JP2001007772A - Defective part locating device - Google Patents

Defective part locating device

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JP2001007772A
JP2001007772A JP17965699A JP17965699A JP2001007772A JP 2001007772 A JP2001007772 A JP 2001007772A JP 17965699 A JP17965699 A JP 17965699A JP 17965699 A JP17965699 A JP 17965699A JP 2001007772 A JP2001007772 A JP 2001007772A
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test
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To quickly and precisely locate a defective part. SOLUTION: The location of the defective part of a relay transmission system 100, having plural relay systems Yi(i=1 to n) serially connected through outgoing transmission lines Li(i=0 to n) and incoming transmission lines Ui(i=0 to n) is executed by a maintenance testing device X and a maintenance return device Z. The relay system Yi is provided with a first switch Di a second switch Ci and a relay inspecting circuit Fi, and the first switch Di connects the relay inspecting circuit Fi with the outgoing transmission line Li or the incoming transmission line Ui, and the second switch Ci returns the outgoing transmission line Li-1 to the incoming transmission line Ui-1, or connects the relay system Yi with the incoming transmission line Ui-1. A test signal IS from the maintenance testing device X is inspected by the relay inspecting circuit Fi and a maintenance inspecting circuit B of the maintenance testing device X. A part TK for locating a defective part locates the defective part by collating the inspected result with the defective part locating table of the defective part storing part MF.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、中継装置の障害箇
所を特定する障害箇所特定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fault location specifying device for specifying a fault location of a relay device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、下り伝送路と上り伝送路を介して
直列に接続された複数の中継装置で構成される中継伝送
システムの障害箇所特定装置では、図5に示すように、
保守試験装置Xを初段の中継装置Y1 に接続し、終段の
中継装置Yn の後に保守折返装置Zを接続し、保守試験
装置Xからの試験信号ISを格段の中継装置で順次に折
り返して、回線試験を実行している。中継装置は、折り
返しのためスイッチCとDにより下り伝送路を上り伝送
路ヘ折り返している。保守試験装置Xの試験信号生成回
路Aからの試験信号ISは、下り伝送路を通り、スイッ
チCが折り返し側に接続されている中継装置で折り返
し、上り伝送路を通り、保守試験装置Xの試験信号検査
回路Bに到達する。保守検査回路Bは、到達した試験信
号ISの到達の有無あるいは到達した試験信号ISの正
常か異常かをを検査する。保守試験装置Xは、この様な
検査を、保守試験装置Xと中継装置Y1 間で実行し、次
に保守試験装置Xと中継装置Y2 間で実行し、以降順
次、保守試験装置Xと中継装置Y n 間まで実行し、障害
箇所を特定している。
2. Description of the Related Art Heretofore, through a downlink transmission line and an uplink transmission line,
Relay transmission composed of multiple relay devices connected in series
As shown in FIG. 5, in the fault location identifying device of the system,
The maintenance test device X is replaced with the first-stage relay device Y1 Connect to the final stage
Relay device Yn After that, connect the maintenance wrapping device Z and perform the maintenance test
The test signal IS from the device X is sequentially folded by a remarkable relay device.
Return and perform the line test. Repeater is folded
Switch C and D transmit upstream transmission for return
Turns back to the road. Test signal generation times for maintenance test equipment X
The test signal IS from the path A passes through the downlink transmission path and
Switch C is looped back by the relay device connected to the loopback side.
Test signal of the maintenance test device X
Circuit B is reached. The maintenance inspection circuit B
Signal IS has arrived or the test signal IS
Inspect for normal or abnormal. The maintenance test apparatus X has such a configuration.
The inspection is performed by the maintenance test device X and the relay device Y1 Run between and then
Maintenance test equipment X and relay equipment YTwo Run between and then
Next, the maintenance test device X and the relay device Y n Run between failures
The location is specified.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】以上のような従来の障
害箇所特定装置では、試験の途中にて回線障害を検出し
た場合、障害区間を特定するため、保守試験装置Xと中
継装置Y1 間の試験から再度試験をやり直さなければな
らないため多大な試験時間が必要であり、エンドユーザ
に対してのサービス中断を引き起こすという課題を有し
ていた。さらに、従来の障害箇所特定装置では、中継装
置Y1 から順次に折り返しての試験のため、障害箇所が
上り伝送路であるのかそれとも下り伝送路であるかの特
定は不可能であるという課題を有していた。本発明の目
的は、従来のこの様な課題を解決し、試験時間が非常に
短くしかも障害箇所をきめ細かく特定できる障害箇所特
定装置を提供することにある。
In conventional fault identifying apparatus as described above that SUMMARY OF THE INVENTION Problem to] When detecting a line failure in the middle of the test, to identify a fault section, the maintenance test device X and between the relay apparatus Y 1 Since the test must be restarted from the test described above, a large amount of test time is required, and there is a problem that the service to the end user is interrupted. Furthermore, in the conventional fault location identification apparatus, for testing of sequentially folded from the relay apparatus Y 1, the problem of failure part is specified whether it is to one or the downlink transmission path is an uplink transmission path is not possible Had. SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve such a conventional problem, and to provide a failure location specifying device capable of extremely short test time and specifying a failure location in detail.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明の障害箇所特定装
置は、下り伝送路と上り伝送路とを介して直列に接続さ
れた複数の中継装置で構成される中継伝送システムの障
害箇所特定装置において;前記中継伝送システムを試験
するための試験信号を生成し前記試験信号を前記中継伝
送システムへ送出する試験信号生成手段と、前記中継伝
送システムからの試験信号を検査する保守検査手段と、
障害箇所を特定するための障害箇所特定テーブルを記憶
する障害箇所記憶手段と、を有す保守試験装置を備え;
前記中継装置は、前記下り伝送路を前記上り伝送路へ選
択して折り返す折返切替手段と、前記下り伝送路あるい
は前記上り伝送路のいずれかを分岐して接続する分岐切
替手段と、前記分岐切替手段により分岐して接続される
前記下り伝送路あるいは前記上り伝送路のいずれかより
の前記試験信号を検査する第1検査手段とを備え;前記
中継伝送システムの最終段の中継装置からの前記下り伝
送路を前記上り伝送路へ固定的に折り返す折返手段を有
す保守折返装置を備え;ることを特徴とする。
A fault location identifying apparatus according to the present invention is a fault location identifying apparatus for a relay transmission system comprising a plurality of relay apparatuses connected in series via a downlink transmission line and an uplink transmission path. A test signal generating means for generating a test signal for testing the relay transmission system and sending the test signal to the relay transmission system; a maintenance inspection means for inspecting a test signal from the relay transmission system;
A maintenance test device having a failure location storage means for storing a failure location identification table for identifying a failure location;
The relay device includes: a return switching unit that selects and returns the downstream transmission line to the upstream transmission line; a branch switching unit that branches and connects any one of the downstream transmission line or the upstream transmission line; Means for inspecting the test signal from either the downlink transmission line or the uplink transmission line branched and connected by means; and the downlink from the last-stage relay device of the relay transmission system. A maintenance folding device having folding means for folding the transmission line back to the upstream transmission line;

