JP2000321503A - Automatic adjusting method for confocal microscope and confocal microscope - Google Patents

Automatic adjusting method for confocal microscope and confocal microscope

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JP2000321503A
JP2000321503A JP11132934A JP13293499A JP2000321503A JP 2000321503 A JP2000321503 A JP 2000321503A JP 11132934 A JP11132934 A JP 11132934A JP 13293499 A JP13293499 A JP 13293499A JP 2000321503 A JP2000321503 A JP 2000321503A
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light receiving
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JP11132934A
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Japanese (ja)
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Tatsuhiko Matsuura
辰彦 松浦
Takashi Hirano
高志 平野
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Keyence Corp
Original Assignee
Keyence Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate the need for a mass storage memory and to prevent the lowering of working efficiency by surely automatically adjusting a gain only at a soft level in a short time by automatically adjusting the gain of a photodetector from the information of one image plane by a retrieval technique. SOLUTION: The gain of the photodetector 19b is automatically adjusted from the information of one image plane by the retrieval technique. Namely, a CPU 81 arithmetically calculates the optimum gain of a variable gain amplifier circuit 46 by the retrieval technique of the optimum gain in order to make an output value stored in a frame memory 84 or a value obtained from that value coincide with a set target value stored in a target value memory 88. Then, the circuit 46 is set through a variable gain D/A by the gain obtained by arithmetic calculation, and the light receiving signal of the photodetector 19b is amplified by the gain, and the output value A/D converted by an A/C conversion circuit 41 is compared with the set target value. When they do not coincide with each other, the output value is made close to the set target value by repeating the arithmetic calculation and the comparison by the CPU 81.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、共焦点原理を利用
した顕微鏡に関するもので、特に、ワークに当たって返
ってきた光量を受ける受光素子の受光信号のゲインの調
整に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microscope using the confocal principle, and more particularly to a method for adjusting a gain of a light receiving signal of a light receiving element which receives a light amount returned from a work.

【0002】[0002]

【従来の技術】共焦点原理を利用した顕微鏡は、対物レ
ンズとピンホールを配設しており、対物レンズの焦点位
置に試料がある場合、このピンホールを通過したレーザ
光を第1受光素子で受光するので、観察したい高さの部
分についての画像、すなわち共焦点画像だけが鮮明に映
し出されるので、解像度が高くなる。このように、共焦
点型光学系では、焦点が合った位置で輝度が最大になる
という特長があり、そのため試料をZ軸方向に移動さ
せ、映像の各画素で最大の輝度信号を記憶してゆくと全
面に焦点の合った映像が得られる。
2. Description of the Related Art A microscope using the confocal principle is provided with an objective lens and a pinhole. When a sample is located at a focal position of the objective lens, a laser beam passing through the pinhole is used as a first light receiving element. , The image of the portion at the height desired to be observed, that is, only the confocal image is clearly displayed, so that the resolution is increased. As described above, the confocal optical system has a feature that the luminance is maximized at the focused position. Therefore, the sample is moved in the Z-axis direction, and the maximum luminance signal is stored in each pixel of the image. Eventually, an in-focus image is obtained.

【0003】ところが、かかる共焦点画像は白黒(無彩
色)の映像となるので、本出願人は、この白黒の映像に
第2受光素子からの色情報を用いることによりカラーの
映像を得ることのできる小型で低コストのカラー(有彩
色)の共焦点顕微鏡を発明し、出願している(特願平9
−180647号)。これによれば、He−Neレーザ
ーを光源とした共焦点型光学系を採用することにより、
通常の光学顕微鏡の限界を超えた高解像度の映像を第1
受光素子からえることができる共に、第2受光素子から
の色情報を用いるのでカラーの映像が得られ、その結
果、傷や付着物の詳細な観察が可能になった。
However, since such a confocal image is a black-and-white (achromatic) image, the present applicant obtains a color image by using color information from the second light receiving element for the black-and-white image. We have invented and filed a compact and low-cost color (chromatic) confocal microscope that can be made (Japanese Patent Application No. Hei 9
-180647). According to this, by adopting a confocal optical system using a He-Ne laser as a light source,
High-resolution images beyond the limits of ordinary optical microscopes
The image can be obtained from the light receiving element, and a color image can be obtained because the color information from the second light receiving element is used. As a result, it is possible to observe the scratches and attached matter in detail.

【0004】以下、本発明の基礎となるこのカラー共焦
点顕微鏡について、図5〜図9にしたがって説明する。
図5において、顕微鏡は、レーザ光学系(第1光学系)
1と、白色光光学系(第2光学系)2とを備えている。
レーザ光学系1は、試料wの深度に関する情報を検出で
きる共焦点光学系で、たとえば赤色のレーザ光L1を出
射する He-Neレーザ10を光源としている。このレーザ
10の光軸上には、第1のコリメートレンズ11、偏光
ビームスプリッタ12、1/4波長板13、二次元走査
装置14、第1リレーレンズ15、第2リレーレンズ1
6および対物レンズ17が順に配設されている。対物レ
ンズ17の焦点位置の付近には、試料ステージ30が配
設されており、対物レンズ17はレーザ光L1を試料w
の表面に集光させる。二次元走査装置14は、たとえば
水平方向を音響光学偏向素子、垂直方向をガルバノミラ
ーで構成し、レーザ光L1を偏向させることで、試料w
への集光位置を試料wの表面に沿って二次元的(X,Y
方向)にリアルタイムで走査させる。試料ステージ30
は、ステージ制御回路40によりZ(上下)方向に駆動
制御され、X,Y方向については手動ハンドルで移動可
能となっている。
Hereinafter, this color confocal microscope which is the basis of the present invention will be described with reference to FIGS.
In FIG. 5, the microscope is a laser optical system (first optical system).
1 and a white light optical system (second optical system) 2.
The laser optical system 1 is a confocal optical system that can detect information on the depth of the sample w, and uses, for example, a He-Ne laser 10 that emits red laser light L1 as a light source. On the optical axis of the laser 10, a first collimating lens 11, a polarizing beam splitter 12, a quarter-wave plate 13, a two-dimensional scanning device 14, a first relay lens 15, a second relay lens 1
6 and an objective lens 17 are arranged in this order. A sample stage 30 is provided near the focal position of the objective lens 17, and the objective lens 17 transmits the laser light L1 to the sample w.
Focus on the surface of. The two-dimensional scanning device 14 includes, for example, an acousto-optic deflecting element in the horizontal direction and a galvanomirror in the vertical direction, and deflects the laser beam L1 to obtain the sample w.
The light condensing position on the surface is set two-dimensionally (X, Y) along the surface of the sample w.
Direction) in real time. Sample stage 30
Is driven and controlled in the Z (vertical) direction by a stage control circuit 40, and can be moved by a manual handle in the X and Y directions.

【0005】試料wで反射されたレーザ光(応答光)L
1は、対物レンズ17、第2リレーレンズ16および第
1リレーレンズ15を通り、再び、二次元走査装置14
を介して1/4波長板13および偏光ビームスプリッタ
12を透過し、第2の結像レンズ18に向かう。このレ
ーザ光L1は、第2の結像レンズ18によって集光さ
れ、ピンホールを有する光絞り部19aを通過して第1
受光素子19bに入射する。第1受光素子19bは、た
とえばフォトマルチプライヤまたはフォトダイオードな
どで構成され、入射したレーザ光L1を受光素子で受光
し、入射光量に応じた出力電流で電流電圧変換回路を通
して電圧変換し、信号を増幅およびゲイン制御するゲイ
ン増幅回路46(図1参照)を介して第1のA/D変換
回路41に出力する。
[0005] The laser light (response light) L reflected by the sample w
1 passes through the objective lens 17, the second relay lens 16 and the first relay lens 15, and again passes through the two-dimensional scanning device 14.
Passes through the quarter-wave plate 13 and the polarizing beam splitter 12 through the optical path and travels toward the second imaging lens 18. The laser light L1 is condensed by the second imaging lens 18, passes through the optical aperture 19a having a pinhole, and
The light enters the light receiving element 19b. The first light receiving element 19b is composed of, for example, a photomultiplier or a photodiode. The first light receiving element 19b receives the incident laser light L1 by the light receiving element, converts the voltage with an output current corresponding to the amount of incident light through a current-voltage conversion circuit, and converts the signal. The signal is output to the first A / D conversion circuit 41 via a gain amplification circuit 46 (see FIG. 1) that performs amplification and gain control.

【0006】つぎに、レーザ光学系1によって得られる
輝度情報について説明する。光絞り部19aは、第2の
結像レンズ18の焦点位置に配設されており、一方、光
絞り部19aのピンホールは極めて微小であるから、レ
ーザ光L1が試料w上で焦点を結ぶと、その反射光L1
が光絞り部19aのピンホールで結像し、第1受光素子
19bに入射する受光光量が著しく大きくなる。逆に、
レーザ光L1が試料w上で焦点を結んでいないと、その
反射光L1は、光絞り部19aのピンホールを殆ど通過
しないので、第1受光素子19bの受光光量が著しく小
さくなる。
Next, luminance information obtained by the laser optical system 1 will be described. The light stop 19a is disposed at the focal position of the second imaging lens 18, and the pinhole of the light stop 19a is extremely small, so that the laser beam L1 focuses on the sample w. And the reflected light L1
Forms an image at the pinhole of the optical diaphragm 19a, and the amount of received light incident on the first light receiving element 19b is significantly increased. vice versa,
If the laser light L1 is not focused on the sample w, the reflected light L1 hardly passes through the pinhole of the optical stop 19a, so that the amount of light received by the first light receiving element 19b becomes extremely small.

【0007】図6は顕微鏡の明るさと解像力の関係を示
す図である。図6(A)は共焦点顕微鏡の明るさと解像
力の関係を示す図、図6(B)は通常の顕微鏡の明るさ
と解像力の関係を示す図である。図6(A)でわかるよ
うに、共焦点型光学系において焦点が合っている場合に
は光の大部分がピンホールを通過するが、焦点が合って
ない状態ではピンホールを通過する光量が激減すること
である。一方、図6(B)の通常の顕微鏡においては焦
点位置において解像力はピークになるが、明るさはあま
り変化しない。このように、共焦点型光学系において焦
点が合っている場合には焦点位置において明るさと解像
力がピークになる。すなわち、最大輝度と合焦点位置と
が一致し、したがって、焦点の合った部分について明る
い映像が得られ、一方、それ以外の焦点が合っていない
位置については暗い映像が得られることとなる。このよ
うに、共焦点顕微鏡では深度の極めて浅い画像が得ら
れ、ターゲットとする層のみピントの合った明るい、そ
れ以外の層は暗い画像が得られるので、半導体の積層構
造の検査などに利用することができる。また、試料をZ
軸方向に移動させ、映像の各画素で最大輝度信号を記憶
すると、全面に焦点の合った映像となり、逆に、焦点深
度が無限に深い映像を得ることもできるようになる。ま
た、走査ラインの各点において、焦点の合うZ軸の高さ
情報を記憶することにより、表面形状を測定することも
できる。
FIG. 6 is a diagram showing the relationship between the brightness of the microscope and the resolving power. FIG. 6A is a diagram showing the relationship between brightness and resolution of a confocal microscope, and FIG. 6B is a diagram showing the relationship between brightness and resolution of a normal microscope. As can be seen from FIG. 6A, when the confocal optical system is in focus, most of the light passes through the pinhole, but when out of focus, the amount of light passing through the pinhole is It is a drastic decrease. On the other hand, in the ordinary microscope of FIG. 6B, the resolving power peaks at the focal position, but the brightness does not change much. Thus, when the confocal optical system is in focus, the brightness and the resolving power peak at the focal position. In other words, the maximum luminance and the in-focus position match, so that a bright image is obtained at the in-focus portion, while a dark image is obtained at other out-of-focus positions. As described above, the confocal microscope can obtain an image with an extremely shallow depth, and can obtain a bright image in which only the target layer is in focus, and a dark image can be obtained for the other layers. be able to. In addition, sample
When the image is moved in the axial direction and the maximum luminance signal is stored in each pixel of the image, the image is focused on the entire surface, and conversely, an image with an infinite depth of focus can be obtained. In addition, by storing height information of the focused Z-axis at each point of the scanning line, the surface shape can be measured.

