transmitted through the visible ND filter 27 to determine the foreign matter 2b. Since the foreign matter 2b is sent to the foreign matter collection box 5 in step 3, the sorting efficiency and the sorting accuracy of the non-defective 2a and the foreign matter 2b are significantly higher than the visual inspection by a human, and the conventional X-ray transmittance is used. Even if a foreign substance that cannot be detected in principle by a method, a collection method using static electricity, or an infrared irradiation method, for example, a wooden piece is mixed in a dried dish, this wooden piece can be detected with high accuracy as the foreign substance 2b.

【0050】(2) 次に、本発明の第2の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、図1と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
(2) Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0051】図2は異物検出装置の構成図である。コン
ベア1の上方には、搬送物2からの反射光を分割するプ
リズム32が配置され、このプリズム32の各分割方向
の一方にUVフィルター26が配置されると共に、他方
に可視NDフィルター27が配置され、このうちのUV
フィルター26にUV用カメラ33が配置され、可視N
Dフィルター27に可視用カメラ34が配置されてい
る。
FIG. 2 is a block diagram of the foreign matter detecting device. Above the conveyor 1, a prism 32 that divides the reflected light from the conveyed object 2 is arranged, and a UV filter 26 is arranged in one of the dividing directions of the prism 32, and a visible ND filter 27 is arranged in the other. Of which UV
A UV camera 33 is arranged on the filter 26, and the visible N
A visual camera 34 is arranged on the D filter 27.

【0052】UV用カメラ33はUVフィルター26を
透過した搬送物のUV像を撮像してその画像信号を出力
して画像処理装置30に送るものであり、可視用カメラ
34は可視NDフィルター27を透過した搬送物の可視
像を撮像してその画像信号を出力して画像処理装置30
に送るものである。
The UV camera 33 captures a UV image of the conveyed object transmitted through the UV filter 26, outputs an image signal of the image, and sends the image signal to the image processing device 30, and the visible camera 34 controls the visible ND filter 27. The image processing apparatus 30 captures a visible image of the conveyed article and outputs an image signal of the image.
To send to.

【0053】この画像処理装置30は、UV用カメラ3
3及び可視用カメラ34からそれぞれ出力される各画像
信号を入力し、UVフィルター26を透過したときの画
像信号と可視NDフィルター27を透過したときの画像
信号とをそれぞれ所定の輝度レベルで2値化処理し、そ
の2値化画像を異物除去判定装置31に送出する機能を
有している。
The image processing apparatus 30 is provided with a UV camera 3
3 and the respective image signals output from the visible camera 34 are input, and the image signal transmitted through the UV filter 26 and the image signal transmitted through the visible ND filter 27 are binary-coded at a predetermined luminance level. And a function of transmitting the binarized image to the foreign matter removal determination device 31.

【0054】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。
Next, the operation of the device configured as described above will be described.

【0055】コンベア1により搬送されている搬送物2
に対してUV+可視ランプ20から放射されたUV領域
と可視領域の波長領域の光が照射される。
Conveyed object 2 being conveyed by conveyor 1
Is irradiated with light in a UV region and a wavelength region of a visible region emitted from the UV + visible lamp 20.

【0056】この光の照射された搬送物2からの反射光
は、プリズム32で2方向に分割され、その一方の光が
UVフィルター26を透過してUV用カメラ33に入射
し、他方の光が可視NDフィルター27を透過して可視
用カメラ34に入射する。
The reflected light from the conveyed object 2 irradiated with the light is split in two directions by a prism 32, and one of the lights is transmitted through a UV filter 26 and is incident on a UV camera 33, while the other is Are transmitted through the visible ND filter 27 and enter the visible camera 34.

【0057】このうちUV用カメラ33はUVフィルタ
ー26を透過した搬送物のUV像を撮像してその画像信
号を出力し、可視用カメラ34は可視NDフィルター2
7を透過した搬送物の可視像を撮像してその画像信号を
出力する。
The UV camera 33 picks up a UV image of the conveyed object transmitted through the UV filter 26 and outputs an image signal thereof.
7, and picks up a visible image of the conveyed object that has passed through 7 and outputs the image signal.

【0058】画像処理装置30は、UV用カメラ33及
び可視用カメラ34からそれぞれ出力される各画像信号
を入力し、UVフィルター26を透過したときの画像信
号と可視NDフィルター27を透過したときの画像信号
とをそれぞれ所定の輝度レベルで2値化処理し、その2
値化画像を異物除去判定装置31に送出する。
The image processing device 30 receives the respective image signals output from the UV camera 33 and the visible camera 34, and outputs the image signal when transmitted through the UV filter 26 and the image signal when transmitted through the visible ND filter 27. The image signal is binarized at a predetermined luminance level.
The digitized image is sent to the foreign matter removal determination device 31.