【0005】また、本発明の障害箇所特定装置は、前記
中継装置の折返切替手段が、前記下り伝送路を前記上り
伝送路へ折り返して接続するか、あるいは、前記中継装
置を前記上り伝送路へ接続するかのいずれかを選択して
切り替えることを特徴とする。
Further, in the fault location specifying apparatus according to the present invention, the return switching means of the relay device may connect the downlink transmission line by returning to the upstream transmission line or connect the relay device to the upstream transmission line. It is characterized in that either connection is selected and switched.

【0006】さらに、本発明の障害箇所特定装置は、前
記障害箇所記憶部の障害箇所特定テーブルは、前記中継
装置の前記第1検査手段の検査結果と前記保守試験装置
の保守検査手段の検査結果とに対応して障害箇所を示す
テーブルであることを特徴とする。
Further, in the fault location specifying apparatus according to the present invention, the fault location specifying table of the fault location storage unit includes a test result of the first test means of the relay device and a test result of the maintenance test means of the maintenance test device. And a table indicating the location of the failure corresponding to.

【0007】また、本発明の障害箇所特定装置は、前記
最終段の中継装置が、前記折返切替手段による前記上り
伝送路から前記下り伝送路への折り返し接続を検査する
ための第2検査手段を有することを特徴とする。
In the fault location identifying apparatus according to the present invention, the last-stage relay apparatus may include a second inspection unit for inspecting a return connection from the upstream transmission line to the downstream transmission line by the return switching unit. It is characterized by having.

【0008】さらに、本発明の障害箇所特定装置は、前
記保守折返装置が、前記保守折返装置と接続する前記下
り伝送路および前記保守折返装置の前記折返手段を検査
するための折返検査手段を有することを特徴とする。
Further, in the fault location specifying device according to the present invention, the maintenance return device has a return inspection means for inspecting the downstream transmission path connected to the maintenance return device and the return device of the maintenance return device. It is characterized by the following.

【0009】また、本発明の障害箇所特定装置は、前記
障害箇所記憶部の障害箇所特定テーブルが、前記中継装
置の前記第1検査手段の検査結果および前記第2検査手
段の検査結果と前記保守折返装置の前記折返検査手段の
検査結果と前記保守試験装置の保守検査手段の検査結果
とに対応して障害箇所を示すテーブルであることを特徴
とする。
In the fault location specifying apparatus according to the present invention, the fault location specifying table of the fault location storage unit may be configured to store the inspection result of the first inspection means and the inspection result of the second inspection means of the relay device and the maintenance result. It is a table showing a failure location corresponding to the inspection result of the folding inspection unit of the folding device and the inspection result of the maintenance inspection unit of the maintenance testing device.

