JP2001013114A - Ultrasonic inspection method and device - Google Patents

Ultrasonic inspection method and device

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JP2001013114A JP11184329A JP18432999A JP2001013114A JP 2001013114 A JP2001013114 A JP 2001013114A JP 11184329 A JP11184329 A JP 11184329A JP 18432999 A JP18432999 A JP 18432999A JP 2001013114 A JP2001013114 A JP 2001013114A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ultrasonic inspection method and a device capable of detecting, easily and highly accurately, the position of a defect in the plate surface direction and the position thereof in the plate thickness direction. SOLUTION: This device has a reflected-echo detecting means 10 for irradiating an ultrasonic wave into a test object 2 and for detecting reflected echo of the ultrasonic wave reflected by a discontinuous part of the test object 2, and a diffracted-wave detecting means 11 for irradiating an ultrasonic wave into the test object 2 and for detecting the ultrasonic wave diffracted by the discontinuous part. And, the reflected-echo detecting means 10 and the diffracted- wave detecting means 11 are composed integrally and moved simultaneously along the same inspection part 3.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、配管などの溶接部
の欠陥検査に好適な超音波検査方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic inspection method and apparatus suitable for inspecting defects in welds such as pipes.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば配管の溶接部の検査はX線
透過試験によって行われることが多かった。X線透過試
験は、試験結果と溶接部の強度との関係に基づいて作成
された基準が、長期間に渡り構造物の安全性を保証して
きた実績があり、また検査結果をフィルムとして残せる
という記録性があり、これによって、溶接部の検査に多
用されていたのである。
2. Description of the Related Art Conventionally, for example, inspection of a welded portion of a pipe has often been performed by an X-ray transmission test. X-ray transmission tests are based on the relationship between the test results and the strength of the weld, and have a proven track record of assuring the safety of structures over a long period of time. Because of its recordability, it was frequently used for inspection of welds.

【0003】一方、溶接部の欠陥検査において、超音波
探傷検査は事業者が必要に応じて行う自主的な検査と位
置ずけられていたが、最近は手動又は自動の探触子を備
えた超音波探傷装置が開発され、多くの実用化例が紹介
されている。更に、これらの超音波探傷装置には、検査
結果を記録できるようにしたものもあった。
[0003] On the other hand, ultrasonic inspection has been regarded as a voluntary inspection performed by a business operator as necessary in the inspection of welded parts, but recently, a manual or automatic probe has been provided. Ultrasonic flaw detectors have been developed and many practical examples have been introduced. Furthermore, some of these ultrasonic flaw detectors can record inspection results.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の超音波
探傷装置においては、欠陥部の板厚方向の位置を正確に
検出することは困難であった。これは、超音波探傷法
が、広がりを持つ超音波を用いるためである。欠陥の板
厚方向の位置を正確に検出することができれば、溶接部
の設計などにフィードバックすることにより、より高度
な溶接設計が期待できる。
However, in the conventional ultrasonic flaw detector, it was difficult to accurately detect the position of the defect in the thickness direction. This is because the ultrasonic flaw detection method uses ultrasonic waves having a spread. If the position of the defect in the thickness direction can be accurately detected, more advanced welding design can be expected by feeding back to the design of the welded portion.

【0005】そこで、欠陥の板厚方向の位置を検出する
方法として、TOFD(Timeof Flight
Diffrection)法が開発されている。このT
OFD法は、溶接部などに超音波を放射したとき、欠陥
部などの不連続部があると、この不連続部で超音波が回
折するので、この回折波を検出して不連続部のないとこ
ろを直線的に通過してきた超音波との時間差を求めるこ
とにより、不連続部の位置を検出するものであり、不連
続部の板厚方向の位置を正確に検出することができる。
しかし、このTOFD法は、定性的な検査法で欠陥の検
出状態は高くなく、この方法のみの適用に問題があっ
た。また、画面も見難く、欠陥の識別が困難であった。
Therefore, as a method of detecting the position of a defect in the thickness direction, TOFD (Timeof Flight) is used.
Difference) method has been developed. This T
In the OFD method, when an ultrasonic wave is radiated to a weld or the like, if there is a discontinuous portion such as a defect, the ultrasonic wave is diffracted at the discontinuous portion. However, the position of the discontinuous portion is detected by calculating the time difference from the ultrasonic wave that has passed linearly, and the position of the discontinuous portion in the thickness direction can be accurately detected.
However, in the TOFD method, a defect detection state is not high in a qualitative inspection method, and there is a problem in applying only this method. Also, the screen was difficult to see, and it was difficult to identify the defect.

【0006】本発明の目的は、このような問題点を解決
することにあり、欠陥の板面方向の位置及び板厚方向の
位置を容易に且つ高精度に検出することが可能であり、
且つ結果の判断を容易にすることが可能な超音波検査方
法及び装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve such problems, and it is possible to easily and accurately detect the position of a defect in the plate surface direction and the position of the defect in the plate thickness direction.
It is another object of the present invention to provide an ultrasonic inspection method and apparatus capable of easily determining a result.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は超音波検査方法
であり、前述の技術的課題を解決するために以下のよう
に構成されている。すなわち、本発明の超音波検査方法
は、被検査物に超音波を入射し前記被検査物の不連続部
で反射された前記超音波の反射エコーを検出する反射エ
コー検出工程と、前記被検査物に超音波を入射し前記被
検査物の前記不連続部からの回折波を検出する回折波検
出工程とを有し、前記反射エコー検出工程と前記回折波
検出工程とを同時に行うことを特徴とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is an ultrasonic inspection method, and is configured as follows to solve the above-mentioned technical problems. That is, the ultrasonic inspection method of the present invention comprises: a reflection echo detecting step of irradiating an ultrasonic wave to an inspection object and detecting a reflection echo of the ultrasonic wave reflected at a discontinuous portion of the inspection object; And a diffracted wave detecting step of detecting a diffracted wave from the discontinuous portion of the inspection object by irradiating an ultrasonic wave to the object, wherein the reflected echo detecting step and the diffracted wave detecting step are performed simultaneously. And

【0008】また、前記反射エコー検出工程における探
触子と前記回折波検出工程における探触子とを一体的に
移動させること、前記反射エコー検出工程と前記回折波
検出工程とは、同一の欠陥検出用画像を作成することを
特徴とする。
Further, the probe in the reflection echo detection step and the probe in the diffraction wave detection step are integrally moved, and the reflection echo detection step and the diffraction wave detection step have the same defect. It is characterized in that an image for detection is created.

【0009】また、本発明に係る超音波検査装置は、被
検査物に超音波を入射し前記被検査物の不連続部で反射
された前記超音波の反射エコーを検出する反射エコー検
出手段と、前記被検査物に超音波を入射し前記不連続部
からの回折波を検出する回折波検出手段とを有し、前記
反射エコー検出手段と前記回折波検出手段とを一体的に
構成して、同一の検査部分に沿って同時に移動させるこ
とを特徴とする。
Further, the ultrasonic inspection apparatus according to the present invention is characterized in that reflected ultrasonic wave detecting means for irradiating an ultrasonic wave to an inspection object and detecting a reflection echo of the ultrasonic wave reflected at a discontinuous portion of the inspection object; Having a diffracted wave detecting means for irradiating an ultrasonic wave to the inspected object and detecting a diffracted wave from the discontinuous portion, wherein the reflected echo detecting means and the diffracted wave detecting means are integrally formed. Are moved simultaneously along the same inspection part.

【0010】(作用)本発明に係る超音波検査方法によ
れば、反射エコー検出工程により溶接欠陥の板面方向の
位置を検出すると同時に、回折波検出工程により溶接欠
陥の板厚方向の位置を正確に検出することができる。
(Action) According to the ultrasonic inspection method of the present invention, the position of the welding defect in the plate surface direction is detected by the reflected echo detection step, and the position of the welding defect in the plate thickness direction is detected by the diffraction wave detection step. It can be detected accurately.

【0011】また、反射エコー検出工程で検出した欠陥
と、回折波検出工程によって検出した欠陥との位置合わ
せが容易になるので、欠陥の3時限方向の位置を正確に
検出できる。また、前記反射エコー検出工程と前記回折
波検出工程とで、同一の欠陥検出用画像を作成する場合
には、両方の工程を一度にデータ処理することができる
ので、判定の自動化が容易になる。
Further, since the position of the defect detected in the reflected echo detecting step and the position of the defect detected in the diffracted wave detecting step can be easily adjusted, the position of the defect in the three-time direction can be accurately detected. In the case where the same defect detection image is created in the reflection echo detection step and the diffraction wave detection step, both steps can be processed at one time, so that the automation of the determination is facilitated. .

