JP2000500541A - セン孔測量の検定方法 - Google Patents

セン孔測量の検定方法

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Abstract

(57)【要約】 地層内に形成されたセン孔の測量の検定方法を提供する。この方法は、a)前記セン孔中で、地球フィールドパラメーターおよびセン孔の位置パラメーターを測定するセンサーを選択し、b)該センサーで測定する際に前記パラメーターの理論上の測定不確かさを決定し、c)位置パラメーターおよび地球フィールドパラメーターを、該セン孔内の決められた位置にて測定できるように、前記センサーを操作し、d)前記位置における測定地球フィールドパラーメーターと前記地球フィールドパラメーターの既知の大きさとの差を測定し、および前記差と地球フィールドパラメーターの理論上の測定不確かさとの比を決定し、ならびにe)前記比と位置パラメーター理論上の測定不確かさとの積から、測定位置パラメーターの不確かさを決定する段階からなる。

Description

【発明の詳細な説明】 セン孔測量の検定方法 本発明は、地層に形成されたセン孔(borehole)の測量を検定する方法に関する 。坑穴掘さく(例えば炭化水素採掘が目的)の分野では、地層中の最終目標区域 に確実に到達するよう、ドリルが進むにつれてセン孔の進路を測定することを通 常行う。このような測定は、地球重力場および地球磁場を参照に用いて行う。そ のため、加速度計および磁気計をドリルストリング(drill string)に互いに一定 間隔で組み込む。これらのセンサーは、たいてい信頼性ある結果をもたらすが、 第二の独立の測定が必要であると一般に思われる。この独立の測定は、一般にジ ャイロスコープを用いて行う。セン孔中にケーシングをセットした後、該セン孔 中に該ジャイロスコープが降ろす。このような手順は、コストと時間がかかる。 そこで独立のジャイロスコープ測定の必要性をなくす方法の提供が望まれる。 したがって、本発明の目的は、地層に形成されたセン孔の測量を検定する方法 であって、第二の独立のセン孔測量の必要性をなくす方法を提供することにある 。 本発明によれば、地層に形成されたセン孔の測量の検定方法であって、 a)前記セン孔中で、地球フィールドパラメーター(earth field parameter)お よびセン孔の位置パラメーター(position parameter)を測定するセンサーを選択 し、 b)該センサーで測定する際に前記パラメーターの理論上の測定不確かさを決定 し、 c)該セン孔内の決められた位置にて、該位置パラメーターおよび該地球フィー ルドパラメーターを測定できるように、前記センサーを操作し、 d)前記位置における測定地球フィールドパラーメーターと、前記地球フィール ドパラメーターの既知大きさとの差を測定し、および前記差と地球フィールドパ ラメーターの理論上の測定不確かさとの比を決定し、ならびに e)前記比と位置パラメーターの理論上の測定不確かさとの積から、測定位置パ ラメーターの不確かさを決定する ことからなる該方法が提供される。 地球フィールドパラメーターは、例えば地球重力または地球磁場強度であり得 、セン孔の位置パラメーターは、例えばセン孔の傾斜、またはセン孔の方位であ り得る。 前記位置における測定地球フィールドパラメーター〜前記地球フィールドパラ メーター既知大きさ間の差と、該位置パラメーター理論上の測定不確かさとの比 は、測量の質の予備的評価を形作る。該測定地球フィールドパラメーターが、こ のパラメーターの測定許容誤差内にあれば、すなわち、該比が絶対値1を越えな ければ、該測量の質は少なくとも許容される。もし、該比が絶対値1を越えれば 、測量の質は低いと考えられる。こうして、該比が測量の質の予備測定となり、 この比と該位置パラメーターの理論上の測定不確かさとの積〔工程d)で決定〕 が、測量の質の最良の推定を形作る。 添付図面を用いて、本発明をより詳細に以下に説明する。 図1は、ソリッドステート磁気測量ツールを概略的に示し; 図2は、セン孔の一例における、セン孔に沿った深度に対する、測定重力場強 度と既知重力場強度との差の図であり、 図3は、セン孔の前記一例における、セン孔に沿った深度に対する、測定磁場 強度と既知磁場強度との差の図であり、そして 図4は、セン孔の前記一例における、セン孔に沿った深度に対する、測定デッ プ角(dip-angle)と既知デップ角との差の図である。 図1に、本発明の方法への使用に適したソリッドステート磁気測量ツールを示 す。該ツールは、三つ組の加速度計3および三つ組の磁気計5の形態の複数のセ ンサーを備える(ここでは、見やすさのために、個々の加速度計および磁気計を 示さず、それらの互いに直交した測定方向X、YおよびZを示す)。