【0010】さらに、本発明の障害箇所特定装置は、前
記保守試験装置が、前記分岐切替手段により前記下り伝
送路が第1検査手段に選択接続され且つ前記折返切替手
段により前記下り伝送路が前記上り伝送路へ折り返すよ
う選択接続されている前記中継装置へ、前記試験信号生
成手段から前記試験信号を送出して、前記障害箇所特定
テーブルにより障害箇所を特定することを特徴とする。
Further, in the fault location specifying device according to the present invention, the maintenance test device may be configured such that the branch transmission unit selectively connects the downstream transmission line to the first inspection unit and the return switching unit connects the downstream transmission line to the first inspection unit. The test signal is transmitted from the test signal generation means to the relay device selectively connected to the uplink transmission path, and a fault location is specified by the fault location identification table.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0012】図1は、本発明の第1の実施例による障害
箇所特定装置のブロック構成図で、図2は、本発明の第
2の実施例による障害箇所特定装置のブロック構成図
で、図3は、本発明の第1の実施例による障害箇所特定
装置の障害箇所特定テーブルの構成図で、図4は、本発
明の第2の実施例による障害箇所特定装置の障害箇所特
定テーブルの構成図で、図5は、従来の障害箇所特定装
置のブロック構成図である。
FIG. 1 is a block diagram of a fault location device according to a first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a block diagram of a fault location device according to a second embodiment of the present invention. FIG. 3 is a configuration diagram of a failure location identification table of the failure location identification device according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a configuration of a failure location identification table of the failure location identification device according to the second embodiment of the present invention. FIG. 5 is a block diagram of a conventional failure point identification device.

【0013】図1において、本発明の第1の実施例によ
る装置障害箇所特定装置は、下り伝送路Li (i=0、
〜n)と上り伝送路Ui (i=0、〜n)を介して直列
に接続された複数の中継装置Yi (i=1、〜n)で構
成される中継伝送システム100の障害箇所の特定を、
保守試験装置Xと保守折返装置Zとで実行する。
Referring to FIG. 1, an apparatus for locating a fault in a device according to a first embodiment of the present invention includes a downlink transmission line L i (i = 0,
Through n) and a plurality of relay devices Y i (i = 1,... N) connected in series via the upstream transmission line U i (i = 0, n). Identification of
The test is performed by the maintenance test device X and the maintenance return device Z.

【0014】中継装置Yi (i=1、〜n)は、第1ス
イッチDi (i=1、〜n)と、第2スイッチCi (i=
1、〜n)と、中継検査回路Fi (i=1、〜n)とを
有す。
The relay device Y i (i = 1,... N) includes a first switch D i (i = 1,... N) and a second switch C i (i = i = n).
1, to n) and a relay inspection circuit F i (i = 1, to n).

【0015】第1スイッチDi (i=1、〜n)は、接
触子MDi (i=1、〜n)を接点RDi (i=1、〜
n)または接点SDi (i=1、〜n)に接続すること
により、中継検査回路Fi (i=1、〜n)を、接続点
i (i=1、〜n)を介して下り伝送路Li (i=1、
〜n)から分岐して接続する、あるいは、接続点Ki
(i=1、〜n)を介して上り伝送路Ui (i=1、〜
n)から分岐して接続する。ここで、接続点Hi は、中
継装置Yi と下り伝送路Li との接続点であり、接続点
iは、中継装置Yi と上り伝送路Uiとの接続点であ
る。
[0015] The first switch D i (i = 1, ~n ) is contact MD i (i = 1, ~n ) contacts RD i (i = 1, ~
n) or the contact SD i (i = 1,... n) to connect the relay inspection circuit F i (i = 1,... n) via the connection point H i (i = 1,. Downlink transmission line L i (i = 1,
.. N) to connect or connect to a connection point K i
(I = 1,..., N), the uplink transmission line U i (i = 1,.
Branch from n) and connect. Here, the connection points H i is the connection point of the relay apparatus Y i and downlink transmission line L i, the connection point K i is the connection point of the relay apparatus Y i and the uplink transmission path U i.