【0059】この異物除去判定装置31は、画像処理装
置30により得られるUVフィルター26を透過したと
きの2値化画像と可視NDフィルター27を透過したと
きの2値化画像とを比較し、上記同様にUVフィルター
26を透過したときのUV画像では煮干しのUV光の反
射強度が木片のUV光の反射強度よりも約10倍以上高
くなり、可視NDフィルター27を透過したときの可視
画像では煮干しと木片とからの反射が同時に検出される
ことから、UVフィルター26を透過したときのUV画
像では検出されず、可視NDフィルター27を透過した
ときの可視画像から検出されるものを異物2bとしての
木片としてその位置を判断し、その検出信号をドロップ
アウトコンベア駆動装置4に出力する。
The foreign matter removal determination device 31 compares the binarized image transmitted through the UV filter 26 obtained by the image processing device 30 with the binarized image transmitted through the visible ND filter 27, and Similarly, in the UV image transmitted through the UV filter 26, the reflection intensity of the boiled UV light is about 10 times or more higher than the reflection intensity of the UV light of the wood chip, and in the visible image transmitted through the visible ND filter 27, Since the reflection from the boiled and the pieces of wood is detected at the same time, the foreign matter 2b is not detected in the UV image transmitted through the UV filter 26 but is detected in the visible image transmitted through the visible ND filter 27. The position is determined as a piece of wood, and the detection signal is output to the dropout conveyor driving device 4.

【0060】この結果、ドロップアウトコンベア駆動装
置4は、ドロップアウトコンベア3を回動して異物2b
を異物回収箱5に送り込む。そして、良品2aは、ドロ
ップアウトコンベア3を通過し、そのまま次のコンベア
1で搬送されて良品回収箱6に回収され、異物選別が完
了する。
As a result, the drop-out conveyor driving device 4 rotates the drop-out conveyor 3 to
Is sent to the foreign matter collection box 5. Then, the non-defective product 2a passes through the drop-out conveyor 3, is conveyed as it is on the next conveyor 1, is collected in the non-defective product collection box 6, and the foreign matter sorting is completed.

【0061】このように上記第2の実施の形態において
は、コンベア1により搬送されている搬送物2に対して
UV+可視ランプ20から放射されたUV領域と可視領
域の波長領域の光を照射し、このときの搬送物2からの
反射光をプリズム32で分割してUVフィルター26及
び可視NDフィルター27を通してそれぞれUV用カメ
ラ33及び可視用カメラ34で撮像し、UVフィルター
26を透過したときのUV画像と可視NDフィルター2
7を透過したときの可視画像とを比較して異物2bを判
断し、ドロップアウトコンベア3で異物2bを異物回収
箱5に送り込むようにしたので、上記上記第2の実施の
形態と同様に、人により目視検査に比べて大幅に良品2
aと異物2bとの選別効率と選別精度が高くなり、従来
におけるX線透過率を用いた方法や静電気を用いた補集
方法、赤外線照射方式では原理的に検出不可能な異物、
例えば煮干しに木片が混在していても、この木片を異物
2bとして高精度に検出できる。
As described above, in the second embodiment, the conveyed object 2 conveyed by the conveyor 1 is irradiated with light in the UV region and the visible region radiated from the UV + visible lamp 20. At this time, the reflected light from the conveyed object 2 is split by the prism 32 and imaged by the UV camera 33 and the visible camera 34 through the UV filter 26 and the visible ND filter 27, respectively. Image and visible ND filter 2
7, the foreign matter 2b is determined by comparing the image with the visible image transmitted through the foreign matter 7 and the foreign matter 2b is sent to the foreign matter collection box 5 by the drop-out conveyor 3. Therefore, as in the above-described second embodiment, Significantly better products compared to visual inspection by humans 2
a and foreign matter 2b, the sorting efficiency and the sorting accuracy are increased, and a conventional method using X-ray transmittance, a collection method using static electricity, a foreign matter which cannot be detected in principle by an infrared irradiation method,
For example, even if wood chips are mixed in the dried boiled water, the wood chips can be detected with high accuracy as the foreign matter 2b.

【0062】さらに、搬送物2からの反射光をプリズム
32で分割してUVフィルター26及び可視NDフィル
ター27を通して同時にUV用カメラ33及び可視用カ
メラ34で撮像するので、2台のカメラ33、34でリ
アルタイムに画像を取り込むことができ、搬送ラインが
速い場合にも異物2bを高精度に検出できる。
Further, the reflected light from the transported object 2 is split by the prism 32 and is simultaneously imaged by the UV camera 33 and the visible camera 34 through the UV filter 26 and the visible ND filter 27, so that the two cameras 33, 34 Thus, the image can be captured in real time, and the foreign matter 2b can be detected with high accuracy even when the transport line is fast.