これらの方 向において、該三つ組の加速度計が加速度成分を測定し、三つ組の磁気計5が磁 場成分を測定する。該ツール1は、該ツールが降ろされるセン孔(図示せず)の 縦軸と一致する縦軸7を有する。セン孔内の該ツール1の高所側方向(high side direction)をHで示す。 該ツール1の通常使用の際、該ツール1は、ドリルストリング(図示せず)に 組み込まれ、セン孔を掘るのに使われる。セン孔内の決められた間隔にて、X、 YおよびZ方向の地球重力場Gおよび地球磁場Bの成分を測定できるように、該 ツール1を操作する。GおよびBの測定成分から、磁場デップ角D、セン孔傾斜 Iおよびセン孔方位Aの大きさを、当該技術に公知の方法によって決定する。こ れらのパラメーターを処理する前に、該ツール1のセンサーが持っているセンサ ー等級を表す校正データ(すなわち、バイアス、スケールファクターオフセット および不整列)、局所地球磁場変動、セン孔の計画軌道、および測定生データに 適用される修正のようなセンサー運転条件に基づいて、G、B、D、IおよびA の理論上の不確かさを決定する。G、B、D、IおよびAの理論上の不確かさは 、主に該センサー精度、および地球フィールドパラメーターの微少変動に基づく 地球フィールドパラメーターの不確かさに依存するので、これらのパラメーター の理論上の各不確かさの合計は、該センサーおよび地球フィールドパラメーター 変動に基づく理論上の不確かさの合計から求まる。この説明に際し、以下の表記 を使用する。 dGth,s=センサーの不確かさに基づく重力場強度Gの理論上の不確かさ; dBth,s=センサーの不確かさに基づく磁場強度Bの理論上の不確かさ; dDth,s=センサーの不確かさに基づくデップ角の理論上の不確かさ; dBth,g=地球磁気の不確かさに基づく磁場強度Bの理論上の不確かさ; dDth,g=地球磁気の不確かさに基づくデップ角の理論上の不確かさ; dIth,s=センサーの不確かさに基づくセン孔傾斜Iの理論上の不確かさ; dAth,s=センサーの不確かさに基づくセン孔方位Aの理論上の不確かさ; dAth,g=地球磁気の不確かさに基づくセン孔方位Aの理論上の不確かさ。 次の段階では、測定から得られた未修正の重力および磁場データを、軸方向お よび交差軸方向の磁気干渉ならびにツール面に依存した不整列について修正する 。それに適した修正方法が、EP−B−0193230に開示されており、その 方法は、入力データとして、予期した局所磁場強度およびデップ角を用いる。そ して、出力データを、修正された重力場強度、磁場強度およびデップ角の形で得 る。これらの修正地球フィールドパラメーター値を、その既知局所値と比較し、 そして各パラメーターに対して計算値と既知値との差を求める。 測量の質の予備的評価は、地球フィールドパラメーターG、BおよびDの修正 測定値と既知値との差を、上記したG、BおよびDの測定不確かさと対比するこ とにより達成される。図2、3および4に、セン孔測量の結果の例を示す。図2 は、セン孔に沿った深度に対する、Gの修正測定値と既知値との差ΔGmの図で ある。図3は、セン孔に沿った深度に対する、Bの修正測定値と既知値との差Δ Bmの図である。図4は、セン孔に沿った深度に対する、Dの修正測定値と既知 値との差ΔDmの図である。この例の地球フィールドパラメーターの測定不確か さは、 Gの不確かさ=dG=0.0023g(gは重力加速度); Bの不確かさ=dB=0.25μT; Dの不確かさ=dD=0.25度 である。 これらの測定不確かさは、図中に、Gの場合が上下境界10、12、Bの場合 が上下境界14、16、そしてDの場合が上下境界18、20で示されている。 図からわかるように、ΔGm、ΔBmおよびΔDmのすべての値は、個々の測定不 確かさの範囲内にあり、したがって、これらは許容される値であると考えられる 。 測定地球フィールドパラメーターG、BおよびDから導かれる位置パラメータ ーIおよびAの不確かさを決定するために、まず、以下の比を決定する: ΔGm/dGth,s ΔBm/dBth,s ΔDm/dDth,s ΔBm/dBth,g ΔDm/dGth,g ここで、 ΔGm=Gの修正測定値と既知値との差; ΔBm=Bの修正測定値と既知値との差; ΔDm=Dの修正測定値と既知値との差 である。 測定傾斜の不確かさを計算するために、上記重力場強度ΔGm/dGth,sの比 は、傾斜の不確かさに寄与するすべての源のレベルを表わすと仮定する。例えば 、ドリルストリングの測量ステーション(一定の長さ)において、該比が0.8 5に等しければ、ドリルストリングのすべてのセンサーの不確かさは0.85× dIth,sのレベルにあると仮定する。