【0016】第2スイッチCi (i=1、〜n)は、接
触子MCi (i=1、〜n)を接点RCi(i=1、〜
n)またはSCi(i=、〜n)に接続することにより、
下り伝送路Li-1 (i=1、〜n)を、接続点Gi (i=
1、〜n)を介して上り伝送路U i-1 (i=1、〜n)
へ折り返す、または、中継装置Yi (i=1、〜n)を
上り伝送路Ui-1 (i=1、〜n)へ接続する。ここ
で、接続点Gi は、中継装置Yiと下り伝送路Li-1
の接続点である。
Second switch Ci (I = 1, up to n)
Tentacle MCi (I = 1, up to n) is the contact RCi(I = 1, ~
n) or SCi(I =, ~ n)
Downlink transmission line Li-1 (I = 1,..., N) at the connection point Gi (I =
1, through n) the upstream transmission path U i-1 (I = 1, up to n)
Or to the relay device Yi (I = 1, ~ n)
Uplink transmission line Ui-1 (I = 1, to n). here
And the connection point Gi Is the relay device YiAnd downlink transmission line Li-1 When
Connection point.

【0017】中継検査回路Fi (i=1、〜n)は、下
り伝送路Li-1 あるいは上り伝送路Uiからの試験信号
ISを検査し、この検査結果を監視回線MLにより保守
試験装置Xへ通知する。
The relay inspection circuit F i (i = 1,..., N) inspects the test signal IS from the downstream transmission line L i-1 or the upstream transmission line U i, and carries out a maintenance test by the monitoring line ML. Notify device X.

【0018】保守試験装置Xは、試験信号生成回路Aと
保守検査回路Bと収集部HTと障害箇所記憶部MFと特
定部TKと特定障害箇所出力部OUTとを有す。
The maintenance test device X has a test signal generation circuit A, a maintenance inspection circuit B, a collection unit HT, a fault location storage unit MF, a specific unit TK, and a specific fault location output unit OUT.

【0019】試験信号生成回路Aは、中継伝送システム
100を試験するための信号である試験信号ISを生成
しこの試験信号ISを、下り伝送路L0 を介して中継伝
送システム100へ送出する。
The test signal generating circuit A, the test signal IS to generate a test signal IS is a signal for testing the relay transmission system 100, and sends to the relay transmission system 100 via a downlink transmission line L 0.

【0020】保守検査回路Bは、上り伝送路U0からの
試験信号ISを受信して検査する。
The maintenance test circuit B checks receives the test signal IS from the up transmission line U 0.

【0021】収集部HTは、中継装置Yi の中継検査回
路Fi (i=1、〜n)からの検査結果と保守検査回路
Bからの検査結果を収集し、収集したこれらの検査結果
を特定部TKへ通知する。
The collection unit HT collects the inspection results from the relay inspection circuit F i (i = 1,..., N) and the inspection results from the maintenance inspection circuit B of the relay device Y i , and collects these inspection results. Notify the specific unit TK.

【0022】障害箇所記憶部MFは、障害箇所特定テー
ブル200を記憶する。
The fault location storage unit MF stores a fault location identification table 200.

【0023】障害箇所特定テーブル200は、図3に示
すように、保守検査回路Bの検査結果と中継検査回路F
i (i=1、〜n)の検査結果とに対応して特定できる
障害箇所を示すテーブルである。障害箇所特定テーブル
200の障害箇所は、どの中継装置が故障か、そして、
どの中継装置間が障害であるかを示すと共にその障害が
上り伝送路かそれとも下り伝送路で起きているかをも示
している。このようにきめ細かに障害箇所をテーブル化
することができるのは、各中継装置Yi に中継検査回路
i が存在してその検査結果を使うことができるからで
ある。
As shown in FIG. 3, the failure point identification table 200 stores the inspection result of the maintenance inspection circuit B and the relay inspection circuit F.
6 is a table showing fault locations that can be specified in correspondence with i (i = 1,..., n) test results. The fault location in the fault location identification table 200 is determined as to which relay device has failed, and
It indicates which of the relay devices is the fault, and also indicates whether the fault occurs on the upstream transmission line or the downstream transmission line. Can be tabulated in this way finely the failure location is because each of the relay devices exist relay test circuit F i to Y i can use the test results.

【0024】特定部TKは、収集部HTからの検査結果
と障害箇所記憶部MFの障害箇所特定テーブル200と
比較照合して障害箇所の特定をし、この特定結果を特定
障害箇所出力部OUTへ通知する。
The specifying unit TK specifies the fault location by comparing and checking the inspection result from the collecting unit HT with the fault location specifying table 200 of the fault location storage unit MF, and sends the specified result to the specific fault location output unit OUT. Notice.

【0025】特定障害箇所出力部OUTは、特定部TK
で特定された障害箇所を表示等で出力する。
The specific fault location output unit OUT is provided with a specific unit TK
The failure location specified by is output as a display or the like.

【0026】保守折返装置Zは、下り伝送路Ln から上
り伝送路Un へ折り返す折返部Eを有す。
The maintenance fold unit Z, having a Ori back portion E folding the downlink transmission line L n to the up transmission line U n.

