JP2000347081A - 光学器械の光学軸の調整誤差を検出するための方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、基準方向Ｖ−Ｖに対して光学器械
１の調整誤差を検出するための方法および装置に関す
る。 【解決手段】 本発明によれば、基準光束１７により基
準方向Ｖ−Ｖを示し、この基準光束を、焦点面２に配置
された光学電気検出器３に、不変系１およびアフォーカ
ル系６を介して向ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、基準方向、特に所
望の照準方向に対して、光学器械の光学軸の調整誤差
（ｅｒｒｅｕｒｓ ｄ’ｈａｒｍｏｎｉｓａｔｉｏｎ）
を検出するための方法と装置に関する。本発明はまた、
このような検出装置を含む光学器械に関する。

【０００２】

【従来の技術】知られているように、観測衛星および近
年の宇宙望遠鏡は、同一の基準方向に同時に照準を合わ
せなければならない多数の光学器械を含み、この基準方
向自体が、恒星照準により正確に決定される。

【０００３】前記光学器械の光学軸と基準方向との間
の、主に振動および熱変化による調整誤差を除去しよう
とするために、単独または組み合わせで以下の３つの動
作が主に用いられた。

【０００４】− 前記光学素子を互いに接近させる。

【０００５】− 熱に対してきわめて安定した剛性構造
体に前記光学器械を固定する。

【０００６】− 前記構造体の熱制御を行う。

【０００７】さらに、このように得られた調整の制御
を、できれば周期的に実施することが必要不可欠であ
る。

【０００８】また、こうした光学器械によって実施され
る測定では、妨害光により誤差が生じるので、前記光学
器械における光の入射地点に、大型のダイヤフラムまた
はスクリーンを配置して、妨害光をなくすようにしてい
る。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、これらの不
都合を解消するとともに、前記光学器械の妨害光の排除
作用を高めて、光学器械が機械および熱による変形に敏
感でないようにすることによって、基準方向（たとえば
恒星照準によって与えられる）に対する光学器械の照準
精度を改善することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】このため、本発明によれ
ば、基準方向に対する光学器械の光学軸の調整誤差を検
出するための方法は、 − 基準光束により前記基準方向を示し、 − 前記光学器械に、 ・前記光学器械の焦点面に配置された光学電気検出器
と、 ・前記光学器械の光学軸に同軸で、実像入射ひとみを備
え、この入射ひとみから同じ実像を形成するアフォーカ
ル光学系と、 ・入射ひとみの前記実像の近傍に配置される光学軸の並
進不変系（ｓｙｓｔｅｍｅ ｉｎｖａｒｉａｎｔ ｄｅ
ｔｒａｎｓｌａｔｉｏｎ）であって、該光学軸の並進
不変系が、前記基準光束を受光し、基準光束の入射角に
かかわらず射出光束を発生し、この射出光束が前記基準
光束に平行で、入射ひとみの前記実像の少なくとも大体
の中心から前記光学電気検出器に向けられ、前記光学電
気検出器は、前記光学器械の光学軸が前記焦点面を通る
点に対して、前記焦点面で前記射出光束により形成され
る光点の偏心を示す電気信号を送る、光学軸の並進不変
系と、を組み込むことを特徴とする。

【００１１】かくして、前記調整誤差を検出するための
本発明による装置は、 − 前記基準方向を示す基準光束を発生するための手段
と、 − 前記光学器械に組み込まれた、 ・前記光学器械の焦点面に配置された光学電気検出器
と、 ・前記光学器械の光学軸に同軸で、実像入射ひとみを備
え、この入射ひとみから同じ実像を形成するアフォーカ
ル光学系と、 ・入射ひとみの前記実像の近傍に配置される光学軸の並
進不変系であって、該光学軸の並進不変系が、前記基準
光束を受光し、基準光束の入射角にかかわらず射出光束
を発生し、この射出光束が前記基準光束に平行で、入射
ひとみの前記実像の少なくとも大体の中心から前記光学
電気検出器に配けられる、光学軸の並進不変系と、を含
む。

