JP2000512747A - 小容量サンプルの化学分析に用いられる光学式検出装置 - Google Patents
小容量サンプルの化学分析に用いられる光学式検出装置Info
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1. 小容量サンプルの化学分析に用いられる光学式検出装置において、 誘導光を出す光源(21)と、 サンプル用の測定室(7)と、 測定室(7)内のサンプルから出た光を受ける光電子検出素子(22)と、 誘導光又はサンプルからの光に対する光伝導手段とを有し、 複数の略平面状の薄層部材(2〜7;2a、2b、3a、3b、4a、4b、 6a、6b、7)がサンドイッチ構造で配置されており、 上記部材(2〜7;2a、2b、3a、3b、4a、4b、6a、6b、7、 が光源(21)、測定室(7)、光電子検出素子(22)及び上記光伝導手段を 有することを特徴とする光学式検出装置。 2. 上記部材(2〜7;2a、2b、3a、3b、4a、4b、6a、6b、 7)がそれぞれ、組立て作業の際に隣り合う部材同士を連結するための連結手段 (80)を有することを特徴とする請求項1の装置。 3. 部材(4;4a、4b)は、1つの平面上に配置された光伝導用の光学素 子(41、42)を有することを特徴とする請求項2の装置。 4. 全ての光源(21)は、部材(2;2a)の1つに設けてあり、1つの平 面上に配置されていることを特徴とする請求項3の装置。 5. 全ての光電子検出素子(22)は、部材(2;2b)の1つに設けてあり 、1つの平面上に配置されていることを特徴とする請求項4の装置。 6. 部材(3、6;3a、3b、6a、6b)は、特にダクト状の入射光路( 31、32、61、62;31a、32b、61a、62b)を有することを 特徴とする請求項5の装置。 7. 測定室(7)を有する部材は、光源(21)を有する部材(2a)と光電 子検出素子(22)を有する部材(2b)との間に配置されることを特徴とする 請求項6の装置。 8. 薄層部材(2a、2b、3a、3b、4a、4b、6a、6b、7)と、 該部材内に設けた光源(21)、光学素子(41)、光導波路(31a、61a 、32b、62b)、光電子検出素子(22)及び測定室(7)とは、互いに相 対的に配置されるとともに、複数の出射光測定装置を形成し、 各出射光測定装置は、 光源(21)の1つと、 光学素子(41)の1つと、 通路(31a、61a)で形成されているとともに、誘導光を測定室(7)に 導くための入射光路と、 光電子検出素子(22)の1つと、 通路(32b、62b)で形成されているとともに、測定室(7)内のサンプ ルから出た光を光電子検出素子(22)に導くための出射光路とを有することを 特徴とする請求項7の装置。 9. 各出射光測定装置に別の光学素子(42)の1つがあって、この光学素子 (42)が測定室(7)と光電子検出素子(22)の間に配置されていることを 特徴とする請求項8の装置。 10. 各入射光路は、該入射光路から出た誘導光が略垂直に測定室(7)に接 触するように配置されていることを特徴とする請求項8又は9のいずれかの装置 。 11. 出射光測定装置が測定室(7)を実質的に空間的に分かれた領域内で誘 導光と接触させることを特徴とする請求項8ないし10のいずれか1つの装置。 12. 光源(21)と光電子検出素子(22)は、同一部材(2)内に設けら れるとともに、該部材の1つの平面上に配置されていることを特徴とする請求項 6の装置。 13. 1つの平面上に光フィルタ(51、52、53)、特にマイクロ光フィ ルタを有する部材(5)が設けてあることを特徴とする請求項12の装置。 14. 薄層部材(2〜7)と、該部材内に設けた光源(21)、光フィルタ( 51、52、53)、光学素子(41、42)、光導波路(31、32、61、 62)、光電子検出素子(22)及び測定室(7)とは、互いに相対的に配置さ れるとともに、複数の入射光測定装置を形成し、 各入射測定装置は、 光源(21)の1つと、 光フィルタ(51)の1つと、 光学素子(41)の1つと、 通路(31、61)で形成されているとともに、誘導光を測定室(7)に導く ための入射光路と、 光電子検出素子(22)の1つと、 通路(32、62)で形成されているとともに、測定室(7)内のサンプルか ら出た光を光電子検出素子(22)に導くための出射光路とを有することを特徴 とする請求項13の装置。 15. 各入射光測定装置において、入射光路と出射光路は互いにある傾斜角で 配置されていることと、 これら2つの通路は、測定室(7)の領域に配置されるとともにサンプルから の光用に光入射領域を形成する共通の端部を有するように結合することを特徴と する請求項14の装置。 16. 各入射光測定装置は、別の出射光路により測定室(7)に光学結合した 別の光電子検出素子(22)を有し、 この別の出射光路は、上記入射光路に対しある傾斜角で配置されるとともに、 同様に上記入射光路と結合することを特徴とする請求項15の装置。 17. 各入射光測定装置は、別の入射光路により測定室(7)に光学結合した 別の光源(21)を有し、 この別の入射光路は、上記出射光路に対しある傾斜角で配置されるとともに、 同様に上記出射光路と結合することを特徴とする請求項15の装置。 18. 各入射光測定装置において、光学素子(41)の1つが各光源(21) と測定室(7)の間に設けてあるとともに、光学素子(42)の別の1つが各光 電子センサ(22)と測定室(7)の間に設けてあり、 これら光学素子(4L42)が全て1つの平面上に配置されていることを特徴 とする請求項13ないし17のいずれか1つの装置。 19. 各入射光測定装置において、光フィルタ(51、52)の1つが、各光 源(21)と測定室(7)の間に設けてあるとともに、各光電子センサ(22) と測定室(7)の間にも設けてあり、 これら光フィルタ(51、52)が全て1つの平面上に配置されていることを 特徴とする請求項13ないし18のいずれか1つの装置。 20. 各入射光測定装置は、実質的に空間的に分かれた領域で測定室(7)を 誘導光と接触させることを特徴とする請求項13ないし21のいずれか1つの装 置。 21. 入射光測定装置の配置は、該入射光測定装置からの誘導光が接触する測 定室(7)の領域が2次元的に配置されるようになっていることを特徴とする請 求項20の装置。 22. 測定室(7)は、サンプル及び誘導光が接触するセンサ層(72)を有 することを特徴とする請求項13ないし21のいずれか1つの装置。 23. センサ層(72)は、異なる物質に反応性のある異なるゾーン(721 〜726)を有することを特徴とする請求項22の装置。 24. 光学素子(41、42)がマイクロ光学素子であることを特徴とする請 求項3ないし23のいずれか1つの装置。 25. マイクロ光学素子が屈折性又は回折性あるいはハイブリッドのマイクロ 光学素子であることを特徴とする請求項24の装置。 26. 測定室(7)が複数のサンプル室(75)を有することを特徴とする上 記請求項のいずれか1つの装置。 27. 光源(21)が発光ダイオードであることを特徴とする上記請求項のい ずれか1つの装置。 28. 部材(2)の1つが制御・評価装置(29)を有することを特徴とする 上記請求項のいずれか1つの装置。
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