JP2000503110A - 使い捨て較正装置付分光計システム - Google Patents
使い捨て較正装置付分光計システムInfo
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.測定のために物質または組織に放射を送り出す分光測定器と、 較正装置ホルダーと、 前記較正装置ホルダーに設置できる較正装置とを有し、前記較正装置は、 放射を通過させることができる開口を含む構造体と、 前記開口に設けられ、前記分光測定器を較正するために前記放射の一部を 戻すことができる取外し可能な較正ターゲットとを有し、 前記物質または組織に対して測定がおこなえるように前記取外し可能な校 正ターゲットは前記開口から取り外すことができる ことを特徴とする分光計システム。 2.前記開口に設けられた窓をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の分 光計システム。 3.前記取外し可能な較正ターゲットは、前記取外し可能な較正ターゲットを前 記開口から取り外すために把持することができる引き剥がしつまみを含むことを 特徴とする請求項1に記載の分光計システム。 4.前記取外し可能な較正ターゲットは、前記取外し可能な較正ターゲットを前 記窓から取り外すために把持することができる引き剥がしつまみを含むことを特 徴とする請求項2に記載の分光計システム。 5.前記構造体は前記物質または組織と分光計システムとの間の分離をもたらす ように形成されていることを特徴とする請求項1に記載の分光計システム。 6.前記構造体と窓は前記物質または組織と分光計システムとの間にバリヤーを 有することを特徴とする請求項2に記載の分光計システム。 7.前記構造体と窓は前記組織と分光計システムとの間に設けた感染シールドを 有することを特徴とする請求項2に記載の分光計システム。 8.測定のために物質または組織に放射を送り出す分光測定器と、 較正装置ホルダーと、 前記較正装置ホルダーに設置できる較正装置とを有し、前記較正装置は、 放射を通過させることができる構造体と、 前記構造体の回りに設けられ、前記分光測定器を較正するために前記放射 の一部を戻すことができる取外し可能な較正ターゲットとを有し、 前記物質または組織に対して測定がおこなえるように前記取外し可能な校 正ターゲットは前記構造体から取り外すことができる ことを特徴とする分光計システム。 9.較正装置ホルダーを含むハウジングと、 前記ハウジングに設置され、測定のために前記較正装置ホルダーを介して物質 または組織に放射を送り出す分光測定器と、 前記較正装置ホルダーに取付ることができる較正装置とを有し、前記校正 装置は 前記放射を通過させることができる窓を含む構造体と、 前記窓に配列され、前記分光測定器を較正するために前記放射の一部を戻 すことができる取外し可能な較正ターゲットとを有し、 前記物質または組織に対して測定がおこなえるように前記取外し可能な校 正ターゲットは前記窓から取り外すことができる ことを特徴とする分光計システム。 10.前記分光測定器は、 出力放射を出力し、戻り放射を受け取って前記戻り放射を戻りスペクトル情報 として検出する光学ユニットと、 記光学ユニットに接続されて前記戻りスペクトル情報を受け取りかつ処 理するためのプロセッサとを有する ことを特徴とする請求項1に記載の分光計システム。 11.前記光学ユニットは、前記出力放射を出力するための光源と、前記戻り放 射を検出して前記戻りスペクトル情報を出力するための検出器アレーとを有する ことを特徴とする請求項10に記載の分光計システム。 12.前記光学ユニットはさらに、前記戻り放射をその波長にしたがって前記検 出器アレーに向けて回折させる格子を含むことを特徴とすることを特徴とする請 求項11に記載の分光計システム。 13.前記較正装置の前記構造体は前記システムから容易に取り外すことができ ることを特徴とする請求項1に記載の分光計システム。 14.