【0063】(3) 次に、本発明の第3の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、図1と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
(3) Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0064】図3は異物検出装置の構成図である。コン
ベア1の上方には、UVパルスランプ35及び可視パル
スランプ36が配置されている。このうちUVパルスラ
ンプ35にはUVランプ電源37が接続され、可視パル
スランプ36には可視ランプ電源38が接続され、これ
らランプ電源37、38がパルス発生器39で発生する
パルス信号を受けて一定間隔毎にパルス電力をそれぞれ
UVパルスランプ35及び可視パルスランプ36に供給
するようになっている。
FIG. 3 is a block diagram of the foreign matter detecting device. Above the conveyor 1, a UV pulse lamp 35 and a visible pulse lamp 36 are arranged. A UV lamp power supply 37 is connected to the UV pulse lamp 35, a visible lamp power supply 38 is connected to the visible pulse lamp 36, and these lamp power supplies 37 and 38 receive a pulse signal generated by the pulse generator 39, and are fixed. The pulse power is supplied to the UV pulse lamp 35 and the visible pulse lamp 36 at each interval.

【0065】又、パルス発生器39で発生するパルス信
号はカメラ22にも送出され、交互に発光するUVパル
スランプ35又は可視パルスランプ36に同期してカメ
ラ22により搬送物2が撮像されるものとなっている。
The pulse signal generated by the pulse generator 39 is also transmitted to the camera 22, and the conveyed object 2 is imaged by the camera 22 in synchronization with the UV pulse lamp 35 or the visible pulse lamp 36 which emits light alternately. It has become.

【0066】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。
Next, the operation of the device configured as described above will be described.

【0067】コンベア1により搬送物2が搬送されてい
る状態に、パルス発生器39は、一定間隔毎のパルス信
号を発生してUVランプ電源37及び可視ランプ電源3
8に送出するとともにカメラ22に送出する。
While the conveyed object 2 is being conveyed by the conveyor 1, the pulse generator 39 generates pulse signals at regular intervals to generate the UV lamp power supply 37 and the visible lamp power supply 3.
8 and to the camera 22.

【0068】これらUVランプ電源37と可視ランプ電
源38とは、それぞれパルス信号を受けてUVパルスラ
ンプ35と可視パルスランプ36とにパルス状の電力を
供給する。これにより、UVパルスランプ35と可視パ
ルスランプ36とは、一定間隔毎に交互にUVパルス光
B、可視パルス光Rを放射し、搬送物2に照射する。
The UV lamp power supply 37 and the visible lamp power supply 38 receive pulse signals and supply pulsed power to the UV pulse lamp 35 and the visible pulse lamp 36, respectively. As a result, the UV pulse lamp 35 and the visible pulse lamp 36 emit the UV pulse light B and the visible pulse light R alternately at regular intervals, and irradiate the article 2.

【0069】カメラ22は、パルス発生器39から出力
されたパルス信号を受け、このパルス信号に同期して搬
送物2にUV光Bが照射されたときの反射画像と搬送物
2に可視光Rが照射されたときの反射画像とを一定間隔
毎に撮像し、その画像信号を出力する。
The camera 22 receives the pulse signal output from the pulse generator 39 and, in synchronization with the pulse signal, reflects the reflected image when the object 2 is irradiated with the UV light B and the visible light R on the object 2. Is imaged at regular intervals with the reflected image when the light is irradiated, and the image signal is output.

【0070】画像処理装置30は、カメラ22から出力
される画像信号を入力し、UVパルス光Bが搬送物2に
照射されたときの画像信号と可視パルス光Rが搬送物2
に照射されたときの画像信号とをそれぞれ所定の輝度レ
ベルで2値化処理し、その2値化画像を異物除去判定装
置31に送出する。
The image processing device 30 receives an image signal output from the camera 22 and converts the image signal and the visible pulse light R when the UV pulse light B is applied to the article 2 into the article 2.
Are binarized at predetermined luminance levels, and the binarized image is sent to the foreign matter removal determination device 31.

【0071】この異物除去判定装置31は、画像処理装
置30により得られるUVパルス光Bが搬送物2に照射
されたときの2値化画像と可視パルス光Rが搬送物2に
照射されたときの2値化画像とを比較し、UVパルス光
Bを照射したときの画像からは検出されず、可視パルス
光Rを照射したときの可視画像から検出されるものを異
物2bとしての木片としてその位置を判断し、その検出
信号をドロップアウトコンベア駆動装置4に出力する。
The foreign matter removal determination device 31 is used to determine whether a binary image when the UV pulse light B obtained by the image processing device 30 is radiated on the conveyed object 2 and the visible pulse light R when the conveyed object 2 is radiated. Are compared with the binarized image, and those which are not detected from the image when the UV pulse light B is irradiated, but are detected from the visible image when the visible pulse light R is irradiated, The position is determined, and the detection signal is output to the dropout conveyor driving device 4.