【0012】更に、本発明に係る超音波検査装置によれ
ば、反射エコー検出手段と回折波検出手段との移動が容
易になる。
Further, according to the ultrasonic inspection apparatus of the present invention, the movement between the reflected echo detecting means and the diffracted wave detecting means becomes easy.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る超音波検査方
法及び装置について図面を参照して詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an ultrasonic inspection method and apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0014】図1は、本発明に係る超音波検査装置1の
機能ブロックを示す。この超音波検査装置1は、被検査
物である例えば配管2の溶接部3の内外に存在する空
間、異物、融合不良など正規の材質と異なる不連続部3
1(図5)の板面方向の位置を検出する反射エコー検出
手段10と、不連続部31の板圧方向の位置を検出する
回折波検出手段11と、これらの反射エコー検出手段1
0及び回折波検出手段11を溶接部3に沿って移動させ
る走査手段12と、走査手段12を制御する制御手段1
3とを備えている。
FIG. 1 shows functional blocks of an ultrasonic inspection apparatus 1 according to the present invention. The ultrasonic inspection apparatus 1 includes a discontinuous portion 3 that is different from a regular material, such as a space, a foreign substance, and a fusion defect existing inside and outside a welded portion 3 of a pipe 2, which is an inspection object.
1 (FIG. 5), a reflected echo detecting means 10 for detecting the position in the plate surface direction, a diffracted wave detecting means 11 for detecting the position of the discontinuous portion 31 in the plate pressure direction, and these reflected echo detecting means 1
Scanning means 12 for moving the zero and diffracted wave detecting means 11 along the welded portion 3 and control means 1 for controlling the scanning means 12
3 is provided.

【0015】また、この超音波検査装置1は、反射エコ
ー検出手段10及び回折波検出手段11で検出された不
連続部31が欠陥であるか否かを判別する欠陥識別支援
装置14と、欠陥識別支援装置14で判別された欠陥を
所定の基準によって分類する欠陥分類手段15と、この
欠陥分類手段15の分類結果を出力する出力手段16
と、欠陥識別支援装置14及び欠陥分類手段15におけ
る処理データを記憶する記憶手段17とを備えている。
The ultrasonic inspection apparatus 1 includes a defect identification support device 14 for determining whether or not the discontinuous portion 31 detected by the reflected echo detecting means 10 and the diffracted wave detecting means 11 is a defect. A defect classification unit 15 for classifying defects determined by the identification support device 14 according to a predetermined standard; and an output unit 16 for outputting a classification result of the defect classification unit 15
And a storage unit 17 for storing processing data in the defect identification support device 14 and the defect classification unit 15.

【0016】反射エコー検出手段10は、被検査物2に
超音波を入射したとき、欠陥すなわち不連続部31(図
5)があると、この不連続部31における音速がその周
囲の正常な材質における音速と異なることを利用したも
のであり、溶接部3に超音波を入射して不連続部31か
ら反射してきた反射エコーを検出する。この反射エコー
を、別の手段で分析することにより、不連続部31の板
面方向の位置を識別することができる。この反射エコー
検出手段10は、従来の超音波探傷装置で使用していた
ものを使用することができるので、ここでは詳細な説明
を省略する。
When an ultrasonic wave is incident on the inspection object 2 and there is a defect, that is, a discontinuous portion 31 (FIG. 5), the reflected echo detecting means 10 changes the sound velocity at the discontinuous portion 31 to a normal material around the discontinuous portion 31. In this case, ultrasonic waves are incident on the welded portion 3 and reflected echoes reflected from the discontinuous portion 31 are detected. By analyzing this reflected echo by another means, the position of the discontinuous portion 31 in the plate surface direction can be identified. As the reflected echo detecting means 10, the one used in the conventional ultrasonic flaw detector can be used, and a detailed description is omitted here.

【0017】また、回折波検出手段11は周知のTOF
D(Time Of FlightDiffracti
on)法を利用したものである。このTOFD法では、
図2に示すように、被検査物2の検査部分、ここでは溶
接部3の両側に超音波の発振プロープ11aと受信プロ
ープ11bとを配置する。そして、発振プロープ11a
から溶接部3の厚さを全体的にカバーできる角度で超音
波を放射する。
The diffraction wave detecting means 11 is a well-known TOF.
D (Time Of FlightDiffraction)
on) method. In this TOFD method,
As shown in FIG. 2, an ultrasonic oscillation probe 11 a and a reception probe 11 b are arranged on the inspection portion of the inspection object 2, here, on both sides of the welded portion 3. And the oscillation probe 11a
The ultrasonic wave is radiated at an angle capable of covering the entire thickness of the welded portion 3.

【0018】そうすると、受信プロープ11bでは、最
短距離を通過してきたラテラル波Saと、不連続部31
の上端で回折した回折波Sbと、不連続部31の下端で
回折した回折波Scと、被検査物2の底部で反射した反
射エコーSdとを受信する。受信波形を図3に示す。こ
こで、ラテラル波Saと回折波Sb,Scとの受信時間
差が、被検査物2の表面から、不連続部31の上端と下
端の距離に相当する。したがって、この時間差を解析す
ることにより不連続部31の板厚方向の位置を正確に検
出できるのである。
Then, in the receiving probe 11b, the lateral wave Sa passing through the shortest distance and the discontinuous portion 31
, A diffracted wave Sc diffracted at the lower end of the discontinuous portion 31, and a reflected echo Sd reflected at the bottom of the inspection object 2. FIG. 3 shows the reception waveform. Here, the reception time difference between the lateral wave Sa and the diffracted waves Sb and Sc corresponds to the distance between the upper end and the lower end of the discontinuous portion 31 from the surface of the inspection object 2. Therefore, by analyzing this time difference, the position of the discontinuous portion 31 in the plate thickness direction can be accurately detected.

【0019】また、このようにして検出した回折波を、
図4に示すように濃淡で示すことにより、不連続部31
を識別しやすくすることができる。なお、図4の横軸は
深さを示し、縦軸は測定点の基準点からの距離を示す。
この回折波検出手段11と上述の反射エコー検出手段1
0とは、一体的に構成されており、同時に移動するよう
になっている。
The diffracted wave detected in this way is
As shown in FIG.
Can be easily identified. In FIG. 4, the horizontal axis indicates the depth, and the vertical axis indicates the distance of the measurement point from the reference point.
This diffracted wave detecting means 11 and the above-mentioned reflected echo detecting means 1
“0” is integrally formed and moves at the same time.

【0020】図1において、走査部12は、例えば溶接
部3の溶接施工時に溶接棒の移動に用いたレール4を利
用して、反射エコー検出手段10及び回折波検出手段1
1を溶接部3に沿って移動させる。制御手段13は、走
査部12の例えばモータなどの駆動手段(図示せず)を
制御して、反射エコー検出手段10及び回折波検出手段
11を配管2の軸心方向及び円周方向に少なくとも2種
類のピッチで、ジクザグ状に走行させる。
In FIG. 1, a scanning unit 12 uses, for example, a rail 4 used for moving a welding rod at the time of welding of a welding portion 3 and uses a reflected echo detecting means 10 and a diffracted wave detecting means 1.
1 is moved along the weld 3. The control unit 13 controls a driving unit (not shown) such as a motor of the scanning unit 12 so that the reflected echo detecting unit 10 and the diffracted wave detecting unit 11 are at least two in the axial direction and the circumferential direction of the pipe 2. The vehicle is driven in a zigzag manner at various pitches.

【0021】欠陥識別支援装置14は、反射エコー検出
手段10で検出された反射エコーから後述のセルを作成
する反射エコー用セル作成手段20と、回折波検出手段
11で検出された回折波からセルを作成する回折波用セ
ル作成手段21と、欠陥存在エリア設定手段22と、欠
陥識別手段23と、表示手段24と、補正手段25とを
備えている。
The defect identification support device 14 includes a reflected echo cell creating unit 20 for creating a cell described later from the reflected echo detected by the reflected echo detecting unit 10, and a cell based on the diffracted wave detected by the diffracted wave detecting unit 11. , A defect existence area setting means 22, a defect identification means 23, a display means 24, and a correction means 25.