出力端から放射を出力する分光計システムを較正する方法であって、 前記分光計システムの前記出力端を覆うように、取外し可能な較正ター ゲットを有する較正装置を配置し、 前記分光計システムを作動させて較正用測定をおこない、 前記取外し可能な較正ターゲットを前記較正装置から取り外す ことを特徴とする較正方法。 15.前記取外しステップは、前記分光計システムに窓を取付けたままの状態で 、前記較正装置から前記取外し可能な較正ターゲットを取り外すことを含み、前 記放射は前記窓を通して出力されることを特徴とする請求項14に記載の較正方 法。 16.前記較正用測定に基づいて較正情報を計算するステップをさらに含むこと を特徴とすることを特徴とする請求項14に記載の較正方法。 17.前記較正ターゲットに取付けられたつまみをさらに含む分光計システムで あって、前記つまみを使って前記較正ターゲットを前記窓から引き剥がしたとき 前記較正ターゲットを機械的に変形させる切り取り線が前記較正ターゲットに設 けられているることを特徴とする請求項2に記載の分光計システム。 18.第一つまみと第二つまみをさらに含む分光計システムであって、前記較正 ターゲットは前記較正ターゲットを第一領域と第二領域に分割する切取り線を有 し、前記第一および第二つまみは前記第一および第二領域にそれぞれ取り付けら れているることを特徴とする請求項2に記載の分光計システム。 19.前記構造体に取付けられた当接アタッチメントをさらに含むことを特徴と する請求項1に記載の分光計システム。 20.前記当接アタッチメントは当接環状体をさらに含むことを特徴とする請求 項19に記載の分光計システム。 21.前記当接アタッチメントは前記窓の延長部であることを特徴とする請求項 19に記載の分光計システム。 22.前記構造体は、前記取外し可能な較正ターゲットを前記構造体の前記開口 に保持するために前記開口に沿って配列された隆起を有するることを特徴とする 請求項1に記載の分光計システム。 23.組織内のビリルビン濃度を皮膚を介して測定する方法であって、 較正ターゲットに対して較正用測定をおこない、その結果得られた較正データ を記憶し、 前記組織に光を当て、 前記組織から散乱された光の周波数スペクトルを検出し、 前記組織の成熟度を示す第一パラメータを前記スペクトルの第一部分から計算 し、 前記組織内のメラニン量を示す第二パラメータを前記スペクトルの第二部分か ら計算し、 前記組織の血液量を示す第三パラメータを前記スペクトルの第三部分から計算 し、 前記組織内の未修正ビリルビン濃度を示す第四パラメータを前記スペクトルの 第四部分から計算し、 前記組織内の修正済みビリルビン濃度を前記第一、第二、第三および第四パラ メータの関数として計算し、 前記較正データを使って前記修正済みビリルビン濃度を調整して較正済みかつ 修正済みビリルビン濃度を求めるステップを含み、 前記較正済みかつ修正済みビリルビン濃度は、光源の輝度、送出側光学系、収 集側光学系、検出感度、電子ドリフト、および温度や湿度等の環境条件における ユニット毎のばらつきや時間経過に伴う変動のいずれかまたは全てを補償するこ とができることを特徴とする方法。 24.組織内のビリルビン濃度を皮膚を介して測定する方法であって、 分光計システム上に、較正ターゲットを有する較正装置を配置し、 前記較正ターゲットに対して較正用測定をおこない、その結果得られた較正デ ータを記憶し、 前記較正ターゲットを前記較正装置から取外し、 前記組織に光を当て、 前記組織から反射された光の周波数スペクトルを検出し、 前記組織の成熟度を示す第一パラメータを前記スペクトルの第一部分から計算 し、 前記組織内のメラニン量を示す第二パラメータを前記スペクトルの第二部分か ら計算し、 前記組織の血液量を示す第三パラメータを前記スペクトルの第三部分から計算 し、 前記組織内の未修正ビリルビン濃度を示す第四パラメータを前記スペクトルの 第四部分から計算し、 前記組織内の較正済みかつ修正済みビリルビン濃度を、前記得られた較正デー タと共に前記第一、第二、第三および第四パラメータの関数として計算するステ ップを含むことを特徴とする方法。 25.