【0008】つぎに、白色光光学系2について説明す
る。白色光光学系2は、白色光(色情報用の照明光)L
2を出射する白色光源20を光源としている。この白色
光源20の光軸上には、第2のコリメートレンズ21、
第1のハーフミラー22および前記対物レンズ17が配
設されており、前記第1のハーフミラー22において2
つの光学系1,2の光軸が合致するように白色光光学系
2が配設されている。したがって、白色光L2は、レー
ザ光L1の走査領域と同一の箇所に集光される。試料w
で反射された白色光(応答光)L2は、前記対物レンズ
17、前記第1のハーフミラー22および第2リレーレ
ンズ16を透過し、さらに、第2のハーフミラー23で
反射されてカラーCCD(第2受光素子)24の表面で
結像する。すなわち、カラーCCD24は、光絞り部1
9aと共役ないし共役に近い位置に配設されている。な
お、カラーCCD24で撮像された画像は、アナログの
カラー撮像情報として、CCD駆動回路43に読み出さ
れて第2のA/D変換回路42に出力される。
Next, the white light optical system 2 will be described. The white light optical system 2 includes a white light (illumination light for color information) L
2 is used as a light source. On the optical axis of the white light source 20, a second collimating lens 21,
A first half mirror 22 and the objective lens 17 are provided.
The white light optical system 2 is disposed so that the optical axes of the two optical systems 1 and 2 match. Therefore, the white light L2 is focused on the same place as the scanning area of the laser light L1. Sample w
The white light (response light) L2 reflected by the light source passes through the objective lens 17, the first half mirror 22, and the second relay lens 16, is further reflected by the second half mirror 23, and is reflected by the color CCD ( An image is formed on the surface of the (second light receiving element) 24. That is, the color CCD 24 is connected to the light diaphragm 1
It is arranged at a position conjugate with or close to conjugate with 9a. The image picked up by the color CCD 24 is read out by the CCD drive circuit 43 as analog color image pickup information and output to the second A / D conversion circuit 42.

【0009】つぎに、図7のカラー映像信号作成手段5
について説明する。カラー映像信号作成手段5は、第1
受光素子19bからの輝度情報と、カラーCCD24か
らの色情報とを組み合わせて、カラー映像用のデジタル
信号ro,go,boを作成するものである。前記カラ
ー映像信号作成手段5は、第1および第2領域回路5
1,52と、輝度変換回路53などを備えている。この
第1および第2領域回路51,52は、図8に示すよう
に、それぞれ、レーザ光学系1の撮像領域A1および白
色光光学系2の撮像領域A2の所定の共通部分を映像領
域A0として選択し、選択した部分についてデジタル信
号を出力する。すなわち、図7の第1領域回路51は、
前記映像領域A0について、カラーCCD24の各画素
に対応した分解能で輝度信号iを輝度用メモリMiに記
憶させる。一方、前記第2領域回路52は、前記映像領
域A0について、各画素ごとに赤、緑、青の色強度信号
rm,gm,bmを第1色強度メモリMr1,Mg1,
Mb1に記憶させる。なお、色強度信号とは、三原色に
ついての輝度(強度)を含む信号をいう。
Next, the color video signal generating means 5 shown in FIG.
Will be described. The color video signal creating means 5 includes the first
By combining the luminance information from the light receiving element 19b and the color information from the color CCD 24, digital signals ro, go, and bo for color images are created. The color video signal creating means 5 includes first and second area circuits 5
1 and 52 and a luminance conversion circuit 53 and the like. As shown in FIG. 8, the first and second area circuits 51 and 52 each use a predetermined common part of the imaging area A1 of the laser optical system 1 and the imaging area A2 of the white light optical system 2 as an image area A0. Select and output a digital signal for the selected portion. That is, the first area circuit 51 of FIG.
For the image area A0, the luminance signal i is stored in the luminance memory Mi at a resolution corresponding to each pixel of the color CCD 24. On the other hand, the second area circuit 52 stores the red, green, and blue color intensity signals rm, gm, bm for each pixel in the video area A0 in the first color intensity memories Mr1, Mg1,
It is stored in Mb1. Note that the color intensity signal is a signal including luminance (intensity) of the three primary colors.

【0010】輝度変換回路53は、下記の演算式(1),
(2),(3) にしたがって、各画素についての前記色強度信
号rm,gm,bmの輝度情報を、輝度信号iの輝度情
報に置換して、変換色強度信号ro,go,boを求
め、この変換色強度信号ro,go,boを第2色強度
メモリMr2,Mg2,Mb2に記憶させるものであ
る。 Ro=I・Rm/(Rm+Gm+Bm) ・・・(1) Go=I・Gm/(Rm+Gm+Bm) ・・・(2) Bo=I・Bm/(Rm+Gm+Bm) ・・・(3) ここで、I:輝度信号iの輝度 Rm,Gm,Bm:色強度信号rm,gm,bmの輝度
(強度) Ro,Go,Bo:変換色強度信号ro,go,boの
輝度(強度) なお、第1色強度メモリMr1,Mg1,Mb1および
第2色強度メモリMr2,Mg2,Mb2はカラーCC
D24のうち前述の映像領域A0の部分の画素に対応し
た記憶部を有している。こうして得られた変換色強度信
号ro,go,boは、カラーCCD24からのカラー
撮像情報のうちの輝度情報を、第1受光素子19bから
の輝度情報に置換した信号となる。前記変換色強度信号
ro,go,boは、前記第2色強度メモリMr2,M
g2,Mb2から読み出されて、表示コントローラ72
を構成するD/A変換回路60に出力され、更に、表示
コントローラ72を構成する加算器61において同期信
号aが付加されて、アナログの複合カラー映像信号cと
なる。この複合カラー映像信号cは表示装置(モニタ)
62に出力されて、試料wの映像が映し出される。
The luminance conversion circuit 53 uses the following equation (1),
According to (2) and (3), the converted color intensity signals ro, go, and bo are obtained by replacing the luminance information of the color intensity signals rm, gm, and bm for each pixel with the luminance information of the luminance signal i. The converted color intensity signals ro, go, and bo are stored in the second color intensity memories Mr2, Mg2, and Mb2. Ro = I · Rm / (Rm + Gm + Bm) (1) Go = I · Gm / (Rm + Gm + Bm) (2) Bo = I · Bm / (Rm + Gm + Bm) (3) where I: Luminance of luminance signal i Rm, Gm, Bm: luminance (intensity) of color intensity signals rm, gm, bm Ro, Go, Bo: luminance (intensity) of converted color intensity signals ro, go, bo Note that the first color intensity The memories Mr1, Mg1, Mb1 and the second color intensity memories Mr2, Mg2, Mb2 are color CCs.
D24 has a storage unit corresponding to the pixels in the above-described image area A0. The converted color intensity signals ro, go, and bo thus obtained are signals obtained by replacing the luminance information in the color imaging information from the color CCD 24 with the luminance information from the first light receiving element 19b. The converted color intensity signals ro, go, bo are stored in the second color intensity memories Mr2, M
g2, Mb2 and read out from the display controller 72.
Is output to the D / A conversion circuit 60 constituting the display controller 72. Further, the synchronizing signal a is added in the adder 61 constituting the display controller 72 to become an analog composite color video signal c. This composite color video signal c is displayed on a display device (monitor).
The image is output to 62 and an image of the sample w is displayed.

【0011】つぎに、本カラー共焦点顕微鏡の用い方に
ついて説明する。本カラー共焦点顕微鏡は、 CCDカメラによる領域探索モード、 白黒(無彩色)共焦点画像モード、 およびカラー共焦点画像モードの3つのモードのうち
1つを選択して用いる。これらのモードの設定は、表示
画面に表示された上記〜のアイコンを操作部(例え
ば、マウス)63で操作して設定する。
Next, how to use the present color confocal microscope will be described. The present color confocal microscope selects and uses one of three modes: an area search mode using a CCD camera, a black-and-white (achromatic) confocal image mode, and a color confocal image mode. The settings of these modes are set by operating the above-mentioned icons displayed on the display screen with the operation unit (for example, a mouse) 63.

【0012】の領域探索モードが選択されると、カラ
ー映像信号作成手段5は図5のレーザ駆動回路44を停
止させると共に、CCD駆動回路43を作動させてカラ
ーCCD24により撮像させる。この領域探索モードで
は、図7の第2領域回路52から第1色強度メモリMr
1,Mg1,Mb1に記憶された色強度信号rm,g
m,bmが、そのまま、D/A変換回路60に出力され
て、被写界深度の深い通常の拡大画像がモニタ62に映
し出される。したがって、図5の試料ステージ30を
X,Y方向に移動させることにより、撮像したい領域を
探し出すことができる。
When the area search mode is selected, the color video signal creating means 5 stops the laser drive circuit 44 shown in FIG. 5 and activates the CCD drive circuit 43 to cause the color CCD 24 to pick up an image. In this area search mode, the first color intensity memory Mr from the second area circuit 52 in FIG.
1, color intensity signals rm, g stored in Mg1, Mb1
m and bm are output to the D / A conversion circuit 60 as they are, and a normal enlarged image with a large depth of field is displayed on the monitor 62. Therefore, by moving the sample stage 30 in FIG. 5 in the X and Y directions, it is possible to search for an area to be imaged.

【0013】 また、白黒共焦点画像モードが選択さ
れると、カラー映像信号作成手段5(図7)は、レーザ
光学系1のレーザ駆動回路44および二次元走査装置1
4などを作動させ、レーザ光学系1により撮像させる。
この白黒共焦点画像モードでは、図7の第1領域回路5
1から輝度用メモリMiに記憶された輝度信号iが、そ
のまま、D/A変換回路60に出力されて、解像度の高
い白黒(無彩色)の拡大画像がモニタ62に映し出され
る。
When the black-and-white confocal image mode is selected, the color video signal generating means 5 (FIG. 7) controls the laser driving circuit 44 of the laser optical system 1 and the two-dimensional scanning device 1.
4 and the like, and an image is taken by the laser optical system 1.
In the monochrome confocal image mode, the first area circuit 5 shown in FIG.
The luminance signal i stored in the luminance memory Mi from 1 is output to the D / A conversion circuit 60 as it is, and a black-and-white (achromatic) enlarged image with high resolution is displayed on the monitor 62.

【0014】 さらに、カラー共焦点画像モードが選
択されると、レーザ駆動回路44とCCD駆動回路43
とが交互に駆動される。すなわち、このカラー共焦点画
像モードが選択されると、図9のステップS91でステ
ップS92に進み、レーザ光L1による1画面分の走査
がなされた後、ステップS93に進む。ステップS93
では図5のレーザ駆動回路44が停止し、レーザ10か
らレーザ光L1が出射されなくなる。この状態で図9の
ステップS94に進み、カラーCCD24に電荷を蓄積
する。このステップS94で得た図7の色強度信号r
m,gm,bmは、この信号に含まれている輝度情報が
前記ステップS92で得た輝度信号iの輝度情報に置換
され、変換色強度信号ro,go,boとなる。この変
換色強度信号ro,go,boは、それぞれ、第2色強
度メモリMr2,Mg2,Mb2に記憶された後、D/
A変換回路60に出力されてカラーの拡大画像が表示画
面62に映し出される。なお、図9のステップS94の
後にステップS95に進み、前記レーザ光L1の走査
と、CCD駆動回路43による電荷の蓄積および読み出
しとが繰り返される。こうして得られるカラー共焦点画
像は、色情報についての解像度が低いので、三原色のレ
ーザ光を用いた従来のカラーレーザ顕微鏡に比べ、若干
解像度が低くなるものの、通常の拡大画像よりも解像度
が高いので、十分利用価値の高い映像が得られる。
Further, when the color confocal image mode is selected, the laser driving circuit 44 and the CCD driving circuit 43
Are driven alternately. That is, when the color confocal image mode is selected, the process proceeds to step S92 in step S91 of FIG. 9, and after one screen is scanned by the laser beam L1, the process proceeds to step S93. Step S93
5, the laser drive circuit 44 of FIG. 5 stops, and the laser beam L1 is no longer emitted from the laser 10. In this state, the process proceeds to step S94 in FIG. The color intensity signal r of FIG. 7 obtained in step S94
For m, gm, and bm, the luminance information included in this signal is replaced with the luminance information of the luminance signal i obtained in step S92, and becomes the converted color intensity signals ro, go, and bo. The converted color intensity signals ro, go, and bo are stored in the second color intensity memories Mr2, Mg2, and Mb2, respectively, and then stored in D /
The color enlarged image is output to the A conversion circuit 60 and displayed on the display screen 62. Note that, after step S94 in FIG. 9, the process proceeds to step S95, in which the scanning with the laser light L1 and the accumulation and readout of charges by the CCD drive circuit 43 are repeated. Since the color confocal image obtained in this way has a low resolution for color information, it has a slightly lower resolution than a conventional color laser microscope using laser light of three primary colors, but has a higher resolution than a normal enlarged image. In this way, images with sufficiently high utility value can be obtained.