【0072】この結果、ドロップアウトコンベア駆動装
置4は、ドロップアウトコンベア3を回動して異物2b
を異物回収箱5に送り込む。そして、良品2aは、ドロ
ップアウトコンベア3を通過し、そのまま次のコンベア
1で搬送されて良品回収箱6に回収され、異物選別が完
了する。
As a result, the drop-out conveyor driving device 4 rotates the drop-out conveyor 3 to
Is sent to the foreign matter collection box 5. Then, the non-defective product 2a passes through the drop-out conveyor 3, is conveyed as it is on the next conveyor 1, is collected in the non-defective product collection box 6, and the foreign matter sorting is completed.

【0073】このように上記第3の実施の形態において
は、UVパルスランプ35と可視パルスランプ36とか
ら一定間隔毎に交互にUVパルス光Bと可視パルス光R
とを搬送物2に照射し、このときの搬送物2からの反射
像をカメラ22で撮像し、UVパルス光Bが搬送物2に
照射されたときの2値化画像と可視パルス光Rが搬送物
2に照射されたときの2値化画像とを比較して異物2b
を判断し、ドロップアウトコンベア3で異物2bを異物
回収箱5に送り込むようにしたので、上記第1の実施の
形態と同様な効果を奏することは言うまでもなく、かつ
一定間隔毎に交互にUVパルス光Bと可視パルス光Rと
を搬送物2に照射することにより、搬送ラインが速い場
合でも異物2bの選別精度を高く維持できる。
As described above, in the third embodiment, the UV pulse light B and the visible pulse light R are alternately provided at regular intervals from the UV pulse lamp 35 and the visible pulse lamp 36.
Is illuminated on the object 2, and a reflection image from the object 2 at this time is captured by the camera 22, and the binarized image and the visible pulse light R when the UV pulse light B is applied to the object 2 are obtained. The foreign matter 2b is compared with the binarized image when the article 2 is irradiated.
And the foreign matter 2b is sent to the foreign matter collection box 5 by the dropout conveyor 3, so that it is needless to say that the same effect as in the first embodiment can be obtained, and that the UV pulse is alternately provided at regular intervals. By irradiating the transport object 2 with the light B and the visible pulse light R, the sorting accuracy of the foreign matter 2b can be kept high even when the transport line is fast.

【0074】(4) 次に、本発明の第4の実施の形態につ
いて図面を参照して説明する。なお、図1と同一部分に
は同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
(4) Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.

【0075】図4は異物検出装置の構成図である。カメ
ラ22から出力される画像信号は、高速画像処理装置4
0に送られるようになっている。この高速画像処理装置
40は、カメラ22から出力される画像信号を入力し、
予め設定された良品2aと異物2bとの反射光の強度差
の違いを抽出するための最適な閾値を用いて2値化処理
し、その2値化画像を異物除去判定装置31に送出する
機能を有している。
FIG. 4 is a configuration diagram of the foreign matter detection device. The image signal output from the camera 22 is output to the high-speed image processing device 4.
0. The high-speed image processing device 40 receives an image signal output from the camera 22 and
A function of performing binarization processing using an optimal threshold value for extracting a difference in intensity of reflected light between a non-defective product 2a and a foreign substance 2b set in advance, and sending the binarized image to the foreign substance removal determination device 31 have.

【0076】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。
Next, the operation of the device configured as described above will be described.

【0077】コンベア1により搬送されている搬送物2
に対してUV+可視ランプ20から放射されたUV領域
と可視領域の波長領域の光が照射される。
The transported object 2 being transported by the conveyor 1
Is irradiated with light in a UV region and a wavelength region of a visible region emitted from the UV + visible lamp 20.

【0078】カメラ22は、UV領域と可視領域の波長
領域の光が照射された搬送物2からの反射画像を同時に
撮像し、その画像信号を出力する。
The camera 22 simultaneously captures the reflected image from the transported object 2 irradiated with the light in the UV region and the visible region, and outputs the image signal.

【0079】高速画像処理装置40は、カメラ22から
出力される画像信号を入力し、予め設定された良品2a
と異物2bとの反射光の強度差の違いを抽出するための
最適な閾値を用いて2値化処理し、その2値化画像を異
物除去判定装置31に送出する。
The high-speed image processing device 40 receives an image signal output from the camera 22 and receives a preset non-defective product 2a.
A binarization process is performed using an optimum threshold value for extracting a difference in intensity difference between the reflected light and the foreign matter 2b, and the binarized image is sent to the foreign matter removal determination device 31.