【0027】次に、本発明の実施の形態の動作について
図面を参照して詳細に説明する。ここでの説明の記述に
おいて、特に断らないかぎり、中継装置Yi は、中継装
置Yi (i=1,〜n)のことであり、(i=1,〜n)
を省略している。その他の下付添え字iについても同様
である。
Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the description herein, unless otherwise specified, the relay device Y i is the relay device Y i (i = 1,..., N), and (i = 1,.
Is omitted. The same applies to other subscripts i.

【0028】図1に示す中継伝送システム100のサー
ビスの開始前には、中継装置Yi の第1スイッチDi
は、接触子MDi を接点RDi に接続することにより、
中継検査回路Fi を下り伝送路Li に接続し、そして、
中継装置Yi の第2スイッチC i は、接触子MCi を接
点SCi に接続することにより、中継装置Yi を上り伝
送路Ui-1 へ接続するよう設定されている。
The service of the relay transmission system 100 shown in FIG.
Before starting the screw, the relay device Yi First switch Di 
Is the contact MDi To the contact RDi By connecting to
Relay inspection circuit Fi Down the transmission line Li Connected to, and
Relay device Yi Second switch C i Is the contact MCi Connect
Point SCi To the relay device Yi Uphill
Route Ui-1 Is set to connect to

【0029】保守試験装置Xは、試験信号生成回路Aが
生成した試験信号ISを、下り伝送路L0 を介して、前
記のように第1スイッチDi と第2スイッチCi が設定
された中継伝送システム100に送出する。試験信号I
Sは、中継装置Y1 ,Y2,〜Yn を通り、保守折返装
置Zの折返部Eで折り返し、再び、中継装置Yn ,〜Y
2 ,Y1 を通り、上り伝送路U0 を介し保守試験装置X
の保守検査回路Bへと到達する。
The maintenance test apparatus X, a test signal IS that the test signal generation circuit A is generated, via a downlink transmission line L 0, the first switch D i and the second switch C i is set as described above It is sent to the relay transmission system 100. Test signal I
S passes through the relay devices Y 1 , Y 2 ,..., Y n and is turned back at the turn-back portion E of the maintenance turning device Z, and again, the relay devices Y n ,.
2 , Y 1 and the maintenance test equipment X via the upstream transmission line U 0.
Reaches the maintenance inspection circuit B.

【0030】中継装置Yi の中継検査回路Fi と保守試
験装置Xの保守検査回路Bとが、試験信号ISを正常に
検出すると、中継検査回路Fi は、第1スイッチDi
接触子MDi を接点SDi に接続し、第2スイッチCi
の接触子MCi を接点RCiに接続する。
[0030] and maintenance inspection circuit B of the relay test circuit F i and maintenance testing apparatus X of the relay apparatus Y i is normally detecting the test signal IS, relay checking circuit F i is the contact of the first switch D i MD i is connected to the contact SD i and the second switch C i
To connect the contacts MC i to contact RC i.

【0031】このようにして、中継伝送システム100
は、障害箇所の特定ができる試験モードに設定され、サ
ービスを開始する。
Thus, the relay transmission system 100
Is set to a test mode in which a failure point can be specified, and the service is started.

【0032】試験モードに設定され、サービス中の中継
伝送システム100に障害が起きたとき、保守試験装置
Xと保守折返装置Zとにより障害箇所の特定を実行す
る。
When a failure occurs in the relay transmission system 100 in service when set to the test mode, the maintenance test device X and the maintenance turnaround device Z specify the location of the failure.

【0033】図1において、保守試験装置Xは、試験信
号ISを、下り伝送路L0 を介して中継伝送システム1
00に送出する。
[0033] In FIG. 1, the maintenance test apparatus X, a test signal IS, the relay transmission system 1 via the down transmission line L 0
Send to 00.

【0034】中継検査回路Fi と保守検査回路Bとは、
保守試験装置Xからの試験信号ISを正常に検出できた
か、それとも、試験信号ISを検出できない場合を含め
て異常な検出であったかを検査し、これらの検査結果を
保守試験装置Xへ送出する。
The relay inspection circuit Fi and the maintenance inspection circuit B
It is checked whether the test signal IS from the maintenance test device X has been normally detected or whether the test signal IS has been abnormally detected, including the case where the test signal IS cannot be detected, and these test results are sent to the maintenance test device X.

【0035】保守試験装置Xの収集部HTは、中継検査
回路Fi からの検査結果と保守検査回路Bからの検査結
果を収集し、収集したこれらの検査結果を特定部TKへ
通知する。
The collection unit HT of the maintenance test apparatus X collects the inspection results from the relay inspection circuit Fi and the inspection results from the maintenance inspection circuit B, and notifies the specific inspection unit TK of the collected inspection results.