【0015】また、図5の白色光源20とカラーCCD
24を用いた白色光光学系2によって色情報を得るか
ら、三原色のレーザ光を用いた従来のカラーレーザ顕微
鏡に比べ、光学系が著しく簡単な構造になるので、顕微
鏡のコストダウンと小型化を図り得る。また、図5のカ
ラーCCD24によって撮像する際には、レーザ駆動回
路44を停止してレーザ光L1がカラーCCD24に入
射しないようにしているので、レーザ光L1の色を帯び
た映像になることもなく、試料wの実際の色に近い色彩
の映像が得られる。レーザ光L1がカラーCCD24に
入射しないようにする手段としては、レーザ光L1を遮
光するシャッタを用いたり、あるいは、レーザ光L1の
走査範囲をカラーCCD24の撮像領域外に設定するな
ど種々の方法を採用することができる。
Also, the white light source 20 and the color CCD shown in FIG.
Since color information is obtained by the white light optical system 2 using the light source 24, the optical system has a significantly simpler structure than a conventional color laser microscope using laser light of three primary colors, so that the cost and size of the microscope can be reduced. I can figure it out. When the image is picked up by the color CCD 24 shown in FIG. 5, the laser driving circuit 44 is stopped so that the laser light L1 does not enter the color CCD 24. And an image of a color close to the actual color of the sample w is obtained. As a means for preventing the laser light L1 from being incident on the color CCD 24, various methods such as using a shutter for shielding the laser light L1 or setting the scanning range of the laser light L1 outside the imaging area of the color CCD 24 are available. Can be adopted.

【0016】図5の第2光学系2の第2受光素子として
カラーCCD24を用いたが、他の受光素子を用いても
よい。たとえば、ダイクロイックミラーを使用して反射
光L2を3原色に分解し、これらの3原色の反射光を3
つの白黒映像用の二次元CCDに入射させてもよい。ま
た、光学系は異なるが、第2受光素子としてカラーライ
ンCCDを用い、白色応答光を一次元的に走査する一次
元走査装置を設けてもよい。さらに、第2受光素子とし
ては、3つの白黒映像用のラインCCD(R,G,B
用)を用いることもでき、また、3つの点受光素子
(R,G,B用)を用いることもできる。なお、これら
の場合において、白色応答光を走査する走査装置は、レ
ーザ光L1を走査する走査装置と兼用することもでき
る。また、第2受光素子としては、カラーCCDの他に
MOS型などの他の固体撮像素子や複数の撮像管を組み
合わせたテレビカメラなどを用いることもできる。図5
では、レーザ光L1および白色光L2の反射光をそれぞ
れ、第1受光素子19bおよびカラーCCD24に受光
させることとしたが、試料wを透過した透過光や、前記
反射光を置換した蛍光を受光させるものであってもよ
い。また、ここでは色彩を光の三原色に分解したが、補
色系(黄、シアン、緑)に分解してもよい。また、色情
報として色差信号を用いてもよい。このように、先行発
明による本顕微鏡によれば、レーザ光とは異なる色情報
用の照明光を用いた第2光学系によって色情報を得るか
ら、三原色のレーザ光を用いた従来のカラーレーザ顕微
鏡に比べ、光学系が著しく簡単な構造になるので、コス
トダウンと小型化を図りることができる。
Although the color CCD 24 is used as the second light receiving element of the second optical system 2 in FIG. 5, another light receiving element may be used. For example, the reflected light L2 is separated into three primary colors by using a dichroic mirror, and the reflected light of these three primary colors is converted into three primary colors.
The light may be incident on two two-dimensional CCDs for monochrome images. Although the optical system is different, a one-dimensional scanning device that uses a color line CCD as the second light receiving element and one-dimensionally scans white response light may be provided. Further, as the second light receiving elements, three line CCDs (R, G, B) for monochrome images are used.
) Can be used, and three point light receiving elements (for R, G, B) can also be used. In these cases, the scanning device that scans white response light can also be used as the scanning device that scans laser light L1. Further, as the second light receiving element, in addition to the color CCD, another solid-state imaging element such as a MOS type, a television camera in which a plurality of imaging tubes are combined, or the like can be used. FIG.
In the first embodiment, the first light receiving element 19b and the color CCD 24 receive the reflected light of the laser light L1 and the white light L2, respectively. However, the transmitted light transmitted through the sample w and the fluorescence substituted for the reflected light are received. It may be something. Although the colors are separated into the three primary colors of light here, they may be separated into complementary colors (yellow, cyan, green). Further, a color difference signal may be used as the color information. As described above, according to the present microscope according to the prior invention, color information is obtained by the second optical system using illumination light for color information different from laser light, so that the conventional color laser microscope using laser light of three primary colors is used. Since the optical system has a remarkably simple structure, the cost can be reduced and the size can be reduced.

【0017】なお、上記の説明における走査は試料を静
止させてレーザ光またはラインレーザ光を走査している
が、レーザ光またはラインレーザ光を走査せずに試料を
移動させてもよいし、レーザ光をX方向に走査し試料を
Y方向(X方向に直交する方向)に移動させるようにし
てもよい。また、カラー映像用の信号とは、光の三原色
(赤、緑、青)についての強度からなる映像信号や、輝
度信号および色差信号からなる信号や、水平同期信号お
よびカラーバースト信号を含んだ複合カラー映像信号な
ど、そのまま、または、加工した後、カラーの映像を映
し出すことのできる信号をいう。また、輝度情報とは、
色彩を含まない輝度に関する情報をいい、色情報とは、
たとえば色差信号のように色の強度のバランスに関する
情報をいう。
In the scanning in the above description, the laser beam or the line laser beam is scanned while the sample is stationary, but the sample may be moved without scanning the laser beam or the line laser beam. The sample may be moved in the Y direction (a direction orthogonal to the X direction) by scanning the light in the X direction. The signal for a color image is a composite signal including a video signal composed of the intensities of the three primary colors of light (red, green, and blue), a signal composed of a luminance signal and a color difference signal, and a horizontal synchronization signal and a color burst signal. It refers to a signal capable of displaying a color image as it is or after being processed, such as a color image signal. Also, the luminance information is
Refers to information about luminance that does not include color.
For example, it refers to information on the balance of color intensities, such as a color difference signal.

【0018】[0018]

【発明が解決しようとする課題】このような共焦点顕微
鏡において、第1受光素子の出力値を増幅する増幅回路
の増幅率(ゲイン)が小さいと第1A/D変換回路への
入力電圧が小さくなり、測定が不完全となって増幅率を
設定しなおして再測定をしなければならないことが起
き、また、増幅率が大きすぎると第1A/D変換回路へ
の入力電圧が飽和して、明るい輝度の部分も暗い輝度の
部分も同じく明るくに表示されてしまい、対象物(ワー
ク)表面の凹凸等の区別ができなくなり、同じく増幅率
を設定しなおして再測定をしなければならないことが起
き、作業効率が低下した。また、増幅回路の増幅率を最
適値に選ぶこと自体、困難なことで時間がかかった。
In such a confocal microscope, if the amplification factor (gain) of the amplifier circuit for amplifying the output value of the first light receiving element is small, the input voltage to the first A / D conversion circuit is small. That is, the measurement is incomplete, and the amplification factor must be set again and the measurement must be performed again. If the amplification factor is too large, the input voltage to the first A / D conversion circuit is saturated, Both bright and dark luminance parts are displayed brightly, making it impossible to distinguish the unevenness of the surface of the object (work), and it is necessary to set the amplification factor again and perform the measurement again. I got up and my work efficiency dropped. In addition, selecting the amplification factor of the amplifier circuit to the optimum value itself is time-consuming because it is difficult.

【0019】また、自動ゲイン調整や自動オフセット電
圧調整が記載されている公開公報も見られる。これは、
光源とワークとの間の光路上に遮断可能なシャッタを設
け、光を遮断した状態でZ方向の距離の異なる複数枚の
画像データをすべてメモリに取り込んだり、光を開放し
た状態でZ方向の距離の異なる複数枚の画像データをす
べてメモリに取り込んだりして、これらのデータを用い
て平均値、最大値、最小値等を求め、オフセット値を求
めたり、最適なゲインを求めたりしていた。この方法に
よるゲイン調整やオフセット調整は複数の画像データが
必要であり、メモリを大量に必要とするので、コスト高
となった。
Also, there are published publications describing automatic gain adjustment and automatic offset voltage adjustment. this is,
A shutter that can be shut off on the optical path between the light source and the work is provided, and all the image data of a plurality of images having different distances in the Z direction are taken into the memory while the light is shut off, or the image data in the Z direction is opened when the light is released. Multiple image data with different distances were all loaded into the memory, and the average value, maximum value, minimum value, etc. were calculated using these data to determine the offset value and the optimal gain. . The gain adjustment and the offset adjustment by this method require a plurality of image data and require a large amount of memory, resulting in high cost.

【0020】本発明の目的は上記欠点を解消するもの
で、メモリを大量に必要としない、しかもゲインの調整
がソフトレベルのみで時間的に短時間で、しかも確実に
できるようにできる共焦点顕微鏡の自動調整方法を提供
することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned drawbacks. A confocal microscope that does not require a large amount of memory and that can adjust gain only in a soft level in a short time and reliably. To provide an automatic adjustment method for

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本願請求項1記載の共焦点顕微鏡の自動調整方法の
発明は、光を対物レンズにより試料に集光させると共に
該光による応答光を受光素子に受光させる共焦点顕微鏡
において、前記受光素子のゲイン調整を1画面の情報よ
り探索手法により自動で行なうことを特徴としている。
In order to achieve the above object, the invention of a method for automatically adjusting a confocal microscope according to claim 1 of the present invention is to focus light on a sample by an objective lens and to reduce response light by the light. In a confocal microscope in which light is received by a light receiving element, the gain of the light receiving element is automatically adjusted by a search method from information on one screen.