【0022】反射エコー用セル作成手段20では、図5
に示すように反射エコー検出手段10で検出された全て
の不連続部31を、溶接部3の表面に相当する平面32
に投影した図を作成する。そして、この投影図を表示手
段24に表示する。
In the reflection echo cell creating means 20, FIG.
As shown in the figure, all the discontinuous portions 31 detected by the reflection echo detecting means 10 are converted into a flat surface 32 corresponding to the surface of the welded portion 3.
Create a figure projected on. Then, the projection is displayed on the display means 24.

【0023】このときには、図6に示すように検出され
た不連続部31からの反射パルスの波形もAスコープと
して表示する。また、図7に示すように溶接部3の長手
方向の断面に相当する平面150と、溶接部の幅方向の
断面に相当する平面151に、検出された全ての不連続
部31を投影した図をBスコープとして表示する。そし
て、上述の平面32に全ての不連続部31を投影した図
は、図8に示すようにCスコープとして表示する。
At this time, the waveform of the reflected pulse from the discontinuous portion 31 detected as shown in FIG. 6 is also displayed as an A scope. Also, as shown in FIG. 7, a diagram in which all the detected discontinuous portions 31 are projected on a plane 150 corresponding to a cross section in the longitudinal direction of the welded portion 3 and a plane 151 corresponding to a cross section in the width direction of the welded portion. Is displayed as a B scope. And the figure which projected all the discontinuous parts 31 on the above-mentioned plane 32 is displayed as a C scope as shown in FIG.

【0024】回折波用セル作成手段21では、図9に示
すように回折波検出手段11で検出された全ての不連続
部31を、溶接部3の長手方向の断面に相当する平面1
52に投影した図と、溶接部3の幅方向の断面に相当す
る平面153に投影した図とを作成し、これを表示手段
24にDスコープとして表示する。
As shown in FIG. 9, the diffraction wave cell forming means 21 converts all the discontinuous portions 31 detected by the diffraction wave detecting means 11 into a plane 1 corresponding to a longitudinal section of the welded portion 3.
52 and a diagram projected on a plane 153 corresponding to a cross section of the welded portion 3 in the width direction are created, and are displayed on the display means 24 as a D scope.

【0025】なお、上述のAスコープとして反射エコー
を表示する場合は、図10に示すように欠陥検査範囲1
20を所定の大きさ、例えば一辺が1mmの大きさの立
方体のブロック121に分割し、各ブロック121内で
検出された不連続部31、すなわち反射エコーの大きさ
を記録する。この反射エコーは、各ブロック121に対
して左右の探傷方向において直射及び反射の合計4種類
記録される。欠陥検査範囲120は、溶接によって欠陥
が発生する可能性のある熱影響部を適宜指定することが
できる。
When a reflected echo is displayed as the above-mentioned A scope, as shown in FIG.
20 is divided into cubic blocks 121 each having a predetermined size, for example, each side having a size of 1 mm, and the discontinuous portion 31 detected in each block 121, that is, the size of the reflected echo is recorded. The reflected echo is recorded for each block 121 in a total of four types of direct and reflected in the right and left flaw detection directions. In the defect inspection range 120, a heat affected zone in which a defect may be generated by welding can be appropriately specified.

【0026】このようにして、不連続部31を表面32
に投影した後、図11に示すようにこの表面32上で不
連続部31が連続する範囲をセル33a、33b・・・
として作成する。すなわち、溶接部3の不連続部31は
3次元方向に複数存在するが、これを2次元方向、本例
では溶接部3の表面32上に投影したとき、表面32上
で不連続部31の連続する範囲がセル33a、33b・
・・となる。
In this manner, the discontinuous portion 31 is formed on the surface 32
After that, as shown in FIG. 11, the area where the discontinuous portion 31 is continuous on the surface 32 is defined as cells 33a, 33b,.
Create as That is, a plurality of discontinuous portions 31 of the welded portion 3 exist in the three-dimensional direction. When the plurality of discontinuous portions 31 are projected onto the surface 32 of the welded portion 3 in the two-dimensional direction, in this example, The continuous range is the cells 33a, 33b
・ ・

【0027】欠陥存在エリア設定手段22は、図11の
セル33a、33b・・・の分布に基づいて、次に説明
する方法で欠陥が存在する可能性が有ると判断される欠
陥存在エリア34a、34b・・・を設定する。すなわ
ち、この欠陥存在エリア設定手段22では、不連続部3
1からの反射エコーを規定の検出レベル、例えば−6d
Bでカットする。次に、取り出された反射エコーに対す
る超音波の入射方向と反射位置とを分析し、欠陥である
可能性が認められる範囲を欠陥存在エリア34a、34
b・・・とする。
The defect-existing area setting means 22 determines a defect-existing area 34a, which is determined to have a possibility that a defect exists, based on the distribution of the cells 33a, 33b,. 34b ... are set. That is, in the defect existing area setting means 22, the discontinuous portion 3
The reflected echo from 1 is detected at a specified detection level, for example, -6d.
Cut with B Next, the incident direction and reflection position of the ultrasonic wave with respect to the extracted reflected echo are analyzed, and the range in which the possibility of a defect is recognized is determined as the defect existing areas 34a, 34
b ...

【0028】欠陥識別手段23では、次に説明するよう
に欠陥存在エリア34a、34b・・・内のセル33
a、33b・・・が欠陥エコーか、それとも配管の表面
を表す形状エコーかを識別する。すなわち、この欠陥識
別手段23では、まず、図12に示すように検査時にお
ける反射エコー検出用探触子10の溶接部3のビードに
対する接近限界距離a、b、標準ビード幅C、探傷板厚
D及び反射エコー検出用探触子10の最近接位置におけ
る超音波35、37の入射角θとに基づいて、次のよう
にして欠陥探傷断面の設定及びそのエリア分けを行う。
In the defect identification means 23, the cells 33 in the defect existing areas 34a, 34b.
.. are identified as defect echoes or shape echoes representing the surface of the pipe. That is, in the defect identification means 23, first, as shown in FIG. 12, the approach limit distances a and b to the bead of the welded portion 3 of the reflected echo detection probe 10 during inspection, the standard bead width C, the flaw detection plate thickness, Based on D and the incident angle θ of the ultrasonic waves 35 and 37 at the closest position of the reflection echo detection probe 10, the setting of the defect detection section and the area division are performed as follows.

【0029】欠陥探傷断面の設定においては、先ずセル
表示範囲X1,X2の内側に溶接ビード3の中心軸線4
1からA方向及びB方向に所定の距離だけ離れた位置に
中心軸線41と平行な直線42、43を引き、中心軸線
41と直線42、43との間を欠陥抽出範囲Y1,Y2
とする。この欠陥抽出範囲Y1,Y2は、溶接ビード3
と溶接による熱影響部とを含めたものであり、欠陥発生
の可能性があると考えられる必要最小限の範囲である。
In setting the defect inspection cross section, first, the center axis 4 of the weld bead 3 is placed inside the cell display ranges X1 and X2.
Lines 42 and 43 parallel to the central axis 41 are drawn at positions separated by a predetermined distance in the directions A and B from 1, and a defect extraction range Y 1, Y 2 is defined between the central axis 41 and the lines 42 and 43.
And The defect extraction ranges Y1 and Y2 correspond to the welding beads 3
And the heat-affected zone by welding, which is the minimum necessary range in which there is a possibility that a defect may occur.

【0030】次に、欠陥抽出範囲Y1,Y2の断面内
に、配管2の裏面から距離Lだけ離れた直線44と、溶
接ビード3の中心軸線41からA方向又はB方向に所定
の距離Z1,2だけ離れた直線45、46と、配管2の
上面を結ぶ直線47とを引く。これらの距離L,Z1,
Z2は、予め実験によって溶接方法及び配管2の肉厚を
変えて最適な値を設定し、これをデータベース化してお
き、実際の溶接時に溶接方法及び配管2の肉厚に応じて
データベースから最も効果的な数値を選定するようにな
っている。直線36は、配管2の裏面に相当する。
Next, a straight line 44 separated by a distance L from the back surface of the pipe 2 and a predetermined distance Z 1 in the direction A or B from the center axis 41 of the weld bead 3 are located within the cross section of the defect extraction ranges Y 1 and Y 2. Straight lines 45 and 46 separated by two and a straight line 47 connecting the upper surface of the pipe 2 are drawn. These distances L, Z1,
For Z2, an optimum value is set by changing the welding method and the thickness of the pipe 2 in advance by experiments, and this is stored in a database, and the most effective value is obtained from the database according to the welding method and the thickness of the pipe 2 during actual welding. Typical values are selected. The straight line 36 corresponds to the back surface of the pipe 2.