【0036】特定部TKは、収集部HTからの検査結果
と障害箇所記憶部MFの障害箇所特定テーブル200と
比較照合して障害箇所の特定をし、この特定結果を特定
障害箇所出力部OUTへ通知する。
The specifying unit TK specifies the fault location by comparing and checking the inspection result from the collecting unit HT with the fault location specifying table 200 of the fault location storage unit MF, and sends the specified result to the specific fault location output unit OUT. Notice.

【0037】特定障害箇所出力部OUTは、特定部TK
で特定された障害箇所を表示等で出力する。
The specific fault location output unit OUT is provided with a specific unit TK
The failure location specified by is output as a display or the like.

【0038】以上のように、本発明の第1の実施例によ
れば、どの中継装置が故障か、そして、どの中継装置間
が障害であるかを示すと共にその障害が上り伝送路かそ
れとも下り伝送路で起きているかをも特定する。さら
に、1度の試験信号ISの印加で中継伝送システムの各
中継装置と各伝送路の障害を同時にしかも短時間で特定
する。
As described above, according to the first embodiment of the present invention, which relay device is faulty, which relay device is faulty, and whether the fault is an uplink transmission line or a downlink Also specify whether it is occurring on the transmission path. Further, the fault of each relay device and each transmission line of the relay transmission system is specified simultaneously and in a short time by applying the test signal IS once.

【0039】次に、本発明の第2の実施例による障害箇
所特定装置を説明する。
Next, a fault location specifying device according to a second embodiment of the present invention will be described.

【0040】図2において、本発明の第2の実施例によ
る障害箇所特定装置は、保守折返装置Zに折返検査回路
zを有し、保守折返装置Zの直前で最終段の中継装置
nに中継検査回路Pn を有し、そして、障害箇所記憶
部MFに図4の障害箇所特定テーブル201を有する構
成以外、第1の実施例による障害箇所特定装置の構成と
同じである。よって、本発明の第2の実施例による障害
箇所特定装置の説明は、第1の実施例と異なる部分のみ
を説明する。
In FIG. 2, the fault location device according to the second embodiment of the present invention has a turn-back inspection circuit Pz in the maintenance turn-over device Z, and the last-stage relay device Y n immediately before the maintenance turn-over device Z. The configuration is the same as that of the fault location specifying apparatus according to the first embodiment except that the fault location specifying unit 201 has the relay test circuit Pn and the fault location storage unit MF has the fault location specifying table 201 of FIG. Therefore, in the description of the failure point identification device according to the second embodiment of the present invention, only the portions different from the first embodiment will be described.

【0041】図2において、保守折返装置Zの折返検査
回路Pz は、下り伝送路Ln と折返部Eとの接続点Gz
を介して試験信号ISを検査し、この検査結果を監視回
線MLを介して収集部HTへ通知する。
In FIG. 2, the turn-back inspection circuit P z of the maintenance turn-back device Z is provided with a connection point G z between the downstream transmission line L n and the turn-back portion E.
The test signal IS is inspected via the monitoring line ML, and the inspection result is notified to the collection unit HT via the monitoring line ML.

【0042】最終段の中継装置Yn の中継検査回路Pn
は、第2スイッチCn と上り伝送路Un-1 との接続点T
n を介して試験信号ISを検査し、この検査結果を監
視回線MLを介して収集部HTへ通知する。
The relay test circuit of the relay apparatus Y n of the final stage P n
Is a connection point T between the second switch C n and the upstream transmission line U n-1.
The test signal IS is inspected via C n, and the inspection result is notified to the collection unit HT via the monitoring line ML.

【0043】障害箇所特定テーブル201は、図4に示
すように、保守検査回路Bの検査結果と中継検査回路F
i (i=1、〜n)の検査結果に加えて中継検査回路Pn
の検査結果と折返検査回路Pz の検査結果とに対応す
る障害箇所を示すテーブルである。
As shown in FIG. 4, the failure point identification table 201 stores the inspection result of the maintenance inspection circuit B and the relay inspection circuit F.
i (i = 1,..., n) in addition to the relay test circuit P n
5 is a table showing the failure locations corresponding to the test results of the turn-back test circuit Pz and the test results of the return test circuit Pz .

【0044】次に、第2の実施例による中継装置障害箇
所特定装置の動作を説明する。
Next, the operation of the relay apparatus fault location specifying apparatus according to the second embodiment will be described.