【0022】また、請求項2記載の発明は、受光素子の
受光信号を増幅するゲインが可変な可変ゲイン増幅回路
と、前記可変ゲイン増幅回路により増幅された信号をA
/D変換するA/D変換器回路と、前記A/D変換器回
路の出力値を格納するフレームメモリと、前記可変ゲイ
ン増幅回路のゲインを格納するゲインメモリと、前記ゲ
インを基に前記増幅回路のゲインを可変するためのD/
A変換器と、前記フレームメモリに格納された出力値も
しくはその値から得られる値に対して設定目標となる設
定目標値を格納する設定目標値メモリと、前記フレーム
メモリに格納された出力値もしくはその値から得られる
値を前記設定目標値にするための前記可変ゲイン増幅回
路のゲインを演算により求めるCPUと、を備えた共焦
点顕微鏡であって、前記CPUが、前記フレームメモリ
に格納された出力値もしくはその値から得られる値を前
記設定目標値にするための前記可変ゲイン増幅回路のゲ
インを探索手法を用いて演算し、該演算で得られたゲイ
ンに設定された前記可変ゲイン増幅回路で、再度前記受
光素子の受光信号を増幅しかつ前記A/D変換器回路で
A/D変換した出力値で前記フレームメモリに格納され
た出力値を更新し、該フレームメモリに格納された出力
値もしくはその値から得られる値を前記設定目標値と比
較し、前記比較の結果が一致しなければ前記CPUの演
算と比較を繰り返し、前記設定目標値に近づけるように
ゲインの調整を自動的に求めることを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a variable gain amplifying circuit having a variable gain for amplifying a light receiving signal of a light receiving element, and a signal amplified by the variable gain amplifying circuit, the signal being amplified by an A.
A / D converter circuit for performing A / D conversion, a frame memory for storing an output value of the A / D converter circuit, a gain memory for storing a gain of the variable gain amplifier circuit, and the amplification based on the gain. D / for changing the gain of the circuit
An A converter, a set target value memory for storing a set target value which is a set target for an output value stored in the frame memory or a value obtained from the output value, and an output value stored in the frame memory A CPU for calculating a gain of the variable gain amplifier circuit for calculating a value obtained from the value to the set target value, and the CPU is stored in the frame memory. The variable gain amplifier circuit calculates the gain of the variable gain amplifier circuit using a search method for setting an output value or a value obtained from the output target value to the set target value, and the variable gain amplifier circuit set to the gain obtained by the calculation. Then, the output value stored in the frame memory is updated with the output value obtained by amplifying the light receiving signal of the light receiving element again and performing A / D conversion by the A / D converter circuit. The output value stored in the frame memory or a value obtained from the value is compared with the set target value, and if the result of the comparison does not match, the calculation and comparison of the CPU are repeated to approach the set target value. The automatic adjustment of the gain is automatically obtained.

【0023】さらに、請求項3記載の発明は、請求項2
記載の共焦点顕微鏡の自動調整法において、前記探索手
法は、最初、前記ゲイン可変用D/A変換器回路の最小
調整値と最大調整値との和の1/2をゲイン調整値とし
て第1受光素子の出力を前記A/D変換器回路から前記
フレームメモリに格納し、該格納された値の最大測定値
と前記目標値と比較し、比較結果、 前記演算結果の最大測定値が前記目標値より小さい
ときは、前記ゲイン調整値の1/2を増減幅として前記
ゲイン調整値に加算した新ゲイン調整値を用いて、前記
ゲイン増幅回路のゲインを変化させ、このときの第1受
光素子の出力を前記A/D変換器回路から前記フレーム
メモリに格納し、該格納された値の最大測定値と前記目
標値と再び比較し、 また、前記演算結果の最大測定値が前記目標値より
大きいときは、前記ゲイン調整値の1/2を増減幅とし
て前記ゲイン調整値から減算した新ゲイン調整値を用い
て、第1受光素子の出力に演算し、この演算結果の最大
測定値と前記目標値と再び比較し、 前記又はにおける演算結果の最大測定値と前記
目標値との比較の結果、前記演算結果の最大測定値が前
記目標値より小さいときは前記へ戻り、また、前記演
算結果の最大測定値が前記目標値より大きいときは、前
記へもどり、 前記を繰り返し、演算結果の最大測定値が前記目
標値と一致またはゲイン調整値が所定のゲイン値を下回
ったとき、探索を終了し、 のときのゲイン調整値を用いることを特徴として
いる。
Further, the invention according to claim 3 is the same as the invention according to claim 2.
In the automatic adjustment method for a confocal microscope described above, the search method first uses a half of a sum of a minimum adjustment value and a maximum adjustment value of the gain variable D / A converter circuit as a gain adjustment value. The output of the light receiving element is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, and the maximum measured value of the stored value is compared with the target value. If the value is smaller than the value, the gain of the gain amplifier circuit is changed using a new gain adjustment value that is added to the gain adjustment value with 1/2 of the gain adjustment value as an increase / decrease width. Is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, and the maximum measured value of the stored value is compared with the target value again. Also, the maximum measured value of the calculation result is smaller than the target value. When big, gay The output of the first light receiving element is calculated using the new gain adjustment value subtracted from the gain adjustment value with 1/2 of the adjustment value as an increase / decrease width, and the maximum measurement value of the calculation result is again compared with the target value. The result of the comparison between the maximum measurement value of the calculation result and the target value in the or the above, when the maximum measurement value of the calculation result is smaller than the target value, returns to the above, and the maximum measurement value of the calculation result is the If the target value is larger than the target value, return to the above, repeat the above, and when the maximum measured value of the calculation result matches the target value or when the gain adjustment value falls below the predetermined gain value, terminate the search. It is characterized in that an adjustment value is used.

【0024】そして、請求項4記載の発明は、請求項2
記載の共焦点顕微鏡の自動調整法において、前記探索手
法は、 最初、所定のゲイン調整値で前記ゲイン増幅回路の
ゲインを変化させ、このときの第1受光素子の出力を前
記A/D変換器回路から前記フレームメモリに格納し、
該格納された値の最大測定値と前記目標値と比較し、 前記比較の結果、演算結果の最大測定値が前記目標
値より小さいときは、前記所定のゲイン調整値に所定の
単位ゲインを増減幅として加算した新ゲイン調整値を用
いて、前記ゲイン増幅回路のゲインを変化させ、このと
きの第1受光素子の出力を前記A/D変換器回路から前
記フレームメモリに格納し、該格納された値の最大測定
値と前記目標値と再び比較し、この比較の結果が前記目
標値よりなお小さいときは、前記新ゲイン調整値に所定
の単位ゲインを増減幅としてさらに加算した新ゲイン調
整値を用いて、前記ゲイン増幅回路のゲインを変化さ
せ、このときの第1受光素子の出力を前記A/D変換器
回路から前記フレームメモリに格納し、該格納された値
の最大測定値と前記目標値と再び比較し、 前記を繰り返し、演算結果の最大測定値が前記目
標値と一致またはこれを超えたとき、探索を終了し、 のときのゲイン調整値を用いること、 また、前記の比較の結果、演算結果の最大測定値
が前記目標値より大きいときは、前記所定のゲイン調整
値から所定の単位ゲインを増減幅として減算した新ゲイ
ン調整値を用いて、前記ゲイン増幅回路のゲインを変化
させ、このときの第1受光素子の出力を前記A/D変換
器回路から前記フレームメモリに格納し、該格納された
値の最大測定値と前記目標値と再び比較し、この比較の
結果が前記目標値よりなお大きいときは、前記新ゲイン
調整値から所定の単位ゲインを増減幅としてさらに減算
した新ゲイン調整値を用いて、前記ゲイン増幅回路のゲ
インを変化させ、このときの第1受光素子の出力を前記
A/D変換器回路から前記フレームメモリに格納し、該
格納された値の最大測定値と前記目標値と再び比較し、 前記を繰り返し、演算結果の最大測定値が前記目
標値と一致またはこれを下回ったとき、探索を終了し、 のときのゲイン調整値を用いること、を特徴とし
ている。また、請求項5記載の共焦点顕微鏡の自動調整
法の発明は、請求項3記載の探索手法および請求項4記
載の探索手法を備えたことを特徴としている。
The invention described in claim 4 is the same as the claim 2.
In the automatic adjustment method for a confocal microscope described above, the search method first changes the gain of the gain amplification circuit with a predetermined gain adjustment value, and outputs the output of the first light receiving element at this time to the A / D converter. Stored in the frame memory from the circuit,
Comparing the maximum measured value of the stored value with the target value; and, as a result of the comparison, when the maximum measured value of the operation result is smaller than the target value, increasing or decreasing a predetermined unit gain to the predetermined gain adjustment value. The gain of the gain amplifier circuit is changed using the new gain adjustment value added as the width, and the output of the first light receiving element at this time is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, and the stored data is stored. Is compared again with the target value, and if the result of the comparison is still smaller than the target value, a new gain adjustment value obtained by further adding a predetermined unit gain to the new gain adjustment value as an increase / decrease range Is used to change the gain of the gain amplifier circuit, the output of the first light receiving element at this time is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, and the maximum measured value of the stored value and the Target value Is compared again, and the above is repeated.When the maximum measured value of the calculation result matches or exceeds the target value, the search is terminated, and the gain adjustment value at the time of is used. When the maximum measured value of the calculation result is larger than the target value, the gain of the gain amplifying circuit is changed using a new gain adjustment value obtained by subtracting a predetermined unit gain from the predetermined gain adjustment value as an increase / decrease width. The output of the first light receiving element at this time is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, and the maximum measured value of the stored value is again compared with the target value. When the gain is still larger than the target value, the gain of the gain amplifier circuit is changed using a new gain adjustment value obtained by further subtracting a predetermined unit gain from the new gain adjustment value as an increase / decrease range, and the first gain at this time is changed. The output of the optical element is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, the maximum measured value of the stored value is compared with the target value again, and the above is repeated. The search is terminated when the value matches or falls below the target value, and the gain adjustment value at the time is used. According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a method for automatically adjusting a confocal microscope, comprising a search method according to a third aspect and a search method according to a fourth aspect.

【0025】さらに、請求項6記載の共焦点顕微鏡の発
明は、受光素子の受光信号を増幅するゲインが可変な可
変ゲイン増幅回路と、前記可変ゲイン増幅回路により増
幅された信号をA/D変換するA/D変換器回路と、前
記A/D変換器回路の出力値を格納するフレームメモリ
と、前記可変ゲイン増幅回路のゲインを格納するゲイン
メモリと、前記ゲインを基に前記増幅回路のゲインを可
変するためのD/A変換器と、前記フレームメモリに格
納された出力値もしくはその値から得られる値に対して
設定目標となる設定目標値を格納する設定目標値メモリ
と、前記フレームメモリに格納された出力値もしくはそ
の値から得られる値を前記設定目標値にするための前記
可変ゲイン増幅回路のゲインを演算により求めるCPU
と、を共焦点顕微鏡であって、前記CPUが、前記フレ
ームメモリに格納された出力値もしくはその値から得ら
れる値を前記設定目標値にするための前記可変ゲイン増
幅回路のゲインを探索手法を用いて演算し、該演算で得
られたゲインに設定された前記可変ゲイン増幅回路で、
再度前記受光素子の受光信号を増幅しかつ前記A/D変
換器回路でA/D変換した出力値で、前記フレームメモ
リに格納された出力値もしくはその値から得られる値を
前記設定目標値と比較し、前記比較の結果が一致しなけ
れば前記CPUの演算と比較を繰り返し、前記設定目標
値に近づけるようにゲインの調整を自動的に求めること
を特徴としている。そして、請求項7記載の発明は、請
求項6記載の共焦点顕微鏡が前記フレームメモリの内容
を表示する表示装置を備え、かつ、前記表示装置の表示
画像の暗い部分が見えにくいとき、前記フレームメモリ
内の表示画像データ全体にオフセット値を加算できるよ
うにしたことを特徴としている。
Further, according to the invention of a confocal microscope according to claim 6, a variable gain amplifier circuit having a variable gain for amplifying a light receiving signal of a light receiving element, and A / D converting the signal amplified by the variable gain amplifier circuit. A / D converter circuit, a frame memory for storing an output value of the A / D converter circuit, a gain memory for storing a gain of the variable gain amplifier circuit, and a gain of the amplifier circuit based on the gain. A D / A converter for varying the output value, a set target value memory for storing a set target value which is a set target for an output value stored in the frame memory or a value obtained from the value, and the frame memory CPU for calculating the gain of the variable gain amplifying circuit for calculating the output value stored in the memory or the value obtained from the value to the set target value
A confocal microscope, wherein the CPU searches for a gain of the variable gain amplifier circuit for setting the output value stored in the frame memory or a value obtained from the value to the set target value. Calculated using the variable gain amplifier circuit set to the gain obtained by the calculation,
The output value stored in the frame memory or a value obtained from the output value obtained by amplifying the light receiving signal of the light receiving element again and performing A / D conversion by the A / D converter circuit is referred to as the set target value. If the result of the comparison does not match, the calculation and the comparison of the CPU are repeated, and the adjustment of the gain is automatically obtained so as to approach the set target value. According to a seventh aspect of the present invention, when the confocal microscope according to the sixth aspect includes a display device for displaying the contents of the frame memory, and when a dark portion of a display image on the display device is difficult to see, It is characterized in that an offset value can be added to the entire display image data in the memory.

