JP2000514182A - 指向性放射線検出装置及び撮像装置 - Google Patents
指向性放射線検出装置及び撮像装置Info
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Abstract
(57)【要約】
放射線センサ及び/又は撮像装置は、例えばシンチレーターまたはガイガー・ミュラー型放射線計数器、或は例えばシリコンで作成される固体放射線検出器のような放射線検出器(3、5)の周りを、異なる原子番号(Z)を有する2種類の材料(7、1、9)で挾持することによって形成する。本発明の一実施例では、鉛の薄膜がガイガー・ミュラー放射線計数器(3、5)の一方の側に置かれ、1層のルーサイト(7、9)がその反対側に設置される。放射線計数器(3、5)の一方の側に高Z材料(1)を、該放射線計数器(3、5)の反対側に低Z材料(7、9)を設置することによって、該高或は低Z材料(7、1、9)から順方向または逆方向へ放出される光−コンプトン電子と、高Z材料(1)による放出電子の減衰とを検出することが可能である。本発明は、背景放射線レベルまで低下した放射線強度を検出することができる。
Description
【発明の詳細な説明】
指向性放射線検出装置及び撮像装置
政府関連事項
ここに記載の発明は、いかなる実施料の支払も要することなくアメリカ合衆国
政府によって又はアメリカ合衆国政府のために、製造、使用、販売、輸入、及び
/又は実施許諾され得るものである。
関連分野
本発明は放射線検出装置に関し、より詳しくは放射線源の方向及び/又は放射
線像を提供する放射線検出装置に関する。
発明の背景
トモグラフィ、天文学、及び民間防衛などの応用分野では、例えばガンマ線や
高速中性子線などのような放射線源の方向を決定することがしばしば望まれる。
しかしながら、たいていの形態の放射線が光電効果とコンプトン散乱のプロセス
を介して物質と相互作用するため、(放射線から検出できるエネルギー形態であ
る)光電子やコンプトン電子の角度分布がこれら散乱事象によって変化したり歪
められたりしている。そのため、放射線の入射角を正確に判定するのは難しかっ
た。
指向性能を検出装置に与えるためにさまざまな技術が使用されている。共通し
て用いられる指向性検出装置の一つはコリメータ器械である。そこでは、遮蔽材
が検出装置による放射線の取り入れ角を限定し、かつその他の方向からの背景(
バックグラウンド)放射線の寄与を低減するのに用いられている。従って、最大
出力は遮蔽材内の開口部が放射線源と整合した場合だけ得られる。或る場合には
、回転コリメータの開口部、或は複数の開口部が放射線源の方向情報を得るのに
用いられている。しかしながら、これらコリメータ器械には幾つか欠点がある。
例えばコリメータ壁との相互作用による入射放射線のひずみ、高い指向性分解能
が必要な場合の狭い取り入れ立体角のための放射線強度の低下、及び広い取り入
れ立体角が必要な場合の角分解能の低下などがそれである。
その他の指向性検出装置の設計としては、方向情報が得られるフィラメント形
式の検出器が用いられていた。例えばチュップら(Chupp et al.)著「宇宙調査
利用のための指向性中性子線検出装置」(IEEE Transactions on Nuclear Scienc
e NS-13,468〜477頁 (1966年2月号))は、放射線源に向けてフィラ
メント軸を軸合せすることで指向性出力が提供されることを開示している。その
他の例として、ステッソンら(Stetson et al.)著「中性子のための指向性シン
チレーション計数器」(6Nuclear Instrument and Methods,94〜95頁 (19
60年))は、フィラメント列群の列(アレイ)の使用を示唆しており、これはn
−p衝突からのプロトンの順方向最高(forward-peaked)の角度分布を用いて指
向性効果を得ている。
多くの応用において、重量と携帯性とは検出装置を選定する際の重要な関心事
である。例えば宇宙での応用では軽量な装置が必要であり、しかも修理ができな
いので簡素なものが望ましい。これらと同一の考え方は、特に手提げ装置、或い
は特定の場所へのアクセスが必要になることもある装置のような機動性装置にも
適用できる。
1994年9月6日発行のバイアッドら(Byrd et al)による「指向性高速中
性子検出装置」と題された米国特許第5,345,084号は、高速中性子の検出に限定
される別の形式の指向性放射線検出装置を開示しており、それは、複数の全方向
性の高速中性子放射線検出器が緻密に詰め込まれた構成で配置され、細分化され
た対称性検出器を形成している。プロセッサは、複数の検出器からの入射放射線
の計数を演算的に組合せて、前記放射線源の方向に機能的に対応する信号を出力
する。バイアッドの装置の一実施例では4個の検出器が前後と左右との対称性を
伴う対関係に配置してある。放射線計数の出力は、前後対称の検出器からの計数
の減算と、左右対称の検出器からの計数の減算とを組合せる。得られる差は、放
射線源の方向を指示するベクトル量を形成する。しかしながら、前述のようにこ
の検出装置は高速中性子の方向を検出することに限定されており、又、指向性分
解能は低い。
従って、高分解能とともに広い取り入れ角を有し、複数の異なる形式または強
度の放射線源を検出できる指向性検出装置または撮像装置の需要が存在する。本
発明はこの需要を対象とするものである。
発明の要約
従って、本発明の目的のひとつは、弧度を数分程度に小さくなし得る分解能に
おいて、4πの取り入れ立体角を有し、放射線源の方向を検出することのできる
放射線検出装置を提供することである。
本発明の他の目的は、幾つかの異なる形式または強度の放射線源を検出するよ
うに変更することができる指向性放射線検出装置を提供することである。
本発明の更に他の目的は、背景放射程度まで低下した放射強度を検出すること