【0031】この後、図13に示すように直線42、4
7、46、36で囲まれる範囲を3個のエリアH1,M
1,L1に分割する。エリアH1は直線35、46、4
7で囲まれる範囲、エリアM1は直線46、35、4
7、42、44で囲まれる範囲、エリアL1は直線4
6、44、42、36で囲まれる範囲である。
Thereafter, as shown in FIG.
The range surrounded by 7, 46, 36 is defined as three areas H1, M
1 and L1. Area H1 is straight line 35, 46, 4
The area surrounded by 7 and the area M1 are straight lines 46, 35, 4
The area surrounded by 7, 42, and 44, the area L1 is a straight line 4
6, 44, 42, and 36.

【0032】同様に直線45、47、43、36で囲ま
れる範囲を3個のエリアH2,M2,L2に分割する。
ここで、エリアH2は直線47、45、37で囲まれる
範囲、エリアM2は直線45、37、47、43、44
で囲まれる範囲、エリアL2は直線45、44、43、
36で囲まれる範囲である。
Similarly, the range surrounded by the straight lines 45, 47, 43 and 36 is divided into three areas H2, M2 and L2.
Here, area H2 is a range surrounded by straight lines 47, 45, and 37, and area M2 is straight lines 45, 37, 47, 43, and 44.
, The area L2 is defined by straight lines 45, 44, 43,
The area is surrounded by 36.

【0033】次に、各エリアH1,H2,M1,M2,
L1,L2毎に検出された反射エコーが欠陥エコーかそ
れとも形状エコーかを識別する。この場合は、先ず検出
された反射エコーを次のようにして4グループに分けす
る。すなわち、このグループ分けは、図14に示すよう
に超音波35、37の入射方向と、入射された超音波3
5、37の反射条件との組み合わせによって行うもの
で、本例では入射方向として溶接部3の図中左側のA方
向と、図中右側のB方向とに分ける。また、反射条件と
しては、直射と一回反射とに分ける。直射とは、超音波
検出手段11から入射された超音波35、37が配管2
の裏面36で反射せず不連続部31に直接入射された場
合(図中の実線)である。
Next, each area H1, H2, M1, M2,
It is determined whether the reflected echo detected for each of L1 and L2 is a defect echo or a shape echo. In this case, the detected reflected echoes are first divided into four groups as follows. That is, as shown in FIG. 14, the grouping is performed based on the incident directions of the ultrasonic waves 35 and 37 and the incident ultrasonic waves 3 and 37.
In this example, the incident direction is divided into the A direction on the left side of the welded portion 3 in the drawing and the B direction on the right side in the drawing. The reflection condition is divided into direct reflection and single reflection. The direct irradiation means that the ultrasonic waves 35 and 37 incident from the ultrasonic
In this case, the light is not reflected by the back surface 36 and is directly incident on the discontinuous portion 31 (solid line in the figure).

【0034】一回反射とは、超音波検出手段11から入
射された超音波35、37が裏面36で一回反射して不
連続部31に入射された場合(図中の破線)である。す
なわち、ここでは、検出された反射エコーがA方向から
直射された超音波35(実線)によるもの、A方向から
一回反射された超音波35(破線)によるもの、B方向
から直射された超音波37(実線)によるもの、B方向
から一回反射された超音波37(破線)によるものの合
計4グループに分けられる。
The single reflection is a case where the ultrasonic waves 35 and 37 incident from the ultrasonic detecting means 11 are reflected once by the back surface 36 and enter the discontinuous portion 31 (broken line in the figure). That is, here, the detected reflected echo is caused by the ultrasonic wave 35 (solid line) directly radiated from the A direction, the ultrasonic wave 35 reflected once by the A direction (broken line), and the ultrasonic wave directly radiated from the B direction. The sound wave 37 (solid line) and the ultrasonic wave 37 (broken line) reflected once from the direction B are divided into four groups.

【0035】次に、グループ分けされた反射エコーから
所定レベル以下の反射エコー、すなわち、ノイズによる
と思われる反射エコーを識別する。ここで用いられるノ
イズフィルター130の一例を図15に示す。このノイ
ズフィルター130は、欠陥からの反射エコー以外のエ
コー及び判定上無視できるエコーを取り除くものであ
り、例えばA方向の直射エコーが入力すると(ステップ
131)、このエコーをフィルターエコーレベルによっ
て識別する(ステップ132)。ここでは、所定値以下
のものと所定値を越えるものとを区別する。
Next, from the grouped reflection echoes, reflection echoes of a predetermined level or less, that is, reflection echoes considered to be caused by noise are identified. FIG. 15 shows an example of the noise filter 130 used here. The noise filter 130 removes echoes other than reflected echoes from the defect and echoes that can be ignored in the determination. For example, when a direct echo in the A direction is input (step 131), the echo is identified by the filter echo level (step 131). Step 132). Here, a difference between a predetermined value or less and a value exceeding the predetermined value is distinguished.

【0036】次に、所定値を越えるエコーのグループ化
処理を行う(ステップ133)。ここでは、セル画像の
集合である3次元データより検出レベル(規格で決まっ
ている)でのデータの繋がり及び切れ目を読みとり、1
つのエコーの範囲を求めている。なお、ここではまだ4
種類の3次元データでそれぞれ行っている。この4種類
の結果を合成して判定処理を行うのは、後述のステップ
140である。
Next, a grouping process for echoes exceeding a predetermined value is performed (step 133). Here, the connection and the break of the data at the detection level (determined by the standard) are read from the three-dimensional data which is a set of cell images, and 1
Seeking the range of one echo. In addition, here is still 4
Each type of three-dimensional data is used. It is step 140 described later that the determination process is performed by combining the four types of results.

【0037】ステップ133でグループ化処理を行った
後、フィルターサイズによる識別を行う(ステップ13
4)。ここでは、ステップ133でグループ化処理をし
た結果、極めて小さいサイズのグループになった場合
は、そのグループは欠陥よりのエコーから作られたもの
ではなく、ノイズである可能性が大きく、また、サイズ
が小さいため判定に影響を与えないので、欠陥から区別
する。また、グループ化処理で1グループになったもの
が何個のデータによって形成されているかを求めて処理
を行う。
After performing the grouping process in step 133, identification based on the filter size is performed (step 13).
4). Here, if the grouping process performed in step 133 results in a group having an extremely small size, the group is not created from an echo from a defect, but is likely to be noise. Is small so that it does not affect the judgment, and is therefore distinguished from the defect. In addition, processing is performed by determining how many pieces of data are formed into one group in the grouping processing.

【0038】次に、各グループの最大エコー位置を検出
し(ステップ135)、続いて最大エコー位置分類処理
を行う(ステップ136)。ここでは、各グループの最
大エコー位置を求め、その位置が上述の6個のエリアH
1,H2,M1,M2,L1,L2のどこにあるか求め
る。グループ内に最大エコーが2点あった場合には、グ
ループの中心に近い方を採用する。そして、次に各グル
ープの最大反射エコーをまとめて(ステップ137)、
各グループの最大反射エコーをその位置によって欠陥か
否かを識別する(ステップ138)。
Next, the maximum echo position of each group is detected (step 135), and then the maximum echo position classification processing is performed (step 136). Here, the maximum echo position of each group is determined, and the position is determined by the six areas H described above.
1, H2, M1, M2, L1, L2. If there are two maximum echoes in the group, the one closer to the center of the group is adopted. Then, the maximum reflected echoes of each group are put together (step 137),
Whether or not the largest reflected echo of each group is defective is identified by its position (step 138).

【0039】次に、各グループの最大反射エコーをデー
タベースに記憶されている識別基準に照合してこれが欠
陥エコーであるか否かを識別する(ステップ139)。
この識別基準は実験によって得られるもので、上述の6
個のエリアH1,H2,M1,M2,L1,L2毎にそ
れぞれ別個に規定することができる。
Next, the maximum reflected echo of each group is checked against the identification criterion stored in the database to determine whether or not this is a defective echo (step 139).
This discrimination criterion is obtained by experiment, and
Each of the areas H1, H2, M1, M2, L1, and L2 can be separately defined.