【0080】この異物除去判定装置31は、高速画像処
理装置40により得られる2値化画像を取り込み、UV
光を照射したときの画像では煮干しのUV光の反射強度
が木片のUV光の反射強度よりも約10倍以上高くなる
ことから、2値化画像から良品2aと異物2bとの反射
光の強度差の違いにより異物2bの位置を抽出し、その
検出信号をドロップアウトコンベア駆動装置4に出力す
る。
The foreign matter removal determination device 31 captures the binary image obtained by the high-speed image processing device 40,
In the image irradiated with light, the reflection intensity of the boiled UV light is about 10 times or more higher than the reflection intensity of the UV light of the wood chip. The position of the foreign matter 2b is extracted based on the difference in the intensity, and the detection signal is output to the dropout conveyor driving device 4.

【0081】このドロップアウトコンベア駆動装置4
は、ドロップアウトコンベア3を回動して異物2bを異
物回収箱5に送り込む。そして、良品2aは、ドロップ
アウトコンベア3を通過し、そのまま次のコンベア1で
搬送されて良品回収箱6に回収され、異物選別が完了す
る。
This drop-out conveyor driving device 4
Rotates the dropout conveyor 3 and sends the foreign matter 2 b into the foreign matter collection box 5. Then, the non-defective product 2a passes through the drop-out conveyor 3, is conveyed as it is on the next conveyor 1, is collected in the non-defective product collection box 6, and the foreign matter sorting is completed.

【0082】このように上記第4の実施の形態において
は、UV+可視ランプ20からUV領域と可視領域の波
長領域の光を搬送物2に照射し、このときの搬送物2か
らの反射像をカメラ22で撮像し、高速画像処理装置4
0によりカメラ22から出力される画像信号を入力し、
予め設定された良品2aと異物2bとの反射光の強度差
の違いを抽出するための最適な閾値を用いて2値化処理
し、その2値化画像を異物除去判定装置31に送出して
良品2aと異物2bとの反射光の強度差の違いにより異
物2bの位置を抽出し、ドロップアウトコンベア3で異
物2bを異物回収箱5に送り込むようにしたので、上記
第1及び第2の実施の形態と同様な効果を奏することが
できる。
As described above, in the fourth embodiment, the UV + visible lamp 20 irradiates the light of the wavelength region of the UV region and the visible region to the conveyed object 2, and the reflected image from the conveyed object 2 at this time is obtained. High-speed image processing device 4
0 inputs an image signal output from the camera 22,
The binarization process is performed using an optimal threshold value for extracting a difference in intensity of reflected light between the non-defective product 2a and the foreign material 2b, which is set in advance, and the binarized image is sent to the foreign matter removal determination device 31. The position of the foreign matter 2b is extracted based on the difference in the intensity of the reflected light between the non-defective product 2a and the foreign matter 2b, and the foreign matter 2b is sent to the foreign matter collection box 5 by the dropout conveyor 3, so that the first and second embodiments are performed. The same effect as in the embodiment can be obtained.

【0083】なお、本発明は、上記第1乃至第4の実施
の形態に限定されるものでなく次の通り変形してもよ
い。
The present invention is not limited to the first to fourth embodiments, but may be modified as follows.

【0084】例えば、上記第1乃至第4の実施の形態で
は、煮干し中に混在する木片としているが、これに限ら
ず煮干し中に混在する他の異物2bについても光反射特
性の違いを利用して異物選別ができる。
For example, in the first to fourth embodiments, the wood pieces mixed during the drying are used. However, the present invention is not limited to this. Utilization can be used for foreign matter sorting.

【0085】又、煮干し中に混在する木片の検出に限ら
ず、食品加工業における食品の材料選別であれば、搬送
物として果物や野菜、魚に混在する異物の検出に適用し
たり、さらには食品加工業に限らず各種工業分野での異
物検出に適用できる。
Further, the present invention is not limited to the detection of wood chips mixed in boiled vegetables, but may be applied to the detection of foreign substances mixed in fruits, vegetables, and fish as conveyed objects in the case of food material selection in the food processing industry. Is applicable not only to the food processing industry but also to foreign substance detection in various industrial fields.