ができる指向性放射検出装置を提供することである。
本発明の更に他の目的は、さまざまな放射線源の撮像装置を提供することであ
る。
これらの目的及びその他の目的は、異なる原子番号(Z)を有する2種類の材
料を用いて、例えばシンチレーター、ガイガー・ミュラー型放射線計数器、或は
シリコンなどで形成される固体放射線検出器のような放射線検出器を囲繞或は挾
持する本発明によって達成される。本発明の一実施例では、鉛(Pb)の薄層が
ガイガー・ミュラー放射線計数器の一方の側に置かれ、ルーサイトTMの層が反対
側に載置される。ガイガー・ミュラー計数器は単一の事象を検出できるので、本
発明による指向性放射線検出装置は、約0.15μGyh-1の背景放射線レベル
まで低下した放射強度を検出することができる。本発明に用いられる望ましいガ
イガー・ミュラー計数器の一例は、両側が約2.8mg/cm2の厚さの薄いル
ビー雲母窓(ruby mica windows)を有する修正パンケーキ型ガイガー・ミュラ
ー計数器である。
高Z材料を(ガイガー・ミュラー(GM)或はシンチレーター計数器(SC)
などのような)放射線検出器の一方の側に、又低Z材料を、形式を問わずこれら
計数器の反対側に設置することによって、高或は低Z材料から順方向或は逆方向
へ放出される光−コンプトン電子(photo-Compton electrons)と、入射ガンマ線
の減衰とを検出することが可能になる。計数率(或は強度)に差があれば、放射
線源の方向は容易に算出されるし、或は、検出装置の応答の最大変化が発生する
角度、つまり点源が所在する角度を決定するために、計数器を単に回転させるこ
とができる。計数差(或は強度の鏡像(mirrors))が得られるように(例えば1
80度のような)異なる角度に移動させた2個の計数器を持つことによって、本
発明は遥かに容易に放射線源の方向を検出することができ、後述して説明するよ
うに、本発明は放射線源の像を強度の関数として提供することができる。これは
、鉛中のような高Z材料から順方向または逆方向へ放出されるよりも、ルーサイ
トTM中のような低Z材料から順方向へより多くの電子が放出されるため可能にな
る。GM或はシンチレーション計数器に基づいてモニタを設計する長所は、それ
らの性能が、約0.15μGyh-1である自然背景(バックグラウンド)放射の
2或は3倍まで限界強度を低下させると云う点に在る。従って、GM管或はシン
チレーション計数器を用いる本発明を用いれば、自然背景放射に近い強度を持つ
ガンマ線源が同定できて位置決めすることができる。
図面の簡単な説明
本発明のこれらの目的とその他の目的は、本発明の詳細な説明と添付した以下
の図面を用いて容易に明らかになるはずであり、図面中、
図1は、一対のパンケーケ型ガイガー・ミューラー(GM)計数器を用いる本
発明の一実施例の断面図であり、
図2は、シンチレーションまたは固体計数器のような放射検出器層を用いる本
発明の他の実施例の断面図であり、
図3は、異なるZ材料と検出器との幾つかの異なる層群を用いる本発明の更に
他の実施例の断面図であり、
図4は、電離箱型センサとしての本発明の斜視図であり、
図5は、16種類の異なるZ材料と組合せてあるルーサイトと、11種類の異
なる材料と組合せてある鉛とに対する図1のパンケーキ型計数器のレスポンスと
、計算結果とを比較した双方のデータの組を示し、
図6は、コバルト−60とセシウム−137の光子に暴露されたときの144
mg/cm2の鉛のエミッタから図1のパンケーキ型計数器へと逆方向へ放出さ
れた電子のフェザー様解析であり、
図7は、さまざまな原子番号の元素から順方向へ放出される光−コンプトン電
子の、入射光子エネルギーに対する三次元点描図(プロット)であり、
図8は、さまざまな原子番号の元素から逆方向へ放出される光−コンプトン電
子の入射光子エネルギーに対する三次元点描図(プロット)であり、
図9は、46keVのX線によって照射された電離箱型センサ(図4)の絶対
計数比:R=I1+I2/I1−I2の、弧(アーク)秒単位の傾斜角(光子の入射
角)に対するグラフ図であり、
図10は、任意の単位での電流出力を、図2に示す装置の回転角に対して表わ
すグラフであって(2回の独立した走査について)、ここで該装置は4個の独立
した137Csと60Coとの放射線源のビームに照射され、又直接像(<180度
の回転角)と鏡像(>180度の回転角)との4対を示し、
図11は、S2(137Cs源の2)に対応する図10の走査データからの、直接
像及び鏡像(180度ずらしたもの)に対する遷移データの1次導関数の、回転
角に対するグラフであり、
図12は、S1(137Cs源の1)に対応する図10の走査データからの、直接
像及び鏡像(180度ずらしたもの)とに対する遷移データの1次導関数の、回
転角に対するグラフであり、
図13は、図10の4個の放射線源と同一放射線源に対する独立した2つの走
査にて、シンチレーターに基づく検出装置(図2)を用い、しかしセンサをS1
から移動し遠ざける(放射線源から検知器まで直線に沿って48.5cm)こと
によって生成した図形の点描図(プロット)であって、S1に関するそれぞれの
放射線源の極角度計測値と、それに対応する走査角の実験値とが示してあり、
図14a及び14bは、図10と図13とのグラフを得るために用いた放射線
源の物理的構成と幾何学的形状との図であり、
図15は、図2の検出装置を用いて得られた走査データの点描図(プロット)
であって、ここで2個の放射線源は、著しく異なるエネルギー、即ち、662k
eVの光子を放出する137Csと174keVのX線とを有し、
図16a及び16bは、図15から得られる走査データの組から放射線源の角
度を決定する別の方法をグラフで示しており、ここで、セシウム及びX線源に対
する一対の鏡像は180度ずらしてプロットされているため、それらの対応する