【0040】すなわち、この識別基準は、例えば図13
のM2エリアについて説明すると、A方向から入射され
た超音波35の不連続部31aによる一回反射(破線)
グループによる最大反射エコーが、B方向から入射され
た超音波37の直射(実線)グループ、又は一回反射
(破線)グループによる最大反射エコーとして検出され
ている場合には、これを欠陥エコーとし、この欠陥エコ
ーに対応する不連続部31aは欠陥であると規定する。
That is, the identification criterion is, for example, as shown in FIG.
In the following description, the M2 area will be described. Once reflection of the ultrasonic wave 35 incident from the A direction by the discontinuous portion 31a (broken line)
When the maximum reflection echo by the group is detected as the direct reflection (solid line) group of the ultrasonic wave 37 incident from the B direction or the maximum reflection echo by the single reflection (dashed line) group, this is regarded as a defect echo, The discontinuous portion 31a corresponding to the defect echo is defined as a defect.

【0041】これに対して、A方向の一回反射グループ
では最大反射エコーとして検出されても、B方向からの
直射グループ又は一回反射グループでは反射エコーとし
て検出されていない場合には、この反射エコーは形状エ
コーであり欠陥エコーではない、すなわち、ここで検出
された不連続部31aは欠陥ではないと規定する。
On the other hand, when the single reflection group in the direction A detects the reflection echo as the maximum reflection echo but the direct reflection group or the single reflection group from the direction B does not detect the reflection echo as the reflection echo, the reflection echo is detected. It is specified that the echo is a shape echo and not a defect echo, that is, the discontinuous portion 31a detected here is not a defect.

【0042】上述の識別基準は、M2エリアについては
妥当であるが、例えば反対側のM1エリアでは異なる結
果となる。つまり、M1エリアの不連続部31bは、A
方向からの一回反射グループで最大反射エコーが検出さ
れ、B方向からの直射グループ又は一回反射グループで
は最大反射エコーが検出されないが、不連続部31bは
欠陥なのでこの場合には欠陥エコーであると識別しなけ
ればならない。したがって、M1エリアの識別基準はM
2エリアの識別基準とは異なることになる。他のエリア
についても同様であり、上述のように各エリア毎に識別
基準を設定するのである。この欠陥エコー識別処理は、
欠陥存在エリア34a、34b・・・内の全てのセル3
3a、33b・・・について行われる。
The above identification criteria are valid for the M2 area, but give different results, for example, in the opposite M1 area. That is, the discontinuous portion 31b of the M1 area is
The maximum reflection echo is detected in the single reflection group from the direction, and the maximum reflection echo is not detected in the direct reflection group or the single reflection group from the B direction. However, since the discontinuous portion 31b is defective, it is a defective echo in this case. Must be identified. Therefore, the identification criterion for the M1 area is M
This is different from the identification criteria for the two areas. The same applies to other areas, and the identification criterion is set for each area as described above. This defect echo identification processing
All cells 3 in the defect existing areas 34a, 34b,...
3a, 33b,...

【0043】図15のステップ139で識別基準との比
較により欠陥識別が行われた後、グループ化処理が行わ
れる(ステップ140)。ここでは、ステップ138で
欠陥であると識別されたグループの4種類のデータを1
つのグループ群として最大エコー高さ、グループの領域
を求める。次に、最終エコーレベル、寸法による識別処
理を行う(ステップ141)。ここでは、規格で書かれ
ているレベルまで感度を落としたときにグループの領域
より平面上の寸法を求める。そして、これを規格と比較
して最終的に欠陥か否かを判定する。精度良く欠陥を識
別するため、規定の感度より高い感度で探傷及び処理を
行うこともできる。この処理は技術者が行う。最後に欠
陥以外の反射エコーを欠陥と区別する(ステップ14
2)。
After the defect is identified by comparison with the identification criterion in step 139 of FIG. 15, a grouping process is performed (step 140). Here, four types of data of the group identified as a defect in step 138 are
The maximum echo height and the area of the group are obtained as one group. Next, an identification process based on the final echo level and size is performed (step 141). Here, when the sensitivity is lowered to the level described in the standard, the plane size is obtained from the group area. Then, this is compared with the standard to finally determine whether or not it is a defect. In order to accurately identify defects, flaw detection and processing can be performed with a sensitivity higher than a specified sensitivity. This process is performed by a technician. Finally, the reflected echoes other than the defect are distinguished from the defect (step 14).
2).

【0044】なお、上述の説明はA方向の直射エコーに
ついてのものであるが、これ以外のA方向の1回反射エ
コー、B方向の直射エコー、B方向の1回反射エコーに
ついても同様であり、その説明は省略する。
Although the above description has been made with respect to the direct echo in the direction A, the same applies to the single reflection echo in the direction A, the direct echo in the direction B, and the single reflection echo in the direction B. The description is omitted.

【0045】図1において、表示手段24は反射エコー
用セル作成手段20及び回折波用セル作成手段21の出
力、欠陥存在エリア設定手段22の出力又は欠陥識別手
段23の出力のうち、任意のものを同時に又は別々に表
示する。この出力手段24としては、CRT(陰極線
管)やLCD(液晶ディスプレイ)などを使用すること
ができる。
In FIG. 1, a display means 24 is an arbitrary one of the outputs of the reflected echo cell creating means 20 and the diffracted wave cell creating means 21, the output of the defect existing area setting means 22 and the output of the defect identifying means 23. Are displayed simultaneously or separately. As the output means 24, a CRT (cathode ray tube), an LCD (liquid crystal display), or the like can be used.

【0046】補正手段25は、反射エコー用セル作成手
段20、回折波用セル作成手段21、欠陥存在エリア設
定手段22又は欠陥識別手段23の出力を補正するため
のもので、例えばキーボードやマウスなどを使用するこ
とができる。この補正手段25の操作は、表示手段24
を見ながら行うことができる。
The correcting means 25 is for correcting the output of the reflected echo cell generating means 20, the diffracted wave cell generating means 21, the defect area setting means 22 or the defect identifying means 23. Can be used. The operation of the correction unit 25 is performed by the display unit 24.
You can do it while watching.

【0047】分類手段15は、欠陥識別支援装置14の
欠陥識別手段23から出力された欠陥を、所定の基準に
よって分類する。出力手段16は分類手段15の欠陥分
類を出力するもので、プリンタなどを使用することがで
きる。記憶手段17は、少なくとも反射エコー用セル作
成手段20、回折波用セル作成手段21、欠陥存在エリ
ア設定手段22、欠陥識別手段23又は分類手段15の
出力を記憶するもので、これらの出力を全て記憶するこ
ともできる。
The classifying unit 15 classifies the defect output from the defect identifying unit 23 of the defect identification supporting device 14 according to a predetermined standard. The output means 16 outputs the defect classification of the classification means 15, and a printer or the like can be used. The storage means 17 stores at least the outputs of the reflected echo cell creating means 20, the diffracted wave cell creating means 21, the defect existing area setting means 22, the defect identifying means 23, or the classifying means 15. You can also remember.

【0048】上述のように、この超音波検査装置1で
は、欠陥の可能性がある全ての不連続部31を削除する
ことなくグループ分けを行い、更に欠陥探傷範囲Y1,
Y2を6個のエリアH1,H2,M1,M2,L1,L
2に分け、各エリアにおいてA方向及びB方向の2方向
における直射及び一回反射の合計4グループの反射エコ
ーを検出し、各反射エコーを識別基準と照合することに
よって欠陥エコーを検出するので、データ処理を自動的
に行うことができ、欠陥を短時間で正確に検出すること
ができる。
As described above, in the ultrasonic inspection apparatus 1, the grouping is performed without deleting all the discontinuous portions 31 having the possibility of a defect, and the defect detection range Y1,
Y2 is divided into six areas H1, H2, M1, M2, L1, L
Since each of the areas is divided into two areas, a total of four groups of reflected echoes of direct and single reflections in two directions A and B are detected, and a defective echo is detected by comparing each reflected echo with an identification standard. Data processing can be performed automatically, and defects can be accurately detected in a short time.