【００１２】従って、本発明によれば、 − 前記アフォーカル光学系により実像入射および射出
ひとみを形成するので、妨害光を減少し、その結果とし
て光学器械の容量を小さくすることができ、もはやバッ
フルスクリーンおよびまたはダイヤフラムは不要にな
る。恒星照準の場合、同等の大型スクリーンおよびまた
はダイヤフラムを備える知られている光学器械に比べ
て、本発明は、妨害光を約１０００分の１に減らすこと
ができた。

【００１３】− 入射ひとみの前記実像の中心に前記射
出光束を投射可能なため、妨害誤差は全く発生せず、そ
のため、やや焦点をずらした基準光束を投射することが
できる。

【００１４】− 前記光学器械の焦点面に配置された前
記光学電気検出器に、前記射出光束の光点を形成するの
で、各瞬間で、前記光学器械の光学軸が通る点に対する
前記光学電気検出器上のこの光点の位置が、前記基準方
向に対する前記光学器械の軸の瞬間的な調整誤差を示
す。

【００１５】このようにして、たとえばＣＣＤ型の前記
光学電気検出器の出力で、前記調整誤差を示す電気信号
が得られる。この調整誤差信号は、それ故、前記光学器
械の照準誤差を動的に修正することができる。このた
め、前記基準方向における前記光学器械の光学軸の位置
を制御するために、前記調整誤差信号を用いることも検
討できる。前記射出光束に再度中心を合わせることによ
って、前記光学器械から見える光景の像を修正するため
に、たとえばソフトウェアによりこれを実施することが
好ましい。

【００１６】知られているように、光学器械から見えて
前記光学電気検出器により形成される光景の像は、一連
のフレームとして示される。従って、前記光学電気検出
器の出力で、特に明確な調整誤差信号を得るためには、
パルスによる基準光束を使用する。

【００１７】− 第１の幾つかの像フレームの間、前記
光学電気検出器に基準光束パルスを送り、他の第２の像
フレームの間は送らず（たとえば２個のフレームにつき
１個）、１個の第２の像フレームを１個の第１の像フレ
ームから毎回減算し、その結果、差の像が、前記射出光
束の跡だけを含み、この減算により、光学器械から見え
る光景と妨害ノイズとを除去する。従って、光学器械の
軸と基準方向との間の調整誤差情報だけが得られる。

【００１８】− あるいは、きわめて短い光パルス、た
とえば像フレームよりも１０００倍短い光パルスを前記
光学電気検出器に送り、これらのパルスを像フレームの
間に挿入する。それによって、光学器械から見える光景
の観測が妨害されず、前記光景のバックグランドノイズ
が適切に排除される。

【００１９】基準光束は、あらゆる性質のものであって
よく、照準を合わせても合わせなくてもよい。基準光束
の光波長の選択により、光学器械の色収差を考慮して、
必要な場合にはやや焦点をずらした像スポットが得られ
る。

【００２０】第１の実施形態によれば、前記射出光束の
横断面が、前記光学電気検出器を構成する個々の感光性
素子それぞれの感知面のエリアと同じ大きさであり、前
記光学電気検出器は、前記感光性素子が行列として配置
されるマトリクス構造を有する。この場合は特に、前記
基準光束がレーザービームであればとりわけ有利であ
る。

【００２１】変形実施形態では、前記射出光束の横断面
が、前記光学電気検出器を構成する個々の感光性素子そ
れぞれの感知面のエリアよりも大きく、前記射出光束が
前記焦点面に照準の像を形成し、前記光学電気検出器
は、このような感光性素子の少なくとも１つの小型バー
を含む。

【００２２】前記照準は、互いに、また前記小型バーに
対して傾斜した、少なくとも２個の直線区間を含むと、
とりわけ有利である。

【００２３】知られているように、前記アフォーカル光
学系は、レンズおよびまたは凹面鏡により構成可能であ
る。その倍率Ｋは、１よりも大きく、たとえば３である
ことが有利である。何故なら、その場合、前記不変系を
実現する制約がＫ分の１に減じられるからである。

【００２４】有利には、前記光学軸の並進不変系は、中
空の立方体の一隅を形成する直角３面体の内面に沿って
配置された３個の反射面を含み、前記反射面のうちの２
個が、前記基準光束を受光するように構成される一方
で、前記反射面のうちの３番目が、前記光学器械の光学
軸と交差し、前記光学電気検出器に前記射出光束を送る
ように構成される。