直接像と交差し、又、像の対の絶対最小値は正規化されて振幅に等しくしてある
(交点はその検出装置に対する放射線源の極角度)。
図17は、本発明にて入射する放射線強度の角依存度を計算する方法と関連す
る角度基準を示し、
図18は、本発明がどのように撮像装置として有用であるかを説明する実験的
構成を示してあり、
図19は、図18の実験的構成を用いて得られた結果と、本発明が撮像装置と
して有用であることを示す計算結果とをグラフで示す。
発明の詳細な説明
図1は本発明に従う装置の断面図を示す。図示のとおり、単一の高Z(原子番
号)材料層1は、2個のパンケーキ型ガイガー・ミュラー(GM)計数器3及び
5に挾持されている。2個のGM計数器3及び5はそれらの外側を2個の低Z材
料層7及び9によって挾持されている。高及び低Z材料に適当な材料は、それぞ
れ鉛及びポリメチルメタクリレート(ルーサイトTM或は類似のプラスチック)で
あろう。2個のGM計数器が示してあるが、本発明は、1層の高Z材料と、1層
の低Z材料との間に挾持された1個のGM計数器でも機能することに注目された
い。しかしながら、単一の計数器を用いて同一のデータを得るために、本発明の
検出装置は、180度よりもむしろ360度に亙って回転しなければならない(
後述して説明する)。
本実施例において好ましくは、GM計数器は、2.8mg/cm2厚の薄いル
ビー雲母窓を両側に伴って構成される特別のパンケーキ型計数器である。こうす
ることによって、計数器のどちらの外側にも、高及び低Zの遮蔽材を設けること
が可能になり、光子によって生成されたより低エネルギー電子は、薄い雲母窓を
貫通してパルスを生成する。
ルーサイトTM及び鉛は、低及び高Z材料のための選定として分かり易いが、さ
まざまな厚さを有するその他の材料を本発明に用いることができる。材料及び材
料の厚さの選定は、後で明らかにされるとおり、材料の原子番号、及び放射線照
射された時の順方向と逆方向への材料の電子放出とに大いに依存する。このよう
な観点からさまざまな高及び低Z材料、及び厚さが、本発明における利用のため
に検討された。特に、図1の装置にて、材料のさまざまな組合せを用い、どの材
料が本発明の高及び低Z材料として最も適当であるかが決定された。図5は、1
6種類の異なるZ材料と組合せたルーサイトTMと、11種類の異なるZ元素と組
合せた鉛とに対する図1のパンケーキ型GM計数器の応答を示し、これら同一条
件における双方のデータ組を、既知の計算結果と比較した。図示のとおり、デー
タ(丸及び三角形)は、これらのテストにおけるルーサイトTM(或はポリエチレ
ン)、及び鉛をそれぞれ表す。図5では、それぞれのテストで用いた最低Z材料
(即ち、BeとC)に対して比較した、それぞれの元素における計数比を、原子
番号に対してプロットした。図5から理解されるように、計数比のZに関する依
存は、近似的に直線である。それぞれの実験においてこの比は、任意の元素(Z
)に対する計数になるように、最低Z元素(即ち、BeまたはC)で得られる計
数によって除算して定義される。この直線的性質は、ルーサイトTM及び鉛と他の
元素との遮蔽的組合せの双方に適用される。エラーバーは、元素当り15回の観
察に対する実験的再現性と、計数の統計量とに起因する広がりを含む。理解しや
すいように、ルーサイトTM+種々のZ材料に対するエラーバーのみ示す。他の組
合せに対して、エラーバーはほぼ同一である。前述のとおり、計算値はほぼ±2
0%のエラーバーを有する。計測値に対する計算値の最悪の不一致は、最高Z番
号、即ち、Z=79(金)に対して発生する。ルーサイトTM+遮蔽元素に対して
のこれは12%であり、鉛+Z元素で得られる結果に対しては22%である。
検出器を挾持する遮蔽材の他の重要なパラメータは、パンケーキ型計数器の背
後の遮蔽材からの電予の背面放出である。図6は、コバルト及びセシウムのガン
マ線で照射した図1のパンケーキ型計数器ににて用いた、薄い鉛遮蔽材から背面
方向へ放出される光−コンプトン電子のフェザー様解析を示す。背面放出電子の
この解析結果を得るために、種々の厚さのアルミニウム吸収材を、計数器と鉛遮
蔽材との間に挿入した。特に、計数が一定値まで減少するまで(この数値に達す
るまで鉛遮蔽材を削除しかつアルミニウム吸収材の厚さを増加させることによっ
て得られる)、アルミニウム吸収材の厚さを増加させ、パンケーキ型計数器とこ
の計数器の背後の鉛遮蔽材との間に挿入した。この電子のフェザー様解析におい
て、電子は、60コバルトと137セシウムとの光子によって生成された。この解析
の結果は、電子のスペクトルがこれら放射線源に特有であることを証明している
。
更に図6は、飽和値を減じ、又それらを最大計数値に正規化することによって
得られた、両放射線源についての結果を示す。
これらの実験において、60コバルトのガンマ線に対する最大吸収材厚さは22
3mg/cm2であり、又、137セシウムの光子に対しては、135mg/cm2
であった。これらの数値はそれぞれ最大電子エネルギーである500keV及び
350keVにそれぞれ対応している。電子は、35keVの電子閾を有する2
.8Mg/cm2の計数器の雲母窓を容易に貫通することができる。(パンケー
キ型計数器はGM管のそれぞれの側に二つの同一の雲母窓を有する点で独特であ
る。)このように本発明では、背面放出電子は高Z材料の遮蔽材から生成され、
又、これら背面放出電子の最大エネルギーは、コバルト光子エネルギーに対して
期待される700keV、及びセシウム放射線に対して期待される500keV
の平均エネルギーのいずれに比べても劣っている。
図7及び図8は、さまざまな原子番号の材料への入射光子当り順方向及び逆方
向に生成される電子、及び予め計算してある光子エネルギーに対して得られる光
−コンプトン電子放出の出版データ(T.A.デリンら(T.A.Dellin et al.