【0049】また、セル、欠陥存在エリア、欠陥エコー
を表示し、これを検査技術者が見て補正の要否を判断す
ると共に、補正が必要な場合は補正データを入力して補
正することができるので、システムとしての柔軟性を高
めて信頼性を上げることができる。更に、処理されたデ
ータを記録手段17に記録できるので、データの再現性
に優れている。
Further, the cell, the defect existing area, and the defect echo are displayed, and the inspection technician determines whether or not the correction is necessary by looking at the cell, and inputs the correction data when the correction is necessary, and corrects the correction. As a result, the flexibility of the system can be increased and the reliability can be increased. Further, since the processed data can be recorded in the recording means 17, the reproducibility of the data is excellent.

【0050】図16は、この超音波検査装置1の構成を
示す。この超音波検査装置1は、全体の制御及びデータ
処理を行う総合制御ユニット51と、超音波の送受信を
行う超音波パルサーレシーバユニット52と、探触子を
制御するスキャナー制御ユニット53と、探触子である
スキャナー54とを備えている。
FIG. 16 shows the configuration of the ultrasonic inspection apparatus 1. The ultrasonic inspection apparatus 1 includes a general control unit 51 that performs overall control and data processing, an ultrasonic pulsar receiver unit 52 that transmits and receives ultrasonic waves, a scanner control unit 53 that controls a probe, And a scanner 54 as a child.

【0051】総合制御ユニット51は、各部の制御及び
データ処理を行うCPU61と、各部の動作タイミング
を管理するタイミング回路62と、A/D変換器63
と、モニター64と、検出データを記憶するハードディ
スク65と、波形保存用のPD66と、データ入力用の
キーボード67及びマウス68とを備えている。
The general control unit 51 includes a CPU 61 for controlling each unit and performing data processing, a timing circuit 62 for managing operation timing of each unit, and an A / D converter 63.
, A monitor 64, a hard disk 65 for storing detection data, a PD 66 for storing waveforms, and a keyboard 67 and a mouse 68 for data input.

【0052】CPU61は、上述のセル作成手段21、
欠陥エリア設定手段22、欠陥識別手段23、分類手段
15として機能する。また、モニター64は表示手段2
4として機能し、ハードディスク65及びPD66は記
憶手段17として機能する。キーボード67及びマウス
68は、補正手段25として機能する。超音波パルサー
レシーバユニット52は、4chメインアンプ71と、
2chメインアンプ72と、6chリモートパルサーレ
シーバ73とを備えている。
The CPU 61 includes the above-described cell creation means 21,
It functions as a defect area setting unit 22, a defect identification unit 23, and a classification unit 15. The monitor 64 is a display unit 2
4 and the hard disk 65 and the PD 66 function as the storage unit 17. The keyboard 67 and the mouse 68 function as the correction unit 25. The ultrasonic pulsar receiver unit 52 includes a 4ch main amplifier 71,
A 2ch main amplifier 72 and a 6ch remote pulser receiver 73 are provided.

【0053】スキャナー制御ユニット53は、探触子走
査コントローラ75と、位置信号出力用のI/F76
と、走査制御用のCPU77と、制御ソフト格納用のR
OM78とを備えている。探触子走査コントローラ7
5、CPU77及びROM78は、上述の制御手段13
として機能する。
The scanner control unit 53 includes a probe scanning controller 75 and an I / F 76 for outputting a position signal.
CPU 77 for scanning control and R for storing control software.
OM78. Probe scanning controller 7
5. The CPU 77 and the ROM 78 correspond to the control unit 13 described above.
Function as

【0054】スキャナー54は、探触子走査機構部81
と、反射エコー検出用探触子10及び回折波検出用探触
子11と、音異方性測定用探触子83と、ビード位置検
出部84とを備えている。探触子走査機構部81は上述
の走査手段12として機能し、反射エコー検出用探触子
10、回折波検出用探触子11、音異方性測定用探触子
83及びビード位置検出部84をレール4(図1)に沿
って移動させる。
The scanner 54 includes a probe scanning mechanism 81
And a reflection echo detection probe 10 and a diffraction wave detection probe 11, a sound anisotropy measurement probe 83, and a bead position detection unit 84. The probe scanning mechanism section 81 functions as the above-described scanning means 12, and includes a probe 10 for detecting a reflected echo, a probe 11 for detecting a diffracted wave, a probe 83 for measuring sound anisotropy, and a bead position detecting section. 84 is moved along the rail 4 (FIG. 1).

【0055】反射エコー検出用探触子10は、溶接部3
に超音波を入射してその反射エコーを検出する。回折波
検出用探触子11は、溶接部3に超音波を入射して不連
続部31で回折した回折波を検出する。また、ビード位
置検出部84は、溶接部3の位置を検出する。このビー
ド位置検出部84の検出結果に基づいて、探触子走査機
構部81が制御される。表1は、上述の各部の仕様を示
す。
The reflection echo detecting probe 10 is
An ultrasonic wave is incident on the device and the reflected echo is detected. The probe 11 for detecting a diffracted wave detects an diffracted wave diffracted at the discontinuous portion 31 by applying ultrasonic waves to the welded portion 3. Further, the bead position detecting section 84 detects the position of the welded portion 3. The probe scanning mechanism 81 is controlled based on the detection result of the bead position detector 84. Table 1 shows the specifications of each unit described above.

【0056】[0056]

【表1】 [Table 1]

【0057】次に、この超音波検査装置1による欠陥探
傷処理の一例について、図17以下を参照して詳細に説
明する。図17は、超音波検査装置1による欠陥探傷処
理100の手順を示す。この欠陥探傷処理100におい
ては、まず、溶接部3の一次探傷が行われる(ステップ
101)。
Next, an example of the defect inspection processing by the ultrasonic inspection apparatus 1 will be described in detail with reference to FIG. FIG. 17 shows a procedure of the defect inspection processing 100 by the ultrasonic inspection apparatus 1. In the defect inspection processing 100, first, the primary inspection of the welded portion 3 is performed (step 101).

【0058】この一次探傷では、図18に示すようにス
キャナー54(図16)の反射エコー検出用探触子10
及び回折波検出用探触子11(図16は受信プロープ1
1bのみ図示、発振プロープ11aは溶接部3の反対側
を受信プロープ11bと同様のピッチで走査する)と、
音異方性測定用探触子83が比較的粗いピッチ、例えば
配管2の軸心方向に5mmピッチの往復移動で走査され
ると共に、円周方向に5mmピッチで走査され、データ
収録点85において反射エコー及び回折波が検出され
る。なお、反射エコー検出用探触子10及び回折波検出
用探触子11と音異方性測定用探触子83は、所定の間
隔を保持して走査される。ビード位置検出部84(図示
せず)は、配管2の円周方向にのみ走査される。
In this primary flaw detection, as shown in FIG. 18, the reflected echo detecting probe 10 of the scanner 54 (FIG. 16) is used.
And a diffraction wave detecting probe 11 (FIG. 16 shows a receiving probe 1).
1b only, the oscillation probe 11a scans the opposite side of the weld 3 at the same pitch as the reception probe 11b).
The probe 83 for sound anisotropy measurement is scanned at a relatively coarse pitch, for example, in a reciprocating motion of 5 mm pitch in the axial direction of the pipe 2 and at a pitch of 5 mm in the circumferential direction. A reflected echo and a diffracted wave are detected. The probe 10 for detecting the reflected echo, the probe 11 for detecting the diffracted wave, and the probe 83 for measuring the sound anisotropy are scanned while maintaining a predetermined interval. The bead position detector 84 (not shown) scans only in the circumferential direction of the pipe 2.

【0059】次に、図17に示すように総合制御ユニッ
ト51(図16)のCPU61において、検出された反
射エコー及び回折波に対応する不連続部31が同一面に
投影されて、反射エコーによるセル33a、33b・・
・(図11)、及び回折波によるセル(図示せず)が作
成され(ステップ102)、続いて欠陥存在エリア34
a、34b・・・が設定される(ステップ103)。セ
ル33a、33b・・・、及び欠陥存在エリア34a、
34b・・・はモニター64(図16)に表示される。
Next, as shown in FIG. 17, in the CPU 61 of the general control unit 51 (FIG. 16), the discontinuous portion 31 corresponding to the detected reflected echo and diffracted wave is projected on the same surface, and Cells 33a, 33b ...
(FIG. 11), and a cell (not shown) based on the diffracted wave is created (step 102), and subsequently the defect existing area 34
are set (step 103). Cells 33a, 33b,...
34b are displayed on the monitor 64 (FIG. 16).