【0026】以上の構成により、共焦点顕微鏡におい
て、ゲインの調整が1画面の情報よりソフトレベルのみ
で時間的に短時間で、しかも確実に自動調整できるよう
になるので、従来のような作業効率が低下することがな
くなる。
According to the above configuration, in the confocal microscope, the gain can be automatically adjusted in a short time in a short time with only the soft level from the information of one screen, and the work efficiency can be improved as in the conventional technique. Does not decrease.

【0027】[0027]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図1
〜図4を用いて説明する。図1は本発明の共焦点顕微鏡
のブロック図を示している。図1において、80は制御
部であり、この制御部80は、CPU81、RAM8
2、ROM83、フレームメモリ84、インタフェース
85、表示コントローラ86、ゲインメモリ87、目標
値メモリ88を備えている。フレームメモリ84、ゲイ
ンメモリ87および目標値メモリ88は図1では機能を
分かりやすく説明するためにそれぞれ独立させて描いて
あるが、実際はRAM82のなかに設けられてよいもの
である。また、制御部80には、図5において既述の第
1A/D変換器41と第2A/D変換器42、操作部
(例えば、マウス、キーボード、トラックボール等)6
3が入力として接続され、同じく、図5において既述の
レーザ光駆動回路44、二次元走査装置14、ステージ
制御回路40、およびCRT、LCD等の表示装置62
が出力として接続されている。第1A/D変換器41に
は、D/A変換回路47から出力されるオフセット用電
圧と第1受光素子19bからの出力信号が電流電圧変換
された電圧とが加算回路45で加算された電圧をさらに
次の可変ゲイン増幅回路46で所定のゲインで増幅され
た値が、入力される。一方、第2A/D変換器42に
は、第2受光素子43からの出力信号が増幅回路431
で増幅されて入力される。CPU81は、ROM83内
に格納された演算処理手順にしたがって、RAM82お
よびフレームメモリ84の制御およびデータ処理を行な
う。RAM82は、前記CPU81が処理すべきデータ
や処理したデータを格納する。ROM83は、CPU8
1の演算処理手順を記憶する。フレームメモリ84は、
インタフェース85から授受した第1A/D変換回路お
よび第2A/D変換回路からの出力値を格納する。表示
コントローラ86は、フレームメモリ84内のビットマ
ップデータを表示装置62に表示するよう制御する。ゲ
インメモリ87は、前述の可変ゲイン増幅回路46のゲ
インを格納するメモリである。目標値メモリ88は、前
記フレームメモリ84に格納された出力値もしくはその
値から得られる値に対して設定目標となる設定目標値を
格納するメモリである。表示装置62は、フレームメモ
リ84内のビットマップデータを表示する。操作部63
は、各種プログラムおよび各種パラメータの書き込み・
読み出し・作成・変更・モニタリング・保存・実行等の
際に使用する。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
This will be described with reference to FIG. FIG. 1 shows a block diagram of a confocal microscope of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 80 denotes a control unit, and the control unit 80 includes a CPU 81, a RAM 8
2, a ROM 83, a frame memory 84, an interface 85, a display controller 86, a gain memory 87, and a target value memory 88. Although the frame memory 84, the gain memory 87, and the target value memory 88 are illustrated independently in FIG. 1 for easy-to-understand functions, they may actually be provided in the RAM 82. The control unit 80 includes the first A / D converter 41 and the second A / D converter 42 described above with reference to FIG. 5, and an operation unit (for example, a mouse, a keyboard, a trackball, etc.) 6.
3 is connected as an input, and similarly, the laser light drive circuit 44, the two-dimensional scanning device 14, the stage control circuit 40, and the display device 62 such as a CRT, an LCD, etc.
Are connected as outputs. The first A / D converter 41 adds the offset voltage output from the D / A conversion circuit 47 and the voltage obtained by current-to-voltage conversion of the output signal from the first light receiving element 19b by the addition circuit 45. Is further input by a variable gain amplifier circuit 46 with a predetermined gain. On the other hand, the output signal from the second light receiving element 43 is supplied to the second A / D converter 42 by the amplifier circuit 431.
Is amplified and input. The CPU 81 controls the RAM 82 and the frame memory 84 and performs data processing according to the arithmetic processing procedure stored in the ROM 83. The RAM 82 stores data to be processed by the CPU 81 and processed data. The ROM 83 is a CPU 8
1 is stored. The frame memory 84
The output values from the first A / D conversion circuit and the second A / D conversion circuit transmitted and received from the interface 85 are stored. The display controller 86 controls the display device 62 to display the bitmap data in the frame memory 84. The gain memory 87 is a memory for storing the gain of the variable gain amplifier circuit 46 described above. The target value memory 88 is a memory for storing a set target value which is a set target for the output value stored in the frame memory 84 or a value obtained from the output value. The display device 62 displays the bitmap data in the frame memory 84. Operation unit 63
Is for writing various programs and various parameters.
Used when reading, creating, changing, monitoring, saving, executing, etc.

【0028】ゲイン調整は、レーザ10(図5)をオン
に状態にして、対物レンズ17の焦点がワークwにちょ
うど一致したとき、すなわち、最大光量が得られたとき
に行われるもので、受光素子19bに信号が入ってきた
ときその信号の最大値がこのA/D変換回路41の入力
の目標値メモリの値に設定する調整をいう。例えば、目
標値メモリの値を255に設定した場合、A/D変換回
路41の入力が8ビットであれば最大値は255となる
から、その信号の最大値をA/D変換回路の入力の最大
値レベル255にもっていく調整をいう。ゲインの自動
調整のためには、CPU81が、フレームメモリ84に
格納された出力値もしくはその値から得られる値を目標
値メモリ88に格納された設定目標値に一致させるた
め、可変ゲイン増幅回路46の最適ゲインを後述する最
適ゲインの探索手法によって演算することにより行なわ
れる。具体的には、最適ゲインの探索手法による演算で
得られたゲインで可変ゲイン増幅回路46をゲイン可変
D/Aを介して設定し、再度前記受光素子19bの受光
信号をこのゲインで増幅し(図1の46)かつ前記A/
D変換器回路41でA/D変換した出力値が設定目標値
と一致するかどうか比較し、一致しなければCPU(図
1の81)の演算と比較を繰り返していき、最終的に設
定目標値に近づけるものである。
The gain adjustment is performed when the laser 10 (FIG. 5) is turned on and the focus of the objective lens 17 just coincides with the work w, that is, when the maximum light amount is obtained. When the signal enters the element 19b, the maximum value of the signal is set to the value of the target value memory of the input of the A / D conversion circuit 41. For example, when the value of the target value memory is set to 255, if the input of the A / D conversion circuit 41 is 8 bits, the maximum value is 255. Therefore, the maximum value of the signal is set to the input value of the A / D conversion circuit. Adjustment to bring the maximum value level to 255. For automatic gain adjustment, the CPU 81 adjusts the variable gain amplifier circuit 46 so that the output value stored in the frame memory 84 or a value obtained from the value matches the set target value stored in the target value memory 88. Is calculated by an optimum gain search method described later. Specifically, the variable gain amplifying circuit 46 is set via the variable gain D / A with the gain obtained by the calculation by the search method for the optimum gain, and the light receiving signal of the light receiving element 19b is again amplified with this gain ( 46) in FIG. 1 and the A /
The D / A converter circuit 41 compares whether the output value obtained by the A / D conversion matches the set target value, and if not, repeats the calculation and comparison of the CPU (81 in FIG. 1) to finally set the set target value. It approaches the value.

【0029】本発明によれば、2分探索法および/また
は順次逓減法を使用して自動ゲイン調整を速やかにかつ
正確に行なうもので、そのアルゴリズムが図2および図
3のフローチャートでそれぞれ示してある。図2は2分
探索法による自動ゲイン調整のフローチャートであり、
図3は順次逓減法による自動ゲイン調整のフローチャー
トをそれぞれ示している。図2において、このフローが
スタートすると、ステップS21で電源投入され、ステ
ップS22でレーザをオンにする。ステップS23で目
標値、ゲイン調整値、および増減幅の初期化を行なう。
まず、 目標値を設定可能な最大値とし、 ゲイン
調整値を1/2×(最小調整値+最大調整値)、そして
増減幅をゲイン調整値、とする。ステップS24でこ
のゲイン調整値でレーザ画面測定を行ない、ステップS
25で次の増減幅を前の増減幅の1/2とする。そして
ステップS26で増減幅が所望値(例えば、最小ビット
の1)より小さいか比較し、増減幅が所望値小さくなけ
れば、ステップS28へ進み、レーザ画面の最大測定値
が目標値を超えているか、比較し、NOであればステッ
プS291へ進み、ゲイン調整値に前記増減幅を加算し
たものを新たなゲイン調整値とする。また、YESであ
ればステップS292へ進み、ゲイン調整値から前記増
減幅を減算したものを新たなゲイン調整値とする。そし
て再び、ステップS24へ戻り、このゲイン調整値でレ
ーザ画面測定を行なう。そして、ステップS28で増減
幅が所望値より小さければそれ以上の検索はできないの
で、検索終了(ステップS27)し、そのときのゲイン
調整値を以後の測定で用いる。
According to the present invention, the automatic gain adjustment is performed quickly and accurately by using the binary search method and / or the successively decreasing method. The algorithm is shown in the flowcharts of FIGS. 2 and 3, respectively. is there. FIG. 2 is a flowchart of the automatic gain adjustment by the binary search method.
FIG. 3 shows a flowchart of the automatic gain adjustment by the successively decreasing method. In FIG. 2, when this flow starts, the power is turned on in step S21, and the laser is turned on in step S22. In step S23, the target value, the gain adjustment value, and the increase / decrease range are initialized.
First, the target value is set to the maximum value that can be set, the gain adjustment value is set to ×× (minimum adjustment value + maximum adjustment value), and the increase / decrease range is set to the gain adjustment value. In step S24, laser screen measurement is performed using this gain adjustment value.
At 25, the next change width is set to の of the previous change width. In step S26, it is compared whether the increase or decrease is smaller than a desired value (for example, 1 of the minimum bit). If the increase or decrease is not smaller than the desired value, the process proceeds to step S28 to determine whether the maximum measured value of the laser screen exceeds the target value. If the answer is NO, the process proceeds to step S291, and a value obtained by adding the increase / decrease width to the gain adjustment value is set as a new gain adjustment value. If YES, the process proceeds to step S292, and a value obtained by subtracting the increase / decrease width from the gain adjustment value is set as a new gain adjustment value. Then, the process returns to step S24, and the laser screen measurement is performed using the gain adjustment value. If the increase / decrease width is smaller than the desired value in step S28, no further search can be performed, and the search is terminated (step S27), and the gain adjustment value at that time is used in subsequent measurements.

【0030】対物レンズとワークの距離は焦点がほぼ合
った状態に固定されているとき、この図2の2分探索法
を実行すると最適なゲイン調整ができる。このように、
2分法探索によると、少ない探索回数で目標値に達する
ことができる。すなわち、設定レンジがn段階であると
した場合、最高でも〔(log2 n)−1〕回の探索で
目標値に達することができる。例えば、A/D変換回路
の設定レンジnが256段階であるとした場合、(lo
2 n)−1 =log2 256−1 =log2 8 −1 =8−1 =7 と、最高でも7回の探索で目標値に達することができ
る。
When the distance between the objective lens and the work is fixed in a state where the focus is almost in focus, the optimum gain can be adjusted by executing the binary search method shown in FIG. in this way,
According to the bisection search, the target value can be reached with a small number of searches. That is, assuming that the set range is n stages, the target value can be reached by [(log 2 n) -1] searches at most. For example, if the setting range n of the A / D conversion circuit is 256 steps, (lo
g 2 n) and -1 = log 2 256-1 = log 2 2 8 -1 = 8-1 = 7, it is possible to reach the target value seven times of the search at the highest.