)著IEEE Trans.Nucl.Sci.,NS-22(6)(1975)2549)に基づいている。図7及び図
8から理解されるように、本発明では、光子エネルギーと原子番号に対する電子
の生産は、エネルギー或はZとに関して単一の方向を示さず、これらパラメータ
の変動とともに増減する。従って、本発明に関して、これらパラメータに伴って
単調に増減するとは期待できない。しかしながら、当業者はこのデータから種々
のZ材料と厚さとの組合せをいくらでも選び出して、あらゆる応用にて働く装置
に到達することができよう。
本発明において、この多重指向性型のレスポンスをもたらし得る二つの基本メ
カニズムがある。即ち、(1)鉛のエミッタが、放射線源と、計数器+光−コン
プトン電子の放出との間に在る場合の、該エミッタによる減衰と、(2)計数器
が、鉛のエミッタと放射線源との間に在る場合の光電子の放出である。光−コン
プトン電子の相互作用は、光子エネルギーと共に変動する。光子エネルギーがよ
り高ければ、前面側エミッタからの光−コンプトン電子の順方向放出は、背面側
エミッタからの背面放出と結合した取るに足らない減衰を伴い、有効な全計数を
生じる。最大対最小比は、飽和が生じるまでエミッタの厚さとともに増加する。
最適な信号は、厚さが近似的に電子の範囲に等しくなるとき得られる。60コバル
トの放射線について、この厚さは約3ミル(86.5Mg/CM2)の鉛である
ことが実験で確認された。5ミル(144.1Mg/CM2)の鉛が、パンケー
キ型計数器の計測で用いられた。
これから、低及び高Z材料を伴って適当に構成されたGM管、或は適切なエミ
ッタを伴うシンチレーション計数器も、(約0.15μGyh-1の)背景放射の
2倍程度に低い強度の放射線の基本的な指向性検出装置として役立たせることが
できることが明らかである。更に、これらのモニタは、50keVから1250
keVまでの広範な量子エネルギーに指向性をもって応答する。より高エネルギ
光−コンプトン電子はこれらモニタの指向性に寄与し、又より低エネルギー源に
対しては、高Z材料に起因する減衰によって検出装置は働く。セシウムの光子に
照射された場合に働く検出装置は、他のあらゆるエネルギーに対しても働くはず
である。このような目的のためには、シンチレーション計数器が最高の角感度を
提供することになろう。
図2を参照すると、低Zを有する薄い検出器が、低Zを有する材料層と高Zを
有する材料層との間に挾持してある本発明の他の実施例が示してある。図示のと
おり、2個のこのような積層(スタック)は互いに隣接して設けられており、一
方の積層は頂部に高Z材料を有し、他方の積層は底部に高Z材料を有する。前述
して説明したように、薄い検出器層は、光−コンプトン電子の使用可能な範囲と
比較して薄くなければならない。名目上ガンマ線であり、0.6MeVより高い
(即ち、ここでは減衰は取るに足らない)放射線の量子エネルギーに関して、該
2層の表面から検出器中へ放出される電子数は、ガンマ線が低Z層を介して進入
する場合の方が、高Z層を介して進入する場合より多い。より低い量子エネルギ
ーに対してこの放出効果は逆転するが、しかし、この場合は、入射ガンマ線は低
Z層よりも高Z層によって一層減衰させられる。従って、信号は、ガンマ線が低
Z材料を介して進入する場合、ガンマ線が高Z層を介して進入する場合の信号と
比べてやはり大きくなる。
もし、図2に示した2個の検出器の表面に対して平行に、ガンマ放射線が装置
に進入すると、両積層の出力は同一になる。検出器1は出力C1を生じ、検出器
2はそれに対応する出力C2を生成する。R=(C1+C2)/(C1−C2)なる
絶対比を形成すると、Rは、C1=C2ならば無限大に近付く。従って、C1=C2
になると、遷移はきわめて鋭く発生し、従って、ガンマ放射線の入射角の正確な
決定が、又あらゆる型の放射線も同様に可能になる。これを得るための異なる方
法は、本発明の他の幾つかの異なる実施例との関係において議論されよう。
図4は、単一の事象計数器(GM及びシンチレーター)では飽和するような、
より高く、より強い量子エネルギーにて用いることができるように設計された電
離箱に基づくセンサを示す。この箱はふたつの子箱15及び16からなり(図1
参照)、鉛の共通コレクタ電極に対して一方は正の電圧で(子箱15)、他方は負
の電圧でバイアスしてある。両子箱内で導電性プラスチックで被覆される低Zル
ーサイトTMの電極12及び14は、もう一方の電極を提供する。保護環11がセ
ンサの設計に用いられ得る。この検出装置の出力電流は、二つの子箱からの電流
の差である。例えばケイスレー(Keithley)電位計のような(図示せず)電位計
が、電極からの電流を計測するのに用いられる。
図9は、46keVのX線によって照射された場合の、傾斜角(光子の入射角
)に対する、図4に示す電離箱装置の出力電流の比のプロットである。図9に示
すように、比R=I1+I2/I1−I2は、電離箱出力の絶対電流差I1−I2が4
1.25±1.25弧(アーク)秒の傾斜角(光子の入射角)にてゼロに接近す
るにつれて極めて鮮鋭な増加を示す。プロット中の黒帯域は、I1=I2である遷
移領域を表わしている。エラーバーは計測エラー(例えば電位計や図表記録計の
ノイズのような)の推定値である。特異性が生起するこの領域は、光子の入射角
が(電極の平面を基準として)ゼロに接近し、又光子がルーサイトTM電極或は鉛
電極のどちらかにおいて長い吸収路に進入するときに、光−コンプトン放出電流
が突然変化することに起因する。同時に、入射光子に対する撮像装置の傾斜方向
に
応じて、電流が増加、又は減少する。減少は、光子が最初にルーサイトTMに、次
いで鉛に打ち当るように傾斜運動が向く場合に生じ、又、増加は、鉛に最初に打