【0060】次に、モニター64に表示された欠陥存在
エリア34a、34b・・・を補正ア34a、34b・
・・はモニター64(図16)に表示される。次に、モ
ニター64に表示された欠陥存在エリア34a、34b
・・・を補正する必要が有るか否かが、検査技術者によ
って判断される(ステップ104)。ここで、補正する
必要があると判断された場合は、次にキーボード67
(図16)又はマウス68から補正データが入力され
て、欠陥存在エリア34a、34b・・・が補正される
(ステップ105)。
Next, the defect existing areas 34a, 34b... Displayed on the monitor 64 are corrected.
Is displayed on the monitor 64 (FIG. 16). Next, the defect existing areas 34a and 34b displayed on the monitor 64
Are required to be corrected by the inspection technician (step 104). If it is determined that correction is necessary, the keyboard 67
(FIG. 16) or correction data is input from the mouse 68 to correct the defect existing areas 34a, 34b,... (Step 105).

【0061】次に、二次探傷が行われる(ステップ10
6)。この二次探傷は、図11に示すように欠陥存在エ
リア34a、34b・・・及びその両側の所定の範囲W
内の反射エコーを更に細かく検出するもので、スキャナ
ー54の反射エコー検出用探触子10、回折波検出用探
触子11及び異方性測定用探触子83を一次探傷より細
かいピッチ、例えば配管2の軸心方向及び円周方向に1
mmピッチで走査して反射エコーを検出する。
Next, secondary flaw detection is performed (step 10).
6). As shown in FIG. 11, the secondary flaw detection includes a defect existing area 34a, 34b.
The probe for detecting the reflected echo 10, the probe for detecting the diffracted wave 11, and the probe 83 for measuring the anisotropy of the scanner 54 have a finer pitch than the primary flaw, for example, 1 in the axial direction and circumferential direction of pipe 2
The reflected echo is detected by scanning at a pitch of mm.

【0062】次に、図17に示すように検出された反射
エコーに対応する不連続部31のセル40a〜40gを
作成する(ステップ107)。続いて、セル40a〜4
0g内の反射エコーが欠陥エコーか否かの識別が行われ
る(ステップ108)。セル40a〜40gはモニター
64に表示され、例えばセル40bが欠陥エコーの場合
はこれが例えば色分けなどによって識別される。この
後、上述したTOFD法によって欠陥の深さの判断が行
われる(ステップ109)。
Next, as shown in FIG. 17, cells 40a to 40g of the discontinuous portion 31 corresponding to the detected reflected echo are created (step 107). Subsequently, cells 40a-4
It is determined whether or not the reflected echo within 0 g is a defective echo (step 108). The cells 40a to 40g are displayed on the monitor 64. For example, when the cell 40b is a defect echo, this is identified by, for example, color coding. Thereafter, the depth of the defect is determined by the TOFD method described above (step 109).

【0063】次に、モニター64に表示された欠陥エコ
ー40bを補正する必要が有るか否かを検査技術者が判
断し(ステップ110)、補正する必要があると判断し
た場合はキーボード67又はマウス68から補正データ
を入力して補正する(ステップ111)。次に、この欠
陥エコーが所定の基準によって等級分類され(ステップ
112)、その分類結果がプリントアウトされて(ステ
ップ113)、この欠陥探傷処理100が終了する。
Next, the inspection technician determines whether or not the defect echo 40b displayed on the monitor 64 needs to be corrected (step 110). If it is determined that the correction is necessary, the keyboard 67 or the mouse is used. Correction is input by inputting the correction data from step 68 (step 111). Next, the defect echo is classified according to a predetermined standard (step 112), the classification result is printed out (step 113), and the defect inspection processing 100 ends.

【0064】この欠陥探傷処理100では、一次探傷
(ステップ101)によって欠陥存在エリア34a、3
4bを設定(ステップ103)し、この欠陥存在エリア
34a、34bより所定の範囲2Wだけ広い部分を二次
探傷(ステップ106)することによって欠陥エコーを
識別している(ステップ108)ので、最初から細かい
ピッチで探傷する場合に比べて、探傷時間を大幅に短縮
することができる。また、TOFD法によって欠陥の深
さを判断しているので(ステップ109)、欠陥の位置
を正確に検出することができる。
In this flaw detection processing 100, the primary flaw detection (step 101) performs the defect existence areas 34a, 3a.
4b is set (step 103), and the defect echo is identified (step 108) by performing a secondary flaw detection (step 106) on a portion wider than the defect existing areas 34a and 34b by a predetermined range 2W (step 108). The flaw detection time can be greatly reduced as compared with the case where flaw detection is performed at a fine pitch. Further, since the depth of the defect is determined by the TOFD method (step 109), the position of the defect can be accurately detected.

【0065】なお、上述の実施形態では粗いピッチで一
次探傷を行い、細かいピッチで二次探傷を行う場合につ
いて説明したが、初めから細かいピッチで探傷すること
もできる。また、反射エコー検出用探触子10で検出さ
れた反射エコー、及び回折波検出用探触子11で検出さ
れた回折波は、その一部をデータ処理に用いることによ
ってデータ処理時間を短縮することができる。
In the above-described embodiment, a case has been described in which primary flaw detection is performed at a coarse pitch and secondary flaw detection is performed at a fine pitch. However, flaw detection can be performed at a fine pitch from the beginning. The data processing time is shortened by using a part of the reflected echo detected by the reflected echo detecting probe 10 and the diffracted wave detected by the diffracted wave detecting probe 11 for data processing. be able to.

【0066】例えば、図20(A)に示すように横軸に
時間、縦軸に反射エコーの高さを取った場合、例えば5
MHzの超音波周波数で100MHzサンプリングする
場合には、超音波1波内の検出データは20個となる。
この20個のデータを10データ毎の最高値を検出し、
反射エコーの波形を形成すると、同図(B)に示すよう
にデータ処理に使用するデータ数は100MHzでサン
プリングされた場合の10%になり、データ処理時間を
大幅に短縮することができる。この場合、反射エコー検
出で最も重要なエコー高さは変化せず正確にとらえるこ
とができる。また、時間軸上の位置の変化はきわめて微
少であり、検査結果への影響はない。回折波についても
同様の処理を行う。
For example, as shown in FIG. 20A, when the horizontal axis represents time and the vertical axis represents the height of a reflected echo, for example, 5
In the case of sampling at 100 MHz at an ultrasonic frequency of MHz, there are 20 pieces of detection data in one ultrasonic wave.
The highest value of every 10 data is detected from these 20 data,
When the waveform of the reflected echo is formed, the number of data used for data processing is 10% of that when the data is sampled at 100 MHz, as shown in FIG. 4B, and the data processing time can be greatly reduced. In this case, the most important echo height in reflected echo detection can be accurately detected without change. Further, the change in the position on the time axis is extremely small, and does not affect the inspection result. The same processing is performed for the diffracted wave.

【0067】また、使用するデータは最大高さだけでな
く、最大値から所定の順位までの複数のデータを使用す
ることもできる。ここで抽出された最大波高によって形
成された反射エコー及び回折波は、記録されて残され
る。
The data to be used is not limited to the maximum height, but a plurality of data from the maximum value to a predetermined rank can be used. The reflected echo and the diffracted wave formed by the maximum wave height extracted here are recorded and left.

【0068】なお、5MHzの超音波周波数では、デー
タ収集のサンプリング周波数と、データ処理の精度及び
データ処理に要する時間を測定した結果、図21に示す
ような結果が得られた。この結果から分かるように、サ
ンプリング周波数が小さいほど転送時間が早くなるが、
データ精度が低下する。逆に、サンプリング周波数が大
きいほど転送時間が遅くなり、テータ精度が高くなる。
At the ultrasonic frequency of 5 MHz, the results shown in FIG. 21 were obtained as a result of measuring the sampling frequency of data collection, the accuracy of data processing, and the time required for data processing. As can be seen from this result, the transfer time becomes shorter as the sampling frequency is smaller,
Data accuracy decreases. Conversely, the higher the sampling frequency, the longer the transfer time and the higher the data accuracy.