【0031】図3は順次逓減法による自動ゲイン調整の
フローチャートを示している。図3において、このフロ
ーがスタートすると、ステップS31で電源投入され、
ステップS32でレーザをオンにする。レーザをオンに
した後、ステップS33で目標値、ゲイン調整値、およ
び増減幅の初期化を行なう。まず、目標値を設定可能
な最大値とし、ゲイン調整値を所定のゲイン調整値と
し、そして、増減幅を任意に定めた所定単位のゲイン
値とする。ステップS34で、現ゲイン調整値でレーザ
画面測定を行ない、ステップS35でレーザ画面の最大
測定値が目標値を超えているか、比較をし、比較結果が
NOであれば、ステップS36へ進む。ステップS36
ではゲイン調整値に前記増減幅を加算した値を新たなゲ
イン調整値(ステップS36)とする。そして、この新
ゲイン調整値がゲイン最大値以上かどうかを比較する
(ステップS361)。比較の結果、新ゲイン調整値が
ゲイン最大値以上である場合は、これ以上ゲインの上げ
ようがないから調整を終了し(ステップS38へ進
む。)、そのゲイン最大値を以後の可変ゲイン増幅回路
のゲインとして採用する。一方、比較の結果、新ゲイン
調整値がゲイン最大値を下回っている場合は、その新ゲ
イン調整値で再びレーザ画面測定を行なう(ステップS
362)。ステップS363でレーザ画面の最大測定値
が目標値を超えているか、再び比較をし、比較結果がN
Oであれば(すなわち、超えていなければ)ステップS
36へ進み、以下、同じ手順を繰り返す。一方、ステッ
プS363でレーザ画面の最大測定値が目標値を超えて
いれば検索終了(ステップステップS38)する。この
場合、可変ゲイン増幅回路のゲインとして採用するゲイ
ン値は、目標値の余裕度や、目標値にどちらかのゲイン
調整値がより近いか等を基に、検索終了時のゲイン調整
値か1ループ直前のゲイン調整値かどちらを採用するか
決めればよい。あるいは、レーザ画面の最大測定値が目
標値に一致するまでここから前記2分法で探索開始して
より正確なゲイン調整値を決めてもよい。他方、ステッ
プS35での比較結果がYESであれば(すなわち、レ
ーザ画面の最大測定値が目標値を超えていれば)、ステ
ップS37へ進む。ステップS37ではゲイン調整値か
ら前記増減幅を減算した値を新たなゲイン整値(ステッ
プS37)とする。そして、この新ゲイン調整値がゲイ
ン最小値以下かどうかを比較する(ステップS37
1)。比較の結果、新ゲイン調整値がゲイン最小値以下
である場合は、これ以上ゲインの下げようがないから調
整を終了し(ステップS38へ進む。)、そのゲイン最
小値を以後の可変ゲイン増幅回路のゲインとして採用す
る。一方、比較の結果、新ゲイン調整値がゲイン最小値
を上回っている場合は、その新ゲイン調整値で再びレー
ザ画面測定を行なう(ステップS372)。ステップS
373でレーザ画面の最大測定値が目標値を超えている
か、再び比較をし、比較結果がYESであれば(すなわ
ち、超えていれば)ステップS36へ進み、以下、同じ
手順を繰り返す。一方、ステップS363でレーザ画面
の最大測定値が目標値を超えていなければ検索終了(ス
テップステップS38)する。この場合、可変ゲイン増
幅回路のゲインとして採用するゲイン値は、目標値の余
裕度や、目標値にどちらかのゲイン調整値がより近いか
等を基に、検索終了時のゲイン調整値か1ループ直前の
ゲイン調整値かどちらを採用するか決めればよい。ある
いは、レーザ画面の最大測定値が目標値に一致するまで
ここから前記2分法で探索開始してより正確なゲイン調
整値を決めてもよい。
FIG. 3 shows a flow chart of the automatic gain adjustment by the progressive reduction method. In FIG. 3, when this flow starts, the power is turned on in step S31,
In step S32, the laser is turned on. After turning on the laser, the target value, the gain adjustment value, and the increase / decrease range are initialized in step S33. First, the target value is set to a settable maximum value, the gain adjustment value is set to a predetermined gain adjustment value, and the increase / decrease range is set to an arbitrary predetermined gain value. In step S34, laser screen measurement is performed using the current gain adjustment value. In step S35, a comparison is made as to whether the maximum measured value of the laser screen exceeds the target value. If the comparison result is NO, the process proceeds to step S36. Step S36
Then, a value obtained by adding the increase / decrease width to the gain adjustment value is set as a new gain adjustment value (step S36). Then, it is determined whether the new gain adjustment value is equal to or greater than the maximum gain value (step S361). As a result of the comparison, if the new gain adjustment value is equal to or greater than the maximum gain value, the adjustment is terminated because there is no way to increase the gain anymore (proceed to step S38), and the maximum gain value is changed to a variable gain amplifier circuit thereafter. Is adopted as the gain of On the other hand, if the result of the comparison indicates that the new gain adjustment value is lower than the maximum gain value, the laser screen measurement is performed again with the new gain adjustment value (step S).
362). In step S363, whether the maximum measured value on the laser screen exceeds the target value is compared again, and the comparison result is N
If O (ie, if not exceeded), step S
Proceed to 36 and repeat the same procedure. On the other hand, if the maximum measured value on the laser screen exceeds the target value in step S363, the search ends (step S38). In this case, the gain value to be adopted as the gain of the variable gain amplifier circuit is based on the margin of the target value, whether the gain adjustment value is closer to the target value, or the like. It is only necessary to determine which of the gain adjustment values immediately before the loop is to be used. Alternatively, the search may be started by the bisection method from here until the maximum measured value on the laser screen matches the target value, and a more accurate gain adjustment value may be determined. On the other hand, if the comparison result in step S35 is YES (that is, if the maximum measured value of the laser screen exceeds the target value), the process proceeds to step S37. In step S37, a value obtained by subtracting the increase / decrease width from the gain adjustment value is set as a new gain adjustment value (step S37). Then, it is determined whether the new gain adjustment value is equal to or less than the minimum gain value (step S37).
1). As a result of the comparison, if the new gain adjustment value is equal to or smaller than the minimum gain value, the adjustment is terminated because there is no way to lower the gain anymore (proceed to step S38), and the minimum gain value is changed to a variable gain amplifier circuit thereafter. Is adopted as the gain of On the other hand, if the result of the comparison indicates that the new gain adjustment value exceeds the minimum gain value, the laser screen measurement is performed again with the new gain adjustment value (step S372). Step S
At 373, the comparison is again performed to determine whether the maximum measured value on the laser screen exceeds the target value. If the comparison result is YES (that is, if the maximum value is exceeded), the process proceeds to step S36, and the same procedure is repeated thereafter. On the other hand, if the maximum measured value of the laser screen does not exceed the target value in step S363, the search ends (step S38). In this case, the gain value to be adopted as the gain of the variable gain amplifier circuit is based on the margin of the target value, whether the gain adjustment value is closer to the target value, or the like. It is only necessary to determine which of the gain adjustment values immediately before the loop is to be used. Alternatively, the search may be started by the bisection method from here until the maximum measured value on the laser screen matches the target value, and a more accurate gain adjustment value may be determined.

【0032】図2の2分探索法は対物レンズの焦点がワ
ークにちょうど一致した状態に固定されているとき用い
ると便利であったのに対して、この図3の探索法は、対
物レンズの焦点がワークに一致していなくても合わせ込
めるものである。すなわち、対物レンズの焦点がワーク
に一致していない状態での受光回路の入力信号をA/D
変換回路のゲインを最大レベルにして、その後、受光回
路の入力信号が増える方向に(すなわち、対物レンズの
焦点がワークに近づく方向に)対物レンズとワークとの
距離を変えてゆき、そうすると当然受光回路の入力信号
が増加するのでその都度A/D変換回路のゲインを下げ
ていき、その時の入力信号を目標設定値にしていき、こ
れを繰り返していく手法であるから、この手法による
と、受光信号がどんどん増えていってもその都度最大レ
ベルを更新してゆくので、従来発明のような複数枚の画
像データをメモリに蓄えるといった必要がまったくな
い。
While the binary search method of FIG. 2 is convenient to use when the focal point of the objective lens is fixed to exactly match the workpiece, the search method of FIG. Even if the focus does not match the work, it can be adjusted. That is, when the focus of the objective lens does not coincide with the work, the input signal of the light receiving circuit is A / D
The gain of the conversion circuit is set to the maximum level, and thereafter, the distance between the objective lens and the work is changed in a direction in which the input signal of the light receiving circuit increases (that is, in a direction in which the focus of the objective lens approaches the work). Since the input signal of the circuit increases, the gain of the A / D conversion circuit is lowered each time, the input signal at that time is set to a target set value, and this is repeated. Even if the number of signals increases, the maximum level is updated each time. Therefore, there is no need to store a plurality of pieces of image data in a memory as in the conventional invention.

【0033】先頭順次逓減法探索によると、設定レンジ
がn段階であるとした場合、目標値に達する探索回数
は、 最高で、n+1回 期待値は、〔(n+1)/2〕+1回 最低で、1回 となる。例えば、A/D変換回路の設定
レンジnが256段階であるとした場合、 最高で、257回 期待値は、129回 最低で、1回 となる。
According to the head-sequential decreasing search, when the set range is n stages, the number of searches to reach the target value is the highest, n + 1 times, and the expected value is [(n + 1) / 2] +1 times the lowest. One time. For example, when the setting range n of the A / D conversion circuit is 256 steps, the expected value is 257 times at the maximum, and the expected value is 129 times at the minimum, and 1 time.

【0034】前記2分法探索と前記順次逓減法探索の2
つを組み合わせるのがよい。例えば、スライス画面測定
などのような設定値の予測が全く分からないときは2分
法探索により設定値を決め、逆に、例えば、超深度画面
測定のような設定値の予測がある程度つくときは設定値
を予測点から調べていくのがよい。また、超深度画面測
定において、設定値の予測がつかないときは2分法探索
である程度の予測値を設定し、予測値から順に単調に粗
く探索をし、最後にもう一度2分法探索ですると素早く
目標値に到達できる。
The two methods of the binary search and the successively decreasing method are described.
It is better to combine them. For example, when the prediction of the setting value such as the slice screen measurement is not known at all, the setting value is determined by the dichotomous search. Conversely, when the prediction of the setting value such as the super depth screen measurement can be obtained to some extent, It is better to check the set value from the prediction point. Also, in the case of the ultra-depth screen measurement, when the set value cannot be predicted, a certain degree of predicted value is set by the dichotomous search, the search is performed monotonously and coarsely in order from the predicted value, and finally the dichotomous search is performed again. You can reach the target value quickly.

【0035】また、表示画面に表示されたワークがその
窪みが深いために暗く表示されて見えにくい場合がある
が、従来のオフセット電圧調整は、例えば実開平7−2
0382号公報に記載されているように、減算のみしか
行っていなかった。そのために、オフセット電圧を減算
した結果、受光信号電圧が低い箇所がさらに暗くなって
しまって見えにくくなった。逆に、その箇所を明るくす
るためにゲインを上げると、受光信号電圧が高くて明る
い箇所が飽和してしまい、明るい箇所の表面の凹凸がつ
ぶれてしまうという欠点があった。
The work displayed on the display screen may be dark and difficult to see due to the deepness of the recess, but the conventional offset voltage adjustment is performed, for example, in the actual open square 7-2.
As described in Japanese Patent No. 0382, only subtraction is performed. As a result, as a result of subtracting the offset voltage, the portion where the light receiving signal voltage is low becomes darker and hard to see. Conversely, if the gain is increased to make the portion bright, the light receiving signal voltage is high, the bright portion is saturated, and the unevenness on the surface of the bright portion is crushed.