ち当る場合に生じる。図9のデータと類似の結果は、電離箱センサが、14ke
V及び250keVのX線と137セシウムのガンマ線とにそれぞれ照射された場
合にも得られた。
図3、は本発明の更に他の実施例の俯観図である。図示するとおり、本発明は
、光電子増倍管に接続してある低Z材料層、シンチレーター検出器層、及び高Z
材料層の多数の反復層を含んでもよい。このような実施例において、低Z材料層
は厚さ3.1mmのルーサイトTMでよく、シンチレーター検出器層(名目上、N
E102アントラセン充填ポリビニルトルエン)は厚さ0.25mmでよく、高
Z材料層は厚さ0.13mmの鉛でよい。もちろんこれらの寸法は、単に例とし
て付与されたに過ぎず、用いられる層の厚さ及び材料の形式は、使用に応じて変
えることができる。種々のZ番号の材料の散乱効果に関しては前述しており、当
業者は任意の材料と厚さとの組み合せを案出して無数の応用に供することができ
よう。
鉛に比べて、ルーサイトTMの異なる吸収及び電流放出の特性は、それぞれの放
射線源に対してふたつの応答パターンを生じる。図10は、3個の137セシウム
源及び1個の60コバルト源のビーム内において、二つの独立した作業の間に36
0度回転する図3のシンチレーター検出器を用いて得られた応答パターンを示す
。4個の放射線源に応じた、0度から180度までの角度に対する反応パターン
は、恣意的に、直接像と呼ぶ。>180度の角度(180度を越す角度)に対す
る像は、恣意的に、鏡像と呼ぶ。直接像は、ルーサイトTMに最初に当り、次いで
鉛に当ることを許す回転方向である場合に生じる減少信号(負導関数)を示す。
この結果と対照的に、鏡像は、こんどは鉛が最初に打ち当られることによる増加
信号(正導関数)を示す。これは、電離箱の傾斜運動について前述したのと同一
型の相互作用及び効果である。
それぞれの放射線源の極角度は、遷移勾配の中間から角度軸まで直線を引くこ
とによって容易に得ることができる。これらの角度は図10に4個の放射線源に
対してプロットで示してある。又、定規を用いた角度の実測と、放射線源に対し
て線量率計を用いて計測した強度とが、このプロット中に示してある。
図10に示すように、この実験値は、計測値とほぼ1度以内で一致し、それぞ
れの放射線源の鏡像は直接像から180度以内に在る。又、図10にて明らかに
示されるように、セシウムの光子(即ち、662keV)に比べてより高いコバ
ルトのガンマ線エネルギー(即ち、1.17MeV及び1.33MeV)は、コ
バルト又はセシウム源の検出と位置決めとに干渉しなかった。
放射線源の極角度を、走査によって決定する他の二つの方法が、斯かる検出装
置及びそのお互いに関係して存在する。その一つは、直接像及び鏡像の遷移領域
の1次導関数を計算することである。この手法は、図11及び図12によって示
され、ここでは、放射線源S2及びS1に対して図10から得られた直接像と鏡像
とに対するデータの導関数を表示する。これらの放射線源の位置決めは、直接像
と鏡像とのそれぞれの対に対して、極大が生じる角度の中間から得られる。放射
線源に対するピークの角度の中間値の差は、他の放射線源全てから離れる角度を
示す。例えばS2はS1から32.95度離れて所在する。この方法と対照的に、
放射線源に対する像の遷移領域の中間から線を簡単に下ろして、異なる放射線源
に対するピークの角度の中間値の差を計算することによってこれらの角度を得て
もよい。
走査データから角度を決定する第3のアプローチは、直接像と鏡像とを切り離
して、それから鏡像を180度だけずらし、対応する像の対の交差を示すプロッ
トを構成ることである。この方法は、図16a及び図16bのプロットによって
示され、これらはX線とセシウムの走査データから推論してある。それぞれの像
の対の交差点は、放射線源の角位置である。電離箱の結果に関する議論で指摘さ
れたことは、ゼロになるか、あるいは総計数となる電流が、どのようにしてR=
I1+I2/I1−I2或はR=C1+C2/C1−C2なる比のアルゴリズムを無限大
に近付かせるかであった。図16a及び図16bに示した鏡像と直接像との交点
は、、I1=I2或はC1=C2の位置での値である。
従って、この放射線源の位置決め法は、電離箱(2個の子箱検出器)或はGM
(2重パンケーキ型計数器)撮像装置の場合同様、二つのセンサが同時に180
度回転する間に、放射線源の位置を図式的に探査するように応用することもでき
る。図16a及び図16bより理解されるように、X線源に対する137Cs源の
位置、即ち55.3度は、図15にて示す55.5度とほぼ同一値である。従っ
て、どの方法も実際の計測角と良好に一致する。
図14a及び図14bは、4個の放射線源と、48.9cm離れたふたつの走
査位置に所在するSC撮像装置とを示す前述の実験構成を示す。角度と距離との
、実験値(括弧内)及び計測値が図14a及び図14bに個別に示してある。角
度と距離との実験値及び計測値の一致は良好である。
更に本発明は、放射線源の相対強度を決定することができる。図11及び図1
2に示すとおり、任意の二つの放射線源の直接像と鏡像のピークの比のどちらと
も、実際の放射線源の強度比に近接している。例えば、S1とS2とに対する比は
、直接像と鏡像との比に関してそれぞれ1.2と1.0とであり、計測強度比は
1.0である。放射線源の位置での遷移領域のピーク対ピークの振幅比は、セシ
ウム源強度にも比例する。
コバルト源(S4)強度は(線量計で計測したとおり)S3(セシウム)のそれ
のほぼ2倍であり、S1(セシウム)及びS2(セシウム)の強度とほぼ同一であ
るが、走査のピーク対ピーク遷移領域は、セシウムに比べたコバルトの強度比に
比例しない。例えば、2組のデータと二つの像形式に対する平均値を用いれば、