【００２５】従って、照準において精度を欠くことな
く、前記基準光束に対して前記光学器械を偏向すること
ができる。

【００２６】前記光学器械により観測される光景および
前記基準光束を、前記光学電気検出器が受光できるよう
にするために、前記第３の反射面は、前記光景から送ら
れる光線が通る、平行面を備えたブレードから構成され
る。前記ブレードは小型化可能であり、前記光学器械の
外形寸法を大型化せずに、この光学器械の内部の熱から
保護された場所に配置される。

【００２７】好適には、前記平行面を持つブレードは、
前記基準光束に関してその反射率を増すように処理され
る。

【００２８】前記光学器械の近傍でかさばるという理由
から、前記基準光束を発生する前記手段を、たとえば数
メートルの距離だけ、前記光学器械から離すことが有利
である。このように離すことは、本発明による装置の構
造体そのものにより可能になる。

【００２９】本発明はさらに、光学軸を基準方向に調整
させる光学器械に関し、この光学器械が、上記のような
調整誤差検出装置を含む。

【００３０】しかも本発明によれば、 − 複数の固定軸を調整する場合、機械および熱を原因
とする寸法決定上の制約を減少できる。

【００３１】− １つまたは複数の光学軸の照準精度を
増すことができるので、恒星照準の場合には特に有利で
ある。

【００３２】− 検出装置は、前記光学軸の並進不変系
の位置決め欠陥に敏感でない。

【００３３】− 干渉計による計測網の望遠鏡を一致さ
せ（開口合成（ｓｙｎｔｈｅｓｅｄ’ｏｕｖｅｒｔｕｒ
ｅ）で）、また、前記基準光束を複数の基準光束に分岐
するという条件で、パワーレーザの異なる経路を一致さ
せることができる。

【００３４】− 場合によっては複数の軸並進を行うこ
とにより、慣性またはジャイロスコープ航法装置と恒星
照準ジャイロレーザとを再調整することができる。

【００３５】添付図により、本発明がどのように実施可
能であるか理解されるであろう。図では、同じ要素に同
じ参照符号を付している。

【００３６】

【発明の実施の形態】図１に概略的に一部を示した光学
器械１は、たとえば望遠鏡タイプであり、光学軸Ｌ−Ｌ
および焦点面２を有する。その半領域（ｄｅｍｉ−ｃｈ
ａｍｐ）は、たとえばα度である。

【００３７】光学器械１は、以下を含む。

【００３８】− 焦点面２に配置されて、シーケンシャ
ル制御装置４の出力４Ａにより制御される、たとえばＣ
ＣＤ型の光学電気検出器３。検出器３の出力３Ａは、像
の生成および処理装置５の入力５Ａに接続されている。

【００３９】− 焦点面２の前方で光学器械１の光学軸
Ｌ−Ｌと同軸に配置され、実像入射ひとみ７を備えるア
フォーカル光学系６。アフォーカル光学系６は、レンズ
およびまたは凹面鏡から構成可能であり、その倍率Ｋ
は、好適には１より大きく、たとえば３である。アフォ
ーカル光学系は、実像入射ひとみ７から中心９Ａの実像
９を与える。この実像は、アフォーカル光学系６と対物
レンズ８との間に配置される。

【００４０】− 光学軸Ｌ−Ｌに心合わせされ、アフォ
ーカル光学系６と光学電気検出器３との間に配置される
対物レンズ８。対物レンズ８は従って、Ｋ・αである半
領域βを有する。

【００４１】光学器械１、検出器３、アフォーカル光学
系６、および対物レンズ８を含むアセンブリは、きわめ
て剛性であり、熱に対して安定している。このために、
ゼロデュール（ＺＥＲＯＤＵＲ）等の名称で商品化され
知られている材料である、カーボン／カーボン材からな
る構造体を構成する。