【0045】保守試験装置Xの収集部HTは、中継検査
回路Fi からの検査結果と保守検査回路Bからの検査結
果と中継検査回路Pnからの検査結果と折返検査回路Pz
からの検査結果を収集し、収集したこれらの検査結果を
特定部TKへ通知する。特定部TKは、収集部HTから
の検査結果と障害箇所記憶部MFの障害箇所特定テーブ
ル201と比較照合して障害箇所の特定をし、この特定
結果を特定障害箇所出力部OUTへ通知する。特定障害
箇所出力部OUTは、特定部TKで特定された障害箇所
を表示等で出力する。
The collecting unit HT of the maintenance test apparatus X includes the inspection result from the relay inspection circuit Fi , the inspection result from the maintenance inspection circuit B, the inspection result from the relay inspection circuit Pn, and the turn-back inspection circuit Pz.
And collects the test results, and notifies the specifying unit TK of the collected test results. The identification unit TK identifies the failure location by comparing and checking the inspection result from the collection unit HT with the failure location identification table 201 of the failure location storage unit MF, and notifies the specific failure location output unit OUT of the identification result. The specific fault location output unit OUT outputs the fault location specified by the specifying unit TK on a display or the like.

【0046】第2の実施例により、保守折返装置Zと最
終段の中継装置Yn 間の障害箇所を、上り伝送路Un
下り伝送路Ln とに区別して特定できる。
[0046] The second embodiment, the fault location of the intermediate apparatus Y n maintenance fold unit Z and the final stage, can be identified by distinguishing the uplink transmission path U n and downlink transmission line L n.

【0047】[0047]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、各中継
装置に1つの試験信号検査回路を有し、この試験信号検
査回路を切り替えて下り伝送路側の検査と上り伝送路側
の検査とを実行しているので、どの中継装置が故障か、
そして、どの中継装置間が障害であるかを示すと共にそ
の障害が上り伝送路かそれとも下り伝送路で起きている
かをきめ細かく特定できる。さらに、本発明は、1度の
試験信号の印加で全中継回線の試験を同時に実行してい
るので、試験時間が短縮でき短時間での障害箇所の特定
が可能である。
As described above, according to the present invention, each repeater has one test signal test circuit, and the test signal test circuit is switched to perform the test on the downlink transmission line and the test on the uplink transmission line. Which relay device has failed,
Then, it is possible to indicate which of the relay devices is the fault, and to finely specify whether the fault occurs on the upstream transmission line or the downstream transmission line. Further, according to the present invention, the test of all the trunk lines is performed simultaneously by applying the test signal once, so that the test time can be shortened and the fault location can be specified in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例による障害箇所特定装置
のブロック構成図である。
FIG. 1 is a block configuration diagram of a failure point identification device according to a first example of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施例による障害箇所特定装置
のブロック構成図である。
FIG. 2 is a block diagram of a failure point specifying device according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1の実施例による障害箇所特定装置
の障害箇所特定テーブルの構成図である。
FIG. 3 is a configuration diagram of a failure point identification table of the failure point identification device according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第2の実施例による障害箇所特定装置
の障害箇所特定テーブルの構成図である。
FIG. 4 is a configuration diagram of a failure point identification table of the failure point identification device according to the second embodiment of the present invention.

【図5】従来の障害箇所特定装置のブロック構成図であ
る。
FIG. 5 is a block diagram of a conventional failure point identification device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 中継伝送システム Li 下り伝送路 Ui 上り伝送路 Yi 中継装置 Di 第1スイッチ Ci 第2スイッチ Fi 中継検査回路 Pn 中継検査回路 X 保守試験装置 A 試験信号生成回路 B 保守検査回路 HT 収集部 MF 障害箇所記憶部 TK 特定部 OUT 特定障害箇所出力部 Z 保守折返装置 E 折返部 Pz 折返検査回路 200、201 障害箇所特定テーブルReference Signs List 100 relay transmission system L i down transmission line U i up transmission line Y i relay device D i first switch C i second switch F i relay inspection circuit P n relay inspection circuit X maintenance test device A test signal generation circuit B maintenance inspection Circuit HT collection unit MF Failure location storage unit TK identification unit OUT Specific failure location output unit Z Maintenance return unit E Return unit P z Return inspection circuit 200, 201 Failure location identification table