【0086】[0086]

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、搬
送物と異物とに対する光の反射特性に依存する各波長を
含む光を搬送物及び異物に照射する照明光学系と、この
照明光学系により照明された搬送物及び異物を撮像する
撮像手段と、この撮像手段の撮像により得られる各波長
のうち一方の波長に基づいて得られる搬送物及び異物の
画像と他方の波長に基づいて得られる搬送物及び異物の
画像とを比較して異物を検出する判定手段とを備えた。
As described above in detail, according to the present invention, an illumination optical system for irradiating a light beam having various wavelengths depending on the reflection characteristics of light to a conveyed object and a foreign object, and an illumination optical system for irradiating the conveyed object and the foreign object. Imaging means for imaging the transported object and foreign matter illuminated by the optical system; and an image of the transported article and foreign matter obtained based on one of the wavelengths obtained by imaging by the imaging means and the other wavelength. Determining means for detecting the foreign matter by comparing the obtained images of the conveyed object and the foreign matter;

【0087】これにより、搬送物と異物とに対する光の
反射特性に依存する各波長を含む光を搬送物及び異物に
照射し、各波長のうち一方の波長に基づいて得られる搬
送物及び異物の画像と他方の波長に基づいて得られる搬
送物及び異物の画像とを比較して異物を検出することに
より、X線透過率を用いた方法や静電気を用いた補集方
法、赤外線照射方式により検出が出来ない異物に対して
も高精度に検出ができる異物検出方法及びその装置を提
供できる。
Thus, the transport object and the foreign matter are irradiated with light having each wavelength depending on the reflection characteristic of the light to the transport object and the foreign matter, and the transport object and the foreign matter obtained based on one of the wavelengths are irradiated. Detecting foreign matter by comparing the image with the image of the conveyed object and foreign matter obtained based on the other wavelength, detection using a method using X-ray transmittance, a collection method using static electricity, or an infrared irradiation method It is possible to provide a foreign matter detection method and a foreign matter detection method capable of detecting a foreign matter that cannot be detected with high accuracy.

【0088】又、紫外領域の波長と可視領域の波長とを
含む光を搬送中の搬送物及び異物に照射するので、搬送
物として煮干し中に混在する異物をその光反射特性の違
いを利用して精度高く選別ができる異物検出方法及びそ
の装置を提供できる。
Further, since light having a wavelength in the ultraviolet region and a wavelength in the visible region is radiated to the conveyed object and the foreign matter during conveyance, the difference in the light reflection characteristics of the foreign matter mixed in the boiled product as the conveyed material is utilized. And a foreign matter detection method and device capable of performing highly accurate sorting.

【0089】又、パルス状の光を搬送中の搬送物及び異
物に照射するので、搬送ラインが速い場合でも異物の選
別精度を高く維持できる異物検出方法及びその装置を提
供できる。
Further, since the pulsed light is applied to the conveyed object and the foreign matter during the conveyance, it is possible to provide a foreign matter detecting method and apparatus capable of maintaining high foreign matter sorting accuracy even when the conveying line is fast.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係わる異物検出装置の第1の実施の形
態を示す構成図。
FIG. 1 is a configuration diagram showing a first embodiment of a foreign object detection device according to the present invention.

【図2】本発明に係わる異物検出装置の第2の実施の形
態を示す構成図。
FIG. 2 is a configuration diagram showing a second embodiment of the foreign matter detection device according to the present invention.

【図3】本発明に係わる異物検出装置の第3の実施の形
態を示す構成図。
FIG. 3 is a configuration diagram showing a third embodiment of a foreign object detection device according to the present invention.

【図4】本発明に係わる異物検出装置の第4の実施の形
態を示す構成図。
FIG. 4 is a configuration diagram showing a fourth embodiment of the foreign matter detection device according to the present invention.

【図5】従来における目視観察による異物検出方法を示
す模式図。
FIG. 5 is a schematic view showing a conventional foreign matter detection method by visual observation.

【図6】従来におけるX線を用いた異物検出装置を示す
構成図。
FIG. 6 is a configuration diagram showing a conventional foreign matter detection device using X-rays.

【図7】従来における静電気を用いた補集方法を示す
図。
FIG. 7 is a diagram showing a conventional collection method using static electricity.