計測強度に対する比と同じように実験的ピーク比は、S1/S2=1である。しか
しながら、S4/S3に関しては、ピーク比は1.06であり、このとき実際の強
度比は1.7である。この不一致は、センサのエネルギー依存性に起因する。よ
り高い強度の(即ち、1.17MeV及び1.33MeV)コバルトのガンマ線
は、より数多くのパルスを発生するが、しかし吸収されるエネルギーが少いため
(即ち、エネルギーが高いと線形エネルギー伝送、dE/dxが少なくなる)、シ
ンチレーター内のせん光の発生(light flashes)は少なくなり、従って、光電
子増倍管の出力電流の発生は少なくなる。
未知の放射線源の強度と、それぞれの該放射線源への検出装置からの距離とは
、放射線源から検出装置への直線に対して、ある角度にて検知装置を元の位置か
ら既知の距離だけ離すように動かして決定することができる。実験的に簡単に応
用できる他の方法は、放射線源からセンサへの元になる線に沿ってセンサを動か
し
て、センサをS1から離すことである。図13は、4個の固定された放射線源と
、新たな位置の検出装置を用いた、2回の走査の結果を含む。ここでも、その再
現性は2回の独立した走査に対して良好である。それぞれの放射線源に対する新
たな走査角と、それらの計測角とは、図13に示すように良好に一致している。
4個の放射線源を用いる実験では、他の3個の放射線源の2倍のエネルギーを
有する1個の放射線源を含む放射線源の分布を走査し、且つセンサから放射線源
までの距離を決定することができるセンサの性能が実証された。しかし、本発明
は、全く異質のエネルギーを有する2個の異なる放射線源を走査して、正確に該
放射線源を位置決めすることもできる。これを示すため、137Cs源とX線源と
の走査を、SCセンサを用いて行った。図15は、137Cs源(662keVガ
ンマ線)と、有効エネルギー174keVのX線の360度走査を示す。検出装
置で計測した174keVのX線強度は、137Cs源のそれのほぼ3.2倍であ
った。その実験値は、遷移領域内のピーク対ピーク値から決定されるように、約
4.2倍あった。走査値に対する計測比の不一致は、センサのエネルギー依存性
同様、174keVという低い光子エネルギーにおける減衰の増加に起因する。137
Csと174X線源との間の実験角は、計測値の54.5度に対して、55
.5度である。従って、一致はどの形式の像に対しても1度以内になる。この実
験はより低X線エネルギーである46keVにおいて類似の角位置精度をもって
繰り返された。
前述のとおり、本発明は極めて高い角分解能と4πの取り入れ立体角とをもっ
て構成され得る。限界分解能と、計数或は電流比の値Rとは、計数統計と電流及
び角度計測の精度とによって決定される。3種類の異なるセンサ、即ち、前述の
電離箱、ガイガー・ミュラー及びシンチレーター検出器は、本発明に従って、あ
らゆる異なる応用にも用いることができる。これら検出器は、全て計数モード或
は電流モードで動作し、ガンマ線或はX線の光子に照射される場合には、放射線
のフィールドで回転している間中、階段関数の応答を表示する。前述のとおり、
1.25弧(アーク)秒の実験的角分解能が、ゼロ検出器として動作する電離箱
センサにて得られた。議論された計測が教示するところでは、本発明は、用いる
形式の計数器に応じて、14keVから1250keVまでのエネルギー領域を
包括して働く。光−コンプトン放出電流の計算結果は、これら装置が少なくとも
20MeVまでの高いガンマ線エネルギーに対して働くはずであることを示唆し
ている。これら3種類の装置形式の強度感度は、1.0メガラド(megarads)/
時から背景放射(典型的には15μラド(μrads)/時)に至るまでの強度値範
囲を包括する。(例えば宇宙空間(outerspace)のような)背景放射の強度がよ
り低く、そのエネルギーがより高い領域において、シンチレーターセンサは数光
子/cm2の強度を検出して、その放射線源を位置決めすることが可能である。
本発明は、放射線源の直接的な撮像装置として用いてもよいし、放射線で照射
された物体からの反射放射線の撮像装置として用いることもできる。この撮像性
能の原理は、任意の放射方向分布に対するセンサの応答の誘導として以下に説明
する。
り、上部回転平面から0とπとの間の角度を介して到達すると仮定する。従って
、検出装置の出力σの式はつぎの通りになる:
ここで、θとφとは図17に示すように、放射線の検出装置に対する角度関係
であり、Sは検出装置の感度、kは比例係数である。
従って、これはつぎの積分方程式に導かれる:作原理によれば:
分方程式は解析的につぎのように解くことができる:
この放射線は、上部回転平面からのみ到達するため、L(0)=0及びL(π
)=D(全線量が一定)となる。従って、
または
となる。
こうして検出装置の回転軸に垂直な平面への入射角の関数としての入射強度分
布は、観察される検出装置の出力の1次導関数に比例している。同一である。従って、放射線が全回転平面を介して送出される場合、強度分布は
つぎのように全平面の寄与の和になるはずである:
この関係は強度の突然変化が検知器平面に平行な入射に近接する角度で生じる
当する。この場合には、放射線は高Z板或は低Z板を介して長い経路を、入射放
射線の著しい吸収を惹起しながら進行する。その結果、以下に示す実験結果にて
分るように、遷移点の近傍で到達の過不足(アンダーシュート或はオーバーシュ
ート)を生じる。
放射線撮像装置としての本発明の有用性を立証するため、半円の銅フィルタ兼
支持体を、図18に示すように形成した。半円構造はデータの解釈を容易にする
ために選ばれた。本発明は円を描いて回転する仕方なので、湾曲構造は理論上偏