【００４２】さらに、光学器械１は、たとえば図２に示
したタイプの光学軸の並進不変系１０を含む。図２で
は、不変系１０が、中空の立方体の一隅をなす直角三面
体の内面１４、１５、１６にそれぞれ配置された３個の
反射面１１、１２、１３を含んでいることが分かる。反
射面１１、１２は、概略的に示した中間面１３Ａにより
反射面１３に結合されている。知られているように、反
射面１１または１２の一方である１２に当たる入射光１
７は、他方の反射面１１で反射された後で反射面１３の
方向に送られ、反射面１３は、反射面１１、１２におけ
る入射光の入射角にはかかわらず、この入射光束１７を
前記入射光束１７に平行な射出光束１８として反射す
る。

【００４３】こうした光学軸の並進不変系１０は、前記
反射面１１、１２、１３を一緒に剛性に保持するため
に、機械および熱に対して非常に安定した材料（ゼロデ
ュール、シリカなど）の取付部品（図示せず）を含む。
また不変系１０は、アフォーカル光学系６の実像入射ひ
とみ７の実像９の位置で、光学器械１に挿入され、平行
面を備えるブレードとして構成された前記反射面１３
は、光学器械の光学軸Ｌ−Ｌと４５゜で交差し、光学器
械１を通る光線を通過させることにより、光学器械１が
観測した光景の像を検出器３に形成することができる。

【００４４】反射面１１、１２は光学軸Ｌ−Ｌから離さ
れており、たとえば数メートルの距離ｄだけ離れた光源
１９から送られる光束１７を受光する。入射光束１７
は、光学器械１の軸Ｌ−Ｌに対して所望の照準方向を示
す、前記光源１９の軸Ｖ−Ｖに沿って送られる。

【００４５】かくして、不変系１０は、入射ひとみの実
像９の少なくとも大体の中心９Ａから対物レンズ８を介
して、検出器３に入射光束１７に平行な射出光束１８を
投射することができる。

【００４６】図３では、個々を構成する感光性素子２０
を行列として配置したマトリクス構造を有する、光学電
気検出器３の実施形態３．１を示した。この場合、たと
えばレーザビームである光束１７、１８の横断面が、前
記感光性素子２０の各々の感光面のエリアと同じ大きさ
であり、従って、検出器３．１における光束１８の跡ｖ
が、前記感光性素子２０の制限された数だけを照射する
ことが望ましい。この数は、好適には１であるが、いず
れにしろ最大でも４である。

【００４７】以下の構成もまた容易に構成される。

【００４８】− 光学器械１の光学軸Ｌ−Ｌが、照準軸
Ｖ−Ｖに完全に平行である場合、射出光束１８は前記光
学軸Ｌ−Ｌと完全に一致するので、検出器３における光
束１８の跡ｖは、光学軸Ｌ−Ｌが前記検出器３と交差す
る点ｌと一致する。

【００４９】− 光学器械１の光学軸Ｌ−Ｌが、照準軸
Ｖ−Ｖに完全には平行でない場合、射出光束１８は、光
学軸Ｌ−Ｌとは一致しないので、検出器３における光束
１８の跡ｖは、光学軸Ｌ−Ｌが前記検出器３と交差する
点ｌと一致しない（図３参照）。

【００５０】以下、点ｌと跡ｖとの間の位置の差εは、
照準軸Ｖ−Ｖに対する光学軸Ｌ−Ｌの調整誤差を示す。
たとえば点ｌを通る直交軸系Ｘ、Ｘ−Ｙ、Ｙにおいて座
標ｘ、ｙとして、検出器３により検出される位置の差ε
は、前記検出器３の出力３Ａで得られ、たとえば誤差読
み取り装置２１に伝達される。

【００５１】図４の実施形態３．２では、光学電気検出
器３が、個々の感光性素子２０からなる少なくとも１つ
の小型バー２２から構成されている。この場合、光束１
７、１８の横断面は、前記光学電気検出器３．２を構成
する各感光性素子２０の感光面のエリアよりも大きくす
ることができ、射出光束１８は、焦点面２で照準２３の
像を形成可能である。