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 下り伝送路と上り伝送路とを介して直列
に接続された複数の中継装置で構成される中継伝送シス
テムの障害箇所特定装置において;前記中継伝送システ
ムを試験するための試験信号を生成し前記試験信号を前
記中継伝送システムへ送出する試験信号生成手段と、前
記中継伝送システムからの前記試験信号を検査する保守
検査手段と、障害箇所を特定するための障害箇所特定テ
ーブルを記憶する障害箇所記憶手段と、を有す保守試験
装置を備え;前記中継装置は、前記下り伝送路を前記上
り伝送路へ選択して折り返す折返切替手段と、前記下り
伝送路あるいは前記上り伝送路のいずれかを分岐して接
続する分岐切替手段と、前記分岐切替手段により分岐し
て接続される前記下り伝送路あるいは前記上り伝送路の
いずれかよりの前記試験信号を検査する第1検査手段と
を備え;前記中継伝送システムの最終段の中継装置から
の前記下り伝送路を前記上り伝送路へ固定的に折り返す
折返手段を有す保守折返装置を備え;ることを特徴とす
る障害箇所特定装置。
1. A fault location identifying apparatus for a relay transmission system comprising a plurality of relay devices connected in series via a downlink transmission line and an uplink transmission line; a test signal for testing the relay transmission system Test signal generating means for generating the test signal and transmitting the test signal to the relay transmission system, a maintenance inspection means for inspecting the test signal from the relay transmission system, and a fault location specifying table for specifying a fault location. And a maintenance test device having a failure point storage means for performing the operation. The relay device selects the downstream transmission path to the upstream transmission path and loops the return transmission path, and switches the downstream transmission path or the upstream transmission path. Branch switching means for branching and connecting any one, and the branch transmission means for branching by the branch switching means from either the downlink transmission line or the uplink transmission line First inspection means for inspecting a test signal; and a maintenance return device having return means for returning the downstream transmission line from the relay device at the last stage of the relay transmission system to the upstream transmission line in a fixed manner. A fault location identification device characterized by the following.
【請求項2】 前記中継装置の折返切替手段は、前記下
り伝送路を前記上り伝送路へ折り返して接続するか、あ
るいは、前記中継装置を前記上り伝送路へ接続するかの
いずれかを選択して切り替えることを特徴とする請求項
1記載の障害箇所特定装置。
2. The return switching means of the relay device selects either the return connection of the downlink transmission path to the uplink transmission line or the connection of the relay device to the uplink transmission line. The failure point identification device according to claim 1, wherein the switching is performed by switching.
【請求項3】 前記障害箇所記憶部の障害箇所特定テー
ブルは、前記中継装置の前記第1検査手段の検査結果と
前記保守試験装置の保守検査手段の検査結果とに対応し
て障害箇所を示すテーブルであることを特徴とする請求
項1記載の障害箇所特定装置。
3. The fault location specifying table in the fault location storage unit indicates a fault location corresponding to a test result of the first check unit of the relay device and a test result of a maintenance check unit of the maintenance test device. The fault location specifying device according to claim 1, wherein the fault location specifying device is a table.
【請求項4】 前記最終段の中継装置は、前記折返切替
手段による前記上り伝送路から前記下り伝送路への折り
返し接続を検査するための第2検査手段を有することを
特徴とする請求項1記載の障害箇所特定装置。
4. The apparatus according to claim 1, wherein the last-stage relay device has a second inspection unit for inspecting a return connection from the upstream transmission line to the downstream transmission line by the return switching unit. Fault location device as described.
【請求項5】 前記保守折返装置は、前記保守折返装置
と接続する前記下り伝送路および前記保守折返装置の前
記折返手段を検査するための折返検査手段を有すること
を特徴とする請求項1記載の障害箇所特定装置。
5. The maintenance loopback device according to claim 1, wherein the maintenance loopback device has a return transmission path connected to the maintenance loopback device and a loopback inspection unit for testing the loopback means of the maintenance loopback device. Fault location device.
【請求項6】 前記障害箇所記憶部の障害箇所特定テー
ブルは、前記中継装置の前記第1検査手段の検査結果お
よび前記第2検査手段の検査結果と前記保守折返装置の
前記折返検査手段の検査結果と前記保守試験装置の保守
検査手段の検査結果とに対応して障害箇所を示すテーブ
ルであることを特徴とする請求項1記載の障害箇所特定
装置。
6. The failure point identification table of the failure point storage unit includes an inspection result of the first inspection unit and an inspection result of the second inspection unit of the relay device, and an inspection of the return inspection unit of the maintenance folding unit. 2. The fault location specifying device according to claim 1, wherein the fault location specifying device is a table indicating a fault location corresponding to a result and an inspection result of a maintenance inspection unit of the maintenance test device.
【請求項7】 前記保守試験装置は、前記分岐切替手段
により前記下り伝送路が第1検査手段に選択接続され且
つ前記折返切替手段により前記下り伝送路が前記上り伝
送路へ折り返すよう選択接続されている前記中継装置
へ、前記試験信号生成手段から前記試験信号を送出し
て、前記障害箇所特定テーブルにより障害箇所を特定す
ることを特徴とする請求項1と6記載の障害箇所特定装
置。
7. The maintenance test device, wherein the branch transmission unit selectively connects the downstream transmission line to the first inspection unit and the return switching unit selectively connects the downstream transmission line to the upstream transmission line. 7. The fault location specifying apparatus according to claim 1, wherein the test signal is transmitted from the test signal generation unit to the relay device, and the fault location is specified by the fault location specifying table.
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