したがって、ドリルストリングにおけるす べての測量ステーションの測定傾斜の不確かさは、 ΔIm=abs[(ΔGm/dGth,s)dIth,s] ここで、 ΔImは、センサーの不確かさに基づく測定傾斜の不確かさである。 測定方位の不確かさは、同様の方法で決定されるが、不確かさの二個の源(セ ンサーおよび地球磁気)が、方位の不確かさに寄与し得る。各源について、二個 の比、すなわち、磁場強度およびデップ角が求まり、その結果、4個の方位測定 値不確かさ: ΔAs,B=abs[(ΔBm/dBth,s)dAth,s] ΔAs,D=abs[(ΔDm/dDth,s)dAth,s] ΔAg,B=abs[(ΔBm/dBth,g)dAth,g] ΔAg,D=abs[(ΔDm/dDth,g)dAth,g] となる。 測定方位の不確かさΔAmは、これらの値の最大値: ΔAm=max[ΔAs,B;ΔAs,D;ΔAg,B;ΔAg,D] である。 測定傾斜および方位の不確かさから、横方向位置(lateral position)および上 方位置(upward position)の不確かさが求まる。これらの位置不確かさは、通常 、共分散近似を用いて決定する。簡便のためには、以下のよりやさしい方法を適 用できる。 LPUi=LPUi-1+(AHDi−AHDi-1)(ΔAi msinIi m +ΔAi-1 msinIi-1 m)/2; および UPUi=UPUi-1(AHDi−AHDi-1)(ΔIi m+ΔIi-1 m )/2 ; ここで、 LPUi=位置iにおける横方向位置の不確かさ AHDi=位置iにおける穴に沿った深度 ΔAi m =位置iにおける測定方位の不確かさ ΔIi m =位置iにおける測定傾斜の不確かさ UPUi=位置iにおける上方位置の不確かさ である。 こうして決定された横方向位置の不確かさおよび上方位置の不確かさを、その 後、理論上の横方向および上方位置の不確かさ(理論上の傾斜および方位の不確 かさから導かれる)と対比して、セン孔測量の質の指標を得る。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】1997年11月19日(1997.11.19) 【補正内容】 補正明細書 セン孔測量の検定方法 本発明は、地層に形成されるセン孔(borehole)の測量を検定する方法に関する 。坑穴掘さく(例えば炭化水素採掘が目的)の分野では、地層中の最終目標区域 に確実に到達するよう、ドリルが進むにつれてセン孔の進路を測定することを通 常行う。このような測定は、地球重力場および地球磁場を参照に用いて行う。そ のため、加速度計および磁気計をドリルストリング(drill string)に一定の間隔 で組み込む。これらのセンサーは、たいてい信頼性のある結果をもたらすが、第 二の独立の測定が一般に必要であると思われる。この独立の測定は、一般にジャ イロスコープを用いて行う。ケーシングをセン孔中にセットした後、該セン孔中 に該ジャイロスコープを降ろす。このような手順は、コストと時間がかかる。そ こで独立のジャイロスコープ測定の必要性をなくす方法の提供が望まれる。 EP−A−0 384 537は、セン孔の測量方法を開示し、それは、ダウ ンホールセンサーを用いて測定した地球フィールドパラメーターに基づいて、検 層(logged)セン孔の方向データを計算するものである。精度を上げるために、地 球重力場強度、地球磁場強度および地球磁気デップ角の予測値を、ラグランジュ 乗数法に用いて、三種の束縛適合度(constraint fit)を加速度計および磁気計の 読みに課す。 EP−A−0 654 686は、通常の磁場強度および通常のデップ角をセ ンサーの読みと組み合わせて使用し、磁場の軸成分の最良の推定値を得、該最良 の推定値をセン孔の方位計算に使用する方法を開示する。 したがって、本発明の目的は、地層に形成されたセン孔の測量を検定する方法 であって、第二の独立のセン孔測量の必要性をなくす方法を提供することにある 。 本発明によれば、地層に形成されたセン孔の測量の検定方法であって、 a)前記セン孔中で、地球フィールドパラメーター(earth field parameter)お よびセン孔の位置パラメーター(position parameter)を測定するセンサーを 選択し、