【００５２】図４に示したように、照準２３は、互いに
傾斜した、また小型バー２２に対して傾斜した、少なく
とも２個の直線区間２４、２５を含む。

【００５３】かくして、上記の実施形態と同様に、光学
器械１の光学軸Ｌ−Ｌが、照準軸Ｖ−Ｖに完全に平行で
ある場合、射出光束１８は前記光学軸Ｌ−Ｌと完全に一
致するので、照準２３（そのとき位置２３．１にある）
は、光学軸Ｌ−Ｌが小型バー２２と交差する点ｌに心合
わせされ、直線区間２４、２５は、それぞれ小型バー２
２の感光性素子２０Ａ、２０Ｂを照射する。

【００５４】反対に、光学器械１の光学軸Ｌ−Ｌが、照
準軸Ｖ−Ｖに完全には平行でない場合、射出光束１８
は、光学軸Ｌ−Ｌとは一致しないので、照準２３は、調
整誤差εに対応する偏心位置２３．２にある。この偏心
位置２３．２で、直線区間２４、２５は、それぞれ小型
バー２２の感光性素子２０Ｃ、２０Ｄを照射する。素子
２０Ａと２０Ｃを隔てる距離ａおよび、素子２０Ｂと２
０Ｄを隔てる距離ｂにより、調整誤差εが分かることは
容易に理解されるだろう。

【００５５】図示していない特定の実施形態では、光学
電気検出器３．２が、個々の感光性素子２０の小型バー
２２に加えて、小型バー２０と同様で、かつこの小型バ
ーに平行な第２の小型バー（図示せず）を含む。これに
より、上記の情報に加えて、２個の小型バーの距離ａ、
ｂから、調整誤差に関し、光学軸を中心とする回転を示
すローリング情報が得られる。

【００５６】以上のように、検出器３は、実施形態３．
１または３．２とにかかわらず、その出力３Ａで調整誤
差εを示す電気信号を送ることができる。この誤差信号
は、読み取り装置２１に送られ、読み取り装置２１は、
生成および処理装置５の入力５Ｂにこれを伝達する。生
成および処理装置５では、光学器械１から見えて前記光
学電気検出器３により形成された像の前記調整誤差を修
正することができる。

【００５７】従って検出器３は、光学器械１から見える
光景の電子像と、調整誤差電気信号εとをその出力３Ａ
に送る。何故なら、知られているように、前記光学器械
から見えて前記光学電気検出器３により形成される光景
の像は、一連のフレームとして示されるからであり、検
出器３のシーケンシャル制御装置４で、この場合にはパ
ルス型の光源１９の動作を同期させることにより、前記
電子像に対して前記誤差信号εを明らかに個別化でき
る。このような同期は、シーケンシャル制御装置４と光
源１９との間の接続４Ｂにより得られるものであり、次
のような異なる２個のプロセスに従って実施できる。第
１の場合、前記パルス源１９は、第１の幾つかの像フレ
ームの間、前記光学電気検出器３に基準光束パルス１７
を送り、他の第２の像フレームの間は送らず、また、バ
ックグラウンドノイズもバックグランドも発生せずに前
記調整誤差εの電気信号を得るために、たとえば読み取
り装置２１で、第１の像フレームおよび第２の像フレー
ムの差を毎回出す。第２のプロセスによれば、シーケン
シャル制御装置４が、基準光束１７のパルスの持続時間
をきわめて短くし、２個の像フレームの間に前記基準光
束の各パルスを挿入する。

【００５８】さらに、光学器械１により観測される光景
から送られる光線に対してトランスペアレントな、平行
面を備えるブレード１３は、基準光束１７に関してその
反射率を増すように処理してもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による調整誤差検出装置を備えた光学器
械の部分概略図である。

【図２】前記調整誤差検出装置の一部をなす光学軸の並
進不変系の概略的な斜視図である。

【図３】前記光学器械の焦点面に配置された光学電気検
出器の２つの実施形態を概略的に示す図である。

【図４】前記光学器械の焦点面に配置された光学電気検
出器の２つの実施形態を概略的に示す図である。

【符号の説明】

１ 光学器械 ２ 焦点面 ３ 光学電気検出器 ４ シーケンシャル制御装置 ３Ａ、４Ａ、５Ａ 出力 ４Ｂ 接続 ５ 生成および処理装置 ５Ｂ 入力 ６ アフォーカル光学系 ７ 入射ひとみ ８ 対物レンズ ９ 実像 ９Ａ 中心 １０ 光学軸の並進不変系 １１、１２ 反射面 １３ ブレード １７ 入射光束 １８ 射出光束 １９ 光源 ２１ 誤差読み取り装置 Ｌ 光学軸 Ｖ 照準軸 ｄ 距離