【図8】従来における赤外線照射方式の異物検出装置の
構成図。
FIG. 8 is a configuration diagram of a conventional infrared irradiation type foreign matter detection device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:コンベア、 2:搬送物、 2a:良品、 2b:異物、 3:ドロップアウトコンベア、 4:ドロップアウトコンベア駆動装置、 5:異物回収箱、 6:良品回収箱、 20:UV+可視ランプ、 21:UVランプ電源、 22:カメラ、 23:モータ、 24:フィルターホルダー、 25:モータ駆動電源、 26:UVフィルター、 27:可視NDフィルター、 28:フォトインタラプタ、 29:同期信号発生器、 30:画像処理装置、 31:異物除去判定装置、 32:プリズム、 33:UV用カメラ、 34:可視用カメラ、 35:UVパルスランプ、 36:可視パルスランプ、 37:UVランプ電源、 38:可視ランプ電源、 39:パルス発生器、 40:高速画像処理装置。 1: Conveyor, 2: Conveyed object, 2a: Good product, 2b: Foreign material, 3: Dropout conveyor, 4: Dropout conveyor driving device, 5: Foreign material collection box, 6: Good product collection box, 20: UV + visible lamp, 21 : UV lamp power supply, 22: Camera, 23: Motor, 24: Filter holder, 25: Motor drive power supply, 26: UV filter, 27: Visible ND filter, 28: Photo interrupter, 29: Synchronous signal generator, 30: Image Processing device, 31: foreign matter removal determination device, 32: prism, 33: UV camera, 34: visible camera, 35: UV pulse lamp, 36: visible pulse lamp, 37: UV lamp power supply, 38: visible lamp power supply, 39: pulse generator, 40: high-speed image processing device.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 搬送中の複数の搬送物に混在する異物を
検出する異物検出方法において、 前記搬送物と前記異物とに対する光の反射特性に依存す
る各波長を含む光を前記搬送物及び前記異物に照射し、
前記各波長のうち一方の波長に基づいて得られる前記搬
送物及び前記異物の画像と他方の波長に基づいて得られ
る前記搬送物及び前記異物の画像とを比較して前記異物
を検出することを特徴とする異物検出方法。
1. A foreign matter detection method for detecting foreign matter mixed in a plurality of conveyed objects during conveyance, comprising: transmitting light having respective wavelengths depending on a reflection characteristic of light to the conveyed object and the foreign matter; Irradiate foreign matter,
Detecting the foreign object by comparing the image of the transferred object and the foreign object obtained based on one of the wavelengths with the image of the transferred object and the foreign object obtained based on the other wavelength. Characteristic foreign matter detection method.
【請求項2】 紫外領域の波長と可視領域の波長とを含
む光を搬送中の前記搬送物及び前記異物に照射すること
を特徴とする請求項1記載の異物検出方法。
2. The foreign matter detection method according to claim 1, wherein light having a wavelength in an ultraviolet region and a wavelength in a visible region is irradiated to the conveyed object and the foreign matter during transportation.
【請求項3】 搬送中の複数の搬送物に混在する異物を
検出する異物検出装置において、 前記搬送物と前記異物とに対する光の反射特性に依存す
る各波長を含む光を前記搬送物及び前記異物に照射する
照明光学系と、 この照明光学系により照明された前記搬送物及び前記異
物を撮像する撮像手段と、 この撮像手段の撮像により得られる前記各波長のうち一
方の波長に基づいて得られる前記搬送物及び前記異物の
画像と他方の波長に基づいて得られる前記搬送物及び前
記異物の画像とを比較して前記異物を検出する判定手段
と、を具備したことを特徴とする異物検出装置。
3. A foreign matter detection device for detecting foreign matter mixed in a plurality of conveyed objects being conveyed, wherein light having respective wavelengths depending on light reflection characteristics of the conveyed object and the foreign matter is transmitted to the conveyed object and the foreign object. An illumination optical system for irradiating the foreign object; an imaging unit for imaging the transported object and the foreign object illuminated by the illumination optical system; and an imaging unit for obtaining an image based on one of the wavelengths obtained by the imaging unit. Determining means for detecting the foreign object by comparing the image of the transferred object and the foreign object obtained with the image of the transferred object and the foreign object obtained based on the other wavelength. apparatus.
【請求項4】 前記照明光学系は、紫外領域の波長と可
視領域の波長との光を搬送中の前記搬送物及び前記異物
に照射することを特徴とする請求項3記載の異物検出装
置。
4. The foreign matter detection device according to claim 3, wherein the illumination optical system irradiates the conveyed object and the foreign matter during transportation with light having a wavelength in an ultraviolet region and a wavelength in a visible region.
【請求項5】 前記照明光学系は、パルス状の光を放射
することを特徴とする請求項4記載の異物検出装置。
5. The foreign matter detection device according to claim 4, wherein the illumination optical system emits pulsed light.
JP11185983A 1999-06-30 1999-06-30 Contamination detection method and device Withdrawn JP2001013261A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11185983A JP2001013261A (en) 1999-06-30 1999-06-30 Contamination detection method and device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11185983A JP2001013261A (en) 1999-06-30 1999-06-30 Contamination detection method and device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001013261A true JP2001013261A (en) 2001-01-19