【0069】そして、データ転送速度とデータ精度の両
方を実用可能程度にするためには、データ収集のサンプ
リング周波数を50MHz〜300MHzに選定するの
が良く、特に100MHz〜300MHzが好ましい。
この方法では、抽出周波数を下げても最大エコーをもら
すことはないが、位置精度を良好にするため抽出周波数
を5MHz以上とする必要があり、特に10MHz以上
が好ましい。2MHzの超音波周波数では抽出周波数も
下げることができる。
In order to make both the data transfer rate and the data accuracy practicable, the sampling frequency for data collection is preferably selected from 50 MHz to 300 MHz, and particularly preferably from 100 MHz to 300 MHz.
In this method, the maximum echo is not produced even if the extraction frequency is lowered, but the extraction frequency needs to be 5 MHz or more in order to improve the positional accuracy, and particularly preferably 10 MHz or more. With an ultrasonic frequency of 2 MHz, the extraction frequency can also be reduced.

【0070】また、上述の実施の形態では、図16に示
したように反射エコー検出用探触子10と回折波検出用
探触子11とを別体としたが、これらの探触子を共通の
探触子とし、電気的に切り替えて使うこともできる。更
に、上述の実施形態では、本発明を配管の溶接部の検査
に適用した場合について説明したが、本発明は各種の材
料の溶接部の検査に適用することができる。
In the above-described embodiment, the probe 10 for detecting the reflected echo and the probe 11 for detecting the diffracted wave are separately provided as shown in FIG. It can be used as a common probe and electrically switched. Further, in the above embodiment, the case where the present invention is applied to the inspection of the welded portion of the pipe has been described, but the present invention can be applied to the inspection of the welded portion of various materials.

【0071】[0071]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の超音波検
査方法によれば、反射エコー検出工程により溶接欠陥の
板面方向の位置を検出すると同時に、回折波検出工程に
より溶接欠陥の板厚方向の位置を検出することができる
ので、欠陥の位置を正確に検出でき、溶接設計などにも
有効に活用できる。
As described above, according to the ultrasonic inspection method of the present invention, the position of the welding defect in the plate surface direction is detected by the reflection echo detecting step, and the thickness of the welding defect is detected by the diffraction wave detecting step. Since the position in the direction can be detected, the position of the defect can be accurately detected, and can be effectively used for welding design and the like.

【0072】また、前記反射エコー検出工程と前記回折
波検出工程とを同一の検査部分に沿って連続的に行う場
合には、反射エコー検出工程で検出した欠陥と、回折波
検出工程によって検出した欠陥との位置合わせが容易に
なるので、処理時間を短縮できる。また、反射エコー検
出工程と回折波検出工程とで、同一の欠陥判断画像を作
成する場合には、欠陥識別作業の能率が向上する。
When the reflected echo detecting step and the diffracted wave detecting step are continuously performed along the same inspection portion, the defect detected in the reflected echo detecting step and the defect detected in the diffracted wave detecting step are detected. Since the alignment with the defect becomes easy, the processing time can be reduced. Further, when the same defect judgment image is created in the reflection echo detection step and the diffraction wave detection step, the efficiency of the defect identification work is improved.

【0073】更に、本発明に係る超音波検査装置によれ
ば、反射エコー検出手段と回折波検出手段との移動が容
易になるので、構成を簡略化できる。
Further, according to the ultrasonic inspection apparatus of the present invention, the movement between the reflected echo detecting means and the diffracted wave detecting means becomes easy, so that the configuration can be simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る超音波検査装置の機能ブロックを
示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing functional blocks of an ultrasonic inspection apparatus according to the present invention.

【図2】本発明に係る超音波検査装置の欠陥の板厚方向
の位置検出方法を説明する図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a method of detecting a position of a defect in a thickness direction of the ultrasonic inspection apparatus according to the present invention.

【図3】本発明に係る超音波検査装置の欠陥の板厚方向
の位置検出方法を説明する図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a method of detecting a position of a defect in a thickness direction of the ultrasonic inspection apparatus according to the present invention.

【図4】本発明に係る超音波検査装置の欠陥の板厚方向
の位置検出方法を説明する図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a method for detecting the position of a defect in the thickness direction of the ultrasonic inspection apparatus according to the present invention.

【図5】図1のA−A断面図である。FIG. 5 is a sectional view taken along line AA of FIG. 1;

【図6】反射エコーの波形を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a waveform of a reflected echo.

【図7】反射エコーの投影図である。FIG. 7 is a projection view of a reflection echo.

【図8】反射エコーの投影図である。FIG. 8 is a projection view of a reflection echo.

【図9】回折波の投影図である。FIG. 9 is a projection view of a diffracted wave.

【図10】セル作成用のブロックを示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a block for cell creation.

【図11】セルの分布状態を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing a distribution state of cells.

【図12】欠陥探傷範囲のエリア分けの方法を示す図で
ある。
FIG. 12 is a diagram illustrating a method of dividing a defect detection area into areas.

【図13】欠陥探傷範囲のエリアを示す図である。FIG. 13 is a diagram showing an area of a defect detection range.

【図14】超音波の入射方向及び反射条件を示す図であ
る。
FIG. 14 is a diagram showing an incident direction and a reflection condition of an ultrasonic wave.

【図15】ノイズフィルターを示す図である。FIG. 15 is a diagram illustrating a noise filter.

【図16】本発明に係る超音波検査装置の構成を示す図
である。
FIG. 16 is a diagram showing a configuration of an ultrasonic inspection apparatus according to the present invention.

【図17】欠陥処理の手順を示す図である。FIG. 17 is a diagram showing a procedure of defect processing.

【図18】探触子の走査方法を示す図である。FIG. 18 is a diagram showing a scanning method of the probe.

【図19】二次探傷におけるセルの分布状態を示す図で
ある。
FIG. 19 is a diagram showing a distribution state of cells in secondary flaw detection.

【図20】反射エコーの検出データを示す図である。FIG. 20 is a diagram showing detection data of a reflected echo.

【図21】サンプリング周波数とデータ転送時間及びデ
ータ処理精度の関係を示す図である。
FIG. 21 is a diagram illustrating a relationship among a sampling frequency, data transfer time, and data processing accuracy.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 超音波検査装置 2 配管(被検査物) 10 反射エコー検出用探触子 11 回折波検出用探触子 31 不連続部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Ultrasonic inspection apparatus 2 Piping (inspected object) 10 Probe for reflection echo detection 11 Probe for diffraction wave detection 31 Discontinuous part

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検査物に超音波を入射し前記被検査物
の不連続部で反射された前記超音波の反射エコーを検出
する反射エコー検出工程と、 前記被検査物に超音波を入射し前記不連続部からの回折
波を検出する回折波検出工程とを有し、 前記反射エコー検出工程と前記回折波検出工程とを同時
に行うことを特徴とする超音波検査方法。
A reflection echo detecting step of irradiating an ultrasonic wave to the inspection object and detecting a reflection echo of the ultrasonic wave reflected at a discontinuous portion of the inspection object; and irradiating the ultrasonic wave to the inspection object. And a diffracted wave detecting step of detecting a diffracted wave from the discontinuous portion, wherein the reflected echo detecting step and the diffracted wave detecting step are performed simultaneously.
【請求項2】 前記反射エコー検出工程と前記回折波検
出工程とを同一の検査部分に沿って連続的に行うことを
特徴とする請求項1に記載の超音波検査方法。
2. The ultrasonic inspection method according to claim 1, wherein the reflection echo detection step and the diffraction wave detection step are performed continuously along the same inspection part.
【請求項3】 前記反射エコー検出工程と前記回折波検
出工程とは、同一の欠陥検出用画像を作成することを特
徴とする請求項1に記載の超音波検査方法。
3. The ultrasonic inspection method according to claim 1, wherein the reflection echo detection step and the diffracted wave detection step create the same defect detection image.
【請求項4】 被検査物に超音波を入射し前記被検査物
の不連続部で反射された前記超音波の反射エコーを検出
する反射エコー検出手段と、 前記被検査物に超音波を入射し前記不連続部からの回折
波を検出する回折波検出手段とを有し、 前記反射エコー検出手段と前記回折波検出手段とを一体
的に構成して、同一の検査部分に沿って同時に移動させ
ることを特徴とする超音波検査装置。
4. A reflection echo detecting means for irradiating an ultrasonic wave on the inspection object and detecting a reflection echo of the ultrasonic wave reflected on a discontinuous portion of the inspection object, and irradiating the ultrasonic wave on the inspection object. And a diffracted wave detecting means for detecting a diffracted wave from the discontinuous portion, wherein the reflected echo detecting means and the diffracted wave detecting means are integrally formed and simultaneously moved along the same inspection portion. An ultrasonic inspection apparatus characterized in that the inspection is performed.
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