Claims (17)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 基準方向（Ｖ−Ｖ）に対する光学器械
   （１）の光学軸（Ｌ−Ｌ）の調整誤差を検出するための
   方法であって、 − 基準光束（１７）により前記基準方向（Ｖ−Ｖ）を
   示し、 − 前記光学器械（１）に、 ・前記光学器械（１）の焦点面（２）に配置された光学
   電気検出器（３）と、 ・前記光学器械（１）の光学軸（Ｌ−Ｌ）に同軸で、実
   像入射ひとみ（７）を備え、この入射ひとみから同じ実
   像（９）を形成するアフォーカル光学系（６）と、 ・入射ひとみの前記実像（９）の近傍に配置される光学
   軸の並進不変系（１０）であって、該光学軸の並進不変
   系（１０）が、前記基準光束（１７）を受光し、基準光
   束の入射角にかかわらず射出光束（１８）を発生し、こ
   の射出光束が前記基準光束（１７）に平行で、入射ひと
   みの前記実像（９）の少なくとも大体の中心（９Ａ）か
   ら前記光学電気検出器（３）に向けられ、前記光学電気
   検出器（３）は、前記光学器械（１）の光学軸（Ｌ−
   Ｌ）が前記焦点面（２）を通る点（ｌ）に対する、前記
   焦点面（２）で前記射出光束（１８）により形成される
   光点（ｖ；２３）の偏心を示す電気信号を送る、光学軸
   の並進不変系（１０）と、を組み込むことを特徴とする
   方法。
2. 【請求項２】 前記光学器械（１）から見え、また前記
   光学電気検出器（３）により形成される光景の像のレベ
   ル（５）で、前記調整誤差を修正するために、前記電気
   信号を用いることを特徴とする請求項１に記載の方法。
3. 【請求項３】 前記光学器械（１）から見え、また前記
   光学電気検出器（３）により形成される光景の像が、一
   連のフレームとして示され、 前記基準光束（１７）がパルスであり、第１の幾つかの
   像フレームの間、前記光学電気検出器（３）に基準光束
   パルス（１７）を送り、他の第２の像フレームの間は送
   らず、前記電気信号を得るために、毎回、第１のフレー
   ムおよび第２のフレームの差を出すことを特徴とする請
   求項１または２に記載の方法。
4. 【請求項４】 前記光学器械（１）から見え、また前記
   光学電気検出器（３）により形成される光景の像が、一
   連のフレームとして示され、 前記基準光束（１７）がパルスであり、前記基準光束
   （１７）のパルスの持続時間が、前記像フレームの持続
   時間に対してきわめて短く、２個の像フレームの間に前
   記基準光束（１７）の各パルスを挿入することを特徴と
   する請求項１または２に記載の方法。
5. 【請求項５】 前記射出光束（１８）の横断面が、前記
   光学電気検出器を構成する個々の感光性素子（２０）そ
   れぞれの感知面のエリアと同じ大きさであり、前記光学
   電気検出器は、前記感光性素子（２０）が行列として配
   置されるマトリクス構造（３．１）を有することを特徴
   とする請求項１から４のいずれか一に記載の方法。
6. 【請求項６】 前記基準光束（１７）がレーザービーム
   であることを特徴とする請求項１から５のいずれか一に
   記載の方法。
7. 【請求項７】 前記射出光束（１８）の横断面は、前記
   光学電気検出器を構成する個々の感光性素子（２０）そ
   れぞれの感知面のエリアよりも大きく、前記射出光束
   （１８）が前記焦点面（２）に照準（２３）の像を形成
   し、前記光学電気検出器が、このような感光性素子（２
   ０）の少なくとも１つの小型バー（２２）を含むことを
   特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の方
   法。
8. 【請求項８】 前記照準（２３）は、互いに、また前記
   小型バー（２２）に対して傾斜した、少なくとも２個の
   直線区間（２４、２５）を含むことを特徴とする請求項
   ７に記載の方法。