【0036】図4は本発明の別の実施の形態は上記欠点
を簡単に解決するものである。すなわち、画面に表示さ
れたワークが暗くて見えにくい場合があるが、本発明に
よれば、受光信号電圧が低い箇所が明るくなって見えや
すくなり、また、明るい箇所は表面の凹凸がつぶれてし
まうこともなくなる。図4はこの状態を説明する図であ
る。図4(A)は受光信号電圧が低い箇所があるため、
ワークのその部分が暗くて見えにくい状態を示し、図4
(B)は図4(A)の暗くて見えにくい箇所を見えやす
くする従来例の解決法を示し、図4(C)は図4(A)
の暗くて見えにくい箇所を見えやすくする本発明による
解決法を示している。従来例の図4(B)では図4
(A)の暗くて見えにくい箇所a3が、所定のゲインの
積算によりb3のように受光信号電圧が高くなり確かに
見えやすくなった。しかしながら、逆に、図4(A)で
明確に区別して見えていた箇所a1やa2が所定のゲイ
ンの積によりb1やb2のように受光信号電圧が飽和し
てしまい、表面の明るいところの凹凸が識別できなくな
ってしまった。ところが、本発明による図4(C)で
は、従来例の図4(B)のような所定のゲインの積を求
めるのではなくて、上記手法で求めたオフセット電圧を
全体に加算するようにしている。このことによって、受
光信号電圧が低い箇所の電圧が持ち上げられ(c3参
照)明るくなって見えやすくなる。また、図4(A)の
a1やa2のような元々明るい箇所は従来のようなゲイ
ンの積算を行わないので、b1やb2のような飽和をす
ることがないので、凹凸がつぶれてしまうこともなくな
る(b1とc1やb2とc3の波形の違いに注目のこ
と)。
FIG. 4 shows another embodiment of the present invention which simply solves the above drawbacks. That is, the work displayed on the screen may be dark and difficult to see. However, according to the present invention, a portion where the light reception signal voltage is low becomes bright and is easily seen, and a bright portion has unevenness on the surface. No more. FIG. 4 is a diagram illustrating this state. In FIG. 4A, since there is a portion where the light receiving signal voltage is low,
FIG. 4 shows a state in which the part of the work is dark and difficult to see.
FIG. 4B shows a solution of a conventional example in which a dark and hardly visible portion in FIG. 4A is made easier to see, and FIG.
2 shows a solution according to the invention for making dark and hard-to-see places easier to see. In FIG. 4B of the conventional example, FIG.
The dark spot a3 in (A), which is hard to see, has a light receiving signal voltage increased as shown by b3 due to the integration of a predetermined gain, so that it is certainly easy to see. However, conversely, the light receiving signal voltage is saturated at the points a1 and a2, which were clearly distinguished in FIG. 4A, as indicated by b1 and b2 due to the product of the predetermined gain, and the unevenness on the bright surface is obtained. Has become unrecognizable. However, in FIG. 4C according to the present invention, instead of obtaining a product of a predetermined gain as in FIG. 4B of the conventional example, the offset voltage obtained by the above-described method is added to the whole. I have. As a result, the voltage at the portion where the light receiving signal voltage is low is raised (see c3), and the portion becomes bright and easily visible. Also, originally bright portions such as a1 and a2 in FIG. 4A do not perform gain integration as in the prior art, so that saturation such as b1 and b2 does not occur, and concavities and convexities are crushed. (Note the difference in waveform between b1 and c1 and between b2 and c3).

【0037】[0037]

【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、光を対物レンズにより試料に集光させると共に該光
による応答光を受光素子に受光させる共焦点顕微鏡にお
いて、前記受光素子のゲイン調整を1画面の情報より探
索手法により自動で行なうことにより、ゲインの調整が
ソフトレベルのみで時間的に短時間で、しかも確実に自
動調整できるようになるので、従来のような大容量のメ
モリは不必要となり、また、作業効率の低下をなくすこ
とができるようになる。
As described above, according to the present invention, in a confocal microscope in which light is condensed on a sample by an objective lens and response light by the light is received by a light receiving element, the gain of the light receiving element is improved. Since the adjustment is automatically performed from the information of one screen by the search method, the gain can be automatically adjusted in only a soft level in a short period of time and reliably. Becomes unnecessary, and a decrease in work efficiency can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の共焦点顕微鏡のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of a confocal microscope of the present invention.

【図2】2分探索法による自動ゲイン調整のフローチャ
ートである。
FIG. 2 is a flowchart of automatic gain adjustment by a binary search method.

【図3】順次逓減法による自動ゲイン調整のフローチャ
ートである。
FIG. 3 is a flowchart of an automatic gain adjustment by a successively decreasing method.

【図4】暗くて見えにくい部分のあるワークの受光信号
電圧の状態を説明する図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a state of a light receiving signal voltage of a work having a dark and hardly visible portion.

【図5】本発明の基礎となるカラー共焦点顕微鏡の概略
を示す構成図である。
FIG. 5 is a configuration diagram schematically showing a color confocal microscope which is a basis of the present invention.

【図6】共焦点顕微鏡の明るさと解像力の関係を示す図
(A)と、通常の顕微鏡の明るさと解像力の関係を示す
図(B)である。
6A is a diagram showing the relationship between brightness and resolution of a confocal microscope, and FIG. 6B is a diagram showing the relationship between brightness and resolution of a normal microscope.

【図7】共焦点顕微鏡のカラー映像信号作成手段につい
てのブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram of a color video signal generating unit of the confocal microscope.

【図8】カラー共焦点顕微鏡の撮像領域を示す平面図で
ある。
FIG. 8 is a plan view showing an imaging area of the color confocal microscope.

【図9】カラー共焦点顕微鏡のレーザ駆動回路とCCD
駆動回路とが交互に駆動されて合成画面が得られる手順
を示すフローチャートである。
FIG. 9: Laser drive circuit and CCD of color confocal microscope
6 is a flowchart illustrating a procedure in which a driving circuit and a driving circuit are alternately driven to obtain a composite screen.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レーザ光学系(第1光学系) 10 レーザ光L1を出射するレーザ 11 第1コリメートレンズ 12 偏光ビームスプリッタ 13 1/4波長板 14 二次元走査装置 15 第1リレーレンズ 16 第2リレーレンズ 17 対物レンズ 18 第2結像レンズ 19a ピンホールを有する光絞り部 19b 第1受光素子 2 白色光光学系(第2光学系) 20 白色光を出射する白色光源 21 第2コリメートレンズ 22 第1ハーフミラー 23 第2ハーフミラー 24 カラーCCD(第2受光素子) 30 試料ステージ 41 第1A/D変換回路 42 第2A/D変換回路 43 CCD駆動回路 431 増幅回路 46 可変ゲイン増幅回路 47 D/A変換回路 5 カラー映像信号作成手段 51 第1領域回路 52 第2領域回路 53 輝度変換回路 61 加算器 62 表示装置(モニタ) 72 表示コントローラ 80 制御部 81 CPU 82 RAM 83 ROM 84 フレームメモリ 85 インタフェース 86 表示コントローラ 87 ゲインメモリ 88 目標値メモリ L1 反射光 L2 白色光 A0 共通の映像領域 A1 レーザ光学系の撮像領域 A2 白色光光学系の撮像領域 c カラー映像用の信号(複合カラー映像信号) i 輝度信号 w ワーク(試料) ro,go,bo カラー映像用のデジタル信号(変換
色強度信号) rm,gm,bm 赤、緑、青の色強度信号 Mi 輝度用メモリ Mr1,Mg1,Mb1 第1色強度メモリ Mr2,Mg2,Mb2 第2色強度メモリ
Reference Signs List 1 laser optical system (first optical system) 10 laser emitting laser light L1 11 first collimating lens 12 polarizing beam splitter 13 quarter-wave plate 14 two-dimensional scanning device 15 first relay lens 16 second relay lens 17 objective Lens 18 Second imaging lens 19a Optical aperture unit having a pinhole 19b First light receiving element 2 White light optical system (second optical system) 20 White light source that emits white light 21 Second collimating lens 22 First half mirror 23 Second half mirror 24 Color CCD (second light receiving element) 30 Sample stage 41 First A / D conversion circuit 42 Second A / D conversion circuit 43 CCD drive circuit 431 Amplification circuit 46 Variable gain amplification circuit 47 D / A conversion circuit 5 Color Video signal generating means 51 First area circuit 52 Second area circuit 53 Brightness conversion circuit 61 Addition Device 62 display device (monitor) 72 display controller 80 control unit 81 CPU 82 RAM 83 ROM 84 frame memory 85 interface 86 display controller 87 gain memory 88 target value memory L1 reflected light L2 white light A0 common image area A1 laser optical system Imaging area A2 Imaging area of white light optical system c Signal for color image (composite color image signal) i Luminance signal w Work (sample) ro, go, bo Digital signal for color image (converted color intensity signal) rm, gm , Bm Red, green, blue color intensity signals Mi Luminance memory Mr1, Mg1, Mb1 First color intensity memory Mr2, Mg2, Mb2 Second color intensity memory