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,DE, DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,IT,L U,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ,CF ,CG,CI,CM,GA,GN,ML,MR,NE, SN,TD,TG),AP(KE,LS,MW,SD,S Z,UG),UA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD ,RU,TJ,TM),AL,AM,AT,AU,AZ ,BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN, CU,CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB,G E,HU,IL,IS,JP,KE,KG,KP,KR ,KZ,LC,LK,LR,LS,LT,LU,LV, MD,MG,MK,MN,MW,MX,NO,NZ,P L,PT,RO,RU,SD,SE,SG,SI,SK ,TJ,TM,TR,TT,UA,UG,UZ,VN

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.地層内に形成されたセン孔の測量を検定する方法であって、 a)前記セン孔中で、地球フィールドパラメーターおよびセン孔の位置パラメー ターを測定するセンサーを選択し、 b)該センサーで測定する際に前記パラメーターの理論上の測定不確かさを決定 し、 c)該位置パラメーターおよび該地球フィールドパラメーターを、該セン孔内の 決められた位置にて測定できるように、前記センサーを操作し、 d)前記位置における測定地球フィールドパラーメーターと前記地球フィールド パラメーターの既知大きさとの差を測定し、および前記差と地球フィールドパラ メーター理論上の測定不確かさとの比を決定し、ならびに e)前記比および位置パラメーター理論上の測定不確かさの積から、測定位置パ ラメーターの不確かさを決定する ことからなる該方法。 2.前記センサーが、少なくとも1個の磁気計および少なくとも1個の加速度計 を持つソリッドステート磁気測量ツールからなる、請求項1の方法。 3.該ソリッドステート磁気測量ツールが、3個の磁気計および3個の加速度計 を含む、請求項2の方法。 4.前記パラメーターの理論上の測定不確かさを決定する段階が、選択されたセ ンサーが有するセンサー群の理論上の測定不確かさを決定することからなる、請 求項1〜3のいずれか一項の方法。 5.前記パラメーターの理論上の測定不確かさが、少なくとも一種のセンサーの 不確かさ、および地球フィールドパラメーターの不確かさに基づく、請求項1〜 4のいずれか一項の方法。 6.さらに、前記比が1を超えれば、測定を認定しないことを含む、請求項1〜 5のいずれか一項の方法。 7.前記位置パラメーターが、セン孔傾斜およびセン孔方位から選ばれる、請求 項1〜6のいずれか一項の方法。 8.操作の第1モードにおいて、該位置パラメーターがセン孔傾斜を形成し、該 地球フィールドパラメーターが地球重力場を形成し、そして該位置パラメーター および地球フィールドパラメーターの理論上の不確かさが、センサーの不確かさ に基づく、請求項7の方法。 9.操作の第2モードにおいて、該位置パラメーターがセン孔方位を形成し、該 地球フィールドパラメーターが地球磁場強度を形成し、そして該位置パラメータ ーおよび地球フィールドパラメーターの理論上の不確かさが、センサーの不確か さに基づく、請求項7または8の方法。 10.操作の第3モードにおいて、該位置パラメーターがセン孔方位を形成し、 該地球フィールドパラメーターが地球磁場強度を形成し、そして該位置パラメー ターおよび地球フィールドパラメーターの理論上の不確かさが、地球磁場の不確 かさに基づく、請求項7〜9のいずれか一項の方法。 11.操作の第4モードにおいて、該位置パラメーターがセン孔方位を形成し、 該地球フィールドパラメーターが地球磁場のデップ角を形成し、そして該位置パ ラメーターおよび地球フィールドパラメーターの理論上の不確かさが、センサー の不確かさに基づく、請求項7〜10のいずれか一項の方法。 12.操作の第5モードにおいて、該位置パラメーターがセン孔方位を形成し、 該地球フィールドパラメーターが地球磁場のデップ角を形成し、そして該位置パ ラメーターおよび地球フィールドパラメーターの理論上の不確かさが、地球フィ ールドパラメーターの不確かさに基づく、請求項7〜11のいずれか一項の方法 。 13.測定位置パラメーターの不確かさを決定する段階が、操作の前記第2、第 第3、第4および第5モードで決定される測定位置パラメーターの絶対最大値を 決定することからなる、請求項9〜12のいずれか一項に記載の方法。 14.図を参照してここに実質的に記載された方法。
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