9. 【請求項９】 基準方向（Ｖ−Ｖ）に対して光学器械
   （１）の光学軸（Ｌ−Ｌ）の調整誤差を検出するための
   装置であって、 − 前記基準方向（Ｖ−Ｖ）を示す基準光束（１７）を
   発生するための手段（１９）と、 − 前記光学器械（１）に組み込まれた、 ・前記光学器械（１）の焦点面（２）に配置された光学
   電気検出器（３）と、 ・前記光学器械（１）の光学軸（Ｌ−Ｌ）に同軸で、実
   像入射ひとみ（７）を備え、この入射ひとみから同じ実
   像（９）を形成するアフォーカル光学系（６）と、 ・入射ひとみの前記実像（９）の近傍に配置される光学
   軸の並進不変系（１０）であって、該光学軸の並進不変
   系（１０）が、前記基準光束を受光し、基準光束の入射
   角にかかわらず射出光束（１８）を発生し、この射出光
   束が前記基準光束（１７）に平行で、入射ひとみの前記
   実像（９）の少なくとも大体の中心（９Ａ）から前記光
   学電気検出器（３）に向けられる、光学軸の並進不変系
   （１０）と、を含むことを特徴とする装置。
10. 【請求項１０】 前記アフォーカル光学系（６）の倍率
    が１よりも大きいことを特徴とする請求項９に記載の装
    置。
11. 【請求項１１】 前記不変系（１０）は、中空の立方体
    の一隅を形成する直角３面体の内面（１４、１５、１
    ６）に沿って配置された、３個の反射面（１１、１２、
    １３）を含み、前記反射面のうちの２個（１１、１２）
    が、前記基準光束（１７）を受光するように構成される
    一方で、前記反射面のうちの３番目（１３）が、前記光
    学器械（１）の光学軸（Ｌ−Ｌ）と交差し、前記光学電
    気検出器（３）に前記射出光束（１８）を送るように構
    成されることを特徴とする請求項９または１０に記載の
    装置。
12. 【請求項１２】 前記第３の反射面（１３）が、平行面
    を備えたブレードから構成されることを特徴とする請求
    項１１に記載の装置。
13. 【請求項１３】 前記平行面を持つブレード（１３）
    は、前記基準光束（１７）に関してその反射率を増すよ
    うに処理されることを特徴とする請求項１２に記載の装
    置。
14. 【請求項１４】 前記基準光束を発生する前記手段（１
    ９）が、前記光学器械から離されていることを特徴とす
    る請求項９から１３のいずれか一項に記載の装置。
15. 【請求項１５】 前記光学器械（１）と前記基準光束を
    発生する前記手段（１９）との間の距離（ｄ）が、数メ
    ートルであることを特徴とする請求項１４に記載の装
    置。
16. 【請求項１６】 光学軸（Ｌ−Ｌ）を基準方向（Ｖ−
    Ｖ）に調整させる光学器械であって、 調整誤差を検出するための装置を含み、前記装置が、 − 前記基準方向（Ｖ−Ｖ）を示す基準光束（１７）を
    発生するための手段（１９）と、 − 前記光学器械（１）に組み込まれた、 ・前記光学器械（１）の焦点面（２）に配置された光学
    電気検出器（３）と、 ・前記光学器械（１）の光学軸（Ｌ−Ｌ）に同軸で、実
    像入射ひとみ（７）を備え、この入射ひとみから同じ実
    像（９）を形成するアフォーカル光学系（６）と、 ・入射ひとみ（９）の前記実像の近傍に配置される光学
    軸の並進不変系（１０）であって、該光学軸の並進不変
    系（１０）が、前記基準光束（１７）を受光し、基準光
    束の入射角にかかわらず射出光束（１８）を発生し、こ
    の射出光束が前記基準光束（１７）に平行で、入射ひと
    みの前記実像（９）の少なくとも大体の中心（９Ａ）か
    ら前記光学電気検出器（３）に向けられる、光学軸の並
    進不変系（１０）と、を含むことを特徴とする光学器
    械。
17. 【請求項１７】 前記調整誤差を検出するための装置
    が、請求項９から１５のいずれか一項に特定された特徴
    を含むことを特徴とする請求項１６に記載の光学器械。