測定のために物質または組織に放射を送り出す分光測定器と、 前記放射を較正用放射として散乱させて前記分光測定器に受け取らせることに より較正をおこなうよう配列された較正装置とを有し、 前記分光測定器が引き続いて較正された測定をおこなうことができることを特 徴とする分光計システム。 26.前記較正装置は前記放射を通過させるための開口を含む構造体を有するこ とを特徴とする請求項25に記載の分光計システム。 27.前記較正装置は、前記放射を前記較正用放射として散乱させる、前記開口 上に配列された取外し可能な較正ターゲットをさらに有することを特徴とする請 求項26に記載の分光計システム。 28.測定のために物質または組織に放射を送り出す測定システムに使用される 較正装置であって、 放射を通過させることができる窓を含む構造体と、 前記窓に配置され、かつ前記測定システムを較正するために前記放射の一部を 戻すことができる取外し可能な較正ターゲットとを有し、 前記物質または組織に対して測定がおこなえるように前記取外し可能な較正タ ーゲットは前記窓から取り外すことができることを特徴とする較正装置。 29.前記窓は前記放射が通過できる材料を有することを特徴とする請求項28 に記載の較正装置。 30.前記取外し可能な較正ターゲットは、前記窓から前記取外し可能な較正タ ーゲットを取り外すために把持できる引き剥がしつまみを含むことを特徴とする 請求項28に記載の較正装置。 31.前記構造体と窓は前記物質または組織と前記測定システムとの間にバリヤ ーを有することを特徴とする請求項28に記載の較正装置。 32.前記構造体と窓は前記組織と前記測定システムとの間に感染シールドを有 することを特徴とする請求項28に記載の較正装置。 33.前記構造体はさらに、前記構造体に取付けられ前記組織または物質に接触 する外部環状リングをさらに有することを特徴とする請求項28に記載の較正装 置。 34.放射を出力端から出力する測定システムを較正する方法であって、 取外し可能な較正ターゲットを有する較正装置を前記測定システムの前記出力 端を覆うように配置し、 較正用測定をおこない、 前記取外し可能な較正ターゲットを前記較正装置から取り外すステップを含む ことを特徴とする方法。 35.測定のために物質または組織に音波を送り出す測定システムに使用される 較正装置であって、 前記音波を通過させることができる窓を含む構造体と、 前記窓に配置され、かつ前記測定システムを較正するために前記音波の一部を 反射および/または散乱させることができる取外し可能な較正ターゲットとを有 し、 前記物質または組織に対して測定がおこなえるように前記取外し可能な較正 ターゲットは前記窓から取り外され得ることを特徴とする較正装置。 36.測定のために物質または組織に放射を送り出す測定システムに使用される 較正装置であって、 放射を通過させることができる構造体と、 較正のために前記放射の一部を部分的に戻すように前記構造体に配置された取 外し可能な較正ターゲットとを有し、 前記物質または組織に対して測定がおこなえるように前記取外し可能な較正タ ーゲットは前記構造体から取り外し得ることを特徴とする較正装置。 37.出力端から放射を出力する測定システムを使って組織または物質に対して 較正された測定をおこなう方法であって、 取外し可能な較正ターゲットを有する較正装置を前記測定システムの前記出力 端を覆うように配置し、 較正用測定をおこない、 前記取外し可能な較正ターゲットを前記較正装置から取り外し、 前記組織または物質に対して較正された測定をおこなうべく較正用測定を使っ て前記組織または物質に対して測定をおこなう、ステップを含むことを特徴とす る方法。 38.前記構造体に取付けられた当接アタッチメントをさらに含むことを特徴と する請求項28に記載の較正装置。 39.前記当接アタッチメントは当接環状体をさらに含むことを特徴とする請求 項38に記載の較正装置。 40.前記当接アタッチメントは前記窓の延長部であることを特徴とする請求項 38に記載の較正装置。 41.前記窓は、前記取外し可能な較正ターゲットを前記窓に保持するための隆 起を有するることを特徴とする請求項28に記載の較正装置。
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