平として点描してある。この銅の支持体は、半径171mmで180度を包括し
、本発明に従う放射線検出装置或は撮像装置は、図示のとおり、銅の支持体中の
中心を占めている。2層のトリウム(Th)が検出装置或は撮像装置から計測さ
れるように銅の支持体に取り付けられ、28.5度で始まり73.5度で終わっ
ている。Thの第3の層も銅の支えに取り付けられたが、この第3の層は検出装
置或は撮像装置により計測されるように28.5度で始まり、133度で終わっ
ている。この検出装置或は撮像装置は、この構造の内部で回転し、検出装置或は
撮像装置からの総計数が回転角に対してプロットされた。このプロットを図19
に示す。明らかに示されるように、総計数対角度のプロットの勾配は、Thの層
が出発し終了するそれぞれの遷移点で変化する。更に、3層のThが存在する区
画からの勾配の変化程度は、単一層のThが在る区画の勾配の3倍である。従っ
て、本発明は、放射線源を3次元の放射線源強度関数として撮像(イメージング
)することができる。図19の破線は、データから直接得られる実線で示すプロ
ットの1次導関数を示す。この一次導関数は、単一層のThと対照して、3層の
Thの深さ/強度を明らかに表わしている。
前述の説明によって限定されないその他の特徴及び修正とが、本発明の意図の
範囲内に在ることを理解されたい。当業者によってさらに認識されることになろ
うが、放射線検知器を挾持するあらゆる構成、検出器、種々のZ材料及び厚さの
あらゆる組合せによって、ここで説明した結果に達することができる。従って、
本発明は前述の説明によってではなく、添付の請求の範囲によってのみ限定され
るべきであろう。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項
【提出日】平成10年3月19日(1998.3.19)
【補正内容】
請求の範囲
1.指向性放射線検出装置であって、
少なくとも第1及び第2の側を有する放射線に敏感な手段と、
第1の原子番号を有し、前記放射線に敏感な手段の前記第1の側に設けられる
第1の材料領域と、
前記第1の材料領域の原子番号とは異なる第2の原子番号を有し、前記放射線
に敏感な手段の前記第2の側に設けられる第2の材料領域と、
ここで、前記第1及び第2の領域の前記第1及び第2の原子番号を充分に
相違させて、放射線が前記検出装置に入射するとき、前記第1及び第2の領域間
で電子の順方向及び逆方向の放出に差が存在するようにし、
前記放射線に敏感な手段からの信号を検出する手段と、を含むことを特徴とす
る指向性放射線検出装置。
2.前記検出器を回転させるための手段をさらに含むことを特徴とする請求項1
に記載の検出装置。
3.前記放射線に敏感な手段がガイガー・ミュラー計数器であることを特徴とす
る請求項2に記載の検出装置。
4.前記ガイガー・ミュラー計数器が放射線を透過させ得る少なくとも2つの側
を有することを特徴とする請求項3に記載の検出装置。
5.前記ガイガー・ミュラー計数器の少なくとも2つの側が薄いことを特徴とす
る請求項4に記載の検出装置。
6.前記放射線に敏感な手段がシンチレーション計数器であることを特徴とする
請求項2に記載の検出装置。
7.前記放射線に敏感な手段が固体計数器であることを特徴とする請求項2に記
載の検出装置。
8.前記第1の材料領域がプラスチックによって作製され、前記第2の材料領域
が高原子番号の材料で作製されていることを特徴とする請求項2に記載の検出装
置。
9.前記信号を検出する手段からの信号数が極大の方向を計算するための手段を
さらに含むことを特徴とする請求項2に記載の検出装置。
10.指向性放射線検出装置であって、
それぞれが少なくとも第1及び第2の側を有する少なくとも2つの放射線に敏
感な手段と、
第1の原子番号を有し、前記放射線に敏感な手段のそれぞれの前記第1の側に
設けられる少なくとも2つの材料領域と、
前記第1の材料領域の原子番号とは異なる第2の原子番号を有し、前記放射線
に敏感な手段のそれぞれの前記第2の側に設けられる少なくとも2つの材料領域
と、
ここで、それぞれの前記放射線に敏感な手段の前記第1及び第2の領域の
前記第1及び第2の原子番号を充分に相違させて、放射線が前記検出装置に入射
するとき、前記第1及び第2の領域間で電子の順方向及び逆方向の放出に差が存
在するようにし、
前記少なくとも2つの放射線に敏感な手段からの信号を検出する手段と、を含
むことを特徴とする指向性放射線検出装置。
11.前記検出装置を回転させるための手段をさらに含むことを特徴とする請求
項10に記載の検出装置。
12.前記放射線に敏感な手段がガイガー・ミュラー計数器であることを特徴と
する請求項11に記載の検出装置。
13.前記ガイガー・ミュラー計数器が放射線を透過させ得る少なくとも2つの
側を有することを特徴とする請求項12に記載の検出装置。
14.前記ガイガー・ミュラー計数器の少なくとも2つの側が薄く作製されるこ
とを特徴とする請求項13に記載の検出装置。
15.前記放射線に敏感な手段がシンチレーション計数器であることを特徴とす
る請求項11に記載の検出装置。
16.前記放射線に敏感な手段が固体計数器であることを特徴とする請求項11
に記載の検出装置。
17.前記第1の材料領域がプラスチックによって作製され、前記第2の材料領
域が高原子番号の材料で形成されていることを特徴とする請求項11に記載の検
出装置。
18.前記信号を検出する手段からの信号数が極大の方向を計算するための手段
をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の検出装置。
19.放射線撮像装置であって、
それぞれが少なくとも第1及び第2の側を有する少なくとも2つの放射線に敏