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光を対物レンズにより試料に集光させる
と共に該光による応答光を受光素子に受光させる共焦点
顕微鏡において、 前記受光素子のゲイン調整を1画面の情報より探索手法
により自動で行なうことを特徴とする共焦点顕微鏡の自
動調整方法。
1. A confocal microscope in which light is condensed on a sample by an objective lens and response light by the light is received by a light receiving element, wherein a gain adjustment of the light receiving element is automatically performed by a search technique from information on one screen. A method for automatically adjusting a confocal microscope.
【請求項2】 受光素子の受光信号を増幅するゲインが
可変な可変ゲイン増幅回路と、 前記可変ゲイン増幅回路により増幅された信号をA/D
変換するA/D変換器回路と、 前記A/D変換器回路の出力値を格納するフレームメモ
リと、 前記可変ゲイン増幅回路のゲインを格納するゲインメモ
リと、 前記ゲインを基に前記増幅回路のゲインを可変するため
のD/A変換器と、 前記フレームメモリに格納された出力値もしくはその値
から得られる値に対して設定目標となる設定目標値を格
納する設定目標値メモリと、 前記フレームメモリに格納された出力値もしくはその値
から得られる値を前記設定目標値にするための前記可変
ゲイン増幅回路のゲインを演算により求めるCPUと、
を備えた共焦点顕微鏡であって、 前記CPUが、 前記フレームメモリに格納された出力値もしくはその値
から得られる値を前記設定目標値にするための前記可変
ゲイン増幅回路のゲインを探索手法を用いて演算し、 該演算で得られたゲインに設定された前記可変ゲイン増
幅回路で、再度前記受光素子の受光信号を増幅しかつ前
記A/D変換器回路でA/D変換した出力値で前記フレ
ームメモリに格納された出力値を更新し、該フレームメ
モリに格納された出力値もしくはその値から得られる値
を前記設定目標値と比較し、 前記比較の結果が一致しなければ前記CPUの演算と比
較を繰り返し、前記設定目標値に近づけるようにゲイン
の調整を自動的に求めることを特徴とする共焦点顕微鏡
の自動調整方法。
2. A variable gain amplifying circuit having a variable gain for amplifying a light receiving signal of a light receiving element, and an A / D converter for amplifying the signal amplified by the variable gain amplifying circuit.
An A / D converter circuit for converting; a frame memory for storing an output value of the A / D converter circuit; a gain memory for storing a gain of the variable gain amplifier circuit; A D / A converter for changing a gain; a set target value memory for storing a set target value which is a set target for an output value stored in the frame memory or a value obtained from the value; A CPU for calculating a gain of the variable gain amplifier circuit for calculating the output value stored in the memory or a value obtained from the value to the set target value;
A confocal microscope comprising: a method of searching for a gain of the variable gain amplifying circuit for setting an output value stored in the frame memory or a value obtained from the value to the set target value. The variable gain amplifying circuit set to the gain obtained by the calculation amplifies the light receiving signal of the light receiving element again, and obtains the output value obtained by A / D conversion by the A / D converter circuit. The output value stored in the frame memory is updated, and the output value stored in the frame memory or a value obtained from the value is compared with the set target value. An automatic adjustment method for a confocal microscope, wherein calculation and comparison are repeated to automatically obtain a gain adjustment so as to approach the set target value.
【請求項3】 請求項2記載の共焦点顕微鏡の自動調整
法において、 前記探索手法は、最初、前記ゲイン可変用D/A変換器
回路の最小調整値と最大調整値との和の1/2をゲイン
調整値として第1受光素子の出力を前記A/D変換器回
路から前記フレームメモリに格納し、該格納された値の
最大測定値と前記目標値と比較し、比較結果、 前記演算結果の最大測定値が前記目標値より小さい
ときは、前記ゲイン調整値の1/2を増減幅として前記
ゲイン調整値に加算した新ゲイン調整値を用いて、前記
ゲイン増幅回路のゲインを変化させ、このときの第1受
光素子の出力を前記A/D変換器回路から前記フレーム
メモリに格納し、該格納された値の最大測定値と前記目
標値と再び比較し、 また、前記演算結果の最大測定値が前記目標値より
大きいときは、前記ゲイン調整値の1/2を増減幅とし
て前記ゲイン調整値から減算した新ゲイン調整値を用い
て、第1受光素子の出力に演算し、この演算結果の最大
測定値と前記目標値と再び比較し、 前記又はにおける演算結果の最大測定値と前記
目標値との比較の結果、前記演算結果の最大測定値が前
記目標値より小さいときは前記へ戻り、また、前記演
算結果の最大測定値が前記目標値より大きいときは、前
記へもどり、 前記を繰り返し、演算結果の最大測定値が前記目
標値と一致またはゲイン調整値が所定のゲイン値を下回
ったとき、探索を終了することを特徴とする共焦点顕微
鏡の自動調整法。
3. The automatic adjustment method for a confocal microscope according to claim 2, wherein the search method firstly uses 1/1/2 of the sum of a minimum adjustment value and a maximum adjustment value of the gain variable D / A converter circuit. 2 as a gain adjustment value, storing the output of the first light receiving element from the A / D converter circuit in the frame memory, comparing the maximum measured value of the stored value with the target value, When the maximum measured value of the result is smaller than the target value, the gain of the gain amplifying circuit is changed by using a new gain adjustment value that is added to the gain adjustment value with 1 / of the gain adjustment value as an increase / decrease range. The output of the first light receiving element at this time is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, and the maximum measured value of the stored value is again compared with the target value. Maximum measured value is greater than the target value When the threshold value is larger, the output of the first light receiving element is calculated using the new gain adjustment value obtained by subtracting the gain adjustment value from 1/2 of the gain adjustment value as an increase / decrease range. Comparing again with the target value, as a result of comparing the maximum measured value of the operation result or the target value with the target value, when the maximum measured value of the operation result is smaller than the target value, returning to the above; When the maximum measured value is larger than the target value, the process returns to the above, and the above operation is repeated. When the maximum measured value of the calculation result matches the target value or the gain adjustment value falls below the predetermined gain value, the search is terminated. Automatic adjustment method of confocal microscope.
【請求項4】 請求項2記載の共焦点顕微鏡の自動調整
法において、 前記探索手法は、 最初、所定のゲイン調整値で前記ゲイン増幅回路の
ゲインを変化させ、このときの第1受光素子の出力を前
記A/D変換器回路から前記フレームメモリに格納し、
該格納された値の最大測定値と前記目標値と比較し、 前記比較の結果、演算結果の最大測定値が前記目標
値より小さいときは、前記所定のゲイン調整値に所定の
単位ゲインを増減幅として加算した新ゲイン調整値を算
出し、該新ゲイン調整値がゲイン最大値以上であるとき
は探索を終了し、そうでなければ該新ゲイン調整値を用
いて、前記ゲイン増幅回路のゲインを変化させ、このと
きの第1受光素子の出力を前記A/D変換器回路から前
記フレームメモリに格納し、該格納された値の最大測定
値と前記目標値と再び比較し、この比較の結果が前記目
標値よりなお小さいときは、前記新ゲイン調整値に所定
の単位ゲインを増減幅としてさらに加算した新ゲイン調
整値を算出し、該新ゲイン調整値がゲイン最大値以上で
あるときは探索を終了し、そうでなければ該新ゲイン調
整値を用いて、前記ゲイン増幅回路のゲインを変化さ
せ、このときの第1受光素子の出力を前記A/D変換器
回路から前記フレームメモリに格納し、該格納された値
の最大測定値と前記目標値と再び比較し、 前記を繰り返し、演算結果の最大測定値が前記目
標値と一致またはこれを超えたときは探索を終了し、 また、前記の比較の結果、演算結果の最大測定値
が前記目標値より大きいときは、前記所定のゲイン調整
値から所定の単位ゲインを増減幅として減算した新ゲイ
ン調整値を算出し、該新ゲイン調整値がゲイン最小値以
下であるときは探索を終了し、そうでなければ該新ゲイ
ン調整値を用いて、前記ゲイン増幅回路のゲインを変化
させ、このときの第1受光素子の出力を前記A/D変換
器回路から前記フレームメモリに格納し、該格納された
値の最大測定値と前記目標値と再び比較し、この比較の
結果が前記目標値よりなお大きいときは、前記新ゲイン
調整値から所定の単位ゲインを増減幅としてさらに減算
した新ゲイン調整値を算出し、該新ゲイン調整値がゲイ
ン最小値以下であるときは探索を終了し、そうでなけれ
ば該新ゲイン調整値を用いて、前記ゲイン増幅回路のゲ
インを変化させ、このときの第1受光素子の出力を前記
A/D変換器回路から前記フレームメモリに格納し、該
格納された値の最大測定値と前記目標値と再び比較し、 前記を繰り返し、演算結果の最大測定値が前記目
標値と一致またはこれを下回ったとき、探索を終了する
こと、を特徴とする共焦点顕微鏡の自動調整法。
4. The automatic adjustment method for a confocal microscope according to claim 2, wherein the search method first changes the gain of the gain amplifier circuit with a predetermined gain adjustment value, and then changes the gain of the first light receiving element. Storing the output from the A / D converter circuit in the frame memory;
Comparing the maximum measured value of the stored value with the target value; and, as a result of the comparison, when the maximum measured value of the operation result is smaller than the target value, increasing or decreasing a predetermined unit gain to the predetermined gain adjustment value. A new gain adjustment value added as a width is calculated, and if the new gain adjustment value is equal to or larger than the maximum gain value, the search is terminated; otherwise, the gain of the gain amplifier circuit is calculated using the new gain adjustment value. The output of the first light receiving element at this time is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, and the maximum measured value of the stored value is again compared with the target value. When the result is still smaller than the target value, a new gain adjustment value is further calculated by adding a predetermined unit gain to the new gain adjustment value as an increase / decrease range, and when the new gain adjustment value is equal to or more than the maximum gain value, Finish the search Otherwise, the gain of the gain amplifier circuit is changed using the new gain adjustment value, and the output of the first light receiving element at this time is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, Comparing the maximum measured value of the stored value with the target value again, repeating the above, and terminating the search when the maximum measured value of the calculation result matches or exceeds the target value; As a result, when the maximum measured value of the calculation result is larger than the target value, a new gain adjustment value is calculated by subtracting a predetermined unit gain from the predetermined gain adjustment value as an increase / decrease range, and the new gain adjustment value is calculated as the gain. If the value is equal to or smaller than the minimum value, the search is terminated; otherwise, the gain of the gain amplifier circuit is changed using the new gain adjustment value, and the output of the first light receiving element at this time is subjected to the A / D conversion. From the circuit Stored in the frame memory, again compares the maximum measured value of the stored value with the target value, and when the result of the comparison is still larger than the target value, increases or decreases a predetermined unit gain from the new gain adjustment value. A new gain adjustment value that is further subtracted as a width is calculated, and when the new gain adjustment value is equal to or smaller than the minimum gain value, the search is terminated. Otherwise, the new gain adjustment value is used to calculate the gain amplification circuit. The gain is changed, and the output of the first light receiving element at this time is stored in the frame memory from the A / D converter circuit, and the maximum measured value of the stored value is again compared with the target value. A method for automatically adjusting a confocal microscope, wherein the search is terminated when the maximum measured value of the calculation result coincides with or falls below the target value.
【請求項5】 請求項3記載の探索手法および請求項4
記載の探索手法を備えたことを特徴とする請求項1又は
2記載の共焦点顕微鏡の自動調整法。
5. The search method according to claim 3, and claim 4.
3. The method for automatically adjusting a confocal microscope according to claim 1, further comprising the search method described in claim 1.
【請求項6】 受光素子の受光信号を増幅するゲインが
可変な可変ゲイン増幅回路と、前記可変ゲイン増幅回路
により増幅された信号をA/D変換するA/D変換器回
路と、前記A/D変換器回路の出力値を格納するフレー
ムメモリと、 前記可変ゲイン増幅回路のゲインを格納するゲインメモ
リと、前記ゲインを基に前記増幅回路のゲインを可変す
るためのD/A変換器と、前記フレームメモリに格納さ
れた出力値もしくはその値から得られる値に対して設定
目標となる設定目標値を格納する設定目標値メモリと、
前記フレームメモリに格納された出力値もしくはその値
から得られる値を前記設定目標値にするための前記可変
ゲイン増幅回路のゲインを演算により求めるCPUと、
を備えた共焦点顕微鏡であって、 前記CPUが、 前記フレームメモリに格納された出力値もしくはその値
から得られる値を前記設定目標値にするための前記可変
ゲイン増幅回路のゲインを探索手法を用いて演算し、 該演算で得られたゲインに設定された前記可変ゲイン増
幅回路で、再度前記受光素子の受光信号を増幅しかつ前
記A/D変換器回路でA/D変換した出力値で前記フレ
ームメモリに格納された出力値を更新し、該フレームメ
モリに格納された出力値もしくはその値から得られる値
を前記設定目標値と比較し、 前記比較の結果が一致しなければ前記CPUの演算と比
較を繰り返し、前記設定目標値に近づけるようにゲイン
の調整を自動的に求めることを特徴とする共焦点顕微
鏡。
6. A variable gain amplifier circuit having a variable gain for amplifying a light receiving signal of a light receiving element, an A / D converter circuit for A / D converting a signal amplified by the variable gain amplifying circuit, and an A / D converter. A frame memory for storing an output value of the D converter circuit, a gain memory for storing a gain of the variable gain amplifier circuit, a D / A converter for changing a gain of the amplifier circuit based on the gain, A setting target value memory for storing a setting target value serving as a setting target for an output value stored in the frame memory or a value obtained from the value,
A CPU for calculating a gain of the variable gain amplifying circuit for calculating the output value stored in the frame memory or a value obtained from the value as the set target value;
A confocal microscope comprising: a method of searching for a gain of the variable gain amplifying circuit for setting an output value stored in the frame memory or a value obtained from the value to the set target value. The variable gain amplifying circuit set to the gain obtained by the calculation amplifies the light receiving signal of the light receiving element again, and obtains the output value obtained by A / D conversion by the A / D converter circuit. The output value stored in the frame memory is updated, and the output value stored in the frame memory or a value obtained from the value is compared with the set target value. A confocal microscope wherein a calculation and a comparison are repeated to automatically obtain a gain adjustment so as to approach the set target value.
【請求項7】 前記共焦点顕微鏡が前記フレームメモリ
の内容を表示する表示装置を備え、かつ、前記表示装置
の表示画像の暗い部分が見えにくいとき、前記フレーム
メモリ内の表示画像データ全体にオフセット値を加算で
きるようにしたことを特徴とする請求項6記載の共焦点
顕微鏡。
7. The confocal microscope includes a display device for displaying the contents of the frame memory, and when a dark portion of the display image on the display device is difficult to see, an offset is applied to the entire display image data in the frame memory. 7. The confocal microscope according to claim 6, wherein values can be added.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005156651A (en) * 2003-11-21 2005-06-16 Olympus Corp Scanning optical microscope
JP2007122048A (en) * 2005-10-06 2007-05-17 Carl Zeiss Surgical Gmbh Microscopic inspection system and recording method for visualizing fluorescence
JP2008129226A (en) * 2006-11-20 2008-06-05 Olympus Corp Confocal microscope
JP2012155010A (en) * 2011-01-24 2012-08-16 Keyence Corp Microscope system, surface state observation method, and surface state observation program
JP2014206749A (en) * 2014-06-13 2014-10-30 株式会社キーエンス Microscope system

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