Family

ID=16180318

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11185983A Withdrawn JP2001013261A (en) 1999-06-30 1999-06-30 Contamination detection method and device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001013261A (en)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002316100A (en) * 2001-04-17 2002-10-29 Kawasaki Kiko Co Ltd Foreign matter removing equipment and foreign matter removing method
JP2003050215A (en) * 2001-08-07 2003-02-21 Ishida Co Ltd X-ray inspection device
JP2014020910A (en) * 2012-07-18 2014-02-03 Omron Corp Defect inspection method and defect inspection device
CN104914112A (en) * 2014-03-12 2015-09-16 欧姆龙株式会社 Sheet detection apparatus
CN105973909A (en) * 2015-03-10 2016-09-28 欧姆龙株式会社 Sheet inspection device
WO2018198591A1 (en) * 2017-04-28 2018-11-01 パナソニックIpマネジメント株式会社 Unnecessary matter detection system, unnecessary matter removal system, processing system and program
JP2020071153A (en) * 2018-10-31 2020-05-07 株式会社リコー Detector and detection system
WO2022254747A1 (en) * 2021-06-03 2022-12-08 三菱電機株式会社 Appearance inspection device, appearance inspection method, learning device, and inference device
EP4130725A4 (en) * 2020-08-26 2024-04-10 Hamamatsu Photonics K.K. Foreign matter inspection device

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002316100A (en) * 2001-04-17 2002-10-29 Kawasaki Kiko Co Ltd Foreign matter removing equipment and foreign matter removing method
JP2003050215A (en) * 2001-08-07 2003-02-21 Ishida Co Ltd X-ray inspection device
JP4677137B2 (en) * 2001-08-07 2011-04-27 株式会社イシダ X-ray inspection equipment
JP2014020910A (en) * 2012-07-18 2014-02-03 Omron Corp Defect inspection method and defect inspection device
TWI498544B (en) * 2012-07-18 2015-09-01 Omron Tateisi Electronics Co Defect inspection method and defect inspection device
CN104914112A (en) * 2014-03-12 2015-09-16 欧姆龙株式会社 Sheet detection apparatus
CN105973909A (en) * 2015-03-10 2016-09-28 欧姆龙株式会社 Sheet inspection device
CN105973909B (en) * 2015-03-10 2019-02-22 欧姆龙株式会社 Sheet material check device
WO2018198591A1 (en) * 2017-04-28 2018-11-01 パナソニックIpマネジメント株式会社 Unnecessary matter detection system, unnecessary matter removal system, processing system and program
JP2018186735A (en) * 2017-04-28 2018-11-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 Unnecessary object detecting system, unnecessary object removing system, processing system, program, and unnecessary object detecting method
JP2020071153A (en) * 2018-10-31 2020-05-07 株式会社リコー Detector and detection system
JP7155883B2 (en) 2018-10-31 2022-10-19 株式会社リコー Detection device and detection system
EP4130725A4 (en) * 2020-08-26 2024-04-10 Hamamatsu Photonics K.K. Foreign matter inspection device
WO2022254747A1 (en) * 2021-06-03 2022-12-08 三菱電機株式会社 Appearance inspection device, appearance inspection method, learning device, and inference device
JP7483135B2 (en) 2021-06-03 2024-05-14 三菱電機株式会社 Visual inspection device and visual inspection method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5206699A (en) Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones
CA1334895C (en) Sensing a narrow frequency band of radiation and gemstones
AU2018326579B2 (en) Classification method and apparatus
US9924105B2 (en) System and method for individually inspecting objects in a stream of products and a sorting apparatus comprising such system
RU2526103C1 (en) Method and device for sorting out of structures of loose materials
KR102110192B1 (en) Apparatus for detecting foreign substances
JPH0321235B2 (en)
JP2001013261A (en) Contamination detection method and device
JP2003315280A (en) Method and device for inspecting foreign matter
JP2003139723A (en) X-ray foreign matter detector
JP3715524B2 (en) X-ray foreign object detection device
JP2001299288A (en) Method and apparatus for detecting foreign matter in dried laver
US11249030B2 (en) Product inspection and characterization device
JP2002168803A (en) X-ray foreign matter detector
JP2002310946A (en) Radiation inspection system
JP2010032259A (en) Foreign matter detector and detecting method
JP3737950B2 (en) X-ray foreign object detection apparatus and defective product detection method in the apparatus
US9347892B2 (en) Optical inspection apparatus and optical sorting apparatus
JP2005087873A (en) Foreign substance removing method and its apparatus
KR20220014323A (en) Apparatus, corresponding methods and computer program products for performing quality control on an industrial production line
WO2022044430A1 (en) Foreign matter inspection device
GB2219080A (en) Identifying gemstones
JP6914990B2 (en) Article inspection device and article inspection method
JP2000039407A (en) X-ray foreign object inspection device
JP5917977B2 (en) X-ray inspection equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20060905