感な手段と、
第1の原子番号を有し、前記放射線に敏感な手段のそれぞれの前記第1の側に
設けられる少なくとも2つの材料領域と、
前記第1の材料領域の原子番号とは異なる第2の原子番号を有し、前記放射線
に敏感な手段のそれぞれの前記第2の側に設けられる少なくとも2つの材料領域
と、
ここで、それぞれの前記放射線に敏感な手段の前記第1及び第2の領域の
前記第1及び第2の原子番号を充分に相違させて、放射線が前記検出装置に入射
するとき、前記第1及び第2の領域間で電子の順方向及び逆方向の放出に差が存
在するようにし、
前記少なくとも2つの放射線に敏感な手段からの信号を検出する手段と、
前記撮像装置を回転させるための手段と、
前記信号を検出する手段と前記撮像装置の回転角度から検出した信号の1次導
関数を計算するための手段と、を含むことを特徴とする放射線撮像装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.指向性放射線検出装置であって、 少なくとも第1及び第2の側を有する放射線に敏感な手段と、 第1の原子番号を有し、前記放射線に敏感な手段の前記第1の側に設けられる 第1の材料領域と、 前記第1の材料領域の原子番号とは異なる第2の原子番号を有し、前記放射線 に敏感な手段の前記第2の側に設けられる第2の材料領域と、 ここで、前記第1及び第2の領域の前記第1及び第2の原子番号を充分に 相違させて、放射線が前記検出装置に入射するとき、前記第1及び第2の領域間 で電子の順方向及び逆方向の放出に差が存在するようにし、 前記放射線に敏感な手段からの信号を検出する手段と、を含むことを特徴とす る指向性放射線検出装置。 2.前記検出器を回転させるための手段をさらに含むことを特徴とする請求項1 に記載の検出装置。 3.前記放射線に敏感な手段がガイガー・ミュラー計数器であることを特徴とす る請求項2に記載の検出装置。 4.前記ガイガー・ミュラー計数器が放射線を透過させ得る少なくとも2つの側 を有することを特徴とする請求項3に記載の検出装置。 5.前記ガイガー・ミュラー計数器の少なくとも2つの側が薄いことを特徴とす る請求項4に記載の検出装置。 6.前記放射線に敏感な手段がシンチレーション計数器であることを特徴とする 請求項2に記載の検出装置。 7.前記放射線に敏感な手段が固体計数器であることを特徴とする請求項2に記 載の検出装置。 8.前記第1の材料領域がプラスチックによって作製され、前記第2の材料領域 が高原子番号の材料で作製されていることを特徴とする請求項2に記載の検出装 置。 9.前記信号を検出する手段からの信号数が極大の方向を計算するための手段を さらに含むことを特徴とする請求項2に記載の検出装置。 10.指向性放射線検出装置であって、 それぞれが少なくとも第1及び第2の側を有する少なくとも2つの放射線に敏 感な手段と、 第1の原子番号を有し、前記放射線に敏感な手段のそれぞれの前記第1の側に 設けられる少なくとも2つの材料領域と、 前記第1の材料領域の原子番号とは異なる第2の原子番号を有し、前記放射線 に敏感な手段のそれぞれの前記第2の側に設けられる少なくとも2つの材料領域 と、 ここで、それぞれの前記放射線に敏感な手段の前記第1及び第2の領域の 前記第1及び第2の原子番号を充分に相違させて、放射線が前記検出装置に入射 するとき、前記第1及び第2の領域間で順方向及び逆方向の放出に差が存在する ようにし、 前記少なくとも2つの放射線に敏感な手段からの信号を検出する手段と、を含 むことを特徴とする指向性放射線検出装置。 11.前記検出装置を回転させるための手段をさらに含むことを特徴とする請求 項10に記載の検出装置。 12.前記放射線に敏感な手段がガイガー・ミュラー計数器であることを特徴と する請求項11に記載の検出装置。 13.前記ガイガー・ミュラー計数器が放射線を透過させ得る少なくとも2つの 側を有することを特徴とする請求項12に記載の検出装置。 14.前記ガイガー・ミュラー計数器の少なくとも2つの側が薄く作製されるこ とを特徴とする請求項13に記載の検出装置。 15.前記放射線に敏感な手段がシンチレーション計数器であることを特徴とす る請求項11に記載の検出装置。 16.前記放射線に敏感な手段が固体計数器であることを特徴とする請求項11 に記載の検出装置。 17.前記第1の材料領域がプラスチックによって作製され、前記第2の材料領 域が高原子番号の材料で形成されていることを特徴とする請求項11に記載の検 出装置。 18.前記信号を検出する手段からの信号数が極大の方向を計算するための手段 をさらに含むことを特徴とする請求項11に記載の検出装置。 19.放射線撮像装置であって、 それぞれが少なくとも第1及び第2の側を有する少なくとも2つの放射線に敏 感な手段と、 第1の原子番号を有し、前記放射線に敏感な手段のそれぞれの前記第1の側に 設けられる少なくとも2つの材料領域と、 前記第1の材料領域の原子番号とは異なる第2の原子番号を有し、前記放射線 に敏感な手段のそれぞれの前記第2の側に設けられる少なくとも2つの材料領域 と、 ここで、それぞれの前記放射線に敏感な手段の前記第1及び第2の領域の 前記第1及び第2の原子番号を充分に相違させて、放射線が前記検出装置に入射 するとき、前記第1及び第2の領域間で順方向及び逆方向の放出に差が存在する ようにし、 前記少なくとも2つの放射線に敏感な手段からの信号を検出する手段と、 前記撮像装置を回転させるための手段と、 前記信号数と前記撮像装置の回転角とから検出した多数の信号の1次導関数を 計算するための手段と、を含むことを特徴とする放射線撮像装置。
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